ES2318222T3 - Dispositivo de posicionammiento para elemento de prueba. - Google Patents
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Abstract
Dispositivo de posicionamiento para un elemento de prueba (1), que comprende - una superficie de apoyo (2) para el elemento de prueba (1), - un primer componente de conmutación (3) que se asienta sobre la superficie de apoyo (2) al lado del elemento de prueba (1), o bien sobre una superficie de referencia del elemento de prueba (1) dispuesto sobre la superficie de apoyo (2), y que sirve como referencia, y - un segundo componente de conmutación (4) que se asienta sobre el elemento de prueba (1) cuya superficie está configurada con especificidad posicional, que está dispuesto paralelamente al primer componente de conmutación (3), y que puede ser desviado perpendicularmente a la superficie de apoyo (2) en función de la configuración superficial del elemento de prueba (1), en el que la posición de conmutación de un interruptor destinado a señalizar un posicionamiento del elemento de prueba (1) depende de la desviación del segundo componente de conmutación (4) con respecto al primer componente de conmutación (3), sirviendo un plano sobre el que se apoya el primer componente de conmutación (3) como plano de referencia, con respecto al que se realiza la conmutación.
Description
Dispositivo de posicionamiento para un elemento
de prueba.
La presente invención se refiere a un
dispositivo de posicionamiento para un elemento de prueba y un
procedimiento para posicionar un elemento de prueba en un aparato
de análisis.
Para el análisis de pruebas, por ejemplo,
líquidos corporales tales como sangre u orina, se utilizan a menudo
sistemas de análisis con elementos de prueba en los que las muestras
a analizar se encuentran sobre un elemento de prueba y reaccionan,
en su caso, con un reactivo o con varios reactivos en el elemento de
prueba antes de ser analizadas. La evaluación óptica, en especial,
la evaluación fotométrica de elementos de prueba, constituye uno de
los procedimientos más habituales para una rápida determinación de
la concentración de analitos en muestras. Las evaluaciones
fotométricas se utilizan generalmente en el ámbito de la analítica,
de la analítica medioambiental y, sobre todo, en el ámbito de los
diagnósticos médicos. Especialmente en el ámbito de la comprobación
de la glucosa en la sangre a partir de sangre capilar los elementos
de prueba que son evaluados fotométricamente, tienen una gran
importancia.
Hay distintas formas de elementos de prueba. Se
conocen, por ejemplo, plaquitas substancialmente cuadradas que
también reciben la denominación de "placas" o "slides", en
cuyo centro se encuentra un área de prueba de varias capas.
Elementos de prueba diagnósticos que tienen forma de bandas se
denominan tiras de prueba. Los elementos de prueba se describen
exhaustivamente en el estado de la técnica, por ejemplo, en los
documentos DE-A 197 53 847, EP-A 0
821 233, EP-A 0 821 234 o bien WO 97/02487. La
presente invención se refiere a elementos de prueba de cualquier
forma.
El posicionamiento de los elementos de prueba en
el sistema de análisis del elemento de prueba es de gran
importancia tanto para la precisión del análisis, como también para
la sencillez de uso. Uno de los objetivos al realizar pruebas
analíticas es el de reducir las cantidades de las muestras
utilizadas o, dicho de otra manera, llevar a cabo un análisis
fiable incluso cuando se dispone sólo de pequeñas cantidades de
muestra. En el ámbito del análisis de azúcar en la sangre hay que
extraer a la persona una gota de sangre de una parte del cuerpo,
siendo para esta persona más agradable que la cantidad de sangre
necesaria para realizar la prueba sea lo más pequeña posible. La
reducción de las cantidades de muestra conlleva que los elementos de
prueba y, en especial, las zonas indicadoras dispuestas sobre los
elementos de prueba, también sean más pequeños. A efectos de
garantizar un análisis exacto de la muestra, se necesita un
posicionamiento preciso de la zona indicadora en el aparato de
análisis con elementos de prueba. Una orientación equivocada en el
espacio del elemento de prueba produce inmediatamente una
disminución de la superficie de medición efectiva y, debido a ello,
puede conllevar un error de medición.
Según el estado de la técnica, se conocen
múltiples dispositivos de posicionamiento para elementos de prueba.
Por la patente EP-B 0 618 443 se conoce un sistema
de análisis de elemento de prueba en el que se realiza un
posicionamiento de las zonas indicadoras tanto lateral como también
verticalmente con respecto al dispositivo de medición óptica,
utilizando para el posicionamiento un eje neutro orientado
transversalmente con respecto a su eje longitudinal y paralelamente
con respecto a su superficie. Otros dispositivos de posicionamiento
para elementos de prueba están descritos, por ejemplo, en los
documentos DE-A 38 44 103 ó EP-A 0
319 922.
Estos dispositivos de posicionamiento, según el
estado de la técnica, indicados a título de ejemplo son apropiados
sin más para posicionar y, seguidamente, analizar de forma fiable
elementos de prueba con zonas indicadoras, cuyo tamaño es superior
a 5mm x 5mm. Sin embargo, si la extensión lateral de la zona
indicadora es más pequeña, el posicionamiento de los elementos de
prueba mediante dispositivos de posicionamiento, según el estado de
la técnica, ya no es suficientemente preciso.
Un dispositivo de posicionamiento para elementos
de prueba, según el estado de la técnica, que permite una
evaluación fiable de elementos de prueba con zonas indicadoras más
pequeñas se conoce por el documento WO 00/19185. Para la fijación
del elemento de prueba en la posición de evaluación, este
dispositivo de posicionamiento posee un vástago montado con
capacidad de desplazamiento y su extremo se estrecha cónicamente
hacia abajo. Cuando el posicionamiento es adecuado, la punta del
vástago se halla en un rebaje del elemento de prueba, de manera que
el elemento de prueba queda fijado y posicionado en la dirección de
su eje longitudinal. El vástago también puede servir para señalizar
eléctricamente la presencia de un elemento de prueba o el
posicionamiento del mismo. A tal efecto, el vástago está realizado
con conductividad eléctrica y en el lado del dispositivo que queda
situado enfrente del mismo está dispuesto un contacto. Sin elemento
de prueba el vástago es presionado contra el contacto mediante un
resorte y se establece un contacto eléctrico entre estos dos
elementos. Cuando se introduce un elemento de prueba, éste se
coloca entonces primero entre el vástago y el contacto de manera
que el contacto eléctrico queda interrumpido. Pero al seguir
introduciéndolo, el vástago pasa a través de la ranura del elemento
de prueba y vuelve a establecer el contacto eléctrico. Un
inconveniente de este dispositivo de posicionamiento es que la
fabricación del mismo resulta costosa, dado que se necesitan muchos
puntos de contacto eléctrico que se producen mediante un
recubrimiento complejo de la superficie. Además, varios componentes
del dispositivo de posicionamiento (por ejemplo, el vástago) adoptan
funciones tanto eléctricas, como también mecánicas, de manera que
su material está sometido a exigencias muy diferentes. Se han de
utilizar, por ejemplo, piezas combinadas, realizadas en metal y en
material plástico. Otro gran inconveniente de este dispositivo de
posicionamiento conocido por el documento WO 00/19185 es que el
contacto contra el que es presionado el vástago puede ensuciarse
rápidamente por la muestra. La muestra que se encuentra en el
elemento de prueba puede llegar a ensuciar el contacto, por
ejemplo, a través del rebaje del elemento de prueba.
