DE3507139A1 - Optisches system zum spur-abtasten eines informations-aufzeichnungstraegers - Google Patents
Optisches system zum spur-abtasten eines informations-aufzeichnungstraegersInfo
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- DE3507139A1 DE3507139A1 DE19853507139 DE3507139A DE3507139A1 DE 3507139 A1 DE3507139 A1 DE 3507139A1 DE 19853507139 DE19853507139 DE 19853507139 DE 3507139 A DE3507139 A DE 3507139A DE 3507139 A1 DE3507139 A1 DE 3507139A1
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Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Head (AREA)
Description
Henkel, Feiler, Hänzel & Partner .:..-..- -..-.:.. -..:. Patentanwälte
KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
Kawasaki, Japan
Kawasaki, Japan
Dr DHiI -j H-- - -
Dr ••it ί-ai ,. ■ - -
MKF-59P710-2
Optisches System zum Spur-Abtasten eines Informations-
Aufzeichnungsträgers
MKF-59P710-2
Kabushiki Kaisha Toshiba
Optisches System zum Spur-Abtasten eines Informations-Auf Zeichnungsträgers
Die Erfindung betrifft ein optisches System zum Spur-Abtasten eines Informations-AufZeichnungsträgers, etwa
einer optischen Platte, zum Aufzeichnen und Wiedergeben oder zum Aufzeichnen, Wiedergeben und Löschen von Informationen
mittels mehrerer Strahlen; insbesondere betrifft die Erfindung ein optisches System, das einen
Einzel 1ichtstrahl in mehrere Lichtstrahlen zu teilen
vermag.
In neuerer Zeit sind verschiedenartige optische (Aufzeichnungs/Wiedergabe-)Köpfe
zum Aufzeichnen von Infor-
mationen auf optischen Platten und zum Auslesen der Informationen
aus ihnen entwickelt und auf verschiedenen Gebieten eingesetzt worden. Mittels eines solchen optischen
Kopfes wird ein Laserstrahl, der entsprechend
der aufzuzeichnenden Information intensitätsmoduliert
25
wird, durch ein Objektiv (Linsensystem) auf eine sich drehende Aufzeichnungsfläche der optischen Platte fokussiert,
um eine fortlaufende Änderung des Zustands der Aufzeichnungsfläche, z.B. in Form sog. "Pits" bzw.
Grübchen o.dgl., zu bewirken oder eine optische Eigenschaft, wie Lichtbrech- oder Reflexionsvermögen der Platte
zu verändern, um auf diese Weise die Information auf der Aufzeichnungsfläche aufzuzeichnen. Wenn ein Wiedergabe-Laserstrahl
mittels des Objektivs auf die Aufzeichnungsfläche fokussiert wird, erfährt er eine Lichtintensitäts-35
modulation durch die Bereiche mit fortlaufend verändertem Zustand. Das Auslesen der Information erfolgt dabei
35Ü7139
dadurch, daß der Wiedergabe-Laserstrahl durch einen optischen Detektor in ein elektrisches Signal umgesetzt wird.
Eine optische Platte mit einer Führungs-Spur oder Spurführung (tracking guide) zur Bezeichnung eines Bereichs
oder einer Fläche, in welchem bzw. welcher Informationen aufgezeichnet werden sollen, ist an sich bekannt. Gleichfalls
bekannt ist ein optischer Kopf zum Aufzeichnen von Informationen auf einer optischen Platte bei gleichzeitiger
Bestätigung, daß die Information in der Spur genau aufgezeichnet worden ist. Bei einem solchen optischen
Kopf, bei dem ein Wiedergabestrahl nicht nur bei Wiedergabe, sondern auch bei Aufzeichnung auf die optische
Platte fokussiert wird, wird ein mittels eines Aufzeichnungsstrahls abgetasteter (traced) Bereich (gleichzeitig)
auch durch einen Wiedergabelichtstrahl abgetastet. Es kann sich daher möglicherweise als unmöglich erweisen,
eine evtl. Abweichung eines Aufzeichnungslichtstrahls
von einer vorbestimmten Spur und damit auch eine mögliche Beschädigung zu verhindern, die durch den Aufzeichnungslichtstrahl an einem vom Aufzeichnungsbereich verschiedenen
Bereich hervorgerufen wird. Wenn zudem in der Spur fehlerhafte Bereiche vorhanden sind, die nicht festgestellt
werden können, kann es sich als unmöglich erweisen, in diesen fehlerhaften Bereichen Informationen
aufzuzeichnen.
Zur Lösung des oben geschilderten Problems sind bereits
optische Köpfe entwickelt worden, bei denen zusätzlich zu einem Aufzeichnungs/Wiedergabelichtstrahl ein Voroder
Leitstrahl auf eine optische Platte und die mittels Aufzeichnungs- und Wiedergabelichtstrahls abgetastete
Fläche gebündelt wird (vgl. USA-Patentanmeldung Serial No. 673,764 und die entsprechende EP-OS 84 114 044.5).
Bei derartigen optischen Köpfen müssen mehrere Lichtstrahlen unter geringfügig verschiedenen Einfallswinkeln
ORIGINAL INSPECTED
.*, Λ 35G7139
auf die optische Platte gerichtet werden. Bisher wurde jedoch noch kein optisches System vorgeschlagen, das diesem
Erfordernis zu genügen vermag.
Aufgabe der Erfindung ist damit die Schaffung eines optischen Systems zum Fokussieren mehrerer (Licht-)Strahlen
auf einen Informations-Aufzeichnungsträger, wobei dieses System mehrere Lichtstrahlen zu erzeugen vermag, die unter
geringfügig unterschiedlichen Einfallswinkeln auf
den Aufzeichnungsträger auftreffen.
Diese Aufgabe wird bei einem optischen System zum Spur-Abtasten eines Informations-AufZeichnungsträgers mit
mehreren Strahlen erfindungsgemäß gelöst durch eine
Lichtquelle mit einem einzigen ersten Lichtstrahlemissionspunkt, um an letzterem einen einzigen Lichtstrahl zu
liefern, eine Einrichtung zum Aufteilen des einzigen Lichtstrahls in zwei oder mehr Lichtstrahlen(bündel) und
2Q zum Leiten derselben in zueinander geringfügig verschiedenen
Richtungen und ein Objektiv oder Linsensystem zum Konvergieren eines Lichtstrahls zu einer für Aufzeichnung
und Wiedergabe geeigneten Aufzeichnungsfläche.
2g Im folgenden sind bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung
anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 ein Blockschaltbild eines optischen Kopfes gemäß
der Erfindung,
Fig. 2 eine schaubildliche Darstellung der Bahn eines
Laserstrahls bei einem Objektiv-Linsensystem gemäß Fig. 1 ,
Fig. 3 ein Blockschaltbild einer Aufzeichnungslaser-Treiberschaltung
gemäß Fig. 1,
" ■ 9-
Fig. 4 ein Blockschaltbild einer Abwandlung der Schaltung nach Fig. 3,
Fig. 5 ein Blockschaltbild zur näheren Veranschaulichung
des optischen Kopfes gemäß Fig. 1,
Fig. 6 eine schematische Darstellung der optischen Anordnung des optischen Kopfes nach Fig. 6,
IO
Fig. 7 und 8 eine Seitenansicht bzw. eine schaubildliche
Darstellung eines optischen Systems zum Trennen eines Multiplex-Laserstrahls in einen Aufzeichnungs-,
einen Wiedergabe- und einen Leitlaserstrahl,
Fig. 9 und 10 schematische Darstellungen einer optischen
Anordnung eines Prismen-Teilerabschnitts zum Aufteilen eines einzigen Laserstrahls in mehrere Laserstrahlen,
Fig. 11 eine schematische Schnittdarstellung eines reflektierenden
Elements bei einem Prismen-Teilerabschnitt zum Aufteilen eines Einzellaserstrahls
in mehrere Strahlen,
Fig. 12 eine schematische Darstellung der optischen Anordnung eines anderen Prismen-Teilerabschnitts
zum Aufteilen eines einzigen Laserstrahls in mehrere Strahlen,
Fig. 13 eine schematische Schnittdarstellung eines anderen
reflektierenden Elements für einen Prismen-Teilerabschnitt
zum Aufteilen eines einzigen Laserstrahls in mehrere Laserstrahlen,
Fig. 14 eine schematische Schnittdarstellung eines Durch-
laßelements bei einem Prismen-Teilerabschnitt
zum Aufteilen eines einzigen Laserstrahls in mehrere Strahlenbündel) und
5
Fig. 15 eine schematische Darstellung der ein Durchlaßelement nach Fig. 14 verwendenden optischen Anordnung
eines Strahlteilerabschnitts zum Aufteilen eines einzigen Laserstrahls in mehrere Strahlen(bündel).
