DE3513035C2 - - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 39
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 22
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 21
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 claims description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000006735 deficit Effects 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
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Description
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zum Nachweis kleiner
Teilchen nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
In ihm findet ein Streulicht-Verfahren Anwendung, bei
dem in der Luft schwebende kleine Teilchen durch Messung
des an ihnen gestreuten Lichts erfaßt werden. Die Technik
für die Messung von in einem Probe-Luftstrom enthaltenen
kleinen Teilchen durch Anlegen eines Lichtstrahls an den
Probe-Luftstrom zur Erfassung des daran gestreuten Lichts
ist allgemein bekannt. Die Nachweis-Charakteristika derartiger
Verfahren lassen sich wirkungsvoll verbessern, indem
die Intensität des verwendeten Lichtstrahls erhöht wird.
Dementsprechend wird als Lichtquelle statt einer Lampe ein
Laser-Oszillator verwendet. Derartige Systeme sind beispielsweise
auf Seite 78 in der Ausgabe vom Dezember 1982
der Zeitschrift "O+E" dargestellt. Zur weiteren Erhöhung
der Intensität des Lichtstrahls wird eine Laser-Einrichtung
mit hoher Ausgangsleistung oder ein System verwendet, indem
Probe-Aerosol durch den Laser-Resonator geführt wird. Die
erstgenannte Ausführungsform führt zu einer Vergrößerung
der Abmessungen des Nachweissystems und zu einer Erhöhung
des Pegels der elektrischen Eingangsleistung. In der zweiten
Ausführungsform wird der Durchmesser eines Laserstrahls
vom Laser-Resonator in Abhängigkeit von den Laser-Schwingbedingungen
festgesetzt, wobei der Strahldurchmesser an der
Position einer Nachweiszelle für die Messung des Streulichts
nicht unbedingt einen optimalen Wert hat. Zusätzlich
ist der Freiheitsgrad für die Anordnung der Nachweiszelle
eingeschränkt.
Ein System, in dem ein Probe-Luftstrom in einen Laser-Resonator
eingeführt und darin bestrahlt wird, um den Laserstrahl
wirkungsvoll auszunutzen, ist in der Zeitschrift
"The Review of Scientific Instruments", Band 39, Nr. 12,
Seite 1916, oder Band 44, Nr. 9, Seite 1193, beschrieben.
In diesem System kann selbst in einer Laser-Einrichtung mit
vergleichsweise geringen Abmessungen ein Laserstrahl hoher
Intensität ausgenutzt werden. Die Beziehung zwischen dem
Laser-Oszillator und dem Bereich zur Untersuchung des Probe-
Luftstroms in diesem System ist in den Fig. 1(a) und 1(b)
dargestellt. In den Zeichnungen ist mit Bezugsziffer 1 eine
Laser-Entladungsröhre, mit Bezugsziffer 2 ein Laserstrahl
im Resonator, mit Bezugsziffer 3 ein quer zum Laserstrahl
eingeführter Probe-Luftstrom, und mit Bezugsziffer 4 das
an den im Luftstrom enthaltenen kleinen Teilchen gestreute
Licht bezeichnet. Im System nach Fig. 1(a) ist an einem
Ende des Laser-Resonators ein sphärischer Spiegel 5, und
im Meßbereich am anderen Ende des Resonators ein planarer
Spiegel 6 angeordnet, um den Strahldurchmesser zu verringern.
Im System nach Fig. 1(b) werden auf beiden Seiten des Resonators
als reflektierende Spiegel 7, 8 planare Spiegel
oder sphärische Spiegel mit einem relativ großen Krümmungsradius
verwendet, so daß der Strahldurchmesser im
Resonator annähernd konstant ist. In beiden Systemen ist
der Durchmesser des Laserstrahls im Untersuchungsbereich
groß, und der Laserstrahl kann damit nicht wirkungsvoll
bezüglich seiner Energiedichte ausgenutzt werden. Da der
Durchmesser des Laserstrahls im Untersuchungsbereich groß
ist, wird auch der Streulicht-Bereich groß, so daß der
Wert der Rayleigh-Streustrahlung von den Gasmolekülen,
wie z. B. N₂ oder O₂, in diesem Bereich zunimmt. Damit
läßt sich bei der Messung kleiner Teilchen mit einer niedrigen
Dichte und einem Durchmesser von nicht mehr als
etwa 0,1 µm kein hinreichendes Signal-Rausch-Verhältnis
erzielen. Im System nach Fig. 1(a) kann der Strahldurchmesser
auf der Oberfläche des Spiegels 6 minimal gemacht
werden. Es ist jedoch in der Praxis nicht möglich, einen
Nachweisbereich unmittelbar vor dem Spiegel 6 vorzusehen.
