CN106354597B - 一种支持swp和7816接口同时调试的接口电路及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种支持SWP和7816接口同时调试的接口电路及方法,涉及到芯片多接口调试及测试领域。本发明实现一个具有信号切换功能的接口电路，包括3个模块和4个对外接口：信号切换模块、电源复位处理模块、电源复位产生模块和接口1、接口2、接口3、接口4；通过该接口电路连接一个具有7816接口的仿真器或芯片，用于状态应答，通过7816接口设备发送测试命令，利用SWP接口设备对另一个仿真器或芯片的SWP接口程序进行测试。本发明利用手机或其它SWP接口设备，对于芯片SWP接口进行功能测试，特别是稳定性、兼容性的测试，可以大大提升测试效率。

Description

一种支持SWP和7816接口同时调试的接口电路及方法
技术领域
本发明涉及一种SWP和7816接口同时调试的接口电路及方法，主要应用于芯片多接口调试及测试领域。
背景技术
对于支持SWP接口的智能卡芯片，一个主要的应用领域是作为SIM卡在NFC手机中支持非接通讯。对于芯片SWP接口的测试，特别是兼容性测试，使用手机作为测试设备成了最有效的办法。手机在SWP接口通讯过程中会发送7816查询状态命令，如果7816接口无应答就进行下电并重新上电，导致测试中断。通常利用手机对SWP接口测试，需要被测程序中即有SWP接口测试程序，又要增加7816接口上电初始化及7816查询状态命令响应的程序，保证SWP接口正常工作。对于只包括7816接口和SWP接口的双接口芯片，测试过程中无法通过其中一个接口发送测试命令。
对于芯片SWP接口的测试，希望能通过芯片已有7816接口发送测试命令，完成对芯片SWP接口的测试。为实现此测试需求，本发明提出一种支持SWP和7816接口同时调试的接口电路及方法，支持通过一台7816接口的读卡器发送测试命令，利用手机的SWP接口完成芯片SWP接口功能测试。
发明内容
本发明所解决的技术问题是，如何设计一种支持SWP和7816接口同时调试的接口电路，实现通过7816接口收发测试命令，对SWP接口程序进行调试和测试。
本发明中仿真器1/芯片1实现的芯片包括一个7816接口和一个SWP接口，通过一个具有信号切换功能的接口电路，并增加仿真器2/芯片2，使用7816接口设备发送测试命令，利用SWP接口设备对仿真器1/芯片1的SWP接口程序进行调试和测试。
所述接口电路包括：信号切换模块、电源复位处理模块、电源复位产生模块共3个模块，以及接口1、接口2、接口3、接口4共4个对外接口。
各组件功能说明如下：
信号切换模块，包括开关1、开关2、开关3共3个切换开关电路，用于实现接口信号的互连，将仿真器1/芯片1与SWP接口设备或是7816接口设备相连，将仿真器2/芯片2与SWP接口设备相连；
电源复位处理模块，根据7816接口设备输出的电源VCC_7816和复位RST_7816信号，产生热复位信号，当仿真器1/芯片1与7816接口设备连接时，对仿真器1/芯片1的7816接口进行热复位操作；
电源复位产生模块，输出电源VCC_kit2和复位RST_ki2信号，用于对仿真器2/芯片2的7816接口进行上电、下电和复位操作。该模块在接口电路中为独立的电路，将接口电路与仿真器2/芯片2相连，接口电路上电后，为仿真器2/芯片2提供电源VCC_kit2，并使RST_ki2产生一次复位，之后VCC_kit2一直供电，RST_ki2一直为高电平完成复位操作，直到接口电路下电。如果仿真器2/芯片2为仿真器，需要先将仿真器上电，再将接口电路上电；如果仿真器2/芯片2为真实芯片，接口电路上电后提供电源VCC_kit2为真实芯片供电。
接口1，包括7816接口和SWP接口，用于连接SWP接口设备，7816接口包含VCC_swp、CLK_swp、RST_swp、IO_swp信号，SWP接口包含SWIO_swp信号；
接口2，包括7816接口和SWP接口、GPIO接口，用于连接仿真器1/芯片1，7816接口包含VCC_kit1、CLK_kit1、RST_kit1、IO_kit1信号，SWP接口包含SWIO_kit1信号，GPIO接口包含GPIO_kit1信号；
接口3，包括7816接口，用于连接7816接口设备，包含信号：CLK_7816、IO_7816、VCC_7816、RST_7816；
接口4，包括7816接口，用于连接仿真器2/芯片2，包含信号：CLK_kit2、IO_kit2、VCC_kit2、RST_kit2；
各组件连接关系如下：
接口1的VCC_swp与接口2的VCC_kit1直接相连，接口1的SWIO_swp与接口2的SWIO_kit1直接相连；
信号切换模块，与接口1的CLK_swp、RST_swp、IO_swp相连，与接口2的CLK_kit1、RST_kit1、IO_kit1、GPIO_kit1相连，与接口3的CLK_7816、IO_7816相连，与接口4的CLK_kit2、IO_kit2相连，与电源复位处理模块输出的热复位信号相连；
电源复位处理模块，通过热复位信号与信号切换模块连接外，还与接口3的VCC_7816、RST_7816相连；
电源复位产生模块，与接口4的VCC_kit2、RST_kit2相连。
本发明所述接口电路的***接口连接2个接口设备和2个仿真器/芯片，包括：SWP接口设备、7816接口设备、仿真器1/芯片1、仿真器2/芯片2；
SWP接口设备，用于测试仿真器1/芯片1的SWP接口程序的设备，包括一个SWP接口和一个7816接口，SWP接口设备在收发SWP数据过程中，通过7816接口发送状态查询命令，当7816接口收到的命令响应出错时，停止SWP接口的数据交互；通常采用支持SWP接口通讯的手机或其它终端设备作为SWP接口设备用于测试。
7816接口设备，用于向仿真器1/芯片1中的待测程序发送SWP接口的测试命令，并接收待测程序响应的数据；通常采用7816接口的读卡器作为7816接口设备用于测试。
仿真器1/芯片1，用于调试或测试SWP接口程序，仿真器1/芯片1实现芯片只包括一个SWP接口和一个7816接口，SWP接口为待测接口，接口3的7816接口用于与7816接口设备进行通讯，实现7816接口设备对仿真器1/芯片1的SWP接口进行测试，仿真器1/芯片1是指具有7816接口和SWP接口的仿真芯片功能的仿真器或真实芯片；
仿真器2/芯片2，用于对SWP接口设备的7816接口发送的状态查询命令进行应答，保证SWP接口设备正常工作，仿真器2/芯片2是指具有7816接口和SWP接口的仿真芯片功能的仿真器或真实芯片。
本发明所述的接口电路，支持使用仿真芯片功能的仿真器对SWP接口程序进行测试，也能支持对同时带有7816接口、GPIO接口、SWP接口的真实芯片的SWP接口程序进行测试。
仿真器1/芯片1运行的待测程序控制GPIO_kit1信号，对开关1、开关2、开关3同时进行切换操作，实现上电初始化、接口1接口2接口3接口4的7816接口、接口1接口2的SWP接口的通讯功能，操作步骤如下：
步骤1，将接口电路与仿真器1/芯片1、仿真器2/芯片2相连并进行上电，如果仿真器1/芯片1和仿真器2/芯片2为仿真器，需要先将仿真器上电，再将接口电路上电，仿真器1/芯片1和仿真器2/芯片2为真实芯片，接口电路上电后提供电源为真实芯片供电；仿真器1/芯片1上电后，仿真器1/芯片1中的待测程序控制GPIO_kit1，通过信号切换模块使接口1和接口2对应信号相连；
步骤2，连接SWP接口设备，通过仿真器1/芯片1中待测程序完成接口2的SWP接口和接口2的7816接口的初始化，待测程序控制GPIO_kit1，使接口1的7816接口和接口4的7816接口对应信号相连，使接口3的7816接口和接口2的7816接口对应信号相连；
步骤3，连接7816接口设备，7816接口设备向仿真器1/芯片1发送SWP测试命令，仿真器1/芯片1和SWP接口设备进行SWP数据通讯，SWP接口设备同时通过接口1接口4的7816接口向仿真器2/芯片2发送状态查询命令，仿真器2/芯片2正常响应，保证仿真器1/芯片1和SWP接口设备之间的SWP数据正常交互；发送不同的SWP测试命令，直到仿真器1/芯片1所有SWP接口功能测试完成。
附图说明
图1是支持SWP和7816接口同时调试的接口电路结构图。
图2是SWP和7816接口同时调试的操作流程图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明接口电路及方法进行详细说明。
如图1所示,接口电路包括3个模块和4个对外接口：3个模块包括信号切换模块、电源复位处理模块、电源复位产生模块，4个接口包括接口1、接口2、接口3、接口4。信号切换模块在接口2的GPIO_kit1信号的控制下进行信号的切换，实现上电初始化各接口间的互连，以及SWP接口正常通讯时接口间的互连。
上电初始化过程包括以下2个操作：
操作一：上电初始化时，接口1与接口2相连，CLK_swp连接CLK_kit1，RST_swp连接RST_kit1，IO_swp连接IO_kit1，SWP接口设备连接到接口1后，与仿真器1/芯片1之间完成7816和SWP接口的初始化；
操作二：电源复位产生模块为仿真器2/芯片2供电并产生复位操作，之后仿真器2/芯片2能正常响应7816接口的命令。
SWP接口正常通讯包括以下2个操作：
操作一：完成上电初始化后，接口1的7816接口与接口4相连，CLK_swp连接CLK_kit2，IO_swp连接IO_kit2，SWP接口设备通过7816接口发送的状态查询命令，仿真器2/芯片2能够正常响应；
操作二：完成上电初始化后，接口3的7816接口与接口2相连，CLK_7816连接CLK_kit1，IO_7816连接IO_kit1，7816接口设备连接到接口3后，与仿真器1/芯片1之间进行7816接口初始化，7816接口设备控制VCC_7816和RST_7816信号发送冷复位或是热复位，经过电源复位处理模块产生热复位，对仿真器1/芯片1进行热复位操作，之后7816接口设备和仿真器1/芯片1之间进行7816测试命令的数据传输。
如图2所示，SWP和7816接口同时调试的操作流程图。根据接口与接口设备连接顺序分为3个步骤：
步骤1，将接口电路与仿真器1/芯片1、仿真器2/芯片2相连，并进行上电，仿真器1/芯片1中的程序控制GPIO_kit1，使接口1和接口2相连，进入7816接口接收状态，电源复位产生模块给仿真器2/芯片2的7816接口上电，仿真器2/芯片2中的程序开始运行进入7816接口接收状态；
步骤2，连接SWP接口设备，SWP接口设备与仿真器1/芯片1通过7816接口完成初始化连接，此时SWP接口设备和仿真器1/芯片1的SWP接口、7816接口均可以进行数据收发操作。仿真器1/芯片1中程序检测到初始化完成后，控制GPIO_kit1使接口1的7816接口和接口4相连，使接口3的7816接口与接口2相连，实现初始化后，SWP接口设备的SWP接口与仿真器1/芯片1通讯，SWP接口设备的7816接口与仿真器2/芯片2通讯，7816接口设备与仿真器1/芯片1通讯。
步骤3，连接7816接口设备，7816接口设备通过7816接口向仿真器1/芯片1发送SWP测试命令，仿真器1/芯片1收到命令后，与SWP接口设备的SWP接口进行数据交互。SWP接口设备的SWP接口通讯时，通过7816接口向仿真器2/芯片2发送状态查询命令，仿真器2/芯片2收到状态查询命令后,正确响应并返回状态信息，SWP接口设备收到仿真器2/芯片2的响应，继续与仿真器1/芯片1进行SWP接口数据通讯。SWP接口设备的SWP接口与仿真器1/芯片1进行SWP数据交互，SWP接口设备的7816接口与仿真器2/芯片2进行7816数据交互，直到完成一次SWP数据通讯，仿真器1/芯片1完成一次SWP接口通讯后对7816接口设备发送的测试命令进行应答，完成一次SWP测试命令，之后7816接口设备向仿真器1/芯片1发送不同的SWP测试命令，直到仿真器1/芯片1所有SWP接口功能测试完成。

Claims (4)

1.一种支持SWP和7816接口同时调试的接口电路，其特征在于仿真器1/芯片1包括一个7816接口和一个SWP接口，通过一个具有信号切换功能的接口电路，并增加仿真器2/芯片2，使用7816接口设备发送测试命令，利用SWP接口设备对仿真器1/芯片1的SWP接口程序进行调试和测试，其中，接口电路包括：信号切换模块、电源复位处理模块、电源复位产生模块共3个模块，以及接口1、接口2、接口3、接口4共4个对外接口，各组件功能说明如下：
信号切换模块包括开关1、开关2、开关3共3个切换开关电路，用于实现接口信号的互连，将仿真器1/芯片1与SWP接口设备或是7816接口设备相连，将仿真器2/芯片2与SWP接口设备相连；
电源复位处理模块根据7816接口设备输出的电源VCC_7816和复位RST_7816信号，产生热复位信号，当仿真器1/芯片1与7816接口设备连接时，对仿真器1/芯片1的7816接口进行热复位操作；
电源复位产生模块输出电源VCC_kit2和复位RST_ki2信号，用于对仿真器2/芯片2的7816接口进行上电、下电和复位操作；
接口1包括7816接口和SWP接口，用于连接SWP接口设备，7816接口包含VCC_swp、CLK_swp、RST_swp、IO_swp信号，SWP接口包含SWIO_swp信号；
接口2包括7816接口、SWP接口、GPIO接口，用于连接仿真器1/芯片1，7816接口包含VCC_kit1、CLK_kit1、RST_kit1、IO_kit1信号，SWP接口包含SWIO_kit1信号、GPIO接口包含GPIO_kit1信号；
接口3包括7816接口，用于连接7816接口设备，包含信号：CLK_7816、IO_7816、VCC_7816、RST_7816；
接口4包括7816接口，用于连接仿真器2/芯片2，包含信号：CLK_kit2、IO_kit2、VCC_kit2、RST_kit2；
各组件连接关系如下：
接口1的VCC_swp与接口2的VCC_kit1直接相连，接口1的SWIO_swp与接口2的SWIO_kit1直接相连；
信号切换模块，与接口1的CLK_swp、RST_swp、IO_swp相连，与接口2的CLK_kit1、RST_kit1、IO_kit1、GPIO_kit1相连，与接口3的CLK_7816、IO_7816相连，与接口4的CLK_kit2、IO_kit2相连，与电源复位处理模块输出的热复位信号相连；
电源复位处理模块，与接口3的VCC_7816、RST_7816相连；
电源复位产生模块，与接口4的VCC_kit2、RST_kit2相连。
2.根据权利要求1所述的一种支持SWP和7816接口同时调试的接口电路，其特征在于所述接口电路的***连接2个接口设备和2个仿真器/芯片，包括：SWP接口设备、7816接口设备、仿真器1/芯片1、仿真器2/芯片2；
SWP接口设备，用于测试仿真器1/芯片1的SWP接口程序的设备，包括一个SWP接口和一个7816接口，SWP接口设备在收发SWP数据过程中，通过7816接口发送状态查询命令，当7816接口收到的命令响应出错时，停止SWP接口的数据交互；
7816接口设备，用于向仿真器1/芯片1中的待测程序发送SWP接口的测试命令，并接收待测程序响应的数据；
仿真器1/芯片1，用于调试或测试SWP接口程序，仿真器1/芯片1的SWP接口为待测接口，接口3的7816接口用于与7816接口设备进行通讯，实现7816接口设备对仿真器1/芯片1的SWP接口进行测试，仿真器1/芯片1是指具有7816接口和SWP接口的仿真芯片功能的仿真器或真实芯片；
仿真器2/芯片2，用于对SWP接口设备的7816接口发送的状态查询命令进行应答，保证SWP接口设备正常工作，仿真器2/芯片2是指具有7816接口和SWP接口的仿真芯片功能的仿真器或真实芯片。
3.根据权利要求1所述的一种支持SWP和7816接口同时调试的接口电路，其特征在于支持使用仿真芯片功能的仿真器对SWP接口程序进行测试，也能支持对同时带有7816接口、GPIO接口、SWP接口的真实芯片的SWP接口程序进行测试。
4.一种支持SWP和7816接口同时调试的方法，应用于权利要求1所述的接口电路，其特征在于仿真器1/芯片1中的待测程序控制GPIO_kit1信号，对开关1、开关2、开关3同时进行切换操作，实现上电初始化、接口1接口2接口3接口4的7816接口、接口1接口2的SWP接口的通讯功能，操作步骤如下：
步骤1，将接口电路与仿真器1/芯片1、仿真器2/芯片2相连并进行上电，如果仿真器1/芯片1和仿真器2/芯片2为仿真器，需要先将仿真器上电，再将接口电路上电，仿真器1/芯片1和仿真器2/芯片2为真实芯片，接口电路上电后提供电源为真实芯片供电；仿真器1/芯片1上电后，待测程序控制GPIO_kit1，通过信号切换模块使接口1和接口2对应信号相连；
步骤2，连接SWP接口设备，通过仿真器1/芯片1中待测程序完成接口2的SWP接口和接口2的7816接口的初始化，待测程序控制GPIO_kit1，使接口1的7816接口和接口4的7816接口对应信号相连，使接口3的7816接口和接口2的7816接口对应信号相连；
步骤3，连接7816接口设备，7816接口设备向仿真器1/芯片1发送SWP测试命令，仿真器1/芯片1和SWP接口设备进行SWP数据通讯，SWP接口设备同时通过接口1接口4的7816接口向仿真器2/芯片2发送状态查询命令，仿真器2/芯片2正常响应，保证仿真器1/芯片1和SWP接口设备之间的SWP数据正常交互；发送不同的SWP测试命令，直到仿真器1/芯片1所有SWP接口功能测试完成。
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