DE4445750A1 - Rückwärts-Vorspannungs-Spannungsgenerator - Google Patents
Rückwärts-Vorspannungs-SpannungsgeneratorInfo
- Publication number
- DE4445750A1 DE4445750A1 DE4445750A DE4445750A DE4445750A1 DE 4445750 A1 DE4445750 A1 DE 4445750A1 DE 4445750 A DE4445750 A DE 4445750A DE 4445750 A DE4445750 A DE 4445750A DE 4445750 A1 DE4445750 A1 DE 4445750A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- reverse bias
- voltage
- internal
- bias voltage
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/14—Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
- G11C5/145—Applications of charge pumps; Boosted voltage circuits; Clamp circuits therefor
- G11C5/146—Substrate bias generators
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02M—APPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
- H02M3/00—Conversion of dc power input into dc power output
- H02M3/02—Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac
- H02M3/04—Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters
- H02M3/06—Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using resistors or capacitors, e.g. potential divider
- H02M3/07—Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using resistors or capacitors, e.g. potential divider using capacitors charged and discharged alternately by semiconductor devices with control electrode, e.g. charge pumps
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Dram (AREA)
- Dc-Dc Converters (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft Rückwärts-Vorspannungs-
Spannungsgeneratoren im allgemeinen und insbesondere einen
Rückwärts-Vorspannungs-Spannungsgenerator zum Erzeugen einer
von einer Schwankung einer externen Spannung unabhängigen Span
nung und zum Regeln einer Rückwärts-Vorspannungs-Spannung (back
bias voltage) in Abhängigkeit von der erzeugten Spannung, so
daß die Rückwärts-Vorspannungs-Spannung unabhängig von der
Schwankung der externen Spannung einen konstanten Pegel haben
kann.
In Fig. 7 ist ein Blockschaltbild eines herkömmlichen Rück
wärts-Vorspannungs-Spannungsgenerators gezeigt. Wie in diesem
Diagramm zu sehen ist, weist der herkömmliche Rückwärts-
Vorspannungs-Spannungsgenerator einen Leistung-Ein-Signal
generator 1 zum Erzeugen eines Leistung-Ein-Signal PWRON
(Power-On) zu einem Zeitpunkt, an dem eine äußere Spannung Vcc
stabilisiert ist, einen Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor
2 zum Erzeugen eines Schwingungsfreigabesignals OSCEN in Abhän
gigkeit von dem Leistung-Ein-Signal PWRON von dem Leistung-Ein-
Signalgenerator 1, einen Oszillator 3 zum Erzeugen eines
Schwingungssignales mit einer gewünschten Periodendauer in Ab
hängigkeit von dem Schwingungsfreigabesignal OSCEN von dem
Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 2, sowie eine Rückwärts-
Vorspannungs-Spannungspumpe 4 zum Ausführen eines Spannungs
pumpvorgangs in Abhängigkeit von dem Schwingungssignal von dem
Oszillator 3, um einen gewünschten Pegel der Rückwärts-
Vorspannungs-Spannung VBB zu erzeugen und zum Ausgeben der er
zeugten Rückwärts-Vorspannungs-Spannung VBB an einen externen
Schaltkreis und an den Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 2
auf.
In Fig. 8 ist ein detaillierter Schaltplan des Leistung-Ein-
Signalgenerators 1 von Fig. 8 gezeigt. Wie in dieser Zeichnung
zu sehen ist, weist der Leistung-Ein-Signalgenerator 1 einen
PMOS Transistor PM1 auf, der einen Sourceanschluß aufweist um
die externe Spannung Vcc einzuspeisen, einen mit einem Massean
schluß durch einen NMOS Transistor NM1 mit einem Masseanschluß
Vss verbundenen Drainanschluß und einen direkt mit dem Massean
schluß Vss verbundenen Gate-Anschluß. Der NMOS Transistor NM1
wirkt als ein Kondensator.
Der Leistung-Ein-Signalgenerator 1 weist auch einen PMOS Tran
sistor PM2 auf, der ein mit einem Knoten zwischen dem PMOS
Transistor PM1 und dem NMOS Transistor NM1 verbundenen Drainan
schluß aufweist, und einen Gate- und einen Sourceanschluß, die
gemeinsam mit dem Masseanschluß Vss durch einen NMOS Transistor
NM2 verbunden ist. Der NMOS Transistor NM2 wirkt als ein Kon
densator.
Des weiteren weist der Leistung-Ein-Signalgenerator 1 einen In
verter I1 auf, der einen mit einem Knoten zwischen dem PMOS
Transistor PM2 und dem NMOS Transistor NM2 verbundenen Ein
gangsanschluß aufweist, sowie einen Inverter I2, der einen mit
einem Ausgangsanschluß des Inverters I1 verbundenen Eingangsan
schluß aufweist, und zum Einspeisen der externen Spannung Vcc
durch einen PMOS Transistor PM3 sowie einen Ausgangsanschluß
zum Ausgeben des Leistung-Ein-Signals PWRON an den Rückwärts-
Vorspannungs-Spannungssensor 2. Der PMOS Transistor PM3 wirkt
als ein Kondensator.
In Fig. 9 ist eine detaillierter Schaltplan des Rückwärts-
Vorspannungs-Spannungssensors 2 von Fig. 1 gezeigt. Wie in die
ser Zeichnung zu sehen ist, weist der Rückwärts-Vorspannungs-
Spannungssensor 2 die PMOS Transistoren PM11 und PM12 auf, de
ren Sourceanschlüsse zum Einspeisen der externen Spannung Vcc
verbunden sind und deren Drainanschlüsse miteinander verbunden
sind, sowie einen NMOS Transistor NM11, der einen mit dem
Drainanschluß des PMOS Transistors PM11 verbundenen Drainan
schluß aufweist, und NMOS Transistoren NM12 und NM13, die in
Reihe mit einem Sourceanschluß des NMOS Transistors NM11 ge
schaltet sind. Die PMOS und NMOS Transistoren PM11 und NM11 ha
ben mit dem Masseanschluß Vss jeweils gemeinsam verbundene Ga
te-Anschlüsse. Der NMOS Transistor NM12 hat einen Gate-Anschluß
und einen Drainanschluß, die gemeinsam mit dem Sourceanschluß
des NMOS Transistors NM11 verbunden sind. Der NMOS Transistor
NM13 hat einen Gate-Anschluß und einen Drainanschluß, die ge
meinsam mit einem Sourceanschluß des NMOS Transistors NM12 ver
bunden sind.
Der Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 2 hat des weiteren
einen Inverter I11 mit einem Eingangsanschluß, der mit den
Drainanschlüssen der PMOS Transistoren PM11 und PM12 verbunden
ist, sowie einen Ausgangsanschluß, der mit einem Gate-Anschluß
des PMOS Transistors PM12 verbunden ist, sowie einen Inverter
I12, dessen Eingangsanschluß mit dem Gate-Anschluß des PMOS
Transistors PM12 und dem Ausgangsanschluß des Inverters I11
verbunden ist, sowie einen NMOS Transistor NM14, dessen Source
anschluß zum Einspeisen einer externen Spannung Vcc durch einen
PMOS Transistor PM11, und einen NMOS Transistor NM15, der einen
Sourceanschluß hat, der mit dem Masseanschluß Vss verbunden
ist, sowie einen Gate-Anschluß zum Einspeisen der externen
Spannung Vcc durch den PMOS Transistor PM13 und einen mit einem
Drainanschluß des NMOS Transistors NM14 und einem Sourcean
schluß des NMOS Transistors NM13 verbundenen Drainanschluß, und
zum Einspeisen der Rückwärts-Vorspannungs-Spannung VBB von der
Rückwärts-Vorspannungs-Spannungspumpe 4. Der PMOS Transistor
PM13 wirkt als ein Kondensator.
Des weiteren weist der Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 2
ein NAND-Gatter ND11 auf, dessen einer Eingangsanschluß mit ei
nem Ausgangsanschluß des Inverters I12 verbunden ist und dessen
anderer Eingangsanschluß mit einem Gate-Anschluß des NMOS Tran
sistors NM14 verbunden ist und dazu dient, das Leistung-Ein-
Signal PWRON von dem Leistung-Ein-Signalgenerator 1 einzuspei
sen, sowie einen Inverter I13, der einen Eingangsanschluß auf
weist, der mit einem Ausgangsanschluß des NAND-Gatters ND11
verbunden ist und einen Ausgangsanschluß aufweist zum Ausgeben
des Schwingungsfreigabesignals OSCEN an den Oszillator 3.
Der Betrieb des herkömmlichen Rückwärts-Vorspannungs-Spannungs
generators mit dem vorstehend beschriebenen Aufbau wird nach
stehend unter Bezugnahme auf die Fig. 10A bis 13 erläutert. Die
Fig. 10A bis 10D sind Zeitablaufdiagramme, die den Betrieb des
herkömmlichen Rückwärts-Vorspannungs-Spannungsgenerators in
Fig. 7 erläutern, Fig. 11 ist ein Graph, der eine Beziehung
zwischen der externen Spannung Vcc und der Rückwärts-
Vorspannungs-Spannung VBB in Fig. 7 zeigt, Fig. 12 ist eine
Schnittansicht, die einen Aufbau eines allgemeinen Transistors
zeigt und Fig. 13 ist ein Graph, der eine Beziehung zwischen
der externen Spannung Vcc und einer Spannung Vpp zeigt, die in
Fig. 6 verwendet wird.
Zuerst wird in dem Leistung-Ein-Signalgenerator 1 die externe
Spannung Vcc an dem Sourceanschluß des PMOS Transistors PM1
eingespeist und dann nach Ablauf eines vorbestimmten Zeitab
laufs, wie in Fig. 10A gezeigt, auf einen konstanten Pegel ge
setzt. Der vorbestimmte Zeitablauf ist abhängig von einer RC-
Zeitkonstante, die durch den PMOS Transistor MP1, der als ein
Widerstand wirkt, und durch den NMOS Transistor NM1, der als
der Kondensator wirkt, festgelegt ist.
