JP2001066368A - 放射線撮像装置 - Google Patents

放射線撮像装置

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JP2001066368A JP24002599A JP24002599A JP2001066368A JP 2001066368 A JP2001066368 A JP 2001066368A JP 24002599 A JP24002599 A JP 24002599A JP 24002599 A JP24002599 A JP 24002599A JP 2001066368 A JP2001066368 A JP 2001066368A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 放射線検出器の検出信号の強度のバラツキを
補正する補正用データの更新を、撮影画像の画質の連続
性を損なわず、しかも適切なかたちで行う。 【解決手段】 X線検出信号の補正用データの更新の
際、フラットパネル型X線センサ2より収集した新収集
補正用データの方を、補正用メモリ15,16から読み
出された記憶済補正用データより重みが軽くなるように
重み付けをして新規補正用データとするので、更新後の
新規補正用データに対する新収集補正用データの影響は
少ない。その結果、新規補正用データが記憶済補正用デ
ータから大きく変化することはなくなり、補正用データ
の更新前後の両X線画像の画質に大きな差が付かない。
新収集補正用データの収集を短時間で済ませることも出
来、また補正用データの更新頻度を多くして、十分なデ
ータ修正効果を得られる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、透過放射線検出
用としてアレイ型放射線検出器を備え、医療用のX線透
視撮影装置や産業用のX線非破壊検査装置などに用いら
れる放射線撮像装置に係り、特にアレイ型放射線検出器
から出力される(放射線)検出信号の強度のバラツキを
補正するための補正用データを更新するための技術に関
する。
【0002】
【従来の技術】最近、医療用や産業用のX線撮像装置に
おいては、図8に示すようなフラットパネル型X線セン
サ(以下、適宜「パネル型X線センサ」と略記)51
が、透過X線検出用のアレイ型検出器として非常に注目
されている( 例えば、文献W.Zhao,et al.,”A flat pan
el detector for digital radiology using active mat
rixreadout of amorphous selenium,”Proc.SPIE Vol.2
708,pp.523-531,1996 参照) 。このパネル型X線センサ
51は、アモルファスSe膜のようなX線感応膜を有す
るX線検出素子51aが検出面にXYマトリックス状に
多数個配列された構成となっていて、軽量・薄型で大面
積化適性もある2次元アレイ型X線検出器である。
【0003】しかしながら、図8のパネル型X線センサ
51には、検出面の場所的な特性むらに起因するX検出
信号の強度のバラツキ(強度むら)が一般的には存在す
る。つまりオフセット(X線非照射時の検出信号の強
度)や感度(同一線量のX線照射時の検出信号の強度)
が各X線検出素子51aで同じではなく、往々にして異
なる。したがって、検出された信号そのままに画像を構
成すると、X線画像に顕著なアーティファクト(偽像)
が出現することになる。
【0004】そこでパネル型X線センサ51の検出信号
の強度むらを補正するための補正用データを各X線検出
素子51a毎に予め求めて記憶しておき、X線撮影中、
撮影対象である被検体へのX線照射に伴ってパネル型X
線センサ51から出力される検出信号に対して補正用デ
ータに基づき信号強度のバラツキを補正する演算処理を
行ってアーティファクトの出現を阻止するようにしてい
る。
【0005】また、パネル型X線センサ51の検出信号
の強度むらは時間の経過に伴って変化する(経時的に変
動する)ので、ある程度時間が経過したら新規の補正用
データを求め直して記憶済の補正用データを更新してい
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のフラットパネル型X線センサ51の場合、補正用デ
ータの更新の前後でX線画像の画質が大きく変化する、
つまり画質に経時的な不連続性を生じるという問題があ
る。パネル型X線センサ51の検出信号の強度むらの経
時的変動は割合に大きいので、補正用データの更新の前
後で補正量に相当な差が生じ、この補正量の差によっ
て、補正用データの更新前後の両X線画像の画質がかな
り異なってくるからである。
【0007】もちろん、補正用データの更新を短い時間
間隔で頻繁に行えば、補正用データの更新前後の両X線
画像の画質の差は縮められる。しかし、普通、補正用デ
ータは、複数回のデータ収集で得たデータを平均化した
ものであるので、補正用データの更新を頻繁に行うと補
正用データの更新に時間がかかり過ぎて実用的ではな
い。
【0008】補正用データを1回のデータ収集で得たも
のにすれば、補正用データの更新に時間はかからない
が、補正用データが正確ではないので、検出信号の強度
むらを十分に抑えられず、やはり補正用データの更新は
