DE2557165C3 - Decoderschaltung und ihre Anordnung zur Integrierung auf einem Halbleiterbaustein - Google Patents
Decoderschaltung und ihre Anordnung zur Integrierung auf einem HalbleiterbausteinInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Decoderschaltung
für einen Speicherbaustein mit aus MOS-Transistoren aufgebauten Speicherzellen gemäß dem Oberbegriff des
Patentanspruchs 1.
Sie bezieht sich ferner auf deren Anordnung zur Integrierung auf einem Halbleiterbaustein. Decoderschaltungen
für Speicherbausteine, bei denen die aus MOS-Transistoren bestehenden Speicherzellen zwischen
Wort- und Bitleitungen angeordnet sind, sind z. B. aus der deutschen Offenlegungsschrift 23 24 769 bekannt.
Für jede Bit- bzw. Wortleitung ist dabei jeweils eine Decoderschaltung vorgesehen. Sie besteht aus
MOS-Transistoren, die mit ihren gesteuerten Strecken parallel zueinander angeordnet sind. Diese MOS-Transistoren
werden im folgenden Decodertransistoren genannt. Den Steuereingängen dieser Decodertransistoren
werden die Adressensignale in nictnnegierter
id oder negierter Form zugeführt. Die einen Elektroden
der gesteuerten Strecken der Decodertransistoren sind miteinander verbunden zu einer sogenannten Decoderausgangsleitung,
die in der Regel mit einem Ausgangsverstärker verbunden ist, der zu der Bitleitung bzw.
κ Wortleitung des Speicherbausteins führt. Die anderen
Elektroden der gesteuerten Strecken der Decodertransistoren sind ebenfalls miteinander verbunden und dann
an eine Betriebspannung angeschlossen. Auf die Betriebsweise einer solchen bekannten Decoderschaltunge
soll nicht weiter eingegangen werden, da sie aus dem Stand der Technik (z. B. IEEE Journal of
Solid-State Circuits, Oktober 1970, S. 181 — 186) bekannt
ist.
Es ist üblich, daß die Decoderschaltungen zusammen
2'. mit den Speicherzellen eines Speicherbausteins auf
diesem mitintegriert werden. Deshalb besteht das Problem, die Deccderschaltungen möglichst so auszuführen,
daß sie einen geringen Platzbedarf auf den Speicherbaustein einnehmen. Dazu ist es bekannt, die
in Decodertransistoren auf dem Halbleiterbaustein mit
ihren gesteuerten Strecken parallel zu den Adressenleitungen anzuordnen, während die Decoderausgangsleitungen
und die Leitungen für die Betriebsspannung senkrecht zu den Adressenleitungen angeordnet sind. In
r. diesem Falle sind die Adressenleitungen Metalleitungen, während die Decoderausgangsleitung und die Leitung
für die Betriebsspannung in den Halbleiterbaustein hineindiffundiert sind. Der Nachteil einer solchen
Anordnung besteht darin, daß das «on der Decoderaus-
fo gangsleitung bis zur Leitung für die Betriebsspannung
gebildete Decoderraster verhältnismäßig groß ist.
Es ist weiterhin bekannt, die Decodertransistoren mit ihren gesteuerten Strecken parallel zu den Decoderausgangsleitungen
anzuordnen, während die Adressenlei-
■r> tungen senkrecht zu den Decoderausgangsleitungen
angeordnet sind. In diesem Falle folgen auf jeweils zwei Adressenleitungen eine Leitung für die Betriebsspannung.
Die Adressenleitungen sind hier als Siliziumadressenleitungen ausgeführt. Bei dieser Ausführungsform ist
das Decoderraster kleiner als im vorhergehend beschriebenen Fail, während aber die Höhe der
Decoderschaltung, die in etwa der Länge der Decoderausgangsleitung entspricht, größer wird.
Die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe besteht
v> darin, eine Decoderschaltung anzugeben, die so
ausgeführt ist, daß zu ihrer Integricrung auf einen Halbleiterbaustein eine gegenüber den bekannten
Decoderschaltungen geringerer Plat/.bedarf erforderlich
ist. Diese Aufgabe wird gemäß den im Kennzeichen
w) des Patentanspruchs 1 angegebenen Merkmalen gelöst.