Sobald die externe Spannung Vcc auf den konstanten Pegel ge
setzt ist, wechselt das Leistung-Ein-Signal PWRON, das von dem
Leistung-Ein-Signalgenerator 1 an den Rückwärts-Vorspannungs-
Spannungssensor 2 angelegt wird, auf einen hohen Logikpegel wie
dies in Fig. 10B gezeigt ist. Wenn das Leistung-Ein-Signal
PWRON von dem Leistung-Ein-Signalgenerator 1 einen niedrigen
Pegel hat, wird der Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 2
auf folgende Weise betrieben. Das Leistung-Ein-Signal PWRON von
dem Leistung-Ein-Signalgenerator 1 mit niedrigem logischen Pe
gel wird dem NAND-Gatter ND1 und dem Gate-Anschluß des NMOS
Transistors NM14 zugeführt. Als Ergebnis hiervon gibt das NAND-
Gatter ND11 ein Signal mit hohem logischen Pegel an den Inver
ter I13 unabhängig von dem Zustand der externen Spannung Vcc,
so daß das Schwingungsfreigabesignal OSCEN, von dem Inverter
I13 an den Oszillator 3 ausgegeben wird, auf einen niedrigen
Logikpegel wechselt. Des weiteren wird der NMOS Transistor NM14
abgeschaltet. Als Ergebnis hiervon wird die externe Spannung
Vcc durch den PMOS Transistor PM13 nicht auf den NMOS Transi
stor NM14 weitergeleitet sondern auf den Gate-Anschluß des NMOS
Transistors NM15, wodurch der NMOS Transistor NM15 eingeschal
tet wird. Als Ergebnis hiervon hat die Rückwärts-Vorspannungs-
Spannung VBB Massepotential Vss.
Demzufolge gibt der Oszillator 3 kein Schwingungssignal an die
Rückwärts-Vorspannungs-Spannungspumpe 4 in Abhängigkeit von dem
Schwingungsfreigabesignal OSCEN mit niedrigem Pegel von dem
Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 2 ab. Dies hat zur Fol
ge, daß die Rückwärts-Vorspannungs-Spannungspumpe 4 in ihrem
Haltzustand verbleibt.
Wenn das Leistung-Ein-Signal PWRON von dem Leistung-Ein-
Signalgenerator 1 auf einen hohen logischen Pegel unter der Be
dingung wechselt, daß das Schwingungsfreigabesignal OSCEN von
dem Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 2 auf einem niedri
gen logischen Pegel liegt, wird der NMOS Transistor NM14 in dem
Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 2 eingeschaltet.
Dann nimmt in dem Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 2 eine
Spannung an einem Knoten A den Zustand der Rückwärts-Vor
spannungs-Spannung VBB oder des Massepegels Vss aufgrund des
Einschaltens des NMOS Transistors NM14 an. Nachdem die Rück
wärts-Vorspannungs-Spannung VBB von dem Massepegel Vss freige
geben ist, wird diese dem Gate-Anschluß des NMOS Transistors
NM15 durch den NMOS Transistor NM14 zugeführt.
Zu diesem Zeitpunkt wechselt der Eingangsanschluß des Inverters
I11 auf einen hohen Logikpegel, da die NMOS Transistor NM11-M13
in ihren Auszuständen verbleiben, und das Ausgangssignal von
dem Inverter I12 wechselt auf einen hohen Logikpegel.
Wegen des Ausgangssignals von dem Inverter I12 mit einem hohen
Logikpegel und dem Leistung-Ein-Signal PWRON von dem Leistung-
Ein-Signalgenerator 1 mit hohem Logikpegel, gibt das NAND-
Gatter ND11 ein Signal mit niedrigem Logikpegel an den Inverter
I13 ab. Als Ergebnis hiervon wechselt das Schwingungsfreigabe
signal OSCEN von dem Inverter I13 auf einen hohen Logikpegel,
wie dies in Fig. 10C gezeigt ist. Das Schwingungsfreigabesignal
OSCEN mit hohem Logikpegel von dem Inverter I13 wird dem Oszil
lator 3 zugeführt. Der Oszillator 3 erzeugt das Schwingungs
signal mit der gewünschten Periodendauer in Abhängigkeit von
dem Schwingungsfreigabesignal OSCEN mit hohem Logikpegel von
dem Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 2 und gibt das er
zeugte Schwingungssignal an die Rückwärts-Vorspannungs-
Spannungspumpe 4 ab. Die Rückwärts-Vorspannungs-Spannungspumpe
4 führt beim Empfangen des Schwingungssignals von dem Oszilla
tor 3 eine negative (-) Pumpoperation für die Rückwärts-
Vorspannungs-Spannung VBB aus, wodurch die Rückwärts-Vor
spannungs-Spannung VBB allmählich in ihrem Pegel verringert
wird, wie dies in Fig. 10D gezeigt ist. Dann gibt die Rück
wärts-Vorspannungs-Spannungspumpe 4 die erhaltene Rückwärts-
Vorspannungs-Spannung VBB an den externen Schaltkreis und den
Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 2 ab.
Sobald die Rückwärts-Vorspannungs-Spannung VBB auf -3VT abge
senkt ist, werden die NMOS Transistoren NM11-NM13 eingeschal
tet, wodurch der Eingangsanschluß des Inverters I11 auf einen
niedrigen Logikpegel wechselt und das Ausgangssignal von dem
Inverter 12 auf einen niedrigen Logikpegel geht.
Das NAND-Gatter ND11 gibt ein Signal mit hohem Logikpegel an
den Inverter I13 ab, da es das Ausgangssignal mit niedrigem Lo
gikpegel von dem Inverter I12 und das Leistung-Ein-Signal PWRON
mit hohem Logikpegel von dem Leistung-Ein-Signalgenerator 1
empfängt. Als Ergebnis hiervon wechselt das Schwingungsfreiga
besignal OSCEN von dem Inverter I13 auf einen niedrigen Logik
pegel, wie dies in Fig. 10C gezeigt ist. Das Schwingungsfreiga
besignal OSCEN mit niedrigem Logikpegel von dem Inverter I13
wird dem Oszillator 3 zugeführt.
In Abhängigkeit von dem Schwingungsfreigabesignal OSCEN mit
niedrigem Logikpegel von dem Rückwärts-Vorspannungs-Spannungs
sensor 2 beendet der Oszillator 3 die Erzeugung des Schwin
gungssignals. Da die Rückwärts-Vorspannungs-Spannungspumpe 4
kein Schwingungssignal von dem Oszillator 3 empfängt, beendet
diese die negative (-) Pumpoperation für die Rückwärts-
Vorspannungs-Spannung VBB, so daß die Rückwärts-Vorspannungs-
Spannung VBB auf konstantem Pegel verbleibt. Dann gibt die
Rückwärts-Vorspannungs-Spannungspumpe 4 die erhaltene Rück
wärts-Vorspannungs-Spannung VBB an den externen Schaltkreis und
den Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 2 aus.
Im übrigen wird bei dem herkömmlichen Rückwärts-Vorspannungs-
Spannungsgenerator die externe Spannung Vcc dem Rückwärts-
Vorspannungs-Spannungssensor 2 zugeführt. Aus diesem Grund
schwankt ein Teil des Stroms, der durch jeden der PMOS Transi
storen PM11 und PM12 fließt, mit einer Schwankung der externen
Spannung Vcc, was in einer Schwankung der Umschaltspannungen
I11 und I12 sowie dem NAND-Gatter ND11 resultiert.
Als Ergebnis hiervon wird die Rückwärts-Vorspannungs-Spannung
VBB allmählich in ihrem Pegel verringert, wenn die externe
Spannung Vcc in ihrem Pegel erhöht wird, wie dies in Fig. 11
gezeigt ist.
Andererseits weist ein Speicherbaustein üblicherweise Schalt
kreise, z. B. einen Wortleitungsdriver, einen Ausgangsverstärker
und dergl. auf, die die Spannung Vpp verwenden, die höher ist
als die externe Spannung Vcc. Die Schaltkreise des Speicherbau
steins umfassen im allgemeinen den Transistor, wie er in Fig.
12 gezeigt ist. Wie in Fig. 12 zu sehen, hat der Transistor ein
P-Typ-Substrat, an das die Rückwärts-Vorspannungs-Spannung VBB
angelegt wird, und einen N⁺-Diffusionsbereich mit einem Drain
anschluß zum Einspeisen der Spannung Vpp, einen Gate-Anschluß
zum Einspeisen eines Steuersignals und einen Sourceanschluß,
der mit dem Masseanschluß verbunden ist.
Unter der Bedingung, daß die externe Spannung Vcc einen hohen
Pegel hat, wie dies in Fig. 7 gezeigt ist, wird jedoch ein ho
hes elektrisches Feld an einen Übergang des Transistors in Fig.
6 angelegt, weil die Rückwärts-Vorspannungs-Spannung VBB in ih
rem Pegel abgesenkt ist, während der Pegel der Spannung Vpp an
steigt, was eine Verringerung der Zuverlässigkeit des Transi
stors bewirkt.
Wie vorstehend erwähnt wird bei dem herkömmlichen Rückwärts-
Vorspannungs-Spannungsgenerator die Rückwärts-Vorspannungs-
Spannung VBB allmählich in ihrem Pegel verringert, während der
Pegel der Spannung Vpp größer wird, wenn der Pegel der externen
Spannung Vcc ansteigt. Als Ergebnis hiervon wird an den Über
gang des Transistors ein hohes elektrisches Feld angelegt, was
eine Verringerung der Zuverlässigkeit des Transistors bewirkt.
Die vorliegende Erfindung geht von dem vorstehenden Problem aus
und es ist eine Aufgabe der Erfindung einen Rückwärts-Vor
spannungs-Spannungsgenerator zum Erzeugen einer Rückwärts-
Vorspannungs-Spannung bereitzustellen, die unabhängig von
Schwankungen in einer externen Spannung einen konstanten Pegel
hat.
