JP2000306107A - Ｘ線像処理方法 - Google Patents
Ｘ線像処理方法Info
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- 238000003672 processing method Methods 0.000 claims description 16
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 観察者による評価を容易にするＸ線像処理方
法を提供する。 【解決手段】 本発明は、透視される対象物内に含まれ
る物品のＸ線像を処理して観察者のためにモニタ上に表
示するＸ線像処理方法において、特定の所定の物品周り
に特有のマーキングを配置する配置工程と、少なくとも
二つの特有のマーキングが相互に一致する場合には、特
有の前記マーキングを総計マーキングへと自動的かつ段
階的に結合させる結合工程とを含み、前記結合工程にお
いて、隣接する二つの特有のマーキングの相互に対面す
る辺を一致させるために比較する比較工程と、隣接する
二つの特有の前記マーキングのうちの少なくとも一つの
全領域に対する、隣接する二つの特有の前記マーキング
のうちの重なり合い領域の比を決定する決定工程とを含
む、ようにしたＸ線像処理方法に関する。
法を提供する。 【解決手段】 本発明は、透視される対象物内に含まれ
る物品のＸ線像を処理して観察者のためにモニタ上に表
示するＸ線像処理方法において、特定の所定の物品周り
に特有のマーキングを配置する配置工程と、少なくとも
二つの特有のマーキングが相互に一致する場合には、特
有の前記マーキングを総計マーキングへと自動的かつ段
階的に結合させる結合工程とを含み、前記結合工程にお
いて、隣接する二つの特有のマーキングの相互に対面す
る辺を一致させるために比較する比較工程と、隣接する
二つの特有の前記マーキングのうちの少なくとも一つの
全領域に対する、隣接する二つの特有の前記マーキング
のうちの重なり合い領域の比を決定する決定工程とを含
む、ようにしたＸ線像処理方法に関する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はＸ線像処理方法に関
する。操作者／観察者は透視される対象物内に含まれる
物品をモニタ上で見ることができ、予め定義された物品
にマーキングを配置する。
する。操作者／観察者は透視される対象物内に含まれる
物品をモニタ上で見ることができ、予め定義された物品
にマーキングを配置する。
【０００２】
【従来の技術】観察者が透視される対象物のＸ線像を評
価するのを容易にするために、Ｘ線装置内においてＸ線
像が種々の特性に基づいて自動的に検査される。そのよ
うなＸ線装置において、ソフトウェアは、透視される対
象物内における特定の所定の物品、例えば火器、突き刺
し用武器、爆薬などを検出する。
価するのを容易にするために、Ｘ線装置内においてＸ線
像が種々の特性に基づいて自動的に検査される。そのよ
うなＸ線装置において、ソフトウェアは、透視される対
象物内における特定の所定の物品、例えば火器、突き刺
し用武器、爆薬などを検出する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】前述した形式のＸ線像
処理方法は独国特許第１９８５５２５０．５号明細書に
開示されている。そのような物品が検出された場合に
は、観察者は、透視された対象物内における物品をさら
に徹底的に調査する必要があるという情報を受けとる。
そのような情報とはモニタ上における検出された物品に
マーキングを配置すること、例えば物品の周りに円もし
くは四角形を描画することである。検出された物品は全
体として認識されるわけではないので、マーキングは、
検出された各物品周りに配置される。そのようなマーキ
