DE3315220C2 - Optoelektronisches Fokusfehlerdetektionssystem - Google Patents
Optoelektronisches FokusfehlerdetektionssystemInfo
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Abstract
Es wird ein optisches Brennfleckfehlerdetektionssystem bechrieben, das enthält einen im Weg eines Strahlungsbündels von einer Fläche, auf der zu fokussieren ist, angeordneten Bündelteilen und ein strahlungsempfindliches Detektorsystem, das aus einer Anzahl von schmalen Streifen getrennter Detektoren besteht, wobei ein erster Trennstreifen einem ersten und ein zweiter Trennstreifen einem zweiten von zwei vom Bündeltrenner gebildeten Teilbündel zugeordnet ist. Wenn die zwei Trennstreifen einen spitzen Winkel miteinander bilden, kann dafür gesorgt werden, daß die Zentren der von den Teilbündeln in der Detektorebene gebildeten Strahlungsflecke bei guter Fokussierung auf den Trennstreifen liegen.
Description
Die Erfindung betrifft ein optoelektronisches Fokusfehlerdetektionssystem zum Detektieren einer Abweichung zwischen einer ersten, Strahlung reflektierenden
Fläche und einer Fokussierungsebene eines Objektivsystems in einem optischen Abbildungssystem, insbesondere für eine Anordnung zum Lesen eines Aufzeichnungsträgers mit einer optischen, Strahlung reflektierenden Informationsstniktur oder eine Anordnung zum
Schreiben von Informationen in einen Aufzeichnungsträger auf optischem Wege, welches Fokusfehlerdetektorsystem ein im Weg eines von der ersten Fläche reflektierten Strahlungsbündels angeordnetes, bündelteilendes Element, und ein hinter dem bündelteilenden Element angeordnetes, strahlungsempfindliches Detektionssystem enthält das eine Anzahl durch schmale
Streifen voneinander getrennter Detektoren enthält, wobei ein erster Trennstreifen einem ersten und ein
zweiter Trennstreifen einem zweiten von zwei vom
bündelteilenden Element gebildeten Teilbündeln zugeordnet ist wobei die Ausgänge der Detektoren mit den
Eingang .n einer Elektronikschaltung verbunden sind, in
der ein Fokusfehlersignal aus den Detektorsignaien abgeleitet wird.
Eine derartige Anordnung wurde in der Veröffentlichung »PCM-Schallplatte für die 80er Jahre« in »Radio
Mentor« 45 (1979), S. 138 ... 140, beschrieben. Diese
Anordnung enthält eine Strahlenquelle in Form eines ίο Halbleiterdiodenlasers. Das von diesem Laser ausgestrahlte Lesebündel wird von einem Objektivsystem auf
einer Informationsstruktur fokussiert, die auf einem runden, scheibenförmigen Aufzeichnungsträger angeordnet ist Das von der Informationsstruktur reflektierte
Lesebündel durchläuft zum zweiten Male das Objektivsystem und anschließend ein zwischen der Strahlenquelle und dem Objektivsystem angeordnetes Trennungsprisma. Dieses Prisma koppelt das modulierte Lesebündel aus dem Strahlungsweg des von der Quelle ausgezo strahlten Bündels, so daß das modulierte Bündel in einem strahlungsempfindlichen Detektionssystem aufgefangen werden kann, das ein elektrisches Signal entsprechend der Modulation des letztgenannten Bündels liefert
Für optische Systeme, mit denen sehr kleine Informationsdetails ausgelesen werden müssen und die mit einer
großen numerischen Apertur arbeiten, ist die Schärfentiefe gering. Für diese Art von Abbildungssystemen, die
beispielsweise in Mikroskopen oder in Anordnungen zum Lesen eines optischen Aufzeichnungsträgers mit
sehr kleinen Einzelheiten oder in Anordnungen zum Einschreiben von Informationen in einen Aufzeichnungsträger benutzt werden, ist es wichtig, eine Abweichung zwischen der reellen und der gewünschten Fokussierungsebene detektieren zu können, um damit die
Fokussierung nachregeln zu können. Dazu kann, wie in der genannten Veröffentlichung angedeutet und in der
DE-OS 29 14 122, insbesondere in der Beschreibung der
Fig. 1, 2a und 2b, ausführlich beschrieben ist, auf der
Austrittsfläche des Trennungsprismas ein Dachkantprisma angeordnet sein. Dieses Prisma teilt das Bündel
in zwei Teilbündel, die in getrennten Detektoren des strahlungsempfindlichen Detektionssystems aufgefangen werden. Dieses System besteht beispielsweise aus
vier strahlungsempfindlichen Detektoren, die auf einer Linie quer zur brechenden Rippe des Dachkantprismas
angeordnet sind. Durch Subtraktion der Summe der Signale der zwei inneren Detektoren von der der zwei
äußeren Detektoren wird ein Signal gewonnen, das einem Fokusfehler proportional ist.
