DE4445431C2 - Aktivmatrixtafel - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft eine Aktivmatrixtafel nach dem Oberbegriff des Patentanspruches 1. Eine solche Aktivmatrixtafel kann ein aktives Element, wie z. B. einen Dünnfilmtransistor (nachfolgend als TFT bezeichnet) oder dergleichen, als Schaltelement verwenden.

In Fig. 5 ist eine Ersatzschaltung für eine beispielhafte herkömmliche Aktivmatrixtafel dargestellt (vgl. JP-A-5- 165438). Die herkömmliche Aktivmatrixtafel weist mehrere Gateleitungen X₁ bis X_n und mehrere Sourceleitungen Y₁ bis Y_n auf, die so angeordnet sind, daß sie die Gateleitungen rechtwinklig schneiden. Ein Bittreiber 4 ist mit den Gate­ leitungen X₁ bis X_n verbunden, so daß ein Gatesignal von ihm an jede dieser Leitungen ange­ legt wird. Die Sourceleitungen Y₁ bis Y_n sind mit einem Sourcetreiber 1 verbunden, der Abtasttorschaltungen S₁ bis S_n, ein Schieberegister 2 und eine Videosignalleitung 3 auf­ weist. Das Schieberegister 2 liefert ein Signal zum sequen­ tiellen Ein/Aus-Schalten der Abtasttorschaltungen S₁ bis S_n. Auf die Videosignalleitung 3 wird ein Videosignal gegeben, das als Sourcesignal sequentiell über die sequentiell einge­ schalteten Abtasttorschaltungen S₁ bis S_n an die Sourcelei­ tungen Y₁ bis Y_n angelegt wird. Außerdem sind Abtast-Halte- Kapazitäten 8 zwischen den Abtasttorschaltungen S₁ bis S_n und den Sourceleitungen Y₁ bis Y_n angeordnet. Für alle Ab­ tast-Halte-Kapazitäten 8 ist eine der Elektroden, die je­ weils an einer dieser Kapazitäten beteiligt ist, mit einer gemeinsamen Leitung 9 verbunden. Die Gateleitungen X₁ bis X_n und die Sourceleitungen Y₁ bis Y_n sind auf einem (nicht dar­ gestellten) Substrat ausgebildet. Die Treiber 1 und 4, die Abtast-Halte-Kapazitäten 8 und die gemeinsame Leitung 9 sind ebenfalls auf dem Substrat ausgebildet.

TFTs 5 als Schaltelemente sind in der Nähe der jeweiligen Schnittstellen der Gateleitungen X₁ bis X_n und der Source­ leitungen Y₁ bis Y_n ausgebildet. Bildpunkte 6 sind mit jedem TFT 5 so verbunden, daß in jedes von ihnen durch einen zuge­ hörigen TFT 5 das Sourcesignal eingeschrieben wird. Ferner ist eine Zusatzkapazität 7 für jeden Bildpunkt 6 vorhanden. Jede der die Zusatzkapazität 7 bildenden Elektroden ist mit der Drainelektrode des TFTs 5 verbunden. Die andere die Zu­ satzkapazität 7 bildende Elektrode ist über eine gemeinsame Zusatzkapazitätenleitung 10 mit einer gemeinsamen Zusatz­ kapazitätenelektrode verbunden. Wenn die in Fig. 5 darge­ stellte Aktivmatrixtafel an einem Gegensubstrat angebracht wird, um ein LCD zu bilden, wird diese Elektrode zusammen mit einer Gegenelektrode auf dem Gegensubstrat an Masse ge­ legt.

Nachfolgend wird der Betrieb der in Fig. 5 dargestellten herkömmlichen Aktivmatrixtafel, insbesondere derjenigen der Abtast-Halte-Kapazität 8, beschrieben.

Gemäß Fig. 5 sendet das Schieberegister 2 innerhalb des Sourcetreibers 1 ein Abtastsignal an jede der Abtasttor­ schaltungen S₁ bis S_n, so daß das Abtastsignal die Abtast­ torschaltungen sequentiell durchrastert. So werden die Ab­ tasttorschaltungen S₁ bis S_n jeweils einzeln im Zeitmulti­ plex eingeschaltet. Wie vorstehend beschrieben, wird ein Videosignal von außen auf die Videosignalleitung 3 gegeben. Die Abtasttorschaltungen S₁ bis S_n werden eingeschaltet, wo­ durch das Videosignal sequentiell über die Sourceleitungen Y₁ bis Y_n durchgerastert wird. Das durchgerasterte Video­ signal lädt jede Sourceleitung mit einer elektrischen La­ dung. Ein derartiges Durchrastern des Videosignals wird der Reihe nach für alle Sourceleitungen Y₁ bis Y_n ausgeführt. Wenn das Durchrastern für alle Sourceleitungen beendet ist, wird eine Gateleitung, die unter allen Gateleitungen X₁ bis X_n ausgewählt ist, eingeschaltet. So werden die durchgera­ sterten und abgetasteten Videosignale in Form elektrischer Ladungen zu einem Zeitpunkt an alle Pixel 6 geliefert, die mit der ausgewählten Gateleitung verbunden sind. Danach wird dieser Prozeß für alle restlichen Gateleitungen X₁ bis X_n der Reihe nach wiederholt, wodurch ein Bild erstellt wird.

