JP2003119344A - ハイブリッド化合物、レジスト材料及びパターン形成方法 - Google Patents

ハイブリッド化合物、レジスト材料及びパターン形成方法

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JP2003119344A
JP2003119344A JP2001314863A JP2001314863A JP2003119344A JP 2003119344 A JP2003119344 A JP 2003119344A JP 2001314863 A JP2001314863 A JP 2001314863A JP 2001314863 A JP2001314863 A JP 2001314863A JP 2003119344 A JP2003119344 A JP 2003119344A
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Hideto Kato
英人 加藤
Tomoyoshi Furuhata
智欣 降▲旗▼
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Shin Etsu Chemical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【解決手段】 フェノール樹脂と下記一般式(1) R1 nSi(OR24-n (1) (式中、R1は硫黄原子又は酸素原子を含む一価の炭化
水素基を示し、R2は一価の炭化水素基を示し、nは1
又は2である。)で示されるオルガノオキシシランを加
水分解・縮合して得られるシリコーン樹脂からなるハイ
ブリッド化合物。 【効果】 本発明によれば、レジスト材料のベースポリ
マーに使用されてメタル基板に対して優れた密着性を与
えるハイブリッド化合物を提供することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、フェノール樹脂に
対して、シリコーン樹脂成分が網目状に絡まりあい、分
子レベルで分散したシリコーン樹脂−フェノール樹脂ハ
イブリッド化合物並びにこれを含むレジスト材料及びパ
ターン形成方法に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来、
レジスト材料としてノボラック樹脂を用いた有機−無機
ポリマーハイブリッド及びその製造方法が、特開200
0−44876号公報及び特開2000−56453号
公報で紹介されており、この材料により、レジスト膜の
耐熱性が向上し、レジスト膜の形状の変化が起こりにく
く、しかもレジスト膜の耐ドライエッチング性が向上す
る旨記載されている。
【0003】一方、レジスト材料を塗布する基板として
は、半導体集積回路用はシリコンウェハーが一般的であ
るが、昨今レジスト材料に対する様々な用途が提案さ
れ、シリコン基板上はもとより、銅基板上、金基板上、
アルミニウム基板上、クロム基板上、チタン基板上、タ
ンタル基板上等のメタル基板が使用され、レジスト膜に
ついてこれらのメタル基板に対する密着性が要求されて
いる。
【0004】基板に対する密着性を向上させる方法とし
ては、特に添加剤として、N−置換イミドに有機ヒドロ
ペルオキシドを添加したもの(特公昭48−3616号
公報)、アミノアルコキシシラン(特開昭51−520
02号公報)、キレート錯体を形成する水酸基を持つ芳
香族化合物又は脂肪族化合物(特開昭52−54503
号公報)、シランカップリング剤(特開昭53−391
15号公報)等の添加が試みられているが、添加剤とし
て使用すると、他のレジスト材料との相溶性からミクロ
相分離を起こす場合がある等の欠点がある。
【0005】本発明は、上記事情に鑑みなされたもの
で、レジスト材料のベースポリマーとして好適に用いら
れ、基板、特にメタル基板に対して良好な密着性を与え
るハイブリッド化合物、並びにこのハイブリッド化合物
を含むレジスト材料及びそのパターン形成方法を提供す
ることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段及び発明の実施の形態】本
発明者は、上記目的を達成するため鋭意検討を行った結
果、フェノール樹脂にシリコーン樹脂成分を分子レベル
で分散させ、フェノール樹脂とシリコーン樹脂成分とが
網目状に絡まりあったシリコーン樹脂−フェノール樹脂
ハイブリッド化合物を用いた場合、分散したシリコーン
樹脂成分が各種金属及びその酸化膜分子と錯体を形成す
ることにより、密着性を向上させることを知見し、本発
明をなすに至ったものである。
【0007】従って、本発明は、(1)フェノール樹脂
と下記一般式(1) R1 nSi(OR24-n (1) (式中、R1は硫黄原子又は酸素原子を含む一価の炭化
水素基を示し、R2は一価の炭化水素基を示し、nは1
又は2である。)で示されるオルガノオキシシランを加
水分解・縮合して得られるシリコーン樹脂からなるハイ
ブリッド化合物、(2)フェノール樹脂が、下記一般式
(2)で示される繰り返し単位を有し、ポリスチレン換
算重量平均分子量が1,000〜10,000であるノ
ボラック樹脂の水酸基の水素原子を1〜50モル%の割
合で1,2−ナフトキノンジアジドスルホニルエステル
基で置換した樹脂であることを特徴とする(1)記載の
ハイブリッド化合物、
【化2】 (式中、mは0〜3の整数を示す。) (3)(1)又は(2)記載のハイブリッド化合物を含
むことを特徴とするレジスト材料、(4)(i)(3)
記載のレジスト材料を基板に塗布する工程、(ii)フ
ォトマスクを介して波長150〜450nmの光で露光
する工程、(iii)現像液にて現像する工程を含むこ
とを特徴とするパターン形成方法を提供する。
【0008】以下、本発明につき更に詳しく説明する。
本発明のシリコーン樹脂−フェノール樹脂ハイブリッド
化合物は、フェノール樹脂に下記一般式(1)で示され
るオルガノオキシシランを添加し、該オルガノオキシシ
ランを加水分解・縮合し、ゾル−ゲル反応させることに
より得られる、このオルガノオキシシランに由来するシ
リコーン樹脂がフェノール樹脂に網目状に絡まりあった
化合物である。 R1 nSi(OR24-n (1) ここで、R1は硫黄原子又は酸素原子を含む一価の炭化
水素基を示し、R2は一価の炭化水素基を示し、nは1
又は2である。
【0009】上記一般式(1)において、R1の硫黄原
子を含む一価の炭化水素基としては、例えばメルカプト
メチル基、メルカプトエチル基、メルカプトプロピル
基、メルカプトブチル基、メルカプトペンチル基、メル
カプトヘキシル基、メルカプトヘプチル基、メルカプト
オクチル基等の炭素数1〜8のメルカプト基を有するア
ルキル基、メルカプトフェニル基、メルカプトメチルフ
ェニル基等の炭素数6〜10のメルカプト基を有するア
リール基、メルカプトベンジル基、メルカプトメチルベ
ンジル基、2−フェニル−1−メルカプトエチル基等の
炭素数7〜12のメルカプト基を有するアラルキル基な
どが挙げられる。
【0010】また、R1の酸素原子を含む一価の炭化水
素基としては、例えばグリシドキシメチル基、グリシド
キシエチル基、グリシドキシプロピル基、グリシドキシ
ブチル基、グリシドキシペンチル基、(3,4−エポキ
シシクロヘキシル)エチル基等の炭素数4〜8のグリシ
ドキシ基又はエポキシ基を有するアルキル基、メタクリ
ロキシメチル基、メタクリロキシエチル基、メタクリロ
キシプロピル基、メタクリロキシブチル基等の炭素数4
〜8のメタクリロキシ基を有するアルキル基などが挙げ
られる。
【0011】一方、R2の一価の炭化水素基としては、
炭素数1〜8のアルキル基、炭素数6〜10のフェニル
基、トリル基等のアリール基、炭素数7〜12のベンジ
ル基、フェニルエチル基等のアラルキル基等が挙げられ
る。
【0012】本発明のフェノール樹脂としては、置換あ
るいは無置換のノボラック樹脂、ポリヒドロキシスチレ
ン樹脂を挙げることができるが、下記一般式(2)で示
される繰り返し単位を有し、ポリスチレン換算重量平均
分子量が1,000〜10,000であるノボラック樹
脂の水酸基の水素原子を1〜50モル%、特に3〜30
モル%の割合で1,2−ナフトキノンジアジドスルホニ
ルエステル基で置換した樹脂が好適に用いられる。
【0013】
【化3】 (式中、mは0〜3の整数を示す。)
【0014】感光基が置換基としてノボラック樹脂に置
換されている場合、置換基としてナフトキノンジアジド
基が好ましいが、これに限定されるものではない。
【0015】本発明のシリコーン樹脂−フェノール樹脂
ハイブリッド化合物は次の方法により調製することがで
きる。
【0016】本発明のシリコーン樹脂−フェノール樹脂
ハイブリッド化合物の製造方法は、フェノール樹脂をメ
タノールやエタノールのような炭素数1〜8のアルコー
ル類に溶解させ、これに上記一般式(1)で示されるオ
ルガノオキシシラン成分を添加して水分の存在下、加水
分解・縮合してゾル−ゲル反応をさせる。この場合、触
媒として塩酸、p−トルエンスルホン酸等の酸を加えて
もよいが、フェノール樹脂の水酸基が本質的には酸性で
あるため、必ずしも追加の酸を加えなくてもよい。な
お、上記式(1)のオルガノオキシシランの使用量は、
フェノール樹脂に対して1〜60重量%、特に3〜50
重量%が好ましい。オルガノオキシシランの使用量が1
重量%より少ないと本発明の目的を達成することができ
ず、60重量%より多いと塗布均一性及び解像力の劣化
が顕著になる場合がある。
【0017】また、反応は、オルガノオキシシランの加
水分解・縮合反応の常法によって行うことができるが、
20〜80℃、特に30〜60℃において、通常0.5
〜5時間、特に1〜3時間反応させることが好ましい。
【0018】反応後、生成したアルコール及び余分の水
を溜去することにより、レジスト材料用成分として使用
することができる。これらのアルコールや水分を溜去す
るには、40℃以下の温度で減圧蒸留するのが好まし
い。温度を上げすぎると、感光基が置換されている場合
には、そのナフトキノンジアジド基が分解反応し、レジ
スト材料として用いる時の特性が損なわれる可能性があ
るためである。
【0019】本発明のシリコーン樹脂−フェノール樹脂
ハイブリッド化合物は、レジスト材料として用いること
ができるが、上記シリコーン樹脂−フェノール樹脂ハイ
ブリッド化合物を含むレジスト材料においては、シリコ
ーン樹脂−フェノール樹脂ハイブリッド化合物がシリコ
ーン樹脂−フェノール樹脂ハイブリッド化合物を除くレ
ジスト材料中の固形分に対して、1〜60重量%、特に
3〜50重量%であることが好ましい。1重量%より少
ないと、本発明の目的を達成できないおそれがあり、5
0重量%より多いと塗布均一性及び解像力の劣化が顕著
になるおそれがある。
【0020】また、このシリコーン樹脂−フェノール樹
脂ハイブリッド化合物を含むレジスト材料において、更
に感光剤を配合することができる。ここで用いられる感
光剤は、1,2−キノンジアジド化合物が好ましく、特
に限定されるものではないが、例えば1,2−ナフトキ
ノンジアジド−4−スルホン酸エステル、1,2−ナフ
トキノンジアジド−5−スルホン酸エステル等を挙げる
ことができる。
【0021】その配合量は、上記シリコーン樹脂−フェ
ノール樹脂ハイブリッド化合物100重量部に対して5
〜50重量部、特に10〜40重量部が好ましい。
【0022】本発明のシリコーン樹脂−フェノール樹脂
ハイブリッド化合物をレジスト材料として用いる場合、
通常、有機溶剤に溶解して用いられる。この場合、有機
溶剤としては本発明のレジスト材料に対して十分な溶解
度を持ち、良好な塗膜性を与える溶媒であれば特に制限
なく使用することができる。例えば、メチルセロソル
ブ、エチルセロソルブ、メチルセロソルブアセテート、
エチルセロソルブアセテート等のセロソルブ系溶媒、プ
ロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレング
リコールモノブチルエーテル、プロピレングリコールモ
ノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールジ
メチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエー
テルアセテート等のプロピレングリコール系溶媒、酢酸
ブチル、酢酸アミル、乳酸メチル、乳酸エチル、3−メ
トキシプロピオン酸、3−エトキシプロピオン酸エチル
等のエステル系溶媒、ヘキサノール、ジアセトンアルコ
ール等のアルコール系溶媒、シクロヘキサノン、メチル
アミルケトン等のケトン系溶媒、メチルフェニルエーテ
ル、ジエチレングリコールジメチルエーテル等のエーテ
ル系溶媒、N,N−ジメチルホルムアミド、N−メチル
ピロリドン等の高極性溶媒あるいはこれらの混合溶媒等
が挙げられる。
【0023】溶剤の使用量は、シリコーン樹脂−フェノ
ール樹脂ハイブリッド化合物に対して重量比で1〜20
倍、特に1〜15倍の範囲が好ましい。
【0024】なお、本発明のレジスト材料は、上記感光
剤及び溶剤のほか、添加剤としてレベリング剤、各種界
面活性剤、染料等を添加することができる。
【0025】本発明のレジスト材料を用いてパターンを
形成する場合は、公知のリソグラフィー技術を採用して
行うことができ、例えばシリコンウェハー等の基板上に
スピンコーティング等の手法で膜厚が0.5〜2.0μ
mとなるように塗布し、これをホットプレート上で60
〜150℃、1〜10分間、好ましくは80〜120
℃、1〜5分間プリベークする。
【0026】次いで、目的のパターンを形成するための
マスクを上記のレジスト膜上にかざし、波長500nm
以下の高エネルギー線もしくは電子線を露光量1〜20
0mJ/cm2程度、好ましくは1〜100mJ/cm2
程度となるように照射した後、必要に応じてホットプレ
ート上で60〜150℃、1〜10分間、好ましくは8
0〜120℃、1〜5分間ポストエクスポージャベーク
(PEB)する。更に、0.1〜5重量%、好ましくは
2〜3重量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド
(TMAH)等のアルカリ水溶液の現像液を用い、0.
1〜3分間、好ましくは0.5〜2分間、浸漬(dip
法)、パドル(puddle)法、スプレー(spra
y)法等の常法により現像することにより基板上に目的
のパターンが形成される。
【0027】
【実施例】以下、実施例と比較例を示し、本発明を具体
的に説明するが、本発明は下記の実施例に制限されるも
のではない。
【0028】[合成例1] ノボラック樹脂の合成 撹拌機、コンデンサー、温度計を装着した3つ口フラス
コにp−クレゾール59.5g(0.55mol)、m
−クレゾール48.7g(0.45mol)、37重量
%ホルムアルデヒド水溶液48.7g(0.52mo
l)及び重縮合触媒であるシュウ酸2水和物0.30g
(2.40×10-3mol)を仕込み、フラスコをオイ
ルバスに浸し、内温を100℃に保持し、1時間重縮合
を行った。反応終了後500mlのMIBK(メチルイ
ソブチルケトン)を加え、30分撹拌した後、水層を分
離し、MIBK層に抽出された生成物を300mlの純
水で5回水洗、分液し、エバポレーターにて4mmHg
で150℃の減圧ストリップを行い、アルカリ可溶性ノ
ボラック樹脂(87g)を得た。
【0029】[合成例2] 1,2−ナフトキノンジア
ジドスルホニルエステル基で置換されたノボラック樹脂
の合成 遮光下にて、撹拌機、滴下ロート、コンデンサー、温度
計を装着した3つ口フラスコに合成例1で得たアルカリ
可溶性ノボラック樹脂A120g(1mol)、1,2
−ナフトキノンジアジドスルホニルクロリド26.9g
(0.10mol)、アセトン400gを仕込み、1時
間撹拌しながら溶解させた。フラスコを25℃に調整し
たウォーターバスに浸し、トリエチルアミン10.6g
(0.11mol)を内温が30℃を超えないように滴
下した。その後、1時間熟成させ、0.1N塩酸水50
00ml中に注ぎ込んで、析出物を濾過し、更に800
gのメチルイソブチルケトンに溶解させ、水洗、分液し
た後、40℃で減圧ストリップを行い、ノボラック樹脂
の水酸基の水素原子を1,2−ナフトキノンジアジドス
ルホニルエステル基(置換率10モル%)を置換したノ
ボラック樹脂を142g得た。
【0030】[実施例1]合成例2で得たノボラック樹
脂4gに、メタノール10ml及びγ−グリシドキシプ
ロピルトリエトキシシラン1.2gを加え、撹拌溶解し
た。次いで撹拌しながら、滴下漏斗より1.5mlの純
水を約5分かけて滴下した。滴下後、1時間熟成し、そ
の後ロータリーエバポレーターにて40℃、2mmHg
の減圧下で、溶剤のメタノール及び生成したエタノール
及び過剰の水を溜去し、5gの生成物を得た。
【0031】これにプロピレングリコールモノメチルエ
ーテルアセテートを5g及び界面活性剤X−70−09
3(商品名、信越化学工業社製)0.01gを溶解させ
た後、0.2μmの孔径のメンブレンフィルターにて濾
過し、シリコーン樹脂−ノボラック樹脂ハイブリッド化
合物を主材とするレジスト材料A10gを得た。
【0032】次いで、これを6インチベアシリコンウェ
ハー上にクロムをスパッタした基板にスピンナーを用い
て塗布し、ホットプレート上で100℃/120秒にて
プリベークし、厚さ6.0μmのレジスト膜を形成し、
i線ステッパー(ニコン社製NSR−1755i7、N
A=0.5)を用いて露光し、現像、純水リンスした
後、パターンの評価を行った。なお、パターン評価は日
立社製SEMにて1.5μmライン&スペースを観察し
てパターンの流れの有無で基板に対する密着性を判断し
た。
【0033】[実施例2]実施例1と同様に、合成例2
で得たノボラック樹脂4gにメタノール10ml及びγ
−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン1.6g
を加え、撹拌溶解した。次いで、撹拌しながら、滴下漏
斗より2mlの純水を約5分かけて滴下した。滴下後、
1時間熟成し、その後ロータリーエバポレーターにて4
0℃、2mmHgの減圧下で、溶剤のメタノール及び生
成したエタノール及び過剰の水を溜去し、5.2gの生
成物を得た。
【0034】これに実施例1と同様に、プロピレングリ
コールモノメチルエーテルアセテート5g及び界面活性
剤X−70−093を0.01g溶解させた後、0.2
μmの孔径のメンブレンフィルターにて濾過し、シリコ
ーン樹脂−ノボラック樹脂ハイブリッド化合物を主材と
するレジスト材料B10gを得た。次いで、これを6イ
ンチベアシリコンウェハー上にタンタルをスパッタした
基板にスピンナーを用いて塗布し、実施例1と同様に密
着性を判断した。
【0035】[実施例3]実施例1と同様に、合成例2
で得たノボラック樹脂4gにメタノール10ml及びγ
−メルカプトプロピルトリメトキシシラン0.8gを加
え、撹拌溶解した。次いで、撹拌しながら、滴下漏斗よ
り1.2mlの純水を約5分かけて滴下した。滴下後、
1時間熟成し、その後ロータリーエバポレーターにて4
0℃、2mmHgの減圧下で、溶剤のメタノール及び生
成したエタノール及び過剰の水を溜去し、4.6gの生
成物を得た。
【0036】これに実施例1と同様に、プロピレングリ
コールモノメチルエーテルアセテート5g及び界面活性
剤X−70−093を0.01g溶解させた後、0.2
μmの孔径のメンブレンフィルターにて濾過し、シリコ
ーン樹脂−ノボラック樹脂ハイブリッド化合物を主材と
するレジスト材料C10gを得た。次いで、これを6イ
ンチベアシリコンウェハー上に金をスパッタした基板に
スピンナーを用いて塗布し、実施例1と同様に密着性を
判断した。
【0037】[実施例4]合成例1で得たノボラック樹
脂4gに、メタノール10ml及びγ−グリシドキシプ
ロピルトリエトキシシラン1.2gを加え、撹拌溶解し
た。次いで撹拌しながら、滴下漏斗より1.5mlの純
水を約5分かけて滴下した。滴下後、1時間熟成し、そ
の後ロータリーエバポレーターにて40℃、2mmHg
の減圧下で、溶剤のメタノール及び生成したエタノール
及び過剰の水を溜去し、5gの生成物を得た。
【0038】これに実施例1と同様、プロピレングリコ
ールモノメチルエーテルアセテート5g及び界面活性剤
X−70−093を0.01gと、更に感光剤として下
記一般式(3)に示す感光剤P1.5gを溶解させた
後、0.2μmの孔径のメンブレンフィルターにて濾過
し、シリコーン樹脂−ノボラック樹脂ハイブリッド化合
物を主材とするレジスト材料D10gを得た。
【0039】
【化4】 (式中、Rは水素原子もしくは1,2−ナフトキノンジ
アジド−5−スルホニル基であり、Rのうち平均値で2
個が1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニル基
である。)
【0040】次いで、これを6インチベアシリコンウェ
ハー上にクロムをスパッタした基板にスピンナーを用い
て塗布し、実施例1と同様に密着性を判断した。
【0041】[実施例5]実施例4と同様に、合成例1
で得たノボラック樹脂4gにメタノール10ml及びγ
−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン1.6g
を加え、撹拌溶解した。次いで撹拌しながら、滴下漏斗
より2mlの純水を約5分かけて滴下した。滴下後、1
時間熟成し、その後ロータリーエバポレーターにて40
℃、2mmHgの減圧下で、溶剤のメタノール及び生成
したエタノール及び過剰の水を溜去し、5.2gの生成
物を得た。
【0042】これに実施例1と同様に、プロピレングリ
コールモノメチルエーテルアセテート5g及び界面活性
剤X−70−093を0.01gと、更に感光剤として
上記式(3)に示す感光剤P1.5gを溶解させた後、
0.2μmの孔径のメンブレンフィルターにて濾過し、
シリコーン樹脂−ノボラック樹脂ハイブリッド化合物を
主材とするレジスト材料E10gを得た。次いで、これ
を6インチベアシリコンウェハー上にタンタルをスパッ
タした基板にスピンナーを用いて塗布し、実施例1と同
様に密着性を判断した。
【0043】[実施例6]実施例4と同様に、合成例1
で得たノボラック樹脂4gにメタノール10ml及びγ
−メルカプトプロピルトリメトキシシラン0.8gを加
え、撹拌溶解した。次いで撹拌しながら、滴下漏斗より
1.2mlの純水を約5分かけて滴下した。滴下後、1
時間熟成し、その後ロータリーエバポレーターにて40
℃、2mmHgの減圧下で、溶剤のメタノール及び生成
したエタノール及び過剰の水を溜去し、4.6gの生成
物を得た。
【0044】これに実施例1と同様に、プロピレングリ
コールモノメチルエーテルアセテート5g及び界面活性
剤X−70−093を0.01g溶解させた後、0.2
μmの孔径のメンブレンフィルターにて濾過し、シリコ
ーン樹脂−ノボラック樹脂ハイブリッド化合物を主材と
するレジスト材料F10gを得た。次いで、これを6イ
ンチベアシリコンウェハー上に金をスパッタした基板に
スピンナーを用いて塗布し、実施例1と同様に密着性を
判断した。
【0045】[比較例1]実施例1と同様に、合成例2
で得たノボラック樹脂4gにメタノール10ml及びフ
ェニルトリエトキシシラン1.2gを加え、撹拌溶解し
た。次いで撹拌しながら、滴下漏斗より1.5mlの純
水を約5分かけて滴下した。滴下後、1時間熟成し、そ
の後ロータリーエバポレーターにて40℃、2mmHg
の減圧下で、溶剤のメタノール及び生成したエタノール
及び過剰の水を溜去し、5gの生成物を得た。
【0046】これに実施例1と同様に、プロピレングリ
コールモノメチルエーテルアセテート5g及び界面活性
剤X−70−093を0.01g溶解させた後、0.2
μmの孔径のメンブレンフィルターにて濾過し、シリコ
ーン樹脂−ノボラック樹脂ハイブリッド化合物を主材と
するレジスト材料G10gを得た。次いで、これを6イ
ンチベアシリコンウェハー上にクロムをスパッタした基
板にスピンナーを用いて塗布し、実施例1と同様に密着
性を判断した。
【0047】[比較例2]実施例4と同様に、合成例1
で得たノボラック樹脂4gにメタノール10ml及びフ
ェニルトリエトキシシラン1.2gを加え、撹拌溶解し
た。次いで撹拌しながら、滴下漏斗より1.5mLの純
水を約5分かけて滴下した。滴下後、1時間熟成し、そ
の後ロータリーエバポレーターにて40℃、2mmHg
の減圧下で、溶剤のメタノール及び生成したエタノール
及び過剰の水を溜去し、5gの生成物を得た。
【0048】これに実施例1と同様に、プロピレングリ
コールモノメチルエーテルアセテート5g及び界面活性
剤X−70−093を0.01g溶解させた後、0.2
μmの孔径のメンブレンフィルターにて濾過し、シリコ
ーン樹脂−ノボラック樹脂ハイブリッド化合物を主材と
するレジスト材料G10gを得た。次いで、これを6イ
ンチベアシリコンウェハー上にタンタルをスパッタした
基板にスピンナーを用いて塗布し、実施例1と同様に密
着性を判断した。
【0049】
【表1】
【0050】
【発明の効果】本発明によれば、レジスト材料のベース
ポリマーに使用されてメタル基板に対して優れた密着性
を与えるハイブリッド化合物を提供することができる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/027 H01L 21/30 502R (72)発明者 降▲旗▼ 智欣 群馬県碓氷郡松井田町大字人見1番地10 信越化学工業株式会社新機能材料技術研究 所内 Fターム(参考) 2H025 AA09 AA10 AA14 AB16 AC01 AD03 BE02 CB33 4J002 CC07W CP03X GP03 4J033 AA01 BA01 CA02 CA12 CA29 CA31 CA44 CB03 CB18 CC09 HA02 HA12 HA28 HB10

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 フェノール樹脂と下記一般式(1) R1 nSi(OR24-n (1) (式中、R1は硫黄原子又は酸素原子を含む一価の炭化
    水素基を示し、R2は一価の炭化水素基を示し、nは1
    又は2である。)で示されるオルガノオキシシランを加
    水分解・縮合して得られるシリコーン樹脂からなるハイ
    ブリッド化合物。
  2. 【請求項2】 フェノール樹脂が、下記一般式(2)で
    示される繰り返し単位を有し、ポリスチレン換算重量平
    均分子量が1,000〜10,000であるノボラック
    樹脂の水酸基の水素原子を1〜50モル%の割合で1,
    2−ナフトキノンジアジドスルホニルエステル基で置換
    した樹脂であることを特徴とする請求項1記載のハイブ
    リッド化合物。 【化1】 (式中、mは0〜3の整数を示す。)
  3. 【請求項3】 請求項1又は2記載のハイブリッド化合
    物を含むことを特徴とするレジスト材料。
  4. 【請求項4】 (i)請求項3記載のレジスト材料を基
    板に塗布する工程、(ii)フォトマスクを介して波長
    150〜450nmの光で露光する工程、(iii)現
    像液にて現像する工程を含むことを特徴とするパターン
    形成方法。
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