DE19910078A1 - Verfahren zur Erhöung der Fertigungssicherheit von Lötverbindungen - Google Patents
Verfahren zur Erhöung der Fertigungssicherheit von LötverbindungenInfo
- Publication number
- DE19910078A1 DE19910078A1 DE19910078A DE19910078A DE19910078A1 DE 19910078 A1 DE19910078 A1 DE 19910078A1 DE 19910078 A DE19910078 A DE 19910078A DE 19910078 A DE19910078 A DE 19910078A DE 19910078 A1 DE19910078 A1 DE 19910078A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- metallization layer
- layer
- solder
- metallization
- ceramic carrier
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/403—Edge contacts; Windows or holes in the substrate having plural connections on the walls thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3431—Leadless components
- H05K3/3442—Leadless components having edge contacts, e.g. leadless chip capacitors, chip carriers
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/09—Use of materials for the conductive, e.g. metallic pattern
- H05K1/092—Dispersed materials, e.g. conductive pastes or inks
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/03—Conductive materials
- H05K2201/0332—Structure of the conductor
- H05K2201/0335—Layered conductors or foils
- H05K2201/035—Paste overlayer, i.e. conductive paste or solder paste over conductive layer
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/09—Shape and layout
- H05K2201/09145—Edge details
- H05K2201/09181—Notches in edge pads
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
- H05K2201/10613—Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
- H05K2201/10742—Details of leads
- H05K2201/10886—Other details
- H05K2201/10909—Materials of terminal, e.g. of leads or electrodes of components
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0011—Working of insulating substrates or insulating layers
- H05K3/0044—Mechanical working of the substrate, e.g. drilling or punching
- H05K3/0052—Depaneling, i.e. dividing a panel into circuit boards; Working of the edges of circuit boards
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/22—Secondary treatment of printed circuits
- H05K3/24—Reinforcing the conductive pattern
- H05K3/245—Reinforcing conductive patterns made by printing techniques or by other techniques for applying conductive pastes, inks or powders; Reinforcing other conductive patterns by such techniques
- H05K3/247—Finish coating of conductors by using conductive pastes, inks or powders
- H05K3/248—Finish coating of conductors by using conductive pastes, inks or powders fired compositions for inorganic substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/4038—Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections
- H05K3/4053—Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections by thick-film techniques
- H05K3/4061—Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections by thick-film techniques for via connections in inorganic insulating substrates
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
- Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
Abstract
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Erhöhung der Fertigungssicherheit von Lötverbindungen (7) zwischen einem Keramikträger (1) und einer Leiterplatte (10). Es umfaßt den Verfahrensschritt des Aufbringens einer ersten ablegierungsbeständigen Metallisierungsschicht (5) am Keramikträger (1) und dem sich anschließenden Aufdrucken einer zweiten, das Benetzungsverhalten steigernden Metallisierungsschicht (6) auf die erste Metallisierungsschicht (5). Dadurch ist eine Erhöhung der Gesamtmetallisierungsschichtdicke (5, 6) im Kantenbereich (8) einer Lötverbindung (7) erzielbar, deren Lothochstieg wiederum eine optische vollautomatische Kontrolle der Lötverbindung (7) ermöglicht.
Description
Mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens zur Erhöhung der Fertigungssicherheit
von Lötverbindungen läßt sich die Qualität der Lötverbindungen durch
vollautomatische Lötstellenkontrollsysteme besser überwachen.
Bei einem Verfahren zur Durchkontaktierung von zweiseitig beschichteten
Leiterplatten mittels Silberleitpaste, wird ein Drucksieb verwendet, welches
Durchkontaktierungslöchern der Leiterplatte zugeordnete Öffnungen aufweist. Bei
diesem Verfahren wird das mit einer Silberleitpastenschicht versehene Drucksieb
auf die Leiterplatte gelegt und die Unterseite der Leiterplatte einem
atmosphärischen Unterdruck ausgesetzt, wodurch die Silberleitpaste
hohlzylinderförmige, an den Wandungen der Durchkontaktierungslöcher
anliegende elektrische Leiter bildet.
