CN1195416A - 光读出装置 - Google Patents

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Abstract

本发明揭示一种光读出装置,包括使从光源出射的光束聚焦的物镜、配置于光源与物镜之间分离来自光源出射的光束和通过物镜入射的光束的分束器、接收由分束器分离的、通过所述物镜入射的光束的光检测器。这种光读出装置基于凹凸部或倾斜面,使光源出射的光束在通过分束器时产生的杂光成分散射,防止入射到光检测器上,以谋得改善光检测器的检测精度。

Description

光读出装置
技术领域
本发明涉及对象作为信息信号的记录媒体的光盘那样的光学记录媒体进行信息信号的写入或读出用的光读出装置。
背景技术
目前，作为用于读出在如光磁盘那样的光盘上记录的信息信号的光读出装置，使用如图1所示结构的装置。
如图1所示，这种光读出装置，包括半导体激光器2和物镜3，前者是出射照射光盘1的光束L1的光源，后者是将从半导体激光器出射的光束L1加以聚焦并照射光盘。
如图1和图2所示，在从半导体激光器2到物镜3的光束L1的光路中，位于半导体激光器2的侧面、将该半导体激光器2出射的光束L1分离成0次及±1次光的至少3束衍射光光束的光栅。
为说明简单起见，在图1及图2中用1束光束表示至少3束衍射光束，图中将总共3束衍射光束简单地称为光束。
而且，在从光栅4到物镜3的光路中，设置有分离从半导体激光器2出射的光束L1和由光盘1反射、通过物镜入射的光束L2的光束分离器(分束器)5，和将通过分束器5的光束L1偏转90°、入射到物镜上，同时将光盘1反射、通过物镜3的光束L2偏转90°入射到分束器上的反射镜6。
在该光读出装置中，设置有由检测从光盘反射回来的光束L2、读出光盘1上记录的信息信号、同时检测聚焦误差信号和循迹误差信号的光电二极管等光检测元件组成的光检测器7。该光检测器7在与半导体激光器2至物镜3的光路相正交的位置上与分束器5相对地配设，使能检测上分束器5的分界面5a所反射、光路变更90°返回的光束L2。分束器5的分界面5a对于入射到分束器5的光束的光轴成45°倾斜，使入射到该分束器5上的光束的光路变更90度。
在从分束器5到光检测器7的光路中，配设有检测由光盘反射回来的光束的克尔(kerr)旋转角的偏光棱镜(渥拉斯顿棱镜)8和光束L2产生像差用的圆柱形透镜9。偏光棱镜成一体地安装于分束器5上。
该光读光装置中为控制半导体激光器2使半导体激光器2出射的光束输出级大致为一定值，设置检测从半导体激光器2的前面一侧出射的光束L1的一部分的光电二极管10。光电二极管10配置在与半导体激光器2至物镜3的光路成正交的位置上的与分束器相对的位置上，使能检测由分束器5的分界面5a所反射和光路变更90°的半导体激光器出射的光束L1的一部分。
光电二极管10的输出供给自动输出控制电路，控制由驱动半导体激光器2的驱动源11提供的驱动电流的大小。自动输出控制电路12根据光电管10的输出，控制驱动源11提供的驱动电流使半导体激光器2出射一定输出级的光束L1。
入射到光检测器7的返回光束L2与入射到光电二极管10的从半导体激光器2出射的光束L1的一部分L3，由于由一个分束器5的共用分界面5a所反射，变更光路，因此如图2所示，光检测器7与光电二极管10在把分束器5夹在中间的相对位置上使光轴一致地加以配设。
含有这样结构的光读出装置，由驱动源提供的驱动电流一经驱动半导体激光器2，就从半导体激光器2出射光束L1。从半导体激光器前面出射的光束L1，通过光栅分离成至少3束衍射光束，然后入射到分束器5。入射到分束器5的光束L1，其一部分L3由分束器5的分界面5a所反射使光路变更90°。由分束器5的分界面5a 90°变更光路的半导体激光器来的出射光束L1的一部分L3由光电二极管10接收，将光束L1的强度变换成电信号加以检测。该检测输出供给控制电路12，控制由驱动源11供给半导体激光器2的驱动电流，控制半导体激光器2的驱动使半导体激光器出射的光束L1成一定的输出级。
没有被分束器5的分界面5a反射、透过分束器5的光束L1入射到反射镜6上，通过该反射镜光路90°变更，入射到物镜3上。反射镜反射的光束L1由物镜3聚焦在光盘1的信号记录面上。由光盘1的信号记录面反射的光束L2，再次通过物镜3入射到反射镜6上，再由反射镜6变更光路90°，经反射镜6变更90°光路的光束L2入射到分束器5，这次由分界面5a所反射。经分界面5a 90°反射的光束L2，入射到偏光棱镜进行克尔效应检测后，通过圆柱形透镜由光检测器7接收。
这时，按照物镜3与光盘1的信号记录面之间的距离变化，由圆柱形透镜对分界面5a 90°反射的光束L2产生像差。结果，随着光盘1的信号记录面与物镜3之间的距离的变化，光检测器7的受光面上光点的形状起变化，因此能够根据光检测器7的输出信号产生聚焦误差信号。另一方面，将光盘1的信号记录面上照射的上述0次衍射光的光点夹在中间的前后±次衍射光的各光点由于相对于光盘1的记录磁道的某种程度偏移，在光检测器7的受光面上相对应的±1次衍射光的各光点就移动。结果由于光检测器的输出信号起变化，因此能产生根据该光检测器7的输出信号的变化的循迹误差信号。而且，根据接收来自光检测器7的0次衍射光的输出信号能够读出光盘1上记录的信息信号。
为了控制半导体激光器2出付的光束L1成为一定的输出级，如上述构成的光读出装置将检测半导体激光器2出射光光束L1的光电二极管10配设于从半导体激光器2到物镜3的光束L1的光路侧面上。光电二极管10因为是检测由分束器5分界面5a反射的光束L1的一部分的，因此要配置在相对于自半导体激光器2至物镜3的光束L1的光路成正交的位置上，而且要配置在与检测光盘反射回来的光束L2的光检测器7把分束器5夹在中间的相对的位置上。
如果这样地配置光电二极管10，则与自半导体激光器2至物镜3的光路相正交的方向的宽度就变大，光读出装置本身也大型化了。如果光读出装置大型化了，则采用这种光读出装置的光盘记录和/或复现装置也大型化。
因此，谋求光读出装置本身的小型化，使采用光读出装置时光盘记录和/或复现装置的小型化成为可能，同时设计如图3所示的结构的装置作为防止出射光束输出级变动，能够大致为一定值地进行控制的光读出装置。
图3所示的光读出装置，在半导体激光器2的置放盒内设置接收在半导体激光器2的背面出射的光束的光电二极管15，由该光电二极管15检测在半导体激光器背面一侧出射的光束强度。这一检测输出供给控制由驱动源11提供的驱动半导体激光器2的驱动电流的大小的自动控制电路12。自动控制电路12根据光电二极管15检测的输出控制由驱动源11提供的驱动电流的大小。这样，通过根据半导体激光器2出射光束强度控制驱动电流大小并驱动，半导体激光器2总是出射一定输出等级的光束L1。
通过设置检测在半导体激光器2背面一侧出射的光束的光电二极管15，由于不必设置检测在半导体激光器2前面一侧出射的光束L1的一部分的光电二极管10，因此与自半导体激光器2至物镜3的光路相正交方向的宽度能减小，能使光读出装置自身小型化。谋求采用这种光读出装置的光盘记录和/或复现装置的小型化也就可能。
然而，从半导体激光器2出射、入射到分束器5的光束L1的一部分由分束器5的分界面5a所反射。由5a反射的光束L1的一部分L3，光路变更90°，转向支持分束器5和光栅等光学零件的基座16等。由于基座由铝等金属制成，反射率高。因此，转向基座16的光束L3，由基座16的表面所反射，再次返回分束器5一侧。反射到分束器5的光束L3，成为杂光，通过分束器5入射到光检测器7。在光检测器7上除光盘1反射的返回光束L2外，作为光束L3的杂光一入射到光检测器7，就不能由检测器7正确地检测返回光束L2。
