JP2002181723A - 表面検査装置 - Google Patents
表面検査装置Info
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- JP2002181723A JP2002181723A JP2001339142A JP2001339142A JP2002181723A JP 2002181723 A JP2002181723 A JP 2002181723A JP 2001339142 A JP2001339142 A JP 2001339142A JP 2001339142 A JP2001339142 A JP 2001339142A JP 2002181723 A JP2002181723 A JP 2002181723A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8914—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined
- G01N2021/8918—Metal
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】簡単な構成で鋼板表面にある模様状疵や凹凸状
の疵をオンラインで連続的に検出して、その種別や程度
を弁別する。 【解決手段】鋼板4の表面に対して一定入射角で偏光を
入射し、その反射光の異なる複数の偏光をリニアアレイ
カメラ3で測定する。信号処理部12は測定した3種類
の画像信号の強度分布を正規化し、正常部に対する疵部
の異なる偏光の光強度信号の変化極性と変化量とを算出
し、算出した変化極性と変化量とをそれぞれあらかじめ
定めたパタ−ンと比較して疵種を判定する。
の疵をオンラインで連続的に検出して、その種別や程度
を弁別する。 【解決手段】鋼板4の表面に対して一定入射角で偏光を
入射し、その反射光の異なる複数の偏光をリニアアレイ
カメラ3で測定する。信号処理部12は測定した3種類
の画像信号の強度分布を正規化し、正常部に対する疵部
の異なる偏光の光強度信号の変化極性と変化量とを算出
し、算出した変化極性と変化量とをそれぞれあらかじめ
定めたパタ−ンと比較して疵種を判定する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、例えば薄鋼板等
の表面疵等を光学的に検出する表面検査装置に関するも
のである。
の表面疵等を光学的に検出する表面検査装置に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】例えば鋼板の表面疵を光学的に検出する
装置としては、レ−ザ光の散乱又は回折パタ−ンの変化
を利用して疵を検出する方法が多く用いられている。こ
の方法は鋼板の表面に明らかな凹凸を形成している疵を
検出する場合には有効な方法である。
装置としては、レ−ザ光の散乱又は回折パタ−ンの変化
を利用して疵を検出する方法が多く用いられている。こ
の方法は鋼板の表面に明らかな凹凸を形成している疵を
検出する場合には有効な方法である。
【0003】一方、鋼板等の疵には、表面の凹凸はな
く、物性値のむら,ミクロな粗さのむら,薄い酸化膜等
の局所的な存在あるいはコ−ティング膜厚の厚さむらと
いった模様状疵といわれるものがある。このような模様
状疵はレ−ザ光の散乱や回折パタ−ンの変化では検出が
困難である。例えば正常部で100Å程度の酸化膜が付い
ている鋼板表面に、局所的に400Å程度の酸化膜が厚く
付いている異常部がある場合、このような異常部の領域
は表面処理工程において塗装不良が生じるため、疵とし
て検出して除去したい要請がある。しかしながら、異常
部と正常部の酸化膜厚の差は鋼板表面の粗さに埋もれて
しまい、光の散乱や回折を利用した方法では全く検出が
不可能である。
く、物性値のむら,ミクロな粗さのむら,薄い酸化膜等
の局所的な存在あるいはコ−ティング膜厚の厚さむらと
いった模様状疵といわれるものがある。このような模様
状疵はレ−ザ光の散乱や回折パタ−ンの変化では検出が
困難である。例えば正常部で100Å程度の酸化膜が付い
ている鋼板表面に、局所的に400Å程度の酸化膜が厚く
付いている異常部がある場合、このような異常部の領域
は表面処理工程において塗装不良が生じるため、疵とし
て検出して除去したい要請がある。しかしながら、異常
部と正常部の酸化膜厚の差は鋼板表面の粗さに埋もれて
しまい、光の散乱や回折を利用した方法では全く検出が
不可能である。
【0004】このように光の散乱や回折を利用した方法
では検出できない疵を検出するために、偏光を用いた疵
検査方法が例えば特開昭52−138183号公報や特開昭58−
204356号公報等に開示されている。特開昭52−138183号
公報に示された検査方法は被検査体の表面から反射した
P偏光とS偏光の比があらかじめ定めた比較レベルより
高いか否可によって欠陥の有無を検知するものである。
また、特開昭58−204356号公報に示された検出方法は被
検査体の表面に特定角度の入射角で光を照射して、表面
欠陥を検出するときのS/N比を向上するようにしたも
のである。また、疵検査方法ではないが、偏光を用いた
膜厚,表面物性の測定方法が例えば特開昭62−293104号
公報や特開平4−58138号公報等に開示されている。特
開昭62−293104号公報に示された検査方法は、試料から
反射した偏光を方位角の異なる3個の検光子を通して受
光し、異なる3種類の偏光の光強度から各位置のエリプ
ソパラメ−タすなわち反射光の電気ベクトルのうち入射
面方向の成分であるP偏光と入射面に垂直方向の成分で
あるS偏光との振幅反射率比tanΨと位相差Δを演算し
て、被検査面上の酸化膜やコ−ティング厚さあるいは物
性値を制度良く測定する方法である。特開平4−58138
号公報に示された検出方法は、試料から反射した偏光を
1/4波長板からなる移相子と検光子とを介してイメ−
ジセンサに導くときに、移相子の透過軸の位置を所定角
度変え、各角度毎に検光子を回転させてイメ−ジセンサ
の画素毎に偏光パラメ−タを求めて複屈折分布を精度良
く測定する方法である。
では検出できない疵を検出するために、偏光を用いた疵
検査方法が例えば特開昭52−138183号公報や特開昭58−
204356号公報等に開示されている。特開昭52−138183号
公報に示された検査方法は被検査体の表面から反射した
P偏光とS偏光の比があらかじめ定めた比較レベルより
高いか否可によって欠陥の有無を検知するものである。
また、特開昭58−204356号公報に示された検出方法は被
検査体の表面に特定角度の入射角で光を照射して、表面
欠陥を検出するときのS/N比を向上するようにしたも
のである。また、疵検査方法ではないが、偏光を用いた
膜厚,表面物性の測定方法が例えば特開昭62−293104号
公報や特開平4−58138号公報等に開示されている。特
開昭62−293104号公報に示された検査方法は、試料から
反射した偏光を方位角の異なる3個の検光子を通して受
光し、異なる3種類の偏光の光強度から各位置のエリプ
ソパラメ−タすなわち反射光の電気ベクトルのうち入射
面方向の成分であるP偏光と入射面に垂直方向の成分で
あるS偏光との振幅反射率比tanΨと位相差Δを演算し
て、被検査面上の酸化膜やコ−ティング厚さあるいは物
性値を制度良く測定する方法である。特開平4−58138
号公報に示された検出方法は、試料から反射した偏光を
1/4波長板からなる移相子と検光子とを介してイメ−
ジセンサに導くときに、移相子の透過軸の位置を所定角
度変え、各角度毎に検光子を回転させてイメ−ジセンサ
の画素毎に偏光パラメ−タを求めて複屈折分布を精度良
く測定する方法である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】特開昭52−138183号公
報や特開昭58−204356号公報に示された検査方法は、偏
光を用いて正常部と異常部とを弁別しているが、測定し
ている偏光方向は2方向のみである。鋼板等の表面の疵
部は光学的物性が正常部と異なった部分であることが多
く、その種類や形態は様々であるため鋼板で反射された
光の偏光状態も様々である。このような場合、3方向以
上の偏光を測定しないと、測定対象の偏光特性を一意に
表すことができないため、例えば検査結果として異常部
が検出できたとしても、それが油のしみか、酸化膜のむ
らか、又は何らかしらの異常な付着物が付着したのであ
るか等、多数の疵種を弁別するこができず、適用できる
疵種は制限されていた。また、偏光を用いたどのような
方法,装置を使用すれば多種多様の疵を弁別できるかに
ついても明らかにされていなかった。
報や特開昭58−204356号公報に示された検査方法は、偏
光を用いて正常部と異常部とを弁別しているが、測定し
ている偏光方向は2方向のみである。鋼板等の表面の疵
部は光学的物性が正常部と異なった部分であることが多
く、その種類や形態は様々であるため鋼板で反射された
光の偏光状態も様々である。このような場合、3方向以
上の偏光を測定しないと、測定対象の偏光特性を一意に
表すことができないため、例えば検査結果として異常部
が検出できたとしても、それが油のしみか、酸化膜のむ
らか、又は何らかしらの異常な付着物が付着したのであ
るか等、多数の疵種を弁別するこができず、適用できる
疵種は制限されていた。また、偏光を用いたどのような
方法,装置を使用すれば多種多様の疵を弁別できるかに
ついても明らかにされていなかった。
【0006】これに対して特開昭62−293104号公報に示
された検査方法は、エリプソパラメ−タの振幅反射率比
tanΨと位相差Δを使用しているから、油のしみや酸化
膜のむら,異物の付着を弁別できる可能性がある。しか
しながら、この方法は基本的に点測定であり、鋼板等の
表面全体の検査に適さない。仮に、特開昭62−293104号
公報に示されている装置を鋼板の幅方向に多数並べた
り、幅方向に高速に移動可能な機構を持った手段によっ
て1台の装置を走査したり、何らかの工夫により全面走
査が可能になったとしても、信号処理部は全測定点につ
いて偏光強度信号からエリプソパラメ−タの振幅反射率
比tanΨと位相差Δを演算し、画像処理装置などを用い
て疵種と疵の等級を判定する必要がある。しかし、幅方
向1ラインで1000点以上の偏光強度信号を処理しなけら
ばならず、特にエリプソパラメ−タ演算はソフトウェア
演算で行った場合、約数10秒の演算時間がかかるため、
例えば毎分数100mの速度で通過する鋼板等のシ−ト状
製品の表面をオンラインで連続的に検査することは不可
能であった。このために専用の偏光パラメ−タ等の演算
処理装置が必要となり、装置が高価になってしまう。
された検査方法は、エリプソパラメ−タの振幅反射率比
tanΨと位相差Δを使用しているから、油のしみや酸化
膜のむら,異物の付着を弁別できる可能性がある。しか
しながら、この方法は基本的に点測定であり、鋼板等の
表面全体の検査に適さない。仮に、特開昭62−293104号
公報に示されている装置を鋼板の幅方向に多数並べた
り、幅方向に高速に移動可能な機構を持った手段によっ
て1台の装置を走査したり、何らかの工夫により全面走
査が可能になったとしても、信号処理部は全測定点につ
いて偏光強度信号からエリプソパラメ−タの振幅反射率
比tanΨと位相差Δを演算し、画像処理装置などを用い
て疵種と疵の等級を判定する必要がある。しかし、幅方
向1ラインで1000点以上の偏光強度信号を処理しなけら
ばならず、特にエリプソパラメ−タ演算はソフトウェア
演算で行った場合、約数10秒の演算時間がかかるため、
例えば毎分数100mの速度で通過する鋼板等のシ−ト状
製品の表面をオンラインで連続的に検査することは不可
能であった。このために専用の偏光パラメ−タ等の演算
処理装置が必要となり、装置が高価になってしまう。
【0007】しかしながら、この方法は検査手法として
は非常に敏感であり、他の種類の疵や汚れ,油むら,ス
ケ−ルなどから相対的に微弱な検出強度した与えない模
様状の表面疵の情報のみを弁別して検出することは困難
であった。特に、表面に油膜が塗布されて製造ライン上
を移動する鋼板を検査する場合には、その油膜むらと本
