CN1666268A - 盘形记录介质、盘驱动设备和盘生产方法 - Google Patents

Abstract

使用按照本发明的盘形记录介质或盘制造方法，对于单层盘和多层盘，要成为第一层的记录层L0在距离其上落有激光的覆盖层CVL的表面、沿着盘厚度方向处于相同距离。对于多层盘，在比第一层L0更靠近覆盖层CVL的各个位置形成第二层L1和随后的层。因此，有可能改善单层盘和多层盘之间的兼容性、可靠性和可访问性。

Description

盘形记录介质、盘驱动设备和盘生产方法

技术领域

本发明涉及一种诸如光盘的盘形记录介质、用于生产所述盘形记录介质的盘生产方法和用于所述盘形记录介质的盘驱动装置。

本申请要求2002年5月24日提交的日本专利申请第2002-151185号的优先权，其整体以引用方式被合并在此。

背景技术

作为用于记录/和或再现数字数据的技术，存在一种使用光盘来作为记录介质的数据记录技术，所述光盘包括磁光盘，诸如CD(致密盘)、MD(微型盘)或DVD(数字多用途盘)。光盘是由被激光辐射的、以塑料保护的薄金属片的盘组成的记录介质。当从所述盘反射的光变化时，信号被读取。

光盘可以被分类为：只重放型，诸如CD、CD-ROM或DVD-ROM；用户可记录型，诸如MD、CD-R、CD-RW、DVD-R、DVD-RW、DVD+RW或DVD-RAM。通过利用磁光记录***、相变记录***或染膜(dye change)改变记录***来使能在用户可记录型盘上的数据记录。也称为一次写入记录***的染膜改变记录***允许仅仅一次的数据记录，不允许重写，因此可以有益地用于数据存储。另一方面，磁光记录***或相变记录***允许数据重写，并且用于各种应用领域，包括记录各种内容数据，诸如音乐、画面、游戏或应用程序。

近来，已经开发了被称为DVR(数据和视频记录)的高密度光盘以试图可观地提高数据存储容量。

对于在诸如磁光记录***、染膜改变记录***或相变记录***的盘的可记录盘上记录数据，需要适当的引导装置来寻道到数据轨道。为此，提前形成凹槽来作为预置凹槽，以凹槽或平台(在相邻的凹槽或凹槽的相邻圈数之间限定的梯形横截面区域)来用作数据轨道。

也必须在数据轨道上的预设位置记录地址信息以例如使得可以在数据轨道上的预设位置记录数据。这些是通过摆动或曲动(meander)凹槽而记录地址信息的情形。

具体地，与地址信息一致地摆动提前被形成为预置凹槽的数据记录轨道的侧壁部分。

通过如此，可以从在记录和/或再现期间作为反射光信息被获得的摆动信息读出地址，以便可以在期望的位置记录和/或再现数据而不必在轨道上预先形成比特数据等以指示地址。

通过增加作为摆动凹槽的地址信息，不必在轨道上提供离散的地址区域以将地址记录为例如比特数据，从而可以以对应于否则需要如上所述被提供的地址面积的数量来提高用于实际数据的记录容量。

同时，由摆动的凹槽表达的绝对时间(地址)信息被称为ATIP(在预置凹槽中的绝对时间)或ADIP(在预置凹槽中的地址)。

应当注意，如果在诸如DVR的近期开发的高密度盘中，使用具有405nm波长的激光、或所谓的蓝色激光与具有0.85的NA的物镜的组合，以具有沿着盘厚度方向的0.1毫米的覆盖层(衬底)的盘结构来执行相变标记的记录和/或再现，则可以在直径12cm的盘上记录23.3GB(千兆字节)的数据，其中以64kB(千字节)的数据块作为记录和/或再现单位，使用0.32微米的轨道间距和0,12微米的线密度，格式效率是大约82％。

如果以类似的格式将线密度设置为0.112微米/比特，则可以记录和/或再现25GB的容量的数据。

注意，提高了显著增大的数据容量，以便可以考虑记录层是多层结构。例如，如果记录层是双层结构，则记录容量可以是46.6或50GB或上述容量的两倍。

但是，使用具有多层结构的记录层，对于期望的盘布局或实现操作可靠性出现了问题。

也出现了关于实现与单层光盘的兼容性的问题。

也必须考虑在记录和/或再现时对于第一和随后的层的可访问性。

发明内容

考虑到上述的现有技术状态，本发明的目的是提供一种便于提高记录容量或改善记录和/或再现特性的具有多个记录层的盘形记录介质、一种用于生产盘形记录介质的方法和一种盘驱动装置。

为此，按照本发明的盘形记录介质是具有单记录层的单层盘和具有多个记录层的多层盘的多层记录介质，其中，在盘的厚度方向的一位置处形成作为第一记录层的记录层，该位置到覆盖层的表面的距离与所述单层盘情况下的距离相同，其中光进入所述覆盖层以记录和/或再现第一记录层，并且其中，在比第一层更接近覆盖层表面的位置形成第二记录层。

第二记录层由多个记录层形成。

在第一到第n个记录层中，从盘的内环向外环记录和/或再现奇数记录层，从盘的外环向内环记录和/或再现偶数记录层。

第一到第n个记录层的奇数记录层的地址从盘的内环向外环依序被记录，并且从盘的外环向内环记录偶数记录层的地址，所述偶数记录层的地址通过互补在径向对应于偶数记录层地址位置的奇数记录层的地址而被获得。

盘形记录介质特有的唯一ID通过烧除记录层的记录***被仅仅记录在第一记录层中。

通过摆动被形成为在盘上螺旋延伸的凹槽，用于记录和/或再现的管理信息在第一到第n记录层的每个中被记录为只重放信息。

在第一到第n个记录层的每个中提供用于进行记录测试的测试区域。

在第一到第n个记录层的每个中提供用于记录第一到第n个记录层的每个的缺陷管理信息的区域。

在第一到第n个记录层的每个中提供替换区域。

按照本发明的盘驱动装置可以在盘形记录介质上记录和/或再现数据，所述盘形记录介质可以是具有单记录层的单层盘或具有多个记录层的多层盘，其中，在盘的厚度方向的一位置处形成作为多层盘的第一记录层的记录层，该位置到覆盖层的表面的距离与所述单层盘情况下的距离相同，其中光进入所述覆盖层以记录和/或再现第一记录层，并且其中，在比第一层更接近覆盖层表面的位置形成第二记录层。所述装置包括：头部件，用于照射用于记录和/或再现每个记录层的轨道的数据的激光；校正部件，用于校正激光的球面象差；校正控制部件，用于根据要由激光照射的记录层来控制校正部件，以根据记录层来校正球面象差。

第二记录层由多个记录层形成。

校正控制部件使得校正部件在安装盘形记录介质时执行对第一层的球面象差校正，而不管盘的类型。

在安装盘形记录介质时读出通过烧除记录层的记录***在第一层中记录的盘形记录介质特有的唯一ID。

当安装作为上述盘形记录介质的、具有n个记录层的多层盘时，从盘的第一到第n记录层的一个或多个中读出通过摆动螺旋形成的凹槽而被记录为只重放信息的、用于记录和/或再现的管理信息。

当安装作为上述盘形记录介质的、具有n个记录层的多层盘时，在第一到第n个记录层的每个中提供的测试区域中执行测试记录。

对于具有n个记录层的多层盘，在第一到第n个记录层的每个中提供的缺陷管理区域中记录用于第一到第n个记录层的缺陷管理信息。

当安装具有n个记录层的多层盘时，从第一到第n个记录层依序执行记录和/或再现。

在记录和/或再现盘形记录介质的奇数记录层时，从盘的内环向外环执行记录和/或再现，并且在记录和/或再现盘形记录介质的偶数记录层时，从盘的外环向内环执行记录和/或再现。

一种用于生产具有单记录层的单层盘和具有多个记录层的多层盘中、作为多层记录介质的盘形记录介质的方法，包括：在盘的厚度方向的一位置处形成作为第一记录层的记录层，该位置到覆盖层的表面的距离与所述单层盘情况下的距离相同，其中光进入所述覆盖层以记录和/或再现第一记录层；并且，在比所述第一层更接近所述覆盖层表面的位置形成第二层。

第二记录层由多个记录层形成。

在第一到第n个记录层中，从盘的内环向外环记录和/或再现奇数记录层，从盘的外环向内环记录和/或再现偶数记录层。

第一到第n个记录层的奇数记录层的地址从盘的内环向外环依序被记录，并且从盘的外环向内环记录偶数记录层的地址，所述偶数记录层的地址通过互补在径向对应于偶数记录层地址位置的奇数记录层的地址而被获得。

盘形记录介质特有的唯一ID通过烧除记录层的记录***被仅仅记录在第一记录层中。

通过摆动被形成为在盘上螺旋延伸的凹槽，用于记录和/或再现的管理信息在第一到第n记录层的每个中被记录为只重放信息。

在第一到第n个记录层的每个中提供用于进行记录测试的测试区域。

在第一到第n个记录层的每个中提供用于记录第一到第n个记录层的每个的缺陷管理信息的区域。

在第一到第n个记录层的每个中提供替换区域。

即，作为本发明的盘形记录介质的多层盘具有与单层盘共同的第一层位置，而第二层ff靠近覆盖层，因此保证了更多的有利特性。

而且，在第一到第n个记录层中，从盘的内环向外环记录和/或再现奇数记录层，而从盘的外环向内环记录和/或再现偶数记录层，因此有益地实现了用于各个层的记录和/或再现跟踪连续性。

附图说明

图1图解了按照本发明的盘的凹槽。

图2图解了按照本发明的盘的凹槽摆动。

图3图解了按照本发明的MSK调制和HMW调制摆动信号。

图4A-4E图解了按照本发明的MSK调制。

图5是示出按照本发明用于解调MSK调制摆动信号的MSK解调电路的方框图。

图6是示出输入摆动信号和同步检测输出信号的波形图。

图7是示出MSK流的同步输出信号的积分输出值、积分输出值的保持值和用于调制的MSK解调数据的波形图。

图8A-C图解了按照本发明的HMW调制。

图9是示出用于解调HMW调制摆动信号的HMW解调电路的方框图。

图10是参考载波信号、第二谐波信号、用于调制的数据和根据所述用于调制的数据而产生的第二谐波信号。

图11是按照本发明产生的HMW流的波形图。

图12A是按照本发明的HMW流的同步检测输出信号的波形图，图12B是按照本发明的同步检测输出信号的积分输出值、积分输出值的保持值和用于调制的HMW解调数据的波形图。

图13图解了按照本发明的盘布局。

图14A和14B分别图解了按照本发明的RW和PB区的摆动。

图15图解了按照本发明的用于预先记录的信息的调制***。

图16A和16B图解了按照本发明的相变标记的ECC结构。

图17A-17D图解了按照本发明的预先记录的信息的ECC结构。

图18A图解了按照本发明的相变标记的帧结构，图18B图解了按照本发明的预先记录的信息的帧结构。

图19A图解了按照本发明在RUB和盘的地址单元之间的关系，图19B图解了用于形成地址单元的比特块。

图20图解了按照本发明的地址单元的同步部分。

图21A和21B分别图解了按照本发明在同步部分中的单调比特和用于MSK调制的数据。

图22A和22B分别图解了按照本发明在同步部分中的第一同步比特和用于MSK调制的数据的信号波形。

图23A和23B分别图解了按照本发明在同步部分中的第二同步比特和用于MSK调制的数据的信号波形。

图24A和24B分别图解了按照本发明在同步部分中的第三同步比特和用于MSK调制的数据的信号波形。

图25A和25B分别图解了按照本发明在同步部分中的第四同步比特和用于MSK调制的数据的信号波形。

图26图解了按照本发明在地址单元中的数据部分的比特结构。

图27A、27B和27C分别图解了按照本发明的表示数据部分的比特“1”的ADIP比特、用于MSK调制的数据和待求和的HMW信号的信号波形。

图28A、28B和28C分别图解了按照本发明的表示数据部分的比特“0”的ADIP比特、用于MSK调制的数据和待求和的HMW信号的信号波形。

图29图解了按照本发明的地址格式。

图30图解了按照本发明通过ADIP比特的地址信息的内容。

图31是示出按照本发明的地址解调电路的方框图。

图32A-32E图解了按照本发明的地址解调电路的控制定时。

图33A-33C是示出按照本发明通过地址解调电路的HMW解调获得的信号波长的波长图。

图34A-34C是示出按照本发明通过地址解调电路的HMW解调获得的信号波长的波长图。

图35A-35C分别图解了按照本发明的单层盘、双层盘和n层盘的分层结构，图35D示出了与相应盘的相应记录层一致的层地址。

图36图解了按照本发明的单层盘的区域(areal)结构。

图37图解了按照本发明的双层盘的区域结构。

图38图解了按照本发明的n层盘的区域结构。

图39A和39B图解了按照本发明的盘的螺旋状态。

图40是按照本发明的盘驱动装置的方框图。

图41是用于图解按照本发明的盘驱动装置的处理的流程图。

图42图解了按照本发明用于校正盘驱动装置的球面象差的结构。

图43A和43B图解了按照本发明用于校正盘驱动装置的球面象差的结构。

图44是按照本发明的原版盘制作设备(mastering device)的方框图。

图45图解了按照本发明制作盘的程序。

图46是按照本发明的BCA记录设备的方框图。

具体实施方式

下面，说明体现本发明的光盘。另外，说明用于在光盘上记录和/或从光盘再现的、记录和/或再现光盘(记录和/或再现装置)的盘驱动装置、用于生产光盘的原版盘制作设备和BCA记录装置。以下述顺序进行说明：

1.盘摆动***

1-1整体摆动***的说明

1-2 MSK调制

1-3 HMW调制

1-4总结

2.对于DVR的典型应用

2-1 DVR盘的物理属性

2-2数据的ECC格式

2-3地址格式

2-3-1用于记录和/或再现的数据和地址之间的关系

2-3-2同步部分

2-3-3数据部分

2-3-4地址数据的内容

2-4地址解调电路

3.单层/双层/n层盘

3-1层结构

3-2盘布局

4.盘驱动装置

4-1结构

4-2盘调节(accommodating)处理

5.盘生产方法

5-1原版盘制作设备

5-2生产顺序

5-3 BCA记录设备

1.盘摆动***

1-1整体摆动***的说明

体现本发明的光盘1包括其上形成的作为记录轨道的凹槽GV，如图1所示。这个凹槽GV从盘的内环向外环螺旋延伸地被形成。因此，沿着径向所取的光盘1的横截面指示彼此交替形成的凸形平台L和凹形凹槽GV，如图2所示。

