CN101094430B - 双模终端校准测试装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种双模终端校准测试装置及方法，所述校准测试装置包括射频仪表，对终端进行校准测试，所述终端包括两个射频端口，还包括射频开关，所述射频开关一端与所述终端的两个射频端口择一的连接，所述射频开关另一端与所述射频仪表连接。本发明的双模终端的校准测试装置及校准测试方法能实现两种制式校准测试时校准测试通道的自动切换，避免了人工改接到另一种制式的仪表所花费在切换仪表上的时间太多，减少了测试时间，增加了生产效率；另外本发明利用综测仪实现两种制式的校准和测试，减少了测试仪表的费用。

Description

双模终端校准测试装置及方法

技术领域

本发明属于无线终端校准、测试领域，尤其涉及一种双模终端的射频校准、测试装置及方法。

背景技术

目前市场上出现的双模便携终端有GSM与PHS双模终端、CDMA与GSM双模终端、TD与GSM双模终端、WiFi与GSM双模终端等，这些双模技术的终端使一个终端可以在不同的网络上使用，满足用户对不同业务的需求。但是这些双模终端的校准、测试基本都采用每一个模式占用一套设备，双模终端就需要占用两套不同模式射频指标的测试设备，增加了测试成本，增加了人力成本，降低了校准、测试效率。

以TD-SCDMA和GSM双模双待终端为例，该终端支持两种制式(TD-SCDMA、GSM)，在同一时刻终端可以在TD-SCDMA和GSM两个网络下同时待机，用户可以享受3G网络的服务，又可以保持与GSM网络的平滑过渡。这种双模双待终端为了增加两种制式射频信号之间的隔离度，通常采用两个射频端口收发不同制式的信号。在TD-SCDMA和GSM双模双待终端的研发、生产过程中，需要用TD-SCDMA的测试设备对TD-SCDMA的收发支路进行射频校准、测试，用GSM的测试设备对GSM的收发支路进行射频校准、测试。其测试过程一般如下：(a)计算机同时控制该待测终端和TD-SCDMA(GSM)的测试仪表，进行TD-SCDMA(GSM)射频参数的校准和测试；(b)计算机同时控制该待测终端和GSM(TD-SCDMA)的测试仪表，进行GSM(TD-SCDMA)射频参数的校准和测试。

但是上述现有的测试方案有以下一些缺陷：

在测完一种制式后，如果人工改接到另一种制式的仪表，这样花费在切换仪表上的时间太多，增加了测试时间，影响了生产效率；另外这个校准测试方法需要支持一种制式的仪表和支持另一种制式的仪表各一台，增加了测试仪表的费用。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种双模终端的校准测试装置及校准测试方法，实现双模终端两种制式的校准测试通道的自动切换，提高测试效率。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种双模终端校准测试装置，所述校准测试装置包括射频仪表，对终端进行校准测试，所述终端包括两个射频端口，还包括射频开关，所述射频开关一端与所述终端的两个射频端口择一的连接，所述射频开关另一端与所述射频仪表连接，所述射频仪表可以在两种制式之间快速切换。

进一步地，还包括逻辑控制装置，所述逻辑控制装置与所述射频开关连接。

优选的，所述射频开关为电平控制的单刀双掷开关。

优选的，所述射频仪表为在两种制式间可以快速切换的综测仪。

进一步地，还包括通用计算机，所述通用计算机通过数据线分别与所述终端、逻辑控制装置及所述射频仪表连接。

进一步地，还包括测试夹具，所述测试夹具一端与所述终端连接，另一端与所述通用计算机连接。

进一步地，还包括两台双路输出数字电源，通过数据线与所述通用计算机连接，其输出端分别与所述终端、测试夹具及所述逻辑控制装置连接。

本发明还提供了一种双模终端校准测试方法，所述方法包括以下步骤：

(1)将射频开关一端与待测终端的射频端口连接，另一端与射频仪表连接，所述射频仪表可以在两种制式之间快速切换；

(2)将射频开关与所述射频仪表及待测终端的一个射频端口接通，将所述射频仪表切换到一种制式下，进行校准测试，如成功，执行步骤(3)，否则失败退出；

(3)将射频开关与所述射频仪表及待测终端的另一个射频端口接通，将所述射频仪表切换到另一种制式下，进行校准测试。

优选的，利用逻辑控制装置控制射频开关，进而控制射频仪表与终端的射频端口接通。

优选的，所述射频仪表为综测仪。

优选的，所述射频开关为电平控制的单刀双掷开关。

本发明的双模终端的校准测试装置及校准测试方法能实现两种制式校准测试时校准测试通道的自动切换，避免了人工改接到另一种制式的仪表所花费在切换仪表上的时间太多，减少了测试时间，增加了生产效率；另外本发明利用综测仪实现两种制式的校准和测试，减少了测试仪表的费用。

附图说明

图1为本发明双模终端校准测试装置的结构示意图；

图2为本发明双模终端校准测试方法流程图；

图3为本发明双模终端校准测试方法的一个应用实例示意图；

图4为图3所示应用实例的后续校准方法流程图。

图5为图3所示应用实例的后续测试方法流程图。

具体实施方式

本发明利用射频开关实现双模终端测试校准时两种制式的测试通道的自动切换，可以避免现有技术人为的手工操作所造成的浪费时间、生产效率低的问题。同时，本发明利用综测仪作为测试仪表，能实现两种制式的校准和测试，减少了测试仪表的费用。

下面结合附图对本发明的优选实施例进行详细说明：

参照图1所示，为本发明双模终端校准测试装置的结构示意图。本发明双模终端的校准测试装置包括：

一套射频开关1以及其逻辑控制装置2，通过逻辑控制装置2控制射频开关1，实现双模终端7的两个射频端口RF1和RF2与射频仪表3的射频端口RF3之间的切换，用于为终端7提供射频测试通道。在本发明中，射频仪表3为一综测仪。射频开关1的一端包括两个接点，接点SW1和接点SW2。接点SW1通过射频线与待测终端7的射频端口RF1相连，接点SW2通过射频线与待测终端7的射频端口RF2相连；射频开关1另一端的接点SW3通过射频线与综测仪3的射频端口RF3相连。该综测仪3具有两种制式的测试功能，用于对两种制式的收发支路进行射频校准、测试，两种制式可以快速切换。综测仪3通过GPIB线缆与通用计算机5连接。通用计算机5设置有串口以及至少一个GPIB接口卡。通用计算机5的串口为RS232串口，该串口通过数据线与测试夹具4相连，而测试夹具4通过数据线与终端7连接。这样，测试夹具4可以提供通用计算机5的RS232接口到终端7的UART接口的转换，可以实现通用计算机5向终端7传输控制指令和数据。该校准测试装置还包括两台双路输出数字电源61、62，通过GPIB线缆连接所述通用计算机5，其中双路输出数字电源61与终端7及测试夹具4相连，用于为测试夹具4供电和为终端7提供电池电压信号Vbat；双路输出数字电源62用于控制逻辑控制装置2，进而控制射频开关1进行通道的切换。测试夹具4同时为终端提供充电电源。

通用计算机5控制综测仪3的工作，通用计算机5通过GPIB与双路输出数字电源61、62连接，用于控制双路输出数字电源61、62输出合适的电压与电流，进而通过逻辑控制装置2控制射频开关1的通道的切换。双路输出数字电源61输出两路电源OUT1和OUT2，其中OUT1输出至测试夹具4，OUT2输出至终端7。双路输出数字电源62输出两路电源OUT3和OUT4至逻辑控制装置2。

所述射频开关是一使用电平控制的SPDT(单刀双掷)开关。

在实际进行校准测试时，先由通用计算机5控制双路输出数字电源61和62为终端7、测试夹具4及逻辑控制装置2供电，由逻辑控制装置2控制射频开关1，切换到一种制式的射频通道，即将终端7的一个射频端口与综测仪3的射频端口RF3相连接，进行一种制式的校准和测试；在成功进行完一种制式的校准和测试后，由通用计算机5的测试程序控制综测仪3的射频端口RF3与终端7的另一个射频端口相连接，进行另一种制式的射频校准和测试。

参照图2所示，为本发明双模终端校准测试方法流程图。该方法包括以下步骤：

步骤201：将射频开关一端与待测终端的射频端口连接，另一端与射频仪表连接；

步骤202：将射频开关与射频仪表及终端的一个射频端口接通，进行校准测试；

步骤203：判断校准测试是否成功？如成功，执行步骤204，否则失败退出；

步骤204：将射频开关与射频仪表及终端的另一个射频端口接通，进行校准测试。

其中，利用逻辑控制装置控制射频开关，进而控制射频仪表与终端的射频端口连接。所述射频仪表为综测仪。所述射频开关为电平控制的单刀双掷开关。

下面通过具体应用中的实例来对本发明进行示例性的说明：

参照图3所示，为本发明双模终端校准测试方法的一个应用实例示意图，无线终端校准、测试方法如下：

步骤301：准备测试装置；

步骤302：按照图1搭建测试环境；

步骤303：连接测试夹具和待测终端；

步骤304：在PC机上运行校准测试软件；

步骤305：输入测试类型，如输入校准，则进入步骤401(图4所示)继续执行；输入测试，则进入步骤501(图5所示)继续执行。

参照图4所示，为图3所示应用实例的后续校准方法流程图。

步骤401：配置软件的校准选项；

步骤402：开始终端校准；

步骤403：初始化综测仪的校准选项；

步骤404：校准程序控制双路输出数字电源61给测试夹具和终端供电；

步骤405：校准程序控制双路输出数字电源62给逻辑控制装置供电，控制综测仪和射频开关SW，切换到制式1(比如TD-SCDMA)射频通道；

步骤406：开始终端制式1(比如TD-SCDMA)的射频校准，校准项包括ADC(电池校准)，AFC(自动频率校准)，APC(自动功率校准)，AGC(自动增益校准)等；

步骤407：判断制式1校准是否成功，如成功，执行步骤408；如果为否，执行步骤412；

步骤408：向终端写入制式1的校准数据；

步骤409：校准程序控制综测仪和射频开关SW，切换到制式2(比如GSM)射频通道；

步骤410：开始终端制式2(比如GSM)的校准，校准项包括ADC(电池校准)，AFC(自动频率校准)，APC(自动功率校准)，AGC(自动增益校准)等；

步骤411：判断制式2校准是否成功？校准成功，执行步骤413；校准如果失败，执行步骤412；

步骤412：写入校准标志位信息：校准Fail；结束。

步骤413：向终端写入制式2的校准数据；

步骤414：写入校准标志位信息：校准OK；成功结束。

参照图5所示，为图3所示应用实例的后续测试方法流程图。

步骤501：配置软件的测试选项；

步骤502：开始终端测试；

步骤503：初始化综测仪的测试选项；

步骤504：测试程序控制双路输出数字电源61给终端和测试夹具供电；

步骤505：测试程序控制双路输出数字电源62给逻辑控制装置供电，控制综测仪和射频开关SW，切换到制式1(比如TD-SCDMA)射频通道；

步骤506：开始终端制式1(比如TD-SCDMA)的射频测试；

步骤507：判断制式1测试是否成功？如果测试成功，执行步骤508，如果失败，执行步骤511；

步骤508：测试程序控制综测仪和射频开关SW，切换到制式2(比如GSM)射频通道；

步骤509：开始终端制式2(比如GSM)的射频测试；

步骤510：判断制式2测试是否成功，如果成功继续执行步骤512，如果测试失败，执行步骤511；

步骤511：写入测试标志位信息：终测Fail；结束；

步骤512：写入终测标志位信息：终测OK；成功结束。

本发明通过利用射频开关及其逻辑控制电路实现双模终端测试校准仪表在两种制式测试通道之间的自动切换，可以避免现有技术人为的手工操作所造成的浪费时间、生成效率低的问题。同时，本发明利用综测仪作为测试仪表，能实现两种制式的校准和测试，减少了测试仪表的费用。

当然，上述实施例及应用实例不是对本发明技术方案的进一步限定，本发明还可有其他多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，本领域技术人员可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都在本发明的保护范围之内。

Claims (11)

1.一种双模终端校准测试装置，所述校准测试装置包括射频仪表，对终端进行校准测试，所述终端包括两个射频端口，其特征在于，还包括射频开关，所述射频开关一端与所述终端的两个射频端口择一的连接，所述射频开关另一端与所述射频仪表连接，所述射频仪表可以在两种制式之间快速切换。

2.如权利要求1所述的双模终端校准测试装置，其特征在于，还包括逻辑控制装置，所述逻辑控制装置与所述射频开关连接。

3.如权利要求1所述的双模终端校准测试装置，其特征在于，所述射频开关为电平控制的单刀双掷开关。

4.如权利要求2所述的双模终端校准测试装置，其特征在于，所述射频仪表为在两种制式间可以快速切换的综测仪。

5.如权利要求4所述的双模终端校准测试装置，其特征在于，还包括通用计算机，所述通用计算机通过数据线分别与所述终端、逻辑控制装置及所述射频仪表连接。

6.如权利要求5所述的双模终端校准测试装置，其特征在于，还包括测试夹具，所述测试夹具一端与所述终端连接，另一端与所述通用计算机连接。

7.如权利要求6所述的双模终端校准测试装置，其特征在于，还包括两台双路输出数字电源，通过数据线与所述通用计算机连接，其输出端分别与所述终端、测试夹具及所述逻辑控制装置连接。

8.一种双模终端校准测试方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

(1)将射频开关一端与待测终端的射频端口连接，另一端与射频仪表连接，所述射频仪表可以在两种制式之间快速切换；

(2)将射频开关与所述射频仪表及待测终端的一个射频端口接通，将所述射频仪表切换到一种制式下，进行校准测试，如成功，执行步骤(3)，否则失败退出；

(3)将射频开关与所述射频仪表及待测终端的另一个射频端口接通，将所述射频仪表切换到另一种制式下，进行校准测试。

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，利用逻辑控制装置控制射频开关，进而控制射频仪表与终端的射频端口接通。

10.如权利要求8所述的方法，其特征在于，所述射频仪表为综测仪。

11.如权利要求8所述的方法，其特征在于，所述射频开关为电平控制的单刀双掷开关。

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