DE2914674C2 - Verfahren zum Prüfen gedruckter Schaltungskarten und Prüfgerät zur Durchführung des Verfahrens - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüfen gedruckter Schaltungskarten gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 sowie ein Prüfgerät zur Durchführung des Verfahrens gemäß Patentanspruch 5.

Die nichtvorveröffentlichte DE-AS 27 55 576 befaßt sich mit einem derartigen Verfahren und einem entsprechenden Prüfgerät Bei dem bekannten Verfahren werden Prüfdaten und zu erwartende Ergebnisdaten von einem Tastenfeld oder einer Bandaufzeichnung abgeleitet und seriell einem Schieberegister zugeführt 1st das Schieberegister gefüllt, dann werden die Testdaten und die erwarteten Ergebnisdaten in einen Zwischenspeicher übertragen, damit die Prüfdaten über einen Koordinatenschalter an zugeordnete Eingänge der zu prüfenden gedruckten Schaltungskarte angelegt werden können. Die bei einem derartigen Anwenden der Prüfdaten sich ergebenden Ergebnisdaten werden mit den erwarteten Ergebnisdaten verglichen, um zu bestimmen, ob ein Fehler aufgetreten ist. Das bekannte Verfahren hat den Nachteil, daß es verhältnismäßig langsam arbeitet, da die Daten über ein Tastenfeld oder von einem seriell arbeitenden Bandaufzeichnungsgerät eingegeben werden; ein weiterer Nachteil besteht in der geringen Flexibilität, da ein Koordinatenschalter erforderlich ist, um das Prüfgerät an die zu prüfende Schaltungskarte anzupassen. Dies bedeutet nämlich, daß unterschiedliche Koordinatenschalter für gedruckte Schaltungskarten unterschiedlichen Aufbaus erforderlich sind. Auch bringt die Notwendigkeit derartiger unterschiedlicher Koordinatenschalter eine Erhöhung der Kosten mit sich.

Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren der angegebenen Art derart zu verbessern, daß es rasch abläuft und flexibel in der Anwendung ist.

Gemäß der Erfindung wird diese Aufgabe gelöst durch ein Verfahren gemäß dem Kennzeichen des Patentanspruchs!.

Es ist zu erkennen, daß die Verwendung des Schritts des getasteten Anlegens jeweils eines der Datenbits an eine gewählte steuerbare Schaltung gemäß der gespeicherten Bestimmungsinformation das Verfahren £ußerst vielseitig macht, da gedruckte Schaltungskarten mit sich änderndem Aufbau geprüft werden können. Durch den Schritt des Übertragens des Datenwortes in paralleler Form zum Prozessor erhöht sich die Arbeitsgeschwindigkeit erheblich.

Ein erfindungsgemäßes Prüfgerät zur Durchführung des Verfahrens ist durch die Merkmale des Patentanspruchs 5 gekennzeichnet.

Ein Ausfuhrungsbeispiel der Erfindung wird im folgenden anhand von Zeichnungen im einzelnen beschrieben, wobei unter »Treiber/Sensor-Schaltuneen« steuerbare Schaltungen, die steuerbar in einer Treiberbetriebsart oder in einer Abtastbetriebsart arbeiten, zu verstehen sind. Es zeigt

Fig. 1 eine perspektivische Ansicht eines AusfChrungsbeispiels des tragbaren Prüfgeräts!
F i g, 2 eine Draufsicht auf die Anschlußsteckerkarte des in F i g, 1 dargestellten tragbaren Prüfgerätes;

Fig,3A eine vergrößerte TeUansieht der in Fig. 2 dargestellten Anschlußsteckerkarte;

F i g. 3 B eine schematische Ansicht der Verbindungen ίο der Randkontaktstifte, Schalter und Steckerstift&der in F i g. 3 A gezeigten Anordnung;

F i g. 4 eine Seitenansicht der in F i g. 3A dargestellten Anschlußschaltungskarte sowie deren Anordnung zu einer in dem tragbaren Prüfgerät der F i g. 1 enthaltenen is Mutter-Karte, und einen Teil eines Anschlusses einer in Fig. 6 dargestellten Gruppenkarte, weiche mit zwei Steckerstiften der Anschlußsteckerkarte verbunden ist;

Fig.5 eine schematische Darstellung der elektrischen Verbindung einer Treiber/Sensor-Schaltung mit einem Tre'ber/Sensor-Steckerstift, einem Randkontaktsteckerstift und einem Randkontak'vriift der Anschlußsteckerkarte dc- F i g. 2 und 3;

F i g. 6 eine perspektivische schematische Ansicht, aus welcher der ungefähre Aufbau und die elektrischen Verbindungen einer in Verbindung mit dem in F i g. 1 dargestellten tragbaren Prüfgerät verwendeten Gruppenschaltungskarte ersichtlich ist;

F i g. 7 ein Blockschaltbild des in dem tragbaren Prüfgerät gemäß F i g. 1 verwendeten Hochgeschwindigkeits-Prozessors;

F i g. 8A ein Flußdiagramm, welches die notwendigen

Schritte zur Erzeugung einer Sammelleitungs-definierenden Unterroutine anzeigt welche in dem Speicher des in F i g. 7 dargestellten Hochgeschwindigkeits-Prozessors gespeichert ist;

Fig.8B eine schematische Ansicht der Operationsschritte des Hauptprozessors des in F i g. 1 dargestellten Prüfgerätes, welcher in Abhängigkeit von einer gemäß den in Fig.8A dargestellten Schritten erreugten Unterroutine arbeitet; und

F i g. 9 eine schematische Ansicht eines Schaltungsblc-kes, welcher dazu verwendet wird, das Arbeiten des Hochgeschwindigkeitsprozessor-Taktgenerators während der Ausführung eines WAIT-(Warter,)-Befehls zu sperren.

Unter Bezugnahme auf die Zeichnungen, insbesondere auf die F i g. 1 bis 5, sei darauf hingewiesen, daß das erfindungsgemäße tragbare Prüfgerät eine Anschlußsteckerkarte 12 enthält Diese ermöglicht die Herstellung elektrischer Verbindungen zwischen dem tragbaren Prüfgerät und einer zu prüfenden Schaltungskarte 14. Die Anschlußsteckerkarte 12 verleiht dem tragbaren Prüfgerät die Fähigkeit bzw. Möglichkeit, direkt mit den Ran^kontakten der meisten der zu prüfenden Schaltungskarten verbunden werden zu können, ohne daß hierzu spezielle Adapter erforderlich sind.

Die Anschlußsteckerkarte 12 besitzt drei Randkon taktsteckerleisten 16,18 und 20, wie dies aus den F i g. 1 und 2 ersichtlich ist Die Steckerleiste 16, in welche die Randkontakte der zu prüfenden Schaltungskarte 14 eingesteckt werden können, weist zwei Reihen mit neunzig Stiften auf, die jeweils einen Mittenabf'and von 3,96 Millimeter besitzen. Die Steckerleiste 18 enthält zwei Reihen von einhundertzehn Stiften, welche einen Mittenahstand von 3,18 Millimeter aufweisen Die Steckerleiste 20 enthält zwei Reihen von einhundertachtundzwanzig Stiften, welche einen Mittenabstand von 2,54 Millimeter aufweisen. Diese drei Steckerleisten

• liefern somit die bei kommerziell erhältlichen Vorrichtungen am häufigsten vorkommenden Stiftabstände und ermöglichen somit dem Prüfgerät, die meisten mit Randkontaküen versehenen gedruckten Schaltungskarten aufzunehmen.

Die Anschlußsteckerkarte 12 enthält ferner eine Doppelreihe von »Randkontakt-Steckerstiften«, welche allgemein mit dem Bezugszeichen 22 versehen sind. Die Randkontakii-Steckerstifte 22 dienen zum Verbinden mit einer »Gruppenkarte« 40, welche unter Bezugnah- ι ο r,ie auf die F i g. 6 beschrieben wird. Die Randkontakt-Steckerstifte 22 besitzen einen Mittenabstand von 2,54 Millimeter und sind mit entsprechenden der 256 Stifte der Steckerleiste 20 verbunden. Die 220 Stifte der Steckerleiste 18 sind mit ausgewählten der Randkontakt-Stecken.tif te 22 verbunden. Die ersten 180 Stifte der Steckerloiste 16 sind mit entsprechenden der ersten 180 Randkontakt-Steckerstifte 22 verbunden. Die Randkontakl-Steckerstifte 22 ermöglichen einen externen Zugriff zu den mit diesen verbundenen Randkontakt-AnschluBstiften. Es ist somit ersichtlich, daß entsprechende Randkontakt-Anschlußstifte der Randkontakt-Steckerleisten 16, 18 und 20 parallel miteinander verbunden sind; die parallele Verbindung verschiedener einander entsprechender Anschlußstifte ist in Fig. 3B dargestellt, welche im folgenden näher beschrieben wird

Die Anschlußsteckerkarte 12 enthält ferner eine Doppelreihe von Treiber/Sensor-Sieckerstiften, welche allgemein mit dem Bezugszeichen 23 versehen sind. Die Treiber/Sensor-Steckerstifte 23 dienen dazu, eine Verbindung der Ausgänge der einzelnen nicht gezeigten Treiber/Sensor-Schaltungen mit verschiedenen anderen Anschlüssen der zu prüfenden Schaliungskarte zu ermöglichen. Eine solche Verbindung zu verschiedenen anderen Anschlüssen wird hergestellt durch Verwendung der oben erwähnten »Gruppenkarte« 40 und durch öffnen entsprechender, im folgenden näher beschriebener »DIP-Schalter«. Dies bedeutet, daß verschiedene der Treiber/Sensor-Steckerstifte 23 mit verschiedenen der Randkontakt-Steckerstifte 22 mittels der Gruppenkarte 40 verbunden werden können.

