DE3248694A1

DE3248694A1 - Pruefadapter fuer flache elektrische baugruppen

Info

Publication number: DE3248694A1
Application number: DE19823248694
Authority: DE
Inventors: Peter Brunner; Manfred 8000 München Kreutzmann; Horst Dipl.-Ing. 8035 Gauting Severloh
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1982-12-30
Filing date: 1982-12-30
Publication date: 1984-07-05

Description

Prüfadapter für flache elektrische Baugruppen
Die Erfindung bezieht sich auf einen Prüfadapter für flache elektrische Baugruppen, bei dem federnde Tastspitzen gegen die elektrisch abzugreifenden Stellen der Baugruppe gedrückt werden. Die Verteilung dieser Stellen ist für Baugruppen verschiedenen Typs unterschiedlich.
Durch die deutsche Offenlegungsschrift 29 12 007 ist es bekannt, die Taststifte in der entsprechenden Verteilung in eine Lochplatte einzusetzen und mit externen Leitungen des Adapters zu verbinden.
Durch die Firmenschrift "Ingun-System" der Firma Ingun Prüfmittelbau, Konstanz, Ausgabe 7, 1979, Seite 24 ist es bekannt, die Taststifte über einzelne Drähte fest mit in einer Trägerplatte befestigten stiftartigen externen Kontakten zu verbinden, die dem trennbaren Anschluß der externen Leitungen dienen, die zu einem elektronischen Prüfgerät führen. Die baugruppenindividuelle Verteilung der Taststifte und deren Verdrahtung zu den externen Kontakten ergibt für jeden Baugruppentyp einen spezifischen Adapter. Die Verdrahtung der Taststifte mit den externen Kontakten auf den einander zugewandten Seiten der Loch-und Trägerplatte erfordert relativ lange Schaltdrähte, da sonst die zugehörigen Anschlüsse der Taststifte und Kontakte kaum zugänglich wären. Die ungeordneten Leitungen bedingen unübersichtliche elektrische Verhältnisse z.B.
in Bezug auf Signalübersprechen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Herstellungskosten für die verschiedenen Adapter zu verringern und deren elektrische Verhältnisse zu verbessern.
Diese Aufgabe wird durch die Erfindung gemäß Anspruch 1 gelöst. Die stiftartigen Andrückkontakte sind gleichmässig über das gesamte Adapterfeld verteilt. Die Taststifte sind mit den nächstliegenden Andrückkontakten über kurze Leiterbahnen verbunden, die die Funktion der einzelnen Schaltdrähte übernehmen. Die Andrückkontakte können mit Anschlußfahnen zum unmittelbaren Anschluß der externen Leitungen versehen sein. Die baugruppenindividuellen Leiterplatten vereinfachen die Montage der Adapter. Die Enden der Taststifte können in Lötaugen der Leiterplatte eingesetzt und mit diesen in einem Arbeitsgang gemeinsam verlötet werden. Die Taststifte bilden mit der Lochplatte und der Leiterplatte eine baugruppenspezifische Einheit.
Die Antrückkontakte mit der Trägerplatte und den externen Anschlüssen bilden eine universelle Einheit, die für alle Baugruppen verwendet werden kann. Da innerhalb der baugruppenindividuellen Einheit keine Schaltdrähte mehr verlegt werden müssen, kann der Adapter sehr flach ausgebildet werden, was die Länge der Strompfade erheblich verringert.
Die Leiterbahnen der Leiterplatte sind so gestaltet, daß sich zwischen ihnen eine geringe elektrische Beeinflussung ergibt, die genau definierbar und somit kompensierbar ist.
Nach einer Weiterbildung der Erfindung weist die Trägerplatte auf der den Tastköpfen abgewandten Seite mit den Andrückkontakten verbundene externe Kontakte des Adapters auf, die dem trennbaren Anschluß der externen Leitungen dienen. Die externen Kontakte können z.B. als Andrückkontakte ausgebildet sein, die mit ihren Spitzen gegen federnde Gegenkontaktflächen des Prüfgerätes gedrückt werden. Für verschiedenartige Prüfgeräte sind die externen Kontakte unterschiedlich angeordnet. Sie sind mit den stiftartigen Andrückkontakten z.B. durch Schaltdrähte verbunden. Die stiftartigen Andrückkontakte können unabhängig von den externen Kontakten gesetzt werden. Damit ist es möglich, das baugruppenspezifische Adapterteil mit verschiedenen Prüfgeräten zu kombinieren.
