DE102009046262A1 - Optische Messvorrichtung - Google Patents

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Abstract

Die vorliegende Erfindung schafft eine optische Messvorrichtung, die eine hochgenaue Messung in Bezug auf ein Messzielobjekt, bei welchem eine geneigte Oberfläche oder eine gekrümmte Oberfläche an einem Teil der Oberfläche vorliegt oder in Bezug auf ein gekipptes Messzielobjekt ermöglicht. Der Lichtabschirmungsabschnitt ist so aufgebaut, dass er einen Einfallswinkelbereich in Bezug auf eine Lichtempfangsachse von diffus reflektiertem Licht definiert. Anders ausgedrückt, wird ein Maximalwinkel, der durch die Ausbreitungsrichtung des diffus reflektierten Lichts und die Lichtempfangsmittelachse, wenn das diffus reflektierte Licht die Öffnung des Lichtabschirmungsabschnitts durchläuft, gebildet wird, durch den Durchmesser der Öffnung definiert. Der Lichtprojektionsabschnitt projiziert ein Lichtprojektionsbündel so, dass eine Bündelungsposition auf der Lichtempfangsmittelachse für die Komponente des Lichtprojektionsbündels (d.h., reflektierten Lichtbündels), das an der Oberfläche des Messzielobjekts spiegelreflektiert wird, innerhalb eines Bereichs des Lichtabschirmungsabschnitts auf der Lichtempfangsmittelachse enthalten ist.

Description

  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • Die vorliegende Anmeldung basiert auf der japanischen Patentanmeldung Nr. 2008-292311 , eingereicht beim Japanischen Patentamt am 14. November 2008, deren gesamter Inhalt hiermit durch Bezugnahme aufgenommen wird.
  • 1. TECHNISCHES GEBIET
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf optische Messvorrichtungen, insbesondere ein optisches System, das in einer optischen Messvorrichtung angeordnet ist.
  • 2. STAND DER TECHNIK
  • Eine Sensorvorrichtung zur Messung von Versetzung, Länge, Winkel und dergleichen verschiedener Messzielobjekte ist bekannt. Beispielsweise ist eine optische Messvorrichtung (auch als „Versetzungssensor” bezeichnet) bekannt, die ein Lichtschneidverfahren verwendet, wobei die optische Messvorrichtung eine Lichtprojektionseinheit zum Formen von Licht einer Lichtquelle zu einem Linienbündel und Bestrahlen einer Oberfläche eines Messzielobjekts mit dem Licht unter einem bestimmten Winkel, eine Fotografiereinheit zum Fotografieren einer Linienbündeleinstrahlungsposition auf der Oberfläche des Messzielobjekts unter Verwendung eines zweidimensionalen Abbildungselements aus einer Richtung, die von der Einstrahlrichtung des Linienbündels verschieden ist, und Gewinnung eines Bildes, welches ein Schnittkonturbild einer Lichtschnittoberfiäche enthält, sowie eine Messeinheit zur Erzeu gung eines Messwerts und/oder eines Bestimmungswerts durch Ausführen eines bestimmten Messvorgangs beruhend auf dem mit der Fotografiereinheit erhaltenen Schnittkonturbild der Lichtschnittoberfläche.
  • Die oben beschriebenen optische Messvorrichtung misst die Versetzung durch Anwenden des Triangulationsprinzips, wobei sich die optische Messvorrichtung nach der Art des von einem Messzielbereich reflektierten Lichts, das die Abbildungseinheit empfängt, grob in zwei Arten unterscheiden lässt. Die eine Art ist eine Methode eines direkten Empfangs von an einem Objekt spiegelreflektiertem Licht und die andere Art eine Methode des Projizierens eines Projektionsbündels senkrecht auf die Messoberfläche und Empfangens eines diffus reflektierten Lichts aus dem reflektierten Licht.
  • Die Richtung einer durch den Querschnitt des Linienbündels gebildeten Linie entspricht einer Vertikalabtastrichtung (oder Horizontalabtastrichtung) im Gesichtsfeld des zweidimensionalen Fotografierelements. Die Richtung, in der sich das durch das Linienbündel gebildete Schnittkonturbild im Gesichtsfeld des zweidimensionalen Abbildungselements bewegt, wenn sich der Abstand zwischen der Messvorrichtung (im Allgemeinen ein Sensorkopf) und dem Messzielobjekt ändert, entspricht der Horizontalabtastrichtung (oder Vertikalabtastrichtung). Damit wird das Schnittkonturbild der Lichtschnittoberfläche an der Lichtempfangsoberfläche des zweidimensionalen Abbildungselements ausgebildet.
  • Gemäß einer solchen optischen Messvorrichtung lässt sich, da ein Linienbündel mit linearem Querschnitt als Schnittlicht verwendet wird, die Information einer Folge von Messpunkten entlang einer konstanten Linie auf der Oberfläche des Messzielobjekts kollektiv erfassen, ohne das Schnittlicht und das Messzielobjekt relativ zueinander zu bewegen, wie eine Vorrichtung, die Punktlicht mit gepunktetem Querschnitt als das Schnittlicht verwendet. Bei Anwendung auf Test etc. von Industrie produkten, die sich entlang einer Produktionsstraße bewegen, lässt sich also ein jeder Abschnitt der Oberfläche des Messzielobjekts beruhend auf der Information der Folge von Messpunkten genau messen, wobei sich eine Defektfeststellung für das Produkt und dergleichen rasch und zuverlässig durchführen lässt.
  • Bei Tests etc. eines Industrieprodukts dieser Art müssen Messzielobjekte mit unterschiedlichen Formen berücksichtigt werden. Beispielsweise ist bei einigen Industrieprodukten die reflektierte Lichtmenge, die der Sensor erhalten kann, teilweise unterschiedlich, da ein Teil der Oberfläche eine geneigte Oberfläche oder gekrümmte Oberfläche ist. Bei einem Testen solcher Industrieprodukte (Messung einer Oberflächenversetzung und dergleichen), wird das Bild infolge eines Mangels an reflektierter Lichtmenge dunkel, oder es kann sein, dass eine normale Messung nicht durchgeführt werden kann, da kein Licht erhalten werden kann.
  • Die japanische Patentveröffentlichung Nr. 3575693 (Patentdokument 1) beschreibt eine optische Messvorrichtung, welche zur Lösung obiger Probleme eine Anzahl von Bildern mit unterschiedlichen Fotografierbedingungen synthetisiert und die Messung beruhend auf dem synthetisierten Bild durchführt.
  • ÜBERBLICK
  • Gemäß der in der japanischen Patentveröffentlichung Nr. 3575693 (Patentdokument 1) beschriebenen Technik wird die Messung einer Versetzung als möglich für ein Messzielobjekt erachtet, bei welchem vorab bekannt ist, dass ein Teil der Oberfläche eine geneigte Oberfläche oder eine gekrümmte Oberfläche ist. In seltenen Fällen jedoch enthalten die zahllosen Industrieprodukte, die auf einer Fertigungsstraße laufen, gelegentlich Produkte, die sich als Folge eines Verfangens in einem Ge stell, in einem geneigten Zustand bewegen. Ob sich die Oberflächenversetzung des Objekts auch dann messen lässt, wenn das Messzielobjekt infolge unvorhersagbarer Gründe gekippt ist, ist in der japanischen Patentveröffentlichung Nr. 3575693 nicht besonders beschrieben. Ein solches Ereignis vorwegnehmend, erfolgt eine Überlegung dahingehend, gleichförmig eine Anzahl von Bildern in Bezug auf alle Messzielobjekte aufzunehmen und die Bilder zu synthetisieren, um die Versetzung eines jeden Messzielobjekts zu messen. In diesem Fall ist jedoch davon auszugehen, dass die Produktivität der Fertigungsstraße sinkt.
  • Die vorliegende Erfindung erfolgte unter der Überlegung, die oben beschriebenen Probleme zu lösen, wobei es eine Aufgabe derselben ist, eine optische Messvorrichtung bereitzustellen, die eine hochgenaue Messung in Bezug auf ein Messzielobjekt ermöglicht, bei welchem eine geneigte Oberfläche oder eine gekrümmte Oberfläche in einem Teil der Oberfläche vorliegt, oder welches ein gekipptes Messzielobjekt ist.
  • Zusammenfassend bezieht sich die Erfindung auf eine optische Messvorrichtung, welche einen Lichtprojektionsabschnitt, einen Lichtempfangsabschnitt und einen Messverarbeitungsabschnitt enthält. Der Lichtprojektionsabschnitt projiziert Bestrahlungslicht auf ein Messzielobjekt, das in einem Messbereich vorhanden ist. Der Lichtempfangsabschnitt empfängt reflektiertes Licht sowohl als diffus reflektiertes Licht als auch spiegelreflektiertes Licht, das erzeugt wird, wenn das Bestrahlungslicht an einer Oberfläche des Messzielobjekts aus einer Richtung reflektiert wird, bei welcher sich der Ort eines Reflexionslicht-Bildes ändert, das gemäß einer Versetzung der Oberfläche des Messzielobjekts erhalten ist, und gewinnt ein Bild des Reflexionslicht-Bildes. Der Messverarbeitungsabschnitt misst die Versetzung der Oberfläche des Messzielobjekts, die das Einstrahlungslicht reflektiert, beruhend auf dem mit dem Lichtempfangsabschnitt gewonnenen Bild. Der Lichtempfangsabschnitt enthält einen Bildgebungsabschnitt, einen Abbildungsabschnitt und einen Lichtabschirmungsabschnitt. Der Bildgebungsabschnitt gewinnt als Bild ein Bild des einfallenden Lichts. Der Abbildungsabschnitt führt herbei, dass der Bildgebungsabschnitt mit dem reflektierten Licht, das erzeugt wird, wenn das von dem Lichtprojektionsabschnitt projizierte Bestrahlungslicht an der Oberfläche des Messzielobjekts reflektiert wird, ein Bild erzeugt. Der Lichtabschirmungsabschnitt definiert, wenn das Bestrahlungslicht an dem im Messbereich vorliegenden Messzielobjekt diffus reflektiert wird, einen Einfallswinkelbereich für das den Bildgebungsabschnitt erreichende diffus reflektierte Licht in Bezug auf eine optische Mittelachse des Abbildungsabschnitts in Bezug auf eine Komponente, die parallel zu einer bestimmten Ebene ist, welche eine optische Mittelachse des Abbildungsabschnitts des diffus reflektierten Lichts enthält. Der Lichteinstrahlabschnitt strahlt das Bestrahlungslicht so ein, dass, wenn das Bestrahlungslicht an dem in dem Messbereich vorhandenen Messzielobjekt spiegelreflektiert wird, eine zu der bestimmten Ebene des spiegelreflektierten Lichts des Bestrahlungslichts parallele Komponente an einer Position in der Richtung der optischen Mittelachse des Abbildungsabschnitts konvergiert, an der der Lichtabschirmungsabschnitt vorliegt.
  • Die „Position in Richtung der optischen Mittelachse, wo der Lichtabschirmungsabschnitt vorliegt” schließt einen Fall ein, in welchem die Position des Lichtabschirmungsabschnitts in Richtung der optischen Mittelachse des Abbildungsabschnitts sich an der gleichen Position an beiden Enden im Einfallswinkelbereich des definierten diffus reflektierten Lichts befindet, und einen Fall, in welchem die Position des Lichtabschirmungsabschnitts in Richtung der optischen Mittelachse des Abbildungsabschnitts sich an unterschiedlichen Positionen befindet. Wenn sich der Lichtabschirmungsabschnitt an unterschiedlichen Positionen an beiden Enden des Einfallswinkelbereichs des definierten diffus reflektierten Lichts befindet, schließt dies einen Fall ein, in welchem die Kompo nente parallel zu der bestimmten Ebene des spiegelreflektierten Lichts in den Bereich der Richtung der optischen Mittelachse des Bildbildungsabschnitts gebündelt wird, wo solche Positionen vorhanden sind.