ングがモニタ上に複数存在する場合には、観察者による
評価は困難となる。通過時間が約６秒である場合には、
このことは観察者にとって極めて不利である。
処理方法は独国特許第１９８５５２５０．５号明細書に
開示されている。そのような物品が検出された場合に
は、観察者は、透視された対象物内における物品をさら
に徹底的に調査する必要があるという情報を受けとる。
そのような情報とはモニタ上における検出された物品に
マーキングを配置すること、例えば物品の周りに円もし
くは四角形を描画することである。検出された物品は全
体として認識されるわけではないので、マーキングは、
検出された各物品周りに配置される。そのようなマーキ
ングがモニタ上に複数存在する場合には、観察者による
評価は困難となる。通過時間が約６秒である場合には、
このことは観察者にとって極めて不利である。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、観察者
がＸ線像の評価を容易にできるようにマーキングを配置
することを最適化する改良したＸ線像処理方法を提供す
ることである。この目的および本願明細書から明らかな
他の目的は、透視される対象物内に含まれる物品のＸ線
像を処理して観察者のためにモニタ上に表示するＸ線像
処理方法において、特定の所定の物品周りに特有のマー
キングを配置する配置工程と、少なくとも二つの特有の
マーキングが相互に一致する場合には、特有の前記マー
キングを自動的かつ段階的に結合させて総計マーキング
にする結合工程とを含み、前記結合工程において、隣接
する二つの特有のマーキングの相互に対面する辺が一致
するかを比較する比較工程と、隣接する二つの特有の前
記マーキングのうちの少なくとも一つの全領域に対す
る、隣接する二つの特有の前記マーキングのうちの重な
り合い領域の比を決定する決定工程とを含む、ようにし
たＸ線像処理方法によって達成される。
がＸ線像の評価を容易にできるようにマーキングを配置
することを最適化する改良したＸ線像処理方法を提供す
ることである。この目的および本願明細書から明らかな
他の目的は、透視される対象物内に含まれる物品のＸ線
像を処理して観察者のためにモニタ上に表示するＸ線像
処理方法において、特定の所定の物品周りに特有のマー
キングを配置する配置工程と、少なくとも二つの特有の
マーキングが相互に一致する場合には、特有の前記マー
キングを自動的かつ段階的に結合させて総計マーキング
にする結合工程とを含み、前記結合工程において、隣接
する二つの特有のマーキングの相互に対面する辺が一致
するかを比較する比較工程と、隣接する二つの特有の前
記マーキングのうちの少なくとも一つの全領域に対す
る、隣接する二つの特有の前記マーキングのうちの重な
り合い領域の比を決定する決定工程とを含む、ようにし
たＸ線像処理方法によって達成される。
【０００５】本発明は、認識できる複数のマーキングを
自動的に互いに結合させ、それにより、モニタ上には個
々のマーキングを合計した単一のマーキングのみが示さ
れており、従って、観察者は、透視される対象物内の物
品に関する評価を迅速かつ容易に行うことができるよう
にしたことを基礎としている。Ｘ線装置内で入力される
機能と、相互に一致するマーキングを結合させて結合し
たマーキングをＸ線像に配置する機能とによってマーキ
ングが結合される。互いに属し合うマーキングのみを結
合させる。これら二つのマーキングが接近している程度
および重なり合っている程度によって、これらマーキン
グが互いに属し合っているかが決定される。
自動的に互いに結合させ、それにより、モニタ上には個
々のマーキングを合計した単一のマーキングのみが示さ
れており、従って、観察者は、透視される対象物内の物
品に関する評価を迅速かつ容易に行うことができるよう
にしたことを基礎としている。Ｘ線装置内で入力される
