DE102006060399B4 - Flachpaneelanzeige und Verfahren zum Steuern der Bildqualität - Google Patents

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Abstract

Flachpaneelanzeigevorrichtung mit: einem Anzeigepaneel (101) mit einem Nicht-Defektbereich und einem Paneel-Defektbereich, in dem eine Helligkeit oder eine Farbwiedergabe im Vergleich zu dem Nicht-Defektbereich unterschiedlich ist; einem Speicher (122R, 122G, 122B) zum Speichern erster Kompensations-Datenwerte (CDR1, CDG1, CDB1) zum Kompensieren des Helligkeitsunterschieds oder des Farbunterschieds in dem Paneel-Defektbereich, zweiter Kompensations-Datenwerte (CDR2, CDG2, CDB2) zum Kompensieren eines Helligkeitsunterschieds oder Farbunterschieds in einem Grenzteil zwischen dem Paneel-Defektbereich und dem Nicht-Defektbereich; einem ersten Kompensationsteil (131) zum Ändern der Daten, die in dem Paneel-Defektbereich anzuzeigen sind, unter Berücksichtigung der ersten Kompensations-Datenwerte (CDR1, CDG1, CDB1), indem die ersten Kompensations-Datenwerte (CDR1, CDG1, CDB1) in dem Paneel-Defektbereich auf Pixel innerhalb einer vorgegebenen Ditheringstruktur und/oder auf eine Mehrzahl von Frame-Zeitspannen verteilt werden; einem zweiten Kompensationsteil (132) zum Ändern der Daten, die in einem festen Bereich einschließlich der Grenze anzuzeigen sind, unter Berücksichtigung der zweiten Kompensations-Datenwerte (CDR2, CDG2, CDB2), indem die zweiten Kompensations-Datenwerte (CDR2, CDG2, CDB2) auf Pixel innerhalb einer vorgegebenen Ditheringstruktur und/oder auf eine Mehrzahl von Frame-Zeitspannen in dem festen Bereich einschließlich der Grenze verteilt werden; und einem Treiber zum Ansteuern des Anzeigepaneels (101) unter Verwendung der Daten, die von den ersten und zweiten Kompensationsteilen (131, 132) geändert sind.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine Flachpaneelanzeigevorrichtung und insbesondere eine Flachpaneelanzeigevorrichtung, die eingerichtet ist, einen Paneeldefekt durch einen Reparaturprozess und durch Optimierung der Daten, die in dem Paneel-Defektbereich anzuzeigen sind, mit einem Kompensationswert eines Kompensationsschaltkreises zu kompensieren und ein Bildqualität-Steuerverfahren.
  • Seit kurzem werden verschiedene Flachpaneelanzeigevorrichtungen mit reduziertem Gewicht und reduzierter Größe, die Nachteile von Kathodenstrahlröhren waren, gebräuchlicher. Flachpaneelanzeigevorrichtungen umfassen Flüssigkristallanzeigen, Feldemissionsanzeigen, Plasmapaneelanzeigen, Anzeigen mit organischen LEDs usw.
  • Die Flachpaneelanzeigevorrichtungen weisen ein Anzeigepaneel zum Anzeigen eines Bilds auf, wobei aber oft ein Paneeldefekt in so einem Anzeigepaneel während eines Testprozesses gefunden werden kann.
  • Der während des Testprozesses auftretende Bildqualitätdefekt wird hauptsächlich während des Herstellungsprozesses verursacht. Zum Beispiel kann der Paneeldefekt durch eine Abweichung in der Belichtungsmenge, einer Blendendifferenz der Linse einer Belichtungsmaschine usw. in einem Überlappungs-Belichtungsprozess verursacht werden. Der durch die Prozessabweichung verursachte Paneeldefekt kann sich als feststehende Form, wie zum Beispiel ein Punkt, eine Linie, ein Gürtel, ein Kreis, ein Vieleck usw., wie in den 1 bis 5 dargestellt ist, oder als unbestimmte Form manifestieren.
  • Eine Reparaturprozess, wie zum Beispiel das Bilden einer dünnen Schicht, ein Strukturierungsprozess usw. wird zum Ausbessern des Paneeldefekts durchgeführt, jedoch sind die durch Reparaturprozesse ausbesserbaren Paneeldefekte begrenzt und das fehlerhafte Produkt kann als Abfall entsorgt werden müssen, wenn der Paneeldefekt zu groß ist. Ferner erscheint in den meisten Fällen die Helligkeit oder die Farbwiedergabe in einem Gebiet, wo ein Paneeldefekt auftrat, unterschiedlich von einem Gebiet, wo kein Defekt auftrat, auch wenn der Reparaturprozess durchgeführt wurde.
  • Der Reparaturprozess für einen Pixeldefekt, der in Punkt-Form in dem Paneeldefekt auftritt, umfasst hauptsächlich ein Verfahren, bei dem das Defektpixel zu einem dunklen Punkt gemacht wird. Der erzeugte dunkle Punkt ist in einem schwarzen Graupegel, wie in 6A, fast nicht bemerkbar, aber deutlich als schwarzer Punkt in einem Anzeigeschirm mit mittlerem Graupegel und mit weißem Graupegel bemerkbar, wie in den 6B und 6C.
  • Demzufolge gibt es eine Einschränkung beim Kompensieren einer Bildqualitätstörung, die durch den Paneeldefekt verursacht ist, wenn nur der Reparaturprozess, bei dem ein dunkler Punkt erzeugt wird, zum Ausbessern des Paneeldefekts verfügbar ist.
  • JP 2003-066924 A zeigt ein Verfahren, bei dem in einem nichtflüchtigen Speicher Informationen über defekte Pixel einer Anzeige abgelegt werden. In dem Speicher ist neben der Adresse des Pixels auch die Art des Fehlers abgelegt, wobei nur zwischen hell und dunkel unterschieden wird. Die umgebenden Pixel werden so angesteuert, dass eine Kompensation des fehlerhatften Pixels erzeugt wird. Dabei wird aus den Werten der umgebenden Pixel unter Berücksichtigung des Wertes des fehlerhaften Pixels ein Mittelwert für jedes umgebende Pixel berechnet. Hierdruch erfolgt ein Ausgleich des fehlerhaften Pixels, so dass dieser nicht mehr auffällt.
  • US 2002/0113766 A1 zeigt ein Verfahren, bei dem defekte Pixel an benachbarte Pixel angeschlossen werden, um durch diese aktiviert zu werden.
  • EP 0 706 165 A1 zeigt einen Fehlerdiffusionsfilter für eine DMD-Anzeige mit einer inversen Gamma-Nachschlagtabelle und Mitteln, die als Antwort auf einen Fehlerausgangswert Pixeldaten-Intensitätspegel für Pixelelemente, die ein gegebenes Pixelelement einer DMD umgeben, in verteilter Weise ändern, wobei die Änderung in einem Verhältnis zum Fehlerausgangswert steht.
  • US 2005/0179675 A1 zeigt ein Verfahren zum Maskieren eines defekten Pixels, der mindestens einen defekten Unterpixel aufweist, einer Anzeigevorrichtung, bei dem für den Pixel ein Satz von Unterpixelwerten zum Erzeugen gewünschter Wahrnehmungscharakteristiken ermittelt wird und bei dem ein modifizierter Satz an Unterpixelwerten zum Erzeugen modifizierter Wahrnehmungscharakteristiken ermittelt wird.
  • Folglich ist die Erfindung auf eine Flachpaneelanzeige und ein Verfahren zum Steuern der Bildqualität gerichtet, die eines oder mehrere Probleme aufgrund des Standes der Technik überwinden.
  • Folglich ist es ein Vorteil der Erfindung, eine Flachpaneelanzeigevorrichtung, die zum Kompensieren eines Paneeldefekts durch einen Reparaturprozess und Optimieren der Daten, die in dem Paneel-Defektbereich anzuzeigen sind, mit einem Kompensationswert eines Kompensationsschaltkreises eingerichtet ist, und ein Bildqualität-Steuerverfahren bereitzustellen.
  • Zusätzliche Vorteile der Erfindung werden in der folgenden Beschreibung erklärt, und werden teilweise aus der Beschreibung offensichtlich, oder können durch Anwenden der Erfindung erlernt werden. Die Ziele und andere Vorteile der Erfindung werden durch die Struktur erreicht und verwirklicht, auf die insbesondere in der Beschreibung und Ansprüchen davon hingewiesen ist, sowie den angefügten Zeichnungen.
  • Zum Erreichen dieser und anderer Vorteile der Erfindung, weist eine Flachpaneelanzeigevorrichtung gemäß einer Ausgestaltung der Erfindung ein Anzeigepaneel mit einem Nicht-Defektbereich und einem Paneel-Defektbereich; einen Speicher zum Speichern eines ersten Kompensations-Datenwerts zum Kompensieren des Anzeigepaneels in dem Paneel-Defektbereich, eines zweiten Kompensations-Datenwerts zum Kompensieren eines Grenzteils zwischen dem Paneel-Defektbereich und dem Nicht-Defektbereich, und eines dritten Kompensations-Datenwerts zum Kompensieren von Daten außerhalb des Defektbereichs; ein erstes Kompensationsteil zum Ändern der Daten, die in dem Paneel-Defektbereich anzuzeigen sind, in den ersten Kompensations-Datenwert, indem der erste Kompensations-Datenwert in dem Paneel-Defektbereich verteilt wird; ein zweites Kompensationsteil zum Ändern der Daten, die in einem festen Bereich einschließlich der Grenze anzuzeigen sind, in den zweiten Kompensations-Datenwert, indem der zweite Kompensations-Datenwertwert in den festen Bereich einschließlich der Grenze verteilt wird; und einen Treiber zum Ansteuern des Anzeigepaneels unter Verwendung der Daten, die von den ersten und zweiten Kompensationsteilen geändert sind, auf.
  • Gemäß einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung weist ein Verfahren zum Steuern der Bildqualität einer Flachpaneelanzeigevorrichtung Bestimmen eines ersten Kompensations-Datenwerts zum Kompensieren der Daten, die in einem Paneel-Defektbereich des Anzeigepaneels anzuzeigen sind, eines zweiten Kompensations-Datenwerts zum Kompensieren der Daten, die in einem Grenzteil zwischen dem Paneel-Defektbereich und einem Nicht-Defektbereich des Anzeigepaneels anzuzeigen sind, Speichern des ersten und des zweiten Kompensations-Datenwerts in einem Speicher; einen ersten Kompensationsschritt zum Einstellen der in dem Paneel-Defektbereich anzuzeigenden Daten auf den ersten Kompensations-Datenwert durch ein Verteilungsverfahren; einen zweiten Kompensationsschritt zum Einstellen des in einem festen Bereich einschließlich der Grenze anzuzeigenden Datenwerts auf den zweiten Kompensations-Datenwert, indem der zweite Kompensations-Datenwert in dem festen Bereich einschließlich der Grenze verteilt wird; Ansteuern des Anzeigepaneels unter Verwendung der Daten, die durch das erste und das zweite Kompensationsteil eingestellt sind, auf.
  • Die begleitenden Zeichnungen, die enthalten sind, um ein weiteres Verständnis der Erfindung zu schaffen und in dieser Beschreibung enthalten sind und einen Teil davon bilden, stellen Ausführungsbeispiele der Erfindung dar und dienen zusammen mit der Beschreibung zum Erklären der Prinzipien der Erfindung.
  • In den Zeichnungen:
  • 1 bis 5 sind Diagramme, die einen Paneel-Defektbereich eines Anzeigepaneels darstellen;
  • 6A bis 6C sind Diagramme, die den Wahrnehmungsgrad für jeden Graupegel eines Defektpixels, das als schwarzer Punkt hergestellt ist, darstellen;
  • 7A und 7B sind Diagramme, die ein Herstellungsverfahren einer Flachpaneelanzeigevorrichtung gemäß der Erfindung darstellen;
  • 8 ist ein Diagramm, das eine charakteristische Gamma-Kurve darstellt;
  • 9A bis 9E sind Diagramme zum Erklären einer Helligkeitskenngröße, die in einem Grenzteil eines Paneel-Defektbereichs und eines Nicht-Defektbereichs auftritt;
  • 10 ist ein Diagramm zum kurzen Erklären eines Reparaturprozesses gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung;
  • 11A–C, 12A–C, 13A–B und 14A–C sind Diagramme, die verschiedene Ausführungsbeispiele eines Reparaturprozesses gemäß der Erfindung darstellen;
  • 15, 16, 17 und 18 sind Diagramme zum Erklären einer Frameratensteuerung eine eines Ditherings;
  • 19A bis 19D sind Diagramme, die das Anlegen verschiedener Ditheringstrukturen gemäß einer Helligkeit in einem Grenzteil eines Paneel-Defektbereichs und eines Nicht-Defektbereichs eines Anzeigepaneels darstellt;
  • 20A bis 20C sind Diagramme, die die Ditheringstruktur der Frameratensteuerung gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel der Erfindung darstellen;
  • 21A bis 21D sind Diagramme, die Unter-Ditheringstruktur darstellen, die innerhalb einer in 20A gezeigten 1/8-Ditheringstruktur angeordnet sind;
  • 22 ist ein Diagramm, das ein Beispiel einer Ditheringstruktur darstellt, die auf einen Grenzteil „x4–x5” abgebildet ist, der in 19A gezeigt ist;
  • 23A bis 23D sind Diagramme, die eine Ditheringstruktur einer Frameratensteuerung gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel der Erfindung darstellen;
  • 24 ist ein Diagramm, das eine Flachpaneelanzeigevorrichtung gemäß der Erfindung darstellt;
  • 25 ist ein Diagramm, das einen in 24 dargestellten Kompensationsschaltkreis darstellt;
  • 26 ist ein Diagramm, das ein in 25 dargestelltes Kompensationsteil darstellt; und
  • 27 bis 37 sind Diagramme, die verschiedene Ausführungsbeispiele von in 26 dargestellten ersten bis dritten Kompensationsteilen darstellen.
  • Es wird jetzt im Detail auf Ausführungsbeispiele der Erfindung Bezug genommen, wovon Beispiele in den begleitenden Zeichnungen dargestellt sind.
  • Nachstehend werden Ausführungsbeispiele der Erfindung wie folgt mit Bezugnahme auf die 7A bis 37 erklärt. Die nachfolgend dargestellten Ausführungsbeispiele werden mit Bezugnahme auf eine Flüssigkristallanzeigevorrichtung in Flachpaneelanzeigevorrichtungen erklärt.
  • Unter Bezug auf 7A und 7B wird ein Herstellungsverfahren einer Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung erklärt.
  • Mit Bezugnahme auf die 7A und 7B werden in dem Herstellungsverfahren der Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß dem Ausführungsbeispiel der Erfindung ein oberes Substrat (Farbfiltersubstrat) bzw. ein unteres Substrat (TFT-Arraysubstrat) eines Anzeigepaneels (S1) hergestellt. Der Herstellungsschritt (S1) weist einen Substrat-Reinigungsprozess, einen Substrat-Strukturierungsprozess, einen Ausrichtungsschicht-Bildungs-/Reibeprozess usw. auf. Bei dem Substrat-Reinigungsprozess werden Unreinheiten auf den Oberflächen des oberen bzw. unteren Substrats mit einer Reinigungslösung entfernt. Bei dem Strukturierungsprozess des oberen Substrats werden auch ein Farbfilter, eine gemeinsame Elektrode, eine Schwarzmatrix usw. gebildet. Bei dem Strukturierungsprozess des unteren Substrats werden Signalleitungen wie zum Beispiel Datenleitungen und Gateleitungen gebildet; TFTs (TFT = Dünnschichttransistor) werden jeweils an einem Kreuzungsabschnitt von einer Datenleitung und einer Gateleitung gebildet, und eine Pixelelektrode wird in jedem Pixelbereich gebildet, der durch einander kreuzende Datenleitungen und Gateleitungen gebildet ist. Ferner kann in dem Strukturierungsprozess des unteren Substrats ein Prozess zum Bilden einer Öffnungsstruktur (Apertur-Struktur) gebildet sein, wo ein Gatemetall von einer Dummystruktur oder einer Gateleitung in Übereinstimmung mit dem folgenden Reparaturprozess entfernt wird.
  • Nachfolgend zeigt ein Herstellungsverfahren der Flüssigkristallanzeigevorrichtung, gemäß dem Ausführungsbeispiel der Erfindung ein Testbild an, indem Test-Datenwerte mit jedem Graupegel an das untere Substrat des Anzeigepaneels angelegt werden und ein Paneeldefekt durch eine elektrische/magnetische Untersuchung des Bilds untersucht (inspiziert) wird (S2).
  • Im Fall des Erfassens des Paneeldefekts als Untersuchungsergebnis des Schritts S2 (S3) werden in dem Herstellungsverfahren der Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß dem Ausführungsbeispiel der Erfindung Positionsinformationen einer Position oder eines Bereichs, wo der Paneeldefekt auftritt, und eine Gegenwart oder Abwesenheit des Paneeldefekts in einem Untersuchungscomputer gespeichert und eine Korrektur zum Kompensieren des Paneeldefekts durchgeführt (S4).
  • In dem Herstellungsverfahren der Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß dem Ausführungsbeispiel der Erfindung in 7B werden erste Kompensations-Datenwerte zum Kompensieren der Helligkeit oder Farbwiedergabe des Paneel-Defektbereich, der unterschiedlich von einem Nicht-Defektbereich auftritt (S21), berechnet. Gleichzeitig kann der erste Kompensations-Datenwert für jede Position optimiert sein, da der Grad des Helligkeitsunterschieds oder des Farbunterschieds im Vergleich zu dem Nicht-Defektbereich gemäß der Position des Paneel-Defektbereichs auf dem Anzeigepaneel unterschiedlich ist. Ferner sollte unter Berücksichtigung einer Gammakenngröße, wie in 8, der erste Kompensations-Datenwert optimiert werden. Folglich kann der Kompensationswert für jeden Graupegel in jedem R-, G-, B-Pixel bestimmt werden, oder er kann für jeden Graupegelabschnitt (A, B, C, D) bestimmt werden, der eine Mehrzahl von Graupegel aufweist, wie in 8 dargestellt ist. Zum Beispiel wird der Kompensationswert bestimmt sein, so dass er einen optimierten Wert für jede Position aufweist, wie zum Beispiel „+1” an „Position 1”, „–1” an „Position 2”, „0” an „Position 3” und er kann auch bestimmt sein, so dass er einen optimierten Wert für jeden Graupegelabschnitt aufweist, wie zum Beispiel „0” in dem „Graupegelabschnitt A”, „0” in dem „Graupegelabschnitt B”, „1” in dem Graupegelabschnitt C” und „1” in dem „Graupegelabschnitt D”. Folglich kann der Kompensationswert für jeden Graupegel an der gleichen Position unterschiedlich gemacht werden und er kann auch unterschiedlich werden für jede Position in dem gleichen Graupegel. Ein Kompensationswert wie dieser kann bestimmt sein, so dass er den gleichen Wert für alle R-, G- bzw. B-Datenwert aufweist, wenn die Helligkeit korrigiert wird, oder er kann bestimmt werden, so dass er für alle R-, G- bzw. B-Datenwerte unterschiedlich ist, wenn der Farbunterschied korrigiert wird. Wenn zum Beispiel Rot deutlicher in einem spezifischen Paneel-Defektbereich gezeigt wird als in einem Nicht-Defektbereich, wird der R-Kompensationswert kleiner als die G- und B-Kompensationswerte sein.
