JP4462349B2 - 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 - Google Patents

放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 Download PDF

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Description

この発明は、被検体を照射して検出された放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法に係り、特に、放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を放射線検出信号から除去する技術に関する。
放射線撮像装置の例としてＸ線を検出してＸ線画像を得る撮像装置では、従来においてＸ線検出手段としてイメージインテンシファイア（Ｉ．Ｉ）が用いられていたが、近年において、フラットパネル型Ｘ線検出器（以下、『ＦＰＤ』と略記する）が用いられている。
ＦＰＤは、感応膜が基板上に積層されて構成されており、その感応膜に入射した放射線を検出して、検出された放射線を電荷に変換して、２次元アレイ状に配置されたキャパシタに電荷を蓄積する。蓄積された電荷はスイッチング素子をＯＮすることで読み出されて、放射線検出信号として画像処理部に送り込まれる。そして、画像処理部において放射線検出信号に基づく画素を有した画像が得られる。
かかるＦＰＤを用いた場合、従来から用いられているイメージインテンシファイアなどに比べて、軽量で、かつ複雑な検出歪みが発生しない。したがって、装置構造や画像処理の面でＦＰＤは有利である。
しかしながら、ＦＰＤを用いると、Ｘ線検出信号に時間遅れ分が含まれる。その時間遅れ分によって前回の撮像におけるＸ線の照射時の残像がアーティファクトとしてＸ線画像に写りこんでしまう。特に、短時間の時間間隔（例えば１／３０秒）でＸ線照射を連続的に行う透視においては、時間遅れ分のタイムラグの影響が大きく診断の妨げとなる。
そこで、バックライトを用いて時間遅れ分の長時定数成分の低減を図る（例えば、特許文献１参照）、あるいは時間遅れ分が複数の時定数を有する指数関数の総和であるとして、それら指数関数を用いて再帰的演算処理を行って、ラグ補正を行う（例えば、特許文献２参照）ことで、時間遅れ分によるアーティファクトを低減させる。
上述した特許文献１のようにバックライトを用いるとバックライトのための構造によって構造が複雑化となる。特に、軽量構造を実現したＦＰＤにバックライトを用いると、構造が再度に重量化、複雑化となる。また、上述した特許文献２の場合には、Ｘ線検出信号を取得するサンプリングの回数分、再帰的演算処理を行ってラグ補正を行う必要があり、ラグ補正に煩雑さが伴う。
そこで、Ｘ線検出信号に含まれる時間遅れ分をＸ線検出信号から簡易に除去することができるように、ラグ補正を行う際に、撮像におけるＸ線の照射前の非照射時に複数のＸ線検出信号を取得して、それらＸ線検出信号に基づくラグ画像を取得し、それを用いて撮像の対象となるＸ線画像からラグ除去する手法が考えられる。
ところで、ラグ補正以外には、例えばオフセット補正、ゲイン補正、欠損補正などの補正処理などがある。例えば、オフセット補正を行うためには、Ｘ線が非照射時のオフセット画像を予め求める。Ｘ線検出信号に基づく原画像から上述したオフセット画像を減算する。蓄積時間やアンプ（増幅器）の増幅率（ゲイン）や画素ビニング（複数の画素の加算）といったモードごとにオフセット画像は異なり、モードに応じたオフセット画像を求めて、オフセット補正を行う（例えば、特許文献３参照）。なお、画素ビニングとしては、各画素を一対一に出力する１×１モードや、縦横ともに２×２の４つの画素を１つの画素に出力する２×２モードや、縦横ともに４×４の１６個の画素を１つの画素に出力する４×４モードなどがある。
特開平９−９１５３号公報（第３−８頁、図１） 特開２００４−２４２７４１号公報（第４−１１頁、図１，３−６） 特開２００３−１９０１２６号公報（第３−６頁、図１）
しかしながら、上述した取得されたラグ画像を用いて撮像の対象となるＸ線画像からラグ除去する手法では、以下のような問題点がある。すなわち、非照射時に取得されるＸ線検出信号は、暗電流によるオフセット成分を含んでいる。したがって、かかる手法では、オフセット補正やゲイン補正を行っていない補正未処理であって撮像直後のＸ線画像からオフセット成分を含んだラグ画像を用いてラグ除去することで、オフセットおよびラグの両成分について同時に補正することができる。
しかし、実際にはオフセット成分（すなわちオフセット値）は、信号情報（電荷）を蓄積する蓄積時間に応じて異なる性質を持つ。したがって、撮像時で用いられた蓄積時間に対応するオフセット値を減算する必要がある。実際には、撮像時の蓄積時間は、被検体の厚さなどに応じて時間的に伸縮するＸ線のパルス幅に依存しており、予め知ることは不可能である。
一方、ラグ画像を取得するために非照射時に複数のＸ線検出信号を収集するときには、最も短い蓄積時間で収集しないと、ラグ収集そのものに時間がかかってしまい望ましくない。したがって、ラグ画像の取得のための収集と実際の撮像とでは、異なる蓄積時間（異なるモード）で行うことになる。このように、異なった蓄積時間の場合でも、ラグ補正が可能な改良が必要となる。なお、ゲイン補正についても、蓄積時間が異なる場合には、それに応じたゲイン補正用画像を用いる必要がある。
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、オフセットあるいはゲイン成分を含めて、放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を放射線検出信号から簡易に除去することができる放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法を提供することを目的とする。
この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、この発明の放射線撮像装置は、放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る放射線撮像装置であって、被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段と、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段と、信号に重畳されたオフセット値を除去するオフセット補正を行うために用いられるオフセット画像について、信号の情報を蓄積する複数の蓄積時間に対応したオフセット画像を記憶するオフセット画像記憶手段と、放射線検出手段から検出された複数の放射線検出信号を撮像における放射線の照射前の非照射時に取得する非照射信号取得手段と、その非照射信号取得手段で取得されたそれら放射線検出信号と、前記オフセット画像記憶手段で記憶され、かつ非照射信号取得手段での蓄積時間に対応したオフセット画像とに基づいて、ラグ画像を取得するラグ画像取得手段と、放射線検出手段から検出された放射線検出信号を撮像における放射線の照射時に取得する照射信号取得手段と、その照射信号取得手段で取得された放射線検出信号と、前記オフセット画像記憶手段で記憶され、かつ照射信号取得手段での蓄積時間に対応したオフセット画像とに基づいて、撮像の対象となる放射線画像を取得する放射線画像取得手段と、その放射線画像取得手段で取得された放射線画像から、前記ラグ画像取得手段で取得されたラグ画像を用いてラグ除去することで、放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を放射線検出信号から除去することによる時間遅れ分に関するラグ補正を行うラグ補正手段とを備えていることを特徴とするものである。
この発明の放射線撮像装置によれば、信号に重畳されたオフセット値を除去するオフセット補正を行うために用いられるオフセット画像について、信号の情報を蓄積する複数の蓄積時間に対応したオフセット画像をオフセット画像記憶手段に記憶する。非照射信号取得手段は、放射線検出手段から検出された複数の放射線検出信号を撮像における放射線の照射前の非照射時に取得し、その非照射信号取得手段で取得されたそれら放射線検出信号と、上述したオフセット画像記憶手段で記憶され、かつ非照射信号取得手段での蓄積時間に対応したオフセット画像とに基づいて、ラグ画像取得手段はラグ画像を取得する。一方、照射信号取得手段は、放射線検出手段から検出された放射線検出信号を撮像における放射線の照射時に取得し、その照射信号取得手段で取得された放射線検出信号と、上述したオフセット画像記憶手段で記憶され、かつ照射信号取得手段での蓄積時間に対応したオフセット画像とに基づいて、放射線画像取得手段は撮像の対象となる放射線画像を取得する。そして、その放射線画像取得手段で取得された放射線画像から、上述したラグ画像取得手段で取得されたラグ画像を用いてラグ除去することで、放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を放射線検出信号から除去することによる時間遅れ分に関するラグ補正をラグ補正手段が行う。このように、上述した特許文献２のように放射線検出信号を取得するサンプリングの回数分、再帰的演算処理を行ってラグ補正を行う必要がない。さらには、上述したラグ補正の元になるラグ画像やラグ補正の対象である放射線画像には、各々の蓄積時間に対応したオフセット画像が考慮されているので、ラグ補正によって蓄積時間に応じたオフセット補正をも適切に行うことが可能になる。したがって、オフセット成分を含めて、放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を放射線検出信号から簡易に除去することができる。また、上述した特許文献１のようなバックライトを用いる必要がなく、装置の構造が複雑化となることもない。
また、この発明の別の放射線撮像装置は、放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る放射線撮像装置であって、被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段と、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段と、出力側の各画素の信号レベルを揃えるゲイン補正を行うために用いられるゲイン補正用画像について、信号の情報を蓄積する複数の蓄積時間に対応したゲイン補正用画像を記憶するゲイン補正用画像記憶手段と、放射線検出手段から検出された複数の放射線検出信号を撮像における放射線の照射前の非照射時に取得する非照射信号取得手段と、その非照射信号取得手段で取得されたそれら放射線検出信号と、前記ゲイン補正用画像記憶手段で記憶され、かつ非照射信号取得手段での蓄積時間に対応したゲイン補正用画像とに基づいて、ラグ画像を取得するラグ画像取得手段と、放射線検出手段から検出された放射線検出信号を撮像における放射線の照射時に取得する照射信号取得手段と、その照射信号取得手段で取得された放射線検出信号と、前記ゲイン補正用画像記憶手段で記憶され、かつ照射信号取得手段での蓄積時間に対応したゲイン補正用画像とに基づいて、撮像の対象となる放射線画像を取得する放射線画像取得手段と、その放射線画像取得手段で取得された放射線画像から、前記ラグ画像取得手段で取得されたラグ画像を用いてラグ除去することで、放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を放射線検出信号から除去することによる時間遅れ分に関するラグ補正を行うラグ補正手段とを備えていることを特徴とするものである。
この発明の別の放射線撮像装置によれば、出力側の各画素の信号レベルを揃えるゲイン補正を行うために用いられるゲイン補正用画像について、信号の情報を蓄積する複数の蓄積時間に対応したゲイン補正用画像をゲイン補正用画像記憶手段に記憶する。非照射信号取得手段は、放射線検出手段から検出された複数の放射線検出信号を撮像における放射線の照射前の非照射時に取得し、その非照射信号取得手段で取得されたそれら放射線検出信号と、上述したゲイン補正用画像記憶手段で記憶され、かつ非照射信号取得手段での蓄積時間に対応したゲイン補正用画像とに基づいて、ラグ画像取得手段はラグ画像を取得する。一方、照射信号取得手段は、放射線検出手段から検出された放射線検出信号を撮像における放射線の照射時に取得し、その照射信号取得手段で取得された放射線検出信号と、上述したゲイン補正用画像記憶手段で記憶され、かつ照射信号取得手段での蓄積時間に対応したゲイン補正用画像とに基づいて、放射線画像取得手段は撮像の対象となる放射線画像を取得する。そして、その放射線画像取得手段で取得された放射線画像から、上述したラグ画像取得手段で取得されたラグ画像を用いてラグ除去することで、放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を放射線検出信号から除去することによる時間遅れ分に関するラグ補正をラグ補正手段が行う。このように、上述した特許文献２のように放射線検出信号を取得するサンプリングの回数分、再帰的演算処理を行ってラグ補正を行う必要がない。さらには、上述したラグ補正の元になるラグ画像やラグ補正の対象である放射線画像には、各々の蓄積時間に対応したゲイン補正用画像が考慮されているので、ラグ補正によって蓄積時間に応じたゲイン補正をも適切に行うことが可能になる。したがって、ゲイン成分を含めて、放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を放射線検出信号から簡易に除去することができる。また、上述した特許文献１のようなバックライトを用いる必要がなく、装置の構造が複雑化となることもない。
また、この発明の放射線検出信号処理方法は、被検体を照射して検出された放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る信号処理を行う放射線検出信号処理方法であって、前記信号処理は、信号に重畳されたオフセット値を除去するオフセット補正を行うために用いられるオフセット画像について、信号の情報を蓄積する複数の蓄積時間に対応したオフセット画像を撮像前に予め記憶するオフセット画像記憶工程と、複数の放射線検出信号を撮像における放射線の照射前の非照射時に取得する非照射信号取得工程と、その非照射信号取得工程で取得されたそれら放射線検出信号と、前記オフセット画像記憶工程で記憶され、かつ非照射信号取得工程での蓄積時間に対応したオフセット画像とに基づいて、ラグ画像を取得するラグ画像取得工程と、放射線検出信号を撮像における放射線の照射時に取得する照射信号取得工程と、その照射信号取得工程で取得された放射線検出信号と、前記オフセット画像記憶工程で記憶され、かつ照射信号取得工程での蓄積時間に対応したオフセット画像とに基づいて、撮像の対象となる放射線画像を取得する放射線画像取得工程と、その放射線画像取得工程で取得された放射線画像から、前記ラグ画像取得工程で取得されたラグ画像を用いてラグ除去することで、放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を放射線検出信号から除去することによる時間遅れ分に関するラグ補正を行うラグ補正工程とを備えていることを特徴とするものである。
この発明の放射線検出信号処理方法によれば、信号に重畳されたオフセット値を除去するオフセット補正を行うために用いられるオフセット画像について、信号の情報を蓄積する複数の蓄積時間に対応したオフセット画像をオフセット画像記憶工程では撮像前に予め記憶する。非照射信号取得工程では、複数の放射線検出信号を撮像における放射線の照射前の非照射時に取得し、その非照射信号取得工程で取得されたそれら放射線検出信号と、上述したオフセット画像記憶工程で記憶され、かつ非照射信号取得工程での蓄積時間に対応したオフセット画像とに基づいて、ラグ画像取得工程ではラグ画像を取得する。一方、一方、照射信号取得工程では、放射線検出信号を撮像における放射線の照射時に取得し、その照射信号取得工程で取得された放射線検出信号と、上述したオフセット画像記憶工程で記憶され、かつ照射信号取得工程での蓄積時間に対応したオフセット画像とに基づいて、撮像の対象となる放射線画像を取得する。そして、その放射線画像取得工程で取得された放射線画像から、上述したラグ画像取得工程で取得されたラグ画像を用いてラグ除去することで、放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を放射線検出信号から除去することによる時間遅れ分に関するラグ補正をラグ補正工程で行う。このように、上述した特許文献２のように放射線検出信号を取得するサンプリングの回数分、再帰的演算処理を行ってラグ補正を行う必要がない。さらには、上述したラグ補正の元になるラグ画像やラグ補正の対象である放射線画像には、各々の蓄積時間に対応したオフセット画像が考慮されているので、ラグ補正によって蓄積時間に応じたオフセット補正をも適切に行うことが可能になる。したがって、オフセット成分を含めて、放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を放射線検出信号から簡易に除去することができる。
また、この発明の別の放射線検出信号処理方法は、被検体を照射して検出された放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る信号処理を行う放射線検出信号処理方法であって、前記信号処理は、出力側の各画素の信号レベルを揃えるゲイン補正を行うために用いられるゲイン補正用画像について、信号の情報を蓄積する複数の蓄積時間に対応したゲイン補正用画像を撮像前に予め記憶するゲイン補正用画像記憶工程と、複数の放射線検出信号を撮像における放射線の照射前の非照射時に取得する非照射信号取得工程と、その非照射信号取得工程で取得されたそれら放射線検出信号と、前記ゲイン補正用画像記憶工程で記憶され、かつ非照射信号取得工程での蓄積時間に対応したゲイン補正用画像とに基づいて、ラグ画像を取得するラグ画像取得工程と、放射線検出信号を撮像における放射線の照射時に取得する照射信号取得工程と、その照射信号取得工程で取得された放射線検出信号と、前記ゲイン補正用画像記憶工程で記憶され、かつ照射信号取得工程での蓄積時間に対応したゲイン補正用画像とに基づいて、撮像の対象となる放射線画像を取得する放射線画像取得工程と、その放射線画像取得工程で取得された放射線画像から、前記ラグ画像取得工程で取得されたラグ画像を用いてラグ除去することで、放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を放射線検出信号から除去することによる時間遅れ分に関するラグ補正を行うラグ補正工程とを備えていることを特徴とするものである。
この発明の別の放射線検出信号処理方法によれば、出力側の各画素の信号レベルを揃えるゲイン補正を行うために用いられるゲイン補正用画像について、信号の情報を蓄積する複数の蓄積時間に対応したゲイン補正用画像をゲイン補正用画像記憶工程では撮像前に予め記憶する。非照射信号取得工程では、複数の放射線検出信号を撮像における放射線の照射前の非照射時に取得し、その非照射信号取得工程で取得されたそれら放射線検出信号と、上述したゲイン補正用画像記憶工程で記憶され、かつ非照射信号取得工程での蓄積時間に対応したゲイン補正用画像とに基づいて、ラグ画像取得工程ではラグ画像を取得する。一方、照射信号取得工程では、放射線検出信号を撮像における放射線の照射時に取得し、その照射信号取得工程で取得された放射線検出信号と、上述したゲイン補正用画像記憶工程で記憶され、かつ照射信号取得工程での蓄積時間に対応したゲイン補正用画像とに基づいて、撮像の対象となる放射線画像を取得する。そして、その放射線画像取得工程で取得された放射線画像から、上述したラグ画像取得工程で取得されたラグ画像を用いてラグ除去することで、放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を放射線検出信号から除去することによる時間遅れ分に関するラグ補正をラグ補正工程で行う。このように、上述した特許文献２のように放射線検出信号を取得するサンプリングの回数分、再帰的演算処理を行ってラグ補正を行う必要がない。さらには、上述したラグ補正の元になるラグ画像やラグ補正の対象である放射線画像には、各々の蓄積時間に対応したゲイン補正用画像が考慮されているので、ラグ補正によって蓄積時間に応じたゲイン補正をも適切に行うことが可能になる。したがって、ゲイン成分を含めて、放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を放射線検出信号から簡易に除去することができる。
この発明に係る放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法によれば、蓄積時間に対応したオフセット画像あるいはゲイン補正用画像を考慮した放射線画像から、同じく蓄積時間に対応したオフセット画像あるいはゲイン補正用画像を考慮したラグ画像を用いてラグ除去することで、放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を放射線検出信号から除去することによる時間遅れ分に関するラグ補正を行うので、オフセットあるいはゲイン成分を含めて、放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を放射線検出信号から簡易に除去することができる。
各実施例に係るＸ線透視撮影装置のブロック図である。 Ｘ線透視撮影装置に用いられている側面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路である。 平面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路である。 （ａ），（ｂ）は、オフセット補正について模式的に表した説明図である。 （ａ），（ｂ）は、ゲイン補正について模式的に表した説明図である。 実施例１に係る非照射信号取得部やラグ画像取得部や照射信号取得部やＸ線画像取得部やラグ補正部による一連の信号処理を示すフローチャートである。 各Ｘ線の照射およびＸ線検出信号の取得に関するタイミングチャートである。 蓄積時間に対応したオフセット画像およびゲイン補正用画像の記憶を模式的に表した概略図である。 実施例１，２に係る画像処理部およびメモリ部に関するデータの流れを示した概略図である。 実施例２に係る非照射信号取得部やラグ画像取得部や照射信号取得部やＸ線画像取得部やラグ補正部による一連の信号処理を示すフローチャートである。 実施例３に係る画像処理部およびメモリ部に関するデータの流れを示した概略図である。 実施例３に係る非照射信号取得部やラグ画像取得部や照射信号取得部やＸ線画像取得部やラグ補正部による一連の信号処理を示すフローチャートである。 実施例３で加重比率をそれぞれ変えたときの再帰的演算の回数に対するランダムノイズの変化を示した概略図である。
符号の説明
２ … Ｘ線管
３ … フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）
９ａ … 非照射信号取得部
９ｂ … ラグ画像取得部
９ｃ … 照射信号取得部
９ｄ … Ｘ線画像取得部
９ｅ … ラグ補正部
１１ａ … オフセット画像用メモリ部
１１ｂ … ゲイン補正用画像用メモリ部
Ｘ，Ｘ´，Ｙ … Ｘ線画像
Ｌ，Ｌ´ … ラグ画像
Ｍ … 被検体
放射線検出信号処理方法において、複数の蓄積時間に対応したオフセット画像およびゲイン補正用画像を撮像前に予め記憶し、これらの記憶された画像に基づいてラグ画像を取得するとともに、放射線画像を取得する。そして、放射線画像からラグ画像を用いてラグ除去してラグ補正を行う。このように、蓄積時間に対応したオフセット画像およびゲイン補正用画像を考慮した放射線画像から、同じく蓄積時間に対応したオフセット画像およびゲイン補正用画像を考慮したラグ画像を用いてラグ除去することで、オフセットおよびゲイン成分を含めて、放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を放射線検出信号から簡易に除去するという目的を実現した。
以下、図面を参照してこの発明の実施例1を説明する。図１は、実施例１に係るＸ線透視撮影装置のブロック図であり、図２は、Ｘ線透視撮影装置に用いられている側面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路であり、図３は、平面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路である。後述する実施例２，３も含めて、本実施例１では放射線検出手段としてフラットパネル型Ｘ線検出器（以下、適宜「ＦＰＤ」という）を例に採るとともに、放射線撮像装置としてＸ線透視撮影装置を例に採って説明する。
本実施例１に係るＸ線透視撮影装置は、図１に示すように、被検体Ｍを載置する天板１と、その被検体Ｍに向けてＸ線を照射するＸ線管２と、被検体Ｍを透過したＸ線を検出するＦＰＤ３とを備えている。Ｘ線管２は、この発明における放射線照射手段に相当し、ＦＰＤ３はこの発明における放射線検出手段に相当する。
Ｘ線透視撮影装置は、他に、天板１の昇降および水平移動を制御する天板制御部４や、ＦＰＤ３の走査を制御するＦＰＤ制御部５や、Ｘ線管２の管電圧や管電流を発生させる高電圧発生部６を有するＸ線管制御部７や、ＦＰＤ３から電荷信号であるＸ線検出信号をディジタル化して取り出すＡ／Ｄ変換器８や、Ａ／Ｄ変換器８から出力されたＸ線検出信号に基づいて種々の処理を行う画像処理部９や、これらの各構成部を統括するコントローラ１０や、処理された画像などを記憶するメモリ部１１や、オペレータが入力設定を行う入力部１２や、処理された画像などを表示するモニタ１３などを備えている。
天板制御部４は、天板１を水平移動させて被検体Ｍを撮像位置にまで収容したり、昇降、回転および水平移動させて被検体Ｍを所望の位置に設定したり、水平移動させながら撮像を行ったり、撮像終了後に水平移動させて撮像位置から退避させる制御などを行う。ＦＰＤ制御部５は、ＦＰＤ３を水平移動させたり、被検体Ｍの体軸の軸心周りに回転移動させることによる走査に関する制御などを行う。高電圧発生部６は、Ｘ線を照射させるための管電圧や管電流を発生してＸ線管２に与え、Ｘ線管制御部７は、Ｘ線管２を水平移動させたり、被検体Ｍの体軸の軸心周りに回転移動させることによる走査に関する制御や、Ｘ線管２側のコリメータ（図示省略）の照視野の設定の制御などを行う。なお、Ｘ線管２やＦＰＤ３の走査の際には、Ｘ線管２から照射されたＸ線をＦＰＤ３が検出できるようにＸ線管２およびＦＰＤ３が互いに対向しながらそれぞれの移動を行う。
コントローラ１０は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）などで構成されており、メモリ部１１は、ＲＯＭ（Read-only Memory）やＲＡＭ（Random-Access Memory）などに代表される記憶媒体などで構成されている。また、入力部１２は、マウスやキーボードやジョイスティックやトラックボールやタッチパネルなどに代表されるポインティングデバイスで構成されている。Ｘ線透視撮影装置では、被検体Ｍを透過したＸ線をＦＰＤ３が検出して、検出されたＸ線に基づいて画像処理部９で画像処理を行うことで被検体Ｍの撮像を行う。
なお、画像処理部９は、複数のＸ線検出信号を撮像におけるＸ線の照射前の非照射時に取得する非照射信号取得部９ａと、その非照射信号取得部９ａで取得されたそれらＸ線検出信号と、後述するオフセット画像およびゲイン補正用画像とに基づいて、ラグ画像を取得するラグ画像取得部９ｂと、Ｘ線検出信号を撮像におけるＸ線の照射時に取得する照射信号取得部９ｃと、その照射信号取得部９ｃで取得されたＸ線検出信号と、同じく後述するオフセット画像およびゲイン補正用画像とに基づいて、撮像の対象となるＸ線画像を取得するＸ線画像取得部９ｄと、そのＸ線画像取得部９ｄで取得されたＸ線画像から、上述したラグ画像取得部９ｂで取得されたラグ画像を用いてラグ除去するラグ補正部９ｅとを備えている。Ｘ線画像からラグ画像を用いてラグ除去することで、Ｘ線検出信号に含まれる時間遅れ分をＸ線検出信号から除去することによる時間遅れ分に関するラグ補正をラグ補正部９ｅが行う。非照射信号取得部９ａは、この発明における非照射信号取得手段に相当し、ラグ画像取得部９ｂは、この発明におけるラグ画像取得手段に相当し、照射信号取得部９ｃは、この発明における照射信号取得手段に相当し、Ｘ線画像取得部９ｄは、この発明における放射線画像取得手段に相当し、ラグ補正部９ｅは、この発明におけるラグ補正手段に相当する。
なお、メモリ部１１は、信号の情報を蓄積する複数の蓄積時間に対応したオフセット画像を記憶するオフセット画像用メモリ部１１ａと、同じく複数の蓄積時間に対応したゲイン補正用画像を記憶するゲイン補正用画像用メモリ部１１ｂと、非照射信号取得部９ａで取得された非照射時の各Ｘ線検出信号を書き込んで記憶する非照射信号用メモリ部１１ｃと、ラグ画像取得部９ｂで取得されたラグ画像を書き込んで記憶するラグ画像用メモリ部１１ｄと、照射信号取得部９ｃで取得された照射時のＸ線検出信号を書き込んで記憶する照射信号用メモリ部１１ｅと、Ｘ線画像取得部９ｄで取得されたＸ線画像を書き込んで記憶するＸ線画像用メモリ部１１ｆとを備えている。後述する実施例２も含めて本実施例１では、非照射信号用メモリ部１１ｃから読み出された非照射時の各Ｘ線検出信号に基づいてラグ画像取得部９ｂはラグ画像を取得する（図９を参照）。なお、後述する実施例３ではラグ画像の取得については後述する再帰的な加重平均（リカーシブ処理）によって行われる（図１１を参照）。オフセット画像用メモリ部１１ａは、この発明におけるオフセット画像記憶手段に相当し、ゲイン補正用画像用メモリ部１１ｂは、この発明におけるゲイン補正用画像記憶手段に相当する。
ＦＰＤ３は、図２に示すように、ガラス基板３１と、ガラス基板３１上に形成された薄膜トランジスタＴＦＴとから構成されている。薄膜トランジスタＴＦＴについては、図２、図３に示すように、縦・横式２次元マトリクス状配列でスイッチング素子３２が多数個（例えば、1024個×1024個）形成されており、キャリア収集電極３３ごとにスイッチング素子３２が互いに分離形成されている。すなわち、ＦＰＤ３は、２次元アレイ放射線検出器でもある。
図２に示すようにキャリア収集電極３３の上にはＸ線感応型半導体３４が積層形成されており、図２、図３に示すようにキャリア収集電極３３は、スイッチング素子３２のソースＳに接続されている。ゲートドライバ３５からは複数本のゲートバスライン３６が接続されているとともに、各ゲートバスライン３６はスイッチング素子３２のゲートＧに接続されている。一方、図３に示すように、電荷信号を収集して１つに出力するマルチプレクサ３７には増幅器３８を介して複数本のデータバスライン３９が接続されているとともに、図２、図３に示すように各データバスライン３９はスイッチング素子３２のドレインＤに接続されている。
図示を省略する共通電極にバイアス電圧を印加した状態で、ゲートバスライン３６の電圧を印加（または０Ｖに）することでスイッチング素子３２のゲートがＯＮされて、キャリア収集電極３３は、検出面側で入射したＸ線からＸ線感応型半導体３４を介して変換された電荷信号（キャリア）を、スイッチング素子３２のソースＳとドレインＤとを介してデータバスライン３９に読み出す。なお、スイッチング素子がＯＮされるまでは、電荷信号はキャパシタ（図示省略）で暫定的に蓄積されて記憶される。各データバスライン３９に読み出された電荷信号を増幅器３８で増幅して、マルチプレクサ３７で１つの電荷信号にまとめて出力する。出力された電荷信号をＡ／Ｄ変換器８でディジタル化してＸ線検出信号として出力する。
次に、オフセット補正およびゲイン補正について、図４および図５の説明図を参照して説明する。なお、図４および図５では、縦横とも２行２列の４つの画素を例に採って説明する。上述したオフセット画像は、信号に重畳されたオフセット値を除去するオフセット補正を行うために用いられるとともに、上述したゲイン補正用画像は、出力側の各画素の信号レベルを揃えるゲイン補正を行うために用いられる。
Ｘ線検出信号に基づく画素の信号レベル（すなわち画素値）には、画像処理部９を経て出力されるときに、オフセット成分（すなわちオフセット値）が重畳される。具体的には、図４（ａ）に示すように、暗電流によるオフセット値Ｏ（＝｛Ｏ11，Ｏ12，Ｏ21，Ｏ22｝）が非照射時に出力され、図４（ｂ）に示すように、画素値Ｓ（＝｛Ｓ11，Ｓ12，Ｓ21，Ｓ22｝）に非照射時のオフセット値Ｏが重畳されて（Ｓ＋Ｏ）（＝｛Ｓ11＋Ｏ11，Ｓ12＋Ｏ12，Ｓ21＋Ｏ21，Ｓ22＋Ｏ22｝）の値が出力される。そこで、非照射時のオフセット値Ｏ、すなわちオフセット画像Ｏを撮像前に予め求め、オフセット画像用メモリ部１１ａに書き込んで記憶する。
一方、Ｘ線検出信号に基づく画素の信号レベル（すなわち画素値）は、ＦＰＤ３の増幅器３８（図３を参照）の増幅率（ゲイン）の値に応じて出力されるが、各々の画素に対応する各スイッチング素子３２などの個体差によって、出力される画素値Ｓが各々の画素ごとにバラツキが生じる。具体的には、図５（ａ）に示すように、各画素ごとに入射されたＸ線の線量が同じだとしたときに、出力される画素値Ｓが｛Ｓ11，Ｓ12，Ｓ21，Ｓ22｝とバラツキが生じたとする。そして、各ゲインを調節することで、図５（ｂ）に示すように、出力される画素値Ｓが｛ＳO，ＳO，ＳO，ＳO｝と揃ったとする。そこで、ゲイン補正用画像をＧとして、そのゲイン補正用画像を｛Ｓ11／ＳO，Ｓ12／ＳO，Ｓ21／ＳO，Ｓ22／ＳO｝として撮像前に予め求め、ゲイン補正用画像用メモリ部１１ｂに書き込んで記憶する。
次に、本実施例１に係る非照射信号取得部９ａやラグ画像取得部９ｂや照射信号取得部９ｃやＸ線画像取得部９ｄやラグ補正部９ｅによる一連の信号処理について、図６のフローチャートおよび図７のタイミングチャートを参照して説明する。なお、この処理では、前回の撮像におけるＸ線の照射の終了から、今回の撮像におけるＸ線の照射までと、撮像前にオフセット画像およびゲイン補正用画像を準備するときとを例に採って説明する。
（ステップＳ１）オフセット画像およびゲイン補正用画像の記憶
上述したオフセット画像およびゲイン補正用画像は、Ｘ線検出信号に相当する信号情報（電荷）を蓄積する蓄積時間に応じて異なる性質を持つ。そこで、これらの画像を、図８に示すように、各蓄積時間に対応させて撮像前に予め記憶する。
後述する実施例２，３を含めて、本実施例１では非照射時での蓄積時間を、非照射時に信号をサンプリングするサンプリング時間（例えば１／３０秒）として、周期ΔＴ１で表す。一方、『発明が解決しようとする課題』の段落でも述べたように、実際には、撮像直後の蓄積時間は、被検体Ｍの厚さなどに応じて時間的に伸縮するＸ線のパルス幅に依存している。後述する実施例２，３を含めて、本実施例１では、撮像におけるＸ線の照射時間（Ｘ線のパルス幅）は、周期ΔＴ１に同期して、周期ΔＴ１の複数倍となるとする。ここでは、撮像できうる照射時間（Ｘ線のパルス幅）が、ΔＴ１，ΔＴ２＝ΔＴ１×２，ΔＴ３＝ΔＴ１×３の３通りとする。
これらの蓄積時間（サンプリング時間、照射時間）に対応させて、各々の蓄積時間ごとにオフセット画像およびゲイン補正用画像をそれぞれ求め、オフセット画像については、オフセット画像用メモリ部１１ａに記憶するとともに、ゲイン補正用画像については、ゲイン補正用画像用メモリ部１１ｂに記憶する。
図８では、ΔＴ１をΔＴ１のときのオフセット画像Ｏ１およびゲイン補正用画像Ｇ１に対応させて、ΔＴ２をΔＴ２のときのオフセット画像Ｏ２およびゲイン補正用画像Ｇ２に対応させて、ΔＴ３をΔＴ３のときのオフセット画像Ｏ３およびゲイン補正用画像Ｇ３に対応させる。このステップＳ１は、オフセット画像記憶工程およびゲイン補正用画像記憶工程に相当する。
（ステップＳ２）待ち時間が経過したか？
前回の撮像におけるＸ線の照射の終了から、図７に示すように所定の待ち時間ＴWが経過したか否かを判断する。照射の終了直後には時間遅れ分のうちの短時定数成分あるいは中時定数成分が多く含まれる。これら短／中時定数成分は短時間で減衰し、減衰後は長時定数成分が支配的になり、ほぼ同じ強さで残留し続ける。そこで、前回の撮像におけるＸ線の照射から所定時間経過後の非照射時にＸ線検出信号を取得するように待ち時間ＴWを設け、その待ち時間ＴWが経過してから、次のステップＳ３に進むようにする。なお、待ち時間ＴWが経過したか否かの判断を、タイマ（図示省略）によって行えばよい。すなわち、前回の撮像におけるＸ線の照射の終了と同時にタイマをリセットして『０』にして、タイマのカウントを開始して、待ち時間ＴWに相当するカウントに達したら、待ち時間ＴWが経過したと判断すればよい。
また、ＦＰＤ３個別のラグ特性にもよるが、待ち時間ＴWについては１５秒程度が好ましく、３０秒程あれば十分である。また、待ち時間ＴWは長いほど、例えば３０秒以上が望ましいが、時間を長くとりすぎると撮影間の時間が延長してしまう。そこで、実際には待ち時間ＴWは３秒程度が現実的である。
（ステップＳ３）非照射時のＸ線検出信号の取得
非照射信号取得部９ａは、待ち時間ＴW経過後の非照射時に各Ｘ線検出信号をサンプリング時間ΔＴ１間隔毎に逐次に取得する。今回の撮像におけるＸ線の照射の開始までのサンプリング回数を（Ｎ＋１）（ただし、Ｋ＝０，１，２，…，Ｎ−１，Ｎとする）とし、待ち時間ＴW経過直後に最初に取得する添え字をＫ＝０とする。そして、（Ｋ＋１）番目に取得するＸ線検出信号をＩKとすると、待ち時間ＴW経過直後に最初に取得されるＸ線検出信号はＩ0となり、今回の撮像におけるＸ線の照射の開始直前に取得されるＸ線検出信号はＩNとなる。なお、サンプリング時間ΔＴ１毎にステップＳ３〜Ｓ６を続けて行うとする。
（ステップＳ４）今回の撮像に達したか？
ステップＳ３でのＸ線検出信号の取得の時点、すなわちサンプリング時点が、今回の撮像におけるＸ線の照射の開始に達したか（ここではＫ＝Ｎ＋１になったか）否かを判断する。もし、達した場合には、ステップＳ７に跳ぶ。もし、達していない場合には、次のステップＳ５に進む。
（ステップＳ５）Ｋの値を１ずつ繰り上げる
添え字Ｋの値を１ずつ繰り上げて、次のサンプリングのために準備する。
（ステップＳ６）前のＸ線検出信号の棄却
ステップＳ３で非照射信号取得部９ａによって取得されたＸ線検出信号ＩKを非照射信号用メモリ部１１ｃに書き込んで記憶する。このとき、Ｘ線検出信号ＩKよりも前の時点で取得されたＸ線検出信号ＩK-1は不要となるので棄却する。したがって、最新のＸ線検出信号のみが非照射信号用メモリ部１１ｃに記憶されることになる。なお、ステップＳ５でＫ＝０からＫ＝１に繰り上げてステップＳ６に進んだ場合には、Ｘ線検出信号Ｉ0よりも前の時点ではＸ線検出信号は存在しないので棄却する必要がない。そして、次のサンプリングのためにステップＳ３に戻って、サンプリング時間ΔＴ１間隔毎にステップＳ３〜Ｓ６を繰り返して行う。本実施例１では前のＸ線検出信号を棄却して最新のＸ線検出信号のみを残したが、もちろん、必ずしも棄却する必要はない。上述したステップ３〜Ｓ６は、この発明における非照射信号取得工程に相当する。
（ステップＳ７）ラグ画像の取得
ステップＳ４でサンプリング時点が今回の撮像におけるＸ線の照射の開始に達したら、ステップＳ３で取得された（Ｎ＋１）番目のＸ線検出信号ＩNをラグ画像として採用する。すなわち、ラグ画像取得部９ｂは、今回の撮像におけるＸ線の照射の開始直前に取得されたＸ線検出信号ＩNを非照射信号用メモリ部１１ｃから読み出して、そのＸ線検出信号ＩNをラグ画像として取得する。ラグ画像をＬとするとＬ＝ＩNとなる。ただし、このラグ画像Ｌに対してオフセット画像およびゲイン補正用画像を考慮して、下記（１）式のようにオフセット画像およびゲイン補正用画像を考慮したラグ画像Ｌ´を求める。
Ｌ´＝（Ｌ−Ｏ１）÷Ｇ１ …（１）
このときの蓄積時間は、非照射時のサンプリング時間ΔＴ１であるので、サンプリング時間ΔＴ１に対応したオフセット画像Ｏ１をオフセット画像用メモリ部１１ａから読み出すとともに、サンプリング時間ΔＴ１に対応したゲイン補正用画像Ｇ１をゲイン補正用画像用メモリ部１１ｂから読み出す。そして、上記（１）式から最終的なラグ画像Ｌをラグ画像取得部９ｂは取得する。ラグ画像取得部９ｂによって取得されたラグ画像Ｌ´をラグ画像用メモリ部１１ｄに書き込んで記憶する。このステップＳ７は、この発明におけるラグ画像取得工程に相当する。
なお、上述した（１）式で用いられるゲイン補正用画像Ｇ１や、後述する（２）式で用いられるゲイン補正用画像Ｇ２を含めて、各ゲイン補正用画像Ｇ１〜Ｇ３自身もオフセット成分を含んでいる。したがって、Ｇ−Ｏ＝Ｇ´とゲイン補正用画像Ｇからオフセット画像Ｏを減算したゲイン補正用画像Ｇ´を求めて、ゲイン補正用画像Ｇの替わりにゲイン補正用画像Ｇ´を（１）式や（２）式などの各式に代入するのがより好ましい。
（ステップＳ８）照射時のＸ線検出信号の取得
今回の撮像におけるＸ線の照射を終了すると、その照射によって得られた照射時のＸ線検出信号を照射信号取得部９ｃは取得する。照射信号取得部９ｃで取得された照射時のＸ線検出信号を照射信号用メモリ部１１ｅに書き込んで記憶する。このステップＳ８は、この発明における照射信号取得工程に相当する。
（ステップＳ９）今回の撮像でのＸ線画像の取得
ステップＳ８で取得された照射時のＸ線検出信号をＸとすると、この照射時のＸ線検出信号Ｘに対してオフセット画像およびゲイン補正用画像を考慮して、下記（２）式のようにオフセット画像およびゲイン補正用画像を考慮したＸ線画像Ｘ´を求める。
Ｘ´＝（Ｘ−Ｏ２）÷Ｇ２ …（２）
このときの蓄積時間を、図７に示すように非照射時のサンプリング時間（すなわち周期）ΔＴ１の２倍であるΔＴ２（＝ΔＴ１×２）とする（図７中の２点鎖線を参照）と、サンプリング時間ΔＴ２に対応したオフセット画像Ｏ２をオフセット画像用メモリ部１１ａから読み出すとともに、サンプリング時間ΔＴ２に対応したゲイン補正用画像Ｇ２をゲイン補正用画像用メモリ部１１ｂから読み出す。そして、上記（２）式から今回の撮像でのＸ線画像Ｘ´をＸ線画像取得部９ｄは取得する。Ｘ線画像取得部９ｄによって取得されたＸ線画像Ｘ´をＸ線画像用メモリ部１１ｆに書き込んで記憶する。このステップＳ９は、この発明における放射線画像取得工程に相当する。また、Ｘ線画像は、この発明における撮像の対象となる放射線画像に相当する。
（ステップＳ１０）ラグ補正
ラグ補正部９ｅは、ステップＳ７で取得されたラグ画像Ｌ´をラグ画像用メモリ部１１ｄから読み出すとともに、ステップＳ９で取得されたＸ線画像Ｘ´をＸ線画像用メモリ部１１ｆから読み出して、Ｘ線画像Ｘ´からラグ画像Ｌ´を減算する。ラグ補正後のＸ線画像をＹとすると、Ｙ＝Ｘ´−Ｌ´となる。
なお、実際には、今回の撮像におけるＸ線の照射のタイミングは必ずしも予め決定されているわけでない。したがって、Ｋ＝Ｎ＋１に達するタイミングも必ずしも事前にわかっているわけでない。そこで、実際には、上述したステップＳ３〜Ｓ６をサンプリング時間間隔毎に繰り返し行って、ステップＳ４でサンプリング時点が今回の撮像におけるＸ線の照射の開始に達したときが、Ｋ＝Ｎ＋１に達したタイミングとなる。もちろん、今回の撮像におけるＸ線の照射のタイミングが予め決定されている場合には、Ｋ＝Ｎ＋１に達するタイミングも事前にわかっているので、Ｎの値を予め決定してＫ＝Ｎ＋１に達したタイミングに合わせて、サンプリング時点が今回の撮像におけるＸ線の照射の開始に達するように設定してもよい。このステップＳ１０は、この発明におけるラグ補正工程に相当する。
また、Ｘ線画像Ｘ´からラグ画像Ｌ´を用いてラグ除去する手法は、このようなＸ線画像Ｘ´からラグ画像Ｌ´を直接的に減算する手法に限定されない。例えば、本実施例１において、ラグ画像の蓄積時間は非照射時のサンプリング時間ΔＴ１であって、Ｘ線画像の蓄積時間はサンプリング時間ΔＴ１の２倍であるΔＴ２（＝ΔＴ１×２）であって、両画像間では蓄積時間に関してモードが異なる。このような場合には、ラグ画像を２倍にして減算（ただし増幅器３８のゲイン[増幅率]はそのまま）するのがより好ましい。その場合には、Ｙ＝Ｘ´−２×Ｌ´となる。
以上のように構成された本実施例１によれば、信号に重畳されたオフセット値を除去するオフセット補正を行うために用いられるオフセット画像について、信号の情報を蓄積する複数の蓄積時間に対応したオフセット画像をオフセット画像用メモリ部１１ａに記憶するとともに、出力側の各画素の信号レベルを揃えるゲイン補正を行うために用いられるゲイン補正用画像について、信号の情報を蓄積する複数の蓄積時間に対応したゲイン補正用画像をゲイン補正用画像用メモリ部１１ｂに記憶する。
非照射信号取得部９ａは、フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）３から検出された複数のＸ線検出信号（本実施例１ではＩ0，Ｉ1，Ｉ2，…，ＩN-1，ＩN）を撮像におけるＸ線の照射前の非照射時に取得し、その非照射信号取得部９ａで取得されたそれらＸ線検出信号と、上述したオフセット画像用メモリ部１１ａで記憶され、かつ非照射信号取得部９ａでの蓄積時間（本実施例１ではΔＴ１）に対応したオフセット画像（本実施例１では上記（１）式中のＯ１）、さらには、上述したゲイン補正用画像用メモリ部１１ｂで記憶され、かつ非照射信号取得部９ａでの蓄積時間に対応したゲイン補正用画像（本実施例１では上記（１）式中のＧ１）とに基づいて、上記（１）式を用いてラグ画像取得部９ｂはラグ画像を取得する。
一方、照射信号取得部９ｃは、ＦＰＤ３から検出されたＸ線検出信号を撮像におけるＸ線の照射時に取得し、その照射信号取得部９ｃで取得されたＸ線検出信号と、上述したオフセット画像用メモリ部１１ａで記憶され、かつ照射信号取得部９ｃでの蓄積時間に対応したオフセット画像（本実施例１では上記（２）式中のＯ２）、さらには、上述したゲイン補正用画像用メモリ部１１ｂで記憶され、かつ照射信号取得部９ｃでの蓄積時間（本実施例ではΔＴ２）に対応したゲイン補正用画像（本実施例１では上記（２）式中のＯ２）とに基づいて、上記（２）式を用いてＸ線画像取得部９ｄは撮像の対象となるＸ線画像を取得する。
そして、そのＸ線画像取得部９ｄで取得されたＸ線画像から、上述したラグ画像取得部９ｂで取得されたラグ画像を用いてラグ除去することで、Ｘ線検出信号に含まれる時間遅れ分をＸ線検出信号から除去することによる時間遅れ分に関するラグ補正をラグ補正部９ｅが行う。
このように、上述した特許文献２のようにＸ線検出信号を取得するサンプリングの回数分、再帰的演算処理を行ってラグ補正を行う必要がない。さらには、上述したラグ補正の元になるラグ画像やラグ補正の対象であるＸ線画像には、各々の蓄積時間（本実施例１ではΔＴ１やΔＴ２）に対応したオフセット画像およびラグ補正用画像が考慮されているので、ラグ補正によって蓄積時間に応じたオフセット補正およびラグ補正用画像をも適切に行うことが可能になる。したがって、オフセットおよびゲイン成分を含めて、Ｘ線検出信号に含まれる時間遅れ分をＸ線検出信号から簡易に除去することができる。また、上述した特許文献１のようなバックライトを用いる必要がなく、装置の構造が複雑化となることもない。
後述する実施例２，３も含めて、本実施例１では、前回の撮像におけるＸ線の照射から所定時間（本実施例１では待ち時間ＴW）経過後の非照射時に複数のＸ線検出信号を取得することで、今回の撮像におけるＸ線の照射前の非照射時での複数のＸ線検出信号を取得している。前回の撮像におけるＸ線の照射が終了して非照射状態に移行すれば、時間遅れ分のうちの短時定数成分あるいは中時定数成分は短時間で減衰し、減衰後は長時定数成分が支配的になり、ほぼ同じ強さで残留し続ける。したがって、前回の撮像におけるＸ線の照射が終了した直後に、Ｘ線検出信号を取得すると短／中時定数成分が含まれた状態で信号が取得されて、短／中時定数成分の時間遅れ分まで正しく除去することができない。そこで、本実施例１のように、前回の撮像におけるＸ線の照射から所定時間経過後の非照射時に複数のＸ線検出信号を取得することで、今回の撮像におけるＸ線の照射前の非照射時での複数のＸ線検出信号を取得することになり、所定時間経過後に残留している長時定数成分のみが含まれた状態で信号が取得されるので、短／中時定数成分の時間遅れ分がなく、かつ長時定数成分の時間遅れ分をも正確に除去することができる。
次に、図面を参照してこの発明の実施例２を説明する。上述した実施例１と共通する箇所については同じ符号を付してその説明を省略する。また、実施例２に係るＸ線透視撮影装置は、実施例１に係るＸ線透視撮影装置と同様の構成で、非照射信号取得部９ａやラグ画像取得部９ｂや照射信号取得部９ｃやＸ線画像取得部９ｄやラグ補正部９ｅによる一連の信号処理のみが、実施例１と異なる。
そこで、本実施例２に係る非照射信号取得部９ａやラグ画像取得部９ｂや照射信号取得部９ｃやＸ線画像取得部９ｄやラグ補正部９ｅによる一連の信号処理について、図１０のフローチャートを参照して説明する。なお、上述した実施例１と共通するステップについては、同じ番号を付してその説明を省略する。
（ステップＳ１）オフセット画像およびゲイン補正用画像の記憶
上述した実施例１と同じように、蓄積時間（サンプリング時間、照射時間）に対応させて、各々の蓄積時間ごとにオフセット画像およびゲイン補正用画像をそれぞれ求めて、各画像をオフセット画像用メモリ部１１ａまたはゲイン補正用画像用メモリ部１１ｂに記憶する。
（ステップＳ２）待ち時間が経過したか？
上述した実施例１と同じように、前回の撮像におけるＸ線の照射の終了から待ち時間ＴWが経過したか否かを判断する。待ち時間ＴWが経過してから、次のステップＳ１２に進む。
（ステップＳ１２）非照射時のＸ線検出信号の取得
上述した実施例１と同じように、待ち時間ＴW経過後の非照射時に各Ｘ線検出信号をサンプリング時間ΔＴ１間隔（例えば１／３０秒）毎に逐次に取得する。ただし、本実施例２では、後述する説明から明らかなように、８番目のＸ線検出信号Ｉ7（すなわちＫ＝７）を取得するまでは、待ち時間ＴW経過直後に最初に取得されたＸ線検出信号Ｉ0から７番目に取得されたＸ線検出信号Ｉ6までは棄却されずに、非照射信号用メモリ部１１ｃに記憶された状態である。なお、サンプリング時間間隔毎にステップＳ１２〜Ｓ１４を続けて行うとする。
（ステップＳ１３）Ｋ＝７？
添え字Ｋが７になったか、すなわちサンプリング時点が８番目に達したか（ここではＫ＝７になったか）否かを判断する。もし、達した場合には、ステップＳ３に跳ぶ。もし、達していない場合には、次のステップＳ１４に進む。
（ステップＳ１４）Ｋの値を１ずつ繰り上げる
上述した実施例１と同じように、添え字Ｋの値を１ずつ繰り上げて、次のサンプリングのために準備する。そして、８番目のＸ線検出信号Ｉ7（すなわちＫ＝７）を取得するまでは、ステップＳ１２で非照射信号取得部９ａによって取得された各Ｘ線検出信号ＩKを順に非照射信号用メモリ部１１ｃに書き込んで記憶する。このとき、Ｘ線検出信号ＩKよりも前の時点で取得されたＸ線検出信号ＩK-1については棄却せずに、非照射信号用メモリ部１１ｃに記憶した状態として、Ｘ線検出信号が８個分になるまで蓄積する。そして、次のサンプリングのためにステップＳ１２に戻って、サンプリング時間間隔毎にステップＳ１２〜Ｓ１４を繰り返して行う。
（ステップＳ３）〜（ステップＳ１０）
ステップＳ１３でサンプリング時点が今回の撮像におけるＸ線の照射の開始に達したら、上述した実施例１と同様のステップＳ３〜Ｓ１０を行う。ただし、非照射信号用メモリ部１１ｃには８個分のＸ線検出信号が常に記憶されるようにしており、ステップＳ６で新たに最新のＸ線検出信号が非照射信号用メモリ部１１ｃに記憶されると、最古のＸ線検出信号のみが棄却されるようになっている。そして、ステップＳ４でサンプリング時点が今回の撮像におけるＸ線の照射の開始に達したら、ステップＳ３で取得された（Ｎ−６）番目のＸ線検出信号ＩN-7から（Ｎ＋１）番目のＸ線検出信号ＩNまでの８個分の信号に基づいてラグ画像Ｌを求め、さらに上記（１）式を用いてオフセット画像およびゲイン補正用画像を考慮したラグ画像Ｌ´を求める。具体的には、これらの信号の平均をラグ画像として求める（Ｌ＝ΣＩi／８、ただしΣはｉ＝Ｎ−７〜Ｎの総和）。ラグ画像Ｌの取得以降からラグ補正については実施例１と同様なので、その説明を省略する。
以上のように構成された本実施例２によれば、上述した実施例１と同様に、複数の蓄積時間（ΔＴ１，ΔＴ２，ΔＴ３）に対応したオフセット画像およびゲイン補正用画像を撮像前に予め記憶し、これらの記憶された画像に基づいてラグ画像を取得するとともに、Ｘ線画像を取得する。そして、Ｘ線画像からラグ画像を用いてラグ除去してラグ補正を行う。このように、蓄積時間に対応したオフセット画像およびゲイン補正用画像を考慮したＸ線画像から、同じく蓄積時間に対応したオフセット画像およびゲイン補正用画像を考慮したラグ画像を用いてラグ除去することで、オフセットおよびゲイン成分を含めて、Ｘ線検出信号に含まれる時間遅れ分をＸ線検出信号から簡易に除去することができる。
なお、実施例１では、ラグ補正後のＸ線画像Ｙのランダムノイズ成分がＸの２1/2倍となるので、ＳＮ比が４１％（＝（２1/2−１））劣化する。この劣化を抑えるために、本実施例２の場合には、実施例１と相違して、複数のＸ線検出信号（本実施例２ではＩN-7、ＩN-6、…ＩN-1、ＩN）を直接的に用いてラグ画像Ｌを求めている。この場合には、ラグ補正後のＸ線画像Ｙのランダムノイズ成分は補正前のＸ線画像Ｘの６％の劣化に留まるので、ＳＮ比を劣化させることなくラグ補正を実現することができる。
本実施例２では８個分のＸ線検出信号を直接的に用いてラグ画像Ｌを求めたが、用いるＸ線検出信号の個数については限定されない。また、信号の平均でラグ画像Ｌを求めたが、例えば中央値でラグ画像Ｌを求める、あるいは信号の強度に関するヒストグラムを取って、そのヒストグラムから最頻値をラグ画像Ｌとして求めるなど、ラグ画像Ｌの具体的な求め方については特に限定されない。
次に、図面を参照してこの発明の実施例３を説明する。図１１は、実施例３に係る画像処理部およびメモリ部に関するデータの流れを示した概略図である。上述した実施例１，２と共通する箇所については同じ符号を付してその説明を省略する。また、実施例３に係るＸ線透視撮影装置は、図１１の画像処理部９およびメモリ部１１に関するデータの流れを除けば、実施例１，２に係るＸ線透視撮影装置と同様の構成である。また、非照射信号取得部９ａやラグ画像取得部９ｂや照射信号取得部９ｃやＸ線画像取得部９ｄやラグ補正部９ｅによる一連の信号処理についても、実施例１，２と異なる。
本実施例３では、図１１に示すように、非照射信号用メモリ部１１ｃから読み出された非照射時のＸ線検出信号、およびラグ画像用メモリ部１１ｄから読み出された前回のラグ画像に基づいて、ラグ画像取得部９ｂは再帰的演算処理でラグ画像Ｌ（ただしオフセット画像およびゲイン補正用画像を考慮する前）を取得する。再帰的演算処理によるラグ画像Ｌの取得については、後述する図１２のフローチャートで説明する。そして、再帰的演算処理を経て、オフセット画像およびゲイン補正用画像に基づいて、上記（１）式を用いてラグ画像取得部９ｂはラグ画像Ｌ´を取得する。なお、ラグ画像用メモリ部１１ｄから読み出されたラグ画像を用いてラグ補正部９ｅが今回の撮像でのＸ線画像からラグ除去するのは、上述した実施例１，２と同様である。
次に、本実施例３に係る非照射信号取得部９ａやラグ画像取得部９ｂや照射信号取得部９ｃやＸ線画像取得部９ｄやラグ補正部９ｅによる一連の信号処理について、図１２のフローチャートを参照して説明する。なお、上述した実施例１，２と共通するステップについては、同じ番号を付してその説明を省略する。
（ステップＳ１）オフセット画像およびゲイン補正用画像の記憶
上述した実施例１，２と同じように、蓄積時間（サンプリング時間、照射時間）に対応させて、各々の蓄積時間ごとにオフセット画像およびゲイン補正用画像をそれぞれ求めて、各画像をオフセット画像用メモリ部１１ａまたはゲイン補正用画像用メモリ部１１ｂに記憶する。
（ステップＳ２）待ち時間が経過したか？
上述した実施例１，２と同じように、前回の撮像におけるＸ線の照射の終了から待ち時間ＴWが経過したか否かを判断する。待ち時間ＴWが経過してから、次のステップＳ２２に進む。
（ステップＳ２２）待ち時間経過直後のＸ線検出信号の取得
上述した実施例１，２と同じように、待ち時間ＴＷ経過後の非照射時に各Ｘ線検出信号をサンプリング時間ΔＴ１間隔（例えば１／３０秒）毎に逐次に取得する。先ず、待ち時間ＴW経過直後のＸ線検出信号Ｉ0を取得する。この待ち時間ＴW経過直後に最初に取得されたＸ線検出信号Ｉ0を非照射信号用メモリ部１１ｃに書き込んで記憶する。
（ステップＳ２３）初期値のラグ画像の取得
そして、ラグ画像取得部９ｂは、このＸ線検出信号Ｉ0を非照射信号用メモリ部１１ｃから読み出して、そのＸ線検出信号Ｉ0をラグ画像Ｌ（ただしオフセット画像およびゲイン補正用画像を考慮する前）の初期値であるラグ画像Ｌ0として取得する。そして、ラグ画像取得部９ｂによって取得された初期値のラグ画像Ｌ0をラグ画像用メモリ部１１ｄに書き込んで記憶する。
（ステップＳ３）〜（ステップＳ１０）
ステップＳ２３で初期値のラグ画像Ｌ0を取得したら、上述した実施例１と同様のステップＳ３〜Ｓ１０を行う。ただし、ステップＳ３での非照射時のＸ線検出信号の取得は、２番目のＸ線検出信号Ｉ1以降であり、ステップＳ７でラグ画像Ｌ（ただしオフセット画像およびゲイン補正用画像を考慮する前）を取得する際には、（Ｎ＋１）番目のラグ画像ＬNを、非照射信号用メモリ部１１ｃから読み出された非照射時のＸ線検出信号ＩN、およびラグ画像用メモリ部１１ｄから読み出された前回のラグ画像ＬN-1に基づく再帰的演算処理で求める。本実施例３では、再帰的な加重平均（以下、適宜「リカーシブ処理」という）によって、下記の（３）式のようにラグ画像ＬNを取得する。
ＬN＝（１−Ｐ）×ＬN-1＋Ｐ×ＩN …（３）
ただし、上述したようにＩ0＝Ｌ0である。また、Ｐは加重比率であって、０〜１の値をとる。
また、ステップＳ７で最新のラグ画像ＬNをラグ画像Ｌとして取得する際には、そのラグ画像ＬNよりも前のラグ画像ＬN-1、すなわち上記（３）式のリカーシブ処理の基となるラグ画像ＬN-1のみが必要であるが、残りのラグ画像Ｌ、すなわち前々回のラグ画像ＬN-2やそれよりも以前に取得されたラグ画像ＬN-3，…，Ｌ1，Ｌ0は不要である。したがって、最新のラグ画像ＬNがラグ画像用メモリ部１１ｄに記憶されると、前のラグ画像ＬN-1のみを記憶して、残りのラグ画像Ｌが棄却されるようになっている。もちろん、前々回のラグ画像ＬN-2やそれよりも以前に取得されたラグ画像ＬN-3を必ずしも棄却する必要はない。
さらに、これらの一連のリカーシブ処理を経て、得られた最新のラグ画像ＬNをＬとし、オフセット画像およびゲイン補正用画像に基づいて、上記（１）式を用いてオフセット画像およびゲイン補正用画像を考慮したラグ画像取得部９ｂはラグ画像Ｌ´を取得する。
以上のように構成された本実施例３によれば、上述した実施例１，２と同様に、蓄積時間に対応したオフセット画像およびゲイン補正用画像を考慮したＸ線画像から、同じく蓄積時間に対応したオフセット画像およびゲイン補正用画像を考慮したラグ画像を用いてラグ除去することで、オフセットおよびゲイン成分を含めて、Ｘ線検出信号に含まれる時間遅れ分をＸ線検出信号から簡易に除去することができる。
本実施例３では、非照射時に各Ｘ線検出信号をサンプリング時間ΔＴ１間隔（例えば１／３０秒）毎に逐次に取得することで複数のＸ線検出信号を取得して、非照射時におけるある時点を（Ｎ＋１）番目としたときに、その（Ｎ＋１）番目を含めてこれまでに逐次に取得された複数のＸ線検出信号に基づくラグ画像Ｌ、すなわち（Ｎ＋１）番目のラグ画像ＬNを取得するために、その（Ｎ＋１）番目で取得されたＸ線検出信号ＩNと、その（Ｎ＋１）番目よりも前の時点であるＮ番目を含めてこれまでに逐次に取得された複数のＸ線検出信号に基づくラグ画像Ｌ、すなわちラグ画像ＬNよりも前のラグ画像ＬN-1とに基づいて行う再帰的演算処理を繰り返し行うことで、ラグ画像Ｌ（ただしオフセット画像およびゲイン補正用画像を考慮する前）を取得している。
非照射時に各Ｘ線検出信号を逐次に取得するたびに、その得られた最新のＸ線検出信号ＩNと、過去にこれまでに逐次に取得された複数のＸ線検出信号に基づくラグ画像（すなわち前のラグ画像）ＬN-1とに基づいて再帰的演算処理を繰り返し行う。そして、最終的に得られたラグ画像ＬNがオフセット画像およびゲイン補正用画像を考慮する前のラグ画像Ｌとなり、さらに、上記（１）式を用いて取得されたオフセット画像およびゲイン補正用画像を考慮したラグ画像Ｌ´が、ラグ補正の基となる、求めるべき画像となる。なお、再帰的演算処理で得られた最新のラグ画像ＬN、およびそのラグ画像よりも前のラグ画像（すなわち再帰的演算処理の基となるラグ画像）ＬN-1のみを残して、残りのラグ画像（前々回やそれよりも以前のラグ画像）Ｌを棄却すれば、２画像分のみを保持すればよいので、例えばラグ画像用メモリ部１１ｄの記憶領域を２フレーム分にできるなどのように、構造面でもより簡易になるという効果をも奏する。
本実施例３の場合には、再帰的演算処理として再帰的な加重平均であるリカーシブ処理（上記（３）式を参照）によってラグ画像を取得するので、ラグ補正をより確実に行うことができる。なお、ＳＮ比については、図１３に示すように、上記（３）式中の加重比率Ｐにおいて、Ｐ＝０．２５（図１３中の実線を参照）の場合には８回以上の再帰的演算を繰り返し実行することでランダムノイズ成分が０．３９まで低減し、ラグ補正後のＸ線画像Ｙのランダムノイズ成分は、上述した実施例２で８個分のＸ線検出信号を直接的に用いてラグ画像を求めたときの６％とほぼ同じ７％の劣化に留まる。したがって、ＳＮ比を劣化させることなくラグ補正を実現することができる。
この発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。
（１）上述した各実施例では、図１に示すようなＸ線透視撮影装置を例に採って説明したが、この発明は、例えばＣ型アームに配設されたＸ線透視撮影装置にも適用してもよい。また、この発明は、Ｘ線ＣＴ装置にも適用してもよい。なお、この発明は、Ｘ線撮影装置のように（透視撮影でなく）実際に撮影を行うとき特に有用である。
（２）上述した各実施例では、フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）３を例に採って説明したが、通常において用いられるＸ線検出手段であれば、この発明は適用することができる。
（３）上述した各実施例では、Ｘ線を検出するＸ線検出器を例に採って説明したが、この発明は、ＥＣＴ（Emission Computed Tomography）装置のように放射性同位元素（ＲＩ）を投与された被検体から放射されるγ線を検出するγ線検出器に例示されるように、放射線を検出する放射線検出器であれば特に限定されない。同様に、この発明は、上述したＥＣＴ装置に例示されるように、放射線を検出して撮像を行う装置であれば特に限定されない。
（４）上述した各実施例では、ＦＰＤ３は、放射線（実施例ではＸ線）感応型の半導体を備え、入射した放射線を放射線感応型の半導体で直接的に電荷信号に変換する直接変換型の検出器であったが、放射線感応型の替わりに光感応型の半導体を備えるとともにシンチレータを備え、入射した放射線をシンチレータで光に変換し、変換された光を光感応型の半導体で電荷信号に変換する間接変換型の検出器であってもよい。
（５）上述した各実施例では、前回の撮像におけるＸ線の照射から所定時間（各実施例では待ち時間ＴW）経過後の非照射時にＸ線検出信号の取得を開始したが、短／中時定数成分が無視できる程度であれば、前回の撮像におけるＸ線の照射が終了して非照射状態に移行するのと同時にＸ線検出信号の取得を開始してもよい。Ｘ線以外の放射線においても同様である。
（６）上述した各実施例では、ラグ補正の基となるラグ画像は、今回の撮像におけるＸ線の照射の開始直前に取得されるＸ線検出信号ＩNのデータが含まれていたが、必ずしもＸ線検出信号ＩNのデータを含める必要はない。ただし、直前のデータがもっとも信頼性が高いことから、各実施例のようにＸ線検出信号ＩNのデータを含めてラグ画像を取得して、そのラグ画像を用いてラグ除去することでラグ補正を行うのが好ましい。Ｘ線以外の放射線においても同様である。
（７）上述した各実施例では、オフセット画像およびゲイン補正用画像の両画像に基づいて両画像を考慮したラグ画像およびＸ線画像を取得したが、オフセット画像またはゲイン補正用画像のいずれか一方の画像のみに基づいて一方の画像のみを考慮したラグ画像およびＸ線画像を取得してもよい。Ｘ線以外の放射線においても同様である。
（８）上述した各実施例では、オフセット画像やゲイン補正用画像を考慮するために、ラグ画像を求める際には上記（１）式を用いて、Ｘ線画像を求める際には上記（２）式を用いたが、通常の方法においてオフセット画像やゲイン補正用画像を考慮する手法であれば、上記（１）、（２）式のような減算や除算に限定されない。
（９）上述した実施例３では、上記（３）式に示すような再帰的な加重平均（リカーシブ処理）であったが、再帰的演算処理であれば、再帰的な加重平均に限定されず、重み付けなしの再帰的演算処理であってもよい。したがって、Ｘ線検出信号ＩNとラグ画像ＬN-1とで表される関数ｆ（ＩN、ＬN-1）が、ラグ画像ＬNで表されればよい。
以上のように、この発明は、フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）を備えた放射線撮像装置に適している。

Claims (4)

  1. 放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る放射線撮像装置であって、被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段と、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段と、信号に重畳されたオフセット値を除去するオフセット補正を行うために用いられるオフセット画像について、信号の情報を蓄積する複数の蓄積時間に対応したオフセット画像を記憶するオフセット画像記憶手段と、放射線検出手段から検出された複数の放射線検出信号を撮像における放射線の照射前の非照射時に取得する非照射信号取得手段と、その非照射信号取得手段で取得されたそれら放射線検出信号と、前記オフセット画像記憶手段で記憶され、かつ非照射信号取得手段での蓄積時間に対応したオフセット画像とに基づいて、ラグ画像を取得するラグ画像取得手段と、放射線検出手段から検出された放射線検出信号を撮像における放射線の照射時に取得する照射信号取得手段と、その照射信号取得手段で取得された放射線検出信号と、前記オフセット画像記憶手段で記憶され、かつ照射信号取得手段での蓄積時間に対応したオフセット画像とに基づいて、撮像の対象となる放射線画像を取得する放射線画像取得手段と、その放射線画像取得手段で取得された放射線画像から、前記ラグ画像取得手段で取得されたラグ画像を用いてラグ除去することで、放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を放射線検出信号から除去することによる時間遅れ分に関するラグ補正を行うラグ補正手段とを備えていることを特徴とする放射線撮像装置。
  2. 放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る放射線撮像装置であって、被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段と、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段と、出力側の各画素の信号レベルを揃えるゲイン補正を行うために用いられるゲイン補正用画像について、信号の情報を蓄積する複数の蓄積時間に対応したゲイン補正用画像を記憶するゲイン補正用画像記憶手段と、放射線検出手段から検出された複数の放射線検出信号を撮像における放射線の照射前の非照射時に取得する非照射信号取得手段と、その非照射信号取得手段で取得されたそれら放射線検出信号と、前記ゲイン補正用画像記憶手段で記憶され、かつ非照射信号取得手段での蓄積時間に対応したゲイン補正用画像とに基づいて、ラグ画像を取得するラグ画像取得手段と、放射線検出手段から検出された放射線検出信号を撮像における放射線の照射時に取得する照射信号取得手段と、その照射信号取得手段で取得された放射線検出信号と、前記ゲイン補正用画像記憶手段で記憶され、かつ照射信号取得手段での蓄積時間に対応したゲイン補正用画像とに基づいて、撮像の対象となる放射線画像を取得する放射線画像取得手段と、その放射線画像取得手段で取得された放射線画像から、前記ラグ画像取得手段で取得されたラグ画像を用いてラグ除去することで、放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を放射線検出信号から除去することによる時間遅れ分に関するラグ補正を行うラグ補正手段とを備えていることを特徴とする放射線撮像装置。
  3. 被検体を照射して検出された放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る信号処理を行う放射線検出信号処理方法であって、前記信号処理は、信号に重畳されたオフセット値を除去するオフセット補正を行うために用いられるオフセット画像について、信号の情報を蓄積する複数の蓄積時間に対応したオフセット画像を撮像前に予め記憶するオフセット画像記憶工程と、複数の放射線検出信号を撮像における放射線の照射前の非照射時に取得する非照射信号取得工程と、その非照射信号取得工程で取得されたそれら放射線検出信号と、前記オフセット画像記憶工程で記憶され、かつ非照射信号取得工程での蓄積時間に対応したオフセット画像とに基づいて、ラグ画像を取得するラグ画像取得工程と、放射線検出信号を撮像における放射線の照射時に取得する照射信号取得工程と、その照射信号取得工程で取得された放射線検出信号と、前記オフセット画像記憶工程で記憶され、かつ照射信号取得工程での蓄積時間に対応したオフセット画像とに基づいて、撮像の対象となる放射線画像を取得する放射線画像取得工程と、その放射線画像取得工程で取得された放射線画像から、前記ラグ画像取得工程で取得されたラグ画像を用いてラグ除去することで、放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を放射線検出信号から除去することによる時間遅れ分に関するラグ補正を行うラグ補正工程とを備えていることを特徴とする放射線検出信号処理方法。
  4. 被検体を照射して検出された放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る信号処理を行う放射線検出信号処理方法であって、前記信号処理は、出力側の各画素の信号レベルを揃えるゲイン補正を行うために用いられるゲイン補正用画像について、信号の情報を蓄積する複数の蓄積時間に対応したゲイン補正用画像を撮像前に予め記憶するゲイン補正用画像記憶工程と、複数の放射線検出信号を撮像における放射線の照射前の非照射時に取得する非照射信号取得工程と、その非照射信号取得工程で取得されたそれら放射線検出信号と、前記ゲイン補正用画像記憶工程で記憶され、かつ非照射信号取得工程での蓄積時間に対応したゲイン補正用画像とに基づいて、ラグ画像を取得するラグ画像取得工程と、放射線検出信号を撮像における放射線の照射時に取得する照射信号取得工程と、その照射信号取得工程で取得された放射線検出信号と、前記ゲイン補正用画像記憶工程で記憶され、かつ照射信号取得工程での蓄積時間に対応したゲイン補正用画像とに基づいて、撮像の対象となる放射線画像を取得する放射線画像取得工程と、その放射線画像取得工程で取得された放射線画像から、前記ラグ画像取得工程で取得されたラグ画像を用いてラグ除去することで、放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を放射線検出信号から除去することによる時間遅れ分に関するラグ補正を行うラグ補正工程とを備えていることを特徴とする放射線検出信号処理方法。
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