Ist die Anzahl der Adressensignale, von der eine
Decoderschaltung angesteuert werden muß, mit π bekannt, wobei η eine beliebige ganze Zahl ist, dann
werden n- 1 Decodertransistoren mit ihren gesteuerten
··'· Strecken parallel zueinander angeordnet. Das heißt, die
gesteuerten Strecken dieser Decodertransistoren sind jeweils mit einer ersten und einer zweiten Verbindungsleitung miteinander verbunden. F.s ist nun ein weiterer
Decodertransistor vorgesehen, dessen gesteuerte Strekke zwischen einer Betriebsspannung und der ersten
Verbindungsleitung der n-l Decodertransistoren liegt.
Dieser weitere Decodertransistor wird von einem Adressensignal in negierter Form angesteuert. Schließlich
ist ein zusätzlicher Decodertransistor vorgesehen, der zwischen der zweiten Verbindungsleitung des n— 1
Decodertransistoren und der Betriebsspannung angeordnet ist. Dieser zusätzliche Decodertransistor wird
von dem Adressensignal in nichtnegierter Form angesteuert. Die erste und die zweite Verbindungsleitung
der Decoderschaltung bilden jeweils eine Decoderausgangsleitung, von denen jede z. B. mit einem
Ausgangsversatärker verbunden sein kann, der zu einer Wort- bzw. Bitleitung führt.
Eine solche aufgebaute Decoderschaltung kann nun so auf einem Halbleiterbaustein integriert sein, daß die
n-l Decodertransistoren mit ihren gesteuerten Strekken parallel zu den Adressenleitungen liegen. Der
weitere und der zusätzliche Decodertransistor sind dagegen mit ihren gesteuerten Strecken parallel zu den
Decoderausgangsleitungen angeordnet. Dif>
Leitung für die Betriebsspannung ist nur einmal notwendig und kann am Rande der Decoderschaltung auf dem
Speicherbaustein liegen. Es ist somit keine interne Leitung für die Betriebsspannung innerhalb der
Decoderschaltung mehr notwendig. Die Folge ist ein sehr kleines Decoderraster, das in etwa dem Decoderraster
entspricht, das bei der bekannten Decoderschaltung mit den Siliziumadressenleitungen vorliegt, jedoch hat
die erfindungsgemäße Decoderschaltung eine wesentlich kleinere Höhe als diese bekannte Decoderschaltung.
Weitere Vorteile der erfindungsgemäßen Decoderschaltung liegen darin, daß die Adressenleitungen mit
Me'all realisiert werden können. Dies hat den Vorteil kurier Signallaufzeiten auf den Adressenleitungen. Ein
we .entlicher Vorteil liegt auch darin, daß die Anzahl der Decodertransistoren pro Adressenleitung erheblich
verringert wird.
Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Anhand eines Ausführungsbeispiels, das in den Figuren dargestellt ist, wird die Erfindung weiter
erläutert. Es zeigt
Fig. I eine schematische Darstellung der bekannten
Decoderschaltung, bei der die Decodertransistoren mit ihren gesteuerten Strecken parallel zu den Adressenleitungen
angeordnet sind,
Fig.2 eine schemaiiiche Darstellung der bekannten
Decoderschaltung bei der die Decodertransistoren mit ihren gesteuerten Strecken parallel zu den Decoderausgangsleitungen
angeordnet sind,
F i g. 3 die erfindungsgemäße Decoderschaltung,
Fig.4 einen Impulsplan für die erfindungsgemäße
Decoderschaltung nach Fig.3, bei dem Spannungen
über der Ze·· aufgetragen sind,
F i g. 5 eine schematische Darstellung der erfindungsgemäßen Decoderschaltung auf dem Speicherbaustein,
Fig.6 eine schematische Darstellung von Decoderschaltungcn
nach Fig. I,
Fig. 7 eine schematische Darstellung der Decoderschaltungen
gemäß F i g. 2,
Fig.8 eine schematische Darstellung der Decoderschaltungen
gemäß F i g. 5.
Fig. 1 zeigt in schematischer Weise die Anordnung
einer bekannten Decrxlerschaltung auf einem Speicherbaustein.
Bei dieser bekannten Decoderschaltung sind die Decoderiransistoren DT mit ihren gesteuerten
Strecken parallel zu Adressenleitungen A angeordnet. Die gecteuerten Strecken der Decodertransistoren DT
liegen zwischen Decoderausgangsleitungen D und einer ι Leitung für die Betriebsspannung VSS. Die Steuereingänge
der Decodertransistoren DT sind jeweils mit Adressenleitungen A verbunden. Bei diesem Beispiel
sind die Adressenleitungen in Metall ausgeführt, während die Decoderausgangsleitungen und die Lei-
Hi tung für die Betriebsspannung VSS in den Halbleiterbaustein
hineindiffundiert sind. Aus der Fig. 1 ist ersichtlich, daß das Decoderraster R, das für die
Integrierung der Decodertransistoren DT einer Decoderschaltung
auf dem Speicherbaustein notwendig ist, verhältnismäßig groß ist. Dies kann auch aus der F i g. 6
entnommen werden, bei der zwei Decoderschaltungen DG nebeneinander angeordnet sind und über jeweils
eine Decoderausgangsleitung Di bzw. Di+1 mit einem Ausgangsverstärker AV verbunden sind. Dem Ausgangsverstärker
A V wird ein Auswahltaktsignal WA zugeführt. Hier ist das Decoderra^er R verhältnismäßig
groß, während die Höhe Wdergesarruen Decoderschaltung
mit Ausgangsverstärker A V verhältnismäßig klein ist. Der Grund für die geringe Höhe liegt darin, daß die
2r. Decodertransistoren DTmit ihren gesteuerten Strecken
paraiiel zu den Adressenleitungen liegen, und wegen des großen Decoderrasters R die Ausgangsverstärker A V
nebeneinander angeordnet werden können.
In F i g. 2 ist die Anordnung einer weiteren bekannten
id Decoderschaltung auf einem Speicherbaustein gezeigt.
Hier liegen die Decodertransistoren DT mit ihren gesteuerten Strecken parallel zu den Decoderausgangsleitungen
Dibzw. Di+\. Die Adressenleitungen A sind
senkrecht zu den Decoderausgangsleitungen D an-
i\ geordnet. Jetzt sind die Decoderausgangsleitungen D
aus Metall ausgeführt, während die Adressenleitungen aus Silizium bestehen. Bei dieser Ausführung der
Decoderschaltung liegt zwischen jeweils einem Adressenleitungspaar eine Leitung für die Betriebsspannung
■μ VSS, die in das Halbleitersubstrat hineindiffundiert ist.
Da die Decodertransistoren DT nun mit ihren gesteuerten Strecken parallel zu den Decoderausgangsleitungen
D liegen, ist das Decoderraster R verhältnismäßig klein, jedoch wird die Höhe Hder Decoderschal-
r. tung auf dem Speicherbaustein verhältnismäßig groß.
Dies läßt sich beser aus der Fig. 7 ersehen. Hier sind
wiederum zwei Decoderschaltungen DG nebeneinander angeordnet. Jetzt sind aber die Ausgangsverstärker
A V versetzt zueinander angeordnet, da in diesem Falle
V) das Decoderraster R zu klein ist. Die Folge ist, daß die
Höhe H der Gesamtschaltung, bestehend aus Decoderschah.ung DGund Ausgangsverstärker A V, groß wird.
Aus Fig.3 ergibt sich die Decoderschaltung gemäß
der Erfindung. Für den Fall, daß von der Decoderschal-
r> tung π Adresscnsignale ausgewertet werden müssen,
wobei η eine beliebige ganze Zahl ist, sind n—\ Decodertransistoren parallel zueinander angeordnet.
Das heißt, sie liegen mit ihren gesteuerten Strecken parallel zuein?nder, und die einen Anschlüsse der
in gesteuerten Strecken sind mit einer ersten Verbindungsleitung
L I, die anderen Anschlüsse der gesteuerten Strecke mit einer zweiten Verbindungsteitung L 2
miteinander verbunden. Den Steuereingängen dieser n— I Decodertransistoren DTX bis DTn- 1 werden im
•. Ausführungsbeisptel die Adressensignale A 1 bis A η - I
in negierter oder nichtnegierter Form zugeführt. Im Ausführungsbeispiel sind nur zwei dieser Decodertransistoren
gezeigt, nämlich die Decodertransistoren DT\
und DTn- 1 und diesen Decodertransistoren wird das
Adressensignal A\ und das Adressensignal An-\
zugeführt.
Es ist nun ein weiterer Decodertransistor DTW vorgesehen, dessen gesteuerte Strecke zwischen der
ersten Verbindungsleitung L 1 und einer Leitung für die Betriebsspannung VSS angeordnet ist. Dem Steuereingang
dieses weiteren DecodertransisUirs_DTWwird das
Adressensignal A 0 in negierter Form Ä~Ö zugeführt.
Zwischen der Verbindungsleitung L 2 und der Leitung für die Betriebsspannung VSS ist ein zusätzlicher
Decodertransistor DTZ angeordnet, dessen Stcuereingang das Adrcssensignal A 0 in nichtncgierter Form
zugeführt wird. Die Verbindungsleitung /. 1 bzw. 1.2 bilden Decoderausgangsleitungen Di bzw. Di+ 1. Diese
Dccoderausgangsleitungen können ohne Zwischenschaltung eines Ausgangsverstärkers mit den Bit/Wortleitungen
Xi bzw. Xi+ I verbunden sein. Im Ausführungsbeispiei
der l· i g. J ist jedoch ein Ausgangsverstärker A V1 bzw. AV2 zwischen die Decoderausgangsleitung
Dunddic Leitung Xgeschaltet.
Der Aufbau des Ausgangsverstärkers A V entspricht in etwa dem Aufbau, der in der DE-OS 24 43 490
erläutert ist. Er besteht aus einem Vorladetransistor VTl, einem Abtrenntransistor AT, einem zweiten
Vorladctransistor VT2 und eins:r Ausgangsstufe aus einem Schalttransistor SCH und einem Koppelkondcnsator
C. Den Vorladetransistoren VTl und VT2 wird
das Taktsignal 5 zugeführt, bevor der Speicherbaustein ausgewählt werden soll. Dadurch werden die Vorladetransistoren
VTl und VT2 leitend gesteuert und die Decoderausgangsleitung D bzw. der Punkt E auf ein
bestimmtes Potential aufgeladen. Während dieser Zeit ist der Abtrenntransistor AT gesperrt. Dazu wird
seinem Steuereingang eine Spannung VDD- UT zugeführt. VDD ist dabei eine weitere Betriebsspannung,
LTdie Schwellspannung des Abtrenntransistors. An die Ausgangsstufe, d. h. an den Schalttransistor SCH
wird das Auswahltaktsignal WA angelegt. Die genaue Wirkungsweise des Ausgangsverstärkers A Vergibt sich
aus der obengenannten Patentanmeldung. Es wird darum nicht ausführlicher darauf eingegangen.
Anhand des Impulsplanes der Fig.4 wird nun die
Wirkung der Decoderschaltung beschrieben. Dabei wird davon ausgegangen, daß die MOS-Transistoren
durch hohes Potential in den leitenden Zustand gebracht werden.
Zunächst liegt das Signal S an. d. h. es hat hohes Potential und damit sind die Vorladetransistoren VTl
und VT2 leitend gesteuert. Die Decoderausgangsleitungen D/ und Di+ 1 dnd die Punkte Ei und E/+ 1 können
sich somit auf hohes Potential aufladen. Während dieser Zeit liegen keine Adressensignale an den Decodertransistoren
DTan. Das Auswahltaktsignal WA ist ebenfalls nicht angeschaltet. Dann herrscht auf den Leitungen Xi
und Xi+ 1 die zu den Bit/Wortleitungen führen, niederes Potential.
Es sei nun angenommen, daß das Adressensignal A 0 und die Adressensignale Xl. XH anliegen. Dann wird
der zusätzliche Decodertransistor DTZ leitend gesteuert, während die anderen Decodertransistoren
DTi. DTn und DTW gesperrt bleiben. Die Folge ist, daß sich die Decoderausgangsleitung Di+1 auf die
Betriebsspannung VSSentladen kann f VSS ist niedriges
Potential), während Hie Decoderausgangsleitung Di auf
hohem Potential bleibt. Da das Signal S vorher abgeschaltet worden ist, sind die Vorladetransistoren
VTl und VT2 des Ausgangsverstärkers A V in den
gesperrten Zustand übergegangen.
