DE1894100U - Messmikroskop zum messen kleiner abstaende zwischen nicht parallelen flaechen. - Google Patents

Messmikroskop zum messen kleiner abstaende zwischen nicht parallelen flaechen.

Info

Publication number
DE1894100U
DE1894100U DEL36274U DEL0036274U DE1894100U DE 1894100 U DE1894100 U DE 1894100U DE L36274 U DEL36274 U DE L36274U DE L0036274 U DEL0036274 U DE L0036274U DE 1894100 U DE1894100 U DE 1894100U
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
measuring
microscope
parallel surfaces
measuring microscope
eyepiece
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DEL36274U
Other languages
English (en)
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Original Assignee
Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ernst Leitz Wetzlar GmbH filed Critical Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Priority to DEL36274U priority Critical patent/DE1894100U/de
Publication of DE1894100U publication Critical patent/DE1894100U/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/04Measuring microscopes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Description

■ 15. Jan. 1964
Patentabteilung
Messmikroskop zum Messen kleiner Abstände zwischen nicht parallelen Flächen
1 Gegenstand der Neuerung ist ein Messmikroskop zum Messen von vorzugsweise kleinen Abständen zwischen zueinander nicht parallelen flächen* z.B. von Flanken an Zahnrädern.
Bekanntlich bereitet das Messen der Zahndicke beispielsweise an Verzahnungswälzfräsern mit Moduln unter o,5 μ erhebliche Schwierigkeiten, weil die üblichen Meßmittel nur zu ungenauen Meßergebnissen führen. Insbesondere das optische Einfangen der schrägen Zahnflanken mittels eines Fadenkreuzes läßt sich nur mit einer verhältnismäßig großen Unsicherheit durchführen, da hierbei sogenannte "schleifende Schnitte" auftreten.
Der Neuerung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Gerät zu,. .. . schaffen, bei dem beim Messen die "schleifenden Schnitte"1 vermieden werden, mit dem eine einwandfreie Einstellung -
und Ablesung der Meßwerte möglich ist und das somit genaue Meßergebnisse liefert.
Gegenstand der Neuerung ist'daher ein Messmikroskop zum Messen von Abständen zwischen zueinander nicht parallelen Flächen, z.B. der Zahnbreite von Wälzfräsern, Zahnrädern usw, das sich dadurch auszeichnet, daß es gleichzeitig ein
■.■ · -2-
B 2215
15. Jan. 1964 Patentabteilung
Iü/jü
Meßokular, eine Doppelbildoptik sowie Filter zum Einfärben der Strahlanteile in Komplementärfarben aufweist. Nach einem Merkmal der Erfindung ist das ge-
■ >
nannte Okular gegen eine Winkelmeßeinrichtung auswechselbar. In Portführung des Erfindungsgedankens ist eine Aufnahme für den zu vermessenden Prüfling in Form einer drehbar gelagerten Achse vorhanden, die mittels eines Mutterstückes (Lehrschnecke, Teilscheibe) definiert dreh-,und einstellbar ist.
Es ist an sich bekannt, in Komplementärfarben gehaltene Bilder des Prüflings bei Vergleichsmikroskopen und Vergleichsprojektoren zu verwenden, wobei Farbsäume die Übereinstimmung oder Abweichung der zu'vergleichenden Teile charakterisiert (vgl. Buch "Optik in der Feinmeßtechnik" von Or. K. Räntsch, Carl Hauser Verlag, München 1949, S. 174). Von die-. . . sem Stand der Technik geht die Erfindung aus. *
_.«.JDie Erfindung ist nachfolgend beispielsweise an Hand von Zeichnungen beschrieben. Es zeigen:
Fig0 1 ein Meßmik'roskop
Fig. 2a bis 2b die Bilder die bei den einzelnen Verfahrensschritten beim Messen sichtbar werden
Fig. 3 eine Hilfsvorrichtung,
B 2215
15. Jan. 1964 Patentabteilung
lü/jü ■■' :■;
Das Meßmikroskop besteht aus einer mit einer Beleuchtungseinrichtung 1 ο' versehenen Grundplatte 1o mit darauf befestigter Spindel 11 als Stativ, an dem ein Haitearm 12 befestigt ist. Eine Mutter 13 dient zur Höhenverstellung des Haltearmes längs der Spindel 11. Am Haltearm ist mittels einer Führung 14 ein Tubusträger ' 15 befestigt, der mit Hilfe eines Triebes 16 in seiner relativen Höhe zum Haltearm verstellt werden kann. Im Tubusträger ist der Tubus des Mikroskops gelagert und kann mittels einer Rändelmutter 17 längs der optischen Achse verstellt werden. Das Objektiv 18 ist unter Zwischenschaltung eines Bauteiles 19 der Auflichtbeleuchtungseinrichtung 19' an den Tubus angefügt. Am oberen Ende des Tubus befindet sich in einem Gehäuse 21 eine aus mehreren Prismen zusammengefügte Doppelbildoptik 2o, bei deren Durchlaufen der Beobachtungslichtstrahl in zwei Anteile aufgespalten wird. Diese-Anteile werden sodann in Komplementärfarben verschiedenfarbig eingefärbt und gegen- * einander so gedreht, daß sich beim Betrachten beispiels-
,weise einer Verzahnung der' Figur 2 .entsprechende Bilder ergeben.' An das Gehäuse 21 ist auswechselbar und um die optische1 Achse drehbar ein.Meßokular 22 an sich bekannter Bauart angesetzt. Das Objekt 23 (hier ein geradverzahntes Zahnrad, z.B» Stoßrad) ruht auf einem Kreuzschlitten 24 bekannter Bauart und wird wahlweise mittels der Einrichtung 1 ο'
-4-
; B 2215
15. Jan. 64
Patentabteilung
Lü/Jü
im Durchlicht oder aber mittels einer Beleuchtungseinrichtung 19' im Auflicht dargestellt.
Der Meßvorgang an einer Verzahnung spielt sich entsprechend den in den Teilbildern der Figur 2 gezeigten Einzelvorgängen ab. Zunächst wird (Teilbild a) eine Symmetrieeinstellung vorgenommen, d.h.« die beiden Bilder des Zahnes aneinander gesetzt und die Meßskala auf Hull eingestellt. Sodann wird gemäß Teilbild b der gewünschte Teilkreis festgelegt und anschließend das Okular um 9o verschwenkt, sodaß nunmehr die Skala der Zahnbreite zugeordnet ist. Die schwarzen Spitzen lassen eineeindeutige Nullstellung (Teilbild c) und Vermessung (Teilbild d) des Zahnes am vorher eingestellten Teilkreis zu. Die bei bekannten Anordnungen auftretenden "schleifenden Schnitte" sind hier vermieden.
Sollen- beispielsweise die Lagen der Schneidkanten eine,p ■ ■· ■Wälzfräsers zueinander vermessen werden, so ist es notwendig, daß dieser bei jedem Meßschritt um eine seiner -·" "Sfeigung entsprechende Strecke achsial verschoben wird und mit seiner Schneidbrust exakt in die Schärfeebene des Mikroskops zu liegen kommt. Um diese exakte Lage des Prüflings in achsialer Richtung zu gewährleisten, wird auf dem Kreuztisch eine Hilfsvorrichtung aufgesetzt, die schematisch in der Figur 3 dargestellt ist. Sie besteht auf einem Bügel 3o, der (in Richtung der
■-■ B 2215 *'
15. Jan. 1964
Patentabteilung
Iiü/Jü
Pfeile) verschiebbar gelagert ist und zwei Lager 31,32 aufweist, die eine Welle 33 stützen. Auf diese Welle werden der Prüfling 34 sowie ein^Mutterstück 35, beispielsweise eine der Steigung des Prüflings entsprechende Lehrschnecke aufgebracht und fest miteinander-gekoppelt. Ein Mutterstück 36, das mit einer Aussparung 36' versehen ist, wird mittels eines (federnden) Armes 37 spielfrei gegen die Lehrschnecke gedrückt und vermittelt dieser (und damit dem Prüfling) während des Drehens den erforderlichen Achsialvorschub, Ein weiteres nicht dargestelltes Anschlagstück legt sich an die Brust des Wälzfräsers und begrenzt seine Drehbewegung so, daß seine Brust jeweils in der Schärfeebene des Mikroskops zu liegen kommt. Abweichungen der Maße des Prüflings von denen des Mutterstückes können so leicht festgestellt werden.
I1Ur die Vermessung von Stoßzahnrädern findet eine ahn-, . .· lieh'aufgebaute Vorrichtung mit senkrecht stehender
Achse Verwendung. ' :- --*>
6 -

Claims (1)

  1. .".'■; Schutzansprüche
    1. Messmikroskop zum Messen von'Abständen zwischen zueinander nicht parallelen Flächen,KZ0B. der Zahnbreite von Wälzfräsern, Zahnrädern usw., gekennzeichnet durch das gleichzeitige Vorhandensein eines Meßokulars, einer Doppelbildoptik zur spiegelsymmetrischen
    .. oder zentrischsymmetrischen Abbildung sowie von Filtern, zum Einfärben der Strahlanteile in Komplementärfarben.
    2. Messmikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das verwendete Okular gegen eine Yifinkelmeßeinrichtung auswechselbar ist.
    5. Messmikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Objektträger eine Aufnahme für den zu vermesenden Prüfling in Form' einer drehbaren Achse vorhanden ist, die mittels eines.Mutterstückes und einer Lehrschnecke oder einer [Peilscheibe sowie eines Anschlages '~\ definiert dreh- oder einstellbar ist.
DEL36274U 1964-01-17 1964-01-17 Messmikroskop zum messen kleiner abstaende zwischen nicht parallelen flaechen. Expired DE1894100U (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEL36274U DE1894100U (de) 1964-01-17 1964-01-17 Messmikroskop zum messen kleiner abstaende zwischen nicht parallelen flaechen.

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEL36274U DE1894100U (de) 1964-01-17 1964-01-17 Messmikroskop zum messen kleiner abstaende zwischen nicht parallelen flaechen.

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1894100U true DE1894100U (de) 1964-06-04

Family

ID=33175417

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEL36274U Expired DE1894100U (de) 1964-01-17 1964-01-17 Messmikroskop zum messen kleiner abstaende zwischen nicht parallelen flaechen.

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE1894100U (de)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2730203A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum pruefen und messen von schaeden in einem unzugaenglichen bereich
DE2816870A1 (de) Verfahren und geraete zur blutzellenmessung
DE102010004824B4 (de) V-Block Messvorrichtung zur Bestimmung optischer Materialkonstanten und Verfahren zur Bestimmung optischer Materialkonstanten mittels einer V-Block-Messvorrichtung
DE3330134C2 (de) Meßeinrichtung zum Prüfen von Endoskopoptiken
DE2625951C3 (de) Vorrichtung zum Nachweis von Kristalldefekten
DE1894100U (de) Messmikroskop zum messen kleiner abstaende zwischen nicht parallelen flaechen.
DE739515C (de) Anordnung zum Herstellen von Skaleneinteilungen von Zeigermessgeraeten
DE1076949B (de) Optisches Geraet zum Ermitteln des Durchmessers grosser Werkstuecke
DE2753781A1 (de) Optisches system
DE536694C (de) Vorrichtung zur Aufnahme panoramaartig nebeneinanderliegender Bilder mit Hilfe einer auf einem Stativ drehbaren Kamera
DE661042C (de) Tiefenschaerfeanzeiger an photographischen Kameras
DE19953528A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur automatischen Messung der Spannungsdoppelbrechung mit feststehendem Analysator
DE706361C (de) Vorrichtung zum Einstellen der Schneide eines oder mehrerer einstechender Abrichtwerkzeuge, insbesondere fuer Gewindeschleifscheiben, mittels dauernd angeordneten Mikroskops
DE1215946B (de) Ablesegeraet
DE276261C (de)
DE482651C (de) Theodolit oder aehnliches Winkelmessgeraet
DE1045110B (de) Geraet zur optischen Messung der Wandstaerke, insbesondere von Hohlglaskoerpern
DE2611888C2 (de) Vorrichtung zum Ausmessen von Proben
DE202013004374U1 (de) Optoelektronischer Oberflächenscanner
DE929140C (de) Optisches Verfahren und Einrichtung zur Messung oder Justierung des Abstandes einer Gitterelektrode von einer Nachbarelektrode von elektrischen Entladungsgefaessen od. dgl.
DE661632C (de) Kameralagerung in einem Geraet zur photogrammetrischen Auswertung von Schraegaufnahmen aus Luftfahrzeugen
DE742112C (de) Vorrichtung zum Pruefen von Schneidraedern fuer Zahnraeder und Verzahnungen beliebiger Form und der damit hergestellten Raeder u. dgl. auf Mass- und Formhaltigkeit
DE807860C (de) Mikroskopisches Messverfahren und Vorrichtung zur Ausuebung des Verfahrens
DE299636C (de)
DE1218739B (de) Anordnung zur Winkelschrittmessung