DE3812654C2 - - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Prüfen der elektrischen Fehlerfreiheit von gedruckten Schaltungs­ platinen als Prüflinge, gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1. Eine Vorrichtung dieser Gattung ist aus der DE 32 48 694 A1 bekannt.

Um Platinen, die mit den dafür vorgesehenen Bauteilen bestückt sind, auf elektrische Fehlerfreiheit zu prüfen, werden häufig federgespannte Prüfstifte verwendet, die vertikal unterhalb des Prüflings in Position gehalten sind, um die frei liegenden Kontaktpunkte (Knoten) an der Unter­ seite des Prüflings zu kontaktieren.

Aus der US 41 32 948 ist es z. B. bekannt, Prüfstifte auf einer unbestückten Platine zu befestigen, die das gleiche Lochmuster wie der Prüfling hat, so daß die Stifte automa­ tisch mit den zu kontaktierenden Punkten des Prüflings ausgerichtet sind. Die Prüfstifte sind direkt mit Drähten verbunden, die ihrerseits über Kabelanordnungen mit der Prüfschaltung verbunden sind. Wird die Einrichtung zum Prüfen von Platinen verwendet, die ein anderes Muster zu kontaktierender Punkte aufweisen, dann wird die stifttra­ gende Platte durch eine andere ersetzt, deren Prüfstifte so angeordnet sind, daß sie den Stellen der zu kontaktierenden Punkte an der neuen Platine entsprechen.

Die EP 01 15 135 A1 offenbart eine Prüfvorrichtung mit einer permanenten Basisplatte, die eine große Anzahl von Prüf­ stiften trägt, und einer darunterliegenden Anpaß- oder Einstellplatte, die Einsatzstücke trägt, durch welche Prüfstifte an ausgewählten Stellen in eine aktive Position hochgehoben werden, um Punkte eines Prüflings zu kontaktie­ ren. Bei Verwendung mit einem anderen Prüfling wird eine neue Einstellplatte installiert, die Einsatzstücke in einem Muster aufweist, das dem Muster der zu kontaktierenden Punkte am neuen Prüfling gleicht. An der Unterseite der Einstellplatte sind Verlängerungen der Einsatzstücke in Form von Pfosten vorgesehen, die eine lötfreie Wickelver­ bindung gestatten und mit Anschlüssen an der Seite der Einstellplatte verdrahtet sind, um die Verbindung zu einer Prüfschaltung herzustellen.

In der EP 00 50 913 A1 ist eine Prüfvorrichtung beschrieben, die eine Allzweckplattform enthält, auf welcher sich Prüf­ stifte in einem gleichmäßigen Gittermuster oder Raster befinden, und eine Rückplatte, die auswechselbare Verschie­ bungsmodule trägt, welche die Prüfstifte an ausgewählten Stellen aktivieren, um mit gewünschten Punkten eines Prüflings in Kontakt zu treten. Auf der anderen Seite der Rückplatte befinden sich Drahtwickelpfosten, die einerseits über die Module mit den Prüfstiften elektrisch verbunden und andererseits mit einem Vielfachstecker am Rand der Rückplatte verdrahtet sind.

Bei manchen bekannten Prüfsystemen sind Prüfschaltungs­ platinen, die Instrumente zur Erzeugung von Prüfsignalen an die Prüflinge und zum Empfang resultierender Ausgangs­ signale enthalten, räumlich unterhalb der Prüfstifte angeordnet, um den Abstand zwischen den Instrumenten und dem Prüfling klein zu machen und dadurch Verzerrungen der Prüf- und Ausgangssignale zu reduzieren. In solchen Systemen gibt es eine Vielzahl nach oben gerichteter Prüfschaltungs-Kontaktpunkte an Anschlußgliedern, die sich an den oberen Enden einer Vielzahl von Prüfschaltungsplati­ nen befinden, und diese Prüfschaltungs-Kontaktpunkte sind über Drähte direkt mit den zugeordneten Prüfstiften elek­ trisch verbunden, die sich auf einer Prüfstift-Trägerplatte befinden, ähnlich wie sie in der oben genannten US 41 32 948 beschrieben ist. Die Prüfstifte sind mit aufwärtswei­ senden vierkantigen Pfosten auf kleinen Platten verbunden, deren untere plattierte Ränder ihrerseits mit kraftlos steckbaren Randsteckern an den Prüfschaltungsplatinen verbunden sind. Bevor die Drahtwickelverbindung mit den vierkantigen Pfosten hergestellt wird, werden die sie tragenden kleinen Platten abgenommen und auf den Kopf gedreht, so daß die Pfosten nach unten weisen, also in dieselbe Richtung wie die unteren Verlängerungen der Prüfstifte, um das Anwickeln der Drähte zu ermöglichen, und nach diesem Wickelvorgang werden die kleinen Platten wieder umgedreht und in die Randstecker gesetzt, unter Abkantung der Drähte. Wenn man bei diesen Systemen einen speziellen Prüfautomaten für andere Typen von Prüflingen verwendet, bei denen die zu kontaktierenden Punkte anders liegen, dann werden neue Prüfstift-Trägerplatten installiert. Man könnte einen Prüfautomaten eines speziellen Modells je nach dem Typ der Prüflinge mit verschiedenen Prüfschaltungsplatinen versehen, die eine unterschiedliche Instrumentenbestückung haben, und ein Benutzer könnte wünschen, Prüfschaltungs­ platinen hinzuzufügen oder zu modifizieren. Man hätte dann zu verschiedenen Zeiten verschiedene Prüfschaltungs- Kontaktpunkte für dasselbe Modell der Prüfeinrichtung und möglicherweise auch für dieselbe Maschine.