  • Nachfolgend wird in dem Herstellungsverfahren der Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß dem Ausführungsbeispiel der Erfindung der Test-Datenwert unter Verwendung des in dem Schritt S21 bestimmten ersten Kompensations-Datenwert moduliert und der modulierte Test-Datenwert an ein unteres Substrat angelegt zum Untersuchen von Rauschen eines Grenzteils durch eine elektrische/magnetische Untersuchung (S22). Mit anderen Worten, die an den Paneel-Defektbereich anzulegenden Test-Datenwert werden unter Verwendung des ersten Kompensations-Datenwerts moduliert, so dass die Helligkeit und/oder Farbwiedergabe des Paneel-Defektbereichs korrigiert wird, und eine Grenzteil-Rauschuntersuchung für das Grenzteil des Nicht-Defektbereichs und des Paneel-Defektbereichs durchgeführt wird, wo die Helligkeit oder Farbwiedergabe korrigiert ist (S22). Hier bedeutet „Reihenfolgeteil” einen festen Bereich einschließlich der Grenze zwischen dem Paneel-Defektbereich und dem Nicht-Defektbereich und des Umgebungsbereichs davon, und „Grenzteilrauschen” bedeutet ein Helligkeitsrauschen, das in dem Grenzteil auftritt. Wenn zum Beispiel die Helligkeit des Nicht-Defektbereichs in dem Anzeigepaneel L0 ist, wie in 9A gezeigt ist, wird ein Paneel-Defektbereich, der einen Helligkeitsunterschied zu einem Nicht-Defektbereich von „ΔL1” aufweist, angenommen. In diesem Fall ist eine minimale Helligkeitslücke zwischen Graupegeln, die von der Flüssigkristallanzeigevorrichtung angezeigt werden können, oder ein minimaler Anstieg oder Abfall der Helligkeitsmenge durch eine Schaltkreiskompensation um die Datenmodulation gleich „ΔLm”. Die Helligkeit des Paneel-Defektbereichs ist nahe an L0 von (k × ΔLm) (k ist eine willkürliche Ganzzahl) von der Datenmodulation unter Verwendung des ersten Kompensations-Datenwerts, so dass der Helligkeitsunterschied des Paneel-Defektbereichs und des Nicht-Defektbereichs auf ΔL2 (wobei 0 ≤ ΔL2 ≤ ΔLm) verringert wird. Dann kann die Helligkeit abnormal erhöht oder verringert sein, d. h. ein Grenzrauschen kann in dem Grenzteil B1 bis B6 des Paneel-Defektbereichs und des Nicht-Defektbereichs erzeugt werden, obwohl der erste Kompensations-Datenwert bestimmt ist, dass der Kompensationswert für die Helligkeit des Paneel-Defektbereichs fast die Helligkeit des Nicht-Defektbereichs erreicht, wie in 9C dargestellt ist. Folglich wird in dem Herstellungsverfahren der Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß der Erfindung im Fall, dass das Grenzrauschen als Ergebnis der Grenzteiluntersuchung durch Schritt S22 gefunden wurde (S23), die Positionsinformation für den Bereich, wo das Grenzteilrauschen auftritt und die Gegenwart oder Abwesenheit des Grenzteilrauschens in einem Untersuchungscomputer gespeichert und der zweite Kompensations-Datenwert zum Kompensieren des Grenzteilrauschens (S24) berechnet. Gleichzeitig kann der zweite Grenzdatenwert auch für jede Position und für jeden Graupegel auf die gleiche Weise wie der erste Kompensations-Datenwert optimiert werden. Andererseits, kann das Grenzteilrauschen unter verschiedenen Formen, wie in den 9D und 9E (die andere sind als die in 9C dargestellte Rauschform) auftreten, und es kann in sowohl dem Paneel-Defektbereich als auch im Nicht-Defektbereich enthalten sein.
  • Andererseits, kann ΔLm einen unterschiedlichen Wert für jede Flüssigkristallanzeigevorrichtung aufweisen in Übereinstimmung mit einer Datenprozesskapazität eines Ansteuerungsschaltkreises oder verschiedener Bildverarbeitungstechniken der Flüssigkristallanzeigevorrichtung. Das ΔLm in der Flüssigkristallanzeigevorrichtung mit dem Ansteuerungsschaltkreis mit 6-Bit-Prozesskapazität und das ΔLm in der Flachpaneelanzeigevorrichtung mit dem Anzeigeschaltkreis mit 8-Bit-Prozesskapazität kann unterschiedliche Werte aufweisen, und der ΔLm-Wert kann in Übereinstimmung damit, ob die Bildverarbeitungstechnik angewendet wird, oder nicht, zwischen den Flachpaneelanzeigevorrichtung mit dem Ansteuerungsschaltkreis mit der gleichen Bit-Prozesskapazität unterschiedlich sein.
  • Nachfolgend werden in dem Herstellungsverfahren der Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß dem Ausführungsbeispiel der Erfindung ein Defektpixel 10 und ein Normalpixel 11 mit einer leitfähigen Verbindungsstruktur 12 elektrisch verbunden, so dass der Reparaturprozesses des Bildens eines Verbindungspixels 13, wie in 10 dargestellt, für den Pixeldefekt (S31) gleichzeitig oder in der Reihenfolge der Schritte S21 bis S24 durchgeführt wird, und ein dritter Kompensations-Datenwert zum Kompensieren einer Ladungskenngröße des Verbindungspixels 13 (S32) berechnet wird.
  • Der Reparaturprozess S31, wie in 10 dargestellt, wird durch ein Verfahren des elektrischen kurzschließen oder Verbindens des Defektpixels 10 mit dem Normalpixel 11, das dazu benachbart ist und die gleiche Farbe darstellt, gemacht. Der Reparaturprozess S31 weist einen Prozess des Abfangens des Pfads durch den eine Datenspannung an die Pixelelektrode des Defektpixels 10 angelegt ist, und einen Prozess des elektrischen Kurzschließens oder Verbindens des Normalpixels 11 und des Defektpixels 10 unter Verwendung der leitfähigen Verbindungsstruktur 12 auf. Eine detaillierte Erklärung des Reparaturprozesses S31 wird später gegeben. Ferner wird das Defektpixel 10, das in dem Verbindungspixel 13, wo das Defektpixel 10 und das Normalpixel 11 elektrisch verbunden sind, verbunden ist, mit der gleichen Datenspannung geladen, wenn es mit der Datenspannung des verbundenen Normalpixels 11 geladen wird. Übrigens weist das Verbindungspixel 13 eine im Vergleich zu einem nicht verbundenen Normalpixel unterschiedliche Ladungscharakteristik auf, da elektrische Ladungen an die Pixelelektroden, die in den beiden Pixeln 10 und 11 enthalten sind, durch einen TFT (TFT = Dünnschichttransistor) angelegt werden. Wenn zum Beispiel die gleiche Datenspannung an das Verbindungspixel 13 und das nicht verbundene Normalpixel 14 angelegt wird, sind in dem Verbindungspixel 13 die elektrischen Ladungen auf die beiden Pixel 10 und 11 verteilt, wodurch die Menge von geladenen elektrischen Ladungen im Vergleich zu dem nicht verbunden Normalpixel 14 geringer ist. Demzufolge erscheint das Verbindungspixel 13 heller als das nicht verbundene Normalpixel 14 in einem Normal-Weiß-Modus, in dem eine Lichtdurchlässigkeit oder ein Graupegel erhöht ist, wenn die Datenspannung kleiner wird, wenn die gleiche Datenspannung an das unverbundene Normalpixel 14 und das Verbindungspixel 13 angelegt ist. Im Gegensatz dazu erscheint das Verbindungspixel 13 dunkler als das nicht verbundene Normalpixel 14 in einem Normal-Schwarz-Modus, in dem eine Lichtdurchlässigkeit oder ein Graupegel sinkt, wenn die Datenspannung größer wird. Allgemein wird eine Flüssigkristallanzeigevorrichtung im verdreht-nematischen-Modus (nachstehend als TN-Modus bezeichnet), in dem die Pixelelektrode und die gemeinsame Elektrode der Flüssigkristallzelle getrennt voneinander auf zwei Substraten gebildet sind, die einander mit einem dazwischenliegenden Flüssigkristall gegenüberliegen, und ein vertikales elektrisches Feld zwischen der Pixelelektrode und der gemeinsamen Elektrode angelegt ist, typischerweise im Normal-Weiß-Modus angesteuert. Im Gegensatz dazu, wird eine Flüssigkristallanzeigevorrichtung mit einem Schaltmodus, der in einer einzigen Ebene liegt (nachstehend als IPS-Modus bezeichnet), in der die Pixelelektrode und die gemeinsame Elektrode der Flüssigkristallzelle auf dem gleichen Substrat gebildet sind und ein horizontales elektrisches Feld zwischen der Pixelelektrode und der gemeinsamen Elektrode angelegt wird, typischerweise im Normal-Schwarz-Modus angesteuert.
  • Dem Reparaturprozess S31 nachfolgend, wird in dem Herstellungsverfahren der Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß der Erfindung die Gegenwart oder Abwesenheit des Verbindungspixels 12 und die Positionsinformation davon in einem Untersuchungscomputer gespeichert und dritte Kompensations-Datenwerte zum Kompensieren einer Ladungskenngröße des Verbindungspixels 13 berechnet (S32). Gleichzeitig unterscheidet sich die Ladungscharakteristik des Verbindungspixels 13 von dem unverbundenen Pixel 14 im Grad des Helligkeitsunterschieds und des Farbunterschieds, in Übereinstimmung mit der Position des Verbindungspixels 13, wodurch es wünschenswert ist, dass der dritte Kompensations-Datenwert auch für jede Position und für jeden Graupegel in der gleichen Weise optimiert wird, wie die ersten und zweiten Kompensationsdaten.
  • Nachstehend werden unter Bezugnahme auf die 11A bis 14C verschiedene Ausführungsbeispiele eines Reparaturprozesses gemäß der Erfindung erklärt.
  • Die 11A bis 11C zeigen einen Reparaturprozess einer TN-Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel der Erfindung.
  • Unter Bezugnahme auf die 11A und 11B wird in dem Reparaturprozess gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung eine Verbindungsstruktur 24 direkt auf einer Pixelelektrode 23A des Defektpixels 10 und einer Pixelelektrode 23B des Normalpixels 11, die einander benachbart sind, unter Verwendung eines W-CVD-Prozesses (CVD = chemische Gasphasenabscheidung) gebildet.
  • Eine Gateleitung 21 und eine Datenleitung 22 kreuzen einander auf einem unteren Substrat 25 und ein TFT ist an der Kreuzung gebildet. Eine Gateelektrode des TFT ist elektrisch mit der Gateleitung 21 gekoppelt und eine Sourceelektrode ist mit der Datenleitung 22 elektrisch gekoppelt. Die Drainelektrode des TFT ist mit den Pixelelektroden 23A und 23B durch ein Kontaktloch elektrisch gekoppelt.
  • Eine Gatemetallstruktur einschließlich der Gateleitung 21, einer Gateelektrode des TFT usw. wird auf dem unteren Substrat 25 durch einen Gatemetall-Abscheideprozess aus Aluminium Al, Aluminium-Neodym AlNd usw., einen Photolithographieprozess und einen Ätzprozess gebildet.
  • Eine Source-/Drainmetallstruktur einschließlich einer Datenleitung 22, Source- und Drainelektroden des TFT usw. wird auf einer Gateisolationsschicht 26 durch einen Source-/Drainmetall-Abscheideprozess aus Chrom Cr, Molybdän Mo, Titan Ti usw., einem Photolithographieprozess und einem Ätzprozess gebildet.
  • Die Gateisolationsschicht 26 zum elektrischen Isolieren der Gatemetallschicht von der Source-/Drainmetallschicht wird aus einer anorganischen Isolationsschicht, wie zum Beispiel Siliziumnitrid SiNx oder Siliziumoxid SiOx usw., gebildet. Eine Passivierungsschicht, die den TFT, die Gateleitung 21 und die Datenleitung 22 bedeckt, wird aus einer anorganischen Isolationsschicht oder einer organischen Isolationsschicht gebildet.
  • Die Pixelelektroden 23A und 23B werden auf der Passivierungsschicht 27 durch einen Abscheideprozess aus transparentem leitfähigem Metall, wie zum Beispiel Indium-Zinnoxid ITO, Zinnoxid TO, Indium-Zinkoxid IZO oder Indium-Zinn-Zinkoxid ITZO usw., einen Photolithographieprozess und einen Ätzprozess gebildet. Eine Datenspannung wird während einer Abtastzeitspanne an die Pixelelektroden 23A und 23B von der Datenleitung 22 durch den TFT angelegt, während der TFT eingeschaltet ist.
  • Der Reparaturprozess wird für das untere Substrat vor dem Substratbonding-/Flüssigkristall-Injektionsprozess durchgeführt. In dem Reparaturprozess wird zuerst ein Strompfad zwischen der Sourceelektrode des TFT und der Datenleitung 22 oder der Drainelektrode des TFT und der Pixelelektrode 23A hergestellt, wobei der Strompfad zwischen der Datenleitung 22 und der Pixelelektrode 23 des Defektpixels 10 durch einen Laserschneideprozess geöffnet wird. Nachfolgend wird in dem Reparaturprozess direkt Wolfram W auf die Pixelelektrode 23A des Defektpixels 10 und die Pixelelektrode 23B des Normalpixels 11 mit der gleichen Farbe, die dazu benachbart ist, und die Passivierungsschicht 27 zwischen den Pixelelektroden 23A und 23B abgeschieden, so dass die Verbindungsstruktur 24 durch einen W-CVD-Prozess gebildet wird. Andererseits sind der Leitungsunterbrechungsprozess und der W-CVD-Prozess in ihrer Reihenfolge austauschbar.
  • In dem W-CVD-Prozess wird Laserlicht unter einer W(CO)6-Atmosphäre auf entweder die Pixelelektrode 23A oder die Pixelelektrode 23B gebündelt und das konzentrierte Laserlicht wird zu einer anderen Pixelelektrode bewegt oder in dieser Richtung weiter abgetastet, wie in 11C. Dann wird Wolfram W in Antwort auf das Laserlicht von dem W(CO)6 getrennt und das Wolfram (W) wird auf die Pixelelektroden 23A und 23B und die Passivierungsschicht 27 dazwischen abgeschieden, während es zu einer Pixelelektrode 23A, der Passivierungsschicht 27 und einer anderen Pixelelektrode 23B entlang der Abtastrichtung des Laserlichts bewegt wird.
  • Die 12A bis 12C sind Diagramme, die einen Reparaturprozess einer TN-Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung erklären.
  • Unter Bezugnahme auf die 12A und 12B weist ein unteres Substrat 45 einer Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß der Erfindung eine leitfähige Dummystruktur 44 auf, die sich mit einer Pixelelektrode 43A des Defektpixels 10 und einer Pixelelektrode 43B des Normalpixels 11 überlappt, die dazu mit einer Passivierungsschicht 47 dazwischen benachbart ist.
  • Eine Gateleitung 41 und eine Datenleitung 42 kreuzen einander auf dem unteren Substrat 45 des unteren Substrats und ein TFT ist an der Kreuzung gebildet. Eine Gateelektrode des TFT ist mit der Gateleitung 41 elektrische gekoppelt, und eine Sourceelektrode ist mit der Datenleitung 42 elektrisch gekoppelt. Die Drainelektrode des TFT ist mit den Pixelelektroden 43A und 43B durch ein Kontaktloch elektrisch gekoppelt.
  • Eine Gatemetallstruktur einschließlich der Gateleitung 41, einer Gateelektrode des TFT usw. wird auf dem unteren Substrat 45 durch einen Gatemetall-Abscheideprozess, einen Photolithographieprozess und einen Ätzprozess gebildet.
  • Die Gateleitung 41 weist eine konkave Struktur 48 auf, die von der Dummystruktur 44 durch einen vorgegebenen Abstand getrennt ist, um nicht mit der Dummystruktur 44 zu überlappen, und weist eine Form auf, die die Dummystruktur 44 umgibt.
  • Eine Source-/Drain-Metallstruktur einschließlich einer Datenleitung 42, Source- und Drainelektroden des TFT, der Dummystruktur 44 usw. wird auf einer Gateisolationsschicht 46 durch einen Source-/Drainmetall-Abscheideprozess, einen Photolithographieprozess und einen Ätzprozess gebildet.
  • Die Dummystruktur 44 ist als Inselstruktur gebildet, die vor dem Reparaturprozess nicht mit der Gateleitung 41, der Datenleitung 42 und den Pixelelektroden 43A und 43B gekoppelt ist. Beide Enden der Dummystruktur 44 überlappen die Pixelelektroden 43A und 43B, die vertikal einander benachbart sind, um mit den Pixelelektroden 43A und 43B in einem Laserschweißprozess gekoppelt zu werden.
  • Die Gateisolationsschicht 46 isoliert die Gatemetallstruktur elektrisch von der Source-/Drain-Metallstruktur, und eine Passivierungsschicht 47 isoliert die Source-/Drainmetallsstruktur elektrisch von den Pixelelektroden 43A und 43B.
  • Die Pixelelektroden 43A und 43B werden auf der Passivierungsschicht 47 durch einen Abscheideprozess von transparentem leitfähigem Metall, einen Photolithographieprozess und einen Ätzprozess gebildet. Die Pixelelektroden 43A und 43B weisen ein von einer Seite des oberen Endes hervorstehendes Teil 49 auf. Die Pixelelektroden 43A und 43B sind ausreichend mit einem Ende der Dummystruktur 44 durch das hervorstehende Teil 49 überlappt. Eine Datenspannung wird während einer Abtastzeitspanne durch den TFT von der Datenleitung 42 an die Pixelelektroden 43A und 43B angelegt, während der TFT eingeschaltet ist.
  • Der Reparaturprozess wird für das untere Substrat vor dem Substratbonding-/Flüssigkristall-Einspritzprozess oder für das Paneel nach dem Substratbonding-/Flüssigkristall-Einspritzprozess durchgeführt. In dem Reparaturprozess wird zuerst ein Strompfad zwischen der Sourceelektrode des TFT und der Datenleitung 42 oder der Drainelektrode des TFT und der Pixelelektrode 43A von einem Laserschneideprozess geöffnet, so dass der Strompfad zwischen der Datenleitung 42 und der Pixelelektrode 43A des Defektpixels 10 abgefangen wird. Nachfolgend wird in dem Reparaturprozess unter Verwendung eines Laserschweißprozesses Laserlicht auf die Pixelelektroden 43A und 43B eingestrahlt, die beiden Enden der Dummystruktur 44 benachbart sind, wie in 8 dargestellt ist. Dann werden die Pixelelektroden 43A und 43B und die Passivierungsschicht 47 von dem Laserlicht geschmolzen und demzufolge sind die Pixelelektroden 43A und 43B mit der Dummystruktur gekoppelt. Andererseits, kann die Reihenfolge des Leitungsunterbrechungsprozesses und des Laserschweißprozesses vertauscht werden. 12C stellt die Pixelelektroden 43A und 43B und die Dummystruktur 44, die durch die Passivierungsschicht 47 elektrisch getrennt sind, vor dem Laserschweißprozess dar.
  • Die 13A und 13B sind Diagramme zum Erklären eines Reparaturprozesses einer IPS-Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel der Erfindung.
  • Unter Bezugnahme auf 13A und 13B wird in dem Reparaturprozess gemäß der Erfindung eine Verbindungsstruktur 64 direkt auf einer Pixelelektrode 63A des Defektpixels 10 und einer Pixelelektrode 63B des Normalpixels 11, die einander benachbart sind, unter Verwendung eines W-CVD(chemische Gasphasenabscheidung)-Prozesses gebildet.
  • Eine Gateleitung 61 und eine Datenleitung 62 kreuzen einander auf einem unteren Substrat 65 des unteren Substrats und ein TFT ist an der Kreuzung gebildet. Eine Gateelektrode ist mit der Gateleitung 61 elektrisch gekoppelt, und eine Sourceelektrode ist mit der Datenleitung 62 elektrisch gekoppelt. Die Drainelektrode des TFT ist mit den Pixelelektroden 63A und 63B durch ein Kontaktloch elektrisch gekoppelt.
  • Eine Gatemetallstruktur einschließlich der Gateleitung 61, einer Gateelektrode des TFT, einer gemeinsamen Elektrode 68 usw, wird auf dem unteren Substrat 65 durch einen Gatemetall-Abscheideprozess, einen Photolithographieprozess und einen Ätzprozess gebildet. Die gemeinsame Elektrode 68 ist mit allen Flüssigkristallzellen gekoppelt, so dass eine gemeinsame Spannung Vcom an die Flüssigkristallzellen angelegt wird. Das horizontale elektrische Feld wird an die Flüssigkristallzellen durch eine gemeinsame Spannung Vcom angelegt, die an die gemeinsame Elektrode 68 angelegt ist, und eine Datenspannung, die an die Pixelelektroden 63A und 63B angelegt ist.
  • Eine Source-/Drainmetallstruktur einschließlich einer Datenleitung 62, Source- und Drainelektroden des TFT usw. wird auf einer Gateisolationsschicht 66 durch einen Source-/Drainmetall-Abscheideprozess, einen Photolithographieprozess und einen Ätzprozess gebildet.
  • Die Pixelelektroden 63A und 63B werden auf der Passivierungsschicht 67 durch einen Abscheideprozess eines transparenten leitfähigen Metalls, einem Photolithographieprozess und einem Ätzprozess gebildet. Eine Datenspannung wird während einer Abtastzeitspanne von der Datenleitung 62 durch den TFT an die Pixelelektroden 63A und 63B angelegt, wenn der TFT eingeschaltet ist.
  • Der Reparaturprozess wird für das untere Substrat vor dem Substratbonding-/Flüssigkristall-Einspritzprozess durchgeführt. In dem Reparaturprozess wird zuerst ein Strompfad zwischen der Sourceelektrode des TFT und der Datenleitung 62 oder der Drainelektrode des TFT und der Pixelelektrode 63A durch einen Laserschneideprozess geöffnet, so dass der Strompfad zwischen der Datenleitung 62 und der Pixelelektrode 63A des Defektpixels 10 abgefangen wird. Nachfolgend wird in dem Reparaturprozess Wolfram W direkt auf die Pixelelektrode 63A des Defektpixels 10 und die Pixelelektrode 63B des Normalpixels 11 mit der gleichen Farbe, die dazu benachbart ist, und die Passivierungsschicht 67 zwischen den Pixelelektroden 63A und 63B abgeschieden, so dass die Verbindungsstruktur 64 durch einen W-CVD-Prozess gebildet wird. Andererseits sind der Leitungsunterbrechungsprozess und der W-CVD-Prozess in ihrer Reihenfolge austauschbar.
  • Die 14A bis 14C sind Diagramme zum Erklären eines Reparaturprozesses einer IPS-Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß einem vierten Ausführungsbeispiel der Erfindung. In den 14A bis 14C sind eine gemeinsame Elektrode usw. zum Anlegen eines horizontalen elektrischen Felds an die Flüssigkristallzellen zusammen mit der Datenmetallstruktur, wie zum Beispiel der Datenleitung usw., dem TFT und der Pixelelektrode weggelassen.
  • Unter Bezugnahme auf die 14A und 14B weisen die Gateleitung 81 des Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß der Erfindung ein Halsteil 92; ein Kopfteil 93, das mit dem Halsteil 92 gekoppelt ist, und dessen Bereich erweitert ist; und eine Öffnungsstruktur 91, die in einer „C”-Form in der Nähe des Halsteils 92 und des Kopfteils 93 entfernt ist, auf.
  • Eine Gatemetallstruktur einschließlich der Gateleitung 91, einer Gateelektrode des TFT (nicht gezeigt), einer gemeinsamen Elektrode usw., wird auf dem unteren Substrat 85 durch einen Gatemetall-Abscheideprozess, einen Photolithographieprozess und einen Ätzprozess gebildet.
  • Die Pixelelektroden 83A und 83B werden auf der Passivierungsschicht 87 durch einen Abscheideprozess eines transparenten leitfähigen Metalls, einen Photolithographieprozess und einen Ätzprozess gebildet.
  • In der Gateleitung 81 wird das Halsteil 91 durch den Laserschneideprozess in dem Reparaturprozess geöffnet. Ein Seitenende des Kopfteils 93 überlappt die Pixelelektrode 83A des Defektpixels 10 mit der Gateisolationsschicht 86 und der Passivierungsschicht 87, und das andere Seitenende des Kopfteils 93 überlappt die Pixelelektrode 83B des Normalpixels 11, das dem Defektpixel 10 benachbart ist, mit der Gateisolationsschicht 86 und der Passivierungsschicht 87 dazwischen.
  • Der Reparaturprozess wird für das untere Substrat vor dem Substratbonding-/Flüssigkristall-Einspritzprozess oder für das Paneel nach dem Substratbonding-/Flüssigkristall-Einspritzprozess durchgeführt. In dem Reparaturprozess wird zuerst ein Strompfad zwischen der Sourceelektrode des TFT und der Datenleitung 62 oder der Drainelektrode des TFT und der Pixelelektrode 83A durch einen Laserschneideprozess geöffnet, so dass das Halsteil 92 der Gateleitunig 81 geöffnet ist. Nachfolgend wird in dem Reparaturprozess Laserlicht direkt auf die Pixelelektroden 83A und 83B gestrahlt, die beiden Enden des Kopfteils 93 benachbart ist, wie in 14B dargestellt ist, unter Verwendung eines Laserschweißprozesses. Dann werden die Pixelelektroden 83A und 83B, die Passivierungsschicht 87 und die Gateisolationsschicht 86 von dem Laserlicht geschmolzen und demzufolge wird der Kopfteil 93 eine unabhängige Struktur, so dass er von der Gateleitung 81 getrennt ist, und die Pixelelektroden 43A und 43B sind mit dem Kopfteil 93 gekoppelt. Andererseits, kann die Reihenfolge des Leitungsunterbrechungsprozesses und des Laserschweißprozesses gewechselt werden. 14C zeigt die Pixelelektroden 83A und 83B und das Kopfteil 93, die durch die Passivierungsschicht 87 und die Gateisolationsschicht 86 elektrisch getrennt sind, vor dem Laserschweißprozess.
  • In dem Reparaturprozess gemäß dem vierten Ausführungsbeispiel der Erfindung wird das Halsteil 93 im Voraus in dem Strukturierungsprozess der Gateleitung 81 entfernt, so dass eine unabhängige Struktur wie die Dummystruktur 44 aus 12A gebildet wird, wodurch es möglich ist, den Schneideprozess des Halsteils 93 in dem Reparaturprozess wegzulassen.
  • Andererseits kann entweder die Dummystruktur 44 aus 12A oder der Kopfteil 93, das Halsteil 92 und der Öffnungsteil 91 aus 14A für jedes Pixel wie in dem vorangegangenen Ausführungsbeispiel gebildet werden, so dass die elektrische Kontaktkenngröße des Verbindungspixels, d. h. der Kontaktwiderstand, reduziert wird, wovon eine Mehrzahl für jedes Pixel gebildet sein kann.
  • Nachfolgend zu den Schritten S3 oder S4 in 7A wird in dem Herstellungsverfahren der Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß dem Ausführungsbeispiel der Erfindung das obere und das untere Substrat mit einem Dichtungsmittel oder „Frit-Glas” (S5) gebondet, wobei als „Frit-Glas” poröses Glas bezeichnet wird, durch das hindurch Gas oder Flüssigkeit passieren kann. Der Schritt S5 weist einen Ausrichtungsschicht-Bildungs-/Reibeprozess und einen Substratbonding-/Flüssigkristall-Einspritzprozess auf. Bei dem Ausrichtungsschicht-Bildungs-/Reibeprozess wird eine Ausrichtungsschicht auf sowohl dem oberen Substrat als auch dem unteren Substrat des Anzeigepaneels verteilt und die Ausrichtungsschicht wird mit einem Reibematerial, z. B. einem Reibestoff usw., gerieben. Bei dem Substratbonding-/Flüssigkristall-Einspritzprozess können das untere Substrat und das obere Substrat unter Verwendung des Dichtungsmittels verbunden werden, und ein Flüssigkristall und Abstandhalter wird durch ein Flüssigkristall-Einspritzloch eingespritzt und dann wird ein Abdichtungsprozess des Flüssigkristall-Einspritzloch durchgeführt. Das Verbinden des Substrats kann auch geschehen, nachdem der Flüssigkristall auf eines der Substrate aufgetragen wurde.
  • Nachfolgend wird in dem Herstellungsverfahren der Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß der Erfindung der Testdatenwert für jeden Graupegel nach einem Substratbonding-/Flüssigkristall-Einspritzprozess an das Anzeigepaneel angelegt, ein Testbild angezeigt und der Paneeldefekt durch eine elektrische bzw. magnetische Untersuchung und/oder einer Untersuchung durch Augenschein des Bilds untersucht (S6). Hier umfasst die Untersuchung durch Augenschein eine Untersuchung unter Verwendung einer optischen Ausrüstung wie zum Beispiel einer Kamera usw.
  • Im Fall, dass der Paneeldefekt als Ergebnis der Untersuchung in Schritt S6 erfasst wird (S7), speichert das Herstellungsverfahren der Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß dem Ausführungsbeispiel der Erfindung eine Positionsinformation der Gegenwart oder Abwesenheit des Paneeldefekts und die Position oder den Bereich, wo der Paneeldefekt auftritt, in einem Untersuchungscomputer und eine Korrektur wird durchgeführt, so dass der Paneeldefekt kompensiert wird (SB). Der Schrift S8 ist der gleiche wie der oben beschriebene Schritt S4, mit Ausnahme des W-CVD-Prozesses in den Ausführungsbeispielen des oben beschriebenen Reparaturprozesses.
  • Nachfolgend nach dem Schritt S7 oder S8 wird in dem Herstellungsverfahren der Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß dem Ausführungsbeispiel der Erfindung ein Ansteuerungsschaltkreis nach dem Substratbonding-/Flüssigkristall-Einspritzprozess auf dem Anzeigepaneel angebracht, und das Anzeigepaneel, auf dem der Ansteuerungsschaltkreis angebracht ist, eine Hintergrundbeleuchtung usw. auf einem Gehäuse angebracht, so dass ein Modul-Zusammenbauprozess des Anzeigepaneels durchgeführt wird (S9). Bei dem Anbringprozess des Ansteuerungsschaltkreises werden ein Ausgabeanschluss eines Bandträgers (nachstehend als „TCP” = tape carrier package bezeichnet), auf dem die integrierten Schaltkreise, wie zum Beispiel ein Gateansteuerungs-IC, ein Datenansteuerungs-IC usw., montiert sind, mit einem Anschlussteil des Substrats gekoppelt und ein Eingabeanschuss des TCP wird mit einer Schaltplatine (nachstehend als „PCB = printed circuit board” bezeichnet) gekoppelt, worauf eine Taktsteuerung montiert ist. Ein Speicher, in dem der Kompensations-Datenwert zu speichern sind, und ein Kompensationsschaltkreis, der die Daten moduliert, die unter Verwendung der in dem Speicher gespeicherten Daten an das Anzeigepaneel anzulegen sind, sind auf dem PCB angebracht. Der Speicher umfasst einen nichtflüchtigen Speicher, wie zum Beispiel ein EEPROM (elektrisch löschbarer programmierbarer Nur-Lese-Speicher), wo die Daten erneuert oder gelöscht werden können.
  • Andererseits ist es möglich, den Kompensationsschaltkreis in dem Taktsteuergerät einzubetten, indem ein Chip mit dem Taktsteuergerät hergestellt wird, und die Schaltkreise mit integrierter Ansteuerung können direkt auf dem Substrat durch ein Chip-auf-Glas-Verfahren (d. h. COG-Verfahren, wobei „COG” chip-on-glass bedeutet) angebracht werden, anders als bei einem automatischem Band Verbindungsverfahren (d. h. TAB-Verfahren, wobei „TAB” tape automated bonding bedeutet) unter Verwendung des TCP.
  • Nachfolgend wird in dem Herstellungsverfahren der Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß dem Ausführungsbeispiel der Erfindung das Testbild angezeigt, indem die Test-Daten für alle Graupegel angelegt werden, und der Paneeldefekt wird durch die elektrische/magnetische Untersuchung und/oder eine Untersuchung durch in Augenschein nehmen des Bilds (S10) untersucht. Hier umfasst die Untersuchung durch Augenschein eine Untersuchung unter Verwendung einer optischen Ausrüstung, wie zum Beispiel einer Kamera usw.
  • Im Fall, dass der Paneeldefekt als Ergebnis der Untersuchung des Schritts S10 erfasst wird (S11), werden in dem Herstellungsverfahren der Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß dem Ausführungsbeispiel der Erfindung eine Positionsinformation einer Position oder eines Bereichs, wo der Paneeldefekt auftritt, und eine Gegenwart oder Abwesenheit des Paneeldefekts in einem Untersuchungscomputer gespeichert, und eine Korrektur zum Kompensieren des Paneeldefekts wird durchgeführt (S12). Der Schritt S12 ist der gleiche wie der oben beschriebene Schritt S4, mit Ausnahme des W-CVD-Prozesses in den Ausführungsbeispielen des oben beschriebenen Reparaturprozesses.
  • Nachfolgend wird in dem Herstellungsverfahren der Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß der Erfindung der Positionsdatenwert und der Kompensations-Datenwert des Paneeldefekts in dem EEPROM gespeichert, die durch die beschriebene Untersuchung und den Korrekturschritt bestimmt sind (S13). Hier legt der Untersuchungscomputer den Positionsdatenwert und den Kompensations-Datenwert unter Verwendung eines ROM-Speichergeräts an das EEPROM an. Gleichzeitig kann das ROM-Speichergerät den Positionsdatenwert und den Kompensations-Datenwert durch eine Benutzerkopplung an das EEPROM übermitteln. Der Kompensations-Datenwert wird seriell durch die Benutzerkopplung übertragen, und ein serieller Takt, eine Spannungsversorgung, eine Masse-Spannungsquelle usw. werden durch die Benutzerkopplung an das EEPROM übermittelt.
  • Andererseits kann ein EDID-ROM (extended display identification data ROM = ROM für erweiterte Anzeigeidentifkationsdaten) anstelle eines EEPROM als Speicher verwendet werden, wo der Positionsdatenwert und der Kompensations-Datenwert zum Modulieren der Datenwert des Paneeldefekts gespeichert werden. Der Positionsdatenwert und der Kompensations-Datenwert werden in einem Speicherplatz gespeichert, der von dem Speicherplatz getrennt ist, wo der Überwachungsinformations-Datenwert gespeichert ist. Im Fall des Speicherns des Kompensations-Datenwerts in dem EDID-ROM anstelle des EEPROMs, übermittelt das RAM-Speichergerät den Kompensations-Datenwert durch einen DDC (data display channel = Datenanzeigekanal). Folglich können im Fall, dass das EDID-ROM verwendet wird, das EEPROM und die Benutzerkopplung entfernt werden, wodurch zusätzliche Entwicklungskosten reduziert werden können. Nachstehend wird der Fall unter der Voraussetzung erklärt, dass der Speicher, wo der Positionsdatenwert und der Kompensations-Datenwert gespeichert sind, das EEPROM ist. Natürlich können in den nachstehend aufgeführten Ausführungsbeispielen das EEPROM und die Benutzerkopplung durch das EDID-ROM und den DDC ersetzt werden. Andererseits können nicht nur das EEPROM und das EDID-ROM, sondern auch andere Arten von nichtflüchtigem Speicher, wo Daten erneuert und gelöscht werden können, als Speicher zum Speichern des Positionsdatenwerts und des Kompensations-Datenwerts verwendet werden.
  • Nachstehend wird in dem Herstellungsverfahren der Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß dem Ausführungsbeispiel der Erfindung der Test-Datenwert unter Verwendung der ersten bis dritten Kompensations-Datenwerte moduliert, die in dem EEPROM gespeichert sind, und die modulierten Test-Datenwerte werden an das Anzeigepaneel angelegt, wodurch der Paneeldefekt durch die elektrische/magnetische Untersuchung und/oder eine Untersuchung durch Augenschein des Bilds untersucht wird (S14). Hier umfasst die Untersuchung durch Augenschein eine Untersuchung unter Verwendung einer optischen Ausrüstung, wie zum Beispiel einer Kamera usw.
  • Falls ein Paneeldefekt, der einen Toleranz-Sollwert eines guten Produkts übersteigt, als Ergebnis in der Untersuchung in dem Schritt S14 gefunden wird (S15), wird eine Korrektur durchgeführt (S16). Der Korrekturgegenstand umfasst den Paneeldefekt, der in dem Untersuchungsschritt nicht erfasst ist, und den Paneeldefekt, der aufgrund der Nicht-Optimierung des Kompensationswerts, der in dem Kompensationswert berechnet wird, nicht wiederhergestellt ist. Zum Beispiel im Fall, dass ein Kompensations-Datenwert nicht optimiert ist, wird der Kompensations-Datenwert erneut berechnet, so dass die in dem EEPROM gespeicherten Kompensationsdaten erneuert werden, und im Fall des erneuten Erfassens des Defektpixels, wird der Reparaturprozess dafür ausgeführt, so dass das Verbindungspixel gebildet wird, zum Berechnen des Kompensations-Datenwert dafür, wodurch sie in dem EEPROM gespeichert werden. Gleichzeitig ist der W-CVD-Prozess in dem Reparaturprozess ausgeschlossen. Andererseits gibt es in der Flüssigkristallanzeigevorrichtung einen Fall, in dem eine helle Linie auf dem Anzeigeschirm auftritt, aufgrund von Licht von der Hintergrundbeleuchtung, das ungleichmäßig auf die gesamte Einfallsoberfläche des Flüssigkristallanzeigepaneels einfällt. Sogar im Fall der hellen Linie, die durch so eine Hintergrundbeleuchtung verursacht wird, ist es möglich, den Paneeldefekt durch die Datenmodulation unter Verwendung der Kompensations-Datenwert auf die gleiche Weise wie den oben beschriebenen Paneeldefekt wiederherzustellen.
  • Falls ein Paneeldefekt nicht als Untersuchungsergebnis in Schritt S14 gefunden wird (S15 [Beispiel]), d. h. falls der Grad des Bildqualitätdefekts unterhalb des Toleranz-Sollwerts eines guten Produkts liegt, wird die Flüssigkristallanzeigevorrichtung als ein gutes und daher auszulieferndes Produkt beurteilt (S17).
  • Andererseits ist es in den oben beschriebenen Untersuchungsschritten und Korrekturschritten möglich, den Prozess zu vereinfachen oder bestimmte Schritte wegzulassen für den Rationalisierungsprozess, wie zum Beispiel eine Vereinfachung des Herstellungsprozesses.
  • Nachstehend wird ein Bildqualität-Steuerverfahren einer Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß dem Ausführungsbeispiel der Erfindung erklärt.
