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Die
vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren
zum Testen mindestens einer leitenden Verbindung, die eine elektrische
Verbindung zwischen einem elektrischen Bauteil und einer Leiterplatte
bildet.
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Im
Folgenden wird ein Bauteil, das als elektrisch oder elektronisch
bezeichnet wird, elektrisches Bauteil genannt.
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Die
Herstellung einer Elektronikkarte erfordert es gewöhnlich,
dass ein elektrisches Bauteil auf einer Leiterplatte elektrisch
und mechanisch montiert wird, und zwar durch mindestens eine leitende
Verbindung, die eine elektrische und mechanische Verbindung zwischen
dem elektrischen Bauteil und der Leiterplatte bildet.
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Die
leitenden Verbindungen lassen sich durch verschiedene Montageverfahren
herstellen, insbesondere durch Hartlöten (Löten unter Hinzufügung von
Material), Autogenschweißen,
Druckkontaktierung oder Pressfitting.
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Bevor
ein bestimmtes Montageverfahren zwecks Fertigung von Elektronikkarten
in Serie zum Einsatz kommt, ist üblicherweise
eine Beurteilung der Zuverlässigkeit
dieses Verfahrens wünschenswert.
Zu diesem Zweck wurde der Vorschlag unterbreitet, die durch ein
bestimmtes Montageverfahren erhaltenen leitenden Verbindungen gemäß einem Protokoll
zu testen, das allgemein dem Verwendungszweck des elektronischen
Bauteils, beispielsweise als Elektronikkarte für ein Fahrzeug, entspricht.
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Zur Überprüfung einer
bestimmten leitenden Verbindung ist aus dem Stand der Technik bereits eine
Vorrichtung zum Testen bekannt, die einen Träger, der eine Leiterplatte
bildet, und ein elektrisches Bauteil umfasst, das mindestens einen
leitenden Abschluss aufweist, der mit der Leiterplatte über die
leitende Verbindung verbunden ist.
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Gemeinhin
ist diese Vorrichtung einzig zur Überprüfung der leitenden Verbindung
bestimmt und nicht dazu gedacht, eine bestimmte Funktion des elektrischen
Bauteils zu realisieren oder zu überprüfen.
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Die
Vorrichtung zum Testen ist in einer Prüfkammer eingerichtet, um dort
vorbestimmten thermischen und mechanischen Belastungen ausgesetzt zu
werden. Der Test kann eine Serie von Zyklen vorsehen. Diese Serie
kann beispielsweise 250 Zyklen mit einer Dauer von jeweils einer
Stunde beinhalten.
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Während des
Tests ist die Vorrichtung mit außerhalb der Kammer befindlichen
Mitteln verbunden, die eine Stromversorgung der Vorrichtung zum
Testen sowie Mittel umfassen, die eine Testeinrichtung für die Detektion
einer elektrischen Unterbrechung mindestens einer getesteten Schaltung
bilden. Die getestete Schaltung weist gewöhnlich eine Kette auf, die
durch zu testende leitende Verbindungen gebildet wird, die miteinander
in Reihe verbunden sind. Die Testeinrichtung ist entfernt von der
Prüfkammer
angeordnet, so dass besagte Kammer die Funktion der Testereinrichtung
nicht stört.
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Die
Vorrichtung zum Testen umfasst im Allgemeinen eine große Anzahl
zu testender leitender Verbindungen, das heißt mehrere Ketten zu testender
leitender Verbindungen, so dass eine große Anzahl von Verbindungen
(gewöhnlich
in einer Größenordnung
von mehreren Dutzend) zwischen der Vorrichtung zum Testen und der
Testeinrichtung, also zwischen dem Inneren und dem Äußeren der
Kammer, vorzusehen ist. Demzufolge lassen sich nur wenige Vorrichtungen
gleichzeitig testen.
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Um
diesen Nachteil zu beheben, wurde nach dem Stand der Technik, insbesondere
in
US 2004/0036466 ,
eine Vorrichtung zum Testen vorgeschlagen, bei welcher der Träger Mittel
zur Detektion einer elektrischen Unterbrechung einer getesteten Schaltung
trägt,
wobei diese getestete Schaltung gewöhnlich eine Kette aufweist,
die von zu testenden leitenden Verbindungen gebildet wird, die miteinander
in Reihe verbunden sind.
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Die
in diesem Dokument beschriebenen Detektionsmittel umfassen ein Flipflop,
das zu jeder Kette gehört
und eine Kontrollleuchte steuert, die aufleuchten soll, sobald eine
Unterbrechung in der Kette erfasst wird. Es wird vorgeschlagen,
das sukzessive Aufleuchten der von der Leiterplatte getragenen Kontrollleuchten
mittels einer Videokamera aufzuzeichnen, falls erforderlich.
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Dadurch,
dass die Mittel zur Detektion einer elektrischen Unterbrechung auf
die Leiterplatte übernommen
sind, besteht die Möglichkeit,
in der Prüfkammer
eine verhältnismäßig große Anzahl
an Vorrichtungen gleichzeitig unterzubringen und zu testen.
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Allerdings
definieren bestimmte Festlegungen die Zuverlässigkeit einer leitenden Verbindung ausgehend
vom Begriff des „Versagens" dieser leitenden
Verbindung. Ein Versagen entspricht der Manifestation einer vorbestimmten
Anzahl sukzessiver Unterbrechungen in einem vorbestimmten Zeitintervall.
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Nun
aber gestattet eine solche Vorrichtung zum Testen, wie sie in
US 2004/0036466 beschrieben
ist, keine Detektion sukzessiver Unterbrechungen in einer getesteten
Kette, denn sie erfasst lediglich die erste Unterbrechung in dieser
Kette.
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Der
Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung zum Testen
vorzuschlagen, die in der Lage ist, ein Versagen (im oben dargelegten
Sinne) einer leitenden Verbindung zu detektieren, und zwar ohne
dass die Vorrichtung während
des Tests an außerhalb
befindliche Detektionsmittel angeschlossen werden muss.
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Zu
diesem Zweck hat die Erfindung eine Vorrichtung zum Testen zumindest
einer leitenden Verbindung zum Ziel, die eine elektrische Verbindung zwischen
einem elektrischen Bauteil und einer Leiterplatte bildet, und zwar
jenes Typs, der in
US 2004/0036466 beschrieben
ist, und diese Vorrichtung umfasst Folgendes:
- – einen
Träger,
der eine Leiterplatte bildet,
- – ein
elektrisches Bauteil, das mindestens einen leitenden Abschluss aufweist,
der mit der Leiterplatte über
die leitende Verbindung verbunden ist,
- – vom
Träger
getragene Mittel zur Detektion einer elektrischen Unterbrechung
einer getesteten Schaltung, welche die leitende Verbindung beinhaltet,
dadurch
gekennzeichnet, dass sie vom Träger
getragene Mittel zur Speicherung sukzessiver Unterbrechungsdaten
umfasst.
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Die
Erfindung ermöglicht
die Detektion eines Versagens in Entsprechung zur Manifestation
einer vorbestimmten Anzahl sukzessiver Unterbrechungen in einem
vorbestimmten Zeitintervall, ausgehend von den Unterbrechungsdaten,
die in der Vorrichtung zum Testen gespeichert sind. Während des
Tests ist keinerlei Verbindung zu Detektionsmitteln außerhalb der
Prüfkammer
erforderlich.
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Die
gespeicherten Unterbrechungsdaten können am Ende des Tests zwecks Übermittlung
an adäquate
Analysemittel abgerufen werden, die in der Lage sind, die Ausfälle in Abhängigkeit
von der Historie der Unterbrechungen zu identifizieren.
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Gegebenenfalls
kann die Vorrichtung zum Testen vom Träger getragene Mittel zur Bestimmung eines
Versagens der getesteten Schaltung umfassen.
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Daher
besteht die Möglichkeit,
in Echtzeit festzustellen, ob ein Versagen auftritt.
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Außerdem kann
eine erfindungsgemäße Vorrichtung
zum Testen eine oder mehrere der folgenden Charakteristiken aufweisen:
- – die
Speichermittel umfassen einen nichtflüchtigen Speicher;
- – die
Vorrichtung zum Testen umfasst Mittel zur Messung mindestens eines
Umgebungsparameters des Trägers
und Mittel zur Speicherung mindestens eines Werts dieses Umgebungsparameters;
- – der
Umgebungsparameter wird aus einer Temperatur, einer Beschleunigung,
der die Vorrichtung unterworfen ist, und einem Feuchtigkeitsgrad ausgewählt;
- – die
Vorrichtung zum Testen weist mehrere leitende Abschlüsse des
elektrischen Bauteils auf, die jeweils mit der Leiterplatte über eine
leitende Verbindung verbunden sind, wobei die getestete Schaltung
eine Kette beinhaltet, die von den leitenden Verbindungen gebildet
wird, die miteinander in Reihe verbunden sind;
- – die
getestete Schaltung weist einen Spannungsteiler auf, welcher Widerstandsmittel
beinhaltet, die mit der Kette in Reihe geschaltet sind;
- – die
Widerstandsmittel umfassen zwei resistive Zweipole, die parallel
geschaltet sind;
- – die
Mittel zur Detektion einer Unterbrechung umfassen Mittel zum Vergleich
eines Werts einer Ausgangsspannung des Spannungsteilers mit einem
vorbestimmten Schwellenwert;
- – die
Detektionsmittel umfassen Mittel zur logischen Analyse, die ausgestattet
sind mit mindestens einem Eingang, der mit der getesteten Schaltung
verbunden ist, und mit mindestens einem Ausgang, der mit den Speichermitteln
verbunden ist;
- – die
Mittel zur logischen Analyse sind mit mehreren Eingängen ausgestattet,
die jeweils mit einer entsprechenden getesteten Schaltung verbunden sind;
- – die
Mittel zur logischen Analyse gehören
zum Typ der programmierbaren logischen Anordnung FPGA (Field Programmable
Gate Array laut der englischen Terminologie) oder zum Mikrokontroller-Typ;
- – jeder
Eingang der Mittel zur logischen Analyse ist zwecks Redundanz verdoppelt;
- – die
Speichermittel umfassen einen flüchtigen Speicher
der Mittel zur logischen Analyse;
- – die
Mittel zur logischen Analyse weisen die Mittel zur Bestimmung eines
Versagens auf;
- – die
leitende Verbindung wird durch Hartlöten, Autogenschweißen, Druckkontaktierung
oder Pressfitting gebildet;
- – der
Träger
umfasst Mittel zur Verbindung mit einer externen Vorrichtung, die
insbesondere dazu gedacht sind, die Speichermittel mit der externen Vorrichtung
zu verbinden;
- – die
Vorrichtung zum Testen umfasst vom Träger getragene Mittel zwecks
Speicherung von Parametern für
den Funktionszustand der Vorrichtung im Fall einer Unterbrechung
der Stromversorgung dieser Vorrichtung.
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Des
Weiteren hat die Erfindung ein Verfahren zum Testen mindestens einer
leitenden Verbindung zur Aufgabe, die eine elektrische Verbindung zwischen
einem elektrischen Bauteil und einer Leiterplatte bildet, und zwar
jenes Typs, bei dem eine elektrische Unterbrechung einer getesteten
Schaltung, welche die leitende Verbindung aufweist, detektiert wird,
dadurch gekennzeichnet, dass die Unterbrechung mittels einer Vorrichtung
detektiert wird, wie sie oben definiert ist.
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Ferner
kann ein erfindungsgemäßes Verfahren
zum Testen eine oder mehrere der folgenden Charakteristiken aufweisen:
- – die
Unterbrechung wird durch Messung eines Parameters für permanenten
Betrieb der getesteten Schaltung detektiert, die kontinuierlich
gespeist wird;
- – die
Unterbrechung wird durch Messung eines Parameters für zeitweiligen
Betrieb der getesteten Schaltung detektiert, die in variabler Weise
gespeist wird, vorzugsweise impulsweise.
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Die
Erfindung erschließt
sich besserem Verständnis
bei Lektüre
der nachstehenden Beschreibung, die einzig als Beispiel gegeben
wird und unter Bezugnahme auf die 1 und 2 erfolgt,
die eine Vorrichtung zum Testen gemäß der ersten und der zweiten
Ausführungsform
der Erfindung schematisch darstellen.
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1 veranschaulicht
eine Vorrichtung zum Testen, die einer ersten Ausführungsform
der Erfindung entspricht und mit der allgemeinen Bezugsziffer 10 bezeichnet
ist.
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Diese
Vorrichtung 10 umfasst einen Träger, der eine Leiterplatte 12 bildet
und elektrische Bauteile 14, die jeweils mindestens einen
leitenden Abschluss 16 tragen, der mit der Leiterplatte über eine leitende
Verbindung 18 verbunden ist.
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Die
leitenden Verbindungen 18 verbinden die elektrischen Bauteile 14 mit
der Leiterplatte 12 nicht nur elektrisch, sondern auch
mechanisch.
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Im
veranschaulichten Beispiel sind die leitenden Verbindungen 18 vom
hartverlöteten
Typ, und bei den elektrischen Bauteilen 14 handelt es sich
um passive Dipole, beispielsweise vom resistiven Typ.
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Als
Variante dazu können
die elektrischen Bauteile 14 mehr als zwei Pole umfassen.
In diesem Fall könnten
die elektrischen Bauteile von jenem Typ sein, der oberflächenmontiert
ist, insbesondere vom BGA-Typ (Ball Grid Array laut der englischen
Terminologie).
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Die
Vorrichtung 10 ist dazu gedacht, die Zuverlässigkeit
der leitenden Verbindungen 18 zu testen, indem sie die
nicht zweckgemäßen Unterbrechungen
dieser leitenden Verbindungen 18 detektiert.
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Dazu
trägt die
Leiterplatte 12 Mittel 20 zur Detektion einer
elektrischen Unterbrechung einer getesteten Schaltung 22,
die mindestens eine leitende Verbindung 18 aufweist.
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Im
beschriebenen Beispiel umfasst die Vorrichtung 10 mehrere
getestete Schaltungen 22, von denen in 1 nur
eine einzige dargestellt ist.
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Vorzugsweise
weist jede getestete Schaltung 22 eine Kette auf, die durch
leitende Verbindungen 18 gebildet wird, die miteinander
in Reihe verbunden sind.
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Die
leitenden Verbindungen 18 ein und derselben Kette verbinden
die Leiterplatte 12 elektrisch mit mehreren leitenden Abschlüssen 16 eines
einzigen elektrischen Bauteils 14 oder mehrerer elektrischer
Bauteile 14.
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Die
Leiterplatte 12 trägt
auch Widerstandsmittel 24, die mit der Kette der getesteten
Schaltung 22 in Reihe geschaltet sind, so dass ein Spannungsteiler
P gebildet wird.
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Im
veranschaulichten Beispiel umfassen die Widerstandsmittel 24 zwei
resistive Zweipole 24A, 24B, die zwecks Redundanz
parallel geschaltet sind.
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Der
Spannungsteiler P umfasst zwei Anschlüsse B und E, zwischen denen
eine Eingangsspannung des Spannungsteilers angelegt wird.
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In
der Ausführungsform
aus 1 ist die zwischen den Anschlüssen B und E angelegte Spannung
eine kontinuierliche Spannung.
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Der
Spannungsteiler P umfasst auch einen Anschluss S, der zwischen die
getestete Schaltung 22 und die Widerstandsmittel 24 geschaltet
ist und einen Spannungsausgang des Spannungsteilers P bildet.
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Des
Weiteren umfassen die Detektionsmittel 20 Mittel 26 zur
logischen Analyse, die mit den Eingängen 30A, 30B ausgestattet
sind, die jeweils mit dem Ausgang S des Spannungsteilers P einer
entsprechenden getesteten Schaltung 22 verbunden sind.
Vorzugsweise ist jeder Eingang 30A, 30B zwecks
Redundanz verdoppelt.
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Im
veranschaulichten Beispiel umfassen die Mittel 26 zur logischen
Analyse eine Schaltung vom Typ der logischen programmierbaren Anordnung FPGA
(Field Programmable Gate Array laut der englischen Terminologie).
Diese Art von Mitteln zur logischen Analyse ist besonders gut an
die verhältnismäßig große Zahl
notwendiger Eingänge
angepasst.
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Als
Variante dazu könnten
die Mittel 26 zur logischen Analyse zum Mikrokontroller-Typ gehören.
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Die
Mittel 26 zur logischen Analyse umfassen herkömmliche
Mittel 32, die den Wert der Ausgangsspannung des Spannungsteilers
P mit einem vorbestimmten Schwellenwert vergleichen.
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Es
ist anzumerken, dass zu unterschiedlichen Eingängen unterschiedliche vorbestimmte Schwellenwerte
gehören
können.
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Ebenfalls
in 1 dargestellt sind herkömmliche Mittel 34,
die einen Oszillator bilden, und herkömmliche Mittel 36,
die einen Initialisierungsspeicher bilden. Diese Mittel 34, 36 sind
in an sich bekannter Weise mit den Mitteln 26 zur logischen
Analyse verknüpft.