注意，图1的螺旋方向示出了从其标签侧看到光盘1的状态。也注意，在具有多个记录层的盘的情况下，螺旋状态在层之间不同。

光盘1的凹槽GV相对于切线方向而曲折地被形成，如图2所示，凹槽GV的曲折的形状与摆动信号一致。因此，光盘驱动器能够通过下述方式来再现摆动信号：从被照射在凹槽GV上的激光点LS的反射光检测凹槽GV的两边，并且当激光点LS沿着记录轨道移动时提取相对于光盘径向的边沿位置的变化的分量。

在摆动信号中，在记录位置的记录轨道的地址信息、即物理地址和其它附加信息已经被调制。结果，光盘驱动器能够从摆动信号解调地址信息等，以在数据记录和/或再现时控制地址。

虽然现在对于其中数据被记录在凹槽(凹槽记录)中的光盘说明本发明的实施例，但是本发明也可以被应用到其中数据被记录在平台(平台记录)的光盘或其中数据被记录在凹槽和平台(平台/凹槽记录)中的光盘。

注意，光盘1的本实施例按照两种调制***、以地址信息来调制摆动信号。调制***之一是MSK(最小移位键控)调制***，另一种是这样的***，其中偶数谐波被加到正弦载波信号上，并且所述谐波的极性随着用于调制的数据的符号改变以进行调制。向正弦载波信号加上偶数谐波并且所述谐波的极性随着用于调制的数据的符号改变以便进行调制的调制***被称为HMW(谐波)调制。

使用光盘1的本实施例，产生这样的摆动信号，其中预设频率的正弦参考载波信号波形的预设数量的周期的连接形成一个块，并且其中MSK调制的地址信息被***所述块中，以形成MSK调制部分，并且HMW调制地址信息被类似地***所述块中，以形成HMW调制部分，如图3所示。即，基于MSK调制的地址信息和基于HMW调制的地址信息被***在块中的不同位置。另外，用于MSK调制的两个正弦载波信号之一和用于MSK调制的载波信号表示上述的参考载波信号。MSK调制单元和HMW调制单元位于块中的不同位置，并且在MSK调制单元和HMW调制单元之间布置了参考载波信号的一个或多个周期。

下面，其中未进行数据调制并且仅仅参考载波信号的频率分量显示其本身的信号波形部分下面被称为单调摆动。而且，下面，被用作参考载波信号的正弦信号是cos(ωt)。参考载波信号的一个周期被称为摆动周期。参考载波信号的频率从光盘的内环到外环不变，并且根据激光点沿着记录轨道移动的线速度而被确定。

1-2 MSK调制

以下说明在MSK调制和在HMW调制中使用的调制方法。首先说明按照MSK调制***的地址信息调制***。

MSK调制是相位连续的FSK(频移键控)调制，调制指数等于0.5。FSK调制属于这样的***，其中用于调制的数据的代码“0”和“1”与具有频率f1和f2的两个载波信号相关联。换句话说，FSK调制属于这样的***，其中，当用于调制的数据是“0”或“1”时，分别输出具有频率f1的正弦波和具有频率f2的正弦波。而且，在相位连续的FSK调制中，两个载波信号在用于调制的数据的符号转换定时是相位连续的。

在这种FSK调制中，定义了调制指数m。这个调制指数m被定义为：

m＝|f1-f2|T

其中，T是用于调制的数据的发送速率，即1/(最短代码长度的时间)。具有m＝0.5的相位连续FSK调制被称为MSK调制。

使用光盘1，要被MSK调制的数据的最短代码长度是两个摆动周期，如图4A(作为cos(ωt)的参考载波信号)和4B所示。同时，如果代码长度L是不小于2的、摆动周期的整数倍，则可以选择性地确定用于调制的数据的最短代码长度L。注意，用于MSK调制的两个频率之一与参考载波信号的频率相同，另一个是参考载波信号的频率的1.5倍。即，用于MSK调制的两个信号波形之一是cos(ωt)或-cos(ωt)，另一个是cos(1.5ωt)或-cos(1.5ωt)。

当用于调制的数据被***光盘1的摆动信号时，用于调制的数据的数据流按照对应于作为单位的摆动周期的时钟而被微分编码，如图4C所示。即，用于调制的数据的流和通过将参考载波信号延迟一个周期而获得的延迟数据以微分运算被处理。通过这个微分运算获得的数据被称为预编码数据。

这个预编码数据然后被MSK调制以产生MSK流。图4D所示的这个MSK流的信号波形是这样的信号波形，其中当预编码数据是“0”时，信号波形是是与参考载波(cos(ωt))或其反相波形(-cos(ωt))相同频率的波形，当预编码数据是“1”时，信号波形是参考载波(cos(1.5ωt))或其反相波形(-cos(1.5ωt))的频率的1.5倍的频率的波形。因此，如果用于调制的数据的数据系列是如图4B所示的模式“010”，则MSK流是从一个摆动周期到下一个摆动周期的、由cos(ωt)、cos(ωt)、cos(1.5ωt)、-cos(ωt)、-cos(1.5ωt)、cos(ωt)组成的波形，如图4E所示。

在光盘1中，摆动信号被转换为上述的MSK流，以用用于调制的数据来调制摆动信号。

注意，当用于调制的数据被微分编码和MSK调制时，如上所述，用于调制的数据的同步检测由于下列原因而变得可能：

使用微分编码的数据(预编码数据)，比特在用于调制的数据的代码改变点断言其本身(变为“1”)。因为用于调制的数据的代码长度被设置使得不小于摆动周期的两倍，因此参考载波信号(cos(ωt))或其反相信号(-cos(ωt))被必要地***用于调制的数据的代码长度的后半部分中。当预编码数据的比特是“1”时，***参考载波信号的频率的1.5倍的频率的正弦波部分。在代码转换点，波形部分与相位匹配互相连接。结果，当用于调制的数据分别是“0”或“1”时，被***在用于调制的数据的代码长度的后半部分中的信号波形部分必定是参考载波信号(cos(ωt))或其反相信号波长(-cos(ωt))。如果同步检测的输出与载波信号同相或反相，则所述输出分别是正的或负的，使得可以通过具有参考载波信号的MSK调制信号的同步检测来解调调制数据。

同时，在MSK调制中，在代码转换点以相位匹配发生调制，使得在同步检测信号的电平反相之前产生延迟。因此，在解调MSK调制信号中，同步检测输出的积分窗口被延迟半个摆动周期，以实现正确的检测输出。

图5示出了用于从上述的MSK流解调用于调制的数据的MSK解调电路。

参见图5，MSK解调电路10包括PLL电路11、定时产生器(TG)12、乘法器13、积分器14、采样/保持(SH)电路15和限幅电路16。

摆动信号(MSK调制流)被输入到PLL电路11。这个PLL电路11从输入的摆动信号检测边沿分量，以产生与参考载波信号(cos(ωt))同步的摆动时钟。如此产生的摆动时钟被发送到定时产生器12。

定时产生器12产生与输入的摆动信号同步的参考载波信号(cos(ωt))。定时产生器12从摆动时钟产生清除信号(CLR)和保持信号(HOLD)。清除信号(CLR)是从具有作为最小代码长度的两个摆动周期的用于调制的数据的数据时钟的导入边沿延迟半个周期的定时产生的信号。保持信号(HOLD)是从用于调制的数据的数据时钟的后沿延迟半个周期的定时而产生的信号。由定时产生器12产生的参考载波信号(cos(ωt))被提供到乘法器13。产生的清除信号(CLR)被提供到积分器14。产生的保持信号(HOLD)被提供到采样/保持电路15。

乘法器13将输入的摆动信号与参考载波信号(cos(ωt))相乘，以执行同步检测处理。同步检测的输出信号被提供到积分器14。

积分器14积分来自乘法器13的同步检测信号。同时，积分器14在通过定时产生器12产生清除信号(CLR)的定时将积分值清除为零。

采样/保持电路15在通过定时产生器12产生保持信号(HOLD)的定时采样积分器14的积分输出值，并且保持所述采样值直到出现下一个保持信号(HOLD)。

限幅电路16以原点(0)作为门限值而二进制编码由采样/保持电路15保持的值，并且当其符号反转时输出结果产生的双电平信号。

这个限幅电路16的输出信号变为解调的用于调制的数据。

图6和7示出了通过MSK调制作为数据序列“0010”的用于调制的数据而产生的摆动信号(MSK流)，并且当摆动信号被输入到MSK解调电路10的时候从相应的电路部件输出信号波形。在图6和7中，横坐标(n)表示摆动周期的周期数。图6示出了输入摆动信号(MSK流)和摆动信号的同步检测输出信号(MSK×cos(ωt))。图7示出了同步检测输出信号的积分输出值、积分输出值的保持值和从限幅电路16解调输出的用于调制的数据。同时，从限幅电路16解调输出的用于调制的数据由于在积分器14中引起的处理延迟而被延迟。

如果用于调制的数据如上所述被微分编码和MSK调制，则用于调制的数据的同步检测变得可能。

在光盘1中，MSK调制的地址信息被包括在摆动信号中，如上所述。通过MSK调制地址信息和通过将其包括在摆动信号中，在摆动信号中包括的高频分量被消除，以使能精确的地址检测。而且，因为MSK调制的地址信息被***到单调摆动中，因此可以消除否则可能提供到相邻轨道的串音以改善信噪(S/N)比。另外，使用其中可以通过同步检测来解调MSK调制数据的当前的光盘1，可以精确和容易地解调摆动信号。

1-3 HMW调制

以下说明使用HMW调制***的地址信息调制***。

HMW调制通过如上所述将偶数谐波信号求和到正弦载波信号、并且根据用于调制的数据的符号来改变谐波信号的极性而调制数字代码。

使用光盘1，HMW调制的载波信号是与作为用于MSK调制的载波信号的参考载波信号(cos(ωt))相同频率和相位的信号。要求和到载波信号的偶数谐波信号是参考载波信号(cos(ωt))的第二谐波，即sin(2ωt)或-sin(2ωt)，其幅度是相对于参考载波信号的幅度的-12dB。用于调制的数据的最小代码长度是摆动周期的两倍(参考载波信号的周期)。

当用于调制的数据的代码是“1”或“0”时，sin(2ωt)或-sin(2ωt)被分别求和以调制为载波信号。

图8示出了按照上述***、通过调制摆动信号而获得的信号波形。具体地，图8(A)示出了参考载波信号(cos(ωt))的信号波形。图8(B)示出了通过将sin(2ωt)求和到参考载波信号(cos(ωt))而获得的信号波形、即当用于调制的数据是“1”时的信号波形。图8(C)示出了通过将-sin(2ωt)求和到参考载波信号(cos(ωt))而获得的信号波形、即当用于调制的数据是“0”时的信号波形。

虽然要求和(sum)到载波信号的谐波信号是在上述光盘1中的第二谐波，但是可以如上所述求和除了第二谐波之外的任何适当的偶数谐波。而且，虽然如上所述仅仅在光盘1中求和了第二谐波，但是诸如第二和第四谐波的多个偶数谐波信号也可以被同时求和，如上所述。

如果正和负偶数谐波信号如上所述被求和到参考载波信号，则可以通过经由谐波信号的同步检测、和通过积分在用于调制的数据的代码长度持续时间的同步检测输出来解调用于调制的数据。

图9示出了用于从HMW调制的摆动信号解调用于调制的数据的HMW解调电路。

参见图9，HMW解调电路20包括PLL电路21、定时产生器(TG)22、乘法器23、积分器24、采样/保持(SH)电路25和限幅电路26，如图9所示。

PLL电路21被提供摆动信号(HMW调制流)。PLL电路21从输入的摆动信号检测边沿分量，以产生与参考载波信号(cos(ωt))同步的摆动时钟。如此产生的摆动时钟被发送到定时产生器22。

定时产生器22产生与输入的摆动信号同步的第二谐波信号(sin(2ωt))。定时产生器22从摆动时钟产生清除信号(CLR)和保持信号(HOLD)。清除信号(CLR)在其中最小代码长度对应于两个摆动周期的用于调制的数据的数据时钟的导入边沿的定时被产生。保持信号(HOLD)是在用于调制的数据的数据时钟的后沿的定时产生的信号。由定时产生器22产生的第二谐波信号(sin(2ωt))被提供到乘法器23。产生的清除信号(CLR)被提供到积分器24，产生的保持信号(HOLD)被提供到采样/保持电路25。

乘法器23将输入的摆动信号与第二谐波信号(sin(2ωt))相乘，以执行同步检测处理。同步检测的输出信号被提供到积分器24。

积分器24积分来自乘法器23的同步检测信号。同时，积分器24在通过定时产生器22产生清除信号(CLR)的定时将积分值清除为零。

采样/保持电路25在通过定时产生器22产生保持信号(HOLD)的定时采样积分器24的积分输出值，并且保持所述采样值直到出现下一个保持信号(HOLD)的时刻。

限幅电路26以原点(0)作为门限值而二进制编码由采样/保持电路25保持的值，并且输出所述值的代码。

限幅电路26的输出信号是解调的用于调制的数据。

图10-12示出了在HMW调制以数据序列“1010”形式的用于调制的数据中使用的信号波形、在HMW调制中产生的摆动信号和当摆动信号被输入到MSK解调电路20时从各个电路部件输出的信号波形。在图10-12中，横坐标(n)表示摆动周期的周期数。图10示出了参考载波信号(cos(ωt))、数据串“1010”形式的用于调制的数据和与用于调制的数据相关联而产生的第二谐波信号波形(±sin(2ωt)，-12dB)。图11示出了产生的摆动信号(HMW流)。图12A示出了摆动信号的同步检测输出信号(HMW×sin(2ωt))。图12B示出了同步检测的积分输出值、积分输出值的保持值和从限幅电路26解调输出的用于调制的数据。同时，从限幅电路26解调输出的用于调制的数据由于在积分器14中引起的一阶延迟而被延迟。

