DE3004703C2 - Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung eines Gegenstandes auf eine Bildebene - Google Patents
Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung eines Gegenstandes auf eine BildebeneInfo
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- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 17
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 3
- 239000006229 carbon black Substances 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
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Description
a) vor jeweils zwei photoelektrischen Wandlern (3, 3a, 3b, 3c), von denen der eine der einen
Gruppe und der andere der anderen Gruppe zugeordnet ist, im Strahlengang des Objektivs
(1) ein konvexes Linsenelement (2a, 2b, 2c) einer Rasterlinse (2) angeordnet ist, und daß
b) an den Randbereichen (Q) jedes Linsenelementes (2a, 2b, 2c) eine Schicht (4) aus lichtabsorbierendem Material angeordnet ist
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als lichtabsorbierendes Material ein
Epoxydharz mit feinverteiltem Ruß verwendet wird.
3. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß in den Randbereichen
(Q) der Linsenelemente (2a, 2b, 2c) Rillen für die Einfüllung des lichtabsorbierenden Materials (4)
ausgebildet sind.
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung eines Gegenstandes auf eine
Bildebene der im Oberbegriff des Anspruchs 1 angegebenen Gattung.
Eine solche Einrichtung kann beispielsweise in einer Kamera, also in einer Filmkamera oder einer Stehbildkamera, eingesetzt werden.
Aus der DE-OS 28 21 722 ist ein Verfahren zur automatischen oder halbautomatischen Scharfeinstellung der Abbildung eines Gegenstandes auf eine
Bildebene bekannt, bei dem ein Ausschnitt des Bildes mit Hilfe von Mikroprismenrastern auf Bildsensoren
projiziert wird. Durch die Mikroprismenraster sind die Abbildungen auf den Bildsensoren nur dann zueinander
ähnlich, wenn die richtige Scharfeinstellung am Objektiv vorgenommen wurde.
Weiterhin geht aus der DE-OS 28 13 914 eine Anordnung zur Scharfeinstellung der Abbildung eines
Gegenstandes auf eine Bildebene hervor, bei der drehbar gelagerte Spiegel verwendet werden, die zwei
Hilfsabbildungen des Gegenstandes liefern. Die Verwendung von beweglichen Bauteilen ist jedoch gerade
bei Kameras immer mit Problemen verbunden, da insbesondere bei längerem Gebrauch, aber auch bei
Erschütterungen die erforderliche, die exakte Justierung nicht mehr gewährleistet ist
Schließlich geht aus der DE-AS 23 64 603 noch eine Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung eines
Gegenstandes auf eine Bildebene der angegebenen Gattung hervor, die zwei Gruppen von selbstabtastenden, photoelektrischen Wandlern für das durch ein
Objektiv einfallende Licht und eine die Phasenunterschiede zwischen den Ausgangssignalen der photoelektrischen Wandler verarbeitende Auswerteinrichtung
aufweist
Nachteilig ist bei diesem Scharfeinstellsystem, daß bewegliche Teile vorgesehen werden müssen. Denn die
Ausgangssignale der photoelektrischen Wandler müssen durch seitliche Verschiebung eines der beiden Bilder
zur Obereinstimmung gebracht werden, um die Fokussierung feststellen zu können. Eine solche
mechanische Verschiebung des Scharfeinstellsystems verlangt jedoch einen relativ hohen, konstruktiven
Aufwand, benötigt relativ viel Raum und reagiert
ίο extrem empfindlich auf Erschütterungen, Stöße oder
ähnliche äußere Einflüsse.
Ein weiterer Nachteil liegt darin, daß nicht sofort
festgestellt werden kann, ob sich bei Abweichungen von der Fokussierlage die Abbildungsebene vor oder hinter
der Bildebene, im allgemeinen der Filmebene einer Kamera, befindet Aus diesem Grunde kann die
Verstellung immer nur in einer bestimmten Richtung erfolgen, beispielsweise bei einer Kamera aus der
Einstellung auf dem geringsten Aufnahmeabstand durch
Verschiebung des Objektivs auf den Abstand »Unendlich«. Dadurch wird relativ viel Zeit benötigt, da der
gesamte Entfernungsbereich durchfahren werden muß. Außerdem wird für diese Bewegung relativ viel Energie
gebraucht, so daß die in einer solchen Kamera
vorhandenen Batterien sich bei häufiger Betätigung des
Scharfeinstellsystems rasch entleeren.
Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugrunde,
eine Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung eines Gegenstandes auf eine Bildebene der angegebe
nen Gattung zu schaffen, bei der auch ohne kontinuierli
ches Durchlaufen des gesamten Verstellbereiches die Scharfeinstellung sehr rasch und gleichzeitig exakt
ermittelt werden kann.
kennzeichnenden Teil des Anspruchs 1 angegebenen Merkmale gelöst
Die mit der Erfindung erzielten Vorteile beruhen auf folgender Funktionsweise: In jedem Paar von photoelektrischen Elementen, beispielsweise CCD-Elementen,
»sieht« ein photoelektrischer Wandler den Gegenstand von einer Hälfte des Objektivs an der Austrittspupille
des Objektivs, während der andere Wandler den Gegenstand von der anderen Hälfte des Objektivs
»sieht«. Wenn jeder Wandler die gleiche Lichtmenge
empfängt, liegt die Abbitdungsebene in der festen
Bildebene, d. h, das Objektiv ist auf den Gegenstand scharf eingestellt Wenn ungleiche Lichtmengen auf die
beiden Wandler jedes Paars fallen, ist die Abbildung nicht scharf eingestellt, so daß die Auswerteinrichtung
so ein entsprechendes Signal für die Verstellung des Objektivs oder auch nur für die Anzeige dieses
Zustandes abgeben kann.
Es sind also keine beweglichen Teile für die Ermittlung der Scharfeinstellung erforderlich, so daß die
oben erwähnten Nachteile vermieden werden. Außerdem muß nicht der gesamte Verstellbereich des
Objektivs durchfahren werden, um die Scharfeinstellage zu erreichen, sondern aus einer einzigen Messung kann
bereits die Richtung ermittelt werden, in der das
Objektiv zur Scharfeinstellung verschoben werden muß.
Und schließlich wird durch die Verwendung von Schichten aus Licht absorbierendem Material in den
Randbereichen der einzelnen, konvexen Linsenelemente verhindert, daß einzelne Lichtstrahlen auf die
photoelektrischen Wandler von benachbarten Linsenelementen fallen und dadurch das Meßergebnis
verfälschen können, so daß eine sehr hohe Meßgenauigkeit gewährleistet ist
Die Erfindung wird im folgenden anhand von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die
beiliegenden, schematischen Zeichnungen näher erläutert Es zeigt
F i g. i das optische System einer Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung im fokussierten
Zustand,
F i g. 2 die Phasen der Ausgangssign.\!e der photoelektrischen
Wandler,
Fig.3 die Fokussierung auf einen Punkt vor der
Bildebene,
F i g. 4 die Phasen der Ausgangssignale der photoelektrischen Wandler bei der Fokussierung nach F i g. 3,
F i g. 5 die Fokussierung auf einen Punkt hinter der Bildebene,
F i g. 6 die Phasen der Ausgangssignale der photoelektrischen Wandler bei der Fokussierung nach F i g. 5,
F i g. 7 eine Detaildarstellung des optischen Systems,
F i g. 8 eine weitere Detaildarstellung eines optischen Systems,
Fig.9 und 10 den geometrischen Strahlengang des
optischen Systems,
F i g. 11 im vergrößerten Maßstab die Rasterlinse,
F i g. 12 im vergrößerten Maßstab einen Schnitt durch die Rasterlinse mit den Schichten aus lichtabsorbierendem
Material,
F i g. 13 eine weitere Ansicht der Rasterlinse, und
F i g. 14 im vergrößerten Maßstab einen Schnitt durch die Rasterlinse nach Fig. 13 mit Schichten aus
lichtabsorbierendem Material.
Bei dem in F i g. Γ dargestellten optischen System
einer Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung eines Gegenstandes auf eine Bildebene verlaufen die
Lichtstrahlen vom Randbereich der Austrittspupille eines Objektivs I1 beispielsweise des Aufnahmeobjektivs
einer Kamera, über die Linsenelemente einer Rasterlinse 2 zu zwei Gruppen von selbstabtastenden,
photoelektrischen Wandlern, beispielsweise ladungsgekoppelten (CCD) oder MOS-Bildfühlern. Die Fokussierung
des Gegenstandes kann aus der Phasendifferenz der Ausgangssignale der photoelektrischen Wandler 3
festgestellt werden.