如果不能正确地进行返回光束L2的检测，就不能正确地检测聚焦误差信号和循迹误差信号，就不能进行使物镜3在光轴方向上变位的聚焦控制和使物镜3在与该物镜3光轴方向正交的平面内变位的循迹控制，就不能由通过物镜3聚焦在光盘1上照射信号记录面的光束L1正确地扫描形成于光盘1上的磁道，就不能进行信息信号的正确读出。
而且，由基座16表面所反射、再次入射到分束器5的光束L3的一部分被分束器5的分界面5a所反射，其光路变更90°转向半导体激光器2一侧。在半导体激光器2一侧，返回光束L3与半导体激光器2出射的光束L1互相影响产生共振，发生所谓自耦光读出器(scoop，self coupling Optical Pick-up)噪声。而且，从半导体激光器2出射的光束L1的输出级成为不稳定，光检测器7检测的返回光束L2的输出级成功不稳定，不能由光检测器7正确地检测聚焦误差信号和循迹误差信号，不能正确读出信息信号。
发明概述
本发明的目的在于提供能通过物镜正确检测入射光束的光读出装置。
本发明的另一个目的在于提供能除去光源出射的光束在通过分束器之时生成的杂光成分，由光检测器正确地检测通过物镜入射的光束的光读出装置。
本发明的另外其他的目的在于提供能够出射稳定的输出级的光束，进行信息信号的正确读出的光读出装置。
本发明的另外其他的目的在于提供可调整分离光源出射的光束和通过物镜入射的光束的分束器的安装位置，能进行对光检测器的光束的正确入射的光读出装置。
本发明的另外其他的目的在于提供谋求装置本身小型化，从而有助于光盘记录和/或复现装置的小型化的光读出装置。
为达到上述目的，与设计的本发明相关的光读出装置是一种设有下列部分的装置：使光源出射的光束聚焦的物镜；配置于光源与物镜之间、分离来自光源出射的光束与通过物镜入射的光束的分束器；接收由分束器分离的通过物镜入射的光束的光检测器；以及除去光源出射的光束在通过分束器之际产生的杂光成分的除去装置。
这种光读出装置还包括至少保持分束器的支架。在该支架的分束器相对的位置上设有除去光束通过分束器之际产生的杂光成分的除去装置。
光读光装置还包括至少安装光源和光检测器的基座。设置除了杂光成分的除去手段的支架，设置在从光源来的光束进入的开口部，和在通过该开口部分的直线位置上安装分束器的安装部。与支架的基座相接触的面形成平坦的面，相对于基座可能调整移动安装的位置。
光读出装置还包括配置于分束器与光检测器之间的光学元件，这个光学元件大致与通过支架的开口部的直线正交，且夹着分束器配置在与杂光成分除去手段相对的位置上。
除去光源出射光束在通过分束器之际产生的杂光成分的除去装置，由形成于支架侧面的凹凸部所构成。
另外，除去杂光成分的除去装置由形成于支架侧面的倾斜面所构成。
本发明的其他的目的、通过本发明能得到的具体优点，将从下面所说明的实施例进一步了解。
附图简要说明
图1表示为构成现有光读出装置的半导体激光器和光学元件的配置结构的立体图。
图2表示上述光读出装置的平面图。
图3表示现有光读出装置另一例的平面图。
图4表示与本发明相关的光读出装置的立体图。
图5表示上述光读出装置的分解立体图。
图6表示上述光读出装置的光束的光路平面图。
图7表示上述光读出装置的光束的光路侧面图。
图8表示保持分束器的支架的立体图。
图9表示上述支架的剖视图。
图10表示保持分束器的支架的另一例的剖视图。
实施本发明的最佳方式
下面，参照附图对与本发明相关的光读出装置的实施例进行说明。
实施例
如图4和图5所示，本发明的光读出装置包括，作为出射光束的光源的半导体激光器21，及聚焦半导体激光器21出射的光束L1并照射作为光记录媒体的光盘20的信号记录面的物镜。
如图6和图7所示，在从半导体激光器21至物镜的光束L1的光路中，包括位于半导体激光器21一侧，将从半导体激光器21一侧出射的光束L1分离成0次光及±1次光至少3束衍射光束的光栅23。
为说明简单起见，在图6及图7中，用1束光束表示至少3束衍射光束，图中总共3束衍射光束简单地称为光束。