In einem System mit einem auf die Spiegeloberfläche fokussierten
Laserstrahl tritt leicht eine Beeinträchtigung
der Spiegeloberfläche auf. Die Spiegeloberfläche wird
durch eine lokale Verschmutzung beeinflußt, so daß oft
Schwankungen der Intensität des auf eine derartige Oberfläche
auftreffenden Laserstrahls auftreten.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist
darin zu sehen, eine Anordnung zum Nachweis kleiner Teilchen
anzugeben, bei dem
eine stabile Arbeitsweise
und eine stark verbesserte Leistungsfähigkeit erreicht
wird.
Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt mit den im Patentanspruch
1 angegebenen Mitteln. Bevorzugte Ausführungsbeispiele
sind in den Unteransprüchen angegeben.
Im folgenden wird die Erfindung anhand der in den Figuren
dargestellten Auführungsbeispiele
näher erläutert.
Es zeigt
Fig. 1 eine schematische Darstellung des Aufbaus eines
Laser-Resonators, wie er bisher für den Nachweis
kleiner Teilchen verwendet wurde;
Fig. 2 eine Schnittansicht eines Ausführungsbeispiels der
Erfindung von der Seite und von oben;
Fig. 3 und 4 schematische Schnittansichten weiterer Ausführungsbeispiele
der Erfindung;
Fig. 5 eine schematische Darstellung zur Erläuterung eines weiteren
Ausführungsbeispieles.
In vorliegender Erfindung
ist ein Laser-Oszillator, ein mit dem Laserstrahl dieses
Oszillators in Resonanz stehender externer optischer Resonator
und eine in diesem optischen Resonator angeordnete
Nachweiszelle vorgesehen. Die Nachweiszelle umfaßt Düsen
für das Ansaugen und Abgeben einer Aerosol-Probe, ein optisches
System zum Kondensieren des an der Aerosol-Probe gestreuten
Lichts und ein Licht erfassendes Element für die
fotoelektrische Umwandlung des kondensierten Streulichts.
Eine Kombination der Nachweiszelle, des Laser-Oszillators
und des externen optischen Resonators bildet ein Nachweissystem
für kleine Teilchen, das nach dem Streulichtverfahren
arbeitet. In diesem System kreuzen sich im optischen Resonator
der optische Weg und der Weg des Aerosols.
Aufgrund dieses Aufbaus wid die Lichtintensität im externen
optischen Resonator im wesentlichen gleich der in einem
Laser-Resonator. Darüberhinaus kann der Durchmesser des
einen Aerosol-Strom kreuzenden Laserstrahls beliebig verändert
werden, so daß das Nachweissystem insgesamt optimiert
werden kann. Da der Laser-Oszillator vollkommen abgeschlossen
werden kann, besteht keine Verschmutzungsgefahr
auf einem Spiegel des Laser-Oszillators und auf den Anschlußflächen
des Laser-Mediums, so daß die Ausgabe des
Lasers zu jedem Zeitpunkt stabil ist. Der externe Resonator
ist ein Fabry-P´rot-Resonator mit zwei einander gegenüber
angeordneten Spiegeln. Einer dieser Spiegel hat bezüglich
des Laserstrahls ein hohes und im wesentlichen vollkommenes
Reflexionsvermögen. Als der andere Spiegel dient ein teilweise
durchlässiger Spiegel mit hohem Reflexionsvermögen,
durch den ein Teil des Laserstrahls hindurchtritt. Es ist
auch möglich, einen Spiegel auf der Ausgabeseite des Laserstrahls
statt des teilweise durchlässigen Spiegels zu verwenden,
demgegenüber ein Spiegel mit hohem Reflexionsvermögen
angeordnet ist. In einer derartigen Anordnung kann
der externe Resonator unabhängig von den Schwingbedingungen
des Lasers ausgebildet werden. Die Krümmung des Spiegels
im externen Resonator kann wahlweise auf einen geeigneten
Wert festgesetzt werden, um die Intensität des Streulichts
zu erhöhen. Weiterhin kann im Resonator eine Linse für die
Fokussierung des Laserstrahls angeordnet werden. Damit
läßt sich die Intensitätsverteilung des Lichts im Resonator
verändern, so daß eine wirkungsvollere Messung durchgeführt
werden kann.