機能と、相互に一致するマーキングを結合させて結合し
たマーキングをＸ線像に配置する機能とによってマーキ
ングが結合される。互いに属し合うマーキングのみを結
合させる。これら二つのマーキングが接近している程度
および重なり合っている程度によって、これらマーキン
グが互いに属し合っているかが決定される。
【０００６】本発明の有利な特徴によれば、操作者がマ
ーキングを別個に確認したい場合には、結合されたマー
キングを再び取り除くことができる。さらに、マーキン
グの組み合わせの範囲を調節することもできる。結果的
に、マーキングを変更することなく表示することも、マ
ーキングを結合させて表示することもできる。さらに、
互いに結合させるマーキングの数を最大で２、３、４、
５などにして、それにより、二つから三つのマーキング
などを、モニタ上において固有の小計マーキングとして
認識することもできるようになる。
ーキングを別個に確認したい場合には、結合されたマー
キングを再び取り除くことができる。さらに、マーキン
グの組み合わせの範囲を調節することもできる。結果的
に、マーキングを変更することなく表示することも、マ
ーキングを結合させて表示することもできる。さらに、
互いに結合させるマーキングの数を最大で２、３、４、
５などにして、それにより、二つから三つのマーキング
などを、モニタ上において固有の小計マーキングとして
認識することもできるようになる。
【０００７】
【発明の実施の形態】図１は通常のＸ線発生器１と検出
器２とを有するＸ線装置を示しており、透視されるべき
対象物３がＸ線発生器１と検出器２との間に位置決めさ
れている。種々の物品４、５、６を含んでいる対象物３
は旅行用鞄であってもよい。図示されていない公知の構
成要素によってコンピュータシステム７は検出器２に結
合されている。測定結果はコンピュータシステム７に結
合されたモニタ８および／またはプリンタ９上において
確認することができる。
器２とを有するＸ線装置を示しており、透視されるべき
対象物３がＸ線発生器１と検出器２との間に位置決めさ
れている。種々の物品４、５、６を含んでいる対象物３
は旅行用鞄であってもよい。図示されていない公知の構
成要素によってコンピュータシステム７は検出器２に結
合されている。測定結果はコンピュータシステム７に結
合されたモニタ８および／またはプリンタ９上において
確認することができる。
【０００８】図２は本発明に基づくＸ線像処理方法を実
施するコンピュータシステム７の本質的な構成要素のグ
ループを示している。検出器２の出力部は画像処理装置
１０に接続されていて、次いで、画像処理装置１０はマ
ーキング用メモリ１１とマーキングリスト用メモリ１２
とに接続されている。マーキング用メモリ１１はメモリ
１２に双方向に接続されていて、従って、処理時におい
て蓄積されたマーキングリストに対してアクセスするこ
とができる。マーキング用メモリ１１には、詳細に後述
するサブマーキング用メモリ１１．１が設けられてい
る。
施するコンピュータシステム７の本質的な構成要素のグ
ループを示している。検出器２の出力部は画像処理装置
１０に接続されていて、次いで、画像処理装置１０はマ
ーキング用メモリ１１とマーキングリスト用メモリ１２
とに接続されている。マーキング用メモリ１１はメモリ
１２に双方向に接続されていて、従って、処理時におい
て蓄積されたマーキングリストに対してアクセスするこ
とができる。マーキング用メモリ１１には、詳細に後述
するサブマーキング用メモリ１１．１が設けられてい
る。
【０００９】本発明に基づくＸ線像処理方法は以下のよ
うに行われる。Ｘ線発生器１はＸ線ビームＦＸ１を透視
されるべき対象物３に導く。Ｘ線ビームＦＸ１は、対象
物３内の吸収特性を有する各物品４、５、６と対象物３
のハウジング材料とによって弱められた状態で、検出器
２により受けられる。検出器２、例えば複数のＸ線検出
器から形成されるライン式カメラ（ｌｉｎｅ ｃａｍｅ
ｒａ）はＸ線ビームの非吸収部分から信号を発生して、
透視される対象物３に関する画像データ情報としての信
号を画像処理用コンピュータシステム７に供給する。そ
のような入力作用はラインごとに連続的に行われるのが
好ましい。画像データは画像処理装置１０内において公
知の方法により評価されて、モニタ上において視覚的に
表示できるように処理される。このようにして表される
Ｘ線像は、種々の特性、例えばグレースケールと物品
４、５、６を認識できる材料値とを有する画像用ドット
から構成されている。
うに行われる。Ｘ線発生器１はＸ線ビームＦＸ１を透視
されるべき対象物３に導く。Ｘ線ビームＦＸ１は、対象
物３内の吸収特性を有する各物品４、５、６と対象物３
のハウジング材料とによって弱められた状態で、検出器
２により受けられる。検出器２、例えば複数のＸ線検出
器から形成されるライン式カメラ（ｌｉｎｅ ｃａｍｅ
ｒａ）はＸ線ビームの非吸収部分から信号を発生して、
透視される対象物３に関する画像データ情報としての信
号を画像処理用コンピュータシステム７に供給する。そ
のような入力作用はラインごとに連続的に行われるのが
好ましい。画像データは画像処理装置１０内において公
知の方法により評価されて、モニタ上において視覚的に
表示できるように処理される。このようにして表される
Ｘ線像は、種々の特性、例えばグレースケールと物品
４、５、６を認識できる材料値とを有する画像用ドット
から構成されている。
【００１０】原則的に、危険であると定義されている検
出された各物品、例えば物品４、５、６周りには、図３
（ａ）に示されるようにそれぞれ別個のマーキングＭ
１、Ｍ２、Ｍ３が配置される。従って、一番目に認識さ
れた物品４周りにはマーキングＭ１が、二番目に認識さ
れた物品５周りにはマーキングＭ２が配置される。この
時点において既に二つのマーキングＭ１、Ｍ２は、二つ
のマーキングＭ１、Ｍ２が互いに一致するかを決定する
機能によって互いに比較される。この目的のために、マ
ーキングＭ１、Ｍ２の互いに一致する辺もしくは互いに
対面する辺が、座標を比較することによって比較され
る。これら辺がこれら辺の位置と長さとに関して対応し
ているほど、これら辺が一致する程度が大きくなる。特
有のマーキングＭ１とＭ２との間の距離は予め設定した
変更可能な限界値を越えることはない。
出された各物品、例えば物品４、５、６周りには、図３
（ａ）に示されるようにそれぞれ別個のマーキングＭ
１、Ｍ２、Ｍ３が配置される。従って、一番目に認識さ
れた物品４周りにはマーキングＭ１が、二番目に認識さ
れた物品５周りにはマーキングＭ２が配置される。この
時点において既に二つのマーキングＭ１、Ｍ２は、二つ
のマーキングＭ１、Ｍ２が互いに一致するかを決定する
機能によって互いに比較される。この目的のために、マ
ーキングＭ１、Ｍ２の互いに一致する辺もしくは互いに
対面する辺が、座標を比較することによって比較され
る。これら辺がこれら辺の位置と長さとに関して対応し
ているほど、これら辺が一致する程度が大きくなる。特
有のマーキングＭ１とＭ２との間の距離は予め設定した
変更可能な限界値を越えることはない。
【００１１】本発明においては、特有のマーキングＭ
１、Ｍ２は互いに離れて配置されており、それにより共
通のマーキングが形成されることはない。両方のマーキ
ングＭ１、Ｍ２がマーキングリスト用メモリ１２とマー
キング用メモリ１１のサブマーキング用メモリ１１．１
とに入力される。ほぼ同時に、物品６を検出すること
と、物品６周りにマーキングＭ３を配置することとが行
われる。さらなる工程において、マーキングＭ３はマー
キングＭ１と比較される。すなわち個々のマーキングＭ
１とＭ３とが互いに一致するかが決定される。さらに、
両方のマーキングＭ１とＭ３とは互いに一致する辺にお