Bei einem anderen bekannten System sind Prüfstifte, die zwei Enden aufweisen und in einem bestimmten Muster auf einer Sondenplatte angeordnet sind, elektrisch mit Sonden in einem anderen Muster verbunden, die an die Prüfschaltung angeschlossen sind. Diese Verbindung erfolgt über eine zwischen Sondenplatte und Prüfschaltung befindliche Übersetzerplatte, die nach oben weisende Drahtwickelpfosten in solchen Positionen trägt, daß sie untere federgespannte Kontakte der doppelendigen Prüfstifte berühren. Die Übersetzerplatte trägt ferner Drahtwickelpfosten, die sich nach unten erstrecken und derartige Positionen haben, daß sie untere Sonden der Prüfschaltung kontaktieren. Zwischen den verschiedenen Drahtwickelpfosten sind Verdrahtungen vorgesehen.

Bei der Prüfvorrichtung nach der eingangs erwähnten DE 32 48 694 A1 ist die elektrische Verbindung zwischen einer­ seits den Anschlußstücken der Sondenstifte und andererseits den mit den Prüfschaltungs-Kontaktpunkten ausgerichteten Kontakten, die extern liegen, mit Hilfe einer gedruckten Leiterplatte hergestellt, die an die unteren Enden der Sondenstifte angelötet ist und an ihrer Unterseite Kontakt­ flächen trägt, die ihrerseits von Tastköpfen stiftartiger Andrückkontakte berührt werden. Diese Andrückkontakte sitzen auf einer gesonderten Trägerplatte, die völlig getrennt von der die Sondenstifte haltenden Stiftplatte befestigt ist und gegenüber welcher die Stiftplatte gemein­ sam mit den Sondenstiften und der Leiterplatte bewegbar ist. Die an der unbeweglichen Trägerplatte befestigten Andrückkontakte entsprechen noch nicht dem Muster der Prüfschaltungs-Kontaktpunkte, sondern bilden eine Art Zwischenmuster. Die endgültige "Übersetzung" auf diejenigen Kontaktstücke, die mit dem Muster der Prüfschaltungs- Kontaktpunkte ausgerichtet sind, erfolgt über gesonderte Drahtverbindungen zwischen den Andrückkontakten und den von der Trägerplatte gehaltenen Kontaktstücken.

Wenn sich bei diesem Stand der Technik das "erste" Muster, d. h. das Muster der Prüflings-Kontaktpunkte, z. B. durch Verwendung eines anderen Typs von Prüfling ändert, dann muß die aus Stiftplatte, Sondenstiften und Leiterplatte beste­ hende Baugruppe ausgetauscht bzw. anders bestückt werden. Da es in vielen Fällen aber auch erforderlich ist, bei Änderung des Prüflingstyps auch die Auswahl der jeweils zu kontaktierenden Prüfschaltungs-Kontaktpunkte zu ändern, muß im bekannten Fall auch die Trägerplatte ausgetauscht oder umprogrammiert werden, um eine andere Teilmenge der exter­ nen Kontakte in die zu schaffende Verbindung zwischen Prüfling und Prüfschaltungsanordnung einzubeziehen, etwa durch Umverteilung der Verbindungsdrähte zwischen den Taststiften und den externen Kontakten. Man ist also in den meisten Fällen gezwungen, bei Änderung des Prüflingstyps Neuinstallationen bzw. Umprogrammierungen sowohl in der von der Stiftplatte getragenen Einheit als auch in der von der Tragplatte getragenen Einheit vorzunehmen.

Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine Vorrichtung der im Oberbegriff des Patentanspruchs 1 umris­ senen, aus der letzterwähnten Druckschrift bekannten Gattung so auszubilden, daß sie einfacher an verschiedene Prüflinge angepaßt werden kann. Diese Aufgabe wird erfin­ dungsgemäß durch die im Kennzeichnungsteil des Patent­ anspruchs 1 beschriebenen Merkmale gelöst.

Während beim Stand der Technik nach der letzterwähnten DE 32 48 694 A1 die Stiftplatte nur die Sondenstifte für die Prüfschaltungs-Kontaktpunkte (erstes Muster) und lediglich Teile der Verbindungen zu den Kontaktstücken des zweiten Musters hält, werden bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung auch die dem zweiten Muster entsprechenden Kontaktstücke an dieser Stiftplatte gehalten, und zwar in Form sogenannter "Übersetzungsstifte". Diese Übersetzungsstifte können unmittelbar in Löchern der Stiftplatte sitzen oder über Isolierstücke an den von der Stiftplatte gehaltenen Sonden­ stiften befestigt sein. Somit steht bereits am Ausgang der die Stiftplatte enthaltenden Baugruppe ein Muster von Kontaktstücken zur Verfügung, das mit dem Muster der Prüfschaltungs-Kontaktpunkte ausgerichtet ist. Bei Änderun­ gen des Prüflingstyps muß nur diese Baugruppe ausgewechselt oder umprogrammiert werden.

Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in Unteran­ sprüchen gekennzeichnet. Die Verwendung von Sondenstiften, die gemäß Patentanspruch 2 rohrförmige Gehäuse und Draht­ wickelpfosten als Anschlußstücke haben, ist an sich bekannt, z. B. aus der US 42 30 985.

Einzelheiten der Erfindung gehen aus der nachstehenden Beschreibung hervor, in der bevorzugte Ausführungsbeispiele anhand von Zeichnungen erläutert werden.

Fig. 1 zeigt schematisch einen Vertikalschnitt durch eine Ausführungsform einer Platinen-Prüfvorrichtung gemäß der Erfindung;

Fig. 2 zeigt teilweise aufgeschnitten eine Seitenansicht einer Kontaktsonde, wie sie in der Vorrichtung nach Fig. 1 verwendet wird.

Fig. 3 zeigt vergrößert einen Teil der Sonde nach Fig. 2 mit einer anderen Position des Stößels.

In der Fig. 1 ist eine Vorrichtung 110 zum Prüfen der elek­ trischen Fehlerfreiheit einer gedruckten Schaltungsplatte (Platine) 112 dargestellt, die mit Bauteilen 114 bestückt ist und an ihrer Unterseite Kontaktpunkte 116 aufweist, deren Orte nicht mit Punkten eines universellen Rastermu­ sters übereinstimmen. Prüflinge 112 unterschiedlichen Desi­ gns haben jeweils ein individuelles einzigartiges Muster von Kontaktpunkten 116. Die Vorrichtung 110 enthält eine Aufspannvorrichtung 118, die auf ein spezielles Design eines Prüflings 112 zugeschnitten ist, und eine univer­ selle Kopplungseinheit 120, die mit jeder Aufspannvorrich­ tung 118 und mit jedem Muster von Prüfschaltungs-Kontakt­ punkten 122 verwendet werden kann, welche durch die oberen Enden von Pfosten 210 an Prüfschaltungsplatinen 124 gebil­ det werden.

