JP2001332688A - 電力配線構造及び半導体装置 - Google Patents

電力配線構造及び半導体装置

Info

Publication number
JP2001332688A
JP2001332688A JP2000154704A JP2000154704A JP2001332688A JP 2001332688 A JP2001332688 A JP 2001332688A JP 2000154704 A JP2000154704 A JP 2000154704A JP 2000154704 A JP2000154704 A JP 2000154704A JP 2001332688 A JP2001332688 A JP 2001332688A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
insulating substrate
semiconductor device
layer
wide electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000154704A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3692906B2 (ja
Inventor
Akihiro Hanamura
昭宏 花村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissan Motor Co Ltd
Original Assignee
Nissan Motor Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nissan Motor Co Ltd filed Critical Nissan Motor Co Ltd
Priority to JP2000154704A priority Critical patent/JP3692906B2/ja
Priority to US09/855,605 priority patent/US6501167B2/en
Priority to EP01112178A priority patent/EP1160866B1/en
Priority to DE60127027T priority patent/DE60127027T2/de
Publication of JP2001332688A publication Critical patent/JP2001332688A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3692906B2 publication Critical patent/JP3692906B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/50Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor for integrated circuit devices, e.g. power bus, number of leads
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/07Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00
    • H01L25/072Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2223/00Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
    • H01L2223/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for
    • H01L2223/64Impedance arrangements
    • H01L2223/66High-frequency adaptations
    • H01L2223/6605High-frequency electrical connections
    • H01L2223/6611Wire connections
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32135Disposition the layer connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/32145Disposition the layer connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being stacked
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/49105Connecting at different heights
    • H01L2224/49109Connecting at different heights outside the semiconductor or solid-state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/04All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers
    • H01L2225/065All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/06503Stacked arrangements of devices
    • H01L2225/06555Geometry of the stack, e.g. form of the devices, geometry to facilitate stacking
    • H01L2225/06562Geometry of the stack, e.g. form of the devices, geometry to facilitate stacking at least one device in the stack being rotated or offset
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01004Beryllium [Be]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01015Phosphorus [P]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01023Vanadium [V]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01074Tungsten [W]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1301Thyristor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/156Material
    • H01L2924/15786Material with a principal constituent of the material being a non metallic, non metalloid inorganic material
    • H01L2924/15787Ceramics, e.g. crystalline carbides, nitrides or oxides
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/1901Structure
    • H01L2924/1904Component type
    • H01L2924/19041Component type being a capacitor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19107Disposition of discrete passive components off-chip wires
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/30107Inductance

