DE102018122565A1

DE102018122565A1 - Verfahren und Messanordnung zum Ermitteln einer Alterung von Sicherungen

Info

Publication number: DE102018122565A1
Application number: DE102018122565.2A
Authority: DE
Inventors: Sevak Khachadorian; Andreas Kiebele
Original assignee: Kromberg and Schubert GmbH and Co KG
Current assignee: Kromberg and Schubert Automotive GmbH and Co KG
Priority date: 2018-09-14
Filing date: 2018-09-14
Publication date: 2020-03-19
Anticipated expiration: 2038-09-15
Also published as: DE102018122565B4

Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Ermitteln der Alterung einer oder mehreren elektrischer Sicherungen mittels einer indirekten Ermittlung des elektrischen Widerstands. Dies erfolgt über eine Referenzmessung mit wenigstens einem Halbleiterschalter, einem Referenz-Widerstand und einer Strom- oder Spannungsquelle, die in Reihe geschalten sind, einer Temperaturmessstelle an der Sicherung, wenigstens einem Spannungsmessgerät zur Bestimmung des Spannungsabfalls an der wenigstens einen Sicherung und einem Spannungsmessgerät zur Bestimmung des Spannungsabfalls an dem Referenz-Widerstand.

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Ermitteln der Alterung einer oder mehreren elektrischer Sicherungen mittels einer indirekten Ermittlung des elektrischen Widerstands.
Die Charakteristik und Lebensdauer von Sicherungen, insbesondere Schmelzsicherungen im Automotiv-Bereich, insbesondere im eingebauten Zustand, kann sich über die Zeit oder durch Umwelteinflüsse, wie z.B. der Temperatur oder der Strombelastung, ändern. Dies kann dazu führen, dass die Sicherung nach einer bestimmten Betriebszeit nicht rechtzeitig oder bei korrektem Stromfluss auslöst. Ein unbeabsichtigtes Auslösen einer Sicherung im Fahrzeug ist ebenso unerwünscht wie der Ausfall der Sicherung und bringt unnötige Einschränkungen in der Funktionalität des Fahrzeugs mit sich. Insbesondere im Fall einer sicherheitsrelevanten Funktionalität führt das unbeabsichtigte Auslösen zu erhöhtem Risiko und muss deshalb prädiktiv erkannt werden.
Es ist daher Aufgabe der vorliegenden Erfindung vorbesagte Nachteile zu überwinden und ein Verfahren zum Ermitteln der Alterung einer oder mehrerer elektrischer Sicherungen bereit zu stellen, mittels dem sich die Alterung von Sicherungen auf eine effiziente und kostengünstige Weise bestimmen lässt.
Diese Aufgabe wird durch die Merkmalskombination gemäß Anspruch 1 gelöst.
Erfindungsgemäß wird daher ein Verfahren zum Ermitteln der Alterung einer oder mehreren elektrischer Sicherungen vorgeschlagen. Dies erfolgt mittels einer indirekten Ermittlung des elektrischen Widerstands über eine Referenzmessung an einem Referenzwiderstand, wobei hierzu wenigstens ein Halbleiterschalter, der Referenz-Widerstand und eine Strom- oder Spannungsquelle in Reihe geschalten sind. Ferner weist die Messanordnung eine Temperaturmessstelle an der Sicherung, wenigstens ein Spannungsmessgerät zur Bestimmung des Spannungsabfalls an der wenigstens einen Sicherung und ein Spannungsmessgerät zur Bestimmung des Spannungsabfalls an dem Referenz-Widerstand auf. Das Verfahren umfasst die folgenden Schritte:

a) Messen einer Sicherungstemperatur T, eines Spannungsabfalls V_R an dem Referenz-Widerstand und eines Spannungsabfall V_F an der Sicherung,
b) Berechnen eines auf eine Referenztemperatur normalisierten Widerstandswerts R_F(T₀) des Widerstand der Sicherung (im Folgenden: Sicherungswiderstand genannt) über die folgende Gleichung: $R_{F (T_{0})} = R_{R (T_{0})} \frac{V_{F}}{V_{R}} \frac{1 + α_{R} (T - T_{0})}{1 + α_{F} (T - T_{0})},$
wobei R_R(T₀) ein auf die Referenztemperatur normalisierter Widerstand des Referenz-Widerstands, α_F ein Temperaturkoeffizienten des Widerstandswertes der Sicherung, α_R ein Temperaturkoeffizient des Widerstandswertes des Referenz-Widerstands und T₀ die Referenztemperatur darstellt,
c) Abspeichern des auf die Referenztemperatur normalisierten Wiederstands des Sicherungswiderstands in einem Datenspeicher,
d) Ermittlung der Sicherungswiderstansänderung ΔR_F(T₀) mit Hilfe der abgespeicherten Daten in dem Datenspeicher,
e) Ermittlung einer Rest-Lebensdauer der Sicherung mittels der Sicherungswiderstansänderung ΔR_F(T₀).

Die primäre Charakteristik, mit welcher die Alterung und demzufolge die Auslösecharakteristik einer Sicherung quantifiziert werden kann, ist der elektrische Widerstand. Eine Alterung der Sicherung führt zu einer Veränderung der Auslösecharakteristik. Um den Widerstand einer Sicherung zu bestimmen müssen gleichzeitig der Spannungsabfall und der Strom über das Bauteil, als auch die Temperatur des Bauteils ermittelt werden. Mit diesen gemessenen Größen kann über entsprechende Formeln der Widerstand normalisiert auf die Referenztemperatur und folglich die Alterung der Sicherung bestimmt werden. Durch eine indirekte Bestimmung der elektrischen Stromstärke über eine Referenzmessung mit dem Referenzwiderstand wird der Bedarf eine Strommessvorrichtung einzubauen, vermieden. Des Weiteren führt die Referenzmessung zu einem konstanten Strom welcher einfach mit dem Spannungsabfall korreliert werden kann. Gleichzeitig führt der kurzzeitige Stromfluss dieser Referenzmessung dazu, dass die Temperatur im Bauteil während der Messung konstant bleibt. Vorteilhaft daran ist, dass aufgrund des konstanten Stroms die Korrelation mit dem Spannungsabfall genauer wird. Ferner ist keine direkte Strommessung notwendig, wodurch eine Effizienzsteigerung im Betrieb und eine Kostenersparnis resultiert. Der während der Durchführung des Verfahrens kleine und kurzzeitige Stromfluss vermeidet eine Erwärmung durch Stromfluss. Dies hat zur Folge, dass eine Verfälschung aufgrund der Temperaturabhängigkeit des Widerstands vermieden wird. Der Referenzwiderstand ermöglicht eine genaue Bestimmung des Sicherungswiderstands. Außerdem ist es ausreichend, die Messung in bestimmten Intervallen durchzuführen und das Verfahren kann so zu geeigneten Zeitpunkten ausgeführt werden.
Ein allgemein formulierter Grundgedanke der Erfindung besteht in der Durchführung des Verfahrens mit den folgenden Verfahrensschritten:

i. Eine Last an der Sicherung ist inaktiv und der Referenz-Widerstand besitzt einen auf die Sicherung abgestimmten elektrische Widerstand,
ii. Messen eines Spannungsabfalls an dem Referenz-Widerstand
iii. Messen eines Spannungsabfalls an der Sicherung
iv. Messen einer Sicherungstemperatur
v. Berechnen eines auf die Sicherungstemperatur normalisierten Widerstands des Referenzwiederstands
vi. Berechnen einer elektrischen Stromstärke an dem Widerstand mittels der Daten von Schritt ii), iv) und v), wobei gilt, dass die elektrische Stromstärke an der Sicherung gleich der elektrischen Stromstärke an dem Widerstand ist,
vii. Berechnen des Sicherungswiderstands mittels der Daten von Schritt iii) und vi),
viii. Berechnen eines auf eine Referenztemperatur normalisierten Wiederstands des Sicherungswiderstands mittels der Daten von Schritt vii) und iv),
ix. Abspeichern des auf die Referenztemperatur normalisierten Wiederstands des Sicherungswiderstands in einem Datenspeicher,
x. Ermittlung einer Sicherungswiderstansänderung mit Hilfe der abgespeicherten Daten in dem Datenspeicher,
xi. Ermittlung einer Rest-Lebensdauer der Sicherung mittels der Sicherungswiderstansänderung,
xii. Ermittlung einer Auslösecharakteristik der Sicherung mittels der Sicherungswiderstansänderung.

In einer vorteilhaften Durchführungsvariante des Verfahrens ist vorgesehen, dass die Ermittlung einer Auslösecharakteristik der Sicherung mittels der Sicherungswiderstansänderung von Schritt d) bzw. x) erfolgt.
Vorzugsweise wird das Verfahren so ausgeführt, dass das Messen der Sicherungstemperatur von Schritt a) bzw. iv) mittels der Temperaturmessstelle an der Sicherung gemessen wird.
In einem Durchführungsbeispiel des Verfahrens ist vorgesehen, dass das Messen des Spannungsabfalls von Schritt a) mittels des Spannungsmessgeräts an dem Referenz-Widerstand gemessen wird.
Ferner ist günstig, dass das Messen des Spannungsabfalls von Schritt a) mittels des Spannungsmessgeräts an der wenigstens einen Sicherung gemessen wird.
In einer weiteren vorteilhaften Variante ist vorgesehen, dass ein auf die Sicherungstemperatur normalisierter Widerstand des Referenzwiederstands mit folgender Gleichung R_R(T) = R_R(T
0) (1 +∝_R (T - T₀)) ermittelt wird.
Das erfindungsgemäße Verfahren wird in einer Variante ausgeführt, dass eine elektrischen Stromstärke an dem Widerstand über die Gleichung I_R = V_R/ R_R ermittelt wird.
In einem Ausführungsbeispiel des Verfahrens ist weiter vorgesehen, dass die elektrische Stromstärke an der Sicherung gleich der elektrischen Stromstärke an dem Widerstand ist.
Weiter vorteilhaft ist es, wenn ein auf die Sicherungstemperatur normalisierter Widerstand des Sicherungswiderstands über die Gleichung R_F(T) = V_F/I_F ermittelt wird.
In einer Ausführung des vorliegenden Verfahrens ist ferner vorgesehen, dass der auf die Referenztemperatur (T₀) normalisierte Wiederstand (R_F(T₀)) über die Gleichung R_F(T
0) = R_F1(T)/(1 +∝_F (T-T₀)) ermittelt wird.
In einer bevorzugten Durchführungsform des Verfahrens wird die Ermittlung der Lebensdauer und der Auslösecharakteristik der Sicherung anhand in dem Datenspeicher hinterlegten Kennfeldern erfolgt.
Erfindungsgemäß wird ferner eine Messanordnung zur Bestimmung der Alterung von Sicherungen in einer Fahrzeugsicherungsbox nach dem vorstehenden Verfahren vorgeschlagen. Die Messanordnung umfasst eine Strom- oder Spannungsquelle und wenigstens eine Sicherung, die in Reihe geschalten sind. Außerdem ist wenigsten ein Spannungsmessgerät zur Bestimmung des Spannungsabfalls an der wenigstens einen Sicherung und eine Temperaturmessstelle zur Bestimmung der Sicherungstemperatur vorgesehen. Dabei ist ein Referenz-Widerstand in Reihe an die Sicherung geschalten und ein Spannungsmessgerät zur Bestimmung des Spannungsabfalls an dem Referenz-Widerstand vorgesehen.
In einer ebenfalls vorteilhaften Ausführungsvariante ist vorgesehen, dass ein der Spannungspfad eine Last L und einen Abzweig für den Referenz-Widerstand aufweist. Das Aktivieren des Abzweigs über die Reihenschaltung der Messanordnung erfolgt lastfrei und mittels Auslösen des Halbleiterschalters.
In einer Weiterbildung der vorliegenden Messanordnung ist ferner vorgesehen, dass für jede der einen oder mehreren elektrischen Sicherungen ein Spannungspfad, bestehend aus der jeweiligen Sicherung und einem Halbleiterschalter, zwischen der Strom- oder Spannungsquelle und dem Referenz-widerstand in einer Parallelschaltung angeordnet ist.
In einem Ausführungsbeispiel der Erfindung ist vorgesehen, dass bei Ermittlung der Restlebensdauer einer Sicherung nur ein dieser Sicherung im jeweiligen Spannungspfad zugeordneter Halbleiterschalter aktiv ist und die weiteren Halbleiterschalter ausgeschalten sind.
In einer weiteren vorteilhaften Variante ist erfindungsgemäß vorgesehen, dass zur Ermittlung der elektrischen Stromstärke an dem Widerstand ein Hall-Sensor benutzt wird.
Ferner ist eine Ausführungsvariante günstig, bei der zur Ermittlung der elektrischen Stromstärke an dem Widerstand eine geregelte Stromquelle, die einen eindeutig definierten Strom auf die Sicherung abgibt, benutzt wird.
Andere vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet bzw. werden nachstehend zusammen mit der Beschreibung der bevorzugten Ausführung der Erfindung anhand der Figuren näher dargestellt. Es zeigen:

1 eine schematische Darstellung einer Messanordnung zur Bestimmung der Alterung von Sicherungen in einer Fahrzeugsicherungsbox,
2 eine graphische Darstellung einer beispielhaften Sicherungswiderstansänderung aufgrund von Alterung.

1 zeigt eine schematische Darstellung einer Messanordnung zur Bestimmung der Alterung von Sicherungen F in einer Fahrzeugsicherungsbox. Die Strom- oder Spannungsquelle Q ist mit dem Massepotential des Fahrzeugs verbunden. Ferner ist in Reihe an die Strom- oder Spannungsquelle Q eine Parallelschaltung mit zwei Spannungspfaden jeweils bestehend aus einer Sicherung F und einer Last L, die in Reihe geschalten sind, angeschlossen. Die beiden Lasten L sind ebenfalls mit dem Massepotential des Fahrzeugs verbunden. Beide Spannungspfade der Parallelschaltung weisen je einen Abzweig mit einem Halbleiterschalter HL auf. An die Parallelschaltung der Spannungspfade der beiden Sicherungen F ist in Reihe ein Referenz-Widerstand R_R geschalten, der wiederum mit dem Massepotential des Fahrzeugs verbunden ist. Ferner ist an die beiden Sicherungen F ein Spannungsmessgerät M_F zur Bestimmung des Spannungsabfalls der jeweiligen Sicherung F in der Fahrzeugsicherungsbox angeordnet. Die Messanordnung umfasst außerdem eine Temperaturmessstelle M_T zur Bestimmung der jeweiligen Sicherungstemperatur T an einer der beiden Sicherungen F. Darüber hinaus ist ein Spannungsmessgerät M_R zur Bestimmung des Spannungsabfalls an dem Referenz-Widerstand R_R vorgesehen. Die Temperaturmessstelle M_T , das Spannungsmessgerät M_F und das Spannungsmessgerät M_R sind jeweils mit einem Steuergerät verbunden, das die Übermittelung der gemessenen Daten von der Temperaturmessstelle M_T und den beiden Spannungsmessgeräten M_F , M_R zu dem Datenspeicher 1 regelt.
In einer weiteren nicht näher dargestellten Ausführungsform kann die Messanordnung auch nur über einen Spannungspfad mit einer einzigen Sicherung F und einer Last L verfügen. Ferner ist dann auch nur ein Abzweig mit einem Halbleiterschalter HL zu dem Referenz-Widerstand R an den Spannungspfad geschalten. Diese Ausführungsvariante entspricht im Übrigen der Ausführungsvariante aus 1 und wird deshalb nicht näher erläutert.

2 zeigt eine graphische Darstellung einer beispielhaften Sicherungswiderstandsänderung ΔR_F(T₀) einer beispielhaften 40 A Schmelzsicherung aufgrund von Alterung. Die über die Gleichung von Schritt b) berechneten Werte des auf die Referenztemperatur T₀ normalisierten Wiederstands R_F(T₀) des Sicherungswiderstands R_F sind in Abhängigkeit der Arbeitsstunden der Sicherung dargestellt. Dabei wurden folgende Messauflösungen angenommen:

	Wertebereich	Auflösung
Spannungsabfall über den Referenz-Widerstand R_R	Ca. 12 V	10 Bit
Temperaturdifferenz der Referenztemperatur T₀ zur Normaltemperatur	Bis zu 40°C	0,1 °C
Spannungsabfall über der Sicherung F	0,025 V	100 µV
Angelegter kurzzeitiger Teststrom (am Beispiel 40A Sicherung)	20 A

Dies führt zu einer Auflösung in der Bestimmung des auf eine Referenztemperatur T₀ normalisierten Wiederstands R_F(T₀) des Sicherungswiderstands R_F von 5 µΩ. Die minimal zu erwartende Änderung des Sicherungswiderstands R_F(T₀) durch Alterung bei einer 40 A-Sicherung beträgt in etwa 50 µΩ. Ferner ist eine Gerade in 2 dargestellt, die eine Trendlinie der Alterung der Sicherung repräsentiert.
Die Erfindung beschränkt sich in ihrer Ausführung nicht auf das vorstehend angegebene bevorzugte Ausführungsbeispiel. Vielmehr ist eine Anzahl von Varianten denkbar, welche von der dargestellten Lösung auch bei grundsätzlich anders gearteten Ausführungen Gebrauch macht.

Claims

Verfahren zum Ermitteln der Alterung einer oder mehreren elektrischer Sicherungen (F) mittels einer indirekten Ermittlung des Sicherungswiderstands über eine Referenzmessung mit wenigstens einem Halbleiterschalter (HL), einem Referenz-Widerstand (R_R) und einer Strom- oder Spannungsquelle (Q), die in Reihe geschalten sind, einer Temperaturmessstelle (M_T) an der Sicherung (F), wenigstens einem Spannungsmessgerät (M_F) zur Bestimmung des Spannungsabfalls an der wenigstens einen Sicherung (F) und einem Spannungsmessgerät (M_R) zur Bestimmung des Spannungsabfalls an dem Referenz-Widerstand (R_R), das die folgenden Schritte umfasst: a) Messen einer Sicherungstemperatur (T), eines Spannungsabfalls an dem Referenz-Widerstand (V_R) und eines Spannungsabfalls an der Sicherung (V_F), b) Berechnen eines auf eine Referenztemperatur (T₀) normalisierten Wiederstands (R_F(T₀)) des Sicherungswiderstands (R_F) über die folgende Gleichung: $R_{F (T_{0})} = R_{R (T_{0})} \frac{V_{F}}{V_{R}} \frac{1 + α_{R} (T - T_{0})}{1 + α_{F} (T - T_{0})},$
wobei R_R(T₀) ein auf die Referenztemperatur (T₀) normalisierter Widerstand (R_R(T₀)) des Referenz-Widerstands (R_R), α_F ein Temperaturkoeffizienten der Sicherung (F), α_R ein Temperaturkoeffizient des Widerstands (R) und T₀ die Referenztemperatur (T₀) darstellt, c) Abspeichern des auf die Referenztemperatur (T₀) normalisierten Wiederstands (R_F(T₀)) des Sicherungswiderstands (R_F) in einem Datenspeicher (1), d) Ermittlung einer Sicherungswiderstansänderung (ΔR_F(T₀)) mit Hilfe der abgespeicherten Daten in dem Datenspeicher (1), e) Ermittlung einer Rest-Lebensdauer der Sicherung (F) mittels der Sicherungswiderstansänderung (ΔR_F(T₀)).
Verfahren zum Ermitteln der Alterung einer oder mehreren Sicherungen (F) gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Ermittlung einer Auslösecharakteristik der Sicherung (F) mittels der Sicherungswiderstansänderung (ΔR_F(T₀)) von Schritt d) erfolgt.
Verfahren zum Ermitteln der Alterung einer oder mehreren Sicherungen (F) gemäß den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass das Messen der Sicherungstemperatur (T) von Schritt a) mittels der Temperaturmessstelle (M_T) an der Sicherung (F) gemessen wird.
Verfahren zum Ermitteln der Alterung einer oder mehreren Sicherungen (F) gemäß den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass das Messen des Spannungsabfalls (V_R) von Schritt a) mittels des Spannungsmessgeräts (M_R) an dem Referenz-Widerstand (R_R) gemessen wird.
Verfahren zum Ermitteln der Alterung einer oder mehreren Sicherungen (F) gemäß Anspruch 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Messen des Spannungsabfalls (V_F) von Schritt a) mittels des Spannungsmessgeräts (M_F) an der wenigstens einen Sicherung (F) gemessen wird.
Verfahren zum Ermitteln der Alterung einer oder mehreren Sicherungen (F) gemäß Anspruch 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass der temperaturabhängige Widerstand des Referenzwiederstands (R_R(T)) mittels folgender Gleichung R_R(_T) = R_R(T
0)(1 +∝_R (T - T₀)) berechnet wird.
Verfahren zum Ermitteln der Alterung einer oder mehreren Sicherungen (F) gemäß Anspruch 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass eine elektrischen Stromstärke (I_R) an dem Widerstand (R_R) über die Gleichung I_R= V_R/ R_R ermittelt wird.
Verfahren zum Ermitteln der Alterung einer oder mehreren Sicherungen (F) gemäß Anspruch 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass die elektrische Stromstärke (I_F) an der Sicherung (F) gleich der elektrischen Stromstärke (I_R) an dem Widerstand (R_R) ist.