如果用于调制的数据如上所述被微分编码和HMW调制，则用于调制的数据可以被同步检测。

使用光盘1，HMW调制的地址数据被包括在摆动信号中，如上所述。通过HMW调制地址信息和通过将结果产生的HMW调制地址数据包括在摆动信号中，有可能限制频率分量和减少高频分量。结果是摆动信号的解调输出可以改善信噪比，以提供精确的地址检测。所述调制电路可以包括载波信号产生电路、用于产生其高频分量的电路和用于求和这些电路的输出信号的电路。因为可以降低摆动信号的高频分量，并且可以便利光盘在其注塑期间的切割。

因为HMW调制的地址信息被***到单调摆动中，因此可以消除否则可能提供到相邻轨道的串音以改善信噪比。另外，使用其中可以通过同步检测来解调HMW调制数据的当前光盘1，可以精确和容易地解调摆动信号。

1-4总结

在光盘1的本实施例中，如上所述，MSK解调***和HMW调制***被用作用于使用地址信息来调制摆动信号的***。在当前的光盘1中，在MSK解调***中使用的频率之一是与在HMW调制***中使用的载波频率相同频率的正弦波信号(cos(ωt))。另外，在相邻的调制信号之间的摆动信号中提供了仅仅由载波信号(cos(ωt))组成而不是由数据调制的单调摆动。

使用光盘1的本实施例，在MSK调制中使用的频率的信号和在HMW调制中使用的高频信号不彼此干扰，使得在相应的调制处理期间对方***的调制分量不影响各自的信号。结果，可以可靠地检测在两种调制***中记录的相应地址信息，以提供在控制例如在光盘的记录和/或再现时的轨道位置中的改善的精度。

如果以MSK调制记录的地址信息和以HMW调制记录的地址信息具有相同的数据内容，则可以更可靠地检测地址信息。

而且，在光盘1的本实施例中，在MSK解调***中使用的频率之一是与在HMW调制***中使用的载波频率相同频率的正弦信号(cos(ωt))，并且其中，在摆动信号的不同位置执行MSK解调和HMW调制，使用光盘1的本实施例，足以在调制时将谐波信号求和到在用于HMW调制的摆动位置的MSK调制摆动信号，因此能够极其简单地执行两种调制。通过在摆动信号的不同位置执行MSK解调和HMW调制，并且通过在这些不同的位置之间提供至少一个单调摆动，有可能更精确地制造盘和更可靠地解调地址。

2.对于DVR的典型应用

2-1 DVR盘的物理属性

以下说明上述地址格式对于被称为DVR(数据和视频记录)的高密度盘的典型应用。

现在说明本地址格式被应用到的DVR盘的典型物理参数。应当注意，这些物理参数仅仅是说明性的，以便随后的说明可以被应用到其它不同物理属性的光盘。

作为本实施例的DVR盘的光盘是这样的光盘，它按照相变***来执行数据记录。关于盘尺寸，直径是120毫米，盘厚度是1.2毫米。即，对于这些点，就盘的外观而言，本光盘类似于CD(致密盘)格式的盘或DVD(数字多用途盘)的盘。

用于记录和/或再现的激光波长是405nm，使得使用所谓的蓝色激光。光学***的NA是0.85。

其上记录相变标记的轨道的轨道间距是0.32微米，线密度是0.12微米。格式效率大约是82％，并且以在64kB的0表块(tablock)作为一个记录和/或再现单元。以具有12厘米直径的盘实现23.3GB的用户数据容量。

所述数据记录是凹槽记录***，如上所述。

图13示出了整个盘的布局(区域结构)。

关于在盘上的区域，从内环侧看，提供了导入区、数据区和导出区。

关于与记录和/或再现有关的区域，对应于导入区的内环区域是PB区(重放或只读区域)，而从导入区的外环侧到导出区的区域是RW区(读取/写入或记录和/或再现区域)。

导入区比24mm(毫米)的半径更靠内地被布置。在21毫米的半径和22.2毫米的半径之间的区域是BCA(短脉冲串切割区域-Burst Cutting Area)。这个BCA中，记录了适于盘形记录介质的唯一ID，它是通过烧除记录层而被获得的。通过形成同心排列的记录标记来形成条形码似的记录数据。

在半径22.2毫米和半径23.1毫米之间的区域表示预先记录区(PR)。

在所述预先记录区中，通过摆动在盘上的螺旋延伸的凹槽，预先记录了诸如记录和/或再现功率条件的盘信息和用于复制保护的信息(预先记录的信息)。

这些表示非可重写的只重放信息。即，BCA和预先记录数据区表示上述的PB区(只重放区)。

在预先记录的数据区，包括例如复制保护信息来作为预先记录信息。使用这个复制保护信息，可以进行例如下述：

在本光盘***中，提供了介质密钥或驱动密钥，指示注册的驱动设备生产商或注册的盘生产商能够进行交易，并且已经注册来进行交易。

在剽窃的情况下，相关联的驱动密钥或介质密钥被记录为复制保护信息。根据这个信息，具有介质密钥或驱动密钥的介质或驱动器可以被禁止用于记录或再现。在导入区域，在半径23.1毫米和半径24毫米之间的区域中提供了测试写入区域OPC和缺陷管理区域DMA。

所述测试写入区域OPC用于在设置记录和/或再现条件中测试写入，所述记录和/或再现条件诸如用于记录和/或再现中的激光功率、相变标记等。

所述缺陷管理区域DMA是这样的区域，其中记录和/或再现用于监督盘上的缺陷信息的信息。

在半径24.0毫米和半径58.0毫米之间的区域表示数据区。所述数据区是用于根据相变标记来记录和/或再现用户数据的区域。

在半径58.0毫米和半径58.5毫米之间的区域表示导出区。导出区可以像在导入区中那样被提供缺陷管理区域，或者可以被用作可以在寻找中超限的缓冲区域。

注意，用于记录和/或再现的终端区域含义的导出在多层盘的情况下可以在内环侧。

从半径23.1毫米、即从测试写入区域到导出区的盘区域表示RW区(记录和/或再现区域)，其中记录和/或再现相变标记。

图14示出了用于RW区和PB区的轨道的状态。具体地，图14A示出了在RW区中摆动的凹槽，图14B示出了在PB区中的预先记录区中摆动的凹槽的状态。

在RW区中，通过摆动在盘上螺旋地延伸而形成的凹槽来预先形成地址信息(ADIP)以用于寻道。

对于承载地址信息的凹槽，根据相变标记来记录和/或再现所述信息。

参见图14A，承载ADIP地址信息的在RW区中的凹槽、即凹槽轨道具有轨道间距TP＝0.32微米。

在这个轨道上通过相变标记记录了记录标记(RM)。相变标记按照RLL(17)PP调制***被记录为线密度0.12微米/比特或0.08微米/信道时钟(ch)比特(RLL：行程长度受限，PP：奇偶保留/禁止rmtr(重复的最小过渡行程长度))。

如果1个信道时钟比特是1T，则标记长度从2T到8T，最短的标记长度是2T。

关于地址信息，摆动周期是69T，摆动幅度WA是大约20nm(p-p)。

地址信息和相变标记被设计使得其频率范围不重叠，以消除对于检测的可能影响。

地址信息的摆动的记录后CNR(载波噪音比)值对于30kHz的带宽是30dB，而包括微扰(盘畸变、散焦或干扰)的地址误差率是1×10^-3或更少。

注意，在图14B中的PB区中的凹槽轨道在轨道间距上宽于在图14A的RW区中的凹槽轨道，其摆动幅度更大。

即，轨道间距TP＝0.35微米，摆动周期是36T，并且摆动幅度WA大约是40nm(p-p)。36T的摆动周期表示预先记录的信息的记录线密度大于ADIP信息的记录线密度。另一方面，因为相变标记的最短持续时间是2T，因此预先记录信息的记录线密度大于相变标记的记录线密度。

在这个PB区的轨道中，未记录相变标记。

虽然摆动波形在RW区中被记录为正弦波，但是它也可以在PB区中被记录为正弦波或矩形波。

如果相变标记对于30kHz的带宽，按照CNR是50dB级的信号质量，则可以通过向数据附加ECC(纠错码)而以公知的方式实现1×10^-16和更少的在纠错后的码元误差率，以便可以使用相变标记用于数据记录和/或再现。

对于30kHz的带宽，在相变标记的非记录状态中，用于ADIP地址信息的摆动的CNR是35dB。

关于地址信息，如果根据所谓的连续性查看或鉴别来进行内插保护，则这个信号质量足够。但是，对于在PB区中记录的预先记录信息，期望具有等同于相变标记的信号质量的按照CNR的50dB或更高的信号质量。为此，在PB区中形成与在RW区中的凹槽物理上不同的凹槽，如图14B所示。

首先，通过放大轨道间距，可以抑制来自相邻轨道的串音。通过加倍摆动幅度，可以将CNR提高+6dB。

而且，通过使用矩形波来作为摆动波形，可以将CNR提高+2dB。

因此，CNR可以总共是43dB。

相变标记的记录带宽和在预先记录数据区中的摆动的记录带宽分别是18T(36T的一半)和2T，使得可以在这个方面将CNR提高9.5dB。

因此，作为预先记录信息的CNR等同于52.5dB。如果来自相邻轨道的串音被估计为-2dB，则CNR在50.5dB的数量级上。这个信号质量基本上等同于相变标记的信号质量，因此可以安全地使用摆动信号来用于预先记录的信息的记录和/或再现。

图15示出了用于调制预先记录的信息的方法，所述预先记录的信息用于在预先记录数据区中形成摆动凹槽。

为了调制，使用FM代码。

图15(a)、15(b)、15(c)和15(d)在垂直的阵列中示出了数据比特、信道时钟、FM代码和摆动波形。

一个数据比特是2ch(2信道时钟)。当比特信息是[1]时，FM代码的频率是信道时钟频率的一半。

当比特信息是[0]时，通过作为比特信息[1]的频率一半的频率来表示FM代码。

对于摆动波形，可以通过矩形波来直接记录FM代码。或者，也可以通过正弦波来记录FM代码。

FM代码和摆动波形可以被记录为图15(e)和15(f)所示的模式，即与图15(c)和15(d)的模式相反极性的模式。

在上述的FM代码调制模式中，当数据比特流是如图15(g)所示的[10110010]时，FM代码波形和摆动波形(正弦波)分别如图15(h)和15(i)所示。

如果使用图15(e)和15(f)所示的模式，则FM代码波形和摆动波形(正弦波)如图15(j)和15(k)分别所示。

2-2数据的ECC格式

参见图16-18，说明用于相变标记和预先记录信息的ECC格式。

首先，图16示出了用于使用相变标记记录和/或再现的主数据(用户数据)的ECC格式。

存在两种纠错码(ECC)，即用于主数据64kB(＝一个扇区的2048字节×32个扇区)的LDC(长距离代码)和BIS(脉冲指示器子码)。

图16A所示的64kB的主数据如图16B所示被编码。具体地，4B的EDC(检错代码)被附加到2048B的一个扇区，并且对于32个扇区编码LDC。LDC是RS(里德-索罗蒙)代码，具有RS(248，216，33)、248的代码长度和33的距离。提供了304个代码字。

关于BIS，图16C所示的720B的数据被ECC编码，如图16D所示。BIS是RS(里德-索罗蒙)代码，具有RS(62，30，33)、62的代码长度、30的数据和33的距离。提供了24个代码字。

图18A示出了在RW区中用于主数据的帧结构。

上述的LDC和BIS的数据构成如图所示的帧结构。即，对于一个帧提供数据(38B(字节))、BIS(1B)、数据(38B)、BIS(1B)、数据(38B)、BIS(1B)和数据(38B)，以构成155B的结构。即，每个帧由38B×4＝152B数据和以38B的间隔以1B的比率被***的BIS形成。

帧同步FS(帧同步信号)被布置在155B的一个帧的导入端。在一个块中有496个帧。

关于LDC数据，偶数编号的代码字0、2、...位于偶数编号的帧0、2、...，而奇数编号的代码字1、3、...位于奇数编号的帧1、3、...。

BIS使用具有高于LDC代码的校正能力的代码，并且校正基本上所有错误。即，BIS使用具有62代码长度的距离33的代码。

因此，可以如下使用其中已经检测到错误的BIS的码元：

在ECC解码中，首先解码BIS。如果在图18A的帧结构中，BIS和与其相邻的帧同步FS都有错误，则在其间夹着的数据38B被认为有错误。对于这个38B的数据，附加了错误指针。在LDC中，这个错误指针用于进行指针消除校正。

这导致优于仅仅使用LDC的情况下的校正能力。

在BIS中包括地址信息。这个地址用于在ROM型盘中没有通过摆动凹槽的地址信息的情况。

图17示出了用于预先记录的信息的ECC格式。

在这种情况下，ECC包括用于4kB(每个由2048B构成的两个扇区)的主数据的LDC(长距离代码)和BIS(脉冲指示器子码)。

图17A所示的作为预先记录信息的4kB的数据被ECC编码，如图17B所示。即，4B的EDC(错误检测代码)被附加到2048B的主数据，并且编码两个扇区的LDC。LDC是RS(里德-索罗蒙)代码，具有RS(248，216，33)、248的代码长度、216个数据和33的距离。提供了19个代码字。

关于BIS，图17C所示的120B的数据被编码，如图17D所示。即，BIS是RS(里德-索罗蒙)代码，具有RS(62，30，33)、62的代码长度、30个数据和33的距离。提供了4个代码字。

图18B示出了用于在PB区中的预先记录信息的帧结构。

LDC和BIS的数据构成所示的帧结构。即，对于一个帧布置了帧同步FS(1B)、数据(10B)、BIS(1B)和数据(9B)，以提供21B的结构。即，一个帧由19B的数据和1B的BIS组成。

帧同步FS(帧同步信号)被布置在一个帧的导入端。在一个块中提供了248个帧。

BIS使用具有高于LDC代码的校正能力的代码，并且校正基本上所有错误。因此，可以如下使用其中已经检测到错误的BIS的码元。

在ECC解码中，首先解码BIS。如果BIS和与其相邻的帧同步FS都有错误，则在其间夹着的数据10B或9B被认为有错误。对于这个10B或9B的数据，附加了错误指针。在LDC中，这个错误指针用于进行指针消除校正。

这导致优于仅仅使用LDC的情况下的校正能力。

在BIS中包括地址信息。在预先记录的数据区，通过摆动的凹槽来记录预先记录的信息，以便没有通过摆动凹槽的地址信息，因此在这个BIS中的地址用于访问。

可以从图16和17看出，就ECC格式而言，通过相变标记和预先记录信息的数据使用相同的代码和相同的结构。

这意味着可以在电路中执行预先记录信息的ECC解码的处理，以便可以在效率上改善作为盘驱动装置的硬件结构，其中所述电路负责在通过相变标记再现数据时进行ECC解码。

2-3地址格式

2-3-1用于记录和/或再现的数据和地址之间的关系

在DVR盘的本实施例中的记录和/或再现单元是由156个码元×496个帧的ECC块组成的总共498个帧的记录和/或再现簇、以及用于附加到所述簇的每侧的PLL的一个帧的链接区域，如图18所示。这个记录和/或再现簇被称为RUB(记录单元块)。

使用光盘1的本实施例的地址格式，一个RUB(498个帧)由被记录为摆动的三个地址单元(ADIP_1、ADIP_2和ADIP_3)管理。即，对于这三个地址单元记录一个RUB。

在这个地址格式中，一个地址单元由8比特的同步部分和75比特的数据部分形成，总共83个比特。在本地址格式中，在预置凹槽中记录的摆动信号的参考载波信号是cos(ωt)，并且摆动信号的一个比特由这个参考载波信号的56个周期形成，如图19B所示。因此，参考载波信号的一个周期(一个摆动周期)的长度是相变的一个信道长度的69倍。形成一个比特的参考载波信号的56个周期被称为比特块。

2-3-2同步部分

图20示出了地址单元中的同步部分的比特结构。用于识别地址单元的导入端的同步部分由第一到第四同步块(同步块“1”、同步块“2”、同步块“3”、同步块“4”)组成。每个同步块由两个比特块、即单调比特和同步比特形成。

参见示出了单调比特的信号波形的图21A，由56个摆动组成的比特块的第一到第三摆动表示比特同步标记BM，跟随比特同步标记BM的第四到第56个摆动是单调摆动(参考载波信号(cos(ωt))的信号波形)。

比特同步标记BM是通过用于识别比特块的导入端的预置代码模式的用于调制的数据的MSK调制而产生的信号波形。即，这个比特同步标记BM是通过下述方式获得的信号波形：微分编码预置代码模式的用于调制的数据，并且根据微分编码数据的代码来分配频率。同时，用于调制的数据的最小代码长度L对应于两个摆动周期。在本实施例中，通过MSK调制具有被设置为“1”的一个比特(两个摆动周期)的用于调制的数据而获得的信号波形被记录为比特同步标记BM。即，比特同步标记BM是按照作为单位的摆动周期的连续信号波形“cos(1.5ωt)、-cos(ωt)、-cos(1.5ωt)”。

因此，可以通过下述方式来产生单调比特：产生具有两个摆动周期的代码长度的用于调制的数据“10000...00”，并且MSK调制所产生的用于调制的数据，如图21B所示。

注意，比特同步标记BM不仅作为单调比特被***在同步部分中，而且被***在现在说明的所有比特块的每个的导入端。因此，在记录和/或再现期间，这个比特同步标记BM可以被检测，以同步摆动信号中的比特块，即56个摆动周期。另外，可以使用比特同步标记BM来作为用于指定在现在说明的多个调制信号的每个的比特块中的***位置的参考。

在由56个摆动组成的第一同步块的同步比特(同步“0”比特)的信号波形中，所述比特块的第一到第三摆动表示比特同步标记BM，而第17到第19和第27到第29个摆动表示MSK调制标记MM，剩余的摆动全部是在信号波形中的单调摆动，如图22A所示。

在由56个摆动组成的第二同步块的同步比特(同步“1”比特)的信号波形中，所述比特块的第一到第三摆动表示比特同步标记BM，而第19到第21和第29到第31个摆动表示MSK调制标记MM，剩余的摆动全部是在信号波形中的单调摆动，如图23A所示。

在由56个摆动组成的第三同步块的同步比特(同步“2”比特)的信号波形中，所述比特块的第一到第三摆动表示比特同步标记BM，而第21到第23和第31到第33个摆动表示MSK调制标记MM，剩余的摆动全部是在信号波形中的单调摆动，如图24A所示。

在由56个摆动组成的第四同步块的同步比特(同步“3”比特)的信号波形中，所述比特块的第一到第三摆动表示比特同步标记BM，而第23到第25和第33到第35个摆动表示MSK调制标记MM，剩余的摆动全部是在信号波形中的单调摆动，如图25A所示。

类似于比特同步标记BM，MSK同步标记是通过MSK调制预置代码模式的用于调制的数据而产生的信号波形。即，MSK同步标记是通过下述方式获得的信号波形：微分编码预置代码模式的用于调制的数据，并且根据微分编码数据的符号来分配频率。同时，用于调制的数据的最小代码长度L对应于两个摆动周期。在本实施例中，通过MSK调制具有被设置为“1”的一个比特(两个摆动周期)的用于调制的数据而获得的信号波形被记录为MSK同步标记。即，MSK同步标记是按照作为单位的摆动周期的连续信号波形“cos(1.5ωt)、-cos(ωt)、-cos(1.5ωt)”。

因此，通过下述方式来产生第一同步块的同步比特(同步“0”比特)：产生如图22B所示的具有两个摆动周期的代码长度的数据流，并且MSK调制如此产生的比特流。以类似的方式，可以通过产生图23B、24B和25B所示的数据流和通过分别MSK调制所产生的数据流来产生第二同步块的同步比特(同步“1”比特)、第三同步块的同步比特(同步“2”比特)、第四同步块的同步比特(同步“3”比特)。

同时，给定的同步比特具有向比特块***两个MSK调制标记MM的模式，它相对于向所述比特块***MSK调制标记MM的其它模式是唯一的。因此，通过在记录和/或再现期间MSK解调摆动信号、验证向比特块中***MSK调制标记MM的模式、和通过识别四个同步块的至少一个，可以同步地址单元以解调和解码数据部分，现在将详细说明这一点。

2-3-3数据部分

图26示出了地址单元中的数据部分的结构。所述数据部分是其中存储地址信息的实际数据的地址单元的一部分。所述数据部分由15个、即第一到第15个ADIP块组成(ADIP块“1”到ADIP块“15”)。每个ADIP块由一个单调比特和四个ADIP比特组成。

单调比特的信号波形类似于图21所示的信号波形。

ADIP比特表示实际数据的一个比特，信号波形随着代码内容而改变。

如果由ADIP比特表示的代码内容是“1”，则由56个摆动组成的所述比特块的第1到第3摆动、第13到第15摆动和第19到第55摆动变为比特同步标记BM、MSK调制标记MM和对应于被求和到参考载波信号(cos(ωt))的sin(2ωt)的HMW“1”的调制部分，并且剩余摆动的波形全部是单调摆动，如图27A所示。即，可以通过下述方式来产生表示代码内容“1”的ADIP比特：产生如图27B所示的具有对应于两个摆动周期的代码长度的用于调制的数据“100000100......00”，MSK调制用于调制的数据，将具有-12dB的幅度的sin(2ωt)求和到如图27C所示的MSK调制信号波形的第19到第55摆动。

如果由ADIP比特表示的代码内容是“0”，则由56个摆动组成的比特块的第1到第3摆动、第15到第17摆动和第19到第55摆动变为比特同步标记BM、MSK调制标记MM和对应于被求和到参考载波信号(cos(ωt))的-sin(2ωt)的HMW“0”的调制部分，并且剩余摆动的波形全部是单调摆动，如图28A所示。即，可以通过下述方式来产生表示代码内容“0”的ADIP比特：产生如图28B所示的具有对应于两个摆动周期的代码长度的用于调制的数据“1000000100......00”，MSK调制用于调制的数据，将具有-12dB的幅度的-sin(2ωt)求和到如图28C所示的MSK调制信号波形的第19到第55摆动。

ADIP比特的比特内容根据MSK调制标记MM的***位置被微分，如上所述。即，ADIP比特分别根据MSK调制标记MM是否被***第13到第15摆动或第15到17摆动来表示比特“1”或比特“0”。而且，使用ADIP比特，与由MSK调制标记MM的***位置表示的内容相同的比特内容通过HMW调制被表示。因此，使用ADIP比特，通过两种不同的调制***来表示相同的比特内容，因此可以可靠地解码数据。

图29示出了通过组合同步部分和数据部分而表示的地址单元的格式，如上所述。

在光盘1的本实施例的地址格式中，比特同步标记BM、MSK调制标记MM和HMW调制部分被离散地布置在一个地址单元中，如图29所示。在相应的调制信号部分之间，***了单调摆动的至少一个摆动周期。结果是在相应的调制信号之间没有干扰，因此获得了相应信号的可靠解调。

2-3-4地址数据的内容

图30示出了作为如上所述被记录的ADIP信息的地址格式。

ADIP地址信息具有36个比特，它们被附加了24个奇偶检验比特。

36比特的ADIP地址信息由下述组成：用于多层记录的3个比特(层编号比特0到层编号比特2)；用于RUB(记录单元块)的19个比特(RUB编号比特0到RUB编号比特18)；用于一个RUB的三个地址块的2个比特(地址编号比特0到地址编号比特1)。

另外，12个比特被提供作为诸如盘ID的AUX数据和记录诸如用于记录和/或再现的激光功率的记录条件。

作为地址数据的ECC单元由总共60个比特组成，并且由15个半字节(nibble))、即Nibble0到Nibble14形成，其中一个半字节由四个比特组成。

纠错***是基于半字节的里德-索罗蒙代码(15，9，7)，以四个比特作为一个码元。即，代码长度是15个半字节，数据是9个半字节，奇偶检验是6个半字节。

2-4地址解调电路

以下说明用于从上述地址格式的DVR盘解调地址信息的地址解调电路。

图31示出了地址解调电路的方框图。

地址解调电路包括PLL电路31、用于MSK的定时产生器32、用于MSK的乘法器33、用于MSK的积分器34、用于MSK的采样/保持电路35、用于MSK的限幅电路36、同步解码器37、用于MSK的地址解码器38、用于HMW的定时产生器42、用于HMW的乘法器43、用于HMW的积分器44、用于HMW的采样/保持电路45、用于HMW的限幅电路46和用于HMW的地址解码器47，如图31所示。

PLL电路31被提供从DVR盘再现的摆动信号。PLL电路31从输入的摆动信号检测边沿分量，以产生与参考载波信号(cos(ωt))同步的摆动时钟。所产生的摆动时钟被提供到用于MSK的定时产生器32和用于HMW的定时产生器42。

用于MSK的定时产生器32产生与输入的摆动信号同步的参考载波信号(cos(ωt))。用于MSK的定时产生器32也从摆动时钟产生清除信号(CLR)和保持信号(HOLD)。在从具有作为最小代码长度的两个摆动周期的用于调制的数据的数据时钟的导入边沿被延迟半个摆动周期的定时产生清除信号(CLR)。在从用于调制的数据的数据时钟的后沿被延迟半个摆动周期的定时产生保持信号(HOLD)。由用于MSK的定时产生器32产生的参考载波信号(cos(ωt))被提供到用于MSK的乘法器33。所产生的清除信号(CLR)被提供到用于MSK的积分器34。所产生的保持信号(HOLD)被提供到用于MSK的采样/保持电路35。

用于MSK的乘法器33将输入的摆动信号与参考载波信号(cos(ωt))相乘以执行同步检测处理。所同步检测的输出信号被发送到用于MSK的积分器34。

用于MSK的积分器34积分由用于MSK的乘法器33同步检测的信号。用于MSK的积分器34在通过用于MSK的定时产生器32产生清除信号(CLR)的定时将积分值清除为0。

用于MSK的采样/保持电路35在通过用于MSK的定时产生器32产生保持信号(HOLD)的定时采样用于MSK的积分器34的积分输出值，并且保持采样值直到产生下一个保持信号(HOLD)。

用于MSK的限幅电路36以原点(0)为门限值而二进制编码由用于MSK的采样/保持电路35保持的值，并且反转所述二进制信号的符号以输出结果产生的信号。

来自这个用于MSK的限幅电路36的输出信号变为MSK解调的数据流。

同步解码器37从自用于MSK的限幅电路36输出的解调数据的比特模式中检测同步部分中的同步比特。同步解码器37同步来自所检测的比特的地址单元。根据地址单元的同步定时，同步解码器37产生：MSK检测窗口，用于指示数据部分的ADIP比特中的MSK调制数据的摆动位置；和HMW检测窗口，用于指示数据部分的ADIP比特中的HMW调制数据的摆动位置。图32A、32B和32C分别示出了从同步比特检测的地址单元的同步位置定时、MSK检测窗口的定时和HMW检测窗口的定时。

同步解码器37分别向用于MSK的地址解码器38和用于HMW的定时产生器42提供MSK检测窗口和HMW检测窗口。

用于MSK的地址解码器38被提供从用于MSK的限幅电路36输出的解调流，并且根据MSK检测窗口来检测在解调的数据流的ADIP比特中的MSK调制标记MM的***位置，以验证由ADIP比特表示的代码的内容。如果在ADIP比特中的MSK调制标记MM的***模式是图27所示的模式，则用于MSK的地址解码器38验证代码内容为“1”，而如果在ADIP比特中的MSK调制标记MM的***模式是图28所示的模式，则用于MSK的地址解码器38验证代码内容为“0”。用于MSK的地址解码器输出从验证结果获得的比特序列来作为MSK地址信息。

从摆动时钟，用于HMW的定时产生器42产生与输入的摆动信号同步的第二谐波信号(sin(2ωt))。从HMW检测窗口，用于HMW的定时产生器42产生清除信号(CLR)和保持信号(HOLD)。清除信号(CLR)被产生在HMW检测窗口的导入边沿的定时。保持信号(HOLD)被产生在HMW检测窗口的后沿的定时。由用于HMW的定时产生器42产生的第二谐波信号(sin(2ωt))被提供到用于HMW的乘法器43。所产生的清除信号(CLR)被提供到用于HMW的乘法器43，而所产生的保持信号(HOLD)被提供到用于HMW的采样/保持电路45。

用于HMW的乘法器43将输入的摆动信号与第二谐波信号(sin(2ωt))相乘以执行同步检测处理。同步检测的输出信号被提供到用于HMW的积分器44。

用于HMW的积分器44积分由用于HMW的乘法器43同步检测的信号。同时，这个用于HMW的积分器44在通过用于HMW的定时产生器42产生清除信号(CLR)的定时将积分值清除为零。

用于HMW的采样/保持电路45在通过用于HMW的定时产生器42产生保持信号(HOLD)的定时采样用于HMW的积分器44的积分输出值，并且保持采样值直到产生下一个保持信号(HOLD)。即，在一个比特块中有HMW调制数据的37个摆动，使得，如果如图32D所示在n＝0-其中n表示摆动的数量-产生清除信号(HOLD)，则用于HMW的采样/保持电路45在n＝36采样积分值，如图32E所示。

用于HMW的限幅电路46以原点(0)为门限值而二进制编码由用于HMW的采样/保持电路45保持的值，并且输出用于所述值的代码。

从这个用于HMW的限幅电路46输出的信号变为解调的数据流。

从解调的数据流，用于HMW的地址解码器47验证由相应的ADIP比特表示的代码的内容，并且输出从验证结果获得的比特序列来作为HMW地址信息。

图33表示当具有代码内容“1”的ADIP比特被地址解调电路30进行HMW调制时的每个信号波形。在图33中，横坐标(n)表示摆动周期的周期数。图33A示出了参考载波信号(cos(ωt))、具有代码内容“1”的用于调制的数据和响应于用于调制的数据而产生的第二谐波信号(sin(2ωt)，-12dB)。图33B示出了所产生的摆动信号。图33C示出了用于这个摆动信号的同步检测输出信号(HMW×sin(2ωt))、同步检测输出信号的积分输出值、积分输出的保持值和从限幅电路46解调输出的用于调制的数据。

图34示出了通过由地址解调电路30HMW解调具有代码内容“0”的ADIP比特而获得的每个信号波形。在图34中，横坐标(n)表示摆动周期的周期数。图34A示出了参考载波信号(cos(ωt))、具有代码内容“1”的用于调制的数据和响应于用于调制的数据而产生的第二谐波信号波形(-sin(2ωt)，-12dB)。图34B示出了所产生的摆动信号。图34C示出了这个摆动信号的同步检测输出信号(HMW×sin(2ωt))、同步检测输出信号的积分输出值、这个积分输出的保持值和从限幅电路46解调输出的用于调制的数据。

以这种方式，地址解调电路30能够检测使用MSK调制记录的地址单元的同步信息，并且根据检测定时来执行MSK解调和HMW解调。

3.单层/双层/n层盘

3-1层结构

上述实施例的DVR光盘1可以被分类为具有单个记录层的单层盘和双层或三层盘，双层或三层盘被总称为多层盘或n层盘，其中n表示层的数量。

当然，可以通过提供大量的记录层来大幅度地提高记录容量。在本实施例中，实现了这样的多层盘，它作为这样的多层盘的优选结构可以保证与层的相应数量相关联的相应盘种类的兼容性、可访问性和可靠性。

图35A-35C示意地示出了单层、双层和n层盘的分层结构。图35D示出了与相应盘的相应记录层一致的层地址。

盘厚度是1.2毫米，聚碳酸脂的基底RL的厚度是大约1.1毫米。

来自用于在光盘1上记录和/或再现数据的盘驱动装置的光束被以虚线示出。所述光束是具有405nm的波形的蓝色激光，并且通过具有0.85NA的物镜从如图所示的覆盖层(基底)的CVL侧被获得。

在图35A的单层盘的情况下，在具有例如1.1毫米厚度的基底RL上形成相变记录层的记录层L0，并且在其上形成厚度100微米的覆盖CVL。

在记录和/或再现期间，光束从覆盖层CVL侧被聚焦在记录层L0上。

记录层L0的层地址是[0]。

在图35B的双层盘的情况下，在1.1毫米的基底RL上形成作为相变记录层的记录层L0，其中在其上形成作为第二相变记录层的记录层L1，其间有25微米的中间层ML。在其上形成厚度75微米的覆盖层CVL。

在记录和/或再现期间，从覆盖层CVL侧向记录层L0和L1聚焦光束。

第一记录层L0的层地址是[0]，而第二记录层L1的层地址是[1]。以层地址[0]和层地址[1]的顺序来执行记录和/或再现。

如在单层盘的情况中那样，在距离覆盖层CVL的表面CVL100微米的位置形成第一记录层L0。

在图35C的n层盘的情况下，在厚度1.1毫米的基底RL上形成相变记录膜的记录层L0，并且在其上形成第二相变记录膜的记录层L1，其间有厚度为25微米的中间层ML。第三记录层ff也被形成为相变记录膜的记录层，其间有相应的中间层ML。即，第n层被形成为相变记录膜的记录层，其间有中间层ML。

覆盖层CVL的厚度是100-(n-1)×25微米。

在记录和/或再现期间，从覆盖层CVL侧向记录层L0、L1、...、Ln聚焦光束。

第一记录层的层地址是[0]，第二记录层L1的层地址是[1]，等等，第n记录层的层地址是[n-1]。对于相应的记录层的记录和/或再现以层地址[0]、[1]、...[n-1]的顺序进行。

像在单层和双层盘的情况中那样，在与覆盖层CVL的表面CVL距离100微米的位置形成第一记录层L0。

因此，在单层、双层和n层盘中，在与覆盖层CVL的表面CVL距离100微米处形成第一相变记录膜的记录层L0。在多层盘中，第二到第n相变记录膜的记录层L1、L2、...、L(n-1)被布置得比第一记录层L0更靠近覆盖层表面CVL。

因此，在单层、双层和n层盘中，可以以类似的方式在聚碳酸脂基底RL上形成第一记录层L0，以便单层的制造处理可以部分地共同用于双层和n层盘的制造处理，而单层、双层和n层盘的第一记录层L0可以具有类似的记录和/或再现特性。

而且，在多层盘中，第二记录层ff、即记录层(L1、...L(n-1))可以被布置在更靠近覆盖层表面CVL，以便从第2到第n记录层到覆盖层表面的距离变得逐渐地更短，即覆盖层厚度以这个顺序逐渐地变得更薄。这提高了在盘和光束之间的倾角容限。

与第一记录层L0相比较，第2到第n记录层的记录和/或再现特性可以放松，因此改善了生产能力和降低了作为多层盘的盘1的成本。

在记录和/或再现多层盘的第一到第n记录层中，光束被聚焦在相应的记录层上，并且因为从覆盖层表面CVL到各个记录层的不同距离，从一个记录层到下一个记录层校正了球面象差。

在单层、双层和n层盘中，第一记录层L0无例外地被形成在与覆盖层表面CVL 100微米距离处。因此，通过在光学头中校正对第一记录层L0的球面象差，在盘驱动装置上安装盘之前或期间，光束可以最佳地被会聚在具有层地址[0]的第一记录层L0上，而不依赖于已经装入了单层盘、双层盘或n层盘的哪个，使得可以在层地址[0]开始记录和/或再现。

随后，结合盘驱动装置的处理而详细地说明这些操作。

虽然如上所述各个记录层的记录膜是相变膜，但是上述的层结构和从其产生的有价值效果可以类似地被应用到在盘上记录和/或再现数据的其它种类。

3-2盘布局

以下说明单层盘、双层盘和n层盘的盘布局。

图36示出了按照单层盘的盘布局的沿着盘径向的区域结构。同时，参照图13(也参见图37和38)来说明导入区、数据区和导出区的排列(径向位置)与PB区和RW区的排列(径向位置)。

也如图13所示，从内环侧看，导入区由BCA、预先记录区PR和OPC/DMA(测试写入区域和缺陷管理区域)组成。

在BCA中，按照通过相变标记的记录***或以高输出激光来烧除记录层的记录***来在径向上记录关于条形码的信号。这在每个盘上记录了唯一ID。这个唯一盘ID允许监督复制到盘1的内容。

也如上所述，预先记录数据区PR中通过摆动凹槽预先记录了诸如记录和/或再现功率条件的盘信息和用于复制保护的信息。

OPC/DMA(测试写入区域)的OPC用于设置用于相变标记的记录和/或再现的条件—诸如记录和/或再现功率—或用于复制保护的信息。

DMA(缺陷管理区域)记录和/或再现用于监督缺陷信息的信息。

数据区是用于记录和/或再现用户数据的区域。

在数据区中，在用于记录和/或再现用户数据的数据区域的前部或后部设置了ISA(内部备用区域)和OSA(外部备用区域)来作为替换区域，用于在例如使用个人计算机中遇到不可记录或不可再现的区域的情况下，替换由例如缺陷引起的这样的不可记录或不可再现的区域。注意，在以高传送速率的实时记录中，可以有时不设置这样的替换区域。

虽然未示出，但是像在导入区域中那样，在导出区中存在用于记录和/或再现缺陷管理信息的DMA。

在寻找期间，也使用导出区来作为缓冲区域，以允许超限(overrun)。

在这样的一层盘中，从内环向外环依序记录地址，以便在从内环向外环的方向通过盘驱动装置执行记录和/或再现。

图37示出了双层盘的实施例。

在双层盘中，第一记录层L0具有类似于图36所示的单层盘的盘布局。同时，对应于导出的盘部分在记录和/或再现的终端部分的意义上不证明导出，因此是外部区域0。

在双层盘中，从外环向内环看，通过外部区1、数据区和导出区来依序形成第二层L1。

在这种情况下，导出位于24毫米半径的位置的内部。在半径21毫米到22.2毫米、22.2毫米到23.1毫米、23.1毫米到24毫米的区域中，分别提供了BCA(阴影部分)、预先记录数据区和OPC/DMA。在半径24到58毫米的区域和在58毫米到58.5毫米的区域中，分别提供了数据区和外部区1。

在这种情况下，提供了对应于在第二层L1上的BCA的区域，但是未记录唯一ID。

原因是，当按照以高输出激光烧除记录层的记录***、在径向上在第一记录层L0上记录关于条形码的信号时，沿着厚度方向与第一记录层L0的BCA相互对准地(in register)排列的在第二层L1(阴影部分)上的BCA被损坏，使得如果诸如唯一ID的BCA信息被新记录在第二层L1上，则可能不能实现可靠地记录。相反地说，通过不在第二层L1上执行BCA记录来在可靠性上改善第一记录层L0的BCA。

另一方面，相同的信息被记录在预先记录数据区PR的第一层L0和第二层L1中，以便改善管理信息的可靠性和层到层的可访问性。

在数据区中，像在单层盘的情况中那样，内环上的ISA0和ISA1和外环上的OSA0、OSA1被设置在数据区的第一层L0和第二层L1中，来作为替换区域(扇区或簇)以作为对由于例如缺陷而不能被记录或再现的区域(扇区或簇)的替换。在高传输速率的实时记录中，像在视频记录和/或再现中那样，可以有时不设置这样的替换区域。

在外部区1中，存在缺陷管理区域，用于记录和/或再现缺陷管理信息。

在内环和外环侧上的DMA中记录的缺陷管理信息记录用于所有层的管理信息。

所述外部区也在寻找期间被用作缓冲区域以允许超限。

在双层盘中，从内环向外环依序记录第一记录层L0的地址，以便在从内环向外环的方向执行记录和/或再现。

在第二记录层L1中，从外环向内环依序记录第二记录层L1的地址，以便在从外环向内环的方向执行记录和/或再现。

在第一记录层L0中，从内环向外环执行记录和/或再现，而在第二记录层L1中，从外环向内环执行记录和/或再现，以便当记录和/或再现靠近第一记录层L0的外环时，从第二记录层L1的外环连续执行记录和/或再现。

即，不要求从外环向内环的全面寻找，以便可以从记录层L0向第二记录层L1连续执行记录和/或再现，因此可以延长时间地执行诸如视频记录和/或再现的高传送速率的实时记录。

图38示出了用于n层盘—在此为具有三层或更多层的盘—的盘布局的实施例。

在n层盘中，如果对应于单层盘的导出区的区是外部区0，则第一记录层L0与单层盘或双层盘具有相同的盘布局。

第二记录层L1具有与双层盘的第二记录层L1类似的盘布局。注意，作为在双层盘的第二记录层L1中的内环侧的导出区对于具有三层或更多层的盘不是记录和/或再现的终端，因此是内部区1。

第n个记录层Ln-1具有类似于第二记录层L1的盘布局。对于第n记录层Ln-1，因为对第二记录层L1提出的相同原因，而不进行BCA的记录。

关于预先记录数据区PR，对于第一层L0、第二层L1、...、第n记录层Ln-1记录相同的信息，用于改善管理信息的可靠性和用于提高层到层的可访问性。

在数据区中，像在单层盘的情况那样，在数据区的第一层L0、第二层L1、...、第n层Ln-1中设置内环上的ISA0、ISA1、...、ISA(n-1)和外环上的OSA0、OSA1、...、OSA(n-1)来作为替换区域(扇区或簇)，以作为对由于例如缺陷而不能被记录或再现的区域(扇区或簇)的替换。在高传输率的实时记录中，像在视频记录和/或再现中那样，可以有时不设置这样的替换区域。

在第n层的导出区中，存在DMA，用于记录和/或再现缺陷管理信息。

在内环和外环侧上的DMA中记录的缺陷管理信息以及用于所有层的管理信息被记录。

通过在第一到第n记录层的DMA之一中记录第一到第n记录层的缺陷管理信息，可以一元地处理所有层的缺陷管理信息。

而且，通过借助于在例如第一记录层的内环和外环上的DMA而执行缺陷管理，并且通过在通过第一层DMA的记录和/或再现失败的情况下传送第二记录层的缺陷管理信息，有可能以高可靠性来实现盘管理。

如果第n层的编号[n]是奇数，则第n层的内环侧是内部区，并且外环侧是导出区。

在这种情况下，从内环向外环依序记录第n层Ln-1的地址，以便记录从内环向外环进行。

如果第n层的编号[n]是偶数，则第n层的内环侧是导出区，并且外环侧是外部区。

在这种情况下，从外环向内环依序记录第n层Ln-1的地址，以便记录从外环向内环进行。

在记录和/或再现以这种方式进行的情况下，如上所述，像在双层盘的情况下那样，不要求从外环向内环的全面寻找，以便可以从第一层L0的内环向其外环、从第二层L1的外环向其内环...从第n层Ln-1的内环(对于n＝奇数)或第n层Ln-1的外环(对于n＝偶数)向第n层Ln-1的外环(对于n＝奇数)或内环(对于n＝偶数)依序执行记录和/或再现，以便可以延长时间地执行诸如视频记录和/或再现之类的以高传送率的实时记录。

图39示出了在盘的每个记录层中的凹槽轨道的螺旋方向。

在单层盘的情况下，从光束入射侧(覆盖层CVL侧)看，如图39A所示，以逆时针方向从内环向外环螺旋地形成凹槽轨道。

在双层盘的情况下，像在单层盘的情况下那样，如图39A所示，以逆时针方向从内环向外环螺旋地形成凹槽轨道。

对于第二记录层L1，从光束入射侧(覆盖层CVL侧)看，如图39B所示，以逆时针方向从外环向内环螺旋地形成凹槽轨道。

在n层盘的情况下，在奇数编号的记录层(第一层L0、第三层L2、...)，像在单层盘的情况中那样，从光束入射侧看，如图39A所示，以逆时针方向从内环向外环螺旋地形成凹槽轨道。

在偶数编号的记录层(第二层L1、第四层L3、...)，从光束入射侧看，如图39B所示，以逆时针方向从外环向内环螺旋地形成凹槽轨道。

通过上述的凹槽轨道结构，单层盘、双层盘和n层盘的全部相变记录层的记录层以逆时针方向螺旋地被记录，并且以相同的盘旋转方向被记录和/或再现。

在双层盘和在n层盘中，可以从第一层L0的内环向其外环、从第二层L1的外环向其内环...从第n层Ln-1的内环(对于n＝奇数)或第n层Ln-1的外环(对于n＝偶数)向第n层Ln-1的外环(对于n＝奇数)或内环(对于n＝偶数)实现记录和/或再现，以便可以延长时间地执行诸如视频记录和/或再现之类的以高传送率的实时记录。

如果考虑单独的记录层，则可以在或从下述盘记录和/或再现23.3GB数量级的容量：所述盘具有直径12cm，具有轨道间距0.32微米，线密度0.12微米/比特，以64kB的数据块作为记录和/或再现单元，具有大约82％的格式化效率，如上所述。

在这种情况下，数据区具有355603个簇。

如图30所示，通过三比特的层地址和19比特的层内地址(RUB地址)来表示地址。

如果在一个簇中布置了两比特的地址，则在数据区中的奇数编号的记录层的19比特层内地址分别是在24毫米径向位置和在58毫米径向位置的020000h和17b44ch，其中h表示十六进制记数法。

在偶数编号的记录层中的19比特层内地址是奇数编号记录层的地址的互补。

在数据区中的19比特层内地址分别是在58毫米径向位置和在24毫米径向位置的084bb3h和1dffffh。

即，对于奇数记录层从内环向外环计数地址，而对于偶数记录层从外环向内环计数。通过以奇数编号的记录层的地址的互补来用作偶数编号的记录层的地址，可以通过一个层的层内地址的比特的数量来表达所述层内地址。另一方面，也可以知道在奇数记录层和偶数记录层之间相对于地址的径向位置关系。

4.盘驱动装置

4-1结构

以下说明能够记录和/或再现作为如上所述的单层盘和多层盘的盘1的盘驱动装置。

图40示出了盘驱动装置的结构。

盘1被安装在未示出的转台上，并且在记录和/或再现期间通过主轴马达52以不变的线速度(CLV)旋转。

通过光学拾取器(光学头)51来读出在盘1上的RW区中被埋藏为凹槽轨道的摆动的ADIP信息。也以类似的方式读出在PB区中被埋藏为凹槽轨道的摆动的预先记录的信息。

在记录中，用户数据被光学拾取器51记录为在RW区的轨道中的相变标记。在重放中，读出通过光学拾取器51记录的相变标记。

在光学拾取器51中，形成了作为激光源的激光二极管、用于检测反射光的光电检测器、作为激光的输出端的物镜和未示出的光学***，所述光学***用于将激光通过物镜照射到盘记录表面并且将反射光引导到光电检测器。

激光二极管输出具有405nm的波长的所谓蓝色激光。光学***的NA是0.85。

在光学拾取器51中，通过用于在寻道方向和在聚焦方向运动的双轴单元来固定物镜。

整个光学拾取器51通过滑板机构53沿着盘半径方向可移动。

在光学拾取器51中的激光二极管通过来自激光驱动器63的驱动信号(驱动电流)而发出激光。

在光学拾取器51内，也提供了如下所述的机构，用于校正激光的球面象差。在***控制器60的控制下校正球面象差。

关于来自盘1的反射光的信息被光电检测器检测，并且作为对应于所接收的光量的电信号而被发送到矩阵电路54。

矩阵电路54包括电流到电压转换器、矩阵运算/放大器电路等，用于来自作为光电检测器操作的多个光接收元件的输出电流，并且通过矩阵运算处理来产生必要的信号。

例如，等同于重放数据的高频信号(重放数据信号)以及用于伺服控制的聚焦和寻道误差信号被产生。

另外，推挽信号被产生来作为与凹槽摆动相关联的信号，即用于检测摆动的信号。

从矩阵电路54输出的重放数据信号被发送到读取/写入电路55，而聚焦和寻道误差信号被发送到伺服电路61，并且推挽信号被发送到摆动电路58。

读取/写入电路55二进制编码重放数据信号，并且通过PLL产生重放时钟。所述读取/写入电路也再现被读出作为相变标记的数据，以将如此产生的数据发送到调制解调器56。

调制解调器56包括作为用于重放的解码器的功能子部分和作为用于记录的编码器的功能子部分。

在重放中，通过解码处理、根据重放时钟而解调行程长度受限代码。

在记录中，ECC编码器/解码器57执行用于附加纠错代码的ECC编码处理。在重放中，ECC编码器/解码器执行用于纠错的ECC解码处理。

在重放中，通过调制解调器56解调的数据被内部存储器捕获，并且进行检错/纠错处理和去交织，以产生重放数据。

被ECC编码器/解码器57解码为重放数据的数据在***控制器60的控制下被读出，并且被传送到AV(音频/可视)***120。

作为与凹槽摆动相关联的信号、从矩阵电路54输出的推挽信号在摆动电路58中被处理。作为ADIP信息的推挽信号被摆动电路58进行MSK和HMW解调，并且被解调为形成被提供到地址解码器59的ADIP地址的数据流。

地址解码器59解码被提供的数据，以获得被提供到***控制器60的地址值。

地址解码器59通过使用从摆动电路58提供的摆动信号进行PLL处理而产生时钟，以向作为用于记录的编码时钟的相关部件发送如此产生的时钟。

摆动电路58和地址解码器59被例如如图31所示配置。

作为与凹槽摆动相关联的信号、作为来自矩阵电路54的推挽信号、和作为来自PB区的预先记录信息的推挽信号被摆动电路58带通滤波，由此被提供到读取/写入电路55。像相变标记一样，所述信号被二进制编码。二进制编码的信号被ECC编码器/解码器57ECC编码和去交织，以便作为预先记录的信息的数据被提取和提供到***控制器60。

***控制器60对于如此读出的预先记录信息执行各种设置和复制保护操作。

在记录期间，记录数据被从AV***120提供和被发送到以及缓冲在ECC编码器/解码器57中的存储器中。

在这种情况下，ECC编码器/解码器57通过对所缓冲的记录数据进行编码处理而在执行交织的同时附加纠错代码或子码。

ECC编码的数据被调制解调器56按照RLL(1-7)PP***调制，并由此被提供到读出/写入电路55。

在记录期间，从摆动信号产生的时钟被用作编码时钟，编码时钟被用作用于编码的参考时钟。

通过编码处理产生的记录数据按照记录层的特性、激光的点形状、关于记录线速度的最佳记录功率的细调或激光驱动脉冲形状，在读取/写入电路55中被调整，并且作为激光驱动脉冲被发送到激光驱动器63。

被提供到激光驱动器63的激光驱动脉冲被提供到用于激光发射的光学拾取器51中的激光二极管。这在盘1上形成了对应于记录数据(相变标记)的凹坑。

激光驱动器63包括所谓的APC(自动功率控制)电路，并且管理控制，以便当通过在光学拾取器51中提供的激光功率监控器的输出来监控激光输出功率时，激光输出将与温度无关地保持不变。在记录和/或再现期间的激光输出的目标值被从***控制器60提供，以便在记录和/或再现期间，进行控制以便激光输出电平处于目标值。

伺服电路61从来自矩阵电路54的聚焦和寻道误差信号产生各种伺服驱动信号，诸如聚焦、寻道和滑板(sled)信号，以允许执行伺服操作。

即，伺服电路61响应于聚焦和寻道误差信号而产生聚焦驱动信号和寻道驱动信号，用于将聚焦和寻道线圈驱动到光学拾取器51中的双轴机构。这通过光学拾取器51、矩阵电路54、伺服电路61和双轴机构而形成了寻道伺服环和聚焦伺服环。

伺服电路61响应于来自***控制器60的轨道跳跃命令而将寻道伺服环关闭，并且输出跳跃驱动信号以执行轨道跳跃。

伺服电路61在根据来自***控制器60的访问控制而产生滑板驱动信号的同时，根据被获得作为寻道误差信号的低频分量的滑板误差信号而产生滑板驱动信号，以驱动滑板机构53。滑板机构53包括用于固定光学拾取器51的主轴、滑板马达或传动齿轮***，并且响应于滑板驱动信号而驱动滑板马达，以实现光学拾取器51的所需要的滑动。

主轴伺服电路62管理控制以便以CLV来运行主轴电路52。

主轴伺服电路62产生通过对摆动信号的PLL处理而产生的时钟，来作为用于主轴马达52的当前旋转速度信息，并且将所述当前旋转速度信息与预设的CLV参考速度信息相比较，以产生主轴误差信号。

在数据再现中，因为通过读取/写入电路55中的PLL而产生的重放时钟(作为用于解码处理的参考的时钟)作为主轴马达52的当前旋转速度信息，因此可以将其与预设的CLV参考速度信息相比较以产生主轴误差信号。

主轴伺服电路62输出响应于主轴误差信号而产生的主轴驱动信号，以使得主轴马达52以CLV旋转。

主轴伺服电路62也响应于来自***控制器60的主轴起动/制动控制信号来产生诸如主轴马达52的起动、停止、加速或减速的操作。

通过由微机形成的***控制器60来控制伺服***和记录和/或再现***的上述各种操作。

***控制器60响应于来自AV***120的命令而执行各种处理操作。

例如，如果从AV***120发出写入命令，则***控制器60将光学拾取器51移动到要写入的地址。***控制器然后使得ECC编码器/解码器57和调制解调器56对从AV***120传送的数据—诸如MPEG2视频数据或类似的***或音频数据—执行上述的编码处理。通过从读取/写入电路55被提供到激光驱动器63的激光驱动脉冲来执行记录。

如果用于请求诸如MPEG2数据的在盘1上记录的特定数据的传送的读取命令从AV***120被提供，则***控制器60使用作为目标的指定地址来执行寻找操作控制。即，***控制器60向伺服电路61发送命令，以使得用作为目标的由寻找命令指定的地址来执行光学拾取器51的访问操作。

***控制器60然后执行用于向AV***120传送指定数据域的数据所需要的操作控制。即，***控制器60使得从盘1读出数据，以使得读取/写入电路55、调制解调器56和ECC编码器/解码器57执行解码/缓冲以传送被请求的数据。

在通过相变标记进行数据记录和/或再现期间，***控制器60使用由摆动电路58和地址解码器59检测的ADIP地址来控制访问和记录和/或再现。

在预设的时间点，例如当装入盘1时，***控制器60使得读出在盘1的BCA中记录的唯一ID或被记录为数据区PR中的摆动凹槽的预先记录信息。

在这种情况下，***控制器60使用作为目标的预先记录数据区来控制寻找操作。即，***控制器60向伺服电路61发出命令，以执行光学拾取器51对盘的最内环的访问操作。

***控制器60然后使得光学拾取器51执行重放跟踪，以获得作为反射光信息的推挽信号，同时使得摆动电路58、读取/写入电路55和ECC编码器/解码器57执行解码，以获得重放数据作为BCA信息或预先记录信息。

根据如此读出的BCA信息或预先记录信息，***控制器60设置激光功率或执行复制保护处理。在再现预先记录信息中，***控制器60使用在BIS簇中包括的地址信息来作为读出的预先记录信息而控制访问或重放操作。

在图40的实施例中，盘驱动装置连接到AV***120。或者，本发明的盘驱动装置也可以连接到例如个人计算机。

盘驱动装置也可以保持不连接到其它设备，在这种情况下，盘驱动装置可以有时提供有操作部分或显示单元，或者数据输入/输出接口部分的结构可以与图40所示的不同。即，响应于用户操作而执行记录和/或再现并且提供用于可变数据的输入/输出的终端单元是足够的。

当然，存在多个其它的多种可能结构，包括只记录设备或只重放设备。

4-2盘调节处理

现在参照示出***控制器60控制的处理的图41来说明其上装入了当前实施例的盘1的上述盘驱动装置的处理。

当在盘驱动装置上装入作为单层盘或多层盘的盘1时，通过***控制器60的处理从步骤F101向步骤F102进行，并且命令光学拾取器51校正对盘1的第一层L0的球面象差。

光学拾取器51中用于校正球面象差的机构如图42和43所示被布置和设计，图42和43每个示出了在光学拾取器51中的光学***。

在图42中，从半导体激光器(激光二极管)81输出的激光被准直透镜82平行校正，并且穿过分光器83以通过作为球面象差校正机构的准直透镜87、88，以便通过在盘1上的物镜84照射。

来自盘1的反射光通过准直透镜87、88，以便被分光器83反射以经由准直透镜(光聚焦透镜85)而落在检测器86上。

在这样的光学***中，准直透镜87、88具有改变激光的直径的功能。即，准直透镜87沿着作为光轴方向的J方向可移动，以调整在盘1上照射的激光的直径。

即，在步骤102，***控制器60执行控制，以使得准直透镜87的未示出的驱动单元进行在纵长轴方向的运动，以校正对第一层L0的球面象差。

在图43A所示的实施例中，取代图42的准直透镜87、88而提供了液晶板89。

即，在液晶板89中，在允许透过激光的区域和中断激光的区域之间的边界如在图43B中的实线、虚线和点划线所示被可变地调整以改变激光的直径。

在这种情况下，***控制器60足以向驱动液晶板89的驱动电路发出命令，以改变如上所述的透射区域。

在图41的步骤F102执行对第一层L0的球面象差的校正后，***控制器60使得伺服电路61将激光聚焦在第一层L0上。

在步骤F104，访问BCA以读出在BCA中记录的唯一ID。

在下一个步骤F105，访问预先记录的区PR，以读出管理信息作为预先记录数据。

在步骤F106，验证是否已经成功地再现了用于预先记录区PR的管理信息。

如果已经成功地再现了管理信息，则***控制器60进行到步骤F107，以根据盘类型依序在每个层的OPC(测试写入区域)中测试写入，以校准激光功率。

即，如果盘类型是单层盘，则在第一层L0的OPC中进行测试写入。

如果盘是多层盘，则在第一层L0...第n层Ln-1的每个的OPC中进行测试写入，以设置每个层的最佳激光功率。

同时，在每个记录层中执行测试写入时，对于必要时(当目标记录层不是与前述作为目标的相同时)要执行测试写入的记录层，需要执行球面象差的校正和聚焦控制。

在测试写入结束后，***控制器60进行到步骤F108 ff.，以执行和控制记录和/或再现操作。

因为要记录和/或再现第一层L0，因此无论盘是单层盘还是多层盘，第一层L0进行第一层L0的球面象差校正和聚焦控制，以记录和/或再现第一层L0。

如果盘是单层盘，则在记录和/或再现第一层L0结束时，***控制器60结束处理。

如果盘是多层盘，则***控制器进行到步骤F109...F110，以依序对各个层进行球面象差校正和聚焦控制，以继续记录和/或再现。

同时，对于诸如双层盘的多层盘，对于诸如第二层L1的偶数编号的记录层，从外环向内环执行记录和/或再现。结果，不必执行从外环向内环的寻找控制，因此使得可以连续地执行记录和/或再现。

对于具有三或更多层的盘，如果记录和/或再现从第二层L1到第三层L2或从第三层L2到第四层L3进行，则寻找控制类似地是不必要的，因此使能连续的记录和/或再现。

同时，在实际记录和/或再现数据中，需要从预先记录数据区PR读出管理信息。虽然当在步骤F105从第一层L0的预先记录数据区PR已经成功地读出管理信息时没有问题。如果由于一些原因而未成功地读出管理信息，则盘被禁止用于记录和/或再现。

注意，在多层盘中，在第二层ff.记录了相同的管理信息，如上所述。因此，在本实施例中，当还未在第一层L0读出管理信息时，从其它记录层读出管理信息。

即，如果在步骤F106不能进行重放，则***控制器60进行到步骤F111，以验证是否盘1是多层盘。如果盘是单层盘，则预先记录的数据区域PR不可读，因此操作作为错误而中止。

如果盘是多层盘，则***控制器进行到步骤F112，以将变量n设置为[2]。在步骤F113，对作为第二层L1的第n层执行球面象差的校正，在步骤F114，对作为第二层L1的第n层执行聚焦控制，并且在步骤F115，从作为第二层L1的第n层的预先记录数据区PR读出管理信息。

当在步骤F116发现重放是可能的时候，***控制器60进行到步骤F107。

如果在步骤F116发现重放是不可能的，则在步骤F117递增变量n，并且在下一个步骤F118查看盘中是否存在第n层。即，查看例如第三层的存在。

如果盘是双层盘，则不存在第三层，因此预先记录数据区PR是不可读的。因此，操作作为错误而中止。

如果盘是具有三或更多层的盘，则在步骤F118验证存在第n层，以便***控制器60返回步骤F113，以执行对作为第三层的第n层的球面象差的校正、聚焦控制和预先记录数据区PR的读出。

即，对于全部记录层之一，预先记录数据区PR可读是足够的。

如果发现对于任何记录层，预先记录数据区PR是不可读的，则操作作为错误而中止。但是，如果在任何记录层读出预先记录数据区PR是可能的，则***控制器60能够进行到步骤F107ff.的处理，因此改善了盘1的可靠性。

在盘驱动装置的上述处理中，可以处理单层盘和多层盘，同时可以对由激光照射的记录层最佳地校正球面象差。另外，可以对于单层盘和多层盘以及对多层盘的每个记录层最佳地执行记录和/或再现。

当装入盘1时，执行对第一层L0的球面象差的校正，而不论盘是否是单层盘或多层盘。因为沿着盘厚度的第一层的位置对于各个盘类型相同，因此可以满意地和有效地处理这些各个盘类型。即，可以读出第一层的预先记录数据区PR，而不依赖于所安装的盘是否是单层盘、双层盘或三层盘。

在第一层L0的BCA中记录的唯一ID也可以方便地被读出。

当装入多层盘时，从第一到第n层之一读出预先记录数据区PR的管理信息，所述管理信息可以以较高的概率被正确地读出，因此改善了盘和盘驱动装置的操作可靠性。

对于多层盘，可以对在第一到第n层的每个中提供的每个测试区域执行测试记录，以便设置各个层的记录和/或再现条件，以实现各个记录层的最佳记录和/或再现操作。

如果装入多层盘，则从第一到第n层依序执行记录和/或再现。另外，在记录和/或再现奇数编号的记录层时，从盘的内环向外环执行记录和/或再现。在记录和/或再现偶数编号的记录层时，从外环向内环执行记录和/或再现。结果，可以连续地执行记录和/或再现而不必执行从盘的外环向内环或从内环向外环的全面寻找，以便可以延长时间地执行诸如视频记录和/或再现的高传送率的实时记录。

5.盘生产方法

5-1原版盘制作设备

现在说明上述盘1的制造方法。首先，说明原版盘制作设备。

盘制造处理可以大致被细分为所谓的原版盘制作处理和盘生产处理(复制处理)。原版盘制作处理是直到完成用于盘生产处理的金属原版盘(模板)，盘生产处理是用于生产大量光盘来作为复制产品的处理。

具体地，在原版盘制作处理期间，在抛光的玻璃基底上涂敷光阻材料，结果产生的光敏薄膜被曝光于激光，以形成凹槽。

通过原版盘制作设备来执行这个处理。

在本实施例中，通过基于预先记录信息的摆动，在与最内盘环的PB区对齐的玻璃基底的区域中执行凹槽原版制作，同时通过基于ADIP地址的摆动，在与RW区对齐的玻璃基底的区域中执行凹槽原版制作。准备了多个模板，即用于第一层L0的模板、用于第二层L1的模板...用于第n层Ln-1的模板。图44示出了原版盘制作设备。

原版盘制作设备包括预先记录信息产生器71、地址产生器72、选择器73、摆动数据编码器74、摆动地址编码器75和控制器70。

原版盘制作设备也包括激光源82、光学调制器83、头单元84、传送机构77、主轴马达76、头传送控制器78和主轴伺服电路79。

在被称为原版盘制作的准备步骤中产生用于记录的预先记录信息。

预先记录信息产生器71输出在预先原版盘制作步骤中产生的预先记录信息。

这个预先记录信息被摆动数据编码器74编码，以产生使用预先记录信息调制的摆动波形的流数据。如此产生的流数据被发送到选择器73。

地址产生器72依序输出绝对地址的输出值。

凹槽根据由地址产生器72输出的绝对地址值而在摆动地址编码器75中进行MSK调制和HMW调制。该摆动地址编码器产生编码信号，作为用于MSK调制凹槽的地址信息和用于HMW调制凹槽的地址信息，以向选择器73发送结果产生的编码信号。

对于MSK调制，根据参考时钟产生两个频率，即cos(ωt)和cos(1.5ωt)。在预置定时位置、从地址信息产生与参考时钟同步的、包括用于调制的数据的数据流。所述数据流以例如两个频率cos(ωt)和cos(1.5ωt)被MSK调制，以产生MSK调制信号。在其中信息不进行MSK调制的凹槽部分中，产生具有cos(ωt)波形的信号(单调摆动)。

对于HMW调制，根据参考时钟来产生与在上述MSK调制中产生的cos(ωt)同步的第二谐波信号(±sin(2ωt))。这个第二谐波信号在记录通过HMW调制的地址信息的定时(未进行MSK调制的单调摆动的定时)被输出。注意，当根据输入地址信息的数字代码在+sin(2ωt)和-sin(2ωt)之间进行转换时，第二谐波信号被输出。

作为HMW调制输出的第二谐波信号被求和到(sum to)MSK调制信号。结果产生的和数信号被作为摆动地址信号流提供到选择器73。

头单元84向被涂敷光阻材料的玻璃基底101照射光束，以曝光凹槽轨道。

主轴马达76使得玻璃基底101以CLV旋转。主轴伺服电路79管理旋转伺服控制。

传送机构77以不变的速度从内环向外环或从外环向内环传送头单元84，以便光束从头单元84螺旋地照射。

头传送控制器78执行传送机构77的操作。

激光源82例如由He-Cd激光器形成。用于根据记录数据调制来自激光源82的输出光的光学调制器83是声光偏转器(AOD)，它被适配来根据摆动产生信号而偏转来自激光源82的输出光。

选择器73选择摆动波形信号作为预先记录信息，并且选择摆动波形流作为地址信息，以向摆动偏转驱动器81发送如此选择的信号和数据流。

摆动偏转驱动器81根据被提供到其的预先记录信息或根据作为地址信息的摆动波形流来驱动光学调制器83的光偏转器。

从激光源82输出的激光响应于预先记录信息和作为地址信息的摆动波形流而被光学调制器83偏转，以便被头单元84照射在玻璃基底101上。

如上所述，玻璃基底101通过主轴马达76以CLV旋转，而头单元84通过传送机构77以预置的速度被传送，以便在玻璃基底101的光阻材料表面上感光在图21A、22A、23A、24A、25A、27A或28A中所示的摆动凹槽图案。

控制器70执行和控制原版盘制作操作，同时当控制器70监控传送机构77的传送位置时，控制预先记录信息产生器71、地址产生器72和选择器73。

在开始用于形成诸如第一层L0或第三层L2的奇数编号的记录层的模板原版盘制作中，控制器70将与预先记录数据区PR对齐的最内部分设置为传送机构77的初始位置。控制器70然后启动玻璃基底101以CLV的旋转和滑动传送，以形成具有0.35微米轨道间距的凹槽。

在这种状态中，控制器70使得预先记录信息从预先记录信息产生器71被输出，并且经由选择器73被发送到摆动偏转驱动器81。控制器70也启动从激光源82输出的激光。光学调制器83根据作为预先记录信息的FM代码调制信号的、来自摆动偏转驱动器81的驱动信号而调制激光，以执行在玻璃基底101上的凹槽原版盘制作。

按照预先记录信息摆动的凹槽以这种方式被制造在与预先记录数据区PR对齐的第一层L0和第三层L2的区域中。

随后，在检测到传送机构77已经进行到与RW区对齐的位置时，控制器70命令选择器73转换到地址产生器72侧，同时也命令地址产生器72依序产生地址值。例如，如果原版盘制作是用于产生第一层L0的模板，则依序产生地址值[020000h]到[17644ch]。

控制器70也降低传送机构77的滑动传送速度，以形成具有0.32微米轨道间距的凹槽。

以这种方式，从地址信息得到的摆动波形流从地址产生器72被发送到摆动偏转驱动器81。来自激光源82的激光被调制器83根据来自摆动偏转驱动器81的驱动信号、即根据地址信息的MSK/HMW调制信号而调制，以便通过调制的激光来实现在玻璃基底101上的凹槽原版盘制造。

以这种方式，在与RW区对齐的区域中制作按照地址信息摆动的凹槽。

在检测到通过传送机构77的传送已经达到导出区或外部区的终端时，控制器70中止原版盘制作操作。

在开始用于形成诸如第二层L1或第四层L3的偶数编号的记录层的模板的原版盘制作中，控制器70将等同于外部区的最外环设置为传送机构77的初始位置，并且启动玻璃基底101以CLV的旋转和其滑动传送，以形成具有0.35微米轨道间距的凹槽。

在这种情况中，控制器70命令选择器73转换到地址产生器72侧，同时也命令地址产生器72依序产生地址值。

如果原版盘制作是用于产生第二层L1的模板，则依序产生地址值[084bb3h]到[1dffffh]。

这从地址产生器72向摆动偏转驱动器81提供从地址信息得到的摆动波形流。来自激光源82的激光在调制器83中根据来自摆动偏转驱动器81的驱动信号、即根据地址信息的MSK/HMW调制信号而被调制。结果产生的调制的激光然后用于实现在玻璃基底101上的凹槽原版盘制造。

以这种方式，在与RW区对齐的玻璃基底的区域中制作按照地址信息摆动的凹槽。

在控制器70检测到传送机构77的传送已经达到与预先记录数据区PR对齐的位置时，起动用于形成0.35微米轨道间距的凹槽的滑动传送。

在这种条件下，预先记录信息从预先记录信息产生器71被输出，并且经由选择器73被提供到摆动偏转驱动器81。控制器70也启动从激光源82的激光输出。光学调制器83根据来自摆动偏转驱动器81的驱动信号、即根据预先记录信息的FM代码调制信号来调制激光，以执行在玻璃基底101上凹槽原版盘制作。

以这种方式，在与第二层L1、第四层L3等的每个的预先记录数据区PR对齐的区域中制作按照预先记录信息摆动的凹槽。

在检测到预先记录数据区PR的终端被达到时，中止原版盘制作操作。

通过上述的操作序列，在与作为PB区和RW区的摆动凹槽对齐的玻璃基底101上形成曝光部分。

然后通过显影、电铸等而完成模板。

具体地，生产用于第一层的模板、用于第二层的模板...用于第n层的模板。

5-2生产顺序

图45示出了在如上所述制造了用于每个记录层的模板后用于生产盘的操作序列。

<程序P1>

通过使用用于第一层的模板进行注射来形成例如聚碳酸酯的基底RL，并且转录凹槽图案，其后通过溅射来形成作为第一层L0的记录膜。

<程序P2>

通过使用用于第二层的模板进行注射，形成具有被转录到其上的凹槽图案的中间层ML，并且通过溅射设备而形成作为第二层L1的记录膜。

<程序P3>

通过使用用于第n层的模板进行注射，形成具有被转录到其上的凹槽图案的中间层ML，并且通过溅射设备而形成作为第n层Ln-1的记录膜。

<程序P4>

在生产单层盘时，在程序P1形成的层上形成大约100微米厚度的覆盖层CVL。

<程序P5>

在生产单层盘时，在通过程序P1和P2形成的层上形成大约75微米厚度的覆盖层CVL。

<程序P6>

在生产第n层盘—其中n在此是3或更多—时，在通过程序P1、P2和P3形成的层上形成厚度100-(n-1)×25微米的覆盖层CVL。

在生产单层盘时，在上述程序P4形成的盘上记录BCA以完成盘1。

在生产双层盘时，在上述程序P5形成的盘上记录BCA以完成盘1。

在生产三层盘时，在上述程序P6形成的盘上记录BCA以完成盘1。

可以从上述的制造处理看出，通过P1→P4→BCA记录来生产单层盘，而通过P1→P2→P5→BCA记录来生产双层盘，并且通过P1→P2→P3→P6→BCA记录来生产第n层。