Die Treiber/Sensor-Steckerstifte 23 ermöglichen Zugriff zu bestimmten der Treiber/Sensor-Schaltungen, welche elektrisch von den Randkontakt-Steckerstiften 22 durch öffnen von entsprechenden der DlP-Schalter 26 abgetrennt wurden. Jedes DIP-(Dual in-line package)-Schalterpaket, beispielsweise 26' in Fig. 2, enthält acht Kippschalter (wie beispielsweise 26S in Fig.3B), von denen jeder im geschlossenen Zustand einen Treiber/Sensor-Schaltungsausgang und einen damit verbundenen Treiber/Sensor-Steckerstift (d. h. einen der Treiber/Sensor-Steckerstifte 23) mit einem entsprechenden der Randkontakt-Steckerstifte 22 verbindet. Die DIP-Schalter befinden sich normalerweise in ihrer geschlossenen Stellung, können jedoch bei der Vorbereitung zum Prüfen einer bestimmten gedruckten Schaltungskarte oder einer Gruppe von gedruckten Schaltungskarten geöffnet werden. Wenn beispielsweise eine zu prüfende gedruckte Schaltungskarte eine Spannungsversorgung benötigt, weiche den ±15 Volt-Bereich überschreitet, gegenüber welchem die Treiber/ Sensor-Schaltungen geschützt werden müssen, dann sollen die entsprechenden DIP-Schalter 26 geöffnet werden, bevor die Gruppenkarte eingesteckt wird, um soiche hohen Versorgungsspanrrungeri an die Spannungsversorgungsanschlüsse der zu prüfenden Schaliungskarte zu liefern. Die DIP-Schalter 26 können auch in ihrer offenen Stellung gelassen werden, wenn die zu prüfende Schaltungskarte Ausgangsspannungen erzeugt, welche den ± 15 Volt-Bereich überschreiten, um eine Beschädigung der Treiber/Sensor-Schaltungen durch solche den zulässigen Bereich überschreitende Spannungen zu vermeiden.

Wenn ferner die zu prüfende Schaltungskarte eine Verbindung von Treiber/Sensor-Schaltungsausgängen mit Randkontaktstiften verlangt, deren Numerierung über 191 liegt, dann können mit nicht verwendeten Treiber/Sensor-Schaltungen verbundene Treiber/Sensor-Sleckerstifte 23 von den ihnen zugeordneten Randkontaktstiften durch öffnen der entsprechenden DIP-Schalter 26 getrennt werden, und es können die von den Treiber/Sensor-Steckerstiften 23 kommenden Signale mittels einer geeigneten Gruppenkarte 40 zu Randkontakt-Steckerstiften 22 geleitet werden, welche den Randkontaktstiften entsprechen, welche diese Treiber/Sensor-Ausgangssignale benötigen.

Die DIH-Schaiter 26 werden somit verwendet, um Treiber/Sensor-Ausgänge von entsprechenden Randkontaktstiften abzutrennen, wenn entweder (1) der Treiber/Sensor-Ausgang statt zu dem entsprechenden Randkontaktstift woandershin zu leiten ist oder (2) der entsprechende Randkontaktstift eine Spannung oder ein Signal aufnehmen soll, welche bzw. welches von dem Ausgangssignal des entsprechenden Treiber/Sensor-Schaltunssausgangs abweicht. Beispielsweise kann es erforderlich sein, daß der entsprechende Randkontaktstift das Anlegen einer Versorgungsspannung benötigt.

Die Anschlußsteckerkarte 12 enthält ferner eine Vielzahl von Stromversorgungs-Steckerstiften und Masse-Steckerstiften, welche in Fig.2 allgemein mit den Bezugszeichen 34 bzw. 32 versehen sind. Die Stromversorgungs-Steckerstifte 32 und 34 sind individuell mit verschiedenen konstanten und programmierbaren in dem Prüfgerät enthaltenen Spannungsversorgungs-Ausgängen verbunden. Die Spannungsversorgungs-Steckerstifte 34 ermöglichen die Verwendung der Gruppenkarte, um Versorgungsspannungen an vorbestimmte Randkontakt-Steckerstifte 22 zu leiten, um dadurch die erforderlichen Versorgungsspannungen an die entsprechenden Spannungsversorgungs-Anschlußstifte der zu prüfenden Schaltungskarte zu liefern.

Es sei darauf hingewiesen, daß die Anschlußsteckerkarte 12 auch eine Gruppe von Steckerstiften 35 aufweist, weiche mit der internen Hochgeschwindigkeits-Sammelleitung 161 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors der F i g. 7 gekoppelt sind, um einen externen Zugriff zu der internen Hochgeschwindigkeits-Sammelleitung des Hochgeschwindigkeits-Prozessors zu ermöglichen.

Die Gruppenkarte 40 ist in F i g. 6 in perspektivischer Darstellung gezeigt und erscheint in F i g. 4 teilweise als Seitenansicht. Die Gruppenkarte 40 ist eine lange schmale Karte, welche mit Vorrichtungen zum Montieren von Steckern oder Sockeln versehen ist, weiche in bestimmte Randkontakt-Steckerstifte 22, Treiber/Sensor-Steckerstifte 23 und/oder Spannungsversorgungs-Steckerstifte 32, 34 eingesteckt werden können. Verschiedene Drähte oder Leiter der Gruppenkarte 40 liefern eine elektrische Verbindung zwischen bestimmten Gruppen der oben genannten Steckerstifte, so daß verschiedene Versorgungsspannungen an einen Randkontakt-Steckerstift 22 angelegt werden können, welche mit den Versorgungsspannungs-Eingängen der zu prüfenden Schaltungskarte verbunden sind.
Die Leiter der Gruppenkarte 40 verbinden ferner

Ausgangssignale von nicht benutzten Treiber/Sensor-Steckerstiften 23 mit Randkontakt-Steckerstiften, welche mit Eingangsstiften oder Ausgangsstiften der zu prüfenden Schaltungskarte verbunden sind, welche eine Numerierung von höher als 19! aufweisen, oder welche so angeordnet sind, daß sie nicht direkt in eine der Randkontakt-Steckerleisten 16,18 oder 20 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors eingesteckt werden können.

Das Ziel der oben beschriebenen Anordnung von Steckerstiften, DIP-Schaltern und der Gruppenkarte mit den zugehörigen Steckern bzw. Steckerleisten ist, eine elektrische Verbindung von Versorgungsspannungen, Bezugsspannungen bzw. Masse und verschiedenen Treiber/Sensor-Ausgangssignalen zu »nicht-entsprechenden« Stiften der zu prüfenden Schaltungskarte herzustellen, falls dies für eine bestimmte zu prüfende Schaltungskarte erforderlich sein sollte. Diese Anordnung ist aufgrund der Tatsache erforderlich, daß die meisten elektronischen Geräte und Gerätefamilien mindestens eine »Mutter-Karte« besitzen, welche mit einer Vielzahl von Randkontakt-Steckerleisten versehen ist, um darin eine Vielzahl von gedruckten Schaltungskarten aufzunehmen. Die Stiftdefinitionen für die Versorgungsspannungen, Taktsignale und die verschiedenen Datensammelleitungen und dergleichen 2*> sind normalerweise für alle gedruckten Schaltungskarten, welche in eine bestimmte Mutter-Karte eingesteckt sind, die gleichen und sind ferner für eine vollständige Geräte- oder Produktfamilie cder -gruppe die gleichen. Somit kann üblicherweise eine einzige Gruppenkarte verwendet werden, um alle gedruckten Schaltungskar-ten einer bestimmten Gerätegruppe zu Prüfzwecken mit dem Prüfgerät zu verbinden.

Es sei darauf hingewiesen, daß einige gedruckte Schaltungskarten Anschlußteile aufweisen, welche nicht von Randkontakt-Steckerleisten 16, 18 oder 20 des Prüfgerätes aufgenommen werden können. Solche Anschlußteile können jedoch mit dem Prüfgerät unter Zuhilfenahme spezieller Kabel, welche an ihren beiden Enden mit Sockeln, Steckern oder dergleichen versehen sind, elektrisch verbunden werden. Die Stecker an dem einen Ende können mit geeigneten Treiber/Sensor-Steckerstiften oder Versorgungsspannungs-Steckerstiften und die Stecker an dem anderen Ende können mit den Stiften des auf andere Weise nicht anschließbaren Anschlußteils der zu prüfenden Schaltungskarte verbunden werden.

