DE69917532T2 - Optisches interferenzfilter - Google Patents

Optisches interferenzfilter Download PDF

Info

Publication number
DE69917532T2
DE69917532T2 DE69917532T DE69917532T DE69917532T2 DE 69917532 T2 DE69917532 T2 DE 69917532T2 DE 69917532 T DE69917532 T DE 69917532T DE 69917532 T DE69917532 T DE 69917532T DE 69917532 T2 DE69917532 T2 DE 69917532T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
dielectric layers
optical
interference filter
filter according
optical interference
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE69917532T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69917532D1 (de
Inventor
Vladimir Pelkhaty
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ciena Corp
Original Assignee
Ciena Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ciena Corp filed Critical Ciena Corp
Application granted granted Critical
Publication of DE69917532D1 publication Critical patent/DE69917532D1/de
Publication of DE69917532T2 publication Critical patent/DE69917532T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters
    • G02B5/28Interference filters
    • G02B5/285Interference filters comprising deposited thin solid films
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters
    • G02B5/28Interference filters
    • G02B5/281Interference filters designed for the infrared light
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters
    • G02B5/28Interference filters
    • G02B5/285Interference filters comprising deposited thin solid films
    • G02B5/288Interference filters comprising deposited thin solid films comprising at least one thin film resonant cavity, e.g. in bandpass filters

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Optical Filters (AREA)