如图6和图7所示，在自光栅23至物镜22的光路中，设有分离半导体激光器21出射的光束L1和由光盘20反射的通过物镜22入射的光束L2的分束器24，和将通过分束器的光束L1作90度偏转、入射到物镜22上，同时将由光盘20反射的通过物镜的光束L2作90度偏转入射到分束器的反射镜25。
光读出装置中设有由检测光盘20反射的返回光束L2、进行光盘20所记录的信息信号的读出，同时检测聚焦误差信号和循迹误差信号的光电二极管的光检测元件组成的光检测器26。这种光检测器如图6和图7所示在与自半导体激光器21至物镜22的光路相关的位置上与分束器对向配设，使能检测由分束器24的分界面24a反射的光路变更90度的返回光束L2。还有，分束器24的分界面24a相对于入射到分束器的光束L2的光轴倾斜45度，使入射到该分束器24的光束的光路能变更90度。
如图6和图7所示，从分束器24至光检测器26的光路中，配设有检测光盘反射的返回光束L2的克尔旋转角的偏光棱镜27，和用来对返回光束L2产生像差的圆柱形透镜28。偏光棱镜27一体地安装在分束器24上。
如图6和图7所示，本发明的光读出装置，在置放半导体激光器21的置放盒29内设置接收在半导体激光器21背面一侧出射的光束的光电二极管30，通过该光电二极管30检测半导体激光器21背面一侧出射的光束的强度。这一检测输出供给控制驱动源31提供的驱动半导体激光器21的驱动电流大小的自动控制电路32。该自动控制电路32根据光电二极管30检测的输出控制驱动源31供给的驱动电流的大小。这样，通过根据半导体激光器21出射的光束强度控制驱动电流的大小并驱动，总是出射一定输出级的光束L1。
如图4和图5所示，本发明的光读出装置，当配设到光盘记录和/或复现装置上时，包括被支持在光盘记录和/或复现装置一侧设置的导轨机构上的基座33。基座33采用铝合金的模铸件或者耐热性好、刚性高的合成树脂材料形成大致为矩形的框。即基座33包括相对向一对侧壁33a、33b、侧壁33a、33b的一侧之间相连设置的底板33c、另一侧之间相连设置的盖板33d。底板33c设于侧壁33a、33b的一端侧，盖板33d设置于侧壁的另一端侧，对着底板33c和盖板33d的面是开放的。而且在基座33的一端侧上设有形成轴孔34、35的一对支持片36、37，轴孔被***在光盘记录和/或复现装置上设置的导轨机构的导轴。在基座33的另一端上设有断面为コ字形的导轨支持部38，导轨支持部38支持与导轴一起构成导轨机构的导轨部。
本发明的光读出装置通过将轴孔插通光盘记录和/或复现装置上互相平行配设的导轴，并由导轨支持部38支持导轨部，在导轴方向上可以移动地加以支持。
构成光读出装置30半导体激光器21如图5所示安装于基座33的另一端侧。在基座33中，光栅23、分束器24及反射镜25使光轴一致地加以配设。光栅23用粘接剂粘接到光栅架39上，通过光栅架39装入基座33的盖板33d内未图示的安装部。光栅架39为防止其反射光和外部光入射到光栅23；采用不透明的黑色树脂形成。
分束器24如上所述与偏光棱镜27一体地安装，与圆柱形透镜28一起装到支架41上，通过该支架41装到基座33中。
安装分束器24的支架41，采用铝、镁合金等金属或耐热性好刚性高的合成树脂形成筐形体，如图5和图8所示。在支架41上，半导体激光器21出射的光束L1进入的开口部42设在其一侧面上。支架41内部，在通过第1开口部42的直线位置上设有安装分束器24的第1安装部43。分束器24与偏光棱镜装成一体，用粘接剂粘接到第1安装部43上。
与形成第1开口部的一侧面相对的支架41的另一侧面上设有开口部44，用于使通过分束器24的光束L1通过，并使光盘20反射的返回光束L2入射到分束器24上。
在支架41内，与第1安装部43并排地设有第2安装部45，用于安装配设于分束器24与光检测器26之间的光学元件圆柱形透镜28。圆柱形透镜28安装到第2安装部45上，其光轴正交正通过从第1开口部42至第2开口部44的直线，并与安装在分束器24上的偏光棱镜24相对向。圆柱透镜也用粘接剂装到第2安装部45上。
在与设置第1、第2开口部42、44的侧面垂直的支架41的一个端面上，设置使通过圆柱形透镜28的光束L2入射到光检测器用的第3开口部46。
使半导体激光器出射的光束L1的光轴与分束器24的光轴对准地将支架41装入基座33中。支架41与半导体激光器21、分束器39一起通过安装到基座33上的支架支持板47被压接支持到基座33的盖板33d上。
支架支持板47，由弹性金属板冲孔弯曲而成，如图5所示，在将半导体激光器21和光栅39按压支持到基座33的盖板33d一侧上的平板形支持部48的两侧，伸出一对嵌合到基座33两对壁33a、33b的外侧上的嵌合片49、50。而且在支架支持板47上设有冲孔支持部48的一部分形成一对光栅支架支持片51。51。在支持部48的一侧上还设有一对支架支持片52、52。
支架支持板47通过将一对嵌合片49、50嵌合到基座33的侧壁33a、33b的外侧被装到基座上。这时，通过将侧壁33a、33b的外侧上突出设立的卡合突起55卡进嵌合片49、50上的卡孔53、54，支架支持板相对于基座33的安装位置加以安装。
通过支架支持板装配到基座33上，半导体激光器21和光栅支架39通过支持部48被按压到基座33的盖板33d一侧，实现了相对基座33安装位置的定位。而且，借助于通过光栅支架支持片51、51支持着与光栅23的光轴相正交的面，光栅支架39被定位于相对通过支架41安装于基座33上的分束器24的安装位置上。然后借助于通过支持部38上突起设置的一对支架支持片52、52的支持，按压支持到基座33的盖板33d一侧，由此，支架41相对于基座33的安装位置加以定位。
通过支架41与基座33的盖板33d相接触的面41a和支架支持片52、52所支持的面41b、41c做成平坦的面，可相对基座33移动调整。通过在支架支持板47支持状态下进行装配位置的调整以后，支架41用粘接剂固定在基座33上。通过支架41的可能移动调整，能够调整支架41上安装的分束器24与光检测器26之间的距离，能够调整光束L2的光检测器26的受光面上的受光状态。
基座33的底板33c上设置反射镜25，反射镜25将半导体激光器21出射、通过分束器24的光束L1偏转90°方向入射到物镜上，同时将由光盘20反射、通过物镜22的光束L2偏转90°方向入射到分束器24上。通过嵌入基座33的底板33c上穿透的装配孔，反射镜25对分隔器光轴对准，反射面25a相对于从分束器24至反射镜25的光轴成精确的45°角度装配。
在基座33的一方侧壁33a上，通过光检测器支架装配光检测器26。光检测器因是检测由分束器24的分界面24a所反射、光路90度变更的由光盘20反射的返回光束L2的，因此在与自半导体激光器21至物镜22的光路正交的位置上与分束器相对向地装在一方侧壁33a上。侧壁33a的相对向光检测器26的部分，穿透设置使返回光束L2通过用的通孔。
在支架41的内表面上，半导体激光器21出射光束L1的一部分经分束器24的分界面24a反射，成为向分束器24的外面方向的杂光成分的光束L3散射，设有构成除去入射到分束器24和光检测器26的杂光的杂光除去机构的凹凸部61。该凹凸部61被设置在光束L3前进方向上，因为半导体激光器出射的光束L1的一部分经分束器24的分界面24a反射，使光束L3在分束器24的向外方向上散射。即是，如图6和图9所示，凹凸部61在与半导体激光器21出射的光束L1的光轴相正交的位置，夹着分束器24与圆柱透镜28相对向的支架41的内表面60上加以设置。通过在支架41内表面60上这样设置凹凸部61，从半导体激光器21出射、经分束器24的分界面24a反射、朝向分束器24的外方的光束L3由凹凸部61所散射，或者改变行进方向，防止入射到分束器24一侧，同时防止作为杂光朝向光检测器26行进。
这种场合，凹凸部61与可设置在支架41的全部内表面上。而且，凹凸部61形成适当的大小，使能散射朝向分束器24外方向的光束L3。
支架41的内表面和外表面都着上黑色，抑制经分束器24的分界面反射、朝向分束器24的外方行进的光束L3由于支架41内表面所反射的量，抑制入射到分束器24一侧的量，抑制作为杂光向光检测器26行进的量。而且借助于支架41的内外表面着成黑色，也能够抑制从支架41的外部入射到支架内部的光。
为使支架41的内外表面成黑色，除在支架41的内外表面涂布黑色涂料以外，也可用黑色的合成树脂材料形成支架41。
为了防止半导体激光器21出射的、经分束器24的分界面24a反射、向分束器24的外方向行进的光束L3在支架41的内表面上反射、入射到分束器24一侧，进而作为杂光向光检测器26行进，如图10所示，支架41的与分束器24相对向的面也可以做成相对于自分束器24至光检测器的光轴倾斜的倾斜面。这样，通过将与分束器24相对向的面做成倾斜面，从半导体激光器21出射、经分束器24的分界面24a反射、朝向分束器24的外方向的光束L3能够不向分束器24的方向的反射，入射到分束器一侧的束得以防止，同时防止了作为杂光传向光检测器。这时也可在倾斜面上形成微小的凹凸64，由于这些凹凸64使传向分束器24的外方向的光束L3散射。
将由反射镜25反射的半导体激光器21出射的光束L1聚焦并入射到光盘20上，并将光盘20反射的光束L2入射到反射镜25上的物镜22，使其光轴与自半导体激光器21至反射镜25的光轴正交与反射镜对向地配设。物镜22由物镜驱动装置66所支持，使得可以在与物镜22的光轴平行的方向的聚焦方向上和与物镜22的光轴成正交的平面方向的循迹方向上改变位置。
物镜驱动装置66如图5所示，保持物镜22，同时包括，安装供给使物镜22在聚焦方向变位的聚焦误差信号的聚焦线圈67和使物镜在循迹方向变位的一对循迹线圈68、68的线圈架，和成线形状的多个弹性支持体71，该弹性支持体71在固定部70上支持所述线圈架69使可在聚焦方向上和循迹方向上变位。
线圈架69由耐热性好刚性高的合成树脂材料例如PPS树脂成形，形成的线圈架上半部72与线圈架下半部73用粘接剂粘合或连结构成。线圈架72前端设物镜安装单元74、基端部一侧设コ字形的线圈安装单元75。线圈部下半部73在中央部设中空的线圈安装孔76，形成大致矩形的框状，使线圈安装孔76对应线圈安装单元75接合到线圈架上半部72上。然后，物镜22嵌入物镜安装部74上设置的圆形的透镜安装孔，装配。聚焦线圈67绕在矩形的圆管上，装配在线圈架上半部72的线圈安装单元75与线圈架下半部73的线圈安装孔之间。一对循迹线圈68、68，绕成平板的矩形状，安装在聚焦线圈67外周侧的一侧面上，通过聚焦线圈67装到线圈架69上。
固定单元70也将固定单元上半部78与固定单元下半部79用粘接剂粘合或连接而成。固定单元70的上半部78与线圈架69的上半部72之间，以及固定单元70的下半部79与线圈架69的下半部73之间分别用各一对互相平行的弹性支持体71相连接。
通过多个弹性支持体71支持线圈架69的固定单元70，如图5所示，在コ字形形成的安装基板81的开口端设置的安装片82、82间安装。在安装基板81的基端侧设置的连接单元81a的一侧上，安装磁轭85，磁轭85上安装共同供给聚焦线圈67聚焦误差信号和供给循迹线圈68、68循迹误差信号，从而产生在聚焦方向和循迹方向上使物镜驱动变位的驱动力的一对磁铁83、84。磁轭85，在连接片86的两侧上伸出形成一对安装片87、88，在与连接片86的安装片87、88被形成的侧面垂直的边上相对方向，向上伸出形成一对磁铁安装片89、90。磁轭85，将一对安装片87、88嵌合到安装基板81的两侧，被安装到安装基板81的下面一侧，磁轭85用焊接将一对安装片固定装配到安装基板81上。然后，一对磁铁83、84在一对磁铁安装片89、90的相对的面上分别用粘接剂粘接装配。一对磁铁安装片89、90，如图4所示，在这些磁铁安装片89、90的前端一侧上由连接轭91加以连接。该连接轭91通过支持一对磁铁安装片89、91，使一对磁铁83、84之间的间隔保持一定。
