DE546575C - Vorrichtung zum Pruefen der Ebenheit von Flaechen - Google Patents

Vorrichtung zum Pruefen der Ebenheit von Flaechen

Info

Publication number
DE546575C
DE546575C DED53327D DED0053327D DE546575C DE 546575 C DE546575 C DE 546575C DE D53327 D DED53327 D DE D53327D DE D0053327 D DED0053327 D DE D0053327D DE 546575 C DE546575 C DE 546575C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
mark
fixed
optical axis
adjustable
sighting device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DED53327D
Other languages
English (en)
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Deutsche Werke Kiel A G
Original Assignee
Deutsche Werke Kiel A G
Publication date
Priority to DED53327D priority Critical patent/DE546575C/de
Application granted granted Critical
Publication of DE546575C publication Critical patent/DE546575C/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/306Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for measuring evenness

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

  • Vorrichtung zum Prüfen der Ebenheit von Flächen Gegenstand der Erfindung ist eine Einrichtung zum Prüfen ebener Flächen, die insbesondere für den Maschinenbau bestimmt ist, z. B. zur Verwendung bei der Montage von Maschinen. Die Einrichtung besteht aus einem Visiergerät mit festliegender optischer Achse und einem Meßgerät, die beide auf die zu prüfende Fläche aufgesetzt werden. Das Meßgerät besitzt eine feststehende und eine verstellbare Marke, wobei die erstere den gleichen Abstand von der zu prüfendenFläche hat wie die optische Achse des Visiergeräts, so daß der Abstand der in die Visierlinie eingestellten verstellbaren Marke von der feststehenden Marke den Betrag der Unebenheit der Fläche an der Meßstelle angibt.
  • Einrichtungen zum Prüfen ebener Flächen, bestehend aus einem Visiergerät mit festliegender optischer Achse und einem zweiten Gerät mit einer feststehenden Marke sind an sich bereits bekannt. Dabei fehlt aber die verstellbare Marke an dem zweiten Gerät, so daß mit derartigen Einrichtungen eine etwaige Unebenheit der Fläche nicht ohne weiteres meßbar ist.
  • In der Zeichnung ist eine beispielsweise Ausführungsform der Erfindung dargestellt, und zwar zeigt Abb. i die Einrichtung auf eine zu prüfende Fläche aufgesetzt, während Abb. 2 und 3 die beiden Geräte in größerem. Maßstabe darstellen.
  • Als Visiergerät wird vorteilhaft ein Fernrohr Z mit einem Fadenkreuz verwendet, das in einem Halter d (Abb. 2) befestigt ist.
  • Das Meßgerät M (Abb. 3) besitzt zwei Scheiben b1, b2, die mit je einer Marke oder einem Fadenkreuz versehen sind, die in die Scheibe eingeritzt oder z. B. photographisch . darauf angebracht sind. Die Scheibe b1 sitzt fest in einem Gehäuse c und ist mittels der dieses Gehäuse tragenden Stange d in dem Fuße e der Höhe nach einstellbar. Zu diesem Zwecke ist die Stange unten mit Außengewinde versehen, das mit dem Gewinde einer Mutter f zusammengreift, die mit dem Fuße drehbar, aber unverschiebbar verbunden ist. Die Drehung der Stange in dem Fuße wird durch einen Zapfen g am Fuße, der in eine Längsnut der Stange greift, verhindert. Die zweite Scheibe b2 ist mittels einer Mutter 1L in dem Gehäuse längsverschiebbar.
  • Vor den beiden Scheiben b1, b2 wird zweckmäßig eine Linse i angeordnet, die auf einem Arme k des Gehäuses verschiebbar ist, während hinter den Scheiben eine Lichtquelle m, z. B. eine elektrische Glühlampe, angebracht wird.
  • Die feststehende Scheibe bi ist so eingestellt, daß die auf ihr befindliche Marke die gleiche Entfernung von der Grundfläche des Fußes hat wie die optische Achse des Fernrohres von der Grundfläche seines Halters. Die beiden Geräte 7., M werden auf die prüfende Fläche gesetzt (Abb. i). Wenn diese Fläche an den Auflagestellen der Geräte vollkommen eben ist, so muß die Marke der feststehenden Scheibe b1 in der optischen Achse des Fernrohres liegen, also dem Beobachter im Schnittpunkte des Fadenkreuzes des Fernrohres erscheinen. Ist die Fläche dagegen nicht eben, so wird die bewegliche Scheibe b2 mittels der Schraube h verstellt, bis ihre Marke sich mit dem Schnittpunkte des Fadenkreuzes des Fernrohres deckt. Der Abstand der beiden Marken auf den Scheiben b1, b2 entspricht dann dem Betrage der Unebenheit der Fläche an den Auflagestellen der beiden Geräte.
  • Auf einer der beiden Scheiben wird vorteilhaft ein Maßstab angebracht, so daß der Betrag der Unebenheit ohne weiteres an diesem Maßstabe abgelesen werden kann.
  • Die zur Verstellung der Scheibe b2 dienende Mutter h wird zweckmäßig mit einer Feineinteilung versehen, so daß die Abweichung des betreffenden Flächenpunktes von der Ebene mit großer Genauigkeit ablesbar ist.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH Einrichtung zumPrüfen ebenerFlächen, bestehend aus einem Visiergerät mit festliegender optischer Achse und einem Meßgerät mit einer feststehenden Marke, die den gleichen Abstand von der zu prüfenden Fläche hat wie die optische Achse des Visiergeräts, dadurch gekennzeichnet, daß am Meßgerät neben der feststehenden Marke noch eine verstellbare Marke vorgesehen ist, so daß der Abstand der in die Visierlinie des Visiergeräts eingestellten verstellbaren Marke von der feststehenden Marke den Betrag der Abweichung der Meßstelle von der Ebene angibt.
DED53327D Vorrichtung zum Pruefen der Ebenheit von Flaechen Expired DE546575C (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DED53327D DE546575C (de) Vorrichtung zum Pruefen der Ebenheit von Flaechen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DED53327D DE546575C (de) Vorrichtung zum Pruefen der Ebenheit von Flaechen

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE546575C true DE546575C (de) 1932-03-16

Family

ID=7054876

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DED53327D Expired DE546575C (de) Vorrichtung zum Pruefen der Ebenheit von Flaechen

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE546575C (de)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE546575C (de) Vorrichtung zum Pruefen der Ebenheit von Flaechen
DE1076949B (de) Optisches Geraet zum Ermitteln des Durchmessers grosser Werkstuecke
DE565635C (de) Projektionsvorrichtung fuer Zeigerinstrumente
DE635316C (de) Messeinrichtung fuer Pruefgeraete o. dgl.
DE590789C (de) Winkelmessgeraet, insbesondere Theodolit
DE912758C (de) Praezisionslaengenmesser
DE926092C (de) Vorrichtung zur Ermittlung der genauen Begrenzung eines blanken Koerpers
DE878721C (de) Einrichtung zum Pruefen des Verhaltens zweier Achsenrichtungen zueinander
DE583988C (de) Feinablesung, insbesondere fuer Vermessungsgeraete
DE678705C (de) Verfahren und Vorrichtung zum Ausmessen optischer Modelle
DE725352C (de) Vorrichtung zur Pruefung des Durchmessers eines zylindrischen Werkstueckes
DE578335C (de) Einrichtung zum Messen der Verschiebungen des Arbeitstisches einer Werkzeugmaschine
DE948195C (de) Fernrohr zur Verwendung in Verbindung mit einem fernen Reflektor
DE404346C (de) Einrichtung zum Messen von Entfernungen und Hoehen
DE474157C (de) Verfahren und Einrichtung zum Pruefen der Richtung und des Abstands einander paralleler Achsenrichtungen
AT125950B (de) Ablesemikroskop.
DE840169C (de) Refraktometer fuer objektive Augenuntersuchungen
DE579855C (de) Okularblende fuer mikroskopische Zwecke
DE834898C (de) Ablesevorrichtung an Holzbearbeitungsmaschinen
DE732304C (de) Pruef- und UEbungsgeraet fuer das raeumliche Sehvermoegen
DE742112C (de) Vorrichtung zum Pruefen von Schneidraedern fuer Zahnraeder und Verzahnungen beliebiger Form und der damit hergestellten Raeder u. dgl. auf Mass- und Formhaltigkeit
DE650960C (de) Verfahren zum Justieren von subjektiv betrachteten Spiegelschrauben
DE614725C (de) Einrichtung zur optischen Sichtbarmachung von Schwingungen
DE757235C (de) Nach dem Durchmesser- und Tiefenunterschiedsmessverfahren arbeitender optischer Haertepruefer
DE362927C (de) Fadenzaehler