Wenn ein Anzeigevorgang auf diese Weise erfolgt, muß das über jede der Sourceleitungen Y₁ bis Y_n durchgerasterte Vi­ deosignal sicher zumindest so lange aufrechterhalten werden, bis das Durchrastern für alle Sourceleitungen Y₁ bis Y_n be­ werkstelligt ist. Zu diesem Zweck ist die Abtast-Halte-Kapa­ zität 8 für jede der Sourceleitungen Y₁ bis Y_n vorhanden.

Außer dem Verfahren unter Verwendung des Schieberegisters 2 im Sourcetreiber 1 als Schaltung zum Erzeugen eines Abra­ stersignals, das die Sourceleitungen Y₁ bis Y_n auswählt, ist auf dem Fachgebiet auch ein Verfahren zum Decodieren von Daten mit weniger als 10 Bits bekannt. Dieses Verfahren un­ ter Verwendung eines Decodierers ist z. B. in "1994 IEEE inter­ national Solidstate Circuits Conference", S. 154 beschrie­ ben.

Fig. 6 ist ein Schaltbild, das eine beispielhafte Konfigu­ ration für das Schieberegister 2 zur Verwendung im in Fig. 5 dargestellten Sourcetreiber 1 zeigt. Dieses Schieberegi­ ster 2 verfügt, wie unten beschrieben, über eine redundante Struktur. Die redundante Struktur ist z. B. in der JP-A-5-165438 beschrieben.

In Fig. 6 werden tatsächlich zwei parallel angeordnete Schieberegister 2a und 2b als Schieberegister 2 verwendet. Die Ausgangsanschlüsse für jeweilige Bits der Schieberegi­ ster 2a und 2b sind mit einem NAND-Gatter 11 verbunden. Über einen einen Puffer bildenden Inverter 12 ist der Ausgangs­ anschluß des NAND-Gatters 11 mit einer der Abtasttorschal­ tungen S₁ bis S_n verbunden, so daß das Ausgangssignal des NAND-Gatters 11 als Steuersignal in eine Abtasttorschaltung eingegeben wird. Jedes der beiden Schieberegister ist in mehrere Blöcke unterteilt, von denen jeder eine vorgegebene Anzahl von Stufen enthält. Das endgültige Ausgangssignal jedes der Blöcke wird in ein NOR-Gatter 13 eingegeben, und der Ausgang desselben wird in den nächsten Block eingegeben.

Wenn in der in Fig. 6 dargestellten Schaltung ein Defekt auftritt, wird dadurch das Ausgangssignal eines Schieberegi­ sters anomal. Im Ergebnis kann auch mindestens ein Abtast­ signal, wie es über mindestens einen Inverter 12, der mit dem fehlerhaften Schieberegister verbunden ist, anomal wer­ den. In diesem Fall werden die Eingangsanschlüsse der NAND- Gatter 11 und die Eingangsanschlüsse der NOR-Gatter 13, die mit dem fehlerhaften Schieberegister verbunden sind, durch Einstrahlen eines Laserstrahls durchtrennt. So kann der De­ fekt dadurch repariert werden, daß das Schieberegister, des­ sen Ausgangssignal anomal ist, vom anderen Schieberegister abgetrennt wird. Gemäß der in Fig. 6 dargestellten redun­ danten Struktur können selbst dann, wenn im Schieberegister 2 mehrere Defekte auftreten, diese durch eine solche Technik repariert werden, solange nicht Defekte in zwei entsprechen­ den Blöcken der zwei Schieberegister auftreten. Aus diesem Grund ist die Ausbeute bei der Herstellung des Sourcetrei­ bers verbessert.

Bei der in Fig. 5 dargestellten herkömmlichen Aktivmatrix­ tafel kann jedoch eine elektrostatische Zerstörung in der Abtast-Halte-Kapazität 8 aufgrund statischer Elektrizität oder dergleichen auftreten, wie sie bei einem Verfahrens­ schritt nach der Herstellung der Aktivmatrixtafel entsteht, z. B. bei einer Reibbehandlung eines Ausrichtungsfilms. Im Ergebnis tritt ein Leckstrom in der Abtast-Halte-Kapazität 8 auf. In der mit der fehlerhaften Abtast-Halte-Kapazität 8 verbundenen Sourceleitung, in der der Leckstrom auftritt, wird es unmöglich, die elektrische Ladung zu halten. Der mit einer solchen Sourceleitung verbundene Bildpunkt 6 stellt ein Bild mit einem Kontrast dar, der sich stark von dem un­ terscheidet, wie er von einem normalen Bildpunkt 6 erhalten wird, was zu einer Verschlechterung der Anzeigequalität eines LCDs führt.