In diesem Fokusfehlerdetektorsystem ist dafür zu sorgen, daß der Abstand zwischen den Mitten der in der
Ebene der Detektoren gebildeten Strahlungsflecke gleich dem Abstand zwischen den Trennstreifen der Detektorcn ist und daß die Strahlungsflecke richtig positio
niert sind in bezug auf die Detektoren, so daß bei einer guten Fokussierung des Bündels die Strahlungsflecke in
bezug auf den zugeordneten Trennstreifen symmetrisch liegen. Wenn der Abstand zwischen den Mitten der
(.0 Strahlungsflecken unrichtig ist und/oder wenn die Strahlungsflecke nicht richtig positioniert sind, wird ein
fehlerhaftes Fokusfehlcrsignal gewonnen und ist eine korrekte Fokuseinstellung nicht mehr möglich.
artige Anordnung der Detektoren zu schaffen, daß die
fehlcidelektionssystcms den Abstand zwischen den
den Trennstreifen anzugleichen und die Position der
Strahlungsflecke nachzuregeln.
Diese Aufgabe wird mit der erfindungsgemäßen Anordiung dadurch gelöst, daß der erste Trennstreifen
einen spitzen Winkel mit dem zweiien Trennstreifen bildet.
Indem bei guter Fokussierung des Bündels die zwei Teilbündel in einer oder zwei in der Ebene dsr Detektoren liegenden Richtungen bewegt werden, läßt sich das
gesetzte ZieJ erreichen.
Eine bevorzugte Ausführungsform des Fokusfehlerdetektionssystem ist weiter dadurch gekennzeichnet,
daß der Winkel zwischen den Trennlinien etwa 22° beträgt
Diese Wahl des Winkels bewirkt, daß auch bei beschränkten Abmessungen der Detektoren einerseits die
Einstellmöglichkeit groß genug ist und zum anderen die Steilheit des Fokusfehlerdetektionssystems groß genug
bleibt.
Eine Anordnung zum Lesen und/oder Schreiben von Information in einer strahlungsreflektierenden Informaticnsfläche eines Aufzeichnungsträgers, welche Anordnung mit einem erfindungsgemäßen Fokusfehlerdetektionssystems versehen ist, ist vorzugsweise dadurch gekennzeichnet, daß das Detektionssystem vier getrennte
Detektoren enthält, daß die Bündelteilung in einer Ebene erfolgt, die wirksam quer zur Spurrichtung verläuft
und daß die Elektronikschaltung Mittel zum Ableiten eines Signals enthält, das einen Hinweis auf die Lage des
in der lnformationsfläche gebildeten Strahlungsflecks in bezug auf eine Informationsspur gibt
Nachstehend werden an Hand der Zeichnung einige Beispiele der erfindungsgemäßen Anordnung näher erläutert. Es zeigt
F i g. 1 eine Ausführungsform einer Anordnung mit dem vorliegenden Fokusfehlerdetektionssystem,
F i g. 2 die einzelnen Detektoren und die elektronische Verarbeitungsschaltung,
F i g. 3 eine bevorzugte Ausführungsform des Detektorsystems, und
F i g. 4 eine andere Ausführungsform des Detektorsystems.
