JP2000054149A - 引っ掻き防止層と反射防止層系とを被着させるための方法および該方法を実施するための装置 - Google Patents
引っ掻き防止層と反射防止層系とを被着させるための方法および該方法を実施するための装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 プラスチック基板の、許容し得ないほど高い
熱負荷が生じることなしに、引っ掻き防止層と反射防止
層系とを直接に相前後して被着させる。 【解決手段】 当該装置が、引っ掻き防止層を被着させ
るためのプラズマCVDチャンバ1と、反射防止層を被
着させるためのガス流スパッタリングチャンバ2とを互
いに別個に有していて、さらにプラズマCVDチャンバ
1からガス流スパッタリングチャンバ2へプラスチック
基板7,8を搬送するための搬送装置3を有している。
熱負荷が生じることなしに、引っ掻き防止層と反射防止
層系とを直接に相前後して被着させる。 【解決手段】 当該装置が、引っ掻き防止層を被着させ
るためのプラズマCVDチャンバ1と、反射防止層を被
着させるためのガス流スパッタリングチャンバ2とを互
いに別個に有していて、さらにプラズマCVDチャンバ
1からガス流スパッタリングチャンバ2へプラスチック
基板7,8を搬送するための搬送装置3を有している。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プラスチック基
板、特に眼鏡レンズに、引っ掻き防止層と反射防止層系
とを被着させるための方法であって、この場合、プラズ
マCVD法により引っ掻き防止層を形成するために、各
プラスチック基板から離れて、励起ガス中にプラズマを
発生させ、該励起ガスを管を通じてプラスチック基板に
供給し、それと同時に真空チャンバ内に、パターンを形
成するガスを導入する形式のものに関する。
板、特に眼鏡レンズに、引っ掻き防止層と反射防止層系
とを被着させるための方法であって、この場合、プラズ
マCVD法により引っ掻き防止層を形成するために、各
プラスチック基板から離れて、励起ガス中にプラズマを
発生させ、該励起ガスを管を通じてプラスチック基板に
供給し、それと同時に真空チャンバ内に、パターンを形
成するガスを導入する形式のものに関する。
【0002】さらに本発明は、このような形式の方法を
実施するための装置に関する。
実施するための装置に関する。
【0003】
【従来の技術】このような形式の方法のための重要な使
用事例は、プラスチックから成る眼鏡レンズの被覆もし
くはコーティングである。このような眼鏡レンズは、た
とえばポリカーボネートから成っている。このような眼
鏡レンズは、その他のプラスチック基板と同様に被覆時
に過度に加熱されてはならない。それゆえに、スパッタ
リングによる被覆は問題があり、比較的薄い層の被着の
ためにしか使用することができない。なぜならば、長時
間のスパッタリング過程では、基板の手間のかかる冷却
が行われない限り、眼鏡レンズの熱負荷が大きすぎてし
まうからである。
用事例は、プラスチックから成る眼鏡レンズの被覆もし
くはコーティングである。このような眼鏡レンズは、た
とえばポリカーボネートから成っている。このような眼
鏡レンズは、その他のプラスチック基板と同様に被覆時
に過度に加熱されてはならない。それゆえに、スパッタ
リングによる被覆は問題があり、比較的薄い層の被着の
ためにしか使用することができない。なぜならば、長時
間のスパッタリング過程では、基板の手間のかかる冷却
が行われない限り、眼鏡レンズの熱負荷が大きすぎてし
まうからである。
【0004】プラスチック基板の、望ましくないほど強
力な加熱を行うことなしに、プラスチック基板に比較的
厚い引っ掻き防止層を被着させるためには、既にプラズ
マCVD法が開発されている。この場合、基板から離れ
て、つまり基板から遠ざけられて、プラズマが励起ガス
中に形成され、この励起ガスが真空チャンバ内の管を通
じてプラスチック基板に供給され、そしてパターンを形
成するガスが真空チャンバ内に導入される。このような
方法は、たとえばドイツ連邦共和国特許出願公開第44
14083号明細書に記載されている。
力な加熱を行うことなしに、プラスチック基板に比較的
厚い引っ掻き防止層を被着させるためには、既にプラズ
マCVD法が開発されている。この場合、基板から離れ
て、つまり基板から遠ざけられて、プラズマが励起ガス
中に形成され、この励起ガスが真空チャンバ内の管を通
じてプラスチック基板に供給され、そしてパターンを形
成するガスが真空チャンバ内に導入される。このような
方法は、たとえばドイツ連邦共和国特許出願公開第44
14083号明細書に記載されている。
【0005】種々異なる層をスパッタリングにより1つ
の基板に被着させることができると極めて経済的であ
る。欧州特許出願公開第0699246号明細書に開示
されているように、光学レンズでは、複数の光学レンズ
を順次に連続的に複数のスパッタリングチャンバに供給
し、これらのスパッタリングチャンバ内でそれぞれ1つ
の層を各レンズにスパッタリングにより被着させること
も既に知られている。しかし、基板の熱負荷は慣用のス
パッタリングの場合には、プラスチック基板のためには
たいてい高すぎてしまう。
の基板に被着させることができると極めて経済的であ
る。欧州特許出願公開第0699246号明細書に開示
されているように、光学レンズでは、複数の光学レンズ
を順次に連続的に複数のスパッタリングチャンバに供給
し、これらのスパッタリングチャンバ内でそれぞれ1つ
の層を各レンズにスパッタリングにより被着させること
も既に知られている。しかし、基板の熱負荷は慣用のス
パッタリングの場合には、プラスチック基板のためには
たいてい高すぎてしまう。
【0006】雑誌「サーフェース・アンド・コーティン
グス・テクノロジ(Surfaceand Coati
ngs Technology)」、第59版(199
3年)、第171頁〜第176頁には、酸化アルミニウ
ム層を形成するためのガス流スパッタリング法も既に開
示されている。この方法では、互いに向かい合って位置
する2つのターゲットを備えた1つのスパッタリング電
極が設けられている。両ターゲットの間ではガスが流れ
て、引き続き基板にまで到達する。上記雑誌の当該個所
には、この方法の場合に基板の熱負荷が特に小さくなる
ことが特に強調されている。
グス・テクノロジ(Surfaceand Coati
ngs Technology)」、第59版(199
3年)、第171頁〜第176頁には、酸化アルミニウ
ム層を形成するためのガス流スパッタリング法も既に開
示されている。この方法では、互いに向かい合って位置
する2つのターゲットを備えた1つのスパッタリング電
極が設けられている。両ターゲットの間ではガスが流れ
て、引き続き基板にまで到達する。上記雑誌の当該個所
には、この方法の場合に基板の熱負荷が特に小さくなる
ことが特に強調されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、冒頭
で述べた形式の方法を改善して、プラスチック基板の、
許容し得ないほど高い熱負荷が生じることなしに、引っ
掻き防止層と反射防止層系とを直接に相前後して被着さ
せることのできる方法を提供することである。さらに、
本発明の課題は、このような方法を実施するために適し
た装置を提供することである。
で述べた形式の方法を改善して、プラスチック基板の、
許容し得ないほど高い熱負荷が生じることなしに、引っ
掻き防止層と反射防止層系とを直接に相前後して被着さ
せることのできる方法を提供することである。さらに、
本発明の課題は、このような方法を実施するために適し
た装置を提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明の方法では、反射防止層系の1つまたは複数の
高屈折性(hochbrechend.)の層を形成す
るために、ガス流スパッタリング源(Gas−Sput
terquelle)を使用するようにした。
に本発明の方法では、反射防止層系の1つまたは複数の
高屈折性(hochbrechend.)の層を形成す
るために、ガス流スパッタリング源(Gas−Sput
terquelle)を使用するようにした。
【0009】さらに上記課題を解決するために本発明の
装置の第1の構成では、当該装置が、プラズマCVDチ
ャンバとガス流スパッタリングチャンバとを互いに別個
に有していて、さらにプラズマCVDチャンバからガス
流スパッタリングチャンバへプラスチック基板を搬送す
るための搬送装置を有しているようにした。
装置の第1の構成では、当該装置が、プラズマCVDチ
ャンバとガス流スパッタリングチャンバとを互いに別個
に有していて、さらにプラズマCVDチャンバからガス
流スパッタリングチャンバへプラスチック基板を搬送す
るための搬送装置を有しているようにした。
【0010】さらに上記課題を解決するために本発明の
装置の第2の構成では、当該装置が唯一つの真空チャン
バを有しており、該真空チャンバ内に、2つの管範囲を
形成する2つのスパッタリング電極が、互いに向かい合
って位置するように配置されており、前記真空チャンバ
内に、スパッタリング電極に対して同軸的に、プラズマ
CVD法の励起ガスのための管が案内されており、該管
が軸方向で移動可能であって、スパッタリング電極の内
周面を覆う位置から、スパッタリング電極を解放する位
置へ運動可能に配置されているようにした。
装置の第2の構成では、当該装置が唯一つの真空チャン
バを有しており、該真空チャンバ内に、2つの管範囲を
形成する2つのスパッタリング電極が、互いに向かい合
って位置するように配置されており、前記真空チャンバ
内に、スパッタリング電極に対して同軸的に、プラズマ
CVD法の励起ガスのための管が案内されており、該管
が軸方向で移動可能であって、スパッタリング電極の内
周面を覆う位置から、スパッタリング電極を解放する位
置へ運動可能に配置されているようにした。
【0011】
【発明の効果】本発明による方法では、たいていダウン
ストリーム型プラズマ源と呼ばれる、引っ掻き防止層を
被着させるための装置を使用し、引き続き反射防止層ま
たは高屈折性の層のためのガス流スパッタリング源を使
用することに基づき、両方法段においてプラスチック基
板の熱負荷が小さく保持される。それゆえに、プラスチ
ック基板はそれどころか、それぞれ1つのガス流スパッ
タリング源を有する複数のスパッタリングチャンバを通
過することができ、これにより低屈折性(niedri
gbrechend.)の層と、高屈折性の層とを交互
に被着させることができる。ただし、低屈折性の層はプ
ラズマCVDチャンバにおいて形成することも可能であ
る。
ストリーム型プラズマ源と呼ばれる、引っ掻き防止層を
被着させるための装置を使用し、引き続き反射防止層ま
たは高屈折性の層のためのガス流スパッタリング源を使
用することに基づき、両方法段においてプラスチック基
板の熱負荷が小さく保持される。それゆえに、プラスチ
ック基板はそれどころか、それぞれ1つのガス流スパッ
タリング源を有する複数のスパッタリングチャンバを通
過することができ、これにより低屈折性(niedri
gbrechend.)の層と、高屈折性の層とを交互
に被着させることができる。ただし、低屈折性の層はプ
ラズマCVDチャンバにおいて形成することも可能であ
る。
【0012】プラズマCVD法とスパッタリングとを唯
一つの真空チャンバ内で行い、この場合、スパッタリン
グ源として、互いに向かい合って位置しかつ2つの管範
囲を形成する2つのスパッタリング電極を使用し、プラ
ズマCVD法の際に該スパッタリング電極の内部に、励
起ガスを供給する管を、スパッタリングの際に両スパッ
タリング電極を解放する位置から引き込み、これによっ
て両スパッタリング電極をプラズマCVD法の際の汚染
から保護するようにすると、本発明による方法を実施す
るためにかかる器械的な手間は特に少なくなる。
一つの真空チャンバ内で行い、この場合、スパッタリン
グ源として、互いに向かい合って位置しかつ2つの管範
囲を形成する2つのスパッタリング電極を使用し、プラ
ズマCVD法の際に該スパッタリング電極の内部に、励
起ガスを供給する管を、スパッタリングの際に両スパッ
タリング電極を解放する位置から引き込み、これによっ
て両スパッタリング電極をプラズマCVD法の際の汚染
から保護するようにすると、本発明による方法を実施す
るためにかかる器械的な手間は特に少なくなる。
【0013】本発明による装置の第1の構成は、上述し
たように、当該装置が、プラズマCVDチャンバとガス
流スパッタリングチャンバとを互いに別個に有してい
て、さらにプラズマCVDチャンバからガス流スパッタ
リングチャンバへプラスチック基板を搬送するための搬
送装置を有している。
たように、当該装置が、プラズマCVDチャンバとガス
流スパッタリングチャンバとを互いに別個に有してい
て、さらにプラズマCVDチャンバからガス流スパッタ
リングチャンバへプラスチック基板を搬送するための搬
送装置を有している。
【0014】このような装置は、搬送装置がターンテー
ブルとして形成されていると、特に簡単に形成され得
る。このターンテーブルはそれと同時に、両チャンバの
下側の閉鎖部を形成し、これによって両チャンバをシー
ルすることができる。
ブルとして形成されていると、特に簡単に形成され得
る。このターンテーブルはそれと同時に、両チャンバの
下側の閉鎖部を形成し、これによって両チャンバをシー
ルすることができる。
【0015】2つの別個の真空チャンバの代わりに、本
発明による装置の第2の構成におけるように、当該装置
が唯一つの真空チャンバを有していることも可能であ
る。この場合、この真空チャンバ内には、2つの管範囲
を形成する2つのスパッタリング電極が、互いに向かい
合って位置するように配置されており、前記真空チャン
バ内には、スパッタリング電極に対して同軸的に、プラ
ズマCVD法の励起ガスのための管が案内されており、
プラズマCVD法により該管が軸方向で移動可能であっ
て、スパッタリング電極の内周面を覆う位置から、スパ
ッタリング電極を解放する位置へ運動可能に配置されて
いる。
発明による装置の第2の構成におけるように、当該装置
が唯一つの真空チャンバを有していることも可能であ
る。この場合、この真空チャンバ内には、2つの管範囲
を形成する2つのスパッタリング電極が、互いに向かい
合って位置するように配置されており、前記真空チャン
バ内には、スパッタリング電極に対して同軸的に、プラ
ズマCVD法の励起ガスのための管が案内されており、
プラズマCVD法により該管が軸方向で移動可能であっ
て、スパッタリング電極の内周面を覆う位置から、スパ
ッタリング電極を解放する位置へ運動可能に配置されて
いる。
【0016】
【発明の実施の形態】本発明は種々の構成を可能にする
が、以下に、本発明の基本原理を明瞭にするために、本
発明の2つの実施例を図面につき詳しく説明する。
が、以下に、本発明の基本原理を明瞭にするために、本
発明の2つの実施例を図面につき詳しく説明する。
【0017】図1には、本発明による被覆設備の第1実
施例が示されていて、この場合、プラズマCVD(化学
蒸着)チャンバ1と、ガス流スパッタリングチャンバ2
とが相並んだ状態で図示されている。両チャンバは下方
に対して、ターンテーブルとして形成された搬送装置3
によって閉鎖される。この搬送装置3はプラズマCVD
チャンバ1とガス流スパッタリングチャンバ2との間の
真ん中に配置された軸4を中心として回転可能である。
この搬送装置3には複数の基板収容部5,6が配置され
ており、これらの基板収容部5,6は、光学レンズとし
て形成されたプラスチック基板7,8を保持するために
形成されている。
施例が示されていて、この場合、プラズマCVD(化学
蒸着)チャンバ1と、ガス流スパッタリングチャンバ2
とが相並んだ状態で図示されている。両チャンバは下方
に対して、ターンテーブルとして形成された搬送装置3
によって閉鎖される。この搬送装置3はプラズマCVD
チャンバ1とガス流スパッタリングチャンバ2との間の
真ん中に配置された軸4を中心として回転可能である。
この搬送装置3には複数の基板収容部5,6が配置され
ており、これらの基板収容部5,6は、光学レンズとし
て形成されたプラスチック基板7,8を保持するために
形成されている。
【0018】プラズマCVDチャンバ1内には、上方か
ら管9が案内されている。この管9はプラズマCVDチ
ャンバ1の外部でマイクロ波源10を貫いて貫通案内さ
れている。管9の下方では、プラズマCVDチャンバ1
内に環状管路11が配置されており、この環状管路11
からは、設備の運転時に、パターンを形成するガス、た
とえばシロキサンが流入する。上方からは、励起ガス、
たとえばアルゴン、O 2、N2、CO2またはN2Oが
プラズマCVDチャンバ1に流入させられる。このガス
はマイクロ波源10によってプラズマを形成し、プラズ
マCVDチャンバ1内で、パターンを形成するガスと反
応して、プラスチック基板7に引っ掻き防止層として沈
着する。
ら管9が案内されている。この管9はプラズマCVDチ
ャンバ1の外部でマイクロ波源10を貫いて貫通案内さ
れている。管9の下方では、プラズマCVDチャンバ1
内に環状管路11が配置されており、この環状管路11
からは、設備の運転時に、パターンを形成するガス、た
とえばシロキサンが流入する。上方からは、励起ガス、
たとえばアルゴン、O 2、N2、CO2またはN2Oが
プラズマCVDチャンバ1に流入させられる。このガス
はマイクロ波源10によってプラズマを形成し、プラズ
マCVDチャンバ1内で、パターンを形成するガスと反
応して、プラスチック基板7に引っ掻き防止層として沈
着する。
【0019】ガス流スパッタリングチャンバ2内には、
2つの管状のスパッタリング電極12,13が配置され
ている。両スパッタリング電極12,13は同じ電位ま
たは交流電圧に接続されていてよく、一緒になってほぼ
閉じた1つの管を形成している。この管を通じて、上方
からガス、たとえばアルゴンが、プラスチック基板8に
向かって流入する。両スパッタリング電極12,13
は、たとえばチタンから成るターゲット(図示しない)
を有しているので、酸素の添加によってプラスチック基
板8には二酸化チタンから成る高屈折性(hochbr
echend.)の層が沈着される。軸4を中心にして
搬送装置3を回転させることにより、たとえばプラスチ
ック基板7をプラズマCVDチャンバ1からガス流スパ
ッタリングチャンバ2へ移動させることができる。
2つの管状のスパッタリング電極12,13が配置され
ている。両スパッタリング電極12,13は同じ電位ま
たは交流電圧に接続されていてよく、一緒になってほぼ
閉じた1つの管を形成している。この管を通じて、上方
からガス、たとえばアルゴンが、プラスチック基板8に
向かって流入する。両スパッタリング電極12,13
は、たとえばチタンから成るターゲット(図示しない)
を有しているので、酸素の添加によってプラスチック基
板8には二酸化チタンから成る高屈折性(hochbr
echend.)の層が沈着される。軸4を中心にして
搬送装置3を回転させることにより、たとえばプラスチ
ック基板7をプラズマCVDチャンバ1からガス流スパ
ッタリングチャンバ2へ移動させることができる。
【0020】図2に示した第2実施例は、特に唯一つの
真空チャンバ14しか設けられていない点で、上で説明
した第1実施例と異なっている。この真空チャンバ14
内には、図1に示したガス流スパッタリングチャンバ2
の場合と同様に、管状の2つのスパッタリング電極1
2,13が配置されている。図1に示した第1実施例で
はプラズマCVDチャンバ1内に配置されていた管9
は、図2の第2実施例では両スパッタリング電極12,
13に対して同軸的に配置されている。この管9は図2
に示した位置から下方に向かって、スパッタリング電極
12,13の内周面がこの管9によって完全に覆われる
ようになるまで両スパッタリング電極12,13内に引
き込むことができる。
真空チャンバ14しか設けられていない点で、上で説明
した第1実施例と異なっている。この真空チャンバ14
内には、図1に示したガス流スパッタリングチャンバ2
の場合と同様に、管状の2つのスパッタリング電極1
2,13が配置されている。図1に示した第1実施例で
はプラズマCVDチャンバ1内に配置されていた管9
は、図2の第2実施例では両スパッタリング電極12,
13に対して同軸的に配置されている。この管9は図2
に示した位置から下方に向かって、スパッタリング電極
12,13の内周面がこの管9によって完全に覆われる
ようになるまで両スパッタリング電極12,13内に引
き込むことができる。
【0021】管9の、図2に示した位置においては、真
空チャンバ14内でスパッタリングが行なわれ、この場
合、両スパッタリング電極12,13に電気的なエネル
ギが供給される。この場合、アルゴンが管9を通って流
れる。
空チャンバ14内でスパッタリングが行なわれ、この場
合、両スパッタリング電極12,13に電気的なエネル
ギが供給される。この場合、アルゴンが管9を通って流
れる。
【0022】先行して行われた引っ掻き防止層の形成時
に、管9は、管9の下縁部がスパッタリング電極12,
13の下縁部に到達するまで下方に向かって引き込まれ
ている。これによって管9は、スパッタリング電極1
2,13が、引っ掻き防止層を形成する物質によって被
覆されることを防止している。このような被覆が生じる
と、スパッタリング電極12,13が使用不能になる恐
れがある。
に、管9は、管9の下縁部がスパッタリング電極12,
13の下縁部に到達するまで下方に向かって引き込まれ
ている。これによって管9は、スパッタリング電極1
2,13が、引っ掻き防止層を形成する物質によって被
覆されることを防止している。このような被覆が生じる
と、スパッタリング電極12,13が使用不能になる恐
れがある。
【図1】本発明による被覆設備の第1実施例を示す横断
面図である。
面図である。
【図2】本発明による被覆設備の第2実施例を示す横断
面図である。
面図である。
1 プラズマCVDチャンバ、 2 ガス流スパッタリ
ングチャンバ、 3搬送装置、 4 軸、 5,6 基
板収容部、 7,8 プラスチック基板、9 管、 1
0 マイクロ波源、 11 環状管路、 12,13
スパッタリング電極、 14 真空チャンバ
ングチャンバ、 3搬送装置、 4 軸、 5,6 基
板収容部、 7,8 プラスチック基板、9 管、 1
0 マイクロ波源、 11 環状管路、 12,13
スパッタリング電極、 14 真空チャンバ
Claims (5)
- 【請求項1】 プラスチック基板に、引っ掻き防止層と
反射防止層系とを被着させるための方法であって、この
場合、プラズマCVD法により引っ掻き防止層を形成す
るために、各プラスチック基板から離れて、励起ガス中
にプラズマを発生させ、該励起ガスを管を通じてプラス
チック基板に供給し、それと同時に真空チャンバ内に、
パターンを形成するガスを導入する形式のものにおい
て、反射防止層系の1つまたは複数の高屈折性の層を形
成するために、ガス流スパッタリング源を使用すること
を特徴とする、引っ掻き防止層と反射防止層系とを被着
させるための方法。 - 【請求項2】 プラズマCVD法とスパッタリングとを
唯一つの真空チャンバ内で行い、この場合、スパッタリ
ング源として、互いに向かい合って位置しかつ2つの管
範囲を形成する2つのスパッタリング電極を使用し、プ
ラズマCVD法の際に該スパッタリング電極の内部に、
励起ガスを供給する管を、スパッタリングの際に両スパ
ッタリング電極を解放する位置から引き込み、これによ
って両スパッタリング電極をプラズマCVD法の際の汚
染から保護する、請求項1記載の方法。 - 【請求項3】 請求項1または2記載の方法を実施する
ための装置において、当該装置が、プラズマCVDチャ
ンバ(1)とガス流スパッタリングチャンバ(2)とを
互いに別個に有していて、さらにプラズマCVDチャン
バ(1)からガス流スパッタリングチャンバ(2)へプ
ラスチック基板(7,8)を搬送するための搬送装置
(3)を有していることを特徴とする、引っ掻き防止層
と反射防止層系とを被着させるための装置。 - 【請求項4】 搬送装置(3)がターンテーブルとして
形成されている、請求項3記載の装置。 - 【請求項5】 請求項1または2記載の方法を実施する
ための装置において、当該装置が唯一つの真空チャンバ
(14)を有しており、該真空チャンバ(14)内に、
2つの管範囲を形成する2つのスパッタリング電極(1
2,13)が、互いに向かい合って位置するように配置
されており、前記真空チャンバ(14)内に、スパッタ
リング電極(12,13)に対して同軸的に、プラズマ
CVD法の励起ガスのための管(9)が案内されてお
り、該管(9)が軸方向で移動可能であって、スパッタ
リング電極(12,13)の内周面を覆う位置から、ス
パッタリング電極(12,13)を解放する位置へ運動
可能に配置されていることを特徴とする、引っ掻き防止
層と反射防止層系とを被着させるための装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19834314.0 | 1998-07-30 | ||
DE19834314A DE19834314A1 (de) | 1998-07-30 | 1998-07-30 | Verfahren zum Aufbringen einer Kratzschutzschicht und eines Entspiegelungsschichtsystems und Vorrichtung zu seiner Durchführung |
Publications (1)
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---|---|
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JP2008052911A (ja) * | 2006-08-22 | 2008-03-06 | Shinku Device:Kk | プラズマ照射装置 |
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1998
- 1998-07-30 DE DE19834314A patent/DE19834314A1/de not_active Withdrawn
-
1999
- 1999-07-09 CH CH01267/99A patent/CH694642A5/de not_active IP Right Cessation
- 1999-07-20 IT IT1999MI001599A patent/IT1313191B1/it active
- 1999-07-27 JP JP11212483A patent/JP2000054149A/ja active Pending
- 1999-07-30 US US09/363,850 patent/US6126792A/en not_active Expired - Fee Related
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---|---|
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ITMI991599A1 (it) | 2001-01-20 |
US6126792A (en) | 2000-10-03 |
CH694642A5 (de) | 2005-05-13 |
DE19834314A1 (de) | 2000-02-03 |
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