JP2003222647A - 導通検査ユニット及びそれを用いた導通検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 一次検査で可及的にコネクタの不具合を検出
することのできる導 通検査装置を提供する。 【解決手段】 ハウジングホルダ３０にコネクタの連通
溝１ｄへ嵌入される検出子３２ａを設ける。この検出子
３２ａは導線３５を介して検査装置６０へ電気的に接続
される。この検査装置６０は、各端子２毎に設けられた
プローブ４２の後端と電気的に接続されるアダプタ４４
とも接続される。各端子２と検出子３２ａ及びプローブ
４２が当設することによって得られる回路構成と、検査
装置６０に予め記憶された回路構成との比較によって、
導通検査及び、端子２の抜けや端子同士の短絡を検出す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は端子抜け及び端子同
士の短絡検出機能を備えた導通検査ユニット及びそれを
用いた導通検査装置に関するものであり、特に、複数の
ハウジングをひとつのカバーに組み付けたハウジング組
付式のコネクタの端子抜け及び端子同士の短絡検出機能
を備えた導通検査ユニット及びそれを用いた導通検査装
置である。

【０００２】

【従来の技術】一般にワイヤハーネスは、複数の電線を
コネクタで接続し、所定の回路網を形成した電気配線シ
ステムである。このワイヤハーネスに採用されるコネク
タは、樹脂製のハウジングにキャビティを設け、このキ
ャビティに金属製の端子を挿入したものである。キャビ
ティに挿入した端子をハウジングに固定するために、端
子とハウジングの一方にはランスと呼称される弾性突起
を片持ち状に設け、他方に設けた係止凹部にこの弾性突
起を嵌合させるようにしている。また、一般的なコネク
タにおいては、端子とハウジングとのロック状態をより
堅固なものにするため、リテーナと呼称される係止部材
をハウジングに組み付ける二重係止形式を採用してい
る。

【０００３】上記ワイヤハーネスを製造する際には、各
コネクタの電気接続状態（配線の良否や接続状態の良
否）を検査するために導通検査が行われる（特開平０７
−６５９２３号公報）。

【０００４】この種の検査装置は、ハウジング内に端子
が収容されているコネクタが装着されるコネクタホルダ
と、このコネクタホルダに接離可能に配置され、上記端
子の導通を検査する検査部と、コネクタホルダと検査部
とを相対的に接近させる検査姿勢と、コネクタホルダと
検査部とを相対的に離間させる姿勢との間でコネクタホ
ルダと検査部とを相対的に変位させる変位手段とを備え
ている。検査のときには、コネクタをコネクタホルダに
装着し、その状態で変位手段を操作し、検査部をコネク
タホルダに接近させる。すると、各検出子が各端子と接
触して導通状態が検査される。

【０００５】この際、リテーナが採用されているコネク
タにおいては、検査部に設けた検出子に強い付勢力を持
たせたいわゆる２プローブピンを採用し、嵌合不良を来
している端子については、ハウジングの外側に不良を来
した端子が押し出されるようにしている。

【０００６】ところで、最近では、複数のハウジングを
ひとつのカバーに組み付けたハウジング組付式のコネク
タがワイヤハーネスに採用される場合がある。このよう
なハウジング組付式のコネクタの導通を検査するために
は、各ハウジングがカバーに組み付けられる前に各ハウ
ジングの導通を検査し（以下、この導通検査を「一次検
査」という）、さらにハウジングがカバーに組みつけら
れた状態で全体の導通を検査する（以下、この導通検査
を「二次検査」という）ことが必要である。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】上記ハウジング組付式
のコネクタの各ハウジングは、カバーに組み付けるため
の要請から、内部の全キャビティと連通する連通溝が外
側壁に形成されて、カバーに設けたリブを組付時にこの
連通溝に嵌合させることにより、リテーナとして機能さ
せる仕様になっている。したがってこのハウジングの一
次検査の段階においては、ハウジングにリテーナがない
状態であり、上述のような２プローブ形式の検出子を使
用することができない。そのため、端子の嵌合不良を一
次検査の段階で検出することができないという問題があ
った。

【０００８】また、上記連通溝から端子に接続された電
線の芯線部分がはみ出している場合には、カバーに組み
付ける際に、電線同士が短絡するおそれもあり、その状
態を二次検査で検出していたのでは、手戻りが大きくな
るという問題があった。

【０００９】本発明は上記問題に鑑みてなされたもので
あり、一次検査で可及的にコネクタの不具合を検出する
ことのできる導通検査ユニット及びそれを用いた導通検
査装置を提供することを課題としている。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明は、被覆電線に接続された端子と、この端子が
挿入されるキャビティが多数形成された複数のハウジン
グとを有し、この複数のハウジングをひとつのカバーに
組み付けるハウジング組付式コネクタのハウジングを導
通検査するために設けられ、上記ハウジングには全キャ
ビティをハウジング外部とを連通する連通溝が当該端子
の挿入方向に対し直交方向に沿って形成されるととも
に、この連通溝に対しカバーに形成されたリテーナ部が
嵌合する上記ハウジング組付式コネクタの導通検査ユニ
ットであって、上記カバーに装着される前のハウジング
を導通検査可能に保持するハウジングホルダと、このハ
ウジングホルダと接離可能に配置され、保持された上記
ハウジングの上記各端子と電気的に接続される接続子を
有して導通検査する導通検査部と、この導通検査部と上
記ハウジングホルダとを相対的に近接させてハウジング
の上記各端子を接続子と接続させる検査ポジションと、
ハウジングホルダと導通検査部とを相対的に離反させて
ハウジングを着脱可能にする着脱ポジションとの間で導
通検査部とハウジングホルダとを相対的に変位させる変
位手段と、を備え、上記ハウジングホルダには、装着さ
れるハウジングの上記連通溝に導入されることにより、
ハウジング内の全キャビティに臨む導電性の短絡検出子
を設けていることを特徴とする導通検査ユニットであ
る。

【００１１】この発明では、上記カバーに装着される前
のハウジングを着脱ポジションにあるハウジングホルダ
にセットする。この際、短絡検出子がハウジングの連通
溝に導入される。次に、変位手段を用いて導通検査部と
ハウジングホルダとを相対的に近接することで、導通検
査装置は検査ポジションとなる。ここで本発明の対象と
なるハウジング組付式コネクタのハウジングにおいて
は、カバーに形成されたリテーナ部が嵌合する連通溝に
短絡検出子が導入されるので、この連通溝に電線がはみ
出している場合や、端子が位置ずれを来している場合に
は、導電性の短絡検出子と接触することにより、電気的
にこれらを検出することが可能になる。

【００１２】好ましい態様において、上記ハウジングホ
ルダは、当該カバーに組み付けられる複数のハウジング
を同時に保持可能に構成されている。

【００１３】この態様では、カバーに組み付けられる前
の各ハウジングの導通検査をカバーに組み付けた状態を
想定して検査することができる。

【００１４】本発明の別の態様は、上記導通検査ユニッ
トと、この導通検査ユニットの導通検査部に設けた接続
子と電気的に接続され、当該接続子を通して検査対象と
なる端子の接続状態を検査する導通検査回路とを備え、
上記導通検査回路には、当該導通検査ユニットの短絡検
出子が短絡の存否を判別可能に接続されていることを特
徴とする導通検査装置である。

【００１５】この態様では、導通検査回路に接続された
導通検査ユニットの各接続子によって各端子の接続状態
（接続の良否や接続されている極の良否）を検査するこ
とができるとともに、導通検査回路に短絡検出子が短絡
の存否を判別可能に接続されることにより、導通検査回
路によって短絡検出子が何れの極の端子と短絡している
かを識別することも可能になる。このため、導通検査ユ
ニットを検査ポジションに変位し、導通検査部によって
ハウジング内の各端子の導通検査が行なうに当たり、こ
の導通検査とともに、短絡検出子によって、短絡や抜け
を来した端子を特定することも可能になる。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照しながら本
発明の好ましい実施形態について詳述する。

【００１７】図１は、本発明の実施形態に係るハウジン
グ組付式コネクタの概略構成を示す一部切り欠き斜視図
であり、図２は同コネクタに採用されているハウジング
の斜視図である。

【００１８】図１及び図２を参照して、このコネクタ
は、合成樹脂の成型品であるハウジング１と、このハウ
ジング１に挿入される金属製の端子２と、二つのハウジ
ング１を収容可能なカバー３から構成される。

【００１９】図２を参照して、ハウジング１は、端子２
が挿入されるキャビティ１ａと、端子２を相手側のコネ
クタへ電気的に接続する連絡孔１ｂと、端子２をハウジ
ング１に係止する係止孔１ｃと、連通溝１ｄとを含んで
いる。係止溝１ｄは、上面Ｌ字型に形成され、コネクタ
側面において各キャビティとハウジング１外部とを連通
している。

【００２０】端子２は、金属製の端子本体２ａを有して
いる。この接続部２ａの前部端面はハウジング１の上記
連絡孔１ｂに臨み、後部端面２ｂには芯線バレル２ｃが
設けられる。芯線バレル２ｃは、被覆電線Ｗの芯線に圧
着される。また、端子本体２ａの側面には、ハウジング
１に対する挿入位置決め用のスタビライザ２ｄが長手方
向に沿って延設される。さらに端子本体２ａの側面略中
央部において係止爪２ｅが設けられる。

【００２１】端子２がハウジング１のキャビティ１ａに
挿入されると、当該端子２の係止爪２ｅはハウジング１
の連通溝１ｄを通過し、係止孔１ｃに係止する。この係
止によって、ハウジング１に端子２がロックされる。

【００２２】図１を参照して、カバー３は、合成樹脂製
の成型品であり、コネクタ収容部３ａと、係止リブ３ｂ
と、端子連絡孔３ｃから構成される。コネクタ収容部３
ａは、カバー３に並設されるとともに、二つのコネクタ
を同方向に収容する。係止リブ３ｂは、コネクタ収容部
３ａ内に突設され、挿入されるコネクタの連通溝１ｄに
嵌入される。端子連絡孔３ｃは、挿入されるコネクタの
連絡孔１ｂに対応する位置でコネクタ収容部３ａとカバ
ー３の外部とを連通させる。

【００２３】図３は、図１のコネクタにおけるハウジン
グ１と端子２とカバー３との関係を示す断面拡大略図で
ある。以下図３を参照して説明する。

【００２４】各ハウジング１がカバー３に収容される
と、連通溝１ｄと係止リブ３ｂが係合される。この係合
によって、ハウジング１と端子２は二重係止構造をとる
ことで強固に固定される。すなわち、係止リブ３ｂの基
端が端子２の後部端面２ｂを支持するため、端子２はハ
ウジング１から抜けることはない。また、連通溝１ｄと
係止リブ３ｂとの係合によって、ハウジング１とカバー
３も固定される。したがって、カバー３に収容された各
ハウジング１は、あたかも一つのコネクタとして取り扱
うことができる。

【００２５】このように構成されるコネクタを採用した
ワイヤーハーネスを製造するには、以下の検査をする必
要がある。その検査とは、各ハウジング１がカバー３に
組み付けられる前に各ハウジング１の導通を検査する一
次検査と、各ハウジング１がカバー３に組み付けられた
状態における全体の導通を検査する二次検査である。

【００２６】図４は、本発明の実施形態に係る導通検査
ユニット１０と、これを含む導通検査装置１００との関
係を示す概念図である。以下図４を参照して説明する。

【００２７】本実施形態に係る導通検査装置１００は、
電気配線システムとしてのワイヤーハーネスＷＨの検査
装置として、当該ワイヤーハーネスＷＨの導通を検査す
るために具体化されたものである。ワイヤーハーネスＷ
Ｈは所定の回路網を形成した電気配線システムであり、
その基端にはコネクタＣ１〜Ｃ６が設けられている。な
お、コネクタＣ１〜Ｃ６は、ワイヤーハーネスＷＨの仕
様に応じて様々なものが採用されており、本実施形態に
おいては、Ｃ１が対象となるコネクタ（図１〜図３）で
あるものとして以下説明する。

【００２８】図示の例において、導通検査装置１００
は、検査図板１０１の上に配設され、検査対象となるワ
イヤーハーネスＷＨに設けられた複数のコネクタＣ１〜
Ｃ６毎に設けられた導通検査ユニット１０ａ〜１０ｆ
と、各導通検査ユニット１０と通信可能に接続された検
査装置６０とを備えている。

【００２９】図５は、図４における導通検査ユニット１
０ａの外観斜視図であり、図６は導通検査ユニット１０
ａの分解斜視図である。以下図５及び図６を参照して説
明する。

【００３０】導通検査ユニット１０ａは、略長方形で板
状の合成樹脂からなるベース２０を備えている。ベース
２０の上には、その一端部に固定され、二つのハウジン
グ１を収納可能なハウジングホルダ３０と、このハウジ
ングホルダ３０と隣接してベース２０と相対的に可動な
状態で設置される検査部４０と、この検査部４０をハウ
ジングホルダ３０に対して相対的に変位させるトグル機
構５０とが設けられている。なお、以下の説明ではベー
ス２０の長手方向において、このハウジングホルダ３０
が固定されている側を仮に前方とし、ベース２０の厚み
方向において、ハウジングホルダ３０が固定されている
側を上方としている。

【００３１】図６を参照して、上記ハウジングホルダ３
０は、ホルダ後端部３１と、ホルダ中央部３２と、ホル
ダ前方部３３とをボルト３４の螺合によって一体に形成
されている。このとき、ボルト３４は、導線３５を介し
てハウジングホルダ３０に組み付けられる。

【００３２】ホルダ後端部３１は、上方へ向けて開口部
をもった前面視Ｅ字型の合成樹脂からなる板状部材であ
る。

【００３３】ホルダ中央部３２は、上方へ向けて開口部
をもった前面視Ｅ字型の導電性金属からなる板状部材で
ある。また、ホルダ中央部３２の後方基端部には、検出
子３２ａが設けられる。ハウジング１がハウジングホル
ダ３０に装着されると、この検出子３２ａは、ハウジン
グ１の連通溝１ｄに嵌入される。

【００３４】ホルダ前方部３３は、上方へ向けて開口部
をもった前面視Ｅ字型の合成樹脂からなる板状部材であ
る。

【００３５】ボルト３４は、導電性金属からなり、上記
螺合の際にホルダ中央部３２と電気的に接続される。

【００３６】導線３５は、その一端がボルト３４と電気
的に接続され、他端が検査装置６０（図４）と接続さ
れ、端子２同士の短絡や、端子抜けの状態を検査できる
ように構成されている。

【００３７】また、ハウジングホルダ３０には、スライ
ドピン３６が圧入される。このスライドピン３６は、圧
縮ばね３７が外挿されるとともに、その後端部が検査部
４０に対して摺動可能に挿入される。このように、圧縮
ばね３７は、ハウジングホルダ３０と検査部４０の間で
縮設される結果、検査部４０を後方に付勢する。

【００３８】ハウジングホルダ３０は、ベース２０に設
けられたねじ孔２１を介して、図略のボルトによってベ
ース２０に固定される。

【００３９】同図を参照して、検査部４０は、合成樹脂
成型品又は切削品であるブロック体４１を含んでいる。
このブロック体４１は、略立方体形状で、前方に開くプ
ローブ室Ｓを有している。このプローブ室Ｓには、ハウ
ジングホルダ３０に装着されるハウジング１に対応する
位置にプローブ４２が設けられる。このプローブ４２の
後端部は導線４３を介してアダプタ４４へ接続される。
このアダプタ４４は、導通検査装置６０（図４）と接続
され、各端子２の電気的な導通状態を検査できるように
構成されている。

【００４０】また、検査部４０の下端部は、ベース２０
の前後方向に設けられた鉤状のレール２２と摺動可能に
嵌合されている。したがって、検査部４０は、ベース２
０に対して前後方向に移動できるとともに、ベース２０
から上方へ離脱することがない。