Auch dann, wenn die Schaltung mit den in Blöcke unterteilten Schieberegistern, wie in Fig. 6 dargestellt, als Source­ treiber 1 verwendet wird, stimmt der Abtastzeitpunkt dann, wenn ein Defekt durch Laserlichteinstrahlung repariert wur­ de, nicht mit dem im Fall ohne Defekt und damit ohne Repara­ tur überein. Die Gründe für eine solche Zeitpunktänderung werden nachfolgend beschrieben.

Die Fig. 7A und 7B zeigen jeweils spezielle Konfiguratio­ nen des in Fig. 6 dargestellten NAND-Gatters 11 und des NOR-Gatters 13. Unter Bezugnahme auf Fig. 7B wird nun der Betrieb des NOR-Gatters 13 beschrieben. Wie in Fig. 7B dar­ gestellt, beinhaltet das NOR-Gatter 13 zwei PMOS-Transisto­ ren 13a und 13b sowie zwei NMOS-Transistoren 13c und 13d. Wenn beide der zwei Schieberegister normal arbeiten, wird dasselbe Signal in beide Eingangsanschlüsse in1 und in2 ein­ gegeben. Wenn z. B. ein Signal mit dem Pegel des logischen Zustands 1 (nachfolgend als Vdd bezeichnet) in die zwei Ein­ gangsanschlüsse in1 und in2 eingegeben wird, werden die bei­ den NMOS-Transistoren 13c und 13d leitend geschaltet und das Ausgangssignal des NOR-Gatters 13 befindet sich im logischen Zustand des Ausgangspegels 0 (nachfolgend als GND bezeich­ net). Wenn jedoch ein Defekt, wie er in einem der zwei Regi­ ster auftritt, repariert wird, ist einer der zwei Eingangs­ anschlüsse in1 und in2 des NDR-Gatters 13 auf den Pegel GND fixiert. In diesem Zustand wird nur einer der NMOS-Transi­ storen leitend, wenn das Ausgangssignal AUS des NOR-Gatters 13 von Vdd auf GND wechselt. Im Ergebnis ist das Treiberver­ mögen des NOR-Gatters 13 auf die Hälfte des normalen verrin­ gert. Dies verändert eine Verzögerung zwischen dem in den Sourcetreiber eingegebenen Taktsignal und dem vom NOR-Gatter 13 ausgegebenen Abtastsignal. Demgemäß ändert sich der Ab­ tastzeitpunkt der dem Block mit dem Defekt entsprechenden Abtasttorschaltung. Wenn der Abtastzeitpunkt stark abweicht, kann sich die Anzeigequalität so stark verschlechtern, daß z. B. ein Sprung im Bildinhalt in Form schräger Linien er­ kennbar wird. Das jeder der Abtasttorschaltungen zugeordnete NAND-Gatter 11 arbeitet auf ähnliche Weise, was zu einer Ab­ weichung des Abtastzeitpunkts zwischen einem reparierten Schieberegister und einem normalen ohne Reparatur führt.

Eine solche Abweichung des Abtastzeitpunkts tritt nicht nur dann auf, wenn ein Schieberegister mit repariertem Defekt verwendet wird, sondern auch bei Verwendung eines normalen Decodierers. Fig. 8A zeigt schematisch einen Abtastsignal- Erzeugungsabschnitt eines Sourcetreibers unter Verwendung eines Decodierers anstelle eines Schieberegisters. Fig. 8B ist eine Darstellung der Verläufe von Signalen, wie sie in jeweiligen Teilen der in Fig. 8A dargestellten Schaltung erhalten werden. Der Einfachheit halber wird hier die Ver­ wendung eines 2-Bit-Decodierers beschrieben. Tatsächlich wird bei einem Display ein Decodierer mit 9 Bits oder mehr verwendet, jedoch kann die Beschreibung leicht auf einen solchen Fall erstreckt werden.

Wie in Fig. 8A dargestellt, werden bei einem Sourcetreiber unter Verwendung eines Decodierers Auswahlsignale 2° bis 2¹ in die NOR-Gatter 21a bis 21d eingegeben. Abhängig von der Kombination der Eingangssignale wird eine Abtasttorschaltung ausgewählt. Die NOR-Gatter 21a bis 21d sind so aufgebaut, wie es in Fig. 7B dargestellt ist. Die Ausgangssignale der NOR-Gatter 21a bis 21d werden als ausgewählte Impulse in die Steueranschlüsse der Abtasttorschaltungen S₁ bis S_n eingege­ ben. Der Abtastzeitpunkt für jede der Abtasttorschaltungen S₁ bis S_n wird durch den Zeitpunkt des Abfalls dieses ausge­ wählten Impulses festgelegt, d. h. durch den Zeitpunkt, zu dem der Signalverlauf des jeweiligen Ausgangssignals A bis D fällt. Jedoch weicht auch bei einem so aufgebauten Decodie­ rer der Abtastzeitpunkt auf ähnliche Weise wie bei Verwen­ dung eines Schieberegisters ab, wenn ein Defekt repariert wird.

Wenn z. B. die Auswahlsignale 2₀ bis 2¹ mit den in Fig. 8B dargestellten Signalverläufen an die in Fig. 14A dargestell­ te Schaltung angelegt werden, wechseln die zwei Eingangssi­ gnale in das NOR-Gatter 21a mit dem fallenden Zeitpunkt des Ausgangssignals A beide von GND auf Vdd. im Ergebnis werden die zwei NMOS-Transistor leitend geschaltet. Auf ähnliche Weise werden die zwei NMOS-Transistoren im NOR-Gatter 21c ebenfalls zum Abfallzeitpunkt des Signalverlaufs des Aus­ gangssignals C leitend geschaltet. Jedoch wird zum Abfall­ zeitpunkt des Signalverlaufs des Ausgangssignals B einer der Eingänge des NOR-Gatters 21a auf GND gehalten, während der Pegel am anderen Eingang von GND auf Vdd wechselt. Demgemäß wird zum Abfallzeitpunkt des Signalverlaufs des Ausgangs­ signals B nur ein NMOS-Transistor leitend geschaltet. Auf ähnliche Weise wird zum Abfallzeitpunkt des Signalverlaufs des Ausgangssignals D nur einer der zwei NMOS-Transistoren leitend geschaltet. So unterscheiden sich die Treibermög­ lichkeiten der NOR-Gatter 21a und 21c von denen der NOR- Gatter 21b und 21d. Demgemäß unterscheidet sich das Ausmaß der Verzögerung für die beiden NOR-Gatter voneinander. Im Ergebnis weicht der Abtastzeitpunkt in einem Sourcetreiber, der kein Schieberegister, sondern einen Decodierer verwen­ det, zwischen den zwei Abtasttorschaltungen ab, selbst wenn er keinen Defekt aufweist, was zu einer Verschlechterung der Anzeigequalität führt.

Diese Verschlechterungen der Anzeigequalität treten dann auf, wenn die vorstehend genannte Zeitpunktsabweichung zu groß ist, als daß sie in bezug auf die Abtastintervalle zwi­ schen den Abtasttorschaltungen vernachlässigt werden könnte. Insbesondere bei einem LCD hoher Auflösung mit Abtastinter­ vallen von 100 ns oder weniger verschlechtert sich die An­ zeigequalität selbst bei einer kleinen Zeitpunktsabweichung von einigen 10 ns.

Ferner wird es möglich, dann, wenn TFTs aus polykristallinem Sili­ zium für die jeweiligen den Treiber aufbauenden Elemente verwendet werden, den Treiber monolithisch auf dem Substrat der Aktivmatrixtafel auszubilden. Jedoch ist in diesem Fall die Verzögerung größer als in einem Treiber unter Verwendung von TFTs aus einkristallinem Silizium. Dies ist der Fall, weil die Ladungsträgerbeweglichkeit in einer Schicht aus polykristallinem Silizium nur einen kleinen Bruchteil der­ jenigen in einer Schicht aus einkristallinem Silizium aus­ macht. Aus diesem Grund ist dann, wenn ein Treiber unter Ver­ wendung von TFTs aus polykristallinem Silizium monolithisch auf dem Substrat einer Aktivmatrixtafel ausgebildet ist, eine Abtastzeitpunktsabweichung deutlicher als im Fall der Verwendung eines externen Treibers mit TFTs aus einkristal­ linem Silizium.

In der DE 41 07 318 ist eine aktive Flüssigkristallanzeige-Vor­ richtung vom Matrixtyp beschrieben, bei der sich eine Pixelelektrode und eine gemeinsame Elektrodenleitung nicht überlappen, sondern kapazitiv durch eine Schwebeelektrode gekoppelt sind, so daß die Pixelelektrode und die gemeinsame Elektrode keinen Kurzschluß verursachen, wobei eine Speicher­ kapazität durch die Serienverbindung einer Vielzahl von Kon­ densatoren gebildet ist. Es ist dabei möglich, anstelle einer Schwebeelektrode eine Vielzahl von Schwebeelektroden vorzusehen, so daß parallelgeschaltete Speicherkapazitäten entstehen.