  • Vorzugsweise bringt der Lichtprojektionsabschnitt ein Linienbündel zu dem im Messbereich vorliegenden Messzielobjekt hin als das Bestrahlungslicht auf. Der Lichtempfangsabschnitt empfängt reflektiertes Licht des an der Oberfläche des Messzielobjekts reflektierten Linienbündels aus einer Richtung, bei welcher sich eine Verteilung der Position des Reflexionslichtbildes, das in Entsprechung zur Versetzung der Oberfläche des Messzielobjektes erhalten wurde, für eine Verteilung des Bündels in einer Linienrichtung auf der Oberfläche des Messzielobjekts ändert. Die bestimmte Ebene ist eine Ebene, die senkrecht zu einer Einfallsebene ist, die eine optische Mittelachse des aus dem Lichtprojektionsabschnitt aufgebrachten Linienbündels und eine optische Mittelachse des Abbildungsabschnitts enthält, und die die optische Mittelachse des Abbildungsabschnitts enthält.
  • Vorzugsweise bringt der Lichtprojektionsabschnitt ein Linienbündel zu dem im Messbereich vorliegenden Messzielobjekt hin als das Bestrahlungslicht auf. Der Lichtempfangsabschnitt empfängt reflektiertes Licht des an der Oberfläche des Messzielobjekts reflektierten Linienbündels aus einer Richtung, bei welcher sich eine Verteilung der Position des Reflexionslichtbildes, das in Entsprechung zur Versetzung der Oberfläche des Messzielobjekts erhalten wurde, für eine Verteilung des Bündels in einer Linienrichtung auf der Oberfläche des Messzielobjekts ändert. Wenn ein planes Messzielobjekt im Messbereich unter einer Neigung innerhalb eines vorab definierten Messzielbereichs angeordnet wird, ist die bestimmte Ebene eine Ebene, die zur Linienrichtung des Reflexionslichtbündels, das erzeugt wird, wenn das Linienbündel aus dem Lichtprojektionsabschnitt an der Oberfläche des Messzielobjekts reflektiert wird, an der Oberfläche des Messzielobjekts und zu der optischen Mittelachse des Bildbildungsabschnitts parallel ist.
  • Die „Neigung innerhalb des vorab definierten Messzielbereichs” ist die Neigung innerhalb eines messbaren (definiert als Messziel durch Spezifikation) Winkelbereichs des Messzielobjekts, der vorab beruhend auf Spezifikation und dergleichen durch die optische Messvorrichtung definiert wird.
  • Vorzugsweise ist der Lichtabschirmungsabschnitt mit einer kreisförmigen Öffnung mit der optischen Mittelachse des Abbildungsabschnitts als Mitte ausgebildet. Die Lichtabschirmung schirmt das Licht außerhalb der kreisförmigen Öffnung ab.
  • Vorzugsweise ist der Abbildungsabschnitt durch ein Objektiv, in welchem eine Anzahl von Linsen kombiniert ist, gebildet. Der Lichtabschirmungsabschnitt ist zwischen den Linsen, die an beiden Enden in Bezug auf eine Aufreihungsrichtung der Anzahl von Linsen angeordnet sind, definiert.
  • Vorzugsweise ist der Abbildungsabschnitt eine Einzellinse. Eine Konvergierungsposition in Richtung der optischen Mittelachse des Bildbildungsabschnitts liegt innerhalb der Einzellinse für die zu der bestimmten Ebene des spiegelreflektierten Lichts des Bestrahlungslichts parallele Komponente.
  • Vorzugsweise definiert der Lichtabschirmungsabschnitt den Einfallswinkelbereich in Bezug auf die optische Mittelachse des Abbildungsabschnitts für die zu der bestimmten Ebene parallele Komponente des diffus reflektierten Lichts anhand eines an der Oberfläche des Messzielobjektes vorab definierten effektiven Messbereichs.
  • Vorzugsweise projiziert der Lichtprojektionsabschnitt das Lichtbündel so, dass eine Bündelbreite in Richtung parallel zur bestimmten Ebene mit Fortschreiten des Lichtbündels von dem Lichtprojektionsabschnitt zu dem Lichtempfangsabschnitt allmählich kleiner wird. Die be stimmte Ebene ist eine Ebene, die senkrecht zu einer Einfallsebene ist, die eine optische Mittelachse des von dem Lichtprojektionsabschnitt aufgebrachten Linienbündels und eine optische Mittelachse, die als optische Mittelachse des Abbildungsabschnitts dient, enthält, und die die optische Mittelachse des Bildbildungsabschnitts enthält.
  • Gemäß der optischen Messvorrichtung der vorliegenden Erfindung lässt sich eine hochgenaue Messung auf einem Messzielobjekt, bei welchem eine geneigte Oberfläche oder eine gekrümmte Oberfläche in einem Teil der Oberfläche, die eine Spiegelreflexionskomponente enthält, vorliegt, oder an einem gekippten Messzielobjekt durchführen.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • 1 ist eine perspektivische Darstellung des äußeren Erscheinungsbildes einer Signalverarbeitungseinheit 1 und eines Sensorkopfes 2 einer optischen Messvorrichtung der vorliegenden Ausführungsform;
  • 2 ist eine Darstellung, die das von einer Sensorkopfeinheit aufgebrachte Laserlicht beschreibt;
  • 3 ist ein Blockdiagramm, welches einen gesamten elektrischen Hardware-Aufbau der Signalverarbeitungseinheit 1 aus 1 zeigt;
  • 4 ist ein Blockdiagramm, welches einen elektrischen Hardware-Aufbau der Sensorkopfeinheit 2 zeigt;
  • 5 ist eine Darstellung, die einen Schnittaufbau des optischen Systems der Sensorkopfeinheit 20 zeigt;
  • 6A bis 6D sind Ansichten, die ein Beispiel eines Aufbaus des optischen Lichtempfangssystems 203b zeigt;
  • 7 ist eine schematische Darstellung, die die Anordnung des Lichtempfangsabschnitts gemäß der Scheimpflug-Regel zeigt.
  • 8 ist eine Darstellung, die das Bestrahlungslicht von und das reflektierte Licht zu der Sensorkopfeinheit zeigt;
  • 9 ist eine Darstellung, die ein Bild zeigt, das durch Abbilden des reflektierten Lichts als Schnittkonturbild mit dem zweidimensionalen Abbildungselement gewonnen ist;
  • 10A und 10B sind schematische Aufbaudarstellungen, die das optische System der vorliegenden Ausführungsform längs einer Richtung parallel zur Bündelkonvergierungsfläche zeigen;
  • 11A und 11B sind Darstellungen, die die Bahn des an der Oberfläche des Messzielobjekts diffus reflektierten Lichtbündels beschreiben;
  • 12A und 12B sind Darstellungen, die die Bahn des an der Oberfläche des Messzielobjekts reflektierten Lichtprojektionsbündels beschreiben;
  • 13 ist eine Darstellung, die einen Zustand beschreibt, in dem die Konvergierposition des reflektierten Lichtbündels nicht im Bereich des Lichtabschirmungsabschnitts vorliegt;
  • 14A und 14B sind schematische Darstellungen, die ein Beispiel für den Aufbau des optischen Lichtempfangssystems des in 13 gezeigten optischen Systems zeigen;
  • 15 ist eine schematische Darstellung, die die Bahn des reflektierten Lichtbündels zeigt, wenn das Messzielobjekt 5 nach links und rechts in dem in 13 gezeigten optischen System geneigt ist;
  • 16 ist eine schematische Darstellung, die die Bahn des reflektierten Lichtbündels zeigt, wenn das Messzielobjekt 5 nach vorne und hinten in dem in 13 gezeigten optischen System geneigt ist;
  • 17 ist eine schematische Darstellung, die die Bahn des reflektierten Lichtbündels zeigt, wenn die Oberfläche des Messzielobjekts geneigt ist;
  • 18 ist eine Darstellung, die einen Zustand zeigt, in dem die Sensorkopfeinheit 20 des Messzielobjekts 5 nach links und rechts gekippt ist;
  • 19 ist eine schematische Darstellung, die die Bahn des reflektierten Lichtbündels zeigt, wenn das Messzielobjekt 5 nach links und rechts in der vorliegenden Ausführungsform geneigt ist;
  • 20 ist eine schematische Darstellung, die die Bahn des reflektierten Lichtbündels zeigt, wenn das Messzielobjekt 5 nach vorne und hinten in der vorliegenden Ausführungsform geneigt ist;
  • 21 ist eine Darstellung, die die Bahn des reflektierten Lichts zeigt, wenn die Oberfläche des Messzielobjekts in der vorliegenden Ausführungsform geneigt ist;
  • 22 ist eine Darstellung, die einen Zustand zeigt, in dem in der vorliegenden Ausführungsform die Sensorkopfeinheit 20 bezüglich des Messzielobjekts 5 nach links und rechts geneigt ist; und
  • 23 ist eine Darstellung, die einen Brennpunktsort beschreibt, wenn der Linsenabschnitt des optischen Lichtempfangssystems als Einzellinse aufgebaut ist.
  • DETAILLIERTE BESCHREIBUNG
  • Nachfolgend werden bevorzugte Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung unter Bezugnahme auf die Zeichnungen beschrieben. Gleiche Bezugszeichen werden für die gleichen oder entsprechende Abschnitte der Figuren vergeben, wobei deren Beschreibung nicht wiederholt wird.
  • Aufbau der optischen Messvorrichtung
  • Zunächst wird ein schematischer Aufbau einer optischen Messvorrichtung (Versetzungssensor) gemäß der vorliegenden Ausführungsform unter Verwendung der 1 bis 4 beschrieben.
  • Die optische Messvorrichtung der vorliegenden Ausführungsform ist ein Versetzungssensor vom sogenannten Getrenntverstärkertyp, bei welchem eine Signalverarbeitungseinheit und eine Sensorkopfeinheit getrennt sind, um eine kompakte Aufnahme auf einer Steuerplatte und dergleichen zu ermöglichen, und um die Installation in einer kleinen Messumgebung zu erleichtern.
  • 1 ist eine perspektivische Darstellung einer äußeren Erscheinungsbildes einer Signalverarbeitungseinheit 1 und einer Sensorkopfeinheit 2 der optischen Messvorrichtung der vorliegenden Ausführungsform. Unter Bezug auf 1 hat ein Außenschalengehäuse 10 der Signalverarbeitungseinheit 1 eine leicht langgestreckte rechteckige massive Form. Wenngleich nicht dargestellt, wird eine Außenanschlussschnur aus der Frontfläche des Außenschalengehäuses 10 herausgezogen. Die Außenanschlussschnur enthält eine externe Eingangsleitung, eine externe Ausgangsleitung, eine Spannungsversorgungsleitung und dergleichen. Die externe Eingangsleitung liefert von außen verschiedene Arten von Befehlen einer SPS (programmierbare Steuerung) und dergleichen, die als übergeordnete Vorrichtung zur Signalverarbeitungseinheit 1 dient. Die externe Ausgangsleitung gibt eine Schaltausgabe, eine analoge Ausgabe und dergleichen, die innerhalb der Signalverarbeitungseinheit 1 erzeugt werden, auf die SPS und dergleichen aus. Die Spannungsversorgungsleitung liefert Spannung an die internen Schaltkreise der Signalverarbeitungseinheit. Wenngleich nicht dargestellt, enthält die Unterseite des Außenschalengehäuses einen USB-(Universal Serial Bus)Anschluss sowie einen RS-233C-Anschluss.
  • Ein Bedienungseinheitdeckel 14, der sich öffnen und schließen lässt, ist an der Oberseite des Außenschalengehäuses 10 angeordnet. Eine Bedieneinheit zur Durchführung verschiedener Arten von Befehlsoperationen und dergleichen an der Signalverarbeitungseinheit 1 ist unter dem Bedieneinheitdeckel 14 vorgesehen. Eine Anzeigeeinheit 15 zur Anzeige von Messzielbildinformation und von mit der Sensorkopfeinheit 2 gewonnenen Messergebnissen, von Messwert, Einstellbildschirm und dergleichen ist an der Oberseite des Außenschalengehäuses 10 angeordnet.