In F i g. 1 ist ein kleiner Teil eines runden scheibenförmigen Aufzeichnungsträger 1 in radialem Schnitt dargestellt. Die Strahlung reflektierende Informationsstruktur befindet sich an der Oberseite des Aufzeichnungsträgers und besteht aus einer Vielzahl nicht dargestellter Informationsgebtete, die entlang Informationsspuren 2 angeordnet sind. Die Informationsstruktur wird
abgetastet von einem Lesebündel b der von einer Strahlenquelle 3, beispielsweise einem Halbleiterdiodenlaser
geliefert wird. Eine Linse 4 bildet aus dem divergierenden Bündel ein paralleles Bündel mit einem derartigen
Querschnitt, daß die Pupille eines Objektivsystems 5 gut ausgefüllt wird. Dieses Objektivsystem bildet dabei einen Strahlungsfleck Vmit minimalen Abmessungen auf
der Informationsstruktur.
Das Lesebündel wird von der Informationsstruktur reflektiert und bei der Bewegung des Aufzeichnungsträgers in bezug auf das Lesebündel wird das reflektierte
Bündel entsprechend der im Aufzeichnungsträger angebrachten Information zeitlich moduliert. Zum Trennen
des modulierten Bündels von dem von der Strahlungsquelle ausgesandten Bündel ist /wischen der Strahlenquelle und dem Objektivsystem ein Bündeltrennprisma
6 angeordnet. Dieses Prisma kann aus zwei prismatischen Teilen 7 und 8 bestehen, zwischen denen eine
Bündeltrennschicht 9 angeordnet ist. Mit 10 und 11 sind
die Eintrittsfläche bzw. die Austrittsfläche des Prismas 6
bezeichnet Die Schicht 9 kann ein halbdurchiässiger Spiegel sein. Zum möglichsten Verringern des Strahlungsverlustes in der Leseeinheit kann eine polarisa-
tionsempfindliche Trennschicht verwendet werden. Zwischen dem Objektivsystem und dem Prisma 6 ist
dabei eine Λ/4-Platte 12 aufzunehmen, worin λ die Wellenlänge des Lesebündels b ist. Dieses Prisma wird vom
Lesebündel zweimal durchlaufen und dreht die Polarisa
tionsfläche dieses Bündels über insgesamt 90°. Das von
der Strahlungsquelle ausgesandte Bündel wird vom Prisma dabei nahezu vollständig durchgelassen, während das modulierte Bündel nahezu vollständig nach
einem strahlungsempfindlichen Detektionssystem 13 reis flektiert wird. Dieses System erzeugt ein Signal, das
entsprechend der im Aufzeichnungsträger gespeicherten Information moduliert ist
Zum Erzeugen eines Fokusfehlersignals, das einen Hinweis auf die Größe und die Richtung einer Abwei
chung zwischen der Fokussierungsebene des Objektiv
systems und der Ebene der Informationsstruktur gibt, ist auf der Austrittsfläche 11 des Bündeltrennprismas 6 ein
Dachkantprisma 14 angeordnet und das strahlungsempfindliche Detektionssystem 13 beispielsweise aus vier
strahlungsempfindlichen Detektoren aufgebaut Diese Detektoren sind in F i g. 2, die das Prinzip der Fokusfehlerdetektion veranschaulicht mit 16,17,18 und 19 angegeben. Diese Figur zeigt eine Ansicht der Detektoren
entlang der Linie ΙΙ-ΙΓ in Fig. 1. Die brechende Rippe
15 des Prismas H kann zur optischen Achse OO' in F i g. 1 der Leseeinheit parallel verlaufen. Vorzugsweise
wird jedoch, wie in Fig. 1 dargestellt, das Dachkantprisma derart angeordnet, daß die brechende Rippe 15 quer
zur optischen Achse OO' verläuft Dann kann nämlich
aus den Detektorsignalen ein Spurnachführungsfehlersignal abgeleitet werden.
Das Dachkantprisma teilt das Bündel b in zwei Teilbündel b\ und b2, die mit den Detektoren 16 und 17 bzw.
18 und 19 zusammenarbeiten.
