CN106803776B - 射频前端测试装置以及射频前端测试方法 - Google Patents

射频前端测试装置以及射频前端测试方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种射频前端测试装置及射频前端测试方法。该射频前端测试装置包括一处理模块、一射频前端信号模块、一第一多工模块以及一第二多工模块。处理模块接收一电脑装置传送的一射频前端测试控制信号。射频前端信号模块包括一第一信号端以及一第二信号端，射频前端信号模块分别通过第一信号端以及第二信号端提供一第一信号以及一第二信号。处理模块根据电脑装置的射频前端测试控制信号，循序切换第一多工模块以及第二多工模块的第一输出通道以及第二输出通道，以使第一待测装置以及第二待测装置进行一射频前端测试程序。本发明可以有效简化布建测试流程的人力以及成本。

Description

射频前端测试装置以及射频前端测试方法
技术领域
本发明涉及射频前端测试技术领域，且特别是涉及简化布建测试流程时间的射频前端测试装置及相应的射频前端测试方法。
背景技术
近年来，由于移动装置的蓬勃发展，移动网络的需求也就越来越多，而使用者对于移动网络的要求也就越来越高，特别是对移动网络装置的各个模块的可靠度、耐用度等都愈发的严格。由于手机上的射频相关元件越来越多，控制也越加困难，若是通过一个标准的总线界面接口即可控制不同的射频装置，控制上也会较为简单，其中MIPI RFFE(RF Front-end)即是由MIPI Alliance所制定，用于行动无线***控制射频前端设备的总线界面接口规范。然而一个MIPI RFFE的主机装置(Master Device)至多可以控制15的从属装置(SlaveDevice)，而且，每个从属装置都会有不同的位址(Slave Address)让主机装置可以对指定的从属装置发送指令。
MIPI RFFE装置在信号设定上，主要是时脉信号(CLK)以及数据信号(DATA)两条信号线，当然，也需要电源信号。MIPI RFFE从属装置至少需要时脉信号(CLK)以及数据信号(DATA)两条信号线以及电源信号线，与总线连接，才能确保被主机装置所控制。
然而，在可靠度测试中的老化测试程序中，每一批次的射频前端模块都需要随机挑选一定数量进行500小时到1000小时的老化测试程序。一般老化测试中，每一批次至少需要77个射频前端模块进行测试程序，而在目前业界的测试***架构中，由于每个射频前端模块的位址(Address)均相同，而每一个射频前端信号模块仅能控制一个射频前端模块，以至于每一个射频前端模块在测试时，均需要连接一个射频前端信号模块(RFFE Controlleror RFFE Dongle)。也就是在老化测试程序中，77个射频前端模块要进行测试，就需要77台射频前端信号模块(RFFE Controller or RFFE Dongle)。
由于所需使用的射频前端信号模块的数量庞大，加上其价格不菲(每台射频前端信号模块约为2万元)，若是再加上同时进行不同批次射频前端模块的老化测试，仅是射频前端信号模块的费用可能就要超过上千万元，因此制造厂商无法购入大量的射频前端信号模块来进行老化测试程序，虽然可以利用手动提供测试信号，然而需要耗费大量的时间。
如何提供一种相对便宜且能够简化布建测试流程时间的射频前端测试装置，显然已经是业界的一个重要课题。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例提供了一射频前端测试装置，用以测试射频前端模块。射频前端测试装置包括一处理模块、一第一多工模块以及一第二多工模块。处理模块接收一电脑装置的射频前端测试控制信号。第一多工模块包括一第一输入端、一第一控制端、一第二控制端、一第三控制端、一第一输出通道端、一第二输出通道端、一第三输出通道端以及一第四输出通道端。第一多工模块的第一控制端、第二控制端以及第三控制端电性连接处理模块。第二多工模块包括一第一输入端、一第一控制端、一第二控制端、一第三控制端、一第一输出通道端、一第二输出通道端、一第三输出通道端以及一第四输出通道端。其中，第二多工模块的第一控制端、第二控制端以及第三控制端电性连接处理模块。射频前端信号模块包括一第一信号端以及一第二信号端，其中射频前端信号模块分别通过第一信号端以及第二信号端提供一第一信号以及一第二信号。射频前端信号模块的第一信号端电性连接第一多工模块的第一输入端。射频前端信号模块的第二信号端电性连接第二多工模块的第一输入端；其中，第一多工模块的第一输出通道端以及第二多工模块的第一输出通道端分别电性连接一第一待测装置，第一多工模块的第二输出通道端以及第二多工模块的第二输出通道端分别电性连接一第二待测装置，第一多工模块的第三输出通道端以及第二多工模块的第三输出通道端分别电性连接一第三待测装置，第一多工模块的第四输出通道端以及第二多工模块的第四输出通道端分别电性连接一第四待测装置。