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft im allgemeinen optische Interferenzfilter. Insbesondere betrifft die Erfindung ein optisches Zweifach-Durchlassbereich-Interferenzfilter, das geeignet ist, optische Kanäle innerhalb eines ersten und zweiten Durchlassbereichs zu übertragen.
  • Optische Interferenzfilter beruhen auf Prinzipien der Interferenz, die reflektierte Intensitäten von Licht, das auf eine Oberfläche fällt, modifizieren. Ein bekanntes Beispiel einer Interferenz betrifft die Farben, die erzeugt werden, wenn Licht von einer dünnen Schicht aus Öl, die auf Wasser schwimmt, reflektiert wird. Kurz gesagt, kann durch Modifizieren der Grenzfläche einer Substanz und deren Umgebung mit einem dritten Material ein Reflexionsvermögen der Substanz signifikant geändert werden. Dieses Prinzip wird bei der Herstellung von optischen Interferenzfiltern verwendet. Diese Filter können als eines von dem oder als das Hauptfilterelement in optischen Abzweigmultiplexern verwendet werden, die in optischen Kommunikationssystemen eingesetzt sind, um einen oder mehrere Kanäle von einem Übertragungssignal auszuwählen.
  • In seiner einfachsten Form umfasst ein optisches Interferenzfilter einen Hohlraum, der aus zwei Teilreflektoren besteht, die durch einen Abstandhalter getrennt sind. Jeder Teilreflektor, der auch als Viertelwellenstapel bezeichnet wird, ist typischerweise aufgebaut, indem alternierende Schichten aus dielektrischen Materialien mit einem hohen und niedrigen Brechungskoeffizienten bzw. -index auf einem Substrat angeordnet bzw. abgelegt werden, wobei jede Schicht eine optische Dicke (definiert als Brechungsindex der physischen Dicke x) einer Viertelwelle (λ/4) bei der gewünschten Wellenlänge des Filters aufweist. Der Abstandhalter ist typischerweise eine Halbwellen- (oder Mehrfachhalbwellen) -schicht. Ein Interferenzfilter hat eine zugeordnete Übertragungscharakteristik, die eine Funktion der Reflexion der Schichten aus Materialien mit hohem und niedrigem Koeffizienten ist, die dem Stapel zugeordnet sind.
  • Bei vielen Anwendungen sind optische Interferenzfilter aufgebaut, indem mehrfache Hohlräume verwendet werden. Typischerweise sind Hohlräume oben auf anderen Hohlräumen angeordnet mit einer Viertelwellenschicht eines Materials mit niedrigem Koeffizienten dazwischen. Multi- bzw. Mehrfach-Hohlraumfilter erzeugen Übertragungsspektren, die in optischen Kommunikationssystemen bevorzugt sind, bei denen scharfe Kurvenverläufe bzw. Neigungen und rechteckige bzw. quadratische Durchlassbereiche benötigt werden, um einen oder mehrere optische Kanäle auszuwählen. Je größer die Anzahl der verwendeten Hohlräume ist, desto steiler ist die Neigung der Übertragungsbandbreite, die einem bestimmten Filter zugeordnet ist. Die Übertragungsbandbreite eines Mehrfachhohlraumfilters ist weiter im Vergleich zu der Übertragungsbandbreite, die einem einzelnen Hohlraumfilter zugeordnet ist.
  • Die Druckschrift US-A-5410431 beschreibt ein optisches Mehrfachdurchlassbereichfilter, die Druckschrift US-A-4958892 beschreibt Beugungskohärenzfilter und die Druckschrift FR-A-2658619 beschreibt ein optisches Interferenzfilter.
  • 1 zeigt ein beispielhaftes Übertragungsspektrum (normalisiert bzw. normiert bei 1,55 μm) für einen Viertelwel lenstapel mit einer Mehrzahl von dielektrischen Schichten mit hohem/niedrigem Brechungskoeffizienten. Der Stapel ist abgestimmt, um Wellenlängen in dem Bereich von 1,5 μm zurückzuweisen bzw. zu unterdrücken und zeigt wellige Nebenkeulen bzw. Seitenzipfel, die mit Bezugsziffer 5 bezeichnet sind.
  • 2 zeigt ein beispielhaftes Übertragungsspektrum (normalisiert bei 1,55 μm) für ein optisches Interferenzfilter mit einem einzelnen Hohlraum, das ein Stapelpaar verwendet, von denen jedes das in 1 gezeigte Übertragungsspektrum hat. Wie in 2 zu sehen ist, ist die Übertragungsantwort bei λ/λ0 = 1,0 akzeptierbar, was 1,55 μm (λ/λ0 = 1,55 μm/1,55 μm) entspricht. Die Antwort bei 0,845, was näherungsweise 1,31 μm entspricht (λ/λ0 = 1,31 μm/1,55 μm), fällt jedoch auf das Seitenband und/oder innerhalb des Wellenbands bzw. des Welligkeitsbereichs des Übertragungsspektrums, wodurch eine Übertragung einer bestimmten Wellenlänge in diesem Bereich unzuverlässig wird. Insbesondere erzeugt das Interferenzfilter mit einzelnem Hohlraum eine hohe Transmission bzw. Durchlässigkeit bei Wellenlängen, die mit Bezugsziffer 10 bezeichnet sind, aber es erzeugt auch eine verhältnismäßig niedrige Transmission, wie mit 15 bezeichnet ist. Daher kann eine Übertragung bei Wellenlängen in dem 1,5 μm-Bereich zuverlässig sein, während eine Übertragung für Wellenlänge innerhalb des Wellenbands oder der Seitenbandneigung Variationen in der Übertragungseigenschaft ausgesetzt sind. Dies trifft ebenfalls für Wellenlängen in dem Bereich von 1,6 μm (λ/λ0 = 1,62 μm/1,55 μm) zu. 2 zeigt, dass Interferenzfilter typischerweise einen einzelnen zuverlässigen Durchlassbereich bereitstellen.
