EP0957529A1 - Verfahren zum Abgleichen der Resonanzfrequenz eines Ringresonators - Google Patents

Verfahren zum Abgleichen der Resonanzfrequenz eines Ringresonators Download PDF

Info

Publication number
EP0957529A1
EP0957529A1 EP99105635A EP99105635A EP0957529A1 EP 0957529 A1 EP0957529 A1 EP 0957529A1 EP 99105635 A EP99105635 A EP 99105635A EP 99105635 A EP99105635 A EP 99105635A EP 0957529 A1 EP0957529 A1 EP 0957529A1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
ring
resonance frequency
stripline
strip line
resonator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
EP99105635A
Other languages
English (en)
French (fr)
Other versions
EP0957529B1 (de
Inventor
Martin Schallner
Willibald Konrath
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Telent GmbH
Original Assignee
Robert Bosch GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Robert Bosch GmbH filed Critical Robert Bosch GmbH
Publication of EP0957529A1 publication Critical patent/EP0957529A1/de
Application granted granted Critical
Publication of EP0957529B1 publication Critical patent/EP0957529B1/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01PWAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P7/00Resonators of the waveguide type
    • H01P7/08Strip line resonators
    • H01P7/082Microstripline resonators
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01PWAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P1/00Auxiliary devices
    • H01P1/20Frequency-selective devices, e.g. filters
    • H01P1/201Filters for transverse electromagnetic waves
    • H01P1/203Strip line filters
    • H01P1/2039Galvanic coupling between Input/Output
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01PWAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P7/00Resonators of the waveguide type
    • H01P7/08Strip line resonators
    • H01P7/088Tunable resonators

Definitions

  • the desired resonance frequency at which the ring resonator Filtering a narrow frequency range should vibrate can be set very precisely.
  • Such printed Ring resonators usually have material fluctuations and Manufacturing tolerances, especially at higher ones Frequencies, because of the small dimensions of the Ring resonators affect manufacturing tolerances more. Therefore, a printed ring resonator points to its Manufacturing usually not the exact one you want Resonance frequency. So there has to be a comparison afterwards the resonance frequency take place, although the May only slightly deteriorate the quality of the resonator, because for the electrical properties of the oscillator or of the filter is the highest possible quality of the resonator important.
  • the above task is either with the characteristics of Claim 1 solved in that with a laser to one or several points of the stripline ring is removed until a desired one Sets resonance frequency, or with the features according to Claim 2 characterized in that at one or more points stripline coupled to the stripline ring a laser wire material is removed until a desired resonance frequency is set.
  • pipe material is used in places the stripline ring where current maxima occur, removed when the resonance frequency is lowered or in places where current minima occur in order to to increase the resonance frequency.
  • the line material is advantageously in the form of a tapering the conductor width of the stripline ring Slit removed, being about the depth of the slit Coarse adjustment and across the width of the slot Fine adjustment of the resonance frequency takes place.
  • Stripline ring is coupled stripline either shortening their length or removing them by removing material one or more places whose width tapers.
  • the stripline ring 1 is one Ring resonator 1 shown.
  • the Resonance frequency of this ring resonator is on the outer edge by means of a laser line material in the form of a Slit 2 removed.
  • the through this slot 2 The tapering of the conductor width caused acts like an in series resonance inserted into the resonance circuit.
  • the one with the Laser-made depth t of the slot 2 has one greater influence on the resonance frequency than the width w of the slot 2. Therefore, the depth t of the slot 2 a rough adjustment and across the width w of the slot 2 fine-tuned the resonance frequency.
  • the slot 2 on the outside of the Stripline ring 1 is embedded, can also Slot 3 on the inside of the stripline ring 1 be provided.
  • Embodiment may differ from that shown Embodiment also several slots on the inner or Outside of the line ring 1 are provided. Placed if one or more of the slots at locations of current maxima becomes thereby reducing the resonance frequency. If you choose for the or the slots where current minima on the Strip line ring 1 occur, this leads to a Increase in the resonance frequency.
  • the resonance frequency of the ring resonator can achieve the material removal to change the Stripline geometry also other shapes than the side have introduced slots 2, 3. For example certain surface elements from inside the Strip line ring 1 are removed.
  • the tuning of the Resonance frequency of a ring resonator also occur that with a stripline ring 4 a stripline 5th is coupled, the length or width of one or more Locations changed by removing material with a laser becomes.
  • the stripline 5 by a piece 6 of length 1 has been shortened or by a slot 7 in the coupling area with the stripline ring 4 has been narrowed.
  • Coupled stripline 5 can also be on one or more locations on the stripline ring 4 Material to be removed to the resonance frequency of the Adjust ring resonators.
  • a varactor (capacitance) diode 8 connected to the stripline 5th a varactor (capacitance) diode 8 connected, so the resonator electronically via a control voltage U. be out of tune.
  • the voting steepness can by a targeted material removal e.g. at positions 6 and 7 of the Strip line 5 can be made constant.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)

