DE546575C - Vorrichtung zum Pruefen der Ebenheit von Flaechen - Google Patents
Vorrichtung zum Pruefen der Ebenheit von FlaechenInfo
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- DE546575C DE546575C DED53327D DED0053327D DE546575C DE 546575 C DE546575 C DE 546575C DE D53327 D DED53327 D DE D53327D DE D0053327 D DED0053327 D DE D0053327D DE 546575 C DE546575 C DE 546575C
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- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B11/306—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for measuring evenness
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Description
- Vorrichtung zum Prüfen der Ebenheit von Flächen Gegenstand der Erfindung ist eine Einrichtung zum Prüfen ebener Flächen, die insbesondere für den Maschinenbau bestimmt ist, z. B. zur Verwendung bei der Montage von Maschinen. Die Einrichtung besteht aus einem Visiergerät mit festliegender optischer Achse und einem Meßgerät, die beide auf die zu prüfende Fläche aufgesetzt werden. Das Meßgerät besitzt eine feststehende und eine verstellbare Marke, wobei die erstere den gleichen Abstand von der zu prüfendenFläche hat wie die optische Achse des Visiergeräts, so daß der Abstand der in die Visierlinie eingestellten verstellbaren Marke von der feststehenden Marke den Betrag der Unebenheit der Fläche an der Meßstelle angibt.
- Einrichtungen zum Prüfen ebener Flächen, bestehend aus einem Visiergerät mit festliegender optischer Achse und einem zweiten Gerät mit einer feststehenden Marke sind an sich bereits bekannt. Dabei fehlt aber die verstellbare Marke an dem zweiten Gerät, so daß mit derartigen Einrichtungen eine etwaige Unebenheit der Fläche nicht ohne weiteres meßbar ist.
- In der Zeichnung ist eine beispielsweise Ausführungsform der Erfindung dargestellt, und zwar zeigt Abb. i die Einrichtung auf eine zu prüfende Fläche aufgesetzt, während Abb. 2 und 3 die beiden Geräte in größerem. Maßstabe darstellen.
- Als Visiergerät wird vorteilhaft ein Fernrohr Z mit einem Fadenkreuz verwendet, das in einem Halter d (Abb. 2) befestigt ist.
- Das Meßgerät M (Abb. 3) besitzt zwei Scheiben b1, b2, die mit je einer Marke oder einem Fadenkreuz versehen sind, die in die Scheibe eingeritzt oder z. B. photographisch . darauf angebracht sind. Die Scheibe b1 sitzt fest in einem Gehäuse c und ist mittels der dieses Gehäuse tragenden Stange d in dem Fuße e der Höhe nach einstellbar. Zu diesem Zwecke ist die Stange unten mit Außengewinde versehen, das mit dem Gewinde einer Mutter f zusammengreift, die mit dem Fuße drehbar, aber unverschiebbar verbunden ist. Die Drehung der Stange in dem Fuße wird durch einen Zapfen g am Fuße, der in eine Längsnut der Stange greift, verhindert. Die zweite Scheibe b2 ist mittels einer Mutter 1L in dem Gehäuse längsverschiebbar.
- Vor den beiden Scheiben b1, b2 wird zweckmäßig eine Linse i angeordnet, die auf einem Arme k des Gehäuses verschiebbar ist, während hinter den Scheiben eine Lichtquelle m, z. B. eine elektrische Glühlampe, angebracht wird.
- Die feststehende Scheibe bi ist so eingestellt, daß die auf ihr befindliche Marke die gleiche Entfernung von der Grundfläche des Fußes hat wie die optische Achse des Fernrohres von der Grundfläche seines Halters. Die beiden Geräte 7., M werden auf die prüfende Fläche gesetzt (Abb. i). Wenn diese Fläche an den Auflagestellen der Geräte vollkommen eben ist, so muß die Marke der feststehenden Scheibe b1 in der optischen Achse des Fernrohres liegen, also dem Beobachter im Schnittpunkte des Fadenkreuzes des Fernrohres erscheinen. Ist die Fläche dagegen nicht eben, so wird die bewegliche Scheibe b2 mittels der Schraube h verstellt, bis ihre Marke sich mit dem Schnittpunkte des Fadenkreuzes des Fernrohres deckt. Der Abstand der beiden Marken auf den Scheiben b1, b2 entspricht dann dem Betrage der Unebenheit der Fläche an den Auflagestellen der beiden Geräte.
- Auf einer der beiden Scheiben wird vorteilhaft ein Maßstab angebracht, so daß der Betrag der Unebenheit ohne weiteres an diesem Maßstabe abgelesen werden kann.
- Die zur Verstellung der Scheibe b2 dienende Mutter h wird zweckmäßig mit einer Feineinteilung versehen, so daß die Abweichung des betreffenden Flächenpunktes von der Ebene mit großer Genauigkeit ablesbar ist.
Claims (1)
- PATENTANSPRUCH Einrichtung zumPrüfen ebenerFlächen, bestehend aus einem Visiergerät mit festliegender optischer Achse und einem Meßgerät mit einer feststehenden Marke, die den gleichen Abstand von der zu prüfenden Fläche hat wie die optische Achse des Visiergeräts, dadurch gekennzeichnet, daß am Meßgerät neben der feststehenden Marke noch eine verstellbare Marke vorgesehen ist, so daß der Abstand der in die Visierlinie des Visiergeräts eingestellten verstellbaren Marke von der feststehenden Marke den Betrag der Abweichung der Meßstelle von der Ebene angibt.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DED53327D DE546575C (de) | Vorrichtung zum Pruefen der Ebenheit von Flaechen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DED53327D DE546575C (de) | Vorrichtung zum Pruefen der Ebenheit von Flaechen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE546575C true DE546575C (de) | 1932-03-16 |
Family
ID=7054876
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DED53327D Expired DE546575C (de) | Vorrichtung zum Pruefen der Ebenheit von Flaechen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE546575C (de) |
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0
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