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Inverter Devices (AREA)
  • Power Conversion In General (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】低インダクタンス化を可能にした電力配線構造
を提供する。 【解決手段】相補的に開閉するスイッチング素子4、5
が2個直列に接続された回路で、その両端に電源からの
電力線が接続され、前記2個のスイッチング素子の接続
点から負荷への出力線を引出した回路であって、前記両
端の電力線を高電位側のPと低電位側のNとし、前記出
力線をUとし、前記P、NおよびUをそれぞれ厚さより
も幅が大きい幅広電極で形成し、かつ、相互に絶縁体を
介してPUNの順に厚さ方向に積層して3層幅広電極構
造とした電力配線構造。出力線Uに流れるのと同じ電流
がP電力線またはN電力線のどちらかを出力線Uと反対
方向に流れるため、電流によって発生する磁界を相殺す
ることが出来、それによって配線のインダクタンスを効
果的に低減できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は半導体スイッチン
グ素子を用いた電力変換装置における低インダクタンス
配線構造に関する。
【0002】
【従来の技術】絶縁物を挟むなどして、幅広電極を狭い
間隔で対向させて配置し、これらに逆方向の電流を流す
と、発生する磁界が相殺されて減少するので、電極のイ
ンダクタンスを低減できることが一般的に知られてお
り、高電位側のP電力母線と低電位側のN電力母線と
を、上記のような2層の対向電極構造としてインダクタ
ンスを低減する従来技術としては特開平6−38507
号公報に記載されたものがある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】インバータ回路を集積
化したインバータモジュール内部でも前記と同様の効果
を期待してPN電力母線を2層の対向電極構造にする場
合があるが、実際の電流の流れ方を観ると、PまたはN
母線に流れる電流は出力線Uを流れて負荷に供給される
ため、必ずしも対向した電極に逆方向の同じ値の電流が
流れるわけではなく、ループを描いて電流が流れること
が判る。例えば図9に示すごときU−V2相のインバー
タモジュール1において、U相とV相のそれぞれの回路
でP母線とN母線とを対向電極として配置した場合、黒
太線で示した経路と大きな矢印で示すようなループの経
路とを介して電流が流れるので、丸で囲んだAとBの部
分(インバータモジュールの外部)では相互に逆方向の
電流が流れて磁界が相殺されるが、インバータモジュー
ル1の内部では発生する磁界が相殺されず、したがって
配線のインダクタンスを低減する効果が十分に得られな
いという問題があった。なお、インバータの素子がスイ
ッチングをするとインダクタンスLの大きさに比例した
サージ電圧V=−L・di/dtを発生するため、配線
のインダクタンスが大きいと、大きなサージ電圧が発生
してスイッチング素子を破損してしまうおそれがある。
このため、スイッチング素子の破損を防止する目的でス
ナバ回路を設けることがあるが、これによれば部品点数
が増加するので、装置の大型化とコストが高くなるとい
う問題が新たに発生する。また、スナバ回路を使用しな
い方法として、スイッチングの速度を遅くすることによ
りサージ電圧の低減が可能であるが、この方法ではスイ
ッチングの高周波化を阻害し、かつ、スイッチング時間
が長くなることにより、スイッチング損失が増加して素
子が発熱し、放熱器が大型化すると共に効率も低下する
という問題が新たに発生する。
【0004】本発明は上記のごとき従来技術の問題を解
決するためになされたものであり、低インダクタンス化
を可能にした電力配線構造を提供することを目的とす
る。また、本発明においては上記の電力配線構造を用い
た半導体装置を提供することも目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明においては、相補
的に開閉するスイッチング素子が2個直列に接続された
回路で、その両端に電源からの電力線が接続され、前記
2個のスイッチング素子の接続点から負荷への出力線を
引出した回路であって、前記両端の電力線を高電位側の
Pと低電位側のNとし、前記出力線をUとし、前記P、
NおよびUをそれぞれ厚さよりも幅が大きい幅広電極で
形成し、かつ、相互に絶縁体を介してPUNの順に厚さ
方向に積層して3層幅広電極構造としている。なお、上
記の相補的に開閉するスイッチング素子が2個直列に接
続された回路とは、例えばインバータ回路、インバータ
回路が2個並列に組み合わされたHブリッジ回路、或い
はインバータ回路が3個並列に組み合わされた3相イン
バータ回路などに相当する。
【0006】上記の構成においては、漏れ電流が無いと
考えると、出力線Uに流れるのと同じ電流がP電力線ま
たはN電力線のどちらかを出力線Uと反対方向に流れる
ため、電流によって発生する磁界を相殺することが出来
るので、配線のインダクタンスを効果的に低減できる。
【0007】また、請求項3以下に記載した半導体装置
においては、上記の3層幅広電極構造を利用し、インバ
ータモジュール内部の配線(ボンディングワイヤ等によ
る配線)も磁界が相殺されるように配置することによ
り、インバータ内部の配線におけるインダクタンスも有
効に低減することが出来るように構成している。
【0008】
【発明の効果】本発明によれば、実際の電力配線におけ
るインダクタンスを効果的に低減できる。そのため、高
速でスイッチングを行っても大きなサージ電圧によって
スイッチング素子を破損してしまうおそれがなくなる。
このためスナバ回路を設ける必要がなく、装置の小型化
と低コスト化が可能である。また、スイッチングの速度
を速くすることが可能なので、スイッチング損失が低減
でき、素子発熱の低減および効率の向上という効果が得
られる。また、インバータモジュール内部の配線におけ
るインダクタンスも有効に低減することが出来る。
【0009】
【発明の実施の形態】図1は本発明の一実施例を示す図
であり、(a)は回路図、(b)は電力配線構造の基本
的構成を示す斜視図、(c)は接続部分の構造を示す図