Bei dem in Fig. 1 dargestellten optischen Aufzeichnungs/
Wiedergabe-Kopf gemäß einer Ausführungsform der Erfindung
wird ein Aufzeichnungs-Laser, z.B. ein Halbleiter-Laser 11, durch eine Aufzeichnungslaser-Ansteuer- oder -Treiberschaltung
13 in einem Aufzeichnungsmodus nach Maßgabe eines Aufzeichnungssignals von einem Aufzeichnungs-Signalgenerator
12 angesteuert. Ein vom Aufzeichnungs-Laser 11 erzeugter Laserstrahl wird entsprechend dem Aufzeichnungssignal
intensitätsmoduliert. Der so modulierte Aufzeichnungs-Laserstrahl wird zu einem Lichtverarbeitungsteil
(photoprocessing section) 19 zum Multiplexen mehrerer Licht- oder Laserstrahlen und zum Trennen der
gebündelten Lichtstrahlen geliefert. Zusätzlich zum Aufzeichnungs-Laserstrahl
erzeugt der Aufzeichnungs-Laser 11 auch einen Überwachungs-Laserstrahl, der durch eine
Überwachungsschaltung 15 in ein elektrisches Signal umgesetzt wird. Letzteres wird als Rückkopplungssignal
der Treiberschaltung 13 zugeführt. Der Aufzeichnungs-Laser 11 erzeugt somit einen intensitätsmodulierten
Aufzeichnungs-Laserstrahl eines vorgegebenen Intensitätspegels.
Der Lichtverarbeitungsteil 19 empfängt auch einen anderen,
einen vorgegebenen konstanten Pegel besitzenden Laserstrahl, der von einem Wiedergabe- und Leit-Laser, z.B.
einem Halbleiter- Laser 16 erzeugt wird, der seinerseits
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sowohl im Wiedergabe- als auch im Aufzeichnungsmodus
durch eine Wiedergabe- und Leitlaser-Treiberschaltung betrieben bzw. angesteuert wird. Der vom Laser 16 emittierte
Laserstrahl wird im Lichtverarbeitungsteil 19 in Wiedergabe- und Leit-Laserstrahlen aufgeteilt. Zusätzlich zu
den Wiedergabe- und Leit-Laserstrahlen erzeugt der Laser 16 auch den Überwachungs-Laserstrahl, der durch eine
Wiedergabe- und Leit-Überwachungsschaltung 117 in ein elektrisches Signal umgewandelt wird, das seinerseits
als Rückkopplungssignal zur Laser-Treiberschaltung rückgekoppelt wird. Der Wiedergabe- und Leit-Laser 16
liefert dabei den Laserstrahl mit einem vorgegebenen konstanten Intensitätspegel.
Die Aufzeichnungs-, Wiedergabe- und Leit-Laserstrahlen werden im Aufzeichnungsmodus bzw. in der Aufzeichnungsbetriebsart durch den Lichtverarbeitungsteil 19 gebündelt
(multiplexed) . Im Wiedergabemodus bzw. in der Wiedergabebetriebsart werden die Wiedergabe- und Leit-Laserstrahlen
durch den Lichtverarbeitungsteil 19 gebündelt. In Aufzeichnungs- und Wiedergabemodus werden
die gebündelten (multiplex-verknüpften) Laserstrahlen über einen einzigen Strahlengang in ein Objektiv 20 gerichtet.
Gemäß Fig. 2 wird der gebündelte Laserstrahl durch das Objektiv 20 fokussiert, um auf einer lichtreflektierenden
Fläche (d.h. einer Aufzeichnungsfläche 22) der einer Aufzeichnung/Wiedergabe unterworfenen
optischen Platte 21 einen Strahlfleck zu bilden. Wenn im Aufzeichnungsmodus das Objektiv 20 im Fokussierzustand
gehalten wird, werden Aufzeichnungs-, Wiedergabe- und Leit-Strahlflache 24, 25 bzw. 26 entsprechend den
Aufzeichnungs-, Wiedergabe- und Leit-Laserstrahlen in kleinen gegenseitigen Abständen auf einer Aufzeichnungs-Spur
23 auf der Aufzeichnungsfläche 22 erzeugt. Wenn das
Objektiv im Wiedergabemodus im Fokussierzustand gehalten wird, werden auf der Spur 23 der Aufzeichnungsfläche
ORIGINAL INSPECTED
Wiedergabe- und Leit-Strahlflecke 25 bzw. 26 entsprechend
den Wiedergabe- und Leit-Laserstrahlen in einem kleinen gegenseitigen Abstand erzeugt. Wenn die optische Platte
21 in Drehung versetzt wird, werden die betreffenden Bereiche der Spur 23 in der Reihenfolge des Leit-Strahlflecks
26, des Aufzeichnungs-Strahlflecks 24 und des Wiedergabe-Strahlflecks 25 aufeinanderfolgend abgetastet.
Wenn die Intensität des Aufzeichnungs-Laserstrahls eine vorbestimmte Größe übersteigt, ergibt sich auf dem Aufzeichnungsflächenbereich, auf dem der Aufzeichnungs-Strahl
fleck erzeugt wird, eine Eigenschaftsänderung (z.B. die Entstehung eines Grübchens ("Pit") oder eine Änderung
der optischen Eigenschaften, wie Brechungs- oder Reflektionsindex)
. Auf diese Weise wird auf der Aufzeichnungsfläche nach Maßgabe der Aufzeichnungsinformation
(jeweils) ein im folgenden als "Pit" bezeichnetes Grübchen erzeugt oder eine Änderung der optischen Eigenschaften
der Aufzeichnungsfläche hervorgerufen. Wenn die
Aufzeichnungsfläche 22 mit dem Wiedergabe-Laserstrahl eines vorgegebenen konstanten Pegels bestrahlt wird und
der Wiedergabe-Strahlfleck 25 die Aufzeichnungs-Spur 23
abtastet, erfährt der Wiedergabestrahl eine Intensitätsmodulation in den Bereichen, in denen die Pits erzeugt
sind oder sich die optischen Eigenschaften, wie Brechungsoder Reflektionsindex, ändern. Wenn der Leit-Strahlfleck
einen Bereich erreicht, in welchem Zusatzinformationen bezüglich Spuradresse und Sektoradresse in Form von
Pits 33 aufgezeichnet sind, erfährt der Leit-Laserstrahl eine entsprechende Intensitätsmodulation.
Der von der Aufzeichnungsfläche 22 reflektierte Laserstrahl
tritt durch das Objektiv 20 hindurch und in den Lichtverarbeitungsteil 19 ein. Der Laserstrahl wird durch
den Lichtverarbeitungsteil 19 in den Aufzeichnungs-Laserstrahl,
den Wiedergabe-Laserstrahl und den Leit-Laserstrahl aufgeteilt. Der Aufzeichnungs-Laserstrahl wird dabei
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' /13·
gedämpft oder abgeschirmt. Der Wiedergabe-Laserstrahl wird in ein elektrisches Signal umgewandelt, das einem
Informationsdetektor 28 zum Reproduzieren der auf der Aufzeichnungsfläche 22 der optischen Platte 21 aufgezeichneten
Information, einem Defokussierdetektor 30 zur Feststellung eines defokussierten Zustands des Objektivs
20 und einem Fotodetektor in einem Spurfehlerdetektor zur Feststellung, ob der Laserstrahl die Aufzeichnungs-Spur
23 einwandfrei abtastet oder verfolgt, eingespeist wird. Der Leit-Laserstrahl wird auch auf einen Fotodetektor
eines zusätzlichen Informationsdetors 27 geworfen, der zum Reproduzieren der auf der Aufzeichnungsfläche
22 der optischen Platte 21 aufgezeichneten Zusatz- oder Hi Ifsinformation (für Spuradresse und Sektoradresse)
dient. Die vom Dekofussierdetektor 30 und vom Spurfehlerdetektor 29 gelieferten Signale werden einem
Defokussier- und Spurfehlersignalgenerator 31 eingespeist, um in ein Defokussier- und ein Spurfehlersignal umgewandelt
zu werden, die einer Objektiv-Treibereinheit zugeführt werden, welche ihrerseits das Objektiv 20 längs
seiner optischen Achse bewegt und es in einer Richtung senkrecht zur Aufzeichnungs-Spur verschiebt. Das Objektiv
20 wird auf diese Weise im Fokussierzustand gehalten und in einer solchen Richtung ausgerichtet, daß der
Laserstrahl die Aufzeichnungs-Spur einwandfrei abzutasten oder zu verfolgen vermag.