Aufgrund des Potentials auf der Leitung Di+ I wird nun der Abtrenntransistor 4Tdes Ausgangsverstärkers
AV2 leitend gesteuert und somit kann sich der Punkt Ei+ 1 auf niederes Potential entladen. Dagegen bleibt
das Potential am Punkt Ei auf seinem bisherigen Wert. Somit herrscht am Steuereingang des Schalttransistors
SCH des Ausgangsverstärkers AVi höheres Potential,
während am Steuereingang des Schalttransistors SCH des Ausgangsverstärkers AV2 niederes Potential
anliegt. Wird nun das Auswahlsipnal WA angeschaltet,
dann kann der Schalttransistor S(V/ des Ausgangsverstärkers
AVX in den leitenden Zustand übergehen und somit erscheint auf der Leitung Xi hohe« Potential
Durch die Rückkopplung über den Kondensator (wird dieser Durchschaltvorgang beschleunigt. Somit ist die
Leitung X/ausgewählt.
Da der Punkt Ei+ I auf niederem Potential liegt, kai"1.
ULT Scnaliituii.Msk)i SCH des Ausgangsverstärkers
A V2 nicht in den leitenden Zustand übergeführt werden und das Potential auf der Leitung Xi+ 1 bleibt auf einem
niederen Wert.
In Fig.4 zeigen die gestrichelten Linien den Fall an.
bei dem die Ausgangslehung X nicht ausgewählt ist, während die durchgezogenen Linien den Fall anzeigen,
bei dem die Leitung X ausgewählt wird.
In Ausführungsbeispiel ist der Fall beschrieben, dem
an die Decodertransistoren DTW und DTZ das Adressensignal A 0 in nichtncgierter und negierter
Form angelegt wird. Es ist selbstverständlich auch möglich, statt dessin ein anders Adrcssensignalpaar
anzulegen.
Wie F i g. 3 zeigt, werden durch die Decoderschaltung jeweils zwei Wort- bzw. Bitleitun^cn X bedient. Es
werden also dieselben Decodertransistoren zur Auswahl entweder der einen oder der anderen Wort- oder
Bitleitung Xi. Xi+ 1 herangezogen. Aus diesem Grunde ist die Anzahl der Decodertransistoren pro Adressenleitung
erheblich geringer.
Aus F i g. 5 ergibt sich, wie die Decoderschaltung auf einem Halbleiterbaustein angeordnet werden kann. Es
ist zu sehen, daß die n- 1 Decodertransistoren mit ihren gesteuerten Strecken parallel zu den Adressenleitungen
angeordnet werden. Jetzt sind die Adressenleitungen in Metall ausgeführt. Der zusätzliche und der weitere
Decodertransistor liegen dagegen mit den gesteuerten Strecken in den Decoderausgangsleitungen Di und
D/+ 1 und sind somit senkrecht zu den Adressenleitungen angeordnet. Die Decoderausgangsleitungen Di und
Di+ 1 sind in das Halbleitersubstrat hineindiffundiert. Es ist nur eine Leitung für die Betriebsspannung VSS
vorgesehen, die am unteren Rand der Decoderschaltung angeordnet werden kann. Diese kann ebenfalls in Metall
ausgeführt werden. Da für die Bedienung von zwei Decoderausgangsleitungen Di und Di+ 1 jeweils dieselben
n-\ Decodertransistoren herangezogen werden, wird das Decoderraster R im Verhältnis zur Fig. 1
erheblich geringer. Da außerdem die n— 1 Decodertransistoren DTparallel zu den Adressenleitungen liegen, ist
auch die Höhe H verhältnismäßig klein, d. h. sehr viel kleiner als bei der Decoderschaltung der Fig. 2. Diese
Verhältnisse sind noch besser in Fig. 8 dargestellt. Die Decoderschaltung für zwei Decoderausgangsleitungen
Di und Di+ I ist mit DDC bezeichnet. Es ist zu sehen, daß das Decoderraster R sehr klein ist und daß
außerdem die Höhe H. die von der Decoderschaltung DDG und den Ausgangsverstärkern A V gebildet wird,
verhältnismäßis klein ist. In diesem Falle müssen die
Ausgangsverstärker ebenfalls versetzt zueinander angeordnet werden. Durch die erfindungsgemäße Ausführung der Decoderschaltung ist also der Platzbedarf für
die Decoderschaltiing auf dem Speicherbaustein erheblich geringer geworden.
Beispielsweise ist das Decoderraster der Decoderschaltu;;·; der Fig. 1 /?=30μπι, die Höhe Η=445μτη
und die Decodierfläche pro ausgewählter Leitung FD=R. W= 13 350 μπι2.
Für die bekannte Decodierschaltung gemäß F i g. 3 ist das Decodierraster A= 19 μπι, die Höhe H= 615 μπι
und es ergibt sich eine Decodierfläche pro ausgewählter Leitung FD= R ■ H= 11 685 μπι2.
Für die erfindungsgemäße Decodierschaltung lassen sich folgende Werte errechnen: Decodierraster
/?=19μπι, Höhe //=540 μπι und Decodierfläche pro
ausgewählter Leitung FD= R ■ H= 10 260 μπι2.
Claims (4)
1. Decoderschaltung für einen Speicherbaustein mit aus MOS-Transistoren aufgebauten, zwischen
Wort- und Bitleitungeu angeordneten Speicherzellen, bei der den Steuereingängen von Decodertransistoren
zur Auswahl einer der Wortleitungen oder Bitleitungen π Adressensignale in negierter oder
nichlnegierter Form zugeführt werden und ein
Decoderausgangssignal an den Anschlüssen von die parallel liegenden gesteuerten Strecken von Decodertransistoren
verbindenden zwei Decoderausgangsleitungen abgegeben wird, dadurch gekennzeichnet,
daß nur n— 1 Decodertransistoren (DT) mit ihren gesteuerten Strecken parallel
zueinander angeordnet sind und diese mit den zweiten bis n~Iten Adressensignalen (A\—A„-\
bzw. ~A~\ — A„-\) in negierter oder nichtnegierter
Form gesteuert werden, daß ein weiterer Decodertransistor (DTW) vorgesehen ist, dessen Steuereingang
ein erstes Adressensignal in negierter Form (AO) zugeführt wird und dessen gesteuerte Strecke
zwischen der ersten Verbindungsleitung (L 1) und der Betriebsspannung (VSS) angeordnet ist, daß ein
zusätzlicher Decodertransistor (DTZ) vorgesehen ist, dessen Steuereingang das erste Adressensignal in
nichtnegierter Form (A 0) zugeführt wiM und dessen
gesteuerte Strecke zwischen der Betriebsspannung (VSS) und der zweiten Verbindungsleitung (LI)
angeschlossen ist, und daß sowohl die erste als auch
die zweite Verbindungsleitung eine Decoderausgangsleituiig
(D) zur Auswanl jeweils einer Wort/ Bitleitung bildet.
2. Decoderschaltung nach .»nspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß an jede Verbindungsleitung (Li, LI) jeweils ein Ausgangsverstärker (AVi,
A V2) angeschlossen ist.
3. Anordnung der Decoderschaltung nach Anspruch 1 oder Anspruch 2 zur Integrierung auf einem
Halbleiterbaustein, dadurch gekennzeichnet, daß die /J-I Decodertransistoren (DT) mil ihren gesteuerten
Strecken parallel zu den Adressenleitungen (A) angeordnet sind, daß der weitere Decodertransistor
(DTW)nnd der zusätzliche Decodertranssitor (DTZ) mit ihrem gesteuerten Strecken senkrecht zu den
Adressenleitungen (A) liegen, und daß die Leitung für die Betriebsspannung (VSS) außerhalb der
Adressenleitungen ^angeordnet ist und parallel zu den Adressenleitungen geführt ist.
4. Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Adressenleitungen (A) und die
Leitung für die Versorgungsspannung (VSS) auf dem Halbleiterbauiitein in Metall ausgeführt ist.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2557165A DE2557165C3 (de) | 1975-12-18 | 1975-12-18 | Decoderschaltung und ihre Anordnung zur Integrierung auf einem Halbleiterbaustein |
US05/749,010 US4099162A (en) | 1975-12-18 | 1976-12-09 | Decoder circuit |
FR7637279A FR2335910A1 (fr) | 1975-12-18 | 1976-12-10 | Circuit decodeur |
JP51149668A JPS5927999B2 (ja) | 1975-12-18 | 1976-12-13 | デコ−ダ回路 |
IT30466/76A IT1065546B (it) | 1975-12-18 | 1976-12-16 | Circuito decodificatore per un componente memorizzatore con celle di memorizzazione costituite da transistori mos |
GB53219/76A GB1576108A (en) | 1975-12-18 | 1976-12-20 | Data store address decoder circuits |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2557165A DE2557165C3 (de) | 1975-12-18 | 1975-12-18 | Decoderschaltung und ihre Anordnung zur Integrierung auf einem Halbleiterbaustein |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2557165A1 DE2557165A1 (de) | 1977-06-23 |
DE2557165B2 DE2557165B2 (de) | 1978-05-03 |
DE2557165C3 true DE2557165C3 (de) | 1979-01-18 |
Family
ID=5964800
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2557165A Expired DE2557165C3 (de) | 1975-12-18 | 1975-12-18 | Decoderschaltung und ihre Anordnung zur Integrierung auf einem Halbleiterbaustein |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4099162A (de) |
JP (1) | JPS5927999B2 (de) |
DE (1) | DE2557165C3 (de) |
FR (1) | FR2335910A1 (de) |
GB (1) | GB1576108A (de) |
IT (1) | IT1065546B (de) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5826112B2 (ja) * | 1977-11-16 | 1983-05-31 | 三菱電機株式会社 | デコ−ダ回路 |
JPS5833633B2 (ja) * | 1978-08-25 | 1983-07-21 | シャープ株式会社 | Mosトランジスタ・デコ−ダ |
US4200917A (en) * | 1979-03-12 | 1980-04-29 | Motorola, Inc. | Quiet column decoder |
JPS5619584A (en) * | 1979-07-24 | 1981-02-24 | Chiyou Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai | Semiconductor memory |
US4292547A (en) * | 1979-07-27 | 1981-09-29 | Motorola, Inc. | IGFET Decode circuit using series-coupled transistors |
JPS5683891A (en) * | 1979-12-13 | 1981-07-08 | Fujitsu Ltd | Semiconductor storage device |
US4287576A (en) * | 1980-03-26 | 1981-09-01 | International Business Machines Corporation | Sense amplifying system for memories with small cells |
JPS5774886A (en) * | 1980-10-29 | 1982-05-11 | Toshiba Corp | Semiconductor integrated circuit device |
JPS583185A (ja) * | 1981-06-30 | 1983-01-08 | Fujitsu Ltd | デコ−ダ回路 |
US4514829A (en) * | 1982-12-30 | 1985-04-30 | International Business Machines Corporation | Word line decoder and driver circuits for high density semiconductor memory |
US4611131A (en) * | 1983-08-31 | 1986-09-09 | Texas Instruments Incorporated | Low power decoder-driver circuit |
JPH0642536B2 (ja) * | 1985-08-16 | 1994-06-01 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
DE69023456T2 (de) * | 1989-10-30 | 1996-06-20 | Ibm | Bitdekodierungsschema für Speichermatrizen. |
US5022010A (en) * | 1989-10-30 | 1991-06-04 | International Business Machines Corporation | Word decoder for a memory array |
US6184928B1 (en) | 1997-04-30 | 2001-02-06 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for split shift register addressing |
JP2007232977A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Toshiba Corp | デコーダ回路およびこのデコーダ回路を用いる液晶駆動装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3962686A (en) * | 1972-05-16 | 1976-06-08 | Nippon Electric Company Limited | Memory circuit |
US4021787A (en) * | 1972-09-18 | 1977-05-03 | Siemens Aktiengesellschaft | Information storage circuit employing MNOS transistors |
GB1523752A (en) * | 1974-08-28 | 1978-09-06 | Siemens Ag | Dynamic semiconductor data stores |
US4034243A (en) * | 1975-12-19 | 1977-07-05 | International Business Machines Corporation | Logic array structure for depletion mode-FET load circuit technologies |
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1975
- 1975-12-18 DE DE2557165A patent/DE2557165C3/de not_active Expired
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