CN100548062C - 用于双模单待机移动终端的单板射频测试*** - Google Patents

Abstract

本发明提出了一种用于双模单待机移动终端的单板射频测试***，该***包括：测试夹具，用于固定移动终端的单板；测试盒，用于进行射频通道切换，切换移动终端的单板与第一综测仪和第二综测仪的连接切换；控制装置，用于控制第一综测仪、第二综测仪以及双路输出电源的工作，以及控制到测试夹具的命令和数据的传输；第一综测仪，用于在第一种制式下对移动终端的单板进行射频指标校准和终测；第二综测仪，用于在第二种制式下对移动终端的单板进行射频指标校准和终测；以及双路输出电源。通过本发明，达到了保证最终整机的质量、缩短测试时间、提高生产效率的目的。

Description

用于双模单待机移动终端的单板射频测试***

技术领域

本发明涉及移动终端领域，尤其涉及一种用于双模单待机移动终端的单板射频测试***。

背景技术

手机单板，指已经焊接上各种芯片和元器件，但不包括外设部件的PCB板。手机的单板测试是手机生产过程中一个重要的环节，主要分为基带功能检测和射频测试两部分。由于人们对低价高性能手机的需求旺盛，手机生产商就必须尽可能的提高生产效率，降低生产成本，手机生产各个环节的效率越发地关键。

双模单待手机，支持两种制式(制式1、制式2)，但是在某一时刻只能使用其中一种网络，它一般采用一个多频天线来接发不同制式的信号。在双模单待手机的生产过程中，需要对两种制式分别进行射频测试，待测手机通过测试夹具和数字电源、综测仪(第一综测仪、第二综测仪)相连，其测试过程如下：(a)计算机通过GPIBGPIB(General Purpose Interface Bus，通用接口总线)接口卡控制所述数字电源，输出可调电压；(b)所述计算机同时控制该待测手机和所述第一综测仪，进行制式1射频参数的终测和校准；(c)所述计算机同时控制该待测手机和所述第二综测仪，进行制式2射频参数的终测和校准；(d)所述计算机由RS232通过所述测试夹具向手机写入生产测试信息。

但是上述现有的测试方案有以下一些缺陷：

在测完一种制式后，如果人工改接到另一种制式，这样花费在切换仪表上的时间太多，增加了测试时间，影响了生产效率；在一种制式测试结束后，如果再到新的工位进行另一种制式的测试，这样虽然可以提高一些测试时间，但是却增加了工位，生产成本变高。

发明内容

鉴于以上所述的一个或多个问题，本发明提出了一种新的用于双模单待机移动终端的单板射频测试***，可以充分利用计算机的自动化能力，在不显著增加测试成本的基础上，缩短测试时间，提高生产率。

根据本发明的用于双模单待机移动终端的单板射频测试***，其特征在于，包括：测试夹具，用于固定移动终端的单板，测试夹具上与单板上的射频测试点的对应位置设置有测试探针，测试夹具上有一射频接口与测试探针相连；测试盒，用于进行射频通道切换，该射频通道切换是移动终端的单板与第一综测仪和第二综测仪之间的射频通道切换；控制装置，连接至测试夹具、第一综测仪、第二综测仪和双路输出电源，用于控制第一综测仪、第二综测仪以及双路输出电源的工作，以及控制到测试夹具的命令和数据的传输；第一综测仪，用于在第一种制式下对移动终端的单板进行射频指标校准和终测；第二综测仪，用于在第二种制式下对移动终端的单板进行射频指标校准和终测；以及双路输出电源，其一路输出连接至测试探针和测试盒的VCC端口用于供电，其另一路输出连接至测试盒的控制信号输入端口用于控制射频通道的切换。

其中，控制装置设置有串口和至少一个GPIB接口卡。双路输出电源、第一综测仪、第二综测仪通过GPIB接口卡与控制装置连接。控制装置通过其串口与测试夹具连接。串口为RS232接口。

其中，测试盒包括：逻辑控制模块，用于根据测试盒的控制信号输入端口上的电平的变化，输出不同的控制信号，以控制SPDT(Single-Pole Double-Throw，单极双掷)开关；SPDT开关，用于选择移动终端的单板连接至第一综测仪还是连接至第二综测仪。

其中，在控制信号输入端口的输入为高电平的情况下，逻辑控制模块输出的控制信号控制SPDT开关选择将移动终端的单板连接至第一综测仪；以及当控制信号输入端口的输入为低电平的情况下，逻辑控制模块输出的控制信号控制SPDT开关选择将移动终端的单板连接至第二综测仪。其中，SPDT开关为AsGa开关。

通过根据本发明的用于双模单待机移动终端的单板射频测试***，可以充分利用计算机的自动化能力，在不显著增加测试成本的基础上，缩短测试时间，提高生产率。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1为根据办发明的双模单待机移动终端的单板射频测试***的框图；

图2为根据本发明一个实施例的双模单待手机单板射频测试装置的***结构图；

图3为双模单待手机单板射频测试装置的测试盒的原理框图；以及

图4为根据本发明的对双模单待手机单板进行射频测试的具体实施方式的流程图。

具体实施方式

下面参考附图，详细说明本发明的具体实施方式。

图1为根据办发明的双模单待机移动终端的单板射频测试***的框图。如图1所示，该***包括：测试夹具102，用于固定移动终端的单板，测试夹具102上与单板上的射频测试点的对应位置设置有测试探针，测试夹具102上有一射频接口与测试探针相连；测试盒104，用于进行射频通道切换，切换移动终端的单板与第一综测仪108和第二综测仪110的连接切换；控制装置106，连接至测试夹具102、第一综测仪108、第二综测仪110、和双路输出电源112，用于控制第一综测仪108、第二综测仪110以及双路输出电源112的工作，以及控制到测试夹具102的命令和数据的传输；第一综测仪108，用于在第一种制式下对移动终端的单板进行射频指标校准和终测；第二综测仪110，用于在第二种制式下对移动终端的单板进行射频指标校准和终测；以及双路输出电源112，其一路输出连接至测试探针和测试盒104的VCC端口用于供电，其另一路输出连接至测试盒104的控制信号输入端口用于控制射频通道的切换。

其中，控制装置106设置有串口和至少一个GPIB接口卡。双路输出电源112、第一综测仪108、第二综测仪110通过GPIB接口卡与控制装置106连接。控制装置106通过其串口与测试夹具102连接。串口为RS232接口。

其中，测试盒104包括：逻辑控制模块，用于根据测试盒104的控制信号输入端口上的电平的变化，输出不同的控制信号，以控制SPDT开关；SPDT开关，用于选择移动终端的单板连接至第一综测仪108还是连接至第二综测仪110。

其中，在控制信号输入端口的输入为高电平的情况下，逻辑控制模块输出的控制信号控制SPDT开关选择将测试单板连接至第一综测仪108；以及当控制信号输入端口的输入为低电平的情况下，逻辑控制模块输出的控制信号控制SPDT开关选择将测试单板连接至第二综测仪110。其中，SPDT开关为AsGa开关。

在设计手机PCB板时，需要在手机单板上预留基带功能和射频的测试点。其中，射频测试是通过测试夹具102上的测试探针与单板上的射频测试点保持良好的接触，在单板开机的状态下，在PC上运行手机的射频测试软件。PC通过GPIB与综测仪相连，通过RS232串口与测试夹具102相连，进行各种控制命令和数据的传输。这样，通过观测射频测试软件的执行情况就可以判断单板的射频性能是否良好。

方案中的射频测试软件是专为射频测试而编写。手机单板上电后，在PC机上运行射频测试软件。射频测试软件根据测试要求，依次对手机进行射频校准和终测。

图2为根据本发明一个实施例的双模单待手机单板射频测试装置的***结构图。如图2所示，该装置包括：

测试夹具102，根据手机单板的外形而设计，并根据单板测试点的位置在测试夹具102上安装金属测试探针，测试夹具102上还有一射频接口与测试探针相连，另外还留有电源输入接口以及串口。测试夹具102的主要作用包括：固定手机单板，通过夹具上的金属测试探针来接触单板上的测试点。

测试盒104，由SPDT开关和逻辑控制电路组成，用以对手机单板与所述两台综测仪的射频通道进行切换，此测试盒1端口通过射频线缆连接测试夹具102上的射频测试接口，2、3端口分别连接第一综测仪108(制式1)和第二综测仪110(制式2)，VCC为供电电源输入端口，CTL为控制信号输入端口。

第二综测仪110，一路输出通过导线与测试夹具102上给单板供电的金属探针以及所述测试盒的VCC端口相连接，其作用给手机单板和逻辑控制电路提供合适的工作电压和电流；另一路输出与所述测试盒104的CTL端口相连接，用来控制射频通道的切换。

两台综测仪(第一综测仪108、第二综测仪110)，第一综测仪108对应制式1的测试，第二综测仪110对应制式2的测试，通过所述测试盒104与手机单板的射频测试接口连接，用以对手机单板进行射频指标校准和终测。

通用计算机202(控制装置)，与所述两台综测仪控制端连接，用以控制两台综测仪工作；还与所述双路输出电源112相连，用以控制其输出电压和电流；并且还与所述测试夹具102相连，用以与手机单板进行数据传输(如校准数据的写入等等)；所述计算机通过GPIB总线与所述两台综测仪控制端以及所述双输出电源控制端连接，通过RS232串口与所述测试夹具102连接，用于各种控制命令和数据的传输；其中，通用计算机202设置有串口以及至少一个GPIB接口卡。

从而通用计算机202、两台综测仪、手机单板、测试夹具102以及测试盒104构成了单板射频指标测试装置，其通过运行相应的程序对单板的射频指标进行校准和终测，使其达到设计要求。

图3为双模单待手机单板射频测试装置的测试盒104的原理框图。测试盒104是本发明的核心部分，可以自动完成手机单板与两台综测仪之间的射频通道切换，它主要由一逻辑控制电路和一使用电平控制的SPDT开关组成，如图3所示。测试开始时，VCC端口上电，逻辑控制电路就可以正常工作，根据CTL端口上的电平变化，逻辑控制电路可以输出不同的控制信号，来控制SPDT开关，进而可以选择手机单板与第一综测仪108相连还是与第二综测仪110相连。当CTL端口输入为高电平时，1端口和2端口相通，此时手机单板与所述第一综测仪108相连；当CTL端口输入为低电平时，1端口和3端口相通，此时手机单板与第二综测仪110相连。

其中所述逻辑控制电路可以采用通用的门电路来搭建，只需要输出两路逻辑相反的TTL电平即可；所述SPDT开关采用DC-2.5G的AsGa开关，耐功率达到3W就可以，关键是驻波比要小，差损不能太大，隔离度要高一些。此种SPDT开关与功分器相比，在成本差不多的情况下，精确度更高，主要体现在：驻波比更小，两个射频通路的隔离度更高。

本发明的双模单待手机单板射频测试装置，是将待测试的手机单板固定在测试夹具102上，手机单板射频测试点与测试夹具102的测试探针接触，双路输出电源112为手机单板和测试盒104供电，通用计算机202控制综测仪通过测试盒104以及测试夹具102对手机单板进行射频指标校准和终测。

上文提到的射频测试项目包括：

通过手机射频测试软件对制式1进行射频校准，包括AFC、APC、AGC。

通过手机射频测试软件对制式1的接收机、发射机进行射频终测。

通过手机射频测试软件对制式2进行射频校准，包括AFC、APC、AGC。

通过手机射频测试软件对制式2的接收机、发射机进行射频终测。以及

上述AFC指自动频率校准，APC指自动功率校准，AGC指自动增益校准。

图4为根据本发明的对双模单待手机单板进行射频测试的具体实施方式的流程图。如图4所示，该实施方式包括以下步骤：

S402，将手机单板固定在测试夹具102上。

S404，打开电源，给手机单板上电。

S406，在计算机上，打开射频测试软件。

S408，通过计算机控制电源，使CTL端口输入信号为高电平。

S410，通过计算机控制第一综测仪108，利用手机射频测试软件进行制式1射频校准，射频校准包括AFC、APC以及AGC；此时计算机控制第二综测仪110处于关闭状态。

S412，通过计算机控制第一综测仪108，利用手机射频测试软件对制式1的接收机和发射机进行射频终测；此时计算机控制第二综测仪110处于关闭状态。

S414，通过计算机控制电源，使CTL端口输入信号为低电平。

S416，通过计算机控制第二综测仪110，利用手机射频测试软件进行制式2射频校准，射频校准包括AFC、APC以及AGC；此时PC控制第一综测仪108处于关闭状态。

S418，通过计算机控制第二综测仪110，利用手机射频测试软件对制式2的接收机和发射机进行射频终测；此时计算机控制第一综测仪108处于关闭状态。

S420，通过计算机的串口，写入被测手机的生产测试信息。以及

S422，完成所有射频测试项目且通过的手机单板进入下一工序；对于不能通过射频测试的手机单板，按故障分类放置待分析。

以上只是本发明的一个优选实施例，在具体实施中，启动手机单板的射频测试软件利用综测仪对手机单板进行制式1射频测试和制式2射频测试的先后顺序并不固定，可以灵活调整。

通过本发明所述的用于双模单待机移动终端的单板射频测试***，可以对双模单待手机单板进行有效快速的射频测试，达到保证最终整机的质量、缩短测试时间、提高生产效率的目的。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种用于双模单待机移动终端的单板射频测试***，其特征在于，包括：

测试夹具，用于固定移动终端的单板，所述测试夹具上与所述单板上的射频测试点的对应位置设置有测试探针，所述测试夹具上有一射频接口与所述测试探针相连；

测试盒，用于进行射频通道切换，所述射频通道切换是所述移动终端的单板与第一综测仪和第二综测仪之间的射频通道切换；

控制装置，连接至所述测试夹具、第一综测仪、第二综测仪和双路输出电源，用于控制所述第一综测仪、所述第二综测仪以及所述双路输出电源的工作，以及控制到所述测试夹具的命令和数据的传输；

所述第一综测仪，用于在第一种制式下对所述移动终端的单板进行射频指标校准和终测；

所述第二综测仪，用于在第二种制式下对所述移动终端的单板进行射频指标校准和终测；以及

所述双路输出电源，其一路输出连接至所述测试探针和所述测试盒的VCC端口用于供电，其另一路输出连接至所述测试盒的控制信号输入端口用于控制射频通道的切换。

2.根据权利要求1所述的单板射频测试***，其特征在于，所述控制装置设置有串口和至少一个GPIB接口卡。

3.根据权利要求2所述的单板射频测试***，其特征在于，所述双路输出电源、所述第一综测仪、所述第二综测仪通过GPIB接口卡与所述控制装置连接。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的单板射频测试***，其特征在于，所述控制装置通过其串口与所述测试夹具连接。

5.根据权利要求4所述的单板射频测试***，其特征在于，所述串口为RS232接口。

6.根据权利要求5所述的单板射频测试***，其特征在于，所述测试盒包括：

逻辑控制模块，用于根据所述测试盒的控制信号输入端口上的电平的变化，输出不同的控制信号，以控制SPDT开关；

所述SPDT开关，用于选择所述移动终端的单板连接至所述第一综测仪还是连接至所述第二综测仪。

7.根据权利要求6所述的单板射频测试***，其特征在于：

在所述控制信号输入端口的输入为高电平的情况下，所述逻辑控制模块输出的控制信号控制所述SPDT开关选择将所述移动终端的单板连接至第一综测仪；以及

当所述控制信号输入端口的输入为低电平的情况下，所述逻辑控制模块输出的控制信号控制所述SPDT开关选择将所述移动终端的单板连接至第二综测仪。

8.根据权利要求7所述的单板射频测试***，其特征在于，所述SPDT开关为AsGa开关。

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