Weiterhin ist aus Japan Display, 1986, Seiten 208 bis 211, "Active Matrix Color LCD Fabricated by Using Redundancy and Repair System", eine LCD-Aktivmatrix bekannt, bei der für Dünnfilmtransistoren ein Redundanzsystem angewandt wird, nach welchem mit Hilfe eines Laserstrahles überkreuzungs­ bereiche von Gateleitungen genau gemustert werden.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Aktivmatrix­ tafel zu schaffen, die so aufgebaut ist, daß trotz unter­ schiedlich vieler Elemente in einem Signalpfad, hervorgeru­ fen durch Defektbehebung oder Decodierung, keine Laufzeit­ unterschiede für die verschiedenen Signalpfade bestehen.

Zur Lösung dieser Aufgabe schafft die Erfindung eine Aktiv­ matrixtafel mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1.

Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.

Die erfindungsgemäße Aktivmatrixtafel ermöglicht es, die folgenden Vorteile zu erzielen:

• (1) Schaffen einer Aktivmatrixtafel, die selbst dann, wenn in einer Abtast-Halte-Kapazität eine Zerstörung durch elektrostatische Ladungen auftritt, ein Bild anzeigen kann, das praktisch frei von Kontrastanomalitäten ist;
• (2) Schaffen einer Aktivmatrixtafel, bei der verhindert ist, daß nach der Reparatur eines Defekts in einem Schiebe­ register eine Abweichung eines Abtastzeitpunkts auf­ tritt;
• (3) Schaffen einer Aktivmatrixtafel unter Verwendung eines Decodierers, bei der eine Änderung von Abtastzeitpunkten verhindert ist; und
• (4) Schaffen eines Displays mit einer solchen Aktivmatrix­ tafel.

Diese und andere Vorteile der Erfindung werden dem Fachmann aus der folgenden detaillierten Beschreibung unter Bezugnah­ me auf die beigefügten Zeichnungen deutlich.

Fig. 1 ist ein Diagramm, das die Umgebung einer Abtast-Hal­ te-Kapazität bei einem Beispiel einer erfindungsgemäßen Aktivmatrixtafel zeigt.

Fig. 2 ist ein Diagramm, das ein modifziertes Beispiel einer erfindungsgemäßen Aktivmatrixtafel zeigt.

Fig. 3 ist ein Diagramm, das die Umgebung einer Abtast-Hal­ te-Kapazität bei einem anderen Beispiel einer erfindungsge­ mäßen Aktivmatrixtafel zeigt.

Fig. 4 ist ein Diagramm, das eine elektrostatische Zerstö­ rung in einer Abtast-Halte-Kapazität veranschaulicht.

Fig. 5 ist ein Diagramm, das ein Ersatzschaltbild einer herkömmlichen Aktivmatrixtafel zeigt.

Fig. 6 ist ein Schaltbild, das eine beispielhafte Konfigu­ ration eines Schieberegisters zur Verwendung im in Fig. 11 dargestellten Sourcetreiber zeigt.

Fig. 7A ist ein Schaltbild, das eine spezifische Konfigura­ tion für das in Fig. 12 dargestellte NAND-Gatter zeigt.

Fig. 7B ist ein Schaltbild, das eine spezifische Konfigura­ tion des in Fig. 12 dargestellten NOR-Gatters zeigt.

Fig. 8A ist ein Schaltbild, das eine Abtastsignal-Erzeu­ gungsschaltung für einen herkömmlichen Sourcetreiber unter Verwendung eines Decodierers zeigt.

Fig. 8B ist ein Signalverlaufdiagramm, das Signale zeigt, wie sie an verschiedenen Punkten in der in Fig. 14A darge­ stellten Abtastsignal-Erzeugungsschaltung erhalten werden.

Fig. 1 ist ein Diagramm, das die Umgebung einer Abtast-Hal­ te-Kapazität bei einem Ausführungsbeispiel einer erfindungs­ gemäßen Aktivmatrixtafel zeigt. Dieselben Komponenten, wie sie in der in Fig. 5 dargestellten Aktivmatrixtafel enthal­ ten sind, sind mit denselben Bezugszahlen gekennzeichnet. Die Aktivmatrixtafel des vorliegenden Ausführungsbeispiels beinhaltet mehrere auf einem (nicht dargestellten) Substrat ausgebildete Gateleitungen X₁ bis X_n sowie mehrere Source­ leitungen Y₁ bis Y_n, die so angeordnet sind, daß sie die Gateleitungen rechtwinklig kreuzen. Eine Sourceleitung Y in Fig. 1 repräsentiert eine der Sourceleitungen Y₁ bis Y_n. Die Abtasttorschaltung S repräsentiert eine der Abtasttorschal­ tungen S₁ bis S_n, die mit der Sourceleitung Y verbunden ist. Abweichend von der herkömmlichen Matrixtafel, wie sie in Fig. 5 dargestellt ist, sind drei Abtast-Halte-Kapazitäten 8a, 8b und 8c mit einer gemeinsamen Leitung 9 verbunden. Alle Abtast-Halte-Kapazitäten 8a, 8b und 8c sowie die ge­ meinsame Leitung 9 sind auf dem Substrat vorhanden, auf dem die Gateleitungen und die Sourceleitungen ausgebildet sind.

Der Betrieb der in Fig. 1 dargestellten Aktivmatrixtafel ist derselbe wie derjenige der in Fig. dargestellten herkömm­ lichen Aktivmatrixtafel, mit der Ausnahme, daß das über jede der Sourceleitungen Y₁ bis Y_n durchgerasterte Videosignal statt in die eine Abtast-Halte-Kapazität 8 in die drei Ab­ tast-Halte-Kapazitäten 8a, 8b und 8c geladen und von diesen aufrechterhalten wird.

Nachfolgend wird ein Verfahren zum Reparieren einer Zerstö­ rung durch elektrostatische Ladungen, wie sie in einem Teil der Abtast-Halte-Kapazität auftritt, beschrieben. Bei der Aktivmatrixtafel dieses Ausführungsbeispiels sind die drei genannten Abtast-Halte-Kapazitäten 8a, 8b und 8c für eine Sourceleitung Y vorhanden. Nun sei angenommen, daß in der Abtast-Halte-Kapazität 8a eine Zerstörung durch elektrosta­ tische Ladungen aufgetreten ist. In diesem Fall tritt ein Leckstrom in der Abtast-Halte-Kapazität 8a auf, und um die­ sen zu beenden, wird die Verdrahtung der Abtast-Halte-Kapa­ zität 8a entweder in dem mit der Sourceleitung Y oder dem geerdeten, mit der gemeinsamen Leitung 9 verbundenen Teil durchgetrennt. Das Durchtrennen erfolgt durch eine herkömm­ liche Technik wie das Einstrahlen eines Laserstrahls. Da die restlichen zwei Abtast-Halte-Kapazitäten 8b und 8c selbst dann normal arbeiten, wenn die eine Abtast-Halte-Kapazität 8a durchgetrennt ist, kann die elektrische Ladung, wie sie gemäß dem abgetasteten Videosignal erforderlich ist, dadurch aufrechterhalten werden, daß die Kapazitätswerte der Abtast- Halte-Kapazitäten 8b und 8c so vorgegeben werden, daß sie das Videosignal auch ohne die Abtast-Halte-Kapazität 8a aus­ reichend aufrechterhalten können. So können die mit der Sourceleitung Y verbundenen Bildpunkte ein Bild ohne Ver­ schlechterung des für einen Betrachter erkennbaren Kontrasts darstellen, und zwar im Vergleich zu Bildpunkten, die mit Sourceleitungen verbunden sind, bei denen alle drei Abtast- Halte-Kapazitäten 8a, 8b und 8c normal arbeiten.

Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel sind drei Abtast-Hal­ te-Kapazitäten für jede einzelne Sourceleitung vorhanden, und der Kapazitätswert jeder dieser Abtast-Halte-Kapazitäten ist auf einen Wert eingestellt, mit dem durch nur zwei Kapa­ zitäten eine elektrische Ladung ausreichend aufrechterhalten werden kann, wie sie für ein Videosignal erforderlich ist. Z. B. ist beim vorliegenden Ausführungsbeispiel der Kapazi­ tätswert jeder der drei Abtast-Halte-Kapazitäten auf 2 pF eingestellt. Die Anzahl der für eine Sourceleitung vorhande­ nen Abtast-Halte-Kapazitäten ist nicht auf drei beschränkt.

Wenn mehrere Abtast-Halte-Kapazitäten für eine Sourceleitung vorhanden sind und der Kapazitätswert jeder derselben so eingestellt ist, daß die einem Videosignal entsprechende elektrische Ladung durch die restlichen Abtast-Halte-Kapazi­ täten aufrechterhalten werden kann, wenn eine derselben ab­ getrennt wird, ist dieselbe Wirkung gewährleistet, wie sie beim vorliegenden Ausführungsbeispiel erzielt wird.

Alternativ kann die Leitung 9 für jede der vorstehend ge­ nannten drei Abtast-Halte-Kapazitäten 8a, 8b und 8c vorhan­ den sein, anstatt daß diese drei Kapazitäten mit einer ein­ zigen gemeinsamen Leitung 9 verbunden werden, wie in Fig. 2 dargestellt. Bei einer solchen Konfiguration kann diejenige Abtast-Halte-Kapazität, in der ein Leckstrom aufgetreten ist, leicht dadurch erkannt werden, daß für jede Leitung 9 untersucht wird, ob sie leitend ist oder nicht.

Nachfolgend wird eine Aktivmatrixtafel gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel beschrieben. Fig. 3 zeigt die Umgebung einer Abtast-Halte-Kapazität 8' gemäß diesem Ausführungsbei­ spiel. Die Aktivmatrixtafel dieses Ausführungsbeispiels weist dieselbe Konfiguration wie diejenige des vorstehenden Ausführungsbeispiels auf, mit der Ausnahme, daß die drei Ab­ tast-Halte-Kapazitäten 8a, 8b und 8c durch die Abtast-Halte- Kapazität 8' ersetzt sind. Demgemäß werden hier andere Strukturkomponenten der Abtast-Halte-Kapazität 8' nicht be­ schrieben.

Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel ist, wie es in Fig. 3 dargestellt ist, eine Elektrode 82 eines Paars Elektroden 81 und 82 (nachfolgend als Kapazitätselektroden bezeichnet), die die Abtast-Halte-Kapazität 8' bilden, kammförmig mit mehreren Zweigteilen ausgebildet. Die Elektrode 82 mit sol­ cher Kammform kann dadurch in mehrere Elektrodenstreifen aufgeteilt werden, daß die Ausgangsteile der Zweigteile durchtrennt werden. Die Kapazitätselektrode beim vorliegen­ den Ausführungsbeispiel ist so strukturiert, daß sie in meh­ rere Elektrodenstreifen unterteilbar ist, und zwar aus den folgenden Gründen. In den meisten Fällen rührt ein Leckstrom in einer Abtast-Halte-Kapazität von einer elektrostatischen Zerstörung 100 her, wie sie in einem Teil zwischen den Kapa­ zitätselektroden auftritt, wie in Fig. 4 dargestellt. Demge­ mäß kann der Leckstrom dadurch beendet werden, daß nur der­ jenige Teil einer der Kapazitätselektroden entfernt wird, in dem die elektrostatische Zerstörung 100 aufgetreten ist. Demgemäß wird beim vorliegenden Ausführungsbeispiel zum Rea­ lisieren einer Beseitigung nur des Teils, in dem eine elek­ trostatische Zerstörung 100 aufgetreten ist, eine kammförmi­ ge Elektrode als Elektrode 82 verwendet, die eine der Kapa­ zitätselektroden 81 und 82 ist.

Der Kapazitätswert, wie er durch die kammförmige Kapazitäts­ elektrode 82 und die Elektrode 81 gebildet wird, ist so ein­ gestellt, daß der Kapazitätswert ein abgetastetes Videosi­ gnal selbst dann ausreichend aufrechterhalten kann, wenn einer der Zweigteile durchtrennt oder entfernt ist. Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel ist die kammförmige Kapazi­ tätselektrode 82 mit einer Form mit drei Zweigteilen ausge­ bildet. Der Kapazitätswert ist dann, wenn kein Zweigteil durchtrennt oder entfernt ist, auf 6 pF eingestellt, während der Kapazitätswert dann, wenn einer der Zweigteile durch­ trennt oder entfernt ist, 4 pF beträgt. Demgemäß kann der Bildpunkt 6, der mit einer Abtast-Halte-Kapazität 8' verbun­ den ist, bei der ein Zweigteil durchtrennt oder entfernt ist, ein Bild mit einem Kontrast darstellen, der nicht so verringert ist, daß es einem Betrachter auffallen würde, und zwar im Vergleich mit einem Bildpunkt 6, der mit einer nor­ mal arbeitenden Abtast-Halte-Kapazität 8' verbunden ist. So kann die Aktivmatrixtafel des vorliegenden Ausführungsbei­ spiels selbst dann ein zufriedenstellendes Bild darstellen, wenn ein Leckstrom in der Abtast-Halte-Kapazität aufgetreten ist.

Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel ist nur eine der Kapa­ zitätselektroden 81 und 82 kammförmig ausgebildet. Jedoch werden dieselben Wirkungen wie beim vorliegenden Ausfüh­ rungsbeispiel auch dann erzielt, wenn beide Kapazitätselek­ troden 81 und 82 kammförmig sind.

Bei den vorstehenden zwei Ausführungsbeispielen wird die Ab­ tast-Halte-Kapazität oder ein Teil derselben, wo ein Leck­ strom aufgetreten ist, durch Techniken wie das Einstrahlen eines Laserstrahls durchtrennt oder entfernt. Ferner kann dann, wenn das Durchtrennen durch das Einstrahlen eines La­ serstrahls erfolgt, der zu durchtrennende oder zu entfernen­ de Teil vorab dünn ausgebildet werden, um das Durchtrennen zu erleichtern. Beim letztgenannten Ausführungsbeispiel kann der Ausgangsteil jedes Zweigteils einer Kapazitätselektrode 82 so ausgebildet werden, daß keine Überlappung mit der an­ deren Kapazitätselektrode 81 besteht, was es ermöglicht, das Durchtrennen einfacher auszuführen.

Bei den vorstehend genannten zwei Ausführungsbeispielen wird dann, wenn ein Defekt in einer Abtast-Halte-Kapazität elek­ trisch erkannt wurde, diese Kapazität mit dem Leckstrom oder der Zweigteil einer Kapazitätselektrode, die den Teil ent­ hält, in dem der Leckstrom aufgetreten ist, durchtrennt oder entfernt, nachdem die Aktivmatrixtafel fertiggestellt ist. Wenn ein Defekt einer Abtast-Halte-Kapazität optisch erkannt wird, erfolgt dieser Vorgang in einem Herstellschritt, bei dem ein Flüssigkristall bereits zwischen die Aktivmatrix­ tafel und das Gegensubstrat eingefüllt ist und demgemäß das LCD fertiggestellt ist.

Wie vorstehend beschrieben, sind bei einer erfindungsgemäßen Aktivmatrixtafel mehrere Abtast-Halte-Kapazitäten für eine Sourceleitung vorhanden oder mindestens eine der Elektroden, die eine Abtast-Halte-Kapazität bildet, ist kammförmig mit mehreren Zweigteilen ausgebildet. Im Ergebnis kann dann, wenn in einer der mehreren Abtast-Halte-Kapazitäten oder in einem der mehreren Zweigteile eine elektrostatische Zerstö­ rung aufgetreten ist, nur diejenige Abtast-Halte-Kapazität oder derjenige Zweigteile, in dem die elektrostatische Zer­ störung aufgetreten ist, durch Einstrahlen eines Laser­ strahls oder dergleichen zertrennt oder entfernt werden. So kann selbst dann, wenn elektrostatische Zerstörung in einer Abtast-Halte-Kapazität aufgetreten ist, eine Aktivmatrixta­ fel geschaffen werden, die ein Bild gewährleistet, dessen Kontrast nicht wesentlich beeinträchtigt ist.

Claims (5)

1. Aktivmatrixtafel mit:

• - einem Flüssigkristallabschnitt mit mehreren in einer Matrix angeordneten Bildpunkten (6);
• - mehreren Sourceleitungen (Y) zum Anlegen von Video­ signalen an die mehreren Bildpunkte (6);
• - einem Sourcetreiber (1) zum sequentiellen Anlegen von Videosignalen an die mehreren Sourceleitungen (Y); und
• - jeweils einer Kapazität zwischen jeder Sourceleitung (Y) und einem gemeinsamen Potential,
  dadurch gekennzeichnet, daß
• - jede der Kapazitäten aus mehreren Abtast-Halte-Kapazi­ täten (8a, 8b, 8c) zum Aufrechterhalten der an eine jeweilige Sourceleitung (Y) angelegten Videosignalen besteht, wobei jede der Sourceleitungen mit einer vor­ gegebenen Anzahl der Abtast-Halte-Kapazitäten paral­ lelgeschaltet ist, und
• - die elektrische Verbindung jeder Abtast-Halte-Kapazi­ tät (8a, 8b, 8c) durchtrennbar ist.

2. Aktivmatrixtafel nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Kapazitätswert jeder der Abtast-Halte-Kapazitäten (8a, 8b, 8c) so eingestellt ist, daß die einem der Video­ signale entsprechende elektrische Ladung durch die Abtast-Halte-Kapazitäten (8a, 8b, 8c) aufrechterhalten wird, wobei die Anzahl der Abtast-Halte-Kapazitäten (8a, 8b, 8c) um eins kleiner als die vorgegebene Anzahl ist.

3. Aktivmatrixtafel nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Abtast-Halte-Kapazität (8') ein Paar Elektroden (81, 82) aufweist und mindestens eine dieser Elektroden kammförmig mit einer vorgegebenen Anzahl von Zweigteilen ausgebildet ist.

4. Aktivmatrixtafel nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Kapazitätswert der Abtast-Halte-Kapazität (8') so eingestellt ist, daß die einem der Videosignale entspre­ chende elektrische Ladung durch die Zweigteile aufrecht­ erhalten wird, wobei die Anzahl der Zweigteile um eins kleiner ist als die vorgegebene Anzahl.

5. Aktivmatrixtafel nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß jeder der Zweigteile mit vorgegebener Anzahl einen Endteil und einen Ausgangsteil aufweist, wobei der Aus­ gangsteil mit dem eines benachbarten Zweigteils verbunden ist und wobei die Breite des Ausgangsteils kleiner als diejenige des Endteils ist.