  • Ein Intersignalverarbeitungseinheit-Verbinderdeckel 16 ist an den linken und rechten Seitenflächen des Außenschalengehäuses 10 angeordnet. Ein Intersignalverarbeitungseinheit-Verbinder zum Anschließen einer weiteren Signalverarbeitungseinheit 1 ist auf der Innenseite des Intersignalverarbeitungseinheit-Verbinderdeckels 16 angeordnet. Eine Anzahl von Signalverarbeitungseinheiten 1 lässt sich in einer Reihe nebeneinander liegend gekoppelt über eine DIN-Schiene miteinander verbinden. Eine Anschlussbuchse 17 zum Anschließen einer Sensorkopfeinheit 1 ist an der oberen Seite des Außenschalengehäuses 10 der Signalverarbeitungseinheit 1 angeordnet. Die Signalverarbeitungseinheit 1 ist mit der nachfolgend zu beschreibenden Sensorkopfeinheit 2 über die Anschlussbuchse 17 für die Sensorkopfeinheit 1 verbunden.
  • Die Sensorkopfeinheit 2 enthält einen Anschlussstecker 27 zum Anschließen der Signalverarbeitungseinheit 1, der der Anschlussbuchse 17 für die Sensorkopfeinheit entspricht, ein Kabel 21 und eine Sensorkopfkörpereinheit 20.
  • Die Sensorkopfkörpereinheit 20 bestrahlt das Messzielobjekt mit Laserlicht aus einem Lichtprojektionsfenster 51 und empfängt das an dem Messzielobjekt reflektierte Licht an einem Lichtempfangsfenster 52. Die Sensorkopfkörpereinheit 20 fotografiert die Oberfläche des Messzielobjekts aus einem Winkel, bei welchem die Position des Lichtbildes gemäß der Form des Messzielobjekts geändert erscheint, und gibt die Daten des aufgenommenen Bildes als Videosignal aus.
  • 2 ist eine Darstellung, die das von der Sensorkopfkörpereinheit aufgebrachte Laserlicht beschreibt. Wie in 2 gezeigt, durchläuft gepulstes Laserlicht, das von einem in der Sensorkopfkörpereinheit 20 eingebauten Lichtprojektionselement (Laserdiode) ausgeht, eine (nicht dargestellte) Lichtprojektionslinse, wobei die Oberfläche des Messzielobjekts 5 mit einem solchen Laserlicht in Form eines Linienbündels (L1) bestrahlt wird. Auf diese Weise wird ein Bestrahlungslicht-Bild LM des Linienbündels (nachfolgend als Schnittkonturbild bezeichnet) auf der Oberfläche des Messzielobjekts 5 ausgebildet.
  • Das an dem Messzielobjekt 5 reflektierte Reflexionslicht 12 des Linienbündels durchläuft die (nicht dargestellte) Lichtempfangslinse in der Sensorkopfeinheit 2 und tritt in das zweidimensionale Abbildungselement (Fotodiodenfeld, CCD, CMOS, Abbildungselement, etc.) ein.
  • Anders ausgedrückt, wird das das Bestrahlungslicht-Bild LM enthaltende Videosignal des Linienbündels durch Aufnehmen der Oberfläche des Messzielobjekts 5 mit dem zweidimensionalen Abbildungselement aus einer Richtung, die von der Bestrahlungsrichtung des Linienbündels verschieden ist, gewonnen. Eine bestimmte Merkmalsgröße wird beruhend auf einem solchem Video-Signal extrahiert und eine Verteilung längs des Bestrahlungslicht-Bilds LM die Zielversetzungsgröße (Abstand zwischen der Sensorkopfkörpereinheit 20 und dem Messzielobjekt 5 in diesem Beispiel) gewonnen.
  • 3 ist ein Blockdiagramm, welches einen gesamten elektrischen Hardware-Aufbau der Signalverarbeitungseinheit 1 aus 1 zeigt. Wie in 3 gezeigt, enthält die Signalverarbeitungseinheit 1 einen Steuerabschnitt 101, einen Speicherabschnitt 102, einen Anzeigeabschnitt 103, einen Kommunikationsabschnitt 104 mit der Sensorkopfeinheit 2, einen Kommunikationsabschnitt 105 mit einer externen Vorrichtung, einen Tasteneingabeabschnitt 106, einen Externeingabeab schnitt 107, einen Ausgabeabschnitt 108 sowie einen Spannungsversorgungsabschnitt 109.
  • Der Steuerabschnitt 101 wird durch die CPU (Central Processing Unit) und das FPGA (Field Programmable Gate Array) aufgebaut und führt eine umfassende Steuerung der gesamten Signalverarbeitungseinheit 1 durch. Der Steuerabschnitt 101 führt den oben beschriebenen Messvorgang durch Umsetzung verschiedener Arten von nachfolgend zu beschreibenden Funktionen beruhend auf dem Videosignal aus der Sensorkopfeinheit 2 aus und binarisiert auch das Videosignal mit einem bestimmten Schwellenwert als Referenz und gibt dieses an dem Ausgabeabschnitt 108 als Ausgangsdaten aus.
  • Der Speicherabschnitt 102 enthält einen nicht-flüchtigen Speicher (EEPROM) 102a und einen Bildspeicher 102b zur Speicherung der auf dem Anzeigeabschnitt 103 anzuzeigenden Bilddaten. Als nicht-flüchtiger Speicher 102a kann auch ein Flash-Speicher verwendet werden.
  • Der Anzeigeabschnitt 103 enthält eine Flüssigkristallanzeigeteil 103a, auf welchem verschiedene numerische Werte etc., die zu dem Schwellenwert und dem Abstand zu dem Messzielobjekt in Beziehung stehen, angezeigt werden, sowie eine Anzeigelampe LED 103b, die den EIN/AUS-Zustand etc. wiedergibt, welches die Zielausgabe ist. Der Kommunikationsabschnitt 104 kommuniziert mit der Sensorkopfeinheit 2.
  • Der Kommunikationsabschnitt 105 enthält einen USB-Kommunikationsteil 105a für den Anschluss an einen externen Personal Computer (PC) 110, einen seriellen Kommunikationsteil 105b, der beim Senden und Empfangen von Befehlen und Programmdaten und dergleichen verwendet wird, sowie einen Intersignalverarbeitungseinheit-Kommunikationsteil 105c zur Durchführung einer Datenkommunikation mit einer auf der linken oder rechten Seite benachbarten Signalverarbeitungsein heit gemäß einem bestimmten Protokoll und einem bestimmten Sende/Empfangs-Format.
  • Der Tasteneingabeabschnitt 106 wird durch einen Schalter, einen Betätigungsknopf und dergleichen für verschiedene Arten von Einstellungen (nicht dargestellt) aufgebaut. Der externe Eingabeabschnitt 107 empfängt beispielsweise verschiedene Arten von Befehlen in Bezug auf die Signalverarbeitungseinheit 1 von einer höherrangigen Vorrichtung, wie etwa der SPS. Der Ausgabeabschnitt 108 wird zur Ausgabe der Ziel-EIN/AUS-Ausgabe auf die höherrangige Vorrichtung, wie etwa die SPS, verwendet. Der Spannungsversorgungsabschnitt 109 liefert Spannung an den Steuerabschnitt 101 und die externe Hardware-Schaltung.
  • 4 ist ein Blockdiagramm, welches einen elektrischen Hardwareaufbau der Sensorkopfeinheit 2 zeigt. Wie in 4 gezeigt, enthält die Sensorkopfeinheit 2 einen Steuerabschnitt 201, einen Lichtprojektionsabschnitt 202 zur Aufbringung des Linienbündels auf das Messzielobjekt 5, einen Lichtempfangsabschnitt 203 für den Empfang des nach Reflektieren an dem Messzielobjekt 5 erreichten Lichtbündels, eine Anzeigelampe LED 204, einen Speicherabschnitt 205, sowie einen Kommunikationsabschnitt 206.
  • Der Steuerabschnitt 201 wird durch die CPU (Central Processing Unit) und die PLD (Programmable Logic Device) aufgebaut und führt eine umfassende Steuerung der einzelnen Konfigurationselemente 202 bis 206 der Sensoreinheit 2 aus und führt auch einen Vorgang des Gewinnens des Lichtempfangssignals vom Lichtempfangsabschnitt 203 und Senden desselben an die Signalverarbeitungseinheit 1 durch.
  • Der Lichtprojektionsabschnitt 202 enthält eine Laserdiode, die als Lichtprojektionselement dient sowie eine Lichtprojektionsschaltung und gibt das Linienbündel auf den Messzielbereich hin auf. Wenngleich nicht dargestellt, weist die Lichtprojektionsschaltung eine APC-(Auto Power Control)Funktion auf und überwacht die Lichtausgabe der Laserdiode und führt das Ergebnis auf den Ansteuerstrom zur Versorgung derselben an die Laserdiode zurück, womit die Lichtausgabe der Laserdiode konstant gehalten wird.
  • Der Lichtempfangsabschnitt 203 enthält ein zweidimensionales Abbildungselement (Fotodiodenfeld, CCD, CMOS Abbildungselement, etc.) für den Empfang des reflektierten Lichts des Linienbündels und führt die Gewinnung des Bildes des empfangenen Lichts sowie einen Lichtempfangssignalverarbeitungsabschnitt zur Verstärkung des von dem zweidimensionalen Abbildungselement her erhaltenen Lichtempfangssignals und Ausgabe desselben auf den Steuerabschnitt 201 in Synchronisation mit einem Zeitsteuersignal aus dem Steuerabschnitt 201. Die Anzeigelampe LED 204 wird in Entsprechung zu verschiedenen Betriebszuständen der Sensorkopfeinheit 2 auf EIN oder AUS geschaltet.
  • Der Steuerabschnitt 205 wird durch einen nicht-flüchtigen Speicher (EEPROM) und dergleichen aufgebaut, wobei im vorliegenden Beispiel eine ID (Identifikationsinformation) und dergleichen zur Identifizierung der Sensorkopfeinheit 2 in diesem aufgezeichnet wird. Der Kommunikationsabschnitt 206 kommuniziert mit der Signalverarbeitungseinheit 1 gemäß dem Befehl des Steuerabschnitts 201.
  • Die Sensorkopfeinheit 2 der vorliegenden Ausführungsform hat den oben beschriebenen Schaltungsaufbau und führt einen geeigneten Lichtprojektions- und Lichtempfangsprozess als Reaktion auf den Befehl der Signalverarbeitungseinheit 1 aus. Das Kommunikationsverfahren zwischen dem Kommunikationsabschnitt 104 der Signalverarbeitungseinheit 1 und dem Kommunikationsabschnitt 206 der Sensorkopfeinheit 2 ist nicht speziell festgelegt, wobei beispielsweise LVDS (Low Voltage Differential Signaling) angewendet werden kann.
  • Beispiel für Messprinzip und Messvorgang
  • 5 ist eine Darstellung, die einen Schnittaufbau des optischen Systems der Sensorkopfkörpereinheit 20 zeigt. Unter Bezug auf 5 enthält das optische System gemäß der vorliegenden Ausführungsform eine Laserdiode 202a, einen Spalt 202b, einen Lichtprojektionslinsenteil 220c, eine zweidimensionale CCD 203a und ein optisches Lichtempfangssystem 203b. Die Laserdiode 202a, der Spalt 202b und der Lichtprojektionslinsenteil 202c bilden den in 4 gezeigten Lichtprojektionsabschnitt 202. In der vorliegenden Ausführungsform ist der Spalt 202b innerhalb des Lichtprojektionslinsenteils 202c angeordnet.
  • Das von der Laserdiode 202a emittierte Lichtprojektionsbündel 53 (Bestrahlungslicht) wird durch den Spalt 202b und den Lichtprojektionslinsenteil 202c geformt und auf eine Oberfläche 5A des in einem bestimmten Messbereich vorliegenden Messzielobjekts 5 als Linienbündel projiziert. Der Lichtprojektionslinsenteil 202c kann durch eine Einzellinse oder eine anamorphotische Einzellinse (z. B. zylindrische Linse) oder ein Objektiv, in welchem mehrere Linsen kombiniert sind, oder ein Objektiv, in welchem mehrere Linsen, darin eingeschlossen die anamorphotische Einzellinse (z. B. zylindrische Linse), kombiniert sind. Das Linienbündel kann in Richtung der kurzen Seite des Linienbündels an der Oberfläche des Messzielobjekts 5 durch Verwendung der anamorphotischen Einzellinse als Lichtprojektionslinse verschmälert werden.
  • Da die Querschnittsansicht in 5 gezeigt ist, ist das Lichtprojektionsbündel im Querschnitt (in der Zeichenebene) dargestellt, als ob es als konvergentes Licht verschmälert und auf das Messzielobjekt aufgebracht wird, das Lichtprojektionsbündel 53 wird aber auf das Messzielobjekt 5 als in Bezug auf die Richtung senkrecht zum Querschnitt (Richtung senkrecht zur Zeichenebene) linear sich erstreckendes Linienbündel aufgebracht. Ein „Bestrahlungsbereich” ist in der folgenden Beschreibung als der gesamte Bereich (gesamter Bereich, der mit dem zweidimensionalen Abbildungselement abgebildet werden kann) definiert, in dem das Querschnittskonturbild das Lichtprojektionsbündel 53 an der Oberfläche 5A des Messzielobjekts 5 vorliegt.
  • Das durch die Einstrahlung eines solchen Lichtprojektionsbündels 53 (Linienbündel) erzeugte Schnittkonturbild wird mit der zweidimensionalen CCD 203a, die als das zweidimensionale Abbildungselement dient, über das optische Lichtempfangssystem 203b aus einer bestimmten Richtung aufgenommen. Anders ausgedrückt, erhält der Lichtempfangsabschnitt, der das optische Lichtempfangssystem 203b und die zweidimensionale CCD 203a enthält, das reflektierte Licht in Form sowohl des diffus reflektierten Lichts als auch des spiegelreflektierten Lichts, die erzeugt werden, wenn das Lichtprojektionsbündel 53 an der Oberfläche 5A des Messzielobjekts reflektiert wird, aus einer Richtung, für die sich die Position des Reflexionslicht-Bildes gemäß der Versetzung der Oberfläche 5A des Messzielobjekts 5 ändert. Der Lichtempfangsabschnitt gewinnt das Bild eines solchen Reflexionslicht-Bildes. Die zweidimensionale CCD 203a bildet das Schnittkonturbild aus einer Richtung ab, für die sich die Bildbildungsposition an einer Abbildungsebene 203C des Schnittkonturbildes in Entsprechung zu einer Änderung der Versetzung der Oberfläche 5A des Messzielobjekts 5 ändert. Die Versetzung an den einzelnen Positionen des Schnittkonturbildes längs der Richtung senkrecht zum Querschnitt wird beruhend auf dem Triangulationsprinzip gemessen.
  • Die die optische Mittelachse des Bildprojektionsbündels 53 (Lichtprojektions-Mittelachse 54) und die optische Mittelachse des optischen Lichtempfangssystems 203b (Lichtempfangsmittelachse 56) enthaltende Ebene wird nachfolgend als „Einfallsebene” definiert. Die die Mittelachse der Schnittkontur an der Oberfläche 5A des planen Messzielobjekts 5 und die optische Lichtempfangsachse, die der optischen Mittelachse der optischen Lichtempfangsachse 203b entspricht, enthaltende Ebene wird als „Bündelkonvergierungsebene” bezeichnet.
  • Eine Achse, die parallel zur Längsrichtung des Linienbündels ist und durch die Mitte der Breite in Richtung der kurzen Seite des Linienbündels verläuft, sowie eine Achse die parallel zur Richtung der kurzen Seite des Linienbündels ist und durch die Mitte der Breite der Längsrichtung des Linienbündels verläuft, können beide als optische Mittelachse des Schnittkonturbilds angewandt werden.
  • In 5 ist die Längsrichtung des Linienbündels die Richtung senkrecht zur Zeichenebene und die Richtung der kurzen Seite des Linienbündels eine Richtung senkrecht zur Längsrichtung des Linienbündels und parallel zur Zeichenebene.
  • Das optische Lichtempfangssystem 203b bildet das Bild des Reflexionslichtbündels 55 in der Bildebene 203c der zweidimensionalen CCD 203a aus. In der vorliegenden Ausführungsform ist das Reflexionslichtbündel 55 spiegelreflektiertes Licht des Lichtprojektionsbündels 53.
  • Wie in den 6A bis 6D gezeigt, enthält das optische Lichtempfangssystem 203b einen Linsenabschnitt 211 und einen Linsenhalter 213 zur Festlegung des Linsenabschnitts 211. Der Linsenhalter 213 kann ein integrierter oder ein gesonderter Aufbau sein. Der Linsenabschnitt 211 bildet das Bild des Reflexionslichtbündels 55 in der Bildebene 203c aus. Zur Veranschaulichung dieses Aspekts zeigen die 6A bis 6D jeweils die Einfallsseite und die Austrittsseite des Reflexionslichtbündels 55. Die Darstellungen in den 6A bis 6D sind Beispiele, die Anordnung der „Einfallsseite” und der „Austrittsseite” kann auch vertauscht sein.
  • 6A und 6B sind Darstellungen, die Beispiele zeigen, in welchen der Linsenabschnitt 211 als Objektiv mit einer Anzahl von Linsen 211a bis 211c aufgebaut ist. 6C und 6D sind Darstellungen, die Beispiele zeigen, in welchen der Linsenabschnitt 211 als Einzellinse aufge baut ist. Die Anzahl der Linsen, die den Linsenabschnitt 211 aufbauen, unterliegt keiner besonderen Einschränkung, solange ein Bild des Reflexionslichtbündels 55 in der Bildebene 203c ausgebildet werden kann. Bei Gestaltung des Linsenabschnitts 211 mit mehreren Linsen unterliegt der Typ einer jeden Linse keiner besonderen Einschränkung.
  • Gemäß dem in den 6A und 6C gezeigten Aufbau enthält das optische Lichtempfangssystem 203b zusätzlich zum Linsenabschnitt 211 und Linsenhalter 213 einen Lichtabschirmungsabschnitt 212. Der Lichtabschirmungsabschnitt 212 ist zwischen den brechenden Flächen an den Enden der Anzahl von Linsen 211a bis 211c oder in der Nachbarschaft der brechenden Flächen angeordnet und mit einer kreisförmigen Öffnung 212a ausgebildet. Licht außerhalb der kreisförmigen Öffnung wird so durch den Lichtabschirmungsabschnitt 212 abgeschirmt.
  • Nachbarschaft der brechenden Fläche bezieht sich auf einen Abstandsbereich eines Ausmaßes, der die brechende Fläche nicht berührt, aber den Bereich von Licht, das im Wesentlichen in die brechende Fläche eintritt, definiert. Der Lichtabschirmungsabschnitt 212 kann am Linsenhalter integriert angeordnet sein. Die brechenden Flächen an beiden Enden der Linsen 211a bis 211c sind im Einzelnen die Linsenfläche 214 der Linse 211a, die zur „Einfallsseite” hin gerichtet ist, und die Linsenfläche 215 der Linse 211c, die zur „Austrittsseite” hin gerichtet ist.
  • In 6A ist der Lichtabschirmungsabschnitt 212 zwischen der Linse 211b und der Linse 211c angeordnet, er kann aber auch zwischen der Linse 211a und der Linse 211c angeordnet sein. In der vorliegenden Ausführungsform ist also der Lichtabschirmungsabschnitt 212 zwischen den Linsen angeordnet, die in Bezug auf die Aufreihungsrichtung der einzelnen Linsen an beiden Enden angeordnet sind. Der Lichtabschirmungsabschnitt kann in Mehrfachheit zwischen dem Bereich der brechenden Flächen an beiden Enden der Linsen 211a und 211c angeordnet sein. In dem in 6C gezeigten Aufbau ist der Lichtabschirmungs abschnitt 212 im Bereich der brechenden Fläche (Linsenfläche 216) auf der „Austrittsseite” angeordnet, der Lichtabschirmungsabschnitt 212 kann aber auch im Bereich der brechenden Fläche (Linsenfläche 217) auf der „Einfallsseite” des in 6C gezeigten Linsenabschnitts 211 angeordnet sein.
  • In dem in 6B und 6D gezeigten Aufbau hat der Linsenhalter 213 auch die Funktion des Linsenabschirmungsabschnitts. Im Einzelnen ist der Außenrand der Linsen 211a bis 211c durch den Linsenhalter 213 abgedeckt.
  • Die Linsenachse ist in jeder der 6A bis 6D gezeigt, und eine solche Linsenachse entspricht der Lichtempfangsmittelachse 56. Ferner entspricht der Bereich von Position X1 bis Position X2 auf der Lichtempfangsmittelachse 56 dem Bereich, der als ein Bereich des Lichtabschirmungsabschnitts auf der Lichtempfangsmittelachse 56 definiert ist. Wenn der Lichtabschirmungsabschnitt 212, wie bei dem in 6A und 6C gezeigten Aufbau, vom Linsenhalter 213 gesondert vorgesehen ist, wird der Bereich des Lichtabschirmungsabschnitts beispielsweise der Bereich der Lichtempfangsmittelachse 56, der der Dicke des Lichtabschirmungsabschnitts 212 entspricht. Wenn der Linsenhalter 213 auch die Funktion des Lichtabschirmungsabschnitts 212, wie bei dem in 6B und 6D gezeigten Aufbau, hat, ist der Bereich des Lichtabschirmungsabschnitts auf der Lichtempfangsmittelachse 56 durch den Linsenhalter 213 definiert.
  • Bei Anordnung des Linsenabschirmungsabschnitts 212 kann in Mehrfachheit der Bereich des Lichtabschirmungsabschnitts auf der Lichtempfangsmittelachse 56 durch die beiden Lichtabschirmungspositionen definiert sein, die an beiden Enden der Mehrfachheit von Lichtabschirmungsabschnitten 212 positioniert sind. Der Bereich des Lichtabschirmungsabschnitts auf der Lichtempfangsmittelachse 56 ist nicht notwendigerweise darauf eingeschränkt, eine bestimmte Ausbreitung zu haben, sondern kann auch eine spezifische Position, wie etwa die Position X1 oder die Position X2, die in 6A bis 6D gezeigt sind, sein.
  • Zurückkehrend zu 5, ist die zweidimensionale CCD 203a so angeordnet, dass die Abbildungsebene 203c leicht gegenüber der Richtung senkrecht zur Lichtempfangsmittelachse 56 geneigt ist, wobei eine solche Anordnung die Scheimpflug-Regel verwendet. Wie in 7 gezeigt, stehen die Abbildungsebene 203c und die Lichtprojektionsmittelachse 54 in einer Nicht-parallel-Beziehung. Die Abbildungsebene 203c und die Linsenfläche (Fläche senkrecht zur optischen Achse des Linsenabschnitts 211) stehen ebenfalls in einer Nicht-parallel-Beziehung. Wenn jedoch die Lichtprojektionsmittelachse 54 und die Lichtempfangsmittelachse 56 senkrecht zueinander angeordnet sind, ist als Ausnahme die Abbildungsebene 203c senkrecht zur Lichtempfangsmittelachse 56 angeordnet und die Abbildungsebene 203c und die Lichtprojektionsmittelachse 54 stehen in einer Parallelbeziehung und ebenso stehen die Bildebene 203c und die Linsenfläche (Ebene senkrecht zur optischen Achse des Linsenabschnitts 211) in einer Parallelbeziehung. In 7 ist das Lichteprojektionsbündel 53 zum leichteren Verständnis der Beschreibung als auf der Lichtprojektionsmittelachse 54 liegend gezeigt.
  • Wenngleich in 7 nicht veranschaulicht, sind die zweidimensionale CCD 203a und der Linsenabschnitt 211 so angeordnet, dass sich die Lichtprojektionsmittelachse 54, die Abbildungsebene 203c und die Linsenfläche auf einer Achse schneiden. Als Ausnahme sind, wenn die die Lichteprojektionsmittelachse 54 und die Lichtempfangsmittelachse 56 senkrecht zueinander angeordnet sind, die Lichtprojektionsmittelachse 54, die Abbildungsebene 203c und die Linsenfläche alle parallel zueinander angeordnet. Gemäß einer solchen Anordnungsbeziehung können, wenn die Versetzung (Stufe) in einem Bestrahlungsbereich A gemessen wird, die Position des oberen Endes, die Mittelposition und die Position des unteren Endes des Messbereichs der relevanten Stufe alle scharf abgebildet werden. Die Versetzung der Oberfläche des Messzielobjekts kann dann genau gemessen werden.