Nach einer anderen Weiterbildung der Erfindung ist die Leiterplatte auf einer Seite mit Massepotential führenden netzförmigen Leiterbahnen versehen, die mit den baugruppenspezifischen Massestiften des Prüfadapters verbunden sind. Dadurch wird in den Prüfadapter eine großflächige Potentialebene eingefügt, die die elektrischen Verhältnisse verbessert. Außerdem entfällt eine Vielzahl von Massezuleitungen über die externen Kontakte. Die Massestifte sind wie die übrigen Taststifte in die Leiterplatte eingelötet. Die Verbindung zu den Leiterbahnen erfolgt über eine Kontaktbrücke.
Nach einer anderen Weiterbildung der Erfindung ist die Leiterplatte mit rasterförmig verteilten Bohrungen versehen, die an allen Rasterpunkten eingebracht sind,sind um diese herum quadratische Leiterflächen vorgesehen und benachbarte Leiterflächen mittels kurzen metallisierten Zwischenabschnitten zu kurzen Leiterbahnen verbunden.Eine solche Leiterplatte kann aus einem Standardleiterplan abgeleitet werden, der an den Rasterpunkten lediglich die quadratischen Leiterflächen wiedergibt. Diese Flächen können zeichnerisch in einfacher Weise zu Leiterbahnmustern verbunden werden. Wird ein Leiterplattentyp an mehreren Standorten gefertigt und geprüft, so werden vom gleichen Adapter mehrere Exemplare benötigt. Bei der Herstellung der zugehörigen Leiterplatten kann der gleiche Leiterplan mehrfach verwendet werden.
Im folgenden wird die Erfindung anhand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispieles näher erläutert.
Fig. 1 zeigt schematisiert eine Seitenansicht auf einen Teil eines Prüfadapters mit einer strichpunktiert angedeuteten zu prüfenden Baugruppe sowie einer mittleren Leiterplatte des Prüfadapters, Fig. 2 eine Draufsicht auf einen Ausschnitt aus der Leiterplatte nach Fig. 1, Fig. 3 eine Draufsicht auf die Leiterplatte nach Fig. 2 von der anderen Seite.
Nach Fig. 1 wird eine elektrische Baugruppe 1 in Form einer bestückten oder unbestückten Leiterplatte in der Pfeilrichtung gegen federnde Taststifte 2 des Prüfadapters gedrückt. Diese sind entsprechend der Verteilung der abzutastenden Stellen der Baugrppe 1 angeordnet. Sie sind in eine Lochplatte 3 eingesetzt und mit ihren der Baugruppe 1 abgewandten Enden in eine Leiterplatte 4 des Prüfadapters eingelötet. Von diesen Stellen führen Leiterbahnen zu Kontaktstellen auf der den Taststiften 2 abgewandten Seite der Leiterplatte 4. Auf diese Kontaktstellen sind federnde Tastköpfe S von stiftartigen Andrückkontakten 6 aufgesetzt.
Diese sind in einer Trägerplatte 7 gehalten, die auf der den Tastköpfen 5 abgewandten Seite mit externen Kontakten 8 versehen ist. Der Adapter kann mit diesen Kontakten 8 gegen federnde Gegenkontakte einer entsprechenden Gegenkontakteinrichtung gedrückt werden. Von diesen Gegenkontakten führen externe Leitungen zu einer elektrischen Prüfeinrichtung. Die externen Kontakte 8 ragen durch die Trägerplatte 7 hindurch und sind mit ihren Enden durch Schaltdrähte 9 mit den stiftartigen Andrückkontakten 6 verbunden.
Diese können mit den Taststiften 2 baugleich ist. Es ist elektrisch vorteilhaft, mehrere externe Kontakte 8 mit einem Andrückkontakt 6 zu verbinden, um verschiedenartige Prüfimpulse über getrennte Leitungen möglichst nahe an die Bau- gruppe 1 heranführen zu können. Die Taststifte 2, die Lochplatte 3 und die Leiterplatte 4 bilden eine baugruppenspezifische Einheit, die beim Wechsel des zu prüfenden Baugruppentyps in einfacher Weise ausgetauscht werden kann.
Nach Fig. 2 ist die Leiterplatte 4 mit einem durchgehenden Lochraster von Bohrungen 10 versehen. Um diese herum sind quadratische Leiterflächen 11 angeordnet. Einige benachbarte Leiterflächen 11 sind untereinander durch kurze metallisierte Zwischenabschnitte zu Leiterbahnen 12 verbunden. Diese bilden die Kontaktstellen für die aufgesetzten Tastköpfe 5 und stellen von den Kontaktstellen aus die Verbindung zu den in jeweils eine der Bohrungen 10 eingelöteten Enden der Taststifte 2 her.
Da die stiftartigen Andrückkontakte 6 gleichmäßig über das gesamte Abtastfeld verteilt angeordnet sind, können die Leiterbahnen 12 kurz gehalten werden.
Nach Fig. 3 ist die den Taststiften 2 zugewandte Seite der Leiterplatte 4 mit einem netzartigen Leiterbahnmuster versehen. Die Leiterbahnen 13 sind an Massepotential gelegt und verlaufen etwa in der Mitte zwischen den Bohrungen 10.
Die als Massestifte dienenden Taststifte 2 (Fig. 1) sind z.B. über eine Lötbrücke in Form eines Lötauges 14 mit. den Leiterbahnen 13 verbunden.
4 Patentansprüche 3 Figuren - Leerseite -