である。
【0010】図1の実施例は、2個のスイッチング素子
を直列に接続した単相のインバータ回路に本発明を適用
した場合の例である。図1において、1はインバータモ
ジュール、2は負荷、3は電源である。また、4と5は
スイッチング素子であり、6と7は平滑用コンデンサで
ある。なお、ここではスイッチング素子をトランジスタ
で示しているが、トランジスタ以外にサイリスタ等の他
のスイッチング素子を用いてもよい。また、スイッチン
グ素子には還流ダイオードが並列に接続されている。
【0011】また、図1(a)の回路における各素子を
接続する配線(インダクタンスの記号で示す)は、図1
(b)に示すように、高電位側のP母線と低電位側のN
母線とが、出力線Uを挟んでPUNの順に積層された3
層構造を有する。なお、上記P、NおよびUの各線は、
それぞれ厚さよりも幅が大きい幅広電極で形成されてお
り、かつ、相互に絶縁体(図示省略)を介して厚さ方向
に積層されている。また、接続線の端部は図1(c)に
示すように、出来るだけ端まで3層構造を保ち、末端部
で別れるようになっている。
【0012】図1の回路においては、スイッチング素子
4と5は逆位相でオン、オフする。例えばスイッチング
素子4がオンの時はスイッチング素子5はオフであり、
このとき図1(a)に黒太線で示す経路(電源3の+端
子→スイッチング素子4→平滑用コンデンサ7→負荷2
→電源3の−端子)を通って電流が流れる。したがって
上記の経路を構成する配線(前記の3層幅広電極)にお
いては、丸で囲んだA、B、C、D、Eの各部分で相互
に逆方向の電流が流れて磁界が相殺される。逆に、スイ
ッチング素子4がオフの時はスイッチング素子5はオン
であり、「電源3の+端子→平滑用コンデンサ6→負荷
2→スイッチング素子5→電源3の−端子」の経路で電
流が流れる。したがってこの場合にも電流経路となる配
線の各部において相互に逆方向の電流が流れて磁界が相
殺される。したがってインダクタンスを大幅に低減する
ことが出来ると共に、電磁波の放射も低減出来る。
【0013】図2は、本発明をU−V2相のインバータ
モジュールに適用した例を示す図であり、(a)は回路
図、(b)は接続部分の構造を示す図である。図2にお
いて、インバータモジュール1は、トランジスタとダイ
オードの並列回路からなるスイッチング素子2個が1組
となったスイッチングブロック14と、同じ構成のスイ
ッチングブロック15とからなる。また、配線を構成す
る3層幅広電極は、P母線とN母線との間に、U相とV
相の2相の電極がそれぞれの部分に挟まれた構造となっ
ている。このようにU−V2相のインバータモジュール
においても前記図1と同様に、配線の各部分において相
互に逆方向の電流が流れて磁界が相殺されるので、イン
ダクタンスを大幅に低減することが出来る。なお、3相
以上のインバータモジュールにおいても同様である。
【0014】また、上記の例においては、3層幅広電極
により単相インバータを複数個並列接続して多相インバ
ータモジュールを構成する場合について説明をしたが、
スイッチング素子を直接に電気的接続する内部電極にお
いても、各相を接続する電極を前記図1(b)に示すご
とき3層広幅電極構造とすることにより、同様にインダ
クタンスを低減することができると共に、電磁波の放射
も低減出来る。
【0015】次に、図3は、出力線の引き出し構造の一
実施例を示す図であり、(a)は斜視図、(b)は
(a)のA−A断面図、(c)は(a)のB−B断面
図、(d)は(a)のC−C断面図である。図3ではU
−V−W3相インバータの場合における出力線の引き出
し構造を示す。PN電力母線に挟まれた各出力線をV相
を中心に一点に集結し、各出力線をPN母線の間から引
き出した部分からすぐに重ねる構造とする。A−A断面
ではUVWの3相が平面上の並んでいるが、B−B断面
ではU相とW相が屈曲してV相を挟む形となり、C−C
断面ではUVWの3相が重なっている。このような3層
幅広電極の厚さは全体的にほぼ電極板3枚分(正確には
これに薄い絶縁層分が加わる)であり、構造が簡単で、
製造も容易である。なお、UVWの3相が重なる部分は
相互に絶縁されることは当然である。
【0016】ただし、図3の例では出力線をPN母線か
ら引き出すところで各出力線が単独となるため、出力線
のインダクタンスを低減できない部分が生じる。また、
電流が配線電極の中心を流れると近似して考えると、引
き出し部の出力線のUVW電極の中心は間隔を開けて並
んでいるため、この部分ではPN母線の電流と対向して
流れる電流が存在しないことになり、PN母線のインダ
クタンスも部分的に低減できていない。
【0017】上記の問題を解決した構造を図4に示す。
図4(a)は斜視図、(b)は(a)のA−A断面図、
(c)は(a)のB−B断面図である。図4の構造で
は、A−A断面に示すように、PN母線に挟まれた位置
で、UVWの各出力線をV相を中心にして一点に集結
し、3枚の出力線を重ねた後にPN母線から引き出す構
造としている。このような構造にすることにより、出力
線が単独になることがないため、出力線のインダクタン
スを確実に低減できる。また、PN母線の間で出力線を
重ねるため、PN母線の電流と出力線の電流が対向して
流れることになり、引き出し部でのPN母線のインダク
タンスも効果的に低減できる。
【0018】次に、インバータモジュールの内部構成に
ついて本発明を適用した場合を説明する。図5はインバ
ータモジュールの一実施例図であり、(a)は斜視図、
(b)は回路図である。この半導体装置は前記図1に示
した単相のインバータ回路に相当する。図5において、
20は絶縁基板、21はスイッチング用のトランジス
タ、22は還流ダイオード、23はトランジスタ21の
ゲートへの信号線を接続するための導電箔であり、これ
らは上アームのスイッチング素子(図1のスイッチング
素子4に相当)を構成している。同様に絶縁基板24、
トランジスタ25、還流ダイオード26は下アームのス
イッチング素子(図1のスイッチング素子5に相当)を
構成している。上記の上アームと下アームのスイッチン
グ素子は、3層幅広電極29の両側に分かれて設置され
る。上記のトランジスタ21、25と還流ダイオード2
2、26は、それぞれ導電箔28等上に設置され、それ
ぞれの下面電極は導電箔に接続されている。そして上記
