AT89846B - Spektrometer zur Bestimmung der Grenzwellenlänge des Röntgenspektrums. - Google Patents
Spektrometer zur Bestimmung der Grenzwellenlänge des Röntgenspektrums.Info
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Description
<Desc/Clms Page number 1> EMI1.1 Das den Gegenstand der Erfindung bildende Instrument bezweckt die Messung der kürzesten, in einer gegebenen Röntgenstrahlung enthaltenen Wellenlänge 1, ; seine Besonderheit liegt darin, dass es die Messung dieser Grosse auch dem Ungeübten in der Zeit von einigen Minuten ermöglicht. Es. sei bemerkt, dass die kürzeste Wellenlänge für die praktische Röntgenologie deshalb von ausschlaggebender EMI1.2 grunde, den durch zwei Blenden begrenzten Strahl an den oberflächlichen Netzebenen eines Krystalles reflektieren zu lassen (nur bei der praktisch nicht mehr benutzten ursprüngliches Laue-Anordnung findet Reflexion an den inneren Netzebenen statt), worauf der Strahl entweder eine photographisehe Platte oder eine Jonisationskammer trifft. Dass ein in dieser Art konstruiertes Instrument für die Praxis EMI1.3 wand an Zeit und experimentellen Fertigkeiten bei weitem jenes Mass, über das der Praktiker durch- schnittlieh verfügt. An die unmittelbare. Ausmessung der auf einem Leuchtschirme beobachtbaren Beu- gungsficcke wurde von keiner Seite gedacht, weil weder der Physiker noch der Arzt diese Methode für EMI1.4 ihm der Konstruktion eines entsprechenden Instrumentes grosse Schwierigkeiten entgegenzustehen schienen. Zu diesen Schwierigkeiten gehörte z. B. die Konstruktion einer geeigneten, im Dunkeln zu handhabenden Messvorrichtung, ferner die Notwendigkeit einer präzisen Justierung des Krystalles, die ohne grosse Herstellungskosten und fortwährende Reparaturen nicht durchführbar erschien. Aus diesem Grunde konnte die Röntgenstrahlenana. lyse für die praktische Röntgenologie nicht nutzbar gemacht EMI1.5 Strahlentherapie nur auf spektralanalytischer Grundlage denkbar war. Das wesentlich Neuartige vorliegender Spektrometeranordnung liegt darin, dass die kürzeste in der Strahlung enthaltene Wellenlänge auf einem kreisförmig gebogenen Leuchtsehirmstreifen durch die senkrecht zur Strahlrichtung gestellte Kristallplatte (Reflexion an den inneren, zur Platte senkrechten Netzebenen) rechts und links vom Nullpunkt erzeugt wird und auf die. beiden Orte zwei phosphoreszierende Zeigermarken, die längs des Streifens verschiebbar sind, eingestellt werden. Der Abstand der Marken wird bei Licht fuf einem unterhalb des Streifens befindlichen, kreisförmig gebogenen Massstab, mit dem die eine der beiden Zeigermarken fest verbunden ist, abgelesen ; der Massstab ist so gehalten, dass der Abstand direkt die kürzeste Wellenlänge in Angströmeinheiten angibt. Die praktische Messung gestaltet sich so, dass man zunächst das in ein Bleigehäuse eingeschlossene Instrument so einstellt, dass Röntgenlicht durch die beiden vor dem Kristall angebrachten Schlitzblenden fällt und den Kristall senkrecht zur Strahlrichtung stellt ; von dieser Stellung aus wird der Kristall mit Hilfe einer Schraube zuerst nach der einen, dann nach der anderen Richtung so lange gedreht, bis auf dem Schirm je eine leuchtende Linie EMI1.6 <Desc/Clms Page number 2> Durch dieFrontalstellungdesdünnenKristalles-einevorteilhafte Kombination der Braggschen Methode des drehbaren Kristalles mit der Laueschen der inneren Reflexion - wird erreicht, dass einerseits die mühevolle Justierung des Kristallen und die damit verbundenen Nachteile entfallen, und dass anderseits die Lage des Nullpunktes nicht bestimmt zu werden braucht, wodurch Nullpunktsfehler vermieden werden. Ein in dieser Art gebautes Spektrometer ist noch nirgends benutzt und nirgends beschrieben worden. Die Details des Verfahrens seien zugleich mit der Erläuterung der hiebei verwendeten, in der Zeichnung als Ausführungsbeispiel dargestellten Vorrichtung erörtert. Fig. 1 zeigt die Gesamtmesseinrichtung im Grundriss bei abgenommenem Deckel des die Einrichtung umschliessenden Gehäuses. Fig. 2 dieselbe von vorne gesehen. Der auf dem Ständer 1 sitzende Kristall 2 ist irgendwie durch Klemmen 3, Schrauben oder dgl. befestigt und kann vermittels einer beliebig ausgeführten bekannten Nebenvorrichtung, beispielsweise vermittels des