来検出すべき表面疵の両方を含んだ偏光パラメ−タを検
出してしまい、表面疵の情報だけを弁別して検出するこ
とはできなかった。このため、特に防錆のために表面に
油膜が塗布されていることが多い冷延鋼板等の通常の鋼
板の表面疵の検出に使える可能性がないと考えられてお
り、鋼板の模様状疵を光学的手段で検出すること、さら
に表面疵の種類や等級までを判定することは不可能とさ
れていた。
は非常に敏感であり、他の種類の疵や汚れ,油むら,ス
ケ−ルなどから相対的に微弱な検出強度した与えない模
様状の表面疵の情報のみを弁別して検出することは困難
であった。特に、表面に油膜が塗布されて製造ライン上
を移動する鋼板を検査する場合には、その油膜むらと本
来検出すべき表面疵の両方を含んだ偏光パラメ−タを検
出してしまい、表面疵の情報だけを弁別して検出するこ
とはできなかった。このため、特に防錆のために表面に
油膜が塗布されていることが多い冷延鋼板等の通常の鋼
板の表面疵の検出に使える可能性がないと考えられてお
り、鋼板の模様状疵を光学的手段で検出すること、さら
に表面疵の種類や等級までを判定することは不可能とさ
れていた。
【0008】また、この方法は元々膜厚あるいは物性値
を測定する方法であり、そのためにはエリプソパラメ−
タの振幅反射率比tanΨと位相差Δを測定すれば十分で
あった、しかしながら、これらのパラメ−タは必ずしも
人の目で見た状態と一致するものではなく、人が疵と認
識できてもエリプソパラメ−タは変化しない疵について
は検出することができなかった。
を測定する方法であり、そのためにはエリプソパラメ−
タの振幅反射率比tanΨと位相差Δを測定すれば十分で
あった、しかしながら、これらのパラメ−タは必ずしも
人の目で見た状態と一致するものではなく、人が疵と認
識できてもエリプソパラメ−タは変化しない疵について
は検出することができなかった。
【0009】また、特開平4−58138号公報に示された
検査方法は、薄膜評価等に使用されているエリプソメ−
タを2次元に拡大したものであり、この場合は、各画素
毎に複屈折率が求められるため、正常部と異常部とでは
異なる値として複屈折率が測定され、その違いにより正
常部と異常部を弁別できる可能性がある。しかしなが
ら、移相子と検光子を機械的に回転させて測定している
ため、被検査体の各位置の複屈折率を測定するには、少
なくとも1回の測定中は被検査体を停止させている必要
があった。このため、例えば鋼板等のように連続的に製
造されて送られるシ−ト状製品の表面をオンラインで連
続的に検査することは不可能であった。
検査方法は、薄膜評価等に使用されているエリプソメ−
タを2次元に拡大したものであり、この場合は、各画素
毎に複屈折率が求められるため、正常部と異常部とでは
異なる値として複屈折率が測定され、その違いにより正
常部と異常部を弁別できる可能性がある。しかしなが
ら、移相子と検光子を機械的に回転させて測定している
ため、被検査体の各位置の複屈折率を測定するには、少
なくとも1回の測定中は被検査体を停止させている必要
があった。このため、例えば鋼板等のように連続的に製
造されて送られるシ−ト状製品の表面をオンラインで連
続的に検査することは不可能であった。
【0010】この発明はかかる短所を改善するためにな
されたものであり、簡単な構成でシ−ト状製品の表面に
ある模様状疵や凹凸状の疵をオンラインで連続的に検出
して、その種別や程度を弁別することができる表面検査
装置を得ることを目的とするものである。
されたものであり、簡単な構成でシ−ト状製品の表面に
ある模様状疵や凹凸状の疵をオンラインで連続的に検出
して、その種別や程度を弁別することができる表面検査
装置を得ることを目的とするものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】この発明に係る表面検査
装置は、投光部と受光部と信号処理部とを有し、投光部
は被検査面に偏光を入射し、受光部は少なくとも3方向
の異なる角度の偏光を受光する複数の受光光学系を有
し、被検査面で反射した反射光を検出して画像信号に変
換し、信号処理部は各受光光学系から出力された光強度
分布を平均値があらかじめ定めた基準値となるように規
格化し、規格化した複数の光強度分布の変化極性と変化
量とをあらかじめ定めたパタ−ンと比較し疵種を判定す
ることを特徴とする
装置は、投光部と受光部と信号処理部とを有し、投光部
は被検査面に偏光を入射し、受光部は少なくとも3方向
の異なる角度の偏光を受光する複数の受光光学系を有
し、被検査面で反射した反射光を検出して画像信号に変
換し、信号処理部は各受光光学系から出力された光強度
分布を平均値があらかじめ定めた基準値となるように規
格化し、規格化した複数の光強度分布の変化極性と変化
量とをあらかじめ定めたパタ−ンと比較し疵種を判定す
ることを特徴とする
【0012】また、上記信号処理部は各受光光学系から
出力された光強度分布を平均値があらかじめ定めた基準
値となるように規格化し、規格化した複数の光強度分布
の変化極性と変化量とをあらかじめ定めたパタ−ンと比
較し疵種を判定し、各受光光学系から出力された光強度
分布から目視相当の光量変化を演算し、演算した光量変
化をあらかじめ定めたパタ−ンと比較し疵の等級を判定
することが望ましい。
出力された光強度分布を平均値があらかじめ定めた基準
値となるように規格化し、規格化した複数の光強度分布
の変化極性と変化量とをあらかじめ定めたパタ−ンと比
較し疵種を判定し、各受光光学系から出力された光強度
分布から目視相当の光量変化を演算し、演算した光量変
化をあらかじめ定めたパタ−ンと比較し疵の等級を判定
することが望ましい。
【0013】
【発明の実施の形態】偏光は反射表面の物性、特に薄膜
に対して敏感である。また反射表面の物性により最大強
度の偏光方向も変化する。金属表面の疵部は正常部と異
なる表面特性を有し、表面の物性が母材と異なるため疵
となったり、あるいは例えば凹凸のように正常部と表面
幾何学形状が異なるために疵となるものがある。前者は
偏光を用いることにより検出でき、後者は反射率の相違