  • Wie vorstehend bemerkt ist, können optische Systeme ein oder mehrere Interferenzfilter verwenden, um bestimmte Kanäle aus einem Übertragungssignal auszuwählen. Beispiels weise kann ein erstes Filter verwendet werden, um einen Nutzlastkanal auszuwählen, der mit Stimme und/oder einer Datenübertragung in dem Bereich von 1,5 μm verbunden ist, und ein zweites Filter wird verwendet, um einen Dienstkanal in dem Bereich von 1,3 μm oder 1,6 μm auszuwählen, der Systemgrad und/oder Netzwerküberwachungsinformationen trägt. Die Verwendung von zwei getrennten Filtern hat jedoch verschiedene Nachteile. Zunächst erhöht dies die Gesamtsystemkosten, da es die Herstellung und Installation von zwei einzelnen Komponenten erfordert. Als zweites haben optische Netzwerke typischerweise einen vorgegebenen Verlustbetrag, der wenn er überschritten wird, die Signalintegrität beeinträchtigen kann. Jede Komponente, in diesem Fall ein optisches Filter, trägt einen gewissen Verlust zu dem Gesamtnetzwerk bei. Durch Verwenden zweier getrennter Filter, um einen Nutzlastkanal und einen Dienstkanal auszuwählen, hat jedes Filter eine negative Auswirkung auf den Verlustbetrag des Netzwerks.
  • Daher gibt es einen Bedarf an einem Filterelement, das mit optischen Kommunikationssystemen verwendet wird, die geeignet sind, einen ersten und einen zweiten optischen Durchlassbereich auszuwählen. Es gibt weiterhin einen Bedarf daran, ein solches Filterelement bereitzustellen, das zuverlässig zumindest eine Wellenlänge auswählt, die einem Nutzlastkanal entspricht, sowie eine Wellenlänge, die einem Dienstkanal innerhalb eines optischen Netzwerks entspricht.
  • Die Erfindung erfüllt diese Erfordernisse und vermeidet die vorstehend genannten Nachteile, indem ein optisches Interferenzfilter bereitgestellt wird, das in der Lage ist, einen ersten und zweiten optischen Durchlassbereich bereitzustellen. Gemäß einem ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung bietet diese ein optisches Interferenzfilter nach Anspruch 1. Gemäß einem zweiten Aspekt der vorliegenden Er findung ist ein optisches Interferenzfilter mit mehreren Hohlräumen bereitgestellt, wie in Anspruch 15 beansprucht ist.
  • Verschiedene Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung werden nun lediglich beispielhaft und unter Bezugnahme auf die folgende Zeichnung beschrieben.
  • 1 zeigt ein Übertragungsspektrum (normalisiert bei 1,55 μm) für einen beispielhaften Viertelwellenstapel.
  • 2 zeigt ein Übertragungsspektrum (normalisiert bei 1,55 μm) für ein optisches Interferenzfilter mit einem Hohlraum.
  • 3 zeigt schematisch einen quadratisch gechirpten bzw. zeitproportional frequenzmodulierten Stapel, der auf einem transparenten Substrat gemäß der vorliegenden Erfindung abgelegt ist.
  • 4 zeigt optische Dickenwerte in Viertelwellen für 15 dielektrische Schichten, die in dem in 3 gezeigten Stapel gemäß der vorliegenden Erfindung enthalten sind.
  • 5 zeigt eine grafische Darstellung der optischen Dickenwerte, der in 4 aufgeführten dielektrischen Schichten.
  • 6 zeigt ein normalisiertes Übertragungsspektrum für einen beispielhaften Stapel mit 15 quadratisch gechirpten Schichten gemäß der vorliegenden Erfindung.
  • 7 zeigt schematisch ein Interferenzfilter mit einem Hohlraum gemäß der vorliegenden Erfindung.
  • 8 zeigt optische Dickenwerte in Viertelwellen für ein Interferenzfilter mit einem Hohlraum gemäß der vorliegenden Erfindung.
  • 9 zeigt ein Übertragungsspektrum, das auf 1,55 μm normalisiert ist, für das Interferenzfilter mit einem Hohlraum, das mit Bezugnahme auf 7 beschrieben ist, gemäß der vorliegenden Erfindung.
  • 10 zeigt optische Dickenwerte in Viertelwellen für 119 Schichten, die in einem erfindungsgemäßen Interferenzfilter mit einem Hohlraum enthalten sind.
  • 11 zeigt ein Übertragungsspektrum für das erfindungsgemäße Interferenzfilter mit einem Hohlraum, das mit Bezugnahme auf 10 beschrieben ist.
  • 12 zeigt eine grafische Darstellung der optischen Dickenwerte der in 10 aufgeführten dielektrischen Schichten.
  • Die vorliegende Erfindung stellt ein optisches Interferenzfilter bereit, das einen hohen Transmissionsgrad (oder einen Reflexionsgrad nahe Null) für einen ersten und zweiten optischen Durchlassbereich aufweist. Bei einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist das Interferenzfilter in der Lage, eine Wellenlänge entsprechend einem Nutzlastkanal in dem Bereich von 1,5 μm und eine zweite Wellenlänge entsprechend einem Dienstkanal in dem Bereich von 1,3 μm auszuwählen. Bei einer weiteren Ausführungsform ist das Interferenzfilter in der Lage, eine Wellenlänge entsprechend einem Nutzlastkanal in dem Bereich von 1,5 μm und eine Wellenlänge entsprechend einem Dienstkanal in dem Bereich von 1,6 μm auszuwählen. Es sollte verstanden werden, dass die vorliegende Erfindung konfiguriert sein kann, um andere Wellenlängen sowie Durchlassbereiche auszuwählen, die eine Mehrzahl von optischen Wellenlängen umfassen.
  • In der Zeichnung bezeichnen gleiche Bezugsziffern gleiche Elemente. 3 zeigt schematisch einen Stapel 10 mit fünfzehn Schichten (auch als ein Spiegel oder Teilspiegel bezeichnet), der auf einem transparenten Substrat 12 abgelegt ist, das beispielsweise Glas, Quarz usw. sein kann. Der Stapel 10 umfaßt dielektrische Schichten 131 ...13N , wobei N = 15 in dieser beispielhaften Konfiguration ist. Jede der Schichten 131 ...13N wechselt zwischen einer Schicht 131 mit einem hohen Brechungskoeffizienten, wie bspw. Ta2O5 (Brechungskoeffizient = 2,05), und einer Schicht 132 mit einem niedrigen Brechungskoeffizienten, wie bspw. SiO2 (Brechungskoeffizient = 1,44). Die Anzahl an dielektrischen Schichten sowie die ausgewählten Materialien und die dielektrischen Schichten, die den Stapel 10 bilden, sind von der Bandbreite des gewünschten Filters abhängig. Beispielhafte Materialien zusätzlich zu den vorstehend genannten umfassen TiO2 (Brechungskoeffizient = 2,25), Al2O3 (Brechungskoeffizient = 1,6), HfO2 (Brechungskoeffizient = 1,971), ZrO2 (Brechungskoeffzient = 2,035) usw., sind aber nicht darauf beschränkt.