其中，处理模块根据电脑装置的射频前端测试控制信号，循序切换第一多工模块以及第二多工模块的第一输出通道端、第二输出通道端、第三输出通道端以及第四输出通道端，以使第一待测装置、第二待测装置、第三待测装置、第四待测装置分别根据射频前端信号模块通过第一多工模块以及第二多工模块传送的至少一测试控制信号以进行一射频前端测试程序。
其中，第一信号为一射频前端测试数据信号，第二信号为一射频前端测试时脉信号。
其中，处理模块提供一第一开关信号至第一多工模块的第一控制端，以控制第一多工模块的开启与关闭，处理模块提供一第一开关信号至第二多工模块的第一控制端，以控制第二多工模块的开启与关闭。
其中，处理模块提供一第二开关信号以及一第三开关信号至第一多工模块以及第二多工模块，以循序开启以及关闭第一多工模块以及第二多工模块的第一输出通道端、第二输出通道端、第三输出通道端以及第四输出通道端。
其中，射频前端测试装置，还包括一通用异步收发模块，处理模块通过通用异步收发模块电性连接电脑装置。
本发明实施例提供了一种射频前端测试装置，用以测试射频模块。射频前端测试装置包括一处理模块，接收一电脑装置传送的一射频前端测试控制信号；一第一多工模块，电性连接处理模块，其中，第一多工模块包括一第一输出通道端以及一第二输出通道端；以及一第二多工模块，电性连接处理模块，其中，第二多工模块包括一第一输出通道端以及一第二输出通道端；一射频前端信号模块，包括一第一信号端以及一第二信号端，其中射频前端信号模块分别通过第一信号端以及第二信号端提供一第一信号以及一第二信号；其中，射频前端信号模块的第一信号端电性连接第一多工模块；其中，射频前端信号模块的第二信号端电性连接第二多工模块，其中，第一多工模块的第一输出通道端电性连接至一第一待测装置，第二多工模块的第一输出通道端电性连接第一待测装置，第一多工模块的第二输出通道端电性连接至一第二待测装置，第二多工模块的第二输出通道端电性连接第二待测装置；其中，处理模块根据电脑装置的射频前端测试控制信号，循序切换第一多工模块以及第二多工模块的第一输出通道端以及第二输出通道端，以使第一待测装置以及第二待测装置分别根据射频前端信号模块通过第一多工模块以及第二多工模块传送的至少一测试控制信号以进行一射频前端测试程序。
其中，第一信号为一射频前端测试数据信号，第二信号为一射频前端测试时脉信号。
本发明实施例提供了一种射频前端测试方法，包括：发送一射频前端测试控制信号；按序切换一第一多工模块以及一第二多工模块的多个输出通道端，分别提供一射频前端测试数据信号以及一射频前端测试时脉信号至多个待测装置；以及多个待测装置分别根据所接收的射频前端测试数据信号以及射频前端测试时脉信号进行一射频前端测试程序。
其中，射频前端测试控制信号是由一电脑装置进行发送。
综上所述，本发明实施例的射频前端测试***以及射频前端测试装置，可以大幅减少人工手动提供射频前端测试信号的动作，还可以有效利用射频前端信号模块，因此可以有效简化布建测试流程的人力以及成本。
为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合说明书附图，作详细说明如下。
附图说明
图1示出的为本发明实施例的射频前端测试***的示意图；
图2示出的为本发明实施例的第一多工模块的示意图；
图3示出的为本发明实施例的第一多工模块的各输出通道开启条件的示意图；
图4示出的为本发明实施例的射频前端测试方法的流程图。
附图标记说明：
1：射频前端测试装置；
2：电脑装置；
3：待测装置群组；
11：处理模块；
12：第一多工模块；
13：第二多工模块；
14：射频前端信号模块；
15：通用异步收发模块；
31：第一待测装置；
32：第二待测装置；
33：第三待测装置；
34：第四待测装置；
100：射频前端测试***；
DATA：射频前端测试数据信号；
DATA1：第一射频前端测试数据信号；
DATA2：第二射频前端测试数据信号；
DATA3：第三射频前端测试数据信号；
DATA4：第四射频前端测试数据信号；
CLK：射频前端测试时脉信号；
CLK1：第一射频前端测试时脉信号；
CLK2：第二射频前端测试时脉信号；
CLK3：第三射频前端测试时脉信号；
CLK4：第四射频前端测试时脉信号；
Figure GDA0002365791340000051
第一控制端；
S0：第二控制端；
S1：第三控制端；
