DE102005005056B4 - Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators - Google Patents

Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators Download PDF

Info

Publication number
DE102005005056B4
DE102005005056B4 DE102005005056.5A DE102005005056A DE102005005056B4 DE 102005005056 B4 DE102005005056 B4 DE 102005005056B4 DE 102005005056 A DE102005005056 A DE 102005005056A DE 102005005056 B4 DE102005005056 B4 DE 102005005056B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
standard
calibration
port
network analyzer
calibration standard
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
DE102005005056.5A
Other languages
English (en)
Other versions
DE102005005056A1 (de
Inventor
Dr. Simon Hans-Joachim
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rohde and Schwarz GmbH and Co KG
Original Assignee
Rohde and Schwarz GmbH and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rohde and Schwarz GmbH and Co KG filed Critical Rohde and Schwarz GmbH and Co KG
Priority to DE102005005056.5A priority Critical patent/DE102005005056B4/de
Priority to US11/218,300 priority patent/US7782065B2/en
Publication of DE102005005056A1 publication Critical patent/DE102005005056A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE102005005056B4 publication Critical patent/DE102005005056B4/de
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R35/00Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
    • G01R35/005Calibrating; Standards or reference devices, e.g. voltage or resistance standards, "golden" references
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/28Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators (NA) mit mindestens zwei Messtoren (MT) mit folgenden Verfahrensschritten: – Vermessen eines vollständig bekannten, transmittierenden ersten Kalibrierstandards (ST1), der als Zweitorstandard ausgebildet ist und zwischen zwei Messtore (MT) des Netzwerkanalysators (NA) geschaltet wird, – Vermessen eines zweiten Kalibrierstandards (ST2), der als Zweitorstandard oder Doppel-Eintorstandard ausgebildet ist und zwischen die selben Messtore (MT) des Netzwerkanalysators (NA) geschaltet wird, wobei von dem zweiten Standard (ST2) nur die Reflexionsparameter bekannt sind, – Vermessen eines hinsichtlich seiner Reflexionsparameter symmetrischen dritten Kalibrierstandards (ST3), der als Zweitorstandard oder Doppel-Eintorstandard ausgebildet ist und zwischen die selben Messtore (MT) des Netzwerkanalysators (NA) geschaltet wird, und – Berechnen der Matrixelemente von den Messtoren (MT) zugeordneten Fehlerzweitoren (G, H) aus den Ergebnissen der Vermessungen des ersten, zweiten und dritten Kalibrierstandards (ST1–ST3), wobei die Reflexionsparameter des ersten Kalibrierstandards (ST1) und des zweiten Kalibrierstandards (ST2) beliebige aber bekannte Werte haben, die von Null verschieden sind, und wobei der Reflexionsparameter des dritten Kalibrierstandards (ST3) von Null verschieden ist aber nicht bekannt ist.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators.
  • Verschiedene Verfahren zum Kalibrieren von Netzwerkanalysatoren sind beispielsweise aus der DE 44 33 375 A1 , der DE 39 12 795 A1 und der DE 102 42 932 A1 bekannt. In der DE 102 35 221 A1 und der DE 199 18 960 A1 wird ein Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators mit mehr als zwei Messtoren beschrieben.
  • In der Praxis haben sich das Kalibrierverfahren nach dem sogenannten 10-Term-Modell für Netzwerkanalysatoren mit drei Messstellen und das Verfahren nach dem sogenannten 7-Term-Modell, das allerdings einen Netzwerkanalysator mit vier Messstellen voraussetzt, durchgesetzt. Bei diesen Verfahren werden zwei Messtore des Netzwerkanalysators mit drei verschiedenen Standards verbunden, von welchen verschiedene Parameter bekannt sind. Bei dem bisher bekannten 7-Term-Verfahren bestand allerdings die Forderung, dass sowohl der erste Standard als auch der zweite Standard ideal angepasst sind, d. h. ihre Reflexionsfaktoren gleich Null ist. Diese Einschränkung ist erheblich und bedeutet eine wesentliche Reduzierung der zur Verfügung stehenden Standards.
  • Die DE 39 12 795 A1 offenbart ein Verfahren zur Kalibrierung eines Netzwerk-Analysators, bei welchem in beliebiger Reihenfolge drei verschiedene Kalibrier-Standards an die Messtore angeschlossen werden. Dabei wird als erster Kalibrierstandard ein Zweitor mit vollständig bekannten Streuparametern eingesetzt, welches nicht notwendigerweise transmittierende Eigenschaften aufweist.
  • Als zweiter Kalibrierstandard wird ein Dämpfungsglied beliebiger Transmission jedoch bekannter Reflexion eingesetzt. Der dritte Kalibrierstandard verfügt über beliebige, jedoch von der Reflexion des zweiten Kalibrierstandards verschiedene Reflexion. Ein Nachteil dieses Verfahrens ist es, dass die Auswahl verwendbarer Kalibrierstandards zur Kalibrierung der Netzwerk-Analysatoren eingeschränkt ist. Dies erfordert die Vorhaltung einer großen Anzahl an Kalibrierstandards zur Kalibrierung unterschiedlicher Messaufbauten und verursacht damit erhebliche Kosten. Weiterhin ist der Aufwand der Berechnung der Fehlerzweitore erheblich und kann lediglich mittels eines iterativen Verfahrens erfolgen.
  • Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein verbessertes Kalibrier-Verfahren für Netzwerkanalysatoren auf der Grundlage des 7-Term-Modells anzugeben, bei welchem der erste Standard und der zweite Standard auch fehlangepasst sein dürfen.
  • Die Aufgabe wird durch die Merkmale des Anspruchs 1 gelöst.
  • Für das erfindungsgemäße Verfahren besteht nur die Forderung, dass der erste Standard vollständig bekannt sein muss und eine transmittierende Eigenschaft hat, d. h. die beiden Messtore dürfen nicht vollständig voneinander isoliert sein. Von dem zweiten Standard müssen nur die Reflexionsparameter bekannt sein. Für den dritten Standard wird nur gefordert, dass dieser hinsichtlich seiner Reflexionsparameter symmetrisch ist (Reflexionssymmetrie).
  • Die Unteransprüche beinhalten vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung. Insbesondere geben die Unteransprüche an, wie die unbekannten Streuparameter des zweiten Standards und der unbekannte Reflexionsparameter des dritten Standards konkret berechnet werden können. Außerdem beinhalten die Unteransprüche eine Erweiterung des Verfahrens von einem 2-Tor-Netzwerkanalysator auf einen n-Tor-Netzwerkanalysator mit mehr als zwei Messtoren.
  • Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher beschrieben. In der Zeichnung zeigen:
  • 1 die Modellierung der Nichtidealitäten eines realen Netzwerkanalysators durch Systemfehlerzweitore;
  • 2 das 10-Term-Systemfehlermodell für die Zweitormessung;
  • 3 das 7-Term-Systemfehlermodell für die Zweitormessung und
  • 4 die Realisierungsmöglichkeiten für den zweiten und dritten Kalibrierstandard.
  • Das erfindungsgemäße Verfahren bezieht sich auf die Kalibrierung von Netzwerkanalysatoren mit zwei oder mehr Toren. Netzwerkanalysatoren werden zur Messung der Streuparameter von linearen Zwei- oder Mehrtoren eingesetzt. Streuparameter S sind definiert als Quotienten von Wellengrößen bei Einspeisung des Generatorsignals an einem Tor des Messobjekts und reflexionsfreiem Abschluss beider Tore. Ein idealer Netzwerkanalysator zur Zweitormessung hat angepasste Messtore sowie drei oder vier Messstellen, von denen jede das exakte Maß einer zum Messobjekt hinlaufenden bzw. von dort kommenden Welle liefert.
  • Ein solcher Aufbau ist in der Praxis allerdings nicht breitbandig realisierbar. Die Nichtidealitäten können, sofern sie systematisch und damit reproduzierbar sind, durch ein sogenanntes Systemfehlermodell nach 1 beschrieben werden können. Dabei wird der reale Netzwerkanalysator NA dadurch modelliert, dass man den Messtoren MT eines idealen Netzwerkanalysators INA sogenannte Fehlerzweitore, die hier mit G und H bezeichnet sind, vorschaltet. Für die vollständig systemfehlerkorrigierte Messung von Zweitoren haben sich zwei verschiedene Fehlermodelle etabliert.
  • Zum einen gibt es für Netzwerkanalysatoren mit 3 Messstellen das 10-Term-Modell gemäß 2, bei dem für die Messung in Vor- und Rückwärtsrichtung völlig unabhängige Fehlermodelle mit jeweils 5 Termen angesetzt werden. Dies ist bekannt aus W. Kruppa, K. Sodomsky: ”An Explicit Solution for the Scattering Parameters of a Linear Two-Port Measured with an Imperfect Test Set”, IEEE T-MTT, Jan. 1971, S. 122–123. Dabei enthält das Fehlerzweitor des Quell-Messtors, an dem das Messsignal eingespeist wird, 3 Terme und das des Lasttors 2. Die Fehlerzweitore für die Rückwärtsrichtung sind mit G' und H' benannt. Für jede Messrichtung stehen jeweils nur 3 Messgrößen m1 zur Verfügung.
  • Auf Netzwerkanalysatoren mit 4 Messstellen kann auch das von der Messrichtung unabhängige 7-Term-Modell nach 3 angewandt werden. Hier werden für jede Messrichtung alle 4 Messgrößen m1 erfasst. Von den eigentlich 8 Parametern der Systemfehlerzweitore entfällt einer durch Normierung. Auf dem 7-Term-Modell beruht die Klasse der 7-Term-Kalibrierverfahren, zu denen beispielweise das TRL-Verfahren, veröffentlicht in G. F. Engen, C. A. Hoer: ”Thru-Reflect-Line: An Improved Technique for Calibrating the Dual Six-Port Automatic Network Analyzer”, IEEE T-MTT, Dez. 1979, S. 987–993, das TRM-Verfahren, TNA veröffentlicht in H.-J. Eul, B. Schiek: ”Thru-Match-Reflect: One Result of a Rigorous Theory for De-Embedding and Network Analyzer Calibration”, Proc. 18th EuMC, 1988, S. 909–914 (im Folgenden [Eul, Schiek]) oder auch die Familie der LNN- bzw. LRR-Verfahren gemäß DE 39 12 795 A1 zählen. Diese Verfahren haben gegenüber demjenigen für das 10-Term-Modell den Vorteil, dass statt 4 Typen von Kalibrierstandards im Minimalfall lediglich drei Kalibrierstandards (im Folgenden kurz Standards) erforderlich sind und dass zudem weniger Eigenschaften der Standards als bekannt vorausgesetzt werden müssen. Der erste Kalibrierstandard ST1, der zweite Kalibrierstandard ST2 und der dritte Kalibrierstandard ST3 werden in dieser Reihenfolge als standardisierte Messobjekte MO zwischen die Messtore MT des Netzwerkanalysators geschaltet. Während das 10-Term-Verfahren erfordert, dass die Streuparameter aller Standards a priori bekannt sind, muss bei den 7-Term-Verfahren mit 3 Standards lediglich der erste Standard, ein transmittierendes Zweitor, vollständig bekannt sein. Der zweite darf zwei unbekannte Parameter aufweisen, der dritte deren drei. Zweiter und dritter Standard können wie in 4 gezeigt als Zweitor oder als zwei Eintore ausgebildet sein.
  • Bei den bisher bekannten 7-Term-Verfahren besteht allerdings zusätzlich die Forderung, dass sowohl der erste Standard ST1 als auch der zweite Standard ST2 ideal angepasst sind, d. h. dass ihr Reflexionsfaktor gleich Null ist. Diese Einschränkung wird durch das erfindungsgemäße Verfahren aufgehoben. Sowohl der erste Standard ST1 als auch der zweite Standard ST2 darf fehlangepasst sein, Reflexionssymmetrie wird dabei nicht gefordert. Die Reflexionsfaktoren des ersten und zweiten Standards ST1, ST2 werden wie bisher als bekannt vorausgesetzt.
  • Das erfindungsgemäßen Verfahrens beruht auf einer Selbstkalibrierung des zweiten Standards ST2 und dritten Standards ST3, also auf der Bestimmung der a priori unbekannten Streuparameter. Wenn diese Parameter bestimmt worden sind, erfolgt die Systemfehlerkorrektur nach dem bereits bekannten Schema für 7-Term-Verfahren mit 3 Standards, siehe [Eul, Schiek].
  • Nach dem aus [Eul, Schiek] bekannten Ansatz lassen sich die beiden Systemfehlerzweitore des 7-Term-Modells nach 1 wie folgt durch Matrizen beschreiben:
    Figure DE102005005056B4_0002
  • Mit der Transmissionsmatrix N des Messobjekt führen (1) und (2) zu
    Figure DE102005005056B4_0003
  • Für jede der beiden Speiserichtungen des Messobjekts lässt sich eine Gleichung gemäß (3) aufstellen, was zusammengefasst werden kann zu
    Figure DE102005005056B4_0004
    wobei gilt
    Figure DE102005005056B4_0005
  • Für die Speisung durch das Messtor 1 sind die Messwerte m1 ohne Apostroph und für die Speisung durch das Messtor 2 sind die Messwerte m1' mit Apostroph angegeben.
  • Für transmissionslose Standards existiert die Transmissionsmatrix N nicht und auch mb aus (5) ist singulär, daher müssen (4) und (5) für diesen Fall modifiziert werden. Dazu wird die Determinante mx der Matrix mb aus (5) extrahiert. Mit
    Figure DE102005005056B4_0006
    wird (5) zu
    Figure DE102005005056B4_0007
    und nach Einsetzen in (4):
    Figure DE102005005056B4_0008
  • Die Matrix N' ist im Gegensatz zur normalen Transmissionsmatrix auch für nicht transmittierende Zweitore bzw. für Doppel-Eintore definiert. Sie wird als Pseudo-Transmissionsmatrix bezeichnet.
  • Für den ersten Standard ST1, für den Transmission vorausgesetzt wird, kann nun (4), für den zweiten Standard ST2 und dritten Standard ST3 (6) angesetzt werden: M1 = G–1N1H (7) M2' = G–1N2'H (8) M3' = G–1N3'H (9)
  • (7) nach H aufgelöst und in (8) eingesetzt führt zu: GM2'M1–1 = N2'N1–1G (10)
  • Mit der ausschließlich durch Messwerte gegebenen Matrix Q = M2'M1–1 wird (10) zu GQ = N2'N1–1G (11)
  • Die Beziehung (11) ist eine sogenannte Ähnlichkeitstransformation. Allgemein gelten für zwei ähnliche Matrizen X1 und X2 GX1 = X2G folgende Beziehungen für Spur und Determinante: sp(X1) = sp(X2) (12) det(X1) = det(X2) (13)
  • Die Spur sp(X) einer Matrix X ist definiert als Summe der Hauptdiagonalelemente.
  • Für die Pseudo-Transmissionsmatrix des zweiten Standards ST2 resultiert mit
    Figure DE102005005056B4_0009
  • Mit der inversen Transmissionsmatrix des ersten Standards ST1
    Figure DE102005005056B4_0010
    werden (12) und (13) zu
    Figure DE102005005056B4_0011
    Figure DE102005005056B4_0012
  • (19) in (18) eingesetzt ergibt
    Figure DE102005005056B4_0013
  • Mit (14), (15) und (19) lassen sich aus (20) die unbekannten Streuparameter S212 und S221 bestimmen. Die Selbstkalibrierung des zweiten Standards ST2 ist damit abgeschlossen.
  • Analog zu (16) gilt für den dritten Standard ST3, bei dem Reflexionssymmetrie, d. h.
    S311 = S322 = r, vorausgesetzt wird:
    Figure DE102005005056B4_0014
  • S3m12 und S3m21 sind in entsprechender Weise wie in (14) und (15) definiert.
  • Mit V = M3'M1–1 gilt analog zu (11): GV = N3N1–1G (22)
  • Damit folgt aus den Spur- und Determinantengleichungen (12) und (13):
    Figure DE102005005056B4_0015
  • (24) in (23) eingesetzt und nach S3m21 aufgelöst ergibt:
    Figure DE102005005056B4_0016
  • Da (25) noch die Unbekannte r enthält, ist eine weitere Bedingung notwendig. Die Zusammenfassung von (11) und (22) liefert eine dritte Ähnlichkeitstransformation: GQV = N2'N1–1N3'N1–1G
  • Während die Anwendung von (13) keine über (19) und (24) hinausgehenden Informationen liefert, resultiert aus (12) eine weitere, sehr komplexe Gleichung für S3m21 in Abhängigkeit von r. Ohne Einschränkung der Allgemeinheit wird nun der dritte Standard ST3 als transmissionslos angenommen, was die Komplexität der Rechnung reduziert. S3m21 kann durch Gleichsetzen mit (25) eliminiert werden, dabei ergibt sich eine quadratische Gleichung für r: ar2 + br + c = 0 (26) mit den Substitutionen
    Figure DE102005005056B4_0017
    Figure DE102005005056B4_0018
  • Von dem an sich unbekannten Reflexionsfaktor r muss zumindest die Phase in etwa bekannt sein, damit die richtige der beiden Lösungen von (26) gewählt werden kann. Dann können mit (25) und (24) sowie den zu (14) und (15) äquivalenten Beziehungen alle Streuparameter des dritten Standards ST3 bestimmt werden. Nun sind alle Parameter aller 3 Standards ST1, ST2 und ST3 bekannt.
  • Aus den Gleichungen (1), (2), sowie der Definitionsgleichung für Streuparameter lässt sich durch Elimination der Wellengrößen folgender Zusammenhang ableiten:
    Figure DE102005005056B4_0019
  • Diese Matrizengleichung liefert für einen in 4 oben schematisch dargestellten Zweitorstandard vier, für einen in 4 unten dargestellten Doppel-Eintorstandard zwei eindimensionale lineare Gleichungen. Für die 3 Standards ST1–ST3 ergeben sich somit bis zu 12 Gleichungen, von denen jedoch nur 8 brauchbar sind. Diese bilden ein überbestimmtes Gleichungssystem, aus dem mit Hilfe einer Ausgleichsrechnung die Systemfehler Gij und Hij ermittelt werden können, siehe [Eul, Schiek].
  • Die vorstehende Beschreibung des erfindungsgemäßen Verfahrens bezieht sich auf die Messung von Zweitoren, ist jedoch nicht auf diese beschränkt. Entsprechend der DE 199 18 960 A1 kann es auch für die Mehrtormessung bei einem Netzwerkanalysator, der mehr als zwei Messtore MT ausweist, eingesetzt werden. Dazu werden zunächst zwei Messtore wie vorstehend beschrieben kalibriert. Dann wird jeweils ein noch nicht kalibriertes Messtor mit einem bereits kalibrierten Messtor über dieselben drei Standards ST1–ST3 verbunden und das Kalibrierverfahren sukzessive wiederholt, bis alle Messtore kalibriert sind.

Claims (4)

  1. Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators (NA) mit mindestens zwei Messtoren (MT) mit folgenden Verfahrensschritten: – Vermessen eines vollständig bekannten, transmittierenden ersten Kalibrierstandards (ST1), der als Zweitorstandard ausgebildet ist und zwischen zwei Messtore (MT) des Netzwerkanalysators (NA) geschaltet wird, – Vermessen eines zweiten Kalibrierstandards (ST2), der als Zweitorstandard oder Doppel-Eintorstandard ausgebildet ist und zwischen die selben Messtore (MT) des Netzwerkanalysators (NA) geschaltet wird, wobei von dem zweiten Standard (ST2) nur die Reflexionsparameter bekannt sind, – Vermessen eines hinsichtlich seiner Reflexionsparameter symmetrischen dritten Kalibrierstandards (ST3), der als Zweitorstandard oder Doppel-Eintorstandard ausgebildet ist und zwischen die selben Messtore (MT) des Netzwerkanalysators (NA) geschaltet wird, und – Berechnen der Matrixelemente von den Messtoren (MT) zugeordneten Fehlerzweitoren (G, H) aus den Ergebnissen der Vermessungen des ersten, zweiten und dritten Kalibrierstandards (ST1–ST3), wobei die Reflexionsparameter des ersten Kalibrierstandards (ST1) und des zweiten Kalibrierstandards (ST2) beliebige aber bekannte Werte haben, die von Null verschieden sind, und wobei der Reflexionsparameter des dritten Kalibrierstandards (ST3) von Null verschieden ist aber nicht bekannt ist.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die unbekannten Streuparameter S212 und S221 des zweiten Kalibrierstandards (ST2) mittels folgendem Gleichungssystem berechnet werden, worin Q eine ausschließlich durch Messwerte gebildete Matrix, m2x die Determinante einer ausschließlich aus Messwerten gebildeten Matrix, S111, S112, S121 und S122 die bekannten Streuparameter des ersten Kalibrierstandards (ST1) und S211 und S222 die bekannten Reflexionsparameter des zweiten Kalibrierstandards (ST2) darstellen:
    Figure DE102005005056B4_0020
  3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der unbekannte Reflexionsparameter r = S311 = S322 des dritten Kalibrierstandards (ST3) durch die Lösung der folgenden quadratischen Gleichung bestimmt wird, worin Q und V jeweils eine ausschließlich durch Messwerte gebildete Matrix darstellen: ar2 + br + c = 0 mit
    Figure DE102005005056B4_0021
    Figure DE102005005056B4_0022
  4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass der Netzwerkanalysator (NA) mehr als zwei Messtore (MT) aufweist, wobei zunächst nur zwei Messtore kalibriert werden und dann jeweils ein noch nicht kalibriertes Messtor mit einem bereits kalibrierten Messtor (MT) über dieselben drei Kalibrierstandards (ST1–ST3) verbunden wird und das Kalibrierverfahren sukzessive wiederholt wird, bis alle Messtore kalibriert sind.
DE102005005056.5A 2004-09-01 2005-02-03 Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators Active DE102005005056B4 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102005005056.5A DE102005005056B4 (de) 2004-09-01 2005-02-03 Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators
US11/218,300 US7782065B2 (en) 2004-09-01 2005-09-01 Method of calibrating a network analyzer

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102004042323 2004-09-01
DE102004042323.7 2004-09-01
DE102005005056.5A DE102005005056B4 (de) 2004-09-01 2005-02-03 Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102005005056A1 DE102005005056A1 (de) 2006-03-30
DE102005005056B4 true DE102005005056B4 (de) 2014-03-20

Family

ID=35942189

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102005005056.5A Active DE102005005056B4 (de) 2004-09-01 2005-02-03 Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7782065B2 (de)
DE (1) DE102005005056B4 (de)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7777497B2 (en) * 2008-01-17 2010-08-17 Com Dev International Ltd. Method and system for tracking scattering parameter test system calibration
DE102009018703B4 (de) 2008-12-19 2018-04-05 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Netzwerkanalysator und ein Verfahren zum Betrieb eines Netzwerkanalysators mit 9-Term Kalibrierung
US8436626B2 (en) * 2009-12-17 2013-05-07 Taiwan Semiconductor Manfacturing Company, Ltd. Cascaded-based de-embedding methodology
DE102012006314A1 (de) * 2012-03-28 2013-10-02 Rosenberger Hochfrequenztechnik Gmbh & Co. Kg Zeitbereichsmessverfahren mit Kalibrierung im Frequenzbereich
CN111751627B (zh) * 2020-06-05 2022-11-29 浙江铖昌科技股份有限公司 一种基于十项误差模型的矢量网络分析仪的自校准方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3912795A1 (de) * 1988-04-22 1989-11-02 Rohde & Schwarz Verfahren zum kalibrieren eines netzwerkanalysators
DE4125624A1 (de) * 1990-11-29 1992-06-04 Rohde & Schwarz Verfahren zum kalibrieren eines netzwerkanalysators
DE4433375A1 (de) * 1993-10-26 1995-04-27 Rohde & Schwarz Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators
DE4435559A1 (de) * 1994-10-05 1996-04-11 Holger Heuermann Verfahren zur Durchführung elektrischer Präzisionsmessungen mit Selbstkontrolle
DE19918960A1 (de) * 1998-04-28 1999-11-11 Holger Heuermann Kalibrierverfahren zur Durchführung von Mehrtormessung basierend auf dem 7-Term-Verfahren
DE10235221A1 (de) * 2002-08-01 2004-02-19 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Verfahren zum Kalibrieren von Netzwerkanalysatoren
DE10242932A1 (de) * 2002-09-16 2004-03-18 Ilona Rolfes Das LRR-Verfahren zur Kalibrierung von vektoriellen 4-Messstellen-Netzwerkanalysatoren

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4982164A (en) * 1988-04-22 1991-01-01 Rhode & Schwarz Gmbh & Co. K.G. Method of calibrating a network analyzer
US6853198B2 (en) * 2002-11-14 2005-02-08 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for performing multiport through-reflect-line calibration and measurement

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3912795A1 (de) * 1988-04-22 1989-11-02 Rohde & Schwarz Verfahren zum kalibrieren eines netzwerkanalysators
DE4125624A1 (de) * 1990-11-29 1992-06-04 Rohde & Schwarz Verfahren zum kalibrieren eines netzwerkanalysators
DE4433375A1 (de) * 1993-10-26 1995-04-27 Rohde & Schwarz Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators
DE4435559A1 (de) * 1994-10-05 1996-04-11 Holger Heuermann Verfahren zur Durchführung elektrischer Präzisionsmessungen mit Selbstkontrolle
DE19918960A1 (de) * 1998-04-28 1999-11-11 Holger Heuermann Kalibrierverfahren zur Durchführung von Mehrtormessung basierend auf dem 7-Term-Verfahren
DE10235221A1 (de) * 2002-08-01 2004-02-19 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Verfahren zum Kalibrieren von Netzwerkanalysatoren
DE10242932A1 (de) * 2002-09-16 2004-03-18 Ilona Rolfes Das LRR-Verfahren zur Kalibrierung von vektoriellen 4-Messstellen-Netzwerkanalysatoren

Non-Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
ENGEN, Glenn F.; HOER,CLETUS A.: "Thru-Reflect-Line": An Improved Technique for Calibrating the Dual Six-Port Automatic Network Analyzer. In: IEEE Transactions Microwave Theory and Techniques, Vol. 27, No. 12, December 1979, S. 987 - 993; *
EUL, H.-J.; SCHIEK, B.: THRU-MATCH-REFLECT: One result of a rigorous theory for de-embedding and network analyser calibration. In: Proceedings of the 18th European Microwave Conference, Stockholm, 1988, 909 - 914. *
KRUPPA, W.; SODOMSKY, K. F.: An Explicit Solution for the Scattering Parameters of a Linear Two-Port Measured with an Imperfect Test Set. In: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Jan.1971, S.122-123 *
SCHIEK, B.: Grundlagen der Systemfehlerkorrektur von Netzwerkanalysatoren, ohne Veröffentlichungsdatum,im DPMA vorliegend seit 03.12.1996, durch Akteneinsicht zugänglich seit Offenlegung der Akte 19606986.6 am 28.08.1997; Seiten 1 bis 74, insbesondere Kap.4.2 bis 4.5 (Seiten 18 bis 27). *

Also Published As

Publication number Publication date
US20060043978A1 (en) 2006-03-02
US7782065B2 (en) 2010-08-24
DE102005005056A1 (de) 2006-03-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE19903573C2 (de) Verfahren zum Korrigieren von Reflexionsmessungen eines zu testenden reziproken Elements bei einem Vektornetzwerkanalysator
EP3039443B1 (de) Verfahren zur kalibrierung eines messaufbaus
DE10338072B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Kalibrieren eines Meßvorrichtungswegs und zum Messen der S-Parameter einer Testvorrichtung in dem kalibrierten Meßvorrichtungsweg
DE4332273C2 (de) Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators
EP0706055B1 (de) Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerk-Analysators nach dem 7-Term-Prinzip
DE10257434B4 (de) Meßfehler-Korrekturverfahren, Qualitätsprüfverfahren für elektronische Komponenten und Charakteristik-Meßsystem elektronischer Komponenten
EP0793110A2 (de) Verfahren zum Messen von elektronischen Messobjekten mittels eines Netzwerkanalysators
DE102009024751A1 (de) Verfahren zur sekundären Fehlerkorrektur eines Mehrtor-Netzwerkanalysators
DE102005005056B4 (de) Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators
DE102020209149A1 (de) Kalibrieren einer impedanzmessvorrichtung
DE19957327B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Analyse von Mehrkanal-Bauteilen
DE3912795C2 (de)
DE2050923A1 (de) Verfahren zur Simulation einer oder mehrerer frequenzabhangiger Eigenschaften einer Ubertragungsanordnung fur elektn sehe Signale
DE102014001585A1 (de) Zeitbereichsmessverfahren mit Kalibrierung im Frequenzbereich
WO2007096059A1 (de) Verfahren zur darstellung der messergebnisse eines netzwerkanalysators mit gleichzeitiger toleranzanzeige
DE102012023629A1 (de) Verfahren zur Berechnung der Restfehler einer Netzwerkanalysatormessung
DE112005001211B4 (de) Messfehlerkorrekturverfahren und zwei Elektronikkomponentencharakteristik-Messvorrichtungen
DE19918697B4 (de) Kalibrierverfahren zur Durchführung von Mehrtormessungen basierend auf dem 10-Term-Verfahren
EP2817650A1 (de) System und verfahren zur kalibrierung einer messanordnung und zur charakterisierung einer messhalterung
DE102020128966B4 (de) Verfahren zur Kalibration einer Messeinrichtung
DE19736897C2 (de) Verfahren zur Kalibrierung eines vektoriellen Netzwerkanalysators
DE10041292A1 (de) Verfahren zur Registration der Istbeschreibung eines Messobjekts mit einer Sollbeschreibung des Messobjekts
DE102014119331A1 (de) Verfahren zum Charakterisieren von Mikrowellenbauelementen
DE3814852A1 (de) Verfahren und anordnung zur netzwerkanalyse
DE19757675C2 (de) Verfahren zur Kalibrierung eines vektoriellen Netzwerkkanalysators

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
R018 Grant decision by examination section/examining division
R020 Patent grant now final
R020 Patent grant now final

Effective date: 20141223