トランジスタ等の上面電極はボンディングワイヤ30を
介して3層幅広電極29に接続され、また、上記導電箔
もボンディングワイヤ30を介して3層幅広電極29に
接続される。図5においては、上アームの高電位側(上
面電極)がワイヤボンディングを介してP電極に接続さ
れ、上アームの低電位側(下面電極)がU電極に接続さ
れ、下アームの高電位側がU電極に接続され、下アーム
の低電位側がN電極に接続されている。また、図5に示
すように、トランジスタと還流ダイオードとが3層幅広
電極29に沿って平行に並ぶ場合には、絶縁基板上の金
属箔はトランジスタ用と還流ダイオード用とが分離さ
れ、それぞれがワイヤボンディングによって3層幅広電
極29に接続される。また、上アームのトランジスタ2
1と還流ダイオード22は3層幅広電極29を挟んで下
アームの還流ダイオード26とトランジスタ25に対向
している。
【0019】上記のように構成すれば、トランジスタお
よび還流ダイオードに流れる電流は入力電流と出力電流
が対向して逆方向に流れるため、インダクタンスが低減
される。また、上下アームのトランジスタと還流ダイオ
ードが対向して配置されるため、トランジスタがオフす
ると直ちに対向している還流ダイオードに電流が還流す
る。そして配線長が短いためインダクタンスが小さい。
【0020】図6は、図5に示した半導体装置における
動作時の電流の流れを説明するための図であり、左半分
は回路図、右半分は断面図である。図6において、
(a)は上アームのトランジスタ21がオンの状態、
(b)は上アームのトランジスタ21がオフになって下
アームの還流ダイオード26に電流が還流した状態、
(c)は下アームのトランジスタ25がオンの状態、
(d)は下アームのトランジスタ25がオフになって上
アームの還流ダイオード22に電流が還流した状態を示
す図である。図6に示すように、3層幅広電極29およ
びボンディングワイヤ30を介して流れる電流は、図6
に矢印で示したように、入力方向と出力方向とが全て対
向して流れるので、発生する磁界を有効に相殺すること
ができ、したがってインダクタンスを大幅に低減出来る
と共に電磁波の放射も低減出来る。
【0021】次に、図7はトランジスタと還流ダイオー
ドの他の配置を示す断面図である。まず、図7(a)に
示す配置においては、上下アームのそれぞれにおいて、
3層幅広電極29の近傍に還流ダイオード22、26を
配置し、その外側にトランジスタ21、25を配置して
いる。このように還流ダイオードとトランジスタとが3
層幅広電極29の両側に縦方向(3層幅広電極29に対
して直角方向)に並ぶ場合には、絶縁基板31上の金属
箔32、33はトランジスタと還流ダイオードに供用で
きるため、3層幅広電極29に接続するワイヤボンディ
ングが共通となり、製造が簡易になる。この場合にも上
下アームのトランジスタと還流ダイオードが対向して配
置されるため、図5の場合と同様にインダクタンスが小
さい。
【0022】また、図7(b)においては、3層幅広電
極29を傾けて設置することにより、上アームと下アー
ムの接続位置の高さを同じにしたものである。このよう
に構成することにより、上下アームの配線長を均一にし
てインダクタンスを均一にすることができる。そのた
め、上下アームの間でのサージ電圧が均一になり、電気
特性のバランスが良くなる。なお、図7(b)において
は、トランジスタと還流ダイオードの部分は省略して表
示しているが、この部分は図7(a)のような配置でも
図5のような配置でもよい。
【0023】次に、図8は、上下アームの他の配置を示
す斜視図であり、3層幅広電極29の片側に並べて配置
した例を示す。図8(a)は前記図5のようにトランジ
スタと還流ダイオードを3層幅広電極29に平行に配置
した例、図8(b)は前記図7(a)のように還流ダイ
オードとトランジスタを3層幅広電極29に対して縦方
向に配置した例を示す。図8に示す構造では、半導体素
子を集約出来るため、製造が容易になる。また、図8
(a)においては図5と同様に、トランジスタの配線が
短いため、インダクタンスが小さくなる。また、図8
(b)においては、図7(a)と同様に基板上の金属箔
やワイヤボンディングが共通となり、製造が簡易にな
る。なお、これまでの実施例において、絶縁基板を上ア
ームと下アームとで別けて表示した場合もあるが、共通
の絶縁基板を用いてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す図であり、(a)は回
路図、(b)は電力配線構造の基本的構成を示す斜視
図、(c)は接続部分の構造を示す図。
【図2】本発明をU−V2相のインバータモジュールに
適用した例を示す図であり、(a)は回路図、(b)は
接続部分の構造を示す図。
【図3】出力線の引き出し構造の一実施例を示す図であ
り、(a)は斜視図、(b)は(a)のA−A断面図、
(c)は(a)のB−B断面図、(d)は(a)のC−
C断面図。
【図4】出力線の引き出し構造の他の実施例を示す図で
あり、(a)は斜視図、(b)は(a)のA−A断面
図、(c)は(a)のB−B断面図。
【図5】インバータモジュールに本発明を適用した場合
の一実施例図であり、(a)は斜視図、(b)は回路
図。
【図6】図5に示した半導体装置における動作時の電流
の流れを説明するための図であり、(a)は上アームの
トランジスタ21がオンの状態、(b)は上アームのト
ランジスタ21がオフになって下アームの還流ダイオー
ド26に電流が還流した状態、(c)は下アームのトラ
ンジスタ25がオンの状態、(d)は下アームのトラン
ジスタ25がオフになって上アームの還流ダイオード2
2に電流が還流した状態を示す図。
【図7】トランジスタと還流ダイオードの他の配置を示
す断面図。
【図8】上下アームの他の配置を示す斜視図。
【図9】従来例の回路図。
【符号の説明】
1…インバータモジュール 2…負荷 3…電源 4、5…スイッ
チング素子 6、7…平滑用コンデンサ 14、15…スイ
ッチングブロック 20…絶縁基板 21…スイッチ
ング用のトランジスタ 22…還流ダイオード 23…導電箔 24…絶縁基板 25…トランジ
スタ 26…還流ダイオード 27、28…導
電箔 29…3層幅広電極 30…ボンディ
ングワイヤ 31…絶縁基板 32、33…金
属箔