Y0：第一输出通道端；
Y1：第二输出通道端；
Y2：第三输出通道端；
Y3：第四输出通道端；
S100、S110、S120：步骤；
Z：第一输入端。
具体实施方式
在下文将参看说明书附图更充分地描述各种例示性实施例，在说明书附图中展示一些例示性实施例。然而，本发明概念可能以许多不同形式来体现，且不应解释为限于本文中所阐述的示性实施例。确切而言，提供这些例示性实施例使得本发明更为详尽且完整，且将向熟习此项技术者充分传达本发明概念的范畴。在附图中，可为了清楚而标注层及区的大小及相对大小。类似数字始终指示类似元件。
应理解，虽然本文中可能使用术语第一、第二、第三等来描述各种元件，但这些元件不应受这些术语限制。这些术语乃用以区分一元件与另一元件。因此，下文论述的第一元件可称为第二元件而不偏离本发明概念的教示。如本文中所使用，术语“及/或”包括相关联的列出项目中的任一者及一或多者的所有组合。
以下将以至少一种实施例配合附图来说明所述射频前端测试***，然而，下述实施例并非用以限制本发明的内容。
〔本发明射频前端测试***的实施例〕
请参照图1至图2，图1示出的为本发明实施例的射频前端测试***的示意图。图2示出的为本发明实施例的第一多工模块的示意图。
在本实施例中，射频前端测试***100包括一射频前端测试装置1、一电脑装置2以及一待测装置群组3。待测装置群组3包括一第一待测装置 31、一第二待测装置32、一第三待测装置33以及一第四待测装置34。在其他实施例中，待测装置群组3中的待测装置的数量可依据射频前端测试装置1可连接的数量而决定，在本发明中不作限制。也就是射频前端测试装置1一次可连接的待测装置的数量是可以根据射频前端测试装置1本身的元件设计而决定，在本发明中不作限制。在本实施例中，第一待测装置 31、第二待测装置32、第三待测装置33以及第四待测装置34即是射频前端模块。
射频前端测试装置1包括一处理模块11、一第一多工模块12、一第二多工模块13、一射频前端信号模块14以及一通用异步收发模块15(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter)。
射频前端测试装置1的处理模块11是通过通用异步收发模块15与电脑装置2电性连接，并接收电脑装置2传送的射频前端测试控制信号。在本实施例中通用异步收发模块15为RS232序列连接端，在其他实施例中，可以是RS449、RS423、RS422或是RS485等标准规范连接端或是标准规范总线，在本发明中不作限制。也就是电脑装置2可以通过通用异步收发模块15下达射频前端测试控制信号。
处理模块11与第一多工模块12以及第二多工模块13电性连接。射频前端信号模块14分别与第一多工模块12以及第二多工模块13电性连接。在本实施例中，处理模块11是通过通用输入输出(General Purpose Input/Output，GPIO)与第一多工模块12以及第二多工模块13电性连接，并提供开关信号至第一多工模块12以及第二多工模块13。在其他实施例中，处理模块11也可以通过集成电路总线(Inter-Integrated Circuit,I2C)或是序列通用输入输出(Serial General Purpose Input/Output，SGPIO)与第一多工模块12以及第二多工模块13电性连接，在本发明中不作限制。
其中第一多工模块12与第二多工模块13的结构相同，以下仅以第一多工模块12作为范例进行叙述，第二多工模块13的结构特性则不作赘述。
在本实施例中，射频前端信号模块14包括一第一信号端(图未示)以及一第二信号端(图未示)。第一信号端用于输出一第一信号，在本实施例中，第一信号为一射频前端测试数据信号，第二信号则为一射频前端测试时脉信号。而且，射频前端信号模块14的第一信号端(图未示)电性连接至第一多工模块12，射频前端信号模块14的第二信号端(图未示)则电性连接至第二多工模块13。也就是，射频前端信号模块14提供给第一多工模块12一射频前端测试数据信号。射频前端信号模块14提供给第二多工模块13一射频前端测试时脉信号。
请参照图2，第一多工模块12包括一第一输入端Z、一第一控制端
Figure GDA0002365791340000071
一第二控制端S0、一第三控制端S1、一第一输出通道端Y0、一第二输出通道端Y1、一第三输出通道端Y2以及一第四输出通道端Y3。由于第二多工模块13与第一多工模块12的结构相同，因此，第二多工模块13也包括一第一输入端Z、一第一控制端
Figure GDA0002365791340000072
一第二控制端S0、一第三控制端S1、一第一输出通道端Y0、一第二输出通道端Y1、一第三输出通道端Y2以及一第四输出通道端Y3。
在本实施例中，射频前端信号模块14的第一信号端(图未示)以及第二信号端(图未示)分别电性连接第一多工模块12的第一输入端Z以及第二多工模块13的第一输入端Z。第一多工模块12的第一输出通道端Y0、第二输出通道端Y1、第三输出通道端Y2以及第四输出通道端Y3分别电性连接第一待测装置31、第二待测装置32、第三待测装置33以及第四待测装置34。相同地，第二多工模块13的第一输出通道端Y0、第二输出通道端Y1、第三输出通道端Y2以及第四输出通道端Y3也是分别电性连接第一待测装置31、第二待测装置32、第三待测装置33以及第四待测装置 34。也就是，射频前端信号模块14可以通过第一多工模块12以及第二多工模块13分别提供射频前端测试数据信号DATA(第一信号)以及射频前端测试时脉信号CLK(第二信号)给第一待测装置31、第二待测装置32、第三待测装置33以及第四待测装置34。
请参照图3，图3示出的为本发明实施例的第一多工模块的各输出通道开启条件的示意图。
在本实施例中，处理模块11电性连接第一多工模块12以及第二多工模块13。也就是处理模块11分别电性连接第一多工模块12的第一控制端
Figure GDA0002365791340000081
以及第二多工模块13的第一控制端
Figure GDA0002365791340000082
处理模块11是通过提供给第一多工模块12的第一控制端
Figure GDA0002365791340000083
以及第二多工模块13的第一控制端
Figure GDA0002365791340000084
的一第一开关信号，决定第一多工模块12以及第二多工模块13是开启或是关闭。在本实施例中，当第一开关信号为低电平信号(Low Level Signal)，也就是第一多工模块12及第二多工模块13的第一控制端
Figure GDA0002365791340000085
接收低电平信号(Low Level Signal)，而在第一多工模块12及第二多工模块13内部则会转换为一高电平信号(High Level Signal)，也就是，如图3所示，第一多工模块12及第二多工模块13则会根据一高电平信号(High LevelSignal,E栏为High)而关闭功能，也就是第一多工模块12及第二多工模块13即使接收到射频前端信号模块14传输的射频前端测试数据信号DATA(第一信号)或是射频前端测试时脉信号CLK(第二信号)，或是第二控制端S0、第三控制端S1 接收到何种信号，第一多工模块12及第二多工模块13的所有输出通道端都会关闭。
在本实施例中，当处理模块11提供一高电平信号(High Level Signal) 给第一多工模块12的第一控制端
Figure GDA0002365791340000086
及第二多工模块13的第一控制端
Figure GDA0002365791340000087
时，第一多工模块12或是第二多工模块13的内部会转换为一低电平信号(Low Level Signal,E栏为Low)，如图3所示，则第一多工模块12及第二多工模块13会根据各自的第二控制端S0以及第三控制端S1所接收到的高电平信号或低电平信号等的测试控制信号，以决定第一输出通道端Y0、第二输出通道端Y1、第三输出通道端Y2或是第四输出通道端Y3中的一个输出通道与第一输入端Z相连接，以输出第一多工模块12的第一输入端Z所接收的射频前端测试数据信号DATA(第一信号)及第二多工模块13的第一输入端Z所接收的射频前端测试时脉信号CLK(第二信号)。
在本实施例中，处理模块11是分别提供一第二开关信号至第一多工模块12的第二控制端S0以及第二多工模块13的第二控制端S0。而且，处理模块11是分别提供一第三开关信号至第一多工模块12的第三控制端S1以及第二多工模块13的第三控制端S1。也就是处理模块11会提供第二开关信号、第三开关信号至第一多工模块12、第二多工模块13以控制第一多工模块12、第二多工模块13的第一输出通道端Y0、第二输出通道端Y1、第三输出通道端Y2以及第四输出通道端Y3的开启与关闭，以使得射频前端信号模块14可以通过第一多工模块12以及第二多工模块13分别输出射频前端测试数据信号DATA(第一信号)、射频前端测试时脉信号CLK(第二信号)至第一待测装置31、第二待测装置32、第三待测装置33以及第四待测装置。
如图3所示，当分别传送至第一多工模块12的第二控制端S0以及第三控制端S1的第二开关信号以及第三开关信号皆为一低电平信号(Low Level Signal)时，则第一输出通道端Y0会与第一输入端Z连接。当第二控制端S0所接收到的第二开关信号为一高电平信号(High Level Signal)且第三控制端S1接收到的第三开关信号为一低电平信号(Low LevelSignal) 时，则第二输出通道端Y1会与第一输入端Z连接。当第二控制端S0所接收到的第二开关信号为一低电平信号(Low Level Signal)且第三控制端S1 接收到的第三开关信号为一高电平信号(High Level Signal)时，则第三输出通道端Y2会与第一输入端Z连接。当分别传送至第一多工模块12的第二控制端S0以及第三控制端S1的第二开关信号以及第三开关信号皆为一高电平信号(High Level Signal)时，则第四输出通道端Y3会与第一输入端Z连接。在本实施例中，第一多工模块12以及第二多工模块13为分别具有一输入端、三个控制端以及四个输出通道端的多工器，在其他实施例中，第一多工模块12以及第二多工模块13可为具有一输入端、四个控制端以及八个输出通道端的多工器，或是选择更多输出通道端的多工器，在本发明中不作限制。
在本实施例中，第一多工模块12的第一输出通道端Y0以及第二多工模块13的第一输出通道端Y0电性连接至第一待测装置31，以使射频前端信号模块14可以分别通过第一多工模块12以及第二多工模块13分别提供一第一射频前端测试数据信号DATA1以及一第一射频前端测试时脉信号 CLK1。第一多工模块12的第二输出通道端Y1以及第二多工模块13的第二输出通道端Y1电性连接至第二待测装置32，以使射频前端信号模块14 可以分别通过第一多工模块12以及第二多工模块13分别提供一第二射频前端测试数据信号DATA2以及一第二射频前端测试时脉信号CLK2。第一多工模块12的第三输出通道端Y2以及第二多工模块13的第三输出通道端 Y2电性连接至第三待测装置33，以使射频前端信号模块14可以分别通过第一多工模块12以及第二多工模块13分别提供一第三射频前端测试数据信号DATA3以及一第三射频前端测试时脉信号CLK3。第一多工模块12 的第四输出通道端Y3以及第二多工模块13的第四输出通道端Y3电性连接至第四待测装置34，以使射频前端信号模块14可以分别通过第一多工模块12以及第二多工模块13分别提供一第四射频前端测试数据信号DATA4 以及一第四射频前端测试时脉信号CLK4。
第一待测装置31、第二待测装置32、第三待测装置33以及第四待测装置34分别根据第一射频前端测试数据信号DATA1、第一射频前端测试时脉信号CLK1、第二射频前端测试数据信号DATA2、第二射频前端测试时脉信号CLK2、第三射频前端测试数据信号DATA3、第三射频前端测试时脉信号CLK3、第四射频前端测试数据信号DATA4、第四射频前端测试时脉信号CLK4进行射频前端测试程序。
在本实施例中，第一射频前端测试数据信号DATA1、第二射频前端测试数据信号DATA2、第三射频前端测试数据信号DATA3及第四射频前端测试数据信号DATA4是相同的数据信号DATA。在其他实施例中，所述射频前端测试数据信号可以是不相同的数据信号DATA。在本发明中不作限制。第一射频前端测试时脉信号CLK1、第二射频前端测试时脉信号CLK2、第三射频前端测试时脉信号CLK3及第四射频前端测试时脉信号CLK4是相同的射频前端测试时脉信号CLK。在其他实施例中，所述射频前端测试时脉信号可以是不相同的射频前端测试时脉信号CLK。在本发明中不作限制。
也就是，第一待测装置31、第二待测装置32、第三待测装置33以及第四待测装置34可以是按序进行相同的射频前端测试程序，也可以是进行不同的射频前端测试程序，其可根据实际需求进行设计调整，在本发明中不作限制。
〔本发明射频前端测试方法的实施例〕
本发明还提供了一种射频前端测试方法，如图4 所示，包括下列步骤：发送一射频前端测试控制信号(步骤S100)；按序切换一第一多工模块以及一第二多工模块的多个输出通道端，分别提供一射频前端测试数据信号以及一射频前端测试时脉信号至多个待测装置(S110)；以及多个待测装置分别根据所接收的射频前端测试数据信号以及射频前端测试时脉信号进行一射频前端测试程序(步骤S120)。
在本实施例中，射频前端测试方法适用于先前实施例中所述的射频前端测试装置1以及射频前端测试***100。因此，在本实施例中不对射频前端测试***100以及射频前端测试装置1的结构以及功能进行赘述。
在步骤S100中，射频前端测试***100的电脑装置2通过通用异步收发模块15传送一射频前端测试控制信号至处理模块11。其中，在本实施例中通用异步收发模块15为RS232序列连接端，在其他实施例中，可以是 RS449、RS423、RS422或是RS485等标准规范连接端或是标准规范总线，在本发明中不作限制。也就是电脑装置2可以通过通用异步收发模块15下达射频前端测试控制信号。
在步骤S110中，处理模块11通过通用输入输出(General Purpose Input/Output，GPIO)与第一多工模块12以及第二多工模块13电性连接，并提供开关信号至第一多工模块12以及第二多工模块13。在其他实施例中，处理模块11也可以通过集成电路总线(Inter-Integrated Circuit,I2C)或是序列通用输入输出(Serial General Purpose Input/Output，SGPIO)与第一多工模块12以及第二多工模块13电性连接，在本发明中不作限制。
射频前端测试数据信号DATA以及射频前端测试时脉信号CLK则是由射频前端信号模块14所提供。射频前端信号模块14包括一第一信号端(图未示)以及一第二信号端(图未示)。第一信号端用于输出一第一信号，在本实施例中，第一信号为一射频前端测试数据信号，第二信号则为一射频前端测试时脉信号。射频前端信号模块14的第一信号端(图未示)以及第二信号端(图未示)分别电性连接第一多工模块12的第一输入端Z以及第二多工模块13的第一输入端Z。
处理模块11则是分别传送第一开关信号至第一多工模块12以及第二多工模块13的第一控制端
Figure GDA0002365791340000121
以控制第一多工模块12、第二多工模块13 的开启与关闭。进一步地，处理模块11会分别传送第二开关信号以及第三开关信号至第一多工模块12以及第二多工模块13各自的第二控制端S0以及第三控制端S1，以控制第一输出通道端Y0、第二输出通道端Y1、第三输出通道端Y2以及第四输出通道端Y3的开启与关闭。
在本实施例中，第一多工模块12的第一输出通道端Y0以及第二多工模块13的第一输出通道端Y0分别电性连接于第一待测装置31。第一多工模块12的第二输出通道端Y1以及第二多工模块13的第二输出通道端Y1 分别电性连接于第二待测装置32。第一多工模块12的第三输出通道端Y2 以及第二多工模块13的第三输出通道端Y2分别电性连接于第三待测装置 33。第一多工模块12的第四输出通道端Y3以及第二多工模块13的第四输出通道端Y3分别电性连接于第四待测装置34。
在本实施例中，射频前端信号模块14通过第一多工模块12以及第二多工模块13分别提供一第一射频前端测试数据信号DATA1以及一第一射频前端测试时脉信号CLK1给第一待测装置31。射频前端信号模块14通过第一多工模块12以及第二多工模块13分别提供一第二射频前端测试数据信号DATA2以及一第二射频前端测试时脉信号CLK2给第二待测装置32。射频前端信号模块14通过第一多工模块12以及第二多工模块13分别提供一第三射频前端测试数据信号DATA3以及一第三射频前端测试时脉信号 CLK3给第三待测装置33。射频前端信号模块14通过第一多工模块12以及第二多工模块13分别提供一第四射频前端测试数据信号DATA4以及一第四射频前端测试时脉信号CLK4给第四待测装置34。
在步骤S120中，第一待测装置31、第二待测装置32、第三待测装置33以及第四待测装置34分别根据第一射频前端测试数据信号DATA1、第一射频前端测试时脉信号CLK1、第二射频前端测试数据信号DATA2、第二射频前端测试时脉信号CLK2、第三射频前端测试数据信号DATA3、第三射频前端测试时脉信号CLK3、第四射频前端测试数据信号DATA4、第四射频前端测试时脉信号CLK4进行射频前端测试程序。
在本实施例中，第一射频前端测试数据信号DATA1、第二射频前端测试数据信号DATA2、第三射频前端测试数据信号DATA3、第四射频前端测试数据信号DATA4是相同的射频前端测试数据信号DATA。在其他实施例中，所述射频前端测试数据信号可以是不相同的射频前端测试数据信号 DATA，本发明不作限制。第一射频前端测试时脉信号CLK1、第二射频前端测试时脉信号CLK2、第三射频前端测试时脉信号CLK3、第四射频前端测试时脉信号CLK4是相同的时脉信号CLK。在其他实施例中，所述射频前端测试时脉信号可以是不相同的时脉信号CLK，本发明不作限制。也就是，第一待测装置31、第二待测装置32、第三待测装置33以及第四待测装置34可以是按序进行相同的射频前端测试程序，也可以是进行不同的射频前端测试程序，其可根据实际需求进行设计调整，在本发明中不作限制。
〔实施例的可能技术效果〕
综上所述，本发明实施例的射频前端测试***以及射频前端测试装置，可以大幅减少人工手动提供射频前端测试信号的动作，还可以有效利用射频前端信号模块，因此可以有效简化布建测试流程的人力以及成本。
以上所述仅为本发明的实施例，其并非用以局限本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种射频前端测试装置，用以测试射频前端模块，其特征在于，包括：
一处理模块，接收一电脑装置的射频前端测试控制信号；
一第一多工模块，包括：
一第一输入端；
一第一控制端；
一第二控制端；
一第三控制端；
一第一输出通道端；
一第二输出通道端；
一第三输出通道端；以及
一第四输出通道端，
其中，该第一多工模块的该第一控制端、该第二控制端以及该第三控制端电性连接该处理模块；以及
一第二多工模块，包括：
一第一输入端；
一第一控制端；
一第二控制端；
一第三控制端；
一第一输出通道端；
一第二输出通道端；
一第三输出通道端；以及
一第四输出通道端；
其中，该第二多工模块的该第一控制端、该第二控制端以及该第三控制端电性连接该处理模块；
一射频前端信号模块，包括一第一信号端以及一第二信号端，其中该射频前端信号模块分别通过该第一信号端以及该第二信号端提供一第一信号以及一第二信号，其中该第一信号为一射频前端测试数据信号，该第二信号为一射频前端测试时脉信号；该射频前端信号模块的该第一信号端电性连接该第一多工模块的该第一输入端；该射频前端信号模块的该第二信号端电性连接该第二多工模块的该第一输入端；
其中，该第一多工模块的该第一输出通道端以及该第二多工模块的该第一输出通道端分别电性连接一第一待测装置，该第一多工模块的该第二输出通道端以及该第二多工模块的该第二输出通道端分别电性连接一第二待测装置，该第一多工模块的该第三输出通道端以及该第二多工模块的该第三输出通道端分别电性连接一第三待测装置，该第一多工模块的该第四输出通道端以及该第二多工模块的该第四输出通道端分别电性连接一第四待测装置。
2.如权利要求1所述的射频前端测试装置，其特征在于，该处理模块根据该电脑装置的射频前端测试控制信号，循序切换该第一多工模块以及该第二多工模块的该第一输出通道端、该第二输出通道端、该第三输出通道端以及该第四输出通道端，以使该第一待测装置、该第二待测装置、该第三待测装置、该第四待测装置分别根据该射频前端信号模块通过该第一多工模块以及该第二多工模块传送的至少一测试控制信号以进行一射频前端测试程序。
3.如权利要求1所述的射频前端测试装置，其特征在于，该处理模块提供一第一开关信号至该第一多工模块的该第一控制端，以控制该第一多工模块的开启与关闭，该处理模块提供一第一开关信号至该第二多工模块的该第一控制端，以控制该第二多工模块的开启与关闭。
4.如权利要求1所述的射频前端测试装置，其特征在于，该处理模块提供一第二开关信号以及一第三开关信号至该第一多工模块以及该第二多工模块，以循序开启以及关闭该第一多工模块以及该第二多工模块的该第一输出通道端、该第二输出通道端、该第三输出通道端以及该第四输出通道端。
5.如权利要求1所述的射频前端测试装置，其特征在于，还包括：
一通用异步收发模块，该处理模块通过该通用异步收发模块电性连接该电脑装置。
6.一种射频前端测试装置，用以测试射频模块，其特征在于，包括：
一处理模块，接收一电脑装置传送的一射频前端测试控制信号；
一第一多工模块，电性连接该处理模块，其中，该第一多工模块包括一第一输出通道端以及一第二输出通道端；以及
一第二多工模块，电性连接该处理模块，其中，该第二多工模块包括一第一输出通道端以及一第二输出通道端；
一射频前端信号模块，包括一第一信号端以及一第二信号端，其中该射频前端信号模块分别通过该第一信号端以及该第二信号端提供一第一信号以及一第二信号，其中该第一信号为一射频前端测试数据信号，该第二信号为一射频前端测试时脉信号；其中，该射频前端信号模块的该第一信号端电性连接该第一多工模块；其中，该射频前端信号模块的该第二信号端电性连接该第二多工模块，
其中，该第一多工模块的该第一输出通道端电性连接至一第一待测装置，该第二多工模块的该第一输出通道端电性连接该第一待测装置，该第一多工模块的该第二输出通道端电性连接至一第二待测装置，该第二多工模块的该第二输出通道端电性连接该第二待测装置；
其中，该处理模块根据该电脑装置的射频前端测试控制信号，循序切换该第一多工模块以及该第二多工模块的该第一输出通道端以及该第二输出通道端，以使该第一待测装置以及该第二待测装置分别根据该射频前端信号模块通过该第一多工模块以及该第二多工模块传送的至少一测试控制信号以进行一射频前端测试程序。
7.一种射频前端测试方法，其特征在于，包括：
发送一射频前端测试控制信号给射频前端测试装置，其中射频前端测试装置包括一第一多工模块、一第二多工模块以及一射频前端信号模块，该第一多工模块包括一第一输出通道端以及一第二输出通道端，该第二多工模块包括一第一输出通道端以及一第二输出通道端，该射频前端信号模块包括一第一信号端以及一第二信号端；
按序切换该第一多工模块以及该第二多工模块的多个输出通道端，该射频前端信号模块通过该第一多工模块以及该第二多工模块分别提供一射频前端测试数据信号以及一射频前端测试时脉信号至多个待测装置；以及
该多个待测装置分别根据所接收的该射频前端测试数据信号以及该射频前端测试时脉信号进行一射频前端测试程序。
8.如权利要求7所述的射频前端测试方法，其特征在于，该射频前端测试控制信号是由一电脑装置进行发送。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114826435B (zh) * 2021-01-28 2023-07-25 北京京东方技术开发有限公司 射频测试装置及其测试方法
EP4224179A1 (en) * 2022-02-04 2023-08-09 Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG Transceiver module

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104764942A (zh) * 2014-01-02 2015-07-08 致茂电子股份有限公司 自动测试设备及其控制方法
CN105874747A (zh) * 2014-01-02 2016-08-17 莱特普茵特公司 用于同时测试能够经由多个无线电接入技术进行通信的多个封包数据信号收发器的***和方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1687649A1 (en) 2003-11-26 2006-08-09 Advantest Corporation Testing apparatus
US7962923B2 (en) * 2005-12-30 2011-06-14 Level 3 Communications, Llc System and method for generating a lock-free dual queue
US7915902B2 (en) * 2006-10-18 2011-03-29 Mongtage Technology Group Limited Dynamic burn-in systems and apparatuses
CN102571239B (zh) 2012-01-13 2016-12-21 中兴通讯股份有限公司 一种射频指标的测试***
US8842549B2 (en) * 2012-12-17 2014-09-23 Litepoint Corporation System and method for parallel testing of multiple data packet signal transceivers
US10044451B2 (en) * 2014-02-24 2018-08-07 Litepoint Corporation Method for testing multiple wireless data packet signal transceivers using shared testing resources
CN204216882U (zh) * 2014-11-14 2015-03-18 张保宁 一种用于高速高精度adc芯片小批量生产的测试***
US9628202B2 (en) 2015-02-27 2017-04-18 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Testing front end modules, testing methods and modular testing systems for testing electronic equipment

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104764942A (zh) * 2014-01-02 2015-07-08 致茂电子股份有限公司 自动测试设备及其控制方法
CN105874747A (zh) * 2014-01-02 2016-08-17 莱特普茵特公司 用于同时测试能够经由多个无线电接入技术进行通信的多个封包数据信号收发器的***和方法

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