In Fig. 1 und 2 ist die Situation veranschaulicht bei der das Lesebündel genau auf der Fläche der Informationsstruktur fokussiert ist. Die Leseeinheit kann so eingerichtet sein, daß dabei der Fokus des reflektierten
Bündels genau in der Ebene der Detektoren liegt. Bei
einer guten Fokussierung fallen die Teilbündel b\ und bi
symmetrisch auf ihre zugeordneten Detektoren 16 und 17 bzw. 18 und 19 ein. Beim Auftreten eines Fokusfehlers ändert sich die Energieverteilung im Teilbündel b\
bzw. bi in bezug auf die zugeordneten Detektoren, was
so auch als eine Verschiebung der von den Teilbündeln gebildeten Strahlungsflecke Vi und V2 in bezug auf die
Detektoren aufgefaßt werden kann. Wenn der Fokus des aus der Strahlenquelle herrührenden Bündels über
der Fläche der Informationsstruktur liegen würde, wür
den die Bündel b\ und bi nach innen verschoben sein und
die Detektoren 16 und 19 weniger Strahlungsenergie als die Detektoren 17 und 18 empfangen. Würde der Fokus
des von der Strahlenquelle ausgesandten Lesebündels unter der Fläche der Informationsstruktur liegen, würde
das Umgekehrte gelten und die Detektoren 17 und 18 weniger Strahlungsenergie als die Detektoren 16 und 19
empfangen. Indem, wie in F i g. 2 dargestellt, die Signale der Detektoren 17 und 18 einem ersten Addierer 20 und
die der Detektoren 16 und 19 einem zweiten Addierer
21 und die Signale dieser Addierer einem Differenzverstärker 22 zugeführt werden, wird ein Fokusfehlersignal
Sf erhalten. Das Informationssignal S, kann mit einem
dritten Addierer 23 erhalten werden, dessen Eingänge
10
mit den Addierern 20 und 21 verbunden sind.
Vom Dachkantprisma 14 kann entweder die Basis, wie in F i g. 1, oder die brechende Rippe 15 an der Austrittsflache
U des Bündeltrennprismas liegen. Bei dem gewählten großen Wert des Spitzenwinkels des Dachkantprismas,
beispielsweise etwa 170°, hat das Prisma 14 in beiden Fällen etwa die gleiche Wirkung. Der Spitzwinkel
wird möglichst groß gewählt, damit die Detektionselemente möglichst nahe beieinander liegen und als
ein integrierter Detektor ausgeführt werden können.
Das Fokusfehlersignal wird durch die Lage des Zentrums des Strahlungsflecks Vi bzw. V2 in bezug auf den
Trennstreifen der Detektoren 16 und 17 bzw, den Trennstreifen der Detektoren 18 und 19 bestimmt. Es ist
dafür zu sorgen, daß bei einer guten Fokussierung des
Bündels ti der Abstand zwischen den Zentren der Strahlungsflecke gleich dem Abstand zwischen den
Trennstreifen ist. Durch die unterschiedlichen Toleranzen in den optischen Elementen des Fokusfehlerdetektionssystems
können Abweichungen im Abstand zwischen den Strahlungsflecken auftreten. Würde der Abstand
zwischen den Strahlungsflecken zu groß sein, würden auch bei einer guten Fokussierung des Bündels b
diese Strahlungsflecke in bezug auf die Detektoren nach außen hin verschoben sein und würde ein positives Fokusfehlersignal
erzeugt werden. Bei einem zu geringen Abstand zwischen den Strahlungsflecken würde ein negatives
Fokusfehlersignal geliefert werden.
Für die Möglichkeit zum Anpassen des Abstands zwischen den Mitten der Detektorpaare 16,17, und 18,19
an den Abstand zwischen den Zentren der Strahlungsflecke nach dem Zusammenbau der Anordnung ist das
Detektorsystem gemäß Fig.3 ausgeführt. Die Detektorpaare
sind nicht mehr parallel zueinander angeordnet, sondern derart, daß der Trennstreifen A der Detektoren
16 und 17 einen spitzen Winkel α mit dem Trennstreifen I2 der Detektoren 18 und 19 einschließt In
F i g. 3 sind zwei Strahlungsflecke Vt und V2 dargestellt,
die einen gegenseitigen Abstand d haben, der dem AbEmpfindlichkeit für Fokusfehler dennoch groß genug
bleibt.
