JP2003222647A - 導通検査ユニット及びそれを用いた導通検査装置 - Google Patents
導通検査ユニット及びそれを用いた導通検査装置Info
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Abstract
することのできる導 通検査装置を提供する。 【解決手段】 ハウジングホルダ30にコネクタの連通
溝1dへ嵌入される検出子32aを設ける。この検出子
32aは導線35を介して検査装置60へ電気的に接続
される。この検査装置60は、各端子2毎に設けられた
プローブ42の後端と電気的に接続されるアダプタ44
とも接続される。各端子2と検出子32a及びプローブ
42が当設することによって得られる回路構成と、検査
装置60に予め記憶された回路構成との比較によって、
導通検査及び、端子2の抜けや端子同士の短絡を検出す
る。
Description
士の短絡検出機能を備えた導通検査ユニット及びそれを
用いた導通検査装置に関するものであり、特に、複数の
ハウジングをひとつのカバーに組み付けたハウジング組
付式のコネクタの端子抜け及び端子同士の短絡検出機能
を備えた導通検査ユニット及びそれを用いた導通検査装
置である。
コネクタで接続し、所定の回路網を形成した電気配線シ
ステムである。このワイヤハーネスに採用されるコネク
タは、樹脂製のハウジングにキャビティを設け、このキ
ャビティに金属製の端子を挿入したものである。キャビ
ティに挿入した端子をハウジングに固定するために、端
子とハウジングの一方にはランスと呼称される弾性突起
を片持ち状に設け、他方に設けた係止凹部にこの弾性突
起を嵌合させるようにしている。また、一般的なコネク
タにおいては、端子とハウジングとのロック状態をより
堅固なものにするため、リテーナと呼称される係止部材
をハウジングに組み付ける二重係止形式を採用してい
る。
コネクタの電気接続状態(配線の良否や接続状態の良
否)を検査するために導通検査が行われる(特開平07
−65923号公報)。
が収容されているコネクタが装着されるコネクタホルダ
と、このコネクタホルダに接離可能に配置され、上記端
子の導通を検査する検査部と、コネクタホルダと検査部
とを相対的に接近させる検査姿勢と、コネクタホルダと
検査部とを相対的に離間させる姿勢との間でコネクタホ
ルダと検査部とを相対的に変位させる変位手段とを備え
ている。検査のときには、コネクタをコネクタホルダに
装着し、その状態で変位手段を操作し、検査部をコネク
タホルダに接近させる。すると、各検出子が各端子と接
触して導通状態が検査される。
タにおいては、検査部に設けた検出子に強い付勢力を持
たせたいわゆる2プローブピンを採用し、嵌合不良を来
している端子については、ハウジングの外側に不良を来
した端子が押し出されるようにしている。
ひとつのカバーに組み付けたハウジング組付式のコネク
タがワイヤハーネスに採用される場合がある。このよう
なハウジング組付式のコネクタの導通を検査するために
は、各ハウジングがカバーに組み付けられる前に各ハウ
ジングの導通を検査し(以下、この導通検査を「一次検
査」という)、さらにハウジングがカバーに組みつけら
れた状態で全体の導通を検査する(以下、この導通検査
を「二次検査」という)ことが必要である。
のコネクタの各ハウジングは、カバーに組み付けるため
の要請から、内部の全キャビティと連通する連通溝が外
側壁に形成されて、カバーに設けたリブを組付時にこの
連通溝に嵌合させることにより、リテーナとして機能さ
せる仕様になっている。したがってこのハウジングの一
次検査の段階においては、ハウジングにリテーナがない
状態であり、上述のような2プローブ形式の検出子を使
用することができない。そのため、端子の嵌合不良を一
次検査の段階で検出することができないという問題があ
った。
線の芯線部分がはみ出している場合には、カバーに組み
付ける際に、電線同士が短絡するおそれもあり、その状
態を二次検査で検出していたのでは、手戻りが大きくな
るという問題があった。
あり、一次検査で可及的にコネクタの不具合を検出する
ことのできる導通検査ユニット及びそれを用いた導通検
査装置を提供することを課題としている。
に本発明は、被覆電線に接続された端子と、この端子が
挿入されるキャビティが多数形成された複数のハウジン
グとを有し、この複数のハウジングをひとつのカバーに
組み付けるハウジング組付式コネクタのハウジングを導
通検査するために設けられ、上記ハウジングには全キャ
ビティをハウジング外部とを連通する連通溝が当該端子
の挿入方向に対し直交方向に沿って形成されるととも
に、この連通溝に対しカバーに形成されたリテーナ部が
嵌合する上記ハウジング組付式コネクタの導通検査ユニ
ットであって、上記カバーに装着される前のハウジング
を導通検査可能に保持するハウジングホルダと、このハ
ウジングホルダと接離可能に配置され、保持された上記
ハウジングの上記各端子と電気的に接続される接続子を
有して導通検査する導通検査部と、この導通検査部と上
記ハウジングホルダとを相対的に近接させてハウジング
の上記各端子を接続子と接続させる検査ポジションと、
ハウジングホルダと導通検査部とを相対的に離反させて
ハウジングを着脱可能にする着脱ポジションとの間で導
通検査部とハウジングホルダとを相対的に変位させる変
位手段と、を備え、上記ハウジングホルダには、装着さ
れるハウジングの上記連通溝に導入されることにより、
ハウジング内の全キャビティに臨む導電性の短絡検出子
を設けていることを特徴とする導通検査ユニットであ
る。
のハウジングを着脱ポジションにあるハウジングホルダ
にセットする。この際、短絡検出子がハウジングの連通
溝に導入される。次に、変位手段を用いて導通検査部と
ハウジングホルダとを相対的に近接することで、導通検
査装置は検査ポジションとなる。ここで本発明の対象と
なるハウジング組付式コネクタのハウジングにおいて
は、カバーに形成されたリテーナ部が嵌合する連通溝に
短絡検出子が導入されるので、この連通溝に電線がはみ
出している場合や、端子が位置ずれを来している場合に
は、導電性の短絡検出子と接触することにより、電気的
にこれらを検出することが可能になる。
ルダは、当該カバーに組み付けられる複数のハウジング
を同時に保持可能に構成されている。
の各ハウジングの導通検査をカバーに組み付けた状態を
想定して検査することができる。
トと、この導通検査ユニットの導通検査部に設けた接続
子と電気的に接続され、当該接続子を通して検査対象と
なる端子の接続状態を検査する導通検査回路とを備え、
上記導通検査回路には、当該導通検査ユニットの短絡検
出子が短絡の存否を判別可能に接続されていることを特
徴とする導通検査装置である。
導通検査ユニットの各接続子によって各端子の接続状態
(接続の良否や接続されている極の良否)を検査するこ
とができるとともに、導通検査回路に短絡検出子が短絡
の存否を判別可能に接続されることにより、導通検査回
路によって短絡検出子が何れの極の端子と短絡している
かを識別することも可能になる。このため、導通検査ユ
ニットを検査ポジションに変位し、導通検査部によって
ハウジング内の各端子の導通検査が行なうに当たり、こ
の導通検査とともに、短絡検出子によって、短絡や抜け
を来した端子を特定することも可能になる。
発明の好ましい実施形態について詳述する。
グ組付式コネクタの概略構成を示す一部切り欠き斜視図
であり、図2は同コネクタに採用されているハウジング
の斜視図である。
は、合成樹脂の成型品であるハウジング1と、このハウ
ジング1に挿入される金属製の端子2と、二つのハウジ
ング1を収容可能なカバー3から構成される。
が挿入されるキャビティ1aと、端子2を相手側のコネ
クタへ電気的に接続する連絡孔1bと、端子2をハウジ
ング1に係止する係止孔1cと、連通溝1dとを含んで
いる。係止溝1dは、上面L字型に形成され、コネクタ
側面において各キャビティとハウジング1外部とを連通
している。
いる。この接続部2aの前部端面はハウジング1の上記
連絡孔1bに臨み、後部端面2bには芯線バレル2cが
設けられる。芯線バレル2cは、被覆電線Wの芯線に圧
着される。また、端子本体2aの側面には、ハウジング
1に対する挿入位置決め用のスタビライザ2dが長手方
向に沿って延設される。さらに端子本体2aの側面略中
央部において係止爪2eが設けられる。
挿入されると、当該端子2の係止爪2eはハウジング1
の連通溝1dを通過し、係止孔1cに係止する。この係
止によって、ハウジング1に端子2がロックされる。
の成型品であり、コネクタ収容部3aと、係止リブ3b
と、端子連絡孔3cから構成される。コネクタ収容部3
aは、カバー3に並設されるとともに、二つのコネクタ
を同方向に収容する。係止リブ3bは、コネクタ収容部
3a内に突設され、挿入されるコネクタの連通溝1dに
嵌入される。端子連絡孔3cは、挿入されるコネクタの
連絡孔1bに対応する位置でコネクタ収容部3aとカバ
ー3の外部とを連通させる。
グ1と端子2とカバー3との関係を示す断面拡大略図で
ある。以下図3を参照して説明する。
と、連通溝1dと係止リブ3bが係合される。この係合
によって、ハウジング1と端子2は二重係止構造をとる
ことで強固に固定される。すなわち、係止リブ3bの基
端が端子2の後部端面2bを支持するため、端子2はハ
ウジング1から抜けることはない。また、連通溝1dと
係止リブ3bとの係合によって、ハウジング1とカバー
3も固定される。したがって、カバー3に収容された各
ハウジング1は、あたかも一つのコネクタとして取り扱
うことができる。
ワイヤーハーネスを製造するには、以下の検査をする必
要がある。その検査とは、各ハウジング1がカバー3に
組み付けられる前に各ハウジング1の導通を検査する一
次検査と、各ハウジング1がカバー3に組み付けられた
状態における全体の導通を検査する二次検査である。
ユニット10と、これを含む導通検査装置100との関
係を示す概念図である。以下図4を参照して説明する。
電気配線システムとしてのワイヤーハーネスWHの検査
装置として、当該ワイヤーハーネスWHの導通を検査す
るために具体化されたものである。ワイヤーハーネスW
Hは所定の回路網を形成した電気配線システムであり、
その基端にはコネクタC1〜C6が設けられている。な
お、コネクタC1〜C6は、ワイヤーハーネスWHの仕
様に応じて様々なものが採用されており、本実施形態に
おいては、C1が対象となるコネクタ(図1〜図3)で
あるものとして以下説明する。
は、検査図板101の上に配設され、検査対象となるワ
イヤーハーネスWHに設けられた複数のコネクタC1〜
C6毎に設けられた導通検査ユニット10a〜10f
と、各導通検査ユニット10と通信可能に接続された検
査装置60とを備えている。
0aの外観斜視図であり、図6は導通検査ユニット10
aの分解斜視図である。以下図5及び図6を参照して説
明する。
状の合成樹脂からなるベース20を備えている。ベース
20の上には、その一端部に固定され、二つのハウジン
グ1を収納可能なハウジングホルダ30と、このハウジ
ングホルダ30と隣接してベース20と相対的に可動な
状態で設置される検査部40と、この検査部40をハウ
ジングホルダ30に対して相対的に変位させるトグル機
構50とが設けられている。なお、以下の説明ではベー
ス20の長手方向において、このハウジングホルダ30
が固定されている側を仮に前方とし、ベース20の厚み
方向において、ハウジングホルダ30が固定されている
側を上方としている。
0は、ホルダ後端部31と、ホルダ中央部32と、ホル
ダ前方部33とをボルト34の螺合によって一体に形成
されている。このとき、ボルト34は、導線35を介し
てハウジングホルダ30に組み付けられる。
をもった前面視E字型の合成樹脂からなる板状部材であ
る。
をもった前面視E字型の導電性金属からなる板状部材で
ある。また、ホルダ中央部32の後方基端部には、検出
子32aが設けられる。ハウジング1がハウジングホル
ダ30に装着されると、この検出子32aは、ハウジン
グ1の連通溝1dに嵌入される。
をもった前面視E字型の合成樹脂からなる板状部材であ
る。
螺合の際にホルダ中央部32と電気的に接続される。
的に接続され、他端が検査装置60(図4)と接続さ
れ、端子2同士の短絡や、端子抜けの状態を検査できる
ように構成されている。
ドピン36が圧入される。このスライドピン36は、圧
縮ばね37が外挿されるとともに、その後端部が検査部
40に対して摺動可能に挿入される。このように、圧縮
ばね37は、ハウジングホルダ30と検査部40の間で
縮設される結果、検査部40を後方に付勢する。
けられたねじ孔21を介して、図略のボルトによってベ
ース20に固定される。
成型品又は切削品であるブロック体41を含んでいる。
このブロック体41は、略立方体形状で、前方に開くプ
ローブ室Sを有している。このプローブ室Sには、ハウ
ジングホルダ30に装着されるハウジング1に対応する
位置にプローブ42が設けられる。このプローブ42の
後端部は導線43を介してアダプタ44へ接続される。
このアダプタ44は、導通検査装置60(図4)と接続
され、各端子2の電気的な導通状態を検査できるように
構成されている。
の前後方向に設けられた鉤状のレール22と摺動可能に
嵌合されている。したがって、検査部40は、ベース2
0に対して前後方向に移動できるとともに、ベース20
から上方へ離脱することがない。
変位手段の一例としてのトグル機構50は、ベース20
の後端部に立設された一対の支持部51を含んでいる。
この支持部51には、ハンドル52が軸A1によって回
動可能に支持されている。ハンドル52は、軸A1の近
傍で検査部40の後部端面に当設するカム状の加圧部5
3と、手動操作用の把手部54とを備えている。上記加
圧部53の周面には、加圧面53aが形成されている。
この加圧面53aには、上記検査部40のブロック体4
1が上記圧縮ばね37の付勢力によって常時押圧されて
いる。
ユニット10aと検査装置60の回路構成図であり、以
下図7を参照して説明する。
ユニット10aと検査装置60の回路構成図であり、以
下図7を参照して説明する。
装置60は、各導通検査ユニット10a〜10fに接続
される検査回路61と、この検査回路61を制御する制
御部62とを有している。
の構成であり、本実施形態のC1を検査する導通検査ユ
ニット10aの各プローブ42は、他の導通検査ユニッ
ト10b〜10fのプローブ142(図7にのみ図示)
と同様に、この検査回路61に電気的に接続されてい
る。これにより検査回路61は、制御部62の制御に基
づいて検査信号をワイヤーハーネスWHに流して、ワイ
ヤーハーネスWHの導通状態を検査することができるよ
うになっている。さらに、この検査回路61には、導通
検査ユニット10aに設けた検出子32aが回路35に
よって電気的に接続されている。
置)62aと、このCPU62aと接続されるメモリ6
2bと、処理内容及び処理結果を表示する表示部62c
とを有している。
査処理を行なうための導通検査プログラムが記憶されて
いる。また、メモリ62bは、CPU62aの作業領域
として使用される。さらにメモリ62bは、検査対象と
なるワイヤーハーネスWHに形成されるべき回路網の接
点の導通情報を基準データとして記憶するとともに、読
み取り情報を検査データとして記憶するように設定され
ている。
5は、通常、端子2と非接触状態(あるいは挿入されて
いない状態)にあるのが正常となるように設定されてい
る。
づき、検査回路61がワイヤーハーネスWHの接続状態
を検査すると、通常の導通検査と同様に、ワイヤーハー
ネスWHは、A端側の端子2とB端側の端子2との導通
が検査される(即ちA1とB1、A2とB2、A3とB
3、・・・AnとBn)とともに他回路との短絡有無が
検出される。さらにコネクタC1において、端子抜けや
芯線はみ出しが発生すると、コネクタC1内の何れかの
端子2が検出子32aと接触することになるので、回路
35が該当する端子の回路と短絡し、異常と判定される
ことになる。
0aの側面断面図を示したものである。(イ)はハウジ
ングホルダ30と検査部40が離反した状態(以下着脱
ポジションと示す)、(ロ)はハウジングホルダ30と
検査部40が近接した状態(以下検査ポジションと示
す)を示している。
C1のハウジング1と端子2と検出子32aの関係を示
す断面拡大略図である。(イ)は正常の状態、(ロ)は
端子抜けによる不良状態、(ハ)は導線Wの圧着不良の
状態をそれぞれ示している。
る。
aは、ハウジングホルダ30と検査部40が離反した状
態にあるため、作業者は検査対象であるコネクタC1を
装着することができる。この状態でハンドル52を上記
軸A1を中心にして時計回りに回動することにより、ブ
ロック体41が前方に押動されるとともに、所定量回動
させることにより、軸A1と協働してブロック体41が
トグル状にロックされ、導通検査ユニット10aは図8
の(ロ)に示す検査ポジションとなる。
10aの各プローブ41は、コネクタC1の対応する端
子2に当接し、端子2の導通検査を行なう。また、この
導通検査と同時に上記検出子32aに接続された導線3
5によって、端子同士の短絡及び、端子抜けの検出が行
なわれる。
子32aは端子2の後部端面2bと干渉していないた
め、検出子32aと各端子2とは電気的に接続されてい
ない。そして、図7の検査装置60のメモリ62bに
は、検出子32aと各端子2が非接触状態である回路構
成が良品であると記憶されているため、図9の(イ)の
状態は良品であると表示部62cに表示される。
係止爪2cがハウジング1の係止孔1cと係合していな
い状態、すなわち端子抜けの状態となっている。この状
態では、端子2の後部端面2bと検出子32aが当接し
ているため、端子2と検出子32aは電気的に接続して
いる。この回路構成は、検査装置60のメモリ62bに
記憶された良品回路構成と相違する。そのため、図9の
(ロ)の状態では、端子抜けを生じた端子2が特定さ
れ、検査対象のコネクタC1が不良品であると表示部6
2cに表示される。
と導線Wの圧着不良によって、被覆電線Wの芯線W1が
連通溝1d内に露出している。この状態では、図9の
(ロ)と同様に端子2と検出子32aが電気的に接続す
るため、検査対象のコネクタC1が不良品であると表示
部62cに表示される。なお、芯線W1は、検出子32
aが装着されることによって隣接する別の端子2へと導
かれ、双方の端子2同士が短絡する場合がある。この場
合には、短絡する双方の端子2が特定され、検査対象の
コネクタC1が不良品であると表示部62cに表示され
る。
ウジング1の形状が同じで内部回路構成がそれぞれ異な
る二つのコネクタC1が装着されることがある。すなわ
ち、カバー3には内部回路構成の異なる二つのハウジン
グ1が嵌入されることがある(図1参照)。このような
場合には、予めメモリ62bに二つの異なる回路構成を
記憶させておくことで、ハウジングホルダ30へ装着さ
れるハウジング1の種類違いが検出される。
ハンドル52を反時計回りに回動すると、上述した圧縮
ばね37の付勢力によって検査部40が後方へ押動し、
導通検査ユニット10aは図8の(イ)に示す着脱ポジ
ションへ復元する。この状態で作業者は、検査済みのコ
ネクタC1をハウジングホルダ30から取り出す。
は、ハウジング1の連通溝1dに嵌入される検出子32
aをハウジングホルダ30に備えている。そして、検出
子32aは、電気的に検査装置60へ接続されている。
そのため、カバー3に嵌入される前のハウジング1に対
する導通検査(一次検査)においてハウジング1への端
子2の嵌合不良や、端子2同士の短絡を電気的に検出す
ることができる。
の端子2の接続状態や短絡状態を特定することができる
ので、単にカバー3へ嵌入されるハウジング1の種類違
いを未然に防止することができるばかりでなく、いずれ
の端子2が不具合を来たしているかを特定することがで
きるので、手直しも容易になる。
ハウジングホルダに設けられた短絡検出子によって、カ
バーにハウジングを組み付ける前の工程において各端子
の導通検査と端子同士の短絡及び端子抜けの検出を行な
うことができるので、端子の手直しが容易であるととも
に、端子抜けを確実に防止することができる。したがっ
て、従来、カバーにハウジングを組み付けた後でしか検
出することのできなかった端子同士の短絡や、従来検出
困難であった端子抜けをそれぞれ組付前に検出すること
ができる。そのため、不良が発生した場合の手戻りが小
さくなり、従来の検査と比較して作業性が向上される。
ネクタの概略構成を示す一部切り欠き斜視図である。
の斜視図である。
カバーとの関係を示す断面拡大略図である。
と、これを含む導通検査装置との関係を示す概念図であ
る。
である。
である。
検査装置の回路構成図である。
を示したものである。(イ)はハウジングホルダと検査
部が離反した状態、(ロ)はハウジングホルダと検査部
が近接した状態をそれぞれ示している。
グと端子と検出子の関係を示す断面拡大略図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 被覆電線に接続された端子と、この端子
が挿入されるキャビティが多数形成された複数のハウジ
ングとを有し、この複数のハウジングをひとつのカバー
に組み付けるハウジング組付式コネクタのハウジングを
導通検査するために設けられ、上記ハウジングには全キ
ャビティをハウジング外部とを連通する連通溝が当該端
子の挿入方向に対し直交方向に沿って形成されるととも
に、この連通溝に対しカバーに形成されたリテーナ部が
嵌合する上記ハウジング組付式コネクタの導通検査ユニ
ットであって、 上記カバーに装着される前のハウジングを導通検査可能
に保持するハウジングホルダと、 このハウジングホルダと接離可能に配置され、保持され
た上記ハウジングの上記各端子と電気的に接続される接
続子を有して導通検査する導通検査部と、 この導通検査部と上記ハウジングホルダとを相対的に近
接させてハウジングの上記各端子を接続子と接続させる
検査ポジションと、ハウジングホルダと導通検査部とを
相対的に離反させてハウジングを着脱可能にする着脱ポ
ジションとの間で導通検査部とハウジングホルダとを相
対的に変位させる変位手段と、 を備え、上記ハウジングホルダには、装着されるハウジ
ングの上記連通溝に導入されることにより、ハウジング
内の全キャビティに臨む導電性の短絡検出子を設けてい
ることを特徴とする導通検査ユニット。 - 【請求項2】 請求項1記載の導通検査ユニットにおい
て、 上記ハウジングホルダは、当該カバーに組み付けられる
複数のハウジングを同時に保持可能に構成されているこ
とを特徴とする導通検査ユニット。 - 【請求項3】 請求項1または2記載の導通検査ユニッ
トを用いた導通検査装置において、 上記導通検査ユニットと、 この導通検査ユニットの導通検査部に設けた接続子と電
気的に接続され、当該接続子を通して検査対象となる端
子の接続状態を検査する導通検査回路とを備え、上記導
通検査回路には、当該導通検査ユニットの短絡検出子が
短絡の存否を判別可能に接続されていることを特徴とす
る導通検査装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2002022001A JP4058952B2 (ja) | 2002-01-30 | 2002-01-30 | 導通検査ユニット及びそれを用いた導通検査装置 |
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CNB031035205A CN1209856C (zh) | 2002-01-30 | 2003-01-28 | 连续性测试单元和*** |
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JP2002022001A JP4058952B2 (ja) | 2002-01-30 | 2002-01-30 | 導通検査ユニット及びそれを用いた導通検査装置 |
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JP2003222647A true JP2003222647A (ja) | 2003-08-08 |
JP4058952B2 JP4058952B2 (ja) | 2008-03-12 |
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Family Applications (1)
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