CN114609991A - 硬件在环测试***及方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种硬件在环测试***及方法，涉及控制器测试技术领域，该硬件在环测试***包括硬件在环测试设备；转接平台，通讯连接硬件在环测试设备和控制器，转接平台包括第一连接端口，第一连接端口配置为根据控制器的类型调整第一连接端口的引脚电气属性，以适配控制器；其中，引脚电气属性表征输入或输出的信号类型。该硬件在环测试***及方法可以提高硬件在环测试的工作效率，并且降低测试成本。

Description

硬件在环测试***及方法

技术领域

本申请涉及控制器测试技术领域，具体涉及一种硬件在环测试***及方法。

背景技术

硬件在环(HIL)测试***是以实时处理器运行仿真模型来模拟受控对象的运行状态，通过I/O接口与被测的控制器连接，对被测控制器进行全方面的、***的测试。现有技术中，在进行硬件在环测试时，每台硬件在环设备仅能对同一类被测控制器进行测试，在对另外一类被测控制器进行测试时，需要对应更换硬件在环设备，这样在被测控制器种类较多的情况下，会导致测试的工作效率较低，而且准备多台硬件在环设备也会相应地提升测试成本。

发明内容

为了解决上述技术问题，提出了本申请。本申请的实施例提供了一种硬件在环测试***及方法，其可以提高硬件在环测试的工作效率，并且降低测试成本。

根据本申请的一个方面，提供了一种硬件在环测试***，该硬件在环测试***包括：硬件在环测试设备；转接平台，通讯连接所述硬件在环测试设备和控制器，所述转接平台包括第一连接端口，所述第一连接端口配置为根据所述控制器的类型调整所述第一连接端口的引脚电气属性，以适配所述控制器；其中，所述引脚电气属性表征输入或输出的信号类型。

根据本申请的一个方面，该硬件在环测试***还包括控制单元连接线束，配置为连接所述第一连接端口与所述控制器。

根据本申请的一个方面，所述控制单元连接线束包括：第一连接插件，可拆卸地连接于所述第一连接端口；第二连接插件，可拆卸地连接于所述控制器；以及第一连接线缆，连接所述第一连接插件和所述第二连接插件。

根据本申请的一个方面，所述控制单元连接线束还包括锁扣，连接所述第一连接插件与所述转接平台，以锁止所述第一连接插件。

根据本申请的一个方面，所述转接平台还包括第二连接端口，通讯连接于所述第一连接端口；所述硬件在环测试***还包括硬件在环连接线束，通讯连接所述硬件在环测试设备和所述第二连接端口。

根据本申请的一个方面，所述硬件在环连接线束包括多根硬件在环连接线缆，多根所述硬件在环连接线缆均通讯连接所述硬件在环测试设备和所述第二连接端口。

根据本申请的一个方面，所述硬件在环连接线缆包括：信号传输接点，通讯连接于所述第二连接端口；所述信号传输接点配置为传递控制信号；电平检查接点，通讯连接于所述第二连接端口；所述电平检查接点配置为测量所述第二连接端口的电平；电路故障注入接点，通讯连接于所述第二连接端口；所述电路故障注入接点配置为将所述第二连接端口短路；预留接点，通讯连接于所述第二连接端口。

根据本申请的一个方面，所述硬件在环连接线束还包括第三连接插件，配置为连接所述硬件在环测试设备和所述多根硬件在环连接线缆。

根据本申请的另一个方面，提供了一种硬件在环测试方法，应用于前述的硬件在环测试设备，所述硬件在环测试方法包括：

根据所述控制器的类型信息，调整所述转接平台的所述第一连接端口的引脚电气属性；

根据需求的所述第一连接端口的引脚电气属性，连通控制单元连接线束；其中，所述控制单元连接线束通讯连接所述第一连接端口与所述控制器；

对所述控制器进行硬件在环测试。

根据本申请的另一个方面，在所述对所述控制器进行硬件在环测试之后，所述硬件在环测试方法还包括：

解除当前的控制单元连接线束与所述第一连接端口之间的约束；

根据后一个控制器的类型信息，再次调整所述第一连接端口的引脚电气属性；

根据需求的所述第一连接端口的引脚数量以及再次调整后的所述引脚电气属性，连通后一个控制单元连接线束；其中，所述后一个控制单元连接线束通讯连接所述第一连接端口与所述后一个控制器；

对所述后一个控制器进行硬件在环测试。

本申请提供的硬件在环测试***及方法，其可以根据控制器的类型信息，调整转接平台的第一连接端口的引脚电气属性，以适配被测的控制器，从而使得不同类型的控制器可以通过转接平台实现与硬件在环测试设备之间的信号传输，这样，减少了在更换被测的控制器后，再更换另外的硬件在环测试设备的步骤，不仅缩短了测试多个不同类型控制器的测试时间，提高了测试效率，而且也减少了硬件在环测试设备的使用数量，降低了测试成本。

附图说明

通过结合附图对本申请实施例进行更详细的描述，本申请的上述以及其他目的、特征和优势将变得更加明显。附图用来提供对本申请实施例的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请实施例一起用于解释本申请，并不构成对本申请的限制。在附图中，相同的参考标号通常代表相同部件或步骤。

图1为本申请一示例性实施例提供的硬件在环测试***和控制器的结构示意图。

图2为本申请一示例性实施例提供的转接平台的第一连接端口和第二连接端口的结构示意图。

图3为本申请一示例性实施例提供的控制单元连接线束的结构示意图。

图4为本申请一示例性实施例提供的硬件在环测试方法的流程示意图。

图5为本申请另一示例性实施例提供的硬件在环测试方法的流程示意图。

图6为本申请一示例性实施例提供的电子设备的结构框图。

附图说明：1-硬件在环测试***；11-硬件在环测试设备；12-转接平台；121-第一连接端口；122-第二连接端口；13-控制单元连接线束；131-第一连接插件；132-第二连接插件；133-第一连接线缆；134-锁扣；14-硬件在环连接线束；141-硬件在环连接线缆；1411-信号传输接点；1412-电平检查接点；1413-电路故障注入接点；1414-预留接点；142-第三连接插件；2-控制器；40-电子设备；41-处理器；42-存储器；43-输入装置；44-输出装置。

具体实施方式

下面，将参考附图详细地描述根据本申请的示例实施例。显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是本申请的全部实施例，应理解，本申请不受这里描述的示例实施例的限制。

图1为本申请一示例性实施例提供的硬件在环测试***和控制器的结构示意图。如图1所示，本申请实施例提供的硬件在环测试***1可以包括硬件在环测试设备11，硬件在环测试设备11可以对控制器2进行硬件在环测试，硬件在环测试设备11在对控制器2进行测试的过程中，其内部的处理器可以运行仿真模型来模拟受控对象的运行状态，并且可以采集控制器2发出的控制信号，对控制器2进行***的、全方面的测试。

以起重机为例，在一实施例中，起重机中的控制器2可以包括悬挂控制器，悬挂控制器可以用于控制起重机的悬挂上升或者下降。

在一实施例中，起重机中的控制器2可以包括车轮转向控制器，车轮转向控制器可以用于控制起重机的车轮转向。一般地，起重机的转向车轮可以有五组、七组等，车轮转向控制器可以用于控制不同组的转向车轮独立转动。

在一实施例中，起重机中的控制器2还可以包括支腿控制器，支腿控制器可以用于控制起重机支腿伸展和收缩。

在一实施例中，起重机中的控制器2还可以包括车身控制器，车身控制器可以用于调整车身的倾斜角度。

在一实施例中，起重机中的控制器2还可以包括起重臂控制器，起重臂控制器可以用于控制臂架变幅、臂架伸缩、臂架回转或者进行卷扬作业等。

在进行硬件在环测试的过程中，硬件在环测试设备11可以接收到控制指令，该控制指令可以由工作人员操作模拟器发出，接收到控制指令后，硬件在环测试设备11可以将控制指令转化为控制器2可识别的控制信号，传递给控制器2，控制器2根据控制信号，发出对应的执行信号，硬件在环测试设备11采集执行信号后，再运行仿真模型来执行控制指令表征的动作，硬件在环测试设备11可以根据仿真模型的执行结果，来判断控制器2输出的执行信号表征的动作是否与接收到的控制指令表征的动作相同，从而得到控制器2的测试结果。

