CN115308453B - 一种老炼试验夹具及老炼试验*** - Google Patents

一种老炼试验夹具及老炼试验*** Download PDF

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Abstract

本发明涉及元件老炼技术领域,具体涉及一种老炼试验夹具及老炼试验***。老炼试验夹具包括基座、安装部、对接机构和连接端。安装部、对接机构和连接端均设于基座。安装部用于安装固定待测元件,两组安装部串联设置。对接机构和连接端分设于基座的相对两侧,对接机构和连接端均电性连接于两组安装部之间。对接机构用于与相邻的老炼试验夹具的连接端电性连接。老炼试验***包括该老炼试验夹具。其能够用于完成对老炼试验过程中出现的试验故障的排查工作,简单高效,降低了排查工作对其他元件的老炼进程的干扰,有利于老炼试验的高效进行,减少了时间浪费。

Description

一种老炼试验夹具及老炼试验***
技术领域
本发明涉及元件老炼技术领域,具体而言,涉及一种老炼试验夹具及老炼试验***。
背景技术
目前的老炼试验板的安装检查都是在工作人员进行试验板的安装后,通过目测的方式进行二次检查,很容易出现疏漏。
在进行老炼试验时,需要对试验故障进行排查,常见的试验故障主要有:接触不良、连接不稳等。通常情况下,在老炼试验刚开始时,刚通电时就要对这些问题进行排查,从而保证后续老炼试验的顺利进行。
但是,在实际的老炼试验过程中,有时候刚开始老炼试验时并不存在上述试验故障,在老炼试验进行一段时间之后,试验故障才出现。试验故障一旦出现就需要及时排查,但如果直接断电进行排查,又会影响其他元件的正常老炼过程。
有鉴于此,特提出本申请。
发明内容
本发明的第一个目的在于提供一种老炼试验夹具,其结构简单、使用方便,能够用于完成对老炼试验过程中出现的试验故障的排查工作,简单高效,降低了排查工作对其他元件的老炼进程的干扰,有利于老炼试验的高效进行,减少了时间浪费。
本发明的第二个目的在于提供一种老炼试验***,其能够用于完成对老炼试验过程中出现的试验故障的排查工作,简单高效,降低了排查工作对其他元件的老炼进程的干扰,有利于老炼试验的高效进行,减少了时间浪费。
本发明的实施例是这样实现的:
一种老炼试验夹具,其包括:基座、安装部、对接机构和连接端。安装部、对接机构和连接端均设于基座。安装部用于安装固定待测元件,两组安装部串联设置。对接机构和连接端分设于基座的相对两侧,对接机构和连接端均电性连接于两组安装部之间。对接机构用于与相邻的老炼试验夹具的连接端电性连接。
进一步地,对接机构包括:调节组件和对接柱。调节组件包括:滑动块、引导块、转轮和丝杆。
转轮可转动地安装于基座,丝杆与转轮同轴且固定连接。滑动块可滑动地配合于基座,滑块的滑动方向沿丝杆的轴向设置。滑动块开设有用于与丝杆配合的螺纹孔。引导块固定连接于滑动块,引导块具有相对丝杆呈倾斜设置的引导面。
对接柱可滑动地配合于基座,对接柱的滑动方向垂直于丝杆的轴向设置,对接柱的端部与引导面贴合。对接柱还配合有用于推动其复位的第一弹性件。对接柱电性连接于两组安装部之间。
转动转轮能够驱动滑动块运动,以利用引导面控制对接柱靠近和远离连接端。
进一步地,连接端包括:套筒、运动块、第二弹性件和第一导电片。
套筒固定安装于基座,套筒的开口朝向对接柱,且套筒远离套筒的一端为封闭结构。套筒与对接柱同轴心设置。
套筒的一侧开设有贯穿其侧壁的安装缺口,第一导电片设于安装缺口,且第一导电片的内侧表面与套筒的内侧壁齐平。第一导电片电性连接于两组安装部之间。
运动块可滑动地容置于套筒当中,第二弹性件设于运动块和套筒的内端壁之间,自然状态下,运动块位于套筒的口部。
进一步地,套筒内还设有导向柱,导向柱与套筒同轴设置,导向柱固定连接于套筒的内端壁,且导向柱的外端面与套筒的口部相平齐。运动块开设有与定位柱相适配的配合通孔。
进一步地,对接柱包括柱体、第二导电片和转动块。第二导电片连接于两组安装部之间。
柱体为中空结构,转动块可转动地安装于柱体内部,转动块的转动轴心线垂直于柱体的轴心线设置。转动块具有一抵接面和一连接面,抵接面相对连接面呈倾斜设置。第二导电片连接于连接面,抵接面位于转动块靠近连接端的一侧。
柱体靠近连接端的一端端部开设有供导向柱穿过的让位孔,柱体靠近连接端的一端侧壁开设有供第一导电片伸出的让位口。
自然状态下,抵接面相对导向柱呈倾斜状态,当对接柱配合至套筒时,导向柱抵接于抵接面并推动转动块转动,使第二导电片从让位口伸出与第一导电片贴合以实现电性导通。
进一步地,第二导电片由弹性导电材料制成。第二导电片包括一体成型的第一导电段和第二导电段,第一导电段沿柱体的轴向设置并固定安装于柱体当中,第二导电段位于第一导电段靠近连接端的一端,第二导电段相对第一导电段呈倾斜设置。
第二导电段连接于连接面并朝让位口延伸。
当对接柱配合至套筒时,导向柱抵接于抵接面并推动转动块转动,使第二导电段从让位口伸出与第一导电片贴合以实现电性导通。
进一步地,柱体还包括:复位组件。复位组件包括引导臂、抵接板和第三弹性件。
引导臂的一端铰接于柱体的内侧壁,且引导臂铰接于第二导电段远离转动块的一侧,引导臂的转动轴心线与转动块的转动轴心线平行、间隔设置。抵接板可滑动地配合于引导臂,第三弹性件抵接于抵接板和引导臂的铰接端之间,抵接板抵接于第二导电段远离转动块的一侧。
进一步地,抵接板开设有供引导臂穿过的第一配合孔,第二导电段开设有供引导臂穿过的第二配合孔,转动块开设有供引导臂穿入的第三配合孔。
第一配合孔和第二配合孔二者的孔径均略大于引导臂的直径,第一配合孔和第二配合孔二者的孔径均小于第三配合孔的孔径。
一种老炼试验***,其包括上述的老炼试验夹具。
进一步地,老炼试验***包括:终端控制计算机、MCU电路、恒流控制回路、老炼试验回路和电流采样电路。
老炼试验回路与恒流控制回路电性连接,恒流控制回路与电流采样电路电性连接,恒流控制回路和电流采样电路均与MCU电路电性连接,MCU电路与终端控制计算机电性连接。
老炼试验回路包括若干并联的恒流回路,每个恒流回路中设置有一老炼试验夹具,且每个恒流回路还设置有用于检测每个待测元件的实际电压的电压检测模块。
本发明实施例的技术方案的有益效果包括:
本发明实施例提供的老炼试验夹具在老练试验过程中,随着老炼试验的进行,假设元件a处出现断路故障,需要对其故障进行排查。此时,可以利用两个回路中的老炼试验夹具通过对接机构和连接端进行电性连接,即相当于加入了线路L,此时元件b和元件d就变成了并联关系,元件b和元件d并联后又与元件c串联。这样的话,可以在排查元件a出的故障的过程中,保证元件b处仍然处于导通状态,其老炼过程仍然可以继续,从而降低了因为元件a处发生故障对元件b的老炼进程的影响程度。当元件a处的故障排查完毕后,将相邻两个老炼试验夹具的对接机构和连接端断开,线路L就断开了,就又回到了正常的老炼状态。
总体而言,本发明实施例提供的老炼试验夹具结构简单、使用方便,能够用于完成对老炼试验过程中出现的试验故障的排查工作,简单高效,降低了排查工作对其他元件的老炼进程的干扰,有利于老炼试验的高效进行,减少了时间浪费。本发明实施例提供的老炼试验***能够用于完成对老炼试验过程中出现的试验故障的排查工作,简单高效,降低了排查工作对其他元件的老炼进程的干扰,有利于老炼试验的高效进行,减少了时间浪费。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本发明的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本发明实施例1提供的老炼试验夹具的整体结构示意图;
图2为本发明实施例1提供的老炼试验夹具的使用过程示意图;
图3为本发明实施例1提供的老炼试验夹具的对接机构与连接端的配合示意图(断开状态);
图4为图3的内部结构示意图;
图5为图4的局部放大图;
图6为图5的局部放大图;
图7为本发明实施例1提供的老炼试验夹具的对接机构与连接端在对接过程中的第一中间状态示意图;
图8为本发明实施例1提供的老炼试验夹具的对接机构与连接端在对接过程中的第二中间状态示意图;
图9为本发明实施例1提供的老炼试验夹具的对接机构与连接端在对接过程中的第三中间状态示意图;
图10为本发明实施例1提供的老炼试验夹具的对接机构与连接端对接完成时的状态示意图;
图11为图10的局部放大图;
图12为本发明实施例2提供的老炼试验***的结构示意图;
图13为本发明实施例2提供的老炼试验***接通“线路L”时的结构示意图。
附图标记说明:
老炼试验夹具1000;基座100;安装部110;对接机构200;调节组件210;滑动块211;引导块212;引导面213;转轮214;丝杆215;对接柱300;柱体310;第二导电片320;第一导电段321;第二导电段322;第二配合孔322a;转动块330;抵接面331;连接面332;第三配合孔333;让位孔340;让位口350;第一弹性件360;环形凸缘370;连接端400;套筒410;安装缺口411;运动块420;第二弹性件430;第一导电片440;导向柱450;复位组件500;引导臂510;抵接板520;第一配合孔521;第三弹性件530;老炼试验***2000;老炼试验回路2100。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
因此,以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围,而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
此外,术语“平行”、“垂直”等并不表示要求部件绝对平行或垂直,而是可以稍微倾斜。如“平行”仅仅是指其方向相对“垂直”而言更加平行,并不是表示该结构一定要完全平行,而是可以稍微倾斜。
在本发明的描述中,还需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
实施例1
请参照图1,本实施例提供一种老炼试验夹具1000,老炼试验夹具1000包括:基座100、安装部110、对接机构200和连接端400。安装部110、对接机构200和连接端400均设于基座100。安装部110用于安装固定待测元件,两组安装部110串联设置。老炼试验夹具1000用于接入老炼实验电路,当待测元件安装固定于安装部110时,位于两组安装部110上的待测元件为串联关系。
对接机构200和连接端400分设于基座100的相对两侧,对接机构200和连接端400均电性连接于两组安装部110之间。对接机构200用于与相邻的老炼试验夹具1000的连接端400电性连接,以实现相邻的老炼试验夹具1000之间的电路连接。
例如一个老炼实验电路中具有多个老炼试验夹具1000,而这些老炼试验夹具1000之间为并联关系,每个老炼试验夹具1000上安装的两个待测元件为串联关系。如图2所示。元件a和元件b串联,属于一个独立的回路。元件c和元件d串联,属于另一个相邻的独立回路。两个回路为并联关系。
在老练试验过程中,随着老炼试验的进行,假设元件a处出现断路故障,需要对其故障进行排查。此时,可以利用两个回路中的老炼试验夹具1000通过对接机构200和连接端400进行电性连接,即相当于加入了线路L,此时元件b和元件d就变成了并联关系,元件b和元件d并联后又与元件c串联。这样的话,可以在排查元件a出的故障的过程中,保证元件b处仍然处于导通状态,其老炼过程仍然可以继续,从而降低了因为元件a处发生故障对元件b的老炼进程的影响程度。当元件a处的故障排查完毕后,将相邻两个老炼试验夹具1000的对接机构200和连接端400断开,线路L就断开了,就又回到了正常的老炼状态。
总体而言,老炼试验夹具1000结构简单、使用方便,能够用于完成对老炼试验过程中出现的试验故障的排查工作,简单高效,降低了排查工作对其他元件的老炼进程的干扰,有利于老炼试验的高效进行,减少了时间浪费。
请结合图3~图11,在本实施例中,对接机构200包括:调节组件210和对接柱300。调节组件210包括:滑动块211、引导块212、转轮214和丝杆215。
如图3~图6,基座100具有内腔,转轮214可转动地安装于基座100的内腔当中,转轮214的转动轴心线沿基座100的轴向设置,丝杆215与转轮214同轴且固定连接。转轮214的轮面贯穿基座100的顶壁并延伸至极左的外部,以便于从基座100的外部转动转轮214。
滑动块211可滑动地配合于基座100当中,滑块的滑动方向沿丝杆215的轴向设置。滑动块211开设有用于与丝杆215配合的螺纹孔(图中未示出),滑动块211通过其螺纹孔与丝杆215配合。通过转动转轮214,丝杆215能够带动滑动块211滑动,通过改变转轮214的转动方向,可以调控滑动块211的滑动方向。
引导块212固定连接于滑动块211,引导块212具有相对丝杆215呈倾斜设置的引导面213。引导面213位于引导块212靠近另一个老炼试验夹具1000的连接端400的一侧。
对接柱300可滑动地配合于基座100,对接柱300的滑动方向垂直于丝杆215的轴向设置,对接柱300远离另一个老炼试验夹具1000的连接端400的一端端部与引导面213贴合。对接柱300还配合有用于推动其复位的第一弹性件360。其中,对接柱300的外部具有环形凸缘370,第一弹性件360套设于对接柱300并抵接于环形凸缘370和基座100靠近另一个老炼试验夹具1000的一侧的侧壁之间。
基座100的侧壁开设有工对接柱300伸出的开口。
当转动转轮214使滑动块211向转轮214靠近时,引导块212的引导面213将对接柱300从基座100中推出,使对接柱300向另一个老炼试验夹具1000的连接端400运动以用于完成电性连接。当反向转动转轮214使滑动块211远离转轮214时,在引导面213和第一弹性件360的作用下,对接柱300会重新收回到基座100当中。也就是说,通过转动转轮214能够驱动滑动块211运动,以利用引导面213控制对接柱300靠近和远离连接端400。
进一步地,连接端400包括:套筒410、运动块420、第二弹性件430和第一导电片440。
套筒410固定安装于基座100,套筒410的开口朝向对接柱300,且套筒410远离套筒410的一端为封闭结构。套筒410与对接柱300同轴心设置。套筒410的内腔与对接柱300相适配,运动块420的形状也与套筒410的内腔相适配。
套筒410的一侧开设有贯穿其侧壁的安装缺口411,第一导电片440设于安装缺口411,且第一导电片440的内侧表面与套筒410的内侧壁齐平。第一导电片440通过导线或印刷电路电性连接于两组安装部110之间。
运动块420可滑动地容置于套筒410当中,第二弹性件430设于运动块420和套筒410的内端壁之间,自然状态下,运动块420位于套筒410的口部。
当对接柱300朝连接端400运动时,能够配合至套筒410中,将运动块420朝套筒410内部推动,使运动块420运动经过第一导电片440并使第一导电片440暴露出来,从而实现对接柱300与第一导电片440顺利电性导通,已完成相邻两老炼试验夹具1000之间“线路L”的连接。
当相邻两老炼试验夹具1000的对接机构200和连接端400未连接时,对接柱300收纳于基座100当中,而另一老炼试验夹具1000的套筒410的口部被运动块420封闭,不会出现意外接通的情况,还能防止灰尘进入,降低接触不良等问题的发生概率。
在本实施例中,套筒410内还设有导向柱450,导向柱450与套筒410同轴设置,导向柱450固定连接于套筒410的内端壁,且导向柱450的外端面与套筒410的口部相平齐。运动块420开设有与定位柱相适配的配合通孔。导向柱450能够提高运动块420的稳定性。
进一步地,对接柱300包括柱体310、第二导电片320和转动块330。第二导电片320连接于两组安装部110之间。
柱体310为中空结构,转动块330可转动地安装于柱体310内部,转动块330的转动轴心线垂直于柱体310的轴心线设置。转动块330具有一抵接面331和一连接面332,抵接面331相对连接面332呈倾斜设置,转动面和抵接面331均与转动块330的转动轴心线平行。第二导电片320连接于连接面332,抵接面331位于转动块330靠近连接端400的一侧。
柱体310靠近连接端400的一端端部开设有供导向柱450穿过的让位孔340,柱体310靠近连接端400的一端侧壁开设有供第一导电片440伸出的让位口350。
自然状态下,抵接面331相对导向柱450呈倾斜状态,当对接柱300配合至套筒410时,导向柱450抵接于抵接面331并推动转动块330转动,使第二导电片320从让位口350伸出与第一导电片440贴合以实现电性导通,如图7~图10所示。
具体的,第二导电片320由弹性导电材料制成。第二导电片320包括一体成型的第一导电段321和第二导电段322,第一导电段321沿柱体310的轴向设置并固定安装于柱体310当中,第二导电段322位于第一导电段321靠近连接端400的一端,第二导电段322相对第一导电段321呈倾斜设置。第一导电段321通过导线或印刷电路电性连接于两组安装部110之间。
第二导电段322连接于连接面332并朝让位口350延伸。
自然状态下,第二导电段322的端部位于让位口350以内。
当对接柱300配合至套筒410时,导向柱450会从让位孔340伸入到柱体310当中,并与转动块330的抵接面331接触,当对接柱300充分配合至套筒410当中时,导向柱450进一步进入柱体310并向抵接面331施加推力,使转动块330转动,使第二导电段322从让位口350伸出与第一导电片440贴合以实现电性导通。
在本实施例中,沿柱体310的轴向且指向另一老炼试验夹具1000的连接端400的方向,抵接面331朝第二导电段322所在一侧延伸。
由于第二导电片320本身由弹性导电材料制成,当柱体310与连接端400分离后,第二导电片320能够通过自身的弹性恢复力复位,并同时促进转动块330转动复位。
为了保障第二导电片320和转动块330的复位效果,柱体310还包括:复位组件500。复位组件500包括引导臂510、抵接板520和第三弹性件530。
引导臂510的一端铰接于柱体310的内侧壁,且引导臂510铰接于第二导电段322远离转动块330的一侧,引导臂510的转动轴心线与转动块330的转动轴心线平行、间隔设置。抵接板520可滑动地配合于引导臂510,第三弹性件530抵接于抵接板520和引导臂510的铰接端之间,抵接板520抵接于第二导电段322远离转动块330的一侧。
具体的,抵接板520开设有供引导臂510穿过的第一配合孔521,第二导电段322开设有供引导臂510穿过的第二配合孔322a,转动块330开设有供引导臂510穿入的第三配合孔333。
第一配合孔521和第二配合孔322a二者的孔径均略大于引导臂510的直径,第一配合孔521和第二配合孔322a二者的孔径均小于第三配合孔333的孔径。
通过以上设计,复位组件500不仅能够适应第二导电片320朝让位口350运动的运动过程,而且能够在柱体310与连接端400分离后,推动第二导电片320和转动块330充分复位。
由于设置了第一配合孔521、第二配合孔322a和第三配合孔333,在第二导电段322运动的过程中,引导臂510更不容易卡死。在本实施例中,第一配合孔521和第二配合孔322a二者的孔径均略大于引导臂510的直径且小于引导臂510的直径的两倍,第三配合孔333的孔径大于或等于引导臂510的直径的4倍。
利用老炼试验夹具1000可以方便地实现“线路L”的连接和断开。
实施例2
请结合图12,本实施例提供一种老炼试验***2000,老炼试验***2000包括实施例1中的老炼试验夹具1000。老炼试验***2000可以用于电阻的老炼试验。
老炼试验***2000包括:终端控制计算机、MCU电路、恒流控制回路、老炼试验回路2100和电流采样电路。
老炼试验回路2100与恒流控制回路电性连接,恒流控制回路与电流采样电路电性连接,恒流控制回路和电流采样电路均与MCU电路电性连接,MCU电路与终端控制计算机电性连接。
老炼试验回路2100包括若干并联的恒流回路,每个恒流回路中设置有一老炼试验夹具1000,且每个恒流回路还设置有用于检测每个待测元件的实际电压的电压检测模块。
具体在本实施例中,每个恒流回路中设置有1个老炼试验夹具1000,待测电阻通过老炼试验夹具1000安装于恒流回路当中,实现待测电阻在恒流回路中的串联。20个恒流回路并联构成老炼试验回路2100,老炼试验回路2100可一次性对40个电阻(R1、R2、R3、······、R40)进行老炼试验。
可以理解,老炼试验回路2100中恒流回路的数量、每个恒流回路中可安装的电阻的数量均可以根据实际需要灵活设置,并不局限于此。
终端控制计算机与MCU电路电性连接,MCU电路与恒流控制回路电性连接,恒流控制回路具体为20路,恒流控制回路和电流采样电路之间设置了运算放大电路。
其中,每个电阻的实际电压可以通过计算得到,计算过程包括:根据设定的老炼电压确定输入电压Vin,检测每个电阻的尾端电压(V1、V2、V3、······、V40),根据输入电压Vin和尾端电压(V1、V2、V3、······、V40)可以计算出每个电阻的实际电压。
为了能够更加清楚地说明电阻老炼试验***2000在进行老炼试验过程中的故障排除方法,结合本事实例中的电阻老炼试验***2000进行示例性说明。其中,以每个电阻的老炼电压设定为5V、老炼电流设定为100mA为例进行说明,待测电阻的标注参数为0.5W/50Ω。可以理解,实际的老炼电压和老炼电流可以根据实际情况灵活调整,且并不局限于此。
方式一:如果某一个恒流回路的实际电流显示为“0”,检查该恒流回路的2个电阻的实际电压是否正常。若第二个恒流回路的实际电流显示为“0”,同时电阻R3的实际电压显示为“5.00V”、电阻R4的实际电压显示为“0”,V3显示为“5.00V”,V4显示为“0”,Vin显示为“10.5V”。计算后的阻止为R3=50Ω,R4=0Ω。则优先考虑电阻R4没有正确安装,导致了电流回路不通。若电阻R4的安装不存在问题,那么就要考虑电阻R4自身断路或损坏。
方式二:如果某一个恒流回路的实际电流显示为“100mA”,检查发现该恒流回路的2个电阻中有一个电阻的实际电压略高于老炼电压。例如在扫描界面中,第三个恒流回路的实际电流显示为“100mA”,但R5的实际电压显示为“5.00V”,R6的实际电压显示为“5.53V”,Vin为“10.5V”,V5显示为“5.5V”,V6显示为“0.03V”,阻值计算显示R5=50Ω,R6=55Ω,优先考虑R6的老炼夹具接触不良,其次考虑电阻阻值超过标称的允许误差,如电阻标称的阻值误差为1%,那么R6完全超过了其允许误差范围,需特别标记,待测试结束后最终确定是否合格。
方式三:如果全部恒流回路的实际电流均低于老炼要求的100mA,检查发现所以恒流回路的2个电阻的实际电压均略高于器件的老炼电压,则优先考虑老炼试验条件设置不合适。例如实际电流I0~I20均显示为“80mA~90mA”的范围内的随机值,且所有电阻的实际电压均显示为“4.3~4.6V”,可以确定是老炼电压设置不足,增加设定值即可。
当某个恒流回路中的一个电阻处出现试验故障时,可以利用如实施例1中的连接“线路L”的方式进行故障排查,具体为将相邻两个恒流回路的老炼试验夹具1000的对接机构200和连接端400进行电性连接,示例性地如图12所示,从而降低故障排查过程对故障回路的其他电阻的老炼进程的影响程度。
综上所述,本发明实施例提供的老炼试验夹具1000结构简单、使用方便,能够用于完成对老炼试验过程中出现的试验故障的排查工作,简单高效,降低了排查工作对其他元件的老炼进程的干扰,有利于老炼试验的高效进行,减少了时间浪费。本发明实施例提供的老炼试验***2000能够用于完成对老炼试验过程中出现的试验故障的排查工作,简单高效,降低了排查工作对其他元件的老炼进程的干扰,有利于老炼试验的高效进行,减少了时间浪费。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种老炼试验夹具,其特征在于,包括:基座、安装部、对接机构和连接端;所述安装部、所述对接机构和所述连接端均设于所述基座;所述安装部用于安装固定待测元件,两组所述安装部串联设置;所述对接机构和所述连接端分设于所述基座的相对两侧,所述对接机构和所述连接端均电性连接于两组所述安装部之间;所述对接机构用于与相邻的所述老炼试验夹具的所述连接端电性连接;
所述对接机构包括:调节组件和对接柱;所述调节组件包括:滑动块、引导块、转轮和丝杆;
所述转轮可转动地安装于所述基座,所述丝杆与所述转轮同轴且固定连接;所述滑动块可滑动地配合于所述基座,所述滑动块的滑动方向沿所述丝杆的轴向设置;所述滑动块开设有用于与所述丝杆配合的螺纹孔;所述引导块固定连接于所述滑动块,所述引导块具有相对所述丝杆呈倾斜设置的引导面;
所述对接柱可滑动地配合于所述基座,所述对接柱的滑动方向垂直于所述丝杆的轴向设置,所述对接柱的端部与所述引导面贴合;所述对接柱还配合有用于推动其复位的第一弹性件;所述对接柱电性连接于两组所述安装部之间;
转动所述转轮能够驱动所述滑动块运动,以利用所述引导面控制所述对接柱靠近和远离所述连接端;
所述连接端包括:套筒、运动块、第二弹性件和第一导电片;
所述套筒固定安装于所述基座,所述套筒的开口朝向所述对接柱,且所述套筒远离所述套筒的一端为封闭结构;所述套筒与所述对接柱同轴心设置;
所述套筒的一侧开设有贯穿其侧壁的安装缺口,所述第一导电片设于所述安装缺口,且所述第一导电片的内侧表面与所述套筒的内侧壁齐平;所述第一导电片电性连接于两组所述安装部之间;
所述运动块可滑动地容置于所述套筒当中,所述第二弹性件设于所述运动块和所述套筒的内端壁之间,自然状态下,所述运动块位于所述套筒的口部;
所述套筒内还设有导向柱,所述导向柱与所述套筒同轴设置,所述导向柱固定连接于所述套筒的内端壁,且所述导向柱的外端面与所述套筒的口部相平齐;所述运动块开设有与定位柱相适配的配合通孔;
所述对接柱包括柱体、第二导电片和转动块;所述第二导电片连接于两组所述安装部之间;
所述柱体为中空结构,所述转动块可转动地安装于所述柱体内部,所述转动块的转动轴心线垂直于所述柱体的轴心线设置;所述转动块具有一抵接面和一连接面,所述抵接面相对所述连接面呈倾斜设置;所述第二导电片连接于所述连接面,所述抵接面位于所述转动块靠近所述连接端的一侧;
所述柱体靠近所述连接端的一端端部开设有供所述导向柱穿过的让位孔,所述柱体靠近所述连接端的一端侧壁开设有供第一导电片伸出的让位口;
自然状态下,所述抵接面相对所述导向柱呈倾斜状态,当所述对接柱配合至所述套筒时,所述导向柱抵接于所述抵接面并推动所述转动块转动,使所述第二导电片从所述让位口伸出与所述第一导电片贴合以实现电性导通;
所述第二导电片由弹性导电材料制成;所述第二导电片包括一体成型的第一导电段和第二导电段,所述第一导电段沿所述柱体的轴向设置并固定安装于所述柱体当中,所述第二导电段位于所述第一导电段靠近所述连接端的一端,所述第二导电段相对所述第一导电段呈倾斜设置;
所述第二导电段连接于所述连接面并朝所述让位口延伸;
当所述对接柱配合至所述套筒时,所述导向柱抵接于所述抵接面并推动所述转动块转动,使所述第二导电段从所述让位口伸出与所述第一导电片贴合以实现电性导通。
2.根据权利要求1所述的老炼试验夹具,其特征在于,所述柱体还包括:复位组件;所述复位组件包括引导臂、抵接板和第三弹性件;
所述引导臂的一端铰接于所述柱体的内侧壁,且所述引导臂铰接于所述第二导电段远离所述转动块的一侧,所述引导臂的转动轴心线与所述转动块的转动轴心线平行、间隔设置;所述抵接板可滑动地配合于所述引导臂,所述第三弹性件抵接于所述抵接板和所述引导臂的铰接端之间,所述抵接板抵接于所述第二导电段远离所述转动块的一侧。
3.根据权利要求2所述的老炼试验夹具,其特征在于,所述抵接板开设有供所述引导臂穿过的第一配合孔,所述第二导电段开设有供所述引导臂穿过的第二配合孔,所述转动块开设有供所述引导臂穿入的第三配合孔;
所述第一配合孔和所述第二配合孔二者的孔径均略大于所述引导臂的直径,所述第一配合孔和所述第二配合孔二者的孔径均小于所述第三配合孔的孔径。
4.一种老炼试验***,其特征在于,包括:如权利要求1~3任一项所述的老炼试验夹具。
5.根据权利要求4所述的老炼试验***,其特征在于,所述老炼试验***包括:终端控制计算机、MCU电路、恒流控制回路、老炼试验回路和电流采样电路;
所述老炼试验回路与所述恒流控制回路电性连接,所述恒流控制回路与所述电流采样电路电性连接,所述恒流控制回路和所述电流采样电路均与所述MCU电路电性连接,所述MCU电路与所述终端控制计算机电性连接;
所述老炼试验回路包括若干并联的恒流回路,每个所述恒流回路中设置有一所述老炼试验夹具,且每个所述恒流回路还设置有用于检测每个待测元件的实际电压的电压检测模块。
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Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4414539A (en) * 1978-12-22 1983-11-08 The Boeing Company Built-in passive fault detection circuitry for an aircraft's electrical/electronic systems
WO1990001670A1 (en) * 1988-08-05 1990-02-22 Will Ritmanich Milliohm impedance monitoring apparatus and method
US6525541B1 (en) * 1999-11-24 2003-02-25 Eagle Electric Manufacturing Co., Inc. Electric circuit interrupter with fail safe mode and method
WO2006001303A1 (ja) * 2004-06-23 2006-01-05 Jsr Corporation 回路基板の検査装置および回路基板の検査方法
CN101718804A (zh) * 2009-12-04 2010-06-02 中国电力科学研究院 一种用于特高压变压器的局部放电试验电源***
KR101648012B1 (ko) * 2015-12-03 2016-08-12 (주)에이스콘트롤스 빌딩내 부하기기 센싱용 임베디드형 스마트 iot장치
CN107132446A (zh) * 2017-06-26 2017-09-05 宁波功成电气有限公司 一种高可靠性、高精确性的故障指示器
CN109521348A (zh) * 2018-11-12 2019-03-26 重庆大学 一种直流断路器用igbt模块的可靠性测试及寿命评估方法
CN109781388A (zh) * 2019-02-25 2019-05-21 电子科技大学中山学院 基于分布式恒流驱动电源单管大功率激光器筛选测试***
CN111474457A (zh) * 2020-04-16 2020-07-31 西安太乙电子有限公司 一种实现场效应管功率老炼试验装置
US10794933B1 (en) * 2013-03-15 2020-10-06 Johnstech International Corporation Integrated circuit contact test apparatus with and method of construction
CN217133305U (zh) * 2022-04-01 2022-08-05 杭州三海电子有限公司 一种用于二极管的老炼电路

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7940051B2 (en) * 2008-03-26 2011-05-10 Ulinskas Algerd M Method for testing circuit breakers

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4414539A (en) * 1978-12-22 1983-11-08 The Boeing Company Built-in passive fault detection circuitry for an aircraft's electrical/electronic systems
WO1990001670A1 (en) * 1988-08-05 1990-02-22 Will Ritmanich Milliohm impedance monitoring apparatus and method
US6525541B1 (en) * 1999-11-24 2003-02-25 Eagle Electric Manufacturing Co., Inc. Electric circuit interrupter with fail safe mode and method
WO2006001303A1 (ja) * 2004-06-23 2006-01-05 Jsr Corporation 回路基板の検査装置および回路基板の検査方法
CN101718804A (zh) * 2009-12-04 2010-06-02 中国电力科学研究院 一种用于特高压变压器的局部放电试验电源***
US10794933B1 (en) * 2013-03-15 2020-10-06 Johnstech International Corporation Integrated circuit contact test apparatus with and method of construction
KR101648012B1 (ko) * 2015-12-03 2016-08-12 (주)에이스콘트롤스 빌딩내 부하기기 센싱용 임베디드형 스마트 iot장치
CN107132446A (zh) * 2017-06-26 2017-09-05 宁波功成电气有限公司 一种高可靠性、高精确性的故障指示器
CN109521348A (zh) * 2018-11-12 2019-03-26 重庆大学 一种直流断路器用igbt模块的可靠性测试及寿命评估方法
CN109781388A (zh) * 2019-02-25 2019-05-21 电子科技大学中山学院 基于分布式恒流驱动电源单管大功率激光器筛选测试***
CN111474457A (zh) * 2020-04-16 2020-07-31 西安太乙电子有限公司 一种实现场效应管功率老炼试验装置
CN217133305U (zh) * 2022-04-01 2022-08-05 杭州三海电子有限公司 一种用于二极管的老炼电路

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
10kV线路老化与高阻接地故障对线损影响研究;李尚宇 等;《电力设备管理》;20210425;全文 *
Aging monitor reuse for small delay fault testing;Chang Liu 等;《2017 IEEE 35th VLSI Test Symposium (VTS)》;20170518;全文 *

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