【００４１】導通検査ユニット１０ａに採用されている
変位手段の一例としてのトグル機構５０は、ベース２０
の後端部に立設された一対の支持部５１を含んでいる。
この支持部５１には、ハンドル５２が軸Ａ１によって回
動可能に支持されている。ハンドル５２は、軸Ａ１の近
傍で検査部４０の後部端面に当設するカム状の加圧部５
３と、手動操作用の把手部５４とを備えている。上記加
圧部５３の周面には、加圧面５３ａが形成されている。
この加圧面５３ａには、上記検査部４０のブロック体４
１が上記圧縮ばね３７の付勢力によって常時押圧されて
いる。

【００４２】図７は、本発明の実施形態に係る導通検査
ユニット１０ａと検査装置６０の回路構成図であり、以
下図７を参照して説明する。

【００４３】図７は、本発明の実施形態に係る導通検査
ユニット１０ａと検査装置６０の回路構成図であり、以
下図７を参照して説明する。

【００４４】同図に示すように、本実施形態に係る検査
装置６０は、各導通検査ユニット１０ａ〜１０ｆに接続
される検査回路６１と、この検査回路６１を制御する制
御部６２とを有している。

【００４５】検査回路６１は、周知の導通検査機と同様
の構成であり、本実施形態のＣ１を検査する導通検査ユ
ニット１０ａの各プローブ４２は、他の導通検査ユニッ
ト１０ｂ〜１０ｆのプローブ１４２（図７にのみ図示）
と同様に、この検査回路６１に電気的に接続されてい
る。これにより検査回路６１は、制御部６２の制御に基
づいて検査信号をワイヤーハーネスＷＨに流して、ワイ
ヤーハーネスＷＨの導通状態を検査することができるよ
うになっている。さらに、この検査回路６１には、導通
検査ユニット１０ａに設けた検出子３２ａが回路３５に
よって電気的に接続されている。

【００４６】制御部６２は、ＣＰＵ（中央演算処理装
置）６２ａと、このＣＰＵ６２ａと接続されるメモリ６
２ｂと、処理内容及び処理結果を表示する表示部６２ｃ
とを有している。

【００４７】メモリ６２ｂには、ＣＰＵ６２ａが導通検
査処理を行なうための導通検査プログラムが記憶されて
いる。また、メモリ６２ｂは、ＣＰＵ６２ａの作業領域
として使用される。さらにメモリ６２ｂは、検査対象と
なるワイヤーハーネスＷＨに形成されるべき回路網の接
点の導通情報を基準データとして記憶するとともに、読
み取り情報を検査データとして記憶するように設定され
ている。

【００４８】上記検査プログラムにおいて、上記回路３
５は、通常、端子２と非接触状態（あるいは挿入されて
いない状態）にあるのが正常となるように設定されてい
る。

【００４９】したがって、上記導通検査プログラムに基
づき、検査回路６１がワイヤーハーネスＷＨの接続状態
を検査すると、通常の導通検査と同様に、ワイヤーハー
ネスＷＨは、Ａ端側の端子２とＢ端側の端子２との導通
が検査される（即ちＡ１とＢ１、Ａ２とＢ２、Ａ３とＢ
３、・・・ＡｎとＢｎ）とともに他回路との短絡有無が
検出される。さらにコネクタＣ１において、端子抜けや
芯線はみ出しが発生すると、コネクタＣ１内の何れかの
端子２が検出子３２ａと接触することになるので、回路
３５が該当する端子の回路と短絡し、異常と判定される
ことになる。

【００５０】図８は、図４における導通検査ユニット１
０ａの側面断面図を示したものである。（イ）はハウジ
ングホルダ３０と検査部４０が離反した状態（以下着脱
ポジションと示す）、（ロ）はハウジングホルダ３０と
検査部４０が近接した状態（以下検査ポジションと示
す）を示している。

【００５１】図９は、本発明の実施形態に係るコネクタ
Ｃ１のハウジング１と端子２と検出子３２ａの関係を示
す断面拡大略図である。（イ）は正常の状態、（ロ）は
端子抜けによる不良状態、（ハ）は導線Ｗの圧着不良の
状態をそれぞれ示している。