Wesentlich bei diesem Prinzip ist also, daß Lichtstrahlen, die von zwei verschiedenen Bereichen des Objektivs
kommen, für die Feststellung der Scharfeinstellung verwendet werden.
Wenn die Abbildung des Gegenstandes scharf eingestellt ist, fallen die aufgeteilten Lichtstrahlen von
dem Objektiv 1 genau auf die beiden Wandler 3a-l und 3a-2. Folglich stimmen die Phasen der Ausgangssignale
der entsprechenden Wandler 3a-l und 3a-2 überein. Wenn das Bild auf einen Punkt vor der Bildebene scharf
eingestellt ist, fallen die aufgeteilten Lichtstrahlen von dem Objektiv 1 auf zwei andere Wandler 36-1 und 3e-2,
so daß die Phasen der Ausgangssignale der beiden Wandler 36-1 und 3c-2 gegeneinander verschoben sind,
wie in Fig.4 dargestellt ist. Andererseits fällt bei
Scharfeinstellung auf einem Punkt hinter der Bildebene (siehe Fig.5) einer der Lichtstrahlen /ι auf einen
Wandler 3c-2, der durch einen weißen, leeren Kreis dargestellt ist, obwohl bei Scharfeinstellung der
Lichtstrahl h auf den Wandler 3a-1 fallen sollte, der in
F i g. 5 durch einen vollen schwarzen Kreis dargestellt ist Ferner fällt bei dieser Einstellung der andere
Lichtstrahl k auf den Wandler 36-1, der durch einen
vollen schwarzen Kreis dargestellt ist Die Phasen der Ausgangssignale der Wandler 3o2 und 36-1 sind im
Unterschied zu dem Fall in Fig.4 umgekehrt, wie in
F i g. 6 dargestellt ist
Durch Ermittlung des Phasenunterschieds zwischen den Ausgangssignalen der Wandler kann somit
festgestellt werden, ob das Bild eines Gegenstandes auf einen Punkt vor oder hinter der Bildebene scharf
eingestellt ist
Bei dieser Einrichtung sind jeweils zwei Wandler 3a, 36 paarweise so angeordnet, daß sie je einem konvexen
Linsenelement einer Rasterlinse 2 entsprechen. Folglich
ίο ist der Abstand Po zwischen jeweils zwei Wandlern
gleich dem Abstand P zwischen den Linsenelementen. Bei dieser Ausführung konvergieren die Lichtstrahlen I\
und h, die von Punkten h und /auf der Austrittsöffnungsebene
G des Objektivs 1 kommen, auf der optischen Achse 5 des Objektivs 1 und fallen auf zwei Wandler 3a,
die einem kleinen Linsenelement 2a entsprechen. Lichtstrahlen, die von der optischen Achse 5 abweichen,
beispielsweise die Lichtstrahlen h und A, fallen jedoch nicht auf die beiden Wandler 3m, die einem kleinen
Linsenelement 2m entsprechen. Im Unterschied zu den Lichtstrahlen /Ί und /3 fallen Lichtstrahlen k und k in
umgekehrter Reihenfolge auf die beiden Wandler 3v,
die einem kleinen Linsenelement 2v entsprechen, und auf die beiden Wandler 3w, die einem kleinen
Linsenelement 2w entsprechen, welches bei einem Wandler 3 ν angeordnet ist Folglich wird die Scharfeinstellung,
die durch jedes Wandler-Paar angezeigt ist, ungenauer, wenn sich der Abstand von der optischen
Achse S vergrößert
Damit die Lichtstrahlen A bis k, die von Punkten h und
i auf der Austrittsöffnungsebene G des Objektivs 1 herkommen, genau auf das entsprechende Wandler-Paar
fallen, wird der Abstand Po zwischen den Wandlerpaaren bezüglich des Abstandes P zwischen
den kleinen Linsenelementen entsprechend geändert, so daß jedes Wandler-Paar, außer dem auf der optischen
Achse 5, scheinbar nicht jedem Linsenelement entspricht Jedes Wandlerpaar entspricht jedoch im
wesentlichen jedem Linsenelement bezüglich der neutralen Linien der Strahlen von den Punkten h und /
auf der Austrittsöffnungsebene G, beispielsweise bezüglich der neutralen Linien 5i und Si in F i g. 8.