Abstract

Ein einfach durchführbares Verfahren zum exakten Abgleich der Resonanzfrequenz eines Ringresonators, der als Streifenleitungsring (1) ausgeführt ist, besteht darin, daß mit einem Laser an ein oder mehreren Stellen (2, 3) des Streifenleitungsringes (1) Leitungsmaterial soweit abgetragen wird, bis sich eine gewünschte Resonanzfrequenz einstellt. <IMAGE>

Description

Stand der Technik
Es ist bekannt, z.B. aus U. Karacaoglu, I. D. Robertson and M. Guglielmi: An Improved Dual-Mode Microstrip Ring Resonator Filter with Simple Geometry, 24 th European Microwave Conference, 1994, Seite 442 - 447 und H. Yabuki, M. Sagawa, M. Matsuo und M. Makimoto: Stripline Dual-Mode Ring Resonators and Their Application to Microwave Devices, IEEE Transactions On Microwave Theory and Techniques, Vol. 44, No. 5, Mai 1996, Seite 723 - 729, als Streifenleitung ausgeführte Ringresonatoren z.B. zur Realisierung von schmalbandigen Filtern und zum Aufbau von Resonatoren für Mikrowellenoszillatoren einzusetzen. Dafür muß die gewünschte Resonanzfrequenz, auf der der Ringresonator zur Ausfilterung eines schmalen Frequenzbereichs schwingen soll, sehr exakt eingestellt werden. Solche gedruckten Ringresonatoren weisen in der Regel Materialschwankungen und Fertigungstoleranzen auf, insbesondere bei höheren Frequenzen, da sich durch die kleinen Abmessungen des Ringresonators Fertigungstoleranzen stärker auswirken. Deshalb weist ein gedruckter Ringresonator nach seiner Herstellung in der Regel nicht die exakt gewünschte Resonanzfrequenz auf. Es muß also nachträglich ein Abgleich der Resonanzfrequenz stattfinden, wobei sich allerdings die Güte des Resonators nur unwesentlich verschlechtern darf, denn für die elektrischen Eigenschaften des Oszillators bzw. des Filters ist eine möglichst hohe Güte des Resonators sehr wichtig.
Es ist daher Aufgabe der Erfindung, ein möglichst einfach durchführbares Verfahren zu einem sehr genauen Abgleich der Resonanzfrequenz eines Ringresonators, der als Streifenleitungsring ausgeführt ist, anzugeben.
Vorteile der Erfindung
Die genannte Aufgabe wird entweder mit den Merkmalen des Anspruchs 1 dadurch gelöst, daß mit einem Laser an ein oder mehreren Stellen des Streifenleitungsringes Leitungsmaterial soweit abgetragen wird, bis sich eine gewünschte Resonanzfrequenz einstellt, oder mit den Merkmalen gemäß Anspruch 2 dadurch, daß an ein oder mehreren Stellen einer mit dem Streifenleitungsring gekoppelten Streifenleitung mit einem Laser Leitungsmaterial soweit abgetragen wird, bis sich eine gewünschte Resonanzfrequenz einstellt.
Mit diesem Verfahren läßt sich ein sehr genauer Abgleich der Resonanzfrequenz von in Streifenleitungstechnik ausgeführten Ringresonatoren durchführen, da mittels Laser das Leitungsmaterial in beliebig kleinen Portionen abgetragen werden kann. Wegen dieses Abgleichverfahren wird es möglich, größere Fertigungstoleranzen und Schwankungen der Materialparameter zuzulassen, wodurch eine erhebliche Kostenreduzierung erreicht werden kann. Durch den Laserabgleich wird die geometrische Struktur des Resonators nur geringfügig verändert, weshalb sich die Resonatorgüte auch nur unwesentlich verringert; denn für den Einsatz bei Oszillatoren und Filtern ist eine möglichst hohe Güte erforderlich.
Gemäß den Unteransprüchen wird Leitungsmaterial an Stellen des Streifenleitungsringes, an denen Strommaxima auftreten, abgetragen, wenn die Resonanzfrequenz erniedrigt werden soll, oder an Stellen, an denen Stromminima auftreten, um die Resonanzfrequenz zu erhöhen.
