ES2559407T3 - Método y dispositivo para diagnosticar un problema en una función de detección - Google Patents

Método y dispositivo para diagnosticar un problema en una función de detección Download PDF

Info

Publication number
ES2559407T3
ES2559407T3 ES04029109.8T ES04029109T ES2559407T3 ES 2559407 T3 ES2559407 T3 ES 2559407T3 ES 04029109 T ES04029109 T ES 04029109T ES 2559407 T3 ES2559407 T3 ES 2559407T3
Authority
ES
Spain
Prior art keywords
signal
sensor
chip microcomputer
excitation
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
ES04029109.8T
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeo Nomura
Tomoyuki Sakai
Sumitaka Ogawa
Yoshiaki Takeuchi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Honda Motor Co Ltd
Original Assignee
Honda Motor Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Honda Motor Co Ltd filed Critical Honda Motor Co Ltd
Application granted granted Critical
Publication of ES2559407T3 publication Critical patent/ES2559407T3/es
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D18/00—Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D3/00—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
    • G01D3/08—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for safeguarding the apparatus, e.g. against abnormal operation, against breakdown
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C25/00—Manufacturing, calibrating, cleaning, or repairing instruments or devices referred to in the other groups of this subclass
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C9/00—Measuring inclination, e.g. by clinometers, by levels
    • G01C9/02—Details
    • G01C9/06—Electric or photoelectric indication or reading means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C9/00—Measuring inclination, e.g. by clinometers, by levels
    • G01C9/18—Measuring inclination, e.g. by clinometers, by levels by using liquids
    • G01C9/20—Measuring inclination, e.g. by clinometers, by levels by using liquids the indication being based on the inclination of the surface of a liquid relative to its container
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C9/00—Measuring inclination, e.g. by clinometers, by levels
    • G01C9/02—Details
    • G01C9/06—Electric or photoelectric indication or reading means
    • G01C2009/062—Electric or photoelectric indication or reading means capacitive

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Abstract

Un método de diagnosis de avería de una función de detección en un aparato para controlar una salida mediante el uso de un microordenador (14; 24) de un solo chip que recibe una señal eléctrica procedente de un sensor (12; 22), para convertir una cantidad física en la señal eléctrica, en donde un circuito (11; 21) de excitación para excitar el sensor (12; 22), es excitado por una señal de excitación emitida desde el microordenador (14; 24) de un solo chip; y el mencionado microordenador (14: 24) de un solo chip recibe una señal eléctrica, en la base del sensor durante el funcionamiento normal emitiendo dicha señal de excitación, caracterizado porque el mencionado microordenador de un solo chip recibe una señal eléctrica preliminarmente esperada del sensor (12; 22) variando la frecuencias de la señal de excitación, y se diagnostica una avería de la función de detección cuando no se recibe la señal eléctrica esperada durante la variación de la frecuencia de la señal de excitación.

