JP2000005713A - 被処理体処理方法およびその装置 - Google Patents

被処理体処理方法およびその装置

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JP2000005713A
JP2000005713A JP17500598A JP17500598A JP2000005713A JP 2000005713 A JP2000005713 A JP 2000005713A JP 17500598 A JP17500598 A JP 17500598A JP 17500598 A JP17500598 A JP 17500598A JP 2000005713 A JP2000005713 A JP 2000005713A
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processing
valve
liquid
supply pipe
tank
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JP17500598A
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Tokuo Maeda
徳雄 前田
Kannan Ki
冠南 喜
Masao Ono
正雄 大野
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Daikin Industries Ltd
Toho Kasei Co Ltd
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Daikin Industries Ltd
Toho Kasei Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 処理液の必要量を減少させるとともに、処理
液の入れ替え所要時間を短縮させ、ひいては被処理体の
処理のための所要時間を短縮する。 【解決手段】 第1洗浄液を洗浄槽に供給して半導体ウ
エハを洗浄し、次いで、第2洗浄液を洗浄槽に供給し、
第1洗浄液を洗浄槽から押し出して洗浄槽内における洗
浄液の入れ替えを行い、さらに、バルブを動作させて、
第1供給配管における残液を排出するとともに、ドレン
管における残液を排出し、残液の排出が完了した後に、
第2洗浄液を洗浄槽に供給して半導体ウエハを洗浄す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は被処理体処理方法
およびその装置に関し、さらに詳細にいえば、1つの処
理槽内に被処理体を収容した状態で複数種類の処理液を
順次供給して被処理体を処理するための方法およびその
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、1つの洗浄槽内に半導体ウエ
ハを収容した状態で複数種類の洗浄液を順次供給して半
導体ウエハを洗浄するための半導体ウエハ洗浄装置が提
案されている(特開平6−208984号公報参照)。
【0003】この半導体ウエハ洗浄装置は、下部に洗浄
液供給部材と整流部材とを設けて上部を半導体ウエハ収
容空間とした洗浄槽に対して、バルブを介在させた配管
を通して複数種類の洗浄液を順次供給するように構成し
ているとともに、バルブを介在させたドレン管を通して
洗浄槽内の洗浄液を排出するように構成している。
【0004】したがって、1の洗浄液(例えば、洗浄用
薬剤)を洗浄槽内に供給することにより、半導体ウエハ
の洗浄を行い、次いで、他の洗浄液(例えば、純水)を
洗浄槽内に供給して前記1の洗浄液をこの他の洗浄液で
入れ替え、その後、前記他の洗浄液により半導体ウエハ
の洗浄を行うことができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記の構成の半導体ウ
エハ洗浄装置を採用した場合には、1の洗浄液を他の洗
浄液で入れ替える場合に、ドレン管のうち、バルブより
も上流側の部分における洗浄液の入れ替えがスムーズに
行われず、この結果、ドレン管の前記部分に前記1の洗
浄液がある程度残留してしまう。また、1の洗浄液を洗
浄槽に供給する配管と、他の洗浄液を洗浄槽に供給する
配管とは、共有部分と非共有部分とを有しているのであ
るから、非共有部分における洗浄液の入れ替えがスムー
ズに行われず、この結果、非共有部分に前記1の洗浄液
がある程度残留してしまう。
【0006】そして、前記1の洗浄液がある程度残留し
たままで、前記他の洗浄液による半導体ウエハの洗浄を
行うと、前記他の洗浄液中に前記1の洗浄液が混入して
しまうことになる。したがって、このような不都合の発
生を防止しようとすれば、前記1の洗浄液の残留量が0
になるまで洗浄液の入れ替え処理を行わなければなら
ず、前記他の洗浄液の必要量が著しく多くなってしまう
とともに、洗浄液の入れ替え所要時間が著しく長くな
り、ひいては半導体ウエハの洗浄のための所要時間が著
しく長くなってしまう。
【0007】
【発明の目的】この発明は上記の問題点に鑑みてなされ
たものであり、処理液の必要量を減少できるとともに、
処理液の入れ替え所要時間を短縮でき、ひいては被処理
体の処理のための所要時間を短縮できる被処理体処理方
法およびその装置を提供することを目的としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1の被処理体処理
方法は、第1処理液を処理槽内に供給するための第1供
給配管の途中部に第1バルブを介在させて第1供給配管
を、第2バルブを介在させた第1排出配管と接続し、処
理槽の所定位置に設けたドレン管開口を、第3バルブと
接続し、他の処理液を処理槽内に供給するための第4バ
ルブを介在させた第2供給配管を第1供給配管の下流側
所定位置と接続し、第1処理液を処理槽に供給して被処
理体の処理を行った後に、第1の処理液を前記他の処理
液で入れ替えて被処理体の処理を行うに当って、第1バ
ルブを閉じるとともに第4バルブを開き、前記他の処理
液で第1供給配管の下流側のうち第2供給配管接続位置
よりも下流側を充填してから、第1バルブを操作して第
1供給配管の下流側のうち第2供給配管接続位置よりも
上流側と第1排出配管とを連通するとともに、第2バル
ブを開き、第1供給配管の下流側のうち第2供給配管接
続位置よりも上流側に存在する第1処理液の残液を前記
他の処理液で排除し、この残液を完全に排出した後に第
2バルブを閉じ、第1供給配管の下流側のうち第2供給
配管接続位置よりも下流側を経て処理槽内に流入する他
の処理液がドレン管開口の上方に溜まってから、第3バ
ルブを開いてドレン管にある第1処理液の残液を排出
し、この残液を完全に排出した後におよび第3バルブを
閉じ、その後に、処理槽内に前記他の処理液を連続的に
供給して被処理体の処理を行う方法である。
【0009】請求項2の被処理体処理装置は、第1処理
液を処理槽内に供給するための第1供給配管の途中部に
第1バルブを介在させて第1供給配管を、第2バルブを
介在させた第1排出配管と接続してあり、処理槽の所定
位置に設けたドレン管開口を、第3バルブと接続してあ
り、他の処理液を処理槽内に供給するための第4バルブ
を介在させた第2供給配管を第1供給配管の下流側所定
位置と接続してあり、第1処理液を処理槽に供給して被
処理体の処理を行った後に、第1の処理液を前記他の処
理液で入れ替えて被処理体の処理を行うに当って、第1
バルブを閉じるとともに第4バルブを開き、前記他の処
理液で第1供給配管の下流側のうち第2供給配管接続位
置よりも下流側を充填してから、第1バルブを操作して
第1供給配管の下流側のうち第2供給配管接続位置より
も上流側と第1排出配管とを連通するとともに、第2バ
ルブを開き、第1供給配管の下流側のうち第2供給配管
接続位置よりも上流側に存在する第1処理液の残液を前
記他の処理液で排除し、この残液を完全に排出した後に
第2バルブを閉じる第1バルブ制御手段と、第1供給配
管の下流側のうち第2供給配管接続位置よりも下流側を
経て処理槽内に流入する他の処理液がドレン管開口の上
方に溜まってから、第3バルブを開いてドレン管にある
第1処理液の残液を排出し、この残液を完全に排出した
後におよび第3バルブを閉じ、処理槽内に前記他の処理
液を連続的に供給して被処理体の処理を行う第2バルブ
制御手段とを含むものである。
【0010】
【作用】請求項1の被処理体処理方法であれば、1つの
処理槽内に被処理体を収容した状態で複数種類の処理液
を順次供給して被処理体を処理するために、第1処理液
を処理槽内に供給するための第1供給配管の途中部に第
1バルブを介在させて第1供給配管を、第2バルブを介
在させた第1排出配管と接続し、処理槽の所定位置に設
けたドレン管開口を、第3バルブと接続し、他の処理液
を処理槽内に供給するための第4バルブを介在させた第
2供給配管を第1供給配管の下流側所定位置と接続して
おき、第1処理液を処理槽に供給して被処理体の処理を
行った後に、第1の処理液を前記他の処理液で入れ替え
て被処理体の処理を行うに当って、第1バルブを閉じる
とともに第4バルブを開き、前記他の処理液で第1供給
配管の下流側のうち第2供給配管接続位置よりも下流側
を充填してから、第1バルブを操作して第1供給配管の
下流側のうち第2供給配管接続位置よりも上流側と第1
排出配管とを連通するとともに、第2バルブを開き、第
1供給配管の下流側のうち第2供給配管接続位置よりも
上流側に存在する第1処理液の残液を前記他の処理液で
排除し、この残液を完全に排出した後に第2バルブを閉
じ、第1供給配管の下流側のうち第2供給配管接続位置
よりも下流側を経て処理槽内に流入する他の処理液がド
レン管開口の上方に溜まってから、第3バルブを開いて
ドレン管にある第1処理液の残液を排出し、この残液を
完全に排出した後におよび第3バルブを閉じ、その後
に、処理槽内に前記他の処理液を連続的に供給して被処
理体の処理を行うのであるから、上述のようにバルブ操
作を行うことにより、前記第1処理液を前記他の処理液
で完全に入れ替えるための処理をスムーズにすることが
でき、前記他の処理液の必要量を少なくすることができ
るとともに、入れ替えの所要時間を短縮することがで
き、ひいては全体としての処理所要時間を短縮すること
ができる。
【0011】請求項2の被処理体処理装置であれば、1
つの処理槽内に被処理体を収容した状態で複数種類の処
理液を順次供給して被処理体を処理するために、第1処
理液を処理槽内に供給するための第1供給配管の途中部
に第1バルブを介在させて第1供給配管を、第2バルブ
を介在させた第1排出配管と接続してあり、処理槽の所
定位置に設けたドレン管開口を、第3バルブと接続して
あり、他の処理液を処理槽内に供給するための第4バル
ブを介在させた第2供給配管を第1供給配管の下流側所
定位置と接続してある。
【0012】そして、第1処理液を処理槽に供給して被
処理体の処理を行った後に、第1の処理液を前記他の処
理液で入れ替えて被処理体の処理を行うに当って、第1
バルブ制御手段によって、第1バルブを閉じるとともに
第4バルブを開き、前記他の処理液で第1供給配管の下
流側のうち第2供給配管接続位置よりも下流側を充填し
てから、第1バルブを操作して第1供給配管の下流側の
うち第2供給配管接続位置よりも上流側と第1排出配管
とを連通するとともに、第2バルブを開き、第1供給配
管の下流側のうち第2供給配管接続位置よりも上流側に
存在する第1処理液の残液を前記他の処理液で排除し、
この残液を完全に排出した後に第2バルブを閉じ、第2
バルブ制御手段によって、第1供給配管の下流側のうち
第2供給配管接続位置よりも下流側を経て処理槽内に流
入する他の処理液がドレン管開口の上方に溜まってか
ら、第3バルブを開いてドレン管にある第1処理液の残
液を排出し、この残液を完全に排出した後におよび第3
バルブを閉じ、処理槽内に前記他の処理液を連続的に供
給して被処理体の処理を行うことができる。
【0013】したがって、上述のようにバルブ操作を行
うことにより、前記第1処理液を前記他の処理液で完全
に入れ替えるための処理をスムーズにすることができ、
前記他の処理液の必要量を少なくすることができるとと
もに、入れ替えの所要時間を短縮することができ、ひい
ては全体としての処理所要時間を短縮することができ
る。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、この
発明の被処理体処理方法およびその装置の実施の態様を
詳細に説明する。
【0015】図1はこの発明の被処理体処理装置の一実
施態様の半導体ウエハ洗浄装置を示す概略図である。
【0016】この半導体ウエハ洗浄装置は、底壁をテー
パ状に形成してなる洗浄槽1の底部所定位置に洗浄液供
給部材2を設け、洗浄液供給部材2よりも上方の所定位
置に整流部材3を設けて、半導体ウエハ収容空間を形成
している。そして、第1洗浄液タンク4から洗浄液供給
部材2に向かって第1洗浄液を供給する第1供給配管5
の所定位置に三方バルブ(第1バルブ)6を設け、この
三方バルブ6に対して、第2バルブ7を介在させた第1
排出配管8を接続している。また、第2洗浄液を収容す
る第2洗浄液タンク9と、第1供給配管5の三方バルブ
6よりも下流側の所定位置との間に、第4バルブ10を
介在させた第2供給配管11を接続している。さらに、
洗浄槽1の底壁の最も低い箇所に形成したドレン管開口
に対して、第3バルブ12を介在させたドレン管(第2
排出配管)13を接続している。
【0017】なお、第1排出配管8、ドレン管13は、
それぞれ廃液タンク14、15と接続されている。ま
た、洗浄槽1からオーバーフローした洗浄液を回収する
ための配管など(図示せず)を有している。そして、矢
印が洗浄液の流れを示している。
【0018】図2は図1の半導体ウエハ洗浄装置の処理
の要部(第1バルブ制御手段、及び第2バルブ制御手段
の処理を含む)を説明するフローチャートである。
【0019】ステップSP1において、三方バルブ6を
操作して、第1洗浄液タンク4から第1洗浄液を洗浄液
供給部材2に供給可能とし、しかも、第2バルブ7、第
3バルブ12および第4バルブ10を閉じて、第1洗浄
液を洗浄槽1に供給し、ステップSP2において、図示
しない半導体ウエハ搬入出装置(図示せず)を動作させ
て半導体ウエハ収容空間に半導体ウエハ16を搬入し、
ステップSP3において、第1洗浄液を洗浄槽1に供給
しつつ、洗浄槽1の上部からオーバーフローさせながら
半導体ウエハ16を洗浄する(オーバーフロー洗浄を行
う)。
【0020】次いで、ステップSP4において、三方バ
ルブ6を操作して、第1供給配管5の下流側と第1排出
配管8とを連通させるとともに、第4バルブ10を開い
て、第2洗浄液を洗浄槽1に供給し、第1洗浄液を洗浄
槽1から押し出す(オーバーフローさせる)ことにより
洗浄槽1内における洗浄液の入れ替えを行い、ステップ
SP5において、第2バルブ7、および第3バルブ12
を開くことにより、第1供給配管5の下流側のうち、第
2供給配管11の接続部よりも上流側における残液を廃
液タンク14に排出するとともに、ドレン管13におけ
る残液を廃液タンク15に排出し、残液の排出が完了し
た後に、ステップSP6において、第2バルブ7、およ
び第3バルブ12を閉じ、ステップSP7において、第
2洗浄液を洗浄槽1に供給しつつ、洗浄槽1の上部から
オーバーフローさせながら半導体ウエハ16を洗浄し
(オーバーフロー洗浄を行い)、そのまま一連の処理を
終了する。
【0021】以上の一連の処理を行えば、洗浄槽1内に
おける洗浄液の入れ替えを行った後に、または同時に、
第2バルブ7、および第3バルブ12を開いて残液を排
出するのであるから、短時間で洗浄液の完全な入れ替え
を達成することができ、第2洗浄液の必要量を少なくす
ることができる。この結果、半導体ウエハ16を洗浄す
るための所要時間を短縮することができる。
【0022】図3はこの発明の被処理体処理装置の他の
実施態様の半導体ウエハ洗浄装置を示す概略図である。
【0023】この半導体ウエハ洗浄装置が図1の半導体
ウエハ洗浄装置と異なる点は、洗浄槽1の側壁の最下端
部にドレン管開口を形成し、このドレン管開口に対し
て、第3バルブ12を介在させたドレン管13を接続し