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】相補的に開閉するスイッチング素子が2個
    直列に接続された回路で、その両端に電源からの電力線
    が接続され、前記2個のスイッチング素子の接続点から
    負荷への出力線を引出した回路であって、 前記両端の電力線を高電位側のPと低電位側のNとし、
    前記出力線をUとし、前記P、NおよびUをそれぞれ厚
    さよりも幅が大きい幅広電極で形成し、かつ、相互に絶
    縁体を介してPUNの順に厚さ方向に積層して3層幅広
    電極構造としたことを特徴とする電力配線構造。
  2. 【請求項2】前記負荷に接続される出力線Uが多相の場
    合に、それら多相の出力線が前記P電極と前記N電極に
    挟まれた位置で1個所に重ね合わされて引出されること
    を特徴とする請求項1に記載の電力配線構造。
  3. 【請求項3】電力線を高電位側のPと低電位側のNと
    し、出力線をUとし、前記P、NおよびUをそれぞれ厚
    さよりも幅が大きい幅広電極で形成し、かつ、相互に絶
    縁体を介してPUNの順に厚さ方向に積層した3層幅広
    電極と、 第1の絶縁基板上に選択的に設けられた第1の導電層
    と、 前記第1の導電層上に配置され、前記第1の導電層に下
    面電極が電気接続された第1の半導体チップと、 第2の絶縁基板上に選択的に設けられた第2の導電層
    と、 前記第2の導電層の上に配置され、前記第2の導電層に
    下面電極が電気接続された第2の半導体チップと、 前記3層幅広電極のP電極に前記第1の導電層を電気接
    続する手段と、 前記3層幅広電極のU電極に前記第1の半導体チップの
    上面電極を電気接続する手段と、 前記3層幅広電極のN電極に前記第2の半導体チップの
    上面電極を電気接続する手段と、 前記3層幅広電極のU電極に前記第2の導電層を電気接
    続する手段と、を備えた半導体装置。
  4. 【請求項4】前記3層幅広電極を挟んで、前記第1の絶
    縁基板と前記第2の絶縁基板とを配置したことを特徴と
    する請求項3に記載の半導体装置。
  5. 【請求項5】前記3層幅広電極を挟んで、前記第1の絶
    縁基板と前記第2の絶縁基板とを配置し、かつ、前記第
    1の絶縁基板側への配線と前記第2の絶縁基板側への配
    線との接続位置の高さが同じになるように、前記3層幅
    広電極を傾けて配置したことを特徴とする請求項3に記
    載の半導体装置。
  6. 【請求項6】前記3層幅広電極の片側に前記第1の絶縁
    基板と前記第2の絶縁基板とを前記3層幅広電極と平行
    に並べて配置したことを特徴とする請求項3に記載の半
    導体装置。
  7. 【請求項7】前記半導体チップはスイッチング素子と還
    流ダイオードからなり、該スイッチング素子と還流ダイ
    オードを前記3層幅広電極に対して平行に配置し、か
    つ、前記スイッチング素子と還流ダイオードの下面電極
    が接続される導電層を別個に分離して設けたことを特徴
    とする請求項3乃至請求項6の何れかに記載の半導体装
    置。
  8. 【請求項8】前記半導体チップはスイッチング素子と還
    流ダイオードからなり、該スイッチング素子と還流ダイ
    オードを前記3層幅広電極に対して縦方向に配置したこ
    とを特徴とする請求項3乃至請求項6の何れかに記載の
    半導体装置。
  9. 【請求項9】前記電気接続する手段はボンディングワイ
    ヤであることを特徴とする請求項3乃至請求項8の何れ
    かに記載の半導体装置。
  10. 【請求項10】下面電極に接続するボンディングワイヤ
    の引出し方向と、半導体チップの上面に接続するボンデ
    ィングワイヤの引出し方向とが、同じであることを特徴
    とする請求項9に記載の半導体装置。
  11. 【請求項11】前記第1の絶縁基板と前記第2の絶縁基
    板が共通の一つの基板からなることを特徴とする請求項
    3乃至請求項10の何れかに記載の半導体装置。
JP2000154704A 2000-05-25 2000-05-25 電力配線構造及び半導体装置 Expired - Fee Related JP3692906B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000154704A JP3692906B2 (ja) 2000-05-25 2000-05-25 電力配線構造及び半導体装置
US09/855,605 US6501167B2 (en) 2000-05-25 2001-05-16 Low inductance power wiring structure and semiconductor device
EP01112178A EP1160866B1 (en) 2000-05-25 2001-05-17 Semiconductor device with power wiring structure
DE60127027T DE60127027T2 (de) 2000-05-25 2001-05-17 Halbleiterelement mit Leistungsverdrahtungsstruktur

