ES2318222T3 - Dispositivo de posicionammiento para elemento de prueba. - Google Patents

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ES2318222T3 ES04019390T ES04019390T ES2318222T3 ES 2318222 T3 ES2318222 T3 ES 2318222T3 ES 04019390 T ES04019390 T ES 04019390T ES 04019390 T ES04019390 T ES 04019390T ES 2318222 T3 ES2318222 T3 ES 2318222T3
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Abstract

Dispositivo de posicionamiento para un elemento de prueba (1), que comprende - una superficie de apoyo (2) para el elemento de prueba (1), - un primer componente de conmutación (3) que se asienta sobre la superficie de apoyo (2) al lado del elemento de prueba (1), o bien sobre una superficie de referencia del elemento de prueba (1) dispuesto sobre la superficie de apoyo (2), y que sirve como referencia, y - un segundo componente de conmutación (4) que se asienta sobre el elemento de prueba (1) cuya superficie está configurada con especificidad posicional, que está dispuesto paralelamente al primer componente de conmutación (3), y que puede ser desviado perpendicularmente a la superficie de apoyo (2) en función de la configuración superficial del elemento de prueba (1), en el que la posición de conmutación de un interruptor destinado a señalizar un posicionamiento del elemento de prueba (1) depende de la desviación del segundo componente de conmutación (4) con respecto al primer componente de conmutación (3), sirviendo un plano sobre el que se apoya el primer componente de conmutación (3) como plano de referencia, con respecto al que se realiza la conmutación.

Description

Dispositivo de posicionamiento para un elemento de prueba.
La presente invención se refiere a un dispositivo de posicionamiento para un elemento de prueba y un procedimiento para posicionar un elemento de prueba en un aparato de análisis.
Para el análisis de pruebas, por ejemplo, líquidos corporales tales como sangre u orina, se utilizan a menudo sistemas de análisis con elementos de prueba en los que las muestras a analizar se encuentran sobre un elemento de prueba y reaccionan, en su caso, con un reactivo o con varios reactivos en el elemento de prueba antes de ser analizadas. La evaluación óptica, en especial, la evaluación fotométrica de elementos de prueba, constituye uno de los procedimientos más habituales para una rápida determinación de la concentración de analitos en muestras. Las evaluaciones fotométricas se utilizan generalmente en el ámbito de la analítica, de la analítica medioambiental y, sobre todo, en el ámbito de los diagnósticos médicos. Especialmente en el ámbito de la comprobación de la glucosa en la sangre a partir de sangre capilar los elementos de prueba que son evaluados fotométricamente, tienen una gran importancia.
Hay distintas formas de elementos de prueba. Se conocen, por ejemplo, plaquitas substancialmente cuadradas que también reciben la denominación de "placas" o "slides", en cuyo centro se encuentra un área de prueba de varias capas. Elementos de prueba diagnósticos que tienen forma de bandas se denominan tiras de prueba. Los elementos de prueba se describen exhaustivamente en el estado de la técnica, por ejemplo, en los documentos DE-A 197 53 847, EP-A 0 821 233, EP-A 0 821 234 o bien WO 97/02487. La presente invención se refiere a elementos de prueba de cualquier forma.
El posicionamiento de los elementos de prueba en el sistema de análisis del elemento de prueba es de gran importancia tanto para la precisión del análisis, como también para la sencillez de uso. Uno de los objetivos al realizar pruebas analíticas es el de reducir las cantidades de las muestras utilizadas o, dicho de otra manera, llevar a cabo un análisis fiable incluso cuando se dispone sólo de pequeñas cantidades de muestra. En el ámbito del análisis de azúcar en la sangre hay que extraer a la persona una gota de sangre de una parte del cuerpo, siendo para esta persona más agradable que la cantidad de sangre necesaria para realizar la prueba sea lo más pequeña posible. La reducción de las cantidades de muestra conlleva que los elementos de prueba y, en especial, las zonas indicadoras dispuestas sobre los elementos de prueba, también sean más pequeños. A efectos de garantizar un análisis exacto de la muestra, se necesita un posicionamiento preciso de la zona indicadora en el aparato de análisis con elementos de prueba. Una orientación equivocada en el espacio del elemento de prueba produce inmediatamente una disminución de la superficie de medición efectiva y, debido a ello, puede conllevar un error de medición.
Según el estado de la técnica, se conocen múltiples dispositivos de posicionamiento para elementos de prueba. Por la patente EP-B 0 618 443 se conoce un sistema de análisis de elemento de prueba en el que se realiza un posicionamiento de las zonas indicadoras tanto lateral como también verticalmente con respecto al dispositivo de medición óptica, utilizando para el posicionamiento un eje neutro orientado transversalmente con respecto a su eje longitudinal y paralelamente con respecto a su superficie. Otros dispositivos de posicionamiento para elementos de prueba están descritos, por ejemplo, en los documentos DE-A 38 44 103 ó EP-A 0 319 922.
Estos dispositivos de posicionamiento, según el estado de la técnica, indicados a título de ejemplo son apropiados sin más para posicionar y, seguidamente, analizar de forma fiable elementos de prueba con zonas indicadoras, cuyo tamaño es superior a 5mm x 5mm. Sin embargo, si la extensión lateral de la zona indicadora es más pequeña, el posicionamiento de los elementos de prueba mediante dispositivos de posicionamiento, según el estado de la técnica, ya no es suficientemente preciso.
Un dispositivo de posicionamiento para elementos de prueba, según el estado de la técnica, que permite una evaluación fiable de elementos de prueba con zonas indicadoras más pequeñas se conoce por el documento WO 00/19185. Para la fijación del elemento de prueba en la posición de evaluación, este dispositivo de posicionamiento posee un vástago montado con capacidad de desplazamiento y su extremo se estrecha cónicamente hacia abajo. Cuando el posicionamiento es adecuado, la punta del vástago se halla en un rebaje del elemento de prueba, de manera que el elemento de prueba queda fijado y posicionado en la dirección de su eje longitudinal. El vástago también puede servir para señalizar eléctricamente la presencia de un elemento de prueba o el posicionamiento del mismo. A tal efecto, el vástago está realizado con conductividad eléctrica y en el lado del dispositivo que queda situado enfrente del mismo está dispuesto un contacto. Sin elemento de prueba el vástago es presionado contra el contacto mediante un resorte y se establece un contacto eléctrico entre estos dos elementos. Cuando se introduce un elemento de prueba, éste se coloca entonces primero entre el vástago y el contacto de manera que el contacto eléctrico queda interrumpido. Pero al seguir introduciéndolo, el vástago pasa a través de la ranura del elemento de prueba y vuelve a establecer el contacto eléctrico. Un inconveniente de este dispositivo de posicionamiento es que la fabricación del mismo resulta costosa, dado que se necesitan muchos puntos de contacto eléctrico que se producen mediante un recubrimiento complejo de la superficie. Además, varios componentes del dispositivo de posicionamiento (por ejemplo, el vástago) adoptan funciones tanto eléctricas, como también mecánicas, de manera que su material está sometido a exigencias muy diferentes. Se han de utilizar, por ejemplo, piezas combinadas, realizadas en metal y en material plástico. Otro gran inconveniente de este dispositivo de posicionamiento conocido por el documento WO 00/19185 es que el contacto contra el que es presionado el vástago puede ensuciarse rápidamente por la muestra. La muestra que se encuentra en el elemento de prueba puede llegar a ensuciar el contacto, por ejemplo, a través del rebaje del elemento de prueba.
El documento DE 198 44 500 A1 se refiere a un procedimiento para la evaluación fotométrica de elementos de prueba con una zona indicadora, que se mantiene estable frente a tolerancias de posicionamiento de la zona indicadora. Para la fijación del elemento de prueba en una posición de evaluación se describe un dispositivo que presenta un vástago montado con capacidad de desplazamiento y cuyo extremo se estrecha cónicamente hacia abajo. Cuando el posicionamiento es adecuado, la punta del vástago se halla en un rebaje del elemento de prueba, de manera que el elemento de prueba queda fijado y posicionado en la dirección de su eje longitudinal. El vástago también puede servir para señalizar eléctricamente la presencia de un elemento de prueba o el posicionamiento del mismo. A tal efecto, el vástago está realizado con conductividad eléctrica y en el lado del dispositivo que queda situado enfrente del mismo está dispuesto un contacto. Cuando el vástago penetra a través de un rebaje del elemento de prueba, se cierra el circuito eléctrico.
El documento US 6.506.168 se refiere a un procedimiento y a un dispositivo para guardar una muestra de sangre de un paciente para los subsiguientes ensayos diagnósticos. El dispositivo está realizado de tal manera que puede detectar si se está introduciendo un elemento de prueba en el dispositivo, pero no en qué posición se encuentra dicho elemento de prueba. Para detectar la presencia de un elemento de prueba se utiliza un interruptor que se cierra al introducir el elemento de prueba.
El objetivo de la presente invención es, por lo tanto, evitar los inconvenientes mencionados del estado de la técnica y dar a conocer un dispositivo de posicionamiento para elementos de prueba, un sistema de análisis de elemento de prueba y un procedimiento para posicionar elementos de prueba, que permiten una evaluación fiable de elementos de prueba con pequeñas zonas indicadoras. Además, se pretende hacer posible una separación funcional entre mecánica y eléctrica en el dispositivo de posicionamiento. Para señalizar eléctricamente el posicionamiento del elemento de prueba se llevará a cabo una transmisión con pocas tolerancias de la función de conmutación a una platina dispuesta a distancia.
Este objetivo se consigue, de acuerdo con la invención, mediante un dispositivo de posicionamiento para un elemento de prueba que comprende:
- una superficie de apoyo para el elemento de prueba,
- un primer componente de conmutación que se asienta sobre la superficie de apoyo al lado del elemento de prueba, o bien sobre una superficie de referencia del elemento de prueba colocado sobre la superficie de apoyo, y que sirve como referencia, y
- un segundo componente de conmutación que se asienta sobre el elemento de prueba cuya superficie está configurada con especificidad posicional, que está dispuesto paralelamente al primer componente de conmutación, y que puede ser desviado perpendicularmente a la superficie de apoyo en función de la configuración superficial del elemento de prueba;
en el que la posición de conmutación de un interruptor destinado a señalizar un posicionamiento del elemento de prueba depende de la desviación del segundo componente de conmutación con respecto al primer componente de conmutación, sirviendo un plano sobre el que se apoya el primer componente de conmutación como plano de referencia, con respecto al que se realiza la conmutación.
El interruptor sirve para señalizar eléctricamente el posicionamiento del elemento de prueba. La posición de conmutación depende de la desviación del segundo componente de conmutación con respecto al primer componente de conmutación. El primer componente de conmutación sirve de referencia. Durante el proceso de posicionamiento se asienta sobre la superficie de apoyo para el elemento de prueba al lado de dicho elemento de prueba, o bien sobre una superficie de referencia del elemento de prueba colocado sobre la superficie de apoyo. El plano sobre el que se apoya el primer componente de conmutación (superficie de apoyo o superficie de referencia) sirve como plano de referencia con respecto al que se realiza la conmutación.
El segundo componente de conmutación está dispuesto paralelamente al primer componente de conmutación. Se apoya sobre la superficie del elemento de prueba y es desviado con respecto al primer componente de conmutación por la configuración posicional del elemento de prueba. Ambos componentes de conmutación están realizados con precisión y coordinados entre sí.
La configuración superficial del elemento de prueba presenta especificidad posicional, es decir que, en una posición determinada, el segundo componente de conmutación está sometido a una desviación definida. Por lo tanto, la configuración superficial del elemento de prueba y la disposición del componente de conmutación pueden elegirse, por ejemplo, de tal manera que, como mínimo, en una posición del elemento de prueba (por ejemplo, en la posición de análisis) el interruptor está cerrado por el desvío del segundo componente de conmutación con respecto al primer componente de conmutación y, debido a ello, se señaliza eléctricamente que se ha alcanzado con precisión la posición deseada del elemento de prueba.
Según una forma de realización preferente de la presente invención, el elemento de prueba presenta una configuración superficial con especificidad posicional que marca una posición de recepción de muestra y una posición de análisis de muestra. La posición de recepción de muestra es aquella posición del elemento de prueba en la que se coloca la muestra, por ejemplo, una gota de sangre extraída de la yema del dedo de un diabético sobre el elemento de prueba. Cuando se transfiere la muestra manualmente al elemento de prueba, la posición de recepción de muestra puede elegirse, por ejemplo, de tal manera que el elemento de prueba sobresalga suficientemente de un sistema de análisis de elemento de prueba para poder transferir la muestra sin problemas y que ésta llegue a la zona indicadora. En un sistema de análisis de elemento de prueba integrado que comprende, además de un aparato de análisis, también un sistema para la extracción automática de la muestra, la posición de recepción de muestra se elige de tal manera que la prueba es transportada de forma precisa a la zona indicadora del elemento de prueba.
Para que la muestra llegue a la zona indicadora, tanto cuando se extrae de forma manual o automática, ésta ha de ser aplicada directamente sobre la zona indicadora, o bien se ha de transportar a la misma. Esto último sucede, en especial, en elementos de prueba con intersticio capilar, en los que la muestra (por ejemplo, sangre extraída de la yema del dedo) es llevada al intersticio capilar a través del cual es conducida a la zona indicadora. También son concebibles formas de realización en las que una muestra sólida es aplicada sobre un paño, por ejemplo, frotando el paño contra un objeto y, seguidamente, la muestra es transportada mediante un fluido auxiliar del paño a la zona indicadora tal como se hace, por ejemplo, en algunos tests rápidos de drogas. Además, hay tiras cromatográficas en las que la muestra se introduce en la zona indicadora a través de materiales con capacidad de absorción.
La posición de análisis de muestra es aquella posición del elemento de prueba en la que se lleva a cabo el análisis de la muestra que se halla en la zona indicadora. En algunos sistemas de análisis de elemento de prueba la posición de recepción de muestra y la posición de análisis de muestra pueden ser idénticas. Esto tiene la ventaja de que la posición del elemento de prueba no ha de ser modificada una vez ha recibido la muestra. Pero casi siempre resultará ventajoso que haya dos posiciones diferentes para el elemento de prueba. Un elemento de prueba con intersticio capilar, por ejemplo, podrá contener un capilar más corto si, una vez recibida la muestra, la zona indicadora es desplazada a una posición de medición en el aparato de análisis, y la prueba ha de recorrer, por lo tanto, un camino más corto en el capilar para llegar a la zona indicadora.
La invención se refiere, además, a un procedimiento para posicionar un elemento de prueba en un sistema de análisis que comprende los siguientes pasos:
- modificación de la posición de un elemento de prueba en un sistema de análisis sobre una superficie de apoyo pasando por debajo de un segundo componente de conmutación montado elásticamente hasta que, en una posición definida del elemento de prueba y debido a la configuración superficial del mismo, el segundo componente de conmutación queda desviado de forma definida con respecto a un primer componente de conmutación que está dispuesto sobre la superficie de apoyo o sobre una superficie de referencia sobre el elemento de prueba, y
- cierre de un interruptor eléctrico que sirve para señalizar eléctricamente el posicionamiento de un elemento de prueba, debido al desvío definido del segundo componente de conmutación con respecto al primer componente de conmutación.
En el procedimiento, según la invención, el elemento de prueba está dispuesto sobre una superficie de apoyo. La modificación de la posición del elemento de prueba se lleva a cabo manualmente por una persona que maneja el aparato de análisis, o bien automáticamente, por ejemplo, por un empujador desplazado mediante una unidad de accionamiento. El elemento de prueba se desliza por debajo de un segundo componente de conmutación montado elásticamente. Debido a ello, el segundo componente de conmutación queda desviado por la configuración superficial del elemento de prueba con respecto al primer componente de conmutación, que se apoya sobre la superficie de apoyo del elemento de prueba o sobre una superficie de referencia dispuesta sobre el elemento de prueba. La configuración superficial (por ejemplo, elevaciones o alojamientos) tiene, a su vez, una especificidad posicional de manera que se reconoce el hecho de alcanzar, como mínimo, una posición determinada por medio del desvío del segundo componente de conmutación con respecto al primer componente de conmutación debido a esta configuración superficial y, estando el interruptor cerrado, se envía aviso al sistema de análisis de elemento de prueba mediante señal eléctrica.
La modificación de la posición del elemento de prueba en el sistema de análisis puede llevarse a cabo, por ejemplo, con la ayuda de un avance automático y el avance se puede parar en una posición determinada del interruptor eléctrico o tras una secuencia determinada de posiciones del interruptor eléctrico. Una secuencia de posiciones del interruptor eléctrico puede ser un interruptor abierto antes de introducir un elemento de prueba, un interruptor cerrado al introducir el mismo y un interruptor nuevamente abierto al alcanzar la posición de medición. El avance automático se para tras esta secuencia de posiciones, es decir, cuando se alcanza la posición de medición, de manera que el elemento de prueba permanece en esta posición de medición. Pero la modificación de la posición del elemento de prueba en el sistema de análisis también puede llevarse a cabo manualmente.
Según una forma de realización preferente de la presente invención, el segundo componente de conmutación fija el elemento de prueba en una posición en la que el interruptor eléctrico está cerrado. Mediante esta fijación se asegura que el elemento de prueba no modifica su posición durante la recepción de la muestra o durante el análisis de la muestra, incluso cuando el sistema de análisis sufre sacudidas. En este caso, fijación significa presionar el elemento de prueba contra su superficie de apoyo con una fuerza definida y/o que el segundo componente de conmutación engrane, en su caso, con acoplamiento de forma, en un alojamiento o un orificio del elemento de prueba, consiguiéndose de esta manera la orientación precisa y la fijación del elemento de prueba.
Con la ayuda del interruptor, el elemento de prueba queda posicionado en el sistema de análisis, como mínimo, en una posición. Según una forma de realización preferente de la presente invención, el elemento de prueba dispuesto en el sistema de análisis es empujado para que salga de un recipiente contenedor, queda posicionado en una posición de recepción de muestra, posicionado en una posición de análisis y, en su caso, transportado a un recipiente conservador. Los elementos de prueba son embalados habitualmente en un recipiente contenedor a efectos de protegerlos contra las influencias medioambientales nocivas como luz, humedad o impacto mecánico, y para conservarlos en condiciones estériles. Los elementos de prueba pueden ser extraídos del recipiente contenedor manualmente o, de forma preferente, mediante un dispositivo mecánico, y dichos elementos de prueba que permanecen en el recipiente contenedor dentro de compartimientos sin abrir siguen estando protegidos por sellado individual mediante una lámina. La extracción de los elementos de prueba se realiza, por ejemplo, empujándolos con la ayuda de un empujador para que salgan del compartimiento. Recipientes contenedores para medios de uso analíticos, así como los dispositivos correspondientes para extraer dichos medios de uso, están descritos exhaustivamente en el estado de la técnica y son conocidos por los expertos en la técnica en multitud de formas de realización. En este contexto se hace referencia, por ejemplo, a los documentos siguientes: EP-A 0 622 119, EP-A 0 732 590, EP-A 0 738 666, US 5.489.414, US 5.510.266, US 5.720.924, US 5.632.410, así como DE-A 19854316 y EP-A 1 022 565.
Los recipientes contenedores que también se denominan cargadores están diseñados casi siempre para su utilización en aparatos de medición, en especial, en aparatos de medición compactos.
La extracción de un elemento de prueba está automatizada en muchas formas de realización, por ejemplo, para evitar un uso erróneo o para aumentar la facilidad de uso. En estos casos, el empujador que provoca la extracción del elemento de prueba es desplazado mediante una unidad de accionamiento que comprende un motor eléctrico de accionamiento y, eventualmente, una caja de engranajes. Ejemplos de dispositivos convencionales manuales, motorizados y automatizados para extraer elementos de prueba de recipientes contenedores se describen en los documentos antes mencionados.
Una vez extraído el elemento de prueba del recipiente contenedor, será posicionado en la posición de recepción de muestra, preferentemente, por medio de un dispositivo de posicionamiento, según la invención, o mediante el procedimiento de la invención. Una vez ha recibido la muestra, el elemento de prueba será posicionado, de acuerdo con la invención, en la posición de análisis, si la posición de recepción de muestra y la posición de análisis son diferentes. Tras el análisis de la muestra, el elemento de prueba será expulsado del sistema de análisis de elemento de prueba teniendo que ser guardado o eliminado individualmente, o bien el mismo será transportado a un recipiente conservador dentro del sistema de análisis de elemento de prueba. Otra posición posible en la que el elemento de prueba puede ser posicionado, de acuerdo con la presente invención, es una posición en la que se posiciona una parte del elemento de prueba, que está marcada como referencia óptica, por encima de la óptica, sirviendo dicha parte para hacer posible la cualificación de la zona indicadora referente al envejecimiento.
La presente invención se refiere, asimismo, a un sistema de análisis de elemento de prueba que comprende elementos de prueba y un aparato de análisis, presentando los elementos de prueba una configuración superficial definida con especificidad posicional, y comprendiendo el aparato de análisis un dispositivo de posicionamiento, según la invención, a efectos de posicionar un elemento de prueba en, como mínimo, una posición determinada. El aparato de análisis puede ser, por ejemplo, un aparato para la evaluación fotométrica de elementos de prueba. Preferentemente, el aparato de análisis con elementos de prueba, según la invención, presenta como mínimo un dispositivo de posicionamiento, según la invención, a efectos de posicionar un elemento de prueba en una posición de recepción de muestra y en una posición de análisis. Según una forma de realización preferente de la presente invención, el sistema de análisis de elemento de prueba comprende un sistema para extraer líquido corporal de una parte del cuerpo. Según el estado de la técnica, se conocen múltiples sistemas de extracción de líquido corporal, por ejemplo, por el documento WO01/89383. Éstos sirven, por ejemplo, para obtener sangre capilar de la yema de los dedos, o bien sangre o líquido intersticial de otras partes del cuerpo. El líquido corporal obtenido de esta manera se aplica sobre el elemento de prueba para poder ser analizado en un aparato de análisis, por ejemplo, su contenido en glucosa.
Según una forma de realización de la presente invención el sistema de análisis de elemento de prueba comprende un recipiente contenedor para elementos de prueba y un dispositivo de extracción para extraer automáticamente, como mínimo, un elemento de prueba del recipiente contenedor. Preferentemente, el sistema de análisis de elemento de prueba, según la invención, es un sistema integrado con el que se llevan a cabo de forma totalmente automática la extracción de una muestra (por ejemplo, la perforación de la piel y la aplicación de sangre sobre un elemento de prueba que se extrae de un recipiente contenedor, y se transporta a la posición de recepción de muestra y ahí se posiciona) y el análisis de la muestra (por ejemplo, el transporte y el posicionamiento de un elemento de prueba con una muestra en la posición de análisis, la medición y la evaluación de las magnitudes relevantes, la indicación de los resultados del análisis).
Según una forma de realización preferente de la presente invención, el sistema de análisis de elemento de prueba se utiliza para el análisis de glucosa en la sangre.
A continuación, se explica la invención con más detalle por medio de los dibujos.
Éstos muestran:
En la figura 1, una representación esquemática de un dispositivo de posicionamiento, según la invención, para un elemento de prueba,
En la figura 2, una representación de un detalle de la figura 1, en perspectiva,
En la figura 3, un detalle de otra forma de realización de un dispositivo de posicionamiento, según la invención, para un elemento de prueba,
En la figura 4, una representación esquemática de otra forma de realización de un dispositivo de posicionamiento, según la invención, para un elemento de prueba,
En la figura 5, una representación esquemática de otra forma de realización de un dispositivo de posicionamiento, según la invención, para un elemento de prueba, y
En la figura 6, una representación de otro detalle de otra forma de realización de la presente invención con una placa elástica y un resorte de contacto, en perspectiva.
En la figura 1 se muestra una primera forma de realización de un dispositivo de posicionamiento, según la invención, para elementos de prueba.
Según esta forma de realización preferente de la presente invención, el primer componente de conmutación es una espiga que se asienta sobre una superficie de apoyo, y el segundo componente de conmutación es un vástago montado con capacidad de desplazamiento que presenta un extremo que se estrecha cónicamente y está dirigido hacia el elemento de prueba, y el elemento de prueba presenta como configuración superficial con especificidad posicional, como mínimo, un rebaje que recibe el extremo cónico del vástago.
El elemento de prueba (1), por ejemplo, una tira de prueba, está dispuesto sobre una superficie de apoyo (2). La espiga que sirve como primer componente de conmutación (3) se asienta con un extremo sobre la superficie de apoyo (2). La función del segundo componente de conmutación (4) la adopta un vástago montado con capacidad de desplazamiento y que presenta un extremo (5) que se estrecha cónicamente y está dirigido hacia el elemento de prueba (1). El primer componente de conmutación (3) y el segundo componente de conmutación (4) están dispuestos en paralelo entre sí (en la figura 1 uno detrás de otro). El segundo componente de conmutación (4) puede ser desviado perpendicularmente con respecto a la superficie de apoyo (2). El elemento de prueba (1) presenta, como mínimo, un rebaje (6) que puede recibir el extremo cónico (5) del segundo componente de conmutación (4). Este rebaje (6) corresponde a una configuración superficial con especificidad posicional del elemento de prueba (1), es decir que el rebaje (6) está dispuesto en un punto determinado del elemento de prueba (1), de manera que dicho elemento de prueba (1) se encuentra en una determinada posición, por ejemplo, en un sistema de análisis de elemento de prueba, en el momento en el que el rebaje (6) recibe el extremo cónico (5) del segundo componente de conmutación (4). A efectos de posicionar el elemento de prueba (1) en esta posición deseada, se modifica manual o automáticamente la posición del elemento de prueba (1) y éste pasa por debajo del segundo componente de conmutación (4) que está montado elásticamente, hasta que dicho segundo componente de conmutación (4) se encuentra encima del rebaje (6) y es desviado encajando en el mismo.
Debido a este desvío del segundo componente de conmutación (4) con respecto al primer componente de conmutación (3) que se asienta sobre la superficie de apoyo (2) y sirve como referencia se cierra un interruptor, lo que señaliza el posicionamiento deseado del elemento de prueba (1).
Según la forma de realización de la presente invención, que se muestra en la figura 1, el primer componente de conmutación (3) determina el desvío de una placa elástica que levanta, a su vez, un resorte de contacto, y el segundo componente de conmutación (4) transmite su desvío a este resorte de contacto, cerrándose un interruptor eléctrico, cuando el resorte de contacto (8) entra en contacto con la placa elástica (7). Se da la máxima precisión de posicionamiento, cuando los puntos de contacto del primer componente de conmutación (3) y del segundo componente de conmutación (4) sobre los elementos de conmutación, que son el resorte de contacto (8) y la placa elástica (7), son muy pequeños y se encuentran sobre una línea que está dispuesta paralelamente a los ejes de giro del resorte.
La placa elástica (7) y el resorte de contacto (8) están dispuestos substancialmente en paralelo a la superficie de apoyo (2) del elemento de prueba (1). El primer componente de conmutación (3) transfiere mecánicamente el plano de referencia, con respecto al que se ha de realizar la conmutación (según la presente forma de realización, el plano de la superficie de apoyo (2)), a la placa elástica (7). El segundo componente de conmutación (4) actúa con su extremo dirigido en alejamiento al elemento de prueba (1) sobre el resorte de contacto (8). A tal efecto, el segundo componente de conmutación (4) atraviesa la placa elástica (7) a través de un orificio (9). Cuando el extremo cónico (5) del segundo componente de conmutación (4) llega a la posición del rebaje (6) en el elemento de prueba (1), el segundo componente de conmutación (4) queda desviado por el resorte (10) y también por la placa elástica (7) hacia el elemento de prueba (1), estando guiado por el manguito de guía (11). Debido a ello, una cuchilla de contacto (12) del resorte de contacto (8) que se asienta sobre el extremo del segundo componente de conmutación (4), que penetra a través del orificio (9) de la placa elástica (7), se acerca a la superficie (13) de la placa elástica (7). En el momento en el que la cuchilla de contacto (12) del resorte de contacto (8) entra en contacto con la superficie (13) de la placa elástica (7), se cierra un circuito eléctrico y se detecta que el elemento de prueba ha alcanzado una determinada posición. En consecuencia, el interruptor eléctrico se cierra, de acuerdo con la invención, porque se establece un contacto eléctrico entre una placa elástica desviada por el primer componente de conmutación y un resorte de contacto desviado por el segundo componente de conmutación.
El segundo componente de conmutación (4) fija el elemento de prueba (1) cuando encaja en el rebaje del elemento de prueba (1), de manera que dicho elemento de prueba (1) queda fijado en esta posición con una fuerza definida. Además, el elemento de prueba (1) queda orientado de forma muy precisa, por ejemplo redondo, porque el extremo cónico (5) y el rebaje (6) encajan exactamente, dado que el extremo cónico (5) centra el rebaje (6) alrededor del eje de simetría del segundo componente de conmutación (4), cuando encaja a presión en el rebaje (6).
Según la presente invención, las longitudes del primer componente de conmutación (3) y del segundo componente de conmutación (4) están realizadas con precisión. Debido a ello, la cadena de tolerancia entre el proceso de movimiento mecánico y la función de conmutación eléctrica se mantiene lo más pequeña posible y la histéresis puede ser mínima. Si, por ejemplo, un primer componente de conmutación (3) realizado en forma de espiga se apoya sobre una superficie de apoyo (2) de una pieza de moldeo por inyección, se podrá fabricar un interruptor de alta precisión para la producción en serie incluso con una técnica de moldeo por inyección económica. El punto de contacto del primer componente de conmutación (3) puede utilizarse adicionalmente para ajustar el punto de conmutación, a efectos de homogeneizar piezas de múltiples alojamientos. El primer componente de conmutación (3) provoca la pretensión de la placa elástica (7), lo que tiene una influencia sobre la distancia al resorte de contacto (8) que está dispuesto por encima de la misma.
En la figura 2 se muestra una representación de un detalle de la figura 1, en perspectiva.
En el detalle se muestra la acción conjunta entre los dos componentes de conmutación (3, 4) y la placa elástica (7) y el resorte de contacto (8). El nivel de la placa elástica (7) queda determinado por el primer componente de conmutación (3) sobre cuyo extremo realizado como superficie de contacto se apoya. Dicho extremo del primer componente de conmutación (3) puede estar realizado, por ejemplo, en forma de anillo (14) con dos elevaciones que rodea el orificio (9) (véase la figura 1), de manera que la placa elástica (7) se apoya sobre las elevaciones que están dispuestas en una línea con el componente de conmutación (4) y paralelamente a los ejes de giro del resorte.
El segundo componente de conmutación (4) atraviesa la placa elástica (7) pasando por el orificio (9) y, en función del desvío del segundo componente de conmutación (4), levanta o baja el resorte de contacto (8). Cuando la cuchilla de contacto (12) del resorte de contacto (8) es levantada de la superficie de la placa elástica (7) y, por consiguiente, no está en contacto con la misma, el interruptor formado por la placa elástica (7) y el resorte de contacto (8) está en una posición abierta. Cuando la cuchilla de contacto (12) se apoya sobre la superficie de la placa elástica (7), el interruptor está cerrado.
En la figura 6 se muestra otra representación de la placa elástica y del resorte de contacto, según otra forma de realización de la presente invención, en perspectiva.
El nivel de la placa elástica (7) queda determinado por el primer componente de conmutación (3) que se apoya con una superficie de contacto dispuesta en un saliente (27) desde arriba sobre la placa elástica (7). El segundo componente de conmutación está dispuesto de forma análoga a la forma de realización del dispositivo de posicionamiento, según la invención, mostrada en la figura 2. La referencia de designación de cada componente con referencia en la figura 6 corresponde a la de la figura 2.
Según una forma de realización preferente del dispositivo de posicionamiento, según la invención, con una placa elástica (7) y un resorte de contacto (8), en especial, según la figura 2 o la figura 6, el primer componente de conmutación (3) determina el desvío de la placa elástica (7), estableciendo contacto con dicha placa elástica (7) mediante una superficie de contacto, estando la placa elástica pretensada en una dirección hacia la superficie de contacto. La superficie de contacto entra en contacto con la placa elástica (7) en el lado dirigido hacia el resorte de contacto (8), en el lado dirigido en alejamiento del resorte de contacto (8), o bien a ambos lados de la placa elástica (7).
En la figura 3 se muestra un detalle de otra forma de realización de un dispositivo de posicionamiento para elementos de prueba, según la invención.
Según esta forma de realización preferente de la presente invención, el primer componente de conmutación (3) es un vástago hueco que se asienta sobre una superficie de referencia del elemento de prueba (1) con un extremo que se estrecha cónicamente, está dirigido hacia el elemento de prueba (1) y presenta una abertura, y el segundo componente de conmutación (4) es una espiga con una punta esférica, estando la espiga montada elásticamente en el vástago y sobresaliendo la punta esférica, en el estado descomprimido, parcialmente por encima del extremo cónico del vástago pasando a través de la abertura, estando la misma, en el estado comprimido, totalmente encajada por presión en el vástago.
El primer componente de conmutación (3) está realizado en forma de vástago hueco (22) que presenta un extremo (15) que se estrecha cónicamente con una abertura (16). En el interior de este primer componente de conmutación (3) hay un orificio longitudinal (17) que desemboca en un espacio hueco (18) dispuesto en el extremo cónico (15) al que sigue, a su vez, la abertura (16). El orificio longitudinal (17) y el espacio hueco (18) alojan el segundo componente de conmutación (4). El segundo componente de conmutación (4) es una espiga (19) con una punta esférica (20) que está montada elásticamente en el orificio longitudinal (17) a través del resorte (21) y puede ser desviada a lo largo del eje de simetría del orificio longitudinal (17).
En el estado descomprimido, tal como se muestra en la figura 3, una parte de la punta esférica (20) del segundo componente de conmutación (4) sobresale del extremo cónico (15) del primer componente de conmutación (3) pasando por la abertura (16). Este es el caso, cuando la configuración superficial del elemento de prueba (1) permite la descompresión, por ejemplo, debido a un alojamiento (23), en el que queda desviado el segundo componente de conmutación (4), mientras que el primer componente de conmutación (3) se asienta sobre una superficie de base del elemento de prueba (1) situada más arriba.
En estado comprimido, la punta esférica (20) está completamente encajada a presión en el extremo cónico (15) del primer componente de conmutación (3). Este es el caso, por ejemplo, cuando tanto el extremo cónico (15) como también la punta esférica se asientan sobre una superficie de base plana del elemento de prueba (1).
Debido a la relación no lineal entre un movimiento horizontal del alojamiento durante el proceso de posicionamiento y el desvío perpendicular del segundo componente de conmutación (4), se da una alta sensibilidad de conmutación.
Según esta forma de realización de la presente invención, al hundirse el extremo cónico (15) en un alojamiento correspondiente dispuesto en el elemento de prueba (1), provoca en esta realización de la invención el centrado del elemento de prueba, mientras que el hundimiento de la punta esférica (20) sirve para el posicionamiento. Es esencial para estas funciones que la fuerza con la que la punta esférica (20) es presionada hacia abajo, es substancialmente inferior a la fuerza con la que se presiona hacia abajo el primer componente de conmutación (3).
Según esta forma de realización de la presente invención, la configuración superficial del elemento de prueba (1) es un contorno que influye sobre el desvío de la espiga en función de la posición del elemento de prueba (1). Preferentemente, el contorno está realizado en forma de surco que varía en anchura y profundidad sobre la superficie del elemento de prueba (1). Un segmento ancho y profundo del surco provoca, en este caso, la amplia descompresión del segundo componente de conmutación (4), mientras que un segmento estrecho y poco profundo del surco sólo permite una descompresión reducida. Debido a la amplitud de descompresión (en función del desvío del segundo componente de conmutación (4) con respecto al primer componente de conmutación (3)), se puede detectar una posición determinada del elemento de prueba (1).
En la figura 4 se muestra otra forma de realización de un dispositivo de posicionamiento para elementos de prueba, según la invención.
Dicho dispositivo de posicionamiento comprende los dos componentes de conmutación (3, 4) mostrados en la figura 3, que están realizados en forma de vástago hueco (22) con extremo cónico (15) y espiga (19) con punta esférica (20), respectivamente. Además, el dispositivo de posicionamiento mostrado en la figura 4 comprende una placa elástica (7) y un resorte de contacto (8), que actúan conjuntamente tal como ya se ha explicado en relación con las figuras 1 y 2. En este caso, la placa elástica (7) se apoya sobre el extremo del vástago (22) que está dispuesto en alejamiento del elemento de prueba (1), y la cuchilla de contacto (12) del resorte de contacto se apoya sobre el extremo de la espiga (19) que pasa por el orificio (9) dispuesto en la placa elástica (7). De esta forma se obtiene un diferenciador, cuya posición de conmutación resulta de la diferencia entre los desvíos de los dos componentes de conmutación (3, 4) que se deslizan sobre la superficie del elemento de prueba (1).
En la figura 5 se muestra otra forma de realización de un dispositivo de posicionamiento para elementos de prueba, según la invención.
Según esta forma de realización, el primer componente de conmutación (3) es un resalte (24) dispuesto al lado de la superficie de apoyo (2) para el elemento de prueba (1), y el segundo componente de conmutación (4) es un vástago montado con capacidad de desplazamiento con un extremo cónico (5) que está dirigido hacia el elemento de prueba (1). El elemento de prueba (1) presenta como configuración superficial con especificidad posicional, como mínimo, un rebaje (6) que recibe el extremo cónico (5) del vástago. El resalte (24) está realizado de forma paralelepipédica. También sería concebible, por ejemplo, una realización del resalte (24) en forma de escalón. Según esta forma de reali-
zación, el resalte (24) y la superficie de apoyo (2) para el elemento de prueba (1) están realizados en una sola pieza.
El segundo componente de conmutación (4) está montado con capacidad de desplazamiento en el sentido de las flechas (26) señaladas y es desviado por el resorte (10) hacia el elemento de prueba (1). El interruptor eléctrico está abierto en el momento en el que el resorte de contacto (8) es levantado de la placa elástica (7) en la dirección hacia la superficie de apoyo (2) del elemento de prueba debido al saliente lateral (25) del segundo componente de conmutación. Este es el caso, por ejemplo, cuando el extremo cónico (5) del vástago entra en un rebaje (6) del elemento de prueba, tal como se muestra en la figura 5, o cuando no hay ningún elemento de prueba (1) sobre la superficie de apoyo (2). La placa elástica (7) y el resorte de contacto (8) constituyen contactos que están realizados, por ejemplo, como piezas dobladas de chapa, y están conectados eléctricamente a un microcontrolador (no mostrado) para la evaluación de señales.
Lista de referencias
1
Elemento de prueba
2
Superficie de apoyo
3
Primer componente de conmutación
4
Segundo componente de conmutación
5
Extremo cónico del segundo componente de conmutación
6
Rebaje en el elemento de prueba
7
Placa elástica
8
Resorte de contacto
9
Orificio en la placa elástica
10
Resorte
11
Manguito de guía
12
Cuchilla de contacto del resorte de contacto
13
Superficie de la placa elástica
14
Extremo en forma de anillo del primer componente de conmutación
15
Extremo cónico del primer componente de conmutación
16
Abertura en el extremo cónico del vástago
17
Orificio longitudinal
18
Espacio hueco
19
Espiga
20
Punta esférica
21
Resorte
22
Vástago
23
Alojamiento
24
Resalte
25
Saliente
26
Flechas
27
Saliente

Claims (26)

1. Dispositivo de posicionamiento para un elemento de prueba (1), que comprende
- una superficie de apoyo (2) para el elemento de prueba (1),
- un primer componente de conmutación (3) que se asienta sobre la superficie de apoyo (2) al lado del elemento de prueba (1), o bien sobre una superficie de referencia del elemento de prueba (1) dispuesto sobre la superficie de apoyo (2), y que sirve como referencia, y
- un segundo componente de conmutación (4) que se asienta sobre el elemento de prueba (1) cuya superficie está configurada con especificidad posicional, que está dispuesto paralelamente al primer componente de conmutación (3), y que puede ser desviado perpendicularmente a la superficie de apoyo (2) en función de la configuración superficial del elemento de prueba (1),
en el que la posición de conmutación de un interruptor destinado a señalizar un posicionamiento del elemento de prueba (1) depende de la desviación del segundo componente de conmutación (4) con respecto al primer componente de conmutación (3), sirviendo un plano sobre el que se apoya el primer componente de conmutación (3) como plano de referencia, con respecto al que se realiza la conmutación.
2. Dispositivo de posicionamiento, según la reivindicación 1, caracterizado porque el primer componente de conmutación (3) es una espiga que se asienta sobre una superficie de apoyo (2), y el segundo componente de conmutación (4) es un vástago montado con capacidad de desplazamiento que presenta un extremo (5) que se estrecha cónicamente y está dirigido hacia el elemento de prueba (1), y porque el elemento de prueba (1) presenta como configuración superficial con especificidad posicional, como mínimo, un rebaje (6) que recibe el extremo cónico (5) del vástago.
3. Dispositivo de posicionamiento, según la reivindicación 1, caracterizado porque el primer componente de conmutación (3) es un resalte (24) dispuesto al lado de la superficie de apoyo (2) para el elemento de prueba (1), y el segundo componente de conmutación (4) es un vástago montado con capacidad de desplazamiento con un extremo cónico (5) que está dirigido hacia el elemento de prueba (1), y porque el elemento de prueba (1) presenta como configuración superficial con especificidad posicional, como mínimo, un rebaje (6) que recibe el extremo cónico (5) del vástago.
4. Dispositivo de posicionamiento, según la reivindicación 3, caracterizado porque el resalte (24) está realizado en forma de paralelepípedo o en forma de escalón.
5. Dispositivo de posicionamiento, según la reivindicación 3 ó 4, caracterizado porque el resalte (24) y la superficie de apoyo (2) para el elemento de prueba (1) están realizados en una sola pieza.
6. Dispositivo de posicionamiento, según la reivindicación 1, caracterizado porque el primer componente de conmutación (3) es un vástago hueco (22) que se asienta sobre una superficie de referencia del elemento de prueba (1) y presenta un extremo (15) que se estrecha cónicamente, y que está dirigido hacía el elemento de prueba (1) y dotado de una abertura (16), y el segundo componente de conmutación (4) es una espiga (19) con una punta esférica (20), estando la espiga (19) montada elásticamente dentro del vástago (22) y sobresaliendo la punta esférica (20), en el estado descomprimido, parcialmente por encima del extremo cónico (15) del vástago (22) pasando por la abertura (16) y estando la misma, en estado comprimido, totalmente encajada a presión dentro del vástago (22).