Die F i g. 3A zeigt eine vergrößerte Ansicht eines Teils der Anschluß-Steckerkarte 12 der Fig.2. Die F i g. 3B veranschaulicht, wie die mit Null und Eins bezeichneten Randkontaktstifte mit entsprechenden Randkontakt-Steckerstiften 22, Treiber/Sensor-Steckerstiften 23 und DIP-Schaltern 26 verbunden sind. Wie oben bereits erläutert, sind einander entsprechende Randkontaktstifte miteinander und mit entsprechenden Randkontakt-Steckerstiften 22 verbunden. Somit sind in F i g. 3B die Randkontakt-Steckerleistenstifte 42,44 und 46 mit einem Leiter 60 verbunden. Der Leiter 60 ist mit einem Randkontakt-Steckerstift 22Λ und mit der einen Anschlußklemme eines Schalters 26Λ verbunden, welcher einer der Schalter 26 des DIP-Schalterbausteins 26' ist Der andere Anschluß des Schalters 26/4 ist mit dem Treiber/Sensor-Steckerstift 23Λ verbunden. In ähnlicher Weise sind die Randkontakt-Steckerleistenstifte 41, 43 und 45 und die Randkontaktsteckerstifte 22B alle mit dem Leiter 62 verbunden, welcher mit dem einen Anschluß eines Schalters 265 verbunden ist, welcher ebenfalls einer der Schalter 26 der Schalterbaugruppe 26' ist. Der andere Anschluß des Schalters 265 ist mit dem Treiber/Sensor-Steckerstift 23S verbunden. Die übrigen Randkontaktstifte, Randkontaktsteckerstifte, DIP-Schalter und Treiber/Sensor-Steckerstifte der-F i g. 2 und F i %. 3A sind in ähnlicher Weise miteinander verbunden.

F i g. 4 ist eine Seitenansicht der Anschlußsteckerkarte 12, aus welcher die Kontaktstifte der Randkontakt-Steckerleisten 16,18 und 20 ersichtlich sind. F i g. 4 zeigt ferner in einer Teilansicht, wie ein Stecker einer Gruppenkarte 40 in Randkontaktsteckerstifte 23Λ und 235eingesteckt ist.

In Fig.5 ist schematisch veranschaulicht, wie die Treiber/Sensor-Schaltung 54/4 mit dem Treiber/Sensor-Steckerstift 23C verbunden ist. Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel der Erfindung weisen die Treiber/ Sensor-Steckerstifte einen oberen Teil auf, welcher sich oben aus der Anschlußsteckerkarte 12 herauserstreckt und besitzen ferner einen unteren Teil, welcher sich unter der Anschlußsteckerkarte 12 herauserstreckt und direkt mit der Eingangs/Ausgangsklemme der entsprechenden Treiber/Sensor-Schaltung verbunden ist. Der Treiber/Sensor-Steckerstift ist mit einem Anschluß des Schalters 26C verbunden, dessen anderer Anschluß mit dem Randkontakt-Steckerstift 22C und mit den Randkontaktstiften 42,44 und 46 verbunden ist, wie dies aus F i g. 3B ersichtlich ist.

Wie aus F i g. 6 ersichtlich ist, enthält die Gruppenkarte 60 eine lange schmale Karte 40', auf welcher sich eine Anzahl Leiter, wie beispielsweise 80, 81 und 82, befinden. Die Gruppenkarte 40 enthält ferner eine Anzahl von Anschlußteilen, wie 70, 72 und 73, welche durch Buchsensteckerleisten gebildet werden, welche Gruppen von Steckerstiften, beispielsweise die Gruppen 65 und 66, aufnehmen können. Die Steckerstifte 65 können beispielsweise Gruppen von Treiber/Sensor-Steckerstiften sein, welche aus der Oberfläche der Anschlußsteckerkarte 12 herausragen; die Anschlußstifte 66 können Randkontakt-Steckerstifte sein. Die sich von dem Anschlußteil 70 wegerstreckenden Leiter 77, 78 und 79 sind mit Leitern 82, 81 bzw. 80 der schmalen Karte 40' verbunden. Entsprechende sich von ausgewählten Stiften des Anschlußteiles 72 wegerstreckende Leiter 77', 78' und 79' sind mit den Leitern 82,81 bzw. 80 verbunden. Das Anschlußteil 72 kann in die Steckerstifte 66 eingesteckt werden. An die Treiber/Sensor-Steckerstifte 65 angelegte Treiber/Sensor-Ausgangssignale gelangen somit auf Leiter der Karte 40' und von dort zu entsprechenden Randkontaktsteckerstiften der Gruppe 66 und von da zu entsprechenden Randkontaktstiften. Es sei darauf hingewiesen, daß die DIP-Schalter, welche m^:t mit den Leiterbahnen auf der Karte 40' verbundenen Treiber/Sensor-Steckerstiften verbunden sind, in ihrer offenen Stellung sein müssen. Durch die gestrichelten Linien 70Λ und 72Λ wird angedeutet, daß die AnschluBteQe 70 und 72 erforderlichenfalls mit der Seite der schmalen Karte W fest verbunden sein können.

Das Anschlußteil 73 ist mittels Leitern 83,84 und 85 mit anderen Leitern als den Leitern 80,81 und 82 auf der schmalen Karte 40" verbunden. Das Anschlußteil 73 kann in Spannungsversorgungs-Anschhißstifte, beispielsweise 32,34 eingesteckt werden, so daß entsprechende Versorgungsspannungen über entsprechende Leiter 83', 84' und 85' an verschiedene der Randkontaktsteckerstifte 56 angelegt werden können.

Bekannte tragbare Prüfgeräte für digitale Schaltungskarten benötigten komplizierte, unhandliche und teure

Anpassungsschaltungskarten, um bei diesen Geräten Spannungsversorgungssignale und Eingangsprüfsignale von dem tragbaren Prüfgerät zu den betreffenden Stiften der zu prüfenden Schaltungskarte zu leiten und um an den Ausgangsstiften der zu prüfenden Schaltungskarte erzeugte Signale zu entsprechenden Sensor-Schaltungen des Prüfgerätes zu leiten. Die Kombination der oben beschriebenen »parallel-geschalteten« Randkontakt-Stecke; leisten mit den drei gebräuchlichsten Stiftabständen, die Verbindung solcher Randkontakt-Steckerleistenstifte mit entsprechenden Randkontakt-Steckerstiften, DIP-Schaltern und Treiber/Sensor-Steckerstiften in Kombination mit der Gruppenkarte und den zugeordneten Anschluß- oder Verbindungselementen macht die Verwendung der oben erwähnten Anpassungsschaltungskarten in den meisten Fällen überflüssig, wenn programmierbare Treiber/Sensor-Schaltungen, welche individuell durch den Hauptprozessor des Prüfgeräts ausgewählt werden können, verwendet WSrdefl. Das ΡΓίϊ?^ηΓΟ^σΓΗΓΡ.ΓΠ d?S Haiintnro7.exi;nrs des Prüfgerätes kann geschrieben werden, um die Betriebsart jeder Treiber/Sensor-Schaltung zu steuern und die Prüfdaten ausgewählten der Treiber/Sensor-Schaltungen, welche durch den Prüfgeräte-Programmierer ausgewählt und bestimmt wurden, zuzuführen.

Obwohl die oben erwähnten Elemente der Anschlußsteckerkarte 12 wesentlich dazu beitragen, die Notwendigkeit von komplexen Anpassungs-Schaltungskarten zu eliminieren, ist es häufig erforderlich, daß ein tragbares Prüfgerät für gedruckte Schaltungskarten in der Lage ist, mit hohen Geschwindigkeiten zu arbeiten, welche für eine bequeme und umfassende Prüfung und Fehlerortung bei gedruckten Schaltungskarten erforderlich sind. Bis jetzt war es nur mit den oben erwähnten »Fabrikprüfgeräten« möglich, einen solchen Hochgeschwindigkeits-Betrieb und eine solche Fehlerortung durchzuführen. Allerdings enthalten Fabrikprüfgeräte wesentlich mehr Speicherschaltungen, Multiplex-Schaltungen und Hochgeschwindigkeits-Hauptprozessor-Schaltungen, als dies aus Kosten- und Raumgründen für den Einbau in tragbare Prüfgeräte für gedruckte Schaltungskarten vertretbar ist. Für tragbare Prüfgeräte, welche die oben ermähnte umfassende Hochgeschwindigkeits-Prüfung und Fehlerortung für gedruckte digitale Schaltungskarten durchführen sollen, besteht somit ein Teil der Lösung des Problems, die umfangreichen Anpassungs-Schaltungskarten bei gleichzeitigem Erreichen von Hochgeschwindigkeits-Prüfoperationen zu eliminieren, darin, den Umfang der in dem Prüfgerät benötigten Hochgeschwindigkeits-Speicherschaltungen, Hochgeschwindigkeits-Multiplexschaltungen und Hochgeschwindigkeits-Hauptprozessor-Schaltungen auf ein Mindestmaß zu reduzieren. Ein anderer Teil der Lösung liegt auf programmtechnischein Gebiet, um zu erreichen, daß Daten mit hoher Geschwindigkeit von dem Hauptprozessor zu den entsprechenden Stiften der zu prüfenden Schaltungskarte gelangen.