  • Die dielektrischen Schichten 131 ...13N haben optische Dickenwerte, die quadratisch gechirpt sind. (Da 3 eine schematische Darstellung eines Stapels mit fünfzehn Schichten ist, sind die optischen Dicken der dargestellten Schichten nicht maßstabsgerecht.) Um zu beschreiben, was mit quadratisch gechirpt gemeint ist, zeigt 4 beispielhaft optische Dickenwerte (tn) für jede der fünfzehn dielektrischen Schichten 131 ...1315 , die in dem Stapel 10 enthalten sind. Es sollte verstanden werden, dass diese Dicken lediglich zu Verdeutlichung unter Bezugnahme auf beispielhafte Durchlassbereiche bereitgestellt sind. Wie zu sehen ist, haben die Schichten 131 und 1315 im wesentlichen dieselbe optische Dicke, die Schichten 132 und 1314 haben ebenfalls im wesentlichen dieselbe optische Dicke usw. bis Schicht 138 , die die Mittelschicht ist und keine entsprechende symmetrische Schicht hat. Die Dicke jeder Schicht variiert basierend auf der folgenden Gleichung:
    Figure 00080001
    wobei tn die resultierende optische Dicke ist, die einer bestimmten Schicht zugeordnet ist, N die Gesamtanzahl der Schichten ist, die zum Bilden eines einzelnen Stapels oder Spiegels verwendet werden, und n die Zahl der bestimmten Schicht innerhalb des Stapels ist. Das quadratische Chirpen der dielektrischen Schichten, die einen Stapel umfassen, resultiert in Schichten mit im wesentlichen optischen Dicken mit Nicht-Viertelwellen. 5 zeigt eine graphische Darstellung der optischen Dicken der dielektrischen Schichten des Stapels 10, der in 4 gezeigt ist und gemäß Gleichung (1). Wie in 5 zu sehen ist, hat der Graph eine einigermaßen konkave Form und daher bezeichnet die Gleichung (1) einen konkaven Stapel. Es sollte verstanden werden, dass benachbarte Schichten innerhalb des quadratisch gechirpten Stapels im wesentlichen gleiche optische Dicken haben können, während diese erhebliche konkave Form beibehalten wird.
  • 6 zeigt ein Übertragungsspektrum, das für 1,55 μm normalisiert ist, für den quadratisch gechirpten Stapel 10 mit fünfzehn Schichten, der durch Gleichung (1) repräsentiert ist. Für normalisierte Wellenlängenwerte von etwa 0,9 bis 1,2 (1,5 μm-Bereich) hat der Stapel 10 einen niedrigen Transmissionsgrad oder hohen Reflexionsgrad. In diesem 1,3 μm-Bereich jedoch, der mit Bezugsziffer 20 bezeichnet ist, erzeugt der Stapel 10 eine hohe Übertragungscharakteristik mit fast keinen Wellen. Der beispielhafte Stapel 10 mit diesem Übertragungsspektrum kann als ein Teilspiegel innerhalb eines Interferenzfilters verwendet werden, das abgestimmt ist, einen Durchlassbereich in dem Bereich von 1,3 μm zu übertragen.
  • 7 zeigt schematisch ein Interferenzfilter 30 mit einem Hohlraum, das einen ersten Stapel 32 und einen zweiten Stapel 33 aufweist, die durch einen Abstandhalter 35 getrennt sind. Der Abstandhalter kann ein Material mit einem niedrigen Brechungskoeffizienten sein, wie bspw. SiO2 (1,44). Gemäß der vorliegenden Erfindung ist jeder der Stapel 32, 33 quadratisch gechirpt, indem Gleichung (1) verwendet wird. 8 zeigt beispielhaft optische Dickenwerte (tn) für ein Interferenzfilter mit einem Hohlraum und einunddreißig Schichten (M), wobei die dielektrischen Schichten 1 bis 15 den ersten Stapel 32 bilden, die Schicht 16 dem Abstandhalter 35 mit niedrigem Brechungskoeffizient entspricht und die Schichten 17 bis 31 den zweiten Stapel 33 bilden. Die symmetrischen optischen Dickenwerte dieser quadratisch gechirpten Schichten werden durch Schichten 1 und 15 demonstriert, die im wesentlichen dieselbe optische Dicke haben (1,1500000), Schichten 2 und 14, die im wesentlichen dieselbe optische Dicke haben (1,1102041) usw. für den ersten Stapel 32. Gleichermaßen haben Schichten 17 und 31 im wesentlichen dieselbe optische Dicke (1,1500000), Schichten 18 und 30 haben im wesentlichen dieselbe optische Dicke (1,1102041) usw. für den zweiten Stapel 33. Wiederum sollte verstanden werden, dass diese optischen Dicken lediglich zur Erläuterung gegeben sind. Außerdem ist wichtig, wenn Gleichung (1) angewandt wird, um die optische Dicke jeder in einem Hohlraum enthaltenen Schicht zu bestimmen, aufzuzeigen, dass „N" die Anzahl der Schichten in einem Stapel und nicht die Anzahl der gesamten Schichten „M" in dem Hohlraum bezeichnet. Auf ähnliche Weise bezeichnet „n" die bestimmte Schichtzahl in einem Stapel und nicht die Schichtzahl „m" innerhalb eines Hohlraums. Beispielsweise führt 8 31 Schichten in dem Hohlraum auf, aber für m = 18 ist n = 2 in Gleichung (1), da die achzehnte Schicht in dem Hohlraum der zweiten Schicht in dem zweiten Stapel entspricht, der aus den Schichten 1731 besteht. Auf ähnliche Weise gilt für m = 30, n = 19, da die dreizehnte Schicht in dem Hohlraum der fünfzehnten Schicht in dem zweiten Stapel entspricht.
  • 9 zeigt ein beispielhaftes Übertragungsspektrum, das für 1,55 μm normalisiert ist, für das Interferenzfilter mit einzelnem Hohlraum und einunddreißig Schichten, das in 7 gezeigt ist. Wie zu sehen ist, ist eine Übertragungsspitze bei λ/λ0 = 1,0 gegeben, die einer Wellenlänge in dem Bereich von 1,5 μm entspricht (näherungsweise 1.550 nm), und eine verhältnismäßig wellenfreie Übertragungscharakteristik bei näherungsweise 0,845, was einer Wellenlänge in dem Bereich von 1,3 μm (näherungsweise 1.310 mm) entspricht. Daher bietet ein Interferenzfilter mit einem Hohlraum mit einem Paar von quadratisch gechirpten Stapeln einen hohen Übertragungsgrad bei einem ersten Durchlassbereich in dem Bereich von 1,5 μm und bei einem zweiten Durchlassbereich in dem Bereich von 1,3 μm, was einer Nutzlastkanalwellenlänge bzw. einer Dienstkanalwellenlänge in einem optischen Netzwerk entsprechen kann.
  • Das erfindungsgemäße Interferenzfilter kann ebenfalls durch Ablegen von Hohlräumen mit quadratisch gechirpten Stapel oben auf anderen Hohlräumen mit quadratisch gechirpten Stapeln gebildet werden. Beispielweise kann das Filter 30 mit einunddreißig Schichten und einzelnem Hohlraum, das unter Bezugnahme auf 7 beschrieben ist, oben auf einem weiteren Hohlraum abgelegt werden usw., um ein Mehrfachhohlrauminterferenzfilter zu bilden. Eine zusätzliche Kopplungsschicht ist zwischen den Hohlräumen abgelegt. Das sich ergebende Übertragungsspektrum für ein solches Mehrfach- bzw. Multihohlraumfilter erweitert die Übertragung von Wellenlängen in dem Bereich von 1.550 mm, während die verhältnismäßig wellenfreie Übertragungscharakteristik entsprechend der Wellenlänge in dem Bereich von 1.310 mm erhalten bleibt. Dies ist vorteilhaft, da die scharfe Spitze bei 1 in 9 zu schmal ist, um eine besondere optische Quelle abzustimmen, die einer Nutzlastkanalwellenlänge (1,5 μm Bereich) zugeordnet ist.
  • Bei einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung stellt ein Interferenzfilter eine Übertragung für einen ersten Durchlassbereich in dem Bereich von 1,5 μm entsprechend einer Nutzlastkanalwellenlänge bereit und für einen zweiten Durchlassbereich in dem Bereich von 1.625 mm entsprechend einer Dienstkanalwellenlänge. Die alternative Ausführungsform basiert auf der folgenden Gleichung:
    Figure 00110001
    wobei tn die optische Dicke ist, die einer bestimmten Schicht zugeordnet ist, N die Gesamtzahl der verwendeten Schichten ist, um einen einzelnen Stapel oder Spiegel zu bilden, und n die Zahl der bestimmten Schicht innerhalb des Stapels ist. Bei dieser Ausführungsform ist der Wellenlängenabstand von dem Nutzlastkanalbereich (1.550 nm) zu dem Dienstkanalbereich (1.625 nm) näherungsweise 75 nm. Dies ist viel kürzer im Vergleich zu dem Abstand zwischen demselben Nutzlastkanal und dem Dienstkanal in dem Bereich von 1,3 μm, was näherungsweise 240 nm ist. Aufgrund dieses kurzen Abstands umfasst Gleichung (2) eine Änderung in der Größe des Chirpens von 0,15 bis 0,06. Zusätzlich erhöht sich die Anzahl an Schichten in jedem Hohlraum auf näherungsweise 119, wobei Schichten 1 bis 59 einen ersten Stapel oder Spiegel bilden, Schicht 60 einem Abstandmaterial mit geringerem Koeffizienten entspricht und Schichten 61 bis 119 den zweiten Stapel bilden. 10 führt beispielhaft optische Dickenwerte für das Filter mit einem Hohlraum auf, wobei Schichten 1 bis 59 dem ersten Stapel entsprechen, Schicht 60 dem Abstandhalter entspricht und Schichten 61 bis 119 dem zweiten Stapel entsprechen.
  • 11 zeigt ein beispielhaftes Übertragungsspektrum für das Interferenzfilter mit einzelnem Hohlraum und 119 Schichten mit den optischen Dickenwerten, die unter Bezugnahme auf 10 aufgeführt sind. Wie zu sehen ist, liegt eine hohe Übertragungsspitze bei näherungsweise 1.550 nm vor, während eine verhältnismäßig wellenfreie Übertragungscharakteristik in dem Bereich von 1.625 nm vorliegt. Somit stellt ein Interferenzfilter mit einem Hohlraum mit einem Paar von quadratisch gechirpten Stapeln eine hohe Übertragung bei einem ersten Durchlassbereich in dem Bereich von 1.550 nm bereit und bei einem zweiten Durchlassbereich in dem Bereich von 1.625 nm, was einer Nutzlastkanalwellenlänge bzw. einer Dienstkanalwellenlänge innerhalb eines optischen Netzwerks entsprechen kann.
  • Zur Erläuterung zeigt 12 eine grafische Darstellung der optischen Dickenwerte für die in 10 aufgeführten dielektrischen Schichten, was einen Graphen mit einer einigermaßen konvexen Form erzeugt.
  • Wiederum kann das Interferenzfilter durch Ablegen von Hohlräumen mit quadratisch gechirpten Stapeln auf anderen Hohlräumen mit quadratisch gechirpten Stapeln ähnlich zu der Konfiguration, die in 7 gezeigt ist, gebildet werden. Beispielsweise kann der Hohlraum mit 119 Schichten, der unter Bezugnahme auf 11 beschrieben ist, oben auf einem weiteren Hohlraum mit einer Kopplungsschicht dazwischen abgelegt sein, um ein Interferenzfilter mit mehreren Hohlräumen zu bilden. Das sich ergebende Übertragungsspektrum für ein solches Filter mit mehreren Hohlräumen erweitert die Übertragung von Wellenlängen in dem Bereich von 1.550 nm, wie in 12 gezeigt ist, während die verhältnismäßig wellenfreie Übertragungscharakteristik entsprechend den Wellenlängen in dem Bereich von 1.310 nm erhalten bleibt. Das Multihohlraumfilter erhöht und quadriert den Durchlassbereich, der den Nutzlastkanalwellenlängen zugeordnet ist, während die verhältnismäßig wellenfreie Übertragungscharakteristik erhalten bleibt, die den Dienstkanalwellenlängen in dem Bereich von 1.625 nm zugeordnet ist.
  • Obwohl die Erfindung insbesondere unter Bezugnahme auf verschiedene Ausführungsformen davon gezeigt und beschrieben wurde, ist zu verstehen, dass Fachleute verschiedene Änderungen in Form und im Detail durchführen können, ohne den Bereich der Erfindung zu verlassen, der in den beigefügten. Ansprüchen definiert ist.

Claims (27)

  1. Optisches Interferenzfilter, das aufweist: ein Substrat (12) mit einer Oberfläche, einen ersten Stapel (32), der auf der Oberfläche des Substrats (12) angeordnet bzw. abgelegt ist, wobei der erste Stapel (32) eine erste Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) umfaßt, wobei jede von ausgewählten der ersten Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) eine jeweilige von einer Mehrzahl von ersten optischen Dicken hat, einen zweiten Stapel (33), der eine zweite Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) aufweist, wobei jede von ausgewählten der zweiten Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) eine jeweilige von einer Mehrzahl von zweiten optischen Dicken hat, einen Abstandhalter (35), der zwischen dem ersten (32) und dem zweiten (33) Stapel gelegt ist, wobei der Abstandhalter (35) und der erste (32) und der zweite (33) Stapel einen optischen Hohlraum definieren, dadurch gekennzeichnet, daß die Mehrzahl von ersten optischen Dicken und die Mehrzahl von zweiten optischen Dicken in einer ersten Richtung bzgl. des Substrats (12) sich quadratisch ändern.
  2. Optisches Interferenzfilter nach Anspruch 1, bei dem die erste Mehrzahl von optischen Dicken basierend auf einem Faktor tn bestimmt sind, wobei der Faktor sich folgendermaßen ändert:
    Figure 00150001
    wobei N einer Gesamtanzahl von der ersten Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) entspricht und n einer bestimmten der ersten Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) entspricht.
  3. Optisches Interferenzfilter nach Anspruch 1 oder 2, bei dem die zweite Mehrzahl von optischen Dicken basierend auf einem Faktor tn bestimmt sind, wobei der Faktor sich folgendermaßen ändert:
    Figure 00150002
    wobei N einer Gesamtanzahl der zweiten Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) entspricht und n einer bestimmten der zweiten Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) entspricht.
  4. Optisches Interferenzfilter nach Anspruch 1, bei dem die erste Mehrzahl von optischen Dicken basierend auf einem Faktor tn bestimmt sind, wobei der Faktor sich folgendermaßen ändert:
    Figure 00160001
    wobei N einer Gesamtanzahl der ersten Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) entspricht und n einer bestimmten der ersten Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) entspricht.
  5. Optisches Interferenzfilter nach Anspruch 1 oder 4, bei dem die zweite Mehrzahl von optischen Dicken basierend auf einem Faktor tn bestimmt sind, wobei der Faktor sich folgendermaßen ändert:
    Figure 00160002
    wobei N einer Gesamtanzahl der zweiten Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) entspricht und n einer bestimmten der zweiten Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) entspricht.
  6. Optisches Interferenzfilter nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem jede der ersten Mehrzahl von dielek trischen Schichten (13N ) ein Material mit abwechselnd hohem und niedrigem Brechungsindex aufweist.
  7. Optisches Interferenzfilter nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem jede der zweiten Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) ein Material mit abwechselnd hohem und niedrigem Brechungsindex aufweist.
  8. Optisches Interferenzfilter nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem die erste Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) ausgewählt sind aus der Gruppe mit im wesentlichen SiO2, Ta2O5, TiO2, Al2O3, HfO2 und ZrO2.
  9. Optisches Interferenzfilter nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem die zweite Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) ausgewählt sind aus der Gruppe mit im wesentlichen SiO2, Ta2O5, TiO2, Al2O3, HfO2 und ZrO2.
  10. Optisches Interferenzfilter nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem der Abstandhalter (35) aus einem dielektrischen Material mit einem niedrigen Brechungsindex gebildet ist.
  11. Optisches Interferenzfilter nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem das Filter eine zugeordnete Übertragungscharakteristik mit ersten und zweiten Durchlaßbereichen aufweist.
  12. Optisches Interferenzfilter nach Anspruch 11, bei dem der erste Durchlaßbereich zumindest einen optischen Kanal mit einer Wellenlänge in dem 1,5 μm Bereich umfaßt.
  13. Optisches Interferenzfilter nach Anspruch 11 oder 12, bei dem der zweite Durchlaßbereich zumindest einen opti schen Kanal mit einer Wellenlänge in dem 1,3 μm Bereich umfaßt.
  14. Optisches Interferenzfilter nach Anspruch 11 oder 12, bei dem der zweite Durchlaßbereich zumindest einen optischen Kanal mit einer Wellenlänge in dem 1,6 μm Bereich umfaßt.
  15. Optisches Interferenzfilter mit mehreren Hohlräumen, das aufweist: eine Mehrzahl von Hohlräumen, wobei jeder dieser Hohlräume durch eine Kopplungsschicht getrennt ist und wobei jeder der Mehrzahl von Hohlräumen aufweist: einen ersten Stapel (32), der eine erste Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) aufweist, wobei jede von ausgewählten der ersten Mehrzahl von dielektrischen Schichten eine jeweilige von einer Mehrzahl von ersten optischen Dicken hat, einen zweiten Stapel (33), der eine zweite Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) aufweist, wobei jede von ausgewählten der zweiten Mehrzahl von dielektrischen Schichten eine jeweilige von einer Mehrzahl von zweiten optischen Dicken hat, und einen Abstandhalter (35), der zwischen dem ersten (32) und dem zweiten (33) Stapel gelegt ist, wobei der Abstandhalter (35) und der erste (32) und der zweite (33) Stapel einen jeweiligen von der Mehrzahl von Hohlräumen definieren, dadurch gekennzeichnet, dass die erste Mehrzahl von optischen Dicken über eine erste Gruppe der ersten Mehrzahl von dielektrischen Schichten sich quadratisch ändert und die zweite Mehrzahl von optischen Dicken sich über eine zweite Gruppe der zweiten Mehrzahl von dielektrischen Schichten ändert.
  16. Interferenzfilter mit mehreren Hohlräumen nach Anspruch 15, bei dem die erste Mehrzahl von optischen Dicken basierend auf einem Faktor tn bestimmt ist, wobei der Faktor sich folgendermaßen ändert:
    Figure 00190001
    wobei N einer Gesamtanzahl der ersten Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) entspricht und n einer bestimmten der ersten Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) entspricht.
  17. Optisches Interferenzfilter nach Anspruch 15 oder 16, bei dem die zweite Mehrzahl von optischen Dicken basierend auf einem Faktor tn bestimmt sind, wobei der Faktor sich folgendermaßen ändert:
    Figure 00190002
    wobei N einer Gesamtanzahl der zweiten Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) entspricht und n einer bestimmten der zweiten Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) entspricht.
  18. Optisches Interferenzfilter nach Anspruch 15, bei dem die erste Mehrzahl von optischen Dicken basierend auf einem Faktor tn bestimmt sind, wobei der Faktor sich folgendermaßen ändert:
    Figure 00200001
    wobei N einer Gesamtanzahl der ersten Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) entspricht und n einer bestimmten der ersten Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) entspricht.
  19. Optisches Interferenzfilter nach Anspruch 15 oder 18, bei dem die zweite Mehrzahl von optischen Dicken basierend auf einem Faktor tn bestimmt sind, wobei der Faktor sich folgendermaßen ändert:
    Figure 00200002
    wobei N einer Gesamtanzahl der zweiten Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) entspricht und n einer bestimmten der zweiten Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13n ) entspricht.
  20. Optisches Interferenzfilter nach einem der Ansprüche 15 bis 19, bei dem jede der ersten Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) ein Material mit abwechselnd hohem und niedrigem Brechungsindex aufweist.
  21. Optisches Interferenzfilter nach einem der Ansprüche 15 bis 20, bei dem jede der zweiten Mehrzahl von dielektrischen Schichten (13N ) ein Material mit abwechselnd hohem und niedrigem Brechungsindex aufweist.
  22. Optisches Interferenzfilter nach einem der Ansprüche 15 bis 21, bei dem jeder der Abstandhalter (35) aus einem dielektrischen Material mit einem niedrigen Brechungsindex gebildet ist.
  23. Optisches Interferenzfilter nach einem der Ansprüche 15 bis 22, bei dem das Filter eine zugeordnete Übertragungscharakteristik mit einem ersten und zweiten Durchlaßbereich hat.
  24. Optisches Interferenzfilter nach Anspruch 23, bei dem der erste Durchlaßbereich zumindest einen optischen Kanal mit einer Wellenlänge in dem 1,5 μm Bereich umfaßt.
  25. Optisches Interferenzfilter nach Anspruch 23 oder 24, bei dem der zweite Durchlaßbereich zumindest einen optischen Kanal mit einer Wellenlänge in dem 1,3 μm Bereich umfaßt.
  26. Optisches Interferenzfilter nach einem der Ansprüche 15 bis 25, bei dem die Kopplungsschicht ein Material mit einem hohen Brechungsindex ist.
  27. Optisches Interferenzfilter nach einem der Ansprüche 15 bis 25, bei dem die Kopplungsschicht ein Material mit einem niedrigen Brechungsindex ist.
DE69917532T 1998-01-15 1999-01-14 Optisches interferenzfilter Expired - Fee Related DE69917532T2 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US7153798P 1998-01-15 1998-01-15
US71537P 1998-01-15
PCT/US1999/000836 WO1999036811A1 (en) 1998-01-15 1999-01-14 Optical interference filter