7. Dispositivo de posicionamiento, según la reivindicación 6, caracterizado porque la configuración superficial del elemento de prueba (1) es un contorno que influye sobre el desvío de la espiga (19) en función de la posición del elemento de prueba (1).
8. Dispositivo de posicionamiento, según la reivindicación 7, caracterizado porque el contorno está realizado en forma de surco que varía en anchura y profundidad sobre la superficie del elemento de prueba (1).
9. Dispositivo de posicionamiento, según una de las reivindicaciones 1 a 8, caracterizado porque el primer componente de conmutación (3) determina el desvío de una placa elástica (7) y el segundo componente de conmutación (4) transfiere su desvío a un resorte de contacto (8), estando un interruptor eléctrico cerrado cuando el resorte de contacto (8) entra en contacto con la placa elástica (7).
10. Dispositivo de posicionamiento, según la reivindicación 9, caracterizado porque el segundo componente de conmutación (4) atraviesa la placa elástica (7) a través de un orificio (9).
11. Dispositivo de posicionamiento, según la reivindicación 9, caracterizado porque el segundo componente de conmutación (4) presenta un saliente lateral (25) a través del cual el segundo componente de conmutación (4) transfiere su desvío al resorte de contacto (8).
\newpage
12. Dispositivo de posicionamiento, según una de las reivindicaciones 9 a 11, caracterizado porque el primer componente de conmutación (3) determina el desvío de la placa elástica (7), estableciendo contacto con dicha placa elástica (7) mediante una superficie de contacto, estando la placa elástica (7) pretensada en una dirección hacia la superficie de contacto.
13. Dispositivo de posicionamiento, según la reivindicación 12, caracterizado porque la superficie de contacto establece contacto con la placa elástica (7) en el lado dirigido hacia el resorte de contacto (8), en el lado dirigido en alejamiento del resorte de contacto (8), o bien en ambos lados de la placa elástica (7).
14. Dispositivo de posicionamiento, según una de las reivindicaciones 1 a 13, caracterizado porque el elemento de prueba (1) es un elemento de prueba con intersticio capilar.
15. Dispositivo de posicionamiento, según una de las reivindicaciones 1 a 14, caracterizado porque el elemento de prueba (1) presenta una configuración superficial con especificidad posicional que marca una posición de recepción de muestra y una posición de análisis de muestra.
16. Procedimiento para el posicionamiento de un elemento de prueba (1) en un sistema de análisis que comprende los siguientes pasos:
- modificación de la posición de un elemento de prueba (1) en un sistema de análisis sobre una superficie de apoyo (2) pasando por debajo de un segundo componente de conmutación (4) montado elásticamente hasta que, en una posición definida del elemento de prueba (1) y debido a la configuración superficial del mismo, el segundo componente de conmutación (4) queda desviado de forma definida con respecto a un primer componente de conmutación (3) que se asienta sobre la superficie de apoyo (2) o sobre una superficie de referencia sobre el elemento de prueba (1), y
- cierre de un interruptor eléctrico que sirve para señalizar eléctricamente el posicionamiento de un elemento de prueba (1), debido al desvío definido del segundo componente de conmutación (4) con respecto al primer componente de conmutación.
17. Procedimiento, según la reivindicación 16, caracterizado porque el segundo componente de conmutación (4) fija el elemento de prueba (1) en una posición en la que el interruptor eléctrico está cerrado.
18. Procedimiento, según una de las reivindicaciones 16 ó 17, caracterizado porque el interruptor eléctrico se cierra cuando se establece un contacto eléctrico entre una placa elástica (7) desviada por el primer componente de conmutación (3) y un resorte de contacto (8) desviado por el segundo componente de conmutación (4).
19. Procedimiento, según una de las reivindicaciones 16 a 18, caracterizado porque el elemento de prueba (1) es posicionado en el aparato de análisis, como mínimo, en una posición con la ayuda del interruptor.
20. Procedimiento, según la reivindicación 19, caracterizado porque el elemento de prueba (1) dispuesto en el sistema de análisis es extraído de un recipiente contenedor empujándolo hacia fuera, posicionado en una posición de recepción de muestra, posicionado en una posición de análisis de muestra y, en su caso, transportado a un recipiente conservador.
21. Procedimiento, según una de las reivindicaciones 16 a 20, caracterizado porque la modificación de la posición del elemento de prueba (1) en el sistema de análisis se lleva a cabo con la ayuda de un avance automático, y porque el avance se para en una determinada posición del interruptor eléctrico o tras una secuencia determinada de posiciones de dicho interruptor eléctrico.
22. Sistema de análisis de elemento de prueba que comprende elementos de prueba (1) y un aparato de análisis, en el que los elementos de prueba (1) presentan una configuración superficial definida con especificidad posicional y en el que el aparato de análisis contiene un dispositivo de posicionamiento, según una de las reivindicaciones 1 a 15, a efectos de posicionar un elemento de prueba (1) en, como mínimo, una posición determinada.
23. Sistema de análisis de elemento de prueba, según la reivindicación 22, caracterizado porque presenta, como mínimo, un dispositivo de posicionamiento, según una de las reivindicaciones 1 a 9, a efectos de posicionar un elemento de prueba (1) en una posición de recepción de muestra y en una posición de análisis de muestra.
24. Sistema de análisis de elemento de prueba, según la reivindicación 22 ó 23, caracterizado porque comprende un sistema para extraer líquido corporal de una parte del cuerpo.
25. Sistema de análisis de elemento de prueba, según una de las reivindicaciones 22 a 24, caracterizado porque comprende un recipiente contenedor para elementos de prueba (1) y un dispositivo de extracción para extraer de forma automática, como mínimo, un elemento de prueba (1) del recipiente contenedor.
26. Utilización del sistema de análisis de elemento de prueba, según una de las reivindicaciones 22 a 25, para el análisis de glucosa en la sangre.
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