然后，安装基板81通过该基板81上装配的磁轭85装到基座33的底板33c上。也即，安装基板81，使磁轭85连接片上穿孔设置的一对定位孔92、93卡合到基座33的底板33c上直立的一对定位梢94、95，对基座33的安装位置被定位而得以安装。
如图4所示，线圈架69通过固定单元70被支持在装有磁轭85的安装基板81上时，在磁轭85上安装的一方磁铁83***筒状聚焦线圈67内，另一方磁铁84在聚焦线圈67的一个侧面一侧与安装的循迹线圈68、68相对。
这样构成的物镜驱动装置66，一当对聚焦线圈供给聚焦误差信号时，就产生使线圈架89在与物镜22的光轴相平行的方向上变位的驱动力，使物镜22在平行于光轴的方向上变位，进行聚焦控制，而一当对循迹线圈68、68供给循迹误差信号时，就产生使线圈架89在与物镜22的光轴正交的平面方向上变位的驱动力，使物镜22在垂直于物镜22光轴的平面方向上变位，进行循迹控制。
在基座33的上表面一侧，由盖板97加以覆盖。
如上所述构成的光读出装置，从半导体激光器21前面一侧出射的光束L1，以原样的发散光入射到光栅23。入射到光栅23的光束L1依靠光栅23分散成0次和±1次光至少3束衍射光。还有，图6和图7中为说明简单起见，用1束光来表示。与图相一致，以后的说明假设将0次光和±1次光至少3束衍射光简单地称为光束。由光栅输出的光束L1通过分束器24至反射镜25。在通过分束器24之际，根据前述的理由，因分束器24的分界面24a，半导体激光器21出射的光束L1的一部分虽被反射朝向支架41的分束器24相对的内表面60上，但大部分透过分束器24的分界面到达反射镜25。这时，在分束器24相对的内表面60上，借助于形成上述的凹凸部61或倾斜面65，由分界面24a反射的来自反导体激光器21的光束L3被散射，由于其行进方向被改变，作为杂光不向位于支架41的反射侧的光检测器行进。而且，支架41的内外表面被着上黑色，因此衰减了由分界面24a反射的来自半导体激光器21的光束L3，能够抑制到达光检测器26上的杂光。
入射到反射镜25的光束L1，由反射镜变更90度光路，导向物镜22。由反射镜25反射的光束L1由物镜22聚焦于光盘20的信号记录面20a上。由光盘20的信号记录面20a反射的光束L2，再次通过物镜入射到光读出装置内，由反射镜25再次变更90度光路。由反射镜25变更90度光路的光束L2入射到分束器24，这次由分界面24a 90度反射。由分界面90度反射的光束L2经偏光棱镜27检测克尔旋转角，进而通过圆柱形透镜28由光检测器受光。
这时，对由分束器24的分界面24a 90度反射的光束L2，由圆柱形透镜按照物镜22与光盘20的信号记录面20a之间的距离变化产生像差。结果由于随着信号记录面20a与物镜22之间的距离变化，光检测器26的受光面上的光点形状变化，因此能根据光检测器26输出信号产生聚焦误差信号。另一方面，根据夹着照射在光盘20的信号记录面20a的上述0次衍射光光点的前后±1次衍射光的光点相对光盘20的记录磁道20b偏离到何等程度，与光检测器26的受光面上的±1次衍射光对应的各光点作移动。结果由于光检测器26输出信号起变化，因此能根据该光检测器26输出信号的变化产生循迹误差信号。将这样地生成的聚焦误差信号和循迹误差信号供给物镜驱动装置66的聚焦线圈67和循迹线圈68、68。结果依靠聚焦线圈67和循迹线圈68、68与磁铁83、84，能进行使线圈架69在聚焦方向和循迹方向上移动的聚焦控制和循迹控制。
根据光检测器26接收的0次衍射光的输出信号能从光检测器26读出光盘20所记录的信息信号。
如上说明，本发明的光读出装置，由于从半导体激光器21出射。由分束器24的分界面24反射、由支架41内表面反射的光束L3由凹凸部61和倾斜面65散射，因此能够防止入射到分束器、再经分束器24的分界面24a反射、与半导体激光器21出射的光束L1产生影响、发生共振，产生自耦光读出器噪声，而且防止作为杂光入射到光检测器26。因此，光检测器26能够只正确地检测由分束器24的分界面反射的来自光盘反射的光束L2，能进行高精度的聚焦误差信号和循迹误差信号的检测，能够在聚焦方向和循迹方向上正确地控制物镜22。而且能够依靠从物镜22向光盘20照射的光束L1，正确扫描光盘20的记录磁道20b，进行光盘20上记录的信息信号的正确读出。而且，因为光检测器26只正确检测由光盘20反射的光束L2，因此能正确读出由光盘20记录的信息信号。
工业上的实用性
如上所述，本发明的光读出装置，由于使由半导体激光器出射、由分束器的分界面反射、由支架的内表面反射的作为杂光成分的光束发生散射，防止入射到光检测器上，因此能够由光检测器检测高精度的聚焦误差信号和循迹误差信号，能够高精度地读出由光盘记录的信息信号。

Claims (11)

1.一种光读出装置，其特征在于，包括：
光源；
使从所述光源出射的光束聚焦的物镜；
配置于所述光源和所述物镜之间、分离从所述光源出射的光束和通过所述物镜入射的光束的分束器；
接收由所述分束器分离的、通过所述物镜入射的光束的光检测器；以及
除去从所述光源出射的光束在通过所述分束器时产生的杂光成分的除去装置。
2.如权利要求1所述的光读出装置，其特征在于，所述光读出装置还至少包括保持所述分束器的支架，在与所述支架的所述分束器相对的位置上设置所述除去装置。
3.如权利要求2所述的光读出装置，其特征在于，所述光读出装置还至少包括配置所述光源和所述光检测器的基座，所述支架设置有光源来的光束进入的开口部和在通过开口部的直线位置上安装所述分束器的安装单元，同时与所述支架的所述基座的接触面形成平坦的面，并在所述基座上可以移动地加以装配。
4.如权利要求3所述的光读出装置，其特征在于，所述光读出装置还包括配置于所述分束器与所述光检测器之间的光学元件，所述光学元件大致正交于通过所述支架的所述开口部的直线，且夹所述分束器配置在所述除去装置相对的位置上。
5.如权利要求2所述的光读出装置，其特征在于，所述除去装置由在所述支架的侧面上形成的凹凸构成。
6.如权利要求2所述的光读出装置，其特征在于，所述除去装置由在所述支架侧面上形成的倾斜面构成。
7.一种光读出装置，其特征在于，包括：
光源；
使从所述光源出射的光束聚焦的物镜；
配置于所述光源和所述物镜之间、分离从所述光源出射的光束和通过所述物镜入射的光束的分束器；
接收由所述分束器分离的、通过所述物镜入射的光束的光检测器；
至少配设所述光源和所述光检测器的基座；以及
设置从所述光源来的光束进入的开口部和在通过所述开口部的直线上安装所述分束器的安装单元，同时与所述基座相接触的面形成平坦的面，可在所述基座上移动调整地安装的支架。
8.如权利要求7所述的光读出装置，其特征在于，所述光读出装置还包括配置于所述分束器和所述光检测器之间的光学元件，所述光学元件大致正交于通过所述支架开口部的直线，且夹所述分束器配置在与所述支架相对的位置上。
9.如权利要求8所述的光读出装置，其特征在于，在夹所述支架和所述分束器，与所述光学元件相对的位置上，设置除去所述光源出射的光束在通过所述分束器之际产生的杂光成分的除去装置。
10.如权利要求9所述的光读出装置，其特征在于，所述除去装置由在所述支架侧面上形成的凹凸构成。
11.如权利要求9所述的光读出装置，其特征在于，所述除去装置由在所述支架形成的倾斜面构成。
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