適切なかたちで行えないことになる。
【0009】この発明は、上記の事情に鑑み、アレイ型
放射線検出器から出力される検出信号の強度のバラツキ
を補正するための補正用データの更新を、撮影画像の画
質の連続性を損なわず、しかも適切なかたちで行うこと
ができる放射線撮像装置を提供することを課題とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】この発明は、このような
目的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項1に記載の放射線撮像装置は、被検体に放射
線を照射する放射線照射手段と、放射線検出素子が検出
面に複数個配列されている透過放射線検出用のアレイ型
放射線検出器と、アレイ型放射線検出器の検出面の場所
的な特性むらに起因する検出信号の強度のバラツキを補
正するための補正用データを各放射線検出素子とそれぞ
れ対応させて記憶する補正用データ記憶手段と、補正用
データ記憶手段に記憶された補正用データに基づき被検
体への放射線照射に伴ってアレイ型放射線検出器から出
力される各放射線検出信号に信号強度のバラツキを補正
する演算処理を施す補正演算処理手段を備えている放射
線撮像装置において、アレイ型放射線検出器から更新用
の新収集補正用データとしての検出信号を収集するとと
もに、補正用データ記憶手段から記憶済補正用データを
読み出し、新収集補正用データの方を記憶済補正用デー
タより重みが軽くなるように両データに重み付け演算を
行い新規補正用データとして記憶済補正用データを更新
する補正用データ更新手段を備えていることを特徴とす
るものである。
【0011】また、請求項2に記載の放射線撮像装置
は、請求項1に記載の放射線撮像装置において、補正用
データがオフセット補正用データおよび感度補正用デー
タからなり、補正用データ記憶手段へ最初に記憶させる
初期補正用データはアレイ型放射線検出器に対する複数
回のデータ収集で得られた検出信号を平均化したデータ
とし、新収集補正用データはアレイ型放射線検出器に対
する1回のデータ収集で得られた検出信号とするよう構
成されていることを特徴とするものである。
【0012】〔作用〕次に、この発明に係る放射線撮像
装置における作用を説明する。請求項1の発明の放射線
撮像装置では、先ずアレイ型放射線検出器の検出面の場
所的な特性むらに起因する検出信号の強度むらを補正す
るための補正用データを各放射線検出素子毎に求めて各
放射線検出素子とそれぞれ対応させて予め補正用データ
記憶手段に記憶しておく。そして、放射線撮像装置によ
り撮影が行われている間は、補正演算処理手段によっ
て、補正用データ記憶手段に記憶された補正用データに
基づき被検体への放射線照射に伴ってアレイ型放射線検
出器から出力される各放射線検出信号に信号強度のバラ
ツキを補正する演算処理が施される結果、アーティファ
クトの原因となるような検出信号の強度むらが除かれ
る。
【0013】そして、放射線撮像装置において補正用デ
ータの更新が行われる場合、補正用データ更新手段によ
って、適時、アレイ型放射線検出器から更新用の新収集
補正用データとしての検出信号が収集されるとともに、
補正用データ記憶手段から記憶済補正用データが読み出
され、新収集補正用データの方が記憶済補正用データよ
り重みが軽くなるように両データは重み付けされてから
演算された後、補正用データ記憶手段に新規補正用デー
タとして記憶済補正用データに代えて記憶される。
【0014】新収集補正用データは更新時点での検出面
の状況を実際に示すデータであり、記憶済補正用データ
とは相当な強度差がある可能性もある。しかし、たとえ
新収集補正用データと記憶済補正用データの間に相当な
強度差が付いていたとしても、新収集補正用データは記
憶済補正用データより重み付けが軽くて新規補正用デー
タにおける影響度が低く、新規補正用データが記憶済補
正用データから急激に大きく変化することはないので、
補正用データの更新前後の両撮影画像の画質に大きな差
が付くことはない。
【0015】また、新収集補正用データに含まれる誤差
についても重み付けは軽くて、新収集補正用データに含
まれる誤差の新規補正用データに対する影響度は低いの
で、1回の補正用データの更新で何回もデータ収集を繰
り返して多量のデータを平均化する必要もないので、新
収集補正用データの収集は短時間で行える。
【0016】さらに、新収集補正用データの重み付けが
軽いことから、1回当たりのデータ更新によるデータ修
正効果は少ないが、補正用データの更新の時間間隔を短
くして更新頻度を多くすれば、十分なデータ修正効果が
得られる。もちろん、更新頻度が多くなっても、新収集
補正用データ収集が短時間で済ませられるので、補正用
データの更新に時間が長くかかり過ぎるようなこともな
い。
【0017】請求項2に記載の放射線撮像装置の場合、
オフセット補正用データおよび感度補正用データに基づ
いて放射線検出信号はオフセットむら及び感度むらの両
方が補正される。また、補正用データ記憶手段へ最初に
記憶させる初期補正用データは、アレイ型放射線検出器
に対する複数回のデータ収集で得られた検出信号を平均
化したものであるので、正確である。それに、新収集補
正用データはアレイ型放射線検出器に対する1回のデー
タ収集で得られた検出信号であるので、データ収集が非
常に短時間で行える。
【0018】
【発明の実施の形態】続いて、この発明の一実施例を図
面を参照しながら説明する。図1は実施例に係るX線撮
像装置の全体構成を示すブロック図、図2は実施例のX
線撮像装置の撮像系の構成を示す模式図、図3は透過X
線検出用のフラットパネル型X線センサの検出面を示す
概略平面図である。
【0019】実施例のX線撮像装置は、図1に示すよう
に、被検体MにX線を照射するX線管1と、透過X線検
出用のフラットパネル型X線センサ(2次元アレイ型X
線検出器)2とが、天板3の上に載置された被検体Mを
間にして対向配置されている。また、フラットパネル型
X線センサ2の後段の制御系側において、被検体Mへの
X線照射に伴ってフラットパネル型X線センサ2から出
力される検出信号に基づいて信号処理が行われ、被検体
MのX線画像が得られるように構成されている。以下、
実施例装置の各部の構成を具体的に説明する。
【0020】X線照射用のX線管1に関しては、高電圧
発生器5などを含む照射制御部4のコントロールによ
り、管電圧・管電流等の設定照射条件に従ってX線管1
がX線を患者Mに照射するよう構成されている。
【0021】透過X線検出用のフラットパネル型X線セ
ンサ2は、図3に示すように、極めて多数のX線検出素
子2aが検出面にXYマトリックス(1024×102
4)式に配列されており、読み出し制御部6のコントロ
ールにより、X線照射に伴って各X線検出素子2aに蓄
積された電荷信号が順に読み出された後、増幅・A/D
変換を経てX線画像作成用の検出信号として制御系側へ
出力される構成となっている。
【0022】被検体載置用の天板3に関しては、天板駆
動部7のコントロールにより、被検体Mを乗せたままX
(横)・Y(縦=被検体Mの体軸方向)・Z(上下)の
各方向に必要距離だけ天板3が移動するよう構成されて
いる。
【0023】なお、照射制御部4、読み出し制御部6、
および、天板駆動部7によるコントロールは、操作卓8
からの入力操作等や撮影進行状況に応じて撮影制御部9
から適宜に送出される指令信号に従って行われる構成と
なっている。
【0024】一方、実施例のX線撮像装置は、X線照射
に伴ってフラットパネル型X線センサ2から出力される
検出信号を記憶する検出信号メモリ(原画像メモリ)1
0と、検出信号に対して必要な信号処理を施す信号処理
部11と、必要な信号処理により得られたX線画像を記
憶するX線画像メモリ12を備えるとともに、X線画像
メモリ12に記憶されたX線画像を表示する表示モニタ
13や、X線画像メモリ12に記憶されたX線画像をフ
ィルムに焼き付けて画像写真として出力する画像焼付け
器(レーザ式イメージャー)14を備えている。また、
信号処理部11は、必要な信号処理として、例えばエッ
ジ強調やフィルタリングあるいはディジタルサブトラク
ション(DSA)などいわゆる画像処理用の信号処理を
行う他、詳しくは後述するように、フラットパネル型X
線センサ2から出力される検出信号を補正するための補
正用データの設定・更新および補正用データに基づく
(X線)検出信号の強度むら補正なども行う。
【0025】続いて、フラットパネル型X線センサ(X
線面センサ)2の構成を具体的に説明する。図4はフラ
ットパネル型X線センサ2のX線センサ部の概略断面
図、図5はフラットパネル型X線センサ2の全体構成を
示すブロック図である。
【0026】フラットパネル型X線センサ2は、X線が
入射することによりキャリアが生成されるX線感応膜
(例えばアモルファスSe厚膜)である半導体膜21
と、半導体膜21のX線入射側の表面に設けられた電圧
印加電極22と、半導体膜21のX線非入射側の裏面に
設けられたキャリア収集電極23と、キャリア収集電極
23への収集キャリアを溜める電荷蓄積用のコンデンサ
Caと、コンデンサCaに蓄積された電荷を取り出すた
めの通常時オフ(遮断)の電荷取り出し用のスイッチ素
子24の薄膜トランジスタ(TFT)を備えており、電
圧印加電極22にバイアス電圧が印加された状態でX線
照射に伴う生成キャリアがキャリア収集電極23からコ
ンデンサCaに送り込まれて蓄積されるとともに、読み
出しタイミングになった時にスイッチ素子24がオン
(接続)となって蓄積電荷が(X線)検出信号として読
み出される構成になっている。したがって、フラットパ
ネル型X線センサ2は、半導体膜21および電圧印加電
極22の各一部、キャリア収集電極23、スイッチ素子
24およびコンデンサCaからなるX線検出素子2aが
縦横に配列されている直接変換型のX線センサというこ
とになる。
【0027】また、フラットパネル型X線センサ2で
は、X線検出素子2aのスイッチ素子24用の薄膜トラ
ンジスタのソースが横(X)方向の読出し配線25に接
続され、ゲートが縦(Y)方向の読出し配線26に接続
されている。読出し配線25はプリアンプ群(電荷−電
圧変換器群)27を介してマルチプレクサ28に接続さ
れているとともに、読出し配線26はゲートドライバ2
9に接続されている。なお、プリアンプ群27では、1
本の読出し配線25に対して、プリアンプ(電荷−電圧
変換器)が1個それぞれ接続されている。
【0028】そして、フラットパネル型X線センサ2の
場合、読み出し制御部6からマルチプレクサ28および
ゲートドライバ29へ信号取り出し用の走査信号が送り
込まれることになる。各X線検出素子2aの特定は、X
方向・Y方向の配列に沿って各X線検出素子2aに順番
に割り付けられているアドレス(例えば0〜1023)
に基づいて行われるので、取り出し用の走査信号は、そ
れぞれX方向アドレスまたはY方向アドレスを指定する
信号となる。
【0029】Y方向の走査信号に従ってゲートドライバ
29からY方向の読出し配線26に対し取り出し用の電
圧が印加されるのに伴い、各X線検出素子2aが列単位
で選択される。そして、X方向の走査信号に従ってマル
チプレクサ28が切替えられることにより、選択された
列のX線検出素子2aのコンデンサCaに蓄積された電
荷が、プリアンプ群27およびマルチプレクサ28を順
に経て後段の検出信号メモリ10へ(X線)検出信号と
して送り出される。この検出信号メモリ10は、フラッ
トパネル型X線センサ2と同じアドレス付けで各X線検
出素子2aの検出信号が、それぞれ同一アドレスのメモ
リセルに格納されるフレームメモリとなっている。
【0030】フラットパネル型X線センサ2の場合、プ
リアンプ群27およびマルチプレクサ28やゲートドラ
イバ29さらには必要に応じてAD変換器(図示省略)
なども一体的に設置され、一段と集積化が図られた構成
となっている。しかし、プリアンプ群27およびマルチ
プレクサ28やゲートドライバ29あるいはAD変換器
などの全部または一部が別体設置である構成であっても
かまわない。
【0031】以上に説明したフラットパネル型X線セン
サ2には、検出面の場所的な特性むらに起因する検出信
号の強度むらが、やはり存在している。具体的に言え
ば、X線検出素子2aの間でオフセット(X線非照射時
の出力)や感度(ゲイン=X線変換率)のバラツキがあ
る。実施例装置の場合には、図6に示すように、各X線
検出素子2aのオフセットとしては、X線曝射量0(X
線非照射状態)でフラットパネル型X線センサ2から出
力される各検出信号の強度そのものを用い、また各X線
検出素子2aの感度としては、一定のX線曝射量Xt
(X線照射状態)でフラットパネル型X線センサ2から
出力される各検出信号の強度からオフセット分を差し引
いたものを用いる。
【0032】もちろん、図6に示すように、X線曝射量
0のフラットパネル型X線センサ2から出力される各検
出信号の強度と、被検体Mを天板3に載置しないブラン
ク状態において一定のX線曝射量Xtのフラットパネル
型X線センサ2から出力される各検出信号の強度を結ぶ
線分Pの傾き(X線変換率に相当)を各X線検出素子2
a毎に求めて、これを感度としてもよい。
【0033】そして、実施例のX線撮像装置の信号処理
部11は、フラットパネル型X線センサ2の検出面の場
所的な特性むらに起因するオフセット及び感度のバラツ
キを補正するための補正用データを記憶するオフセット
補正用メモリ15と感度補正用メモリ16を備えている
とともに、信号処理部11には、両補正用メモリ15,
16に両初期補正用データを求出して記憶する初期補正
用データ設定部17と、各補正用メモリ15,16に記
憶された補正用データを新規補正用データに更新する補
正用データ更新部18と、各補正用メモリ15,16に
記憶されたデータに基づき撮影中にフラットパネル型X
線センサ2から出力される各検出信号の強度むらを補正
する演算処理を施す補正演算処理部19とが設けられて
いる。
【0034】以下、フラットパネル型X線センサ2の検
出信号の強度むらを補正するための構成について具体的
に説明する。
【0035】初期補正用データ設定部17は、X線非照
射状態のフラットパネル型X線センサ2に対するn回
(例えば64回)のデータ収集で得られた検出信号を各
X線検出素子2a毎に平均化(アベレージング)して各
X線検出素子2aの初期オフセット補正用データとして
オフセット補正用メモリ15に記憶するよう構成されて
いる。すなわち、X方向アドレスi番地,Y方向アドレ
スj番地のX線検出素子2aのk回目に取得した検出信
号をXk(i,j)とすると、初期オフセット補正用データA
(i,j) は次の通りとなる。
【0036】A(i,j) =〔X1(i,j)+X2(i,j)+・・+
Xk(i,j)+・・+Xn(i,j)〕/n
【0037】また初期補正用データ設定部17は、X線
照射状態のフラットパネル型X線センサ2に対するn回
(例えば64回)のデータ収集で得られた各検出信号を
オフセット分を差し引いてから各X線検出素子2a毎に
平均化(アベレージング)して各X線検出素子2aの初
期感度補正用データとして感度補正用メモリ16に記憶
するよう構成されている。すなわち、X方向アドレスi
番地,Y方向アドレスj番地のX線検出素子2aのk回
目に取得した検出信号をYk(i,j)=Xk(i,j)−A(i,j)
とすると、初期感度補正用データB(i,j) は次の通りと
なる。
【0038】B(i,j) =〔Y1(i,j)+Y2(i,j)+・・+
Yk(i,j)+・・+Yn(i,j)〕/n
【0039】なお、上のようにn回分の検出信号を平均
化するとノイズ低減等により補正用データが正確にな
り、検出信号を的確に補正することができるようにな
る。
【0040】補正用データ更新部18は、X線非照射状
態のフラットパネル型X線センサ2に対する1回(m
回)のデータ収集で得られた検出信号を新収集補正用デ
ータとするとともに、各検出信号と対応する記憶済オフ
セット補正用データを読み出し、新収集補正用データの
方を記憶済補正用データより重みが軽くなるように両デ
ータに重み付けをしてから加え合わせたあと新規オフセ
ット補正用データとしてオフセット補正用メモリ15に
更新記憶するよう構成されている。すなわち、X方向ア
ドレスi番地,Y方向アドレスj番地のX線検出素子2
aの検出信号をXm(i,j)とすると、オフセット補正用メ
モリ15における新規オフセット補正用データは次の通
り更新される。
【0041】 A(i,j) ←A(i,j) ・(n−1)/n +Xm(i,j)/n
【0042】つまり、新収集補正用データの検出信号X
m(i,j)には1/nの小さな重み付けをし、記憶済オフセ
ット補正用データA(i,j) には(n−1)/nの大きな
重み付けをするのである。
【0043】さらに、補正用データ更新部18は、X線
照射状態のフラットパネル型X線センサ2に対する1回
(m回)のデータ収集で得られた各検出信号からオフセ
ット分を差し引いたものを新収集補正用データとして得
るとともに、各検出信号と対応する記憶済感度補正用デ
ータを読み出し、新収集補正用データの方を記憶済補正
用データより重みが軽くなるように両データに重み付け
をしてから加え合わせたあと新規感度補正用データとし
てオフセット補正用メモリ16に更新記憶するよう構成
されている。すなわち、X方向アドレスi番地,Y方向
アドレスj番地のX線検出素子2aの新収集補正用デー
タをYm(i,j)=Xm(i,j)−A(i,j) とすると、新規感度
補正用データは次の通り更新される。なお、このA(i,
j) は更新記憶後の新規オフセット補正用データであ
る。
【0044】 B(i,j) ←B(i,j) ・(n−1)/n +Ym(i,j)/n
【0045】つまり、新収集補正用データYm(i,j)には
1/nの小さな重み付けをし、記憶済の感度補正用デー
タB(i,j) には(n−1)/nの大きな重み付けをする
のである。
【0046】また、実施例の場合、補正用データ更新部
18はタイマ20によって定められた所定時間TMが経
過すると両補正用データA(i,j) ,B(i,j) の更新を実
行する構成となっている。所定時間TMは、例えば、0
〜30分の間の時間が選ばれる。この所定時間TMは常
に一定である必要はなく装置稼働時間の経過に伴って所
定時間TMが0〜30分の範囲の中で長くなったり、逆
に短くなったりするようであってもよい。
【0047】補正演算処理部19は両補正用メモリ1
5,16に記憶されている両補正用データA(i,j) ,B
(i,j) に基づいて、X線撮影中にフラットパネル型X線
センサ2から出力される検出信号X(i,j) に信号強度む
らを補正する演算処理を施す。すなわち、X方向アドレ
スi番地,Y方向アドレスj番地のX線検出素子2aの
検出信号をX(i,j) とすると、演算結果は次の通りとな
る。
【0048】 X(i,j) ←〔X(i,j) −A(i,j) 〕・α/B(i,j)
【0049】上記の符号αは信号レベルを扱い易い大き
さにする調整係数であり、普通、例えば1000或いは
2000といった値が選ばれる。
【0050】つまり、検出信号X(i,j) からオフセット
補正用データA(i,j) を差し引くことにより検出信号X
(i,j) からオフセットのバラツキの影響をキャンセル
し、B(i,j) で除算することによって感度のバラツキを
キャンセルするのである。このように補正演算処理部1
9によって検出信号はオフセットむら及び感度むらの両
方が補正されるので、検出信号の強度むらは十分に解消
される。
【0051】続いて、以上に述べた構成を有する実施例
のX線撮像装置における補正用データの設定・更新の進
行プロセスを、図面を参照しながら説明する。なお、図
7は実施例装置における補正用データの設定・更新の進
行状況を示すフローチャートである。
【0052】〔ステップS1〕初期補正用データ設定部
17により初期オフセット補正用データA(i,j) を求出
してオフセット補正用メモリ15へ記憶する。
【0053】〔ステップS2〕初期補正用データ設定部
17により初期感度補正用データB(i,j) を求出して感
度補正用メモリ16へ記憶する。
【0054】〔ステップS3〕被検体Mを撮影位置にセ
ットしX線撮影を開始すると、補正演算処理部19によ
り両補正用メモリ16に記憶されている補正用データA
(i,j),B(i,j) に基づいてフラットパネル型X線セン
サ2から出力される検出信号のオフセットむらおよび感
度むらを補正する演算処理が行われて、最終的にX線画
像が得られる。
【0055】〔ステップS4〕タイマ20の設定による
所定時間TMが経過して補正用データの更新を行う必要
がある場合は、次のステップS5に進む。所定時間TM
が経過しておらず補正用データの更新を行う必要がない
場合には、ステップS7へ移行する。
【0056】〔ステップS5〕補正用データ更新部18
により新規オフセット補正用データA(i,j) を求出して
オフセット補正用メモリ15のデータを更新する。
【0057】〔ステップS6〕補正用データ更新部18
により新規感度補正用データB(i,j)を求出して感度補
正用メモリ16のデータを更新する。
【0058】〔ステップS7〕X線撮影を引き続き行う
場合は、ステップS3へ戻り、X線撮影を実行する。X
線撮影を行わない場合、装置の稼働は終了することにな
る。
【0059】以上に詳述したように、実施例のX線撮像
装置によれば、フラットパネル型X線センサ2からの検
出信号の強度むらを補正するための補正用データを更新
する際、新収集補正用データの方が記憶済補正用データ
より重みが軽くなるように両データは重み付けされた後
に加え合わされて更新用の新規補正用データが得られて
おり、記憶済補正用データより重み付けの軽い新収集補
正用データは、新規補正用データにおける影響度が低く
て、更新記憶された新規補正用データが記憶済補正用デ
ータから大きく変化することはないので、補正用データ
の更新前後の両X線画像の画質に大きな差が付かない。
【0060】それに、新収集補正用データに含まれる誤
差についても、新規補正用データに対する影響度は低い
ので、1回の補正用データの更新で必要なデータ収集回
数は1回で事足りる結果、新収集補正用データの収集は
短時間で済ませられる。また、更新1回当たりの新収集
補正用データの収集が短時間で済むので、補正用データ
の更新頻度を多くして、十分なデータ修正効果を得るよ
うにしても、補正用データの更新に時間がかかり過ぎる
こともない。
【0061】この発明は、上記実施の形態に限られるこ
とはなく、下記のように変形実施することができる。
【0062】(1)実施例の場合、フラットパネル型X
線センサの検出信号を検出信号メモリにいったん格納す
る構成であったが、検出信号メモリがなくて検出信号が
そのまま信号処理部に取り込まれるような構成の装置
が、変形例として挙げられる。
【0063】(2)実施例の場合、新収集補正用データ
の検出信号には1/nの重み付けをし、記憶済のオフセ
ット補正用データには(n−1)/nの重み付けをてお
り、アベレージング回数(n)と関連付けられた重み付
けが行われる構成であったが、例えば、重み付けはアベ
レージング回数と無関係である構成の装置が、変形例と
して挙げられる。
【0064】(3)実施例の場合、新収集補正用データ
のデータ収集回数は1回であったが、新収集補正用デー
タのデータ収集回数は、X線撮影に支障を生じない程度
の時間であれば1回でなく数回程度であってもよい。
【0065】(4)実施例の場合、補正用のデータ更新
が定期的に実行される構成であったが、オペレータが必
要を感じた時に操作卓等からの入力操作によって補正用
のデータ更新が不定期的に実行される構成、或いは、定
期的な実行と不定期的な実行が選択できる構成であって
もよい。
【0066】(5)実施例のフラットパネル型X線セン
サは、多数個のX線検出素子が縦横に配列された2次元
アレイ型であったが、複数個のX線検出素子が縦または
横に1列だけ並んでいる1次元アレイ型であってもよ
い。また、実施例のフラットパネル型X線センサは、直
接変換型であったが、入射X線がまず光に変換された
後、変換光が電気信号に変換される間接変換型のセンサ
であってもよい。
【0067】(6)実施例のX線撮像装置は、X線透視
撮影装置の構成の他、X線CT装置の構成であってもよ
い。また、この発明が対象とする放射線は、X線の他
に、例えば中性子線やガンマ線などがある。
【0068】
【発明の効果】以上に詳述したように、請求項1の発明
の放射線検出装置によれば、放射線検出信号の強度むら
を補正する補正用データの更新の際、アレイ型放射線検
出器から収集された更新用の新収集補正用データの方
を、補正用データ記憶手段から読み出された記憶済補正
用データより重みが軽くなるように両データに重み付け
をしてから加え合わせて更新用の新規補正用データとす
る構成を備えており、記憶済補正用データより重み付け
の軽い新収集補正用データは、新規補正用データにおけ
る影響度が低くて、更新記憶された新規補正用データが
記憶済補正用データから急激に大きく変化するようなこ
とはないので、補正用データの更新前後の両撮影画像の
画質に大きな差は付かない。
【0069】それに、新収集補正用データに含まれる誤
差についても重み付けは軽くて、新収集補正用データに
含まれる誤差の新規補正用データに対する影響度は低い
ので、1回の補正用データの更新で何回もデータ収集を
繰り返し多量のデータを得て平均化するような必要もな
いので、新収集補正用データの収集は短時間で済ませら
れる結果、データ更新に時間がかかり過ぎることもな
い。また、新収集補正用データの収集が短時間で済ませ
られてデータ更新に時間がかかり過ぎることもないの
で、補正用データの更新頻度を多くして、十分なデータ
修正効果を得ることができる。
【0070】即ち、このように、請求項1の発明の放射
線撮像装置によれば、アレイ型放射線検出器から出力さ
れる検出信号の強度むらを補正するための補正用データ
の更新を、撮影画像の画質の連続性を損なわず、しかも
適切なかたちで行うことができるのである。
【0071】請求項2の発明の放射線撮像装置によれ
ば、放射線検出信号のオフセットむら及び感度むらの両
方が補正されるので、放射線検出信号の強度むらは十分
に解消される。また、初期補正用データが複数回のデー
タ収集で得られた検出信号を平均化した正確なデータで
あるので、放射線検出信号の強度むらが十分に解消され
る。それに、新収集データは1回のデータ収集で得られ
た検出信号であるので、データ収集が非常に短い時間で
行える
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例のX線撮像装置の全体構成を示すブロッ
ク図である。
【図2】実施例のX線撮像装置の撮像系の概略構成を示
す模式図である。
【図3】実施例装置のフラットパネル型X線センサの検
出面を示す概略平面図である。
【図4】フラットパネル型X線センサのX線センサ部を
示す概略断面図である。
【図5】フラットパネル型X線センサの全体構成を示す
ブロック図である。
【図6】フラットパネル型X線センサの検出信号のオフ
セット・感度の説明用のグラフである。
【図7】実施例装置における補正用データの設定・更新
の進行状況を示すフローチャートである。
【図8】従来装置のX線センサにおけるX線検出素子の
配列を示す図である。
【符号の説明】
1 …X線管 2 …フラットパネル型X線センサ 2a …X線検出素子 15 …オフセット補正用メモリ 16 …感度補正用メモリ 17 …初期補正用データ設定部 18 …補正用データ更新部 19 …補正演算処理部 M …被検体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G088 EE01 EE27 FF02 GG21 JJ05 KK21 LL12 LL15 LL17 LL28 4C093 AA01 AA29 CA10 EB13 EB17 ED06 ED07 EE01 EE08 FC03 FC16 FC18 FC19 FD01 FD05 FD11 FD12 FF07 FF16 FF34 FH02 GA06 4M118 AA06 AA10 AB01 BA05 CB05 FB08 FB09 FB13 FB16 GA10

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検体に放射線を照射する放射線照射手
    段と、放射線検出素子が検出面に複数個配列されている
    透過放射線検出用のアレイ型放射線検出器と、アレイ型
    放射線検出器の検出面の場所的な特性むらに起因する検
    出信号の強度のバラツキを補正するための補正用データ
    を各放射線検出素子とそれぞれ対応させて記憶する補正
    用データ記憶手段と、補正用データ記憶手段に記憶され
    た補正用データに基づき被検体への放射線照射に伴って
    アレイ型放射線検出器から出力される各放射線検出信号
    に信号強度のバラツキを補正する演算処理を施す補正演
    算処理手段を備えている放射線撮像装置において、アレ
    イ型放射線検出器から更新用の新収集補正用データとし
    ての検出信号を収集するとともに、補正用データ記憶手
    段から記憶済補正用データを読み出し、新収集補正用デ
    ータの方を記憶済補正用データより重みが軽くなるよう
    に両データに重み付けをしてから演算を行い新規補正用
    データとして記憶済補正用データを更新する補正用デー
    タ更新手段を備えていることを特徴とする放射線撮像装
    置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の放射線撮像装置におい
    て、補正用データがオフセット補正用データおよび感度
    補正用データからなり、補正用データ記憶手段へ最初に
    記憶させる初期補正用データはアレイ型放射線検出器に
    対する複数回のデータ収集で得られた検出信号を平均化
    したデータとし、新収集補正用データはアレイ型放射線
    検出器に対する1回のデータ収集で得られた検出信号と
    するよう構成されている放射線撮像装置。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003000136A1 (en) * 2001-06-22 2003-01-03 Hitachi Medical Corporation X-ray image diagnosing device, and x-ray image data correcting method
JP2005241294A (ja) * 2004-02-24 2005-09-08 Hitachi Ltd 透視撮像方法および装置
JP2008237920A (ja) * 2000-10-10 2008-10-09 Toshiba Corp X線診断装置
JP2009291477A (ja) * 2008-06-06 2009-12-17 Fujifilm Corp 放射線画像データ補正方法および装置並びに放射線画像撮影装置
JP2010252951A (ja) * 2009-04-23 2010-11-11 Hitachi Medical Corp X線ct装置およびこれを用いたデータ取得方法
JP2014100591A (ja) * 2014-01-14 2014-06-05 Canon Inc 放射線撮像装置、放射線撮像方法、記録媒体及びプログラム
JP2014526178A (ja) * 2011-07-13 2014-10-02 トリクセル 入射放射を自動検出することによって光検出器を制御する方法
JP2015057246A (ja) * 2014-12-25 2015-03-26 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、放射線撮像方法、記録媒体及びプログラム
JP2016026006A (ja) * 2015-10-26 2016-02-12 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、放射線撮像方法、記録媒体及びプログラム
JP2016214394A (ja) * 2015-05-15 2016-12-22 キヤノン株式会社 放射線撮影装置、放射線撮影方法、及びプログラム

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5914605U (ja) * 1982-07-21 1984-01-28 株式会社日立メデイコ X線ct装置
JPS60112180A (ja) * 1983-11-22 1985-06-18 Hitachi Medical Corp オフセツト量補正回路
JPS6243584A (ja) * 1985-08-21 1987-02-25 Toshiba Corp シンチレ−シヨンカメラ
JPH01223937A (ja) * 1988-03-03 1989-09-07 Toshiba Corp X線ctスキャナ装置
JPH07129764A (ja) * 1993-11-04 1995-05-19 Fujitsu Ltd 放射線画像補正装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58223080A (ja) * 1982-06-21 1983-12-24 Shimadzu Corp シンチレ−シヨンカメラ

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5914605U (ja) * 1982-07-21 1984-01-28 株式会社日立メデイコ X線ct装置
JPS60112180A (ja) * 1983-11-22 1985-06-18 Hitachi Medical Corp オフセツト量補正回路
JPS6243584A (ja) * 1985-08-21 1987-02-25 Toshiba Corp シンチレ−シヨンカメラ
JPH01223937A (ja) * 1988-03-03 1989-09-07 Toshiba Corp X線ctスキャナ装置
JPH07129764A (ja) * 1993-11-04 1995-05-19 Fujitsu Ltd 放射線画像補正装置

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008237920A (ja) * 2000-10-10 2008-10-09 Toshiba Corp X線診断装置
WO2003000136A1 (en) * 2001-06-22 2003-01-03 Hitachi Medical Corporation X-ray image diagnosing device, and x-ray image data correcting method
US6944267B2 (en) * 2001-06-22 2005-09-13 Hitachi Medical Corporation X-ray image diagnostic device, and x-ray image data correcting method
JP2005241294A (ja) * 2004-02-24 2005-09-08 Hitachi Ltd 透視撮像方法および装置
JP2009291477A (ja) * 2008-06-06 2009-12-17 Fujifilm Corp 放射線画像データ補正方法および装置並びに放射線画像撮影装置
JP2010252951A (ja) * 2009-04-23 2010-11-11 Hitachi Medical Corp X線ct装置およびこれを用いたデータ取得方法
JP2014526178A (ja) * 2011-07-13 2014-10-02 トリクセル 入射放射を自動検出することによって光検出器を制御する方法
JP2014100591A (ja) * 2014-01-14 2014-06-05 Canon Inc 放射線撮像装置、放射線撮像方法、記録媒体及びプログラム
JP2015057246A (ja) * 2014-12-25 2015-03-26 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、放射線撮像方法、記録媒体及びプログラム
JP2016214394A (ja) * 2015-05-15 2016-12-22 キヤノン株式会社 放射線撮影装置、放射線撮影方法、及びプログラム
JP2016026006A (ja) * 2015-10-26 2016-02-12 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、放射線撮像方法、記録媒体及びプログラム

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