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69917532D1 DE69917532D1 (de) 2004-07-01
DE69917532T2 true DE69917532T2 (de) 2005-06-30

Family

ID=22101963

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69917532T Expired - Fee Related DE69917532T2 (de) 1998-01-15 1999-01-14 Optisches interferenzfilter

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6301042B1 (de)
EP (1) EP0966696B1 (de)
AU (1) AU2228799A (de)
CA (1) CA2285466A1 (de)
DE (1) DE69917532T2 (de)
WO (1) WO1999036811A1 (de)

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6590925B1 (en) * 1999-11-01 2003-07-08 Massachusetts Institute Of Technology Double-chirped mirror systems and methods
JP3255638B1 (ja) * 2000-06-07 2002-02-12 日本板硝子株式会社 反射型液晶表示素子用基板
JP2002171016A (ja) * 2000-11-30 2002-06-14 Sumitomo Electric Ind Ltd 光フィルタ、光増幅システムおよび光通信システム
US6844977B2 (en) 2001-01-26 2005-01-18 Ciena Corporation Multi-channel optical filter
US6763046B2 (en) * 2001-03-01 2004-07-13 Applied Optoelectronics, Inc. Method and system employing multiple reflectivity band reflector for laser wavelength monitoring
WO2002075378A2 (en) * 2001-03-17 2002-09-26 Marconi Uk Intellectual Property Ltd Tuneable optical filter arrangement for wavelength division multiplex (wdm) network
US6618199B2 (en) * 2001-06-05 2003-09-09 Axsun Technologies, Inc. Dual-band fabry-perot mirror coating
JP4187953B2 (ja) 2001-08-15 2008-11-26 キャボットスーパーメタル株式会社 窒素含有金属粉末の製造方法
US6865315B2 (en) * 2001-08-29 2005-03-08 Jds Uniphase Corporation Dispersion compensating filters
US6728038B2 (en) 2001-08-29 2004-04-27 Jds Uniphase Corporation Low chromatic dispersion filter for WDM
AU2003232487A1 (en) * 2002-04-19 2003-11-03 Katana Technologies Gmbh Production of laser radiation with a low bandwidth for frequency conversion
US7276699B2 (en) 2005-05-18 2007-10-02 Northrop Grumman Corporation Absorptance enhancing coating for MWIR detectors
US7588866B2 (en) 2005-06-01 2009-09-15 Kinoptics Technologies Inc. Filter arrays for liquid crystal displays and methods of making the same
US7759644B2 (en) * 2008-03-18 2010-07-20 Drs Rsta, Inc. Spectrally tunable infrared image sensor having multi-band stacked detectors
DE102009026449B4 (de) 2009-05-25 2014-04-30 Universität Kassel Optische Dünnschichtstruktur mit einer verteilten Kavität
JP5698758B2 (ja) * 2009-11-24 2015-04-08 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ 発光太陽電池集光装置
JP5625614B2 (ja) * 2010-08-20 2014-11-19 セイコーエプソン株式会社 光フィルター、光フィルターモジュール、分光測定器および光機器
CN105589221B (zh) * 2016-03-04 2018-04-03 北京航空航天大学 一种基于受激布里渊散射的可调谐双通带微波光子滤波器
JP6410203B1 (ja) * 2017-02-21 2018-10-24 株式会社ナノルクス 固体撮像素子及び撮像装置
US10782460B2 (en) 2017-05-22 2020-09-22 Viavi Solutions Inc. Multispectral filter
US11153514B2 (en) * 2017-11-30 2021-10-19 Brillnics Singapore Pte. Ltd. Solid-state imaging device, method for driving solid-state imaging device, and electronic apparatus
US11143803B2 (en) * 2018-07-30 2021-10-12 Viavi Solutions Inc. Multispectral filter
EP3879314B1 (de) * 2018-11-06 2024-04-10 FUJIFILM Corporation Bildgebungslinse und bildgebungsvorrichtung
WO2020179282A1 (ja) * 2019-03-06 2020-09-10 パナソニックIpマネジメント株式会社 光検出装置、光検出システム、およびフィルタアレイ

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6038683B2 (ja) * 1981-06-24 1985-09-02 キヤノン株式会社 トリミングフイルタ−
US4501470A (en) * 1981-09-28 1985-02-26 Rockwell International Corporation Christiansen-Bragg optical filter
JPS6318304A (ja) * 1986-07-11 1988-01-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 2波長分離用バンドパスフイルタ−
US4756602A (en) * 1987-06-05 1988-07-12 Rockwell International Corporation Narrowband optical filter with partitioned cavity
US4958892A (en) * 1988-10-18 1990-09-25 Physical Optics Corporation Diffraction coherence filter
JPH02170101A (ja) * 1988-12-23 1990-06-29 Minolta Camera Co Ltd 干渉フィルター
FR2658619B1 (fr) * 1990-02-19 1993-04-02 Megademini Taoufik Miroirs interferentiels multifractals de dimensions fractales entre 0 et 1.
US5099359A (en) * 1990-09-11 1992-03-24 Eastman Kodak Company Composite optical interference filter for use in film scanner system
US5360659A (en) 1993-05-24 1994-11-01 The Dow Chemical Company Two component infrared reflecting film
US5410431A (en) 1993-06-01 1995-04-25 Rockwell International Corporation Multi-line narrowband-pass filters
HU214659B (hu) * 1993-08-23 1998-04-28 Szilárdtestfizikai Kutatóintézet Diszperzív dielektrikumtükör és eljárás annak tervezésére
US5664124A (en) * 1994-11-30 1997-09-02 International Business Machines Corporation Bridge between two buses of a computer system that latches signals from the bus for use on the bridge and responds according to the bus protocols
US5999322A (en) * 1995-06-28 1999-12-07 Cushing; David Henry Multilayer thin film bandpass filter
US6018421A (en) * 1995-06-28 2000-01-25 Cushing; David Henry Multilayer thin film bandpass filter
US5777793A (en) * 1996-07-25 1998-07-07 Northern Telecom Limited Polarization insensitive multilayer planar reflection filters with near ideal spectral response
US5912915A (en) * 1997-05-19 1999-06-15 Coherent, Inc. Ultrafast laser with multiply-folded resonant cavity
CA2238606A1 (en) * 1997-06-26 1998-12-26 Michael Anthony Scobey Cascaded optical multiplexing devices

Also Published As

Publication number Publication date
US6301042B1 (en) 2001-10-09
WO1999036811A1 (en) 1999-07-22
EP0966696A1 (de) 1999-12-29
CA2285466A1 (en) 1999-07-22
EP0966696B1 (de) 2004-05-26
AU2228799A (en) 1999-08-02
DE69917532D1 (de) 2004-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69917532T2 (de) Optisches interferenzfilter
DE69937014T2 (de) Lichtwellenleiterverzweigung mit Reflektor
DE3780713T2 (de) Integrierter optischer multi-demultiplexer.
DE60314706T2 (de) Drahtgitter-Polarisator
DE60133603T2 (de) Planares Wellenleiterbauelement mit flachem Durchlassbereich und steilen Flanken
DE69824927T2 (de) Abstimmbarer, wellenlängenselektiver Filter
DE69025904T2 (de) Optischer Faserfilter
DE3787598T2 (de) Optischer Multi/Demultiplexer.
DE69813756T2 (de) Wellenlängendurchstimmbare Laserquelle für Wellenlängenmultiplexanwendungen
DE3611852A1 (de) Druckempfindliches element
DE2901074A1 (de) Elektrisch einstellbares optisches filter
DE112008003936T5 (de) Hybrid-Geführte-Mode-Resonanz-Filter und Verfahren , das verteilte Bragg-Reflexion einsetzt
DE3248899T1 (de) Beugendes substraktives farbfilter, das auf den einfallswinkel von polychromatischem beleuchtenden licht anspricht
DE69818581T2 (de) Beugungselement und damit ausgestattetes optisches System
DE60122247T2 (de) Optischer Multiplexer/Demultiplexer
DE112018003973T5 (de) Echelle-gitter-multiplexer oder -demultiplexer
DE10257648A1 (de) Abstimmbarer Filter für die Anwendung in optischen Netzwerken
DE60319314T2 (de) Herstellungsverfahren eines Halbleiterbeugungsgitters
EP0831343A2 (de) Optischer Wellenleiter und Verfahren zu seiner Herstellung
DE1901977A1 (de) Perot-Fabry-Interferenzfilter
DE3011501C2 (de) Optisches Kantenfilter
EP1998195B1 (de) Interferenzfilter und Verfahren zu dessen Herstellung
DE2848294A1 (de) Optische filteranordnung
DE60115966T2 (de) Optische filter, ihre herstellungsverfahren und ihre anwendung für ein multiplexsystem
DE60121193T2 (de) Optisches wellenleiterbeugungsgitter

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee