FR2987170A1 - Boitier et dispositif electroniques - Google Patents
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Abstract
Boîtier électronique comprenant une plaque de substrat (2) incluant un réseau d'interconnexions (6), une première puce (7) fixée sur une face avant de la plaque et reliée audit réseau d'interconnexions par des fils (11), un bloc d' encapsulation (12) de ladite première puce et des fils électriques sur la face avant de la plaque, une seconde puce (14) placée au-dessus d'une face arrière de la plaque de substrat et reliée audit réseau d'interconnexions par d'éléments arrière de connexion (15) interposés entre la face arrière de la plaque et une face avant de la seconde puce, et des éléments avant de connexion (18) placés sur la face avant de la plaque et reliés audit réseau d'interconnexions, ces éléments (18) s'étendant au-delà de la face frontale (13) dudit bloc d'encapsulation (12). Le boîtier peut être monté sur une carte, une matière conductrice de la chaleur étant interposée entre le boîtier et la carte.
Description
GRB11-5959FR 1 Boîtier et dispositif électroniques La présente invention concerne le domaine des boîtiers électroniques incluant des puces de circuits intégrés. Il est habituel de monter des puces de circuits intégrés de traitements de signaux, tels que des décodeurs de signaux vidéo incluant des unités de calcul, sur des cartes de grandes dimensions incluant des réseaux de connexions électriques et de monter sur ces cartes, à proximité desdites puces de traitements de signaux, des puces de circuits intégrés incluant des mémoires reliées aux puces de traitements de signaux par l'intermédiaire des réseaux de connexions électriques des cartes. Dans le cas où, en particulier pour des raisons de quantités de mémoires nécessaires, plusieurs puces de mémoires doivent être reliées à une puce de traitements de signaux, la quantité de connexions électriques nécessaire entre ces puces impose que le réseau de connexions électriques de la carte contienne plusieurs niveaux métalliques, généralement quatre, et inclut des ponts contenant des vias entre ces niveaux pour l'obtention de croisements. Une telle disposition engendre une difficulté de fabrication de la carte et un coût élevé de cette dernière. De plus, les interconnexions entre les mémoires et les circuits de traitement sont soumises à de nombreuses contraintes de routage liées à la fréquence élevée des signaux, à l'existence de paires différentielles, à la maîtrise des impédances et à l'ajustement des longueurs des connexions. En outre, il se pose des problèmes d'évacuation de la chaleur produite. La présente invention a pour but de réduire les inconvénients ci-dessus.
Il est proposé un boîtier électronique qui comprend une plaque de substrat incluant un réseau d'interconnexions électriques d'une face à l'autre, au moins une première puce de circuits intégrés fixée sur une face avant de la plaque de substrat et reliée audit réseau d'interconnexions par des fils de connexion électrique, un bloc d'encapsulation de ladite première puce et des fils de connexion électrique sur la face avant de la plaque de substrat, ce bloc d'encapsulation présentant une face frontale parallèle à la plaque de substrat, au moins une seconde puce de circuits intégrés placée au-dessus d'une face arrière de la plaque de substrat et reliée audit réseau d'interconnexions par l'intermédiaire d'éléments arrière de connexion électriques interposés entre la face arrière de la plaque de substrat et une face avant de la seconde puce, et une pluralité d'éléments avant de connexion électrique placés sur la face avant de la plaque de substrat, à la périphérie et à distance dudit bloc d'encapsulation et reliés audit réseau d'interconnexions, ces éléments avant de connexion électrique s'étendant vers l'avant au-delà de la face frontale dudit bloc d' encapsulation. La face frontale dudit bloc d'encapsulation peut être recouverte d'une matière conductrice de la chaleur.
La face frontale dudit bloc d'encapsulation peut présenter des aspérités ou irrégularités de surface. Selon une variante d'exécution, la première puce de circuits intégrés peut comprendre au moins une unité de traitements de signaux et la seconde puce de circuits intégrés peut comprendre au moins une unité de mémoires. Il est également proposé un dispositif électronique qui comprend un boîtier comme proposé ci-dessus et une carte de montage présentant une face de montage et munie d'un réseau de connexion électrique, dans lequel les éléments avant de connexion électrique sont reliés à ce réseau de connexion électrique sur ladite face de montage de la carte de montage et la face frontale du bloc d'encapsulation est à distance de cette face de montage et dans lequel une matière conductrice de la chaleur est interposée entre le bloc d'encapsulation et la carte de montage.