Verfahren zum Ermitteln der Alterung einer oder mehreren Sicherungen (F) gemäß Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass ein sicherungstemperaturabhängiger Widerstand (R_F(T)) des Sicherungswiderstands (R_F) über die Gleichung R_F(T) = V_F/I_F ermittelt wird.
Verfahren zum Ermitteln der Alterung einer oder mehreren Sicherungen (F) gemäß einem der vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der auf die Referenztemperatur (T₀) normalisierte Wiederstand (R_F(T₀)) über die Gleichung R_F(T
0) = R_F1(T)/(1+∝_F(T - T₀)) ermittelt wird.
Verfahren zum Ermitteln der Alterung einer oder mehreren Sicherungen (F) gemäß einem der vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Ermittlung der Lebensdauer und der Auslösecharakteristik der Sicherung (F) anhand in dem Datenspeicher (1) hinterlegten Kennfeldern erfolgt.
Messanordnung zur Bestimmung der Alterung von Sicherungen (F) in einer Fahrzeugsicherungsbox nach dem Verfahren gemäß einem der vorherigen Ansprüche, umfassend eine Strom- oder Spannungsquelle (Q) und wenigstens eine Sicherung (F), die in Reihe geschalten sind, wenigsten ein Spannungsmessgerät (M_F) zur Bestimmung des Spannungsabfalls an der wenigstens einen Sicherung (F) und eine Temperaturmessstelle (M_T) zur Bestimmung der Sicherungstemperatur (T), wobei ein Halbleiterschalter (HL) und ein Referenz-Widerstand (R_R) in Reihe an die Sicherung (F) geschalten ist und ein Spannungsmessgerät (M_R) zur Bestimmung des Spannungsabfalls an dem Referenz-Widerstand (R_R) vorgesehen ist.
Messanordnung zur Bestimmung der Alterung von Sicherungen (F) in einer Fahrzeugsicherungsbox nach dem Verfahren gemäß Anspruch12, dadurch gekennzeichnet, dass der Spannungspfad eine Last L aufweist und einen Abzweig für den Referenz-Widerstand (R_R) und das Aktivieren des Abzweigs über die Reihenschaltung der Messanordnung lastfrei und mittels Auslösen des Halbleiterschalters (HL) erfolgt.
Messanordnung zur Bestimmung der Alterung von Sicherungen (F) in einer Fahrzeugsicherungsbox nach dem Verfahren gemäß den Ansprüchen 12 und 13, dadurch gekennzeichnet, dass für jede der einen oder mehreren elektrischen Sicherungen (F) ein Pfad, bestehend aus der jeweiligen Sicherung (F) und jeweils einem Halbleiterschalter (HL), zwischen der Strom- oder Spannungsquelle (Q) und den Referenz-Widerstand (R) in einer Parallelschaltung angeordnet ist.
Messanordnung zur Bestimmung der Alterung von Sicherungen (F) in einer Fahrzeugsicherungsbox nach dem Verfahren gemäß den Ansprüchen 12 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass bei Ermittlung der Restlebensdauer einer Sicherung nur ein dieser Sicherung im jeweiligen Spannungspfad zugeordneter Halbleiterschalter (HL) aktiv ist und die weiteren Halbleiterschalter (HL) ausgeschalten sind.
Messanordnung zur Bestimmung der Alterung von Sicherungen (F) in einer Fahrzeugsicherungsbox nach dem Verfahren gemäß den Ansprüchen 12 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass zur Ermittlung der elektrischen Stromstärke (I_R) an dem Widerstand (R_R) ein Hall-Sensor benutzt wird.
Messanordnung zur Bestimmung der Alterung von Sicherungen (F) in einer Fahrzeugsicherungsbox nach dem Verfahren gemäß den Ansprüchen 12 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass zur Ermittlung der elektrischen Stromstärke (I_R) an dem Widerstand (R_R) eine geregelte Stromquelle, die einen eindeutig definierten Strom auf die Sicherung abgibt, benutzt wird.