  • Das Bildqualität-Steuerverfahren der Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß der Erfindung umfasst einen Kompensationsschritt zum Steuern der in dem Flüssigkristallanzeigepaneel anzuzeigenden Daten, und einen Ansteuerungsschritt der Flüssigkristallanzeigepaneels mit den gesteuerten Daten. Hier umfasst der Kompensationsschritt einen ersten Kompensationsschritt zum Einstellen oder Ändern des in dem Paneel-Defektbereich anzuzeigenden Datenwerts in den ersten Kompensations-Datenwert durch irgendeines der Verteilungsverfahren des räumlichen und zeitlichen Verteilen des ersten Kompensations-Datenwerts für den Paneel-Defektbereich; einen zweiten Kompensationsschritt zum Einstellen oder Ändern des in dem Grenzteil anzuzeigenden Datenwerts in die zweiten Kompensationsdaten, indem der zweite Kompensations-Datenwert in dem Grenzteil verteilt wird; und einen dritten Kompensationsschritt des Einstellens oder Änderns des in dem Verbindungspixel anzuzeigenden Datenwerts in die dritten Kompensationsdaten.
  • Nachstehend wird das Bildqualität-Steuerverfahren gemäß der Erfindung durch die folgenden Ausführungsbeispiele im Detail erklärt.
  • Das erstes Ausführungsbeispiel des ersten Kompensationsschritts gemäß der Erfindung verteilt den ersten Kompensations-Datenwert auf eine Mehrzahl von Frames unter Verwendung des Frameratensteuerverfahrens (nachstehend als „FRC-Verfahren = frame rate control” bezeichnet) und erhöht den an den Paneel-Defektbereich anzulegenden Datenwert auf erste Mura-Kompensationsdaten, die auf die Frames verteilt werden. Hier ist das FRC ein Bildsteuerverfahren unter Verwendung eines Integrationseffekts in einem visuellen Sinn und das Frameratensteuerverfahren ist ein Bildqualität-Steuerverfahren des zeitlichen Anordnens der Pixel, die verschiedene Hues oder Graupegel darstellen, zum Ausdrücken des Hue oder Graupegels dazwischen und die zeitweise Anordnung der Pixel wird durch die Einheit einer Frame-Zeitspanne dargestellt. Die Frame-Zeitspanne ist auch als Feldzeitspanne bekannt und ist eine Anzeigezeitspanne eines Schirms, wenn die Daten an alle Pixel eines Schirms angelegt werden, und die Frame-Zeitspanne ist standardisiert auf 1/60 Sekunde im Fall des NTSC-Systems und 1/50 Sekunde im Fall des PAL-Systems.
  • In einem anderen Ausführungsbeispiel des ersten Kompensationsschritts gemäß der Erfindung wird der erste Kompensations-Datenwert auf eine Mehrzahl benachbarter Pixel unter Verwendung des Ditheringverfahrens verteilt, und die an den Paneel-Defektbereich anzulegenden Datenwert auf erste Kompensationsdaten erhöht, die an die Pixel verteilt werden. Hier ist das Dithering ein Bildsteuerverfahren unter Verwendung eines visuellen Integrationseffekts und das Ditheringverfahren ist ein Bildqualität-Steuerverfahren des räumlichen Anordnens der Pixel, die verschiedene Hues oder Graupegel darstellen, zum Ausdrücken des Hues oder Graupegels dazwischen.
  • In einem anderen Ausführungsbeispiel des ersten Kompensationsschritts gemäß der Erfindung wird der erste Kompensations-Datenwert auf eine Mehrzahl von Frames unter Verwendung des FRC verteilt und der Kompensationswert auf eine Mehrzahl von benachbarten Pixeln unter Verwendung des Ditheringverfahrens verteilt, und der an den Paneel-Defektbereich anzulegenden Datenwert auf erste Kompensationsdaten erhöht, die an die Frames und die Pixel angelegt werden.
  • Das FRC- und das Ditheringverfahren werden unter Bezugnahme auf die 15 bis 17 erklärt.
  • Um einen mittleren Graupegel mit einer geringen Helligkeit wie zum Beispiel einen 1/4-Graupegel, 1/2-Graupegel, 3/4-Graupegel usw. auszudrücken, wird in dem FRC-Verfahren ”1” zu den digitalen Daten addiert, die einem Pixel für eine Frame-Zeitspanne aus vier Frame-Zeitspannen entsprechen und eine Betrachter nimmt den Graupegel „+1/4” des digitale Datenwerts in dem Pixel war, wie in 15(a) dargestellt ist. Falls „1” zu allen digitale Datenwerten addiert wird, die einem Pixel für zwei Frame-Zeitspannen aus vier Frame-Zeitspannen entsprechen, wie in 15(b) dargestellt ist, nimmt der Betrachter den Graupegel „+1/2” des digitalen Datenwerts in dem Pixel wahr. Falls „1” zu allen digitalen Datenwerten hinzugefügt wird, die allen Pixeln für drei Frame-Zeitspannen unter vier Frame-Zeitspannen entsprechen, wie in 15(c) dargestellt ist, nimmt der Betrachter den Graupegel „+3/4” des digitalen Datenwerts in dem Pixel wahr.
  • Wenn eine Ditheringstruktur Pw mit vier Pixel P1 bis P4, die in einer 2×2-Matrix angeordnet sind, vorausgesetzt wird, wie in 16(a), wird beim Dithering „1” zu den Digitaldaten addiert, die einem Pixel aus vier Pixeln innerhalb der Ditheringstruktur Pw entsprechen, und ein Betrachter nimmt den Graupegel „+1/4” des digitalen Datenwerts in der Ditheringstruktur Pw wahr. Falls „1” zu jedem der digitalen Datenwerte addiert wird, die zwei von vier Pixeln innerhalb der Ditheringstruktur Pw entsprechen, wie in 16(b), nimmt der Betrachter den Graupegel „+1/2” der digitale Datenwerte in der Ditheringstruktur Pw wahr. Falls „1” zu jedem der digitalen Datenwerte addiert wird, die drei von vier Pixeln innerhalb der Ditheringstruktur Pw entsprechen, wie in 16(c), nimmt der Betrachter den Graupegel „+3/4” der digitale Datenwerte in der Ditheringstruktur Pw wahr.
  • 17 stellt das FRC-Verfahren unter Verwendung der Ditheringstruktur Pw dar. Wie in 17(a), falls eine 1/4-Ditheringstruktur Pw, welche „1” zu den Digitaldaten addiert, die einem Pixel aus vier Pixeln innerhalb der Ditheringstruktur Pw entsprechen, für vier Frames wiederholt wird, nimmt der Betrachter einen 1/4-Graupegel in der Ditheringstruktur wahr. Und, falls eine 1/2-Ditheringstruktur Pw, welche „1” zu den Digitaldaten addiert, die zwei Pixel aus vier Pixeln innerhalb der Ditheringstruktur Pw entsprechen, für vier Frames wiederholt wird, nimmt der Betrachter einen 1/2-Graupegel in der Ditheringstruktur wahr, wie in 17(b), und falls eine 3/4-Ditheringstruktur Pw, welche „1” zu den Digitaldaten addiert, die drei Pixel aus vier Pixeln innerhalb der Ditheringstruktur Pw entsprechen, für vier Frames wiederholt wird, nimmt der Betrachter einen 3/4-Graupegel in der Ditheringstruktur wahr, wie in 17(c). Wie in 17 kann Flimmern, das in dem FRC wie in 15 erzeugt werden kann, und das Problem der Auflösungsstörung, das beim Dithering wie in 16 erzeugt werden kann, gelöst werden, falls die Position des Kompensationspixels in der Ditheringstruktur mit demselben Kompensationswert geändert wird.
  • Bei dem FRC kann die Anzahl der Frames, die Anzahl der Kompensationspixel der Ditheringstruktur Pw und die Anzahl der Ditheringstrukturen Pw auf verschiedene Weise geändert werden. Beispielhaft repräsentiert 18 ein Verfahren zum Durchführen des FRC und des Dithering, indem die 64 Pixel, die in einer 8×8-Matrix angeordnet sind, als Ditheringstruktur für das Dithering bestimmt werden, und 8 Frames als Einheitsframe für das FRC bestimmt werden.
  • Zum Beispiel im Fall, dass der erste Kompensations-Datenwert für jede Position und jeden Graupegel für den Paneel-Defektbereich wie in Tabelle 1 bestimmt ist, wird der Kompensations-Datenwert „011(3)” zum Durchführen des FRC und des Dithering mit der Ditheringstruktur wie in 18(d) verwendet, so dass die an die „Position 1” anzulegenden Daten moduliert werden, falls der an die „Position 1” anzulegende Datenwert „01000000(64)” ist, der einem „Graupegelabschnitt 2” entspricht, und der Kompensations-Datenwert „110(6)” wird zum Durchführen des FRC und des Dithering mit der Ditheringstruktur wie in 18(g) verwendet, so dass die an die „Position 4” anzulegenden Daten moduliert werden, falls der an die „Position 4” anzulegende Datenwert „10000000(128)” ist, der dem „Graupegelabschnitt 3” entspricht. [Tabelle 1]
    Graupegel-Abschnitt 4 10111111(191)–11111010(250) 101(5) 110(6) 011(3) 111(7)
    Graupegel-Abschnitt 1 00000000(0)–00110010(50) 010(2) 011(3) 010(2) 100(4)
    Graupegel-Abschnitt 2 00110011(51)–00111000(112) 011(3) 100(4) 010(2) 101(5)
    Graupegel-Abschnitt 3 01110001(113)–10111110(190) 100(4) 101(5) 011(3) 110(6)
  • Die oben beschriebenen Ausführungsbeispiele des ersten Kompensationsschritts gemäß der Erfindung kompensieren die Helligkeit oder die Farbwiedergabe des Paneel-Defektbereichs durch das Bildqualität-Steuerverfahren, wie zum Beispiel FRC und/oder Dithering, die den Hue oder Graupegel ausdrücken, der stärker unterteilt ist als der Hue oder die Graupegel-Ausdruckskapazität der Anzeigevorrichtung, wodurch es ermöglicht wird, natürlichere Bilder bzw. Bilder mit einer höheren Qualität zu verwirklichen.
  • Nachfolgend bestimmt ein Ausführungsbeispiel des zweiten Kompensationsschritts gemäß der Erfindung die Ditheringstruktur mit den Pixeln in dem Grenzteil, und verteilt den zweiten Kompensations-Datenwert auf die Ditheringstruktur, wo die Pixel, in denen der zweite Kompensations-Datenwert, der zwischen die in vertikalen oder horizontalen Richtungen benachbarten Ditheringstrukturen verteilt ist, unterschiedlich bezeichnet sind, wodurch der an das Grenzteil anzulegende Datenwert auf den verteilten zweiten Kompensations-Datenwert erhöht oder verringert wird. Zum Beispiel wird vorausgesetzt, das es einen Grenzteil 1 und einen Grenzteil 2 gibt, die an beiden Enden des Paneel-Defektbereichs in dem Anzeigepaneel angeordnet sind, wie in 19A. In dem Grenzteil 1 ist der höchste Helligkeitsunterschied in einer positiven Richtung bei x2 dargestellt und es gibt das Grenzteilrauschen eines Aspekts, dass der Helligkeitsunterschied in der x1- und x3-Richtung bei x2 verringert ist. In dem Grenzteil 2, ist der höchste Helligkeitsunterschied in einer negativen Richtung bei x4 dargestellt und es gibt das Grenzteilrauschen eines Aspekts, dass der Helligkeitsunterschied in der x4- und x6-Richtung bei x5 erhöht ist. Hier wird vorausgesetzt, dass die Helligkeit in der Richtung vertikal zu der x-Achse in dem Grenzteil 1 und dem Grenzteil 2 fest ist. In diesem Fall legt der zweite Kompensationsschritt der Erfindung die Ditheringstruktur, die in dem Helligkeits-Kompensationsgrad größer ist als die Ditheringstruktur, die x1 und x3 benachbart ist, für die Ditheringstruktur an, die x2 benachbart ist, und legt die Ditheringstruktur, die in dem Helligkeits-Kompensationsgrad größer ist als die Ditheringstruktur, die x4 und x6 benachbart ist, für die Ditheringstruktur an, die x5 benachbart ist. Andererseits gibt es verschiedene Strukturen, die sind in der Position, die das Pixel bezeichnet, an das die Helligkeitskompensation angelegt ist, unterscheiden, obwohl der Helligkeits-Kompensationsgrad für eine Ditheringstruktur der gleiche ist. Zum Beispiel sind, wie in 19B dargestellt ist, die Strukturen 11 bis 14 aus (a) die Ditheringstrukturen für den Helligkeitsanstieg oder -abfall um bis zu (k × ΔLm/4) in der Ditheringstruktur Pw mit vier Pixeln, die in einer 2×2-Matrix angeordnet sind, die Strukturen 21 bis 22 aus (b) sind die Ditheringstrukturen für den Helligkeitsanstieg oder -abfall um bis zu (k × ΔLm/2), die Strukturen 31 bis 34 aus (c) sind die Ditheringstrukturen für den Helligkeitsanstieg oder -abfall um bis zu (3k × ΔLm/4). k und ΔLm wurden bereits oben erwähnt. Falls aber die gleiche Struktur regelmäßig an die parallel angeordneten Ditheringstrukturen angelegt wird, kann sich die Helligkeit zwischen den Ditheringstrukturen bemerkbar ändern. Um das zu verhindern legt der zweite Kompensationsschritt gemäß der Erfindung die Ditheringstruktur, die sich zwischen den horizontal oder vertikal benachbarten Ditheringstrukturen Pw unterscheiden, parallel für die Ditheringstrukturen Pw an, die vertikal angeordnet sind. 19C stellt ein Beispiel dar, dass die Ditheringstruktur des oben genannten Verfahrens auf die Ditheringstrukturen Pw angewendet wird, die bei x1 bis x3 in dem Grenzteil 1 angeordnet sind. Unter Bezugnahme auf 19C wird die Struktur 21 und die Struktur 22 auf die Struktur angewendet, die sich zwischen den vertikal benachbarten Ditheringstruktur Pw bei x2 unterscheiden, wo das Helligkeitsrauschen am größten ist, und die Strukturen 11 bis 14, von denen der Helligkeits-Kompensationsgrad kleiner ist als die Strukturen 21 und 22 werden auf die Struktur angewendet, die sich zwischen der vertikal benachbarten Ditheringstruktur Pw bei x1 und x3 unterscheiden. Gleichzeitig sollte die Kompensation in einer Richtung gemacht werden, wo die Helligkeit bei x1 bis x3 verkleinert ist. Demzufolge ist es möglich, ein Verfahren des Verteilens des zweiten Kompensations-Datenwerts mit einem negativen Kompensationswert auf eine bestimmte Ditheringstruktur zu verwenden, so dass sie den Daten, die an das Grenzteil anzulegen sind, hinzugefügt sind, oder ein Verfahren des Verteilens des zweiten Kompensations-Datenwerts mit einem positiven Kompensationswert an eine bestimmte Ditheringstruktur, so dass er den Daten, die an das Grenzteil anzulegen sind, hinzugefügt werden.
  • 19D stellt ein Beispiel dar, dass die Ditheringstruktur des oben genannten Verfahrens auf die Ditheringstrukturen Pw angewendet wird, die bei x4 bis x6 in dem Grenzteil 2 angeordnet sind. Unter Bezugnahme auf 19C werden die Strukturen 21 und 22 auf die Struktur angewendet, die sich zwischen der vertikal benachbarten Ditheringstruktur Pw bei x5, wo das Helligkeitsrauschen am höchsten ist, unterscheiden, und die Strukturen 11 bis 14, von denen der Helligkeits-Kompensationsgrad kleiner ist als die Strukturen 21 und 22 werden an die Struktur angewendet, die sich zwischen den vertikal benachbarten Ditheringstruktur Pw bei x4 und x6 unterscheiden. Gleichzeitig sollte die Kompensation in einer Richtung gemacht werden, wo die Helligkeit bei x4 bis x6 erhöht ist. Demzufolge ist es möglich, ein Verfahren zum Verteilen des zweiten Kompensations-Datenwerts mit einem positiven Kompensationswert auf eine angegebene Ditheringstruktur zu verwenden, so dass er den Daten hinzugefügt wird, die an das Grenzteil anzulegen sind, oder ein Verfahren zum Verteilen des zweiten Kompensations-Datenwert mit einem negativen Kompensationswert auf eine angegebene Ditheringstruktur, so dass er den Daten hinzugefügt wird, die an das Grenzteil anzulegen sind. In dem Ausführungsbeispiel des zweiten Kompensationsschritt wird es unter der Annahme erklärt, das die Ditheringstruktur Pw vier Pixel aufweist, die in einer 2×2-Matrix angeordnet sind, jedoch kann die Ditheringstruktur, die die Pixel bezeichnet, an die der Datenwert zu verteilen ist, und die Anzahl der Pixel, die die Ditheringstruktur Pw bilden, auf verschiedene Weise eingestellt werden. Andererseits ist es in dem zweiten Kompensationsschritt, zusätzlich zu dem oben beschriebenen FRC-Verfahren möglich, eine Ditheringstruktur, die für jeden Frame für die Einheitsframe-Zeitspanne der Ditheringstruktur Pw verschieden ist, anzulegen. Zum Beispiel in dem Fall, das vier Frames die Einheit sind, werden die Strukturen 11 bis 14 nacheinander an jede der Ditheringstrukturen Pw für jeden Frame bei x1 und x3 angelegt. Der zweite Kompensationsschritt kann die Helligkeit mit den unterteiltem Graupegelausdruck präzise einstellen und es ist möglich, den Helligkeitssprung zu vermeiden, der durch die gewöhnliche Ditheringstruktur-Anwendung verursacht wird, wodurch es möglich ist, eine Bildqualität natürlicher zu kompensieren. Andererseits ist es geeignet, dass das Kompensationsverfahren des zweiten Kompensationsschritts in dem ersten Kompensationsschritt angewendet wird, oder das Kompensationsverfahren des ersten Kompensationsschritts kann in dem zweiten Kompensationsschritt angewendet werden.
  • Die 20A bis 20C stellen Beispiele der Ditheringstrukturen dar, wo es keinen Helligkeitssprung zwischen Ditheringstrukturen gibt, deren Kompensationswerte verschieden sind, und die benachbart sind.
  • Unter Bezugnahme auf die 20A bis 20C weist die Ditheringstruktur, die in der FRC der Erfindung verwendet wird, die Große 8 (Pixel)×32 (Pixel) auf und addiert oder subtrahiert die Kompensationswerte 1/8, 2/8, 3/8, 4/8, 5/8, 6/8, 7/8, 1 zu bzw. von den eingegebenen digitalen Videodaten. Schwarz in jeder Ditheringstruktur sind Pixel, an die „1” hinzugefügt ist, oder von denen „1” subtrahiert ist, und Weiß sind Pixel, an die „0” hinzugefügt ist, oder von denen „0” subtrahiert ist. Die Größe 8×32 der Ditheringstruktur ist so bestimmt, dass der Betrachter die Wiederholungszeitspanne fast nicht wahrnimmt, obwohl die gleichen Strukturen durch viele Experimente wiederholt werden, und es erscheint keine Grenze zwischen den Ditheringstrukturen, die die unterschiedlichen Kompensationswerte ausdrücken. Folglich können die Ditheringstrukturen der Erfindung an Ditheringstrukturen angewendet werden, deren Größe größer als 8×32 ist, z. B. die Ditheringstrukturen der Größen 16×32, 24×32, 32×32, 16×40, 16×44 usw.
  • Jede der Ditheringstrukturen weist vier Unter-Ditheringstrukturen auf, wo der Kompensationswert der gleiche ist und die Positionen der Kompensationspixel, zu denen der Kompensationswert hinzugefügt ist, oder von denen der Kompensationswert subtrahiert ist, verschieden sind. Zum Beispiel weist die Ditheringstruktur des Kompensationswerts 1/8 die erste Unter-Ditheringstruktur des Kompensationswerts 1/8, wie in 21A, die zweite Unter-Ditheringstruktur des Kompensationswerts 1/8, wie in 21B, die dritte Unter-Ditheringstruktur des Kompensationswerts 1/8, wie in 21C und die vierte Unter-Ditheringstruktur des Kompensationswerts 1/8, wie in 21D auf.