Bei dem beschriebenen Ausführungsbeispiel wird ein Hochgeschwindigkeits-Prozessor verwendet, welcher so programmierbar ist, daß er mit einer Maschinenzyklus-Geschwindigkeit arbeitet, weiche ein Vielfaches der Geschwindigkeit von vergleichsweise langsam arbeitenden Hauptprozessoren beträgt, welcher in Abhängigkeit und gleichzeitig mit dem Hauptprozessor arbeitet, um in parallelem Format von dem Hauptprozessor empfangene Daten nacheinander an vorbestimmte von 192 Treiber/Sensor-Schaltungen zu leiten.

Die schnelle sequenzielle Ausgabe wirü mit Hilfe einer Unterroutine erzielt, welche im folgenden als »H«-Verzeichnis (»H« filcy bezeichnet wird und die Form eines Objekt-Codes für den Hochgeschwindigkeits-Prozessor aufweist und in dem Hochgeschwindigkeits-Speicher gespeichert ist. Diese Unterroutine definiert Gruppen bestimmter Stifte der zu prüfenden Schaltungskarte als »Bestimmungs-Sammelleitungen« und leitet nacheinander Sechzehn-Bit-Datenwörter, von denen jedes in

ίο einem entsprechenden Einzelbefehl des Prüfprogramms enthalten ist, zu solchen »Bestimmungs-Sammelleitungen«.

Wie aus F i g. 7 ersichtlich ist. ist der Hauptprozessor 28", welcher ein Prüfprogramm zum Prüfen der Schaltungskarte speichert, mit einer Haupt-Sammelleitung 27 verbunden. Die Elemente des Hochgeschwindigkeits-Prozessors, welche hauptsächlich für das oben erwähnte »Hochgeschwindigkeits-Verschieben« eines Datenwortes von dem Hauptprozessor zu einer

?n vorbestimmten »Bestimmungs-SammelleitunE« der zu prüfenden Schaltungskarte benötigt werden, enthalten die interne Sammelleitung 161, ein parallel-ladbares serielles Schieberegister 166, einen Speicher mit wahlfreiem Zugriff (Random access memory — RAM) 163 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors, eine MikroSteuereinheit 165, ein Befehlsregister 169, einen Lesespeicher (Read only memory — ROM) 171 und eine Stiftsteuerschaltung 151. Diese Elemente des Hochgeschwindigkeits-Prozessors arbeiten in der Weise zusammen, um die Ausführung einer Serie eines »Daten-Ausschieben«-(»Shift data out« — SDO)-Befehls zu ermöglichen, welcher ein Datenwort, das zuvor in das serielle Schieberegister 166 parallel geladen wurde, sequenziell zu der Stiftsteuerschaltung 151 mit einer vorbestimmten Maschinenzyklus-Geschwindigkeit des Hochgeschwindigkeits-Prozessors verschiebt. Der vorbestimmte Bestimmungsort für jedes Datenbit wird durch einen Objekt-Code des Hochgeschwindigkeits-Prozessors als ein Argument eines entsprechenden SDO-Befehls, welcher in dem Hochgeschwindigkeitsspeicher 163 gespeichert ist, angegeben. Wenn jeder SDO-Befehl und sein zugeordnetes Araument in Abhängigkeit von der Mikro-Steuereinheit 165 aus dem RAM-Speicher 163 in das Befehlsregister 169 geladen wird, dann wird das entsprechende Bit des Datenwortes in dem Serienregister 166 in die Stiftsteuerschaltung 151 geschoben. Der Lesespeicher 171 dekodiert den augenblicklich im Befehlsregister 169 befindlichen SDO-Befehl, um verschiedene Steuersignale auf der Steuer-Sammelleitung 172 zu erzeugen, deren Leiter mit verschiedenen Elementen des Hochgeschwindigkeits-Prozessors verbunden sind, um die Ausführung des augenblicklichen SDO-Befehls zu ermöglichen.

Das aus dem seriellen Schieberegister 166 gerade ausgeschobene Bit des Datenwortes gelangt über einen Leiter 202 und Leiteinrichtungen, weiche die Stiftsteuerschaltung 151 und einen der Leiter der Sammelleitung 47 umfassen, an einen Eingang einer ausgewählten Treiber/Sensor-Schaltung, wie beispielsweise die Treiber/Sensor-Schaltung 54Λ in F i g. 5. Die »Argumente-Bits des augenblicklich in dem Befehlsregister 169 befindlichen Befehls werden zu der Stiftsteuerschaltung 151 ausgeblendet, um eine Acht-Bit-Adresse zum Auswählen einer der 192 Treiber/Sensor-Schaltungen, wie beispielsweise der Schaltung 54A in Fig.5 zu erzeugen. Die Acht-Bit-Adresse wird über die Sammelleitung 47 an eine nicht gezeigte Dekodierschaltung angelegt, welche ein Auswählsignal an einer ausgewähl-

ten v<:n 192 Auswählleitern (nicht gezeigt) liefert. Die Auswählleiter sind mit nicht gezeigten Verknüpfungsgliedern verbunden, über welche Bits des aus dem Schieberegister 166 ausgeschobenen Datenwortes an ausgewählte Treiber/Sensor-Schaltungen geliefert werden. Andere von dem ROM-Lesespeicher 171 bei der Dekodierung des augenblicklichen Befehls in dem Befehlsregister 169 erzeugte Signale bewirken die Erzeugung von Steuersignalen auf der Sammelleitung 47, welche zu der ausgewählten Treiber/Sensor-Schaltung übertragen werden, um die Betriebsart und die Zeitgabe für den Betrieb der ausgewählten Treiber/Sensor-Schaltung in der im folgenden beschriebenen Weise zu steuern.

Der Prüfgerät-Programmierer verwendet eine Programmsprache, welche als PSP-(Portable Service Processor)-BAS1C bezeichnet wird, welche die meisten der Anweisungen bzw. Befehle der bekannten Programmsprache BASIC verwendet und ferner eine Anzahl zusätzlicher Befehle enthält, weiche zur Verwendung in einem Computer-gesteuerten Gerät zur Prüfung logischer Schaltungen und Systemen, wie digitalen gedruckten Schaltiingskarte:·, geeignet sind.

Die MikroSteuereinheit 165 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors ist ein kommerziell erhältlicher Baustein, welcher im Zusammenarbeiten mit den anderen Elementen der Fig. 7 als ein getrennter Prozessor arbeitet, welcher in der Lage ist. Befehle auszuführen, die in Objekt-Code-Form in dem RAM-Speicher 163 gespeichert sind.

Um zu erreichen, daß der Hochgeschwindigkeits-Prozessor mit dem Hauptprozessor des Prüfgeräts in der Weise zusammenarbeitet, daß Datenwörter in der oben beschriebenen Weise mit hoher Geschwindigkeit zu einer vorbestimmten Bestimmungs-Sammelleitung geleitet werden, ist es erforderlich, daß der Prüfgerät-Programmierer anfangs eine die Bestimmungs-Sammelleitung in Form eines Objekt-Codes des Hochgeschwindigkeits-Prozessors definierende Unterroutine in den Speicher 163 (Fig. 7) des Hochgeschwindigkeits-Prozessors lädt. Die Unterroutine enthält eine Folge von »Daten-Ausschieben«-(SDO)-Befehlen, weiche jeweils einen vorbestimmten Stift der zu prüfenden Schaltungskarte definieren, welcher das entsprechende Bit des aus dem Hauptprozessor in das serielle Schieberegister 166 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors geladenen Datenwortes aufnehmen soll. Die Gruppe derjenigen Stifte, welche als Argumente der entsprechenden SDO-Befehle der die Sammelleitung definierenden Unterroutine spezifiziert sind, wird im folgenden als »Bestimmungs-Sammelleitung« (»Destination Bus«) bezeichnet.

Die Sammelleitungs-definierende SDO-Unterroutine wird verwendet, wenn der Hochgeschwindigkeits-Prozessor als Hilfs-Hochgeschwindigkeits-Prozessor in Verbindung mit dem wesentlich langsameren Haupt-Prozessor 28" verwendet wird.