In dem Laser-Resonator mit externen Spiegeln, der
einen Laser-Oszillator aufbaut, ist eine Nachweiszelle vorgesehen.
Die Nachweiszelle umfaßt Düsen für das Ansaugen und Abgeben
von Luftproben, ein optisches System zum Kondensieren des
an der Luftprobe gestreuten Lichts und ein Licht-Detektorelement
für die fotoelektrische Umwandlung des kondensierten
Streulichts.
Der Resonator ist so ausgebildet,
daß in seinem Inneren der Querschnittsbereich eines Laserstrahls
minimal wird. Die Nachweiszelle ist so angeordnet,
daß der Strom der Luftprobe und der Laserstrahl einander
an der Position kreuzen, an der der Druchmesser des Laserstrahls
minimal wird.
Entsprechend Fig. 5 wird der minimale Durchmesser (2Wo) des
Strahls im Laser-Resonator mit der Länge d des optischen
Resonators, den Krümmungsradien R 1, R 2 der Spiegel an beiden
Enden
und der Schwingungswellenlänge λ des Lasers nach
folgender Formel bestimmt (aus H. Kogelnik, T. Li: Applied
Optics 5, 1550, 1966):
Wenn mit t 1 und t 2 der jeweilige Abstand zwischen der Position
des minimalen Strahlendurchmessers und den Spiegeln
R 1 bzw. R 2 an beiden Enden bezeichnet wird, ergeben sich
folgende Gleichungen:
t 1+t 2 = d (3)
Für die Anordnung der Spiegel lassen sich folgende Laser-
Schwingbedingungen aufstellen:
(1)d<R 1<R 2 und
(2)d<R 1<R 2 und R 1+R 2<d.
Bei allen diesen Kombinationen liegt eine Positon, bei der
der Strahldurchmesser minimal wird, in einem Bereich, der
sich bezüglich der Resonatormitte auf Seite des Spiegels
R 2 befindet. Die Nachweiszelle ist an dieser Position plaziert,
und der Probe-Luftstrom sowie der Laserstrahl werden
so abgegeben, daß sie einander an dieser Position kreuzen.
Zum Nachweis kleiner Teilchen wird an dieser Position die
Intensität des Streulichts gemessen. Wenn die Querschnittsfläche
des Laserstrahls im Resonator entsprechend einer im
allgemeinen erhaltenen TEMoo-Mode (Gauss'sche Verteilung)
festgesetzt wird, ist der Durchmesser des Laserstrahls
an einem Punkt definiert, an dem die Intensität des Laserstrahls
auf e -2 der Intensität in der Mitte abgenommen hat.
Der Durchmesser des Strahls einer Luftprobe wird durch den
Durchmesser der Düsen bestimmt, die in der Nachweiszelle
vorgesehen sind.
Wenn der Durchmesser und die Dichte der Teilchen gering
sind, ist das Streulicht-Signal im Randbereich eines Gauss'schen
Strahls sehr schwach, wodurch ein Nachweisfehler
hervorgerufen werden kann. Aus diesem Grund ist es notwendig,
den Durchmesser des Laserstrahls größer zu wählen als
den des Strahls der Luftprobe. Im Idealfall wird der Durchmesser
des Strahls der Luftprobe nicht größer als ein Wert
eingestellt, der durch eine volle Breite des halben Maximalwertes
der Laserstrahl-Intensität bestimmt ist (in diesem
Fall beträgt das Verhältnis des Durchmessers des Laserstrahls
zu dem des Luftstrahls nicht mehr als 1,7).