Die Aufspannvorrichtung 118 hat Seitenwände 126 mit über­ stehenden oberen Teilen 128, auf die sich eine Übersetzer­ platte 130 (G10-Material einer Dicke von 7,87 mm) stützt, und mit unteren überstehenden Teilen 131, gegen die sich eine Führungslochplatte 132 stützt (Lexan-Polycarbonat mit einer Dicke von 3,175 mm). Auf der oberen Oberfläche der Übersetzerplatte 130 werden ein Gummidichtring 134 aus Neopren (3,175 mm hoch und 25,4 mm breit) sowie Federn 136 gehalten. Über dem Dichtring 134 und den Federn 136 liegt eine Membranlochplatte 138 (G10-Material einer Dicke von 4,78 mm), und darüber befindet sich ein Gummidichtring 140 aus Neopren (4,76 mm hoch und 25,4 mm breit). Zwischen dem Außenrand der unteren Oberfläche des Dichtrings 140 und dem Außenrand der oberen Oberfläche der Übersetzerplatte 130 liegt ein Aluminiumdichtring 142. Oben auf dem Dichtring 140 liegt ein Kantenschutzring 144 auf, der L-förmiges Profil hat.

In der Übersetzerplatte 130 sitzen nach oben laufende Sondenstifte 146A und 146E und nach unten laufende Überset­ zungsstifte 148. Die Sondenstifte 146A bis 146E haben rohr­ förmige Gehäuse 145, die federgespannte Sondenkontakte 150 tragen und untere Verlängerungen 147 aufweisen, die unten vierkantige Drahtwickelpfosten 154A bis 154E einer Dicke von 0,635 mm enthalten. Die Übersetzungsstifte 148 enthal­ ten ebenfalls untere Drahtwickelpfosten 156, die sich mit Drahtwickelteilen der Pfosten 154A bis 154E überlappen und sich durch die Löcher 158 der Führungslochplatte 132 erstrecken. Die Führungslochplatte 132 der Aufspannvorrich­ tung 118 sitzt auf einem äußeren Gummidichtring aus Neopren (nicht gezeigt), der eine Dichtung zwischen dieser Platte und einer Kopplungsplatte 180 der universellen Kopplungs­ einheit 120 herstellt.

In der Fig. 1 sind drei Beispiele für Drahtwickelverbindun­ gen dargestellt. Beim ersten Beispiel, links in der Figur gezeigt, ist der Drahtwickelpfosten 154A des Sondenstiftes 146A über einen Draht 160 mit dem Drahtwickelpfosten 156 eines benachbarten Übersetzungsstiftes 148 verbunden, der mit demjenigen Prüfschaltungs-Kontaktpunkt fluchtet, an den der Sondenstift 146A anzuschließen ist. Bei dem in der Mitte dargestellten Beispiel ist der Drahtwickelpfosten 154B des Sondenstiftes 146B über einen Draht 161 mit dem Drahtwickelpfosten 156 eines benachbarten Übersetzungsstif­ tes 148 verbunden, und der Drahtwickelpfosten 154C des Son­ denstiftes 146C ist elektrisch über einen Draht 162 mit einer Wickelpfostenverlängerung 164 verbunden, die sich direkt unterhalb des Sondenstiftes 146 befindet und körper­ lich über eine Isolatormuffe 166 mit dem Pfosten 154C verbunden ist. Beim rechts dargestellten Beispiel ist der Sondenstift 146D elektrisch über einen Draht 167 mit dem Wickelpfosten 156 eines benachbarten Übersetzungstiftes 148 verbunden, und der Sondenstift 146E ist elektrisch über einen Draht 168 mit einer Wickelpfostenverlängerung 170 verbunden, die sich direkt unterhalb des Sondenstifts 146D erstreckt und körperlich über eine Isolatormuffe 171 mit dem Pfosten 154D verbunden ist.

Die universelle Kopplungseinheit 120 enthält die bereits erwähnte Platte 180 (G10-Material mit einer Dicke von 9,53 mm), die an einem Ende schwenkbar aufgehängt ist (durch nicht dargestellte Mittel) und universelle Kontaktsonden 181 trägt. Diese Sonden 181 haben rohrförmige Gehäuse 182, aus denen Kontakte 184 nach oben ragen. Die rohrförmigen Gehäuse 182 enthalten in ähnlicher Weise nach unten weisende Betätigungsstößel 186. Pro Prüfschaltungs-Platine sind zwei Reihen von Sonden 181 vorgesehen mit 96 Sonden in der Tiefe und Mitte-Mitte-Abständen von 2,54 mm. Die Prüf­ schaltungs-Platinen 124 haben gegenseitigen Abstand von 19 mm. Wie in den Fig. 2 und 3 dargestellt, sitzen die Kontakte 184 jeweils an einem Stößel 188, der einen unteren Teil 190 aufweist, welcher unten aus dem rohrförmigen Gehäuse 182 heraussteht und mit einer Ausnehmung 192 zur Aufnahme einer Prüfsonde 194 versehen ist (becherförmige Sonde mit 0.075′′ (1,9 mm) Mittellinienabst. und 0.16′′ (0,4 mm) Hub).

Der Stößel 188 stützt sich von oben her auf eine Feder 196, die sich auf der unteren ringförmigen Oberfläche eines verbreiterten Teils 198 und auf einer inneren ringförmigen Oberfläche des Gehäuses 182 abstützt. Die Feder 196 hat eine Vorspannung von 0, bei einer Auslenkung von 2,27 mm übt sie eine Kraft von 113 g auf die Kontakte 184, 186 aus. Ein O-Ring 202 (Außendurchmesser 1,9 ± 0,05 mm, lichter Durchmesser 0,91 ± 0,05 mm) bildet eine Vakuumdichtung zwischen der äußeren Oberfläche des Stößels 188 (Außendurchmesser 1,04 ± 0,05 mm) und der inneren Oberflä­ che des Gehäuses 182 (Innendurchmesser 1,78 ± 0,05 mm) und wird zwischen einer Rolleinschnürung 204 und dem zusammen­ gequetschten Ende 206 gehalten. Ein synthetisches Schmier­ mittel am O-Ring 202 und die vorstehend erwähnten Oberflä­ chen erlauben ein Gleiten. Die Kontakte 184 haben Vertie­ fungen, um die unteren Enden 208 der Drahtwickelpfosten 156 und der Verlängerungen 164, 170 aufzunehmen. Die Stößel 186 sind in ähnlicher Weise mit Vertiefungen versehen, um die oberen Enden von Pfosten 210 (quadratischer Querschnitt, 0,635 mm dick) aufzunehmen, die sich von Anschlußstücken 212 der Prüfschaltungs-Platinen 124 aus nach oben erstrecken. Die Pfosten 210 werden in U-förmigen Querträgern 213 gehalten, die mit den betreffenden Prüfschaltungs-Platinen 124 (durch nicht dargestellte Mittel) verbunden sind.

Zum Betrieb der Prüfvorrichtung wird die Aufspannvorrich­ tung 118 für einen speziellen Prüfling 112 auf die Kopp­ lungsplatte 180 der universellen Kopplungseinheit 120 gesetzt, und zwar auf einen äußeren Dichtring (nicht darge­ stellt) und unter Ausrichtung mittels Führungsstiften (ebenfalls nicht dargestellt). Zu dieser Zeit befinden sich die oberen Enden derjenigen Kontakte 184 der Kopplungsein­ heit, die angehoben worden sind, ein kleines Stück unter­ halb der unteren Enden 208 der Drahtwickelpfosten bzw. deren Verlängerungen, und die zum Abfedern der Kontakte 184 vorgesehenen Federn üben keine Kraft auf diese Kontakte aus, weil sie nicht vorgespannt sind (wenn man das Gewicht der Kontakte 184 vernachlässigt). Anschließend wird der Raum zwischen der Übersetzerplatte 130 und der Kopplungs­ platte 180 evakuiert, was zur Folge hat, daß sich der Dichtring zwischen der Führungslochplatte 132 und der Kopplungsplatte 180 zusammendrückt, die unteren Enden 208 mit den Kontakten 184 in Berührung treten und die Federn 196 leicht zusammengedrückt werden. Gleichzeitig gehen die unteren Kontakte 186 nach unten in Berührung mit den Prüf­ schaltungs-Kontaktpunkten 122, und die zugehörigen Federn in den Sonden 194 werden ebenfalls leicht zusammengedrückt. Da die Kontakte 184 nicht vorgespannt sind und nur die genutzten Exemplare der Kontakte gedrückt werden, wird zur elektrischen Kontaktgabe nur sehr wenig Kraft gebraucht.

Anschließend wird der Prüfling 112 oben auf die Aufspann­ vorrichtung gelegt, wobei seine Kontaktpunkte 116 leicht von den Kontakten 150 beabstandet sind. Zwischen dem Prüf­ ling 112 und der oberen Oberfläche der Übersetzerplatte 130 wird ein zweites Vakuum hergestellt, was zu einem Zusammen­ drücken der Gummiringe 134 und 140 und zur Berührung der Kontakte 150 mit den Knoten 116 des Prüflings führt.