Eine Anzahl einleitender Schritte, welche in dem in Fig.8A dargestellten Flußdiagramm wiedergegeben sind, sind erforderlich, um die Sammelleitungs-definierende SDO-Unterroutine in einer für den Hochgeschwindigkeits-Prozessor verwendbaren Form zu erhalten. Der Prüfgerät-Programmierer schreibt zu Beginn ein Programm in der PSP-BASIC-Sprache, welches die Sammelleitungs-definierende Unterroutine darstellende Befehle enthält Die Sammelleitungs-definierende Unterroutine enthält eine Folge von SDO-Befehlen, weiche in der Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Sprache geschrieben sind, wobei jeder der SDO-Befehle in seine η Argument eine Stiftnummer der zu prüfenden Schaltungskarte enthält, wobei dieser Stift der Bestimmungsort ist fur das betretende Bit des Datenwortes, für welches die Bestimmungs-Sammelleitung in der Sammelleitungs-definierenden Unterroutine Hefhiert ist. Diese Unterroutine wird in der Hauptprozessor eingegeben und in seinem Hauptspeicher gespeichert, wie dies durch den Block 211 der F i g. 8A angezeigt ist.

ίο Das Hauptprozessor-Programm enthält Befehle, um das Prüfgerät als Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Assembler zu betreiben. Die Sammelleitungs-definierende Unterroutine »läuft gegen« (»run against«) den Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Assembler, um den Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Objekt-Code für die Sammelleitungs-definierende SDO-Unterroutine zu erzeugen, wie dies durch den Block 202 in Fig.8A angedeutet ist. Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Objekt-Code für die Sammelleitungs-definierende

ω SDö-'ünterroutine wird im folgenden ais »H«-Verzeichnis bezeichnet.

Der Prüfgerät-Programmierer speichert dann das Η-Verzeichnis auf Magnetband, wie dies durch den Block 213 veranschaulicht ist. Bei dem hier beschrieb2-nen Ausführungsbeispiel der Erfindung wird das Η-Verzeichnis von dem Magnetband in den Hauptspeicher des Prüfgeräts geladen, wie dies durch den Block 214 der F i g. 8A veranschaulicht wird. Wie im folgenden erläutert, wird das Η-Verzeichnis von dem Hauptspeieher während des Arbeitens des Prüfprogramms in den Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Speicher 163 übertragen. An dieser Stelle ist das Prüfgerät zur Ausführung des Prüfprogramms bereit, welches dann die Sammelleitungs-definierende Unterroutine aufrufen kann, um die Hochgeschwindigkeits-Eingabe eines Datenwortes von dem Hauptprozessor auf die vorbestimmte Bestimmungs-Sammelieitung durchzuführen.

Die oben beschriebene Sammelleitungs-definierende Unterroutine, welche in der Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Sprache in den I !auptprozessor geschrieben wurde, kann beispielsweise folgende Form besitzen:

ISR
SDO 47

SDO 93
SDOl
SDO 199
SDO 132

HLT

Die obige Sammelleitungs-definierende Unterroutine enthält einen »Eingang-zum-Schieberegister«-(»Input to shift register — ISR«)-Befehl, welchem eine Reihe von SDO-Befehlen folgen, die jeweils als Teil ihres Arguments die Adresse eines Anschlußstiftes der zu prüfenden Schaltungskarte bezeichnen, welcher der Bestimmungsort des Datenbits des in dem Schieberegi ster 166 befindlichen, dem SDO-Befehl entsprechenden Datenwortes ist Dieser Folge schließt sich ein HLT-(HaIt)-Befehl an. Das obige Programm enthält ferner Befehle für den Betrieb des Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Assemblers, um das oben erwähnte H-Verzeichnis herzustellen und dieses auf Magnetband zu laden. Der Prüfgerät-Programmierer kann dann das H-Verzeichnis von dem Magnetband in den Hauptprozessor-Speicher laden und kann ferner das Prüfpro-

gramm für die zu prüfende Schaltungskarte vom Magnetband in den Hauptprozessor-Speicher laden, wie dies durch den Block 214 in F j g, 8A veranschaulicht ist Nach Beendigung des letzten Schrittes des in F i g. 8A dargestellten Flußdiagramms ist das Prüfgerät bereit, das Prüfprog/amm zu fahren.

Das in Fig.8B dargestellte Flußdiagramm zeigt die Schritte zum Verschieben eines Datenwortes von dem Hauptprozessor zu den obigen vorbestimmten Stiften der Bestimmungs-Sammelleitung während der Ausführung des Prüfprogramms im Hauptspeicher. Das Prüfprogramm enthält einen Befehl, welcher das augenblicklich im Hauptprozessor-Speicher befindliche H-Verzeichnis in vorbestimmte Adressen des Hochgeschwindigkeits-Speichers 163 lädt. Das Prüfprogramm für die zu prüfende Schaltungskarte führt seine verschiedenen Befehle aus, bis es erforderlich ist, eine schnelle Übertragung des Datenwortes zu der Bestimmungs-Sammelleitung auszuführen, welche in dem Η-Verzeichnis definiert ist Das Prüfprogramm führt dann einen »Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Laden«- (»Load high speed processor« — LHSP)-Befehl aus, welcher das H-Ven.eichnis von dem Hauptproz'_ssor-Speicher in Speicherstellen des Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Spftichers 163 lädt, und zwar beginnend mit einer Speicherstelle des Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Speichers 163, welche durch das Argument des LHSP-Befehls bezeichnet wird, wie dies durch den Bleck 221 in F i g. 8B veranschaulicht ist Der nächste Befehl des Prüfgeräte-Progiamms ist ein »Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Laden-Ende«-(End load high speed processor — ELHSP)-Befehl.

Das Prüfprogramm führt als nächstes einen »Hochge-

schwindigkeits-Prozessor-Starten-und-Fortführen«-
(»run high speed processor and continue« — RHSPC)-Befehl aus, welcher als Argument die erste Hochgeschwindigkeits-Prozessor-(high speed processor — HSP)-Speicheradresse der gewünschten Sammelleitungs-definierenden Unterroutine in dem HSP-Speicher 163 enthält, wie dies durch den Block 222 der Fig.8B veranschaulicht ist Dadurch wird die Ausführung des obigen ISR-Befehls bewirkt. Der RHSPC-Befehl leitet die Ausführung einer augenblicklich in einer durch das Argument des RHSPC-Befehls definierten Speicherstelle des HSP-Speichers enthaltenen Unterroutine ein. Dieser Befehl bewirkt nicht nur das Starten der HSP-Unterroutine, sondern bewirkt automatisch, daß der Hauptprozessor mit der Ausführung darauffolgender Befehle in dem Priifgerät-Crundprogramm mit seiner normalen Zyklusgeschwindigkeit fortfährt.

Wenn der ISR-Befehl sich in dem HSP-Befehlsregister 169 befindet, dann veranlaßt er den Hochgeschwindigkeits-Prozessor dazu, das nächste Sechzehn-Bit-Wort von dem Hauptprozessor zu laden, welches in diesem Falle das Sechzehn-Bit-Datenwort ist, welches in parallelem Format in das serielle Schieberegister 166 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors zu laden ist. Wenn der ISR-Befehl ausgeführt ist, bewirkt er ferner, daß der Hochgeschwindigkeits-Prozessor »wartet«, bis das obige'Sechzehn-Bit-Datenwort in das Schieberegister 166 geladen ist.

Unterdessen, d. h. sobald der Hauptprozessor die Durchführung des RHSPC-Befehls beendet hat, führt dieser den nächsten Befehl des Prüfprogramms aus. Der nächste Befehl des Prüfprogramms ist ein »Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Schreiben«-(» Write high speed processor« — WHSP)-Befehl, welcher das genannte Sechzehn-Bit-Datenwort auf die Hauptsammelleitung 27 überträgt, wonach der Hochgeschwindigkeits-Prozessor in Abhängigkeit von dem obigen ISR-Befehl und dem Befehlsregister 169 das Datenwort unmittelbar in paralleler Form über das »Daten-Einga-

s be«-Register 159 in das Schieberegister 166 lädt; diese Schrittfolge ist durch den Block 223 der Fig.8B veranschaulicht Es sei darauf hingewiesen, daß das Argument des WHSP-Befehls das Sechzehn-Bit-Datenwort ist

ίο Sobald das Datenwort in das Schieberegister 166 geladen ist führt der Hochgeschwindigkeits-Prozessor die anschließende Folge von SDO-Befehlen der Sammelleitungs-definierenden Unterroutine aus, bis entweder alle sechzehn Bits aus dem Schieberegister

is 166 geschoben sind oder bis der HLT-Befehl erreicht ist unabhängig von der wesentlich langsameren Arbeitsweise des Hauptprozessors. (Es sei darauf hingewiesen, daß der Hochgeschwindigkeits-Prozessor durch Eingeben einer Zahl in die HSP-Taktschaltung 153 programmiert werden kann, um fünfzig- bis einhundertmal schneller zu arbeiten als der Hauptprozessor.) In der von dem Η-Verzeichnis in den HSP-Speicher 163 geladenen Sammelleitungs-definierenden Unterroutine schließt sich der Folge von SDO-Befehlen ein HLT-(HaIt)-Befehl an, um die Ausführung des nächsten Befehls in dem HSP-Speicher 163 zu verhindern. Wie durch den Block 225 der Fi g. 8B veranschaulicht führt der Prüfgerät-Hauptprozessor zwischenzeitlich einen SHSP-(Stop-HSP)-Befehl aus, sobald die Durchführung des WHSP-Befehls beendet ist Der Zweck des SHSP-Befehls in dem Programm ist es, den Hauptprozessor dazu zu veranlassen, in der durch den Hochgeschwindigkeits-Prozessor auszuführenden Sammelleitungs-definierenden Unterroutine auf den HLT-Befehl zu warten. Nachdem der obige HLT-Befehl durch den Hochgeschwindigkeits-Prozessor ausgeführt ist, fährt der Hauptprozessor damit fort darauffolgende Befehle des Prüfprogramms auszuführen.

Der Hochgeschwindigkeitsprozessor besitzt ferner die Fähigkeit, »Daten-Einschieben«-(»Shift data in« — SDI)-Befehle auszuführen, um Daten von Stiften einer vorbestimmten »Quellen-Sammelleitung« oder »Ausgangs-Sammelleitung« einer zu prüfenden Schaltungskarte schnell und aufeinanderfolgend in das serielle Schieberegister 166 der F i g. 7 einzuschieben; die Daten können dann in einem parallelen Format ausgegeben und dem Hauptprozessor zugeführt werden. Die vorbestimmte »Quellen-Sammelleitung« enthält eine Vielzahl von Stiften, welche durch eine in dem

so Hochgeschwindigkeits-Prozessor gespeicherte Sammelleitungs-definierende SDI-Unterroutine definiert werden, und zwar in im wesentlichen der gleichen Weise, wie die vorangehend erwähnten »Bestimmungs-Sammelleitungen« durch eine Vielzahl von Stiften dargestellt werden, welche durch die in dem Hochgeschwindigkeits-Prozessor gespeicherten oben erwähn* ten Sammelleitungs-definierenden SDO-Unterroutinen definiert werden. Wenn die SDI-Sammelleitungs-deiinierende Unterroutine durch den Hochgeschwindigkeits-Prozessor ausgeführt wird, werden Datenbits nacheinander von den vorbestimmten Stiften der zu prüfenden Schaltungskarte über den seriellen Dateneingang 201 in das serielle Schieberegister 166 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors eingegeben. Wenn ein vollständiges Sechzehn-Bit-Wort in dieser Weise seriell in das Schieberegister 166 eingegeben worden ist, dann wird dieses Sechzehn-bit-Wort in paralleler Form auf entsprechende Leiter der internen Sammelleitung

161 gegeben und mittels einer »Daten-Ausgabe«-Pufferschaltung 160 auf entsprechende Leiter der Hauptsammelleitung 27 ausgegeben und gelangen von dort zu dem Hauptprozessor. Die Hochgeschwindigkeits-Weiterführung von Daten von einer zu prüfenden i Schaltungskarte zu dem Hauptprozessor wird somit in analoger Weise durchgeführt, wie das oben bereits beschriebene Verfahren zum Weiterleiten eines Wortes in paralleler Form von dem Hauptprozessor zu einer vorbestimmten Bestimmungs-Sammelleitung der zu prüfenden Schaltungskarte. Das Zusammenarbeiten des Hauptprozessors und des Hochgeschwindigkeitsprozessors zum Speichern und Ausführen einer Sammelleitungs-definierenden Unterroutine, welche eine Vielzahl von SDI-Befehlen aufweist, welche wiederum Argu- π mente besitzen, die eine »Quellen-Sammelleitung«, d. h. verschiedene Ausgangsstifte der zu prüfenden Schaltungskarte, definieren, ist vollständig analog mit der Arbeitsweise der oben erwähnten Sammeneitungs-definierenden Unterroutinen für die »Bestimmungs-Sam- jii meüeitungen«.

Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor besitzt die Fähigkeit, dem Prüfgerät die Prüfung von asynchron arbeitenden gedruckten Schaltungskarten oder anderen asynchron arbeitenden Produkten zu ermöglichen, wie 2i beispielsweise von gedruckten Schaltungskarten, welche einen Mikroprozessor oder einen frei !aufenden Taktgenerator enthalten. Bei bekannten Prüfgeräten für gedruckte Schaltungskarten war es nur unter großen Schwierigkeiten möglich, asynchron arbeitende ge- in druckte Schaltungskarten zu prüfen.

Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor kann vier verschiedene »Warten«-{»Wait«)-Befehle ausführen, und zwar »Warten-auf-hohes-StiftpotentiaJ«, »Warten-aufniedriges-Stiftpotential«, »Warten-auf-Fehler« und π »Warten-auf-keinen-Fehler«. Die Arbeitsweise des Hochgeschwindigkeits-Prozessors beim Ausführen jedes dieser vier WARTEN-Befehle ist im wesentlichen dieselbe. Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor hat die Aufgabe, die von dem HSP-Taktgenerator 153 in F i g. 7 «> erzeugten HSP-Taktsignale auszusetzen oder »einzufrieren«, bis die von dem betreffenden WARTEN-(WAIT)-Befehl bezeichnete Bedingung angetroffen wird. Die Ausführung des betreffenden WARTEN-Befehls leitet das Aussetzen des entsprechenden Taktzy- -n klus des HSP-Taktgenerators 153 ein, wodurch die Durchführung weiterer Befehle durch den Hochgeschwindigkeits-Prozessor verhindert wird. Eine den Taktgenerator 153 darstellende Schaltung kann durch Zusammenschalten von Zählerschaltungen und anderen ">" herkömmlichen Verknüpfungs- und Zeitgabeschaltungen von einem Fachmann auf einfache Weise realisiert werdf n. Wenn die von dem betreffenden WARTEN-Befehl angegebene Bedingung angetroffen wird, dann wird die Aussetzung des augenblicklichen HSP-Maschinen- ·ί zyklus beendet Um festzustellen, ob die angegebene Bedingung vorhanden ist, enthält der Hochgeschwindigkeits-Prozessor eine EXCLUS1V-ODER-Schaltung251, welche in Fig.9 dargestellt ist; ein Eingang dieser Schaltung ist ein dekodierter Ausgang 253 von dem ^h" ROM-Lesespeicher 171, wodurch das Vorhandensein eines WARTEN-Befehls in dem Befehlsregister 169 angezeigt wird. Andere Ausgänge des ROM-Lesespeichers 171, welche durch Dekodieren des WARTEN-Befehls in dem Befehlsregister 169 erzeugt wurden, *> > bewirken das Auftreten entsprechender »Stift-Potential-hoch«-, »Stift-Potential-niedrig«-, »Fehler«- oder »Ketn-Fehler«-Bedingungcn, um ein zweites Eingangssignal am Eingang 255 der EXCLUSIV-ODER-Schaltung 251 zu erzeugen. Ist eine Übereinstimmung der Signale an den Eingängen 253 und 255 gegeben, dann erzeugt die EXCLUSIV-ODER-Schaltung 251 ein Signal 172Λ, um die oben erwähnte Unterbrechung des augenblicklichen Taktzyklus der HSP-Taktschaltung 153 zu beenden. Selbstverständlich kann die EXCLUSIV-ODER-Schaltung 251 eine invertierende Ausgangsschaltung aufweisen, um die Polarität des am Ausgang 172A auftretenden Ausgangssignals erforderlichenfalls zu verändern. Eine solche EXCLUSIV-ODER-Schaltung ist dem Fachmann bekannt.

Der Hauptprozessor reagiert auf den Hochgeschwindigkeits-Prozessor aufgrund verschiedener Markierungen, welche in dem Zustandsregister 155 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors gespeichert sind; dies ist die einzige Möglichkeit, durch welche der Hochgeschwindigkeits-Prozessor den Hauptprozessor zu steuern vermag. Der Hauptprozessor muß den Zustand der verschiedenen Markierungen in dem Zustandsregister 155 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors überwachen, um durch den Hochgeschwindigkeits-Prozessor gesteuert zu werden. Die Art und Weise, in welcher de^r Hauptprozessor und der Hochgesciiwindigkeits-Prozessor miteinander zusammenwirken, um dem Prüfgerät die Prüfung einer asynchron arbeitenden Schaltungskarte zu ermöglichen, ist wie folgt: Wenn der Hochgeschwindigkeits-Prozessor einen WARTEN-Befehl ausführt, setzt er in dem Zustandsregister 155 eine Markierung und unterbricht das Arbeiten des Taktgenerators 153, so daß der Betrieb des Hochgeschwindigkeits-Prozessors angehalten wird.

Der Hauptprozessor liest den Inhalt des Zustandsregisters 155 und stellt fest, daß die genannte Markierung gesetzt wurde und ändert dann, falls erforderlich, seine eigene Arbeitsweise. Wenn dann die durch den WARTEN-Befehl angegebene Bedingung auftritt, beendet der Hochgeschwindigkeits-Prozessor die Unterbrechung des Taktgenerators 153 und fährt mit der Ausführung des WARTEN-Befehls und darauffolgenden Befehlen in dem HSP-Speicher 163 fort und stellt ferner die oben genannte Markierung im Zustandsregister 155 zurück. Der Hauptprozessor liest dann das Zustandsregister 155 und fährt mit seinem Arbeiten fort. Während jeder Zeit, während der der Hauptprozessor auf den Hochgeschwindigkeits-Prozessor »warten« muß, durchläuft der Hauptprozessor in einfacher Weise eine Schleife an der Markierung in dem Zustandsregister 155 und fährt mit diesem Schleifendurchlauf so lange fort, bis die Markierung durch den Hochgeschwindigkeits-Prozessor rückgestellt ist.

Die Arbeitsweise ist typischerweise derart, daß der Hauptprozessor einen Arbeitsablauf in dem Hochgeschwindigkeits-Prozessor einleitet, beispielsweise durch Aufrufen einer Sammelleitungs-definierenden Unterroutine in dem Hochgeschwindigkeits-Prozessor, und dann mit der Ausführung anderer Teile in dem Hauptprogramm fortfährt. Wenn der Hauptprozessor einen Punkt erreicht, an welchem er weitere Daten von dem Hochgeschwindigkeits-Prozessor benötigt, dann prüft der Hauptprozessor entsprechende Markierungen im Zustandsregister 155. Da der Hochgeschwindigkeits-Prozessor wesentlich schneller arbeitet als der Hauptprozessor, sind die erforderlichen Daten normalerweise verfügbar, sind sie jedoch nicht verfügbar, dann wird der Hauptprozessor so programmiert, daß er an der Markierung »Schleifen durchläuft«, bis der Hochgeschwindigkeits-Prozessor die erforderlichen

Daten erzeugt und die Markierung rfleksteUt. Der Hauptprozessor 'iest dann das Datenausgabe^Register 160, um die genannten Daten zu erhalten.

Das Prüfgerät ist in der Lage, einen »Binäre-Stiftzunahme«-(»binary increment pin« — BIP)-Befehl auszuführen, welcher die durch alle Bits auf einer durch den BIP-Befehl definierten Sammelleitung dargestellte Binärzahl um Eins erhöht, wobei die Sammelleitung eine Vielzahl von Stiften enthält, welche durch das Argument des BIP-Befehls bezeichnet sind. In ähnlicher Weise wird durch einen »Binäre-Stiftverminderung«-(Binary decrement pin« — BDP)-Befehl die durch die Logikpegel auf der Gruppe von Stiften, welche durch das Argument des BDP-Befehls dargestellt werden, erzeugte Binärzahl vermindert. Die BIP- und BDP-Befehle können innerhalb einer FOR/NEXT-Schleife verwendet werden, um eine große Anzahl von Kombinationen von Logikzuständen auf bestimmten Stiften zu erzeugen.

Durch einen SPH-(Shift pin high — Stiftverschiebung nach oben)- laid einen SPL-(Shift pin low — Stiftverschiebung nach unten)-Befehl werden jeweils die Bits einer Binärzahl, welche durch die Logikzustände einer Gruppe von Stiften, welche durch die Argumente des SPH- oder SPL-Befehls spezifiziert werden, erzeugt werden, von links nach rechts oder von rechts nach links geschoben. Der SPH-Befehl ersetzt das linke Bit durch eine logische »Eins« jedesmal dann, wenn die Binärzahl nach rechts verschoben wird, während der SPL-Befehl bei jeder Verschiebung nach links das rechte Bit der Binärzahl durch eine logische »Null« ersetzt

Wenn das Prüfgerät einen bestimmten Stift auf der zu prüfenden Schaltungskarte adress^rt oder aufruft, dann ist die einzige auf den Fehle^rleitern von dort erhaltene Information die auf diesem Stift vchandene Information. Die Information von dem Gruppenfehlerleiter in der Sammelleitung 45 wird in den Prioritätskodierer 150 der Fig.7 eingegeben und von diesem zu dem entsprechenden Markierungsbit des Zustandsregisters 155, zu dem CRC-Generator 180 und zu dem Stift-Zustand-RAM 181 geleitet Falls erforderlich, »ändert« der Hauptprozessor seine Arbeitsweise aufgrund der X-Markierung im Zustandsregister 155, welche durch die Ausführung eines WARTEN-Befehls durch den Hochgeschwindigkeits-Prozessor gesetzt wird. Die Markierung wird zurückgestellt, wenn die durch den betreffenden WARTEN-Befehl bezeichnete Bedingung angetroffen wird. Kurz gesagt, wird das Ansprechen oder Verhalten des Stiftes durch die Stiftsteuerschaltung und durch den Prioritä'skodierer hindurchgetastet und gelangt an einen Eingang der EXCLUSIV-ODER-Schaltung 251 (F i g. 9), deren anderer Eingang ein dem gerade durchgeführten WARTEN-Befehl entsprechendes Signal aufweist. Von dem Befehlsregister 169 kommende dekodierte Signale korrigieren die Polarität des Ausgangs 1724 der EXCLUSIV-ODER-Schaltung in der Weise, daß das Aussetzen des HSP-Taktgenerators beendet wird, wenn die spezifizierte Bedingung angetroffen wird.

Das Prüfgerät hat ferner die Fähigkeit, Befehle in das Prüfprogramm einzufügen, welche die Bedienungsper* son anweisen, wie das Prüfgerät anfänglich für einen Prüfvorgang vorzubereiten ist. wenn eine bestimmte Taste gedrückt wurde. Der Hauptprozessor ruft die Stelle der dritten Tabelle auf, welche durch das von dem Tastenfelddekodierer empfangene Signal definiert wird, wodurch angezeigt wird, welche der Tasten gedrückt wurde. Von dieser Stelle erhält der Hauptprozessor den

ι η

Binärcode, welcher dem Kennwort (wie beispielsweise SOE, Name usw., weiche der gedrückten Taste zugeordnet sind) entspricht, von der Adressenstelle der dritten Tabelle und gibt diesen in das Hauptprozessor-Eingangspuffer ein. Der Hauptprozessor führt dann den durch die Information in dem Eingabepuffer dargestellten Befehl aus, indem es den Inhalt des Eingangspuffers untersucht, um die nächste Operation zu bestimmen, wenn die EXECUTE-(Durchführen)-Taste gedrückt WXTiI. Kurz gesagt, ist die Arbeitsweise des Prüfgerätes in bezug auf die Befehlstaste in Verbindung mit den Haupttasten im wesentlichen die gleiche, wie seine Arbeitsweise in bezug auf die Umschalttaste, mit der Ausnahme, daß von der entsprechenden Tabelle eine Reihe von Buchstaben statt eines einzigen Buchstabens abgegeben wird.

Ein Fachmann wird erkennen, daß das oben beschriebene System die gewünschte Datenübertragung zu der vorbestimmten Bestimmungs-SaHimelleitung mit einer sehr hohen Geschwindigkeit und mit einem sehr geringen Programmaufwand bewerkstelligt wird, im Vergleich zu dem Progranimaufwand, welcher erforderlich wäre, wenn jedes Datenbit des Sechzehn-Bit-Datenwortes einen oder mehrere separate Befehle benötigen würde, um das sequentielle Verschieben des Datenbits zu dem betreffenden Stift der Bestimmungs-Sammelleitung zu bewerkstelligen.

Für den Fachmann ist ferner ersichtlich, daß durch die Verwendung des Hochgeschwindigkeits-Prozessors in Verbindung mit dem wesentlich langsamer arbeitenden Hauptprozessor komplexe und teure Multiplexschaltungskarten oder Gruppen gedruckter Schaltungskarten überflüssig werden. Nachdem die Bedienungsperson nach dem Laden des Prüfprogramms von dem Band die ANLAUFEN-(RUN)-Taste gedruckt hat -, wird das Prüfgerät durch das Prüfprogramm dazu veranlaßt bestimmte Anweisungen für die Bedienungsperson anzuzeigen, nämlich welche Gruppenkarte einzustekken ist, welche Schalter der DIP-Schalterbaugruppen zu öffnen sind und welche Kabei oder Leitungen gegebenenfalls verwendet werden sollen, um verschiedene Steckerstifte mit zusätzlichen Anschlußelementen auf der zu prüfenden Schaltungskarte zu verbinden. Das Prüfprogramm enthält dann Befehle, durch weiche das Prüfgerät dazu veranlaßt wird, verschiedene Stifte zu prüfen, um festzustellen, ob an diesen die richtigen Versorgungsspannungen auftreten. Das Prüfprogramm kann ferner verschiedene nicht verwendete Stifte der Gruppenkarte prüfen, welche miteinander in der Weise kurzgeschlossen werden, daß dadurch die Gruppenkarte identifiziert ist, wodurch geprüft werden kann, ob die Bedienungsperson tatsächlich die richtige Gruppenkartc eingesteckt hat.

Ein auf die Tasten des Prüfgerät-Tastenfeldes ansprechender herkömmlicher Tastenfeld-Kodierer ist auf der mit dem Tastenfeld gekoppelten Bedienungsfeldplatte angeordnet. Der Schaltungsbetrieb für die Befehlstaste ist der gleiche wie für die Umschalttaste. Das Programm des Hauptprozessors empfängt Signale von dem Tastenfeldkodierer, die anzeigen, welche Taste des Tastenfeldes gedrückt wurde, und die ferner anzeigen, ob die Umschalttaste oder die Befehlstaste gedrückt wurde. Diese Information wird in einen Puffer des Hauptprozessors gespeichert. Der Hauptprozessor verwendet diese Information, um auf eine von drei Ebenen von Tastenfeld-Eingaben bezug zu nehmen, nämlich: (1) Weder die Befehlstaste noch die Umschalttaste wurde gedrückt, (2) die Umschalttaste wurde

19 20

gedrückt oder (3) die Befehlstaste wurde gedrückt ten aus dem Hauptprozessor ausgewählt werden

Es sei ferner darauf hingewiesen, daß in dem können,

Η-Verzeichnis zusätzliche Sammelleitungs-definieren- In den in den Fig,8A und 8B dargestellten den Unterroutinen gespeichert sein und durch das Flußdiagrammen werden der Einfachheit halber verPrüfgerät-Prüfprogramm individuell aufgerufen werden > schiedene englischsprachige Ausdrücke oder Abkürzunkönnen, so daß eine Vielzahl unterschiedlich definierter gen verwendet, wobei BUS für Sammelleitung, HSP fü. Bestimmungs-Sammelleitungen als Bestimmungsort für Hochgeschwindigkeits-Prozessor und PSP (Portable die Hochgesch'vindigkeits-Datenübertragung von Da- service processor) für Prüfgerät steht

Hierzu 6 Blatt Zeichnungen

Claims (11)

1. Patentansprüche;

   1, Verfahren zum Prüfen gedruckter Schaltungskarten mit einer Vielzahl von Eingängen, unter Verwendung eines Schieberegisters zur Zwischenspeicherung der Prüfdaten, gekennzeichnet durch die Schritte Vorsehen eines Prüfgerätes, das einen Prozessor sowie mehrere steuerbare Schaltungen (54AJ besitzt, die steuerbar in einer Treiberbetriebsart oder in einer Abtastbetriebsart arbeiten können und die jeweils einen Eingangs-/Ausgangsanschluß und Einrichtungen zum Koppeln der EingangS'/Ausgangsanschlusse mit vorbestimmten Stiften einer zu prüfenden gedruckten Schaltungs- is karte (14) besitzen, Speichern von Informationen, die bestimmen, für weiche der Anschlüsse der zu prüfenden gedruckten Schaltungskarte (14) die entsprechenden Bits eines in dem genannten Prozessor (28") gespeicherten Eingangsdatenwortes bestimmt sijJ, Übertragen des genannten Datenwortes in paralleler Form von dem genannten Prozessor (28") in das Schieberegister (166), serielles Herausschieben jedes Bits der genannten Eingangs-Datenbits aus dem Schieberegister (166), Austasten des genannten Bits zu dem Eingang einer der steuerbaren Schaltungen (54AJl welche in Abhängigkeit von der gespeicherten Bestimmungsinformation ausgewählt wurde, und Übertragen der durch das genannte Bit dargestellten information von dem Eingangs-Musgangs-Anschluß der genannten steuerbaren Schaltung (54A) zu einem vorbestimmten Anschlußstift der gedruckten Schaltungskarte (14).
2. 2. Verfahren nach Anspvuch 1, gekennzeichnet durch folgende Schritte: Speiche, η von Informationen, die bestimmen, welcher der Anschlüsse der zu prüfenden Schaltungskarte (14) Ausgangsbits für ein Ausgangs-Datenwort von der zu prüfenden Schaltungskarte (14) liefern soll; serielles Übertragen des Bits eines jeden der genannten Ausgangs-Datenwortbits von einem vorbestimmten Anschlußstift der genannten gedruckten Schaltungskarte (14) durch die entsprechende steuerbare Schaltung (54A) und Austasten des genannten Bits in das genannte Schieberegister (166); und Übertragen des Ausgangs-Datenwortes in paralleler Form von dem Schieberegister (166) in den genannten Prozessor (28").
3. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Verschiebung mit einer höheren Geschwindigkeit als der Maschinenzyklus-Geschwindigkeit des genannten Prozessors (28") erfolgt.
4. 4. Verfahren nach Anspruch 1, 2 oder 3, bei welchem das genannte Prüfgerät einen weiteren Prozessor enthält, der das genannte Schieberegister und einen Speicher enthält, dadurch gekennzeichnet, daß die genannte Verschiebung unter Verwendung des genannten Schieberegisters (166) erfolgt, daß eo der genannte weitere Prozessor (29') eine Maschinenzyklus-Geschwindigkeit besitzt, die höher ist als die des genannten Prozessors (28"), und daß der genannte Schritt des Speichers die Einspeicherung einer Unterroutine in den genannten Speicher (163) umfaßt, die festlegt, für welche der Eingänge der zu prüfenden gedruckten Schaltungskarte (14) die entsprechenden Bits des genannten Eingangs-Da-

   tenwortes bestimmt sind,
5. 5. Prüfgerät zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche I bis 4, gekennzeichnet durch mehrere steuerbare Schaltungen (54AJl die steuerbar entweder in einer Treiberbetriebsart oder in einer Abtastbetriebsart arbeiten und Koppeleinrichtungen zum Verbinden der steuerbaren Schaltungen (54A) mit den zu prüfenden Schaltungskarten sowie ein Schieberegister (166) zum parallelen Aufnehmen eines Datenwortes aufweisen, durch eine Speichereinheit (163) zum Speichern von Bestimmungsinformationen, durch weiche festgelegt wird, welche der steuerbaren Schaltungen (54A) entsprechende Bits des genannten Datenwortes aufnehmen sollen, und durch Leiteinrichtungen (151, 47), weiche mit der Speichereinheit (163), mit dem Schieberegister (166) und mit den steuerbaren Schaltungen (54AJ gekoppelt sind, wobei die Anordnung derart getroffen ist, daß das Datenwort seriell aus dem Schieberegister (166) ausgeschoben und zusammen mit entsprechenden Bestimmungsinformationen an die Leiteinrichtungen (151, 47) angelegt wird, wodurch jeweils eines der aufeinanderfolgenden Bits des Datenwortes an eine ausgewählte der steuerbaren Schaltungen (54A) abhängig von der genannten Bestimmungsinformation zugeführt wird.
6. 6. Prüfgerät nach Anspruch 5, gekennzeichnet durch einen ersten Prozessor (28"), welcher das genannte Datenwort zur Speicherung in dem Schieberegister (166) zur Verfügung stellt, und durch einen zweiten Prozessor (29'), welcher die Speichereinheit (163) enthält, wobei dieser zweite Prozessor (29') mit einer höheren Maschinenzyklus-Geschwindigkeit arbeitet, ais der erste Prozessor (28").
7. 7. Prüfgerät nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Leiteinrichtungen (151, 47) die von den steuerbaren Schaltungen (54A) empfangene Information in serieller Form dem Schieberegister (166) zuführen, und daß d 's Schieberegister (166) diese seriell empfangene Information in paralleler Form an den genannten ersten Prozessor (28") überträgt
8. 8. Prüfgerät nach einem der Ansprüche 5 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Leiteinrichtungen (151, 47) Adressiereinrichtungen enthalten, um Adressensignale zu liefern, welche eine ausgewählte steuerbare Schaltung (54A) identifizieren, und ferner Dekodiereinrichtungen aufweisen, die auf die genannten Adressiersignale ansprechen, um ein Auswählsignal für die ausgewählte steuerbare Schaltung (54AJ zu erzeugen.
9. 9. Prüfgerät nach einem der Ansprüche 6 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß der zweite Prozessor (29') ein Befehlsregister (169) und die Speichereinheit (163) enthält, wobei das Befehlsregister (169) dazu dient, die Bestimmungsinformation enthaltende Befehle zu speichern, wobei diese Befehle aufeinanderfolgend aus der Speichereinheit (163) ausgelesen und in das Befehlsregister (169) eingegeben werden, wodurch die Bestimmungsinformation an die Leiteinrichtungen (151, 47) angelegt werden.
10. 10. Prüfgerät nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Leiteinrichtungen Steuersignale liefern, welche die Betriebsart der steuerbaren Schaltungen (54A) in Abhängigkeit von den genannten Befehlen steuern.
11. 11. Prüfgerät nach einem der Ansprüche 6 bis 10,

    dadurch gekennzeichnet, daß der zweite Prozessor (29') einen programmierbaren Taktgenerator (153) enthält, um die Maschinenzyklus-Geschwindigkeit des zweiten Prozessors (29') zu steuern.

    12, Prüfgerät nach einem der Ansprüche 6 bis 11, gekennzeichnet durch Zustandsregister (t55), welche durch den zweiten Prozessor (29') gesetzt und durch den ersten Prozessor (28') abgelesen werden können, wodurch der Betrieb des ersten Prozessors (28") durch die Zustandsregister (155) bestimmt werden kann.