auf der Klemmenachse 4 sitzenden, am Rande gerillten Handrädchens 5 bequem um seine vertikale Achse verdreht werden. Das vom Fokus 6 ausgehende Strahlenbündel wird vorerst in bekannter Weise durch die beiden Diaphragmen (mit feinen Schlitzen versehene Bleiplattenblènden) 7 und 8 geführt, um ein ganz schmales Bündel auszublenden. Diese mit Abdeekwänden 9 versehenen Diaphragmen können gleichfalls am Ständer 1 angebracht und eventuell auf diesem verschiebbar angeordnet sein. Ausserdem trägt der Ständer den sogenannten Messschirm. M. Es ist dies ein kreisbogenförmiger Streifen aus Blech, Zelluloid, Karton oder dgl. mit einem seiner ganzen Mitte entlang laufenden Schlitz. Die Ränder des Schlitzes sind falzartig ausgebildet, so dass nden Schlitz ein transparenter, flexibler Streifen 11 aus Papierkarton, Zelluloid oder dgl. eingeschoben EMI2.1 derart präparanert, dass auftreffende Röntgenstrahlen die betreffenden Stellen erhellen. In primitiver Weise kann der Schirm auch derart ausgeführt werden, dass ein präparierter Papierstreifeu auf einen Kartonschirm aufgeklebt wird. Getragen wird der Schirm von der auf dem Ständerteile 12 befestigten EMI2.2 Streifens 14 abgeblendet werden. Die oberhalb und unterhalb des präparierten Streifens verbleibenden Streifen des Schirmes werden fürMesszweckeausgerüstet. Zu diesem Behufe ist am oberen Schirmrand (Fig. 2) eine Skala aufgezeichnet. u. zw. mittels einer phosphoreszierenden Substanz, welche die Skala auch im Dunkeln erkennen lässt. Die nach einer Sinusprogression verlaufende Teilung dieser Skala ist so gewählt, dass sie unmittelbar die Länge der an der betreffenden Stelle auftreffenden Wellen in Angstromeinheiten anzeigt. Dem unteren Schirmrande entlang kann ein konzentrisch gekrümmter Massstab 15 dicht am Schirm liegend. aber ohne Reibung verschoben werden. Zu diesem Zwecke ist der Massstab auf der Platte 16 befestigt, welche analog der Platte 13 gleichfalls um die Ständerachse von Hand aus verschwenkt werden kann. Die Teilung des Massstabes ist zweckmässig in mm ausgeführt, was aber, wie noch erläutert werden soll. eine ganz bestimmte Länge des Radius 1'. nämlich der Entfernung der Leuchtstreifenstellen von der EMI2.3 eiem Wellenlängenunterschied von 0#005 A. E. Bei doppelseitiger Messung gibt also die Ablesung die Wellenlänge des Strahlungskopfes in Hundertel A. E. an. Um störende Sekundärstrahlungen abzuhalten. kann das Ganze in einen mit Bleiplatten 19 aus- gekleideten vorne offenen Kasten 2 ? untergebracht werden, welcher bei einen geeigneten Schlitz EMI2.4 tuell auch ein Bleirohr mit ovalem oder sonstigem Querschnitt benutzt werden. PATENT-ANSPRÜCHE : 1. Spektrometer zur Bestimmung der Grenzwellenlänge des Röntgenspektrums. gekennzeichnet EMI2.5
Claims (1)
- 2. Spektrometer nach Anspruch l, gekennzeichnet durch einen am Messschirm verschiebbaren Massstab mit phosphoreszierendem Nullpunkt und eine auf dem Massstabe verschiebbare, ebenfalls phosphoreszierende Zeigermarke.
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
AT89846T | 1920-07-01 | ||
DEM69946D DE354969C (de) | 1920-07-01 | 1920-07-06 | Verfahren und Vorrichtung zur spektroanalytischen Zerlegung und Intensitaetsmessung von Roentgenstrahlen |
GB27873/20A GB170191A (en) | 1920-07-01 | 1920-10-01 | Method of spectrum analysis of rontgen rays and apparatus therefor |
FR539444T | 1921-08-17 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
AT89846B true AT89846B (de) | 1922-10-25 |
Family
ID=40535640
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
AT89846D AT89846B (de) | 1920-07-01 | 1920-07-01 | Spektrometer zur Bestimmung der Grenzwellenlänge des Röntgenspektrums. |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
AT (1) | AT89846B (de) |
DE (1) | DE354969C (de) |
FR (1) | FR539444A (de) |
GB (1) | GB170191A (de) |
-
1920
- 1920-07-01 AT AT89846D patent/AT89846B/de active
- 1920-07-06 DE DEM69946D patent/DE354969C/de not_active Expired
- 1920-10-01 GB GB27873/20A patent/GB170191A/en not_active Expired
-
1921
- 1921-08-17 FR FR539444D patent/FR539444A/fr not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE354969C (de) | 1922-06-17 |
FR539444A (fr) | 1922-06-26 |
GB170191A (en) | 1921-10-20 |
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