  • Vorausgesetzt, dass „x” eine horizontale Richtung ist, wo die Reihenfolge sich von links nach rechts erhöht, „y” eine vertikale Richtung ist, wo sich die Reihenfolge von oben nach unten um Eins erhöht, und die Pixel, zu denen der Kompensationswert „1” hinzugefügt ist, oder von denen der Kompensationswert „1” in der ersten Unter-Ditheringstruktur subtrahiert ist, sind P[1,1], P[1,5], P[2,2], P[2,6], P[5,3], P[5,7], P[6,4], P[6,8], wie in 21A. Die Pixel, zu denen der Kompensationswert „1” hinzugefügt ist, oder von denen der Kompensationswert „1” in der zweiten Unter-Ditheringstruktur subtrahiert ist, sind P[3,3], P[3,7], P[4,4], P[4,8], P[7,1], P[7,5], P[8,2], P[8,6], wie in 21B. Die Pixel, zu denen der Kompensationswert „1” hinzugefügt ist, oder von denen der Kompensationswert „1” in der dritten Unter-Ditheringstruktur subtrahiert ist, sind P[1,3], P[1,7], P[2,4], P[2,8], P[5,1], P[5,5], P[6,2], P[6,6], wie in 21C. Und die Pixel, zu denen der Kompensationswert „1” hinzugefügt ist, oder von denen der Kompensationswert „1” in der vierten Unter-Ditheringstruktur subtrahiert ist, sind P[3,1], P[3,5], P[4,2], P[4,6], P[7,3], P[7,7], P[8,4], P[8,8], wie in 21D.
  • Die Ditheringstruktur des 1/8-Kompensationswerts weist die erste Unter-Ditheringstruktur, die zweite Unter-Ditheringstruktur, die dritte Unter-Ditheringstruktur und die vierte Unter-Ditheringstruktur von oben nach unter in der ersten Frame-Zeitspanne auf, und die Positionen der Pixel, zu denen der Kompensationswert hinzugefügt ist, oder von denen der Kompensationswert in jeder der Unter-Ditheringstrukturen subtrahiert ist, sind in Links- und Rechts-Richtungen und in Aufwärts- und Abwärts-Richtungen verschoben, so dass die Struktur der Pixel, zu denen der Kompensationswert hinzugefügt ist, oder von denen der Kompensationswert subtrahiert ist, oben und unten und links und rechts nicht auf die gleiche Weise wiederholt sind. Die Anordnung der Unter-Ditheringstrukturen wird für jede Frame-Zeitspanne unterschiedlich, wie in 21A dargestellt ist. Das heißt, die Ditheringstruktur des Kompensationswerts 1/8 weist die zweite Unter-Ditheringstruktur, die dritte Unter-Ditheringstruktur, die vierte Unter-Ditheringstruktur und die erste Unter-Ditheringstruktur von oben nach unten in der zweiten Frame-Zeitspanne auf, und die Positionen der Pixel, zu denen der Kompensationswert hinzugefügt ist, oder von denen der Kompensationswert subtrahiert ist, sind in jeder der Unter-Ditheringstrukturen in Links- und Rechts-Richtungen und in Aufwärts- und Abwärts-Richtungen verschoben. Die Ditheringstruktur des Kompensationswerts 1/8 weist die dritte Unter-Ditheringstruktur, die vierte Unter-Ditheringstruktur, die erste Unter-Ditheringstruktur und die zweite Unter-Ditheringstruktur von oben nach unten in der dritten Frame-Zeitspanne auf, und die Positionen der Pixel, zu denen der Kompensationswert hinzugefügt ist, oder von denen der Kompensationswert subtrahiert ist, sind in jeder der Unter-Ditheringstrukturen in Links- und Rechts-Richtungen und in Aufwärts- und Abwärts-Richtungen verschoben. Die Ditheringstruktur des Kompensationswerts 1/8 weist die vierte Unter-Ditheringstruktur, die erste Unter-Ditheringstruktur, die zweite Unter-Ditheringstruktur und die dritte Unter-Ditheringstruktur von oben nach unten in der zweiten Frame-Zeitspanne auf, und die Positionen der Pixel, zu denen der Kompensationswert hinzugefügt ist, oder von denen der Kompensationswert subtrahiert ist, sind in jeder der Unter-Ditheringstrukturen in Links- und Rechts-Richtungen und in Aufwärts- und Abwärts-Richtungen verschoben. Die Ditheringstruktur des Kompensationswerts 1/8 der ersten bis vierten Frame-Zeitspannen wird in den fünften bis sechsten Frame-Zeitspannen wiederholt.
  • Auf die gleiche Weise wie die Ditheringstruktur des Kompensationswerts 1/8, wie in den 20A bis 20C dargestellt, weisen eine 2/8 Ditheringstruktur, eine 3/8 Ditheringstruktur, eine 4/8 Ditheringstruktur, eine 5/8 Ditheringstruktur, eine 6/8-Ditheringstruktur und eine 7/8-Ditheringstruktur „J” Unter-Ditheringstrukturen auf, die unterschiedliche Strukturen der Pixel aufweisen, an die der Kompensationswert „I” hinzugefügt wird, oder von denen der Kompensationswert „I” subtrahiert wird, wenn der Kompensationswert „I” ist und die Anzahl der Unter-Ditheringstrukturen „J” ist. In den Ditheringstrukturen ist die Anordnung der Unter-Ditheringstrukturen in jedem der J Frames unterschiedlich und die Ditheringstruktur, wo die Anzahl der Kompensationspixel und die Position für alle „J + 1” Frame-Zeitspannen gleich sind.
  • 22 stellt ein Beispiel der Ditheringstrukturen dar, die auf das Grenzteil zwischen x4–x5 abgebildet sind, wo die Helligkeit abgesenkt ist, wenn sie von dem Grenzteil 2 des Paneel-Defektbereichs und dem Nicht-Defektbereich zu dem Nicht-Defektbereich in 19A geht unter Verwendung der Ditheringstrukturen aus 20A bis 20C in der ersten Frame-Zeitspanne.
  • Zum Beispiel fügen die wie in 22 abgebildeten Ditheringstrukturen den Kompensationswert zu den digitalen Videodaten hinzu, die in dem Grenzteil zwischen x4–x5 anzuzeigen sind, so dass die Helligkeit des Grenzteils gleich mit dem Nicht-Defektbereich kompensiert wird. Wie aus der Helligkeitskurve von Blau in 22 bekannt ist, weist der FRC der Erfindung einen unterschiedlichen Kompensationswert auf und die Helligkeitsänderung wird an der Grenze zwischen den benachbarten Ditheringstrukturen nicht schnell erzeugt.
  • Die 23A bis 23D stellen Ditheringstrukturen des FRC gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel der Erfindung dar. Die Ditheringstruktur weist die Größe 8×32 auf und addiert oder subtrahiert die Kompensationswerte 1/8, 2/8, 3/8, 4/8, 5/8, 6/8, 7/8, 1 zu oder von den eingegebenen digitalen Videodaten gemäß der Anzahl der Pixel, auf die der Kompensationswert angewendet wird. Das Schwarz in jeder Ditheringstruktur sind Pixel, zu denen „1” hinzugefügt ist, oder von denen „1” subtrahiert ist, und das Weiß sind Pixel, zu denen „0” hinzugefügt ist, oder von denen „0” subtrahiert ist. Die Ditheringstruktur des Kompensationswerts „1” ist die Ditheringstruktur, wo der Kompensationswert „1” für jeden Pixel kompensiert ist, der in der Ditheringstruktur der gleichen Größe 8×32 enthalten ist, und der in der Zeichnung weggelassen ist. Die Ditheringstrukturen sind unter der gleichen Entwurfsbedingung entworfen wie die Entwurfsbedingung der vorhergehenden Ditheringstrukturen aus den 20A bis 20C. Das heißt, die Ditheringstruktur des Kompensationswerts „I” weist „J” Unter-Ditheringstrukturen auf, wo der Kompensationswert „I” ist und die Strukturen der Pixel, zu denen der Kompensationswert „I” hinzugefügt ist, oder von denen der Kompensationswert „I” subtrahiert ist, sind verschieden. Die Anordnung der Unter-Ditheringstrukturen ist in den Ditheringstrukturen in jedem der J Frames verschieden und die Ditheringstrukturen des gleichen Kompensationswerts sind für jede (J + 1) Frame-Zeitspannen gezeigt.
  • Das Ausführungsbeispiel des dritten Kompensationsschritts gemäß der Erfindung erhöht oder verringert die Daten, die an das Verbindungspixel anzulegen sind, auf den dritten Kompensations-Datenwert, so dass die Ladungskenngröße (z. B. Kapazität) des Verbindungspixels kompensiert wird. Zum Beispiel im Fall, dass dritte Kompensationsdaten, die für jede Position und für jeden Graupegel der Verbindungspixel optimiert sind, wie in Tabelle 2 bestimmt sind, wird in dem dritten Kompensationsschritt, falls der an die „Position 1” anzulegende Datenwert „01000000(64)” ist, entsprechend dem „Graupegelabschnitt 1” „00000100(4)” zu „01000000(64)” addiert, so dass der Datenwert, der an die „Position 1” anzulegen ist, auf „01000100(68)” moduliert wird, und „00000110(6)” zu „10000000(128)” addiert, um die digitalen Videodaten, die an die „Position 2” anzulegen sind, auf „10000110(134)” zu modulieren, falls der an die „Position 2” anzulegende Datenwert „10000000(128)” ist, der dem „Graupegelabschnitt 3” entspricht. [Tabelle 2]
    Klassifizierung Graupegelbereich Position 1 Position 2
    Graupegelabschnitt 1 00000000(0)–00110010(50) 00000100(4) 00000010(2)
    Graupegelabschnitt 2 00110011(51)–00111000(112) 00000110(6) 00000100(4)
    Graupegelabschnitt 3 01110001(113)–10111110(190) 00001000(8) 00000110(6)
  • Im Fall, dass das Verbindungspixel in dem Paneel-Defektbereich oder dem Grenzteil enthalten ist, ist es wünschenswert, den dritten Kompensations-Datenwert gemäß dem Kompensationswert der ersten und zweiten Kompensations-Datenwert zu berechnen. Zum Beispiel wird vorausgesetzt, dass es das Verbindungspixel 1 in dem Paneel-Defektbereich oder dem Grenzteil und das Verbindungspixel 2 in dem Nicht-Defektbereich außer dem Grenzteil gibt, und die beiden Verbindungspixel um „+3” zu kompensieren sind, da das Verbindungspixel 1 und das Verbindungspixel 2 die gleiche Ladungskenngröße aufweisen. In diesem Fall wird der dritte Kompensations-Datenwert zum Kompensieren von „+3” genug sein, um für das Verbindungspixel 2 bestimmt zu sein, aber im Fall des Verbindungspixels 1, ist es wünschenswert, den dritten Kompensations-Datenwert zu bestimmen, der um „+2” kompensieren wird, für das Verbindungspixel 1, falls der erste und zweite Kompensations-Datenwert bereits um „+1” kompensiert wurde.
  • Wie oben beschrieben ist, moduliert der dritte Kompensationsschritt die Daten, die in dem Verbindungspixel anzuzeigen sind, mit dem das dem Defektpixel benachbarte Normalpixel verbunden ist, auf den dritten Kompensations-Datenwert, der die Ladungskenngröße (z. B. die Kapazität) des Verbindungspixels kompensiert, wodurch es möglich ist, den Wahrnehmungsgrad des Defektpixels zu verringern.
  • Wie oben beschrieben ist, weist die Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß dem Ausführungsbeispiel der Erfindung zum Verwirklichen des Bildqualität-Steuerverfahrens gemäß dem Ausführungsbeispiel der Erfindung einen Kompensationsschaltkreis 105, der den Datenwert empfängt, wie in 24 gezeigt ist, zum Modulieren und zum Anlegen des Datenwerts an den Treiber 110, der das Flüssigkristallanzeigepaneel 103 ansteuert (treibt), auf.
  • Unter Bezugnahme auf 24 weist die Flüssigkristallanzeigevorrichtung gemäß dem Ausführungsbeispiel der Erfindung ein Anzeigepaneels 103, wo sich Datenleitungen 106 und Gateleitungen 108 kreuzen und ein TFT zum Ansteuern einer Flüssigkristallzelle Clc an jedem Kreuzungsabschnitt gebildet ist; einen Kompensationsschaltkreis 105 zum Modulieren des Eingabedatenwert Ri/Gi/Bi, der an die Paneeldefektposition des Anzeigepaneels 103 anzulegen ist, zum Erzeugen der korrigierten digitalen Videodaten Rc/Gc/Bc; einen Datentreiberschaltkreis 101 zum Anlegen der korrigierten digitalen Videodaten Rc/Gc/Bc an die Datenleitungen 106; einen Gatetreiberschaltkreis 102 zum Anlegen eines Abtastsignals an die Gateleitungen 108; und eine Taktsteuerung 104 zum Steuern. des Datentreiberschaltkreises 101 und des Gatetreiberschaltkreises 102 auf.
  • Das Anzeigepaneel 103 weist Flüssigkristallmoleküle zwischen zwei Substraten, d. h. einem TFT-Substrat und einem Farbfiltersubstrat, auf. Die Datenleitungen 106 und die Gateleitungen 108, die auf dem TFT-Substrat gebildet sind, kreuzen einander. Der an dem Kreuzungsabschnitt der Datenleitungen 106 und der Gateleitungen 108 gebildete TFT legt die von der Datenleitung 106 angelegte Datenspannung in Antwort auf das Abtastsignal von der Gateleitung 108 an die Pixelelektrode der Flüssigkristallzelle Clc an. Eine Schwarzmatrix, ein Farbfilter und eine gemeinsame Elektrode (nicht gezeigt) sind auf dem Farbfiltersubstrat gebildet. Andererseits kann die auf dem Farbfiltersubstrat gebildete gemeinsame Elektrode gemäß einem elektrisches-Feld-Anlegungsverfahren auf dem TFT-Substrat gebildet sein. Polarisatoren mit Polarisationsachsen, die zueinander senkrecht sind, sind jeweils an dem TFT-Substrat bzw. dem Farbfiltersubstrat befestigt.
  • Der Kompensationsschaltkreis 105 empfängt die eingegebenen digitalen Videodaten Ri/Gi/Bi von einer Systemschnittstelle zum Modulieren der eingegebenen Datenwerte Ri/Gi/Bi, die in den Paneel-Defektbereich, das Grenzteil und das Verbindungspixel anzulegen sind, wodurch die korrigierten digitalen Videodaten Rc/Gc/Bc erzeugt werden. Außerdem legt der Kompensationsschaltkreis 105 den Datenwert Ri/Gi/Bi, die in dem Nicht-Defektbereich anzuzeigen sind, ohne Modulation des Datenwerts an das Taktsteuergerät 104 an.
  • Das Taktsteuergerät 104 legt die digitalen Videodaten Rc/Gc/Bc, die von dem Kompensationsschaltkreis 105 angelegt sind, an den Datentreiberschaltkreis 101 in Übereinstimmung mit dem Punkttakt DCLK an, und erzeugt ein Gatesteuersignal GDC zum Steuern des Gatetreiberschaltkreises 102 und ein Datensteuersignals DDC zum Steuern des Datentreiberschaltkreises 101 unter Verwendung eines vertikalen/horizontalen Synchronisationssignals Vsync, Hsync, eines Datenfreigabesignals DE und eines Punkttakts DCLK.
  • Der Datentreiberschaltkreis 101 wandelt die korrigierten digitalen Videodaten Rc/Gc/Bc, die von dem Taktsteuergerät 104 als digitales Signal angelegt werden, in die analoge Gamma-Kompensationsspannung (Datenspannung) um, um sie an die Datenleitungen 106 anzulegen.
  • Der Gatetreiberschaltkreis 102 legt ein Abtastsignal, das die horizontale Leitung auswählt, an die die Datenspannung anzulegen ist, nacheinander an die Gateleitungen 108 an. Die Datenspannung von den Datenleitungen 106 ist mit dem Abtastsignal, das an die Flüssigkristallzellen Clc einer horizontalen Leitung anzulegen ist, synchronisiert.
  • Nachstehend wird unter Bezugnahme auf die 25 bis 37 eine detaillierte Beschreibung des Kompensationsteils 105 gegeben.
  • Unter Bezugnahme auf 25 weist der Kompensationsschaltkreis 105 ein EEPROM 122, das den Positionsdatenwert PD und den Kompensations-Datenwert CD des Paneel-Defektbereichs, des Grenzteils und des Defektpixels speichert; ein Kompensationsteil 121 zum Erzeugen der korrigierten digitalen Videodaten Rc, Gc, Bc indem der Eingabedatenwert Ri/Gi/Bi moduliert wird, der von einem externen System angelegt ist, indem der Positionsdatenwert PD und der Kompensations-Datenwert CD, die in dem EEPROM 122 gespeichert sind, verwendet werden; einen Schnittstellenschaltkreis 124 zur Kommunikation zwischen dem Kompensationsschaltkreis 105 und dem externen System; und ein Register 123 zum zeitweisen Speichern der Daten, die in dem EEPROM 122 zu speichern sind, durch den Schnittstellenschaltkreis 124 auf.
  • Das EEPROM 122 speichert den Positionsdatenwert PD, der die Position des Paneel-Defektbereichs, des Grenzteils und des Verbindungspixels anzeiget, und den Kompensations-Datenwert CD für den Paneel-Defektbereich, das Grenzteil und das Verbindungspixel. Das EEPROM 122 kann den Positionsdatenwert PD und den Kompensations-Datenwert CD durch ein elektrisches Signal erneuern, das von dem externen Signal angelegt wird. Das heißt, das EEPROM 122 kann den Datenwert speichern, der von einem ROM-Speichergerät eingegeben ist, das durch die Benutzerverbindung mit dem Schnittstellenschaltkreis 124 gekoppelt ist, und den gespeicherten Datenwert modifizieren.
  • Der Schnittstellenschaltkreis 124 ist eine Konfiguration für eine Kommunikation zwischen dem Kompensationsschaltkreis 105 und dem externen System, und der Schnittstellenschaltkreis 124 ist gemäß dem Kommunikations-Standardprotokoll wie zum Beispiel I2C usw. entworfen. Das externe System kann den im EEPROM 122 gespeicherten Datenwert durch den Schnittstellenschaltkreis 124 lesen oder modifizieren. Das heißt, der Kompensations-Datenwert CD und der Positionsdatenwert PD, die in dem EEPROM 122 gespeichert sind, müssen aufgrund von Änderungen im Prozess, Unterschieden zwischen Anwendungsmodell usw. erneuert werden, und ein Benutzer legt den Positionsdatenwert UPD und den Kompensations-Datenwert UCD, die erneuert werden sollen, mittels des externen Systems an, so dass es möglich ist, die in dem EEPROM 122 gespeicherten Datenwert zu modifizieren.
  • Der Positionsdatenwert UPD und der Kompensations-Datenwert UCD, die durch den Schnittstellenschaltkreis 124 übermittelt werden, werden zeitweise in dem Register 123 gespeichert, zum Erneuern des Positionsdatenwerts PD und des Kompensations-Datenwerts CD, die in dem EEPROM 122 gespeichert sind.
  • Das Kompensationsteil 121 moduliert die Daten, die an den Paneel-Defektbereich, das Grenzteil und das Verbindungspixel anzulegen sind, unter Verwendung des Positionsdatenwerts PD und des Kompensations-Datenwerts CD, die in dem EEPROM 122 gespeichert sind. Das Kompensationsteil 121 weist, wie in 26 dargestellt ist, ein erstes Kompensationsteil 131 auf, das den Datenwert moduliert, der an das Paneel-Defektbereich unter Verwendung des ersten Kompensations-Datenwerts anzulegen ist; ein zweites Kompensationsteil 132, das den Datenwert unter Verwendung der zweiten Kompensationsdaten moduliert, der an das Grenzteil anzulegen ist; und ein drittes Kompensationsteil 133, das die Datenwert unter Verwendung der dritten Kompensationsdaten moduliert, die an das Verbindungspixel anzulegen sind.
  • Die 27 bis 32 stellen Ausführungsbeispiele eines ersten Kompensationsteils 131A dar.
  • Unter Bezugnahme auf 27 moduliert das erste Kompensationsteil 131A die digitalen Videodaten Ri/Gi/Bi, die in dem Paneel-Defektbereich anzuzeigen sind, durch das FRC-Verfahren unter Verwendung eines ersten Kompensations-Datenwerts CDR1, CDG1, CDB1, die in dem EEPROM 122R, 122G, 122B gespeichert sind. Das erste Kompensationsteil 131A weist ein Positions-Beurteilungsteil 141, ein Graupegel-Beurteilungsteil 142R, 142G, 142B, ein Adressen-Erzeugungsteil 143R, 143G, 143B und ein FRC-Steuergerät 145R, 145G, 145B auf.
  • Das Positions-Beurteilungsteil 141 beurteilt eine Anzeigeposition des Datenwerts Ri/Gi/Bi unter Verwendung eines vertikalen/horizontalen Synchronisationssignals Vsync, Hsync, eines Datenfreigabesignals DE und eines Punkttakts DCLK, und legt die Information für die Anzeigeposition des Datenwerts Ri/Gi/Bi an das Adressen-Erzeugungsteil 143R, 143B, 143B an.
  • Das Graupegel-Beurteilungsteil 142R, 142G, 142B analysiert einen Graupegelabschnitt einschließlich eines Graupegels des Datenwerts Ri/Gi/Bi oder einen Graupegel des Eingabedatenwerts Ri/Gi/Bi, und legt die Informationen dafür an das Adressen-Erzeugungsteil 143R, 143G, 143B an.
  • Das Adressen-Erzeugungsteil 143R, 143G, 143B erzeugt eine Leseadresse zum Lesen des ersten Kompensations-Datenwerts CDR1, CDG1, CDB1 des EEPROM 122R, 122G, 122B aus dem Positionsdatenwert des Paneel-Defektbereichs, die in dem EEPROM 122R, 122G, 122B gespeichert sind, des Positions-Beurteilungsergebnisses des Positions-Beurteilungsteils 141 und des Graupegel-Beurteilungsergebnisses des Graupegel-Beurteilungsteils 142R, 142G, 142B und legt die Leseadresse an das EEPROM 122R, 122G, 122B an. Der erste Kompensations-Datenwert CDR1, CDG1, CDB1, der von dem EEPROM 122R, 122G, 122B ausgegeben ist, wird an das FRC-Steuergerät 145R, 145G, 145B gemäß der Leseadresse angelegt.
  • Das FRC-Steuergerät 145R, 145G, 145B verteilt den ersten Kompensations-Datenwert CDR1, CDG1, CDB1 aus dem EEPROM 122R, 122G, 122B für eine Mehrzahl von Frame-Zeitspannen und addiert oder subtrahiert den Kompensations-Datenwert zu oder von dem Datenwert Ri/Gi/Bi, die in dem Paneel-Defektbereich anzuzeigen sind. Das FRC-Steuergerät 145R, 145G, 145B weist ein erstes FRC-Steuergerät 145R zum Korrigieren des Rot-Datenwerts, ein zweites FRC-Steuergerät 145G zum Korrigieren des Grün-Datenwerts und ein drittes FRC-Steuergerät 145B zum Korrigieren des Blau-Datenwerts auf.
  • Das erste FRC-Steuergerät 145R weist, wie in 28 dargestellt, ein Kompensationswert-Beurteilungsteil 153, ein Framenummer-Erfassungsteil 151 und ein Berechnungsteil 154 auf.
  • Das Kompensationswert-Beurteilungsteil 153 beurteilt den R-Kompensationswert und erzeugt den FRC-Datenwert FD mit dem Wert geteilt durch die Anzahl von Frames. Das Kompensationswert-Beurteilungsteil 153 ist programmiert, dass der FRC-Datenwert FD automatisch gemäß dem ersten R-Kompensations-Datenwert CDR1 ausgegeben wird. Zum Beispiel ist das Kompensationswert-Beurteilungsteil 153 vorprogrammiert, so dass der Kompensationswert für einen 0-Graupegel erkannt wird, wenn der erste R-Kompensations-Datenwert CDR1, der, als Binärwert ausgedrückt, „00” ist, ein 1/4-Graupegel, falls es „01” ist, ein 1/2-Graupegel, falls es „10” ist und ein 3/4-Graupegel, falls es „11” ist. Und, im Fall das man vier Frames als ein Einheitsframe hat zum Steuern des FRC, wie in 15, erzeugt das Kompensationswert-Beurteilungsteil 153 den FRC-Datenwert FD in einem zu addierenden Frame, so dass ein 1-Graupegel zu einem Frame der ersten bis vierten Frames addiert wird, und erzeugt den FRC-Datenwert FD mit „0” in den verbleibenden 3 Frames, wie in 15(a), wenn der erste R-Kompensations-Datenwert CDR1 mit „01” angelegt wird.
  • Das Framenummer-Erfassungsteil 151 erfasst die Framenummer indem entweder ein vertikales/horizontales Synchronisationssignale Vsync, Hsync, ein Punkttakt DCLK oder ein Datenfreigabesignal DE verwendet wird. Zum Beispiel zählt das Framenummer-Erfassungsteil 151 das vertikale Synchronisationssignal Vsync zum Erfassen der Framenummer.
  • Das Berechnungsteil 154 erhöht oder verringert den R-Eingabedatenwert Ri, der an den Paneel-Defektbereich anzulegen ist, auf den FRC-Datenwert FD, wodurch ein erster R-Zwischenkorrektur-Datenwert Rm1 erzeugt wird.
  • Andererseits werden der zu korrigierende R-Eingabedatenwert Ri und der erste R-Kompensations-Datenwert CDR1 an das erste FRC-Steuergerät 145R durch die unterschiedlichen Datenübermittlungsleitungen angelegt, oder der zu korrigierende R-Eingabedatenwert Ri kann mit dem ersten R-Kompensations-Datenwert CDR1 kombiniert werden, der an die gleiche Leitung anzulegen ist. Falls zum Beispiel der zu korrigierende R-Eingabedatenwert „01000000” mit 8 Bits ist, und der erste R-Kompensations-Datenwert CDR1 „011” mit 3 Bits ist, können „01000000” und „011” an das FRC-Steuergerät 145 durch die verschiedenen Datenübermittlungsleitungen jeweils übermittelt werden, oder sie können zu einem 11-Bit-Datenwert „01000000011” kombiniert werden, um an das erste FRC-Steuergerät 145R angelegt zu werden. Falls der zu korrigierende R-Eingabedatenwert Ri und der erste R-Kompensations-Datenwert CDR zu dem 11-Bit-Datenwert kombiniert wird, um an das erste FRC-Steuergerät 145R angelegt zu werden, erkennt das erste FRC-Steuergerät 145R die höheren 8 Bits in den 11-Bit-Datenwert als zu korrigierenden R-Eingabedatenwert Ri, und die unteren 3 Bits als ersten R-Kompensations-Datenwert CDR1. Andererseits, als Beispiel eines Verfahrens zum Bilden des Datenwerts „01000000011”, in den „01000000” und „011” kombiniert sind, gibt es ein Verfahren, dass ein Dummybit „000” zu dem untersten Bit von „01000000” addiert wird, so dass dasselbe in „01000000000” umgewandelt wird, und „011” wird zum Erzeugen des Datenwerts „01000000011” addiert.
  • Das zweite und das dritte FRC-Steuergerät 145G, 145B weisen im Wesentlichen die gleiche Schaltkreiskonfiguration auf wie das erste FRC-Steuergerät 145R. Folglich wird eine detaillierte Beschreibung des zweiten und dritten FRC-Steuergeräts 145G, 145B weggelassen.
  • Das erste Kompensationsteil 131A kann die in dem Paneel-Defektbereich und dem Grenzteil anzuzeigenden Datenwert genau einstellen, da das Kompensationsteil, das in 1021 Graupegel für R, G bzw. B unterteilt ist, wenn der R-, G- bzw. B-Datenwert 8 Bits aufweist und die Zeitspanne des FRC eine Vier-Frame-Zeitspanne ist.
  • Unter Bezugnahme auf 29 moduliert ein erstes Kompensationsteil 131B gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung die digitalen Videodaten Ri/Gi/Bi, die in dem Paneel-Defektbereich anzuzeigen sind, durch das Ditheringverfahren, indem ein erster Kompensations-Datenwert CDR1, CDG1, CDB1, der in dem EEPROM 122R, 122G, 122B gespeichert ist, verwendet wird. Das erste Kompensationsteil 131B weist ein Positions-Beurteilungsteil 161, ein Graupegel-Beurteilungsteil 162R, 162G, 162R, ein Adressen-Erzeugungsteil 163R, 163G, 163B und ein Dithering-Steuergerät 165R, 165G, 165B auf.
  • Das Positions-Beurteilungsteil 161 beurteilt eine Anzeigeposition des eingegebenen Datenwerts Ri/Gi/Bi, indem vertikale/horizontale Synchronisationssignale Vsync, Hsync, ein Datenfreigabesignal DE und ein Punkttakt DCLK verwendet werden.
  • Das Graupegel-Beurteilungsteil 162R, 162G, 162B analysiert einen Graupegelabschnitt einschließlich eines Graupegels des Datenwerts Ri/Gi/Bi oder einen Graupegel des eingegebenen Datenwerts Ri/Gi/Bi.
  • Das Adressen-Erzeugungsteil 163R, 163G, 163B erzeugt eine Leseadresse zum Lesen des ersten Kompensations-Datenwerts CDR1, CDG1, CDB1 aus dem EEPROM 122R, 122G, 122B aus dem Positionsdatenwert des Paneel-Defektbereichs, der in dem EEPROM 122R, 122G, 122B gespeichert ist, dem Positions-Beurteilungsergebnis des Positions-Beurteilungsteils 161 und dem Graupegel-Beurteilungsergebnis des Graupegel-Beurteilungsteils 162R, 162G, 162B und legt die Leseadresse an das EEPRM 122R, 122G, 122B an. Der erste Kompensations-Datenwert CDR1, CDG1, CDB1, der aus dem EEPROM 122R, 122G, 122B ausgegeben wird, wird an das Dithering-Steuergerät 165R, 165G, 165B gemäß der Leseadresse angelegt.
  • Das Dithering-Steuergerät 165R, 165G, 165B verteilt den ersten Kompensations-Datenwert CDR1, CDG1, CDB1 von dem EEPROM 122R, 122G, 122B an jedes Pixel innerhalb einer Ditheringstruktur, das eine Mehrzahl von Pixel aufweist, und erhöht oder verringert den eingegebenen Datenwert Ri/Gi/Bi, der in dem Paneel-Defektbereich anzuzeigen ist, auf den verteilten ersten Kompensations-Datenwert CDR1, CDG1, CDB1. Das Dithering-Steuergerät 165R, 165G, 165B weist ein erstes Dithering-Steuergerät 165R zum Korrigieren roter Daten, ein zweites Dithering-Steuergerät 165G zum Korrigieren grüner Datenwert und ein drittes Dithering-Steuergerät 165B zum Korrigieren blauer Datenwert auf.
  • Unter Bezugnahme auf 30 weist das erste Dithering-Steuergerät 165R ein Kompensationswert-Beurteilungsteil 173, ein Pixelposition-Erfassungsteil 172 und ein Berechnungsteil 174 auf.
  • Das Kompensationswert-Beurteilungsteil 173 beurteilt den R-Kompensationswert und erzeugt einen Ditheringdatenwert DD für den Kompensationswert, der an die Pixel zu verteilen ist, die in der Ditheringstruktur enthalten sind. Das Kompensationswert-Beurteilungsteil 173 ist zum automatischen Ausgeben des Ditheringdatenwerts DD gemäß dem ersten R-Kompensations-Datenwert CDR1 programmiert. Zum Beispiel ist das Kompensationswert-Beurteilungsteil 173 vorprogrammiert, so dass der Kompensationswert für einen 0-Graupegel erkannt wird, falls der erste R-Kompensations-Datenwert CDR1, als Binärwert ausgedrückt, „00” ist, ein 1/4-Graupegel, falls er „01” ist, ein 1/2-Graupegel, falls er „10” ist, und ein 3/4-Graupegel, falls er „11” ist. Im Fall des Durchführens des Dithering für die Ditheringstruktur, die 4 Pixel aufweist, wie in 16, erzeugt das Kompensationswert-Beurteilungsteil 173 „1” als Ditheringdatenwert DD in einer Pixelposition innerhalb der Ditheringstruktur und erzeugt „0” als Ditheringdatenwert DD in den verbleibenden, 3 Pixelpositionen, wie in 16(a), falls der erste R-Kompensations-Datenwert CDR1 von „01” angelegt ist. Gleichzeitig bestimmt das Kompensationswert-Beurteilungsteil 173 eine Mehrzahl von Ditheringstrukturen, wo die Position des Pixels, an das der erste R-Kompensations-Datenwert CDR1 verteilt ist, innerhalb der Ditheringdatenwert unterschiedlich erzeugt werden kann.
  • Das Pixelposition-Erfassungsteil 172 erfasst die Pixelposition, indem ein vertikales/horizontales Synchronisationssignal Vsync, Hsync, ein Punkttakt DCLK oder ein Datenfreigabesignal DE verwendet wird. Zum Beispiel zählt das Pixelposition-Erfassungsteil 171 das horizontale Synchronisationssignal Hsync und den Punkttakt DCLK, so dass die Pixelposition erfasst wird.
  • Das Berechnungsteil 174 erhöht oder verringert den Eingabedatenwert Ri/Gi/Bi auf den Ditheringdatenwert DD, wodurch ein erster R-Zwischenkorrektur-Datenwert Rm1 erzeugt wird.
  • Andererseits werden der zu korrigierende R-Eingabedatenwert Ri und der erste R-Kompensations-Datenwert CDR1 durch die verschiedenen Datenübermittlungsleitungen an das erste Dithering-Steuergerät 165R angelegt, oder der zu korrigierende R-Eingabedatenwert Ri kann mit dem ersten R-Kompensations-Datenwert CDR1, der an die gleiche Leitung anzulegen ist, kombiniert werden. Falls zum Beispiel der zu korrigierende R-Eingabedatenwert „01000000” mit 8 Bits ist und der erste R-Kompensations-Datenwert CDR1 „011” mit 3 Bits ist, können jeweils „01000000” und „011” an das erste Dithering-Steuergerät 165R durch die verschiedenen Datenübermittlungsleitungen angelegt werden, oder sie können zu einem 11-Bit-Datenwert „01000000011” kombiniert werden, der an das erste Dithering-Steuergerät 165R anzulegen ist. Falls der zu korrigierende R-Eingabedatenwert Ri und der erste R-Kompensations-Datenwert CDR1 zu dem 11-Bit-Datenwert kombiniert werden, der an das erste Dithering-Steuergerät 165R anzulegen ist, erfasst das erste Dithering-Steuergerät 165R die höheren 8 Bits in dem 11-Bit-Datenwert als den zu korrigierenden R-Eingabedatenwert Ri und die unteren 3 Bits als den ersten R-Kompensations-Datenwert CDR1 zum Durchführen der Ditheringsteuerung. Andererseits, als ein Beispiel eines Verfahrens zum Bilden des Datenwerts „01000000011”, in dem „01000000” und „011” kombiniert sind, gibt es ein Verfahren, dass ein Dummybit „000” zu dem untersten Bit von „01000000” hinzugefügt wird, so dass es in „01000000000” umgewandelt wird, und „011” wird zum Erzeugen des Datenwerts „01000000011” addiert.
  • Das zweite und das dritte Dithering-Steuergerät 165G, 165B weisen im Wesentlichen die gleiche Schaltkreiskonfiguration auf, wie das erste Dithering-Steuergerät 165R. Folglich wird eine detaillierte Beschreibung des zweiten und dritten Dithering-Steuergeräts 165G, 165B weggelassen.
  • Das erste Kompensationsteil 1310 weist, gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel ein Positions-Beurteilungsteil 181, ein Graupegel-Beurteilungsteil 182R, 182G, 182B, ein Adressen-Erzeugungsteil 183R, 183G, 183B und ein FRC-/Dithering-Steuergerät 185R, 185G, 185B auf.
  • Das Positions-Beurteilungsteil 181 beurteilt eine Anzeigeposition des Datenwerts Ri/Gi/Bi auf dem Flüssigkristallanzeigepaneel 103, indem ein vertikales/horizontales Synchronisationssignal Vsync, Hsync, ein Datenfreigabesignal DE oder ein Punkttakt DCLK verwendet wird.
  • Das Graupegel-Beurteilungsteil 182R, 182G, 182B analysiert einen Graupegelabschnitt, der einen Graupegel des Datenwert Ri/Gi/Bi oder einen Graupegel des Eingabedatenwerts Ri/Gi/Bi aufweist.
  • Das Adressen-Erzeugungsteil 183R, 183G, 183B erzeugt eine Leseadresse zum Lesen des ersten Kompensations-Datenwerts CDR1, CDG1, CDB1 des EEPROMs 122R, 122G, 122B aus dem Positionsdatenwert des Paneel-Defektbereichs, der in dem EEPROM 122R, 122G, 122B gespeichert ist, dem Positions-Beurteilungsergebnis des Positions-Beurteilungsteils 181 und des Graupegel-Beurteilungsergebnis des Graupegel-Beurteilungsteils 182R, 182G, 182B und legt die Leseadresse an das EEPROM 122R, 122B, 122B an. Der erste Kompensations-Datenwert CDR1, CDG1, CDB1, der von dem EEPROM 122R, 122G, 122B ausgegeben wird, wird an das FRC-/Dithering-Steuergerät 185R, 185G, 185B gemäß der Leseadresse angelegt.
  • Das FRC-/Dithering-Steuergerät 185R, 185G, 185B verteilt den ersten Kompensations-Datenwert CDR1, CDG1, CDB1 von dem EEPROM 122R, 122G, 122B auf die Pixel innerhalb der vorangegangenen Ditheringstrukturen und auf eine Mehrzahl von Frame-Zeitspannen, und erhöht oder verringert den in dem Paneel-Defektbereich anzuzeigenden Datenwert Ri/Gi/Bi auf den verteilten ersten Kompensations-Datenwert CDR1, CDG1, CDB1. Das FRC-/Dithering-Steuergerät 185R, 185G, 185B weist ein erstes FRC-/Dithering-Steuergerät 185R zum Korrigieren von Rot-Daten, ein zweites FRC-/Dithering-Steuergerät 185G zum Korrigieren von Grün-Datenwert und ein drittes FRC-/Dithering-Steuergerät 185B zum Korrigieren von Blau-Datenwert auf.
  • Unter Bezugnahme auf 32, weist das erste FRC-/Dithering-Steuergerät 183R ein Kompensationswert-Beurteilungsteil 193, ein Framenummer-Erfassungsteil 191, ein Pixelposition-Erfasser 192 und ein Berechnungsteil 194 auf.
  • Das Kompensationswert-Beurteilungsteil 193 beurteilt den R-Kompensationswert und erzeugt einen FRC-/Dithering-Datenwert FDD für den Wert, der für eine Mehrzahl von Frame-Zeitspannen an die Pixel zu verteilen ist, und die Pixel, die in der Ditheringstruktur enthalten sind. Das Kompensationswert-Beurteilungsteil 193 ist zum automatischen Ausgeben der FRC-/Dithering-Datenwert FDD gemäß dem ersten R-Kompensations-Datenwert CDR1 programmiert. Zum Beispiel ist das Kompensationswert-Beurteilungsteil 193 vorprogrammiert, so dass der Kompensationswert für einen 0-Graupegel erkannt wird, falls der erste R-Kompensations-Datenwert CDR1, als Binärwert ausgedrückt, „00” ist, ein 1/4-Graupegel, falls er „01” ist, ein 1/2-Graupegel, falls er „10” ist, und ein 3/4-Graupegel, falls er „11” ist. Und, im Fall des Durchführens des FRC und des Dithering mit einem Einheitsframe, der vier Frames als eine FRC-Einheit aufweist, und der Ditheringstruktur, die 4 Pixel als Ditheringeinheit aufweist, wie in 17, wird „1” als FRC-/Dithering-Datenwert FDD an einer Pixelposition innerhalb der Ditheringstruktur für vier Frame-Zeitspannen erzeugt, und wird „0” als FRC-/Dithering-Datenwert FDD in den verbleibenden drei Pixelpositionen erzeugt, aber die Position des Pixels, wo „1” erzeugt wird, wird für jedes Frame geändert, wie in 17(a), falls der erste R-Kompensations-Datenwert CDR1 von „01” angelegt wird. Gleichzeitig kann das Kompensationswert-Beurteilungsteil 193 eine Mehrzahl von FRC-Strukturen bestimmen, die den Frame, an den der erste R-Kompensations-Datenwert CDR1 zu verteilen sind, unterschiedlich bezeichnen, und eine Mehrzahl von Ditheringstrukturen, die die Position des Pixels, an das der erste R-Kompensations-Datenwert CDR1 innerhalb der Ditheringdatenwert verteilt wird, unterschiedlich bezeichnen.
  • Die Framenummer-Erfassungsteil 191 erfasst die Framenummer unter Verwendung von einem der vertikalen/horizontalen Synchronisationssignalen Vsync, Hsync, einem Punkttakt DCLK bzw. einem Datenfreigabesignal DE. Zum Beispiel zählt das Framenummer-Erfassungsteil 191 das vertikale Synchronisationssignal Vsync zum Erfassen der Framenummer.
  • Das Pixelposition-Erfassungsteil 192 erfasst die Pixelposition, indem eines der vertikalen/horizontalen Synchronisationssignale Vsync, Hsync, ein Punkttakt DCLK bzw. ein Datenfreigabesignal DE verwendet wird. Zum Beispiel zählt das Pixelposition-Erfassungsteil 192 das horizontale Synchronisationssignal Hsync und den Punkttakt DCLK, so dass die Pixelposition erfasst wird.
  • Das Berechnungsteil 194 erhöht oder verringert den R-Eingabedatenwert Ri auf den FRC-/Dithering-Datenwert FDD, wodurch ein erster R-Zwischenkorrektur-Datenwert Rm1 erzeugt wird.
  • Andererseits werden der zu korrigierende R-Eingabedatenwert Ri und der erste R-Kompensations-Datenwert CDR1 durch die verschiedenen Datenübermittlungsleitungen an das erste FRC-Steuergerät 183R angelegt, oder der zu korrigierende R-Eingabedatenwert Ri kann mit dem ersten R-Kompensations-Datenwert CDR1, der an die gleiche Leitung anzulegen ist, kombiniert werden. Falls zum Beispiel der zu korrigierende R-Eingabedatenwert „01000000” mit 8 Bits ist und der erste R-Kompensations-Datenwert CDR1 „011” mit 3 Bits ist, können jeweils „01000000” und „011” an das FRC-/Dithering-Steuergerät 183 durch die verschiedenen Datenübermittlungsleitungen angelegt werden, oder sie können zu einem 11-Bit-Datenwert „01000000011” kombiniert werden, der an das FRC-/Dithering-Steuergerät 183 anzulegen ist. Falls der zu korrigierende R-Eingabedatenwert Ri und der erste R-Kompensations-Datenwert CDR1 zu dem 11-Bit-Datenwert kombiniert werden, der an das FRC-/Dithering-Steuergerät 183 anzulegen ist, erfasst das FRC-/Dithering-Steuergerät 183 die höheren 8 Bits in dem 11-Bit-Datenwert als den zu korrigierenden R-Eingabedatenwert Ri und die unteren 3 Bits als den ersten R-Kompensations-Datenwert CDR1 zum Durchführen der FRC- und Ditheringsteuerung. Andererseits, als ein Beispiel eines Verfahrens zum Bilden des Datenwerts „01000000011”, in dem „01000000” und „011” kombiniert sind, gibt es ein Verfahren, dass ein Dummybit „000” zu dem untersten Bit von „01000000” hinzugefügt wird, so dass es in „01000000000” umgewandelt wird, und „011” wird zum Erzeugen des Datenwerts „01000000011” addiert.
  • Das zweite und das dritte Dithering-Steuergerät 185G, 185B weisen im Wesentlichen die gleiche Schaltkreiskonfiguration auf, wie das erste FRC-Steuergerät 185R. Folglich wird eine detaillierte Beschreibung des zweiten und dritten Dithering-Steuergeräts 185G, 185B weggelassen.
  • Wie oben beschrieben ist, kann das erste Kompensationsteil 131C gemäß dem dritten Ausführungsbeispiel der Erfindung die Daten, die in dem Paneel-Defektbereich anzuzeigen sind, präzise einstellen mit dem Kompensationswert, der in 1021 Graupegel unterteilt ist, fast ohne ein Flimmern und eine Auflösungsstörung für jedes R, G, B, wenn vorausgesetzt wird, dass der R-, G-, B-Datenwert jeweils ein 8 Bit-Datenwert ist, 4 Frames als Einheitsframe des FRC verwendet werden, die Ditheringstruktur zum Dithering aus 4 Pixel gemacht ist, und der Kompensationswert zeitlich und räumlich verteilt wird.
  • Die 33 bis 35 stellen Ausführungsbeispiele für ein zweites Kompensationsteil 132 gemäß der Erfindung dar.
  • Unter Bezugnahme auf 33 moduliert das zweite Kompensationsteil 132A gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel der Erfindung den ersten Zwischenkorrektur-Datenwert Rm1, Gm1, Bm1, der an das Grenzteil anzulegen ist, indem das Ditheringverfahren verwendet wird, durch Verwendung des zweiten Kompensations-Datenwerts CDR2, CDG2, CDB2, der im EEPROM 122R, 122G, 122B gespeichert ist.
  • Hier weist der erste Zwischenkorrektur-Datenwert Rm1, Gm1, Bm1 den modulierten Eingabedatenwert Ri, Gi, Bi durch den ersten Kompensationsteil 131 und den nicht modulierten Eingabedatenwert Ri, Gi, Bi auf. Das zweite Kompensationsteil 132 weist ein Positions-Beurteilungsteil 221, das Graupegel-Beurteilungsteil 222R, 222G, 222B, einen Adressen-Erzeugungsteil 223R, 223G, 223B und ein Dithering-Steuergerät 225R, 225G, 225B auf.
  • Das Positions-Beurteilungsteil 221 beurteilt eine Anzeigeposition den ersten Zwischenkorrektur-Datenwert Rm1, Gm1, Bm1 auf dem Flüssigkristallanzeigepaneel 103, indem ein vertikales/horizontales Synchronisationssignal Vsync, Hsync, ein Datenfreigabesignal DE oder ein Punkttakt DCLK verwendet wird.
  • Das Graupegel-Beurteilungsteil 222R, 222G, 222B analysiert einen Graupegelabschnitt, der einen Graupegel des ersten Zwischenkorrektur-Datenwerts Rm1, Gm1, Bm1 aufweist.
  • Das Adressen-Erzeugungsteil 223R, 223G, 223B erzeugt eine Leseadresse zum Lesen des zweiten Kompensations-Datenwerts CDR2, CDG2, CDB2 des EEPROMs 122R, 122G, 122B aus dem Positionsdatenwert des Grenzteils, der in dem EEPROM 122R, 122G, 122B gespeichert ist, dem Positions-Beurteilungsergebnis des Positions-Beurteilungsteils 221 und dem Graupegel-Beurteilungsergebnis des Graupegel-Beurteilungsteils 222R, 222G, 222B und legt die Leseadresse an das EEPROM 122R, 122G, 122B an. Der zweite Kompensations-Datenwert CDR2, CDG2, CDB2, der von dem EEPROM 122R, 122G, 122B ausgegeben ist, wird gemäß der Leseadresse an das Dithering-Steuergerät 225R, 225G, 225B angelegt.
  • Das Dithering-Steuergerät 225R, 225G, 225B verteilt den zweiten Kompensations-Datenwert CDR2, CDG2, CDB2 von dem EEPROM 122R, 122G, 122B an jedes Pixel innerhalb einer Ditheringstruktur, die eine Mehrzahl von Pixel aufweist, und erhöht oder verringert den ersten Zwischenkorrektur-Datenwert Rm1, Gm1, Bm1, der in dem Grenzteil anzuzeigen sind, auf den verteilten zweiten Kompensations-Datenwert CDR2, CDG2, CDB2. Das Dithering-Steuergerät 225R, 225G, 225B weist ein erstes Dithering-Steuergerät 225R zum Korrigieren von Rot-Daten, ein zweites Dithering-Steuergerät 225G zum Korrigieren von Grün-Datenwert und ein drittes Dithering-Steuergerät 225B zum Korrigieren von Blau-Datenwert auf.
  • Unter Bezugnahme auf 34, weist das erste Dithering-Steuergerät 225R ein Kompensationswert-Beurteilungsteil 233, ein Pixelposition-Erfassungsteil 232 und ein Berechnungsteil 234 auf.
  • Das Kompensationswert-Beurteilungsteil 233 beurteilt den R-Kompensationswert und erzeugt einen Ditheringdatenwert DD für den Kompensationswert, der auf die Pixel zu verteilen ist, die in der Ditheringstruktur enthalten sind. Das Kompensationswert-Beurteilungsteil 233 ist zum automatischen Ausgeben des Ditheringdatenwerts DD gemäß dem zweiten R-Kompensations-Datenwert CDR2 programmiert. Zum Beispiel ist das Kompensationswert-Beurteilungsteil 233 vorprogrammiert, so dass der Kompensationswert für einen 0-Graupegel erkannt wird, falls der zweite R-Kompensations-Datenwert CDR2, als Binärwert ausgedrückt, „00” ist, einen 1/4-Graupegel, falls er „01” ist, einen 1/2-Graupegel, falls er „10” ist und einen 3/4-Graupegel, falls er „11” ist. Und, im Fall des Durchführens des Dithering für die Ditheringstruktur, die 4 Pixel aufweist, wie in 34, erzeugt das Kompensationswert-Beurteilungsteil 233 „1” als Ditheringdatenwert DD an einer Pixelposition innerhalb der Ditheringstruktur, und erzeugt „0” als Ditheringdatenwert DD in den verbleibenden 3 Pixelpositionen, wie in 19B(a), falls der zweite R-Kompensations-Datenwert CDR2 mit „01” angelegt wird. Das Kompensationswert-Beurteilungsteil 233 bestimmt eine Mehrzahl von Ditheringstrukturen, wo die Position des Pixels, an die der zweite R-Kompensations-Datenwert CDR2 verteilt wird, unterschiedlich innerhalb der Dithering-Struktur bezeichnet werden kann. Ferner werden zwischen vertikal oder horizontal benachbarten Ditheringstrukturen DD verschiedene Ditheringstrukturen angewendet.
  • Das Pixelposition-Erfassungsteil 232 erfasst die Pixelposition, indem eines der vertikalen/horizontalen Synchronisationssignale Vsync, Hsync, ein Punkttakt DCLK oder ein Datenfreigabesignal DE verwendet wird. Zum Beispiel zählt das Pixelposition-Erfassungsteil 232 das horizontale Synchronisationssignal Hsync und den Punkttakt DCLK, so dass die Pixelposition erfasst wird.
  • Das Berechnungsteil 234 erhöht oder verringert den ersten Zwischendatenwert (Rm2) auf den Ditheringdatenwert DD, wodurch ein zweiter R-Zwischenkorrektur-Datenwert Rm2 erzeugt wird.
  • Andererseits wird der zu korrigierende erste R-Zwischenkorrektur-Datenwert Rm1 und der R-Kompensations-Datenwert CDR2 durch die verschiedenen Datenübermittlungsleitungen an das erste Dithering-Steuergerät 225R angelegt, oder der zu korrigierende erste R-Zwischenkorrektur-Datenwert Rm1 kann mit dem R-Kompensations-Datenwert CDR2 kombiniert werden, um an die gleiche Leitung angelegt zu werden. Falls zum Beispiel der zu korrigierende erste R-Zwischenkorrektur-Datenwert „01000000” mit 8 Bits ist und der R-Kompensations-Datenwert CDR2 „011” mit 3 Bits ist, können jeweils „01000000” und „011” an das erste Dithering-Steuergerät 225R durch die verschiedenen Datenübermittlungsleitungen angelegt werden, oder sie können zu einem 11-Bit-Datenwert „01000000011” kombiniert werden, um an das erste Dithering-Steuergerät 225R angelegt zu werden. Falls der zu korrigierende erste R-Zwischenkorrektur-Datenwert Rm1 und der R-Kompensations-Datenwert CDR2 zu dem 11-Bit-Datenwert kombiniert werden, um an das erste Dithering-Steuergerät 225R angelegt zu werden, erfasst das erste Dithering-Steuergerät 225R die höheren 8 Bits in dem 11-Bit-Datenwert als den zu korrigierenden ersten R-Zwischenkorrektur-Datenwert Rm1 und die unteren 3 Bits als den R-Kompensations-Datenwert CDR2. Andererseits, als Beispiel eines Verfahrens zum Bilden des Datenwerts „01000000011”, in dem „01000000” und „011” kombiniert sind, gibt es ein Verfahren, dass ein Dummybit „000” zu dem niedrigsten Bit von „01000000” hinzugefügt wird, so dass es in „01000000000” umgewandelt wird, und „011” zum Erzeugen des Datenwerts „01000000011” addiert wird.
  • Das zweite und das dritte Dithering-Steuergerät 225G, 225B weisen im Wesentlichen die gleiche Schaltkreiskonfiguration auf, wie das erste Dithering-Steuergerät 225R. Folglich wird eine detaillierte Beschreibung des zweiten und dritten Dithering-Steuergeräts 225G, 225B weggelassen.
  • Wie oben beschrieben, kann das zweite Kompensationsteil 132A gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel der Erfindung den im Paneel-Defektbereich anzuzeigenden Datenwert genau auf den Kompensationswert, der für jede Farbe R, G, B in 1021 Graupegel unterteilt ist, präzise einstellen, wenn vorausgesetzt wird, dass die Ditheringstruktur zur Dithering aus 4 Pixel zusammengesetzt ist, und der Kompensationswert räumlich verteilt ist, und es ist möglich, den Helligkeitssprung zu vermeiden, der zwischen den Ditheringstrukturen auftritt, und der durch die Anwendung der herkömmlichen Ditheringstruktur verursacht wird.
  • Unter Bezugnahme auf 35 moduliert das zweite Kompensationsteil 132B gemäß dem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung den ersten Zwischenkorrektur-Datenwert Rm1, Gm1, Bm1, der an den Paneel-Defektbereich anzulegen ist, durch die FRC- und Ditheringverfahren, indem ein zweiter Kompensations-Datenwert CDR2, CDG2, CDB2 verwendet wird, der in dem EEPROM 122R, 122G, 122B gespeichert ist. Hier weisen der erste Zwischenkorrektur-Datenwert Rm1, Gm1, Bm1 den durch das erste Kompensationsteil 131 modulierten Eingabedatenwert Ri, Gi, Bi und den nicht modulierten Eingabedatenwert Ri, Gi, Bi auf. Das zweite Kompensationsteil 132B weist ein Positions-Beurteilungsteil 241, ein Graupegel-Beurteilungsteil 242R, 242G, 242B, ein Adressen-Erzeugungsteil 243R, 243G, 243B und ein FRC-/Dithering-Steuergerät 245R, 245G, 245B auf.
  • Das Positions-Beurteilungsteil 241 beurteilt eine Anzeigeposition des ersten Zwischenkorrektur-Datenwerts Rmi/Gmi/Bmi auf dem Flüssigkristallanzeigepaneel 103, indem vertikale/horizontale Synchronisationssignale Vsync, Hsync, ein Datenfreigabesignal DE oder ein Punkttakt DCLK verwendet werden.
  • Das Graupegel-Beurteilungsteil 242R, 242G, 242B analysiert einen Graupegelabschnitt, der einen Graupegel des ersten Zwischenkorrektur-Datenwerts Rmi/Gmi/Bmi oder einen Graupegel des ersten Zwischenkorrektur-Datenwerts Rmi/Gmi/Bmi aufweist.
  • Das Adressen-Erzeugungsteil 243R, 243G, 243B erzeugt eine Leseadresse zum Lesen des zweiten Kompensations-Datenwerts CDR2, CDG2, CDB2 des EEPROMs 122R, 122G, 122B aus dem Positionsdatenwert des Paneel-Defektbereichs, der in dem EEPROM 122R, 122G, 122B gespeichert ist, dem Positions-Beurteilungsergebnis des Positions-Beurteilungsteils 241 und dem Graupegel-Beurteilungsergebnis des Graupegel-Beurteilungsteils 242R, 242G, 242B und legt die Leseadresse an das EEPROM 122R, 122B, 122B an. Der zweite Kompensations-Datenwert CDR2, CDG2, CDB2, der von dem EEPROM 122R, 122G, 122B ausgegeben wird, wird an das FRC-/Dithering-Steuergerät 245R, 245G, 245B gemäß der Leseadresse angelegt.
  • Das FRC-/Dithering-Steuergerät 245R, 245G, 245B verteilt den zweiten Kompensations-Datenwert CDR2, CDG2, CDB2 von dem EEPROM 122R, 122G, 122B auf die Pixel innerhalb der vorangegangenen Ditheringstrukturen und auf eine Mehrzahl von Frame-Zeitspannen, und erhöht oder verringert den in dem Paneel-Defektbereich anzuzeigenden Datenwert Ri/Gi/Bi auf den verteilten zweiten Kompensations-Datenwert CDR2, CDG2, CDB2. Das FRC-/Dithering-Steuergerät 245R, 245G, 245B weist ein erstes FRC-/Dithering-Steuergerät 245R zum Korrigieren von Rot-Daten, ein zweites FRC-/Dithering-Steuergerät 245G zum Korrigieren von Grün-Datenwert und ein drittes FRC-/Dithering-Steuergerät 245B zum Korrigieren von Blau-Datenwert auf.
  • Unter Bezugnahme auf 36, weist das erste FRC-/Dithering-Steuergerät 245R ein Kompensationswert-Beurteilungsteil 253, ein Framenummer-Erfassungsteil 251, ein Pixelposition-Erfasser 252 und ein Berechnungsteil 254 auf.
  • Das Kompensationswert-Beurteilungsteil 253 beurteilt den R-Kompensationswert und erzeugt einen FRC-/Dithering-Datenwert FDD für den Wert, der für eine Mehrzahl von Frame-Zeitspannen an die Pixel zu verteilen ist, und die Pixel, die in der Ditheringstruktur enthalten sind. Das Kompensationswert-Beurteilungsteil 253 ist zum automatischen Ausgeben des FRC-/Dithering-Datenwerts FDD gemäß dem zweiten R-Kompensations-Datenwert CDR2 programmiert. Zum Beispiel ist das Kompensationswert-Beurteilungsteil 253 vorprogrammiert, so dass der Kompensationswert für einen 0-Graupegel erkannt wird, falls der zweite R-Kompensations-Datenwert CDR2, als Binärwert ausgedrückt, „00” ist, einem 1/4-Graupegel, falls er „01” ist, einem 1/2-Graupegel, falls er „10” ist und einem 3/4-Graupegel, falls er „11” ist. Im Fall des Durchführens des FRC mit einem Einheitsframe, der vier Frames als eine FRC-Einheit aufweist, und der Ditheringstruktur, die 4 Pixel aufweist, als Ditheringeinheit, wird „1” als FRC-/Dithering-Datenwert FDD an einer Pixelposition innerhalb der Ditheringstruktur für vier Frame-Zeitspannen erzeugt, und wird „0” als FRC-/Dithering-Datenwert FDD in den verbleibenden drei Pixelpositionen erzeugt, aber die Position des Pixels, wo „1” erzeugt wird, wird für jedes Frame geändert, falls der zweite R-Kompensations-Datenwert CDR2 „01” angelegt wird. Gleichzeitig kann das Kompensationswert-Beurteilungsteil 253 eine Mehrzahl von FRC-Strukturen bestimmen, die den Frame, an den der zweite R-Kompensations-Datenwert CDR2 zu verteilen ist, unterschiedlich bezeichnen, und eine Mehrzahl von Ditheringstrukturen, die die Position des Pixels, an die der zweite R-Kompensations-Datenwert CDR2 innerhalb der Ditheringdatenwert verteilt wird, unterschiedlich bezeichnen.
  • Die Framenummer-Erfassungsteil 251 erfasst die Framenummer unter Verwendung von einem der vertikalen/horizontalen Synchronisationssignalen Vsync, Hsync, einem Punkttakt DCLK bzw. einem Datenfreigabesignal DE. Zum Beispiel zählt das Framenummer-Erfassungsteil 251 das vertikale Synchronisationssignal Vsync zum Erfassen der Framenummer.
  • Das Pixelposition-Erfassungsteil 252 erfasst die Pixelposition, indem eines der vertikalen/horizontalen Synchronisationssignale Vsync, Hsync, ein Punkttakt DCLK bzw. ein Datenfreigabesignal DE verwendet wird. Zum Beispiel zählt das Pixelposition-Erfassungsteil 252 das horizontale Synchronisationssignal Hsync und den Punkttakt DCLK, so dass die Pixelposition erfasst wird.
  • Das Berechnungsteil 254 erhöht oder verringert den R-Eingabedatenwert Ri auf den FRC-/Dithering-Datenwert FDD, wodurch ein erster R-Zwischenkorrektur-Datenwert Rm1 erzeugt wird.
  • Andererseits werden der zu korrigierende erste R-Zwischenkorrektur-Datenwert Rmi und der zweite R-Kompensations-Datenwert CDR2 durch die verschiedenen Datenübermittlungsleitungen an das erste FRC-Steuergerät 243R angelegt, oder der zu korrigierende erste R-Zwischenkorrektur-Datenwert Rmi kann mit dem zweiten R-Kompensations-Datenwert CDR2, der an die gleiche Leitung anzulegen ist, kombiniert werden. Falls zum Beispiel der zu korrigierende erste R-Zwischenkorrektur-Datenwert Rm1 „01000000” mit 8 Bits ist und der zweite R-Kompensations-Datenwert CDR2 „011” mit 3 Bits ist, können „01000000” und „011” an das FRC-/Dithering-Steuergerät 253 durch die jeweils verschiedenen Datenübermittlungsleitungen angelegt werden, oder sie können zu einem 11-Bit-Datenwert „01000000011” kombiniert werden, der an das FRC-/Dithering-Steuergerät 253 anzulegen ist. Falls der zu korrigierende erste R-Zwischenkorrektur-Datenwert Rmi und der zweite R-Kompensations-Datenwert CDR2 zu dem 11-Bit-Datenwert kombiniert werden, der an das FRC-/Dithering-Steuergerät 253 anzulegen ist, erfasst das FRC-/Dithering-Steuergerät 253 die höheren 8 Bits in dem 11-Bit-Datenwert als den zu korrigierenden ersten R-Zwischenkorrektur-Datenwert Rmi und die unteren 3 Bits als den zweiten R-Kompensations-Datenwert CDR2 zum Durchführen der FRC- und Ditheringsteuerung. Andererseits, als ein Beispiel eines Verfahrens zum Bilden des Datenwerts „01000000011”, in dem „01000000” und „011” kombiniert sind, gibt es ein Verfahren, dass ein Dummybit „000” zu dem untersten Bit von „01000000” hinzugefügt wird, um es in „01000000000” umzuwandeln, und „011” wird zum Erzeugen des Datenwerts „01000000011” addiert.
  • Das zweite und das dritte Dithering-Steuergerät 245G, 245B weisen im Wesentlichen die gleiche Schaltkreiskonfiguration auf, wie das erste FRC-Steuergerät 245R. Folglich wird eine detaillierte Beschreibung des zweiten und dritten Dithering-Steuergeräts 245G, 245B weggelassen.
  • Wie oben beschrieben kann das zweite Kompensationsteil 132B gemäß dem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung die Daten, die in dem Paneel-Defektbereich anzuzeigen sind, mit dem Kompensationswert, der in 1021 Graupegel unterteilt ist, fast ohne Flimmern und eine Auflösungsstörung für jede der R-, G-, B-Farben präzise einstellen, wenn vorausgesetzt wird, dass der R-, G-, B-Datenwert jeweils 8 Bits hat, 4 Frames als die Frameeinheit des FRC verwendet werden, und der Kompensationswert zeitlich und räumlich verteilt ist. Und ferner ist es möglich, den Helligkeitssprung zu vermeiden, der zwischen den Ditheringstrukturen auftritt, der durch die Anwendung der herkömmlichen Ditheringstruktur bewirkt wird.
  • 37 zeigt ein Ausführungsbeispiel eines dritten Kompensationsteils 133 gemäß der Erfindung.
  • Unter Bezugnahme auf 37 moduliert das dritte Kompensationsteil 133 gemäß dem Ausführungsbeispiel der Erfindung den zweiten Zwischenkorrektur-Datenwert Rm2, Gm2, Bm2, der an das Verbindungspixel angelegt wird, indem auf einen dritten Kompensations-Datenwert CDR3, CDG3, CDB3 erhöht oder verringert wird, der in dem EEPROM 122R, 122G, 122B gespeichert ist. Hier weist der zweite Zwischenkorrektur-Datenwert Rm2, Gm2, Bm2 den modulierten Eingabedatenwert Ri, Gi, Bi durch die ersten und zweiten Kompensationsteile 131, 132 und die nicht modulierten Eingabedatenwert Ri, Gi, Bi auf. Das dritte Kompensationsteil 133 weist ein Positions-Beurteilungsteil 281, das Graupegel-Beurteilungsteil 282R, 282G, 282B, ein Adressen-Erzeugungsteil 283R, 283G, 283B und ein Berechnungsteil 285R, 285G, 285B auf.
  • Das Positions-Beurteilungsteil 281 beurteilt eine Anzeigeposition des zweiten Zwischenkorrektur-Datenwerts Rm2, Gm2, Bm2 auf dem Flüssigkristallanzeigepaneel 103, indem ein vertikales/horizontales Synchronisationssignal Vsync, Hsync, ein Datenfreigabesignal DE bzw. ein Punkttakt DCLK verwendet wird.
  • Das Graupegel-Beurteilungsteil 282R, 282G, 282B analysiert einen Graupegelabschnitt, der einen Graupegel des zweiten Zwischenkorrektur-Datenwerts Rm2, Gm2, Bm2 oder einen Graupegel des zweiten Zwischenkorrektur-Datenwerts Rm2, Gm2, Bm2 aufweist.
  • Das Adressen-Erzeugungsteil 283, 283G, 283B erzeugt eine Leseadresse zum Lesen des dritten Kompensations-Datenwerts CDR3, CDG3, CDB3 des EEPROM 122R, 122G, 122B aus dem Positionsdatenwert des Verbindungspixels, der in dem EEPROM 122R, 122G, 122B gespeichert ist, dem Positions-Beurteilungsergebnis des Positions-Beurteilungsteils 281 und dem Graupegel-Beurteilungsergebnis des Graupegel-Beurteilungsteils 282R, 282G, 282B und legt die Leseadresse an das EEPROM 122R, 122G, 122B an. Der dritte Kompensations-Datenwert CDR3, CDG3, CDB3, der von dem EEPROM 122R, 122G, 122B ausgegeben ist, wird an das FRC-/Dithering-Steuergerät 285R, 285G, 285B gemäß der Leseadresse angelegt.
  • Das Berechnungsteil 285R, 285G, 285B erhöht oder verringert den zweiten R-Zwischenkorrektur-Datenwert Rm2, Gm2, Bm2 auf den dritten Kompensations-Datenwert CDR3, CDG3, CDB3 zum Erzeugen des Korrekturdatenwerts Rc, Gc, Bc. Andererseits kann das Berechnungsteil 285R, 285G, 285B einen Multiplizierer oder Dividierer aufweisen, der den dritten Kompensations-Datenwert CDR3, CDG3, CDB3 auf den zweiten Zwischenkorrektur-Datenwert Rm2, Gm2, Bm2 multipliziert, oder den zweiten Zwischenkorrektur-Datenwert Rm2, Gm2, Bm2 durch den dritten Kompensations-Datenwert CDR3, CDG3, CDB3 dividiert, wobei der Multiplizierer und der Dividierer andere sind als ein Addierer oder Subtrahierer.
  • Der Datenwert Rc, Gc, Bc, der durch die oben genannten ersten bis dritten Kompensationsteile 131, 132, 133 korrigiert ist, wird durch das Taktsteuergerät 104 und den Datentreiberschaltkreis 101 an das Flüssigkristallanzeigepaneel 103 angelegt, so dass das Bild angezeigt wird, von dem die Qualität korrigiert wurde.
  • Die Flachpaneelanzeigevorrichtung und das Bildqualität-Steuerverfahren wurden gemäß dem Ausführungsbeispiel der Erfindung mit Bezug auf die Flüssigkristallanzeigevorrichtung erklärt, aber sie können gleichermaßen auf andere Flachpaneelanzeigevorrichtungen, wie zum Beispiel eine Aktivmatrix aus organischen lichtemittierenden Dioden (OLED) angewendet werden.
  • Wie oben beschrieben, führt die Flachpaneelanzeigevorrichtung und das Bildqualität-Steuerverfahren gemäß dem Ausführungsbeispiel der Erfindung eine elektrische Kompensation mit dem Bildqualität-Steuerverfahren durch, wo eine präzise Einstellung, wie zum Beispiel FRC und Dithering, für das Grenzteil des Paneel-Defektbereichs und den Nicht-Defektbereich und den Paneel-Defektbereich des Anzeigepaneels, möglich ist, wodurch es möglich ist, eine natürlichere Bildqualitätkompensation durchzuführen. Insbesondere wird eine Unregelmäßigkeit der Ditheringstruktur an die Ditheringstrukturen angelegt, die parallel angelegt sind, wenn das Dithering durchgeführt wird, wodurch der Helligkeitssprung zwischen den Ditheringstrukturen vermieden werden kann. Die elektrische Kompensation wird für das Verbindungspixel durchgeführt, das durch den Reparaturprozess gebildet wird, der das Defektpixel mit dem Normalpixel koppelt, wodurch der Grad der Wahrnehmung des Defektpixels deutlich verringert wird, so dass der Paneeldefekt kompensiert werden kann.

Claims (9)

  1. Flachpaneelanzeigevorrichtung mit: einem Anzeigepaneel (101) mit einem Nicht-Defektbereich und einem Paneel-Defektbereich, in dem eine Helligkeit oder eine Farbwiedergabe im Vergleich zu dem Nicht-Defektbereich unterschiedlich ist; einem Speicher (122R, 122G, 122B) zum Speichern erster Kompensations-Datenwerte (CDR1, CDG1, CDB1) zum Kompensieren des Helligkeitsunterschieds oder des Farbunterschieds in dem Paneel-Defektbereich, zweiter Kompensations-Datenwerte (CDR2, CDG2, CDB2) zum Kompensieren eines Helligkeitsunterschieds oder Farbunterschieds in einem Grenzteil zwischen dem Paneel-Defektbereich und dem Nicht-Defektbereich; einem ersten Kompensationsteil (131) zum Ändern der Daten, die in dem Paneel-Defektbereich anzuzeigen sind, unter Berücksichtigung der ersten Kompensations-Datenwerte (CDR1, CDG1, CDB1), indem die ersten Kompensations-Datenwerte (CDR1, CDG1, CDB1) in dem Paneel-Defektbereich auf Pixel innerhalb einer vorgegebenen Ditheringstruktur und/oder auf eine Mehrzahl von Frame-Zeitspannen verteilt werden; einem zweiten Kompensationsteil (132) zum Ändern der Daten, die in einem festen Bereich einschließlich der Grenze anzuzeigen sind, unter Berücksichtigung der zweiten Kompensations-Datenwerte (CDR2, CDG2, CDB2), indem die zweiten Kompensations-Datenwerte (CDR2, CDG2, CDB2) auf Pixel innerhalb einer vorgegebenen Ditheringstruktur und/oder auf eine Mehrzahl von Frame-Zeitspannen in dem festen Bereich einschließlich der Grenze verteilt werden; und einem Treiber zum Ansteuern des Anzeigepaneels (101) unter Verwendung der Daten, die von den ersten und zweiten Kompensationsteilen (131, 132) geändert sind.
  2. Flachpaneelanzeigevorrichtung gemäß 1, wobei das Anzeigepaneel (101) wenigstens ein Verbindungspixel (13) in dem Nicht-Defektbereich aufweist, das mit einem Pixel in dem Paneel-Defektbereich gekoppelt ist, und ein drittes Kompensationsteil (133) zum Ändern von Daten, die in mindestens einem Verbindungspixel (13) anzuzeigen sind, unter Berücksichtung dritter Kompensations-Datenwerte (CDR3, CDG3, CDB3), wobei der Verbindungspixel (13) einen Defektpixel (10) und einen Normalpixel (11), der elektrisch mit dem Defektpixel (10) verbunden ist, aufweist.
  3. Flachpaneelanzeigevorrichtung gemäß Anspruch 2, wobei der dritte Kompensationsteil (133) die Daten, die in dem Verbindungspixel anzuzeigen sind, unter Berücksichtigung der dritten Kompensationsdatenwerte (CDR3, CDG3, CDB3) erhöht oder verringert.
  4. Flachpaneelanzeigevorrichtung gemäß Anspruch 1, wobei der Speicher (122R, 122G, 122B) ein EEPROM oder ein EDID-ROM ist.
  5. Flachpaneelanzeigevorrichtung gemäß Anspruch 2, wobei: sich die ersten Kompensations-Datenwerte (CDR1, CDG1, CDB1) gemäß einem Graupegel der Daten, die in dem Paneel-Defektbereich anzuzeigen sind, und einer Position des Paneel-Defektbereichs unterscheiden; sich die zweiten Kompensations-Datenwerte (CDR2, CDG2, CDB2) gemäß einem Graupegel der Daten, die in dem Grenzteil anzuzeigen sind, und einer Position des Grenzteils unterscheiden; und sich die dritten Kompensations-Datenwerte (CDR3, CDG3, CDB3) gemäß einem Graupegel der Daten, die in dem Verbindungspixel (13) anzuzeigen sind, und einer Position des Verbindungspixels (13) unterscheiden.
  6. Verfahren zum Steuern der Bildqualität einer Flachpaneelanzeigevorrichtung, aufweisend: Bestimmen erster Kompensations-Datenwerte (CDR1, CDG1, CDB1) zum Kompensieren von Daten, die in einem Paneel-Defektbereich des Anzeigepaneels (101) anzuzeigen sind, und zweiter Kompensations-Datenwerte (CDR2, CDG2, CDB2) zum Kompensieren von Daten, die in einem Grenzteil zwischen dem Paneel-Defektbereich und einem Nicht-Defektbereich des Anzeigepaneels (101) anzuzeigen sind, wobei in dem Defektbereich eine Helligkeit oder eine Farbewiedergabe im Vergleich zu dem Nicht-Defektbereich unterschiedlich ist; Speichern der ersten und der zweiten Kompensations-Datenwerte (CDR1, CDG1, CDB1, CDR2, CDG2, CDB2) in einem Speicher (122R, 122G, 122B); einen ersten Kompensationsschritt zum Einstellen von in dem Paneel-Defektbereich anzuzeigenden Daten unter Berücksichtigung der ersten Kompensations-Datenwerte (CDR1, CDG1, CDB1) durch Verteilen der ersten Kompensations-Datenwerte (CDR1, CDG1, CDB1) auf Pixel innerhalb einer vorgegebenen Ditheringstruktur und/oder auf eine Mehrzahl von Frame-Zeitspannen; einen zweiten Kompensationsschritt zum Einstellen der in einem festen Bereich einschließlich der Grenze anzuzeigenden Daten unter Berücksichtigung der zweiten Kompensations-Datenwerte (CDR2, CDG2, CDG2), indem die zweiten Kompensations-Datenwerte (CDR2, CDG2, CDG2) auf Pixel innerhalb einer vorgegebenen Ditheringstruktur und/oder auf eine Mehrzahl von Frame-Zeitspannen in dem festen Bereich einschließlich der Grenze verteilt werden; Ansteuern des Anzeigepaneels (101) unter Verwendung der Daten, die durch das erste und zweite Kompensationsteil (131, 132) eingestellt werden.
  7. Verfahren gemäß Anspruch 6, ferner aufweisend einen dritten Kompensationsschritt des Änderns der Daten, die in einem Verbindungspixel (13) anzuzeigen sind, wo benachbarte Pixel miteinander in dem Anzeigepaneel (101) gekoppelt sind, unter Berücksichtigung von dritten Kompensations-Datenwerten (CDR3, CDG3, CDB3), so dass in dem Verbindungspixel (13) anzuzeigende Daten kompensiert werden, wobei der Verbindungspixel (13) einen Defektpixel (10) und einen Normalpixel (11), der elektrisch mit dem Defektpixel (10) verbunden ist, aufweist.
  8. Verfahren gemäß Anspruch 7, wobei der dritte Kompensationsschritt die Daten, die in dem Verbindungspixel anzuzeigen sind, unter Berücksichtigung der dritten Kompensations-Datenwerte (CDR3, CDG3, CDB3) erhöht oder verringert.
  9. Verfahren gemäß Anspruch 7, wobei sich die ersten Kompensations-Datenwerte (CDR1, CDG1, CDB1) gemäß einem Graupegel der in dem Paneel-Defektbereich anzuzeigenden Datenwerte und einer Position des Paneel-Defektbereichs unterscheiden; sich die zweiten Kompensations-Datenwerte (CDR2, CDG2, CDB2) gemäß einem Graupegel der in dem Grenzteil anzuzeigenden Datenwerte und einer Position des Grenzteils unterscheiden; und sich die dritten Kompensations-Datenwerte (CDR3, CDG3, CDB3) gemäß einem Graupegel der in dem Verbindungspixel anzuzeigenden Datenwerte und einer Position des Verbindungspixels unterscheiden.
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