关于步骤P1的处理对于所有盘是共同的。而且，程序P1和P2对于例如双层盘和三层盘是共同的，因此简化了处理。

5-3 BCA记录设备

图46示出了用于记录BCA的记录设备。

BCA记录设备包括控制器90、BCA数据产生器91、BCA编码器92、激光驱动器93、光学头94、传送机构95、主轴马达96、头传送控制器97和主轴伺服电路98。

在主轴伺服电路98的旋转控制下，如上所述准备的盘通过主轴马达96以例如CAV旋转。

传送机构95在盘的BCA的范围内传送光学头94。

BCA数据产生器91产生作为适于每个盘的唯一ID的信息。作为这个唯一ID的数据被BCA编码器编码。

激光驱动器93根据所述编码数据来通/断调制控制在光学头94中的激光输出。

控制器90控制上述操作的执行。

通过这个BCA记录设备，从光学头94输出以唯一ID数据调制的高功率激光。而且，因为盘96以CAV旋转，因此BCA数据被记录为作为盘1的BCA的同心条形码信息。

虽然本发明相对于盘和相关联的盘驱动装置，但是本发明不限于这些特定的实施例，可以在本发明的范围内被可变地构造。

虽然已经参照在附图中图解的和在上述说明书中详细说明的其特定的优选实施例而说明了本发明，但是本领域内的普通技术人员应当明白，本发明不限于所述实施例，在不脱离所附的权利要求所给出和限定的本发明的范围和精神的情况下，可以实现各种改变、替代结构或等同内容。

产业上的应用

可以从上述的说明明白，可以按照本发明来获得下面的有益效果。

使用按照本发明的盘形记录介质或盘制造方法、作为第一记录层的记录层、单层盘和具有多个记录层的多层盘，作为第一记录层的记录层被形成在在盘的厚度方向上的位置，与覆盖层—在其上光进入以向第一记录层进行记录和/或再现—表面的距离与在单层盘的情况下的距离相同。因此，在单层盘、双层盘、三层盘或具有四个或更多记录层的盘中，作为第一层的记录层—诸如相变记录膜的记录层—可以以类似的方式形成在聚碳酸酯基底上，以便制造处理可以部分地相同，而可以对于单层盘和多层盘获得类似的记录和/或再现特性。

而且，使用多层盘，第二记录层被形成在比同步检测第一层更靠近覆盖层表面的位置，以便在与覆盖层表面更小的距离形成第二记录层。第二记录层由多个记录层构成。即，覆盖层的厚度从各个层来看变薄。这提高了在盘和光束之间的倾角容差。即，与第一层的记录膜相比较，可以放松第二记录层的倾斜容限，因此改善了记录和/或再现特性和盘的生产率，同时降低了生产成本。

在第一到第n记录层中，分别从盘的内环向外环和从外环向内环记录和/或再现奇数编号的记录层和偶数编号的记录层。因此，在例如已经在外环记录或再现第一记录层的时间点，可以从外环记录或再现第二记录层。即，在执行从给定的记录层向下一个的记录和/或再现操作中，不需要从外环向内环或从内环向外环的全面寻找，以便可以延长时间地执行诸如视频记录和/或再现的高传送率的实时记录。

第一到第n记录层的奇数编号的记录层的地址依序从盘的内环向外环被记录，而偶数编号的记录层的地址通过在径向对应于偶数编号的记录层的同步检测地址的位置互补奇数编号的记录层的地址而被获得，并且从盘的外环向内环被记录。即，在诸如第一和第三记录层的奇数编号的记录层中，从内环向外环计数地址，而对于诸如第二和第四记录层的偶数编号的记录层，从外环向内环计数地址。通过将奇数编号的记录层的地址互补为偶数编号的记录层的地址，在一个层中的地址可以通过一个层中的地址的比特的数量表达。这种寻址***方便作为当期望通过使用多个记录层而提高记录容量时的寻址***。也可以知道相对于奇数和偶数编号的记录层的地址的、沿着径向方向的位置关系。

而且，适于盘形记录介质的唯一ID仅仅被用于烧除记录层(如BCA所述)的记录***记录在第一记录层中。当通过烧除第一记录层的记录***沿着径向而记录条形码信号时，存在损坏沿着盘厚度方向的在相同位置的其它记录层的风险，因此不能可靠地在这些其它层记录唯一ID。可以通过仅仅在第一记录层中记录而在记录和/或再现可靠性上改善唯一ID。

通过摆动在盘上螺旋地形成的凹槽，可以在第一到第n记录层的每个中记录用于记录和/或再现的管理信息来作为只重放信息。通过经由轨道摆动将所述管理信息记录为预先记录信息，所述管理信息可以高可靠性地被记录，并且可以在每个层中被读出，所述管理信息诸如盘信息，包括用于记录和/或再现功率的条件或复制保护信息，因此改善了可访问性。

在第一到第n记录层的每个中提供了记录测试区域，以使得能够以适合于所涉及的层的方式在每个层中进行记录测试，以发现最佳的记录和/或再现条件。

用于第一到第n记录层的缺陷管理信息被记录在第一到第n记录层的每个中，以便可以一元论地处理全部记录层的缺陷管理信息。

如果不能在例如第一记录层中记录缺陷管理信息，则缺陷管理信息的记录位置可以被转换到第二层、第三层等，以高可靠地保证缺陷管理。

第一到第n记录层包括替换区域，以提供在这些记录层中的相同记录容量的替换区域，以具有高可访问性地有效开发在各个记录层中的缺陷管理效率。

本发明的盘驱动装置能够处理单层盘和多层盘，特别能够根据被激光照射的记录层来校正球面象差，因此允许以高适应性记录和/或再现单层盘和多层盘和多层盘的各个记录层。

当装入盘形记录介质时，对于第一层执行球面象差校正而不论盘是单层盘还是多层盘。因为第一层沿着盘厚度方向的位置是相同的而不论盘是单层盘还是多层盘，因此可以满意地和有效地处理各种盘类型。

当装入盘形记录介质时，可以读出通过烧除第一记录层而记录的、适于盘形记录介质的唯一ID，以使得能够根据盘类型而读出唯一ID。

如果被装入的盘是多层盘，则可以从第一到第n层的任何一个读出通过摆动螺旋形成的凹槽而被记录为只重放信息的、用于记录和/或再现的管理信息。即，如果不能在第一层中读取管理信息，则可以通过从另一个记录层读出管理信息而执行记录和/或再现操作，因此改善了操作可靠性。

而且，在多层盘中，可以在第一到第n层的每个中提供的测试区域中执行测试记录，以设置记录和/或再现条件，以实现最佳的记录和/或再现条件。

另外，在多层盘中，可以在各个记录层中提供的缺陷管理区域的任何一个中记录用于第一到第n层的缺陷管理信息，借此可以一元论地处理全部记录层的缺陷管理信息。

另一方面，如果不能在第一记录层中记录和/或再现缺陷管理信息，则缺陷管理信息的记录位置可以被转换到第二或第三层，因此实现高可靠性的缺陷管理。

如果所装入的盘是多层盘，则可以从第一层到第n层依序执行记录和/或再现。在对于奇数编号的记录层的记录和/或再现期间，可以从盘的内环向外环执行记录和/或再现，而在对于偶数编号的记录层的记录和/或再现期间，可以从盘的外环向内环执行记录和/或再现，以便可以连续地执行记录和/或再现而不用从盘的外环向内环的全面寻找。结果，可以延长时间地执行诸如视频记录和/或再现的高传送率的实时记录。

从上面，本发明给出了这样的有益效果：本发明适合于大容量的盘形记录介质，并且改善了盘驱动装置的记录和/或再现性能。

Claims (27)

1.一种在可以是具有单记录层的单层盘或具有多个记录层的多层盘的盘形记录介质中，作为所述多层记录介质的盘形记录介质，其中

在盘的厚度方向的一位置处形成作为第一记录层的记录层，该位置到覆盖层的表面的距离与所述单层盘情况下的距离相同，其中光进入所述覆盖层以记录和/或再现第一记录层；并且其中，

在比第一层更接近覆盖层表面的位置形成第二记录层。

2.按照权利要求1的盘形多层记录介质，其中第二记录层由多个记录层形成。

3.按照权利要求1的盘形多层记录介质，其中在第一到第n个记录层中，从盘的内环向外环记录和/或再现奇数记录层，从盘的外环向内环记录和/或再现偶数记录层。

4.按照权利要求1的盘形多层记录介质，其中第一到第n记录层的奇数记录层的地址从盘的内环向外环依序被记录，并且从盘的外环向内环记录偶数记录层的地址，所述偶数记录层的地址通过在径向对应于偶数记录层的所述地址的位置对奇数记录层的地址求补而被获得。

5.按照权利要求1的盘形多层记录介质，其中适于盘形记录介质的唯一ID被烧除记录层的记录***仅仅记录在第一记录层中。

6.按照权利要求1的盘形多层记录介质，其中通过摆动被形成为在所述盘上螺旋延伸的凹槽，用于记录和/或再现的管理信息在第一到第n记录层的每个中被记录为只重放信息。

7.按照权利要求1的盘形多层记录介质，其中在所述第一到第n记录层的每个中提供用于进行记录测试的测试区域。

8.按照权利要求1的盘形多层记录介质，其中在所述第一到第n记录层的每个中提供用于记录所述第一到第n记录层的每个的缺陷管理信息的区域。

9.按照权利要求1的盘形多层记录介质，其中在所述第一到第n记录层的每个中提供替换区域。

10.一种盘驱动装置，用于记录和/或再现盘形记录介质，所述盘形记录介质可以是具有单记录层的单层盘或具有多个记录层的多层盘，其中，

在盘的厚度方向的一位置处形成作为所述多层盘的第一记录层的记录层，该位置到覆盖层的表面的距离与所述单层盘情况下的距离相同，其中光进入所述覆盖层以记录和/或再现第一记录层；并且其中，

在比所述第一层更接近所述覆盖层表面的位置形成第二记录层；所述装置包括：

头部件，用于照射用于记录和/或再现每个所述记录层的轨道的数据的激光；

校正部件，用于校正所述激光的球面象差；和

校正控制部件，用于根据要由激光照射的记录层来控制所述校正部件，以根据记录层来校正球面象差。

11.按照权利要求10的盘驱动装置，其中第二记录层由多个记录层形成。

12.按照权利要求10的盘驱动装置，其中所述校正控制部件使得所述校正部件在安装盘形记录介质时执行对所述第一层的球面象差校正，而不管盘的类型。

13.按照权利要求10的盘驱动装置，其中在安装盘形记录介质时读出通过烧除记录层的记录***在所述第一层中记录的、适于盘形记录介质的唯一ID。

14.按照权利要求10的盘驱动装置，其中当安装具有n个记录层的多层盘时，从盘的第一到第n记录层的一个或多个中读出通过摆动螺旋形成的凹槽而被记录为只重放信息的、用于记录和/或再现的管理信息。

15.按照权利要求10的盘驱动装置，其中当安装具有n个记录层的多层盘时，在所述第一到第n记录层的每个中提供的测试区域中执行测试记录。

16.按照权利要求10的盘驱动装置，其中当安装具有n个记录层的多层盘时，在所述第一到第n记录层的每个中提供的缺陷管理区域中记录第一到第n记录层的缺陷管理信息。

17.按照权利要求10的盘驱动装置，其中当安装具有n个记录层的多层盘时，从第一到第n记录层依序执行记录和/或再现。

18.按照权利要求10的盘驱动装置，其中在记录和/或再现所述盘形记录介质的奇数记录层时，从盘的内环向外环执行记录和/或再现，并且其中，在记录和/或再现所述盘形记录介质的偶数记录层时，从盘的外环向内环执行记录和/或再现。

19.一种用于生产具有单记录层的单层盘和具有多个记录层的多层盘中、作为所述多层记录介质的盘形记录介质的方法，所述方法包括：

在盘的厚度方向的一位置处形成作为第一记录层的记录层，该位置到覆盖层的表面的距离与所述单层盘情况下的距离相同，其中光进入所述覆盖层以记录和/或再现第一记录层；并且，

在比所述第一层更接近所述覆盖层表面的位置形成第二层。

20.按照权利要求19的用于生产盘形多层记录介质的方法，其中第二记录层由多个记录层形成。

21.按照权利要求19的用于生产盘形多层记录介质的方法，其中在第一到第n记录层中，从盘的内环向外环记录和/或再现奇数记录层，从盘的外环向内环记录和/或再现偶数记录层。

22.按照权利要求19的用于生产盘形多层记录介质的方法，其中第一到第n记录层的奇数记录层的地址从盘的内环向外环依序被记录，并且其中从盘的外环向内环记录偶数记录层的地址，所述偶数记录层的地址通过在径向对应于偶数记录层的所述地址的位置对奇数记录层的地址求补而被获得。

23.按照权利要求19的用于生产盘形多层记录介质的方法，其中适于盘形记录介质的唯一ID被烧除记录层的记录***仅仅记录在第一记录层中。

24.按照权利要求19的用于生产盘形多层记录介质的方法，其中通过摆动被形成为在所述盘上螺旋延伸的凹槽，用于记录和/或再现的管理信息在第一到第n记录层的每个中被记录为只重放信息。

25.按照权利要求19的用于生产盘形多层记录介质的方法，其中在所述第一到第n记录层的每个中提供用于进行记录测试的测试区域。

26.按照权利要求19的用于生产盘形多层记录介质的方法，其中在所述第一到第n记录层的每个中提供用于记录所述第一到第n记录层的每个的缺陷管理信息的区域。

27.按照权利要求19的用于生产盘形多层记录介质的方法，其中在所述第一到第n记录层的每个中提供替换区域。

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