Die Aufzeichnungslaser-Treiberschaltung 13 besitzt den in Fig. 3 im einzelnen gezeigten Aufbau. Der Aufzeichnungs-Laser
11 ist dabei über eine Torschaltung (gate) 40 und einen Strom/Spannungswandler 41 mit einer Konstantspannungsquelle
39 verbunden. Der Strom/Spannungswandler 41 ist seinerseits an einen Schaltkreis 42 angeschlossen,
der betätigbar ist, um einen Bezugsspannungsgenerator 43 mit dem Strom/Spannungswandler 41 zu ver-
•fk-
binden, wenn der Aufzeichnungs-Laser 13 bzw. 11 angesteuert
ist. Der Strom/Spannungswandler 41 wird durch eine vom Bezugsspannungsgenerator 43 zugeführte Bezugsspannung
betätigt, wenn die Aufzeichnungslaser-Treiberschaltung 13 aktiviert ist. Die Torschaltung 40 ist mit
dem Aufzeichnungssignalgenerator 12 verbunden und wird
in Abhängigkeit von dem durch diesen erzeugten Aufzeichnungssignal durchgeschaltet und gesperrt. Eine Lichtintensitäts-Modulationsspannung
wird durch den Strom/ Spannungswandler 41 in ein Stromsignal umgewandelt. Letzteres wird dem Aufzeichnungs-Laser 11 zugeführt,
der nach Maßgabe dieses Aufzeichnungssignals einen Laserstrahl erzeugt. Der Schaltkreis 42 wird betätigt, um den
Strom/Spannungswandler 41 nach dem Aktivieren der Aufzeichnungslaser-Treiberschaltung
13 mit einem Komparator 45 zu verbinden. Der Aufzeichnungssignalgenerator 12 ist
außerdem an eine Abtast/Halteschaltung 44 angeschlossen, die ihrerseits mit einer Monitor- oder Überwachungschaltung
15 zum Überwachen des vom Aufzeichnungs-Laser 11 erzeugten Laserstrahls verbunden ist. Bei jedesmaliger
Erzeugung des entsprechenden Signals (EIN-Signals) durch
den Aufzeichnungssignalgenerator 12 wird somit ein Überwachungsausgangssignal von der überwachungsschaltung 15
durch die Abtast/Halteschaltung 44 abgegriffen bzw. abgetastet. Mit anderen Worten : jedesmal dann, wenn der
Aufzeichnungs-Laser 11 den Laserstrahl erzeugt, wird die Lichtintensität abgetastet (sampled). Das Abtastausgangssignal
wird durch den Komparator 45 mit der Bezugsspannung vom Bezugsspannungsgenerator 43 verglichen. Ein
Vergleichsergebnis wird dem Strom/Spannungswandler 41 über den Schaltkreis 42 zugeführt. Der vom Strom/Spannungswandler
41 zum Aufzeichnungs-Laser 11 fließende Strom wird (dabei) so eingestellt, daß der Ausgangs-Laserstrahl
vom Aufzeichnungs-Laser 11 konstant bleibt. Gemäß Fig. 4 kann anstelle der Abtast/Halteschaltung 44 nach Fig. 3
ein Spitzendetektor 46 vorgesehen sein. In diesem Fall
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kann eine Spitze oder ein Scheitel des überwachungsausgangssignals
von der Überwachungschaltung 15 durch den Spitzendetekor 46 abgetastet werden. 5
Gemäß Fig. 5 umfaßt der Lichtverarbeitungsteil 19 einen
Strahlteilerabschnitt 35, einen optischen Multiplexer 36 zum Bündeln oder Multiplexen mehrerer Laserstrahlen,
einen optischen Trenner 37 zur Verhinderung eines Zurücklaufens des Laserstrahls zu den Lasereinheiten 15 und
16 sowie einen Laserstrahl-Separator 38 zum Auftrennen der gebündelten Laserstrahlen. Gemäß Fig. 6 umfaßt der
Strahlteilerabschnitt 35 insbesondere einen optischen Refraktor, etwa ein Prisma 60, und eine Kollimatorlinse
61, während der optische Multiplexer 3 ein dichroitisches Prisma 62 und ein Filter 63 aufweist. Der optische
Trenner oder Isolator 37 umfaßt einen polarisierenden Strahlteiler 64 und eine Λ/4-Scheibe 65, während der
Laserstrahl-Separator 38 eine Messerschneide 53 aufweist.
Bei dem in Fig. 6 dargestellten optischen System wird
der von der Lasereinheit 16 emittierte Einzellaserstrahl durch die Kollimatorlinse 62 kollimiert und durch das
Prisma 61 gebrochen, so daß der Einzel laserstrahl in die Wiedergabe- und Leit-Laserstrahlen aufgetrennt wird. Die
aufgetrennten Licht- oder Laserstrahlen fallen in das dichroitische Prisma 62 ein. Die Wiedergabe- und Leit-Laserstrahlen
besitzen jeweils eine Wellenlänge von 780 nm. Diese Laserstrahlen werden durch das dichroitische
Prisma 62 reflektiert und auf den polarisierenden Strahlteiler 64 geworfen. Der vom Aufzeichnungs-Laser 11
emittierte Aufzeichnungs-Laserstrahl wird auf dieselbe Weise, wie vorstehend beschrieben, durch eine Kollimator-Linse
48 kollimiert. Dabei tritt ein kollimierter Laserstrahl in das dichroitische Prisma 62 ein. Der Aufzeichnungs-Laserstrahl
besitzt eine Wellenlänge von 830 nm, so daß er durch das dichroitische Prisma 62 hindurch-
-W-
· Abtritt und auf demselben Strahlengang wie Wiedergabe- und
Leit-Laserstrahlen auf den polarisierenden Strahlteiler 64 auftrifft. Die vom polarisierenden Strahlteiler 64 gelieferten
Aufzeichnungs-, Wiedergabe- und Leit-Laserstrahlen fallen über die X/4-Scheibe 65 in das Objektiv
20 ein und werden durch dieses fokussiert, um auf der Aufzeichnungsfläche 22 entsprechende Aufzeichnungs-,
Wiedergabe- und Leit-Strahlflecke 24, 25 bzw. 26 zu erzeugen.
Die von der Aufzeichnungsfläche 22 reflektierten Laserstrahlen werden über das Objektiv 20 und die ?i/4-Scheibe
65 auf den polarisierenden Strahlteiler 64 geworfen. Wenn der Laserstrahl die Λ/4-Scheibe 65 durchläuft
(reciprocates), wird die Polarisationsebene des Laserstrahls um 90° gedreht. Infolgedessen wird der
Laserstrahl durch den polarisierenden Strahlteiler 64 reflektiert. Die vom polarisierenden Strahlteiler 64
reflektierten Aufzeichnungs-, Wiedergabe- und Leit-Laserstrahlen
werden durch eine Projektionslinse 52 fokussiert und durch die Messerschneide 53 i η die Aufzeichnungs-, Wiedergabe-
und Leit-Laserstrahlen aufgetrennt. Der Aufzeichnungs-Laserstrahl wird durch die Messerschneide 53 gedämpft,
reflektiert oder abgeschirmt. Der Wiedergabe-Laserstrahl wird auf den Informationsdetektor 28, den Defokussierdetektor
30 und den Fotodetektor 51 des Spurfehlerdetektors 29 geworfen. Der Leit-Laserstrahl fällt dagegen
auf den Fotodetektor 54 des Zusatzinformationsdetektors 27.
Im folgenden ist ein optisches System zum Auftrennen des gebündelten (multiplexed) Laserstrahls in die Aufzeichnungs-,
Wiedergabe- und Leit-Laserstrahlen anhand der Fig. 7 und 8 im einzelnen erläutert. Bei der Anordnung
gemäß Fig. 7 und 8 ist die Messerschneide 53 oder die Lichtabschirmplatte 53 in den Strahlbrennpunkten (beam
waists) der Aufzeichnungs-, Wiedergabe- und Leit-Laserstrahlen angeordnet, die durch die Projektionslinse 52
35G7139 _^_ · ' ■-■-■ ■
im Fokussier- bzw. Scharfstellzustand bestimmt werden.
Die Strahlbrennpunkte der Aufzeichnungs- und Leit-Laserstrahlen werden auf der Messerschneide oder Lichtabschirmplatte
53 erzeugt. Genauer gesagt: die Messerschneide ist aus der Richtung Y her eingeführt und erstreckt sich
längs der Richtung X in der Weise, daß die Kante oder Schneide mit der optischen Achse der Projektionslinse
ausgefluchtet ist. Die Richtung Y ist als die Richtung definiert, in welcher sich ein Bild der Aufzeichnungs-Spur
der optischen Platte erstreckt, wenn dieses zum Fotodetektor 51 durch ein optisches System projiziert
wird, das zwischen der Aufzeichnungsfläche 22 (d.h. der
lichtreflektierenden Fläche) der optischen Platte 21
IQ und dem Fotodetektor 51 angeordnet ist. Die Richtung X
ist als die senkrecht zur Richtung Y liegende Richtung definiert. Wie vorstehend beschrieben, werden die Aufzeichnungs-,
Wiedergabe- und Leit-Laserstrahlen zu sehr eng beabstandeten Strahlflecken 24, 25 bzw. 26 auf der
Aufzeichnungs-Spur 23 der Aufzeichnungsfläche 22 fokussiert,
wenn das Objektiv (Linsensystem) im Fokussierzustand gehalten wird. Ein Aufzeichnungs-Laserstrahl 14, ein Wiedergabe-Laserstrahl
17 und ein Leit-Laserstrahl 18, die von den die Strahlflecke 24, 25 bzw. 26 aufweisenden Bereichen
reflektiert und über das Objektiv 20 zur Projektionslinse 52 übertragen werden, liegen nicht parallel zu
Hauptlichtstrahlen W, R bzw. P, sondern sind diesen gegenüber gemäß Fig. 7 und 8 geneigt. Die Strahlbrennpunkte
werden daher an verschiedenen Stellen auf der Brennfläche der Projektionslinse 52 erzeugt. Da die
Messerschneide oder Lichtabschirmplatte 53 so angeordnet ist, daß die Aufzeichnungs- und Leit-Strahlflecke
auf der Messerschneide oder Lichtabschirmplatte 53 gebildet werden, fällt nur der Wiedergabe-Laserstrahl 17
auf den Defokussierdetektor 30, den Informationsdetektor 28 und den Fotodetektor 51 des Spurfehlerdetektors
Der Fotodetektor 47 erfaßt somit das die Information darstellende Aufzeichnungssignal, das den defokussierten
Zustand angebende Defokussiersignal und das einen Spur(f(jhrungs)fehler angebende Spurführungssignal.
Bei der Anordnung gemäß Fig. 7 und 8 ist ein meßfreier oder lichtunterdrückender Abschnitt 55 auf einem Bereich
der Messerschneide oder Lichtabschirmplatte 53 vorgesehen, auf dem sich im Fokussierzustand der Aufzeichnungs-Strahlfleck
befindet. Ein Fotodetektor 54 des zusätzlichen Detektors 27 zum Abgreifen des Leit-Laserstrahls
ist auf einem Abschnitt der Messerschneide oder Lichtabschirmplatte 53 angeordnet, auf dem der Leit-Strahlfleck
im Fokussierzustand erzeugt wird. Der Aufzeichnungs-Laserstrahl wird durch den meßfreien Abschnitt
der Lichtabschirmplatte 53 abgeschirmt oder unterdrückt. In diesem Fall wird der Leit-Laserstrahl
durch den Fotodetektor 54 in ein elektrisches Zusatzinformationssignal für Spur- und Sektorpositionen umgewandelt.
Der als Defokussierdetektor 30, als Informationsdetektor
28 und als Spurfehlerdetektor 29 dienende Fotodetektor
51 weist vier Fotodetektor- oder Lichtmeßbereiche 51-1, 51-2, 51-3 und 51-4 auf. Die Lichtmeßbereiche 51-1 und
51-4 sind, ebenso wie die Lichtmeßbereiche 51-2 und 51-3, in Y-Richtung angeordnet. Die Lichtmeßbereiche 51-1 und
51-2 sind (weiterhin), ebenso wie die Lichtmeßbereiche 51-3 und 51-4,längs der X-Richtung angeordnet. Die vier
rechteckigen Lichtmeßbereiche 51-1 bis 51-4 sind so ausgebildet, daß der Hauptlichtstrahl R des Wiedergabe-Laserstrahls
17 den Schnittpunkt dieser Bereiche passiert, Beim Fotodetektor 51 werden durch die Lichtmeßbereiche
51-1 bis 51-4 vier Meßsignale der Pegel L1, L2, L3, bzw. L4 geliefert.
3 5 C 7139 :
-vC-
■β-
Das Wiedergabesignal wird durch Addieren der vier von den Lichtmeßbereichen 51-1 bis 51-4 reproduzierten Meßsignale
der Pegel L1, L2, L3 bzw. L4 erhalten, um damit ein Summensignal (L1 + L2 + L3 + L4) zu gewinnen und
somit die auf der Aufzeichnungsfläche 22 der optischen Platte 21 aufgezeichnete Information zu reproduzieren
bzw. wiederzugeben.
Das Defokussiermeßsignal wird in der Weise erzeugt, daß erstes und zweites Meßsignal durch den Addierer zu einer
Summe addiert werden, drittes und viertes Meßsignal durch einen anderen Addierer zu einer Summe addiert werden und
die Differenz zwischen diesen Summen durch einen Operationsverstärker abgeleitet wird. Mit anderen Worten:
das Defokussiersignal wird durch ein Differenzsignal {(L1 + L2) - (L3 + L4)J erzeugt.
Wenn das Objektiv 20 im Scharfstell- oder Fokussierzustand gehalten wird, in welchem ein kleinster Strahlfleck
entsprechend dem Strahlbrennpunkt des durch das Objektiv 20 fokussierten Laserstrahls auf der Aufzeichnungsfläche
22 der optischen Platte 21 erzeugt wird, befindet sich gemäß Fig. 8 der durch die Projektionslinse 52 gebildete
Strahlbrennpunkt (beam waist) des Wiedergabe-Laserstrahls 17 in der Nähe der Messerschneide 53. Infolgedessen
beträgt das Defokussiermeßsignal ^(L1 + L2) - (13 + L4)} nahezu Null. Wenn dagegen das Objektiv von
der optischen Platte 21 hinweg verschoben und im Defokussierzustand gehalten wird, wird der Strahlbrennpunkt
des Wiedergabe-Laserstrahls durch die Projektionslinse 52 zwischen der Messerschneide 53 und der
Projektionslinse 52 erzeugt. Infolgedessen entspricht das Defokussiermeßsignal {(L1 + L2) - (L3 + L4)} nicht
der Größe Null, sondern einer positiven Größe. Wenn sich andererseits das Objektiv 20 aus der Fokussierstellung
! 'WPPECTED
35C7139
-w-
der optischen Platte 21 annähert und in einen Defokussierzustand übergeht, wird der Strahlbrennpunkt des
Wiedergabe-Laserstrahls 17 durch die Projektionslinse
52 zwischen der Messerschneide 53 und dem Fotodetektor .51 entwickelt. In diesem Fall entspricht das Defokussiermeßsignal
{(L1 + L2) - (L3 + L4)J nicht Null, sondern einer negativen Größe. Wenn dieses Defokussiermeßsignal
der Objektiv-Treibereinheit 32 zugeführt wird, wird das Objektiv (Linsensystem) 20 stets im Fokussierzustand
gehalten.
Das Spur(führungs)fehlersignal wird in der Weise erhalten
oder abgeleitet, daß erstes und viertes Meßsignaldurch einen Addierer addiert werden, zweites und
drittes Meßsignal durch einen (anderen) Addierer addiert werden und eine Differenz zwischen den von diesen
Addierern gelieferten Summen durch einen Operationsverstärker verstärkt wird. Dies bedeutet, daß das Spurfehlersignal
als Differenzsignal {(L1 + L4) - (L2 + L3)} erzeugt oder geliefert wird.
Wenn der Laserstrahl die Führungs- oder Aufzeichnungsspur einwandfrei abtastet, wird das Objektiv 20 so be-
tätigt oder betrieben, daß ein Beugungsmuster der Aufzeichnungs-Spur 23 auf einer Lichtempfangsfläche des
Fotodetektors 51 symmetrisch um eine Achse des Fotodetektors 51 herum parallel zur Y-Achse erzeugt wird.
Demzufolge entspricht das Spurfehlersignal -£(L1 + L4) (L2
+ L3)3 praktisch Null. Wenn dagegen der Laserstrahl die Aufzeichnungs-Spur oder Spurführung nicht einwandfrei
abtastet, wird das Beugungsmuster der Spur 23 auf der Lichtempfangsfläche des Fotodetektors 51 in asymmetrischer
Form um die Achse des Fotodetektors 51 parallel
zur Y-Achse gebildet. In diesem Fall entspricht das Spurfehlersignal {(L1 + L4) - (L2 + L3)} nicht Null,
35C7139 . ..-" ".
-Ί6--
.a*- sondern einer negativen oder positiven Größe. Dieses
Spurfehlersignal wird der Objektiv-Treibereinheit 32 zugeführt, und das Objektiv 20 wird so ausgerichtet, daß der
aus ihm austretende Laserstrahl die betreffende Spur oder Spurführung einwandfrei verfolgt.
Im folgenden ist das optische System des Strahlteilerabschnitts
35 beschrieben. Das optische System des Strahlteilerabschnitts 35 gemäß Fig. 6 ist in Fig. 9 in
vereinfachter Form als optische Anordnung dargestellt.
Gemäß Fig. 9 umfaßt das Prisma 60 zum Aufteilen eines einzigen Laserstrahls in zwei Laserstrahlen eine senkrecht
zur optischen Achse 59 liegende Lichteinfallsfläche 60-1,
eine erste, parallel zur Lichteinfallsfläche 60-1 liegende
Lichtaustrittsfläche 60-2 und eine zweite Lichtaustrittsfläche
60-3, die nicht parallel zur Lichteinfallsfläche 60-1 liegt. Der von der Halbleiter-Lasereinheit
11 emittierte und durch die Kollimatorlinse 61 auf
einen größeren Durchmesser als dem des Objektivs 20 kollimierte
Laserstrahl fällt auf die Lichteinfallsfläche
60-1 und tritt an den Lichtaustrittsflächen 60-2 und 60-3 aus. In diesem Fall läuft der an der ersten Lichtaustrittsfläche
60-2 austretende Lichtstrahlanteil, d.h.
der Wiedergabe-Lichtstrahl, geradlinig, d.h. ohne Brechung, zum Objektiv 20, während der an der zweiten
Lichtaustrittsfläche 60-2 austretende Lichtstrahlanteil,
d.h. der Leit-Lichtstrahl, lurch die zweite Lichtaustrittsfläche 60-2 gebrochen wird, so daß er sich in
einer Richtung ausbreitet, die von der Richtung verschieden ist, in welcher der an der ersten Lichtaustrittsfläche
60-2 austretende Lichtstrahlanteil verläuft. Demzufolge fallen zwei kollimierte Lichtstrahlen in verschiedenen
Richtungen auf das Objektiv 20, so daß konvergierte oder gesammelte Lichtstrahlflecken mit
einem sehr kleinen gegenseitigen Abstand auf der Auf-
-vr-
zeichnungs-Spur oder Spurführung (tracking guide) an der
lichtreflektierenden Schicht 21 erzeugt werden. Bei der
optischen Anordnung gemäß Fig. 9 wird ein virtuelles Bild des Lichtflecks der Lasereinheit 11 zusätzlich zum tatsächlichen
Bild des Lichtflecks der Lasereinheit 11 als Objektivpunkt oder Objektpunkt durch das Prisma 60 gebildet.
Dies bedeutet, daß durch die Kollimatorlinse 61 und das Objektiv 20 tatsächliche und virtuelle Bilder
erzeugt werden.
Ersichtlicherweise verwendet ein optisches System zum
Auftrennen eines einzigen Lichtstrahls in drei Lichtstrahlen gemäß Fig. 10 ein Prisma 60 mit einer Lichteinfallsflache
60-1, einer ersten, parallel zur Lichteinfallsfläche
60-1 liegenden Lichtautrittsflache 60-2 sowie einer zweiten und einer dritten Lichtaustrittsfläche
60-3 bzw. 60-4, die nicht parallel zur Lichteinfall sflache 60-1 liegen. Während sich die an der
ersten Lichtaustrittsfläche 60-2 austretende Lichtstrahlkomponente
auf geradem Wege zum Objektiv 20 bewegt, werden die an zweiter und dritter Lichtaustrittsfläche 60-3
bzw. 60-4 austretenden Lichtstrahlkomponenten durch diese Flächen 60-3 und 60-4 gebrochen, so daß sie zum
Objektiv 20 in Richtungen laufen, die von der Richtung der an der ersten Lichtaustrittsfläche 60-2 austretenden Komponente
verschieden sind, so daß auf der lichtreflektierenden Fläche 21 ein konvergierter bzw. gesammelter Lichtstrahlfleck erzeugt
wird. Das optische System des Strahlteilerabschnitts 35
ist nicht auf die Anordnungen gemäß Fig. 9 und 10 beschränkt, die sich auf die Lichtbrechung stützen, vielmehr
kann auch gemäß den Fig. 11 bis 15 ein optisches System angewandt werden, das ein reflektierendes Element
verwendet.
Das in Fig. 12 dargestellte optische System arbeitet mit
35 "'39 -1-8--
! -33-
einem reflektierenden Element 70 gemäß Fig. 11. Das reflektierende Element 70 ist eine Glasplatte eines keilförmigen
Querschnittsprofils. Genauer gesagt: dieses Element besitzt eine Oberseite 72 und eine Unterseite
73, die nicht parallel zueinander angeordnet und optisch flach ausgebildet sind, wobei die Unterseite unter einem
Winkel««gegenüber der Oberseite schräggestellt oder geneigt
ist. Ober- und Unterseite 72 bzw. 73 sind jeweils mit Überzugsschichten 70-1 bzw. 70-2 versehen, die
zweckmäßige Lichtreflexions- und Lichtdurchlaßeigenschaften entsprechend dem Lichtintensitätsverhältnis der
Lichtstrahlen, das als Folge der Teilung eines einzigen Laserstrahls erzielt werden soll, besitzen. Beispielsweise
besitzt die Überzugsschicht 70-1 auf der Oberseite 72 ein Lichtreflexionsvermögen von 38% und eine
Lichtdurchlässigkeit von 62%, während die Überzugsschicht 70-2 auf der Unterseite 73 ein Lichtreflexionsvermögen
von 100% und eine Lichtdurchlässigkeit von 0% besitzt.
Wenn gemäß Fig. 12 ein einziger Laserstrahl La auf die Oberseite 72 des reflektierenden Elements 70 gerichtet
wird, werden Laserstrahlen mit 38% der Lichtintensität des Laserstrahls La als reflektiertes Laserstrahlbündel
Lb 0-ter Ordnung von der Oberseite 72 zum Objektiv 20 reflektiert. Laserstrahlen mit 62% der Intensität des
einfallenden Laserstrahls La werden in das reflektierende Element 70 eingeleitet und an der Unterseite 73 zu
100% zur Oberseite 72 reflektiert. Ein Teil der zur Oberseite 72 des reflektierenden Elements 70 laufenden Laserstrahlen
tritt an der Oberseite 72 aus und wird als reflektiertes Laserstrahlbündel Lc 1-ter Ordnung zum Objektiv
20 gerichtet. Das Laserstrahlbündel Lc 1-ter Ordnung besitzt 38% (d.h. 62% χ 62%) der Lichtintensität
des einfallenden Einzellaserstrahls La. Dieses Laser-Strahlbündel Lc wird unter einem Winkel MP= 2^) gegenüber
dem Laserstrahlbündel Lb 0-ter Ordnung von der Ober-
ORiGiNAL Inspected
seite 72 hinweg gerichtet. Lichtstrahlen, die nicht als
reflektiertes Laserstrahlbündel Lc 1-ter Ordnung zur Außenseite des reflektierenden Elements 70 gerichtet,
sondern in das Element 70 (zurück) reflektiert werden, werden von der Unterseite 73 erneut zur Oberseite 72
reflektiert. Ein Teil der Lichtstrahlen wird über die Oberseite 72 des reflektierenden Elements 70 als reflektiertes
Laserstrahlbündel Ld 2-ter Ordnung zum Objektiv 20 gerichtet. Dieses Laserstrahlbündel Ld 2-ter
Ordnung wird von der Oberseite 72 unter einem Winkel/
(γ = 4<*) gegenüber dem reflektierten Laserstrahlbündel
Lb 0-ter Ordnung hinweg gerichtet. Das reflektierte Laserstrahlbündel Ld 2-ter Ordnung besitzt 14,6% (d.h. 62% χ
100% χ 38%, 100% χ 62% ) der Lichtintensität des einfallenden Einzel laserstrahl La. Das reflektierte Laserstrahlbündel
2-ter Ordnung besitzt eine vernachlässigbar kleine Lichtintensität, während das reflektierte Laserstrahlbündel
1-ter Ordnung und das reflektierte Laser-Strahlbündel 0-ter Ordnung in ihrer Lichtintensität praktisch
gleich sind. Das Laserstrahlbündel 0-ter Ordnung wird daher als reflektierter Laserstrahl benutzt, während
das reflektierte Laserstrahlbündel 1-ter Ordnung als Leit-Laserstrahl benutzt wird.
Das reflektierende Element 70 gemäß Fig. 11 besitzt wünschenswerterweise ein zufriedenstellend hohes Lichtreflexionsvermögen
seiner Unterseite 73 von bevorzugt über 50%. Weiterhin ist das reflektierende Element 70
vorzugsweise so angeordnet, daß seine Dicke in dem die Lichtstrahlen 0-ter Ordnung reflektierenden Bereich
größer ist als seine Dicke in dem die Lichtstrahlen 2-ter Ordnung reflektierenden Bereich. Wenn die Dicke des reflektierenden
Elements 70 gemäß Fig. 11 in dem die Lichtstrahlen 0-ter Ordnung reflektierenden Bereich größer
wäre als in dem die Lichtstrahlen 1-ter Ordnung reflektierenden Bereich, würden Lichtstrahlen 0-ter Ordnung,
J O W ί ΙΟί) _ OjQ _
. 35
1-ter Ordnung und 2-ter Ordnung in verschiedenen Richtungen
gerichtet werden, so daß sie einander nicht schneiden und nicht auf das Objektiv 20 fallen können. Bei der An-Ordnung
gemäß Fig. 12 werden dagegen die Lichtstrahlen 0-ter Ordnung, 1-ter Ordnung und 2-ter Ordnung in einander
schneidenden bzw. kreuzenden Richtungen gerichtet, so daß diese Lichtstrahlen auf das Objektiv 20 fallen
können.
Im folgenden sei das reflektierende Element 70 gemäß
Fig. 11 und 12 näher betrachtet. Dabei seien das Lichtreflexionsvermögen
der Überzugsschicht 72-1 auf der Fläche 72, an welcher der Lichtstrahl La einfällt, mit
R, der Lichtdurchlässigkeitsgrad der Überzugsschicht mit (1 - R) und das Lichtreflexionsvermögen der Überzugsschicht 72-2 an der Unterseite 73, an welcher der einfallende
Lichtstrahl La im reflektierenden Element 70 reflektiert wird, mit r bezeichnet.
Wenn die Lichtintensität des einfallenden Lichtstrahls oder Strahlenbündels La zu 1 vorausgesetzt wird, ist
die Lichtmenge des reflektierten Lichtstrahls oder Strahlenbündels
Lb O-ter Ordnung,der bzw. das ausschließlich
an der Oberseite 72 reflektiert wird, gleich R und die Lichtmenge des reflektierten Lichtstrahlbündels Lc 1-ter
Ordnung, das an der Unterseite 73 nur einmal reflektiert wird, gleich (1 - R) r. Demzufolge wird eines dieser
reflektierten Lichtstrahlenbündel Lb oder Lc als Wiedergabe-Laserstrahl
17 benutzt, während das andere dieser Lichtstrahlenbündel als Leit-Laserstrahl 18 benutzt wird, und
die reflektierten Lichtstrahlenbündel 2-ter und höherer
Ordnung, die an der Unterseite 73 mindestens zweimal reflektiert werden, werden vernachlässigt. Der Wirkungsgrad
E des Lichts des Wiedergabe-Laserstrahls 17 und des Leit-Laserstrahls 18 wird als Lichtintensitätsverhältnis
des einfallenden Laserstrahls La zur Summe der
. ae-Lichtintensität der reflektierten Laserstrahlbündel 0-ter
Ordnung und 1-ter Ordnung angegeben. Hieraus ergibt sich:
E = R + r(l - R)2
= r {R - (1 - MZr)Y + (1 - 1/4r) ... (1).
In diesem Fall wird zweckmäßig mehr als die Hälfte der Lichtintensität des einfallenden Laserstrahls La für
den Wiedergabe-Laserstrahl 17 und den Leit-Laserstrahl benutzt, so daß der Wirkungsgrad E vorteilhaft über 50%
liegt. Die Bedingung für E > 1/2, unabhängig von der Größe des Lichtreflexionsvermögens R, sollte nach
Gleichung (1) betragen :
1 - 1/4r > 1/2 ... (2)
Durch Auflösung von Gleichung (2) für r ergibt sich : r
> 1/2
Mit anderen Worten: damit der Wirkungsgrad E gleich 50% ist, muß die Beziehung r £ 1/2 für das Lichtrefle
xionsvermögen r der Überzugsschicht 70-2 auf der Unterseite 73 gelten, an welcher der einfallende Laserstrahl
La im reflektierenden Element 70 reflektiert wird.
Im folgenden sei das Lichtreflexionsvermögen der flachen
Oberseite 72 für den Fall betrachtet, daß das reflektierte Laserstrahlbündel Lb 0-ter Ordnung und das reflektierte'
Laserstrahlbündel 1-ter Ordnung die gleiche Lichtintensität besitzen. In diesem Fall ergibt sich R
durch Auflösen folgender Gleichung :
R = r(l - R)2 ... (3)
Durch Auflösung von Gleichung (3) für R ergibt sich :
35Q7139
R = 1 + (1 + V4r+l)/2r
Da O < R < 1 gilt, erhält man :
R = 1 + (1 - Ar+l)/2r
= (1 - MZr) + (2 - ν7τΤΪ)/2 r ... (4)
Gemäß Gleichung (1) ist der Wirkungsgrad E nur dann minimal, wenn folgendes gilt :
R=I- MZt.
Im folgenden ist ein Verfahren bzw. eine Möglichkeit zur Einstellung des Lichtintensitätsverhältnisses zwischen
den beiden reflektierten Laserstrahlbündeln Lb und Lc ohne wesentliche Verschlechterung des Wirkungsgrads E erläutert.
Im Fall von r < 3/4 gilt 2 - VTrTl > 0. Wenn dabei das
Lichtreflexionsvermögen R der optisch flachen Oberseite 72 einer Bedingung R
> 1 - 1/2r, insbesondere R > (1 - 1/2 r) + (2 - V"4r+1)/2r genügt, nimmt der Wirkungsgrad E
nicht die Mindestgröße an, auch wenn das Lichtmengenver-
O[- hältnis zwischen den beiden reflektierten Laserstrahlbündeln
variiert wird. Im Fall von r > 4/3 gilt 2 - v4r+l < 0. Demzufolge werden R und r in einem Bereich von
R < (1 - MZt) + (2 - ^CVc)IZv in dem Fall bestimmt, wenn
die Lichtintensitäten der beiden reflektierten Laserstrah-
g0 len oder Laserstrahlbündel einander ähnlich (annähernd
gleich) sind. Wenn die Lichtintensitäten der beiden reflektierten Laserstrahlbündel Lb und Lc stark unterschiedlich
sind, werden R und r in einem Bereich von R > (1 1/2r) - (2 - V"4r+1)/2r bestimmt, wobei jedoch der Wirkungs-
oc grad E nicht die Mindestgröße annimmt. Im folgenden sei
die Lichtintensität r(l - R)2 des reflektierten Laserstrahlbündels
Lc 1-ter Ordnung betrachtet. Wenn R aus-
reichend klein ist, führt eine kleine Änderung von R zu einer großen Veränderung der Lichtmenge r(l - R)2. Wenn
R nahe bei 1 liegt, ändert sich die Lichtmenge r(l - R)2 auch bei einer großen Änderung von R nicht wesentlich.
Wie sich aus Gleichung (1) ergibt, hängt der Wirkungsgrad E des Lichts des Wiedergabe-Laserstrahls 17 und des Leit-Laserstrahls
18 in großem Maß von Lichtreflexionsvermögen der flachen Unterseite 73 ab. Ein reflektierendes
Element 70, das sich auf die Totalreflexion anstelle eines aufgetragenen Mehrschichtüberzugs auf der flachen
Unterseite 73 zur Vergrößerung des Lichtreflexionsvermögens r stützt, kann kostensparend bereitgestellt werden
und ein Lichtreflexionsvermögen von nahezu 100% gewährleisten.