Die Kontakte 150 der Aufspannvorrichtung 118 sind in einem einzigartigen Muster angeordnet, das den Prüflings-Kontakt­ punkten 116 im Feld möglicher Kontaktpunktpositionen des Prüflings 112 entspricht. In ähnlicher Weise besteht ein einzigartiges Muster für Prüfschaltungs-Kontaktpunkte 122 in einem entsprechenden Feld unter dem Prüfling 112. Der Unterschied in den Positionen einzelner Sondenstifte und den Positionen zugeordneter Prüfschaltungs-Kontaktpunkte wird durch die lötfreien Drahtwickelverbindungen 160, 161, 167 und 168 ausgeglichen. Die Drahtwickelpfosten 156 der Übersetzungsstifte 148 und die Drahtwickelpfosten-Verlänge­ rungen 164, 170 sind im gleichen Muster wie die Prüfschaltungs-Kontaktpunkte 122 angeordnet. Infolge der kurzen direkten lötfreien Drahtverbindung zwischen einander überlappenden Teilen von Drahtwickelpfosten bleibt die Reinheit der Signalübertragung erhalten.

Bei einem gegebenen Modell der Prüfvorrichtung 110 können die Prüfschaltungs-Kontaktpunkte 122 in unterschiedlichen Positionen angeordnet sein, je nach der vom Hersteller gewünschten Instrumentierung, die ihrerseits von den zu prüfenden Platinen und den gewünschten Prüfungen abhängt. Auch könnte es erwünscht sein, die Prüfschaltungs-Platinen 124 und die Positionen, welche die zugehörigen Prüfschal­ tungs-Kontaktpunkte auf einer bestimmten Maschine einneh­ men, irgendwann in der Zukunft durch Hinzufügung oder Modifizierung von Prüfschaltungs-Platinen zu ändern. Die universelle Kopplungseinheit 120 kann dann immer noch mit jeder Anordnung von Prüfschaltungs-Platinen und mit einer Aufspannvorrichtung 118 jeden Typs für eine Prüflings- Platine 112 verwendet werden, so daß es möglich ist, den Aufbau-der Maschine zu standardisieren und zu vereinfachen.

Claims (11)

1. Vorrichtung zum Prüfen der elektrischen Fehler­ freiheit von gedruckten Schaltungsplatinen als Prüflinge, die jeweils an ihrer Unterseite eine Vielzahl von unten zugängli­ cher Prüflings-Kontaktpunkte aufweisen, die innerhalb eines ersten Feldes ein erstes Muster vorbestimmter Orte belegen, mit folgenden Einrichtungen:
einer Halteeinrichtung zur lösbaren Halterung eines der besagten Prüflinge;
eine unterhalb der Halteeinrichtung befindliche Prüfschaltungsanordnung mit von oben zugänglichen Prüfschal­ tungs-Kontaktpunkten, die innerhalb eines sich mit dem ersten Feld überlappenden zweiten Feldes ein zweites Muster vorbe­ stimmter Orte belegen, das mit dem ersten Muster nicht zusammenpaßt;
einer zwischen der Halteeinrichtung und den Prüfschal­ tungs-Kontaktpunkten angeordneten Stiftplatte, die ein dem ersten Muster entsprechendes und damit ausgerichtetes Muster von leitenden Sondenstiften tragen, deren der Halteeinrich­ tung zugewandte Enden federgespannte Sondenkontakte zur Kontaktierung der Prüflings-Kontaktpunkte halten und deren gegenüberliegend aus der Stiftplatte herausstehende Enden elektrische Anschlußstücke bilden;
einem dem zweiten Muster entsprechenden und damit ausgerichteten Muster von Kontaktstücken und einer Übersetzungseinrichtung zur elektrischen Verbindung dieser Kontaktstücke mit den Anschlußstücken der Sondenstifte, dadurch gekennzeichnet, daß die Übersetzungseinrichtung eine Vielzahl von an der Stiftplatte (130) gehaltenen Übersetzungsstiften (148, 156; 158; 170) aufweist, die elektrisch mit den Anschlußstücken (154) zugeordneter Exemplare der Sondenstifte (145) verbunden sind und deren von der Halteeinrichtung (140, 142) abgewandte Enden in Richtung auf die Prüfschaltungsanordnung (124) vorstehen und mit Orten des zweiten Musters ausgerichtet sind.

2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet,
daß die Sondenstifte (145) rohrförmige Gehäuse sind, die an ihren Enden erste Drahtwickelpfosten (154) aufweisen, welche die Anschlußstücke bilden;
daß die Übersetzungsstifte (148, 156; 158; 170) zweite Drahtwickelpfosten (156) aufweisen;
daß die ersten und die zweiten Drahtwickelpfosten (154 und 156) Teile haben, die sich einander entlang entsprechen­ der Abschnitte vertikaler Achsen überlappen;
daß Exemplare der ersten Drahtwickelpfosten (154) mit Exemplaren der zweiten Drahtwickelpfosten (156) durch Drähte (160, 161, 167) verbunden sind.

3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekenn­ zeichnet,
daß die Übersetzungseinrichtung einen Rahmen mit Seiten­ wänden (126) enthält, die mit der Stiftplatte (130) verbunden sind, und eine Führungsplatte (132), die an den Seitenwänden unterhalb der Stiftplatte (130) befestigt ist;
daß sich die zweiten Drahtwickelpfosten (156) von der Stiftplatte (130) nach unten und durch Löcher (158) in der Führungsplatte (132) erstrecken, wobei diese Löcher in einem Muster angeordnet sind, das mit dem zweiten Muster zusammen­ paßt.

4. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekenn­ zeichnet, daß ferner eine zwischen den zweiten Drahtwickelpfosten (156) und den Prüfschaltungs-Kontaktpunkten (122) gelegene Kopplungseinheit (120) vorgesehen ist, die nach oben gerich­ tete federgespannte Kopplungskontakte (184) trägt, welche eine elektrische Verbindung zwischen den zweiten Drahtwickel­ pfosten (156) und den Prüfschaltungs-Kontaktpunkten (122) herstellen.

5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Kopplungseinheit (120) eine Kopplungsplatte (180) enthält, die rohrförmige Gehäuse (182) trägt, welche ihrer­ seits die federgespannten Kopplungskontakte (184) und nach unten gerichtete Stößel (188) tragen, die von der Unterseite der Kopplungsplatte (180) vorstehen und elektrisch mit den Prüfschaltungs-Kontaktpunkten (122) verbunden sind.

6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Prüfschaltungs-Kontaktpunkte (122) durch eine Vielzahl von Leitern (210) gebildet sind, die von horizonta­ len Trägern (212) zwischen der Prüfschaltungsanordnung und den Stößeln (188) gehalten werden.

7. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die nach unten stehenden Stößel (188) durch untere Verlängerungen der Kopplungskontake (184) gehalten sind.

8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekenn­ zeichnet, daß zwischen den Kopplungskontakten (184) und den von der Kopplungsplatte (180) gehaltenen rohrförmigen Gehäusen (182) jeweils ein elastomerer O-Ring (202) angeordnet ist.

9. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekenn­ zeichnet,
daß die von der Stiftplatte (130) gehaltenen Sonden- und Übersetzungsstifte (145, 148) mit dieser Platte dichtend ver­ bunden sind;
daß die nach oben gerichteten Kopplungskontakte (184) mit der Kopplungsplatte (180) dichtend verbunden sind;
daß ferner eine Einrichtung vorgesehen ist, um ein Vakuum zwischen die Stiftplatte (130) und die Kopplungsplatte (180) zu legen.

10. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet,
daß die vorbestimmten Orte des zweiten Musters eine Teil­ menge der Punkte eines universellen Rastermusters möglicher Orte für die Prüfschaltungs-Kontaktpunkte (122) sind;
daß eine universelle Kopplungsplatte (180) zwischen der Stiftplatte (130) und den Prüfschaltungs-Kontaktpunkten (122) vorgesehen ist;
daß die universelle Kopplungsplatte (180) rohrförmige Gehäuse (182) trägt, die im besagten Rastermuster an Stellen angeordnet sind, welche möglichen Orten für die Prüfschal­ tung-Kontaktpunkte (122) entsprechen;
daß die rohrförmigen Gehäuse (182) nach oben gerichtete und mit den Übersetzungsstiften ausgerichtete Kopplungskon­ takte (184) und nach unten ausgerichtete Betätigungsteile (186) tragen, um einen Kopplungskontakt (184) zu veranlassen, eine elektrische Verbindung zwischen einem Übersetzungsstift (148) und einem Prüfschaltungs-Kontaktpunkt (122) herzustel­ len, wenn ein mit dem betreffenden Prüfschaltungs-Kontakt­ punkt ausgerichteter Übersetzungsstift vorhanden ist.

11. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Kopplungskontakte (184) ohne Vorspannung sind.