Claims

Patentansprüche 1. Prüfadapter für flache elektrische Baugruppen, deren abzutastende Stellen mit baugruppenspezifisch verteilt angeordneten Taststiften des Prüfadapters kontaktiert werden, der in einer Trägerplatte gehaltene externe Anschlüsse aufweist, die mit den Taststiften elektrisch verbunden sind und die dem Anschluß von externen, zu einer elektrischen Prüfeinrichtung führenden Leitungen dienen, d a -d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die Taststifte (2) in eine Leiterplatte (3) eingesetzt und mit deren Leiterbahnen (12, 13) elektrisch verbunden sind, die zu Kontaktstellen führen, auf die auf der den Tastenstiften (2) abgewandten Seite der Leiterplatte (4) federnde Tastköpfe (5) von in der Trägerplatte (7) gehaltenen stiftartigen Andrückkontakten (6) aufgesetzt sind, die mit den externen Leitungen verbunden sind und unabhängig von den Baugruppen eine gleichbleibende Verteilung aufweisen.
2. Prüfadapter nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n nz e i c h n e t , daß die Trägerplatte auf der den Tastköpfen (5) abgewandten Seite mit den Andrückkontkaten (6) elektrisch verbundene externe Kontakte (8) des Adapters aufweist, die dem trennbaren Anschluß der externen Leitungen dienen.
3. Prüfadapter nach Anspruch 1 oder 2, d a d u r c h g ek e n n z e i c h n e t , daß die Leiterplatte (4) mit rasterförmig verteilten Bohrungen (10) versehen ist, die an allen Rasterpunkten eingebracht sind, daß um diese herum auf einer Seite der Leiterplatte (4) quadratische Leiterflächen (11) vorgesehen sind und daß benachbarte Leiterflächen (11) mittels kurzen metallisierten Zwischenabschnitten zu kurzen Leiterbahnen (12) verbunden sind.
4. Prüfadapter nach Anspruch 1, 2 oder 3, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die Leiterplatte (4) auf der anderen Seite mit Massepotential führenden netzförmigen Leiterbahnen (13) versehen ist, die mit den baugruppenspezifischen Massestiften (2) des Prüfadapters verbunden sind.