Il est également proposé un dispositif électronique qui comprend une carte de montage présentant une face de montage et munie d'un réseau de connexion électrique et qui comprend un boîtier électronique comprenant une plaque de substrat incluant un réseau d'interconnexions électriques, au moins une première puce de circuits intégrés fixée sur une face avant de la plaque de substrat et reliée audit réseau d'interconnexions par des fils de connexion électrique, un bloc d'encapsulation de ladite première puce sur la face avant de la plaque de substrat, une pluralité d'éléments avant de connexion électrique placés entre la face avant de la plaque de substrat, à la périphérie et à distance dudit bloc d'encapsulation, et une face de montage de la carte de montage. Dans ce dispositif électronique, une face frontale du bloc d'encapsulation, parallèle à la plaque de substrat est à distance de la face de montage de la carte de montage et une matière conductrice de la chaleur est interposée entre le bloc d'encapsulation et la carte de montage. La matière conductrice de la chaleur peut être interposée entre la face avant de la plaque de substrat et la carte de montage, en noyant les éléments avant de connexion électrique. La carte de montage peut présenter une pluralité de passages traversants situés en vis-à-vis de la face frontale du bloc d'encapsulation, la matière conductrice de la chaleur remplissant au moins partiellement ces passages traversants et l'espace entre la face frontale du bloc d'encapsulation et la face de montage de la carte de montage.
La matière conductrice de la chaleur peut par exemple être une graisse thermique. Un boîtier électronique et un dispositif électronique vont maintenant être décrits à titre d'exemples non limitatifs, illustrés sur le dessin dans lequel : - la figure 1 représente une coupe d'un boîtier électronique ; - la figure 2 représente une coupe d'un dispositif électronique incluant le boîtier électronique de la figure 1 ; - et la figure 3 représente une vue faciale du dispositif électronique opposée audit boîtier électronique.
Un boîtier électronique 1 illustré sur la figure 1 comprend une plaque de substrat 2 présentant une face avant 3 et une face arrière 4 et incluant, dans une matière isolante 5, un réseau d'interconnexions électriques 6 d'une face à l'autre. Le boîtier électronique 1 comprend une première puce de circuits intégrés 7 dont une face arrière est fixée sur la partie centrale de la face avant 3 de la plaque de substrat 2 par l'intermédiaire d'une couche de colle (non représentée). Des plots de connexion électrique 9 aménagés sur une face avant de la puce 7 sont reliés à des plots avant de connexion électrique 10 du réseau d'interconnexions 6 aménagés sur la face avant 3 de la plaque de substrat 2, par l'intermédiaire de fils de connexion électrique 11, par soudage des extrémités de ces fils 11. Ces fils de connexion électrique 11 peuvent être disposés sur deux couches. Le boîtier électronique 1 comprend un bloc d'encapsulation 12, par exemple en une résine époxy obtenue par contre-moulage, formé sur la face avant 3 de la plaque de substrat 2, dans lequel sont noyés la puce 7 et les fils de connexion électrique 11, ce bloc d'encapsulation 12 présentant une face frontale 13 parallèle à la face avant 3 de la plaque de substrat 2.
Le boîtier électronique 1 comprend en outre deux secondes puces de circuits intégrés 14 et des éléments arrière de connexion électrique 15, tels que des billes, interposés entre la face arrière 4 de la plaque de substrat et une face avant des secondes puces 14. Des plots arrière de connexion électrique 16 du réseau d'interconnexions 6 aménagés sur la face arrière 4 de la plaque de substrat 2 sont reliés par soudage aux éléments arrière de connexion électrique 15 et des plots avant de connexion électrique 17 sont prévus sur les faces avant des secondes puces 14 et sont reliés par soudage aux éléments arrière de connexion électrique 15.
Le boîtier électronique 1 comprend en outre une pluralité d'éléments avant de connexion électrique 18 placés sur la face avant 3 de la plaque de substrat 2, à la périphérie et à distance du bloc d'encapsulation 12 et sur des plots avant 19 du réseau d'interconnexions 6. Ces éléments avant de connexion électrique 18 s'étendent vers l'avant au-delà du plan incluant la face frontale 13 du bloc d'encapsulation 12, avec un écart e, et peuvent être formés par des billes ou des colonnes. Sur la figure 2 est illustré un dispositif électronique 100 qui comprend une carte 101 incluant un réseau de connexion électrique 102 et sur laquelle est monté le boîtier électronique 1.
Le boîtier électronique 1 est placé dans une position telle que la face frontale 13 du bloc d'encapsulation 12 est située à une distance f de et parallèlement à une face de montage 103 de la carte de montage 101, tandis que les éléments avant de connexion électrique 18 sont soudés sur des plots de connexion électriques 104 du réseau de connexion électrique 102, aménagés sur la face 103 de la carte de montage 101. Comme illustré sur les figures 2 et 3, dans une zone située en vis-à-vis du bloc d'encapsulation 12, la carte de montage 101 présente une pluralité de passages traversants 105, par exemple obtenus par perçage, par exemple répartis selon une matrice. Le dispositif électronique 100 comprend en outre une matière conductrice de la chaleur 106 qui remplit au moins partiellement l'espace entre la face frontale 13 du bloc d'encapsulation 12 et la face de montage 103 de la carte 101 et au moins partiellement les passages traversants 105. La matière conductrice de la chaleur 106 pourrait également remplir, au moins partiellement, l'espace entre la face avant 3 de la plaque de substrat 2 et la face 103 de la carte 101, en noyant les éléments avant de connexion électrique 18. Par exemple, la matière conductrice de la chaleur 105 peut être une graisse thermique éventuellement chargée de particules métalliques. Ainsi, la chaleur produite notamment par la puce 7 peut être diffusée dans la carte de montage 101 pour être évacuée. Afin d'améliorer les échanges thermiques, la face frontale 13 du bloc d'encapsulation 12 peut être recouverte d'une couche métallique et/ou présenter des moyens d'augmentation des surfaces d'échanges thermiques tels que des aspérités et/ou des irrégularités de surface sous la forme de rainures ou nervures, directement obtenues lors du moulage du bloc d'encapsulation 12.
Selon un exemple d'application, la première puce de circuits intégrés 7 peut comprendre au moins une unité de traitements de signaux et les secondes puces de circuits intégrés 14 peuvent comprendre au moins une unité de mémoires, en particulier pour le traitement de signaux vidéo.
Grâce au fait que les puces 7 et 14 sont embarquées sur la plaque de substrat 2 dont la surface est réduite par rapport à la surface de la carte de montage 101, le boîtier 1 peut faire l'objet d'une fabrication spécifique permettant de maîtriser les caractéristiques électriques du réseau d'interconnexions électriques 6 de la plaque de substrat 2, notamment dans le but de respecter des contraintes élevées en ce qui concerne la longueur et l'impédance des liaisons entre les puces 7 et 14 via ce réseau 6, sans que ces contraintes soient appliquées lors de la fabrication du réseau de connexion électrique 102 de la carte de montage 101. Par exemple, le réseau d'interconnexions électriques 6 de la plaque de substrat 2 peut être réalisé sur quatre niveaux métalliques, tandis que le réseau de connexion électrique 102 de la carte de montage 101 peut être réalisé sur un ou deux niveaux métalliques. Ainsi, le dispositif électronique 100 peut être obtenu à un coût avantageux. Selon une variante de réalisation, les puces 14 pourraient être supprimées. La présente invention ne se limite pas aux exemples ci-dessus décrits. Bien d'autres variantes de réalisation sont possibles, sans sortir du cadre défini par les revendications annexées.
Claims (9)
- REVENDICATIONS1. Boîtier électronique comprenant : une plaque de substrat (2) incluant un réseau d'interconnexions électriques (6) d'une face à l'autre, au moins une première puce de circuits intégrés (7) fixée sur une face avant de la plaque de substrat et reliée audit réseau d'interconnexions par des fils de connexion électrique (11), un bloc d'encapsulation (12) de ladite première puce et des fils de connexion électrique sur la face avant de la plaque de substrat, ce bloc d'encapsulation présentant une face frontale parallèle à la plaque de substrat, au moins une seconde puce de circuits intégrés (14) placée au-dessus d'une face arrière de la plaque de substrat et reliée audit réseau d'interconnexions par l'intermédiaire d'éléments arrière de connexion électriques (15) interposés entre la face arrière de la plaque de substrat et une face avant de la seconde puce, et une pluralité d'éléments avant de connexion électrique (18) placés sur la face avant de la plaque de substrat, à la périphérie et à distance dudit bloc d'encapsulation et reliés audit réseau d'interconnexions, ces éléments avant de connexion électrique (18) s'étendant vers l'avant au-delà de la face frontale (13) dudit bloc d' encapsulation (12).
- 2. Boîtier selon la revendication 1, dans lequel la face frontale (13) dudit bloc d'encapsulation est recouverte d'une matière conductrice de la chaleur (106).
- 3. Boîtier selon l'une des revendications 1 et 2, dans lequel la face frontale dudit bloc d'encapsulation présente des aspérités ou irrégularités de surface.
- 4. Boîtier selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la première puce de circuits intégrés (7) comprend au moins une unité de traitements de signaux et la seconde puce de circuits intégrés (14) comprend au moins une unité de mémoires.
- 5. Dispositif électronique comprenant un boîtier selon l'une quelconque des revendications précédentes et une carte de montage (101) présentant une face de montage (103) et munie d'un réseau de connexion électrique (102), dans lequel les éléments avant de connexion électrique (18) sont reliés à ce réseau de connexion électrique (102) sur ladite face de montage (103) de la carte de montage et la face frontale (13) du bloc d'encapsulation (12) est à distance de cette face de montage (103) et dans lequel une matière conductrice de la chaleur (14) est interposée entre le bloc d'encapsulation (12) et la carte de montage (101).
- 6. Dispositif électronique comprenant une carte de montage (101) présentant une face de montage (103) et munie d'un réseau de connexion électrique (102) et comprenant un boîtier électronique comprenant une plaque de substrat (2) incluant un réseau d'interconnexions électriques (6), au moins une première puce de circuits intégrés (7) fixée sur une face avant de la plaque de substrat et reliée audit réseau d'interconnexions par des fils de connexion électrique (11), un bloc d'encapsulation (12) de ladite première puce sur la face avant de la plaque de substrat, une pluralité d'éléments avant de connexion électrique (18) placés entre la face avant de la plaque de substrat, à la périphérie et à distance dudit bloc d'encapsulation, et une face de montage (103) de la carte de montage (101), dans lequel une face frontale (13) du bloc d'encapsulation (12), parallèle à la plaque de substrat (2) est à distance de la face de montage (103) de la carte de montage (101) et dans lequel une matière conductrice de la chaleur (14) est interposée entre le bloc d'encapsulation (12) et la carte de montage (101).
- 7. Dispositif selon l'une des revendications 5 et 6, dans lequel la matière conductrice de la chaleur (14) est interposée entre la face avant (3) de la plaque de substrat (2) et la carte de montage (101), en noyant les éléments avant de connexion électrique (18).
- 8. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 5 à 7, dans lequel la carte de montage (101) présente une pluralité de passages traversants (105) situés en vis-à-vis de la face frontale (13)du bloc d'encapsulation (12), la matière conductrice de la chaleur remplissant au moins partiellement ces passages traversants et l'espace entre la face frontale (13) du bloc d'encapsulation (12) et la face de montage (103) de la carte de montage (101).
- 9. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 5 à 8, dans lequel la matière conductrice de la chaleur est une graisse thermique.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR1251504A FR2987170A1 (fr) | 2012-02-17 | 2012-02-17 | Boitier et dispositif electroniques |
US13/654,850 US9006904B2 (en) | 2012-02-17 | 2012-10-18 | Dual side package on package |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR1251504A FR2987170A1 (fr) | 2012-02-17 | 2012-02-17 | Boitier et dispositif electroniques |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FR2987170A1 true FR2987170A1 (fr) | 2013-08-23 |
Family
ID=45894580
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FR1251504A Pending FR2987170A1 (fr) | 2012-02-17 | 2012-02-17 | Boitier et dispositif electroniques |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9006904B2 (fr) |
FR (1) | FR2987170A1 (fr) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US10074630B2 (en) | 2015-04-14 | 2018-09-11 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with high routing density patch |
US10553563B2 (en) | 2018-05-30 | 2020-02-04 | Epistar Corporation | Electronic device |
KR20210059470A (ko) | 2019-11-15 | 2021-05-25 | 삼성전자주식회사 | 반도체 패키지 및 PoP 타입 패키지 |
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2012
- 2012-02-17 FR FR1251504A patent/FR2987170A1/fr active Pending
- 2012-10-18 US US13/654,850 patent/US9006904B2/en active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20130214425A1 (en) | 2013-08-22 |
US9006904B2 (en) | 2015-04-14 |
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