如图1所示，在一实施例中，该硬件在环测试***1还可以包括转接平台12，转接平台12可以通讯连接硬件在环测试设备11和控制器2，也就是说，转接平台12可以将硬件在环测试设备11处理后的信号传递给控制器2，也可以将控制器2发出的控制信号传递给硬件在环测试设备11。

图2为本申请一示例性实施例提供的转接平台的第一连接端口和第二连接端口的结构示意图。如图1和图2所示，在一实施例中，转接平台12可以包括第一连接端口121，第一连接端口121用于连接控制器2，第一连接端口121内设置有多个引脚，根据控制器2的类型，可以调整第一连接端口121中多个引脚的电气属性，这样，可以使得第一连接端口121中引脚的电器属性与控制器2的类型适配，从而实现第一连接端口121与控制器2之间的信号交互。

在一实施例中，工作人员在了解待测控制器2的类型后，可以向硬件在环测试设备11中输入表征待测控制器2的类型的信号，使得硬件在环测试设备11可以获取控制器2的类型信息。在硬件在环测试设备11获取控制器2的类型信息后，可以向转接平台12发出调整信号，从而调整转动平台12中的第一连接端口121中多个引脚的电气属性，使得第一连接端口121中引脚的电器属性与控制器2的类型适配。

在一实施例中，引脚电器属性可以表征输入或输出的信号类型。信号类型可以包括模拟信号和数字信号。例如：若被测的控制器2接收或输出的信号是模拟信号，则可以对应调整引脚电气属性，使其可以输入或输出模拟信号，以适配被测的控制器2。若被测的控制器2接收或输出的信号是数字信号，则可以对应调整引脚电气属性，使其可以输入或输出数字信号，以适配被测的控制器2。

应当理解的是，转接平台12的第一连接端口121可以用于连接不同类型的控制器2，也就是说，被测的控制器2的类型更换后，可以调整转接平台12的第一连接端口121的引脚电气属性，从而适配更换后的控制器2，这样可以避免频繁地更换硬件在环测试设备11，即使用一台硬件在环测试设备11就可以对不同类型的控制器2进行硬件在环测试，减少了更换过程中耗费的时间，提高了测试作业的效率，同时也减少了硬件在环测试设备11的使用数量，有效地降低了测试成本。

本申请实施例提供的硬件在环测试***1，其包括硬件在环测试设备11和转接平台12，转接平台12用于通讯连接硬件在环测试设备11和控制器2，根据控制器2的类型，可以调整转接平台12的第一连接端口121的引脚电气属性，以适配被测的控制器2，从而使得不同类型的控制器2可以通过转接平台12实现与硬件在环测试设备11之间的信号传输，这样减少了在更换被测的控制器2后，再更换另外的硬件在环测试设备11的步骤，不仅缩短了测试多个不同类型控制器2的测试时间，提高了测试效率，而且也减少了硬件在环测试设备11的使用数量，降低了测试成本。

如图1和图2所示，在一实施例中，该硬件在环测试***1还可以包括控制单元连接线束13，控制单元连接线束13可以用于连接第一连接端口121和控制器2。

在一实施例中，控制单元连接线束13可以与控制器2配套使用，即每个控制器2可以搭配一根控制单元连接线束13，在更换控制器2时，将配套的控制单元连接线束13也一起进行更换，更换后的控制单元连接线束13可以连接在第一连接端口121处。

在一实施例中，待测的控制器2确定后，可以根据控制器2的类型和规格选取或制作对应配套的控制单元连接线束13，然后再连接控制单元连接线束13和控制器2，然后再将控制单元连接线束13连接在第一连接端口121上，这样，通过控制单元连接线束13，可以实现第一连接端口121与控制器2之间的信号传递。