Ein in Fig. 13 dargestelltes reflektierendes Element 70
besteht aus zwei Glasscheiben oder -platten 71-1 und 71-2. Die erste Glasplatte 71-1 besitzt einen vergleichsweise
großen Reflexionsindex n1 und ein keilförmiges Querschnittsprofil. Sie weist nicht-parallele, optisch
flache Ober- und Unterseiten 72-1 bzw. 73-1 auf, von denen die Unterseite von einem Winkel zur Oberseite geneigt
ist. Die Unterseite 73-1 ist mit einer Überzugsschicht 70-1 eines zweckmäßigen Lichtreflexionsvermögens
und einer zweckmäßigen Lichtdurchlässigkeit entsprechend dem Lichtintensitätsverhältnis der Lichtstrahlen oder
Strahlenbündel versehen, die durch Aufteilung eines einzigen Laserstrahls erhalten werden sollen. Die zweite
Glasplatte 71-2 besitzt einen Brechungsindex n2, der kleiner ist als der Brechungsindex n1 der ersten Glasplatte
71-1, und sie weist parallele, optisch flache Ober- und Unterseiten 72-2 bzw. 73-2 auf. Die Oberseite
72-2 der zweiten Glasplatte 71-2 ist mit Hilfe eines Klebmittels unter Zwischenfügung der Überzugschicht 70-1
mit der Unterseite 73-1 der ersten Glasplatte 71-2 verklebt. Wenn beim reflektierenden Element 70 gemäß Fig.
INSPECTED
35-7139
.49-
ein einziger Laserstrahl La über die Oberseite 72-1 der ersten Glasplatte 71-1 auf deren Unterseite 73-1
geworfen wird, werden die Laserstrahlen dieses Laser-Strahls oder Laserstrahlbündels La an der Unterseite 73-2
als Laserstrahlbündel Lb 0-ter Ordnung teilweise reflektiert, um über die Oberseite 72-1 der ersten Glasplatte
71-1 zum Objektiv 20 gerichtet zu werden. Der Rest des einfallenden einzelnen Laserstrahls La tritt
über die Unterseite 73-1 der ersten Glasplatte 71-1, die Überzugsschicht und die Oberseite 72-2 der zweiten
Glasplatte 71-2 in letztere ein, um auf die Unterseite 73-2 der zweiten Glasplatte 71-2 unter einem Einfallswinkel
aufzutreffen, der größer ist als der Gesamt- oder Totalreflexionswinkel. Der Rest des einfallenden einzelnen
Laserstrahls La wird an der Unterseite 73-2 der zweiten Glasplatte 71-2 total reflektiert. Die Strahlen
des reflektierten Laserstrahls laufen zum Teil in die erste Glasplatte 71-1 durch deren Unterseite 73-1, die
Überzugsschicht 70-1 und die Oberseite 72-2 der zweiten Glasplatte 71-2, um an der Oberseite 72-1 der ersten
Glasplatte 71-1 als reflektiertes Laserstrahlbündel Lc 1-ter Ordnung zum Objektiv 20 hin gerichtet zu werden.
Die restlichen, an der Unterseite 73-2 der zweiten Glasplatte 71-2 total reflektierten Strahlen des einfallenden
einzelnen Laserstrahls La werden durch die Überzugsschicht wiederum reflektiert und in die zweite Glasplatte 71-2
geworfen und sodann an der Unterseite 73-2 der zweiten Glasplatte 71-2 total reflektiert, um durch die zweite
Glasplatte 71-2 und die erste Glasplatte 71-1 hindurchzutreten und als reflektiertes Laserstrahlbündel Lc 2-ter
Ordnung zum Objektiv 20 gerichtet zu werden.
Bei den reflektierenden Elementen 70 gemäß Fig. 11 bis
wird der Einzel laserstrahl durch Reflexion in mehrere Strahlen aufgeteilt. Dieselbe Wirkung kann jedoch auch
mittels Durchlässigkeit mit Hilfe eines reflektierenden
ORIGINAL INSPECTED
Elements 80 gemäß Fig. 14 und 15 erreicht werden.Das
reflektierende Element 80 gemäß Fig. 14 besteht, ähnlich
wie das reflektierende Element 70 gemäß Fig. 11, aus einer Glasplatte eines keilförmigen Querschnittsprofils
mit (nicht-)^parallelen, optisch flachen Ober- und Unterseiten
82 und 83, von denen die Unterseite unter einem Winkelo£-zur Oberseite geneigt ist. Ober- und Unterseiten
82 und 83 sind mit Überzugsschichten 80-1 bzw. 80-2 eines zweckmäßigen Lichtreflexionsvermögens und einer
zweckmäßigen Lichtdurchlässigkeit entsprechend dem Lichtintensitätsverhältnis der aus einem einzigen Laserstrahl
zu gewinnenden Lichtstrahlen oder Strahlenbündel versehen. Wenn gemäß Fig. 15 ein einziger Laserstrahl La auf die
Oberseite 82 des reflektierenden Elements 80 geworfen wird, gehen seine Einzelstrahlen zum Teil als Laserstrahlbündel
Lb 0-ter Ordnung durch das reflektierende Element 80 hindurch, um an dessen Unterseite 83 zum Objektiv 20
gerichtet zu werden. Ein Teil des einfallenden einzelnen Laserstrahls La wird durch die Unterseite 83 zur Oberseite
82 zurückgeworfen und an letzterer erneut zur Unterseite 83 reflektiert. Dieser Laserstrahl tritt teilweise
durch die Unterseite 83 hindurch, um als Laserstrahlbündel Lc 1-ter Ordnung vom reflektierenden Element 80 zum Objektiv
20 gerichtet zu werden. Die restlichen Lichtstrahlen werden von der Unterseite 83 zu der Oberseite 82
reflektiert und von der Oberseite 82 zur Unterseite 83 zurückgeworfen. Ebenso tritt der auf die Unterseite 83 auftreffende
Laserstrahl bzw. das Laserstrahlbündel zum Teil durch die Unterseite 83 hindurch, um als Laserstrahlbündel
Lb 2-ter Ordnung vom reflektierenden Element 80 zum Objektiv 20 gerichtet zu werden.
Bei den reflektierenden Elementen gemäß Fig. 11 bis 13 sind
die Überzugsschichten 70-1 und 70-2 als halbdurchlässige Spiegel ausgebildet. Wenn der Halbleiter-Laser als Lichtquelle
34 ein Multimodus-Halbleiter-Laser zur Erzeugung
35C7139
eines Laserstrahls über einen vergleichsweise breiten Wellenlängenbereich hinweg ist, können anstelle der Überzugsschichten
an Ober- und Unterseite 72 bzw. 73 dichroitische Schichten angeordnet sein, die zweckmäßiges Lichtreflexionsvermögen
und zweckmäßige Lichtdurchlässigkeit besitzen und die Lichtstrahlen einer vorbestimmten Wellenlänge
selektiv reflektieren. Wenn das reflektierende
Element mit derartigen dichroitischen Schichten versehen ist, werden Lichtstrahlen einer vorbestimmten Wellenlänge
durch Ober- und Unterseite 72 bzw. 73 selektiv zum Objektiv 20 hin reflektiert.
Wie vorstehend beschrieben, wird mit der Erfindung somit ein optisches System geschaffen, das mehrere Lichtstrahlen
oder Lichtstrahlenbündel zu erzeugen vermag, die mit zueinander geringfügig unterschiedlichen Einfallswinkeln
auf einen Informations-Aufzeichnungsträger gerichtet werden können. Das optische System gemäß der Erfindung
bietet darüber hinaus die folgenden Vorteile :
1. Ein reflektiertes Lichtstrahlenbündel Lc 1-ter Ordnung,
ein reflektiertes Lichtstrahlenbündel Ld 2-ter Ordnung usw. werden unter kleinen Winkeln gegenüber
einem reflektierten Laserstrahlbündel Ld O-ter Ordnung
erzeugt. Eine optische Einrichtung zum Ausschalten reflektierter Lichtstrahlenbündel höherer Ordnung kann
daher einen sehr einfachen Aufbau besitzen.
2. Es ist möglich, ein großes Verhältnis der Summe der Intensitäten der reflektierten Lichtstrahlenbündel Lb
und Lc O-ter bzw. 1-ter Ordnung zur Intensität des gesamten einfallenden Lichtstrahls (d.h. Wirkungsgrad)
einzustellen.
3. Die Störung der Wellenfront mehrerer aus einem einzigen Laserstrahl gewonnener Laserstrahlen oder -strahlen-
ORIGINAL INSPECTED
-V--
1 -3*·
1 -3*·
bündel kann stark verringert werden.
4. Es kann ein gewünschtes Lichtintensitätsverhältnis 5 zwischen den reflektierten Lichtstrahlenbündeln Lb
und Lc 0-ter bzw. 1-ter Ordnung eingestellt werden.
5. Die Ausgestaltung als Vorrichtung zur Erzeugung mehrerer Laserstrahlen ist sehr einfach, so daß sich das
IO Gerät mit gleichbleibender Güte und kostensparend
auf Großserien-Fertigungsbasis herstellen läßt.
6. Gewünschtenfal Is ist es ohne weiteres möglich, die
(Einfalls-)Winkel der reflektierten Lichtstrahlen-
15 bündel Lb und Lc 0-ter bzw. 1-ter Ordnung zu variieren,
Claims (10)
1. Optisches System zum Spur-Abtasten eines Informations-Auf Zeichnungsträgers mit mehreren Strahlen,
gekennzeichnet durch
eine Lichtquelle (16, 34) mit einem einzigen ersten Lichtstrahlemissionspunkt, um an letzterem einen einzigen
Lichtstrahl zu liefern,
eine Einrichtung (35, 60, 70, 81) zum Aufteilen des einzigen Lichtstrahls in zwei oder mehr Lichtstrahlen-(bündel)
und zum Leiten derselben in zueinander geringfügig verschiedenen Richtungen und ein Objektiv
oder Linsensystem (20) zum Konvergieren eines Lichtstrahls zu einer für Aufzeichnung und Wiedergabe
geeigneten Aufzeichnungsfläche (22).
2. Optisches System nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch
eine Einrichtung (38, 53) zum Auftrennen eines von der Aufzeichnungsfläche reflektierten Lichtstrahls
in mehrere Lichtstrahlen oder -strahlenbündel und eine Detektoreinrichtung (29, 30, 51) zum Erfassen
oder Abgreifen eines der getrennten Lichtstrahlen.
3. Optisches System nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch
eine Einrichtung (61) zum Kollimieren eines Lichtstrahls von der Lichtquelle.
4. Optisches System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Strahlteilereinrichtung (35, 60, 70, 81)
-2- 3 5 υ 7 1 3
einen optischen Refraktor (60) mit einer Lichtstrahl-Einfal
lsflache (60-1), die optisch flach ausgebildet
ist und an welcher der kollimierte Lichtstrahl einfällt, sowie zwei oder mehr Lichtstrahl-Austrittsflächen
(60-2, 60-3, 60-4), an denen ein getrennter Lichtstrahl austritt, aufweist und daß mindestens
eine der Lichtstrahl-Austrittsflächen (60-2) parallel
zur Lichtstrahl-Einfallsfläche angeordnet ist, während
die anderen Lichtstrahl-Austrittsflächen (60-3, 60-4) nicht parallel zur Lichtstrahl-Einfallsfläche liegen.
5. Optisches System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Strahlteilereiririchtung (35, 60, 70, 81) einen
optischen Refraktor (60) mit einer Lichtstrahl-Einfallsfläche (60-1), die optisch flach ausgebildet ist
und an welcher der kollimierte Lichtstrahl einfällt, sowie einer ersten und einer zweiten Lichtstrahl-Austrittsfläche
(60-2, 60-3), an denen jeweils ein getrennter Lichtstrahl austritt, aufweist und daß die
erste Lichtstrahl-Austrittsfläche (60-2) zur Lichtstrahl-Einfallsfläche
parallel liegt, während die zweite Lichtstrahl-Austrittsfläche (60-3) zur Lichtstrahl-Eintrittsfläche
nicht parallel angeordnet ist.
6. Optisches System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Strahlteilereinrichtung (35, 60, 70, 81) einen optischen Reflektor (60) mit einer Lichtstrahl-Einfallsfläche
(60-1), die optisch flach ausgebildet ist und an welcher der kollimierte Lichtstrahl einfällt,
sowie einer ersten, einer zweiten und einer dritten Lichtstrahl-Austrittsfläche (60-2, 60-3,
60-4), an denen jeweils ein getrennter Lichtstrahl austritt,aufweist, daß die erste Lichtstrahl-Austrittsfläche
(60-2) zur Lichtstrahl-Einfallsfläche
ORIGINAL INSPECTED
parallel ausgebildet ist und daß zweite und dritte Lichtstrahl-Austrittsfläche (60-3, 60-4) nicht parallel
zur Lichtstrahl-Einfallsfläche (60-1) liegen.
7. Optisches System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Strahlteilereinrichtung (35, 60, 70, 81) einen Reflektorkörper (70) mit einer ersten und mit einer
zweiten Fläche (72, 73), die optisch flach ausgebildet sind und nicht parallel zueinander liegen,
einer auf der ersten Fläche (72) vorgesehenen ersten Schicht (70-1), an welcher der kollimierte Lichtstrahl
einfällt und welche einen Teil des einfallenden Lichtstrahls durchläßt und seinen restlichen Anteil
reflektiert, und einer zweiten Schicht (70-2) aufweist, die an der zweiten Fläche (73) angeordnet ist
und im wesentlichen einen Teil des einfallenden Lichtstrahls reflektiert, der den Reflektorkörper (70) zur
zweiten Fläche (73) hin durchläuft.
8. Optisches System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Strahlteilereinrichtung (35, 60, 70, 81) einen
ersten Reflektorkörper (71-1) mit einer ersten und einer zweiten Fläche (72-1, 73-1), die optisch flach
ausgebildet und zueinander nicht parallel angeordnet sind, einer auf der zweiten Fläche (73-1) vorgesehenen
ersten Schicht (70-1), zu welcher der an der ersten Fläche (72-1) einfallende und den ersten Reflektorkörper
(71-1) durchlaufende kollimierte Lichtstrahl gerichtet wird und die einen Teil des einfallenden
Lichtstrahls durchläßt, seinen restlichen Teil dagegen reflektiert, sowie einen zweiten Reflektorkörper
(71-2) mit einer dritten und einer vierten Fläche (72-2, 73-2), die optisch flach ausgebildet
und parallel zueinander angeordnet sind,
ORIGINAL INSPECTED
-4- 35Ü7
umfaßt, wobei eine dritte Schicht (70-2)mit der zweiten
Fläche (73-1) verbunden ist und ein den zweiten Reflektorkörper (71-2) in Richtung auf die vierte
Fläche (73-2) durchlaufender, einfallender Lichtstrahl durch die vierte Fläche (73-2) praktisch reflektierbar
ist.
9. Optisches System nach Anspruch 1,
IQ dadurch gekennzeichnet,
daß die Strahlteilereinrichtung (35, 60, 70,81) ein Reflektorkörper (81) ist, der eine erste und eine
zweite Fläche (82, 83), die optisch flach ausgebildet und zueinander nicht parallel angeordnet sind, eine
auf der zweiten Fläche (83) angeordnete erste Schicht (80-2), zu welcher der an der ersten Fläche (82)
einfallende und den Reflektorkörper (81) durchlaufende kollimierte Lichtstrahl gerichtet wird und die
einen Teil des einfallenden Lichtstrahls durchläßt,
2Q seinen restlichen Anteil aber reflektiert, und eine
auf der ersten Fläche (82) vorgesehene zweite Schicht (80-1) aufweist, an welcher der kollimierte Lichtstrahl
einfällt und die einen Teil des einfallenden, von der ersten Schicht (80-2) reflektierten und den Reflektorkörper
(81) in Richtung auf die erste Fläche (82) durchlaufenden Lichtstrahls durchläßt, während sie den
restlichen Anteil dieses einfallenden Lichtstrahls reflektiert.
3q
10. Optisches System nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine Lichtquelle (16, 34) einen Lichtstrahl oder ein -strahlenbündel eines vergleichsweise breiten Wellenlängenbereichs
erzeugt und daß erste und zweite Schicht
g5 (70-1, 70-2) Lichtstrahlenkompon^nten bestimmter
Wellenlänge selektiv reflektieren.
INSPECTED
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59037528A JPS60181726A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 多重光発生装置 |
JP59037531A JPS60181724A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 多重光発生装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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