Description

5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
DESCRIPCION
Metodo y dispositivo para diagnosticar un problema en una funcion de deteccion
La presente invencion se relaciona con un metodo y un dispositivo de diagnosis de averlas de una funcion de deteccion, en un aparato para el control de salida con un microordenador de un solo chip al que suministra una senal electrica emitida desde un sensor, para convertir una cantidad flsica en una senal electrica.
La DE 198 53 063 A1 describe un circuito de excitacion que suministra una senal de FB (retroalimentacion) que tiene una frecuencia predeterminada para excitar electrodos para vibrar un vibrador. Un circuito de deteccion de la velocidad angular detecta un movimiento vibratorio causado en una direccion normal a una direccion de oscilacion del vibrador basandose en una senal de deteccion de electrodos de deteccion de velocidad angular, generando de esta manera una senal de velocidad angular. Un circuito de entrada de senal suministra una senal de diagnostico que tiene una frecuencia diferente de la de la senal de FB, la cual se introduce en el vibrador a traves de diagnostico de electrodos. Un circuito de diagnostico genera una senal de averla basandose en una senal sensible a la senal de diagnostico que se obtiene de al menos uno de los electrodos de excitacion y los electrodos de deteccion de velocidad angular.
La US-A-5 900 529 describe un aparato y un metodo asociado para las pruebas de un ensamblaje sensor de aceleracion, el cual es preferiblemente un ensamblaje de acelerometro. Un excitador electrico se acciona en respuesta a una senal de excitacion de un generador de senal. El excitador aplica la excitacion oscilante al ensamblaje de acelerometro. Una excitacion inicial se aplica al ensamblaje de acelerometro por el excitador. La frecuencia de la excitacion inicial se varla en un rango de frecuencias a traves de una senal de una funcion de barrido rango de frecuencia al generador de senales. La salida del ensamblaje de acelerometro se monitoriza durante la aplicacion de la excitacion inicial sobre el rango de frecuencias. Se almacena un valor de frecuencia asociado con una respuesta predeterminada en la salida del ensamblaje de acelerometro. El excitador subsecuentemente aplica una excitacion oscilante de prueba en el valor de la frecuencia almacenada al ensamblaje de acelerometro. La salida del ensamblaje de acelerometro se monitoriza durante la aplicacion de la excitacion de prueba. Una funcion de determinacion determina si la salida del ensamblaje de acelerometro provee la respuesta predeterminada durante la aplicacion de la excitacion de prueba y provee una senal de salida indicativa de la determinacion.
En referencia a la figura 7, se explica un ejemplo convencional de un sistema de diagnosis de averlas de una funcion de deteccion. Una senal S1 de salida procedente de un circuito 1 de excitacion es introducida en un sensor 2, y el sensor 2 es excitado. El sensor 2 convierte una cantidad flsica en una senal electrica, y envla una senal de salida del sensor S2. La senal de salida del sensor S2 es introducida en un circuito 3 de interfaz. El circuito 3 de interfaz procesa la senal de salida del sensor S2, en una senal que sea reconocida por un microordenador 4 de un solo chip, y emite una senal S3 electrica (senal digital).
El microordenador 4 de un solo chip convierte la senal S3 electrica recibida desde el circuito 3 de interfaz, en una senal S4 de control que tiene una funcion especificada por un programa almacenado previamente en una memoria 4A, y la emite a un circuito 5 de salida. El circuito 5 de salida excita una carga 6 en funcion de la senal S4 de excitacion.
La senal S2 del sensor de salida se fija usualmente dentro de cierto rango de salida, de la salida del sensor. Sin embargo, si se produce un problema funcional en el sensor 2 y la senal S2 de salida no se resuelve dentro del rango de salida, la senal S3 electrica procedente del circuito 3 de interfaz se sale del rango de entrada del microordenador 4 de un solo chip. Por consiguiente, el microordenador 4 de un solo chip emite una senal de averla S5. Cuando recibe la senal de averla S5, el circuito 5 de salida enciende una luz de averla 7. Como resultado, si la senal S2 de salida del sensor no se estabiliza dentro del rango de salida, puede detectarse tal problema funcional del sensor.
Sin embargo, a pesar del problema en la funcion del sensor, si la senal de salida del sensor S2 se conforma dentro del rango de salida, no se sabe que senal se produce cuando la senal S3 electrica es emitida desde el circuito 3 de interfaz, y es diflcil detectar una averla de la funcion de deteccion.
Es un objetivo de la invencion presentar un metodo y un dispositivo para diagnosis de averlas de la funcion de deteccion, capaz de detectar problemas en la funcion de deteccion incluso si una senal de salida del sensor, emitida desde el sensor, se estabiliza dentro de cierto rango de salida.
De acuerdo con un aspecto de la invencion, se provee un metodo de diagnosis de averla de la funcion de deteccion en un aparato para controlar una salida mediante el uso de un microordenador de un solo chip que recibe una senal electrica procedente de un sensor para convertir una cantidad flsica en la senal electrica, en el que un circuito de accionamiento para accionar el sensor esta impulsado por una senal de excitacion emitida desde el microordenador de un solo chip; y dicho microordenador de un solo chip recibe una senal electrica sobre la base del sensor durante el funcionamiento normal mediante la emision de dicha senal de excitacion, y recibe una senal electrica esperada preliminarmente por el sensor mediante la variacion de la frecuencia de la senal de excitacion; y falla de la funcion
de deteccion se diagnostica cuando no se recibe la senal electrica esperada durante la variacion de la frecuencia de la senal de excitacion.
De acuerdo con otro aspecto de la invencion, se provee un dispositivo de diagnosis de averia de la funcion de deteccion para uso en un aparato de control de salida, dicho dispositivo incluye un sensor para convertir una 5 cantidad fisica en una senal electrica y emitir dicha senal electrica, y un microordenador de un solo chip para controlar la salida mediante la recepcion de la senal electrica, que comprende: un circuito de excitacion para excitar el sensor, como controlado por una senal de control emitida desde el microordenador de un solo chip, en donde dicho microordenador de un solo chip esta dispuesto para cambiar la frecuencia de la senal de excitacion que se va a suministrar por el circuito de excitacion y para detectar si la salida del sensor es una senal electrica esperada 10 preliminar o no, por lo tanto para diagnosticar fallos de la funcion de deteccion.
Breve descripcion de los dibujos
La figura 1 es un diagrama de bloques, que muestra un sistema de diagnosis de averias de una funcion de deteccion, en una realizacion de la invencion;
la figura 2 es un diagrama de flujo que muestra un esbozo del funcionamiento del microordenador de un solo chip;
15 la figura 3 es un diagrama de bloques que muestra un sistema de diagnosis de averias de un sensor de inclination, en un ejemplo especifico de la invencion;
las figuras 4A a 4C son diagramas que muestran la relation entre el electrodo del sensor de inclinacion y el nivel de Kquido de la solution dielectrica;
la figura 5 es un diagrama caracteristico de tension de salida, correspondiente al angulo del sensor de inclinacion de 20 la figura 3;
la figura 6 es un diagrama caracteristico de tension de salida, correspondiente al angulo del sensor de inclinacion de la figura 3, que muestra la dependencia con la frecuencia; y
la figura 7 es un diagrama de bloques, que muestra un sistema de diagnosis de averias en un sensor de deteccion, en el arte previo.
25 A continuation se describe un metodo de diagnosis de averias de una funcion de deteccion, en un aparato para controlar una salida mediante el uso de un microordenador de un solo chip que recibe una senal electrica procedente de un sensor, para convertir una cantidad fisica en la senal electrica, donde un circuito de excitacion para excitar el sensor, es excitado por una senal de excitacion emitida desde el microordenador de un solo chip.
A continuacion tambien se describe un dispositivo de diagnosis de averias de una funcion de deteccion, en un 30 aparato de control de salida que incluye un sensor para convertir una cantidad fisica en una senal electrica y emitirla, y un microordenador de un solo chip para controlar la salida mediante la recepcion de la senal electrica, que comprende el circuito de excitacion para excitar el sensor, que esta controlado por una senal de control emitida desde el microordenador de un solo chip, donde el microordenador de un solo chip diagnostica la averia de la funcion de deteccion, mediante el control del funcionamiento del circuito de excitacion.
35 De acuerdo con lo anterior, es posible detectar problemas de la funcion de deteccion incluso si el rango de salida del sensor se estabiliza dentro de un rango de salida.
En referencia ahora a los dibujos se describe a continuacion la invencion especificamente. La figura 1 es un diagrama de bloques de un sistema de diagnosis de averias de una funcion de deteccion, en una realizacion de la invencion.
40 En el dibujo, un microordenador 14 de un solo chip emite una senal S16 de excitacion (por ejemplo, una senal de reloj) de acuerdo con un programa almacenado previamente en una memoria 14A, y la senal S16 de excitacion es introducida en un circuito 11 de excitacion. Una senal S1 de salida del circuito 11 de excitacion es introducida en un sensor 12, y el sensor 12 es excitado. El sensor 12 convierte la cantidad fisica en una senal electrica, y emite una senal S12 de salida del sensor. La senal S12 de salida del sensor es introducida en un circuito 13 de interfaz. El 45 circuito 13 de interfaz procesa la senal S12 de salida del sensor, transformandola en una senal que va a ser reconocida en el microordenador 14 de un solo chip, y se emite una senal S13 electrica (senal digital).
El microordenador 14 de un solo chip convierte la senal S13 electrica recibida desde el circuito 13 de interfaz, en una senal S14 de control que tiene una funcion especificada por el programa almacenado en la memoria 14A, y la emite a un circuito 15 de salida. Un circuito 15 de salida excita una carga 16 en funcion de la senal S14 de control.
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
Cuando el microordenador 14 de un solo chip detiene el circuito 11 de excitacion mediante la senal S16 de excitacion, el sensor 12 emite una senal especifica de salida del sensor S12, predeterminada. El circuito 13 de interfaz, al recibir la senal especifica de salida del sensor S12 emite una correspondiente senal S13 electrica especifica (senal digital).
Supongase que a pesar del problema en el sensor 12, desde el sensor 12 esta siendo emitida una senal de salida del sensor S12 dentro de cierto rango de salida. En este caso, cuando el circuito 11 de excitacion se detiene mediante la detention de la senal S16 de excitacion procedente del microordenador 14 de un solo chip, no se emite desde el sensor 12 la senal especifica de salida del sensor S12, predeterminada y, asi, no se emite la senal especifica de salida del sensor S13 desde el circuito 13 de interfaz. Como resultado, el microordenador 14 de un solo chip estima que el sensor 12 esta defectuoso y emite una senal de averia S15 al circuito 15 de salida. A continuation, el circuito 15 de salida enciende una luz 17 de averia.
Al mismo tiempo, debido al problema del sensor 12, si la senal de salida del sensor S12 no se estabiliza dentro del rango de salida la senal S13 electrica procedente del circuito 13 de interfaz se sale del rango de entrada del microordenador 14 de un solo chip. Por consiguiente, el microordenador 14 de un solo chip emite una senal de averia S15 para encender la luz 17 de averia, realizando de ese modo una diagnosis de averia que es la misma que en el arte previo.
La figura 2 es un diagrama de flujo que explica el funcionamiento del microordenador 14 de un solo chip. En la etapa
51 se estima el modo de diagnosis de averia, y si se estima negativamente (modo de ejecucion), al pasar a la etapa
52 es excitado el circuito 11 de excitacion. En la etapa S3 se estima si la senal S13 electrica procedente del circuito 13 de interfaz esta, o no, dentro del rango de salida especifico. Si la estimation es afirmativa, al pasar a la etapa S4 se estima que el sensor 12 esta en estado normal. En la etapa S5 se excita la carga 16 y en la etapa S6 se estima si se recibe, o no, la orden de finalization de la excitacion del sensor 12. Si la estimacion es afirmativa la operation se termina, pero si la estimacion es negativa el proceso vuelve a la etapa S1. Asi, en funcionamiento normal se repite las etapas S1 a S6, pero si en la etapa S3 la estimacion es negativa el microordenador 14 de un solo chip estima que el sensor 12 tiene un problema de funcionamiento, y pasa a la etapa S12 para encender la luz 17 de averia.
Si en la etapa S1 se ha estimado afirmativamente entrar en modo de diagnosis de averias, al pasar a la etapa S8 el microordenador 14 de un solo chip detiene el funcionamiento del circuito 11 de excitacion. En la etapa S9 se estima si la senal S13 electrica procedente de circuito 13 de interfaz es, o no, un valor especifico predeterminado, y si la estimacion es afirmativa el proceso pasa a la etapa S10 y se estima que el sensor 12 esta en estado normal. Si la estimacion es negativa en el paso S9, al pasar a la etapa S11 se estima que el sensor 12 esta en un estado anomalo. El proceso pasa a la etapa S12 y se enciende la luz 17 de averia.
De esta forma, el microordenador 14 de un solo chip detecta la averia del sensor 12.
Se describira ahora un ejemplo concreto de la invention. La figura 3 es un diagrama de bloques de un dispositivo para el control de salida que utiliza un sensor de inclination, para detectar la inclination del nivel de liquido de una solution dielectrica como un cambio en la capacidad electrostatica, donde el angulo de inclinacion del sensor de inclinacion controlado por la senal de excitacion emitida desde el microordenador de un solo chip, se convierte en una senal electrica, y esta senal electrica es introducida en el microordenador de un solo chip.
El microordenador 24 de un solo chip genera una senal S26 de reloj mediante un programa previamente almacenado en una memoria 24A, y proporciona la senal S26 de reloj a un circuito 21 regulador (por ejemplo, un inversor C-MOS) como circuito de excitacion. El circuito 21 regulador determina la forma de onda de la senal S26 de reloj, y por ejemplo corrige la falta de definition de la forma de onda. La senal S21 de reloj conformada, es suministrada a un sensor 22 de inclinacion.
El sensor 22 de inclinacion detecta la inclinacion de la solucion dielectrica, como un cambio en la capacitancia electrostatica. El sensor 22 de inclinacion se compone de capacitancias 22C, 22D electrostaticas que cambian en funcion de la inclinacion, y de convertidores 22A, 22B de C-V (capacitancia-voltaje) para convertir las dos capacitancias electrostaticas en tensiones, y las tensiones V1, V2 de salida se producen respectivamente a partir de los convertidores 22A, 22B de C-V. De esta forma, el angulo de inclinacion se convierte en (V2-V1). El principio y la estructura del sensor 22 de inclinacion son conocidos, y se explican aqui solo brevemente.
La figura 4A, la figura 4B y la figura 4C son diagramas esquematicos del sensor 22 de inclinacion y la inclinacion [theta]. El sensor 22 de inclinacion comprende un electrodo 30 comun, un primer electrodo 31a semicircular, y un segundo electrodo 31b que tiene ambos extremos en corte, y una solucion 34 dielectrica contenida en el espacio formado por el electrodo 30 comun y los primero y segundo electrodos 31a, 31b. El electrodo 30 comun y los primero y segundo electrodos 31a, 31b se disponen paralelos entre si, a intervalos especificos.
A la inclinacion 0 = 0 que se muestra la figura 4A, el nivel de riquido 34a de la solucion 34 dielectrica no alcanza el primer electrodo 31a, mientras que el segundo electrodo 31b esta sumergido por completo. Por consiguiente la diferencia entre la capacidad electrostatica C1 del primer electrodo 31a y la capacidad electrostatica C2 del segundo
5
10
15
20
25
30
35
40
45
electrodo 31b es maxima, y el valor absoluto de (V1-V2) es maximo. A continuation, a 0 > 0 o 0 < 0, como se muestra respectivamente en las figuras 4B y 4C, el valor absoluto de la diferencia entre la capacidad electrostatica C1 del primer electrodo 31a y la capacidad electrostatica C2 del segundo electrodo 31b, disminuye cuando el valor de 0 se incrementa en sentidos positivo o negativo.
Por otra parte, cuando se incrementa la inclination 0 en sentidos positivo o negativo, el valor absoluto de (V2-V1) disminuye de acuerdo con una funcion cuadratica.
Un circuito 23 amplificador como el circuito de interfaz, se compone de dos amplificadores 23A, 23B operacionales, una tension 23C de referencia (Vref) y resistencias 23D a 23G (R1 a R4), y se suministra tensiones V1, V2 de salida del sensor 22 de inclinacion, respectivamente a los amplificadores 23A, 23B operacionales. La senal S23 de salida del circuito 23 amplificador, se expresa en la siguiente formula (1).
S23 = - [ (R1 + 1)/R2] x |V2 - Vl| + Vref ... (1)
donde R1 = R2 y R2 = R3.
Aqul, la senal S23 de salida es ajustada y emitida como una ganancia que puede ser reconocida por el microordenador 24 de un solo chip, de acuerdo con la relation entre R1 y R2. Por ejemplo, se fija en un rango de tension de 1V a 4V. El valor absoluto de (V2 - V1) cambia de acuerdo con una funcion cuadratica.
El microordenador 24 de un solo chip reconoce el angulo de inclinacion mediante introducir la senal S23 de salida en el programa almacenado previamente en la memoria 24A, y emite una senal S24 de salida al circuito 25 de salida. El circuito 25 de salida excita la carga 26 en funcion de la senal S24 de salida. La senal S23 de salida se fija para ser emitida dentro de cierto rango de tension (por ejemplo de 1V a 4V). Si el sensor 22 de inclinacion emite tensiones anomalas V1, V2 y la tension de salida de la senal S23 de salida esta fuera del rango de tension preestablecido, el microordenador 24 de un solo chip estima que el sensor 22 de inclinacion esta defectuoso, mediante el programa almacenado en la memoria 24A. Como resultado, se emite una senal S25 de averla y, a traves del circuito 25 de salida, se enciende la luz 27 de averla.
Si bien el sensor 22 de inclinacion es excitado por la senal S21 de reloj, cuando se detiene la senal S21 de reloj (fija en H o L), la tension de salida (V1 -V2) del sensor 22 de inclinacion se hace de 0 V, y la senal S23 de salida se convierte en S23 = Vref, de acuerdo con la formula (1). Es decir, mientras que el sensor 22 de inclinacion esta en estado normal, si la senal S21 de reloj se detiene se introduce una tension especlfica Vref en el microordenador 24 de un solo chip.
En otras palabras, si la tension de la senal S23 de salida cuando el microordenador 24 de un solo chip detiene la senal S26 de reloj, es un valor esperado de Vref, la funcion del sensor es normal, y si no es el valor esperado, es decir es una tension distinta respecto de Vref, la funcion del sensor es anomala y se estima la existencia de un problema.
La sensibilidad del sensor de inclinacion para detectar la inclinacion de la solution dielectrica como el cambio en la capacidad electrostatica dependen de la frecuencia de reloj. De acuerdo con lo anterior, en otro metodo de diagnosis de averlas, mediante la variation de la frecuencia sin detener el reloj, se cambia la sensibilidad del sensor de inclinacion, y se puede obtener un valor esperado.
La figura 5 es un diagrama que muestra la tension de salida correspondiente a un angulo tlpico, cuando la salida del sensor de inclinacion para detectar la inclinacion de la solucion dielectrica como un cambio en la capacidad electrostatica, se amplifica en un circuito amplificador diferencial. En el diagrama, la llnea (a) muestra la caracterlstica cuando el microordenador 24 de un solo chip deja de enviar la senal S21 de reloj (modo de diagnosis de averla), y la curva (b) muestra la caracterlstica cuando el microordenador 24 de un solo chip esta enviando la senal S21 de reloj (modo de ejecucion). Como se muestra en el diagrama, en el modo de ejecucion, si se tiene que el angulo de inclinacion 0 = 0, la tension de salida es la minima, y si el angulo de inclinacion 0 se incrementa en los sentidos positivo o negativo, esta se incrementa de acuerdo con una funcion cuadratica.
La figura 6 es un diagrama que muestra la dependencia con la frecuencia, cuando la salida del sensor de inclinacion para detectar la inclinacion de la solucion como un cambio en la capacidad electrostatica, se amplifica en un circuito amplificador diferencial. Como se muestra en el diagrama, cuando la frecuencia de reloj se reduce, la caracterlstica de la tension de salida se desplaza hacia arriba.
Aplicabilidad Industrial
Como se ha descrito aqul, de acuerdo con la invencion, puede verificarse la funcion de deteccion, mediante el programa almacenado previamente en el microordenador de un solo chip, y se lleva a cabo una pronta diagnosis de averla de la funcion del sensor y la notificacion de averla al exterior, y se impide un funcionamiento incorrecto y se mejora la seguridad.
5 La invencion no esta limitada solo a la realizacion ilustrada, sino que puede ser cambiada y modificada de diversas formas de acuerdo con el principio de la invencion, y por lo tanto estos cambios y modificaciones tambien estan incluidos en el alcance de la invencion.
De acuerdo con la invencion, puesto que la funcion de deteccion puede ser chequeada por el programa almacenado previamente en el microordenador de un solo chip, se consiguen una pronta diagnosis de averla de la funcion de 10 deteccion y la notificacion de la averla al exterior.

Claims (5)

  1. 5
    10
    15
    20
    25
    REIVINDICACIONES
    1. Un metodo de diagnosis de averla de una funcion de deteccion en un aparato para controlar una salida mediante el uso de un microordenador (14; 24) de un solo chip que recibe una senal electrica procedente de un sensor (12; 22), para convertir una cantidad flsica en la senal electrica, en donde un circuito (11; 21) de excitacion para excitar el sensor (12; 22), es excitado por una senal de excitacion emitida desde el microordenador (14; 24) de un solo chip; y el mencionado microordenador (14: 24) de un solo chip recibe una senal electrica, en la base del sensor durante el funcionamiento normal emitiendo dicha senal de excitacion, caracterizado porque el mencionado microordenador de un solo chip recibe una senal electrica preliminarmente esperada del sensor (12; 22) variando la frecuencias de la senal de excitacion, y se diagnostica una averla de la funcion de deteccion cuando no se recibe la senal electrica esperada durante la variacion de la frecuencia de la senal de excitacion.
  2. 2. El metodo de diagnosis de averla de la reivindicacion 1, en donde el mencionado microordenador (14; 24) de un solo chip tiene un programa previamente almacenado y ejecuta la diagnosis de averla de la funcion de deteccion.
  3. 3. Un dispositivo de diagnosis de averla de una funcion de deteccion, para utilizar en un aparato de control de salida, incluyendo el mencionado dispositivo un sensor (12; 22) para convertir una cantidad flsica en una senal electrica, y emitir la mencionada senal electrica, y un microordenador (14; 24) de un solo chip para controlar la salida recibiendo la senal electrica, que comprende:
    un circuito de excitacion (11; 21) para excitar el sensor (12; 22), estando controlado por una senal de control (S16; S26) emitida desde el microordenador (14; 24) de un solo chip,
    caracterizado porque el mencionado microordenador (14; 24) de un solo chip esta dispuesto para cambiar la frecuencia de la senal (S11; S21) de excitacion que se va a suministrar al circuito (11; 21) de excitacion, y para detectar si la salida del sensor es, o no, una senal electrica preliminarmente esperada y para diagnosticar de ese modo una averla de la funcion de deteccion.
  4. 4. El dispositivo de diagnosis de averla de una funcion de deteccion de la reivindicacion 3, en donde el circuito de excitacion se compone de un circuito (21) regulador, dispuesto para conformar una forma de onda de la senal procedente del microordenador (24) de un solo chip.
  5. 5. El dispositivo de diagnosis de averla de una funcion de deteccion de la reivindicacion 3, que comprende un circuito (13: 23) de interfaz para amplificar la senal procedente del sensor, y luego enviarla al microordenador (14; 24) de un solo chip.
ES04029109.8T 2000-07-04 2001-06-20 Método y dispositivo para diagnosticar un problema en una función de detección Expired - Lifetime ES2559407T3 (es)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000202503A JP4633234B2 (ja) 2000-07-04 2000-07-04 センサ機能の故障診断方法
JP2000202503 2000-07-04

Publications (1)

Publication Number Publication Date
ES2559407T3 true ES2559407T3 (es) 2016-02-12

Family

ID=18700023

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
ES04029109.8T Expired - Lifetime ES2559407T3 (es) 2000-07-04 2001-06-20 Método y dispositivo para diagnosticar un problema en una función de detección
ES01941109T Expired - Lifetime ES2293999T3 (es) 2000-07-04 2001-06-20 Metodo y dispositivo para diagnosticar un problema en una funcion de deteccion.

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
ES01941109T Expired - Lifetime ES2293999T3 (es) 2000-07-04 2001-06-20 Metodo y dispositivo para diagnosticar un problema en una funcion de deteccion.

Country Status (11)

Country Link
US (1) US6882157B2 (es)
EP (2) EP1515116B1 (es)
JP (1) JP4633234B2 (es)
KR (1) KR100456802B1 (es)
CN (1) CN1181315C (es)
AR (1) AR028774A1 (es)
DE (1) DE60131830T2 (es)
ES (2) ES2559407T3 (es)
MY (1) MY124907A (es)
TW (1) TWI276781B (es)
WO (1) WO2002003030A1 (es)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4103781B2 (ja) * 2003-11-19 2008-06-18 トヨタ自動車株式会社 負荷駆動回路における異常監視装置
WO2006033163A1 (ja) * 2004-09-22 2006-03-30 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha 負荷駆動回路における異常監視装置および異常監視方法
US7358720B1 (en) * 2006-01-25 2008-04-15 Simmonds Precision Products, Inc. Proximity sensor interface
CN101680761B (zh) * 2008-04-04 2011-10-12 松下电器产业株式会社 传感器装置
US8788233B2 (en) * 2011-01-18 2014-07-22 General Electric Company Diagnostic system and method for a thermistor amplifier circuit
AU2012323392A1 (en) 2011-10-12 2014-04-24 3M Innovative Properties Company Integrated microneedle array delivery system
US9465683B2 (en) * 2014-07-07 2016-10-11 Infineon Technologies Ag Apparatus and a method for providing an error signal for a control unit
CN105252994B (zh) * 2014-07-10 2017-11-17 重庆长安铃木汽车有限公司 一种电动车ptc加热***及其故障诊断方法
CN104597826B (zh) * 2014-12-31 2018-03-27 广东戈兰玛汽车***有限公司 一种传感器***
CN109324280B (zh) * 2018-09-10 2021-02-05 北京和利时智能技术有限公司 一种驱动输出电路及诊断方法
CN111196227B (zh) * 2018-11-19 2021-09-07 宝沃汽车（中国）有限公司 传感器信号监控方法、装置及车辆
CN112798180A (zh) * 2021-01-04 2021-05-14 珠海格力电器股份有限公司 力传感器的故障检测方法及计算机可读存储介质
CN114941990A (zh) * 2022-05-31 2022-08-26 杭州海康机器人技术有限公司 传感器自检方法、装置、电子设备及机器可读存储介质

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5827420B2 (ja) * 1978-06-06 1983-06-09 株式会社デンソー 自動車用自動変速制御方法および装置
US4350039A (en) * 1980-05-14 1982-09-21 Honeywell Inc. Liquid gaging system null balance circuitry
JPH0769999B2 (ja) * 1987-06-12 1995-07-31 富士電機株式会社 多点入力信号変換装置
JPH01155056A (ja) * 1987-12-14 1989-06-16 Hitachi Ltd センサの断線・短絡検出装置
US5506454A (en) * 1991-03-20 1996-04-09 Hitachi, Ltd. System and method for diagnosing characteristics of acceleration sensor
JPH06146968A (ja) * 1992-11-11 1994-05-27 Mitsubishi Electric Corp 空燃比制御装置
JP2997143B2 (ja) * 1993-02-03 2000-01-11 松下電器産業株式会社 電動パワーステアリング装置
JPH0712667A (ja) * 1993-06-29 1995-01-17 Hitachi Ltd 物理量センサおよび物理量センサシステム
JPH07139968A (ja) * 1993-11-18 1995-06-02 Toyota Motor Corp 変位測定装置
JPH07181042A (ja) * 1993-12-22 1995-07-18 Nissan Motor Co Ltd 角速度センサの故障診断装置
US5479716A (en) * 1994-07-12 1996-01-02 Design & Test Technology, Inc. Capacitive based gravity sensor
JPH09218040A (ja) * 1996-02-14 1997-08-19 Nissan Motor Co Ltd 角速度センサの自己診断方法
JPH09304427A (ja) * 1996-05-21 1997-11-28 Tokai Rika Co Ltd センサ及び物理量検出装置
JP3273892B2 (ja) * 1996-07-04 2002-04-15 株式会社山武 流速検出装置
DE19636415B4 (de) 1996-09-07 2007-12-27 Robert Bosch Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung der Funktionsweise eines Kohlenwasserstoffsensors für eine Brennkraftmaschine
US5900529A (en) 1997-07-10 1999-05-04 Trw Inc. Apparatus and method for testing an acceleration sensor
DE19853063B4 (de) 1997-11-18 2011-07-28 DENSO CORPORATION, Aichi-pref. Winkelgeschwindigkeitssensor und Diagnosesystem dafür
ID23161A (id) * 1997-12-09 2000-03-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd Sensor inklinasi
US6304091B1 (en) * 1998-02-10 2001-10-16 Immersion Corporation Absolute position sensing by phase shift detection using a variable capacitor
US6388453B1 (en) * 1999-01-25 2002-05-14 Bryan D. Greer Swept-frequency dielectric moisture and density sensor

Also Published As

Publication number Publication date
EP1229304B1 (en) 2007-12-12
MY124907A (en) 2006-07-31
DE60131830T2 (de) 2008-11-27
CN1383482A (zh) 2002-12-04
KR20020029757A (ko) 2002-04-19
ES2293999T3 (es) 2008-04-01
US20030132756A1 (en) 2003-07-17
DE60131830D1 (de) 2008-01-24
JP2002022484A (ja) 2002-01-23
TWI276781B (en) 2007-03-21
CN1181315C (zh) 2004-12-22
JP4633234B2 (ja) 2011-02-16
EP1229304A1 (en) 2002-08-07
EP1515116A2 (en) 2005-03-16
KR100456802B1 (ko) 2004-11-10
EP1229304A4 (en) 2004-05-19
AR028774A1 (es) 2003-05-21
US6882157B2 (en) 2005-04-19
EP1515116B1 (en) 2015-12-23
EP1515116A3 (en) 2007-03-21
EP1515116A9 (en) 2007-09-26
WO2002003030A1 (fr) 2002-01-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ES2559407T3 (es) Método y dispositivo para diagnosticar un problema en una función de detección
JP5222457B2 (ja) センサおよびセンサモジュール
US8375790B2 (en) Physical quantity detection apparatus, method of controlling physical quantity detection apparatus, abnormality diagnosis system, and abnormality diagnosis method
EP3535067A1 (en) Ultrasonic lens cleaning system with impedance monitoring to detect faults or degradation
JPH11258092A (ja) 物理量測定装置
JP2000009475A (ja) 角速度検出装置
US6389897B1 (en) Vibratory gyroscopes and method for manufacturing the same
JP2010286370A (ja) 物理量検出装置、物理量検出装置の異常診断システム及び物理量検出装置の異常診断方法
JP2006170714A (ja) 地絡検出装置、地絡検出装置の閾値設定方法
EP1152216A2 (en) Vibrator
US20160290828A1 (en) Method for inspecting Physical Quantity Sensor and Method for Manufacturing Physical Quantity Sensor
JPH09218040A (ja) 角速度センサの自己診断方法
JP2010286371A (ja) 物理量検出装置、物理量検出装置の異常診断システム及び物理量検出装置の異常診断方法
JPH1151655A (ja) 圧電振動ジャイロおよびそれに使用される自己診断回路
CN111610344A (zh) 传感器模块、传感器***及惯性传感器的异常判定方法
US11982530B2 (en) Sensor array and method for operating a sensor array
JP4831650B2 (ja) サーボ型センサの診断方法およびサーボ型センサ
JP2010286369A (ja) 物理量検出装置、物理量検出装置の異常診断システム及び物理量検出装置の異常診断方法
JP2024000117A (ja) 物理量検出回路及び物理量センサー
JPH05133755A (ja) 診断機能付振動ジヤイロ
JP2019100710A (ja) 診断装置及び方法
JPH10206459A (ja) センサ用自己診断装置
JPH0875783A (ja) 半導体式加速度センサ
JPH06109760A (ja) 加速度センサ
JPH11271356A (ja) 半導体加速度センサ及びその自己診断駆動方法