た点のみである。
【0024】したがって、この実施態様を採用した場合
にも、上記の実施態様と同様の作用を達成することがで
きる。
【0025】図4はこの発明の被処理体処理装置のさら
に他の実施態様の半導体ウエハ洗浄装置を示す概略図で
ある。
【0026】この半導体ウエハ洗浄装置が図1の半導体
ウエハ洗浄装置と異なる点は、洗浄槽1の側壁の最下端
部にドレン管開口を形成し、このドレン管開口に対し
て、直接に第3バルブ12を接続した点のみである。
【0027】したがって、この実施態様を採用した場合
にも、ドレン管開口、第3バルブ12に残液が生じるの
であるから、上記の実施態様と同様の作用を達成するこ
とができる。
【0028】なお、以上には、半導体ウエハ洗浄方法お
よびその装置についてのみ説明したが、半導体ウエハ以
外の被洗浄体に適用することが可能であるほか、複数種
類の処理液を順次処理槽に供給して被処理体の処理を行
うことも可能であり、その他、この発明の要旨を変更し
ない範囲内において種々の設計変更を施すことが可能で
ある。
【0029】
【発明の効果】請求項1の発明は、第1処理液を前記他
の処理液で完全に入れ替えるための処理をスムーズにす
ることができ、前記他の処理液の必要量を少なくするこ
とができるとともに、入れ替えの所要時間を短縮するこ
とができ、ひいては全体としての処理所要時間を短縮す
ることができるという特有の効果を奏する。
【0030】請求項2の発明も、第1処理液を前記他の
処理液で完全に入れ替えるための処理をスムーズにする
ことができ、前記他の処理液の必要量を少なくすること
ができるとともに、入れ替えの所要時間を短縮すること
ができ、ひいては全体としての処理所要時間を短縮する
ことができるという特有の効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の被処理体処理装置の一実施態様の半
導体ウエハ洗浄装置を示す概略図である。
【図2】図1の半導体ウエハ洗浄装置の処理の要部を説
明するフローチャートである。
【図3】この発明の被処理体処理装置の他の実施態様の
半導体ウエハ洗浄装置を示す概略図である。
【図4】この発明の被処理体処理装置のさらに他の実施
態様の半導体ウエハ洗浄装置を示す概略図である。
【符号の説明】
1 洗浄槽 5 第1供給配管 6 三方バルブ 7 第2バルブ 8 第1排出配管 10 第4バルブ 11 第2供給配管 12 第3バルブ 16 半導体ウエハ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 喜 冠南 大阪府堺市金岡町1304番地 ダイキン工業 株式会社金岡工場内 (72)発明者 大野 正雄 大阪府堺市金岡町1304番地 ダイキン工業 株式会社金岡工場内 Fターム(参考) 3B201 AA03 BB03 BB22 BB95

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 1つの処理槽(1)内に被処理体(1
    6)を収容した状態で複数種類の処理液を順次供給して
    被処理体(16)を処理する被処理体処理方法であっ
    て、 第1処理液を処理槽(1)内に供給するための第1供給
    配管(5)の途中部に第1バルブ(6)を介在させて第
    1供給配管(5)を、第2バルブ(7)を介在させた第
    1排出配管(8)と接続し、 処理槽(1)の所定位置に設けたドレン管開口を、第3
    バルブ(12)と接続し、 他の処理液を処理槽(1)内に供給するための第4バル
    ブ(10)を介在させた第2供給配管(11)を第1供
    給配管(5)の下流側所定位置と接続し、 第1処理液を処理槽(1)に供給して被処理体(16)
    の処理を行った後に、第1の処理液を前記他の処理液で
    入れ替えて被処理体(16)の処理を行うに当って、第
    1バルブ(6)を閉じるとともに第4バルブ(10)を
    開き、前記他の処理液で第1供給配管(5)の下流側の
    うち第2供給配管(11)接続位置よりも下流側を充填
    してから、第1バルブ(6)を操作して第1供給配管
    (5)の下流側のうち第2供給配管(11)接続位置よ
    りも上流側と第1排出配管(8)とを連通するととも
    に、第2バルブ(7)を開き、第1供給配管(5)の下
    流側のうち第2供給配管(11)接続位置よりも上流側
    に存在する第1処理液の残液を前記他の処理液で排除
    し、この残液を完全に排出した後に第2バルブ(7)を
    閉じ、 第1供給配管(5)の下流側のうち第2供給配管(1
    1)接続位置よりも下流側を経て処理槽(1)内に流入
    する他の処理液がドレン管開口の上方に溜まってから、
    第3バルブ(12)を開いてドレン管(13)にある第
    1処理液の残液を排出し、この残液を完全に排出した後
    におよび第3バルブ(12)を閉じ、 その後に、処理槽(1)内に前記他の処理液を連続的に
    供給して被処理体(16)の処理を行うことを特徴とす
    る被処理体処理方法。
  2. 【請求項2】 1つの処理槽(1)内に被処理体(1
    6)を収容した状態で複数種類の処理液を順次供給して
    被処理体(16)を処理する被処理体処理装置であっ
    て、 第1処理液を処理槽(1)内に供給するための第1供給
    配管(5)の途中部に第1バルブ(6)を介在させて第
    1供給配管(5)を、第2バルブ(7)を介在させた第
    1排出配管(8)と接続してあり、 処理槽(1)の所定位置に設けたドレン管開口を、第3
    バルブ(12)と接続してあり、 他の処理液を処理槽(1)内に供給するための第4バル
    ブ(10)を介在させた第2供給配管(11)を第1供
    給配管(5)の下流側所定位置と接続してあり、 第1処理液を処理槽(1)に供給して被処理体(16)
    の処理を行った後に、第1の処理液を前記他の処理液で
    入れ替えて被処理体(16)の処理を行うに当って、第
    1バルブ(6)を閉じるとともに第4バルブ(10)を
    開き、前記他の処理液で第1供給配管(5)の下流側の
    うち第2供給配管(11)接続位置よりも下流側を充填
    してから、第1バルブ(6)を操作して第1供給配管
    (5)の下流側のうち第2供給配管(11)接続位置よ
    りも上流側と第1排出配管(8)とを連通するととも
    に、第2バルブ(7)を開き、第1供給配管(5)の下
    流側のうち第2供給配管(11)接続位置よりも上流側
    に存在する第1処理液の残液を前記他の処理液で排除
    し、この残液を完全に排出した後に第2バルブ(7)を
    閉じる第1バルブ制御手段と、 第1供給配管(5)の下流側のうち第2供給配管(1
    1)接続位置よりも下流側を経て処理槽(1)内に流入
    する他の処理液がドレン管開口の上方に溜まってから、
    第3バルブ(12)を開いてドレン管(13)にある第
    1処理液の残液を排出し、この残液を完全に排出した後
    におよび第3バルブ(12)を閉じ、処理槽(1)内に
    前記他の処理液を連続的に供給して被処理体(16)の
    処理を行う第2バルブ制御手段とを含むことを特徴とす
    る被処理体処理装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009135519A (ja) * 2009-02-23 2009-06-18 Seiko Epson Corp 半導体製造システム、制御装置、半導体製造システムの制御方法、及び処理液の回収方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009135519A (ja) * 2009-02-23 2009-06-18 Seiko Epson Corp 半導体製造システム、制御装置、半導体製造システムの制御方法、及び処理液の回収方法

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