Beim Anordnnen der brechenden Rippe 15 des Prismas 14 quer zur optischen Achse OO'. wie in F i g. 1
dargestellt, sind die Strahlungsflecke Vi und V2 in bezug
aufeinander in einer Richtung verschoben, die wirksam quer zur Spurrichtung verläuft. In diesem Fall kann aus
den Signalen der vier Detektoren 16, 17, 18 und 19 ein Spurnachführungssignal, ein Signal, das einen Hinweis
auf die Position des Lescflecks V in bezug auf die Mitte einer zu lesenden Spur gibt, abgeleitet werden. Dieses
Signal Sr wird, wie in F i g. 2 angegeben, durch Zuführen
der Signale der Detektoren 16 und 17 an einen Summierer 24 und der Signale der Detektoren 18 und 19 an
einen Summierer 25 und durch Zuführen der Signale der Summierer an einen Differenzverstärker 26 erhalten.
Das Signal Sr wird also durch folgende Gleichung gegeben:
Sr = (Sib + Sn)-(S \
Wenn das Detektionssystem 13 nicht zum Erzeugen eines Spumachführungssignals Sr benutzt wird, kann
dieses System auch aus nur drei Detektoren wie in F i g. 4 bestehen. Der Trennstreifen h zwischen den Detektoren
31 und 30 und der Trennstreifen I2 zwischen
den Detektoren 32 und 30 bilden wieder einen spitzen Winkel miteinander. Das Fokusfehlersignal Sr wird
durch folgende Gleichung gegeben:
25
Su+Si2)-S so.
Die Erfindung ist an Hand ihrer Anwendung in einem optischen Leseeinheit beschrieben, kann aber auch in
einer Schreibeinheit oder in einer kombinierten Schreib/Leseeinheit verwendet werden. Die Schreibeinheit
ist analog der beschriebenen Leseeinheit aufgebaut. Zum Schreiben von Informationen, beispielsweise durch
das Schmelzen von Grübchen in einer Metallschicht,
stand zwischen den Trennstreifen entlang der Linie y 40 wird mehr Energie als zum Lesen benötigt und außer-
durch das Zentrum des Detektorsystems entspricht. 1st
der Abstand zwischen den Strahlungsflecken Vi und V2
größer als d, sind die Teilbündel b\ und O2 derart zu
verschieben, daß die Strahlungsflecke Vi und V2 nach
dem ist das Schrcibbündel entsprechend der einzuschreibenden Information zeitlich zu modulieren. Als
Strahlungsquelle in der Schreibeinheit kann ein Gaslaser, z. B. ein HeNe-Laser benutzt werden, wobei im Weg
rechts verschoben werden, bis die Zentren der Strah- 45 des Schreibbündels ein Modulator, z. B. ein elektroopti-
lungsflecke wieder genau auf den Trennstreifen liegen. Bei einem zu geringen Abstand zwischen den Zentren
der Strahlungsflecke sind sie nach links zu verschieben.
Der Abgleich der Leseeinheit besteht darin, daß nach dem Zusammenbau dieser Einheit und der guten Einstellung
des Fokus eines Öbjektivsystems die rosiüöii
der Strahlungsflecke V1 und V2 in bezug auf die Detektoren
durch die Messung der Detektorsignale bestimmt werden. An Hand dieser Messung können die Positioscher
oder ein r.kustooptischer Modulator, anzuordnen ist Auch kann ein Diodenlaser benutzt werden, wobei
die Modulation des Schreibbündels durch Variation des elektrischen Stroms durch den Diodenlaser herbeigeführt
werden kann, so daß kein getrennter Modulator erforderlich ist
Das beschriebene Fokusfehlerdetektionssystem benutzt
keine besonderen Eigenschaften der optischen Informationsstruktur oder der Fläche, auf der zu fokussie-
nen der Strahlunesflecke beispielsweise durch Verschie- 55 ren ist Erforderlich und ausreichend ist nur, daß diese
bung und/oder Kipping des Prismas 6 derart nachgestellt
werden, daß die Zentren der Strahlungsflecke auf den Trennstreifen l\ und h liegen.