Der Abstand Po zwischen Wandlern wird folgendermaßen festgelegt: Gemäß F i g. 9 schneiden sich die
Austrittsöffnungsebene G des Objektivs 1 und die optische Achse S des Objektivs 1 an der Stelle M,- der
Abstand entlang der optischen Achse S zwischen der Austrittsöffnungsebene G und dem Krümmungsmittelpunkt
0 jedes Linsenelements der Rasterlinse 2 ist D, während der Abstand entlang der optischen Achse S
zwischen dem Krümmungsmittelpunkt ο und einer Halterungsebene F zum Anbringen jedes Wandler-Paars
mit ^bezeichnet ist.
In einer Ausführung mit einer Rasterlinse 2, deren konvexe Seite zu dem Objektiv 2 hin ausgerichtet ist,
liegt die Halterungsebene F für die Wandler auf der Rückseite der Rasterlinse 2; folglich ist der Abstand XV
gleich T-R, wobei Γ die Dicke der Rasterlinse und R
der Krümmungsradius jedes Linsenelementes ist.
Wenn der Krümmungsmittelpunkt eines n-ten kleinen Linsenelements In, von der optischen Achse 5 aus
gezählt 0„ ist, wenn der Abstand zwischen der optischen
Achse Sund dem Krümmungsmittelpunkt On Ln ist, wenn
An der Schnittpunkt einer neutralen MOn und der
Haiterungsebene F ist, d. h., die Mitte zwischen einem
Wandlerpaar, das zu dem kleinen Linsenelement 2r> gehört, und wenn Bn der Schnittpunkt der Halterungsebene
Fund einer Abstandslinie bezüglich des kleinen
Linsenelements 2„ ist, d. h., einer parallel zu der
optischen Achse S verlaufenden Linie, welche durch den Krümmungsmittelpunkt On hindurchgeht, dann läßt sich
der Abstand Xn zwischen dem Punkt An und dem Punkt
ß„folgendermaßen darstellen:
A'. = W A.
(D
Xn ist die Summierung der Veränderungen des
Abstandes Po zwischen dem Wandlerpaar (Photoelemente) entsprechend der Summierung des Abstandes P
zwischen den kleinen Linsenelementen in dem Bereich von der optischen Achse S zu dem kleinen Linsenelement
2n- Die Summierung Xn, der Veränderungen des
Abstandes Po zwischen dem Wandlerpaar bis zu einem kleinen Linsenelement 2m, welches bei dem kleinen
Linsenelement 2n und näher bei der optischen Achse S angeordnet ist, läßt sich folgendermaßen darstellen:
X111 = W -im. = w JuiZJL o)
D D U>
Folglich ist die Änderung AX des Abstandes Po des Wandlerpaars, das dem einen Abstand zwischen den
kleinen Linsenelementen entspricht, folgende:
AX = X11-X,,,
= w -L·. _ w I3ZL = w .1 L1-(L1-P) !
D D 1 Z) I
= H —
D
D
Dadurch beträgt der Abstand Po zwischen den Wandlern
Po = P+ AX = P+ W —
D
Wie vorstehend erwähnt, kann, da W=T-R ist, die
Gl. (4) folgendermaßen umgeschrieben werden:
Po = P+(T-R) —
Durch Festlegen des Abstandes Po zwischen den Wandlern entsprechend dem auf diese Weise festgelegten
Abstand Po fallen dann die Lichtstrahlen von jedem aufgeteilten Bereich des Objektivs 1 genau auf das
entsprechende Wandlcrpaar, so daß die richtigen Ausgangssignale von dem Wandlerpaar erzeugt werden.
In F i g. 10 ist eine Ausführung dargestellt, bei der die
konvexe Seite der Rasterlinse 2 bezüglich des Objektivs 1 umgekehrt ist Bei dieser Ausführung .ist die
Hallerungsfläche F der Wandler im Abstand von der Oberfläche der Rasterlinse 2 angeordnet. Wenn jedoch
der Abstand zwischen der Austrittsöffnungsebene Gdes
Objektivs 1 und dem Krümmungsmittelpunkt 0 jedes > Linsenelements der Rasterlinse 2Dbeträgt, der Abstand
W von dem Krümmungsmittelpunkt 0 zu der Halterungsebene F der Wandler beträgt und die anderen
Faktoren so wie im Fall der F i g. 9 eingestellt sind, kann die Beziehung zwischen dem Abstand Po zwischen den
ίο Wandlern und dem Abstand P zwischen den kleinen
Linsenelementen durch dieselbe Gleichung, nämlich Gl. (4) dargestellt werden.
