CN217010875U - 一种射频测试设备及*** - Google Patents

Abstract

本申请公开一种射频测试设备及***。射频测试设备包括接口电路，用于连接PC；控制电路，用于连接待测终端的信号端口和仪表的信号端口；处理器，分别与所述接口电路、所述控制电路连接。本申请中，待测终端、射频测试设备和仪表形成射频通路，PC配置射频通路组合到射频测试设备的处理器中，处理器控制射频通路的切换，仪表对各个射频通路进行测试。整个测试过程只需测试人员在PC端配置射频通路组合的逻辑程序，后续的测试过程无需人工干预，从而实现对射频通路的自动切换和自动测试，提高测试效率的同时提高测试准确性，降低人工成本。

Description

一种射频测试设备及***

技术领域

本申请涉及射频测试技术领域，具体涉及一种射频测试设备及***。

背景技术

目前，5G设备在进行射频传导指标测试时，一般是测试人员按照天线说明进行手动接线，接线较复杂时容易出错，导致接线准确性和效率较低。测试的过程中，还需要测试人员守在测试设备旁，当一种接线方式测试完之后需手动改成第二种接线方式继续测试，影响测试效率。

实用新型内容

有鉴于此，本申请实施例提供一种射频测试设备及***，可以提高测试准确性和测试效率。

本申请提供的一种射频测试设备，包括接口电路，所述接口电路用于连接PC；

控制电路，所述控制电路用于连接待测终端的信号端口和仪表的信号端口，所述待测终端的信号端口、所述控制电路和所述仪表的信号端口形成射频通路；

处理器，所述处理器分别与所述接口电路、所述控制电路连接，所述PC用于通过所述接口电路配置射频通路组合到所述处理器中，所述处理器用于通过所述控制电路控制射频通路的切换，并将当前射频通路的插损值反馈给所述PC，所述PC用于将所述插损值发送给所述仪表。

可选地，所述接口电路还用于连接所述仪表，所述PC用于将所述射频通路组合发送给所述仪表，所述仪表通过所述接口电路配置所述射频通路组合到所述处理器中。

可选地，所述控制电路包括开关，所述开关用于在所述待测终端的信号端口之间切换以及在所述仪表的信号端口之间切换，通过控制所述开关的切换实现所述射频通路的切换。

可选地，所述控制电路还包括多工器，所述多工器与所述开关连接，用于传输多路射频信号。

可选地，射频测试设备还包括供电电路，所述供电电路与所述处理器连接，用于给所述处理器供电。

可选地，所述接口电路包括USB接口或UART接口。

可选地，所述仪表包括以下至少一种：无线综测仪、频谱分析仪、网络分析仪。

本申请提供的一种射频测试***，包括如上任一项所述的射频测试设备，还包括PC和仪表，所述射频测试设备与所述PC、所述仪表连接。

可选地，所述仪表包括以下至少一种：无线综测仪、频谱分析仪、网络分析仪。

本申请实施例的射频测试设备及***，待测终端、射频测试设备和仪表形成射频通路，PC配置射频通路组合到射频测试设备的处理器中，处理器控制射频通路的切换，仪表对各个射频通路进行测试。整个测试过程只需测试人员在PC端配置射频通路组合的逻辑程序，后续的测试过程无需人工干预，从而实现对射频通路的自动切换和自动测试，提高测试效率的同时提高测试准确性，降低人工成本。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请一实施例的射频测试设备的结构示意图；

图2是本申请一实施例的射频测试设备的测试流程示意图；

图3是本申请一实施例的射频通路的示意图；

图4是本申请另一实施例的射频测试设备的结构示意图。

本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。通过上述附图，已示出本申请明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本申请构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本申请的概念。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合实施例及附图，对本申请技术方案进行清楚地描述。显然，所描述实施例仅是一部分实施例，而非全部。基于本申请中的实施例，在不冲突的情况下，下述各个实施例及其技术特征可以相互组合。

本申请实施例提供了一种射频测试设备。图1是本申请一实施例的射频测试设备的结构示意图。请参见图1，射频测试设备100包括接口电路110、控制电路120和处理器130。

在一些实施例中，处理器130与接口电路110连接，接口电路110可以连接至计算机(以下称PC)，从而实现处理器130与PC的连接。由此，PC可以将射频通路组合的逻辑程序配置到处理器130中。可选地，处理器130可以是中央处理器CPU、微处理器MCU等。可选地，接口电路可以包括USB接口或UART接口。

处理器130还与控制电路120连接。控制电路120可以连接待测终端的信号端口和仪表的信号端口。由此，待测终端的信号端口、控制电路120和仪表的信号端口形成射频通路，待测终端的信号端口发射射频信号，经过射频通路到达仪表，再由仪表的信号端口发射射频信号，经过射频通路到达待测终端。可选地，控制电路120可以包括可编程射频通路切换器，使得处理器130可以通过控制电路120控制射频通路的切换。

可选地，待测终端可以是手机、平板电脑、对讲机等射频设备。可选地，仪表可以包括以下至少一种：无线综测仪、频谱分析仪、网络分析仪，分别对射频信号的综合性能、频谱等进行测试。

图2是本申请一实施例的射频测试设备的测试流程示意图。请参见图2，本实施例的射频测试设备100的测试过程如下：

(1)按照待测终端的规格在PC端配置射频通路组合的逻辑程序，代码完成编译后下载到射频测试设备100的处理器130中。

(2)搭建测试环境，控制电路120的射频输入口接待测终端，射频输出口接仪表。接口电路110的USB接口或UART接口接PC，接电源开机。

(3)在PC端打开自动化测试工具，设定好需要测试的射频通路组合，可配置成组合列表。

(4)PC输出当前测试的射频通路组合信息给控制电路120。

(5)控制电路120根据接收到的射频通路组合信息自动调用对应的射频通路逻辑，并把当前射频通路组合的插损值反馈给PC。

(6)PC把接收到的插损值设置到仪表中，从而保证不同射频通路组合的插损补偿符合要求。待测终端的信号端口发射射频信号，经过射频通路到达仪表的信号端口，再由仪表的信号端口发射射频信号，经过射频通路到达待测终端的信号端口，完成注册，注册后开始测试。由于已经对插损进行了补偿，因此仪表的读数不包括射频线损等，仪表的读数即为射频测试数据。

(7)判断是否有下一组射频通路组合需要测试。若有，则PC输出下一组射频通路组合信息给控制电路120。若无，则结束测试。

上述过程只需测试人员在PC端配置射频通路组合的逻辑程序，后续的测试过程无需人工干预，从而实现对射频通路的自动切换和自动测试，提高测试效率的同时提高测试准确性，降低人工成本。

在一些实施例中，控制电路120包括开关，开关用于在待测终端的信号端口之间切换以及在仪表的信号端口之间切换，通过控制开关的切换可以实现射频通路的切换。图3是本申请一实施例的射频通路的示意图。请参见图3，当待测终端仅支持单个频段的天线口，控制电路120可以包括开关121。例如测试B1频段时，控制电路120控制下面的开关121切换连接至待测终端的BI TRX端口和B1 RX2端口，控制上面的开关121切换连接至仪表的LTETRX端口和LTE TX2端口。待测终端的B1 TRX端口发射B1频段的射频信号，通过开关121流到仪表的LTE TRX端口，再由仪表的LTE TX2端口发射B1频段的射频信号，通过开关121流到待测终端的B1 RX2端口，完成注册。注册成功后，仪表对B1频段的射频信号的指标、性能进行测试。同样地，测试下一个频段时，按照射频通路组合信息控制开关121自动切换至对应的端口，实现自动测试。

