DE354969C - Verfahren und Vorrichtung zur spektroanalytischen Zerlegung und Intensitaetsmessung von Roentgenstrahlen - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur spektroanalytischen Zerlegung und Intensitaetsmessung von RoentgenstrahlenInfo
- Publication number
- DE354969C DE354969C DEM69946D DEM0069946D DE354969C DE 354969 C DE354969 C DE 354969C DE M69946 D DEM69946 D DE M69946D DE M0069946 D DEM0069946 D DE M0069946D DE 354969 C DE354969 C DE 354969C
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- screen
- scale
- rays
- crystal
- phosphorescent
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/207—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
- G01N23/2076—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions for spectrometry, i.e. using an analysing crystal, e.g. for measuring X-ray fluorescence spectrum of a sample with wavelength-dispersion, i.e. WDXFS
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
- H01J29/02—Electrodes; Screens; Mounting, supporting, spacing or insulating thereof
- H01J29/10—Screens on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted or stored
- H01J29/18—Luminescent screens
- H01J29/34—Luminescent screens provided with permanent marks or references
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
AUSGEGEBEN AM 17. JUNI 1922
PATENTSCHRIFT
(M69946 VIIIJ2ig)
Verfahren und Vorrichtung zur spektroanalytischen Zerlegung und Intensitätsmessung
von Röntgenstrahlen.
Patentiert im Deutschen Reiche vom 6. Juli 1920 ab.
Die Erfindung hat den Zweck, genaue I dient zur spektroanalytischen Zerlegung und
Messungen von Röntgenstrahlungen und hoher { Intensitätsmessung von Röntgenstrahlen unter
Röntgenröhrenspannungen in vollkommenerer j Ausnützung der inneren saggitalen Atomnetz-Weise,
als dies mit den bisherigen Instrumenten j ebenen eines nach beiden Richtungen drehder
Fall war, zu ermöglichen. Die Vorrichtung I baren Kristalls unter Verwendung eines kreis-
854960
bogenförmigen Lichtschirmes von bestimmtem Radius. Hierdurch wird ein unmittelbares
Abmessen und Ablesen der einzelnen, insbesondere der kürzesten Wellenlängen ermöglicht.
Das wesentlich Neue der Vorrichtung besteht darin, daß jene Reflexerscheinungen beobachtet,
gemessen und verwertet werden können, welche auftreten, wenn der Kristall sich in Frontstellung befindet, d. h., wenn er
ίο mit einer Breitfläche ungefähr im rechten Winkel zur Strahlenrichtung steht, während
bisher diese Erscheinungen nicht beachtet oder ', nur als störende Nebenerscheinungen angesehen
wurden. Diese Erscheinungen beruhen auf der Ablenkung der Röntgenstrahlung durch innere
Atomnetzebenen des Kristalls. Diese inneren Netzebenen sind im Gegensatz zu den un- j
ebenen beschädigten Außenflächen des Kristalls [ vollkommen intakt. Ein weiterer Vorteil liegt j
in der leichten Aufstellung des Kristalls. j
Die Einzelheiten des Verfahrens seien zugleich mit der Erläuterung der hierbei verwendeten,
in den Abbildungen als Ausführungsbeispiel dargestellten Vorrichtung erörtert. :
Abb. ι zeigt die Gesamtmeßeinrichtung im j Grundriß, bei abgenommenem Deckel des die |
Einrichtung umschließenden Gehäuses, j
Abb. 2 dieselbe von vorn gesehen. '
Der auf dem Ständer 1 sitzende Kristall 2 ! ist irgendwie durch Klemmen 3, Schrauben
0. dgl., befestigt und kann vermittels einer beliebig ausgeführten bekannten Nebenvorrichtung,
beispielsweise vermittels des auf der Klemmenachse 4 sitzenden am Rande gerillten j
Handrädchens 5, bequem um seine senkrechte . Achse gedreht werden. Das vom Brennpunkt 6 ;
ausgehende Strahlenbündel wird zuerst in be- ' kannter Weise durch die beiden Diaphragmen
(mit feinen Schlitzen versehene Bleiplattenblenden) 7 und 8 geführt, um ein ganz schmales
Bündel auszublenden.