图3为本申请一示例性实施例提供的控制单元连接线束的结构示意图。如图1和图3所示，在一实施例中，控制单元连接线束13可以包括第一连接插件131、第二连接插件132以及第一连接线缆133，第一连接线缆133用于连接第一连接插件131和第二连接插件132。

应当理解的是，根据实际需求情况可以适当调整第一连接线缆133的长度和直径，本申请实施例对第一连接线缆133的长度和直径不作具体限定。

在一实施例中，第一连接插件131可拆卸地连接于第一连接端口121，第二连接插件132可拆卸地连接于控制器2，安装和拆卸过程方便快捷，便于在测试的过程中更换不同类型的控制器2和控制单元连接线束13。

在一实施例中，第一连接插件131可以通过插拔、滑动、转动等方式可拆卸地连接于第一连接端口121，可以提高安装和拆卸效率。第二连接插件132可以通过插拔、滑动、转动等方式可拆卸地连接于控制器2，可以提高安装和拆卸效率。

如图1和图3所示，在一实施例中，控制单元连接线束13还可以包括锁扣134，锁扣134用于连接第一连接插件131和转接平台12，以锁止第一连接插件131，这样可以避免第一连接插件131在测试过程中脱离转接平台12，保证测试过程的稳定性。

在一实施例中，锁扣134可以设置在第一连接插件131上，在第一连接插件131***第一连接端口121后，操作锁扣134，使得锁扣134卡接在转接平台12上，从而将第一连接插件131锁止在转接平台12上。

在一实施例中，锁扣134也可以设置在转接平台12上，在第一连接插件131***第一连接端口121后，操作锁扣134将第一连接插件131锁止在转接平台12上。

如图1和图2所示，在一实施例中，转接平台12还可以包括第二连接端口122，第二连接端口122通讯连接于第一连接端口121，这样，第一连接端口121与第二连接端口122之间可以实现信号的相互传递。

在一实施例中，转接平台12还可以包括转接线束(图中未示出)，转接线束用于连接第一连接端口121和第二连接端口122，第一连接端口121与第二连接端口122之间通过转接线束实现信号的传递。

如图1和图2所示，在一实施例中，该硬件在环测试***1还可以包括硬件在环连接线束14，硬件在环连接线束14通讯连接硬件在环测试设备11和第二连接端口122，这样，硬件在环测试设备11和第二连接端口122可以通过硬件在环连接线束14实现信号传递。

在一实施例中，硬件在环测试设备11、硬件在环连接线束14、第一连接端口121、第二连接端口122以及控制单元连接线束13可以形成一条信号传输链，实现硬件在环测试设备11与被测的控制器2之间的信号传输。考虑到控制单元连接线束13通常与被测的控制器2配套使用，需要经常从第一连接端口121拆卸下来，而硬件在环连接线束14不用经常拆卸的情况，可以将硬件在环测试设备11、硬件在环连接线束14以及转接平台12集成为一个整体，这样方便搬运转移，而且在测试的过程中，只需要根据被测的控制器2的类型调整第一连接端口121的引脚电气属性以及选取或制作配套的控制单元连接线束13即可，不用单独安装或拆卸硬件在环连接线束14，从而可以有效地提高测试工作的效率。

如图2所示，在一实施例中，硬件在环连接线束14包括多根硬件在环连接线缆141，多根硬件在环连接线缆141均用于通讯连接硬件在环测试设备11和第二连接端口122。

在一实施例中，多根硬件在环连接线缆141可以同时传递信号，可以提高信号的传输效率。

如图2所示，在一实施例中，每根硬件在环连接线缆141包括有信号传输接点1411，信号传输节点与第二连接端口122通讯连接，硬件在环测试设备11发出的信号通过信号传输节点可以传递到第二连接端口122，信号传输节点保证了硬件在环测试设备11与转接平台12之间的信号传递。

如图2所示，在一实施例中，每根硬件在环连接线缆141还可以包括电平检查接点1412，一般地，在进行硬件在环测试之前，可以将电平检查仪器接入到电平检查接点1412，从而可以检测第二连接端口122的电平，以确定第二连接端口122的电平是否符合硬件在环测试的要求。

如图2所示，在一实施例中，每根硬件在环连接线缆141还可以包括电路故障注入接点1413，电路故障注入接点1413与第二连接端口122通讯连接。在对硬件在环测试***1进行检查时，检查设备接入电路故障注入接点1413，可以将第二连接端口122短路，并进入故障输入，这样可以观察***在存在故障时作出的反应行为，从而来评价***在故障时的处理和反应能力。

在一实施例中，故障注入可以包括基于硬件的故障注入、基于软件的故障注入以及基于仿真的故障注入。相关技术对故障注入方法有详细记载，本文不再赘述。

如图2所示，在一实施例中，每根硬件在环连接线缆141还可以包括预留接点1414，预留接点1414与第二连接端口122通讯连接，在前述的信号传输接点1411、电平检查接点1412以及电路故障注入接点1413的其中一者出现故障的情况下，可以使预留接点1414替代出现故障的接点，保证测试过程的正常进行。

如图2所示，在一实施例中，该硬件在环连接线束14还可以包括第三连接插件142，第三连接插件142用于连接硬件在环测试设备11和多根硬件在环连接线缆141，第三连接插件142可以通过插拔、滑动、转动等方式可拆卸地连接在硬件在环测试设备11上，方便安装和拆卸过程。

图4为本申请一示例性实施例提供的硬件在环测试方法的流程示意图。如图4所示，本申请实施例提供的硬件在环测试方法可以应用于前述的硬件在环测试设备11，具体地，该硬件在环测试方法可以包括：

S310：根据控制器的类型信息，调整转接平台的第一连接端口的引脚电气属性。

在一实施例中，转接平台与硬件在环测试设备通讯连接，硬件在环测试设备中的电子设备可以通过软件调整转接平台的第一连接端口的引脚电气属性，以使调整后的引脚电气属性与被测的控制器适配。

应当理解的是，根据控制器的类型，调整第一连接端口的引脚电气属性，使得第一连接端口可以用于连接不同类型的控制器，也就是说，被测的控制器的类型更换后，可以调整第一连接端口的引脚电气属性，从而适配更换后的控制器，这样可以避免频繁地更换硬件在环测试设备，即使用一台硬件在环测试设备就可以对不同类型的控制器进行硬件在环测试，减少了更换过程中耗费的时间，提高了测试作业的效率，同时也减少了硬件在环测试设备的使用数量，有效地降低了测试成本。

S320：根据需求的第一连接端口的引脚电气属性，连通控制单元连接线束。

在一实施例中，根据控制器的类型，可以对应选用与控制器配套的控制单元连接线束。

在一实施例中，可以根据第一连接端口的引脚电气属性制作或选取控制单元连接线束的引脚，使得控制单元连接线束的引脚与第一连接端口的引脚适配，然后将控制单元连接线束安装在第一连接端口中，实现第一连接端口与控制器之间通讯连接。

S330：对控制器进行硬件在环测试。

在一实施例中，在硬件在环测试设备、转接平台、控制单元连接线束以及被测的控制器通讯连接后，可以启动硬件在环测试设备，然后，硬件在环测试设备收到控制指令后，对控制器进行后续的硬件在环测试，其具体的测试过程可以参照前文对硬件在环测试过程的介绍，这里不再重复叙述。

本申请实施例提供的硬件在环测试方法，其根据控制器的类型信息调整转接平台的第一连接端口的引脚电气属性，以适配被测的控制器，从而使得不同类型的控制器可以通过第一连接端口和转接平台实现与硬件在环测试设备之间的信号传输，这样减少了在更换被测的控制器后，再更换另外的硬件在环测试设备的步骤，不仅缩短了测试多个不同类型控制器的测试时间，提高了测试效率，而且也减少了硬件在环测试设备的使用数量，降低了测试成本。

图5为本申请另一示例性实施例提供的硬件在环测试方法的流程示意图。如图5所示，在一实施例中，在步骤S330之后，该硬件在环测试方法还可以包括：

S340：解除当前的控制单元连接线束与第一连接端口之间的约束。

在一实施例中，解除当前的控制单元连接线束与第一连接端口之间的约束可以包括断开控制单元连接线束与第一连接端口之间的通讯信号以及将控制单元连接线束从第一连接端口上拆卸下来，这样可以方便连通后一个待测的控制器。

S350：根据后一个控制器的类型信息，再次调整第一连接端口的引脚电气属性。

在一实施例中，在当前控制器测试完成后，可以输入后一个控制器的类型信息，根据后一个控制器的类型信息，再次调整第一连接端口的引脚电气属性，以适配后一个控制器，为后一个控制器的测试做准备。

S360：根据需求的第一连接端口再次调整后的引脚电气属性，连通后一个控制单元连接线束。

在一实施例中，可以根据第一连接端口再次调整后的引脚电气属性制作后一个控制单元连接线束的引脚，使得后一个控制单元连接线束的引脚与第一连接端口再次调整后的引脚适配，然后将控制后一个单元连接线束安装在调整后的第一连接端口中，实现第一连接端口与后一个控制器之间通讯连接。

S370：对后一个控制器进行硬件在环测试。

在一实施例中，在硬件在环测试设备、转接平台1、后一个控制单元连接线束以及后一个被测的控制器通讯连接后，可以对应启动硬件在环测试设备，然后硬件在环测试设备收到控制指令后，对后一个控制器进行后续的硬件在环测试。

应当理解的是，在待测的控制器的数量为多个的情况下，可以循环进行步骤S350、步骤S360以及步骤S370，从而完成对多个控制器的硬件在环测试。

图6为本申请一示例性实施例提供的电子设备的结构框图。如图6所示，硬件在环测试设备11中的电子设备40可以用于执行前述的硬件在环测试方法。该电子设备40可以是第一设备和第二设备中的任一个或两者、或与它们独立的单机设备，该单机设备可以与第一设备和第二设备进行通信，以从它们接收所采集到的输入信号。

如图6所示，电子设备40包括一个或多个处理器41和存储器42。

处理器41可以是中央处理单元(CPU)或者具有数据处理能力和/或指令执行能力的其他形式的处理单元，并且可以控制电子设备40中的其他组件以执行期望的功能。

存储器42可以包括一个或多个计算机程序产品，所述计算机程序产品可以包括各种形式的计算机可读存储介质，例如易失性存储器和/或非易失性存储器。所述易失性存储器例如可以包括随机存取存储器(RAM)和/或高速缓冲存储器(cache)等。所述非易失性存储器例如可以包括只读存储器(ROM)、硬盘、闪存等。在所述计算机可读存储介质上可以存储一个或多个计算机程序指令，处理器41可以运行所述程序指令，以实现上文所述的本申请的各个实施例的方法以及/或者其他期望的功能。在所述计算机可读存储介质中还可以存储诸如输入信号、信号分量、噪声分量等各种内容。

在一个示例中，电子设备40还可以包括：输入装置43和输出装置44，这些组件通过总线***和/或其他形式的连接机构(未示出)互连。

在该电子设备是单机设备时，该输入装置43可以是通信网络连接器，用于从第一设备和第二设备接收所采集的输入信号。

此外，该输入装置43还可以包括例如键盘、鼠标等等。

该输出装置44可以向外部输出各种信息，包括确定出的距离信息、方向信息等。该输出装置44可以包括例如显示器、扬声器、打印机、以及通信网络及其所连接的远程输出设备等等。

当然，为了简化，图6中仅示出了该电子设备40中与本申请有关的组件中的一些，省略了诸如总线、输入/输出接口等等的组件。除此之外，根据具体应用情况，电子设备40还可以包括任何其他适当的组件。

所述计算机程序产品可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本申请实施例操作的程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言，诸如Java、C++等，还包括常规的过程式程序设计语言，诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。

所述计算机可读存储介质可以采用一个或多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以包括但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的***、装置或器件，或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。

为了例示和描述的目的已经给出了以上描述。此外，此描述不意图将本申请的实施例限制到在此公开的形式。尽管以上已经讨论了多个示例方面和实施例，但是本领域技术人员将认识到其某些变型、修改、改变、添加和子组合。

Claims (10)

1.一种硬件在环测试***，其特征在于，包括：

硬件在环测试设备(11)；

转接平台(12)，通讯连接所述硬件在环测试设备(11)和控制器(2)，所述转接平台(12)包括第一连接端口(121)，所述第一连接端口(121)配置为根据所述控制器(2)的类型调整所述第一连接端口(121)的引脚电气属性，以适配所述控制器(2)；其中，所述引脚电气属性表征输入或输出的信号类型。

2.根据权利要求1所述的硬件在环测试***，其特征在于，还包括控制单元连接线束(13)，配置为连接所述第一连接端口(121)与所述控制器(2)。

3.根据权利要求2所述的硬件在环测试***，其特征在于，所述控制单元连接线束(13)包括：

第一连接插件(131)，可拆卸地连接于所述第一连接端口(121)；

第二连接插件(132)，可拆卸地连接于所述控制器(2)；以及

第一连接线缆(133)，连接所述第一连接插件(131)和所述第二连接插件(132)。

4.根据权利要求3所述的硬件在环测试***，其特征在于，所述控制单元连接线束(13)还包括锁扣(134)，连接所述第一连接插件(131)与所述转接平台(12)，以锁止所述第一连接插件(131)。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的硬件在环测试***，其特征在于，所述转接平台(12)还包括第二连接端口(122)，通讯连接于所述第一连接端口(121)；

所述硬件在环测试***还包括硬件在环连接线束(14)，通讯连接所述硬件在环测试设备(11)和所述第二连接端口(122)。

6.根据权利要求5所述的硬件在环测试***，其特征在于，所述硬件在环连接线束(14)包括多根硬件在环连接线缆(141)，多根所述硬件在环连接线缆(141)均通讯连接所述硬件在环测试设备(11)和所述第二连接端口(122)。

7.根据权利要求6所述的硬件在环测试***，其特征在于，所述硬件在环连接线缆(141)包括：

信号传输接点(1411)，通讯连接于所述第二连接端口(122)；所述信号传输接点(1411)配置为传递控制信号；

电平检查接点(1412)，通讯连接于所述第二连接端口(122)；所述电平检查接点(1412)配置为测量所述第二连接端口(122)的电平；

电路故障注入接点(1413)，通讯连接于所述第二连接端口(122)；所述电路故障注入接点(1413)配置为将所述第二连接端口(122)短路；

预留接点(1414)，通讯连接于所述第二连接端口(122)。

8.根据权利要求6所述的硬件在环测试***，其特征在于，所述硬件在环连接线束(14)还包括第三连接插件(142)，配置为连接所述硬件在环测试设备(11)和所述多根硬件在环连接线缆(141)。

9.一种硬件在环测试方法，其特征在于，应用于权利要求1至8中任一项所述的硬件在环测试***中的硬件在环测试设备，所述硬件在环测试方法包括：

根据所述控制器的类型信息，调整所述转接平台的所述第一连接端口的引脚电气属性；

根据需求的所述第一连接端口的引脚电气属性，连通控制单元连接线束；其中，所述控制单元连接线束通讯连接所述第一连接端口与所述控制器；

对所述控制器进行硬件在环测试。

10.根据权利要求9所述的硬件在环测试方法，其特征在于，在所述对所述控制器进行硬件在环测试之后，所述硬件在环测试方法还包括：

解除当前的控制单元连接线束与所述第一连接端口之间的约束；

根据后一个控制器的类型信息，再次调整所述第一连接端口的引脚电气属性；

根据需求的所述第一连接端口的引脚数量以及再次调整后的所述引脚电气属性，连通后一个控制单元连接线束；其中，所述后一个控制单元连接线束通讯连接所述第一连接端口与所述后一个控制器；

对所述后一个控制器进行硬件在环测试。

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