DE2030485A1 - Zusatzeinrichtung zu einem Opakilluminator für photometrische Messungen im Auflichthellfeld - Google Patents

Zusatzeinrichtung zu einem Opakilluminator für photometrische Messungen im Auflichthellfeld

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DE2030485A1
DE2030485A1 DE19702030485 DE2030485A DE2030485A1 DE 2030485 A1 DE2030485 A1 DE 2030485A1 DE 19702030485 DE19702030485 DE 19702030485 DE 2030485 A DE2030485 A DE 2030485A DE 2030485 A1 DE2030485 A1 DE 2030485A1
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incident light
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Günter 6301 Fellingshausen; Medenbach Karl Dr. 6301 Rodheim-Bieber Reinheimer
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Ernst Leitz Wetzlar GmbH
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Ernst Leitz Wetzlar GmbH
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    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • G02B21/08Condensers
    • G02B21/082Condensers for incident illumination only

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

  • Zusatzeinrichtung zu einem Opakilluminator für photometrische Messungen im Auflichthellfeld Die Erfindung betrifft eine Zußatzeinrlchtung zu einem Opakilluminator, mit der fur photometrische Messungen im Auflichthellfeld geeignete Meßblenden in den Beleuchtungsstrahlengang gebracht werden können, Bei Opakilluminatoren für Auflichthellfeld wird da Licht einer seitlich vom Mikroskop stehenden Lampe über eine Planpiatte oder ein Prisma durch das Objektiv hindurch auf das zu untersuchende Objekt geworfen. Durch eine geeignete Linsenanordnung werden eine einstellbare Leuchtfeldblende des Opakilluminatore in die Objektebene und eine ebenfalls variable Aperturblende in die austrittspupille des Mikroskopobjektivs abgebildet. Für photometrische Messungen werden mit dieser Aperturblende der Öffnungs-und der Einfallswinkel der Beleuchtungsetrahlen festgelegt.
  • Da die reflektierte Lichtintensität von dem Winkel abhängt, unter dem die Beleuchtungsstrahlen auf das Objekt treffen, wird die Aperturblende lateral verstellbar angeordnet.
  • Als Aperturblende dient bei bekannten Illuminatoren eine fest eingebaute Iriablende. Mit ihr kann man kontinuierlich variierbare Beleuchtungsaperturen einstellen. Es ist jedoch nicht möglich, bei Vergleichemeasungen unterschiedlich große aperturen genau zu reproduzieren.
  • Der Erfindung lag daher die Aufgabe zugrunde, eine Zuaatzeinrichtung zu einem Opakilluminator zu schaffen, die es erlaubt, verschiedene Aperturblenden von jeweils fester Größe, lateral verstellbar in den Beleuchtungsstrahlengang zu bringen, ohne die Abbildungsverhältnisse des s Opikilluminatore zu ändern, damit dieser auch für andere auswechselbare Zusatzeinrichtungen nutzbar bleibt.
  • Diese Aufgabe wird durch eine Zusatzeinrichtung zu einem Opakilluminator für photometrische Messungen im Auflichthellfeld dadurch gelost, daß auf einer auf einem Schlitten in den Beisuchtundestrahlengang fahrbaren und lateral verschiebbaren Trägerplatte eine drehbar und einrastbar gelagurte Scheibe mit verschiedenen, fest vorgegebenen Blenden-Öffnungen und eine Hilfslinse derart angeordnet sind, daß in Arbeitsstellung im Zusammenwirken mit den optischen Gliedern des Opakilluminators die gewählte Blendenöffnung in die Austrittspupille des mikroskopobjektivs abgebildet wird.
  • In einer Weiterbildung der Erfindung ist auf der Trägerplatte zusätzlich ein Umlenkspiegel gngoordnet, mit dem eine besondere, für photometrische messungen gecignete lichtquelle, in den Beleuchtungsstrahlengang eingespiegelt werden kann, und der zugleich die Lichtquelle des Opakilluminators abdeckt.
  • Die Leuchtfeldblende dieser besonderen Lichtquelle wird dann durch die auf der Trägerplatte befindliche Hilfslinse in die Leuchtfeldblendenebene des Opakilluminators abgebildet.
  • Die geometrische Form der Blendenöffnungen in der Scheibe kann prinzipiell beliebig sein. Besonders zweckmäßig sind jedoch solche mit mindestens einer geraden Hegrenzungskante, die parallel zu der bei Verwendung eines Prismas im Opakilluminator auftretenden Schattengrenze in der Austrittspupille des Mikroakopobjektivs verläuft. Durch die Lateralverschiebung der Meßblende kann diese dann unmittelbar an die Schattengrenze herangebracht werden, so daß der in der Photometrie häufig geforderte senkrechte Lichteinfall für eine größtmögliche Meßflãoho erfüllt werden kann.
  • In den Zeichnungen ist ein Ausführungsbeispiel der Erfindung schematisch dargestellt, und zwar zeigt: Fig. 1 gestrichelt eingerahmt die Zusatzeinrichtung im Strahlengang des Opakilluminators, Fig. 2 die Austrittspupille des Nikroskopobjektivs, Fig. 3 eine Ansicht eines speziellen Ausführungsbeispiels, teilweise geschnitten, und Fig. 4 einen Schnitt durch Fig. 3 nach der Linie IV-IV.
  • Aus Fig. 1 ist ersichtlich, daß durch das Einbringen der Zusatzeinrichtung in den Strahlengang des Opakilluminators die Abbildungsverhältnisse nicht geändert werden. Ohne Zusatzeinrichtung wird die Leuchtfeldblende S1 über die Linse das Prisma 2 und das Mikroskopobjektiv 3 in die Objektebene S" abgebildet und dio variable Aperturblende A1 in die Austrittspupille A". Bei eingeschobener Zusatzeinrichtung bildet die Hilfslinse 4 die feste Aperturblende A in die variable Aperturblende A1 ab, bzw. bei Verwendung eines Umlenkspiels 5 für eine besondere Meßbeleuchtung in eine entsprechend verlagerte. Ebene. Die leuchtfeldblende S der Meßbeleuchtung wird durch die Hilfslinse 4 in die Leuchtfeldblende $1 abgebildet.
  • In Fig. 2 ist die durch das Prisma 2 in der Austrittspupille AU erzeugte Schattengrenze 6 und das Bild 7 der festen Aperturblende A dargestellt. Durch die Lateralverstellung der Aperturblende A kann dieses Bild bis an die Schattengrenze herangeschoben werden, Aus den Figuren 3 und 4 sind die Einzelheiten einer speziellen Ausführungsform der Erfindung ersichtlich. Mit dem Schlitten 8, der auf Lagern 9 in einem Gehäuse 10 verschiebbar ist und in den Endstellungen 11 und 12 über Rastmittel 11a und 12a fixiertwerden kann, wird die Trägerplatte 13 in den Beleuchtungsstrahlengang des Opakilluminators hineingeschoben. Die Trägerplatte ist über einen Antrieb 14 und den keil 15 auf dem Schlitten 8 in einem Führungsrahmen 16 lateral verschiebbar. Auf der Trägerplatte 13 ist die Scheibe 17 mit den Blendenöffnungen A um eine Achse 18 drehbar gelagert. Über Rastmittel 19 kann die Scheibe 17 so fixiert werden, daß die jeweilige Blendenöffnung genau im Boleuchtungstrahlengang hinter der Hilfslinse 4 steht. Die Scheibe 17 trägt auf ihrem Rand Markierungen 20 für die eingestellte Blende und eine Riffelung 21 mit der sie aus dem Schlitten 8 herausragt, so daß sie von außen gedreht werden kann.