Diese mit Abdeckwänden 9 versehenen Diaphragmen können gleichfalls am Ständer 1 angebracht
und gegebenenfalls auf diesem verschiebbar angeordnet sein. Außerdem trägt i der Ständer den Meßschirm 10. Es ist dies j
ein kreisbogenförmiger Streifen aus Blech, ' Zelluloid, Karton o. dgl. mit einem seiner
ganzen Mitte entlang laufenden Schlitz. Die Ränder des Schlitzes sind falzartig ausgebildet,
so daß in den Schlitz ein transparenter, biegsamer Streifen n aus Papier, Karton, Zelluloid
o. dgl. eingeschoben werden kann. Dieser Durchleuchtungsstreifen ist in bekannter Weise
mit Bariurnplatincyanür derart präpariert, daß auftreffende Röntgenstrahlen die betreffenden
Stellen erhellen. In einfacherer Weise kann der Schirm auch derart ausgeführt werden,
daß ein präparierter Papierstreifen auf einen Kartonschirm aufgeklebt wird. Getragen wird
der Schirm von der auf dem Ständerteil 12 I befestigten Platte 13, welche in ihrer wagerechten
Ebene mitsamt dem Schirm um die Ständer- oder Kristallachse verschwenkt werden kann. Die in der Symmetrielinie des Ganzen
gelegene Stelle des Durchleuchtungsstreifens (der Durchstoßungspunkt) kann vermittels
eines schmalen," senkrechten Streifens 14 abgeblendet werden.
Die oberhalb und unterhalb des präparierten Streifens verbleibenden Streifen des Schirmes
werden für Meßzwecke ausgenützt.
Zu diesem Behufe . ist am oberen Schirmrand
(Abb. 2) eine Skala aufgezeichnet, und zwar mittels einer phosphoreszierenden Substanz,
welche die Skala auch im Dunkeln erkennen läßt. Die nach einer Sinusprogression verlaufende Teilung dieser Skala ist so gewählt,
daß sie unmittelbar die Länge der an der betreffenden Stelle auftreffenden Wellen in Angström-Einheiten
anzeigt.
Dem unteren Schirmrande entlang kann ein konzentrisch gekrümmter Maßstab 15 dicht
am Schirm liegend, aber ohne Reibung, verschoben werden. Zu diesem Zwecke ist der
Maßstab auf der Platte 16 befestigt, welche entsprechend der Platte 13 gleichfalls um die
Ständerachse von Hand aus verschwenkt werden kann. Die Teilung des Maßstabes ist zweckmäßig
in Millimetern ausgeführt, was aber, wie noch erläutert werden soll, eine ganz bestimmte
Länge des Radius r, nämlich der Entfernung der Leuchtstreifenstellen von der Kristallmitte
zur Voraussetzung hat. Im NuE-punkt des Maßstabes ist eine phosphoreszierende Marke 17 befestigt, während eine zweite phosphoreszierende
Einstellmarke 18 am Maßstab verschiebbar ist.
Wird der Abstand Kristall-Meßschirm gleich 14 cm gewählt, so entspricht 1 mm des Maß-Stabes
einem Wellenlängenunterschied von 0,005 A. E., bei doppelseitiger Messung gibt also die Ablesung die Wellenlänge des Strahlungskopfes
in Hundertstel A. E. an.
Um störende Sekundärstrahlungen abzuhalten, kann das Ganze in einem mit Bleiplatten 19 ausgekleideten, vorn offenen Kasten
20 untergebracht werden, welcher bei 21 einen geeigneten Schlitz für das Durchlassen des
Strahlenbündels aufweist. Anstatt des Kastens kann für besondere Zwecke gegebenenfalls auch
ein Bleirohr mit eiförmigem oder sonstigem Querschnitt benützt werden.
Der Maßstab 15 dient in erster Linie zur Feststellung der kürzesten, im Wellengemisch
des Strahlenbündels enthaltenen Wellenlänge. Zu diesem Behufe wird der Kristall gedreht
und der Nullpunkt des Maßstabes auf jene Stelle eingestellt, an welcher eine beim Drehen
des Kristalles auf dem Leuchtstreifen wandernde Lichtlinie — vom Null- (Durchstoßungs-) Punkte
aus verfolgt ■— zuerst erscheint. Diese Stelle
854969
ist vollkommen scharf definiert und entspricht der kürzesten im Bündel enthaltenen Wellenlänge.
Durch einen gleichen, symmetrischen Vorgang wird die betreffende Stelle auf der
anderen Seite des Schirmes gesucht und durch die Schiebermarke 18 festgelegt. Die Entfernung
der beiden Zeiger ist der doppelte Abstand der kürzesten Wellenlänge vom Nullpunkte.
Diese Doppelmessungsmethode hat den Vorteil, daß man nicht von der breiteren unscharf
abgegrenzten Durchstoßungslinie der Primärstrahlung auszugehen braucht, diese vielmehr abdecken und daher, ohne geblendet
zu werden, auch aus diesem Grunde genauer einstellen kann. Weiter wird dadurch die
Fehlerquelle auf die Hälfte reduziert.
Durch die Bestimmung des Strahlungskopfes ist die Strahlung bereits weitgehend charakterisiert.
Durch Weiterdrehen des Kristalls und Verfolgung der anwachsenden Intensität des auf dem Leuchtstreifen wandernden Striches
bis zum Intensitätsmaximum sowie des darauf folgenden Abschwellens der Intensität unter
Ablesung der jeweiligen Wellenlängen an der oberen Skala lassen sich bezüglich der sonstigen
Zusammensetzung des Gemisches Anhaltspunkte gewinnen, die besonders für den Arzt
von großer Wichtigkeit sind. Erst auf Grund dieser Anhaltspunkte ist es möglich, Strahlenbündel
erschöpfend zu charakterisieren und ' jederzeit mit' Zuverlässigkeit ein gleich beschaffenes
Wellengemisch, welches unbedingt dieselben Wirkungen hervorrufen muß, herzustellen.
Aus der genau f estgestellten kürzesten Wellenlänge und der Zahl der aufgewendeten Milliampere
läßt sich mit großer Genauigkeit die Röhrenspannung berechnen. D u a η e und Hu η t
haben gefunden, daß die kürzeste Wellenlänge, nachstehend mit ζ bezeichnet, umgekehrt proportional
der Röhrenspannung V und daß zwischen ζ und V mit großer Genauigkeit die
Einsteinsche Beziehung :
_ T7 , 0
_ T7 , 0
erfüllt ist. Hierin bedeuten: e- die Ladung des
Elektrons — 4,69 X io~10 elektrostatische E.,
H die Planksche Strahlungskonstante = 6,50 χ io"~27 und c = 3,io10 cm, d. i. die Lichtgeschwindigkeit.
Aus dieser Gleichung läßt sich V berechnen. Um V in Volt zu bekommen,
hat man die aus der Gleichung berechnete Größe noch mit 300 zu multiplizieren, da ein Volt = 1/300 elektrostatische E. des
Potentials ist. Das in der beschriebenen Ausführung bequem und leicht zu handhabende,
dabei genau zeigende Spektrometer liefert also jene Größe genau, die man früher unverläßlich
mit Hilfe der Parallelfunkenstrecke usw. bestimmt hat.
Claims (3)
1. Verfahren und Vorrichtung zur spektroanalytischen
Zerlegung und Intensitätsmessung von Röntgenstrahlen, unter Ausnutzung
der inneren sagittalen Atomnetzebenen eines Kristalles, dadurch gekennzeichnet, daß die durch den zum doppelseitigen
Messen vom Nullpunkt aus nach beiden Richtungen drehbar angeordneten Kristall erzielten intensiven und scharfbegrenzten
Lichterscheinungen unter Verwendung eines kreisbogenförmigen Lichtschirmes
mit bestimmtem Radius sichtbar gemacht werden, so daß ein unmittelbares Abmessen und Ablesen der einzelnen, insbesondere
der kürzesten Wellenlängen ermöglicht wird.
2. Verfahren und Vorrichtung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß der
Meßschirm mit einer phosphoreszierenden Einteilung und Maßzahlen zur unmittelbaren
Ablesung der Wellenlängen versehen ist.
3. Verfahren und Vorrichtung nach Anspruch ι oder 2, gekennzeichnet durch einen
am Meßschirm verschiebbaren Maßstab· mit phosphoreszierendem Nullpunkt und eine auf dem Maßstabe verschiebbare,
ebenfalls phosphoreszierende Zeigermarke.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
AT89846D AT89846B (de) | 1920-07-01 | 1920-07-01 | Spektrometer zur Bestimmung der Grenzwellenlänge des Röntgenspektrums. |
DEM69946D DE354969C (de) | 1920-07-01 | 1920-07-06 | Verfahren und Vorrichtung zur spektroanalytischen Zerlegung und Intensitaetsmessung von Roentgenstrahlen |
GB27873/20A GB170191A (en) | 1920-07-01 | 1920-10-01 | Method of spectrum analysis of rontgen rays and apparatus therefor |
FR539444D FR539444A (fr) | 1920-07-01 | 1921-08-17 | Dispositif pour l'analyse spectrale des rayons roentgen |
AT93766D AT93766B (de) | 1920-07-01 | 1922-07-11 | Spektrometer für Röntgenstrahlen. |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
AT89846T | 1920-07-01 | ||
DEM69946D DE354969C (de) | 1920-07-01 | 1920-07-06 | Verfahren und Vorrichtung zur spektroanalytischen Zerlegung und Intensitaetsmessung von Roentgenstrahlen |
GB27873/20A GB170191A (en) | 1920-07-01 | 1920-10-01 | Method of spectrum analysis of rontgen rays and apparatus therefor |
FR539444T | 1921-08-17 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE354969C true DE354969C (de) | 1922-06-17 |
Family
ID=40535640
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEM69946D Expired DE354969C (de) | 1920-07-01 | 1920-07-06 | Verfahren und Vorrichtung zur spektroanalytischen Zerlegung und Intensitaetsmessung von Roentgenstrahlen |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
AT (1) | AT89846B (de) |
DE (1) | DE354969C (de) |
FR (1) | FR539444A (de) |
GB (1) | GB170191A (de) |
-
1920
- 1920-07-01 AT AT89846D patent/AT89846B/de active
- 1920-07-06 DE DEM69946D patent/DE354969C/de not_active Expired
- 1920-10-01 GB GB27873/20A patent/GB170191A/en not_active Expired
-
1921
- 1921-08-17 FR FR539444D patent/FR539444A/fr not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB170191A (en) | 1921-10-20 |
FR539444A (fr) | 1922-06-26 |
AT89846B (de) | 1922-10-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE737160C (de) | Lichtelektrischer Belichtungsmesser | |
DE2712255A1 (de) | Verfahren und einrichtung zur bestimmung der stroemungsgeschwindigkeit in einem stroemenden medium nach betrag und richtung | |
DE354969C (de) | Verfahren und Vorrichtung zur spektroanalytischen Zerlegung und Intensitaetsmessung von Roentgenstrahlen | |
DE1245174B (de) | Vorrichtung zur Roentgenstrahlen-fluoreszenzanalyse eines Werkstoffes | |
DE1598420B2 (de) | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der menge an freiem ungeloestem wasser in einer fluessigkeit | |
DE1297362B (de) | Geraet zur Konzentrationsanzeige einer oder mehrerer Komponenten eines Analysengases | |
CH618267A5 (de) | ||
DE404808C (de) | Verfahren zur quantitativen Analyse mittels des durch Roentgen- oder aehnliche Strahlen von der zu untersuchenden Substanz erzeugten Absorptionsspektrums | |
DE905672C (de) | Anordnung zur genauen Bestimmung von Laengenabstaenden, insbesondere zur Fokussierung optischer Geraete | |
DE900755C (de) | Lichttonaufzeichnungsvorrichtung fuer Sprossenschrift und ihre Anwendung auf Mehrzackenschrift | |
DE678917C (de) | Ableseeinrichtung fuer elektrische Messinstrumente | |
DE460966C (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung des Abtriftwinkels bei Luftfahrzeugen | |
DE702620C (de) | Verfahren zur Bestimmung von Hoehen ueber dem Erdboden, insbesondere von Flughoehen beim Landen eines Flugzeuges, mit Hilfe durchdringender Strahlen nach dem Echolotprinzip | |
DE506886C (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Erschliessen physikalischer Eigenschaften durchstrahlter Objekte | |
DE1598958A1 (de) | Photometer mit mechanischer Registrierung | |
DE655127C (de) | Kolorimeter | |
DE2716961A1 (de) | Pruefgeraet fuer das feststellen der neigung von zahnschliffflaechen | |
CH655183A5 (de) | Verfahren und vorrichtung zur farbauftragsbestimmung einer aufsichtsbildvorlage. | |
DE1589843C3 (de) | Verfahren zur Ortung eines radioaktiv markierten Organes des menschlichen oder tierischen Körpers | |
DE1598420C3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Menge an freiem ungelöstem Wasser in einer Flüssigkeit | |
DE898519C (de) | Lichtzeigermessgeraet | |
DE943908C (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Farbmessung | |
DE392304C (de) | Verfahren zur Messung der Dosis von Roentgenstrahlen | |
DE714168C (de) | Vorrichtung zum Messung der Farbigkeit einer Beleuchtung | |
DE321969C (de) | Optischer Belichtungsmesser mit vor Schauoeffnungen einstellbarer, abgetoenter Blauscheibe, die mit Belichtungsangaben versehen ist |