【００５２】図７、図８及び図９を参照して以下説明す
る。

【００５３】図８の（イ）状態で導通検査ユニット１０
ａは、ハウジングホルダ３０と検査部４０が離反した状
態にあるため、作業者は検査対象であるコネクタＣ１を
装着することができる。この状態でハンドル５２を上記
軸Ａ１を中心にして時計回りに回動することにより、ブ
ロック体４１が前方に押動されるとともに、所定量回動
させることにより、軸Ａ１と協働してブロック体４１が
トグル状にロックされ、導通検査ユニット１０ａは図８
の（ロ）に示す検査ポジションとなる。

【００５４】検査ポジションとなった導通検査ユニット
１０ａの各プローブ４１は、コネクタＣ１の対応する端
子２に当接し、端子２の導通検査を行なう。また、この
導通検査と同時に上記検出子３２ａに接続された導線３
５によって、端子同士の短絡及び、端子抜けの検出が行
なわれる。

【００５５】すなわち、図９の（イ）の状態では、検出
子３２ａは端子２の後部端面２ｂと干渉していないた
め、検出子３２ａと各端子２とは電気的に接続されてい
ない。そして、図７の検査装置６０のメモリ６２ｂに
は、検出子３２ａと各端子２が非接触状態である回路構
成が良品であると記憶されているため、図９の（イ）の
状態は良品であると表示部６２ｃに表示される。

【００５６】また、図９の（ロ）の状態では、端子２の
係止爪２ｃがハウジング１の係止孔１ｃと係合していな
い状態、すなわち端子抜けの状態となっている。この状
態では、端子２の後部端面２ｂと検出子３２ａが当接し
ているため、端子２と検出子３２ａは電気的に接続して
いる。この回路構成は、検査装置６０のメモリ６２ｂに
記憶された良品回路構成と相違する。そのため、図９の
（ロ）の状態では、端子抜けを生じた端子２が特定さ
れ、検査対象のコネクタＣ１が不良品であると表示部６
２ｃに表示される。

【００５７】さらに、図９の（ハ）の状態では、端子２
と導線Ｗの圧着不良によって、被覆電線Ｗの芯線Ｗ１が
連通溝１ｄ内に露出している。この状態では、図９の
（ロ）と同様に端子２と検出子３２ａが電気的に接続す
るため、検査対象のコネクタＣ１が不良品であると表示
部６２ｃに表示される。なお、芯線Ｗ１は、検出子３２
ａが装着されることによって隣接する別の端子２へと導
かれ、双方の端子２同士が短絡する場合がある。この場
合には、短絡する双方の端子２が特定され、検査対象の
コネクタＣ１が不良品であると表示部６２ｃに表示され
る。

【００５８】ところで、ハウジングホルダ３０には、ハ
ウジング１の形状が同じで内部回路構成がそれぞれ異な
る二つのコネクタＣ１が装着されることがある。すなわ
ち、カバー３には内部回路構成の異なる二つのハウジン
グ１が嵌入されることがある（図１参照）。このような
場合には、予めメモリ６２ｂに二つの異なる回路構成を
記憶させておくことで、ハウジングホルダ３０へ装着さ
れるハウジング１の種類違いが検出される。

【００５９】そして、導通検査が終了すると、作業者が
ハンドル５２を反時計回りに回動すると、上述した圧縮
ばね３７の付勢力によって検査部４０が後方へ押動し、
導通検査ユニット１０ａは図８の（イ）に示す着脱ポジ
ションへ復元する。この状態で作業者は、検査済みのコ
ネクタＣ１をハウジングホルダ３０から取り出す。

【００６０】このように構成された導通検査装置１００
は、ハウジング１の連通溝１ｄに嵌入される検出子３２
ａをハウジングホルダ３０に備えている。そして、検出
子３２ａは、電気的に検査装置６０へ接続されている。
そのため、カバー３に嵌入される前のハウジング１に対
する導通検査（一次検査）においてハウジング１への端
子２の嵌合不良や、端子２同士の短絡を電気的に検出す
ることができる。

【００６１】また、上記構成の検査装置６０では、個々
の端子２の接続状態や短絡状態を特定することができる
ので、単にカバー３へ嵌入されるハウジング１の種類違
いを未然に防止することができるばかりでなく、いずれ
の端子２が不具合を来たしているかを特定することがで
きるので、手直しも容易になる。

【００６２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ハウジングホルダに設けられた短絡検出子によって、カ
バーにハウジングを組み付ける前の工程において各端子
の導通検査と端子同士の短絡及び端子抜けの検出を行な
うことができるので、端子の手直しが容易であるととも
に、端子抜けを確実に防止することができる。したがっ
て、従来、カバーにハウジングを組み付けた後でしか検
出することのできなかった端子同士の短絡や、従来検出
困難であった端子抜けをそれぞれ組付前に検出すること
ができる。そのため、不良が発生した場合の手戻りが小
さくなり、従来の検査と比較して作業性が向上される。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の実施形態に係るハウジング組付式コ
ネクタの概略構成を示す一部切り欠き斜視図である。

【図２】 図１のコネクタに採用されているハウジング
の斜視図である。

【図３】 図１のコネクタにおけるハウジングと端子と
カバーとの関係を示す断面拡大略図である。

【図４】 本発明の実施形態に係る導通検査ユニット
と、これを含む導通検査装置との関係を示す概念図であ
る。

【図５】 図４における導通検査ユニットの外観斜視図
である。

【図６】 図４における導通検査ユニットの分解斜視図
である。

【図７】 本発明の実施形態に係る導通検査ユニットと
検査装置の回路構成図である。

【図８】 図４における導通検査ユニットの側面断面図
を示したものである。（イ）はハウジングホルダと検査
部が離反した状態、（ロ）はハウジングホルダと検査部
が近接した状態をそれぞれ示している。

【図９】 本発明の実施形態に係るコネクタのハウジン
グと端子と検出子の関係を示す断面拡大略図である。

【符号の説明】

１ ハウジング １ｄ 連通溝 ２ 端子 ３ カバー １０ 検査ユニット ３０ ハウジングホルダ ３２ａ 検出子 ４０ 検査部 ４１ プローブ ５０ トグル手段 ６０ 検査装置 １００ 導通検査装置

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G014 AA01 AA03 AA13 AB38 AB60 AC08 5E051 GA09 GB07

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被覆電線に接続された端子と、この端子
   が挿入されるキャビティが多数形成された複数のハウジ
   ングとを有し、この複数のハウジングをひとつのカバー
   に組み付けるハウジング組付式コネクタのハウジングを
   導通検査するために設けられ、上記ハウジングには全キ
   ャビティをハウジング外部とを連通する連通溝が当該端
   子の挿入方向に対し直交方向に沿って形成されるととも
   に、この連通溝に対しカバーに形成されたリテーナ部が
   嵌合する上記ハウジング組付式コネクタの導通検査ユニ
   ットであって、 上記カバーに装着される前のハウジングを導通検査可能
   に保持するハウジングホルダと、 このハウジングホルダと接離可能に配置され、保持され
   た上記ハウジングの上記各端子と電気的に接続される接
   続子を有して導通検査する導通検査部と、 この導通検査部と上記ハウジングホルダとを相対的に近
   接させてハウジングの上記各端子を接続子と接続させる
   検査ポジションと、ハウジングホルダと導通検査部とを
   相対的に離反させてハウジングを着脱可能にする着脱ポ
   ジションとの間で導通検査部とハウジングホルダとを相
   対的に変位させる変位手段と、 を備え、上記ハウジングホルダには、装着されるハウジ
   ングの上記連通溝に導入されることにより、ハウジング
   内の全キャビティに臨む導電性の短絡検出子を設けてい
   ることを特徴とする導通検査ユニット。
2. 【請求項２】 請求項１記載の導通検査ユニットにおい
   て、 上記ハウジングホルダは、当該カバーに組み付けられる
   複数のハウジングを同時に保持可能に構成されているこ
   とを特徴とする導通検査ユニット。
3. 【請求項３】 請求項１または２記載の導通検査ユニッ
   トを用いた導通検査装置において、 上記導通検査ユニットと、 この導通検査ユニットの導通検査部に設けた接続子と電
   気的に接続され、当該接続子を通して検査対象となる端
   子の接続状態を検査する導通検査回路とを備え、上記導
   通検査回路には、当該導通検査ユニットの短絡検出子が
   短絡の存否を判別可能に接続されていることを特徴とす
   る導通検査装置。