Claims (2)

A n s p r ü c h e
1. Zusatzeinrichtung zu einem Opakilluminator für photometrische Messungen im auflichthellfeld, dadurch gekennzeichnet, daß auf einer auf einem Schlitten (8) in den Beleuchtungsstrahlengang fahrbaren und lateral verschiebbaren Trägerplatte (13) eine drehbar und einrastbar gelagerte Scheibe (17) mit verschiedenen, fest vorgegebenen Blendenöffnungen (A) und eine Hilfalinse (4) derart angeordnet sind, daß in Arbeitsstellung in Zusammenwirken mit den optischen Gliedern des Opakilluminators die gewählte Blendenöffnugg in die Austrittspupille (A") des Mikroskopobjektive abgebildet wird.
2. Zusatzeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß auf der Trägerplatte (13) in Lichtrichtung gesehen vor der Blendenöffnung (A) ein Umlenkspiegel (5) einschaltbar angeordnet ist.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE2635142A1 (de) 1975-08-25 1977-03-10 American Optical Corp Mikroskop-beleuchtungssystem
DE2809067A1 (de) * 1977-03-03 1978-09-07 Bofors Ab Einrichtung zum wahlweisen einkoppeln von symbolen fuer ein optisches system
EP1083452A1 (de) * 1999-09-09 2001-03-14 Leica Microsystems AG Beleuchtungseinrichtung für ein Operationsmikroskop

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