Weiterhin ist aus dem Stand der Technik bekannt, Durchkontaktierungslöcher mit
einer Verzinnung zu versehen, um die Haftung des Lotes zu verbessern. Bei
Keramikträgern kann jedoch Zinn nicht verwendet werden; auf dem
Keramikträger angeordnete Sensoren könnten durch die aufgebrachte Verzinnung
beeinträchtigt werden.
Das erfindungsgemäße Verfahren zur Erhöhung der Fertigungssicherheit von
Lötverbindungen erlaubt den Einsatz vollautomatischer optischer
Lötstellenkontrollsysteme mit niedrigen Fehlerraten. Gegenüber bekannten
Verfahren zur Durchkontaktierung von Leiterplatten, wird durch das Aufbringen
einer zweiten Metallisierungsschicht auf eine vorhergehende erste
Metallisierungsschicht, die beispielsweise aus einer AgPd-Dickschichtpaste
bestehen kann, die Benetzungsfähigkeit für das Lot erheblich verbessert, so daß
ein verbesserter Lothochstieg insbesondere an Umkontaktierungen an
Keramikträgern erzielbar ist. Die damit einhergehende Erhöhung der
Gesamtmetallisierungsschichtdicke bewirkt eine Erhöhung der Beständigkeit
gegen das Ablegieren der Metallisierung beim Löten, dem "Leaching"-Effekt.
Bei Keramikträgern, Leiterplatten oder dergleichen, werden
Durchkontaktierungen durch Ansaugen oder Aufdrucken von leitenden
Werkstoffen gefertigt; Umkontaktierungen lassen sich durch Trennung von
Durchkontaktierungen in ihren Symmetrielinien herstellen. Bei der Herstellung
von Durchkontaktierungen in Keramikträgern oder Leiterplatten wird zunächst
eine erste Metallisierungsschicht aufgebracht, auf welche in einem zweiten
Verfahrensschritt eine zweite Metallisierungsschicht aufgedruckt wird. In
vorteilhafter Weise besteht eine erste Metallisierungsschicht aus einem
korrosionsbeständigen Material, wie beispielsweise AgPd-Dickschichtmetall. Zur
Erhöhung der Gesamtmetallisierungsschicht und zur Verbesserung der
Benetzungsfähigkeit der zweiten Metallisierungsschicht, wird die erste
Metallisierungsschicht mit einer weiteren Metallisierungsschicht versehen. Diese
trägt maßgeblich zu einer verbesserten Benetzungsfähigkeit der ersten
Metallisierungsschicht durch das Lot bei. Die zweite Metallisierungsschicht
besteht vorzugsweise aus einer Edelmetallschicht, wie beispielsweise Au, welches
bessere Benetzungsfähigkeiten aufweist und deren Benetzungswinkel < 60° ist.
Mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens läßt sich im Kantenbereich der
Metallisierungsschicht eine ausreichende Schichtdicke erreichen, die so bemessen
ist, daß auch im Auslaufbereich der Metallisierungsschicht noch Material
vorhanden ist. Ist dort genügend Metallisierungsmaterial vorhanden, läßt sich dort
die Benetzungsfähigkeit auf einem hohen Niveau halten, ist auch im
Kantenbereich der Metallisierungsschicht ein Hochstieg des Lotes durch die gute
Benetzungsfähigkeit gewährleistet. Dies wiederum unterstützt den Einsatz
vollautomatischer Lötstellenkontrollsysteme, da so ein Lothochstieg erzielbar ist,
der zuverlässig durch ein vollautomatisches Lötstellenkontrollsystem detektierbar
ist.
Mittels des erfindungsgemäßen Aufbringens der zweiten Metallisierungsschicht
wird die Gesamtmetallisierungsschichtdicke im Kantenbereich erhöht, die
Benetzungsfähigkeit so verbessert, daß das Lot ausreichend hochsteigt. Da eine
zweite Metallisierungsschicht, beispielsweise aus Au, mit dem Nachteil des
Ablegierens behaftet sein kann, kann dieser Nachteil durch AgPd als erste
Metallisierungsschicht ausgeglichen werden. Die Kombination beider
Metallisierungsschichten bei der Herstellung der Durchkontaktierungen im
Keramikträger legt die Grundlage dafür, um die nach der Trennung der
Durchkontaktierung entstehenden Umkontaktierungen so zu verbessern, daß
vollautomatische Lötstellenkontrollsysteme einsetzbar sind, die die Lötstellen
nachmessen und sichergestellt ist, daß die Voraussetzung für eine aussagekräftige
vollautomatische Messung, nämlich ein ausreichender Lothochstieg, gewährleistet
ist.
Anhand einer Zeichnung wird die Erfindung nachstehend detaillierter erläutert.
Es zeigt die:
Fig. 1 eine mit zwei Metallisierungsschichten versehene Durchkontaktierung
eines Keramikträgers und die
Fig. 2 eine an einem Keramikträger ausgebildete Umkontaktierung, der
gegenüberliegend ein optisches Lötstellenkontrollsystem angeordnet
ist.
Fig. 1 zeigt einen Keramikträger 1, an dem eine Durchkontaktierung 17
ausgeführt ist. Auf der Oberseite 2 des Keramikträgers 1 befindet sich ein
Sensorelement 3. Die Durchkontaktierung 17 besteht aus einer ersten
Metallisierungsschicht 5, die auf die Kanten des Keramikträgers 1 aufgebracht ist;
dazu kann dieses Metallisierungsschicht mittels Anlegen von Unterdruck
aufgebracht oder auch aufgedruckt werden. Vorzugsweise besteht diese erste
Metallisierungsschicht 5 aus Silberleitpaste oder einer AgPd-Dickschichtpaste, die
eine hohe Korrosionsbeständigkeit aufweist und welche sehr beständig gegen das
Ablegieren, den Abtrag der Metallisierung beim Lötvorgang, ist. Dieser
Materialanforderung wird eine erste Metallisierungsschicht 5 bestehend aus AgPd
in hohem Maße gerecht. Gemäß Fig. 1 wird die erste Metallisierungsschicht 5 in
einem weiteren Verfahrensschritt mit einer zweiten Metallisierungsschicht 6
versehen, welche in erster Linie die Benetzungseigenschaften der ersten
Metallisierungsschicht 5 verbessert. Die zweite Metallisierungsschicht 6 besteht
daher aus einem die Benetzung verbessernden Edelmetall, beispielsweise Au.
In Fig. 1 ist eine Durchkontaktierung 17 dargestellt, welche an Ober- und
Unterseite des Keramikträgers 1 ausgebildet ist; die Durchkontaktierung 17 kann
beispielsweise einen Durchmesser von 300 µm haben. Durch Trennung der
Durchkontaktierung 17 an der Trennstelle 4 erhält man Umkontaktierungen 18,
wie sie beispielsweise in Fig. 2 in vereinfachter Form dargestellt sind.
In der Darstellung gemäß Fig. 2 ist ein Keramikträger 1 gezeigt, dessen
Umkontaktierung 18 aus einer Durchkontaktierung 17 gemäß Fig. 1
hervorgegangen ist.
Nach der Trennung des Keramikträgers 1 an der Trennstelle 4 ist aus der
Durchkontaktierung 17 am Keramikträger 1 eine Umkontaktierung 18
hervorgegangen. Die den Kantenbereich des Keramikträgers 1 abdeckende
Umkontaktierung 18 besteht wie die Durchkontaktierung 17 aus einer ersten
Metallisierungsschicht 5, beispielsweise AgPd-Dickschichtpaste und einer
zweiten Metallisierungsschicht 6, beispielsweise aus Au oder einem anderen, die
Benetzung in vorteilhafter Weise verbessernden Material. Der
Umkontaktierung 18 gegenüberliegend ist eine Kontrolloptik 12 angeordnet.
Diese umfaßt eine Strahlungsquelle 14, eine Sammellinse 15, sowie eine Linse 16,
welche das Strahlenbündel 13 auf die zu detektierende Lötverbindung 7
fokussiert. Mit der Kontrolloptik 12 ist eine hier im einzelnen nicht dargestellte
Auswerteeinheit verbunden, mit der eine Auswertung der durch die
Kontrolloptik 12 aufgenommene Meßergebnisse erfolgen kann.
Mittels einer Lötverbindung 7 wird die Umkontaktierung 18 mit einem senkrecht
zu dieser angeordneten Sockel 9 verbunden, der an der Oberseite einer
Leiterplatte 10 aufgenommen ist. Die Güte einer Lötverbindung 7 kann in
vorteilhafter Weise dadurch kontrolliert und gemessen werden, daß der
Lothochstieg der Lotraupe 7 in deren Kantenbereich 8 gemessen wird und daraus
auf eine korrekte bzw. mangelhafte Lötverbindung 7 geschlossen wird. Durch das
Aufdrucken der zweiten Metallisierungsschicht 6 wird durch die stark verbesserte
Benetzung erreicht, daß das Lot so hochsteigt, daß dessen Kantenbereich 8 von
Strahlenbündel 13 der Kontrolloptik 12 erfaßt wird. Bei einer nicht korrekt
ausgeführten Lötverbindung wäre ein Lothochstieg bis in den Kantenbereich 8
nicht gewährleistet, der Lothochstieg bis in den Erfassungsbereich durch das
Strahlenbündel 13 unterbliebe, die Lötverbindung 7 würde somit von der der
Kontrolloptik 12 nachgeordneten Auswerteeinheit als nicht korrekt identifiziert.
Bei Einsatz einer zweiten Metallisierungsschicht 6, die die Benetzungsfähigkeit
der ersten Metallisierungsschicht 5 verbessert, sind die Voraussetzung für ein
Lothochstieg bis in den Erfassungsbereich durch das Strahlenbündel 13
geschaffen. Diese Grundvoraussetzung ist für alle zu fertigenden
Lötverbindungen gleich. Da alle Lötverbindungen 7 unter das Fließverhalten des
Lotes günstig beeinflussenden Voraussetzungen gefertigt werden können, ist die
Aussagefähigkeit der Messungen durch die Kontrolloptik 12 sehr zuverlässig. In
automatisierten Fertigungsprozessen lassen sich somit vollautomatische optische
Kontrolleinrichtungen 12 zur Kontrolle von der Güte von Lotverbindungen 7
einsetzen.
Das erfindungsgemäße Aufdrucken einer zweiten Metallisierungsschicht 6 auf die
erste Metallisierungsschicht S hat zudem den Vorteil, daß eine beim Aufdrucken
der ersten Metallisierungsschicht 5 aus prozeßtechnischen Gründen nicht
ausreichende Schichtdicke im Kantenbereich ausgeglichen werden kann. Ist im
Kantenbereich die Schichtdicke zu gering, setzt dort bevorzugt das Ablegieren der
Metallisierungsschicht beim Löten ein, dem vorgebeugt werden muß. Durch das
Aufdrucken der zweiten Metallisierungsschicht 6 wird eine unerwünschte
Gesamtschichtdicke der AgPd-Schichtdicke allein vermieden; der Einsatz einer
zweiten Metallisierungsschicht 6 aus einem die Benetzungsfähigkeit der ersten
Metallisierungsschicht 5 verbessernden Material erlaubt sowohl eine ausreichende
Gesamtschichtdicke im Kantenbereich, als auch einen ausreichenden Lothochstieg
an der Lotverbindung 7 der Umkontaktierung 18, die sicher optisch erfaßt werden
kann.