Folglich kann der Abstand Po zwischen den Wandlern aus einem vorherbestimmten Abstand P
ii zwischen den kleinen Linsenelementen festgesetzt
werden; umgekehrt kann der Abstand P aus einem vorherbestimmten Abstand Po festgesetzt werden. Dies
ist nützlich, wenn eine Gruppe von Wandlerpaaren unter Verwendung einer handelsüblichen Rasterlinse
gebildet wird oder handelsübliche Wandlerpaare verwendet werden.
Die Rasterlinse, die bei dieser Einrichtung zum Festlegen der Scharfeinstellung verwendet wird, besteht
aus mehreren kleinen Linsen, die aneinandergrenzen
2> und als Einheit ausgebildet sind. Wie in F i g. 11
dargestellt ist, hat bei den Randbereichen der konvexen Oberfläche jedes Linsenelements die Oberfläche jedes
Linsenelements einen Krümmungsradius, welcher sich von dem vorherbestimmten Krümmungsradius R
jo unterscheidet, oder sie hat auf einer Breite Q einen
umgekehrten Krümmungsradius. Obwohl alle Lichtstrahlen, die auf das Linsenelement 2a fallen, auf den
Wandler 3a-l fallen sollten, werden einige der (3) Lichtstrahlen in den Randbereichen Q in anderen
Richtungen gebrochen und fallen auf andere Wandler, wodurch Störungen in den Ausgangssignalen der
Wandler erzeugt werden und die genaue Feststellung der Scharfeinstellung nicht möglich ist.
Dieser Nachteil kann dadurch vermieden werden, daß die Randbereiche des Linsenelements lichtundurchlässig
gemacht werden. Beispielsweise wird, wie in F i g. 12
dargestellt, ein lichtabsorbierendes Material 4 in die senken- oder talförmigen Bereiche gefüllt oder auf
diesen aufgebracht, welche die Randbereiche Q bilden.
Als lichtabsorbierendes Material kann beispielsweise ein Epoxydharz mit darin feinstverteiltem Ruß verwendet
werden. Wenn das lichtabsorbierende Material auf die talförmigen Bereiche gefüllt wird, werden die
übrigen Teile der Linsenoberfläche durch das lichtabsorbierende Material 4 nicht verschmutzt Um das
lichtabsorbierende Material 4 sicherer einzufüllen, können Rillen zum Einfüllen des lichtabsorbierenden
Materials 4 in den talförmigen Bereichen der Räildbereiche
Q ausgebildet werden.
Da die Randbereiche lichtabsorbierend gemacht werden, wird die Fortpflanzung der Lichtstrahlen,
welche die Randbereiche Q erreichen, unterbunden, so
daß keine Störsignale erzeugt werden.
(4)
(5)
Hierzu 4 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
1. Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung eines Gegenstandes auf eine Bildebene mit zwei
Gruppen von selbstabtastenden photoelektrischen Wandlern für das durch ein Objektiv einfallende
Licht und mit einer die Phasenunterschiede zwischen den Ausgangssignalen der photoelektrischen Wandler verarbeitenden Auswerteinrichtung, dadurch
gekennzeichnet, daß
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ID=26349483
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Date | Code | Title | Description |
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OAP | Request for examination filed | ||
OD | Request for examination | ||
D2 | Grant after examination | ||
8363 | Opposition against the patent | ||
8328 | Change in the person/name/address of the agent |
Free format text: SCHWABE, H., DIPL.-ING. SANDMAIR, K., DIPL.-CHEM. DR.JUR. DR.RER.NAT., PAT.-ANW., 8000 MUENCHEN |
|
8366 | Restricted maintained after opposition proceedings | ||
8381 | Inventor (new situation) |
Free format text: NAKAOKA, HIDEO, TOKIO/TOKYO, JP |
|
8305 | Restricted maintenance of patent after opposition | ||
D4 | Patent maintained restricted | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |