DE2634593C3

DE2634593C3 - Programmgesteuertes Leiterplatten- Prüfgerät

Info

Publication number: DE2634593C3
Application number: DE19762634593
Authority: DE
Inventors: Brian Peter 4044 Kaarst Donnison
Original assignee: Telenorma Telefonbau und Normalzeit GmbH
Current assignee: Telenorma Telefonbau und Normalzeit GmbH
Priority date: 1976-07-31
Filing date: 1976-07-31
Publication date: 1987-09-10
Also published as: DE2634593B2; DE2634593A1

Description

Die Erfindung betrifft ein programmgesteuertes Leiterplatten-Prüfgerät, bei dem über Anschlußpunkte eine anschließbare zu prüfende Platte entsprechend einem vorgegebenen Programm nacheinander mit unterschiedlichen Potentialmustern beaufschlagt wird und die aus diesen Potentialmustern unter dem Einfluß der zu prüfenden Platte resultierenden Potentialmuster an den Anschlußpunkten mit durch das Programm vorgegebenen Sollwertmustern verglichen werden.

Derartige Leiterplatten-Prüfgeräte zeichnen sich dadurch aus, daß in Abhängigkeit von einem speziell für

&iacgr;&ogr; die zu prüfende Leiterplatte zugeschnittenen gespeicherten Programm nacheinander bestimmte Potentialmuster auf die Anschlußpunkte gegeben werden, welche das Prüfgerät mit der zu prüfenden Platte verbinden.

is Derartige Anschlußpunkte können beispielsweise durch eine genormte Klemmleiste vorgegeben sein, wobei das Potentialmuster durch gleichzeitig an den einzelnen Klemmpunkten anliegende unterschiedliche Potentiale bedingt ist.

Aufgrund des von dem Leiternlatten-Prüfgerät gesendeten Potentialmusters werden in der zu prüfenden Platte Reaktionen ausgelöst, die das gesendete Potentialmuster verändern.

Dabei können nicht nur die von dem Leiterplatten-Prüfgerät nicht mit Potential beschickten und als Ausgang der zu prüft-lden Platte dienenden Anschlußpunkte durch die zu prüfende Platte mit Potential versorgt werden, sondern es kann auch das von dem Leiterplatten-Prüfgerät angelegte Potential an manchen Anschlußpunkten durch entsprechende Beschallung innerhalb der zu prüfenden Platte geändert werden.

Das so durch die Wirkung der zu prüfenden Platte an den Anschlußpunkten entstehende Antwortpotentialmuster wird mit einem durch das Programm vorgegebene Sollwertmuster verglichen. Werden hierbei vorbestimmte Toleranzgrenzen überschritten, wird die Fehlerhaftigkeit der zu prüfenden Platte angezeigt.

Nachteilig bei derartigen Leite-platten-Prüfgeräten kann es sein, daß durch nicht ohne weiteres ersichtliche Netzstörungen, fehlerhafte oder gestörte Bauelemente, Störungen beim Einspeichern des Programms oder ähnlichem, das von dem Prüfgerät auf die Anschlußpunkte gesendete Potentialmuster nicht der gewünschten Form entspricht. Dies kann insbesondere dann auftreten, wenn bei kleineren mobilen Leiterplatten-Prüfgeräten für die prüfende Bedienungsperson die aus dem Netz resultierenden Störungen an jedem Prüfort eine andere Form annehmen können.

Aufgabe der Erfindung ist es daher, eine einfache Einrichtung zum Prüfen eines eingangs genannten Leiterplatten-Prüfgerätes zu schaffen, durch welches weitgehend sichergestellt werden kann, daß die programmgespeicherten Potentialmuster auch tatsächlich an den Anschlußpunkten gesendet werden.

Die Aufgabe wird bei einem Leiterplatten-Prüfgerät der eingangs genannten Art erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß anstelle der zu prüfenden Platte eine Testplatte anschließbar ist, welche die Anschlußpunkte daraufhin überwacht, ob ein gemäß einem Sonderprogramm schrittweise von einem Anschlußpunkt zum nächsten fortgeschaltetes einzelnes Prüfpotential gerade auf dem programmgemäß vorgesehenen Anschlußpunkt angetroffen wird, und ob die restlichen Anschlußpunkte frei von diesem Prüfpotentialwert sind.

Durch eine derartige Ausgestaltung ergeben sich eine ganze Reihe von Vorteilen. Zum einen kann die Prüfung mittels einer anstelle der zu prüfenden Platte steckbaren Einrichtung (Testplatte) vorgenommen werden.

Die Prüfung ist auch vollkommen unabhängig von dem Aufbau der zu prüfenden Platte. Für die Bedienungsperson ist es also nicht notwendig, zum Einsatzort jeweils den zu prüfenden Platten entsprechende fehlerfreie Platten als Normale mitzunehmen.

Durch den Test wird weiterhin auch sichergestellt, daß nicht nur die gerade benötigten Anschlußpunkte, sondern sämtliche Anschlußpunkte das gewünschte Potential zu senden vermögen. Durch die systematische Abfrage sämtlicher Anschlußpunkte wird weiterhin die Sendefähigkeit dieser Anschlußpunkte in sehr kurzer Zeit festgestellt.

Um ein anderenfalls notwendiges aus einer Vielzahl von Gattern bestehendes Netzwerk zur Abfrage der einzelnen Anschlußpunkte zu vermeiden, empfiehlt es sich in Weiterbildung der Erfindung, daß das Prüfpotential in fortlaufender Folge von einem Anschlußpunkt zum folgenden weitergegeben wird, daß auf der Testplatte ein erster Zähler vorgesehen ist, daß die Fortschaltung des ersten Zählers mit der sonderprogrammgemäßen Fortschaltung des Prüfpotenüals übsr die Anschlußpunkte synchronisiert ist, daß ein zweiter Zähler vorgesehen ist, dessen Fortschaltung mit der schrittweisen Abtastung der Abtastpunkte zur Prüfpotentialfeststellung durch eine Abfragelogik synchronisiert ist, wobei ein ganzer Zyklus des zweiten Zählers zwischen zwei Schritten des ersten Zählers abläuft,

daß ein die Zählerstände der beiden Zähler vergleichender Vergleicher vorgesehen ist, der bei Koinzidenz der Zählerstände der Abfragelogik anzeigt, daß von dem augenblicklich abgetasteten Anschlußpunkt Prüfpotential abgegeben werden sollte.

Die einzelnen Gatter werden hierbei durch zwei Zähler und einen Vergleicher ersetzt. Dabei gibt der Zähierstand des ersten Zählers Auskunft darüber, an weichem Anschlußpunkt programmgemäß gerade Prüfpotential liegen soll, während die von dem zweiten Zähler abgegebenen Adressen festlegen, welcher der Anschlußpunkte gerade auf Prüfpotential überprüft wird. Verabredungsgemäß müssen sämtliche Anschlußpunkte potentialfrei sein bis auf einen einzigen, der durch den Zählerstand des ersten Zählers gekennzeichnet ist. Durch den Vergleicher wird der Abtastlogik mitgeteilt, ob der gerade abgetastete Anschlußpunkt programmgemäß potentialfrei oder mit Prüfpotential behaftet sein soll.

Stimmt nämlich die Adresse des zweiten Zählers mit der Adresse des ersten Zahlers überein, so wird gerade der gemäß Programm mit Prüfpotential versehene 5u Anschlußpunkt abgetastet; in allen anderen Fällen darf sich an den Anschlußpunkten kein Prüfpotential befinden.

Eine Anzeige fehlerhaft sendender Anschlußpunkte läßt sich in einfacher Weise in Weiterbildung der Erfindung dadurch erreichen, daß auf der Testplatte eine mit der Abfragelogik verbundene Fehleranzeige vorgesehen ist, die beim Feststellen eines vom erwarteten Potentialwert abweichenden Potentials den dem programmgemäß mit Prüfpotential versehenen Abtast- &ohgr; punkt entsprechenden Zählerstand des ersten Zählers anzeigt.

Bei einer derartigen Ausgestaltung der Erfindung wird ein Fehler angezeigt, wenn an dem durch den ersten Zähler festgelegten Anschlußpunkt durch die Abfragelogik kein Prüfpotential festgestellt wird. Eine andere Möglichkeit der Fehleranzeige kann darin bestehen, auch dann den Zählerstand des ersten Zählers anzugeben, wenn an irgendeinem der programmgemäß potentialfreien Anschlußpunkte wider Erwarten Prüfpotential erscheint.

Der Bedienungsperson wird in diesem Falle angezeigt, daß für den Fall, daß an einem bestimmten Anschlußpunkt Prüfpotential gesendet werden soll, dieses Prüfpotential an dem betreffenden Anschlußpunkt nicht erscheint und/oder an einem oder mehreren anderen Anschlußpunkten dieses Prüfpotential programmwidrig auftritt.

Eine Verfeinerung der Anzeige kann noch dadurch erreicht werden, daß außer dem Zählerstand des ersten Zählers durch Wirkung der Abfragelogik auch noch der Zählerstand bzw. die Zählerstände des Zählers B angezeigt werden, bei denen nicht programmgemäßes Potential festgestellt werden konnte. Soll beispielsweise beim Anschlußpunkt 3 Prüfpotential auftreten, während zusätzlich noch an den Anschlußpunkten 5 und 7 Prüfpotentidr festgestellt wird, so zeipt die Zähleranzeige die entsprechenden Zählerstände an und das Bedienungspersonal weiß nicht nur, daß jeim Senden auf dem dritten Anschlußpunkt Fehler auftreten, sondern auch noch, an welchen Anschlußpunkten sich diese Fehler ergeben.

Ein besonders einfacher Aufbau läßt sich bei dem erfindungsgemäßen Leiterplatten-Prüfgerät dadurch erreichen, daß der durch einen Fortschaltschritt des Prüfpotentials von einer Anfangsstellung aus gestartete und durch Impulse eines Impulsgenerators fortgeschaltete zweite Zähler mittels seiner Ausgangsadressen über einen Multiplexer die einzelnen Anschlußpunkte innerhalb eines Zählerzyklus nacheinander mit der Abfragelogik verbindet.

Hierbei wird also, ebenso wie bei der Fehleranzeige der erste Zähler, nunmehr der zweite Zähler doppelt ausgenutzt, indem er nicht nur zur Kennzeichnung des programmgemäßen Prüfpotentials an den Anschlußpunkten, sondern auch zur Ansteuerung der einzelnen Abtastpunkte verwendet wird, um diese mit der Abfragelogik zu verbinden.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnung erläutert. Darin zeigt

Fig. 1 in symbolischer Darstellung die Zusammenschaltung des Leiterplatten-Prüfgerätes mit der Testplatte.

Fig. 2 eine Reihe wichtiger auf der Testplatte befindlicher Baugruppen.

Wie aus Fig. 1 ersichtlich, besteht das Leiterplatten-Prüfgerät PC im wesentlichen aus einem Lesegerät LL, über das das auf die ;;u prüfende Platte oder die Testplatte zugeschnittene Programm in eine Prüflogik PL eingegeben werden kann.

Piescs Programm kann auf einem Lochstreifen oder irgendeinem anderen Träger gespeichert sein. In dem Lesegerät LL wird aas auf dem Träger T gespeicherte Programm gelesen, gegebenenfalls umcodiert und anschließend in die Prüflogik PL eingespeichert. Die Prüflogik sendet dann entsprechend dem eingespeicherten Programm über eine Treiberschaltung TR die einzelnen gewünschten Potentialmuster auf die Anschlußpunkte AP.

Die aufgrund einer zu prüfenden Platte Pl resultierenden Muster werden dann durch die Prüflogik bewertet und eine in Fig. 1 nicht dargestellte Anzeigeeinrichtung zeigt an, ob das Antwortpotentialmuster mit dem vom Programm vorgegebenen Sollwerten übereinstimmt oder ob ein Fehler vorliegt.
Während die obeneenannten Zusammenhänee für

den Fall gelten, daß die in Fig. 1 dargestellte Platte Pl eine zu prüfende Platte bildet, wird beim Prüfen des Leiterplatten-Prüfgerätes PG statt der zu prüfenden Platte eine Testplatte TP mit den Anschlußpunkten verbunden. Zusätzlich ist noch eine die Prüflogik mit der Testplatte verbindende Steuerleitung StL vorgesehen.

Anschließend werden die Prüfvorgänge im Zusammenhang mit Fig. 1 und Fig. 2 kurz beschrieben:

Beim Starten des Trägers werden der erste Zähler ZA und der zweite Zähler ZB über den an die Steuerleitung StL angeschlossenen Sonderprüfpunkt PPI in ihre Grundstellung bzw. Anfangsstellung gebracht. Die Sonderprüfpunkte PPI, PPI werden durch den Träger, der beispielsweise ein Lochstreifen sein kann, über die Prüflogik direkt adressiert. Statt der direkten Ansteuerung durch den Lochstreifen kann aber auch die weiter oben schon erwähnte Zwischenspeicherung in der Prütlogik angewendet werden.

Nachfolgend setzt ein erster Befehl alle Anschluß- 2<) punkte AP auf einen niedrigen Pegel. Dieser niedrige Pegel wurde weiter oben als »Potentialfreiiieit« bezeichnet.

Der nächste Befehl setzt den Anschlußpunkt 1 auf einen hohen Pegel, was mit der weiter oben bezeichneten Anschaltung von Prüfpotential an diesem Anschlußpunkt identisch ist. Als nächstes wird durch einen entsprechenden Programmbefehl über den ebenfalls durch die Steuerleitung StL betätigten Sonderprüfpunkt PPI der erste Zähler ZA, auf den Zählerstand 1 gestellt und Mt der zweite Zähler ZB wird angestoßen, woraufhin er einen Zyklus durchläuft. Während dieses Zyklus gibt er die Adressen aller Anschlußpunkte ab. Gemäß Fig. 2 bedeutet dies, daß am Ausgang des Zählers in codierter Form nacheinander die Ziffern 1 bis 256 erscheinen. Das Anlassen des zweiten ZähJers ZB über den Sonderprüfpunkt PPI geschieht mittels eines Impulses, der eine Umlaufsteuerung US ansteuert, welche daraufhin solange Impulse eines Impulsgebers /G zu dem Zähler ZB durchläßt, bis der Zählerstand 256 erreicht, d. h. der Zyklus vollendet ist.

Der zum Ansteuern der Umlaufsteuerung US verwendete Impuls dient gleichzeitig zur Fortschaltung des ersten Zählers ZA, um jeweils einen Schritt. Die Ausgangssignale auf dem 8-Bit-Ausgang des zweiten Zählers ZB steuern einen Multiplexer MP an, so daß über diesen während eines Zyklus nacheinander alle 256 Anschlußpunkte mit einer Abfragelogik AL verbunden werden. Diese Abiragelogik stellt fest, ob das Potential an dem gerade abgetasteten Anschlußpunkt AP mit dem programmgemäßen Potential übereinstimmt.

Dieses Potential muß immer einen niedrigen Pegel haben (potentialfrei sein), außer für den Anschlußpunkt, der gerade durch die Adresse am Ausgang des ersten Zählers ZA gekennzeichnet ist. Das sich so ergebende Prüfprogramm wird der Abfragelogik durch einen Vergleicher VG übermittelt, der nur dann ein Signal abgibt, wenn die Zählerstände der beiden Zähler ZA, ZB gleich sind, also gerade die Abfragelogik mit dem Anschlußpunkt verbunden ist, der einen hohen Potentialpegel besitzen soll. Das Prüfgerät PG arbeitet also solange fehlerfrei, wie das Ausgangssignal des Vergleichers mit dem Ausgangssignal des Multiplexers übereinstimmt.

Liegt keine Übereinstimmung vor, so wird durch die Abfragelogik eine Fehleranzeige FA angesteuert, die daraufhin den gerade vorliegenden Zählerstand des ersten Zählers ZA anzeigt. Das Bedienungspersonal kann also erkennen, daß bei diesem Prüfschritt ein Fehler vorliegt. Gleichzeitig wird über die Leitung St ein Signal an die Prüflogik PL gegeben. Dieses Signal hält das Prüfgerät PG an und verhindert das Lesen weiterer Daten durch das Lesegerät LL.

Eine Verfeinerung der Fehleranzeige läßt sich noch dadurch erreichen, daß zusätzlich zu dem Zählerstand des ersten Zählers ZA auch noch der Zählerstand des zweiten Zählers ZB angegeben wird. Dies kann für die Fälle interessant sein, in denen nicht nur in Abweichung von dem Programm kein Potential an dem Anschlußpunkt erscheint, an dem ein Prüfpotential erscheinen sollte, sondern weiterhin gleichzeitig Prüfpotential an anderen Anschlußpunkten auftritt, an denen programmgemäß ein niedriger Pegel passen sollte.

Die Adressen dieser Anschlußpunkte, an denen programmwidrig Prüfpotential herrscht, können dann durch die Anzeige des Zählerstandes des zweiten Zählers ZB festgelegt werden.

Nachdem der Anschlußpunkt 1, wie weiter oben schon beschrieben, auf Prüfpotential gesetzt wurde, und kein Fehler festgestellt wurde, werden nacheinander die folgenden Anschlußpunkte entsprechend dem Programm auf dem Träger T auf Prüfpotential gesetzt, bis ein Fehler festgestellt wird oder bis der Test ohne Feststellung eines Fehlers beendet wird, was der Fall ist, wenn au dem Anschlußpunkt 256 Prüfpotential angelegt wurde.

Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

Claims

Patentansprüche:

1. Programmgesteuertes Leiteiplatten-Prüfgerät, bei dem über Anschlußpunkte eine anschließbare zu prüfende Platte entsprechend einem vorgegebenen Programm nacheinander mit unterschiedlichen Potentialmustern beaufschlagt wird und die aus diesen Potentialmustern unter dem Einfluß der zu prüfenden Platte resultierenden Potentialmuster an den Anschlußpunkten mit durch das Programm vorgegebenen Sollwertmustern verglichen werden, dadurch gekennzeichnet, daß anstelle der zu prüfenden Platte eine Testplatte (TP) anschließbar ist, welche die Anschlußpunkte (AP) daraufhin überwacht, ob ein gemäß einem Sonderprogramm schrittweise von einem Anschlußpunkt (AP) zum nächsten fortgeschaltetes einzelnes Prüfpotential gerade aai dem programmgemäß vorgesehenen Anschlußpunkt (AP) angetroffen wird, und ob die restlichen Anschlußpunkte (AP) frei von diesem Prüfpotentialwert sind.

2. Programmgesteuertes Leiterplatten-Prüfgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,

daß das Prüfpotential in fortlaufender Folge von einem Anschlußpunkt (AP) zum folgenden weitergegeben wird, daß auf der Testplatte (TP) ein erster Zähler (ZA) vorgesehen ist,

daß die Fortschaltung des ersten Zählers (ZA) mit der sonderprogrammgemäßen Fortschaltung des Prüfpotentials über die Anschlußpunkte (AP) synchronisiert ist,

daß ein zweiter Zähler (ZB) vorgesehen ist, dessen Fortschaltung mit der schrittweisen Abtastung der Abtastpunkte (AP) zur Prüfpotentialfeststellung durch eine Abfragelogik (AL) synchronisiert ist, wobei ein ganzer Zyklus des zweiten Zählers (ZB) zwischen zwei Schritten des ersten Zählers (ZA) abläuft,

daß ein die Zählerstände der beiden Zähler vergleichender Vergleicher (VG) vorgesehen ist, der bei Koinzidenz der Zählerstände der Abfragelogik (AL) anzeigt, daß von dem augenblicklichen abgetasteten Anschlußpunkt (AP) Prüfpotential abgegeben werden sollte.

3. Programmgesteuertes Leiterplatten-Prüfgerät nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß auf der Testplatte (TP) eine mit der Abfragelogik (AL) verbundene Fehleranzeige (FA) vorgesehen ist, die beim Feststellen eines vom erwarteten Potentialwert abweichenden Potentials den dem programmgemäß mit Prüfpotential versehenen Abtastpunkt (AP) entsprechenden Zählerstand des ersten Zählers (ZA) anzeigt.

4. Programmgesteuertes Leiterplatten-Prüfgerät nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der durch einen Fortschaltschritt des Prüfpotentials von einer Anfangsstellung aus gestartet und durch Impulse eines Impulsgenerators (JG) fortgeschaltete zweite Zähler (ZB) mittels seiner Ausgangsadressen über einen Multiplexer (MP) die einzelnen Anschlußpunkte (AP) innerhalb eines Zählerzyklus nacheinander mit der Abfragelogik (AL) verbindet.