Das Auswahlkriterium für die zweite Metallisierungsschicht 6 ist das
Benetzungsverhalten, was sich durch den Benetzungswinkel charakterisieren
läßt. Ein Benetzungswinkel α von 0° charakterisiert ein hervorragendes
Benetzungsverhalten, während ein Benetzungswinkel α = 90° ein ausgesprochen
ungünstiges Benetzungsverhalten kennzeichnet. Die als erste
Metallisierungsschicht 5 gewählte AgPd-Dickschichtpaste hat einen
Benetzungswinkel α von 60°.
1
Keramikträger
2
Trägeroberseite
3
Sensorelement
4
Trennstelle
5
erste Metallisierungsschicht
6
zweite Metallisierungsschicht
7
Lotraupe
8
Kantenbereich
9
Sockel
10
Leiterplatte
11
Oberseite
12
Kontrolloptik
13
Strahlenbündel
14
Strahlungsquelle
15
Sammellinse
16
Linse
17
Durchkontaktierung
18
Umkontaktierung (= halbe Durchkontaktierung)
Claims (12)
1. Verfahren zur Erhöhung der Fertigungssicherheit von Lötverbindungen (7)
zwischen einem Keramikträger (1) und einer Leiterplatte (10) mit
nachfolgenden Verfahrensschritten:
Dem Aufbringen einer ersten ablegierungsbeständigen Metallisierungs schicht (5) am Keramikträger (1), dem Aufdrucken einer zweiten das Benetzungsverhalten steigernden Metallisierungsschicht (6) auf die erste Metallisierungsschicht (5) und dem Erhöhen der Gesamtmetallisierungs schichtdicke (5, 6) im Kantenbereich (8) einer Lötverbindung (7).
Dem Aufbringen einer ersten ablegierungsbeständigen Metallisierungs schicht (5) am Keramikträger (1), dem Aufdrucken einer zweiten das Benetzungsverhalten steigernden Metallisierungsschicht (6) auf die erste Metallisierungsschicht (5) und dem Erhöhen der Gesamtmetallisierungs schichtdicke (5, 6) im Kantenbereich (8) einer Lötverbindung (7).
2. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der
Keramikträger (1) im Bereich von Durchkontaktierungen (17) getrennt wird.
3. Verfahren gemäß Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die
Durchkontaktierung (17) mit einer ersten Metallisierungsschicht (5) einer
Dickschichtpaste versehen ist.
4. Verfahren gemäß Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß auf die
Durchkontaktierung (17) eine zweite Metallisierungsschicht (6) aufgedruckt
ist.
5. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die erste
Metallisierungsschicht (5) aus korrosionsbeständigem Material besteht.
6. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die erste
Metallisierungsschicht (5) aus AgPd-Dickschichtpaste besteht.
7. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die als zweite
Metallisierungsschicht (6) eine gut benetzbare Edelmetallschicht verwendet
wird.
8. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite
Metallisierungsschicht (6) aus Au besteht.
9. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite
Metallisierungsschicht (6) aus einem Material mit einem Benetzungs
winkel α < 60° gebildet ist.
10. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine
Umkontaktierung (18) an einem Keramikträger (1) einer halben Durch
kontaktierung (17) entspricht.
11. Verfahren gemäß Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die
Lötverbindung (7) an der Umkontaktierung (18) und einem senkrecht dazu
verlaufenden Sockel (9) plaziert ist.
12. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mittels des
Aufdruckens der zweiten Metallisierungsschicht (6) die Metallisierungs
schichtdicke im Kantenbereich (8) der Lötverbindung (7) gesteigert wird.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19910078A DE19910078A1 (de) | 1999-03-08 | 1999-03-08 | Verfahren zur Erhöung der Fertigungssicherheit von Lötverbindungen |
PCT/DE2000/000377 WO2000054561A1 (de) | 1999-03-08 | 2000-02-08 | Verfahren zur erhöhung der fertigungssicherheit von lötverbindungen |
EP00909014A EP1080616A1 (de) | 1999-03-08 | 2000-02-08 | Verfahren zur erhöhung der fertigungssicherheit von lötverbindungen |
JP2000604658A JP2002538967A (ja) | 1999-03-08 | 2000-02-08 | ろう接結合部の製造確実性を高めるための方法 |
US09/674,939 US6488199B1 (en) | 1999-03-08 | 2000-02-08 | Method for improving the manufacturing safety of weld joints |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19910078A DE19910078A1 (de) | 1999-03-08 | 1999-03-08 | Verfahren zur Erhöung der Fertigungssicherheit von Lötverbindungen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19910078A1 true DE19910078A1 (de) | 2000-09-28 |
Family
ID=7900065
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19910078A Ceased DE19910078A1 (de) | 1999-03-08 | 1999-03-08 | Verfahren zur Erhöung der Fertigungssicherheit von Lötverbindungen |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6488199B1 (de) |
EP (1) | EP1080616A1 (de) |
JP (1) | JP2002538967A (de) |
DE (1) | DE19910078A1 (de) |
WO (1) | WO2000054561A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102007052111B4 (de) * | 2006-10-30 | 2011-12-29 | Denso Corporation | Elektronische Vorrichtung mit Stromschienenanordnung und darauf mittels Löten montiertes elektronisches Bauteil |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW555722B (en) * | 2002-01-30 | 2003-10-01 | Leu-Wen Tsay | A method of manufacturing high-temperature sensor with metal/ceramic joint |
DE10320478B3 (de) * | 2003-05-08 | 2004-08-19 | Vega Grieshaber Kg | Druck-Messanordnung mit einer Durchkontaktierung durch einen Distanzhalter zwischen einer Membran und einem Grundkörper sowie Verfahren zum Kontaktieren |
EP1814447A2 (de) * | 2004-11-23 | 2007-08-08 | Nessler Medizintechnik GmbH | Verfahren zur durchkontaktierung eines elektrisch isolierenden trigermaterials |
EP2361000A1 (de) * | 2010-02-11 | 2011-08-24 | Nxp B.V. | Leitungsloses Chippaketaufbauverfahren und Träger |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2650348A1 (de) * | 1976-11-03 | 1978-05-11 | Bosch Gmbh Robert | Elektrische schaltungsanordnung |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3988498A (en) * | 1968-09-26 | 1976-10-26 | Sprague Electric Company | Low temperature fired electrical components and method of making same |
US3664868A (en) * | 1970-03-16 | 1972-05-23 | American Lava Corp | Gold metallizing of refractory metals on ceramic substrates |
FR2148167A1 (en) * | 1971-08-02 | 1973-03-11 | Du Pont | Electronic device - composed of a dielectric substrate with molybdenum contg circuit pattern and gold plated |
US3926746A (en) * | 1973-10-04 | 1975-12-16 | Minnesota Mining & Mfg | Electrical interconnection for metallized ceramic arrays |
FR2505094A1 (fr) * | 1981-04-29 | 1982-11-05 | Trt Telecom Radio Electr | Procede de realisation des circuits hyperfrequences |
US4681656A (en) | 1983-02-22 | 1987-07-21 | Byrum James E | IC carrier system |
JPS6158259A (ja) * | 1984-08-28 | 1986-03-25 | Kyocera Corp | チツプキヤリア |
US5235139A (en) * | 1990-09-12 | 1993-08-10 | Macdermid, Incorprated | Method for fabricating printed circuits |
JP3369665B2 (ja) * | 1993-08-27 | 2003-01-20 | 日本特殊陶業株式会社 | 半導体パッケージ用のセラミック製リッド基板およびセラミック製リッド |
JP3541491B2 (ja) | 1994-06-22 | 2004-07-14 | セイコーエプソン株式会社 | 電子部品 |
JPH08330173A (ja) * | 1995-05-29 | 1996-12-13 | Kyocera Corp | 積層セラミックコンデンサならびにその製造方法 |
JP3423855B2 (ja) * | 1996-04-26 | 2003-07-07 | 株式会社デンソー | 電子部品搭載用構造体および電子部品の実装方法 |
JPH10223800A (ja) * | 1997-02-12 | 1998-08-21 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 半導体パッケージの製造方法 |
-
1999
- 1999-03-08 DE DE19910078A patent/DE19910078A1/de not_active Ceased
-
2000
- 2000-02-08 JP JP2000604658A patent/JP2002538967A/ja active Pending
- 2000-02-08 EP EP00909014A patent/EP1080616A1/de not_active Withdrawn
- 2000-02-08 US US09/674,939 patent/US6488199B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2000-02-08 WO PCT/DE2000/000377 patent/WO2000054561A1/de not_active Application Discontinuation
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2650348A1 (de) * | 1976-11-03 | 1978-05-11 | Bosch Gmbh Robert | Elektrische schaltungsanordnung |
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
CD-ROM PAJ Pat. Abstr. of Japan JP 10223994 A * |
Pat. Abstr. of Japan, JP 2-60101 A, E-928, 15. Mai 1990, Vol.14, No.229 * |
Pat. Abstr. of Japan, JP 3-237795 A, E-1156, 20.Jan. 1992, Vol.16, No.22 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102007052111B4 (de) * | 2006-10-30 | 2011-12-29 | Denso Corporation | Elektronische Vorrichtung mit Stromschienenanordnung und darauf mittels Löten montiertes elektronisches Bauteil |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2000054561A1 (de) | 2000-09-14 |
EP1080616A1 (de) | 2001-03-07 |
JP2002538967A (ja) | 2002-11-19 |
US6488199B1 (en) | 2002-12-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE102007046042B4 (de) | Elektrische Prüfsonde und elektrische Prüfsondenanordnung | |
EP1756537B1 (de) | Temperaturfühler und verfahren zu dessen herstellung | |
CH676153A5 (de) | ||
DE2937886C2 (de) | ||
DE69429293T2 (de) | Autoglasscheibe mit einer gedruckten Leiterstruktur | |
DE60226240T2 (de) | Beschleunigungsaufnehmer | |
DE3305952A1 (de) | Verfahren zum anbringen einer platte mit integrierter schaltung auf einem substrat | |
DE4132995A1 (de) | Verfahren zur herstellung elektrisch leitender verbindungen an leiterplatten | |
DE4201634A1 (de) | Halbleiter-druckaufnahmevorrichtung | |
DE3722576C2 (de) | ||
DE19910078A1 (de) | Verfahren zur Erhöung der Fertigungssicherheit von Lötverbindungen | |
DE19620459B4 (de) | Halbleiter-Beschleunigungsmesser und Verfahren zur Bewertung der Eigenschaften eines Halbleiter-Beschleunigungsmessers | |
DE19843471B4 (de) | Druckerkennungsvorrichtung | |
WO2024061851A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum elektrischen kontaktieren von elektronischen bauelementen | |
DE3605425A1 (de) | Duennschichtschaltung und ein verfahren zu ihrer herstellung | |
EP0992778A2 (de) | Sensor und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE102006048034B4 (de) | Verfahren zur Kontrolle der Qualität der Metallisierung einer Leiterplatte | |
DE3818191C2 (de) | ||
DE102019129971A1 (de) | Verfahren zum Auflöten eines Bauelements auf eine Leiterplatte, Elektronikeinheit und Feldgerät der Automatisierungstechnik | |
EP0418508B1 (de) | Elektrischer Steckverbinder | |
DE10240143B4 (de) | Prüfung und Detektion potentialführender Teile und Leiterzüge mittels eines Foliensensors auf der Basis von Streukapazitätsmessungen | |
DE19523171C2 (de) | Halbleiterbeschleunigungssensor | |
DE3106354C2 (de) | Halbleitervorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE10355793A1 (de) | Biegebalkensensor zur Durchfluss- und Massenflussmessung sowie Verfahren zur Herstellung eines Biegebalkensensors zur Durchflussmessung | |
EP4012727A2 (de) | Messwiderstand, widerstandsanordnung und verfahren zu deren herstellung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8131 | Rejection |