Die Empfindlichkeit des Brennfleckfehlerdetektionssystems ist möglichst groß, wenn die Streifen /1 und I2 in ω
der x-Rkhtung, also quer zur Richtung y verlaufen, in
der die Strahlungsflecke V] und V2 beim Auftreten von
Fokusfehlem sich bewegen. Wenn ein Winkel α in der Größenordnung von 22* gewählt wird, wird erreicht
daß auch bei beschränkten Abmessungen der Detektoren die Möglichkeit der Anpassung des Abstands zwischen
den Trennstreifen an den Abstand zwischen den Strahlungsflecken V1 und V2 groß genug ist während die
Räche strahlungsreflektierend ist Das Fokusfehlerdetektionssystem kann daher in verschiedenen Anordnungen
verwendet werden, in der äußerst genau zu fokussieren ist beispielsweise in Mikroskopen.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (3)
1. Optoelektronisches Fokusfehlerdetektionssystem zum Detektieren einer Abweichung zwischen
einer ersten, Strahlung reflektierenden Fläche und einer Fokussierungsebene eines Objektivsystems in
einem optischen Abbildungssystem, insbesondere für eine Anordnung zum Lesen eines Aufzeichnungsträgers mit einer optischen. Strahlung reflektierenden Informationsstruktur oder einer Anordnung zum Schreiben von Informationen in einen
Aufzeichnungsträger auf optischem Wege, welches Fokusfehlerdetektorsystem ein im Weg eines von
der ersten Fläche reflektierten Strahlungsbündels angeordnetes, bündelteilendes Element und ein hinter dem bündelteilenden Element angeordnetes,
strahlungsempfindliches Detektionssyslem enthält, das eine Anzahl durch schmale Streifen voneinander
getrennter Detektoren enthält, wobei ein erster Trennstreifen einem ersten und ein zweiter Trennstreifen einem zweiten von zwei vom bündelteilenden Element gebildeten Teilbündeln zugeordnet ist,
wobei die Ausgänge der Detektoren mit den Eingängen einer Elektronikschaltung verbunden sind, in der
ein Fokusfehlersignal aus den Detektorsignalen abgeleitet wird, dadurch gekennzeichnet,
daß der erste Trennstreifen einen spitzen Winkel mit
dem zweiten Trennstreifen bildet.
2. Optoelektronisches Fokusdetektionssystem nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der
Winkel zwischen den Trennstreifen etwa 22° beträgt.
3. Anordnung zum Lesen und/oder Schreiben von Informationen in einer Strahlungsreflektierenden
Fläche eines Aufzeichnungsträgers, welche Anordnung mit einem Fokusfehlerdetektionssystem nach
Anspruch 1 oder 2 ausgerüstet ist, dadurch gekennzeichnet, daß das Deteklionssystem vier getrennte
Detektoren enthält, daß die Bündelteilung in einer Ebene erfolgt, die wirksam quer zur Spurrichtung
verläuft und daß die elektronische Schaltung Mittel zum Ableiten eines Signals enthält, das einen Hinweis auf die Position des in der Informationsfläche
gebildeten Strahlungsflecks in bezug auf eine Informationsspur gibt.
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NL8202058A NL8202058A (nl) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | Opto-elektronisch fokusfout-detektiestelsel. |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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DE3315220A1 DE3315220A1 (de) | 1983-11-24 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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DE (1) | DE3315220C2 (de) |
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GB (1) | GB2120493B (de) |
HK (1) | HK28386A (de) |
IT (1) | IT1171671B (de) |
NL (1) | NL8202058A (de) |
SE (2) | SE451789B (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3733422A1 (de) * | 1986-10-03 | 1988-05-05 | Pioneer Electronic Corp | Optischer aufnehmer |
Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2135150A (en) * | 1983-02-15 | 1984-08-22 | Gen Electric | Optical inspection system |
JPS59158029A (ja) * | 1983-02-28 | 1984-09-07 | 松下電工株式会社 | 反射型光電スイツチ |
JPS59162514A (ja) * | 1983-03-08 | 1984-09-13 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 画像走査記録装置における焦点調整方法 |
FR2546310B1 (fr) * | 1983-05-20 | 1986-04-25 | Thomson Csf | Monture reglable pour miroir pivotant et tete optique d'enregistrement-lecture utilisant une telle monture |
US4645351A (en) * | 1983-06-01 | 1987-02-24 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Methods and apparatus for discriminating between the front and back surfaces of films |
JPS618744A (ja) * | 1984-06-22 | 1986-01-16 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光デイスク装置のフオ−カス誤差検出装置 |
JPH0633537Y2 (ja) * | 1984-06-30 | 1994-08-31 | ソニ−株式会社 | 感光性半導体装置 |
US4718052A (en) | 1984-10-01 | 1988-01-05 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Head assembly for optical disc |
NL8403034A (nl) * | 1984-10-05 | 1986-05-01 | Philips Nv | Opto-elektronisch fokusfout-detektiestelsel. |
US5416755A (en) * | 1985-02-28 | 1995-05-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical pickup using split beams impinging on different photo-detector areas |
NL8501489A (nl) * | 1985-05-24 | 1986-12-16 | Philips Nv | Positie-gevoelige stralingsdetector. |
NL8502802A (nl) * | 1985-10-14 | 1987-05-04 | Philips Nv | Inrichting voor het uitlezen en/of inschrijven van een optische spoorvormige informatiestruktuur. |
JPH0734264B2 (ja) * | 1986-09-05 | 1995-04-12 | キヤノン株式会社 | 光学式情報記録再生装置 |
US5231621A (en) * | 1986-09-05 | 1993-07-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Focus detector which serves to split off a portion of a detected light beam only when the detected light beam is not refocused at an expected refocus point |
DE3635840A1 (de) * | 1986-10-22 | 1988-05-05 | Thomson Brandt Gmbh | Mit strahlen abtastendes abtastsystem |
NL8700440A (nl) * | 1987-02-23 | 1988-09-16 | Philips Nv | Optische inrichting bevattende een houder met daarin aangebracht een optisch stelsel. |
NL8702245A (nl) * | 1987-09-21 | 1989-04-17 | Philips Nv | Inrichting voor het met optische straling aftasten van een stralingsreflekterend informatievlak. |
GB8724575D0 (en) * | 1987-10-20 | 1987-11-25 | Renishaw Plc | Focus detection system |
JPH01151022A (ja) * | 1987-12-09 | 1989-06-13 | Sharp Corp | 光ピックアップ装置 |
JP2701324B2 (ja) * | 1988-06-16 | 1998-01-21 | ソニー株式会社 | 光学ヘッド装置 |
JPH0231337A (ja) * | 1988-07-21 | 1990-02-01 | Mitsubishi Electric Corp | 焦点誤差検出装置 |
NL8802689A (nl) * | 1988-11-03 | 1990-06-01 | Koninkl Philips Electronics Nv | Inrichting voor het met optische straling aftasten van een stralingsreflekterend oppervlak. |
NL9002841A (nl) * | 1990-12-21 | 1992-07-16 | Philips Nv | Werkwijze en inrichting voor het langs optische weg inschrijven, uitlezen, en wissen van een meervlaks registratiedrager, en registratiedrager geschikt voor deze werkwijze en inrichting. |
US5281802A (en) * | 1991-02-20 | 1994-01-25 | Ricoh Company, Ltd. | Focus error signal detection device with separating prism |
TW221074B (de) * | 1991-05-10 | 1994-02-11 | Philips Nv | |
KR100301572B1 (ko) * | 1999-04-28 | 2001-09-26 | 김영수 | 광전자식 개폐기 |
JP3765235B2 (ja) * | 2001-02-16 | 2006-04-12 | 日本電気株式会社 | 光ディスク装置 |
AU2003214652A1 (en) * | 2002-03-20 | 2003-09-29 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Control method for focus and tracking in pickup apparatus |
JP6010505B2 (ja) * | 2013-06-11 | 2016-10-19 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL7803969A (nl) * | 1978-04-14 | 1979-10-16 | Philips Nv | Opto-elektronisch fokusfout-detektiestelsel. |
NL7809635A (nl) * | 1978-09-22 | 1980-03-25 | Philips Nv | Inrichting voor het uitlezen van een optische registra- tiedrager bevattende een stralingsreflekterende infor- matiestruktuur. |
NL7907216A (nl) * | 1979-09-28 | 1981-03-31 | Philips Nv | Optisch fokusfout-detektiestelsel. |
JPS56170537U (de) * | 1980-05-16 | 1981-12-16 | ||
JPS5733441A (en) * | 1980-08-07 | 1982-02-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Optical information recorder and reproducer |
JPS5753831A (en) * | 1980-09-12 | 1982-03-31 | Olympus Optical Co Ltd | Method and device for reproduction of optical information |
JPS57108811A (en) * | 1980-12-26 | 1982-07-07 | Hitachi Ltd | Optical focus position detector |
JPS57195634U (de) * | 1981-06-05 | 1982-12-11 |
-
1982
- 1982-05-19 NL NL8202058A patent/NL8202058A/nl not_active Application Discontinuation
- 1982-08-26 US US06/411,734 patent/US4533826A/en not_active Expired - Lifetime
-
1983
- 1983-04-27 DE DE3315220A patent/DE3315220C2/de not_active Expired
- 1983-05-06 GB GB08312580A patent/GB2120493B/en not_active Expired
- 1983-05-12 CA CA000428005A patent/CA1200607A/en not_active Expired
- 1983-05-13 IT IT21112/83A patent/IT1171671B/it active
- 1983-05-16 SE SE8302743A patent/SE451789B/sv not_active IP Right Cessation
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- 1983-05-16 JP JP58084286A patent/JPS58208946A/ja active Granted
- 1983-05-16 AT AT0178183A patent/AT376509B/de not_active IP Right Cessation
- 1983-05-16 KR KR1019830002127A patent/KR880001707B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1983-05-16 AU AU14552/83A patent/AU556995B2/en not_active Ceased
- 1983-05-16 SE SE8302743D patent/SE8302743L/xx not_active Application Discontinuation
- 1983-05-16 CH CH2684/83A patent/CH661802A5/de not_active IP Right Cessation
- 1983-05-17 ES ES522477A patent/ES8403231A1/es not_active Expired
- 1983-05-17 BE BE0/210792A patent/BE896768A/fr not_active IP Right Cessation
-
1986
- 1986-04-17 HK HK283/86A patent/HK28386A/xx not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3733422A1 (de) * | 1986-10-03 | 1988-05-05 | Pioneer Electronic Corp | Optischer aufnehmer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
ES522477A0 (es) | 1984-03-01 |
GB2120493B (en) | 1985-10-02 |
AU556995B2 (en) | 1986-11-27 |
NL8202058A (nl) | 1983-12-16 |
DE3315220A1 (de) | 1983-11-24 |
FR2527370A1 (fr) | 1983-11-25 |
ES8403231A1 (es) | 1984-03-01 |
AU1455283A (en) | 1983-11-24 |
HK28386A (en) | 1986-04-25 |
IT1171671B (it) | 1987-06-10 |
SE8302743D0 (sv) | 1983-05-16 |
SE8302743L (sv) | 1983-11-20 |
CH661802A5 (de) | 1987-08-14 |
CA1200607A (en) | 1986-02-11 |
AT376509B (de) | 1984-11-26 |
KR840004972A (ko) | 1984-10-31 |
GB8312580D0 (en) | 1983-06-08 |
JPS58208946A (ja) | 1983-12-05 |
JPH0353700B2 (de) | 1991-08-15 |
KR880001707B1 (ko) | 1988-09-07 |
US4533826A (en) | 1985-08-06 |
IT8321112A1 (it) | 1984-11-13 |
FR2527370B1 (fr) | 1985-10-31 |
GB2120493A (en) | 1983-11-30 |
IT8321112A0 (it) | 1983-05-13 |
BE896768A (fr) | 1983-11-17 |
ATA178183A (de) | 1984-04-15 |
SE451789B (sv) | 1987-10-26 |
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