Das Leitungsmaterial wird zweckmäßigerweise in Form eines die Leiterbreite des Streifenleitungsringes verjüngenden Schlitzes abgetragen, wobei über die Tiefe des Schlitzes ein Grobabgleich und über die Breite des Schlitzes ein Feinabgleich der Resonanzfrequenz erfolgt. Bei der mit dem Streifenleitungsring gekoppelten Streifenleitung wird entweder durch Materialabtrag deren Länge verkürzt oder an ein oder mehreren Stellen deren Breite verjüngt.
Anhand mehrerer in der Zeichnung dargestellter Ausführungsbeispiele wird nachfolgend die Erfindung näher erläutert. Es zeigen:
  • Figur 1 einen Ringresonator, bestehend aus einem Streifenleitungsring und
  • Figur 2 einen Ringresonator, bestehend aus einem Streifenleitungsring und einer damit gekoppelten Streifenleitung.
  • In der Figur 1 ist der Streifenleitungsring 1 eines Ringresonators 1 dargestellt. Zur Abstimmung der Resonanzfrequenz dieses Ringresonators wird am äußeren Rand mittels eines Lasers Leitungsmaterial in Form eines Schlitzes 2 abgetragen. Die durch diesen Schlitz 2 verursachte Verjüngung der Leiterbreite wirkt wie eine in den Resonanzkreis eingefügte Serieninduktivität. Die mit dem Laser hergestellte Tiefe t des Schlitzes 2 hat einen größeren Einfluß auf die Resonanzfrequenz als die Breite w des Schlitzes 2. Deshalb wird über die Tiefe t des Schlitzes 2 eine Grobabstimmung und über die Breite w des Schlitzes 2 eine Feinabstimmung der Resonanzfrequenz vorgenommen. Während der Schlitz 2 auf der Außenseite des Streifenleitungsringes 1 eingelassen ist, kann auch ein Schlitz 3 an der Innenseite des Streifenleitungsringes 1 vorgesehen werden.
    Im übrigen können abweichend von dem dargestellten Ausführungsbeispiel auch mehrere Schlitze an den Innen- bzw. Außenseiten des Leitungsringes 1 vorgesehen werden. Plaziert man den bzw. die Schlitze an Orten von Strommaxima, so wird dadurch die Resonanzfrequenz erniedrigt. Wählt man für den bzw. die Schlitze Orte, an denen Stromminima auf dem Streifenleitungsring 1 auftreten, so führt das zu einer Erhöhung der Resonanzfrequenz.
    Um einen Abgleich der Resonanzfrequenz des Ringresonators zu erzielen, kann der Materialabtrag zur Veränderung der Streifenleitungsgeometrie auch andere Formen als seitlich eingebrachte Schlitze 2, 3 haben. Beispielsweise könnten gewisse Flächenelemente aus dem Inneren des Streifenleitungsringes 1 abgetragen werden.
    Wie in Figur 2 dargestellt, kann die Abstimmung der Resonanzfrequenz eines Ringresonators auch dadurch erfolgen, daß mit einem Streifenleitungsring 4 eine Streifenleitung 5 gekoppelt ist, dessen Länge oder Breite an ein oder mehreren Stellen durch einen Materialabtrag mit einem Laser verändert wird. Beim in der Figur 2 dargestellten Ausführungsbeispiel ist die Streifenleitung 5 um ein Stück 6 der Länge 1 verkürzt worden bzw. durch einen Schlitz 7 im Koppelbereich mit dem Streifenleitungsring 4 verschmälert worden.
    Zusätzlich zu der gekoppelten Streifenleitung 5 kann auch an ein oder mehreren Stellen des Streifenleitungsringes 4 Material abgetragen werden, um die Resonanzfrequenz des Ringresonators abzugleichen.
    Der Abtrag des Leitungsmaterials am Streifenleitungsring 1, 4 bzw. an der Streifenleitung 5 erfolgt während des Meßvorganges für die Resonanzfrequenz. So kann die Auswirkung des Materialabtrags auf die Resonanzfrequenz direkt beobachtet werden und soweit betrieben werden, bis die Resonanzfrequenz exakt erreicht ist.
    Wird, wie in Figur 2 dargestellt, an die Streifenleitung 5 eine Varaktor (Kapazitäts-) Diode 8 angeschlossen, so kann der Resonator über eine Steuerspannung U elektronisch verstimmt werden. Die Abstimmsteilheit kann durch eine gezielte Materialabtragung z.B. an den Stellen 6 und 7 der Streifenleitung 5 konstant gemacht werden.