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Die
Mittel 26 zur logischen Analyse werden mit Hilfe herkömmlicher
Mittel 38 elektrisch gespeist. Diese Versorgungsmittel 38 umfassen
herkömmliche Mittel,
die einen Regler 40 bilden, der mit den Mitteln 26 zur
logischen Analyse verbunden ist und sich zum Anschluss an eine außerhalb
der Vorrichtung 10 befindliche Stromversorgung mittels
herkömmlicher Verbindungsmittel 42 eignet.
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Die
Vorrichtung 10 zum Testen umfasst von der Leiterplatte 12 getragene
Mittel 44 zwecks Speicherung sukzessiver Daten von Unterbrechungen, die
von den Mitteln 20 detektiert werden.
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Vorzugsweise
umfassen die Speichermittel 44 einen nichtflüchtigen
Speicher 46 und einen flüchtigen Speicher 48,
der in die Mittel 26 zur logischen Analyse integriert ist.
Diese Mittel 26 zur logischen Analyse haben mindestens
einen Ausgang 50, der mit dem nichtflüchtigen Speicher 46 verbunden
ist.
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Im Übrigen lässt sich
der nichtflüchtige
Speicher 46 mit Hilfe herkömmlicher Verbindungsmittel 52 an
herkömmliche
Mittel anschließen,
welche diesen außerhalb
der Vorrichtung 10 befindlichen Speicher auslesen.
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Die
Mittel 26 zur logischen Analyse, der Regler 40 und
der nichtflüchtige
Speicher 46, die vom Träger 12 getragen
werden, bilden Mittel zur Speicherung von Parametern für den Funktionszustand der
Vorrichtung 10 im Fall einer Unterbrechung der Stromversorgung
dieser Vorrichtung.
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Zu
diesem Zweck ist der Regler 40 fähig, die Mittel 26 zur
logischen Analyse und den nichtflüchtigen Speicher 46 während einer
bestimmten Zeit im Anschluss an eine Unterbrechung der Stromversorgung
elektrisch zu speisen.
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Vorzugsweise
trägt die
Leiterplatte 12 auch Mittel 54 zur Messung mindestens
eines Umgebungsparameters dieser Leiterplatte 12 und Mittel zur
Speicherung mindestens eines Werts dieses Umgebungsparameters, die
beispielsweise vom flüchtigen
Speicher 48 gebildet werden.
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Im
veranschaulichten Beispiel stellt der von den Mitteln 54 gemessene
Umgebungsparameter eine Temperatur dar. Als Variante dazu könnte dieser Parameter
eine Beschleunigung sein, der die Vorrichtung 10 zum Testen
unterworfen ist, oder ein Feuchtigkeitsgrad.
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Die
Mittel 26 zur logischen Analyse erfüllen ihre typische Funktion,
wobei der Zustand der Eingänge
gemäß einem
von einer Uhr 56 getakteten Zyklus überwacht wird.
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Weiter
unten werden die mit der Erfindung in Zusammenhang stehenden Hauptaspekte
der Funktionsweise der Vorrichtung 10 zum Testen gemäß der ersten
Ausführungsform
beschrieben.
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Die
Vorrichtung 10 zum Testen, die mehrere zu testende Schaltungen 22 beinhaltet,
ist in einer herkömmlichen
Prüfkammer
untergebracht, um dort in Übereinstimmung
mit einem vorbestimmten Protokoll thermischen und mechanischen Belastungen ausgesetzt
zu werden.
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In
der Prüfkammer
ist die Vorrichtung 10 mithilfe der Verbindungsmittel 42 einzig
an die Mittel zur Stromversorgung angeschlossen. Die Prüfkammer kann
also eine verhältnismäßig große Anzahl
von Vorrichtungen 10 zum Testen aufweisen, wie jene, die
in der einzigen Figur dargestellt ist.
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Es
ist anzumerken, dass im Verlauf des Tests die Vorrichtung 10 Temperaturen
ausgesetzt wird, die beispielsweise von –40° bis +170°C variieren können. Folglich
wird der Fachmann Mittel 26 zur logischen Analyse und einen
nichtflüchtigen
Speicher 46 wählen,
welche diesen Temperaturen standhalten.
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Im
Verlauf des Tests überwachen
die Mittel 26 zur logischen Analyse die Eingänge 30A, 30B und stellen
die Veränderungen
von Zuständen
der Letzteren fest, welche Unterbrechungen der getesteten Schaltungen 22 entsprechen.
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So
wird eine Unterbrechung durch Messung eines Parameters für den permanenten
Betrieb der getesteten Schaltung 22 detektiert, die kontinuierlich gespeist
wird.
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Im
nichtflüchtigen 46 und/oder
flüchtigen 48 Speicher
speichern die Mittel 26 zur logischen Analyse die sukzessiven
Daten der verschiedenen Unterbrechungen sowie Angaben, welche die
getesteten Schaltungen 22 identifizieren, in denen diese
Unterbrechungen auftreten.
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Zumindest
im nichtflüchtigen
Speicher 46 zeichnen die Mittel 26 zur logischen
Analyse auch die Umgebungsparameter auf, die von den Mitteln 54 in dem
Moment gemessen werden, wo die Unterbrechungen der Schaltungen 22 auftreten.
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Am
Ende des Tests, der mehrere Tage dauern kann, können die im nichtflüchtigen
Speicher 46 gespeicherten Unterbrechungsdaten mit Hilfe
der Verbindungsmittel 52 abgerufen werden zwecks Übermittlung
zu herkömmlichen
Analysemitteln, die sich zur Identifizierung der Ausfälle der
verschiedenen getesteten Schaltungen 22 in Abhängigkeit
von der Historie der Unterbrechungen eignen.
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Ein
Versagen ist allgemein als die Manifestation einer vorbestimmten
Anzahl sukzessiver Unterbrechungen definiert, die in ein und derselben
getesteten Schaltung auftreten, und das innerhalb eines vorbestimmten
Zeitintervalls.
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Da
der Test eine Serie von Zyklen vorsieht, speichern die Mittel 26, 40, 46 im
Fall einer Unterbrechung der Stromversorgung der Vorrichtung 10 insbesondere
die Anzahl bereits erfolgter Zyklen und die verbleibende Dauer jenes
Zyklus, der gerade abläuft.
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Als
Variante dazu könnten
die Mittel zur Bestimmung des Versagens in die Mittel 26 zur
logischen Analyse integriert sein, und so würden die Bestimmungsmittel
von der integrierten Schaltung 12 getragen. In diesem Fall
würde die
Bestimmung der Ausfälle
im Verlauf des Tests vorgenommen, beispielsweise ausgehend von den
im flüchtigen
Speicher 48 gespeicherten Informationen.
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In 2 ist
eine Vorrichtung zum Testen gemäß einer
zweiten Ausführungsform
der Erfindung dargestellt. In dieser 2 sind die
Bauteile, die analog zu jenen aus 1 sind,
mit identischen Bezugsziffern bezeichnet.
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Bei
dieser Ausführungsform
handelt es sich um Zweipole 14 kapazitiven Typs.
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Die
Mittel 26 zur logischen Analyse weisen einen Ausgang 31A, 31B auf,
der zwecks Redundanz verdoppelt ist und der mit dem Anschluss E
verbunden ist.
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Die
Mittel 26 zur logischen Analyse enthalten auch Mittel 33 zur
Erzeugung einer Impulsspannung, die zwischen die Anschlüsse E und
B der getesteten Schaltung 22 gelegt werden soll.
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Bei
dieser Ausführungsform
wird eine Unterbrechung der getesteten Schaltung 22 durch
Messung eines Parameters für
zeitweiligen Betrieb der getesteten Schaltung 22 detektiert,
die in variabler Weise, vorzugsweise impulsweise, durch die Mittel 26 zur
logischen Analyse gespeist wird.
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Die
Erfindung beschränkt
sich nicht auf die oben beschriebenen Ausführungsformen.
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Insbesondere
kann die Leiterplatte 12 mit Kontrollleuchten ausgestattet
sein, die jeweils in der Lage sind anzugehen, wenn eine Unterbrechung oder
ein Ausfall in einer getesteten Schaltung 22 auftritt.
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Unter
den Vorteilen der Erfindung ist zu erwähnen, dass die Vorrichtung 10 die
Möglichkeit
eröffnet,
leitende Verbindungen zu testen, welche die Leiterplatte mit Bauteilen
ganz unterschiedlichen Typs verbinden, seien sie aktiv oder passiv.