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000154704A JP3692906B2 (ja) 2000-05-25 2000-05-25 電力配線構造及び半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001332688A true JP2001332688A (ja) 2001-11-30
JP3692906B2 JP3692906B2 (ja) 2005-09-07

Family

ID=18659761

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000154704A Expired - Fee Related JP3692906B2 (ja) 2000-05-25 2000-05-25 電力配線構造及び半導体装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6501167B2 (ja)
EP (1) EP1160866B1 (ja)
JP (1) JP3692906B2 (ja)
DE (1) DE60127027T2 (ja)

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006210500A (ja) * 2005-01-26 2006-08-10 Nippon Inter Electronics Corp 電力用半導体装置
JP2006222149A (ja) * 2005-02-08 2006-08-24 Toyota Motor Corp 半導体モジュール
EP1758440A2 (en) 2005-08-26 2007-02-28 Hitachi, Ltd. Semiconductor device and power conversion apparatus using the same
JP2007151286A (ja) * 2005-11-28 2007-06-14 Hitachi Ltd 電力変換装置
WO2007094508A1 (ja) * 2006-02-17 2007-08-23 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha 半導体モジュールおよびそれを備えるハイブリッド車両の駆動装置
JP2007335858A (ja) * 2006-06-14 2007-12-27 Semikron Elektronik Gmbh & Co Kg 互いに電気絶縁された端子要素を備えたパワー半導体モジュール
WO2008001413A1 (en) * 2006-06-23 2008-01-03 Mitsubishi Electric Corporation Power converter
JP2009188271A (ja) * 2008-02-07 2009-08-20 Jtekt Corp 多層回路基板およびモータ駆動回路基板
JP2009295633A (ja) * 2008-06-02 2009-12-17 Honda Motor Co Ltd パワーコントロールユニット及びこれを備えたハイブリッド車両
US7742303B2 (en) 2006-07-21 2010-06-22 Hitachi, Ltd. Electric power converter
JP2010199628A (ja) * 2010-06-14 2010-09-09 Hitachi Automotive Systems Ltd 半導体装置及びそれを用いた電力変換装置
US7952856B2 (en) 2008-06-02 2011-05-31 Honda Motor Co., Ltd. Power control unit and hybrid vehicle comprising same
WO2011122279A1 (ja) * 2010-03-29 2011-10-06 本田技研工業株式会社 モータ駆動回路モジュール
WO2012073570A1 (ja) * 2010-12-01 2012-06-07 株式会社安川電機 電力変換装置
CN103354414A (zh) * 2013-06-17 2013-10-16 许继集团有限公司 一种并联igbt功率单元
JP2014116272A (ja) * 2012-12-12 2014-06-26 Nichicon Corp 電磁石用電源装置
WO2014203571A1 (ja) * 2013-06-17 2014-12-24 三菱電機株式会社 電力変換装置
JP2015211524A (ja) * 2014-04-25 2015-11-24 株式会社デンソー 半導体モジュール

