JP4985580B2 - 撮像装置 - Google Patents
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Description
すなわち、請求項1に記載の発明は、光または放射線を検出する検出素子を2次元マトリックス状配列で構成された検出器を備え、その検出器で検出されたデータに基づいて画像を得る撮像装置であって、前記検出素子を駆動させたときの前記データを読み出し、前記検出素子を駆動させないときの前記データを読み出す読み出し手段と、前記検出素子を駆動させたときに読み出されたデータと、前記検出素子を駆動させないときに読み出されたデータとの差分演算を行って差分データを求める差分演算手段と、その差分演算手段で差分演算を行う際に、前記検出素子を駆動させる駆動ラインに応じた加減算を行う加減算手段とを備え、前記差分演算手段で求められて、かつ前記加減算手段で加減算された前記差分データに基づいて前記画像を得ることを特徴とするものである。
図1は、実施例に係るX線撮影装置の概略ブロック図であり、図2は、X線撮影装置のX線変換層周辺の概略断面図であり、図3は、X線撮影装置の電荷電圧変換アンプやA/D変換器の周辺回路図である。本実施例では、入射する放射線としてX線を例に採って説明するとともに、撮像装置としてX線撮影装置を例に採って説明する。
={G(DX,L1)+G(DX,L2)+G(DX,L3)}/3 …(1)
D^(DX)
={D(DX,L1)+D(DX,L2)+D(DX,L3)}/3 …(2)
各々の平均値G^(DX),D^(DX)は整数であり、上記(1)、(2)式において“3”で除算したときに割り切れずに平均値が小数となった場合には、小数点以下を切り捨てにして整数とした値をG^(DX),D^(DX)とする。また、上記(1)、(2)式で“3”で除算したことで、剰余は“0”、“1”、“2”のいずれかになる。
={G(DX,GY)−(DX,GY)}
−{G^(DX)−D^(DX)} …(3)´
従来の場合には、上記(3)´からも明らかなように、「背景技術」の段落でも述べたが、データラインD毎にリーク電流成分(の平均値)G^(DX),D^(DX)を読み出すので、同じデータラインDで、それに縦方向に電気的に接続されたゲートラインGの電荷情報G(DX,GY),D(DX,GY)に対しては、どのゲートラインGであっても同じ値のリーク電流成分(の平均値)G^(DX),D^(DX)を減算する。このように、ゲートラインGに依らずにリーク電流成分(の平均値)G^(DX),D^(DX)を一律に減算していたのを、本実施例の場合には、差分データS(DX,GY)は、上述した電荷情報G(DX,GY),D(DX,GY)や平均値G^(DX),D^(DX)の他に固有値αを用いると、下記(3)式のように表わされる。
={G(DX,GY)−(DX,GY)}
−{G^(DX)−D^(DX)}−α …(3)
本実施例の場合には、上記(3)式からも明らかなように、差分演算を行う際に、検出素子DUを駆動させるゲートラインGに応じた加減算を行う。事前に、図5(a)に示すように、上述した剰余かつ検出素子DUごとに固有値αをそれぞれ割り当てる。図5(b)は、剰余が“0”のときに検出素子DUごとに割り当てられた固定値αのテーブルで、検出素子DUに依らず固定値αを全て“0”に割り当てる。図5(c)は、剰余が“1”のときに検出素子DUごとに割り当てられた固定値αのテーブルで、データラインDX,ゲートラインGYがG(3n+X)のとき(ただしnは整数)の検出素子DUのとき固定値αを“1”に割り当て、それ以外の検出素子DUのとき固定値αを“0”に割り当てる。図5(d)は、剰余が“2”のときに検出素子DUごとに割り当てられた固定値αのテーブルで、データラインDX,ゲートラインGYがG(3n−1+X)のとき(ただしnは整数)の検出素子DUのとき固定値αを“0”に割り当て、それ以外の検出素子DUのとき固定値αを“1”に割り当てる。上記(3)式で求められた差分データS(DX,GY)に対して画像処理部5は各種の信号処理を行って、2次元状の画像を得る。固有値αは、この発明における検出素子ごとに割り当てられた所定値に相当する。
3 … 電荷電圧変換アンプ
6 … コントローラ
G … ゲートライン
DU … 検出素子
α … 固有値
Claims (7)
- 光または放射線を検出する検出素子を2次元マトリックス状配列で構成された検出器を備え、その検出器で検出されたデータに基づいて画像を得る撮像装置であって、前記検出素子を駆動させたときの前記データを読み出し、前記検出素子を駆動させないときの前記データを読み出す読み出し手段と、前記検出素子を駆動させたときに読み出されたデータと、前記検出素子を駆動させないときに読み出されたデータとの差分演算を行って差分データを求める差分演算手段と、その差分演算手段で差分演算を行う際に、前記検出素子を駆動させる駆動ラインに応じた加減算を行う加減算手段とを備え、前記差分演算手段で求められて、かつ前記加減算手段で加減算された前記差分データに基づいて前記画像を得ることを特徴とする撮像装置。
- 請求項1に記載の撮像装置において、前記加減算手段は、前記検出素子ごとに割り当てられた所定値を用いて加減算を行うことで、前記駆動ラインに応じた加減算を行うことを特徴とする撮像装置。
- 請求項2に記載の撮像装置において、前記読み出し手段は、前記検出素子を駆動させないときの前記データを読み出す動作を複数回行い、前記装置は、前記検出素子を駆動させないときに読み出された前記複数回のデータの平均値およびその平均による剰余を求める平均値・剰余算出手段を備え、前記差分演算手段は、前記検出素子を駆動させたときに読み出されたデータと、前記平均値との差分演算を行って前記差分データを求め、前記加減算手段は、前記剰余かつ前記検出素子ごとに割り当てられた所定値を用いて加減算を行うことで、前記駆動ラインに応じた加減算を行うことを特徴とする撮像装置。
- 請求項1に記載の撮像装置において、前記読み出し手段は、前記検出素子を駆動させないときの前記データを読み出す動作を複数回行い、前記装置は、前記検出素子を駆動させないときに読み出された前記複数回のデータの平均値およびその平均による剰余を求める平均値・剰余算出手段を備え、前記差分演算手段は、前記検出素子を駆動させたときに読み出されたデータと、前記平均値との差分演算を行って前記差分データを求め、前記加減算手段は、前記剰余ごとに定められた出現確率に応じて現れる所定値を用いて前記検出素子ごとに加減算を行うことで、前記駆動ラインに応じた加減算を行うことを特徴とする撮像装置。
- 請求項1に記載の撮像装置において、前記加減算手段は、加減算を行うタイミングに応じて現れるランダムな数値を用いて前記検出素子ごとに加減算を行うことで、前記駆動ラインに応じた加減算を行うことを特徴とする撮像装置。
- 請求項1から請求項5のいずれかに記載の撮像装置において、前記読み出し手段は、前記光または放射線の照射直後で前記検出素子を駆動させたときの前記データを読み出し、前記照射直後で前記検出素子を駆動させないときの前記データを読み出すことを特徴とする撮像装置。
- 請求項6に記載の撮像装置において、前記読み出し手段は、前記光または放射線の非照射状態で、かつ前記検出素子を駆動させたときの前記データを読み出し、前記非照射状態で、かつ前記検出素子を駆動させないときの前記データを読み出し、前記差分演算手段は、前記照射直後で前記検出素子を駆動させたときに読み出されたデータと、前記照射直後で前記検出素子を駆動させないときに読み出されたデータとの差分演算を、前記非照射状態で、かつ前記検出素子を駆動させたときに読み出されたデータ、および前記非照射状態で、かつ前記検出素子を駆動させないときに読み出されたデータも用いて行うことを特徴とする撮像装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008204139A JP4985580B2 (ja) | 2008-08-07 | 2008-08-07 | 撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008204139A JP4985580B2 (ja) | 2008-08-07 | 2008-08-07 | 撮像装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010041559A JP2010041559A (ja) | 2010-02-18 |
JP4985580B2 true JP4985580B2 (ja) | 2012-07-25 |
Family
ID=42013598
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4985580B2 (ja) |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4828687B2 (ja) * | 1999-07-29 | 2011-11-30 | 東芝医用システムエンジニアリング株式会社 | 放射線検出器のノイズリダクション方法、放射線診断装置 |
JP3979165B2 (ja) * | 2002-04-24 | 2007-09-19 | 株式会社島津製作所 | 二次元画像撮影装置 |
JP4557697B2 (ja) * | 2004-12-08 | 2010-10-06 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及びその制御方法 |
JP2006304213A (ja) * | 2005-04-25 | 2006-11-02 | Shimadzu Corp | 撮像装置 |
JP4959414B2 (ja) * | 2007-05-15 | 2012-06-20 | 富士フイルム株式会社 | 画像処理装置、方法及びプログラム |
-
2008
- 2008-08-07 JP JP2008204139A patent/JP4985580B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
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JP2010041559A (ja) | 2010-02-18 |
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