DE19803008C2 - Optische Platte und optisches Plattengerät - Google Patents

Abstract

In einer optischen Platte (31) sind Rillen (1) und Stege (2), die als Aufzeichnungsspuren dienen, vorgesehen, wobei die Rillen (1) gestaltet sind, um virtuell die gleiche Breite zu haben, wobei in einem ersten Bereich die beiden Seitenwände jeder Rille (1) gemäß Adreßinformation gewunden sind. Der erste Bereich der Rille (1) ist mit seinem Vorderteil so gebildet, daß dieses unter der gleichen Winkelstellung wie das Vorderteil von wenigstens einem Bereich der ersten Bereiche der benachbarten Rillen (1) gelegen ist. Darüber hinaus sind die Windungsteile entsprechend jeweiligen Bits der Adreßinformation so gebildet, daß sie synchron zu benachbarten Rillen (1) sind. Mit dieser Anordnung ist es möglich, einfach Adreßinformation von den Rillen (1) und Stegen (2) zu detektieren und folglich ein Informationswiedergabesignal mit hoher Qualität zu erhalten.

Description

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine optische Platte, die Spurstege und Rillen hat und die auf den Stegen und Rillen aufzuzeichnen vermag, und weiterhin auf ein opti­ sches Plattengerät zum Ausführen von Aufzeichnungs- und Wie­ dergabeoperationen auf einer derartigen optischen Platte.

In den letzten Jahren besteht ein ständig ansteigender Bedarf nach hochdichten optischen Platten, und um diesem Bedarf zu genügen, wurde eine Vielzahl von Aufzeichnungssystemen vorge­ schlagen. Als eines der Aufzeichnungssysteme zum Erzielen derart hochdichter optischer Platten wurde ein Steg/Rillen- Aufzeichnungssystem untersucht. Das Steg/Rillen-Aufzeich­ nungssystem ist ein System, in welchem ein Aufzeichnen auf den auf einer optischen Platte gebildeten Stegen und Rillen erfolgt, und in diesem Fall ist es erforderlich, vorbereitend Adreßinformation auf den Stegen und Rillen aufzuzeichnen. Beispielsweise offenbaren die japanische offengelegte Patent­ publikation Nr. 314538/1993 (Tokukaihei 5-314538) und die ja­ panische offengelegte Patentpublikation Nr. 301976/1994 (Tokukaihei 6-301976) Aufzeichnungsverfahren für Adreßinfor­ mation in dem Steg/Rillen-Aufzeichnungssystem.

Anhand der Fig. 14 wird im folgenden das Detektionssystem von Adreßsignalen erläutert, das in der oben erwähnten japani­ schen offengelegten Patentpublikation Nr. 314538/1993 (Tokukaihei 5-314538) beschrieben ist. Auf einer optischen Platte sind Rillen 1 und Stege 2 in Spiralform oder in der Gestalt von konzentrischen Kreisen gebildet, und die Rillen 1 und Stege 2 sind so ausgelegt, daß die Mittelwerte von deren Breiten gleich zueinander und auch gleich zu der Spurteilung sind. Hier wird Adreßinformation aufgezeichnet, indem eine der Seitenwände 1W von jeder Rille entsprechend Adressen ge­ wunden gestaltet wird. Bei einer Wiedergabe wird ein Licht­ fleck 4, der einen Durchmesser aufweist, der kleiner als das Doppelte der Rillenbreite oder der Stegbreite ist, verwendet, um Windungsfrequenzen der gewundenen Seitenwand 1W aus Spur­ fehlersignalen zu erfassen, so daß die Adreßinformation ge­ wonnen wird.

Jedoch führt das oben erwähnte Detektionssystem für Adreßsi­ gnale zu Problemen, bei denen infolge der sich ortsabhängig ändernden Breiten der Rillen 1 und der Stege 2 sich das Re­ flexionsvermögen verändert, um so eine Verschlechterung in den Informationswiedergabesignalen zu verursachen; weiterhin führt das Detektionssystem für Adreßsignale ebenfalls zu Pro­ blemen, gemäß denen Spurversetzungen leicht in dem Lichtfleck 4 auftreten, um so nachteilhafte Auswirkungen auf das Wieder­ gabesignal zu haben.

Darüber hinaus werden bei dem in der oben erwähnten japani­ schen offengelegten Patentpublikation Nr. 301976/1994 (Tokukaihei 6-301976) beschriebenen Aufzeichnungsverfahren für Adreßinformation die Rillenbreite und die Stegbreite ge­ mäß Adreßsignalen in einem Adreßaufzeichnungsbereich verän­ dert. Nach einer Wiedergabe wird Adreßinformation mittels Um­ ständen erhalten, unter denen sich die Gesamtmenge des re­ flektierten Lichtes von der optischen Platte abhängig von der Rillenbreite oder der Spurbreite verändert.

Da jedoch die Gesamtmenge des von der optischen Platte re­ flektierten Lichtes dazu neigt, durch Veränderungen in der Menge des Laserlichtes, Änderungen in der Rillenbreite, Un­ terschieden im Reflexionsvermögen jeder Platte usw. beeinträchtigt zu werden, ist ein komplexes System erforderlich, um solche nachteil­ hafte Auswirkungen zu verhindern.

Weiterhin liegt ein anderes Problem bei den beiden herkömmlichen Systemen darin, dass infolge der nicht-konstanten Breiten der Stege und Rillen die Herstellung der Platten schwierig ist.

In der US 5,339,301 A ist eine optische Platte beschrieben, bei der Information entweder auf Stegen oder Rillen aufgezeichnet wird. So zeigen beispielsweise dort die Fig. 4a und 4b ein Ausführungsbeispiel, bei dem Information auf Rillen aufgezeichnet ist. Während den Fig. 7 und 8 ein weiteres Ausführungsbeispiel entnehmbar ist, bei dem Information auf Stegen aufgezeichnet ist. In der Zusammenfassung dieser Druckschrift wird besonders die Informationsaufzeichnung auf Stegen hervorgehoben.

Schließlich beschreibt die EP 0 745 976 eine optische Platte, bei der Information in Rillen aufgezeichnet wird, die eine schwankende Breite haben.

Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine optische Platte und ein optisches Plattengerät zu schaffen, die genau Adreßsignale mit hoher Dichte in Rillen und Stegen aufzuzeichnen beziehungsweise zu lesen vermögen und dabei hoch qualitative Informationswiedergabesignale erzeugen können.

Zur Lösung dieser Aufgabe schafft die vorliegende Erfindung eine optische Platte mit den Merkmalen des Patentanspruches 1 sowie ein optisches Platten­ gerät mit den Merkmalen des Patentanspruches 16.

Die erfindungsgemäße optische Platte hat also Rillen und Stege, die als Aufzeichnungsspuren dienen, auf denen Information aufgezeichnet ist, wobei die Rillen und Stege jeweils auf einem Substrat derart ausgebildet sind, dass sie abwechselnd in Radialrichtung ausgerichtet sind, und mit einem Adress­ bereich versehen sind, der mit einem Führungsteil unter der gleichen Winkel­ position ausgebildet ist, wobei jeder Adressbereich mit einem Windungsbereich ausgestattet ist, in welchem eine erste Aufzeichnungsspur, die einer der Rillen oder einem der Stege entspricht, zwei Seitenwände aufweist, die gemäß Adressinformation gewunden sind, und wobei die Breite der ersten Aufzeichnungsspur in der Radialrichtung virtuell konstant eingestellt ist.

Während zusammenfassend bei der bekannten optischen Platten Adreßinforma­ tion durch Erfassen der Windungsfrequenz gewonnen wird, liefert bei der erfin­ dungsgemäßen optischen Platte die Windungsgestalt selbst die Adreßinformati­ on.

Bei der oben beschriebenen Anordnung wird in dem Adreßbereich der ersten Aufzeichnungsspur der Windungsbereich, in welchem die beiden Seitenwände gemäß Adreßinformation mit einer vir­ tuell konstanten Breite gewunden sind, gebildet; daher kann die Adreßinformation beispielsweise durch Detektieren von Spurfehlersignalen gewonnen werden. Dies macht es möglich, nachteilhafte Auswirkungen aufgrund einer externen Störung im Vergleich mit beispielsweise einem Fall zu vermindern, in welchem Adreßinformation durch Detektieren der Gesamtmenge des von der optischen Platte reflektierten Lichtes erhalten wird.

Da darüber hinaus bei der oben beschriebenen Anordnung der Windungsbereich der ersten Aufzeichnungsspur so ausgelegt ist, daß er virtuell die gleiche Breite hat, ist es möglich, eine Störung für Spurfehlersignale aufgrund von Schwankungen in der Gesamtmenge des von der optischen Platte reflektierten Lichtes zu reduzieren. Daher wird es möglich, die Wahrschein­ lichkeit zu verringern, daß der Lichtkonvergenzpunkt eines Lichtstrahles auf der optischen Platte von der Wiedergabespur versetzt ist, und folglich ein genaues Wiedergabesignal zu liefern. Da darüber hinaus der Windungsbereich der ersten Aufzeichnungsspur so eingestellt ist, daß er virtuell die gleiche Breite hat, wird ein Muster durch Anwenden eines Bün­ dels eines Laserlichtes auf den Bereich entsprechend der er­ sten Aufzeichnungsspur beispielsweise in dem Fall gebildet, in welchem Rillen und Stege mittels eines Photoresists er­ zeugt sind, was es möglich macht, die Rillen und die Stege einfach sowie genau zu erzeugen.

Weiterhin umfaßt zur Lösung der obigen Aufgabe das erfin­ dungsgemäße optische Plattengerät, das eine optische Platte benutzt, die Rillen und Stege hat, die als Aufzeichnungsspu­ ren dienen, auf welchen Information aufgezeichnet ist, wobei die Rillen und Stege jeweils auf ein Substrat derart gebildet sind, daß sie abwechselnd in der Radialrichtung ausgerichtet sind, und mit einem Adreßbereich versehen sind, der an einem Vorderteil unter der gleichen Winkelposition gebildet ist, wobei jeder Adreßbereich mit einem Windungsbereich versehen ist, in welchem eine erste Aufzeichnungsspur, die entweder den Rillen oder den Stegen entspricht, zwei Seitenwände hat, die gemäß Adreßinformation gewunden sind, wobei die Breite der ersten Aufzeichnungsspur in der Radialrichtung virtuell konstant eingestellt ist, eine Lichtstrahl-Zufuhreinrichtung zum Zuführen eines Lichtstrahles zu der optischen Platte, ei­ ne Lichtstrahl-Aufnahmeeinrichtung zum Aufnehmen eines opti­ schen Signales von der optischen Platte und eine erste Adreß- Wiedergabeeinrichtung zum Wiedergeben von Information gemäß einem Signal von der Lichtstrahl-Aufnahmeeinrichtung und zum Detektieren einer Windung der Seitenwände der ersten Auf­ zeichnungsspur durch Erfassen eines Spurfehlersignales, wäh­ rend der Lichtstrahl der ersten Aufzeichnungsspur folgt, um so die Adreßinformation in der ersten Aufzeichnungsspur wie­ derzugeben.

Da bei der oben beschriebenen Anordnung die erste Adreßwie­ dergabeeinrichtung, die die Adreßinformation in der ersten Aufzeichnungsspur durch Detektieren der Windung der Seiten­ wände der ersten Aufzeichnungsspur wiedergibt, vorgesehen ist, ist es möglich, die Adreßinformation durch Detektieren des Spurfehlersignales zu erhalten. Dies macht es möglich, nachteilhafte Einflüsse aufgrund einer externen Störung im Vergleich mit beispielsweise einem Fall zu reduzieren, in welchem Adreßinformation durch Detektieren der Gesamtmenge des von der optischen Platte reflektierten Lichtes gewonnen wird. Da darüber hinaus die Detektionseinrichtung für die Menge des reflektierten Lichtes nicht länger erforderlich ist, ist es möglich, die Steuerung zur Wiedergabe von Adreß­ information zu eliminieren, während eine Spurfehler- Detektionseinrichtung, die zwingend erforderlich ist, und die Detektionseinrichtung für die Menge des reflektierten Lichtes geschaltet werden.

Nachfolgend wird die Erfindung anhand der Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:

Fig. 1 eine Draufsicht, die einen Teil eines schematischen Aufbaues einer optischen Platte gemäß einem Ausfüh­ rungsbeispiel der vorliegenden Erfindung veran­ schaulicht,

Fig. 2 eine Schnittdarstellung, die den schematischen Auf­ bau der optischen Platte zeigt,

Fig. 3(a) bis 3(d) Signalwellenformen, die Wiedergabesignale von der optischen Platte zeigen,

Fig. 4(a) bis 4(e) erläuternde Darstellungen, die einen Her­ stellungsprozeß der optischen Platte veranschauli­ chen,

Fig. 5 eine erläuternde Darstellung, die einen schemati­ schen Aufbau einer Herstellungsvorrichtung für die optische Platte zeigt,

Fig. 6(a) bis 6(f) erläuternde Darstellungen, die Herstel­ lungsprozesse einer optischen Platte gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfin­ dung veranschaulichen,

Fig. 7 ein Blockdiagramm, das einen schematischen Aufbau eines optischen Plattengerätes gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung zeigt,

Fig. 8 eine Draufsicht, die einen Teil eines schematischen Aufbaues einer optischen Platte gemäß noch einem anderen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfin­ dung zeigt,

Fig. 9 eine Draufsicht, die einen Teil eines schematischen Aufbaues einer optischen Platte gemäß noch einem anderen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfin­ dung zeigt,

Fig. 10 eine Draufsicht, die einen Teil eines schematischen Aufbaues einer optischen Platte gemäß noch einem anderen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfin­ dung zeigt,

Fig. 11 eine Schnittdarstellung, die einen schematischen Aufbau einer optischen Platte gemäß noch einem an­ deren Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfin­ dung zeigt,

Fig. 12 eine Schnittdarstellung, die einen schematischen Aufbau einer optischen Platte gemäß noch einem an­ deren Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfin­ dung zeigt,

Fig. 13 eine Schnittdarstellung, die einen schematischen Aufbau einer optischen Platte gemäß noch einem an­ deren Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfin­ dung zeigt, und

Fig. 14 eine Draufsicht, die einen Teil eines schematischen Aufbaues einer herkömmlichen optischen Platte zeigt.

Ausführungsbeispiel 1

Anhand der Figuren wird im folgenden ein Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung näher beschrieben.

Fig. 1 ist eine Draufsicht einer optischen Platte gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung, und Fig. 2 ist eine Schnittdarstellung der optischen Platte in der Ra­ dialrichtung. Spurrillen 1 (erste Aufzeichnungsspuren) und Stege 2 (zweite Aufzeichnungsspuren) sind auf einer Seite ei­ nes optischen Plattensubstrates 5 gebildet, und die Breite jedes Steges 2 ist virtuell gleich zu der Breite jeder Rille 1 eingestellt. Weiterhin ist, wie in Fig. 1 gezeigt ist, das optische Plattensubstrat 5 mit einem ersten Bereich (einem Adreßbereich), auf dem Adreßinformation aufgezeichnet ist, und einem zweiten Bereich, in welchem Information aufgezeich­ net, gelöscht und wiedergegeben wird, versehen. Die Rillen 1 sind so gestaltet, daß sie virtuell die gleiche Breite über dem ersten Bereich und dem zweiten Bereich aufweisen.

In dem ersten Bereich sind die beiden Seitenwände der jewei­ ligen Rillen 1a und 1b so eingestellt, daß sie in Radialrich­ tungen des optischen Plattensubstrates 5 gemäß Adreßinformation gewunden sind. Die Startposition der Windung von jeder Rille 1a, 1b ist unter der gleichen Winkelposition wie dieje­ nige von wenigstens einer der benachbarten Rillen einge­ stellt. Beispielsweise liegen in dem Fall einer Informations­ aufzeichnung durch das ZCAV-System (System mit Zonen konstan­ ter Winkelgeschwindigkeit) die Startpositionen in dem ersten Bereich der Rillen, die zu der gleichen Zone gehören, auf dem gleichen Liniensegment, das die Mitte der optischen Platte und einen Umfangsrand verbindet. Darüber hinaus sind hin­ sichtlich der benachbarten Rillen 1 Windungsteile entspre­ chend jeweiligen Bits der Adreßinformation synchron gebildet, um die gleichen Winkelpositionen zu haben. Mit anderen Wor­ ten, die Windungsteile der Seitenwände der benachbarten Ril­ len 1 sind aufgrund eines synchronisierenden Bezugstaktes ge­ bildet, so daß sie als gleich lang durch das Adreßwiedergabe­ system angesehen Werden.

Weiterhin ist die Frequenz der Windung, die bei Lesen der Windung detektiert ist, höher als Frequenzen eingestellt, de­ nen durch das Spurservosystem gefolgt werden kann. Daher folgt der Lichtstrahl nicht der Windung der Seitenwände der Rillen 2 und tastet virtuell die Mitte der Rillen 1 oder der Stege 2 ab.

Die Auswahl, ob der Aufzeichnungs- und Wiedergabelichtfleck den Rillen 1 oder den Stegen 2 folgen kann, wird einfach vor­ genommen, indem die Polarität eines Spurfehlersignales inver­ tiert wird. Das Spurfehlersignal wird beispielsweise durch die Strahlmethode oder die Gegentaktmethode erhalten.

In dem oben beschriebenen optischen Plattensubstrat 5 wird die Adreßinformation durch Detektieren des Windungszustandes der Seitenwände der Rillen 1 und der Stege 2 in dem ersten Bereich ausgelesen. Um hier ein Signal zu erhalten, das Adreßinformation liefern kann, wird die Größe der Amplitude der Windung vorzugsweise nicht kleiner als ±5 nm einge­ stellt. Wenn die Größe der Amplitude auf einen höheren Wert eingestellt wird, ist es schwieriger, die Windungsteile zu bilden, obwohl die Abmessung des Signales größer wird. Wenn Wert auf eine einfache Herstellung gelegt wird, ist es vorzu­ ziehen, die Größe der Amplitude jedes Windungsteiles in den Bereich von ±10 nm bis ±50 nm einzustellen.

Anhand der Fig. 1 wird genauer das Wiedergabeverfahren von Adreßinformation bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel er­ läutert. In Fig. 1 ist innerhalb des ersten Bereiches die er­ ste Rille 1a in der Radialrichtung des optischen Platten­ substrates 5 mit virtuell der gleichen Breite gemäß Adreßin­ formation gewunden, die zu dem Gray-Kode entsprechend zu [1001] moduliert wurde. Weiterhin ist die zweite Rille 1b, die neben der ersten Rille 1a liegt, in der Radialrichtung des optischen Plattensubstrates 5 mit virtuell der gleichen Breite gemäß Adreßinformation gewunden, die zu dem Gray-Kode entsprechend zu [1011] moduliert wurde. Hier in Fig. 1 können die Windungsrichtungen der Information [0] und [1] entgegen­ gesetzt zueinander eingestellt sein.

Zunächst wird hinsichtlich des oben beschriebenen optischen Plattensubstrates 5 ein Verfahren zum Wiedergeben von Adreß­ information aus den Rillen 1 erläutert.

Wie oben beschrieben wurde, tastet der Aufzeichnungs- und Wiedergabelichtfleck 4 virtuell die Mittenposition der ersten Rille 1a und der zweiten Rille 1b ab, und während dieses Ab­ tastprozesses wird Adreßinformation wiedergegeben. Da in dem ersten Bereich die Seitenwände der ersten Rille 1a und der zweiten Rille 1b so eingestellt sind, daß sie gewunden sind, wird die Lagebeziehung zwischen dem Aufzeichnungs- und Wie­ dergabelichtfleck 4 und der ersten Rille 1a sowie der zweiten Rille 1b verändert, um zu einer Änderung in dem Spurfehlersi­ gnal zu führen. Mit anderen Worten, wenn die Seitenwände der ersten Rille 1a und der zweiten Rille 1b zu der inneren Um­ fangsseite gewunden sind, wird der Aufzeichnungs- und Wieder­ gabelichtfleck 4 relativ zu der äußeren Umfangsseite ver­ setzt. Daher bildet das Spurfehlersignal ein Signal, das an­ zeigt, daß der Aufzeichnungs- und Wiedergabelichtfleck 4 zu der äußeren Umfangsseite versetzt ist. Wenn weiterhin die Seitenwände der ersten Rille 1a und der zweiten Rille 1b zu der äußeren Umfangsseite gewunden sind, wird der Aufzeich­ nungs- und Wiedergabelichtfleck 4 relativ zu der inneren Um­ fangsseite versetzt. In diesem Fall bildet das Spurfehlersi­ gnal ein Signal, das anzeigt, daß der Aufzeichnungs- und Wie­ dergabelichtfleck 4 zu der inneren Umfangsseite versetzt ist. Folglich kann der Windungszustand der ersten Rille 1a und der zweiten Rille 1b durch Überwachen des Spurfehlersignales de­ tektiert werden, um so die Wiedergabe der aufgezeichneten Adreßinformation zu ermöglichen.

Die Fig. 3(a) und 3(c) sind Wellenformdiagramme, die schema­ tisch Wellenformen des Spurfehlersignales in der ersten Rille 1a und der zweiten Rille 1b in Fig. 1 zeigen. Abhängig von der Windung der Seitenwände der ersten Rille 1a und der zwei­ ten Rille 1b zu der inneren Umfangsseite oder der äußeren Um­ fangsseite des optischen Plattensubstrates 5 verändert sich der Pegel des Spurfehlersignales nach H oder L. Daher wird durch Detektieren dieser Änderung in dem Spurfehlersignal die Adreßinformation von [1001] von der ersten Rille 1a und die Adreßinformation von [1011] von der zweiten Rille 1b erhal­ ten.

Im folgenden wird ein Verfahren zum Wiedergeben einer Adreß­ information von den Stegen 2 erläutert. In Fig. 1 kann in ei­ nem Teil y (entsprechend einem übereinstimmenden Teil in den Patentansprüchen) innerhalb des ersten Bereiches der Win­ dungszustand hiervon in der gleichen Weise wie in dem Fall der Rillen 1 erfaßt werden, da die beiden Seitenwände des er­ sten Steges 2a in der gleichen Richtung gewunden sind. Jedoch ist in einem Teil x (entsprechend einem unterschiedenen Teil in den Patentansprüchen) in dem ersten Bereich das Verhalten des Spurfehlersignales verschieden von dem Fall der Rillen 1 in diesem Teil x, da die beiden Seitenwände des ersten Steges 2a in voneinander verschiedenen Richtungen gewunden sind. Das heißt, da in dem Teil x die beiden Seitenwände in den glei­ chen Richtungen gewunden sind, was die Breite des ersten Ste­ ges 2a verengt, ist der erste Steg 2a in diesem Teil in der virtuellen Mitte des Aufzeichnungs- und Wiedergabelicht­ fleckes 4 gelegen. Daher bildet in dem Teil x das Spurfehler­ signal ein Signal, das anzeigt, daß dort keine Versetzung vorliegt.

Fig. 3(b) ist ein Wellenformdiagramm, das schematisch die Wellenform des Spurfehlersignales von dem ersten Steg 2a zeigt. In dem Teil, der dem Teil x entspricht, ist der Pegel des Spurfehlersignales verschieden von Teilen, in welchen die beiden Seitenwände in der gleichen Weise gewunden sind, und ändert sich zu einem Pegel M, der ein Zwischenpegel zwischen den oben erwähnten Pegeln H und L ist. Dieser Zwischenpegel M kann durch die ternäre Detektion oder andere Methoden erfaßt werden, was zu der Detektion des Teiles x führt.

In dem optischen Plattengerät der vorliegenden Erfindung wird aufgrund der Ergebnisse der Detektion des Teiles x Adreßin­ formation von den Stegen 2 wiedergegeben. Die folgende Be­ schreibung bezieht sich auf ein spezifisches Beispiel hier­ für.

Nach Detektion des Teiles x in dem ersten Steg 2a wird unter der Annahme, daß das Signal an einem Teil x [0] oder [1] dar­ stellt, dieses zu den von einem Teil y erhaltenen Signalen addiert (in Fig. 1 [10X1], wobei X ein Signal an einem Teil x ist), um so zwei angenommene Signale [1001] und [1011] zu liefern. Diese beiden angenommenen Signale bilden immer Adreßinformation der Rille 1a oder der Rille 1b, was die bei­ den Rillen neben dem ersten Steg 2a sind. Wenn hier bestimmt wird, daß die Adreßinformation der Stege 2 identisch zu der Adreßinformation der Rille 1 ist, welche neben dem fraglichen Steg auf der Innenumfangsseite gelegen ist, wird eines der angenommenen Signale, das der Rille 1 neben dem ersten Steg 2a auf der Innenumfangsseite entspricht, gewählt, um die Adreßinformation des ersten Steges 2a zu bilden. Zusätzlich kann in dem in Fig. 1 gezeigten Fall die Adreßinformation leicht, wie oben beschrieben ist, geschaffen werden, da le­ diglich ein Teil x vorliegt; jedoch sind in dem Fall einer Vielzahl von Teilen x kompliziertere Prozesse erforderlich.

Selbst wenn die Adreßinformation des Steges 2 als identisch zu der Adreßinformation der Rille 1 eingestellt ist, die da­ neben gelegen ist, wie dies in dem obigen spezifischen Bei­ spiel beschrieben ist, kann aufgrund der Polarität usw. des Spurfehlersignales unterschieden werden, was der Lichtstrahl gerade abtastet, nämlich den Steg 2 oder die Rille 1; daher ist es möglich, die fragliche Spur genau aufgrund der Ergeb­ nisse der Unterscheidung anzugeben.

Wie oben beschrieben ist, wird bei der optischen Platte des vorliegenden Ausführungsbeispiels die Startposition des Be­ reiches zum Aufzeichnen von Adreßinformation unter der glei­ chen Winkelstellung wie diejenige der benachbarten Spuren ge­ setzt, und hinsichtlich zwei benachbarten Rillen 1 sind Win­ dungsteile entsprechend jeweiligen Bits der Adreßinformation synchron gebildet. Während bei dieser Anordnung der Aufzeich­ nungs- und Wiedergabelichtfleck 4 gerade einen Steg 2 abta­ stet, können verschiedene Einheiten von Adreßinformation, die in den beiden Rillen aufgezeichnet wurden, die auf den beiden Seiten des Steges 1 gelegen sind, detektiert werden; aufgrund dieser Einheiten von Adreßinformation kann die Adreßinforma­ tion des Steges 2 wiedergegeben werden. Daher kann Adreßin­ formation genau von beiden, nämlich den Stegen 2 und den Ril­ len 1, gewonnen werden; hierauf beruhend können Prozesse, wie eine Wiedergabe und ein Aufzeichnen, ausgeführt werden.

Zusätzlich soll die Wiedergabe der Adreßinformation von den Stegen 1 nicht auf die oben erläuterte Methode begrenzt sein. Beispielsweise kann ein Signal, das durch die ternäre Detek­ tion erhalten ist (beispielsweise ein Signal (HLMH) in dem Fall von Fig. 3(b) als ein direktes Adreßsignal benutzt wer­ den, und aufgrund des ternären Signales kann eine Unterschei­ dung über die Spuradresse ausgeführt werden. Darüber hinaus kann das Adreßsignal aufgrund der Lage des Zwischenpegels M (der Lage des Teiles x) hervorgerufen werden.

Außerdem soll die Detektion des Teiles x nicht auf die oben beschriebene Methode begrenzt sein; beispielsweise kann ein Gesamtsignal, das von der Menge des von der optischen Platte reflektierten Lichtes abhängt, verwendet werden, um den Teil x zu detektieren. Dies beruht auf der Tatsache, daß infolge der virtuellen Konstanz der Breite der Stege 2 an Teilen au­ ßer dem Teil x die Menge des reflektierten Lichtes unabhängig vom Vorliegen oder Nichtvorliegen der Windung virtuell kon­ stant wird, während in dem Teil x die Breite der Stege zu­ nimmt oder abnimmt, was zu einer entsprechenden Änderung in der Menge des reflektierten Lichtes führt. In dem Fall von Adreßinformation, wie diese in Fig. 1 gezeigt ist, bildet das Gesamtsignal ein Signal, wie dieses in Fig. 3(d) angegeben ist, und ein Teil x kann durch Detektieren einer Änderung darin erfaßt werden. Daher kann ohne die Notwendigkeit für die oben erwähnte ternäre Detektion die Adreßinformation durch die Unterscheidung von H (oder L) des Spurfehlersigna­ les (in welchem L (oder H) mit Ausnahme für H (oder L) ange­ nommen ist) in Kombination mit der Detektion der Lageänderung in dem Gesamtsignal wiedergegeben werden.

Zusätzlich wird in dem Fall der in Fig. 1 gezeigten Adreßin­ formation jedes Stück der Adreßinformation der Rille 1 durch einen Gray-Kode (reflektierter Binärkode) gebildet, der von denjenigen der benachbarten Rillen 1 um lediglich ein Bit verschieden ist. Bei dieser Anordnung kann der Teil x ledig­ lich an einer Position auf jedem der Stege 2 vorliegen, was die Detektion einfacher und genauer macht. Obwohl das obige Ausführungsbeispiel den Fall verdeutlicht, in welchem die Breite der ersten Stege 2a, die als Teil x dient, verengt ist, kann darüber hinaus die Breite umgekehrt erweitert wer­ den.

Im folgenden wird ein Verfahren zur Lesefehlerdetektion für Adreßinformation in der oben beschriebenen optischen Platte näher beschrieben.

In dem Fall der in Fig. 1 gezeigten Adreßinformation ist im­ mer lediglich ein Teil x in jedem Steg 2 vorgesehen. Wenn da­ her zwei oder mehr Teile x erfaßt werden oder wenn kein Teil x detektiert wird, so kann dies als ein Adreßlesefehler beur­ teilt werden. Die Fehlerdetektion von dieser Art wird tat­ sächlich nicht nur in einem Fall mit nur einem Teil x, son­ dern auch in einem Fall mit einer vorbestimmten Anzahl von Teilen x angewandt. Mit anderen Worten, wenn die Anzahl der detektierten Teile x von einer vorbestimmten Zahl verschieden ist, so kann dies als ein Lesefehler beurteilt werden.

Wenn darüber hinaus in dem Fall, in welchem Adreßinformation eines Steges 2 als identisch zu derjenigen von benachbarten Rillen 1 eingestellt ist, ein angenommenes Signal, das durch Annahme des Signales des Teiles x als [0] oder [1] erhalten ist, nicht identisch zu der Adreßinformation von benachbarten zwei Rillen 1 ist, so kann dies als ein Adreßlesefehler beur­ teilt werden.

Es ist möglich, die Zuverlässigkeit der Adreßinformation zu verbessern, indem die oben beschriebene Adreßlesefehlerdetek­ tion ausgeführt wird.

Weiterhin ist es in dem optischen Plattengerät des vorliegen­ den Ausführungsbeispiels möglich, eine genaue Adreßinformati­ on zu erhalten, indem der Durchmesser des Aufzeichnungs- und Wiedergabelichtfleckes 4 größer als die Spurteilung und auch kleiner als das Zweifache der Spurteilung eingestellt wird.

Da, wie oben beschrieben ist, in der optischen Platte und dem optischen Plattengerät des vorliegenden Ausführungsbeispiels die Adreßinformation aufgrund des Spurfehlersignales wiedergegeben wird, können nachteilhafte Effekte infolge Änderungen in der Menge des Laserlichtes, Änderungen in der Rillenbrei­ te, Differenzen im Reflexionsvermögen der jeweiligen Platten usw. reduziert werden. Da weiterhin, wie in Fig. 1 gezeigt ist, die Windungsgestalt der Rillen 1 als eine gekrümmte Li­ nie vorgesehen ist, d. h., da die Windung eine Gestalt hat, die in allen Teilen unterschieden bzw. differenziert werden kann, wird nach einem Auslesen von Adreßinformation aus dem Windungsteil kaum Hochfrequenzrauschen erzeugt, um es so zu ermöglichen, die Adreßinformation positiver auszulesen. Die­ ses Merkmal ist wesentlich, wenn Adreßinformation lediglich in einem Teil wie in dem Fall des vorliegenden Ausführungs­ beispiels aufgezeichnet ist.

Anhand der Fig. 4(a) bis 4(e) wird im folgenden ein Herstel­ lungsverfahren für die oben beschriebene optische Platte 5 erläutert.

Zunächst wird ein Photoresist 6 auf eine Oberfläche eines Glassubstrates 5 aufgetragen, wie dies in Fig. 4(a) gezeigt ist.

Sodann wird, wie in Fig. 4(b) dargestellt ist, das Photore­ sist Laserlicht durch eine Objektivlinse 7 ausgesetzt, um ein gewünschtes Muster von Rillen 1 zu haben.

Sodann wird, wie in Fig. 4(c) gezeigt ist, das belichtete oder freiliegende Photoresist 6 durch Entwicklung entfernt, so daß das gewünschte Muster durch das verbleibende Photore­ sist 6 gebildet wird.

Sodann werden, wie in Fig. 4(d) gezeigt ist, das Glassubstrat 5 und das Photoresist 6 durch Trockenätzen oder Naßätzen geätzt, so daß das gewünschte Muster im Glassubstrat 5 gebildet wird.

Schließlich wird, wie in Fig. 4(e) gezeigt ist, das verblei­ bende Photoresist 6 durch Veraschung entfernt.

Fig. 5 zeigt schematisch eine Vorrichtung, die es erlaubt, das Photoresist 6 zu belichten, um das Muster der Rillen 1 anzunehmen. In dieser Vorrichtung sind eine Laserlichtquelle 11a zum Belichten des Photoresists 6 und eine Fokussierlaser­ lichtquelle 11b für die Objektivlinse 7 installiert; bei­ spielsweise wird ein Ar-Laser für die Laserlichtquelle 11a und ein He-Ne-Laser für die Laserlichtquelle 11b verwendet.

Das Laserlicht von der Laserlichtquelle 11a wird, nachdem es in seinem Lichtrauschen durch eine Rauschunterdrückungsvor­ richtung 12a reduziert wurde, durch Spiegel 19 und 20 reflek­ tiert und zum Einfallen auf einen Lichtmodulator 22 gebracht. Beispielsweise kann ein akustisches optisches Element für den Lichtmodulator 22 verwendet werden; in dem Fall der Anwendung des akustischen optischen Elementes liegen Lichtkonvergier­ linsen 21 vor und hinter dem Lichtmodulator 22.

Das Laserlicht, das den Lichtmodulator 22 durchsetzt hat, fällt auf die Lichtablenkvorrichtung 23 ein. Beispielsweise kann ein elektro-optisches Element oder ein akustisches opti­ sches Element als die Lichtablenkvorrichtung 23 verwendet werden, um die Ausbreitungsrichtung des Laserlichtes zu ver­ ändern.

Weiterhin wird das Laserlicht durch einen Strahldehner 24 ge­ dehnt, um einen geeigneten Strahldurchmesser zu haben, und zum Einfallen auf die Objektivlinse 7 durch einen Zweifarben- Spiegel 15 gebracht. Dann wird es durch die Objektivlinse 7 auf das Photoresist 6 auf dem Glassubstrat 5 als ein belich­ tender Lichtfleck konvergiert.

Hier werden der Lichtmodulator 22, die Lichtablenkvorrichtung 23 und der Strahldehner 24 jeweils durch Ansteuereinheiten 25, 26 und 27 gesteuert.

Andererseits verläuft das Laserlicht von der Laserlichtquelle 11b, nachdem es in seinem Lichtrauschen durch eine Rauschun­ terdrückungsvorrichtung 12b reduziert wurde, durch einen Po­ larisierstrahlteiler 13, ein Viertelwellenlängenplättchen 14 und einen Zweifarben-Spiegel 15 und wird durch die Objek­ tivlinse 7 auf das Photoresist 6 auf dem Glassubstrat 5 kon­ vergiert.

Das reflektierte Licht des Laserlichtes von der Laserlicht­ quelle 11b wird wieder durch die Objektivlinse 7 konvergiert, verläuft durch den Zweifarben-Spiegel 15, das Viertelwellen­ längenplättchen 14 und den Polarisierstrahlteiler 13 und wird auf einen Photodetektor 18 durch eine Objektivlinse 16 und eine Zylinderlinse 17 konvergiert. Aufgrund eines Signales von dem Photodetektor 18 steuert ein Fokussierservosystem die Objektivlinse 7 in einer Fokussierrichtung an, so daß der Brennpunkt der Objektivlinse 7 auf das Photoresist 6 auf dem Glassubstrat 5 eingestellt ist, das durch einen Spindelmotor gedreht wird.

In der oben beschriebenen Anordnung wird das Positionieren des Lichtstrahlfleckes zuerst ausgeführt. Mit anderen Worten, die Ansteuereinheit 26 stellt die Größe einer Gleichspannung ein, die an der Lichtablenkvorrichtung 23 liegt. Danach wird in einem Bereich, der gemäß der Adreßinformation einer Rille 1 zu winden ist, eine Spannung, die durch Überlagern einer Signalspannung entsprechend der Windung auf die Gleichspan­ nung erhalten ist, an die Lichtablenkvorrichtung 23 durch die Ansteuereinheit 26 angelegt. Somit wird der Bereich, in wel­ chem sich die Rille 1 gemäß der Adreßinformation windet, ge­ bildet.

Darüber hinaus können hinsichtlich des Herstellungsverfah­ rens, das nicht auf das in dem vorliegenden Ausführungsbei­ spiel beschriebene Verfahren begrenzt ist, zwei Strahlen ver­ wendet werden; jedoch ist es nicht auf diese Herstellungsver­ fahren eingeschränkt.

Weiterhin kann hinsichtlich des optischen Plattensubstrates 5, das nicht auf ein aus Glassubstrat 5 gebildetes Platten­ substrat begrenzt ist, wie dieses oben beschrieben ist, das Substrat 5 aus Kunststoffharz durch Injektionsformen oder In­ jektionspreßformen mittels eines eines Stempels oder einer Preßmatrize gebildet sein, wobei dieser bzw. diese durch Schritte hergestellt ist, die in den Fig. 6(a) bis 6(f) ge­ zeigt sind. Die folgende Beschreibung bezieht sich auf ein Herstellungsverfahren für die Preßmatrize bzw. den Stempel.

Zunächst wird ein Photoresist 6 auf eine Oberfläche eines Glassubstrates 5 aufgetragen, wie dies in Fig. 6(a) gezeigt ist.

Sodann wird, wie in Fig. 6(b) gezeigt ist, ein Laserlicht auf das Photoresist 6 durch die Objektivlinse 7 konvergiert, so daß das Photoresist 6 belichtet wird, um ein gewünschtes Mu­ ster von Rillen 1 zu haben.

Sodann wird, wie in Fig. 6(c) gezeigt ist, das belichtete Photoresist 6 durch Entwicklung entfernt, so daß das ge­ wünschte Muster durch das verbleibende Photoresist 6 gebildet wird.

Dann wird, wie in Fig. 6(d) gezeigt ist, ein leitender Dünn­ film 8 auf dem aus Photoresist 6 bestehenden Muster durch Sputtern bzw. Zerstäuben oder stromloses Galvanisieren bzw. Überziehen gebildet.

Sodann wird, wie in Fig. 6(e) gezeigt ist, eine Metallschicht 9 auf dem Dünnfilm 8 durch Elektrogießen usw. gebildet.

Schließlich werden, wie in Fig. 6(f) gezeigt ist, der Dünn­ film 8 und die Metallschicht 9 von dem Glassubstrat 5 und dem Photoresist 6 getrennt, so daß eine Preßmatrize 10 erhalten wird.

Zusätzlich können hinsichtlich des Materials des Dünnfilmes 8 Ni, Ta oder Cr oder eine Legierung aus diesen oder ein zusam­ mengesetzter Film aus diesen verwendet werden.

Das optische Plattensubstrat 5, das aus Kunststoff herge­ stellt ist, wird durch Injektionsformen oder Injektionspreß­ formen mittels der Preßmatrize 10 gefertigt. Hinsichtlich des Kunststoffmaterials können thermoplastische Harze, wie bei­ spielsweise Polycarbonatharz, Acrylharz, Ethylenharz, Ester­ harz, Nylonharz und APO (aktiviertes Polyolefinharz) ange­ wandt werden.

Darüber hinaus soll das Herstellungsverfahren der Preßmatrize 10 des vorliegenden Ausführungsbeispiels nicht auf das obige Beispiel begrenzt sein, und eine Maskenoriginalplatte, in der die Seitenwände der Rillen 1 ausgelegt sind, um gemäß Adreß­ information gewunden zu sein, kann aufgebaut und verwendet werden, um die Preßmatrize 10 zu bilden. Weiterhin sind das Material und das Herstellungsverfahren des optischen Platten­ substrates 5 nicht auf die oben beschriebenen Beispiele be­ grenzt.

Zusätzlich kann, solange die Breite von entweder den Stegen oder den Rillen als virtuell konstant wie in dem Fall der op­ tischen Platte des vorliegenden Ausführungsbeispiels einge­ stellt ist, ein Muster auf dem Photoresist gebildet werden, indem lediglich ein Laserstrahl verwendet wird; folglich ist es möglich, das Muster einfach in sehr genauer Weise zu bil­ den.

Ausführungsbeispiel 2

Anhand der Figuren wird im folgenden ein anderes Ausführungs­ beispiel der vorliegenden Erfindung beschrieben.

Fig. 7 ist ein Blockdiagramm, das schematisch den Aufbau ei­ nes in dem vorliegenden Ausführungsbeispiel verwendeten opti­ schen Plattengerätes 30 zeigt. Hier hat eine optische Platte 31, mit der das optische Plattengerät 30 des vorliegenden Ausführungsbeispiels ein Aufzeichnen und Wiedergeben aus­ führt, den gleichen Aufbau wie die in dem Ausführungsbeispiel 1 beschriebene optische Platte.

Das optische Plattengerät 30 ist versehen mit einer Licht­ strahl-Einwirkungseinrichtung 32 zum Einwirken eines Licht­ strahles auf die optische Platte 31, einer Lichtstrahl- Empfangseinrichtung 33 zum Empfangen optischer Information von der optischen Platte 31, einer ersten Adreß- Wiedergabeeinrichtung 34 zum Wiedergeben einer Adreßinforma­ tion von Rillen 1 der optischen Platte 31, einer zweiten Adreß-Wiedergabeeinrichtung 35 zum Wiedergeben von Adreßin­ formation von Stegen 2 der optischen Platte 31, ersten und zweiten Fehlerdetektionseinrichtungen 36 und 37 und einem Steuerabschnitt 38 zum Ausführen tatsächlicher Wiedergabeope­ rationen und Steueroperationen zum Spurfolgen und Fokussie­ ren. Darüber hinaus ist die zweite Adreß-Wiedergabeeinrich­ tung 35 mit einer Detektionseinrichtung 39 für einen bestimm­ ten Teil, einer Detektionseinrichtung 40 für einen überein­ stimmenden Teil eines Signales und einer Adreßinformations- Mischeinrichtung 41 versehen.

Zunächst wird eine Folge von Prozessen beschrieben, die aus­ geführt werden, wenn das optische Plattengerät 30 eine Adreß­ information von den Rillen 1 der optischen Platte 31 erfaßt.

Ein Lichtstrahl fällt auf eine Rille 1 der optischen Platte 31 von der Lichtstrahl-Einwirkungseinrichtung 32 ein, und das reflektierte Licht wird durch die Lichtstrahl-Empfangsein­ richtung 33 empfangen. Die optische Information von der Lichtstrahl-Empfangseinrichtung 33 wird zu der ersten Adreß- Wiedergabeeinrichtung 34 übertragen. Die erste Adreß-Wieder­ gabeeinrichtung 34 erfaßt, wie sich die Rille 1 windet, indem ein Spurfehlersignal aus der Ausgangsinformation von der Lichtstrahl-Empfangseinrichtung 33 detektiert wird, so daß die aufgezeichnete Adreßinformation wiedergegeben wird. Die Adreßinformation wird zu dem Steuerabschnitt 38 übertragen und als Spurzugriffsteuerung usw. verwendet.

Im folgenden wird eine Folge von Prozessen beschrieben, die ausgeführt werden, wenn das optische Plattengerät 30 eine Adreßinformation aus den Stegen 2 der optischen Platte 31 er­ faßt.

Ein Lichtstrahl fällt auf einen Steg 2 der optischen Platte 31 von der Lichtstrahl-Einwirkungseinrichtung 32 ein, und das reflektierte Licht wird durch die Lichtstrahl-Empfangsein­ richtung 33 empfangen. Die optische Information von der Lichtstrahl-Empfangseinrichtung 33 wird zu der zweiten Adreß- Wiedergabeeinrichtung 35 übertragen. Die erste Adreß- Wiedergabeeinrichtung 34 detektiert, wie sich der Steg 2 win­ det, indem ein Spurfehlersignal von der Ausgangsinformation von der Lichtstrahl-Empfangseinrichtung 33 detektiert wird.

Zu dieser Zeit detektiert die Detektionseinrichtung 39 für einen bestimmten Teil einen bestimmten Teil (Teil x), an dem die beiden Seitenwände des Steges 2 in voneinander verschie­ denen Richtungen gewunden sind. Gleichzeitig mit diesem Pro­ zeß detektiert die Detektionseinrichtung 40 für einen über­ einstimmenden Teil eines Signales einen übereinstimmenden Teil des Signales der Adreßinformation des Steges 2, das ge­ rade detektiert wird, aus einem übereinstimmenden Teil (Teil y), in welchem die beiden Seitenwände des Steges 2 in der gleichen Richtung gewunden sind.

Dann nimmt die Adreßinformations-Mischeinrichtung an, daß das an dem bestimmten Teil erhaltene Signal durch [0] oder [1] gegeben ist, und addiert das angenommene Signal an dem be­ stimmten Teil zu dem oben erwähnten Signal für einen überein­ stimmenden Teil, so daß zwei angenommene Signale erzeugt wer­ den. Wenn zu dieser Zeit festgelegt wird, daß die Adreßinfor­ mation der Stege 2 identisch zu beispielsweise der Adreßin­ formation der Rillen 1 neben der inneren Umfangsseite hiervon ist, kann eines der angenommenen Signale gewählt werden. Das so bestimmte Adreßsignal wird zu dem Steuerabschnitt 38 über­ tragen und für eine Spursteuerung usw. verwendet.

Im folgenden wird eine Folge von Prozessen für die Adreßin­ formation-Lesefehlerdetektion erläutert, die ausgeführt wer­ den, wenn das optische Plattengerät 30 irrtümlich die Adreß­ information aus der optischen Platte 31 ausgelesen hat.

In der optischen Platte 31 liegt in dem Fall einer Adreßin­ formation, die aus einem Gray-Kode besteht, wie dies in Fig. 1 gezeigt ist, lediglich ein bestimmter Teil in jedem Steg 2 vor. Wenn daher die Detektionseinrichtung 39 für einen be­ stimmten Teil zwei oder mehr bestimmte Teile detektiert, trifft die zweite Fehlerdetektionseinrichtung 37 eine Ent­ scheidung, daß Adreßinformation irrtümlich gelesen wurde, und sendet ein Adreßlese-Fehlersignal zu dem Steuerabschnitt.

Wenn darüber hinaus bei der optischen Platte 31 angenommen wird, daß die Adreßinformation auf jedem Steg 2 identisch zu einer Adreßinformation von beispielsweise der Rille 1 neben dem Steg 2 auf dessen Innenumfangsseite ist, trifft dann, falls eines der angenommenen Signale, die durch die Adreßin­ formation-Mischeinrichtung 41 erhalten sind, nicht mit der Adreßinformation der benachbarten Rille 1 übereinstimmt, die durch die erste Adreß-Wiedergabeeinrichtung 34 detektiert wurde, die erste Fehlerdetektionseinrichtung 36 eine Ent­ scheidung, nach welcher die Adreßinformation fehlerhaft oder irrtümlich gelesen wurde, und sendet das Adreßlese-Fehler­ signal zu dem Steuerabschnitt 38. Zusätzlich ist eine solche Detektion eines Adreßinformation-Lesefehlers, die durch die erste Fehlerdetektionseinrichtung 36 erfolgt, insbesondere in dem Fall wirksam, wenn die Stege 2 und die Rillen 1 abwech­ selnd abgetastet werden; in dem Fall, wenn nach kontinuierlichem Abtasten von einigen der Stege 2 (oder der Rillen 1) ei­ nige der Rillen 1 (oder der Stege 2) abgetastet werden, kann die Detektion eines Adreßinformation-Lesefehlers durch die erste Fehlerdetektionseinrichtung 36 weggelassen werden.

Weiterhin ist es bei dem optischen Plattengerät des vorlie­ genden Ausführungsbeispiels möglich, eine genauere Adreßin­ formation zu erhalten, indem der Durchmesser des Aufzeich­ nungs- und Wiedergabelichtfleckes 4 größer als die Spurtei­ lung und auch kleiner als die zweifache Spurteilung einge­ stellt wird.

Da, wie oben beschrieben ist, die Adreßinformation aufgrund des Spurfehlersignales wiedergegeben wird, ist das optische Plattengerät 30 des vorliegenden Ausführungsbeispiels kaum für nachteilhafte Auswirkungen, wie beispielsweise Verände­ rungen in der Menge des Laserlichtes, Veränderung in der Ril­ lenbreite und Differenzen im Reflexionsvermögen der jeweili­ gen Platten, empfänglich, um so eine genaue Wiedergabe von Adreßinformation zu ermöglichen. Weiterhin kann die Zuverläs­ sigkeit der Adreßinformation verbessert werden, indem die oben beschriebene Adreßinformation-Lesefehlerdetektion ausge­ führt wird.

Ausführungsbeispiel 3

Anhand der Figuren wird im folgenden ein weiteres Ausfüh­ rungsbeispiel der vorliegenden Erfindung beschrieben.

Ein optisches Plattensubstrat 5, das in dem vorliegenden Aus­ führungsbeispiel zu verwenden ist, hat die gleichen Merkmale, Substratmaterialien und Herstellungsprozesse wie das optische Plattensubstrat 5 des Ausführungsbeispiels 1; es hat jedoch eine verschiedene Rillengestalt zusammen mit der Adreßinfor­ mation.

Fig. 8 ist eine schematische Darstellung, die eine Rillenge­ stalt eines optischen Plattensubstrates 5 zeigt, das bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel verwendet wird. Spurrillen 1 und Stege 2 sind auf dem optischen Plattensubstrat 5 gebil­ det. Die Breite jedes Steges 2 ist virtuell gleich wie die Breite jeder Rille 1 eingestellt.

Die beiden Seitenwände jeder Rille 1 sind zu den Innen- und Außenumfangsseiten des optischen Plattensubstrates 5 gemäß Adreßinformation gewunden, wie dies in obigem Beispiel 1 be­ schrieben ist, und die Frequenz der Windung, die detektiert wird, wenn die Windung ausgelesen wird, ist höher eingestellt als Frequenzen, denen durch das Spurservosystem gefolgt wer­ den kann.

Mit dieser Anordnung kann die Detektion der Adreßinformation aus den Rillen 1 mit den gewundenen Seitenwänden oder aus den Stegen 2 in virtuell der gleichen Weise wie bei dem anhand des Ausführungsbeispiels 1 erläuterten Verfahren ausgeführt werden; jedoch wird in dem vorliegenden Ausführungsbeispiel Adreßinformation aufgrund eines Signales erzeugt, das durch Differenzieren eines Spurfehlersignales gebildet ist, das er­ halten wird, wenn der Aufzeichnungs- und Wiedergabelichtfleck 4 gerade die Rillen 1 oder die Stege 2 abtastet. Hier haben die Signalwellenformen, die differenziert wurden, die glei­ chen Signalformen, die schematisch in den Fig. 3(a) bis 3(d) gezeigt sind.

Selbst wenn in der obigen Anordnung beispielsweise die in (1) gezeigte Adreßinformation fortdauert, ändert sich die Frequenz der Windung nicht, da ein Zyklus der Windung wiederholt wird. Da im Gegensatz hierzu bei der beispielsweise in Fig. 1 gezeigten Anordnung die Gestalt der Windung gemäß Adreßinfor­ mation bestimmt ist, ist die Frequenz der Windung nicht kon­ stant. Mit anderen Worten, bei der Anordnung des vorliegenden Ausführungsbeispiels kann der Steuermechanismus der Herstel­ lungsvorrichtung vereinfacht werden, da es nicht erforderlich ist, die Windungsfrequenz während des Herstellungsprozesses zu verändern.

Ausführungsbeispiel 4

Anhand der Figuren wird im folgenden noch ein weiteres Aus­ führungsbeispiel der vorliegenden Erfindung beschrieben.

Ein optisches Plattensubstrat 5, das in dem vorliegenden Aus­ führungsbeispiel zu verwenden ist, hat die gleichen Merkmale, Substratmaterialien und Herstellungsprozesse wie das optische Plattensubstrat 5 des Ausführungsbeispiels 1; jedoch hat es eine verschiedene Rillenform im Zusammenhang mit der Adreßin­ formation.

Fig. 9 ist eine schematische Zeichnung, die eine Rillenge­ stalt eines in dem vorliegenden Ausführungsbeispiel verwende­ ten optischen Plattensubstrates 5 zeigt. Spurrillen 1 und Stege 2 sind auf dem optischen Plattensubstrat 5 gebildet. Die Breite jedes Steges 2 ist virtuell gleich wie die Breite jeder Rille 1 eingestellt. Jede Rille 1 hat eine Gestalt, bei welcher die beiden Seitenwände hiervon in ihren geraden Zu­ stand zurückkehren, nachdem sie zu der Innenumfangsseite des optischen Plattensubstrates 5 aus ihrem geraden Zustand gemäß Adreßinformation abgelenkt wurden, wie dies in (1) gezeigt ist, und die Frequenz der Windung ist höher eingestellt als Frequenzen, denen durch das Spurservosystem gefolgt werden kann. Zusätzlich können die beiden Seitenwände jeder Rille 1 eingestellt werden, um zu der Außenumfangsseite des optischen Plattensubstrates 5 gemäß Adreßinformation gewunden zu sein, wie dies in (1) gezeigt ist.

Durch Bilden der beiden Seitenwände der Rillen 1 in die in Fig. 9 gezeigte Windungsgestalt wird es möglich, einfach ein Wiedergabesignal zu detektieren. Die Ursache hierfür wird im folgenden näher erläutert:

Wenn bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel die beiden Sei­ tenwände der Rillen 1 in einer geraden Gestalt gehalten sind, wird ein Spurfehlersignal mit einem Pegel L entsprechend zu (0) in der Adreßinformation detektiert, während ein Spurfeh­ lersignal mit einem Pegel H entsprechend (1) in der Adreßin­ formation detektiert wird, wenn die beiden Seitenwände der Rillen 1 in einem Windungszustand zu der Innenumfangsseite sind. Darüber hinaus sind in Bereichen ohne Adreßinformation die beiden Seitenwände der Rillen 1 in einem geraden Zustand gehalten, und in diesem Zustand hat das Spurfehlersignal ei­ nen Pegel L in der gleichen Weise wie in dem Fall von (0) bei der Adreßinformation. Zu dieser Zeit wird ein Doppelbegren­ zungs- bzw. Scheibenpegel zum Beurteilen, ob das Spurfehler­ signal bei einem Pegel L oder einem Pegel H gehalten ist, zwischen den Pegel L und den Pegel H gesetzt. Da dieser Dop­ pelbegrenzungspegel ein Pegel ist, der von dem Pegel des Spurfehlersignales innerhalb der Bereiche, die keine Adreßin­ formation haben, verschieden ist, werden in den Bereichen, die keine Adreßinformation haben, keine unerwünschten Signale detektiert.

Wenn dagegen beispielsweise die beiden Seitenwände der Rillen 1 in einem Windungszustand sind, wie dieser in Fig. 1 gezeigt ist, fallen der Doppelbegrenzungspegel, der zwischen den Pe­ gel L und den Pegel H gesetzt ist, und der Pegel des Spurfeh­ lersignales innerhalb der Bereiche, die keine Adreßinformati­ on haben, virtuell miteinander zusammen. Folglich besteht ei­ ne Möglichkeit, daß unerwünschte Signale in den Bereichen de­ tektiert werden können, die keine Adreßinformation haben. Da­ her wird es erforderlich, solche unerwünschten Signale auszu­ schließen.

Mit anderen Worten, wenn die beiden Seitenwände der Rillen 1 in der in Fig. 9 gezeigten Windungsgestalt gebildet sind, ist es nicht erforderlich, einen Prozeß zum Ausschließen solcher unerwünschten Signale vorzusehen, und es wird möglich, Adreß­ signale einfacher zu detektieren.

Wenn darüber hinaus die beiden Seitenwände der Rillen 1 in der in Fig. 9 gezeigten Windungsgestalt gebildet sind, ist nach Erzeugen der Rillen 1 durch ein Photoresist lediglich eine Richtung bezüglich der Richtung erforderlich, in welcher das Laserlicht zu winden erlaubt ist; daher ist es möglich, die Steuerung des Laserlichtes usw. bei den Herstellungspro­ zessen zu vereinfachen.

Zusätzlich ist in den oben beschriebenen Ausführungsbeispie­ len 1 bis 4 die Windungsgestalt der Seitenwände als eine ge­ krümmte Gestalt vorgesehen; sie kann jedoch als eine recht­ winklige Gestalt oder eine trapezförmige Gestalt angeordnet werden.

Ausführungsbeispiel 5

Anhand der Figuren wird im folgenden ein weiteres Ausfüh­ rungsbeispiel der vorliegenden Erfindung beschrieben.

Ein optisches Plattensubstrat 5, das bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel zu verwenden ist, hat die gleichen Merk­ male, Substratmaterialien und Herstellungsprozesse wie das optische Plattensubstrat 5 der Ausführungsbeispiele 1, 3 und 4; jedoch hat es, wie in Fig. 10 gezeigt ist, eine Anordnung in Rillen 1 und Stegen 2, die zu den Anordnungen der Ausfüh­ rungsbeispiele 1, 3 und 4 umgekehrt ist, wobei die beiden Seitenwände der Stege 1 auf eine Windung eingestellt sind.

Mit anderen Worten, Adreßinformation auf den Stegen 2 wird so ausgelesen, wie sie vorliegt, während Adreßinformation in den Rillen 1 zusammen mit der Adreßinformation von den benachbar­ ten Stegen 2 wiedergegeben wird. Das gleiche Wiedergabever­ fahren wie das anhand der Ausführungsbeispiele 1 bis 4 be­ schriebene Verfahren kann angewandt werden. Zusätzlich ent­ spricht die Anordnung von Fig. 10 derjenigen von Fig. 1 im Ausführungsbeispiel 1; jedoch kann die Anordnung zu derjeni­ gen von Fig. 8 im Ausführungsbeispiel 3 oder zu derjenigen von Fig. 9 im Ausführungsbeispiel 4 entsprechen.

Beispiel 1 für Einstellen der Rillentiefe

Hinsichtlich der optischen Plattensubstrate 5 der Ausfüh­ rungsbeispiele 1, 3, 4 und 6 wird im folgenden ein Beispiel für das Einstellen der Rillentiefe (Steghöhe) gegeben.

Unter der Annahme, daß die Wellenlänge eines Lichtstrahles beim Aufzeichnen den Wert λ hat und daß der Brechungsindex des optischen Plattensubstrates 5 durch n gegeben ist, wird die Rillentiefe des optischen Plattensubstrates 5 in der Nähe von λ/6n eingestellt. Um die Rillentiefe zu verändern, kann das Ätzverhältnis geändert werden, die Ätzbedingungen können verändert werden, die Rillentiefe der Preßmatrize 10 kann in der Nähe von λ/6n eingestellt werden, oder die Herstellungs­ bedingungen können verändert werden.

Wenn die Rillentiefe des optischen Plattensubstrates 5 in der Nähe von λ/6n eingestellt wird, kann ein Übersprechen, das eine Rauschinterferenz von benachbarten Spursignalen zwischen Spuren ist, reduziert werden, um es so zu ermöglichen, eine hohe Dichte zu erzielen.

Beispiel 2 für die Einstellung der Rillentiefe

Hinsichtlich der optischen Plattensubstrate 5 der Ausfüh­ rungsbeispiele 1, 3, 4 und 5 wird im folgenden ein anderes Beispiel für die Einstellung der Rillentiefe (Steghöhe) gege­ ben:

Unter der Annahme, daß die Wellenlänge des Lichtstrahles beim Aufzeichnen den Wert λ hat und daß der Brechungsindex des op­ tischen Plattensubstrates 5 durch n gegeben ist, wird die Rillentiefe des optischen Plattensubstrates 5 in der Nähe von λ/8n eingestellt. Um die Rillentiefe zu verändern, kann das Ätzverhältnis verändert werden, die Ätzbedingungen können ge­ ändert werden, die Rillentiefe der Preßmatrize 10 kann in der Nähe von λ/8n eingestellt werden, oder die Herstellungsbedin­ gungen können verändert werden.

Diese Einstellung der Rillentiefe des optischen Platten­ substrates 5 in der Nähe von λ/8n erlaubt es, das Spurfehler­ signal auf einen Festwert zu bringen, was es möglich macht, Spuren stabiler zu folgen.

Beispiel 3 für die Einstellung der Rillentiefe

Hinsichtlich der optischen Plattensubstrate 5 der Ausfüh­ rungsbeispiele 1, 3, 4 und 5 wird noch ein anderes Beispiel für die Einstellung der Rillentiefe (Steghöhe) im folgenden gegeben:

Unter der Annahme, daß die Wellenlänge des Lichtstrahles beim Aufzeichnen den Wert λ hat und daß der Brechungsindex des op­ tischen Plattensubstrates 5 durch n gegeben ist, wird die Rillentiefe des optischen Plattensubstrates 5 in der Nähe von λ/10n eingestellt. Um die Rillentiefe zu verändern, kann das Ätzverhältnis geändert werden, die Ätzbedingungen können ver­ ändert werden, die Rillentiefe der Preßmatrize 10 kann in der Nähe von λ/10n eingestellt werden, oder die Herstellungsbe­ dingungen können geändert werden.

Dieses Einstellen der Rillentiefe des optischen Platten­ substrates 5 in der Nähe von λ/10n erlaubt es, das Wiederga­ besignal größer zu machen, um es so zu ermöglichen, stabile Wiedergabesignaleigenschaften zu erhalten.

Beispiel 4 für die Einstellung der Rillentiefe

Für die optischen Plattensubstrate 5 der Ausführungsbeispiele 1, 3, 4 und 5 wird im folgenden ein anderes Beispiel für das Einstellen der Rillentiefe (Steghöhe) gegeben.

Unter der Annahme, daß die Wellenlänge des Lichtstrahles beim Aufzeichnen den Wert λ hat und daß der Brechungsindex des op­ tischen Plattensubstrates 5 durch n gegeben ist, wird die Rillentiefe des optischen Plattensubstrates 5 auf nicht weni­ ger als λ/3n eingestellt. Um die Rillentiefe zu verändern, kann das Ätzverhältnis geändert werden, die Ätzbedingungen können geändert werden, die Rillentiefe der Preßmatrize 10 kann auf nicht weniger als λ/3n eingestellt werden, oder die Herstellungsbedingungen können geändert werden.

Dieses Einstellen der Rillentiefe des optischen Platten­ substrates 5 auf nicht weniger als λ/3n macht es möglich, ein Überkreuzlöschen auszuschließen, d. h. eine Erscheinung, bei der aufgezeichnete Information von benachbarten Spuren irr­ tümlich beim Löschen von Information gelöscht wird, selbst wenn die Stärke der Lichtstrahl-Einstrahlung hoch ist, sowie auch einfach die Intensitätssteuerung der Lichtstrahlen vor­ zunehmen, um so einen stabilen Löschbetrieb zu erlauben.

Strukturbeispiel 1 der Aufzeichnungsschicht

Für die optischen Plattensubstrate 5 der Ausführungsbeispiele 1, 3, 4 und 5 wird ein Strukturbeispiel der Aufzeichnungs­ schicht im folgenden erläutert:

Wie in Fig. 11 gezeigt ist, hat eine optische Platte des vor­ liegenden Strukturbeispiels einen Aufbau, bei welchem eine magnetooptische Aufzeichnungsschicht 28a und eine Überzug­ schicht 29 nacheinander auf dem optischen Plattensubstrat 5 gebildet sind, das in dem Ausführungsbeispiel 1 und in den Ausführungsbeispielen 3 bis 9 beschrieben ist. Die magnetooptische Aufzeichnungsschicht 28a wird durch eine dielektrische Schicht mit einer Lichtdurchlaßeigenschaft, eine Magnet­ schicht, eine Schutzschicht und eine Reflexionsschicht, die nicht gezeigt sind, gebildet. Die magnetische Schicht ist aus einer Legierung eines Seltenerdmetalles und eines Übergangs­ metalles, wie beispielsweise DyFeCo, TbFeCo, DyTbFeCo, GdTbFe und GdTbFeCo, hergestellt. Die magnetische Schicht weist eine senkrechte Magnetisierungseigenschaft von Raumtemperatur bis zum Curie-Punkt auf.

Bei dem oben beschriebenen Aufbau werden die folgenden Auf­ zeichnungsprozesse ausgeführt: Zunächst wird die Temperatur der Magnetschicht in die Nähe des Curie-Punktes angehoben, indem dort ein Laserstrahl zur Einwirkung gebracht wird, so daß die Magnetisierung der Magnetschicht zu Null wird, oder nach Anlegen eines Aufzeichnungsmagnetfeldes wird eine Inver­ sion erlaubt. Dann wird die Magnetisierung der Magnetschicht aufwärts ausgerichtet, indem ein Aufwärts-Aufzeichnungs­ magnetfeld angelegt wird. Anschließend wird die Temperatur der Magnetschicht in die Nähe des Curie-Punktes angehoben, indem dort ein Laserstrahl in der gleichen Weise zur Einwir­ kung gebracht wird, so daß die Magnetisierung der Magnet­ schicht zu Null wird, oder durch Anlegung eines Aufzeich­ nungsmagnetfeldes wird eine Inversion durchgeführt. Anschlie­ ßend wird das Aufzeichnen ausgeführt, indem die Magnetisie­ rung des Magnetfeldes abwärts ausgerichtet wird, indem ein Aufzeichnungsmagnetfeld mit einer entgegengesetzten Richtung (in diesem Fall mit der Abwärts-Richtung) angelegt wird.

Tatsächlich sind für Verfahren zum Ausführen einer magneto­ optischen Aufzeichnungsoperation das moduliertes Licht ver­ wendende Lichtmodulations-Aufzeichnungsverfahren und das ein moduliertes Aufzeichnungsmagnetfeld verwendende Magnetfeld- Modulationsverfahren bekannt.

Die magnetooptische Platte mit der oben beschriebenen Struk­ tur ist in der Lage, Wiedereinschreiboperationen nicht weni­ ger als eine Million mal durchzuführen.

Zusätzlich soll die Magnetschicht nicht auf eine Einzel- oder Monoschichtstruktur begrenzt sein, und es kann eine Mehrfach­ schicht vorgesehen werden. In dem Fall eines Mehrschichtfil­ mes der Magnetschicht sind andere Funktionen, wie beispiels­ weise eine Überschreibfunktion, beigefügt, um es so zu ermög­ lichen, ein noch besseres Betriebsverhalten zu erreichen.

Strukturbeispiel 2 der Aufzeichnungsschicht

Für die optischen Plattensubstrate 5 der Ausführungsbeispiele 1, 3, 4 und 5 wird ein Strukturbeispiel der Aufzeichnungs­ schicht im folgenden gegeben:

Wie in Fig. 12 veranschaulicht ist, hat eine optische Platte des vorliegenden Strukturbeispieles einen Aufbau, in welchem eine Phasenänderungstyp-Aufzeichnungsschicht 28a und eine Überzugschicht 29 nacheinander auf dem optischen Platten­ substrat 5 gebildet sind, das im Ausführungsbeispiel 1 und den Ausführungsbeispielen 3 bis 9 beschrieben ist. Die Pha­ senänderungstyp-Aufzeichnungsschicht 28a wird durch eine di­ elektrische Schicht mit einer Lichtdurchlaßeigenschaft, eine Aufzeichnungsschicht, eine Schutzschicht und eine Reflexions­ schicht, die nicht gezeigt sind, gebildet. Die Aufzeichnungs­ schicht besteht aus einem Phasenänderungstyp-Aufzeichnungs­ material, wie beispielsweise GeSbTe.

In dem Fall der oben beschriebenen Struktur wird eine Auf­ zeichnungsoperation ausgeführt, indem die Aufzeichnungs­ schicht in einen amorphen Zustand durch Einwirken eines Hochleistungslaserlichtes gebracht ist, während die Aufzeich­ nungsschicht in einem Kristallzustand durch Beaufschlagen mit Niederleistungslaserlicht gesetzt ist.

Die optische Platte des Phasenänderungstyps mit der oben be­ schriebenen Struktur schließt die Notwendigkeit für das Anle­ gen eines Magnetfeldes aus, was es möglich macht, eine Wie­ dereinschreiboperation auszuführen, indem lediglich Laser­ licht angelegt wird.

Strukturbeispiel 3 der Aufzeichnungsschicht

Für die optischen Plattensubstrate 5 der Ausführungsbeispiele 1, 3, 4 und 5 wird ein anderes Strukturbeispiel der Aufzeich­ nungsschicht im folgenden gegeben:

Wie in Fig. 13 veranschaulicht ist, hat eine optische Platte des vorliegenden Strukturbeispieles einen Aufbau, bei welchem eine magnetooptische Aufzeichnungsschicht 28c und eine Über­ zugschicht 29 nacheinander auf dem in den Ausführungsbeispie­ len 1 bis 9 beschriebenen optischen Plattensubstrat 5 gebil­ det sind. Die magnetooptische Aufzeichnungsschicht 28c wird durch eine dielektrische Schicht mit einer Lichtdurchlaßei­ genschaft, eine Wiedergabemagnetschicht, eine Aufzeichnungs­ magnetschicht und eine Schutzschicht, die nicht gezeigt sind, gebildet. Die Wiedergabemagnetschicht ist aus einer Legierung eines Seltenerdmetalles und eines Übergangsmetalles, wie bei­ spielsweise GdFeCo und GdDyFeCo, hergestellt, und die Auf­ zeichnungsmagnetschicht ist aus einer Legierung eines Seltenerdmetalles und eines Übergangsmetalles, wie beispielswei­ se DyFeCo, TbFeCo, DyTbFeCo, GdTbFe und GdTbFeCo, gebildet.

Die Wiedergabemagnetschicht hat eine derartige Eigenschaft, daß sie eine Magnetisierung in der Ebene von Raumtemperatur bis zu einer vorbestimmten Temperatur zeigt und eine senk­ rechte Magnetisierung bei einer Temperatur aufweist, die nicht niedriger als die vorbestimmte Temperatur ist. Die Auf­ zeichnungsschicht hat eine derartige Eigenschaft, daß sie ei­ ne senkrechte Magnetisierung von Raumtemperatur bis zu dem Curie-Punkt hat.

In dem Fall des Aufzeichnens in der oben beschriebenen Struk­ tur wird die Aufzeichnungsoperation in der gleichen Weise wie bei der in Strukturbeispiel 1 beschriebenen Aufzeichnungs­ schicht vorgenommen; die Wiedergabeoperation wird wie folgt ausgeführt: Wenn ein Lichtstrahl auf die Wiedergabemagnet­ schicht einwirkt, hat der bestrahlte Teil eine Temperaturver­ teilung, die durch eine Gauss-Verteilung angezeigt ist, so daß lediglich ein Bereich, der kleiner als der Durchmesser des Lichtstrahles ist, einen Temperaturanstieg zeigt. Gemäß dem Temperaturanstieg wird die Magnetisierung des Tempera­ turanstiegteiles von der Magnetisierung in der Ebene zu einer senkrechten Magnetisierung übertragen. Mit anderen Worten, die Richtung der Magnetisierung der Aufzeichnungsmagnet­ schicht wird auf die Wiedergabemagnetschicht durch eine Aus­ tauschkopplung kopiert, die zwischen den beiden Schichten, der Wiedergabemagnetschicht und der Aufzeichnungsmagnet­ schicht, ausgeübt ist. Wenn der Temperaturanstiegsteil von der Magnetisierung in der Ebene dazu kommt, die senkrechte Magnetisierung aufzuweisen, kann lediglich der Temperaturan­ stiegsteil einen magnetooptischen Effekt zeigen, so daß die auf der Aufzeichnungsmagnetschicht aufgezeichnete Information aufgrund des reflektierten Lichtes von dem Temperaturan­ stiegsteil wiedergegeben wird.

Wenn der Lichtstrahl verschoben wird, um das nächste Auf­ zeichnungsbit wiederzugeben, hat der vorhergehende Aufzeich­ nungsteil einen Temperaturabfall und geht dazu über, von der senkrechten Magnetisierung die Magnetisierung in der Ebene aufzuweisen. Demgemäß kann der Temperaturabfallteil nicht länger einen magnetooptischen Effekt zeigen, mit dem Ergeb­ nis, daß die Magnetisierung, die auf der Aufzeichnungsmagnet­ schicht aufgezeichnet ist, durch die In-Ebenen-Magnetisierung der Wiedergabeschicht maskiert und nicht länger wiedergegeben wird. Somit wird es möglich, eine Interferenz von Signalen von benachbarten Bits, welche Rauschen verursacht, zu verhin­ dern.

Da, wie oben beschrieben ist, lediglich der Bereich mit einer Temperatur, die nicht kleiner als die vorbestimmte Temperatur ist, die Aufzeichnungsoperation einschließen kann, können Aufzeichnungsbits, deren Durchmesser kleiner als der Licht­ strahl ist, wiedergegeben werden, was es möglich macht, die Aufzeichnungsdichte beträchtlich zu verbessern.

Zusätzlich kann eine Aufzeichnungsschicht eines anderen Typs angewandt werden, in welcher eine nichtmagnetische Schicht, die aus einer dielektrischen Schicht oder einer Metallschicht besteht, zwischen der Wiedergabeschicht und der Aufzeich­ nungsschicht gebildet wird, und in welcher die Wiedergabema­ gnetschicht mittels eines Leckmagnetfeldes von der Aufzeich­ nungsmagnetschicht bei einer Wiedergabe wiedergegeben wird. Darüber hinaus kann eine Reflexionsschicht zwischen der Schutzschicht und dem optischen Plattensubstrat 5 vorgesehen werden, und eine Schutzschicht, die eine Oxidation der Reflexionsschicht verhindert, kann ebenfalls zwischen der Refle­ xionsschicht und dem optischen Plattensubstrat 5 angeordnet werden.

Claims (22)

1. Optische Platte, umfassend:

• - ein Substrat (5),
• - Aufzeichnungsspuren, die als Rillen (1) und Stege (2), auf denen Information aufgezeichnet ist, vorgesehen sind, wobei jede der Rillen (1) und jeder der Stege (2) auf dem Substrat (5) in einer Spiralgestalt oder in der Form konzentrischer Kreise gebildet sind,
• - einen Adreßbereich, der mit einem Vorderteil gebildet ist, der unter der gleichen Winkelposition wie diejenige der benachbarten Aufzeichnungsspuren gelegen ist, wobei der Adreßbereich in einem Teil jeder Aufzeichnungsspur gebildet ist, und
• - einen Windungsbereich, in welchem die erste Aufzeichnungsspur, die entweder den Rillen oder den Stegen entspricht, zwei Seitenwände hat, die so gewunden sind, daß die Breite der ersten Aufzeichnungsspur in der Radial­ richtung virtuell konstant eingestellt ist, wobei der Windungsbereich in dem Adreßbereich vorgesehen ist,

dadurch gekennzeichnet, daß

• - Information auf den Rillen (1) und den Stegen (2) aufgezeichnet ist und
• - Adreßinformation der Rillen (1) und der Stege (2) durch Festlegen der Windungsgestalten der Rillen (1) und der Stege (2) im Windungsbereich entsprechend der Adreßinformation dargestellt ist.

2. Optische Platte nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Adreßinformation der Rillen (1) und der Stege (2) durch Festlegen einer Windungseinheit der Rillen (1) und der Stege (2) in dem Windungsbereich entsprechend Bits, die die Adreßinformation wiedergeben, dargestellt ist.

3. Optische Platte nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Windung in dem Windungsbereich eine gekrümmte Gestalt hat.

4. Optische Platte nach einem der Ansprüche 1 bis 3, da­ durch gekennzeichnet, daß die Frequenz der Windung, die bei Lesen der Windung detektiert ist, höher eingestellt ist als Frequenzen, denen durch ein Spurservosystem ge­ folgt werden kann.

5. Optische Platte nach einem der Ansprüche 1 bis 4, da­ durch gekennzeichnet, daß die Windung in dem Windungsbe­ reich eine Amplitude hat, die nicht kleiner als ±5 nm eingestellt ist.

6. Optische Platte nach einem der Ansprüche 1 bis 5, da­ durch gekennzeichnet, daß die Windung in dem Windungsbe­ reich eine Amplitude hat, die in den Bereich von ±10 nm bis ±50 nm eingestellt ist.

7. Optische Platte nach einem der Ansprüche 1 bis 6, da­ durch gekennzeichnet, daß in dem Windungsbereich die Adreßinformation in Bits aufgezeichnet wird, und daß Windungsbereiche entsprechend den jeweiligen Bits so ge­ bildet sind, daß sie zwischen benachbarten Aufzeich­ nungsspuren synchron miteinander sind.

8. Optische Platte nach einem der Ansprüche 1 bis 7, da­ durch gekennzeichnet, daß unter der Annahme, daß die Aufzeichnungsspur, die der anderen Einheit aus den Ste­ gen (2) und Rillen (1) entspricht, eine zweite Aufzeich­ nungsspur ist, Stücke der Adreßinformation auf ersten Aufzeichnungsspuren aufgezeichnet werden, die zu einer der zweiten Aufzeichnungsspuren, die dazwischen gelegen ist, benachbart sind, wobei jedes Stück der Adreßinfor­ mation durch einen Gray-Kode gebildet ist, der um ein Bit verschieden ist.

9. Optische Platte nach einem der Ansprüche 1 bis 8, da­ durch gekennzeichnet, daß unter der Annahme, daß die Wellenlänge des Lichtstrahles beim Aufzeichnen den Wert λ hat und daß der Brechungsindex des Substrates durch n gegeben ist, die Rillentiefe der Rillen (1) in der Nähe von λ/6n eingestellt ist.

10. Optische Platte nach einem der Ansprüche 1 bis 8, da­ durch gekennzeichnet, daß unter der Annahme, daß die Wellenlänge des Lichtstrahles beim Aufzeichnen den Wert λ hat und daß der Brechungsindex des Substrates durch n gegeben ist, die Rillentiefe der Rillen (1) in der Nähe von λ/8n eingestellt ist.

11. Optische Platte nach einem der Ansprüche 1 bis 8, da­ durch gekennzeichnet, daß unter der Annahme, daß die Wellenlänge des Lichtstrahles beim Aufzeichnen durch λ gegeben ist und daß der Brechungsindex des Substrates den Wert n hat, die Rillentiefe der Rillen (1) in der Nähe von λ/10n eingestellt ist.

12. Optische Platte nach einem der Ansprüche 1 bis 8, da­ durch gekennzeichnet, daß unter der Annahme, daß die Wellenlänge des Lichtstrahles beim Aufzeichnen durch λ gegeben ist und daß der Brechungsindex des Substrates den Wert n hat, die Rillentiefe der Rillen auf nicht we­ niger als λ/3n eingestellt ist.

13. Optische Platte nach einem der Ansprüche 1 bis 12, da­ durch gekennzeichnet, daß eine magnetooptische Aufzeich­ nungsschicht eine auf dem Substrat (5) gebildete Magnet­ schicht aufweist.

14. Optische Platte nach Anspruch 13, dadurch gekennzeich­ net, daß die Magnetschicht aus einer Wiedergabemagnet­ schicht und einer Aufzeichnungsmagnetschicht gebildet ist.

15. Optische Platte nach einem der Ansprüche 1 bis 12, da­ durch gekennzeichnet, daß eine Aufzeichnungsschicht vom Phasenänderungstyp auf dem Substrat (5) gebildet ist.

16. Optisches Plattengerät, mit welchem optische Platten (31) nach einem der Patentansprüche 1 bis 15 abgetastet werden, umfassend:
eine Lichtstrahl-Einwirkungseinrichtung (32) zum Anlegen eines Licht­ strahles an die optische Platte (31),
eine Lichtstrahl-Empfangseinrichtung (33) zum Empfangen eines Lichtsignales von der optischen Platte (31), und eine erste Adreßwiedergabe­ einrichtung (34) zum Wiedergeben von Information gemäß einem Signal von der Lichtstrahl-Empfangseinrichtung (33) und zum Detektieren einer Windung der Seitenwände der ersten Aufzeichnungsspur durch Detektieren eines Spurfehler­ signales, während der Lichtstrahl der ersten Aufzeichnungsspur folgt, um so die Adreßinformation in der ersten Aufzeichnungsspur wiederzugeben.

17. Optisches Plattengerät nach Anspruch 16, gekennzeichnet durch eine zweite Adreßwiedergabeeinrichtung (35), die unter der Annahme, daß die Aufzeichnungsspur, die der anderen Einheit aus den Stegen (2) und Rillen (1) ent­ spricht, eine zweite Aufzeichnungsspur ist, die Windung der Seitenwände der zweiten Aufzeichnungsspur durch De­ tektieren eines Spurfehlersignales detektiert, während ein Lichtstrahl der zweiten Aufzeichnungsspur folgt, um dadurch Adreßinformation der zweiten Aufzeichnungsspur wiederzugeben.

18. Optisches Plattengerät nach Anspruch 17, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die zweite Adreßwiedergabeeinrichtung (35) aufweist: eine Detektoreinrichtung (39) zum Erfassen ei­ nes bestimmten Teiles, um einen bestimmten Teil (x) zu detektieren, bei dem die beiden Seitenwände der zweiten Aufzeichnungsspur verschiedene Gestalten haben, während der Lichtstrahl der zweiten Aufzeichnungsspur folgt, und daß aufgrund der Ergebnisse der Detektion durch die De­ tektionseinrichtung (39) für einen bestimmten Teil Adreßinformation der zweiten Aufzeichnungsspur wiederge­ geben wird.

19. Optisches Plattengerät nach Anspruch 18, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die zweite Adreßwiedergabeeinrichtung (35) aufweist:
eine Signaldetektionseinrichtung (40) für einen überein­ stimmenden Teil, um ein Signal für einen übereinstimmen­ den Teil zu erhalten, das der Windung der Seitenwände in einem übereinstimmenden Teil entspricht, in welchem die beiden Seitenwände die gleiche Gestalt haben, während der Lichtstrahl der zweiten Aufzeichnungsspur folgt, und eine Adreßinformation-Kombinationseinrichtung (41), die unter der Annahme, daß alle möglichen Signale von dem bestimmten Teil Signale des bestimmten Teiles sind, eine Vielzahl von angenommenen Signalen durch Addieren der Signale zu dem Signal von dem übereinstimmenden Teil er­ zeugt und eines der Vielzahl der angenommenen Signale aufgrund einer vorbestimmten Regel auswählt, um ein Adreßsignal für die zweite Spur zu bilden.

20. Optisches Plattengerät nach Anspruch 19, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Adreßinformation der zweiten Aufzeich­ nungsspur der optischen Platte (31) identisch zu der Adreßinformation von jeder der beiden benachbarten er­ sten Aufzeichnungsspuren eingestellt ist, und eine erste Fehlerdetektionseinrichtung (36) vorgesehen ist, die ei­ ne Entscheidung trifft, daß ein Lesefehler vorliegt, wenn unter der Vielzahl der angenommenen Signale kein Signal mit der Adreßinformation von einer der benachbar­ ten ersten Aufzeichnungsspuren übereinstimmt, die als identisch hierzu angenommen ist.

21. Optisches Plattengerät nach Anspruch 19, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Anzahl der bestimmten Teile in der zweiten Aufzeichnungsspur der optischen Platte auf einen vorbestimmten Wert eingestellt ist und eine zweite Feh­ lerdetektionseinrichtung (37) vorgesehen ist, die eine Entscheidung trifft, daß ein Lesefehler vorliegt, wenn die Anzahl der bestimmten Teile, die innerhalb der Adreßinformation der zweiten Aufzeichnungsspur vorlie­ gen, detektiert durch die zweite Adreßwiedergabeeinrich­ tung (35), nicht mit dem vorbestimmten Wert überein­ stimmt.

22. Optisches Plattengerät nach Anspruch 16, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Lichtstrahl, der von der Lichtstrahl- Einwirkungseinrichtung (32) einwirkt, einen Lichtstrahl hat, dessen Lichtfleck auf der optischen Platte (31) größer als die Breite der ersten Aufzeichnungsspur in der Radialrichtung und auch kleiner als das Doppelte der Breite der ersten Aufzeichnungsspur in der Radialrich­ tung eingestellt ist.