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4066644B2 (ja) * 2001-11-26 2008-03-26 株式会社豊田自動織機 半導体装置、半導体装置の配線方法
US7119437B2 (en) 2002-12-26 2006-10-10 Yamaha Hatsudoki Kabushiki Kaisha Electronic substrate, power module and motor driver
JP4583122B2 (ja) * 2004-09-28 2010-11-17 三菱電機株式会社 半導体装置及びその製造方法
US7911053B2 (en) * 2007-04-19 2011-03-22 Marvell World Trade Ltd. Semiconductor packaging with internal wiring bus
US8110835B2 (en) * 2007-04-19 2012-02-07 Luminus Devices, Inc. Switching device integrated with light emitting device
US8362703B2 (en) * 2007-12-20 2013-01-29 Luminus Devices, Inc. Light-emitting devices
SI2340560T1 (sl) 2008-01-25 2014-02-28 Letrika Lab D.O.O. Močnostni stikalni modul
US10234545B2 (en) 2010-12-01 2019-03-19 Microsoft Technology Licensing, Llc Light source module
US8888331B2 (en) * 2011-05-09 2014-11-18 Microsoft Corporation Low inductance light source module
US8882310B2 (en) 2012-12-10 2014-11-11 Microsoft Corporation Laser die light source module with low inductance
JP6252194B2 (ja) 2014-01-17 2017-12-27 株式会社豊田自動織機 半導体装置
JP6320433B2 (ja) 2014-02-11 2018-05-09 三菱電機株式会社 電力用半導体モジュール
US9893646B2 (en) 2015-09-30 2018-02-13 General Electric Company System for a low profile, low inductance power switching module
CN105428346B (zh) * 2015-11-02 2017-12-26 许继电气股份有限公司 一种压接式igbt组成的多级h桥串联阀段
US10257932B2 (en) 2016-02-16 2019-04-09 Microsoft Technology Licensing, Llc. Laser diode chip on printed circuit board
JP6686663B2 (ja) * 2016-04-19 2020-04-22 株式会社デンソー 電力変換装置
US10021802B2 (en) 2016-09-19 2018-07-10 General Electric Company Electronic module assembly having low loop inductance
DE102016224631B4 (de) * 2016-12-09 2020-06-04 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Elektrisch leitende Verbindung zwischen mindestens zwei elektrischen Komponenten an einem mit elektronischen und/oder elektrischen Bauelementen bestücktem Träger, die mit einem Bonddraht ausgebildet ist
US11033977B2 (en) * 2017-04-21 2021-06-15 Illinois Tool Works Inc. Welding type power supply with output rectifier and phase shift double forward converter

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0783633B2 (ja) * 1989-01-12 1995-09-06 池田電機株式会社 パルス幅変調式単相モータ用インバータ
DE3937045A1 (de) * 1989-11-07 1991-05-08 Abb Ixys Semiconductor Gmbh Leistungshalbleitermodul
US5172310A (en) * 1991-07-10 1992-12-15 U.S. Windpower, Inc. Low impedance bus for power electronics
EP0660496B1 (de) * 1993-12-23 1998-09-30 Asea Brown Boveri AG Umrichteranordnung mit niederinduktivem Kommutierungskreis
US5499186A (en) * 1994-01-07 1996-03-12 Hughes Aircraft Company Three-phase power converter with fail soft characteristics
DE4413163A1 (de) * 1994-04-15 1995-10-19 Philips Patentverwaltung Schaltungsanordnung mit einem Wechselrichter
JP3206717B2 (ja) * 1996-04-02 2001-09-10 富士電機株式会社 電力用半導体モジュール
US5808240A (en) * 1996-05-24 1998-09-15 Otis Elevator Company Low-inductance planar bus arrangement
JP2000036308A (ja) * 1998-07-16 2000-02-02 Toyota Motor Corp 燃料電池システム
JP3501685B2 (ja) * 1999-06-04 2004-03-02 三菱電機株式会社 電力変換装置

Cited By (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4660214B2 (ja) * 2005-01-26 2011-03-30 日本インター株式会社 電力用半導体装置
JP2006210500A (ja) * 2005-01-26 2006-08-10 Nippon Inter Electronics Corp 電力用半導体装置
JP4532303B2 (ja) * 2005-02-08 2010-08-25 トヨタ自動車株式会社 半導体モジュール
JP2006222149A (ja) * 2005-02-08 2006-08-24 Toyota Motor Corp 半導体モジュール
EP1758440A2 (en) 2005-08-26 2007-02-28 Hitachi, Ltd. Semiconductor device and power conversion apparatus using the same
EP1758440A3 (en) * 2005-08-26 2012-01-11 Hitachi, Ltd. Semiconductor device and power conversion apparatus using the same
EP2568787A1 (en) 2005-08-26 2013-03-13 Hitachi Ltd. Semiconductor device and power conversion apparatus using the same
US7542317B2 (en) 2005-08-26 2009-06-02 Hitachi, Ltd. Semiconductor device and power conversion apparatus using the same
JP2007151286A (ja) * 2005-11-28 2007-06-14 Hitachi Ltd 電力変換装置
JP4735209B2 (ja) * 2005-11-28 2011-07-27 株式会社日立製作所 電力変換装置
JP2007220976A (ja) * 2006-02-17 2007-08-30 Toyota Motor Corp 半導体モジュールおよびそれを備えるハイブリッド車両の駆動装置
US7932624B2 (en) 2006-02-17 2011-04-26 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Semiconductor module, and hybrid vehicle drive device including the same
WO2007094508A1 (ja) * 2006-02-17 2007-08-23 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha 半導体モジュールおよびそれを備えるハイブリッド車両の駆動装置
JP2007335858A (ja) * 2006-06-14 2007-12-27 Semikron Elektronik Gmbh & Co Kg 互いに電気絶縁された端子要素を備えたパワー半導体モジュール
JPWO2008001413A1 (ja) * 2006-06-23 2009-11-19 三菱電機株式会社 電力変換装置
WO2008001413A1 (en) * 2006-06-23 2008-01-03 Mitsubishi Electric Corporation Power converter
EP3300239A1 (en) 2006-07-21 2018-03-28 Hitachi, Ltd. Electric power converter
US7742303B2 (en) 2006-07-21 2010-06-22 Hitachi, Ltd. Electric power converter
EP2605392A2 (en) 2006-07-21 2013-06-19 Hitachi Ltd. Electric power converter
US7952876B2 (en) 2006-07-21 2011-05-31 Hitachi, Ltd. Electric power converter
JP2009188271A (ja) * 2008-02-07 2009-08-20 Jtekt Corp 多層回路基板およびモータ駆動回路基板
US7952856B2 (en) 2008-06-02 2011-05-31 Honda Motor Co., Ltd. Power control unit and hybrid vehicle comprising same
JP4572247B2 (ja) * 2008-06-02 2010-11-04 本田技研工業株式会社 ハイブリッド車両
JP2009295633A (ja) * 2008-06-02 2009-12-17 Honda Motor Co Ltd パワーコントロールユニット及びこれを備えたハイブリッド車両
CN102812629A (zh) * 2010-03-29 2012-12-05 本田技研工业株式会社 电动机驱动电路模块
JPWO2011122279A1 (ja) * 2010-03-29 2013-07-08 本田技研工業株式会社 モータ駆動回路モジュール
WO2011122279A1 (ja) * 2010-03-29 2011-10-06 本田技研工業株式会社 モータ駆動回路モジュール
JP2010199628A (ja) * 2010-06-14 2010-09-09 Hitachi Automotive Systems Ltd 半導体装置及びそれを用いた電力変換装置
US9025341B2 (en) 2010-12-01 2015-05-05 Kabushiki Kaisha Yaskawa Denki Power converter
WO2012073570A1 (ja) * 2010-12-01 2012-06-07 株式会社安川電機 電力変換装置
JP5601376B2 (ja) * 2010-12-01 2014-10-08 株式会社安川電機 電力変換装置
JP2014116272A (ja) * 2012-12-12 2014-06-26 Nichicon Corp 電磁石用電源装置
WO2014203571A1 (ja) * 2013-06-17 2014-12-24 三菱電機株式会社 電力変換装置
JP6022062B2 (ja) * 2013-06-17 2016-11-09 三菱電機株式会社 電力変換装置
JPWO2014203571A1 (ja) * 2013-06-17 2017-02-23 三菱電機株式会社 電力変換装置
KR101740174B1 (ko) 2013-06-17 2017-05-25 도시바 미쓰비시덴키 산교시스템 가부시키가이샤 전력 변환 장치
CN103354414A (zh) * 2013-06-17 2013-10-16 许继集团有限公司 一种并联igbt功率单元
JP2015211524A (ja) * 2014-04-25 2015-11-24 株式会社デンソー 半導体モジュール

Also Published As

Publication number Publication date
EP1160866A2 (en) 2001-12-05
EP1160866A3 (en) 2004-12-22
US6501167B2 (en) 2002-12-31
DE60127027T2 (de) 2007-06-28
DE60127027D1 (de) 2007-04-19
US20010045639A1 (en) 2001-11-29
JP3692906B2 (ja) 2005-09-07
EP1160866B1 (en) 2007-03-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3692906B2 (ja) 電力配線構造及び半導体装置
JP6188902B2 (ja) 電力用半導体モジュール及び電力変換装置
JP6288301B2 (ja) ハーフブリッジパワー半導体モジュール及びその製造方法
JP3633432B2 (ja) 半導体装置及び電力変換装置
US20100328833A1 (en) Power module with additional transient current path and power module system
JP6836201B2 (ja) 電力変換装置
JP6597549B2 (ja) 半導体モジュール
JP6096614B2 (ja) パワー半導体モジュールおよびそれを用いた電力変換装置
JP3622782B2 (ja) 半導体装置
JP6603676B2 (ja) ハーフブリッジパワー半導体モジュール及びその製造方法
WO2022091288A1 (ja) 半導体パッケージ、半導体装置および電力変換装置
JP6053668B2 (ja) 半導体モジュールおよび電力変換装置
US9679700B2 (en) Capacitor module and power conversion device
JP2007053839A (ja) スナバ回路及びこれを用いた電力変換装置
JP2017055610A (ja) パワー半導体装置
JP2005176555A (ja) 電力変換装置
JP3873743B2 (ja) 電力変換装置
KR20210076469A (ko) 파워 모듈 및 그 제조 방법
JP6602474B2 (ja) 半導体装置および電力変換装置
JPH08140363A (ja) 電力変換装置
JP2009071129A (ja) コンデンサ内蔵絶縁型半導体パワーモジュール
JP2000216331A (ja) パワ―半導体モジュ―ルおよびそれを用いた電力変換装置
JP7428679B2 (ja) パワー半導体装置および電力変換装置
WO2023199639A1 (ja) 半導体装置
JPH11146656A (ja) インバータ装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040315

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050322

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050428

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050531

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050613

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090701

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100701

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110701

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120701

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees