JP2000206479A - 表示装置の欠陥絵素座標特定装置 - Google Patents
表示装置の欠陥絵素座標特定装置Info
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Abstract
標を特定する。 【解決手段】 表示装置1をセットプレート2にセット
して点灯状態にし、XYステージ15により顕微鏡筒4
の視野内に欠陥絵素が映し出される位置まで移動あせ
る。ファイバー照明6、8等により絵素に光を照射して
その光学的変化をCCDカメラ5によりとらえ、欠陥絵
素を確定する。欠陥絵素の位置座標をXYステージの位
置データにより求め、パーソナルコンピューター10に
記憶させる。
Description
のパネル形態及びドライバー実装後のモジュール形態を
問わず、表示装置の製造工程で発生する表示不良品の検
査及び修正を効率良く行うための表示装置の欠陥絵素座
標特定装置に関し、特に、表示装置が直視タイプの液晶
表示装置である場合に好適に使用される表示装置の欠陥
絵素座標特定装置に関する。
ルにドライバーや駆動回路を実装することによりモジュ
ール化される。その後、用途によって、例えば、プロジ
ェクション等の投影タイプとして使用されるものは、液
晶表示装置を光源ランプや投影レンズ等の光学系と組み
合わせる。一方、液晶テレビジョンセットや液晶ディス
プレイ等の直視タイプとして使用されるものは、透過型
液晶表示装置をバックライトと組み合わせたり、反射型
液晶表示装置をフロントライトと組み合わせたりするこ
とが多い。
は、点灯不良品の市場への流出を防止するため、通常、
パネル形態及びモジュール形態の各々の状態において点
灯検査を実施している。
態が規定基準を満たしているか否かを判断し、その結
果、規定の基準を満たしていないものは不合格として市
場に出荷されない。
置でも、不良の発生具合によっては配線パターン等の修
正を行うことによって、規定の基準をクリアできる場合
があり、一度不合格になった表示装置であっても修正に
より良品として救済できるものもある。
置の用途によって異なる。例えば、パーソナルコンピュ
ーター、液晶TV(テレビジョン)や携帯型情報端末
(PDA:Personal Degital Ass
istant)等のいわゆる直視タイプと、プロジェク
ターやOHP等の投影タイプとでは、修正する絵素の位
置を特定するための座標特定工程及び修正工程が以下の
ように異なっていた。
のパネル形態で欠陥修正する場合について説明する。
上で点灯直視検査を行って点欠陥や断線等の欠陥を確認
する。そして、図11(a)及び図11(b)に示すよ
うに、液晶表示装置1のカラーフィルター形成側基板
(以下、CF基板と称する)1bのガラス表面に直接、
検査員が欠陥絵素周辺の概略位置にマーキング26を行
い、次工程の修正工程へと搬送される。なお、この図1
1(b)において、1aは薄膜トランジスタ形成側基板
(以下、TFT基板と称する)を示す。
うに、液晶表示装置1をマーキング26が施されたCF
基板1b側を下面にしてセットプレート2にセットし、
その後、液晶表示装置1の端子部の下方に位置している
プローブピン35により圧接する。液晶表示装置1はプ
ローブピン35を介して点灯信号入力装置(図示せず)
からの信号により点灯される。
てプローブピン35の下方に位置する光源36からの照
明によって、前工程で予めマーキング26が施された位
置を目視により観察する。そして、マーキング26位置
を確認しながら、その概略位置まで操作ボード38を操
作して、XYテーブル15を移動させる。
CDカメラ5とリペア用レーザー37とがその光軸を一
致させて設置されている。検査員は、倍率を変更したり
しながらモニター11に拡大された映像を見て、欠陥が
確認された絵素の位置を特定して修正箇所を絞り込む。
そして、配線パターンをレーザーによって切断したり、
絵素自体の黒点化を行ったりして、欠陥絵素の修正等を
行っていた。なお、この図13において、4は顕微鏡筒
を示す。
のモジュール形態で欠陥修正する場合について説明す
る。
検査及び欠陥位置の特定方法は、例えば特開平9−73
059号公報や特開平10−39268号公報に開示さ
れている。この投影タイプの液晶表示装置においては、
最終製品の使用形態に近づけるために、図14に示すよ
うに、液晶プロジェクション41に液晶表示装置1をセ
ットしてスクリーン42に投影した状態で、製品と全く
同一の光学系を用いて検査及び欠陥絵素の位置特定を行
っていた。
の投影時には、概して、液晶表示装置1のすぐ近くに投
影レンズや偏光板という障害物が配置されているため、
欠陥絵素をスクリーン42上では判別できても、その欠
陥絵素の位置を示すためのマーキングを直接液晶表示装
置の表示面に施すことはできない。このため、図14に
示すような座標特定装置を用いて欠陥絵素の位置を求め
た後、欠陥絵素の修正を行っていた。なお、図14
(a)は上面図、図14(b)は側面図であり、8は透
過照明を示し、15は精密XYテーブルを示す。
業界の動向を鑑みると、液晶表示装置自体の価格が急激
に下落しており、その反面、生産数は増加していく傾向
にある。
で主流であったパーソナルコンピューター等のOA分野
以外の用途でも様々な分野での用途が期待されており、
増産が見込まれている。
装置や欠陥修正装置を用いた方法では、以下のような問
題があった。
た液晶表示装置を修正装置上にセットし、検査員が目視
によってマーキング位置を確認しながらXYテーブルを
移動させて、顕微鏡の視野範囲に映し出される位置まで
液晶表示装置を移動させる。そして、倍率を変更したり
しながら修正箇所を絞り込んで配線パターンをレーザー
により切断したり、絵素自体を黒点化したりして修正を
行う。
ち、欠陥絵素の確認と修正箇所の特定に要する作業に非
常に多くの時間が費やされている。このことが欠陥修正
装置において1枚の表示装置の修正にかかる時間を長く
する(タクトを落とす)原因となっていた。
数を増やすという方法は、欠陥修正装置自体が非常に高
価で大がかりであり、さらに、装置の設置スペースも大
きいため、現実的ではない。このままでは今後の急激な
増産に対応することができないため、欠陥修正装置のタ
クトを上げる必要がある。
検査においては、上述したように予め前工程で欠陥絵素
位置を特定できる座標特定装置が用いられている。しか
し、この座標特定装置は、製品と全く同一の光学系を用
いて画像を投影しながら検査及び位置特定を行う必要が
あり、製品の光学系は概してその機種毎に大きく異なる
ため、機種切り換えに膨大な時間がかかり、座標特定装
置を機種毎に製作する必要があった。
ては、スクリーンに液晶表示装置の表示画面を投影する
ため、装置の設置スペースが大きくなる。加えて、装置
周辺を暗室化する必要があるので装置設置環境が大がか
りとなり、しかも、暗室内での投影像の検査が必要であ
るという観点から、検査員の目への負担が大きく、検査
員の視力が低下する原因になっていた。
決すべくなされたものであり、迅速かつ確実に表示装置
の欠陥絵素位置の座標を特定することができる表示装置
の欠陥絵素座標特定装置を提供することを目的とする。
絵素座標特定装置は、表示装置を支持して所定の位置に
移動させる移動手段と、該表示装置に表示信号を付与し
て各絵素を駆動させる駆動回路と、該駆動回路によって
駆動される絵素に光を照射し、各絵素の光学的変化をと
らえて欠陥絵素を確定する欠陥絵素確定手段と、確定さ
れた欠陥絵素の位置座標を特定する座標特定手段と、特
定された欠陥絵素の位置座標を記録する記録手段とを有
し、そのことにより上記目的が達成される。
面における光学的変化の確認箇所を照らす光エネルギー
照射手段を有しているのが好ましい。
源とファイバーからなっていてもよい。
ードからなっていてもよい。
発生装置であってもよい。
光の前記表示装置に対する入射角及び照明強度を各々調
整する調整手段を有しているのが好ましい。
光学的変化に基づいて画像が表示される画面上に、欠陥
絵素の位置を特定するための位置合わせ基準を表示する
目印手段を有しているのが好ましい。
検査工程、座標特定工程及び欠陥修正工程において得ら
れる各種情報が伝達されて集中する情報集中装置との間
に、互いに情報伝達が可能な情報伝達手段を備えている
のが好ましい。
動させる移動手段と、表示装置を点灯させるための駆動
回路と、点灯された絵素に光を照射し、その光学的変化
をとらえて欠陥絵素を確定できる欠陥絵素確定手段と、
欠陥絵素の位置座標を特定する座標特定手段と、欠陥絵
素の位置座標を記録する記録手段とを有しているので、
表示装置がモジュール形態であってもパネル形態であっ
ても、欠陥絵素の確認及び修正箇所の特定を迅速に行う
ことが可能である。
合素子)カメラのような光学的変化を取り込む手段によ
り光学的変化をとらえることができる。そして、光学的
変化の確認箇所を明確化するために、表示装置の表示面
を選択的に照らす光エネルギー照射手段を有しているの
が好ましい。この光エネルギー照射手段は、CCDカメ
ラへの映像取り込み用にも用いられる。
る照明を用いれば、光が直線的な経路を辿るので、周囲
の不要な箇所に逃げることがない。又は、集光レンズで
集光された照明や発光ダイオード等、表示装置に応じた
最適な照明手段を用いればよい。或いは、レーザー光発
生装置であってもよく、レーザーポインター等を用いれ
ば、指示手段と角度調整機構とを設けて視野範囲を指示
可能である。
れる光の表示装置に対する入射角度及び照明強度を各々
調整する調整手段を設ければ、表示装置に応じた最適な
照明光を用いて欠陥絵素の特定を行うことが可能であ
る。
光学的変化に基づいてモニター等の画面上に画像が表示
される。その画面上にクロスライン等の位置合わせ基準
を表示させれば、欠陥絵素を所定の位置まで移動させる
ための基準として、容易に座標位置特定が可能である。
検査工程、座標特定工程及び欠陥修正工程において得ら
れる各種情報が伝達されて集中する情報集中装置との間
に、互いに情報伝達が可能な情報伝達手段を設けるのが
好ましい。これにより、情報伝達手段を介して得られる
各種情報に基づいて、検査や欠陥修正等を行うことがで
きるので、作業効率が向上する。
いて、図面を参照しながら説明する。
ル形態の液晶表示装置について、欠陥絵素座標の特定を
行う場合について説明する。
置の構成を示す図である。
にモーター駆動される精密XYテーブル15が設置され
ており、精密XYテーブル15には液晶表示装置1を位
置決めしてセットするためのセットプレート2及び位置
決めブロック3が取り付けられている。
する方法としては、真空吸着法による方法や、永久磁石
によりモジュール形態の液晶表示装置1を固定する方
法、機械的クランプにより液晶表示装置1を保持する方
法、液晶表示装置1に位置決め穴を設けておいて位置決
めピンに挿入する方法等が考えられる。
素エリアよりも大きい抜き穴が設けられている。セット
プレート2の上方には、液晶表示装置1の表示面を観察
するための顕微鏡筒4、CCDカメラ5及び同軸落射照
明6が設置されている。さらに、セットプレート2の下
方には透過照明8(または同軸落射照明)が設けられ、
同軸落射照明6の光路7と透過照明8からの光路9の光
軸は一致している。従って、セットプレート2の抜き穴
を通して透過照明8がCCDカメラ5により確認でき、
各絵素の光学的変化をとらえて欠陥絵素を確定すること
ができる。本実施形態では、同軸落射照明6及び透過照
明8として、ハロゲン光源とファイバーからなるファイ
バー照明を用いている。
ピューター10、モニター11、キーボード12、マウ
ス13及び電子ライン発生器14が設置されている。
ついて、図2を用いて説明する。この図2は、欠陥絵素
座標特定装置の制御ブロック図である。
れ、点灯状態で精密XYテーブル15上のセットプレー
ト2上にセットされる。透過照明8からの光照射によっ
て、各絵素の光学的変化が顕微鏡筒4を介してCCDカ
メラ5によりとらえられ、とらえられた映像信号はビデ
オ信号としてスーパーインポーズドボード18を通して
パーソナルコンピューター10に入力される。
ー11が接続され、スーパーインポーズドボード18を
通してパーソナルコンピューター10に入力されたビデ
オ信号がパーソナルコンピューター10の表示画面の背
景にスーパーインポーズされて表示される。
キーボード12やマウス13が接続され、各種入力が行
えるようになっている。
は電子ライン発生器14が接続され、モニター11の画
面上に位置合わせ基準(目印)となるクロスライン21
を映し出すことができる。
指示により、モーターコントローラー17は精密XYテ
ーブル15を自由に制御することができる。
ついて、図3〜図6を用いて説明する。
る検査工程において、液晶表示装置1の欠陥絵素周辺に
マーキング26を施しておく。そして、液晶表示装置1
に点灯回路19を接続した後、位置決めブロック3を基
準としてセットプレート2上にセットして固定する。
を用いて、予めモーターコントローラー17にデータ登
録しておいた液晶表示装置1の一角の絵素20が、顕微
鏡筒4の視野内に映し出される位置まで液晶表示装置1
を移動させる。このとき、CCDカメラ5に入力された
画像は、スーパーインポーズボード18を経由してモニ
ター11の画面に図4(a)に示すように映し出され
る。そして、モニター11の画面には、電子ライン発生
器14によりクロスライン21が基準線として同時に映
し出される。
がらキーボード12又はマウス13を用いて精密XYテ
ーブル15を移動させて、図4(b)に示すように一角
の絵素20がクロスライン21の交差エリア22と一致
するように液晶表示装置1を移動させる。
ータ(Sx1、Sy1)を、パーソナルコンピューター
10に記憶させる。
XYテーブル15の原点25から一角の絵素20までの
距離X1、Y1が下記式(1)及び(2)により求めら
れる。
側の一角の絵素23までの距離X2、Y2も求める。
15の直交軸に対する液晶表示装置1の傾きAθが下記
式(3)により求められる。
直交軸に対してどのような位置関係(水平位置、垂直位
置、傾き方向)で設置されているかが求められる。
置を求める。
示装置1の表示面に施されたマーキング26を目印にし
て精密XYテーブル15を移動させて、欠陥絵素24が
顕微鏡筒4の視野内に映る位置まで移動させる。この実
施形態では、液晶表示装置1に照射される同軸落射照明
6の光路7や透過照明8の光路9を目印にして、マーキ
ング26部分を顕微鏡4の視野内に映る位置まで移動さ
せる。このとき、CCDカメラ5に入力された画像は、
スーパーインポーズボード18を経由してモニター11
の画面に図6(a)に示すように映し出される。そし
て、モニター11の画面には、電子ライン発生器14に
よるクロスライン21が基準線として同時に映し出され
る。
がらキーボード12又はマウス13を用いて精密XYテ
ーブル15を移動させて、図6(b)に示すように欠陥
絵素24がクロスライン21の交差エリア22と一致す
るように液晶表示装置1を移動させる。
ータ(Rx、Ry)を、パーソナルコンピューター10
に記憶させる。
テーブル15の原点25から欠陥絵素24までの距離T
x、Tyが下記式(4)及び(5)により求められる。
欠陥絵素24の位置座標(bx、by)が下記式(6)
及び(7)により求められる。
位置座標は、パーソナルコンピューター10により算出
して記録する。これにより、欠陥絵素24の位置座標が
求められる。
2から取り外し、点灯回路19とのケーブルを外す。
態の液晶表示装置について、欠陥絵素座標の特定を行う
場合について説明する。
置の構成を示す図である。
にモーター駆動される精密XYテーブル15が設置され
ている。精密XYテーブル15には液晶表示装置1を位
置決めしてセットするためのセットプレート2が取り付
けられており、このセットプレート2には、液晶表示装
置1を点灯させるための点灯治具27が取り付けられて
いる。
る方法としては、図8に示すように、点灯治具27内の
ベース板27aに取り付けられている位置決めピン28
に液晶表示装置1を押し当てた後、上蓋27bを閉じて
固定する方法が挙げられる。上蓋27bには金属電極2
9が液晶表示装置1のパネル電極30に対応する部分に
取り付けられており、図示しない点灯回路からの信号が
金属電極29を通してパネル電極30に入力される。
晶表示装置1の絵素エリアよりも大きい抜き穴が設けら
れている。セットプレート2の上方には、液晶表示装置
1の表示面を観察するための顕微鏡筒4、CCDカメラ
5及び同軸落射照明6が設置されている。さらに、セッ
トプレート2の下方には透過照明8が設けられ、同軸落
射照明6の光路7と透過照明8からの光路9の光軸は一
致している。従って、セットプレート2の抜き穴を通し
て透過照明8がCCDカメラ5により確認でき、各絵素
の光学的変化をとらえて欠陥絵素を確定することができ
る。本実施形態では、同軸落射照明6及び透過照明8と
して、ハロゲン光源とファイバーからなるファイバー照
明を用いてる。
ピューター10、モニター11、キーボード12、マウ
ス13及び電子ライン発生器14が設置されている。
素の位置座標を求める方法については、実施形態1と同
様であるので、ここでは説明を省略する。
に、液晶表示装置がモジュール形態であってもパネル形
態であっても、液晶表示装置がセットされる部分を交換
することにより、欠陥絵素座標特定装置自体に大がかり
な改造や機種切り換えをしなくても欠陥絵素の位置座標
を確実に求めることができる。さらに言及すれば、液晶
表示装置の形態が上述のようなガラス基板(以下、大
板)から完全に分断された単一状態である必要はなく、
一方向のみに分断され、一列に数枚の液晶表示装置がつ
ながったままの短冊状態や、それよりも前段階の大板状
態でも同様に欠陥絵素の位置座標を求めることができ
る。
照明手段はCCDカメラ5への映像取り込み用途の他
に、マーキング26の位置を顕微鏡筒4の視野内に追い
込むための目印としても大きな役割を果たしている。こ
こではファイバー照明からなる同軸落射照明6と透過照
明8とを例に挙げたが、これらに限定されるものではな
く、図1及び図7に示すような斜め方向からの斜方照明
39であってもよい。また、集光レンズによる集光照明
やLED照明等、各表示装置に応じて最適な照明手段を
選択することができる。表示装置への照明光の入射角度
は、図1及び図7に示すような角度調整機構40により
適宜変更することができ、各表示装置の欠陥認識のため
に最適な角度に調整及び固定することができる。さら
に、マーキングの位置を顕微鏡筒の視野内に追い込むた
めの目印という意味では、レーザーポインター等の指示
手段と角度調整機構を設けて、顕微鏡筒の視野範囲を指
示するように角度調整して設置することも可能である。
照明強度の調整は、ハロゲン光源、LED光源、レーザ
ーポインター等を問わず、図示しない各々の光源用電源
設けられたつまみの調整により行うことができる。
液晶表示装置1の表示面に施されたマーキング26の確
認方法としては、検査員の目視により顕微鏡筒4の視野
内に追い込む方法を用いたが、これに限られない。例え
ば、図9(a)に示すように、顕微鏡筒4の対物レンズ
部分をレボルバー31として倍率を変えられるように
し、まず、低倍率レンズで絵素エリア全体を観察してマ
ーキング26を確認し、徐々に高倍率レンズに切り換え
て欠陥絵素24の位置を特定する方法を用いてもよい。
又は、図9(b)に示すように、高倍率の顕微鏡筒4か
ら独立して低倍率用カメラ32を設け、まず、低倍率用
カメラ32で絵素エリア全体を観察してマーキング26
を確認し、モニター11のカメラ映像を高倍率の顕微鏡
筒4側に切り換えて欠陥絵素24の位置座標を特定する
方法を用いてもよい。
は液晶表示装置1の一角の絵素20や反対側の一角の絵
素23及び欠陥絵素24を、モニター11の画面上のク
ロスライン21の交差エリア22に追い込む際に、検査
員が直接精密XYテーブル15を移動させることにより
位置特定を行ったが、これに限定されるものではない。
例えば、スーパーインポーズボード18の代わりに画像
処理ボードを用いて自動アライメントを行うことによ
り、欠陥絵素24を自動的に交差エリア22に一致させ
て欠陥絵素24の位置座標を特定することもできる。こ
の場合、ボードやカメラの分解能によるが、組み合わせ
次第でマーキング工程を省略することも可能である。
装置との間に情報伝達手段を設けた欠陥絵素座標特定装
置の例について説明する。
て特定された欠陥絵素24の位置座標は、次工程である
欠陥修正装置にデータとして伝達する必要がある。
うに、情報伝達手段としてのネットワーク回線34を介
して、欠陥絵素座標特定装置51と情報集中装置(ホス
トコンピュータ)50とが接続されている。また、表示
装置の点灯検査装置52、欠陥修正装置53、及び表示
装置の各部材を製造するための各製造装置54について
も同様に、ネットワーク回線34を介して情報集中装置
50と接続されている。
uter IntegratedManufactur
ing)が構築され、表示装置の各製造工程、検査工程
及び欠陥修正工程において得られる各種情報が、ネット
ワーク回線34を介して情報集中装置50に集中する。
その結果、特定の装置の情報集中装置50との間で、各
種情報の送受信が可能となる。
24の位置座標データの他にも、例えばロットナンバ
ー、パネルナンバー、各工程投入日時、工程担当者、良
品/不良品判定結果、不良内容、良品率(歩留り)、欠
陥修正結果などが挙げられる。
絵素座標特定装置により得られる欠陥絵素24の位置座
標データや欠陥内容等の情報がネットワーク回線34を
介して情報集中装置50に送信される。これにより、次
工程である欠陥修正工程において、欠陥修正装置53は
ネットワーク回線34を介して情報集中装置50から上
記情報を受信することが可能となる。
置から得られる情報を情報集中装置50とネットワーク
回線34を介して送受信することができるので、表示装
置を効率的に生産することができる。さらに言及すれ
ば、上述した自動アライメント機能、液晶表示装置1の
点灯回路19への接続やセットプレート2へのセッティ
ング等を自動供給/排出手段を設けることにより、欠陥
絵素座標特定装置に検査員を立ち合わせる必要が無くな
り、検査工程における情報を利用して欠陥絵素24の座
標特定工程や欠陥修正工程を完全に自動化することがで
きる。その結果、人件費を削減して商品のコストダウン
を図ることができる。
間で情報伝達を行うための手段は、上述のネットワーク
回線34に限られない。例えば、フロッピーディスク、
光磁気ディスク、書込型コンパクトディスク(CD−
R)、書換型コンパクトディスク(CD−RW)、書換
型DVD(DVD−RAM)等の電磁媒体(記録媒体)
が挙げられ、各記録媒体に上記情報を記録して各装置と
情報集中装置との間で情報伝達を行うようにしても、本
実施形態と同様の効果を得ることができる。
て、表示装置の種類としては透過型、反射型、半透過
(一部透過)型、透過/反射切換型等、あらゆる種類の
表示装置に適用可能である。CCDカメラへの映像取り
込み状態に応じて、各表示装置に適した照明方式を採用
することにより、これらの表示装置の欠陥絵素24の位
置座標を特定することができる。例えば、アモルファス
シリコン液晶表示装置、低温ポリシリコン液晶表示装置
(LPS)、高温ポリシリコン液晶表示装置(HP
S)、LCDオン単結晶シリコンデバイス、EL(El
ectro Luminescence)表示装置、プ
ラズマ表示装置、プラズマアドレス液晶表示装置(PA
LC)等、各種表示装置の欠陥絵素位置座標を求める際
にも、本発明を適用可能であることは言うまでもない。
いずれの場合でも、透過用照明や反射用照明等の各表示
装置に最適な状態で照明光量をセッティングしておき、
照明光量を切り換えるだけでよいので、投影タイプのよ
うに光学系の機種切換の問題は生じない。
には、モジュール形態及びパネル形態のいずれであって
も、確実に絵素欠陥座標位置を特定してその座標データ
を後の工程に利用することが可能である。よって、今後
価格の下落が進むと予想される中で益々生産が増加する
と考えられるパーソナルコンピューター、液晶TV、携
帯型情報端末(PDA)、液晶ディスプレイ付きビデオ
カメラ、カーナビゲーション用途等の所謂直視タイプの
液晶表示装置の欠陥絵素修正に際して、非常に高価で大
がかりな欠陥修正装置の設置台数を大幅に増やすこと無
く、効率的で確実な修正を行うことができる。
であり、広大な設置スペースの必要もない。また、表示
装置を設置するセットプレートと点灯回路を適宜用意す
ることにより機種切り換えも容易であるため、機種汎用
性にも優れており、表示装置に応じた照明手段を用意す
ることにより、確実に欠陥絵素を確定することができ
る。
装置、検査装置や欠陥修正装置等をネットワーク回線等
の情報伝達手段を介して情報集中装置に接続することに
より、各種情報を各装置で得ることができる。よって、
迅速で確実な生産を行うことができる。さらに、本発明
の欠陥絵素座標特定装置に自動供給/排出手段と自動ア
ライメント手段を設けることにより、検査員が座標特定
工程に立ち合う必要が無いため、人件費を削減すること
ができる。
陥位置座標を正確に特定して修正することにより、良品
率の向上を図ることができ、さらには、製品のコストダ
ウンを実現することができる。
を示す図である。
制御系のブロック図である。
査員によりマーキングされた液晶表示装置の外観イメー
ジを示す図である。
取り込まれる映像の模式図である。
座標データを求める方法を説明するための図である。
取り込まれる映像の模式図である。
を示す図である。
灯治具を示す斜視図である。
である。
をネットワーク回線を介して接続したシステムを示す図
である。
員によりマーキングされた液晶表示装置の外観イメージ
を示す図である。
である。
る。
を示す図である。
Claims (8)
- 【請求項1】 表示装置を支持して所定の位置に移動さ
せる移動手段と、 該表示装置に表示信号を付与して各絵素を駆動させる駆
動回路と、 該駆動回路によって駆動される絵素に光を照射し、各絵
素の光学的変化をとらえて欠陥絵素を確定する欠陥絵素
確定手段と、 確定された欠陥絵素の位置座標を特定する座標特定手段
と、 特定された欠陥絵素の位置座標を記録する記録手段とを
有する表示装置の欠陥絵素座標特定装置。 - 【請求項2】 前記欠陥絵素確定手段は、表示装置の表
示面における光学的変化の確認箇所を照らす光エネルギ
ー照射手段を有する請求項1に記載の表示装置の欠陥絵
素座標特定装置。 - 【請求項3】 前記光エネルギー照射手段は、ハロゲン
光源とファイバーからなる請求項2に記載の表示装置の
欠陥絵素座標特定装置。 - 【請求項4】 前記光エネルギー照射手段は、発光ダイ
オードからなる請求項2に記載の表示装置の欠陥絵素座
標特定装置。 - 【請求項5】 前記光エネルギー照射手段は、レーザー
光発生装置である請求項2に記載の表示装置の欠陥絵素
座標特定装置。 - 【請求項6】 前記光エネルギー照射手段から出射され
る光の前記表示装置に対する入射角度及び照明強度を各
々調整する調整手段を有する請求項2乃至請求項5のい
ずれかに記載の表示装置の欠陥絵素座標特定装置。 - 【請求項7】 前記欠陥絵素確定手段がとらえた各絵素
の光学的変化に基づいて画像が表示される画面上に、欠
陥絵素の位置を特定するための位置合わせ基準を表示す
る目印手段を有する請求項1乃至請求項6のいずれかに
記載の表示装置の欠陥絵素座標特定装置。 - 【請求項8】 前記記録手段は、表示装置の各製造工
程、検査工程、座標特定工程及び欠陥修正工程において
得られる各種情報が伝達されて集中する情報集中装置と
の間に、互いに情報伝達が可能な情報伝達手段を備えて
いる請求項1乃至請求項7のいずれかに記載の表示装置
の欠陥絵素座標特定装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2010139461A (ja) * | 2008-12-15 | 2010-06-24 | Toppan Printing Co Ltd | 目視検査システム |
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1999
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