いて重なり合うので、二つのマーキングＭ１とＭ３との
うちの小さい方の面積に対する、二つのマーキングＭ１
とＭ３との共通の（重なり合う）面積の比が、相互に一
致する辺を確認するために決定される。この比が大きい
ほど、マーキングＭ１とＭ３とは互いに一致することと
なる。図３（ｂ）に示されているように、マーキングＭ
１とＭ３とを特有の小計マーキングＭ１／３としての新
しいマーキングに置き換える。この小計マーキングＭ１
／３において、マーキングＭ１とＭ３との外側の各辺
は、新しい小計マーキングＭ１／３の寸法に含まれる。
個々のマーキングＭ１とＭ３とがコンピュータシステム
内で消失しないようにするために、これらマーキングは
特有の小計マーキングＭ１／３のサブマーキングＭ１、
Ｍ３としてサブマーキング用メモリ１１．１内に保存さ
れる。
１、Ｍ２は互いに離れて配置されており、それにより共
通のマーキングが形成されることはない。両方のマーキ
ングＭ１、Ｍ２がマーキングリスト用メモリ１２とマー
キング用メモリ１１のサブマーキング用メモリ１１．１
とに入力される。ほぼ同時に、物品６を検出すること
と、物品６周りにマーキングＭ３を配置することとが行
われる。さらなる工程において、マーキングＭ３はマー
キングＭ１と比較される。すなわち個々のマーキングＭ
１とＭ３とが互いに一致するかが決定される。さらに、
両方のマーキングＭ１とＭ３とは互いに一致する辺にお
いて重なり合うので、二つのマーキングＭ１とＭ３との
うちの小さい方の面積に対する、二つのマーキングＭ１
とＭ３との共通の（重なり合う）面積の比が、相互に一
致する辺を確認するために決定される。この比が大きい
ほど、マーキングＭ１とＭ３とは互いに一致することと
なる。図３（ｂ）に示されているように、マーキングＭ
１とＭ３とを特有の小計マーキングＭ１／３としての新
しいマーキングに置き換える。この小計マーキングＭ１
／３において、マーキングＭ１とＭ３との外側の各辺
は、新しい小計マーキングＭ１／３の寸法に含まれる。
個々のマーキングＭ１とＭ３とがコンピュータシステム
内で消失しないようにするために、これらマーキングは
特有の小計マーキングＭ１／３のサブマーキングＭ１、
Ｍ３としてサブマーキング用メモリ１１．１内に保存さ
れる。
【００１２】ほぼ同時に、新しい小計マーキングＭ１／
３は、マーキングリストの特有のマーキングＭ２に一致
するかが比較される。そのような比較の結果として、総
計マーキングとしての新しいマーキングＭｇがモニタ８
に供給される。図３（ｃ）に示されるように、物品４、
５、６は総計マーキングＭｇ内において確認される。特
有のマーキングＭ２と特有の小計マーキングＭ１／３と
が総計マーキングＭｇのサブマーキングとなる。従っ
て、観察者は、モニタ８上において良好に確認可能なＸ
線像を得ることができ、このＸ線像においては、単一の
総計マーキングＭｇのみが示されているが、モニタ８上
において、個々のマーキングＭ１、Ｍ２、Ｍ３と総計マ
ーキングＭｇの表示物との間の関係が失われることはな
い。
３は、マーキングリストの特有のマーキングＭ２に一致
するかが比較される。そのような比較の結果として、総
計マーキングとしての新しいマーキングＭｇがモニタ８
に供給される。図３（ｃ）に示されるように、物品４、
５、６は総計マーキングＭｇ内において確認される。特
有のマーキングＭ２と特有の小計マーキングＭ１／３と
が総計マーキングＭｇのサブマーキングとなる。従っ
て、観察者は、モニタ８上において良好に確認可能なＸ
線像を得ることができ、このＸ線像においては、単一の
総計マーキングＭｇのみが示されているが、モニタ８上
において、個々のマーキングＭ１、Ｍ２、Ｍ３と総計マ
ーキングＭｇの表示物との間の関係が失われることはな
い。
【００１３】特有の小計マーキングＭ１／３と総計マー
キングＭｇとに対する個々のマーキングＭ１、Ｍ２、Ｍ
３およびこれらマーキングのサブマーキングとしての従
属性に関する情報がコンピュータシステム７内における
メモリ１２とサブマーキング用メモリ１１．１とに保存
される。これにより、総計マーキングＭｇを消去した後
に、特有の小計マーキングＭ１／３の全てのサブマーキ
ングＭ１およびＭ３ならびにサブマーキングＭ２を別個
に再表示することができる。この目的のために、操作者
が例えばボタンを押すことによって総計マーキングＭｇ
をモニタ８から除去し、その結果、図４（ａ）、図４
（ｂ）、および図４（ｃ）に示されるように、コンピュ
ータシステム７は、保存された個々のマーキングＭ１、
Ｍ２（Ｍ３は示さない）をモニタ８上に再表示できる。
キングＭｇとに対する個々のマーキングＭ１、Ｍ２、Ｍ
３およびこれらマーキングのサブマーキングとしての従
属性に関する情報がコンピュータシステム７内における
メモリ１２とサブマーキング用メモリ１１．１とに保存
される。これにより、総計マーキングＭｇを消去した後
に、特有の小計マーキングＭ１／３の全てのサブマーキ
ングＭ１およびＭ３ならびにサブマーキングＭ２を別個
に再表示することができる。この目的のために、操作者
が例えばボタンを押すことによって総計マーキングＭｇ
をモニタ８から除去し、その結果、図４（ａ）、図４
（ｂ）、および図４（ｃ）に示されるように、コンピュ
ータシステム７は、保存された個々のマーキングＭ１、
Ｍ２（Ｍ３は示さない）をモニタ８上に再表示できる。
【００１４】そのような必要な情報は、サブマーキング
用メモリ１１．１とメモリ１２内のマーキングリストか
ら工程ごとに取り出される。コンピュータシステム７は
前述した工程を逆順序で行う。第一に、総計マーキング
Ｍｇが除去されて、個々の関連したサブマーキングがサ
ブマーキング用メモリ１１．１内において探索される。
この手順において、総計マーキングＭｇに属するサブマ
ーキングＭ１／３とサブマーキングＭ２とが検出され
る。マーキングリスト内において総計マーキングＭｇが
消去され、サブマーキング用メモリ１１．１内に存在す
るサブマーキングＭ１／３とサブマーキングＭ２とがメ
モリ１２のマーキングリストに加えられる。さらに、コ
ンピュータシステム７のソフトウェアによって特有の小
計マーキングとしてのサブマーキングＭ１／３がマーキ
ングＭ１とＭ３とから形成され、同時にサブマーキング
Ｍ２はサブマーキングでなくて従って特有のマーキング
を表すことが認識される。マーキングリストにおいて
は、特有の小計マーキングＭ１／３が消去されてサブマ
ーキングＭ１、Ｍ３によって置き換えられ、次いで、こ
れらサブマーキングＭ１、Ｍ３はサブマーキング用メモ
リ１１．１からメモリ１２へと入力される。個々のマー
キングＭ１、Ｍ２、Ｍ３がマーキングリストからモニタ
８に供給されてモニタ８上に表示される。このようにし
て、観察者は、共通のマーキングＭｇか、サブマーキン
グ／特有のマーキングＭ１／３、Ｍ２か、もしくは個々
のマーキングＭ１、Ｍ２、Ｍ３のみかを表示するなどを
決定できる。
用メモリ１１．１とメモリ１２内のマーキングリストか
ら工程ごとに取り出される。コンピュータシステム７は
前述した工程を逆順序で行う。第一に、総計マーキング
Ｍｇが除去されて、個々の関連したサブマーキングがサ
ブマーキング用メモリ１１．１内において探索される。
この手順において、総計マーキングＭｇに属するサブマ
ーキングＭ１／３とサブマーキングＭ２とが検出され
る。マーキングリスト内において総計マーキングＭｇが
消去され、サブマーキング用メモリ１１．１内に存在す
るサブマーキングＭ１／３とサブマーキングＭ２とがメ
モリ１２のマーキングリストに加えられる。さらに、コ
ンピュータシステム７のソフトウェアによって特有の小
計マーキングとしてのサブマーキングＭ１／３がマーキ
ングＭ１とＭ３とから形成され、同時にサブマーキング
Ｍ２はサブマーキングでなくて従って特有のマーキング
を表すことが認識される。マーキングリストにおいて
は、特有の小計マーキングＭ１／３が消去されてサブマ
ーキングＭ１、Ｍ３によって置き換えられ、次いで、こ
れらサブマーキングＭ１、Ｍ３はサブマーキング用メモ
リ１１．１からメモリ１２へと入力される。個々のマー
キングＭ１、Ｍ２、Ｍ３がマーキングリストからモニタ
８に供給されてモニタ８上に表示される。このようにし
て、観察者は、共通のマーキングＭｇか、サブマーキン
グ／特有のマーキングＭ１／３、Ｍ２か、もしくは個々
のマーキングＭ１、Ｍ２、Ｍ３のみかを表示するなどを
決定できる。
【００１５】当業者であれば、種々の物品、すなわち前
述した三つの物品４、５、６よりも多数の物品を検出す
るときに、相互に一致するマーキング（特有の小計マー
キング）が検出されなくなるまでマーキングＭ１、Ｍ
２、Ｍ３などの組を互いに比較することが理解されるで
あろう。種々の変更例を本発明の範囲内で行うことがで
きる。従って、マーキングの程度と組み合わせとを設定
することができる。そのように設定することによって、
マーキングが常に組合わさるかもしくは部分的にのみ組
合わさるかが決定される。すなわち、組み合わせの程度
に関する中間の工程を実施することもできる。このよう
にして、個々のマーキングを組み合わせられたマーキン
グから除去してもよく、従って複数の部分へと分けるこ
ともできる。
述した三つの物品４、５、６よりも多数の物品を検出す
るときに、相互に一致するマーキング（特有の小計マー
キング）が検出されなくなるまでマーキングＭ１、Ｍ
２、Ｍ３などの組を互いに比較することが理解されるで
あろう。種々の変更例を本発明の範囲内で行うことがで
きる。従って、マーキングの程度と組み合わせとを設定
することができる。そのように設定することによって、
マーキングが常に組合わさるかもしくは部分的にのみ組
合わさるかが決定される。すなわち、組み合わせの程度
に関する中間の工程を実施することもできる。このよう
にして、個々のマーキングを組み合わせられたマーキン
グから除去してもよく、従って複数の部分へと分けるこ
ともできる。
【００１６】本発明の前述した説明に関しては、種々の
変更例と変種例と適用例とを想定することができ、これ
ら変更例と変種例と適用例とは特許請求の範囲の意味と
範囲とに含まれることが理解できる。
変更例と変種例と適用例とを想定することができ、これ
ら変更例と変種例と適用例とは特許請求の範囲の意味と
範囲とに含まれることが理解できる。
【図１】本発明に基づくＸ線像処理方法を実施するよう
になっているＸ線装置の略図である。
になっているＸ線装置の略図である。
【図２】本発明に基づくＸ線像処理方法を実施するＸ線
装置内のコンピュータシステムのブロック線図である。
装置内のコンピュータシステムのブロック線図である。
【図３】（ａ）モニタ上に共通のマーキングを配置する
ための視覚的表示物である。 （ｂ）モニタ上に共通のマーキングを配置するための視
覚的表示物である。 （ｃ）モニタ上に共通のマーキングを配置するための視
覚的表示物である。
ための視覚的表示物である。 （ｂ）モニタ上に共通のマーキングを配置するための視
覚的表示物である。 （ｃ）モニタ上に共通のマーキングを配置するための視
覚的表示物である。
【図４】（ａ）モニタから共通のマーキングを除去する
除去方法の視覚的表示物である。 （ｂ）モニタから共通のマーキングを除去する除去方法
の視覚的表示物である。 （ｃ）モニタから共通のマーキングを除去する除去方法
の視覚的表示物である。
除去方法の視覚的表示物である。 （ｂ）モニタから共通のマーキングを除去する除去方法
の視覚的表示物である。 （ｃ）モニタから共通のマーキングを除去する除去方法
の視覚的表示物である。
１…Ｘ線発生器 ２…検出器 ３…対象物 ４…物品 ５…物品 ６…物品 ７…コンピュータシステム ８…モニタ ９…プリンタ １０…画像処理装置 １１…マーキング用メモリ １２…マーキングリスト用メモリ ＦＸ１…Ｘ線ビーム Ｍ１…マーキング Ｍ２…マーキング Ｍ３…マーキング Ｍ１／３…小計マーキング Ｍｇ…総計マーキング
Claims (7)
- 【請求項１】 透視される対象物内に含まれる物品のＸ
線像を処理して観察者のためにモニタ上に表示するＸ線
像処理方法において、 （ａ）特定の所定の物品周りに特有のマーキングを配置
する配置工程と、 （ｂ）少なくとも二つの特有の前記マーキングが相互に
一致する場合には、特有の前記マーキングを自動的かつ
段階的に結合させて総計マーキングにする結合工程とを
含み、前記結合工程において、 （１）隣接する二つの特有のマーキングの相互に対面す
る辺が一致するかを比較する比較工程と、 （２）隣接する二つの特有の前記マーキングのうちの少
なくとも一つの全領域に対する、隣接する二つの特有の
前記マーキングのうちの重なり合い領域の比を決定する
決定工程とを含む、ようにしたＸ線像処理方法。 - 【請求項２】 前記比較工程が、前記対面する辺の長さ
と位置とを比較することを含む請求項１に記載のＸ線像
処理方法。 - 【請求項３】 前記決定工程が、隣接する二つの特有の
前記マーキングのうちの一つの全領域に対する、隣接す
る二つの特有の前記マーキングのうちの前記重なり合い
領域の比を決定することを含む請求項１に記載のＸ線像
処理方法。 - 【請求項４】 メモリ内のマーキングリストに特有の前
記マーキングを保存する保存工程をさらに含み、前記結
合工程が、 （ａ）前記比較工程および前記決定工程によって二つの
特有のマーキングから、特有の小計マーキングを形成
し、 （ｂ）特有の前記小計マーキングを前記マーキングリス
ト内に保存し、 （ｃ）特有の前記小計マーキングを形成できる特有の前
記マーキングを、特有の前記小計マーキングのサブマー
キングとして前記マーキングリストからマーキング用メ
モリのサブマーキング用メモリ内へと保存し、 （ｄ）特有の前記小計マーキングを、前記総計マーキン
グを形成するために前記マーキングリストから読み出さ
れる特有のさらなるマーキングと比較し、 （ｅ）前記総計マーキングを前記マーキングリストに加
え、 （ｆ）前記総計マーキングを形成できる特有の前記小計
マーキングと前記さらなるマーキングとを、前記総計マ
ーキングのサブマーキングとして前記サブマーキング用
メモリ内に保存し、それにより、前記サブマーキングの
構造を保存するようにした、請求項１に記載のＸ線像処
理方法。 - 【請求項５】 前記結合工程が特有の前記マーキングを
結合させる程度を設定して、単一の総計マーキングの代
わりに、特有の小計マーキングと特有のマーキングとの
うちの一つを表示するよう選択することを含む請求項４
に記載のＸ線像処理方法。 - 【請求項６】 特有の小計マーキングと特有のマーキン
グとのうちの一つが単一の総計マーキングの代わりに表
示される場合には、特有の前記マーキングと特有の前記
小計マーキングとの構造をサブマーキング用メモリから
前記マーキングリストに加えることをさらに含む請求項
５に記載のＸ線像処理方法。 - 【請求項７】 前記比較工程と前記決定工程とが、特有
の前記マーキングと特有の前記小計マーキングとを位置
決めするために座標を比較することを含む請求項１に記
載のＸ線像処理方法。
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| DE19916664:1 | 1999-04-14 | ||
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|---|---|
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