Gemäß der vorliegenden Erfindung können diese und andere Aufga
ben durch Bereitstellen eines Rückwärts-Vorspannungs-Spannungs
generators gelöst werden, mit einem Leistung-Ein-Signal
generator zum Erzeugen eines Leistung-Ein-Signals wenn eine ex
terne Spannung Vcc auf einem konstanten Pegel bleibt; einem Re
ferenzspannungsgenerator zum Erzeugen einer Referenzspannung
VREF in Abhängigkeit von dem Leistung-Ein-Signal von dem Lei
stung-Ein-Signalgenerator; einem internen Spannungserzeugungs
generator zum Erzeugen einer internen Spannung und eines inter
nen/externen Spannungswahlsignals in Abhängigkeit von der Refe
renzspannung von dem Referenzspannungsgenerator, wobei die in
terne Spannung einen konstanten Pegel aufweist; einem Rück
wärts-Vorspannungs-Spannungssensor (24) zum erzeugen eines
Schwingungsfreigabesignals in Abhängigkeit von der externen
Spannung Vcc oder der internen Spannung von dem internen Span
nungsgenerator unter Steuerung von dem internen/externen Span
nungswahlsignal von dem internen Spannungsgenerator; einem Os
zillator (25) zum Erzeugen eines Schwingungsfreigabesignals mit
einer vorbestimmten Periodendauer und einem Freigabesignal in
Abhängigkeit von dem Schwingungsfreigabesignal von dem Rück
wärts-Vorspannungs-Spannungssensor (24) und zum Ausgeben des
erzeugten Freigabesignals an den internen Spannungsgenerator;
und einer Rückwärts-Vorspannungs-Spannungspumpe (26) zum Aus
führen eines Spannungspumpvorganges in Abhängigkeit von dem
Schwingungsfreigabesignal von der Schwingeinrichtung, um einen
gewünschten Pegel der Rückwärts-Vorspannungs-Spannung (VBB) zu
erzeugen und zum Ausgeben der erzeugten Rückwärts-Vorspannungs-
Spannung (VBB) an einen externen Schaltkreis und an den Rück
wärts-Vorspannungs-Spannungssensor (24).
Die vorstehenden und andere Aufgaben, Merkmale und Vorteile der
vorliegenden Erfindung werden anhand der nachstehenden detail
lierten Beschreibung im Zusammenhang mit den beigefügten Zeich
nungen, in denen:
Fig. 1 ein Blockschaltbild eines Rückwärts-Vorspannungs-
Spannungsgenerators gemäß der vorliegenden Erfindung
zeigt;
Fig. 2 ein detaillierter Schaltplan eines internen Span
nungsgenerators von Fig. 1 zeigt;
Fig. 3 einen detaillierten Schaltplan eines Rückwärts-
Vorspannungs-Spannungssensors von Fig. 1 zeigt;
Fig. 4A bis 4H Zeitablaufdiagramme zeigen, die den Betrieb des
Rückwärts-Vorspannungs-Spannungsgenerators von Fig. 1
erläutern;
Fig. 5 einen Graphen zeigt, der die Beziehung zwischen einer
externen Spannung und einer internen Spannung in Fig.
1 erläutert;
Fig. 6 einen Graphen zeigt, der die Beziehung zwischen der
externen Spannung und der Rückwärts-Vorspannungs-
Spannung in Fig. 1 zeigt;
Fig. 7 ein Blockschaltbild eines herkömmlichen Rückwärts-
Vorspannungs-Spannungsgenerators zeigt;
Fig. 8 einen detaillierten Schaltplan eines Leistung-Ein-
Signalgenerators in Fig. 7 zeigt;
Fig. 9 ein detaillierter Schaltplan eines Rückwärts-
Vorspannungs-Spannungssensors in Fig. 1 zeigt;
Fig. 10A bis 10D Zeitablaufdiagramme zeigen, die einen Betrieb
des herkömmlichen Rückwärts-Vorspannungs-Spannungs
generators gemäß Fig. 7 erläutern;
Fig. 11 einen Graphen zeigt, der eine Beziehung zwischen
einer externen Spannung und einer Rückwärts-
Vorspannungs-Spannung in Fig. 7 erläutert;
Fig. 12 eine Schnittansicht zeigt, die einen Aufbau eines
allgemeinen Transistors darstellt; und
Fig. 13 einen Graphen zeigt, der eine Beziehung zwischen der
externen Spannung und der in Fig. 12 verwendeten
Spannung erläutert.
In Fig. 1 ist ein Blockschaltbild eines Rückwärts-Vorspannungs-
Spannungsgenerators gemäß der vorliegenden Erfindung gezeigt.
Wie in dieser Zeichnung zu sehen ist, weist der Rückwärts-
Vorspannungs-Spannungsgenerator einen Leistung-Ein-Signal
generator 21 zum Erzeugen eines Leistung-Ein-Signals PWRON zu
einem Zeitpunkt auf, an dem eine externe Spannung Vcc auf einem
konstanten Pegel verbleibt, einen Referenzspannungsgenerator 22
zum Erzeugen einer Referenzspannung VREF zu einem Zeitpunkt, an
dem das Leistung-Ein-Signal PWRON vor dem Leistung-Ein-Signal
generator 21 eingespeist wird, und einen internen Spannungsgenerator 23
auf, um die externe Spannung Vcc als Treiberspannung
einzuspeisen und eine interne Spannung VREG und ein inter
nes/externes Spannungswahlsignal VREGOK. Der interne Spannungs
generator 23 ist dazu eingerichtet, die Referenzspannung VREF
von dem Referenzspannungsgenerator 22 mit einer Spannung zu
vergleichen, die durch Abfall der internen Spannung VREG unter
Verwendung eines Widerstandes R erhalten wird, und um die in
terne Spannung VREG sowie das interne/externe Spannungswahlsi
gnal VREGOK entsprechend dem Vergleichsergebnis zu erzeugen.
Der Rückwärts-Vorspannungs-Spannungsgenerator weist auch einen
Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 24 auf um ein Schwin
gungsfreigabesignal OSCEN in Abhängigkeit von dem inter
nen/externen Spannungswahlsignal VREGOK von dem internen Span
nungsgenerator 23 zu erzeugen. Gesteuert von dem inter
nen/externen Spannungswahlsignal VREGOK von dem internen Span
nungsgenerator 23 ist der Rückwärts-Vorspannungs-Spannungs
sensor 24 dazu eingerichtet, daß Schwingungsfreigabesignal
OSCEN in Abhängigkeit von der externen Spannung Vcc zu einem
Ursprungszustand zu erzeugen, bei dem die externe Spannung Vcc
zugeführt wird. Dann ist unter der Steuerung durch das inter
ne/externe Spannungswahlsignal VREGOK von dem internen Span
nungsgenerator 34 der Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor
24 dazu eingerichtet, das Schwingungsfreigabesignal OSCEN in
Abhängigkeit von der internen Spannung VREG von dem internen
Spannungsgenerator 23 zu erzeugen, wenn die interne Spannung
VREG auf einem konstanten Pegel stabilisiert ist.
Des weiteren weist der Rückwärts-Vorspannungs-Spannungsgenera
tor einen Oszillator 25 zum Erzeugen eines Oszillationssignals
mit einer gewünschten Periodendauer in Abhängigkeit von dem
Schwingungsfreigabesignal OSCEN von dem Rückwärts-Vorspannungs-
Spannungssensor 24 auf, sowie eine Rückwärts-Vorspannungs-
Spannungspumpe 26 zum Ausführen eines Spannungspumpvorganges in
Abhängigkeit von dem Oszillationssignal von dem Oszillator 25
um einen gewünschten Pegel der Rückwärts-Vorspannungs-Spannung
VBB zu erzeugen und zum Ausgeben der erzeugten Rückwärts-
Vorspannungs-Spannung VBB an einen externen Schaltkreis sowie
an den Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 24. Der Oszilla
tor 25 ist auch dazu eingerichtet, ein Freigabesignal VBBOKB an
den internen Spannungsgenerator 23 auszugeben, wenn die Rück
wärts-Vorspannungs-Spannung VBB von der Rückwärts-Vorspannungs-
Spannungspumpe 26 auf einen konstanten Pegel stabilisiert ist.
In Fig. 2 ist ein detaillierter Schaltplan des internen Span
nungsgenerators 23 von Fig. 1 gezeigt. Wie in dieser Zeichnung
zu sehen ist, umfaßt der interne Spannungsgenerator 23 einen
Operationsverstärker OP zum Vergleich der Referenzspannung VREF
von dem Referenzspannungsgenerator 22 mit der internen Spannung
VREG in Abhängigkeit von dem Freigabesignal VBBOKB von dem Os
zillator 25. Der Operationsverstärker OP hat einen nicht inver
tierenden Eingangsanschluß (+) zum Einspeisen der Referenzspan
nung VREF von dem Referenzspannungsgenerator 22.
Der interne Spannungsgenerator 23 weist des weiteren einen PMOS
Transistor 21 zum Ausgeben der internen Spannung VREG auf. Der
PMOS Transistor PM21 hat einen Gate-Anschluß, der mit einem
Ausgangsanschluß des Operationsverstärkers OP verbunden ist,
einen Sourceanschluß zum Einspeisen der externen Spannung Vcc
und einen Drainanschluß, der an einen Masseanschluß Vss über
die Widerstände R21 und R22 angeschlossen ist. Ein Knoten zwi
schen den Widerständen R21 und R22 ist mit einem invertierenden
Eingangsanschluß (-) des Operationsverstärkers OP verbunden.
Des weiteren umfaßt der interne Spannungsgenerator 23 einen in
ternen/externen Spannungswahlsignalgenerator 231 zum Einspeisen
der Referenzspannung VREF von dem Referenzspannungsgenerator 22
und der internen Spannung VREG von dem Drainanschluß des PMOS
Transistors PM21 und zum Ausgeben des internen/externen Span
nungswahlsignals VREGOK. Der interne/externe Spannungswahlsi
gnalgenerator 231 wechselt das interne/externe Spannungswahlsi
gnal VREGOK von seinem niedrigen Logikpegel zu seinem hohen Lo
gikpegel in Abhängigkeit von der Reihenfolge der Erzeugung der
Referenzspannung VREF und der internen Spannung VREG und spei
chert dann dieses Signal.