Wenn der Durchmesser des Luftstrahls jedoch nicht größer
als der des Laserstrahls ist, treten auch unter extremen
Meßbedingungen in der Praxis keine Probleme auf.
Da das Nachweissystem entsprechend obiger Beschreibung aufgebaut
ist, kann die Intensität des Laserstrahls im Laser-
Resonator optimal genutzt, und der Streulicht-Bereich minimiert
werden. Dementsprechend läßt sich das Signal-Rausch-
Verhältnis verbessern, und der Nachweis kleiner Teilchen
mit hoher Empfindlichkeit ausführen. Da der Durchmesser
des Probe-Luftstrahls bezüglich dem des Laserstrahls auf
einen optimalen Wert festgelegt ist, kann der Nachweis der
Teilchen mit hoher Genauigkeit erfolgen. Da daneben die Intensität
des Laserstrahls auf der Resonatoraberfläche abnimmt,
kann die Beinträchtigung der Spiegeloberfläche verhindert
und der Einfluß aufgrund ihrer Verschmutzung minimiert
werden. Damit läßt sich ein sehr zuverlässiges System
zum Nachweis kleiner Teilchen aufbauen.
Fig. 2 ist eine schematische Schnittansicht eines Ausführungsbeispiels
der Erfindung. Dabei zeigt Fig. 2(a) eine
Seitenansicht und Fig. 2(b) eine Draufsicht. Die Ausgabe 26
eines Laser-Oszillators 1′ wird in einen optischen Fabry-P´rot-Resonator
eingeführt, der aus den einander gegenüberstehenden Spiegeln
22, 22′ aufgebaut ist. Der Spiegel 22 ist teilweise durchlässig,
so daß der ausgegebene Laserstahl 26 durchtritt
und das Licht vom Spiegel 22′ reflektiert wird. Der in den
Resonator eintretende Laserstrahl 28 wird an den Spiegeln
22, 22′ wiederholt reflektiert. Dabei ist die Lichtintensität
in dem mit dem Laserstrahl in Resonanz stehenden optischen
Resonator im wesentlichen gleich der im Laser-
Oszillator, wenn die optischen Verluste an den Spiegeln vernachlässigt
werden. Im optischen Resonator ist eine Nachweiszelle
23 vorgesehen, in die von einer Einlaßdüse 24
eine Aerosol-Probe 27 so eingeführt wird, daß sie den
Laserstrahl kreuzt. Die Aerosol-Probe 27 wird mit einer Auslaßdüse
25 aus der Nachweiszelle abgezogen. Während dieser
Zeit streuen die im Aerosol enthaltenen kleinen Teilchen
das Laserlicht. Das gestreute Licht wird von einem aus Kondensorlinsen
bestehenden optischen System 9 kondensiert und
anschließend mit einem optischen Detektor 10 in ein elektrisches
Signal umgewandelt. Ein Spalt 11 ist so vorgesehen,
daß unerwünschtes Streulicht eliminiert wird, wodurch sich
eine Verbesserung des S/N-Verhältnisses ergibt.
Ein weiteres Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in Fig. 3
gezeigt. Nach diesem Ausführungsbeispiel ist ein optischer
Resonator aus einem im Ausgangsbereich eines Laser-Oszillators
1′′ vorgesehenen Spiegel 12 und einem weiteren Spiegel
22′ aufgebaut. In diesem Resonator ist eine Nachweiszelle
angeordnet. Dieser Aufbau ermöglicht eine Vereinfachung
des Nachweissystems. Auf eine detaillierte Beschreibung
dieses Ausführungsbeispiels wird hier verzichtet, da es im
wesentlichen mit dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 2 übereinstimmt.
Ein weiteres Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in Fig.
4 gezeigt. Der von einer Laser-Quelle ausgegebene Lichtstrahl
26 wird von einer Linse 13 so fokussiert, daß ein
Aerosol-Strom 27 den Lichtstrahl 14 im optimalen Durchmesserbereich
kreuzt. Der verwendete optische Resonator
besteht aus einem Spiegel 12 im Oszillator 1′′ und einem
weiteren Spiegel 22. Mit einer derart aufgebauten Zelle
läßt sich die Nachweisgenauigkeit steigern. Die Linsen können
auch mit dem optischen Resonator des Ausführungsbeispiels
nach Fig. 2 kombiniert werden.