となって現れるため反射光量変化により検出できる。
に対して敏感である。また反射表面の物性により最大強
度の偏光方向も変化する。金属表面の疵部は正常部と異
なる表面特性を有し、表面の物性が母材と異なるため疵
となったり、あるいは例えば凹凸のように正常部と表面
幾何学形状が異なるために疵となるものがある。前者は
偏光を用いることにより検出でき、後者は反射率の相違
となって現れるため反射光量変化により検出できる。
【0014】そこで、この発明においては、被検査面に
対して一定入射角で被検査面の幅方向全体に偏光を入射
するように投光部を配置し、被検査面からの反射光を受
光する受光部を所定の位置に配置する。受光部は入射し
た光を例えば3本のビ−ムに分離するビ−ムスプリッタ
と、分離した3本のビ−ムを別々に入射して画像信号を
出力する例えばCCDセンサを有する3組のリニアアレ
イカメラと、ビ−ムスプリッタと各リニアアレイカメラ
の間に設けられ、被検査面からの反射光を異なる振動面
の偏光にする検光子とが設けられている。3個の検光子
はそれぞれ異なる方位角、すなわち透過軸が被検査面の
入射面となす角が、例えば0,π/4,−π/4になる
ように配置されている。
対して一定入射角で被検査面の幅方向全体に偏光を入射
するように投光部を配置し、被検査面からの反射光を受
光する受光部を所定の位置に配置する。受光部は入射し
た光を例えば3本のビ−ムに分離するビ−ムスプリッタ
と、分離した3本のビ−ムを別々に入射して画像信号を
出力する例えばCCDセンサを有する3組のリニアアレ
イカメラと、ビ−ムスプリッタと各リニアアレイカメラ
の間に設けられ、被検査面からの反射光を異なる振動面
の偏光にする検光子とが設けられている。3個の検光子
はそれぞれ異なる方位角、すなわち透過軸が被検査面の
入射面となす角が、例えば0,π/4,−π/4になる
ように配置されている。
【0015】信号処理部は各リニアアレイカメラからの
出力画像信号をシェ−ディング補正して正常部が全階調
の中心濃度になるように正規化して平坦化し、正常部に
対する相対的な変化を示す光強度信号に変換する。この
正常部に対する相対的な変化を示す3種類の光強度信号
の分布の変化極性と変化量とをそれぞれあらかじめ定め
たパタ−ンと比較して偏光の変化を検出する。この3種
類の光強度信号の正常部に対する変化極性と変化量の大
小から表面の物性が母材と異なる疵の疵種を判定する。
出力画像信号をシェ−ディング補正して正常部が全階調
の中心濃度になるように正規化して平坦化し、正常部に
対する相対的な変化を示す光強度信号に変換する。この
正常部に対する相対的な変化を示す3種類の光強度信号
の分布の変化極性と変化量とをそれぞれあらかじめ定め
たパタ−ンと比較して偏光の変化を検出する。この3種
類の光強度信号の正常部に対する変化極性と変化量の大
小から表面の物性が母材と異なる疵の疵種を判定する。
【0016】また、信号処理部は上記処理とともに各受
光光学系から出力された光強度分布から目視相当の光量
変化すなわち表面反射強度を演算し、演算した光量変化
をあらかじめ定めたパタ−ンと比較し、光量変化の変化
極性と変化量の大小から例えば凹凸のように正常部と表
面幾何学形状が異なるために疵の等級を判定する。
光光学系から出力された光強度分布から目視相当の光量
変化すなわち表面反射強度を演算し、演算した光量変化
をあらかじめ定めたパタ−ンと比較し、光量変化の変化
極性と変化量の大小から例えば凹凸のように正常部と表
面幾何学形状が異なるために疵の等級を判定する。
【0017】
【実施例】図1はこの発明の一実施例の光学系を示す配
置図である。図に示すように、光学系1は投光部2と3
板式偏光リニアアレイカメラ3を有する。投光部2は被
検査体例えば鋼板4の表面に一定の入射角で偏光を入射
するものであり、光源5と光源5の前面に設けられた偏
光子6とを有する。光源5は鋼板4の幅方向に伸びた棒
状発光装置からなり、鋼板4の幅方向全体に一様な強度
分布を有する光を照射する。偏光子6は例えば偏光板又
は偏光フィルタからなり、図2の配置説明図に示すよう
に、透過軸Pが鋼板4の入射面となす角α1がπ/4に
なるように配置されている。3板式偏光リニアアレイカ
メラ3は、図3の構成図に示すように、ビ−ムスプリッ
タ7と3個の検光子8a,8b,8cと3個のリニアア
レイセンサ9a,9b,9cとを有する。ビ−ムスプリ
ッタ7は3個のプリズムからなり、入射面に誘電体多層
膜を蒸着した半透過性を有する反射面が2面設けられ、
鋼板4からの反射光を入射する第1の反射面7aは透過
率と反射率が2対1の割合になっており、第1の反射面
7aを透過した光を入射する第2の反射面7bは透過率
と反射率が1対1の割合になっており、鋼板4からの反
射光を同じ光量の3本のビ−ムに分離する。また、ビ−
ムスプリッタ7の入射面から分離した3本のビ−ムの出
射面までの光路長は同じにしてある。検光子8aは第2
の反射面10bの透過光の光路に設けられ、図2に示す
ように、方位角すなわち透過軸が鋼板4の入射面となす
角α2が0度になるように配置され、検光子8bは第2
の反射面7bの反射光の光路に設けられ、方位角α2が
π/4度になるように配置され、検光子8cは第1の反
射面7aの反射光の光路に設けられ、方位角α2が−π
/4になるように配置されている。リニアアレイセンサ
9a,9b,9cは例えばCCDセンサからなり、それ
ぞれ検光子8a,8b,8cの後段に配置されている。
また、ビ−ムスプリッタ7と検光子8a,8b,8cの
間にはビ−ムスプリッタ7内の多重反射光や不必要な散
乱光をカットするスリット10a,10b,10cが設
けられ、ビ−ムスプリッタ7の前段にはレンズ群11が
設けられている。また、リニアアレイセンサ9a,9
b,9cは同じ光強度の光が入射したときに同じ信号を
出力するように利得が調整してある。
置図である。図に示すように、光学系1は投光部2と3
板式偏光リニアアレイカメラ3を有する。投光部2は被
検査体例えば鋼板4の表面に一定の入射角で偏光を入射
するものであり、光源5と光源5の前面に設けられた偏
光子6とを有する。光源5は鋼板4の幅方向に伸びた棒
状発光装置からなり、鋼板4の幅方向全体に一様な強度
分布を有する光を照射する。偏光子6は例えば偏光板又
は偏光フィルタからなり、図2の配置説明図に示すよう
に、透過軸Pが鋼板4の入射面となす角α1がπ/4に
なるように配置されている。3板式偏光リニアアレイカ
メラ3は、図3の構成図に示すように、ビ−ムスプリッ
タ7と3個の検光子8a,8b,8cと3個のリニアア
レイセンサ9a,9b,9cとを有する。ビ−ムスプリ
ッタ7は3個のプリズムからなり、入射面に誘電体多層
膜を蒸着した半透過性を有する反射面が2面設けられ、
鋼板4からの反射光を入射する第1の反射面7aは透過
率と反射率が2対1の割合になっており、第1の反射面
7aを透過した光を入射する第2の反射面7bは透過率
と反射率が1対1の割合になっており、鋼板4からの反
射光を同じ光量の3本のビ−ムに分離する。また、ビ−
ムスプリッタ7の入射面から分離した3本のビ−ムの出
射面までの光路長は同じにしてある。検光子8aは第2
の反射面10bの透過光の光路に設けられ、図2に示す
ように、方位角すなわち透過軸が鋼板4の入射面となす
角α2が0度になるように配置され、検光子8bは第2
の反射面7bの反射光の光路に設けられ、方位角α2が
π/4度になるように配置され、検光子8cは第1の反
射面7aの反射光の光路に設けられ、方位角α2が−π
/4になるように配置されている。リニアアレイセンサ
9a,9b,9cは例えばCCDセンサからなり、それ
ぞれ検光子8a,8b,8cの後段に配置されている。
また、ビ−ムスプリッタ7と検光子8a,8b,8cの
間にはビ−ムスプリッタ7内の多重反射光や不必要な散
乱光をカットするスリット10a,10b,10cが設
けられ、ビ−ムスプリッタ7の前段にはレンズ群11が
設けられている。また、リニアアレイセンサ9a,9
b,9cは同じ光強度の光が入射したときに同じ信号を
出力するように利得が調整してある。
【0018】このように入射した光を分離した3本のビ
−ムの光路に検光子8a〜8cとリニアアレイセンサ9
a〜9cが一体化して設けられているから、リニアアレ
イセンサ9a〜9c等を鋼板4の搬送路近傍に設置して
鋼板4からの反射光を検出するときに、リニアアレイセ
ンサ9a〜9c等の位置調整を必要としないとともに、
鋼板4の同じ位置からの反射光を同じタイミングで検出
することができる。また、3板式偏光リニアアレイカメ
ラ3内に3組のリニアアレイセンサ9a〜9cがまとま
って収納されて小型化しているから、3板式偏光リニア
アレイカメラ3を鋼板4の反射光の光路に簡単に配置す
ることができるとともに、配置位置を任意に選択するこ
とができ、光学系1の配置の自由度を向上することがで
きる。
−ムの光路に検光子8a〜8cとリニアアレイセンサ9
a〜9cが一体化して設けられているから、リニアアレ
イセンサ9a〜9c等を鋼板4の搬送路近傍に設置して
鋼板4からの反射光を検出するときに、リニアアレイセ
ンサ9a〜9c等の位置調整を必要としないとともに、
鋼板4の同じ位置からの反射光を同じタイミングで検出
することができる。また、3板式偏光リニアアレイカメ
ラ3内に3組のリニアアレイセンサ9a〜9cがまとま
って収納されて小型化しているから、3板式偏光リニア
アレイカメラ3を鋼板4の反射光の光路に簡単に配置す
ることができるとともに、配置位置を任意に選択するこ
とができ、光学系1の配置の自由度を向上することがで
きる。
【0019】3板式偏光リニアアレイカメラ3のリニア
アレイセンサ9a〜9cは、図4のブロック図に示すよ
うに、信号処理部12に接続されている。信号処理部1
2は信号前処理部13a,13b,13cとI1メモリ
14a,I2メモリ14b,I3メモリ14cと、疵パ
ラメ−タ演算部15と、パタ−ン記憶部16と、光量記
憶部17と、基準パタ−ン記憶部18と、疵種判定部1
9と、等級パタ−ン記憶部20と、疵等級判定部21及
び出力部22を有する。信号前処理部13a〜13cは
リニアアレイセンサ9a〜9cから出力された偏光の光
強度信号I1,I2,I3の幅方向等の感度むら等を補
正するシェ−ディング補正等を行ってから正常部の信号
を基準レベルとして、正常部の信号が255階調の中心濃
度である128階調になるように正規化して、正規化した
光強度信号I1,I2,I3をそれぞれI1メモリ14
a,I2メモリ14b,I3メモリ14cに格納する。
疵パラメ−タ演算部15はI1メモリ14a〜I3メモ
リ14cに格納された光強度信号I1,I2,I3の分
布に表れた疵部のピ−ク値を正常部の値である128階調
を基準にしてプラスであるかマイナスであるかを示す極
性パタ−ンと、128階調を基準にした変化量を示す値パ
タ−ンを算出するとともに、疵部の光強度から目視相当
光量を演算する。パタ−ン記憶部16は算出された極性
パタ−ンと値パタ−ンを記憶し、光量記憶部17は算出
された目視相当光量Imaxを記憶する。基準パタ−ン記
憶部18には各種極性パタ−ンと値パタ−ン及びこれら
に対応する疵種があらかじめ格納されている。疵種判定
部19はパタ−ン記憶部16に記憶された極性パタ−ン
と値パタ−ンとを基準パタ−ン記憶部18に記憶された
各種極性パタ−ンと値パタ−ンと比較して疵種を判定す
る。等級パタ−ン記憶部20には各疵種毎に光量に対す
る疵の等級を示す等級基準パタ−ンがあらかじめ格納し
てある。疵等級判定部21は光量記憶部17に記憶した
目視相当光量Imaxと疵種判定部19で判定した疵種を
等級パタ−ン記憶部20に記憶してある等級基準パタ−
ンと比較して疵の等級を判定する。出力部22は疵等級
判定部21から出力される疵種と疵の等級を不図示の表
示装置や記録装置に出力する。
アレイセンサ9a〜9cは、図4のブロック図に示すよ
うに、信号処理部12に接続されている。信号処理部1
2は信号前処理部13a,13b,13cとI1メモリ
14a,I2メモリ14b,I3メモリ14cと、疵パ
ラメ−タ演算部15と、パタ−ン記憶部16と、光量記
憶部17と、基準パタ−ン記憶部18と、疵種判定部1
9と、等級パタ−ン記憶部20と、疵等級判定部21及