    Claims (6)

    1. Verfahren zum Abgleichen der Resonanzfrequenz eines Ringresonators, der als Streifenleitungsring ausgeführt ist, dadurch gekennzeichnet, daß mit einem Laser an ein oder mehreren Stellen (2, 3) des Streifenleitungsringes (1) Leitungsmaterial soweit abgetragen wird, bis sich eine gewünschte Resonanzfrequenz einstellt.
    2. Verfahren zum Abgleich der Resonanzfrequenz eines Ringresonators, der als Streifenleitungsring ausgeführt ist, dadurch gekennzeichnet, daß an ein oder mehreren Stellen (6, 7) einer mit dem Streifenleitungsring (4) gekoppelten Streifenleitung (5) mit einem Laser Leitungsmaterial soweit abgetragen wird, bis sich eine gewünschte Resonanzfrequenz einstellt.
    3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß an ein oder mehreren Stellen (2, 3) des Streifenleitungsringes (1), an denen Strommaxima auftreten, Leitungsmaterial abgetragen wird, um die Resonanzfrequenz zu erniedrigen.
    4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß an ein oder mehreren Stellen (2, 3) des Streifenleitungsringes (1), an denen Stromminima auftreten, Leitungsmaterial abgetragen wird, um die Resonanzfrequenz zu erhöhen.
    5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1, 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß Leitungsmaterial in Form eines die Leiterbreite des Streifenleitungsringes (1) verjüngenden Schlitzes (2, 3) abgetragen wird, wobei über die Tiefe (t) des Schlitzes (2) ein Grobabgleich und über die Breite (w) des Schlitzes (2) ein Feinabgleich der Resonanzfrequenz erfolgt.
    6. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß Leitungsmaterial von der Streifenleitung (5) abgetragen wird, um diese zu verkürzen oder um deren Breite an ein oder mehreren Stellen (7) zu verjüngen.
    EP99105635A 1998-05-13 1999-03-19 Verfahren zum Abgleichen der Resonanzfrequenz eines Ringresonators Expired - Lifetime EP0957529B1 (de)

    Applications Claiming Priority (2)

    Application Number Priority Date Filing Date Title
    DE19821382A DE19821382A1 (de) 1998-05-13 1998-05-13 Verfahren zum Abgleichen der Resonanzfrequenz eines Ringresonators
    DE19821382 1998-05-13

    Publications (2)

    Publication Number Publication Date
    EP0957529A1 true EP0957529A1 (de) 1999-11-17
    EP0957529B1 EP0957529B1 (de) 2006-11-29

    Family

    ID=7867605

    Family Applications (1)

    Application Number Title Priority Date Filing Date
    EP99105635A Expired - Lifetime EP0957529B1 (de) 1998-05-13 1999-03-19 Verfahren zum Abgleichen der Resonanzfrequenz eines Ringresonators

    Country Status (3)

    Country Link
    US (1) US6373354B2 (de)
    EP (1) EP0957529B1 (de)
    DE (2) DE19821382A1 (de)

    Cited By (1)

    * Cited by examiner, † Cited by third party
    Publication number Priority date Publication date Assignee Title
    EP1039487A2 (de) * 1999-03-25 2000-09-27 Robert Bosch Gmbh Auf einem Substrat aufgebaute Schichtenfolge in Dünnschichttechnologie

    Families Citing this family (6)

    * Cited by examiner, † Cited by third party
    Publication number Priority date Publication date Assignee Title
    EP1271686A1 (de) * 2001-06-29 2003-01-02 Marconi Communications GmbH Ringresonator - Verfahren zum Trennen orthogonaler Resonanzmoden und Verfahren zum Abgleich eines Ringresonators
    US20040091392A1 (en) * 2002-08-09 2004-05-13 Mcbride Sterling Eduard Method and apparatus for employing a tunable microfluidic device for optical switching, filtering and assaying of biological samples
    US6825742B1 (en) 2002-12-30 2004-11-30 Raytheon Company Apparatus and methods for split-feed coupled-ring resonator-pair elliptic-function filters
    DE10310434A1 (de) * 2003-03-11 2004-09-30 Krone Gmbh Verfahren zum HF-Abstimmen einer elektrischen Anordnung sowie eine hierzu geeignete Leiterplatte
    US7369010B2 (en) * 2003-11-21 2008-05-06 E. I. Du Pont De Nemours And Company Laser trimming to tune the resonance frequency of a spiral resonator, the characteristics of a high temperature superconductor filter comprised of spiral resonators, or the resonance of a planar coil
    CN107342450A (zh) * 2017-07-11 2017-11-10 中国电子科技集团公司第十六研究所 一种可用激光精确调整频率的超导微带谐振器的设计方法

    Citations (6)

    * Cited by examiner, † Cited by third party
    Publication number Priority date Publication date Assignee Title
    DE2118309A1 (de) * 1971-04-15 1972-10-19 Siemens Ag Verfahren zum Erniedrigen der Resonanzfrequenz von Microstrip-Resonatoren
    JPS5899002A (ja) * 1981-12-09 1983-06-13 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> フイルタ回路素子
    US4619001A (en) * 1983-08-02 1986-10-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Tuning systems on dielectric substrates
    US4749963A (en) * 1985-12-11 1988-06-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Oscillator having stripline loop resonator
    JPH0613807A (ja) * 1992-06-24 1994-01-21 Murata Mfg Co Ltd 発振器の周波数調整方法
    WO1997044852A1 (en) * 1996-05-22 1997-11-27 E.I. Du Pont De Nemours And Company Resonators for high power high temperature superconducting devices

    Family Cites Families (7)

    * Cited by examiner, † Cited by third party
    Publication number Priority date Publication date Assignee Title
    NL7314269A (nl) * 1973-10-17 1975-04-21 Philips Nv Microgolfinrichting voorzien van een 1/2 lambda resonator.
    US4072902A (en) * 1975-06-30 1978-02-07 Epsilon Lambda Electronics Corp. Receiver module and mixer thereof
    US4157517A (en) * 1977-12-19 1979-06-05 Motorola, Inc. Adjustable transmission line filter and method of constructing same
    EP0731521B1 (de) * 1992-04-30 2002-08-28 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Zweifachmodus-Streifenleitungsringresonator und Bandpassfilter mit derartigen Resonatoren
    US5400002A (en) * 1992-06-12 1995-03-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Strip dual mode filter in which a resonance width of a microwave is adjusted and dual mode multistage filter in which the strip dual mode filters are arranged in series
    DE69431888T2 (de) * 1993-10-04 2003-07-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd Zweimodenresonator mit zwei unabhängig resonierenden Mikrowellen
    DE4436295A1 (de) * 1994-08-19 1996-02-22 Cryoelectra Ges Fuer Kryoelekt Resonator

    Patent Citations (6)

    * Cited by examiner, † Cited by third party
    Publication number Priority date Publication date Assignee Title
    DE2118309A1 (de) * 1971-04-15 1972-10-19 Siemens Ag Verfahren zum Erniedrigen der Resonanzfrequenz von Microstrip-Resonatoren
    JPS5899002A (ja) * 1981-12-09 1983-06-13 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> フイルタ回路素子
    US4619001A (en) * 1983-08-02 1986-10-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Tuning systems on dielectric substrates
    US4749963A (en) * 1985-12-11 1988-06-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Oscillator having stripline loop resonator
    JPH0613807A (ja) * 1992-06-24 1994-01-21 Murata Mfg Co Ltd 発振器の周波数調整方法
    WO1997044852A1 (en) * 1996-05-22 1997-11-27 E.I. Du Pont De Nemours And Company Resonators for high power high temperature superconducting devices

    Non-Patent Citations (2)

    * Cited by examiner, † Cited by third party
    Title
    PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 18, no. 213 (E - 1538) 15 April 1994 (1994-04-15) *
    PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 7, no. 200 (E - 196)<1345> 3 September 1983 (1983-09-03) *

    Cited By (2)

    * Cited by examiner, † Cited by third party
    Publication number Priority date Publication date Assignee Title
    EP1039487A2 (de) * 1999-03-25 2000-09-27 Robert Bosch Gmbh Auf einem Substrat aufgebaute Schichtenfolge in Dünnschichttechnologie
    EP1039487A3 (de) * 1999-03-25 2004-01-02 Marconi Communications GmbH Auf einem Substrat aufgebaute Schichtenfolge in Dünnschichttechnologie

    Also Published As

    Publication number Publication date
    DE19821382A1 (de) 1999-11-25
    DE59914017D1 (de) 2007-01-11
    US20010011936A1 (en) 2001-08-09
    US6373354B2 (en) 2002-04-16
    EP0957529B1 (de) 2006-11-29

    Similar Documents

    Publication Publication Date Title
    DE4337079C2 (de) Koaxiales Kammlinienfilter
    DE60113788T2 (de) Ringresonator und Antenne
    DE19720773B4 (de) Doppelresonanzfrequenz-Antennenvorrichtung
    DE69119309T2 (de) Kopplungstor für einen Resonator mit Mehrfachkondensatoren und mit verteilten Induktoren
    DE60031979T2 (de) Ablatives verfahren zur herstellung von keramikblockfiltern
    DE602006000444T2 (de) Aus dielektrischem material hergestellter, mit diskreten spannungen abstimmbarer resonator
    DE2114056C3 (de) Abstimmeinrichtung
    DE4236769C2 (de) Dielektrisches Resonatorbauelement
    DE2841754A1 (de) Mikrowellenfilter
    DE2928346C2 (de) Aus koaxialen Resonatoren bestehendes elektrisches Filter
    DE1282102C2 (de) Einrichtung zur Verarbeitung elektrischer Signalenergie fuer Frequenzen bis einschliesslich des Millimeter- und Submillimeterwellen-laengengebietes
    DE2707176B2 (de) In Streifenleitertechnik ausgebildeter Resonanzkreis
    EP0957529B1 (de) Verfahren zum Abgleichen der Resonanzfrequenz eines Ringresonators
    DE3007580A1 (de) Oszillator mit einem dielektrischen resonator
    DE3202329C2 (de)
    EP0718906A1 (de) Streifenleitungsfilter
    DE1903518B2 (de) Hochfrequenzoszillator
    DE1286585C2 (de) Frequenzvervielfacher mit mindestens einem ein nichtlineares Element enthaltenden Leitungskreis
    DE4291983C2 (de) Abstimmbare Höchstfrequenz-Bandsperrfiltereinrichtung
    DE19723286A1 (de) Vorrichtung zur Filterung von Hochfrequenzsignalen
    DE2714181A1 (de) Filter fuer sehr kurze elektromagnetische wellen
    DE2905677A1 (de) Hohlraum-resonator
    DE3833695C2 (de) Signalverarbeitungsvorrichtung
    EP1298757A1 (de) Bandpassfilter für ein Hochfrequenzsignal und Abstimmverfahren dafür
    EP0961340B1 (de) Verfahren zum Abstimmen der Resonanzfrequenz eines dielektrischen Resonators

    Legal Events

    Date Code Title Description
    PUAI Public reference made under article 153(3) epc to a published international application that has entered the european phase

    Free format text: ORIGINAL CODE: 0009012

    AK Designated contracting states

    Kind code of ref document: A1

    Designated state(s): DE FR IT SE

    AX Request for extension of the european patent

    Free format text: AL;LT;LV;MK;RO;SI

    17P Request for examination filed

    Effective date: 20000517

    AKX Designation fees paid

    Free format text: DE FR IT SE

    RAP1 Party data changed (applicant data changed or rights of an application transferred)

    Owner name: MARCONI COMMUNICATIONS GMBH

    17Q First examination report despatched

    Effective date: 20040819

    GRAP Despatch of communication of intention to grant a patent

    Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOSNIGR1

    GRAS Grant fee paid

    Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOSNIGR3

    GRAA (expected) grant

    Free format text: ORIGINAL CODE: 0009210

    AK Designated contracting states

    Kind code of ref document: B1

    Designated state(s): DE FR IT SE

    PG25 Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo]

    Ref country code: IT

    Free format text: LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRE;WARNING: LAPSES OF ITALIAN PATENTS WITH EFFECTIVE DATE BEFORE 2007 MAY HAVE OCCURRED AT ANY TIME BEFORE 2007. THE CORRECT EFFECTIVE DATE MAY BE DIFFERENT FROM THE ONE RECORDED.SCRIBED TIME-LIMIT

    Effective date: 20061129

    REF Corresponds to:

    Ref document number: 59914017

    Country of ref document: DE

    Date of ref document: 20070111

    Kind code of ref document: P

    PG25 Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo]

    Ref country code: SE

    Free format text: LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT

    Effective date: 20070228

    ET Fr: translation filed
    REG Reference to a national code

    Ref country code: FR

    Ref legal event code: TP

    PLBE No opposition filed within time limit

    Free format text: ORIGINAL CODE: 0009261

    STAA Information on the status of an ep patent application or granted ep patent

    Free format text: STATUS: NO OPPOSITION FILED WITHIN TIME LIMIT

    26N No opposition filed

    Effective date: 20070830

    PGFP Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo]

    Ref country code: IT

    Payment date: 20080328

    Year of fee payment: 10

    PG25 Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo]

    Ref country code: IT

    Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES

    Effective date: 20090319

    PGFP Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo]

    Ref country code: FR

    Payment date: 20140317

    Year of fee payment: 16

    PGFP Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo]

    Ref country code: DE

    Payment date: 20140327

    Year of fee payment: 16

    REG Reference to a national code

    Ref country code: DE

    Ref legal event code: R119

    Ref document number: 59914017

    Country of ref document: DE

    REG Reference to a national code

    Ref country code: FR

    Ref legal event code: ST

    Effective date: 20151130

    PG25 Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo]

    Ref country code: DE

    Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES

    Effective date: 20151001

    PG25 Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo]

    Ref country code: FR

    Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES

    Effective date: 20150331