  • Die Messung einer Stufe des Messzielobjekts mit einer krummrückigen Form (Halbkreis verformt zu flacher Form) wird nun als Beispiel unter Bezug auf die 8 und 9 beschrieben.
  • 8 ist eine Darstellung, die Bestrahlungslicht von und reflektiertes Licht zu der Sensorkopfkörpereinheit zeigt. 9 ist eine Darstellung, die ein Bild zeigt, das durch Abbilden des reflektierten Lichts mit dem zweidimensionalen Abbildungselement als Schnittkonturbild gewonnen ist.
  • Wenn die mit dem Laserlicht bestrahlte Oberfläche des Messzielobjekts, wie in 8 gezeigt, fotografiert wird, wird ein Schnittkonturbild, wie es in 9 gezeigt ist, gewonnen, bei welchem die Position des Leuchtpunkts auf der Lichtempfangsoberfläche des zweidimensionalen Abbildungselements sich gemäß der Oberflächenhöhe ändert. Wenn sich die Höhe der Objektoberfläche ändert, bewegt sich das Bild in einer bestimmten Richtung (Versetzungsrichtung) auf der Lichtempfangsoberfläche des Abbildungselements. Der Unterschied zwischen Oben und Unten auf der mit den einzelnen Linienbündeln bestrahlten Objektoberfläche kann anhand eines solchen Bildes berechnet werden, wobei die Stufe auf der Oberfläche des Messzielobjekts, d. h., die Versetzung an einem beliebigen Punkt des mit dem Linienbündel bestrahlten Abschnitts gemessen werden kann, indem eine Berechnung unter Verwendung des Bestrahlungswinkels und des Lichtempfangswinkels durchgeführt wird. Der auf dem Schnittkonturbild beruhende Messvorgang wird mit der Signalverarbeitungseinheit 1 ausgeführt (siehe 1, 3).
  • Die Höhe eines Vorsprungs auf der Objektfläche oder die Tiefe eines in der Objektfläche ausgebildeten Nut kann nach einer Methode gemessen werden, die ähnlich der obigen Methode zur Messung der Stufe ist. Die Breite des Vorsprungs oder der Nut können ebenfalls nach der obigen Methode gemessen werden.
  • Optisches System der vorliegenden Ausführungsform
  • 10A und 10B sind schematische Aufbaudarstellungen, die das optische System der vorliegenden Ausführungsform längs einer Richtung parallel zur Bündelkonvergierungsfläche zeigt. Unter Bezug auf 10A und 10B enthält das optische System der vorliegenden Ausführungsform den Lichtprojektionsabschnitt 202, das optische Lichtempfangssystem 203b, sowie die zweidimensionale CCD 203a, die als Abbildungsabschnitt dient. Der Lichtprojektionsabschnitt 202 projiziert das Lichtprojektionsbündel 53, welches auf der Oberfläche 5a des Messzielobjekts 5 linear wird, auf das Messzielobjekt 5. Das optische Lichtempfangssystem 203b bildet das an der Oberfläche (Bestrahlungsbereich A) des Messzielobjekts reflektierte Licht des Lichtprojektionsbündel 53 auf die Bildebene 203c der zweidimensionalen CCD 203a ab. Die Bündelkonvergierungsfläche entspricht der „bestimmten Ebene” in der vorliegenden Erfindung. Bei dem in 10A und 10B gezeigten optischen System ist die Bündelkonvergierungsfläche senkrecht zur Einfallsebene.
  • Das optische Lichtempfangssystem 203b enthält den Linsenabschnitt 211 und den Lichtabschirmungsabschnitt 212. In 10A und 10B sind nur die Linsen 211a, 211c für den Linsenabschnitt 211 schematisch gezeigt, wobei die Linsen 211a, 211c schematisch als dünne Linse gezeigt sind. In 10A und 10B ist der Lichtabschirmungsabschnitt 212 getrennt vom Linsenhalter 213 angeordnet, der Linsenhalter 213 kann aber, wie oben erwähnt, auch die Funktion des Linsenabschirmungsabschnitt 212 haben.
  • Von dem diffusen Licht, das erzeugt wird, wenn das Lichtprojektionsbündel 53 an den einzelnen Punkten des Bestrahlungsbereichs (Punkte P1, P2, die an beiden Enden des Bestrahlungsbereichs A angeordnet sind, sind stellvertretend gezeigt) diffus reflektiert wird, ist die Komponente in Richtung parallel zur Bündelkonvergierungsfläche als das diffus reflektierte Licht 57 angenommen.
  • Wenn das Lichtprojektionsbündel 53 an dem im Messbereich vorhandenen Messzielobjekt diffus reflektiert wird, definiert der Lichtabschirmungsabschnitt 212 in Bezug auf die Lichtempfangsmittelachse 56 den Einfallswinkelbereich des die zweidimensionale CCD 203a erreichenden diffus reflektierten Lichts 57 als Komponente parallel zur Bündelkonvergierungsfläche des diffus reflektierten Lichts. Im Einzelnen ist der durch die Ausbreitungsrichtung des diffus reflektierten Lichts 57 und die Lichtempfangsmittelachse 56, wenn das diffus reflektierte Licht 57 die Öffnung 212a des Lichtabschirmungsabschnitts 212 durchläuft, gebildete Maximalwinkel durch den Durchmesser der Öffnung 212a definiert (10A).
  • In 10A ist die Bahn des diffus reflektierten Lichts 57 nach Eintritt des diffus reflektierten Lichts 57 in das optische Lichtempfangssystem 203b gezeigt. Das diffus reflektierte Licht 57 wird innerhalb eines Abbildungsbereichs 203d der Bildebene 203c durch das optische Lichtempfangssystem 203b abgebildet. Der Abbildungsbereich 203d ist in einem Bereich (effektiver Abbildungsbereich), der vorab als abbildbarer Bereich der Bildebene 203c definiert wird, enthalten. Die zweidimensionale CCD 203a kann das Lichtbild der Oberfläche 5A des Messzielobjekts 5 durch Ausbilden des Lichtbilds innerhalb des effektiven Bildbereichs gewinnen. Die Versetzung kann auf diese Weise gemessen werden und dementsprechend wird ein Bereich, in dem das Lichtbild innerhalb des effektiven Abbildungsbereichs des Bestrahlungsbereichs A ausgebildet werden kann, nachfolgend als „effektiver Messbereich” bezeichnet. Wie oben beschrieben, wird der effektive Messbereich vorab beruhend auf dem effektiven Abbildungsbereich der Bildebene 203c definiert.
  • Wie in 10B gezeigt, ist die Komponente parallel zur Bündelkonvergierungsfläche des am Bestrahlungsbereich A spiegelreflektierten Lichtprojektionsbündels das reflektierte Lichtbündel 55. Der Lichtprojektionsabschnitt 202 projiziert das Lichtprojektionsbündel 53 so, dass das reflektierte Lichtbündel 55 an einer Position in Richtung der Lichtempfangsmittelachse 56, an der der Lichtabschirmungsabschnitt 212 vorliegt, konvergiert. Anders ausgedrückt, liegt eine Konvergierungsposition P des reflektierten Lichtbündels 55 innerhalb des Bereichs, der den Lichtabschirmungsabschnitt 212 definiert, auf der Lichtempfangsmittelachse 56.
  • Die Position in Richtung der Lichtempfangsmittelachse 56, an der der Lichtabschirmungsabschnitt 212 vorliegt, enthält beides: wenn die Position des Lichtabschirmungsabschnittes 212 in Richtung der Lichtempfangsmittelachse 56 an der gleichen Position an beiden Enden des Einfallswinkelbereichs des definierten diffus reflektierten Lichts liegt, als auch wenn die Position an unterschiedlichen Stellen liegt. Ein Fall, in dem sich der Lichtabschirmungsabschnitt 212 an beiden Enden an unterschiedlichen Stellen im Einfallswinkelbereich des definierten diffus reflektierten Lichts 57 befindet, enthält den Fall, in welchem das reflektierte Lichtbündel 55 innerhalb des Bereichs in Richtung der Lichtempfangsmittelachse 56 konvergiert, in dem die unterschiedlichen Stellen vorliegen.
  • In 10A und 10B ist der den Lichtabschirmungsabschnitt 212 definierende Bereich als ein Punkt dargestellt, der den Lichtabschirmungsabschnitt 212 auf der Lichtempfangsmittelachse 56 definierende Bereich ist jedoch, wie in 6A bis 6D gezeigt, nicht auf einen Punkt beschränkt, sondern kann eine Breite eines gewissen Ausmaßes haben.
  • Die „Konvergierungsposition” ist in 10A und 10B an einem Ort gezeigt, an dem Licht in einem Punkt konvergiert, sie beschränkt sich jedoch nicht darauf. Beispielsweise kann die relevante Position die Posi tion sein, an der die Bündelbreite des reflektierten Lichtbündels 55 in Richtung der Bündelkonvergierungsfläche ein Minimum wird, oder eine Position in der Nachbarschaft. Die relevante Position kann auch ein Bereich sein, der die Position enthält, an der die Bündelbreite ein Minimum wird, und die Nachbarschaft. Alle Positionen, an denen das reflektierte Lichtbündel 55 als im gebündelten Zustand seiend angenommen werden kann, können die „Konvergierungsposition” sein.
  • Die Lichtprojektionsabschnitt 202 kann ein Lichtprojektionsbündel 53, bei welchem die Bündelbreite in Richtung der Bündelkonvergierungsfläche eine Konstante wird, projizieren in der vorliegenden Ausführungsform jedoch projiziert der Lichtprojektionsabschnitt 202 das Lichtprojektionsbündel 53 so, dass die Bündelbreite in Richtung der Bündelkonvergierungsfläche mit Fortschreiten des Lichtprojektionsbündel 53 von dem Lichtprojektionsabschnitt 202 zum optischen Lichtempfangssystem 203b hin allmählich kleiner wird. Der körperliche Durchmesser des Linsenabschnitte 211 (Linsen 211a bis 211c) lässt sich reduzieren, indem das Lichtprojektionsbündel 53 so projiziert wird, dass die Bündelbreite allmählich kleiner wird. Daher lässt sich die Sensorkopfkörpereinheit 20, die das in 10A und 10B gezeigte optische System enthält, miniaturisieren.
  • Die in 10A und 10B gezeigten Aufbauten zeigen eine Ausbildungsweise des optischen Systems gemäß der vorliegenden Ausführungsform, wobei obige Beziehung für die Komponente parallel zur Bündelkonvergierungsfläche des diffus reflektierten Lichts und des spiegelreflektierten Lichts erfüllt ist. Das optische System gemäß der vorliegenden Ausführungsform ist so aufgebaut, dass die zu der „bestimmten Ebene” parallele Komponente, die die Lichtempfangsmittelachse 56 enthält, die obige Beziehung für das diffus reflektierte Licht und das spiegelreflektierte Licht erfüllt. Anders ausgedrückt, kann in der vorliegenden Ausführungsform die „bestimmte Ebene”, die die Lichtempfangsmit telachse 56 enthält, zu etwas anderem als die Bündelkonvergierungsfläche definiert werden. Auch in diesem Fall definiert der Lichtabschirmungsabschnitt 212, für die zu der bestimmten Ebene parallele Komponente des diffus reflektierten Lichts, in Bezug auf die Lichtempfangsmittelachse 56 den Einfallswinkelbereich des die zweidimensionale CCD 203a erreichenden diffus reflektierten Lichts aus dem relevanten diffus reflektierten Licht. Ferner projiziert der Lichtprojektionsabschnitt 202 das Lichtprojektionsbündel 53 so, dass die zu der bestimmten Ebene parallele Komponente des spiegelreflektierten Lichts an einer Position in Richtung der Lichtempfangsmittelachse 56 konvergiert, an der der Lichtabschirmungsabschnitt 212 vorliegt.
  • Das optische System gemäß der vorliegenden Ausführungsform wird nun im Einzelnen unter Bezug auf 11A und 11B sowie 12A und 12B beschrieben. 11A und 11B sind Darstellungen, die die Bahn des an der Oberfläche des Messzielobjekts diffus reflektierten Lichts beschreiben. 11A ist eine Darstellung, die einen Fall zeigt, in dem der Linsenhalter 213 auch die Funktion des Lichtabschirmungsabschnitts hat, und 11B ist eine Darstellung, die einen Fall zeigt, in dem der Lichtabschirmungsabschnitt getrennt von Linsenhalter 213 vorgesehen ist.
  • Unter Bezug auf 11A und 11B entsprechen Punkte P1, P2 in 10A und 10B gezeigten Punkten P1, P2 und entsprechen den Positionen an beiden Enden des auf den Bestrahlungsbereich A eingestrahlten Linienbündels. Das diffus reflektierte Licht 57A und das diffus reflektierte Licht 57B sind beides Licht, das erzeugt wird, wenn das Linienbündel an den Punkten P1, P2 diffus reflektiert wird, und werden durch das optische Lichtempfangssystem 203b auf die Bildebene 203c abgebildet. 11A und 11B zeigen die Bahn des diffus reflektierten Lichts 57A und 57B in Richtung der Bündelkonvergierungsfläche.
  • Unter Bezug auf 11A zeigt der Winkel θ1 einen maximalen Neigungswinkel des diffus reflektierten Lichts 57a in Bündelkonvergierungsflächenrichtung, wenn das diffus reflektierte Licht 57a in das optische Lichtempfangssystem 203b eintritt. Der Winkel θ2 zeigt einen maximalen Neigungswinkel des diffus reflektierten Lichts 57b in Bündelkonvergierungsflächenrichtung, wenn das diffus reflektierte Licht 57b in das optische Lichtempfangssystem 203b eintritt. Die „Neigung des diffus reflektierten Lichts in Bündelkonvergierungsflächenrichtung” bezieht sich auf einen Zustand, in dem die Ausbreitungsrichtung des diffus reflektierten Lichts auf der Bündelkonvergierungsfläche mit einer zur Bündelkonvergierungsfläche senkrechten Achse als Mitte gedreht wird.
  • In 11A ist, da ein Teil des Linsenhalters 213 als Abschirmungssort des diffus reflektierten Lichts 57a, 57b wirkt, der maximale Neigungswinkel des diffus reflektierten Lichts in Bündelkonvergierungsflächenrichtung durch eine solchen Abschirmungsort definiert. Anders ausgedrückt, ist der Winkel θ1 durch die Abschirmungsorte 213a, 123b und der Winkel θ2 durch die Abschirmungsorte 213c, 213d definiert. Bei dem in 11b gezeigten Aufbau ist der maximale Neigungswinkel des diffus reflektierten Lichts in Bündelkonvergierungsflächenrichtung durch die Öffnung 212a des Lichtabschirmungsabschnitts 212 definiert. Der Winkel θ1a zeigt den maximalen Neigungswinkel des diffus reflektierten Lichts 57a in Bündelkonvergierungsflächenrichtung, wenn das diffus reflektierte Licht 57a in das optische Lichtempfangssystem 203b eintritt, und der Winkel θ2a zeigt den maximalen Neigungswinkel des diffus reflektierten Lichts 57b in Bündelkonvergierungsflächenrichtung, wenn das diffus reflektierte Licht 57b in das optische Lichtempfangssystem 203b eintritt.
  • 12A und 12B sind Darstellungen, die die Bahn des an der Oberfläche des Messzielobjekts reflektierten Lichtprojektionsbündels beschreiben. 12A ist eine Darstellung, die die Konvergierungsposition des reflektierten Lichtbündels in Bündelkonvergierungsflächenrichtung beschreibt. Die Konvergierungsposition P des reflektierten Lichtbündels 55 liegt in einem Bereich, der durch den Lichtabschirmungsabschnitt 212 auf der Lichtempfangsmittelachse 56 definiert ist. Im Einzelnen befindet sich die Konvergierungsposition P im Wesentlichen in der Mitte des Bereichs der Lichtempfangsmittelachse 56, der als die Dicke des Lichtabschirmungsabschnitts 212 definiert ist.
  • 12B ist eine Darstellung, die einen Zustand zeigt, in dem das Lichtprojektionsbündel durch die Kippung des Messzielobjekts 5 gekippt ist. 12B zeigt eine Komponente des reflektierten Lichtbündels in Bündelkonvergierungsflächenrichtung ähnlich 12A. Unter Bezug auf 12B kippt, wenn das Messzielobjekt 5 aus dem in 12A gezeigten Zustand kippt, das reflektierte Lichtbündel 55 auch, da das Lichtprojektionsbündel kippt. Mit Kippung des Reflexionslichtbündels 55 wird ein Teil desselben durch den Lichtabschirmungsabschnitt 212 abgeschirmt, wobei schließlich das gesamte reflektierte Lichtbündel 55 durch den Lichtabschirmungsabschnitt 212 abgeschirmt wird.
  • Durch Konfigurierung des optischen Systems in obiger Weise kann eine Messung mit zufriedenstellender Genauigkeit auch dann durchgeführt werden, wenn das Messzielobjekt gekippt ist oder wenn ein Teil der Oberfläche des Messzielobjekts eine geneigte (oder sphärische) Fläche ist. Auch in dieser Hinsicht erfolgt nun eine Beschreibung durch Vergleichen mit dem Fall, in dem die Konvergierungsposition des reflektierten Lichtbündels nicht im Bereich des Abschirmungsabschnitts vorliegt.
  • 13 ist eine Darstellung, die einen Zustand beschreibt, in dem die Konvergierungsposition des reflektierten Lichtbündels nicht im Bereich des Lichtabschirmungsabschnitts vorliegt. Unter Bezug auf 13 wird das Lichtprojektionsbündel 53 an der Oberfläche 5A des auf einen Tisch 5S montierten Messzielobjekts 5 spiegelreflektiert. Das durch die Spiegelreflexion des Lichtprojektionsbündels 53 erzeugte reflektierte Lichtbündel 55 durchläuft die Öffnung 212a des Lichtabschirmungsabschnitts 212. Die Öffnung 212a ist kreisförmig. Bei diesem optischen System durchläuft das reflektierte Lichtbündel 55 die Öffnung 212a des Lichtabschirmungsabschnitts 212 mit konstanter Bündelbreite in Richtung der Bündelkonvergierungsfläche. In diesem Fall konvergiert das reflektierte Lichtbündel 55 nach Durchlaufen der Öffnung 212a des Lichtabschirmungsabschnitts 212, so dass die Konvergierungsposition auf der äußeren Seite des Lichtabschirmungsabschnitts 212 liegt. 13 zeigt den Bestrahlungsbereich A, der als ein gesamter Bereich dient (gesamter Bereich, der mit einer (in 13 nicht gezeigten) zweidimensionalen CCD 203a abgebildet werden kann), in dem das Schnittkonturbild des Lichtprojektionsbündels 53 vorhanden ist.
  • 13 zeigt einen Zustand, in dem das Messzielobjekt 5 korrekt auf dem Tisch 5S montiert ist. In diesem Zustand kann das reflektierte Lichtbündel 55 die Öffnung 212a, ohne durch den Rand der Öffnung 212a abgeschirmt zu werden, durchlaufen.
  • Das Messzielobjekt 5 kippt jedoch manchmal. Beispielsweise ist, wenn eine Stufe auf dem Tisch 5S vorhanden ist, oder wenn ein Fremdkörper zwischen dem Tisch 5S und das Messzielobjekt 5 gelangt, das Messzielobjekt 5 mit gekippter Fläche 5A auf dem Tisch 5S montiert. Daher kommt eine Neigung nach links und rechts (gleich der Richtung nach links und rechts in der Zeichenebene), wie durch einen durchgehenden Pfeil gezeigt, oder eine Neigung des Messzielobjekts 5 nach vorne und hinten (gleich der Richtung senkrecht zur Zeichenebene, wie durch einen gestrichelten Pfeil gezeigt, vor. Wenn das Messzielobjekt 5 geneigt ist, wird ein Teil des reflektierten Lichtbündels 55 oder das gesamte reflektierte Lichtbündel durch den Lichtabschirmungsabschnitt 212 abgeschirmt, da sich die Ausbreitungsrichtung des reflektierten Lichtbündels 55 ändert.
  • Wenn das Messzielobjekt 5 in Längsrichtung des Linienbündels gekippt ist (wenn es in Richtung des gestrichelten Pfeils in 13 gekippt ist), kippt das Schnittkonturbild schräg. Ferner ist das Lichtprojektionsbündel 53 als an der Oberfläche 5A des Messzielobjekts 5 in Richtung der kurzen Seite zusammenlaufend und als nach Reflexion an der Oberfläche 5A des Messzielobjekts 5 sich ausbreitend angenommen.
  • 14A und 14B sind schematische Darstellungen, die ein Beispiel für einen Aufbau des optischen Lichtempfangssystems des in 13 gezeigten optischen Systems zeigen. Bei dem in 14A und 14B gezeigten Aufbau hat der Linsenhalter 213 auch die Funktion des Lichtabschirmungsabschnitts. 14A und 14B zeigen ebenfalls eine Bahn des reflektierten Lichtbündels 55 längs der Bündelkonvergierungsflächenrichtung. Unter Bezug auf 14A befindet sich eine Konvergierungsposition PA des reflektierten Lichtbündels 55 auf der äußeren Seite des Linsenhalters 213 (Lichtabschirmungsabschnitts). 14B ist eine Darstellung, die einen Zustand zeigt, in dem das Lichtprojektionsbündel kippt, wenn das Messzielobjekt 5 in dem in 14A gezeigten optischen System kippt. Unter Bezug auf 14B kippt, wenn das Messzielobjekt 5 aus dem in 14A gezeigten Zustand kippt, das reflektierte Lichtbündel 55, da das (nicht dargestellte) Lichtprojektionsbündel kippt. Mit Kippen des reflektierten Lichtbündels 55 wird ein Teil desselben durch den Lichtabschirmungsabschnitt 212 abgeschirmt und schließlich kommt es zu einer Abschirmung des gesamten reflektierten Lichtbündels 55 durch den Lichtabschirmungsabschnitt 212. Verglichen mit dem in 12 gezeigten Aufbau beginnt der Neigungswinkel (Winkel in Bezug auf die Lichtempfangsmittelachse 56) des reflektierten Lichtbündels 55 in einem Fall, in dem ein Teil des reflektierten Lichtbündels 55 durch den Lichtabschirmungsabschnitt 212 abgeschirmt wird, klein zu werden. Es kommt daher leicht zu einem Auftreten der in 15 bis 18 gezeigten Probleme. 15, 17 und 18 zeigen die Komponente parallel zur Ein fallsebene des Lichtprojektionsbündels 53 des reflektierten Lichtbündels 55.
  • 15 ist eine schematische Darstellung, die die Bahn des reflektierten Lichtbündels zeigt, wenn das Messzielobjekt 5 in dem in 13 gezeigten optischen System nach links und rechts geneigt ist. Wie in 15 gezeigt, wird ein Teil des reflektierten Lichtbündels 55 durch den Lichtabschirmungsabschnitt 212 abgeschirmt. Die von der zweidimensionalen CCD (in 15 nicht gezeigt) empfangene Lichtmenge ist daher reduziert. Ferner wird Beugungslicht 58 (siehe 15) am Rand der Öffnung 212a erzeugt. Das gebeugte Licht 58 kann über die Lichtempfangslinse in die zweidimensionale CCD eintreten. Infolge solcher Gründe können Fehler beim Messergebnis auftreten.
  • 16 ist eine schematische Darstellung, die die Bahn des reflektierten Lichtbündels zeigt, wenn das Messzielobjekt in dem in 13 gezeigten optischen System nach vorne und hinten geneigt ist. Wie in 16 gezeigt, wird ein Teil des reflektierten Lichtbündels 55 durch den Lichtabschirmungsabschnitt 212 abgeschirmt. Die von der zweidimensionalen CCD (nicht gezeigt in 16, nachfolgend das gleiche) empfangene Lichtmenge ist daher reduziert. Ferner wird Beugungslicht 58 am Rand der Öffnung 212a erzeugt. Das Beugungslicht 58 kann über die Lichtempfangslinse (nicht gezeigt) in die zweidimensionale CCD eintreten. Infolge solcher Gründe können Fehler beim Messergebnis auftreten.
  • Ferner kann, wenn ein Teil der Oberfläche des Messzielobjekts eine geneigte Fläche (oder eine gekrümmte Fläche) ist, ein Zustand ähnlich dem in 15 oder 16 gezeigten Zustand auftreten, wenn der Neigungswinkel (oder die Krümmung) einer solchen Fläche groß wird. 17 ist eine schematische Darstellung, welche die Bahn des reflektierten Lichtbündels zeigt, wenn die Oberfläche des Messzielobjekts geneigt ist. Wie in 17 gezeigt, wird, wenn die Neigung (oder Krümmung) der Oberfläche 5A (Bestrahlungsbereich) des Messzielobjekts 5 groß wird, ein Teil des reflektierten Lichtbündels 56 durch den Lichtabschirmungsabschnitt 212 abgeschirmt.
  • Wie in 18 gezeigt, kann die Sensorkopfkörpereinheit 20 selbst geneigt sein, auch wenn das Messzielobjekt 5 korrekt auf dem Tisch 5S montiert ist. Wenn das reflektierte Lichtbündel 55, wie in 18 gezeigt, Parallellicht ist, wird infolge der Neigung der Sensorkopfkörpereinheit 20 ein Teil des reflektierten Lichtbündels 55 durch den Lichtabschirmungsabschnitt 212 abgeschirmt.
  • Zur Lösung eines solchen Problems, gehen Überlegungen dahin, den Durchmesser der Öffnung 212a zu vergrößern. Der tolerierbare Bereich des Neigungswinkels des reflektierten Lichtbündels (Parallellichtbündel) kann so erweitert werden. Die Aberration (beispielsweise sphärische Aberration) der an der Halterung des Lichtabschirmungsabschnitts 212 angeordneten Linse lässt sich jedoch nicht ignorieren, wenn die Blendenöffnung vergrößert wird. Anders ausgedrückt, verwäscht das Lichtbild in der Bildebene der zweidimensionalen CCD infolge der Aberration. Dadurch entsteht das Problem, dass die Messgenauigkeit zurückgeht.
  • Zur Lösung des Problems, dass das Lichtbild auf der Bildebene verwäscht, wird ein Verfahren zur Korrektur der sphärischen Aberration durch eine asphärische Linse in Betracht gezogen. Der körperliche Durchmesser der asphärischen Linse muss jedoch groß gemacht werden, wenn versucht wird, die Blendenöffnung des Lichtabschirmungsabschnitts unter Beibehaltung des Abstandes (d. h., Arbeitsabstandes) der Sensorkopfeinheit 20 und des Messzielobjekts 5 zu vergrößern. Das Problem, das darin besteht, dass die Sensorkopfkörpereinheit 20 groß wird, entsteht also erneut.
  • Das in 18 gezeigte Problem lässt sich durch Korrigieren der Schrägstellung der Sensorkopfkörpereinheit 20 lösen. Wenn jedoch das in 15 bis 17 gezeigte Problem auch dann auftritt, wenn die Schräg stellung der Sensorkopfkörpereinheit 20 gering ist, muss die Schrägstellung der Sensorkopfkörpereinheit 20 korrigiert werden. Der Aufwand für eine solche Korrektur ist als groß anzusehen.
  • Gemäß der vorliegenden Ausführungsform liegt die Konvergierungsposition des reflektierten Lichtbündels im Bereich des Lichtabschirmungsabschnitts auf der Lichtempfangsmittelachse 56. Der tolerierbare Bereich für den Einfallswinkel des reflektierten Lichtbündels 55 lässt sich also durch Ausnutzung der Größe des Durchmessers der Öffnung 212a im äußersten Ausmaß definieren. Die Versetzung der Oberfläche des Messzielobjekts lässt sich daher auch dann messen, wenn das Messzielobjekt in einem gewissen Ausmaß geneigt ist oder wenn die Neigung oder die Krümmung der Oberfläche des Messzielobjekts bis zu einem gewissen Grad groß ist. Dies wird nun unter Bezug auf 19 bis 22 beschrieben. 19, 21 und 22 zeigen die Komponente parallel zur Einfallsebene des Lichtprojektionsbündels 53 und des reflektierten Lichtbündels 55. Wie oben beschrieben, wird bei dem optischen System gemäß der vorliegenden Ausführungsform das Lichtprojektionsbündel 53 so projiziert, dass die zu der die Lichtempfangsmittelachse 56 enthaltenden „bestimmten Ebene” parallele Komponente des spiegelreflektierten Lichts an der Position in Richtung der Lichtempfangsmittelachse 56 konvergiert, an der der Lichtabschirmungsabschnitt 212 vorliegt. Die oben beschriebenen Wirkungen lassen sich also gemäß der vorliegenden Ausführungsform gewinnen.
  • 19 ist eine schematische Darstellung, die die Bahn des reflektierten Lichtbündels zeigt, wenn das Messzielobjekt 5 in der vorliegenden Ausführungsform nach links und rechts gekippt ist. 19 ist eine mit 15 zu vergleichende Darstellung. Wie in 19 gezeigt, konvergiert das reflektierte Lichtbündel 55 bei der vorliegenden Ausführungsform mittels der Linse 211a im Bereich des Lichtabschirmungsabschnitts 212 auf der (nicht dargestellten) Lichtempfangsmittelachse. Die Bündelbreite des reflektierten Lichtbündels 55 an der Öffnung 212a wird daher klein. Das reflektierte Lichtbündel 55 kann also die Öffnung 212a des Lichtabschirmungsabschnitts 212 auch dann durchlaufen, wenn der Neigungswinkel des Messzielobjekts 5 in Richtung nach links und rechts groß wird.
  • Die Kippung des Messzielobjekts 5 in diesem Fall ist die „Kippung innerhalb des vorab definierten Messzielbereichs”. Diese Kippung wird vorab durch die optische Messvorrichtung beruhend auf Spezifikation und dergleichen definiert. Die Kippung ist eine Kippung innerhalb eines messbaren (definiert als Messziel durch Spezifikation) Winkelbereichs des Messzielobjekts. Die „Bündelkonvergierungsfläche” in diesem Fall ist als eine Ebene definiert, die zur Linienrichtung des reflektierten Lichtbündels, das erzeugt wird, wenn das Linienbündel des Lichtprojektionsabschnitts an der Oberfläche der Ebene des Messzielobjekts reflektiert wird, auf der Oberfläche des Messzielobjekts und zu der Lichtempfangsmittelachse parallel ist.
  • 20 ist eine schematische Darstellung der Bahn des reflektierten Lichtbündels, wenn in der vorliegenden Ausführungsform das Messzielobjekt 5 nach vorne und hinten geneigt ist. 20 ist mit 16 zu vergleichen. Wie in 20 gezeigt, kann das reflektierte Lichtbündel 55 die Öffnung 212a des Lichtabschirmungsabschnitts 212 auch dann durchlaufen, wenn der Neigungswinkel des Messzielobjekts 5 nach vorne und hinten groß wird, da die Bündelbreite des reflektierten Lichtbündels 55 an der Öffnung 212a klein wird. Ferner lässt sich vermeiden, dass ein Teil des reflektierten Lichtbündels 55 durch den Rand der Öffnung 212a gebeugt wird.
  • 21 ist eine schematische Darstellung, die die Bahn des reflektierten Lichtbündels zeigt, wenn die Oberfläche des Messzielobjekts in der vorliegenden Ausführungsform geneigt ist. 21 ist mit 17 zu vergleichen. Wie in 21 gezeigt, konvergiert das reflektierte Licht bündel 55, das erzeugt wird, wenn das Lichtprojektionsbündel 53 an der geneigten Oberfläche (oder gekrümmten Oberfläche) reflektiert wird, mittels der Linse 211a im Bereich das Lichtabschirmungsabschnitts 212 auf der (nicht dargestellten) Lichtempfangsmittelachse. Es kann also auch dann, wenn der Winkel (oder die Krümmung) der Oberfläche 5A des Messzielobjekts 5 in einem gewissen Ausmaß groß wird, das reflektierte Lichtbündel 55 die Öffnung 212a des Lichtabschirmungsabschnitts 212 durchlaufen. Die Neigung der Oberfläche des Messzielobjekts ist die „Kippung innerhalb des vorab definierten Messzielbereichs”.
  • 22 ist eine Darstellung, die einen Zustand zeigt, in welchem die Sensorkopfkörpereinheit in der vorliegenden Ausführungsform nach links und rechts geneigt ist. 22 ist mit 18 zu vergleichen. Wie in 22 gezeigt, kann das reflektierte Lichtbündel 55 die Öffnung 212a des Lichtabschirmungsabschnitts 212 auch dann durchlaufen, wenn die Sensorkopfkörpereinheit 20 in einem gewissen Ausmaß geneigt ist, da das reflektierte Lichtbündel 22 durch die Linse 211a gebündelt wird. Der Aufwand, der für eine Einjustierung der Kippung der Sensorkopfkörpereinheit 20 erforderlich ist, lässt sich damit reduzieren.
  • Hinsichtlich des Aufbaus des Linsenabschnitts 211 ist der Linsenabschnitt 211 ein mehrere Linsen enthaltendes Objektiv. Bei diesem Aufbau lässt sich die Konvergierungsposition innerhalb des Linsenabschnitts 211 erzeugen, indem das Lichtprojektionsbündel, das Konvergierungstendenz hat (Bündelbreite in Richtung der Bündelkonvergierungsfläche nimmt allmählich ab) beispielsweise mit einigen der Anzahl von Linsenbündeln gebündelt wird. Wie in 23 gezeigt, wird, wenn der Linsenabschnitt 211 eine Einzellinse ist, das Lichtprojektionsbündel 53 durch den Lichtprojektionsabschnitt so projiziert, dass die Konvergierungsposition P des reflektierten Lichtbündels 55 innerhalb der Einzellinse liegt. In diesem Fall ist der Bereich des Linsenabschirmungsabschnitts auf der Lichtempfangsmittelachse 56 der Bereich von der Posi tion X1 bis zu der Position X2, die in 23 gezeigt sind, da der Linsenhalter 213 auch die Funktion des Linsenabschirmungsabschnitts hat. Die Konvergierungsposition P liegt daher auf der Lichtempfangsmittelachse 56 im Bereich des Lichtabschirmungsabschnitts vor.
  • Oben wurde das Verfahren (Spiegelreflexionsverfahren) des Empfangs des an der Oberfläche des Messzielobjekts spiegelreflektierten Lichts beschrieben, das optische System gemäß der vorliegenden Ausführungsform kann aber auch auf das Verfahren des Empfangs des an der Oberfläche des Messzielobjekts diffus reflektierten Lichts angewandt werden.
  • Wie in 10A gezeigt, wird bei der vorliegenden Ausführungsform die Größe (Blendenöffnung) der Öffnung 212a des Lichtabschirmungsabschnitts 212 so definiert, dass der Einfallswinkelbereich des diffus reflektierten Lichts 57 anhand des effektiven Messbereichs definiert wird. Der effektive Bestrahlungsbereich entspricht dem effektiven Messbereich, der vorab in der optischen Messvorrichtung definiert ist. Eine Messung nach dem Diffusreflexionsverfahren lässt sich daher ausführen, indem das diffus reflektierte Licht aus dem relevanten Bereich in der Bildebene 203c erzeugt wird.
  • Der Anwendungsbereich der vorliegenden Erfindung beschränkt sich nicht auf eine Versetzungsmessung der Verteilung des Bündels in Linienrichtung an der Oberfläche des Messzielobjekts, bei der das Licht, das das Messzielobjekt bestrahlt, ein Linienbündel ist. Beispielsweise kann die Form des aufzubringenden Lichts eine beliebige Form sein, darin eingeschlossen ein kreisförmiges Bündel und ein rechteckiges Bündel, und das Anwenden kann als Durchführung der Versetzungsmessung durch Punkte auf der Oberfläche des Messzielobjekts erfolgen.
  • Die hier beschriebenen Ausführungsformen sind in allen Aspekten beispielmäßig und nicht einschränkend zu verstehen. Die Erfindung wird durch die Ansprüche und nicht durch die oben erfolgte Beschreibung der Ausführungsformen definiert, und alle Abwandlungen im Rahmen der Patentansprüche sollen mit umfasst sein.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • - JP 2008-292311 [0001]
    • - JP 3575693 [0008, 0009, 0009]

Claims (8)

  1. Optische Messvorrichtung, welche aufweist: einen Lichtprojektionsabschnitt zum Projizieren von Bestrahlungslicht in Richtung eines in einem Messbereich vorliegenden Messzielobjekts, einen Lichtempfangsabschnitt für den Empfang von reflektiertem Licht sowohl als diffus reflektiertes Licht als auch spiegelreflektiertes Licht, das erzeugt wird, wenn das Bestrahlungslicht an einer Oberfläche des Messzielobjekts reflektiert wird, aus einer Richtung, bei welcher sich eine Position eines Reflexionslichtbildes, das gemäß einer Versetzung der Oberfläche des Messzielobjekts gewonnen wird, ändert, und für die Gewinnung eines Bildes des reflektierten Lichts; und einen Messungsverarbeitungsabschnitt zur Messung der Versetzung der Oberfläche des Messzielobjekts, die das Bestrahlungslicht reflektiert, beruhend auf dem mit dem Lichtempfangsabschnitt gewonnenen Bild; wobei der Lichtempfangsabschnitt enthält: einen Bildgebungsabschnitt zur Gewinnung eines Bildes des einfallenden Lichts als das Bild, einen Abbildungsabschnitt zur Herbeiführung, dass der Bildgebungsabschnitt mit dem reflektierten Licht, das erzeugt wird, wenn das mit dem Lichtprojektionsabschnitt projizierte Licht an der Oberfläche des Messzielobjekts reflektiert wird, ein Bild erzeugt, und einen Abschirmungsabschnitt zur Definition, wenn das Bestrahlungslicht an dem im Messbereich vorliegenden Messzielobjekt diffus reflektiert wird, eines Einfallswinkelbereichs für das den Bildgebungsabschnitt erreichende diffus reflektierte Licht bezüglich einer optischen Mittelachse des Abbildungsabschnitts in Bezug auf eine zu einer bestimmten Ebene, die eine optische Mittelachse des Abbildungsabschnitts des diffus reflektierten Lichts enthält, parallele Komponente, und wobei der Lichtprojektionsabschnitt das Bestrahlungslicht so projiziert, dass, wenn das Bestrahlungslicht an dem im Messbereich vorliegenden Messzielobjekt spiegelreflektiert wird, eine Komponente des spiegelreflektierten Lichts aus dem Bestrahlungslicht, die zu der bestimmten Ebene parallel ist, an einer Position in Richtung der optischen Mittelachse des Bildausbildungsabschnitts konvergiert, an der der Lichtabschirmungsabschnitt vorliegt.
  2. Optische Messvorrichtung nach Anspruch 1, wobei der Lichtprojektionsabschnitt ein Linienbündel auf das in dem Messbereich vorliegenden Messzielobjekt als das Bestrahlungslicht aufbringt; der Lichtempfangsabschnitt reflektiertes Licht, das an der Oberfläche des Messzielobjekts reflektiert wurde, aus einer Richtung erhält, in welcher sich eine Verteilung der Position des reflektierten Lichtbilds, das in Entsprechung zur Versetzung der Oberfläche des Messzielobjekts erhalten wird, für eine Verteilung des Bündels in einer Linienrichtung an der Oberfläche des Messzielobjekts ändert; und die bestimmte Ebene eine Ebene ist, die senkrecht zu einer Ebene, die eine optische Mittelachse des von dem Lichtprojektionsabschnitt aufgebrachten Linienbündels und eine optische Mittelachse des Bildausbildungsabschnitt enthält, ist und eine optische Mittelachse des Bildausbildungsabschnitts enthält.
  3. Optische Messvorrichtung nach Anspruch 1, wobei der Lichtprojektionsabschnitt ein Linienbündel auf das in dem Messbereich vorliegende Messzielobjekt als das Bestrahlungslicht aufbringt; der Lichtempfangsabschnitt reflektiertes Licht des an der Oberfläche des Messzielobjekts reflektierten Linienbündels aus einer Richtung erhält, bei welcher sich eine Verteilung der Position des reflektierten Lichtbildes, das in Entsprechung zur Versetzung der Oberfläche des Messzielobjekts gewonnen wird, für eine Verteilung des Bündels in einer Linienrichtung an der Oberfläche des Messzielobjekts ändert; und wenn ein planes Messzielobjekt im Messbereich mit einer Neigung innerhalb des vorab definierten Messzielbereichs angeordnet wird, die bestimmte Ebene eine Ebene ist, die zu der Linienrichtung des reflektierten Lichtbündels, das erzeugt wird, wenn das Linienbündel aus dem Lichtprojektionsabschnitt an der Oberfläche des Messzielobjekts reflektiert wird, auf der Oberfläche des Messzielobjekts und zu der optischen Mittelachse des Bildausbildungsabschnitts parallel ist.
  4. Optische Messvorrichtung nach Anspruch 1, wobei der Lichtabschirmungsabschnitt mit einer kreisförmigen Öffnung, die die optische Mittelachse des Bildausbildungsabschnitts als Mitte hat, ausgebildet ist und das Licht außerhalb der kreisförmigen Öffnung abschirmt.
  5. Optische Messvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei der Bildausbildungsabschnitt als Objektiv ausgebildet ist, in welchem eine Anzahl von Linsen kombiniert ist; und der Lichtabschirmungsabschnitt zwischen den Linsen angeordnet ist, die an beiden Enden in Bezug auf die Aufreihungsrichtung der Anzahl von Linsen angeordnet sind.
  6. Optische Messvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei der Bildausbildungsabschnitt eine Einzellinse ist; und eine Konvergierungsposition in Richtung der optischen Mittelachse des Bildausbildungsabschnitts für die zu der bestimmten Ebene des spiegelreflektierten Lichts des Bestrahlungslichts innerhalb der Einzellinse liegt.
  7. Optische Messvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, wobei der Lichtabschirmungsabschnitt den Einfallswinkelbereich in Bezug auf die optische Mittelachse des Bildausbildungsabschnitts für die zu der bestimmten Ebene parallele Komponente des diffus reflektierten Lichts anhand eines effektiven Messbereichs definiert, der vorab auf der Oberfläche des Messzielobjekts definiert worden ist.
  8. Optische Messvorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, wobei der Lichtprojektionsabschnitt das Lichtbündel so projiziert, dass eine Bündelbreite in Richtung parallel zu der bestimmten Ebene mit Fortschreiten des Linienbündels von dem Lichtprojektionsabschnitt zu dem Lichtempfangsabschnitt allmählich kleiner wird; und die bestimmte Ebene eine Ebene ist, die auf eine lichtprojektionsabschnittbezügliche optische Mittelachse des von dem Lichtprojektionsabschnitt aufgebrachten Linienbündels und auf eine bildausbildungsabschnittbezügliche optische Mittelachse, die als optische Mittelachse für den Bildausbildungsabschnitt dient, senkrecht steht, und die die bildausbildungsabschnittsbezügliche optische Mittelachse enthält.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102013103897A1 (de) * 2012-04-25 2013-10-31 Chromasens Gmbh Kameramodul, Produktüberwachungsvorrichtung mit einem solchen Kameramodul und Verfahren zum Abtasten eines Objektes

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012078155A (ja) * 2010-09-30 2012-04-19 Omron Corp 受光レンズ、および光学式変位センサ
JP5866094B2 (ja) * 2011-03-07 2016-02-17 芝浦メカトロニクス株式会社 ペースト塗布装置及びペースト塗布方法
NL2006438C2 (nl) * 2011-03-21 2012-09-24 Stevlos B V Anker met een optische meetinrichting.
JP5982789B2 (ja) * 2011-11-15 2016-08-31 株式会社ニコン 形状測定装置、構造物製造システム、構造物製造方法
JP5418623B2 (ja) * 2012-03-13 2014-02-19 新日鐵住金株式会社 管内面皮膜厚さ計測方法および計測装置
CN103512864B (zh) * 2012-06-25 2016-07-06 中国科学院微电子研究所 利用平行光测量衬底反射率和透射率的光学量测***
US9605950B2 (en) * 2013-05-22 2017-03-28 Cognex Corporation System and method for efficient surface measurement using a laser displacement sensor
US10222201B2 (en) * 2016-07-14 2019-03-05 United Technologies Corporation Visual depth measurement gage
JP6248244B1 (ja) * 2016-08-09 2017-12-20 ナルックス株式会社 位置測定部を備えた部品
JP6743788B2 (ja) * 2017-09-14 2020-08-19 横河電機株式会社 変位センサ
DE112019007890T5 (de) * 2019-11-11 2022-08-25 Mitsubishi Electric Corporation Vorrichtung zur additiven fertigung
JP7503412B2 (ja) * 2020-04-10 2024-06-20 株式会社キーエンス 光学式変位センサ
CN116336964B (zh) * 2023-05-31 2023-09-19 天津宜科自动化股份有限公司 一种物体轮廓信息的获取***

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3575693B2 (ja) 2001-03-25 2004-10-13 オムロン株式会社 光学式計測装置
JP2008292311A (ja) 2007-05-24 2008-12-04 Panasonic Electric Works Co Ltd センサ装置およびその製造方法

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AT44093B (de) 1908-06-27 1910-09-26 August Marius Kjaersgaard Luftverdünnungspumpe.
NL8302228A (nl) * 1983-06-22 1985-01-16 Optische Ind De Oude Delft Nv Meetstelsel voor het onder gebruikmaking van een op driehoeksmeting berustend principe, contactloos meten van een door een oppervlakcontour van een objectvlak gegeven afstand tot een referentieniveau.
JPH06117852A (ja) * 1992-10-02 1994-04-28 Fuji Electric Co Ltd 光学式変位計
DE4342212C1 (de) * 1993-12-10 1995-05-24 Daimler Benz Aerospace Ag Optisches Meßgerät
JPH07280532A (ja) * 1994-04-14 1995-10-27 Nippon Steel Corp 物体の形状検査装置
US6166808A (en) * 1996-12-24 2000-12-26 U.S. Philips Corporation Optical height meter, surface-inspection device provided with such a height meter, and lithographic apparatus provided with the inspection device
US5774224A (en) * 1997-01-24 1998-06-30 International Business Machines Corporation Linear-scanning, oblique-viewing optical apparatus
DE19721688B4 (de) * 1997-03-06 2012-12-27 Institut Straumann Ag Oberflächenerfassungseinrichtung und Verfahren zur Oberflächenerfassung
GB9716240D0 (en) * 1997-07-31 1997-10-08 Tricorder Technology Plc Scanning apparatus and methods
EP1093562A1 (de) * 1998-07-08 2001-04-25 PPT Vision, Inc. Bildverarbeitung und halbleiterhandhabung
JP2000097634A (ja) * 1998-09-28 2000-04-07 Omron Corp 撮像装置及びこれを用いた光式センサ
JP2000097635A (ja) * 1998-09-28 2000-04-07 Omron Corp 光式センサ
JP3975892B2 (ja) * 2002-05-02 2007-09-12 富士ゼロックス株式会社 位置計測システム
JP2004117161A (ja) * 2002-09-26 2004-04-15 Sharp Corp 光学式変位センサ
JP2004163129A (ja) * 2002-11-11 2004-06-10 Canon Inc 欠陥検査方法
US20060188133A1 (en) * 2003-01-13 2006-08-24 Schallig Michiel A A Method of and apparatus for determing height or profile of an object
JP4753657B2 (ja) * 2005-08-08 2011-08-24 株式会社東京精密 表面形状測定装置及び表面形状測定方法
JP4380663B2 (ja) * 2006-06-08 2009-12-09 コニカミノルタセンシング株式会社 三次元形状測定方法、装置、及びフォーカス調整方法
JP5046688B2 (ja) * 2007-03-08 2012-10-10 株式会社神戸製鋼所 タイヤ形状検出装置,タイヤ形状検出方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3575693B2 (ja) 2001-03-25 2004-10-13 オムロン株式会社 光学式計測装置
JP2008292311A (ja) 2007-05-24 2008-12-04 Panasonic Electric Works Co Ltd センサ装置およびその製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102013103897A1 (de) * 2012-04-25 2013-10-31 Chromasens Gmbh Kameramodul, Produktüberwachungsvorrichtung mit einem solchen Kameramodul und Verfahren zum Abtasten eines Objektes

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