El documento DE 198 44 500 A1 se refiere a un
procedimiento para la evaluación fotométrica de elementos de prueba
con una zona indicadora, que se mantiene estable frente a
tolerancias de posicionamiento de la zona indicadora. Para la
fijación del elemento de prueba en una posición de evaluación se
describe un dispositivo que presenta un vástago montado con
capacidad de desplazamiento y cuyo extremo se estrecha cónicamente
hacia abajo. Cuando el posicionamiento es adecuado, la punta del
vástago se halla en un rebaje del elemento de prueba, de manera que
el elemento de prueba queda fijado y posicionado en la dirección de
su eje longitudinal. El vástago también puede servir para señalizar
eléctricamente la presencia de un elemento de prueba o el
posicionamiento del mismo. A tal efecto, el vástago está realizado
con conductividad eléctrica y en el lado del dispositivo que queda
situado enfrente del mismo está dispuesto un contacto. Cuando el
vástago penetra a través de un rebaje del elemento de prueba, se
cierra el circuito eléctrico.
El documento US 6.506.168 se refiere a un
procedimiento y a un dispositivo para guardar una muestra de sangre
de un paciente para los subsiguientes ensayos diagnósticos. El
dispositivo está realizado de tal manera que puede detectar si se
está introduciendo un elemento de prueba en el dispositivo, pero no
en qué posición se encuentra dicho elemento de prueba. Para
detectar la presencia de un elemento de prueba se utiliza un
interruptor que se cierra al introducir el elemento de prueba.
El objetivo de la presente invención es, por lo
tanto, evitar los inconvenientes mencionados del estado de la
técnica y dar a conocer un dispositivo de posicionamiento para
elementos de prueba, un sistema de análisis de elemento de prueba y
un procedimiento para posicionar elementos de prueba, que permiten
una evaluación fiable de elementos de prueba con pequeñas zonas
indicadoras. Además, se pretende hacer posible una separación
funcional entre mecánica y eléctrica en el dispositivo de
posicionamiento. Para señalizar eléctricamente el posicionamiento
del elemento de prueba se llevará a cabo una transmisión con pocas
tolerancias de la función de conmutación a una platina dispuesta a
distancia.
Este objetivo se consigue, de acuerdo con la
invención, mediante un dispositivo de posicionamiento para un
elemento de prueba que comprende:
- una superficie de apoyo para el elemento de
prueba,
- un primer componente de conmutación que se
asienta sobre la superficie de apoyo al lado del elemento de
prueba, o bien sobre una superficie de referencia del elemento de
prueba colocado sobre la superficie de apoyo, y que sirve como
referencia, y
- un segundo componente de conmutación que se
asienta sobre el elemento de prueba cuya superficie está configurada
con especificidad posicional, que está dispuesto paralelamente al
primer componente de conmutación, y que puede ser desviado
perpendicularmente a la superficie de apoyo en función de la
configuración superficial del elemento de prueba;
en el que la posición de conmutación de un
interruptor destinado a señalizar un posicionamiento del elemento
de prueba depende de la desviación del segundo componente de
conmutación con respecto al primer componente de conmutación,
sirviendo un plano sobre el que se apoya el primer componente de
conmutación como plano de referencia, con respecto al que se
realiza la conmutación.
El interruptor sirve para señalizar
eléctricamente el posicionamiento del elemento de prueba. La
posición de conmutación depende de la desviación del segundo
componente de conmutación con respecto al primer componente de
conmutación. El primer componente de conmutación sirve de
referencia. Durante el proceso de posicionamiento se asienta sobre
la superficie de apoyo para el elemento de prueba al lado de dicho
elemento de prueba, o bien sobre una superficie de referencia del
elemento de prueba colocado sobre la superficie de apoyo. El plano
sobre el que se apoya el primer componente de conmutación
(superficie de apoyo o superficie de referencia) sirve como plano
de referencia con respecto al que se realiza la conmutación.
El segundo componente de conmutación está
dispuesto paralelamente al primer componente de conmutación. Se
apoya sobre la superficie del elemento de prueba y es desviado con
respecto al primer componente de conmutación por la configuración
posicional del elemento de prueba. Ambos componentes de conmutación
están realizados con precisión y coordinados entre sí.
La configuración superficial del elemento de
prueba presenta especificidad posicional, es decir que, en una
posición determinada, el segundo componente de conmutación está
sometido a una desviación definida. Por lo tanto, la configuración
superficial del elemento de prueba y la disposición del componente
de conmutación pueden elegirse, por ejemplo, de tal manera que,
como mínimo, en una posición del elemento de prueba (por ejemplo,
en la posición de análisis) el interruptor está cerrado por el
desvío del segundo componente de conmutación con respecto al primer
componente de conmutación y, debido a ello, se señaliza
eléctricamente que se ha alcanzado con precisión la posición
deseada del elemento de prueba.
Según una forma de realización preferente de la
presente invención, el elemento de prueba presenta una configuración
superficial con especificidad posicional que marca una posición de
recepción de muestra y una posición de análisis de muestra. La
posición de recepción de muestra es aquella posición del elemento de
prueba en la que se coloca la muestra, por ejemplo, una gota de
sangre extraída de la yema del dedo de un diabético sobre el
elemento de prueba. Cuando se transfiere la muestra manualmente al
elemento de prueba, la posición de recepción de muestra puede
elegirse, por ejemplo, de tal manera que el elemento de prueba
sobresalga suficientemente de un sistema de análisis de elemento de
prueba para poder transferir la muestra sin problemas y que ésta
llegue a la zona indicadora. En un sistema de análisis de elemento
de prueba integrado que comprende, además de un aparato de
análisis, también un sistema para la extracción automática de la
muestra, la posición de recepción de muestra se elige de tal manera
que la prueba es transportada de forma precisa a la zona indicadora
del elemento de prueba.
Para que la muestra llegue a la zona indicadora,
tanto cuando se extrae de forma manual o automática, ésta ha de ser
aplicada directamente sobre la zona indicadora, o bien se ha de
transportar a la misma. Esto último sucede, en especial, en
elementos de prueba con intersticio capilar, en los que la muestra
(por ejemplo, sangre extraída de la yema del dedo) es llevada al
intersticio capilar a través del cual es conducida a la zona
indicadora. También son concebibles formas de realización en las
que una muestra sólida es aplicada sobre un paño, por ejemplo,
frotando el paño contra un objeto y, seguidamente, la muestra es
transportada mediante un fluido auxiliar del paño a la zona
indicadora tal como se hace, por ejemplo, en algunos tests rápidos
de drogas. Además, hay tiras cromatográficas en las que la muestra
se introduce en la zona indicadora a través de materiales con
capacidad de absorción.
La posición de análisis de muestra es aquella
posición del elemento de prueba en la que se lleva a cabo el
análisis de la muestra que se halla en la zona indicadora. En
algunos sistemas de análisis de elemento de prueba la posición de
recepción de muestra y la posición de análisis de muestra pueden ser
idénticas. Esto tiene la ventaja de que la posición del elemento de
prueba no ha de ser modificada una vez ha recibido la muestra. Pero
casi siempre resultará ventajoso que haya dos posiciones diferentes
para el elemento de prueba. Un elemento de prueba con intersticio
capilar, por ejemplo, podrá contener un capilar más corto si, una
vez recibida la muestra, la zona indicadora es desplazada a una
posición de medición en el aparato de análisis, y la prueba ha de
recorrer, por lo tanto, un camino más corto en el capilar para
llegar a la zona indicadora.
La invención se refiere, además, a un
procedimiento para posicionar un elemento de prueba en un sistema de
análisis que comprende los siguientes pasos:
- modificación de la posición de un elemento de
prueba en un sistema de análisis sobre una superficie de apoyo
pasando por debajo de un segundo componente de conmutación montado
elásticamente hasta que, en una posición definida del elemento de
prueba y debido a la configuración superficial del mismo, el segundo
componente de conmutación queda desviado de forma definida con
respecto a un primer componente de conmutación que está dispuesto
sobre la superficie de apoyo o sobre una superficie de referencia
sobre el elemento de prueba, y
- cierre de un interruptor eléctrico que sirve
para señalizar eléctricamente el posicionamiento de un elemento de
prueba, debido al desvío definido del segundo componente de
conmutación con respecto al primer componente de conmutación.
En el procedimiento, según la invención, el
elemento de prueba está dispuesto sobre una superficie de apoyo. La
modificación de la posición del elemento de prueba se lleva a cabo
manualmente por una persona que maneja el aparato de análisis, o
bien automáticamente, por ejemplo, por un empujador desplazado
mediante una unidad de accionamiento. El elemento de prueba se
desliza por debajo de un segundo componente de conmutación montado
elásticamente. Debido a ello, el segundo componente de conmutación
queda desviado por la configuración superficial del elemento de
prueba con respecto al primer componente de conmutación, que se
apoya sobre la superficie de apoyo del elemento de prueba o sobre
una superficie de referencia dispuesta sobre el elemento de prueba.
La configuración superficial (por ejemplo, elevaciones o
alojamientos) tiene, a su vez, una especificidad posicional de
manera que se reconoce el hecho de alcanzar, como mínimo, una
posición determinada por medio del desvío del segundo componente de
conmutación con respecto al primer componente de conmutación debido
a esta configuración superficial y, estando el interruptor cerrado,
se envía aviso al sistema de análisis de elemento de prueba
mediante señal eléctrica.
La modificación de la posición del elemento de
prueba en el sistema de análisis puede llevarse a cabo, por
ejemplo, con la ayuda de un avance automático y el avance se puede
parar en una posición determinada del interruptor eléctrico o tras
una secuencia determinada de posiciones del interruptor eléctrico.
Una secuencia de posiciones del interruptor eléctrico puede ser un
interruptor abierto antes de introducir un elemento de prueba, un
interruptor cerrado al introducir el mismo y un interruptor
nuevamente abierto al alcanzar la posición de medición. El avance
automático se para tras esta secuencia de posiciones, es decir,
cuando se alcanza la posición de medición, de manera que el
elemento de prueba permanece en esta posición de medición. Pero la
modificación de la posición del elemento de prueba en el sistema de
análisis también puede llevarse a cabo manualmente.
Según una forma de realización preferente de la
presente invención, el segundo componente de conmutación fija el
elemento de prueba en una posición en la que el interruptor
eléctrico está cerrado. Mediante esta fijación se asegura que el
elemento de prueba no modifica su posición durante la recepción de
la muestra o durante el análisis de la muestra, incluso cuando el
sistema de análisis sufre sacudidas. En este caso, fijación
significa presionar el elemento de prueba contra su superficie de
apoyo con una fuerza definida y/o que el segundo componente de
conmutación engrane, en su caso, con acoplamiento de forma, en un
alojamiento o un orificio del elemento de prueba, consiguiéndose de
esta manera la orientación precisa y la fijación del elemento de
prueba.
Con la ayuda del interruptor, el elemento de
prueba queda posicionado en el sistema de análisis, como mínimo, en
una posición. Según una forma de realización preferente de la
presente invención, el elemento de prueba dispuesto en el sistema
de análisis es empujado para que salga de un recipiente contenedor,
queda posicionado en una posición de recepción de muestra,
posicionado en una posición de análisis y, en su caso, transportado
a un recipiente conservador. Los elementos de prueba son embalados
habitualmente en un recipiente contenedor a efectos de protegerlos
contra las influencias medioambientales nocivas como luz, humedad o
impacto mecánico, y para conservarlos en condiciones estériles. Los
elementos de prueba pueden ser extraídos del recipiente contenedor
manualmente o, de forma preferente, mediante un dispositivo
mecánico, y dichos elementos de prueba que permanecen en el
recipiente contenedor dentro de compartimientos sin abrir siguen
estando protegidos por sellado individual mediante una lámina. La
extracción de los elementos de prueba se realiza, por ejemplo,
empujándolos con la ayuda de un empujador para que salgan del
compartimiento. Recipientes contenedores para medios de uso
analíticos, así como los dispositivos correspondientes para extraer
dichos medios de uso, están descritos exhaustivamente en el estado
de la técnica y son conocidos por los expertos en la técnica en
multitud de formas de realización. En este contexto se hace
referencia, por ejemplo, a los documentos siguientes:
EP-A 0 622 119, EP-A 0 732 590,
EP-A 0 738 666, US 5.489.414, US 5.510.266, US
5.720.924, US 5.632.410, así como DE-A 19854316 y
EP-A 1 022 565.
Los recipientes contenedores que también se
denominan cargadores están diseñados casi siempre para su
utilización en aparatos de medición, en especial, en aparatos de
medición compactos.
La extracción de un elemento de prueba está
automatizada en muchas formas de realización, por ejemplo, para
evitar un uso erróneo o para aumentar la facilidad de uso. En estos
casos, el empujador que provoca la extracción del elemento de
prueba es desplazado mediante una unidad de accionamiento que
comprende un motor eléctrico de accionamiento y, eventualmente, una
caja de engranajes. Ejemplos de dispositivos convencionales
manuales, motorizados y automatizados para extraer elementos de
prueba de recipientes contenedores se describen en los documentos
antes mencionados.
Una vez extraído el elemento de prueba del
recipiente contenedor, será posicionado en la posición de recepción
de muestra, preferentemente, por medio de un dispositivo de
posicionamiento, según la invención, o mediante el procedimiento de
la invención. Una vez ha recibido la muestra, el elemento de prueba
será posicionado, de acuerdo con la invención, en la posición de
análisis, si la posición de recepción de muestra y la posición de
análisis son diferentes. Tras el análisis de la muestra, el elemento
de prueba será expulsado del sistema de análisis de elemento de
prueba teniendo que ser guardado o eliminado individualmente, o bien
el mismo será transportado a un recipiente conservador dentro del
sistema de análisis de elemento de prueba. Otra posición posible en
la que el elemento de prueba puede ser posicionado, de acuerdo con
la presente invención, es una posición en la que se posiciona una
parte del elemento de prueba, que está marcada como referencia
óptica, por encima de la óptica, sirviendo dicha parte para hacer
posible la cualificación de la zona indicadora referente al
envejecimiento.
La presente invención se refiere, asimismo, a un
sistema de análisis de elemento de prueba que comprende elementos
de prueba y un aparato de análisis, presentando los elementos de
prueba una configuración superficial definida con especificidad
posicional, y comprendiendo el aparato de análisis un dispositivo de
posicionamiento, según la invención, a efectos de posicionar un
elemento de prueba en, como mínimo, una posición determinada. El
aparato de análisis puede ser, por ejemplo, un aparato para la
evaluación fotométrica de elementos de prueba. Preferentemente, el
aparato de análisis con elementos de prueba, según la invención,
presenta como mínimo un dispositivo de posicionamiento, según la
invención, a efectos de posicionar un elemento de prueba en una
posición de recepción de muestra y en una posición de análisis.
Según una forma de realización preferente de la presente invención,
el sistema de análisis de elemento de prueba comprende un sistema
para extraer líquido corporal de una parte del cuerpo. Según el
estado de la técnica, se conocen múltiples sistemas de extracción
de líquido corporal, por ejemplo, por el documento WO01/89383. Éstos
sirven, por ejemplo, para obtener sangre capilar de la yema de los
dedos, o bien sangre o líquido intersticial de otras partes del
cuerpo. El líquido corporal obtenido de esta manera se aplica sobre
el elemento de prueba para poder ser analizado en un aparato de
análisis, por ejemplo, su contenido en glucosa.
Según una forma de realización de la presente
invención el sistema de análisis de elemento de prueba comprende un
recipiente contenedor para elementos de prueba y un dispositivo de
extracción para extraer automáticamente, como mínimo, un elemento
de prueba del recipiente contenedor. Preferentemente, el sistema de
análisis de elemento de prueba, según la invención, es un sistema
integrado con el que se llevan a cabo de forma totalmente automática
la extracción de una muestra (por ejemplo, la perforación de la
piel y la aplicación de sangre sobre un elemento de prueba que se
extrae de un recipiente contenedor, y se transporta a la posición de
recepción de muestra y ahí se posiciona) y el análisis de la
muestra (por ejemplo, el transporte y el posicionamiento de un
elemento de prueba con una muestra en la posición de análisis, la
medición y la evaluación de las magnitudes relevantes, la
indicación de los resultados del análisis).
Según una forma de realización preferente de la
presente invención, el sistema de análisis de elemento de prueba se
utiliza para el análisis de glucosa en la sangre.
A continuación, se explica la invención con más
detalle por medio de los dibujos.
Éstos muestran:
En la figura 1, una representación esquemática
de un dispositivo de posicionamiento, según la invención, para un
elemento de prueba,
En la figura 2, una representación de un detalle
de la figura 1, en perspectiva,
En la figura 3, un detalle de otra forma de
realización de un dispositivo de posicionamiento, según la
invención, para un elemento de prueba,
En la figura 4, una representación esquemática
de otra forma de realización de un dispositivo de posicionamiento,
según la invención, para un elemento de prueba,
En la figura 5, una representación esquemática
de otra forma de realización de un dispositivo de posicionamiento,
según la invención, para un elemento de prueba, y
En la figura 6, una representación de otro
detalle de otra forma de realización de la presente invención con
una placa elástica y un resorte de contacto, en perspectiva.
En la figura 1 se muestra una primera forma de
realización de un dispositivo de posicionamiento, según la
invención, para elementos de prueba.
Según esta forma de realización preferente de la
presente invención, el primer componente de conmutación es una
espiga que se asienta sobre una superficie de apoyo, y el segundo
componente de conmutación es un vástago montado con capacidad de
desplazamiento que presenta un extremo que se estrecha cónicamente y
está dirigido hacia el elemento de prueba, y el elemento de prueba
presenta como configuración superficial con especificidad
posicional, como mínimo, un rebaje que recibe el extremo cónico del
vástago.
El elemento de prueba (1), por ejemplo, una tira
de prueba, está dispuesto sobre una superficie de apoyo (2). La
espiga que sirve como primer componente de conmutación (3) se
asienta con un extremo sobre la superficie de apoyo (2). La función
del segundo componente de conmutación (4) la adopta un vástago
montado con capacidad de desplazamiento y que presenta un extremo
(5) que se estrecha cónicamente y está dirigido hacia el elemento
de prueba (1). El primer componente de conmutación (3) y el segundo
componente de conmutación (4) están dispuestos en paralelo entre sí
(en la figura 1 uno detrás de otro). El segundo componente de
conmutación (4) puede ser desviado perpendicularmente con respecto
a la superficie de apoyo (2). El elemento de prueba (1) presenta,
como mínimo, un rebaje (6) que puede recibir el extremo cónico (5)
del segundo componente de conmutación (4). Este rebaje (6)
corresponde a una configuración superficial con especificidad
posicional del elemento de prueba (1), es decir que el rebaje (6)
está dispuesto en un punto determinado del elemento de prueba (1),
de manera que dicho elemento de prueba (1) se encuentra en una
determinada posición, por ejemplo, en un sistema de análisis de
elemento de prueba, en el momento en el que el rebaje (6) recibe el
extremo cónico (5) del segundo componente de conmutación (4). A
efectos de posicionar el elemento de prueba (1) en esta posición
deseada, se modifica manual o automáticamente la posición del
elemento de prueba (1) y éste pasa por debajo del segundo componente
de conmutación (4) que está montado elásticamente, hasta que dicho
segundo componente de conmutación (4) se encuentra encima del
rebaje (6) y es desviado encajando en el mismo.
Debido a este desvío del segundo componente de
conmutación (4) con respecto al primer componente de conmutación
(3) que se asienta sobre la superficie de apoyo (2) y sirve como
referencia se cierra un interruptor, lo que señaliza el
posicionamiento deseado del elemento de prueba (1).
Según la forma de realización de la presente
invención, que se muestra en la figura 1, el primer componente de
conmutación (3) determina el desvío de una placa elástica que
levanta, a su vez, un resorte de contacto, y el segundo componente
de conmutación (4) transmite su desvío a este resorte de contacto,
cerrándose un interruptor eléctrico, cuando el resorte de contacto
(8) entra en contacto con la placa elástica (7). Se da la máxima
precisión de posicionamiento, cuando los puntos de contacto del
primer componente de conmutación (3) y del segundo componente de
conmutación (4) sobre los elementos de conmutación, que son el
resorte de contacto (8) y la placa elástica (7), son muy pequeños y
se encuentran sobre una línea que está dispuesta paralelamente a
los ejes de giro del resorte.
La placa elástica (7) y el resorte de contacto
(8) están dispuestos substancialmente en paralelo a la superficie
de apoyo (2) del elemento de prueba (1). El primer componente de
conmutación (3) transfiere mecánicamente el plano de referencia,
con respecto al que se ha de realizar la conmutación (según la
presente forma de realización, el plano de la superficie de apoyo
(2)), a la placa elástica (7). El segundo componente de conmutación
(4) actúa con su extremo dirigido en alejamiento al elemento de
prueba (1) sobre el resorte de contacto (8). A tal efecto, el
segundo componente de conmutación (4) atraviesa la placa elástica
(7) a través de un orificio (9). Cuando el extremo cónico (5) del
segundo componente de conmutación (4) llega a la posición del rebaje
(6) en el elemento de prueba (1), el segundo componente de
conmutación (4) queda desviado por el resorte (10) y también por la
placa elástica (7) hacia el elemento de prueba (1), estando guiado
por el manguito de guía (11). Debido a ello, una cuchilla de
contacto (12) del resorte de contacto (8) que se asienta sobre el
extremo del segundo componente de conmutación (4), que penetra a
través del orificio (9) de la placa elástica (7), se acerca a la
superficie (13) de la placa elástica (7). En el momento en el que la
cuchilla de contacto (12) del resorte de contacto (8) entra en
contacto con la superficie (13) de la placa elástica (7), se cierra
un circuito eléctrico y se detecta que el elemento de prueba ha
alcanzado una determinada posición. En consecuencia, el interruptor
eléctrico se cierra, de acuerdo con la invención, porque se
establece un contacto eléctrico entre una placa elástica desviada
por el primer componente de conmutación y un resorte de contacto
desviado por el segundo componente de conmutación.
El segundo componente de conmutación (4) fija el
elemento de prueba (1) cuando encaja en el rebaje del elemento de
prueba (1), de manera que dicho elemento de prueba (1) queda fijado
en esta posición con una fuerza definida. Además, el elemento de
prueba (1) queda orientado de forma muy precisa, por ejemplo
redondo, porque el extremo cónico (5) y el rebaje (6) encajan
exactamente, dado que el extremo cónico (5) centra el rebaje (6)
alrededor del eje de simetría del segundo componente de conmutación
(4), cuando encaja a presión en el rebaje (6).
Según la presente invención, las longitudes del
primer componente de conmutación (3) y del segundo componente de
conmutación (4) están realizadas con precisión. Debido a ello, la
cadena de tolerancia entre el proceso de movimiento mecánico y la
función de conmutación eléctrica se mantiene lo más pequeña posible
y la histéresis puede ser mínima. Si, por ejemplo, un primer
componente de conmutación (3) realizado en forma de espiga se apoya
sobre una superficie de apoyo (2) de una pieza de moldeo por
inyección, se podrá fabricar un interruptor de alta precisión para
la producción en serie incluso con una técnica de moldeo por
inyección económica. El punto de contacto del primer componente de
conmutación (3) puede utilizarse adicionalmente para ajustar el
punto de conmutación, a efectos de homogeneizar piezas de múltiples
alojamientos. El primer componente de conmutación (3) provoca la
pretensión de la placa elástica (7), lo que tiene una influencia
sobre la distancia al resorte de contacto (8) que está dispuesto
por encima de la misma.
En la figura 2 se muestra una representación de
un detalle de la figura 1, en perspectiva.
En el detalle se muestra la acción conjunta
entre los dos componentes de conmutación (3, 4) y la placa elástica
(7) y el resorte de contacto (8). El nivel de la placa elástica (7)
queda determinado por el primer componente de conmutación (3) sobre
cuyo extremo realizado como superficie de contacto se apoya. Dicho
extremo del primer componente de conmutación (3) puede estar
realizado, por ejemplo, en forma de anillo (14) con dos elevaciones
que rodea el orificio (9) (véase la figura 1), de manera que la
placa elástica (7) se apoya sobre las elevaciones que están
dispuestas en una línea con el componente de conmutación (4) y
paralelamente a los ejes de giro del resorte.
El segundo componente de conmutación (4)
atraviesa la placa elástica (7) pasando por el orificio (9) y, en
función del desvío del segundo componente de conmutación (4),
levanta o baja el resorte de contacto (8). Cuando la cuchilla de
contacto (12) del resorte de contacto (8) es levantada de la
superficie de la placa elástica (7) y, por consiguiente, no está en
contacto con la misma, el interruptor formado por la placa elástica
(7) y el resorte de contacto (8) está en una posición abierta.
Cuando la cuchilla de contacto (12) se apoya sobre la superficie de
la placa elástica (7), el interruptor está cerrado.
En la figura 6 se muestra otra representación de
la placa elástica y del resorte de contacto, según otra forma de
realización de la presente invención, en perspectiva.
El nivel de la placa elástica (7) queda
determinado por el primer componente de conmutación (3) que se apoya
con una superficie de contacto dispuesta en un saliente (27) desde
arriba sobre la placa elástica (7). El segundo componente de
conmutación está dispuesto de forma análoga a la forma de
realización del dispositivo de posicionamiento, según la invención,
mostrada en la figura 2. La referencia de designación de cada
componente con referencia en la figura 6 corresponde a la de la
figura 2.
Según una forma de realización preferente del
dispositivo de posicionamiento, según la invención, con una placa
elástica (7) y un resorte de contacto (8), en especial, según la
figura 2 o la figura 6, el primer componente de conmutación (3)
determina el desvío de la placa elástica (7), estableciendo contacto
con dicha placa elástica (7) mediante una superficie de contacto,
estando la placa elástica pretensada en una dirección hacia la
superficie de contacto. La superficie de contacto entra en contacto
con la placa elástica (7) en el lado dirigido hacia el resorte de
contacto (8), en el lado dirigido en alejamiento del resorte de
contacto (8), o bien a ambos lados de la placa elástica (7).
En la figura 3 se muestra un detalle de otra
forma de realización de un dispositivo de posicionamiento para
elementos de prueba, según la invención.
Según esta forma de realización preferente de la
presente invención, el primer componente de conmutación (3) es un
vástago hueco que se asienta sobre una superficie de referencia del
elemento de prueba (1) con un extremo que se estrecha cónicamente,
está dirigido hacia el elemento de prueba (1) y presenta una
abertura, y el segundo componente de conmutación (4) es una espiga
con una punta esférica, estando la espiga montada elásticamente en
el vástago y sobresaliendo la punta esférica, en el estado
descomprimido, parcialmente por encima del extremo cónico del
vástago pasando a través de la abertura, estando la misma, en el
estado comprimido, totalmente encajada por presión en el
vástago.
El primer componente de conmutación (3) está
realizado en forma de vástago hueco (22) que presenta un extremo
(15) que se estrecha cónicamente con una abertura (16). En el
interior de este primer componente de conmutación (3) hay un
orificio longitudinal (17) que desemboca en un espacio hueco (18)
dispuesto en el extremo cónico (15) al que sigue, a su vez, la
abertura (16). El orificio longitudinal (17) y el espacio hueco (18)
alojan el segundo componente de conmutación (4). El segundo
componente de conmutación (4) es una espiga (19) con una punta
esférica (20) que está montada elásticamente en el orificio
longitudinal (17) a través del resorte (21) y puede ser desviada a
lo largo del eje de simetría del orificio longitudinal (17).
En el estado descomprimido, tal como se muestra
en la figura 3, una parte de la punta esférica (20) del segundo
componente de conmutación (4) sobresale del extremo cónico (15) del
primer componente de conmutación (3) pasando por la abertura (16).
Este es el caso, cuando la configuración superficial del elemento de
prueba (1) permite la descompresión, por ejemplo, debido a un
alojamiento (23), en el que queda desviado el segundo componente de
conmutación (4), mientras que el primer componente de conmutación
(3) se asienta sobre una superficie de base del elemento de prueba
(1) situada más arriba.
En estado comprimido, la punta esférica (20)
está completamente encajada a presión en el extremo cónico (15) del
primer componente de conmutación (3). Este es el caso, por ejemplo,
cuando tanto el extremo cónico (15) como también la punta esférica
se asientan sobre una superficie de base plana del elemento de
prueba (1).
Debido a la relación no lineal entre un
movimiento horizontal del alojamiento durante el proceso de
posicionamiento y el desvío perpendicular del segundo componente de
conmutación (4), se da una alta sensibilidad de conmutación.
Según esta forma de realización de la presente
invención, al hundirse el extremo cónico (15) en un alojamiento
correspondiente dispuesto en el elemento de prueba (1), provoca en
esta realización de la invención el centrado del elemento de
prueba, mientras que el hundimiento de la punta esférica (20) sirve
para el posicionamiento. Es esencial para estas funciones que la
fuerza con la que la punta esférica (20) es presionada hacia abajo,
es substancialmente inferior a la fuerza con la que se presiona
hacia abajo el primer componente de conmutación (3).
Según esta forma de realización de la presente
invención, la configuración superficial del elemento de prueba (1)
es un contorno que influye sobre el desvío de la espiga en función
de la posición del elemento de prueba (1). Preferentemente, el
contorno está realizado en forma de surco que varía en anchura y
profundidad sobre la superficie del elemento de prueba (1). Un
segmento ancho y profundo del surco provoca, en este caso, la
amplia descompresión del segundo componente de conmutación (4),
mientras que un segmento estrecho y poco profundo del surco sólo
permite una descompresión reducida. Debido a la amplitud de
descompresión (en función del desvío del segundo componente de
conmutación (4) con respecto al primer componente de conmutación
(3)), se puede detectar una posición determinada del elemento de
prueba (1).
En la figura 4 se muestra otra forma de
realización de un dispositivo de posicionamiento para elementos de
prueba, según la invención.
Dicho dispositivo de posicionamiento comprende
los dos componentes de conmutación (3, 4) mostrados en la figura 3,
que están realizados en forma de vástago hueco (22) con extremo
cónico (15) y espiga (19) con punta esférica (20), respectivamente.
Además, el dispositivo de posicionamiento mostrado en la figura 4
comprende una placa elástica (7) y un resorte de contacto (8), que
actúan conjuntamente tal como ya se ha explicado en relación con
las figuras 1 y 2. En este caso, la placa elástica (7) se apoya
sobre el extremo del vástago (22) que está dispuesto en alejamiento
del elemento de prueba (1), y la cuchilla de contacto (12) del
resorte de contacto se apoya sobre el extremo de la espiga (19) que
pasa por el orificio (9) dispuesto en la placa elástica (7). De
esta forma se obtiene un diferenciador, cuya posición de conmutación
resulta de la diferencia entre los desvíos de los dos componentes
de conmutación (3, 4) que se deslizan sobre la superficie del
elemento de prueba (1).
En la figura 5 se muestra otra forma de
realización de un dispositivo de posicionamiento para elementos de
prueba, según la invención.
Según esta forma de realización, el primer
componente de conmutación (3) es un resalte (24) dispuesto al lado
de la superficie de apoyo (2) para el elemento de prueba (1), y el
segundo componente de conmutación (4) es un vástago montado con
capacidad de desplazamiento con un extremo cónico (5) que está
dirigido hacia el elemento de prueba (1). El elemento de prueba (1)
presenta como configuración superficial con especificidad
posicional, como mínimo, un rebaje (6) que recibe el extremo cónico
(5) del vástago. El resalte (24) está realizado de forma
paralelepipédica. También sería concebible, por ejemplo, una
realización del resalte (24) en forma de escalón. Según esta forma
de reali-
zación, el resalte (24) y la superficie de apoyo (2) para el elemento de prueba (1) están realizados en una sola pieza.
zación, el resalte (24) y la superficie de apoyo (2) para el elemento de prueba (1) están realizados en una sola pieza.
El segundo componente de conmutación (4) está
montado con capacidad de desplazamiento en el sentido de las
flechas (26) señaladas y es desviado por el resorte (10) hacia el
elemento de prueba (1). El interruptor eléctrico está abierto en el
momento en el que el resorte de contacto (8) es levantado de la
placa elástica (7) en la dirección hacia la superficie de apoyo (2)
del elemento de prueba debido al saliente lateral (25) del segundo
componente de conmutación. Este es el caso, por ejemplo, cuando el
extremo cónico (5) del vástago entra en un rebaje (6) del elemento
de prueba, tal como se muestra en la figura 5, o cuando no hay
ningún elemento de prueba (1) sobre la superficie de apoyo (2). La
placa elástica (7) y el resorte de contacto (8) constituyen
contactos que están realizados, por ejemplo, como piezas dobladas de
chapa, y están conectados eléctricamente a un microcontrolador (no
mostrado) para la evaluación de señales.
- 1
- Elemento de prueba
- 2
- Superficie de apoyo
- 3
- Primer componente de conmutación
- 4
- Segundo componente de conmutación
- 5
- Extremo cónico del segundo componente de conmutación
- 6
- Rebaje en el elemento de prueba
- 7
- Placa elástica
- 8
- Resorte de contacto
- 9
- Orificio en la placa elástica
- 10
- Resorte
- 11
- Manguito de guía
- 12
- Cuchilla de contacto del resorte de contacto
- 13
- Superficie de la placa elástica
- 14
- Extremo en forma de anillo del primer componente de conmutación
- 15
- Extremo cónico del primer componente de conmutación
- 16
- Abertura en el extremo cónico del vástago
- 17
- Orificio longitudinal
- 18
- Espacio hueco
- 19
- Espiga
- 20
- Punta esférica
- 21
- Resorte
- 22
- Vástago
- 23
- Alojamiento
- 24
- Resalte
- 25
- Saliente
- 26
- Flechas
- 27
- Saliente
Claims (26)
1. Dispositivo de posicionamiento para un
elemento de prueba (1), que comprende
- una superficie de apoyo (2) para el elemento
de prueba (1),
- un primer componente de conmutación (3) que se
asienta sobre la superficie de apoyo (2) al lado del elemento de
prueba (1), o bien sobre una superficie de referencia del elemento
de prueba (1) dispuesto sobre la superficie de apoyo (2), y que
sirve como referencia, y
- un segundo componente de conmutación (4) que
se asienta sobre el elemento de prueba (1) cuya superficie está
configurada con especificidad posicional, que está dispuesto
paralelamente al primer componente de conmutación (3), y que puede
ser desviado perpendicularmente a la superficie de apoyo (2) en
función de la configuración superficial del elemento de prueba
(1),
en el que la posición de conmutación de un
interruptor destinado a señalizar un posicionamiento del elemento
de prueba (1) depende de la desviación del segundo componente de
conmutación (4) con respecto al primer componente de conmutación
(3), sirviendo un plano sobre el que se apoya el primer componente
de conmutación (3) como plano de referencia, con respecto al que se
realiza la conmutación.
2. Dispositivo de posicionamiento, según la
reivindicación 1, caracterizado porque el primer componente
de conmutación (3) es una espiga que se asienta sobre una
superficie de apoyo (2), y el segundo componente de conmutación (4)
es un vástago montado con capacidad de desplazamiento que presenta
un extremo (5) que se estrecha cónicamente y está dirigido hacia el
elemento de prueba (1), y porque el elemento de prueba (1) presenta
como configuración superficial con especificidad posicional, como
mínimo, un rebaje (6) que recibe el extremo cónico (5) del
vástago.
3. Dispositivo de posicionamiento, según la
reivindicación 1, caracterizado porque el primer componente
de conmutación (3) es un resalte (24) dispuesto al lado de la
superficie de apoyo (2) para el elemento de prueba (1), y el
segundo componente de conmutación (4) es un vástago montado con
capacidad de desplazamiento con un extremo cónico (5) que está
dirigido hacia el elemento de prueba (1), y porque el elemento de
prueba (1) presenta como configuración superficial con
especificidad posicional, como mínimo, un rebaje (6) que recibe el
extremo cónico (5) del vástago.
4. Dispositivo de posicionamiento, según la
reivindicación 3, caracterizado porque el resalte (24) está
realizado en forma de paralelepípedo o en forma de escalón.
5. Dispositivo de posicionamiento, según la
reivindicación 3 ó 4, caracterizado porque el resalte (24) y
la superficie de apoyo (2) para el elemento de prueba (1) están
realizados en una sola pieza.
6. Dispositivo de posicionamiento, según la
reivindicación 1, caracterizado porque el primer componente
de conmutación (3) es un vástago hueco (22) que se asienta sobre
una superficie de referencia del elemento de prueba (1) y presenta
un extremo (15) que se estrecha cónicamente, y que está dirigido
hacía el elemento de prueba (1) y dotado de una abertura (16), y el
segundo componente de conmutación (4) es una espiga (19) con una
punta esférica (20), estando la espiga (19) montada elásticamente
dentro del vástago (22) y sobresaliendo la punta esférica (20), en
el estado descomprimido, parcialmente por encima del extremo cónico
(15) del vástago (22) pasando por la abertura (16) y estando la
misma, en estado comprimido, totalmente encajada a presión dentro
del vástago (22).
7. Dispositivo de posicionamiento, según la
reivindicación 6, caracterizado porque la configuración
superficial del elemento de prueba (1) es un contorno que influye
sobre el desvío de la espiga (19) en función de la posición del
elemento de prueba (1).
8. Dispositivo de posicionamiento, según la
reivindicación 7, caracterizado porque el contorno está
realizado en forma de surco que varía en anchura y profundidad
sobre la superficie del elemento de prueba (1).
9. Dispositivo de posicionamiento, según una de
las reivindicaciones 1 a 8, caracterizado porque el primer
componente de conmutación (3) determina el desvío de una placa
elástica (7) y el segundo componente de conmutación (4) transfiere
su desvío a un resorte de contacto (8), estando un interruptor
eléctrico cerrado cuando el resorte de contacto (8) entra en
contacto con la placa elástica (7).
10. Dispositivo de posicionamiento, según la
reivindicación 9, caracterizado porque el segundo componente
de conmutación (4) atraviesa la placa elástica (7) a través de un
orificio (9).
11. Dispositivo de posicionamiento, según la
reivindicación 9, caracterizado porque el segundo componente
de conmutación (4) presenta un saliente lateral (25) a través del
cual el segundo componente de conmutación (4) transfiere su desvío
al resorte de contacto (8).
\newpage
12. Dispositivo de posicionamiento, según una de
las reivindicaciones 9 a 11, caracterizado porque el primer
componente de conmutación (3) determina el desvío de la placa
elástica (7), estableciendo contacto con dicha placa elástica (7)
mediante una superficie de contacto, estando la placa elástica (7)
pretensada en una dirección hacia la superficie de contacto.
13. Dispositivo de posicionamiento, según la
reivindicación 12, caracterizado porque la superficie de
contacto establece contacto con la placa elástica (7) en el lado
dirigido hacia el resorte de contacto (8), en el lado dirigido en
alejamiento del resorte de contacto (8), o bien en ambos lados de la
placa elástica (7).
14. Dispositivo de posicionamiento, según una de
las reivindicaciones 1 a 13, caracterizado porque el elemento
de prueba (1) es un elemento de prueba con intersticio capilar.
15. Dispositivo de posicionamiento, según una de
las reivindicaciones 1 a 14, caracterizado porque el elemento
de prueba (1) presenta una configuración superficial con
especificidad posicional que marca una posición de recepción de
muestra y una posición de análisis de muestra.
16. Procedimiento para el posicionamiento de un
elemento de prueba (1) en un sistema de análisis que comprende los
siguientes pasos:
- modificación de la posición de un elemento de
prueba (1) en un sistema de análisis sobre una superficie de apoyo
(2) pasando por debajo de un segundo componente de conmutación (4)
montado elásticamente hasta que, en una posición definida del
elemento de prueba (1) y debido a la configuración superficial del
mismo, el segundo componente de conmutación (4) queda desviado de
forma definida con respecto a un primer componente de conmutación
(3) que se asienta sobre la superficie de apoyo (2) o sobre una
superficie de referencia sobre el elemento de prueba (1), y
- cierre de un interruptor eléctrico que sirve
para señalizar eléctricamente el posicionamiento de un elemento de
prueba (1), debido al desvío definido del segundo componente de
conmutación (4) con respecto al primer componente de
conmutación.
17. Procedimiento, según la reivindicación 16,
caracterizado porque el segundo componente de conmutación (4)
fija el elemento de prueba (1) en una posición en la que el
interruptor eléctrico está cerrado.
18. Procedimiento, según una de las
reivindicaciones 16 ó 17, caracterizado porque el interruptor
eléctrico se cierra cuando se establece un contacto eléctrico entre
una placa elástica (7) desviada por el primer componente de
conmutación (3) y un resorte de contacto (8) desviado por el segundo
componente de conmutación (4).
19. Procedimiento, según una de las
reivindicaciones 16 a 18, caracterizado porque el elemento de
prueba (1) es posicionado en el aparato de análisis, como mínimo,
en una posición con la ayuda del interruptor.
20. Procedimiento, según la reivindicación 19,
caracterizado porque el elemento de prueba (1) dispuesto en
el sistema de análisis es extraído de un recipiente contenedor
empujándolo hacia fuera, posicionado en una posición de recepción
de muestra, posicionado en una posición de análisis de muestra y, en
su caso, transportado a un recipiente conservador.
21. Procedimiento, según una de las
reivindicaciones 16 a 20, caracterizado porque la
modificación de la posición del elemento de prueba (1) en el
sistema de análisis se lleva a cabo con la ayuda de un avance
automático, y porque el avance se para en una determinada posición
del interruptor eléctrico o tras una secuencia determinada de
posiciones de dicho interruptor eléctrico.
22. Sistema de análisis de elemento de prueba
que comprende elementos de prueba (1) y un aparato de análisis, en
el que los elementos de prueba (1) presentan una configuración
superficial definida con especificidad posicional y en el que el
aparato de análisis contiene un dispositivo de posicionamiento,
según una de las reivindicaciones 1 a 15, a efectos de posicionar
un elemento de prueba (1) en, como mínimo, una posición
determinada.
23. Sistema de análisis de elemento de prueba,
según la reivindicación 22, caracterizado porque presenta,
como mínimo, un dispositivo de posicionamiento, según una de las
reivindicaciones 1 a 9, a efectos de posicionar un elemento de
prueba (1) en una posición de recepción de muestra y en una posición
de análisis de muestra.
24. Sistema de análisis de elemento de prueba,
según la reivindicación 22 ó 23, caracterizado porque
comprende un sistema para extraer líquido corporal de una parte del
cuerpo.
25. Sistema de análisis de elemento de prueba,
según una de las reivindicaciones 22 a 24, caracterizado
porque comprende un recipiente contenedor para elementos de prueba
(1) y un dispositivo de extracción para extraer de forma
automática, como mínimo, un elemento de prueba (1) del recipiente
contenedor.
26. Utilización del sistema de análisis de
elemento de prueba, según una de las reivindicaciones 22 a 25, para
el análisis de glucosa en la sangre.
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