请继续参见图3，当待测终端支持多个频段的天线口，控制电路120还可以包括多工器，多工器与开关连接，可以传输多路射频信号。图3中所示的122为双工器，若待测终端同时支持B1和N78频段的天线口，测试B1和N78频段时，控制开关121切换连接至对应的端口。待测终端的B1 TRX端口发射B1频段的射频信号，通过开关121流到仪表的LTE TRX端口；待测终端的N78 TRX端口发射N78频段的射频信号，通过开关121流到仪表的NR TRX端口。仪表的NR TX3端口发射N78频段的射频信号，通过开关121流到双工器122；仪表的LTE TX3端口发射B1频段的射频信号，通过开关121流到双工器122。双工器122将两路N78频段和B1频段的信号合并后，输出一路包含N78频段和B1频段的信号到待测终端的左边第三个端口，完成注册。注册成功后，仪表对该B1频段的射频信号和N78频段的射频信号的指标、性能进行测试。

图4是本申请另一实施例的射频测试设备的结构示意图。请参见图4，接口电路110还可以连接仪表。PC将射频通路组合发送给仪表，再由仪表通过接口电路110配置射频通路组合到处理器130中。

在实际应用中，可以按照测试场景或测试环境灵活搭建图1或图4所示的结构，使得测试场景更加灵活。

在一些实施例中，射频测试设备100还包括供电电路，供电电路与处理器130连接，用于给处理器130供电，保证射频测试设备100的正常工作。供电电路可以包括电池。

本申请实施例还提供了一种射频测试***。该射频测试***可以包括如上任一实施例所述的射频测试设备，还包括PC和仪表。射频测试设备与PC、仪表连接。可选地，仪表可以包括以下至少一种：无线综测仪、频谱分析仪、网络分析仪。

在本申请实施例提供的射频测试***的实施例中，包含了上述射频测试设备各实施例的全部技术特征，说明书拓展和解释内容与上述射频测试设备的各实施例适应性相同，在此不做再赘述。

以上所述仅为本申请的部分实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本说明书及附图内容所作的等效结构变换，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素，此外，不同实施例中具有同样命名的部件、特征、要素可能具有相同含义，也可能具有不同含义，其具体含义需以其在该具体实施例中的解释或者进一步结合该具体实施例中上下文进行确定。

术语“或”和“和/或”被解释为包括性的，或意味着任一个或任何组合。仅当元件、功能、步骤或操作的组合在某些方式下内在地互相排斥时，才会出现该定义的例外。

Claims (9)

1.一种射频测试设备，其特征在于，包括：

接口电路，所述接口电路用于连接PC；

控制电路，所述控制电路用于连接待测终端的信号端口和仪表的信号端口，所述待测终端的信号端口、所述控制电路和所述仪表的信号端口形成射频通路；

处理器，所述处理器分别与所述接口电路、所述控制电路连接，所述PC用于通过所述接口电路配置射频通路组合到所述处理器中，所述处理器用于通过所述控制电路控制射频通路的切换，并将当前射频通路的插损值反馈给所述PC，所述PC用于将所述插损值发送给所述仪表。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述接口电路还用于连接所述仪表，所述PC用于将所述射频通路组合发送给所述仪表，所述仪表通过所述接口电路配置所述射频通路组合到所述处理器中。

3.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述控制电路包括开关，所述开关用于在所述待测终端的信号端口之间切换以及在所述仪表的信号端口之间切换，通过控制所述开关的切换实现所述射频通路的切换。

4.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述控制电路还包括多工器，所述多工器与所述开关连接，用于传输多路射频信号。

5.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，还包括供电电路，所述供电电路与所述处理器连接，用于给所述处理器供电。

6.根据权利要求1至5任一项所述的设备，其特征在于，所述接口电路包括USB接口或UART接口。

7.根据权利要求1至5任一项所述的设备，其特征在于，所述仪表包括以下至少一种：无线综测仪、频谱分析仪、网络分析仪。

8.一种射频测试***，其特征在于，包括如权利要求1至7中任一项所述的射频测试设备，还包括PC和仪表，所述射频测试设备与所述PC、所述仪表连接。

9.根据权利要求8所述的***，其特征在于，所述仪表包括以下至少一种：无线综测仪、频谱分析仪、网络分析仪。

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