In Fig. 10 ist ein detaillierter Schaltkreis des Rückwärts-
Vorspannungs-Spannungssensors 24 von Fig. 1 gezeigt. Wie in
dieser Zeichnung zu sehen ist, umfaßt der Rückwärts-
Vorspannungs-Spannungssensor 24 zwei PMOS Transistoren PM31 und
PM32, deren Sourceanschlüsse zum Einspeisen der internen Span
nung VREG von dem internen Spannungsgenerator 23 verbunden
sind, und deren Drainanschlüsse jeweils verbunden sind, sowie
einen NMOS Transistor NM31, der einen mit dem Drainanschluß des
PMOS Transistors PM31 verbundenen Drainanschluß aufweist, und
zwei NMOS Transistoren NM32 und NM33, die in Reihe mit einem
Source des NMOS Transistors NM31 geschaltet sind. Die PMOS und
NMOS Transistoren PM31 und NM31 haben mit dem Masseanschluß Vss
gemeinsam verbundene Gate-Anschlüsse. Der NMOS Transistor NM32
hat einen Gate-Anschluß und einen Drainanschluß, die beide an
den Sourceanschluß des NMOS Transistors NM31 angeschlossen
sind. Der NMOS Transistor 33 hat einen Gate-Anschluß und einen
Drainanschluß, die beide an einem Sourceanschluß des NMOS Tran
sistors 32 angeschlossen sind.
Der Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 24 weist auch einen
Inverter I31 auf, der einen mit den Drainanschlüssen der PMOS
Transistoren PM31 und PM32 gemeinsam verbundenen Eingangsan
schluß aufweist, sowie einen Ausgangsanschluß, der mit einem
Gate-Anschluß des PMOS Transistors PM32 verbunden ist, sowie
einen Inverter 32, der einen Eingangsanschluß aufweist, der mit
dem Gate-Anschluß des PMOS Transistors PM32 und mit dem Aus
gangsanschluß des Inverters I31 verbunden ist, sowie einen Pe
gelwandler 241, der einen mit einem Ausgangsanschluß des Inver
ters I32 verbundenen Eingangsanschluß aufweist, einen Inverter
I35 zum Invertieren des internen/externen Spannungswahlsignals
VREGOK von dem internen Spannungsgenerator 23 sowie ein Über
tragungsgatter TR31, das einen Eingangsanschluß aufweist, der
mit einem Ausgangsanschluß des Pegelwandlers 241 verbunden ist.
Das Übertragungsgatter TR31 ist durch das interne/externe Span
nungswahlsignal VREGOK von dem internen Spannungsgenerator 23
sowie dem internen/externen Spannungswahlsignal VREGOK gesteu
ert, das durch den Inverter I35 invertiert ist.
Des weiteren weist der Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor
24 einen PMOS Transistor MP36 auf, der einen Gate-Anschluß zum
Einspeisen des internen/externen Spannungswahlsignals VREGOK
von dem internen Spannungsgenerator 23 aufweist, sowie einen
Sourceanschluß zum Einspeisen der externen Spannung Vcc und
PMOS Transistoren PM37 und PM38, die mit einem Drainanschluß
des PMOS Transistors PM36 verbundene Sourceanschlüsse sowie
miteinander verbundene Drainanschlüsse haben, einen NMOS Tran
sistor NM37, der einen mit dem Drainanschluß des PMOS Transi
stors PM37 verbundenen Drainanschluß aufweist, sowie NMOS Tran
sistoren NM38 und NM39, die in Reihe mit einem Sourceanschluß
des NMOS Transistors NM37 geschaltet sind. Die PMOS und NMOS
Transistoren PM37 und NM37 haben mit dem Masseanschluß Vss je
weils gemeinsam verbundene Gate-Anschlüsse. Der NMOS Transistor
NM38 hat einen Gate-Anschluß und einen Drainanschluß, die ge
meinsam mit dem Sourceanschluß des NMOS Transistors NM37 ver
bunden sind. Der NMOS Transistor NM39 hat einen Gate-Anschluß
und einen Drainanschluß, die gemeinsam mit einem Sourceanschluß
des NMOS Transistors NM38 verbunden sind.
Des weiteren weist der Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor
24 einen Inverter I33 auf, der einen Eingangsanschluß hat, der
mit den Drainanschlüssen der PMOS Transistoren PM37 und PM38
verbunden ist, sowie einen Ausgangsanschluß, der mit einem Ga
te-Anschluß des PMOS Transistors PM38 verbunden ist, einen In
verter I34 mit einem Eingangsanschluß, der mit dem Gate-
Anschluß des PMOS Transistors PM38 und dem Ausgangsanschluß des
Inverters I33 verbunden ist, sowie ein Übertragungsgatter TR32
mit einem Eingangsanschluß, der mit einem Ausgangsanschluß des
Inverters I34 verbunden ist. Das Übertragungsgatter TR32 ist
durch das interne/externe Spannungswahlsignal VREGOK von dem
internen Spannungsgenerator 23 und dem internen/externen Span
nungswahlsignal VREGOK gesteuert, das durch den Inverter I35
invertiert ist.
Des weiteren weist der Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor
24 eine NMOS Transistor NM40 auf, der einen Sourceanschluß auf
weist zum Einspeisen der externen Spannung Vcc durch eine PMOS
Transistor PM42, sowie einen NMOS Transistor NM41, der einen
Sourceanschluß aufweist, der mit dem Masseanschluß Vss verbun
den ist, einen Gate-Anschluß zum Einspeisen der externen Span
nung Vcc durch den PMOS Transistor PM42 und einen Drainan
schluß, der mit einem Drainanschluß des NMOS Transistors NM40
und einem Sourceanschluß des NMOS Transistors NM39 verbunden
ist und zum Einspeisen der Rückwärts-Vorspannungs-Spannung VBB
von der Rückwärts-Vorspannungs-Spannungspumpe 26 dient. Der
PMOS Transistor PM42 wirkt als ein Kondensator.
Des weiteren umfaßt der Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor
24 ein NAND-Gatter ND31 mit einem Eingangsanschluß, der mit den
Ausgangsanschlüssen der Übertragungsgatter TR31 und TR32 ver
bunden ist, und einen zweiten Eingangsanschluß, der mit einem
Gate-Anschluß des MMOS Transistors NM40 verbunden ist zum Ein
speisen des Leistung-Ein-Signals PWRON von dem Leistung-Ein-
Signalgenerator 21, sowie einen Inverter I36 mit einem Ein
gangsanschluß, der mit einem Ausgangsanschluß des NAND-Gatters
ND31 verbunden ist und mit einem Ausgangsanschluß zum Ausgeben
des Schwingungsfreigabesignals OSCEN an den Oszillator 25.
Außerdem wird die Rückwärts-Vorspannungs-Spannung VBB von der
Rückwärts-Vorspannungs-Spannungspumpe 26 an einen Sourcean
schluß des NMOS Transistors NM33 angelegt.
Der Inverter I31 umfaßt PMOS und NMOS Transistoren PM33 und
NM34, die in Reihe zwischen dem Sourceanschluß des PMOS Transi
stors PM32 und dem Masseanschluß Vss geschaltet sind. Die PMOS
Transistoren PM33 und NM34 haben mit dem Drainanschluß des PMOS
Transistors PM32 gemeinsam verbundene Gate-Anschlüsse.
Der Inverter I32 umfaßt PMOS und NMOS Transistoren PM34 und
NM35, die in Reihe zwischen dem Sourceanschluß des PMOS Transi
stors PM32 und dem Masseanschluß Vss geschaltet sind. Die PMOS
und NMOS Transistoren PM34 und NM35 haben mit dem Ausgangsan
schluß des Inverters I31 gemeinsam verbundene Gate-Anschlüsse.
Der Inverter I33 umfaßt PMOS und NMOS Transistoren PM39 und
NM42, die in Reihe zwischen dem Sourceanschluß des PMOS Transi
stors PM38 und dem Masseanschluß Vss geschaltet sind. Die PMOS
und NMOS Transistoren PM39 und NM42 haben mit dem Drainanschluß
des PMOS Transistors PM38 gemeinsam verbundene Gate-Anschlüsse.
Der Inverter I34 umfaßt PMOS und NMOS Transistoren PM40 und
NM43, die in Reihe zwischen dem Sourceanschluß des PMOS Transi
stors PM38 und dem Masseanschluß Vss geschaltet sind. Die PMOS
und NMOS Transistoren PM40 und NM43 haben mit dem Ausgangsan
schluß des Inverters I33 gemeinsam verbundene Gate-Anschlüsse.
Das Übertragungsgatter TR31 umfaßt einen NMOS Transistor NM36,
der einen Gate-Anschluß zum Einspeisen des internen/externen
Spannungswahlsignals VREGOK von dem internen Spannungsgenerator
23 aufweist, sowie einen PMOS Transistor PM35 mit einem Gate-
Anschluß zum Einspeisen des internen/externen Spannungswahlsi
gnals VREGOK, das durch den Inverter I35 invertiert ist.
Das Übertragungsgatter TR32 umfaßt einen PMOS Transistor PM41
mit einem Gate-Anschluß zum Einspeisen des internen/externen
Spannungswahlsignals VREGOK von dem internen Spannungsgenerator
23, sowie einen NMOS Transistor NM34 mit einem Gate-Anschluß
zum Einspeisen des internen/externen Spannungswahlsignal
VREGOK, das durch den Inverter I35 invertiert ist.
Der Betrieb des Rückwärts-Vorspannungs-Spannungsgenerators mit
dem vorstehend beschriebenen Aufbau gemäß der vorliegenden Er
findung wird nachstehend im Detail oder unter Bezugnahme auf
die Fig. 4A bis 6 erläutert. Die Fig. 4A bis 4H sind Zeitab
laufdiagramme, die den Betrieb des Rückwärts-Vorspannungs-
Spannungsgenerators von Fig. 1 erläutern, Fig. 5 ist ein Graph,
der eine Beziehung zwischen der externen Spannung Vcc und der
internen Spannung VREG in Fig. 1 erläutert, und Fig. 6 ist ein
Graph, der eine Beziehung zwischen der externen Spannung Vcc
und der Rückwärts-Vorspannungs-Spannung VBB in Fig. 1 erläu
tert.
Zuerst, wenn die externe Spannung Vcc auf den in Fig. 4A ge
zeigten konstanten Pegel gebracht wird, wechselt das Leistung-
Ein-Signal PWRON von dem Leistung-Ein-Signalgenerator 21 auf
einen hohen Logikpegel, wie dies in Fig. 4B gezeigt ist. Das
Leistung-Ein-Signal PWRON auf hohem logischen Pegel von dem
Leistung-Ein-Signalgenerator 21 wird an den Referenzspannungs
generator 22 und an den Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor
24 angelegt. Andererseits ist in dem Fall, in dem das Leistung-
Ein-Signal PWRON von dem Leistung-Ein-Signalgenerator 21 auf
einen niedrigen logischen Pegel ist, die Referenzspannung VREF
von dem Referenzspannungsgenerator 22 auf niedrigem logischen
Pegel, wie in Fig. 4F gezeigt und das Freigabesignal VBBOKB von
dem Oszillator 25 ist auf hohem logischen Pegel, wie in Fig. 4E
gezeigt. Die auf niedrigem logischen Pegel befindliche Refe
renzspannung VREF von dem Referenzspannungsgenerator 22 und das
auf hohem logischen Pegel befindliche Freigabesignal FBBOK von
dem Oszillator 25 werden an den internen Spannungsgenerator 23
angelegt. Als Ergebnis hiervon gehen die interne Spannung VREG
und das interne/externe Spannungswahlsignal VREGOK von dem in
ternen Spannungsgenerator auf niedrigem Pegel, wie in den Fig.
4G und 4H jeweils gezeigt. Dann werden die niedrige interne
Spannung VREG und das niedrige interne/externe Spannungswahlsi
gnal VREGOK von dem internen Spannungswahlgenerator 23 an den
Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 24 angelegt.
In dem Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 24 wird das nied
rige Leistung-Ein-Signal PWRON von dem Leistung-Ein-Signal
generator 21 an das NAND-Gatter ND31 und an den Gate-Anschluß
des NMOS Transistors NM40 angelegt. Als Ergebnis hiervon gibt
das NAND-Gatter ND31 ein Signal mit hohem logischen Pegel an
dem Inverter I36 unabhängig von dem Zustand der externen Span
nung Vcc aus, wodurch das Schwingungsfreigabesignal OSCEN, das
von dem Inverter I36 an den Oszillator 35 ausgegeben wird, auf
niedrigen logischen Pegel geht, wie dies in Fig. 4C gezeigt
ist. Außerdem wird der NMOS Transistor NM40 abgeschaltet. Als
Ergebnis hiervon wird die externe Spannung Vcc durch den PMOS
Transistor 42 nicht zu dem NMOS Transistor NM40 übertragen,
sondern an den Gate-Anschluß des NMOS Transistor NM41, wodurch
der NMOS Transistor NM41 eingeschaltet wird. Als Ergebnis hier
von nimmt die Rückwärts-Vorspannungs-Spannung VBB den Massepe
gel Vss an, wie in Fig. 4D gezeigt ist. Daraufhin gibt der Os
zillator 25 kein Schwingungssignal an die Rückwärts-Vor
spannungs-Spannungspumpe 26 in Abhängigkeit von dem niedrigen
Schwingungsfreigabesignal OSCEN von dem Rückwärts-Vorspannungs-
Spannungssensor 24 unabhängig von den Zuständen der internen
Spannung VREG und dem internen/externen Spannungswahlsignal
VREGOK von dem internen Spannungsgenerator 23 ab. Als Ergebnis
hiervon verbleibt die Rückwärts-Vorspannungs-Spannungspumpe 26
in ihrem Haltzustand.
Wenn das Leistung-Ein-Signal PWRON von dem Leistung-Ein-Signal
generator 21 auf hohen logischen Pegel unter der Bedingung geht
unter der Bedingung, daß das Freigabesignal OSCEN von dem Rück
wärts-Vorspannungs-Spannungssensor 24 vorhanden ist, sind die
Referenzspannung VREF von dem Referenzspannungsgenerator 22 und
die interne Spannung VREG und das interne/externe Spannungs
wahlsignal VREGOK von dem internen Spannungswahlsignal VREGOK
von dem internen Spannungsgenerator 23 alle auf niedrigem logi
schen Pegel, dann wechselt die Referenzspannung VREF von dem
Referenzspannungsgenerator 22 auf hohen logischen Pegel, wie
dies in Fig. 4F gezeigt ist. Die hochpegelige Referenzspannung
VREF von dem Referenzspannungsgenerator 22 wird dem internen
Spannungsgenerator 23 zugeführt.
Da zu diesem Zeitpunkt das Freigabesignal VBBOK von dem Oszial
lator 25 noch auf seinem hohen logischen Pegel ist, wie dies in
Fig. 4E gezeigt ist, verbleiben die interne Spannung VREG und
das interne/externe Spannungswahlsignal VREGOK von dem internen
Spannungsgenerator 23 auf ihren niedrigen logischen Pegeln, wie
dies in den Fig. 4G und 4H jeweils gezeigt ist. Das hochpegeli
ge Leistung-Ein-Signal PWRON von dem Leistung-Ein-Signal
generator 21 und die niedrigpegelige interne Spannung VREG und
das niedrige interne/externe Spannungswahlsignal VREGOK von dem
internen Spannungsgenerator 23 werden dem Rückwärts-Vorspan
nungs-Spannungssensor 24 zugeführt.
Dann wird in dem Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 24 das
hochpegelige Leistung-Ein-Signal PWRON von dem Leistung-Ein-
Signalgenerator 21 an das NAND-Gatter ND31 und an den Gate-
Anschluß des NMOS Transistors NM40 angelegt, die niedrige in
terne Spannung VREG von dem internen Spannungsgenerator 23 wird
an die Sourceanschlüsse der PMOS Transistoren PM31 und PM32,
einen Sourceanschluß des PMOS Transistors PM33 in dem Inverter
I31 und an einen Sourceanschluß des PMOS Transistors PM34 in
dem Inverter I32 angelegt, und das niedrigpegelige inter
ne/externe Spannungswahlsignal VREGOK von dem internen Span
nungsgenerator 23 wird an die Übertragungsgatter TR31 und TR32
direkt und durch den Inverter I35 an die Übertragungsgater TR31
und TR32 angelegt.
Als Ergebnis hiervon wird der MMOS Transistor NM40 eingeschal
tet, wodurch in dem Knoten B in Fig. 3 eine Spannung hervorge
rufen wird, die den Zustand der Rückwärts-Vorspannungs-Spannung
VBB oder den Massepegel Vss annimmt, wodurch der NMOS Transi
stor NM41 abgeschaltet wird. Sobald die Rückwärts-Vorspannungs-
Spannung VBB von dem Massepegel Vss freigegeben ist, wird diese
an den Gate-Anschluß des NMOS Transistors NM41 durch den NMOS
Transistor 40 weitergeleitet.
Da die NMOS Transistoren NM37-NM39 in ihren ausgeschalteten Zu
ständen verbleiben, geht zu diesem Zeitpunkt der Eingangsan
schluß des Inverters I33 auf einen hohen logischen Pegel und
das Ausgangssignal von dem Inverter 134 geht auf einen hohen
logischen Pegel. Da das niedrigpegelige interne/externe Span
nungswahlsignal VREGOK von dem internen Spannungsgenerator 23
an den Gate-Anschluß des PMOS Transistors PM36 angelegt wird,
wird der PMOS Transistor PM36 eingeschaltet. Wenn der PMOS
Transistor PM36 eingeschaltet ist, überträgt dieser die externe
Spannung Vcc zu dem Sourceanschluß des PMOS Transistors PM37,
dessen Gate-Anschluß mit dem Masseanschluß Vss verbunden ist.
Als Ergebnis hiervon speist der PMOS Transistor PM37 ein Signal
mit hohem logischen Pegel in den Eingangsanschluß des Inverters
I33 ein.
In dem Übertragungsgatter TR32 wird der PMOS Transistor PM41 in
Abhängigkeit von dem niedrigpegeligen internen/externen Span
nungswahlsignal VREGOK von dem internen Spannungsgenerator 23
eingeschaltet und der NMOS Transistor NM44 wird in Abhängigkeit
von dem hochpegeligen internen/externen Spannungswahlsignal
VREGOK, das durch den Inverter I35 invertiert ist, eingeschal
tet. Im Gegensatz dazu wird in dem Übertragungsgatter TR31 der
NMOS Transistor NM36 in Abhängigkeit von dem niedrigpegeligen
internen/externen Spannungswahlsignal VREGOK von dem internen
Spannungsgenerator 23 abgeschaltet und der PMOS Transistor PM35
wird in Abhängigkeit von dem hochpegeligen internen/externen
Spannungswahlsignal VREGOK, das durch den Inverter I35 inver
tiert ist, abgeschaltet. Das hochpegelige Ausgangssignal von
dem Inverter I34 wird an das NAND-Gatter ND31 übertragen, da
das Übertragungsgatter TR32 eingeschaltet ist, während das
Übertragungsgatter TR31 ausgeschaltet ist.
Bei Empfangen des hochpegeligen Ausgangssignals von dem Inver
ter I34, das durch das Übertragungsgatter TR32 übertragen wor
den ist und des hochpegeligen Leistung-Ein-Signals PWRON von
dem Leistung-Ein-Signalgenerator 21, gibt das NAND-Gatter ND31
ein niedrigpegeliges Logiksignal an den Inverter I36 aus. Als
Ergebnis hiervon wechselt das Schwingungsfreigabesignal OSCEN
von dem Inverter I36 auf einen hohen logischen Pegel, wie dies
in Fig. 4C gezeigt ist. Das hochpegelige Schwingungsfreigabesi
gnal OSCEN von dem Inverter I36 wird dem Oszillator 25 zuge
führt.
Dann erzeugt der Osziallator 25 das Schwingungssignal in der
gewünschten Periodendauer in Abhängigkeit von dem hochpegeligen
Schwingungsfreigabesignal OSCEN von dem Rückwärts-Vorspannungs-
Spannungssensor 24 und gibt das erzeugte Schwingungssignal an
die Rückwärts-Vorspannungs-Spannungspumpe aus. Beim Empfangen
des Schwingungssignals von dem Oszillator 25 führt die Rück
wärts-Vorspannungs-Spannungspumpe 26 eine negative (-) Pumpope
ration für die Rückwärts-Vorspannungs-Spannung VBB aus, und be
wirkt so, daß die Rückwärts-Vorspannungs-Spannung VBB in ihrem
Pegel abgesenkt wird, wie dies in Fig. 4D gezeigt ist. Dann
gibt die Rückwärts-Vorspannungs-Spannungspumpe 26 die erhaltene
Rückwärts-Vorspannungs-Spannung VBB an den externen Schaltkreis
und den Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 24 aus.
In dem Anfangszustand, in dem die externe Spannung Vcc zuge
führt ist, ist im Ergebnis die Rückwärts-Vorspannungs-Spannung
VBB nur abhängig von der externen Spannung Vcc, da die interne
Spannung VREG von dem internen Spannungsgenerator 23 nicht
durch das abgeschaltete Übertragungsgatter TR31 hindurchgelei
tet wird.
Danach, in dem Moment, in dem die Rückwärts-Vorspannungs-
Spannung VBB auf -3VT abgesenkt ist, werden die NMOS Transisto
ren NM37-NM39 eingeschaltet, wodurch der Eingangsanschluß des
Inverters I33 auf einen niedrigen Logikpegel wechselt und das
Ausgangssignal von dem Inverter I34 auf einen niedrigen Logik
pegel geht. Außerdem werden die NMOS Transistoren NM31-NM33
eingeschaltet. Als Ergebnis hiervon wechselt der Eingangsan
schluß des Inverters I31 auf einen niedrigen Logikpegel und das
Ausgangssignal von dem Inverter I32 geht auf einen niedrigen
Logikpegel.
Das niedrigpegelige Ausgangssignal des Inverters I34 wird zu
dem NAND-Gatter ND31 übertragen, da das Übertragungsgatter TR32
in seinem eingeschalteten Zustand verbleibt, während das Über
tragungsgatter TR31 in seinem abgeschalteten Zustand verbleibt.
Das NAND-Gatter ND31 gibt ein Signal mit einem hohen logischen
Pegel an den Inverter I36 ab, da es mit dem niedrigpegeligen
Ausgangssignal von dem Inverter I34 gespeist wird, das von dem
Übertragungsgatter TR32 und dem hochpegeligen Leistung-Ein-
Signal PWRON von dem Leistung-Ein-Signalgenerator 21 übertragen
wird. Als ein Ergebnis hiervon wechselt das Schwingungsfreiga
besignal OSCEN von dem Inverter 136 von einem hohen logischen
Pegel auf einen niedrigen logischen Pegel, wie dies in Fig. 4C
gezeigt ist. Das niedrigpegelige Schwingungsfreigabesignal
OSCEN von dem Inverter I36 wird dem Oszillator 25 zugeführt.
Dann beendet der Oszillator 25 die Erzeugung des Schwingungs
signals in Abhängigkeit von dem niedrigpegeligen Schwingungs
freigabesignal OSCEN von dem Rückwärts-Vorspannungs-Spannungs
sensor 24. Aufgrund des fehlenden Schwingungssignals von dem
Oszillator 25 beendet die Rückwärts-Vorspannungs-Spannungspumpe
26 den negativen (-) Pumpvorgang für die Rückwärts-Vorspan
nungs-Spannung VBB, was zur Folge hat, daß die Rückwärts-
Vorspannungs-Spannung VBB im Pegel konstant ist, wie dies in
Fig. 4D gezeigt ist. Dann gibt die Rückwärts-Vorspannungs-
Spannungspumpe 26 die resultierende Rückwärts-Vorspannungs-
Spannung VBB an den externen Schaltkreis und an den Rückwärts-
Vorspannungs-Spannungssensor 24 ab.
Außerdem wechselt das Freigabesignal VBBOKB von dem Oszillator
25 von einem hohen auf einen niedrigen Logikpegel, wie dies in
Fig. 4E gezeigt ist, in dem Moment, in dem das Schwingungsfrei
gabesignal OSCEN von dem Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor
24 von einem hohen auf einen niedrigen Logikpegel wechselt. Das
niedrigpegelige Freigabesignal VBBOKB von dem Oszillator 25
wird dem internen Spannungsgenerator 23 zugeführt.
In dem internen Spannungsgenerator 23 wird der Operationsver
stärker OP in Abhängigkeit von dem niedrigpegeligen Freigabesi
gnal VBBOKB von dem Osziallator 25 betrieben. Die Referenzspan
nung VREF von dem Referenzspannungsgenerator 22 wird dem nicht
invertierenden Eingangsanschluß (+) des Operationsverstärkers
OP zugeführt und die interne Spannung VREG wird durch die Wi
derstände R21 und R22 geteilt und dann in den invertierenden
Eingangsanschluß (-) des Operationsverstärkers OP zurückge
speist. Während des Betriebes vergleicht der Operationsverstär
ker OP die eingespeisten Spannungen miteinander und gibt ein
niedrigpegeliges Logiksignal an den Gate-Anschluß des PMOS
Transistors PM21 in Abhängigkeit von dem Vergleichsergebnis
aus, was zur Folge hat, daß der PMOS Transistor PM21 einge
schaltet wird. Als Ergebnis hiervon wechselt die interne Span
nung VREG von dem PMOS Transistor PM21 auf einen hohen Logikpe
gel und verbleibt konstant in diesem hochpegeligen Zustand, wie
dies in Fig. 4G gezeigt ist. Darüber hinaus wechselt das inter
ne/externe Spannungswahlsignal VREGOK von dem internen/externen
Spannungswahlsignalgenerator 231 auf einen hohen Logikpegel,
wie dies in Fig. 4H gezeigt ist. Die hochpegelige interne Span
nung VREG und das hochpegelige interne/externe Spannungswahlsi
gnal VREGOK von dem internen Spannungsgenerator 23 werden dem
Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 24 zugeführt.
Demzufolge wird in dem Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor
24 das Übertragungsgatter TR32 abgeschaltet, während das Über
tragungsgatter TR31 in Abhängigkeit von dem hochpegeligen in
ternen/externen Spannungswahlsignal VREGOK von dem internen
Spannungsgenerator 23 eingeschaltet wird. Als Ergebnis hiervon
wird die externe Spannung Vcc durch das abgeschaltete Übertra
gungsgatter TR31 blockiert, während die gewünschte konstante
interne Spannung VREG von dem internen Spannungsgenerator 23
dem NAND-Gatter ND31 durch die PMOS Transistoren PM31 und PM32,
den Invertern I31 und I32, dem Pegelwandler 241 und dem Über
tragungsgatter TR31 zugeführt wird.
Das NAND-Gatter ND31 gibt ein Signal mit einem hohen Logikpegel
an Inverter I36, da es mit dem hochpegeligen Leistung-Ein-
Signal PWRON von dem Leistung-Ein-Signalgenerator 21 und dem
niedrigpegeligen Ausgangssignal von dem Übertragungsgatter TR31
gespeist wird. Als Ergebnis hiervon verbleibt das Schwingungs
freigabesignal OSCEN von dem Inverter I36 in seinem niedrigpe
geligen Zustand, wie dies in Fig. 4C gezeigt ist. Das niedrig
pegelige Schwingungsfreigabesignal OSCEN von dem Inverter I36
wird fortlaufend dem Oszillator 25 zugeführt. Dann setzt der
Oszillator 25 fort, kein Schwingungssignal zu erzeugen in Ab
hängigkeit von dem niedrigpegeligen Schwingungsfreigabesignal
OSCEN von dem Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 24. Da die
Rückwärts-Vorspannungs-Spannungspumpe 26 kein Schwingungssignal
von dem Oszillator 25 empfängt, fährt diese fort, den negativen
(-) Pumpvorgang für die Rückwärts-Vorspannungs-Spannung VBB an
zuhalten, was zur Folge hat, daß die Rückwärts-Vorspannungs-
Spannung VBB in ihrem Pegel konstant bleibt, wie dies in Fig.
4D gezeigt ist. Dann gibt die Rückwärts-Vorspannungs-Spannungs
pumpe 26 die erhaltene Rückwärts-Vorspannungs-Spannung VBB an
den externen Schaltkreis und den Rückwärts-Vorspannungs-
Spannungssensor 24 aus.
Es ist zu bemerken, daß das Freigabesignal VBBOKB von dem Os
zillator 25 keinen hohen Logikpegel annehmen kann, wenn es ein
mal auf einen niedrigen Logikpegel gewechselt hat. In gleicher
Weise kann das interne/externe Spannungswahlsignal VREGOK von
dem internen Spannungsgenerator 23 keinen niedrigen Logikpegel
annehmen, sobald es einmal auf einem hohen Logikpegel ist. In
anderen Worten, wird kein weiteres hochpegeliges Freigabesignal
VBBOKB von dem Oszillator 25 an den internen Spannungsgenerator
23 geleitet, und kein weiteres niedrigpegeliges internes/
externes Spannungswahlsignal VREGOK von dem internen Spannungs
generator 23 wird dem Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor 24
zugeführt.
Als Ergebnis hiervon ist unter der Bedingung, daß die interne
Spannung VREG von dem internen Spannungsgenerator auf dem kon
stanten Pegel verbleibt, die Rückwärts-Vorspannungs-Spannung
VBB lediglich von der internen Spannung VREG abhängig, da die
externe Spannung Vcc nicht durch das abgeschaltete Übertra
gungsgatter TR32 weitergeleitet wird.
Mit anderen Worten erhöht sich die interne Spannung VREG von
dem internen Spannungsgenerator 23 in ihrem Pegel solange, bis
sie den gewünschten konstanten Pegel im Anfangszustand er
reicht, indem die externe Spannung Vcc zugeführt wird, wie dies
in Fig. 5 gezeigt ist. In diesem Fall wird das Schwingungsfrei
gabesignal OSCEN von dem Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor
24 in Abhängigkeit von der externen Spannung Vcc erzeugt. So
bald die interne Spannung VREG von dem internen Spannungsgene
rator 23 den gewünschten konstanten Pegel erreicht hat, wird
das Schwingungsfreigabesignal OSCEN von dem Rückwärts-Vorspan
nungs-Spannungssensor 24 in Abhängigkeit von der internen Span
nung VREG erzeugt, da der Übertragungspfad der externen Span
nung Vcc blockiert ist. Daher verbleibt die Rückwärts-
Vorspannungs-Spannung VBB unabhängig von Schwankungen der ex
ternen Spannung Vcc auf dem konstanten Pegel, wie dies in Fig.
6 gezeigt ist.
Wie aus der vorstehenden Beschreibung deutlich wird, wird gemäß
der vorliegenden Erfindung der Übertragungspfad der externen
Spannung blockiert, wenn die interne Spannung den gewünschten
konstanten Pegel erreicht, und das Schwingungsfreigabesignal
wird in Abhängigkeit von der internen Spannung erzeugt, so daß
die Rückwärts-Vorspannungs-Spannung VBB auf einem konstanten
Pegel unabhängig von der Schwankung der externen Spannung ver
bleiben kann. Daher hat der Rückwärts-Vorspannungs-Spannungs
generator der vorliegenden Erfindung die Wirkung, daß inte
grierte Schaltungsbaugruppen davor bewahrt werden, aufgrund ei
ner instabilen Rückwärts-Vorspannungs-Spannung beschädigt zu
werden. Obwohl die bevorzugten Ausführungsformen der vorliegen
den Erfindung zu erläuternden Zwecken offenbart worden sind,
können Fachleute dieses Gebietes erkennen, daß unterschiedliche
Abwandlungen, Zusätze oder Austauschmöglichkeiten bestehen, oh
ne den Schutzbereich der Erfindung zu verlassen, wie er in den
beigefügten Ansprüchen offenbart ist.
Claims (8)
1. Ein Rückwärts-Vorspannungs-Spannungsgenerator mit:
einem Leistung-Ein-Signalgenerator (21) zum Erzeugen eines Lei stung-Ein-Signals (PWRON) wenn eine externe Spannung (Vcc) auf einem konstanten Pegel bleibt;
einem Referenzspannungsgenerator (22) zum Erzeugen einer Refe renzspannung (VREF) in Abhängigkeit von dem Leistung-Ein-Signal (PWRON) von dem Leistung-Ein-Signalgenerator (21);
einem internen Spannungsgenerator (23) zum Erzeugen einer in ternen Spannung (VREG) und eines internen/externen Spannungs wahlsignals (VREG) in Abhängigkeit von der Referenzspannung (VREF) von dem Referenzspannungsgenerator (22), wobei die in terne Spannung (VREG) einen konstanten Pegel aufweist;
einem Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor (24) zum Erzeugen eines Schwingungsfreigabesignals in Abhängigkeit von der exter nen Spannung (Vcc) oder der internen Spannung von dem internen Spannungsgenerator (23) unter Steuerung von dem internen/ externen Spannungswahlsignal von dem internen Spannungsgenera tor (23);
einem Oszillator (25) zum Erzeugen eines Schwingungsfreigabesi gnals mit einer vorbestimmten Periodendauer und einem Freigabe signal in Abhängigkeit von dem Schwingungsfreigabesignal von dem Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor (24) und zum Ausge ben des erzeugten Freigabesignals an den internen Spannungsge nerator (23); und
einer Rückwärts-Vorspannungs-Spannungspumpe (26) zum Ausführen eines Spannungspumpvorganges in Abhängigkeit von dem Schwin gungsfreigabesignal von dem Oszillator (25), um einen gewünsch ten Pegel der Rückwärts-Vorspannungs-Spannung (VBB) zu erzeugen und zum Ausgeben der erzeugten Rückwärts-Vorspannungs-Spannung (VBB) an einen externen Schaltkreis und an den Rückwärts- Vorspannungs-Spannungssensor (24).
einem Leistung-Ein-Signalgenerator (21) zum Erzeugen eines Lei stung-Ein-Signals (PWRON) wenn eine externe Spannung (Vcc) auf einem konstanten Pegel bleibt;
einem Referenzspannungsgenerator (22) zum Erzeugen einer Refe renzspannung (VREF) in Abhängigkeit von dem Leistung-Ein-Signal (PWRON) von dem Leistung-Ein-Signalgenerator (21);
einem internen Spannungsgenerator (23) zum Erzeugen einer in ternen Spannung (VREG) und eines internen/externen Spannungs wahlsignals (VREG) in Abhängigkeit von der Referenzspannung (VREF) von dem Referenzspannungsgenerator (22), wobei die in terne Spannung (VREG) einen konstanten Pegel aufweist;
einem Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor (24) zum Erzeugen eines Schwingungsfreigabesignals in Abhängigkeit von der exter nen Spannung (Vcc) oder der internen Spannung von dem internen Spannungsgenerator (23) unter Steuerung von dem internen/ externen Spannungswahlsignal von dem internen Spannungsgenera tor (23);
einem Oszillator (25) zum Erzeugen eines Schwingungsfreigabesi gnals mit einer vorbestimmten Periodendauer und einem Freigabe signal in Abhängigkeit von dem Schwingungsfreigabesignal von dem Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor (24) und zum Ausge ben des erzeugten Freigabesignals an den internen Spannungsge nerator (23); und
einer Rückwärts-Vorspannungs-Spannungspumpe (26) zum Ausführen eines Spannungspumpvorganges in Abhängigkeit von dem Schwin gungsfreigabesignal von dem Oszillator (25), um einen gewünsch ten Pegel der Rückwärts-Vorspannungs-Spannung (VBB) zu erzeugen und zum Ausgeben der erzeugten Rückwärts-Vorspannungs-Spannung (VBB) an einen externen Schaltkreis und an den Rückwärts- Vorspannungs-Spannungssensor (24).
2. Ein Rückwärts-Vorspannungs-Spannungsgenerator nach An
spruch 1, bei dem der interne Spannungsgenerator (23) folgendes
aufweist:
ein Operationsverstärker (OP1), der in Abhängigkeit von dem Freigabesignal von dem Oszillator (25) arbeitet, um die interne Spannung (VREG) mit der Referenzspannung (VREF) von dem Refe renzspannungsgenerator zu vergleichen;
einen Transistor (PM21), der in Abhängigkeit von einem Aus gangssignal von dem Operationsverstärker (OP1) arbeitet, um ei ne interne Spannung (VREG) an den Rückwärts-Vorspannungs- Spannungssensor (24) auszugeben und um diesen an den Operati onsverstärker (OP1) zurückzuspeisen; und
einen internen/externen Spannungswahlsignalgenerator (231) zum Ausgeben des internen/externen Spannungswahlsignals (VREGOK) an den Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor (24) in Abhängigkeit von der internen Spannung (VREG) von dem Transistor und der Re ferenzspannung (VREF) von dem Referenzspannungsgenerator (22).
ein Operationsverstärker (OP1), der in Abhängigkeit von dem Freigabesignal von dem Oszillator (25) arbeitet, um die interne Spannung (VREG) mit der Referenzspannung (VREF) von dem Refe renzspannungsgenerator zu vergleichen;
einen Transistor (PM21), der in Abhängigkeit von einem Aus gangssignal von dem Operationsverstärker (OP1) arbeitet, um ei ne interne Spannung (VREG) an den Rückwärts-Vorspannungs- Spannungssensor (24) auszugeben und um diesen an den Operati onsverstärker (OP1) zurückzuspeisen; und
einen internen/externen Spannungswahlsignalgenerator (231) zum Ausgeben des internen/externen Spannungswahlsignals (VREGOK) an den Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor (24) in Abhängigkeit von der internen Spannung (VREG) von dem Transistor und der Re ferenzspannung (VREF) von dem Referenzspannungsgenerator (22).
3. Einen Rückwärts-Vorspannungs-Spannungsgenerator nach An
spruch 1, bei dem der Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor
(24) dazu eingerichtet ist, das Schwingungsfreigabesignal
(OSCEN) in Abhängigkeit von der externen Spannung (Vcc) während
eines Anfangszustandes zu erzeugen, in dem die externe Spannung
(Vcc) zugeführt wird.
4. Ein Rückwärts-Vorspannungs-Spannungsgenerator nach An
spruch 1, bei dem der Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor
(24) dazu eingerichtet ist, das Schwingungsfreigabesignal
(OSCEN) in Abhängigkeit von der internen Spannung (VREG) von
dem internen Spannungsgenerator (23) zu erzeugen, sobald die
interne Spannung (VREG) einen gewünschten konstanten Pegel er
reicht hat.
5. Ein Rückwärts-Vorspannungs-Spannungsgenerator nach An
spruch 4, bei dem die interne Spannung (VREG) von dem internen
Spannungsgenerator in ihrem Pegel versetzt wird.
6. Ein Rückwärts-Vorspannungs-Spannungsgenerator nach An
spruch 1, bei dem der Rückwärts-Vorspannungs-Spannungssensor
(24) dazu eingerichtet ist, das Schwingungsfreigabesignal
(OSCEN) auf seinem hohen Logikpegel zu halten, bis die Rück
wärts-Vorspannungs-Spannung (VBB) von der Rückwärts-
Vorspannungs-Spannungspumpe (26) auf einen gewünschten konstan
ten Pegel abgesenkt ist.
7. Ein Rückwärts-Vorspannungs-Spannungsgenerator nach An
spruch 1, bei dem das Freigabesignal nicht auf einen hohen Lo
gikpegel wechseln kann, sobald das Freigabesignal einmal auf
einem niedrigen Logikpegel ist.
8. Ein Rückwärts-Vorspannungs-Spannungsgenerator nach An
spruch 1, bei dem das interne/externe Spannungswahlsignal
(VREGOK) nicht auf einen niedrigen Logikpegel wechseln kann,
sobald das interne/externe Spannungswahlsignal (VREGOK) einmal
auf einem hohen Logikpegel ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019940007758A KR0127318B1 (ko) | 1994-04-13 | 1994-04-13 | 백바이어스전압 발생기 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4445750A1 true DE4445750A1 (de) | 1995-10-26 |
DE4445750C2 DE4445750C2 (de) | 1996-11-28 |
Family
ID=19380974
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4445750A Expired - Fee Related DE4445750C2 (de) | 1994-04-13 | 1994-12-21 | Geregelter Substratvorspannungsgenerator |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5602506A (de) |
JP (1) | JP2854533B2 (de) |
KR (1) | KR0127318B1 (de) |
DE (1) | DE4445750C2 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102017125543A1 (de) * | 2017-08-30 | 2019-02-28 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co. Ltd. | Schaltbare stromversorgung |
US10921839B2 (en) | 2017-08-30 | 2021-02-16 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Switchable power supply |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR0142967B1 (ko) * | 1995-04-26 | 1998-08-17 | 김광호 | 반도체 메모리장치의 기판 전압 제어회로 |
KR100223770B1 (ko) * | 1996-06-29 | 1999-10-15 | 김영환 | 반도체 장치의 문턱전압 제어회로 |
KR100234701B1 (ko) * | 1996-12-05 | 1999-12-15 | 김영환 | 외부전압에 둔감한 백바이어스전압 레벨 감지기 |
US5945869A (en) * | 1997-05-23 | 1999-08-31 | Texas Instruments Incorporated | Voltage detector using body effect |
KR100554112B1 (ko) * | 1997-05-30 | 2006-02-20 | 미크론 테크놀로지,인코포레이티드 | 256 메가 다이내믹 랜덤 액세스 메모리 |
US6194954B1 (en) * | 1997-12-31 | 2001-02-27 | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. | Voltage controlled generator for semiconductor devices |
US6016072A (en) * | 1998-03-23 | 2000-01-18 | Vanguard International Semiconductor Corporation | Regulator system for an on-chip supply voltage generator |
KR100309459B1 (ko) * | 1998-04-13 | 2001-12-17 | 김영환 | 반도체장치의기판전압발생기 |
KR100307525B1 (ko) * | 1998-11-26 | 2001-11-15 | 김영환 | 기판전압감지제어회로 |
DE60025697D1 (de) | 2000-02-08 | 2006-04-13 | St Microelectronics Srl | Spannungserhöhungsvorrichtung |
JP4093705B2 (ja) * | 2000-06-30 | 2008-06-04 | 富士通株式会社 | 半導体集積回路 |
US6933769B2 (en) * | 2003-08-26 | 2005-08-23 | Micron Technology, Inc. | Bandgap reference circuit |
KR100794992B1 (ko) * | 2005-12-29 | 2008-01-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 기판 바이어스 전압 발생 장치 및 방법 |
KR100850290B1 (ko) * | 2007-01-11 | 2008-08-04 | 삼성전자주식회사 | 멀티레벨 바이어스 전압 발생기 및 이를 구비하는 반도체메모리 장치 |
US7911261B1 (en) | 2009-04-13 | 2011-03-22 | Netlogic Microsystems, Inc. | Substrate bias circuit and method for integrated circuit device |
JP2011259407A (ja) * | 2010-05-13 | 2011-12-22 | Sony Corp | 信号処理回路、固体撮像素子およびカメラシステム |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4226047C2 (de) * | 1991-08-19 | 1994-10-06 | Samsung Electronics Co Ltd | Schaltkreis zur Erzeugung einer internen Spannungsversorgung mit einer Steuerschaltung zur Durchführung eines Belastungstests ("Burn-in-Test") |
DE4135148C2 (de) * | 1991-06-17 | 1995-02-02 | Samsung Electronics Co Ltd | Substratvorspannungsgenerator mit Spannungsstabilisierung |
DE4034668C2 (de) * | 1990-10-30 | 1995-04-06 | Samsung Electronics Co Ltd | Temperaturstabilisierter Substratspannungsgenerator |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57199335A (en) * | 1981-06-02 | 1982-12-07 | Toshiba Corp | Generating circuit for substrate bias |
US4794278A (en) * | 1987-12-30 | 1988-12-27 | Intel Corporation | Stable substrate bias generator for MOS circuits |
KR0133933B1 (ko) * | 1988-11-09 | 1998-04-25 | 고스기 노부미쓰 | 기판바이어스 발생회로 |
JPH0783254B2 (ja) * | 1989-03-22 | 1995-09-06 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路 |
JP2870277B2 (ja) * | 1991-01-29 | 1999-03-17 | 日本電気株式会社 | ダイナミック型ランダムアクセスメモリ装置 |
JPH0554650A (ja) * | 1991-08-26 | 1993-03-05 | Nec Corp | 半導体集積回路 |
US5329168A (en) * | 1991-12-27 | 1994-07-12 | Nec Corporation | Semiconductor integrated circuit device equipped with substrate biasing system selectively powered from internal and external power sources |
US5394026A (en) * | 1993-02-02 | 1995-02-28 | Motorola Inc. | Substrate bias generating circuit |
-
1994
- 1994-04-13 KR KR1019940007758A patent/KR0127318B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1994-12-21 DE DE4445750A patent/DE4445750C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1994-12-22 US US08/362,299 patent/US5602506A/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-01-18 JP JP7005532A patent/JP2854533B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4034668C2 (de) * | 1990-10-30 | 1995-04-06 | Samsung Electronics Co Ltd | Temperaturstabilisierter Substratspannungsgenerator |
DE4135148C2 (de) * | 1991-06-17 | 1995-02-02 | Samsung Electronics Co Ltd | Substratvorspannungsgenerator mit Spannungsstabilisierung |
DE4226047C2 (de) * | 1991-08-19 | 1994-10-06 | Samsung Electronics Co Ltd | Schaltkreis zur Erzeugung einer internen Spannungsversorgung mit einer Steuerschaltung zur Durchführung eines Belastungstests ("Burn-in-Test") |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102017125543A1 (de) * | 2017-08-30 | 2019-02-28 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co. Ltd. | Schaltbare stromversorgung |
US10921839B2 (en) | 2017-08-30 | 2021-02-16 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Switchable power supply |
US11592856B2 (en) | 2017-08-30 | 2023-02-28 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Switchable power supply |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5602506A (en) | 1997-02-11 |
KR0127318B1 (ko) | 1998-04-02 |
DE4445750C2 (de) | 1996-11-28 |
KR950030146A (ko) | 1995-11-24 |
JP2854533B2 (ja) | 1999-02-03 |
JPH07283371A (ja) | 1995-10-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4445750C2 (de) | Geregelter Substratvorspannungsgenerator | |
DE4442848C2 (de) | Spannungsabwärtswandler für eine Halbleiterspeichervorrichtung | |
DE4332452C2 (de) | Halbleitervorrichtung mit einem Boostmittel und Verfahren zum Festklemmen einer Spannung | |
DE4039524C2 (de) | Substratspannungserzeuger für eine Halbleitereinrichtung und Verfahren zum Erzeugen einer Substratspannung | |
DE4037206C2 (de) | Versorgungsspannungs-Steuerschaltkreis mit der Möglichkeit des testweisen Einbrennens ("burn-in") einer internen Schaltung | |
DE19748031B4 (de) | Integrierte Halbleiterschaltungsvorrichtung mit einer taktfrequenzinvarianten Spannungsheruntertransformierschaltung | |
DE19812096A1 (de) | Ladepumpenschaltung für ein Halbleiterspeichergerät | |
DE19749602C2 (de) | Substratspannungs-Generatorschaltung | |
DE4437757A1 (de) | Referenzspannungserzeugungsschaltung | |
DE4305864C2 (de) | Ausgabepufferschaltung | |
DE19505502A1 (de) | Spannungsgenerator für ein Halbleiterbauelement | |
DE4128290C1 (de) | ||
DE4115082A1 (de) | Halbleitereinrichtung mit spannungswandlerschaltung und verfahren zum betrieb derselben | |
DE10130752A1 (de) | Halbleiterspeichervorrichtung und Steuerverfahren | |
DE4034668A1 (de) | Substratspannungsgenerator fuer halbleiterbauelemente | |
EP0715237B1 (de) | Schaltungsanordung zur Erzeugung einer geregelten Ausgangsspannung | |
DE10106775B9 (de) | Spannungsdetektionsschaltung für ein Halbleiterspeicherbauelement | |
DE3826745C2 (de) | ||
DE19501535C2 (de) | Interne Stromversorgungsschaltung | |
DE10106767B4 (de) | Spannungsdetektionsschaltung für ein Halbleiterspeicherbauelement und Verwendung | |
DE4234667C2 (de) | Spannungserzeugungseinrichtung, Verwendung derselben in einem Halbleiterspeicher und Betriebsverfahren derselben zum Erzeugen einer konstanten Spannung | |
DE4323010C2 (de) | Spannungserzeugungsschaltung zum Erzeugen einer Spannung mit vorbestimmter Polarität an einem Ausgangsknoten, wobei Schwellenspannungsverluste vermieden werden | |
DE19521730A1 (de) | Halbleiterspeichervorrichtung | |
DE19650149C2 (de) | Integrierte Halbleiterschaltung mit Zwischenpotential-Erzeugungsschaltung | |
DE69009072T2 (de) | Bi-MOS logischer Schaltkreis zum Entladen der in einer parasitären Kapazität angesammelten Ladungen. |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |
Effective date: 20140701 |