び出力部22を有する。信号前処理部13a〜13cは
リニアアレイセンサ9a〜9cから出力された偏光の光
強度信号I1,I2,I3の幅方向等の感度むら等を補
正するシェ−ディング補正等を行ってから正常部の信号
を基準レベルとして、正常部の信号が255階調の中心濃
度である128階調になるように正規化して、正規化した
光強度信号I1,I2,I3をそれぞれI1メモリ14
a,I2メモリ14b,I3メモリ14cに格納する。
疵パラメ−タ演算部15はI1メモリ14a〜I3メモ
リ14cに格納された光強度信号I1,I2,I3の分
布に表れた疵部のピ−ク値を正常部の値である128階調
を基準にしてプラスであるかマイナスであるかを示す極
性パタ−ンと、128階調を基準にした変化量を示す値パ
タ−ンを算出するとともに、疵部の光強度から目視相当
光量を演算する。パタ−ン記憶部16は算出された極性
パタ−ンと値パタ−ンを記憶し、光量記憶部17は算出
された目視相当光量Imaxを記憶する。基準パタ−ン記
憶部18には各種極性パタ−ンと値パタ−ン及びこれら
に対応する疵種があらかじめ格納されている。疵種判定
部19はパタ−ン記憶部16に記憶された極性パタ−ン
と値パタ−ンとを基準パタ−ン記憶部18に記憶された
各種極性パタ−ンと値パタ−ンと比較して疵種を判定す
る。等級パタ−ン記憶部20には各疵種毎に光量に対す
る疵の等級を示す等級基準パタ−ンがあらかじめ格納し
てある。疵等級判定部21は光量記憶部17に記憶した
目視相当光量Imaxと疵種判定部19で判定した疵種を
等級パタ−ン記憶部20に記憶してある等級基準パタ−
ンと比較して疵の等級を判定する。出力部22は疵等級
判定部21から出力される疵種と疵の等級を不図示の表
示装置や記録装置に出力する。
【0020】次に上記のように構成された表面検査装置
で鋼板4の表面を検査する時の動作を説明する。
で鋼板4の表面を検査する時の動作を説明する。
【0021】投光部2から出射されて一定速度で移動し
ている鋼板4の表面で反射した偏光は3板式偏光リニア
アレイカメラ3で受光される。3板式偏光リニアアレイ
カメラ3に入射した鋼板4の反射光はビ−ムスプリッタ
7で分離され検光子8a,8b,8cを通ってリニアア
レイセンサ9a〜9cに入射する。このリニアアレイセ
ンサ9a〜9cで反射光の光強度を検出するときに、リ
ニアアレイセンサ9a〜9cの前面に異なる方位角の検
光子8a〜8cが設けられているから,リニアアレイセ
ンサ9a〜9cは異なる偏光の光強度I1,I2,I3
を検出し信号処理部12に送る。
ている鋼板4の表面で反射した偏光は3板式偏光リニア
アレイカメラ3で受光される。3板式偏光リニアアレイ
カメラ3に入射した鋼板4の反射光はビ−ムスプリッタ
7で分離され検光子8a,8b,8cを通ってリニアア
レイセンサ9a〜9cに入射する。このリニアアレイセ
ンサ9a〜9cで反射光の光強度を検出するときに、リ
ニアアレイセンサ9a〜9cの前面に異なる方位角の検
光子8a〜8cが設けられているから,リニアアレイセ
ンサ9a〜9cは異なる偏光の光強度I1,I2,I3
を検出し信号処理部12に送る。
【0022】信号処理部12の信号前処理部13a〜1
3cはリニアアレイセンサ9a〜9cから出力された偏
光の光強度信号I1,I2,I3の幅方向等の感度むら
等を補正するシェ−ディング補正等を行ってから、例え
ば図5の疵信号分布図に示すように、正常部の信号が12
8階調になるように正規化して、正規化した光強度信号
I1,I2,I3をそれぞれI1メモリ14a〜I3メ
モリ14cに格納する。図5において、(a)は光強度
信号I1の分布、(b)は光強度信号I2の分布、
(c)は光強度信号I3の分布を示す。疵パラメ−タ演
算部15はI1メモリ14a〜I3メモリ14cに格納
された光強度信号I1,I2,I3の分布に表れた疵部
のピ−ク値をそれぞれ正常部の値である128階調よりプ
ラスであるかマイナスであるかを示す極性パタ−ンと、
128階調を基準にした変化量を示す値パタ−ンを算出す
る。図5に示す例では正規化した光強度信号I1,I
2,I3の疵部のピ−ク値は全て128階調よりプラスで
あるから、極性パタ−ンは(+,+,+)と算出し、12
8階調を基準にした光強度信号I1,I2,I3の疵部
のピ−ク値の変化量は(+38,+10,+32)になる。こ
の変化量を最大値を基準に規格化すると、(1.0,0.2
6,0.84)になる。この変化量の最大値を基準にした規
格値例えば(1.0,0.26,0.84)を値パタ−ンとして算
出する。そして算出した極性パタ−ンと値パタ−ンをパ
タ−ン記憶部16に格納する。また、疵パラメ−タ演算
部15は光強度信号I1,I2,I3の分布から目視相
当光量Imaxを、Imax=MAX〔I2(x)+I3
(x)−I1(x)〕で演算して光量記憶部17に記憶
させる。例えば、図5に示した例では、光強度信号I
1,I2,I3の疵部のピ−ク値の変化量は(+38,+
10,+32)であるから、目視相当光量Imaxは「4」に
なる。
3cはリニアアレイセンサ9a〜9cから出力された偏
光の光強度信号I1,I2,I3の幅方向等の感度むら
等を補正するシェ−ディング補正等を行ってから、例え
ば図5の疵信号分布図に示すように、正常部の信号が12
8階調になるように正規化して、正規化した光強度信号
I1,I2,I3をそれぞれI1メモリ14a〜I3メ
モリ14cに格納する。図5において、(a)は光強度
信号I1の分布、(b)は光強度信号I2の分布、
(c)は光強度信号I3の分布を示す。疵パラメ−タ演
算部15はI1メモリ14a〜I3メモリ14cに格納
された光強度信号I1,I2,I3の分布に表れた疵部
のピ−ク値をそれぞれ正常部の値である128階調よりプ
ラスであるかマイナスであるかを示す極性パタ−ンと、
128階調を基準にした変化量を示す値パタ−ンを算出す
る。図5に示す例では正規化した光強度信号I1,I
2,I3の疵部のピ−ク値は全て128階調よりプラスで
あるから、極性パタ−ンは(+,+,+)と算出し、12
8階調を基準にした光強度信号I1,I2,I3の疵部
のピ−ク値の変化量は(+38,+10,+32)になる。こ
の変化量を最大値を基準に規格化すると、(1.0,0.2
6,0.84)になる。この変化量の最大値を基準にした規
格値例えば(1.0,0.26,0.84)を値パタ−ンとして算
出する。そして算出した極性パタ−ンと値パタ−ンをパ
タ−ン記憶部16に格納する。また、疵パラメ−タ演算
部15は光強度信号I1,I2,I3の分布から目視相
当光量Imaxを、Imax=MAX〔I2(x)+I3
(x)−I1(x)〕で演算して光量記憶部17に記憶
させる。例えば、図5に示した例では、光強度信号I
1,I2,I3の疵部のピ−ク値の変化量は(+38,+
10,+32)であるから、目視相当光量Imaxは「4」に
なる。
【0023】基準パタ−ン記憶部18には疵の程度に応
じて複数の疵種に対応する極性パタ−ンと値パタ−ンが
実験で定められて、例えば図6に示すように、基準パタ
−ンとして格納してある。図6において、疵種X〜疵種
Wは例えば有害度が低い疵から有害度が高い疵の順に疵
種を示し、各疵種X〜疵種Wに対応する極性パタ−ンと
値パタ−ンの基準値を示す。また、等級パタ−ン記憶部
20には各疵種X〜疵種Wに応じて目視相当光量と疵の
等級を示す相関をあらかじめ調べて、例えば図7の相関
図に示すように格納してある。
じて複数の疵種に対応する極性パタ−ンと値パタ−ンが
実験で定められて、例えば図6に示すように、基準パタ
−ンとして格納してある。図6において、疵種X〜疵種
Wは例えば有害度が低い疵から有害度が高い疵の順に疵
種を示し、各疵種X〜疵種Wに対応する極性パタ−ンと
値パタ−ンの基準値を示す。また、等級パタ−ン記憶部
20には各疵種X〜疵種Wに応じて目視相当光量と疵の
等級を示す相関をあらかじめ調べて、例えば図7の相関
図に示すように格納してある。
【0024】疵種判定部19はパタ−ン記憶部16に記
憶された、極性パタ−ンと値パタ−ン、例えば図5に示
す例の場合、極性パタ−ン(+,+,+)と値パタ−ン
(1.0,0.26,0.84)と、図4に示す基準パタ−ン記憶
部18に記憶された基準パタ−ンとを比較して疵種を判
定する。例えば図5に示す例の場合には疵種Xと判定す
る。このように複数の異なる疵A〜疵Hの疵種を極性パ
タ−ンと値パタ−ンにより判定した例を図8に示す。こ
の疵種を判定する場合に、例えば極性パタ−ンが同じ
(−,−,−)の疵Bと疵Cでも、値パタ−ンにより有
害度の低い疵種Yと有害度の高い疵種Zに分類すること
ができ、疵種を正確に判定することができる。また、疵
の状態によっては疵Gに示すように極性パタ−ンの3つ
の符号のうち1つが反対、あるいは「0」であっても値
パタ−ンを併用することにより疵種を正確に判別するこ
とができる。また、このように極性パタ−ンと値パタ−
ンで疵種を判定するから、疵種判定のための処理が簡略
化され、短時間で精度良く疵種を判定することができ
る。
憶された、極性パタ−ンと値パタ−ン、例えば図5に示
す例の場合、極性パタ−ン(+,+,+)と値パタ−ン
(1.0,0.26,0.84)と、図4に示す基準パタ−ン記憶
部18に記憶された基準パタ−ンとを比較して疵種を判
定する。例えば図5に示す例の場合には疵種Xと判定す
る。このように複数の異なる疵A〜疵Hの疵種を極性パ
タ−ンと値パタ−ンにより判定した例を図8に示す。こ
の疵種を判定する場合に、例えば極性パタ−ンが同じ
(−,−,−)の疵Bと疵Cでも、値パタ−ンにより有
害度の低い疵種Yと有害度の高い疵種Zに分類すること
ができ、疵種を正確に判定することができる。また、疵
の状態によっては疵Gに示すように極性パタ−ンの3つ
の符号のうち1つが反対、あるいは「0」であっても値
パタ−ンを併用することにより疵種を正確に判別するこ
とができる。また、このように極性パタ−ンと値パタ−
ンで疵種を判定するから、疵種判定のための処理が簡略
化され、短時間で精度良く疵種を判定することができ
る。
【0025】一方、疵等級判定部21は光量記憶部17
に記憶した目視相当光量Imaxと疵種判定部19で判定
した疵種とを等級パタ−ン記憶部20に記憶してある各
疵種X〜疵種Wに応じて目視相当光量と疵の等級を示す
相関図と比較して疵の等級を判定する。例えば図7に示
すように疵種Xで目視相当光量Imaxが「4」の場合に
は疵の等級をBと判定し、疵種Yで目視相当光量Imax
が「37」の場合には疵の等級をCと判定する。このよう
に目視相当光量Imaxと疵種により疵の等級を判定する
から、鋼板4の表面に生じた凹凸のない模様状疵だけで
なく凹凸状の疵の程度を精度良く判別することができ
る。疵等級判定部21は疵種判定部19で判定した疵種
と判別した疵の等級を出力部22に送る。出力部22は
疵等級判定部21から出力される疵種と疵の等級を表示
装置や記録装置に出力する。
に記憶した目視相当光量Imaxと疵種判定部19で判定
した疵種とを等級パタ−ン記憶部20に記憶してある各
疵種X〜疵種Wに応じて目視相当光量と疵の等級を示す
相関図と比較して疵の等級を判定する。例えば図7に示
すように疵種Xで目視相当光量Imaxが「4」の場合に
は疵の等級をBと判定し、疵種Yで目視相当光量Imax
が「37」の場合には疵の等級をCと判定する。このよう
に目視相当光量Imaxと疵種により疵の等級を判定する
から、鋼板4の表面に生じた凹凸のない模様状疵だけで
なく凹凸状の疵の程度を精度良く判別することができ
る。疵等級判定部21は疵種判定部19で判定した疵種
と判別した疵の等級を出力部22に送る。出力部22は
疵等級判定部21から出力される疵種と疵の等級を表示
装置や記録装置に出力する。
【0026】
【発明の効果】この発明は以上説明したように、被検査
面に対して一定入射角で偏光を入射し、その反射光の異
なる複数の偏光の光強度分布を検出し、検出した強度分
布を正規化し、正常部に対する疵部の異なる偏光の光強
度信号の変化極性と変化量とを算出し、算出した変化極
性と変化量とをそれぞれあらかじめ定めたパタ−ンと比
較して疵種を判定すようにしたから、簡単な処理で迅速
に疵種を判別することができる。
面に対して一定入射角で偏光を入射し、その反射光の異
なる複数の偏光の光強度分布を検出し、検出した強度分
布を正規化し、正常部に対する疵部の異なる偏光の光強
度信号の変化極性と変化量とを算出し、算出した変化極
性と変化量とをそれぞれあらかじめ定めたパタ−ンと比
較して疵種を判定すようにしたから、簡単な処理で迅速
に疵種を判別することができる。
【0027】また、各受光光学系から出力された光強度
分布から目視相当の光量変化すなわち無偏光時の表面反
射強度を演算し、演算した光量変化から疵の等級を判定
するようにしたから、凹凸のない模様状疵だけでなく凹
凸状の疵の程度を簡単な処理で精度良く判別することが
できる。
分布から目視相当の光量変化すなわち無偏光時の表面反
射強度を演算し、演算した光量変化から疵の等級を判定
するようにしたから、凹凸のない模様状疵だけでなく凹
凸状の疵の程度を簡単な処理で精度良く判別することが
できる。
【0028】さらに、簡単な処理で迅速に疵種と疵の等
級を判定するから、装置自体のの構成を簡略化すること
ができるとともに、高速で移動しているシ−ト状製品の
表面にある異常部をオンラインで精度良く検出すること
ができる。
級を判定するから、装置自体のの構成を簡略化すること
ができるとともに、高速で移動しているシ−ト状製品の
表面にある異常部をオンラインで精度良く検出すること
ができる。
【図1】この発明の実施例の光学系を示す構成図であ
る。
る。
【図2】光学系の動作を示す配置説明図である。
【図3】上記実施例の3板式偏光リニアアレイカメラの
構成図である。
構成図である。
【図4】上記実施例の信号処理部を示すブロック図であ
る。
る。
【図5】疵信号を示す光強度分布図である。
【図6】疵種と疵パタ−ンと値パタ−ンを示す基準パタ
−ン図である。
−ン図である。
【図7】光量レベルと疵の等級の相関図である。
【図8】各種疵の疵種と等級の具体例を示す説明図であ
る。
る。
1 光学系 2 投光部 3 3板式偏光リニアアレイカメラ 4 鋼板 5 光源 6 偏光子 7 ビ−ムスプリッタ 8 検光子 9 リニアアレイセンサ 12 信号処理部 13 信号前処理部 14a I1メモリ 14b I2メモリ 14c I3メモリ 15 疵パラメ−タ演算部 16 パタ−ン記憶部 17 光量記憶部 18 基準パタ−ン記憶部 19 疵種判定部 29 等級パタ−ン記憶部 21 疵等級判定部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 河村 努 東京都千代田区丸の内一丁目1番2号 日 本鋼管株式会社内 (72)発明者 大重 貴彦 東京都千代田区丸の内一丁目1番2号 日 本鋼管株式会社内 Fターム(参考) 2G051 AA37 AB07 BA11 BB01 CA03 CB01 CC11 DA06 EA16 EC01 EC03
Claims (2)
- 【請求項1】 投光部と受光部と信号処理部とを有し、
投光部は被検査面に偏光を入射し、受光部は少なくとも
3方向の異なる角度の偏光を受光する複数の受光光学系
を有し、被検査面で反射した反射光を検出して画像信号
に変換し、信号処理部は各受光光学系から出力された光
強度分布を平均値があらかじめ定めた基準値となるよう
に規格化し、規格化した複数の光強度分布の変化極性と
変化量とをあらかじめ定めたパタ−ンと比較し疵種を判
定することを特徴とする表面検査装置。 - 【請求項2】 投光部と受光部と信号処理部とを有し、
投光部は被検査面に偏光を入射し、受光部は少なくとも
3方向の異なる角度の偏光を受光する複数の受光光学系
を有し、被検査面で反射した反射光を検出して画像信号
に変換し、信号処理部は各受光光学系から出力された光
強度分布を平均値があらかじめ定めた基準値となるよう
に規格化し、規格化した複数の光強度分布の変化極性と
変化量とをあらかじめ定めたパタ−ンと比較し疵種と疵
の等級を判定し、各受光光学系から出力された光強度分
布から目視相当の光量変化を演算し、演算した光量変化
をあらかじめ定めたパタ−ンと比較し疵の等級を判定す
ることを特徴とする表面検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001339142A JP2002181723A (ja) | 1995-10-24 | 2001-11-05 | 表面検査装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7-298832 | 1995-10-24 | ||
JP29883295 | 1995-10-24 | ||
JP2001339142A JP2002181723A (ja) | 1995-10-24 | 2001-11-05 | 表面検査装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29789796A Division JP3275737B2 (ja) | 1995-10-24 | 1996-10-23 | 表面検査装置及び表面検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002181723A true JP2002181723A (ja) | 2002-06-26 |
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ID=26561678
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001339142A Pending JP2002181723A (ja) | 1995-10-24 | 2001-11-05 | 表面検査装置 |
Country Status (1)
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---|---|
JP (1) | JP2002181723A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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