Nach diesem Ausführungsbeispiel wird die Nachweisempfindlichkeit
erhöht, die genau so hoch wie die des Systems ist,
in dem eine Nachweiszelle in einem Laser-Resonator angeordnet
ist, und es besteht eine größere Freiheit für die Anordnung
der Nachweiszelle. Darüberhinaus kann der Durchmesser
des Laserstrahls eingestellt werden, ohne die Schwingbedingungen
für den Laser-Oszillator zu verändern. Dementsprechend
wird die Laser-Ausgabe stabil, und es läßt sich ein
Nachweissystem mit einem hohen praktischen Nutzwert erzielen.
Entsprechend der Ergebnisse der Gleichungen (1) bis (3)
kann der Resonator verschiedenartig modifiziert werden.
Neben einem He-Cd-Laser können beispielsweise auch Ne-,
Ar- und Kr-Gas-Laser oder verschiedene Festkörper-Laser
und Farbstoff-Laser Anwendung finden.
In den obigen Ausführungsbeispielen wurde der Nachweis kleiner
Teilchen in einem Gas beschrieben. Daneben kann die vorliegende
Erfindung ebenso auf den Nachweis kleiner Teilchen
in einer Flüssigkeit angewandt werden.
Nach dem unter Bezugnahme auf Fig. 4, 5 beschriebenen Ausführungsbeispielen
kann die Intensität eines Laserstrahls im
Laser-Resonator auf den höchstmöglichen Wert erhöht werden,
so daß der Laserstrahl ausgenutzt werden
kann. Ebenso können die Abmessungen des Streulicht-Bereichs
auf einen gewünschten minimalen Wert begrenzt und das
Signal-Rausch-Verhältnis gesteigert werden. Dadurch wird
mit dem beschriebenen System der Nachweis kleiner Teilchen
mit hoher Empfindlichkeit möglich.
Da die Durchmesser des Laserstrahls und des Probe-Luftstrahls
auf optimale Werte eingestellt sind, können die
kleinen Teilchen mit hoher Genauigkeit nachgewiesen werden.
Das ermöglicht die Herstellung eines Nachweissystems,
das für eine sehr genaue Erfassung kleiner Teilchen mit
einer Teilchengröße von nicht mehr als 0,1 µm und einer
geringen Dichte ausgelegt ist. Darüberhinaus läßt sich die
Beschädigung der Laser-Spiegel und der Einfluß ihrer Verschmutzung
verhindern, so daß das Nachweissystem eine
sehr hohe Zuverlässigkeit aufweist.
Claims (4)
1. Anordnung zum Nachweis kleiner Teilchen mit
einem Laser-Oszillator (1′, 1′′),
einer Nachweiszelle (23), durch die ein Probe-Sol-
Strom oder (27) geführt wird,
und mit einem optischen Detektor-Element (9, 10),
das das an dem Probe-Strom (27) gestreute Licht in
ein elektrisches Signal verwandelt,
dadurch gekennzeichnet, daß
- a) ein externer optischer Resonator (12, 22; 22′) vorgesehen ist, der mit dem Ausgangs-Laserstrahl (26) des Laser-Oszillators in Resonanz steht, und daß
- b) die Nachweiszelle in dem externen Resonator angeordnet ist.
2. Anordnung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
einer der den externen optischen Resonator aufbauenden
Spiegel (12) gleichzeitig als ein Spiegel zum Aufbau
des Laser-Oszillators (1′′) dient.
3. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß
in dem externen optischen Resonator (12, 22) eine Linse
(13) für die Veränderung des Durchmessers des Laserstrahls
(14) vorgesehen ist.
4. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß
der Durchmesser des Probe-Sol-Stroms oder des Probe-Aerosol-
Stroms (27) nicht größer als der minimale Durchmesser
des Laserstrahls ist.
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DE19853513035 Granted DE3513035A1 (de) | 1984-04-11 | 1985-04-11 | System zum nachweis kleiner teilchen |
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OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
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|
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: STREHL, P., DIPL.-ING. DIPL.-WIRTSCH.-ING. SCHUEBE |
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D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8328 | Change in the person/name/address of the agent |
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8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |