CN113917971A - 电流模带隙基准电压源的校准电路 - Google Patents

电流模带隙基准电压源的校准电路 Download PDF

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CN113917971A CN202111304187.0A CN202111304187A CN113917971A CN 113917971 A CN113917971 A CN 113917971A CN 202111304187 A CN202111304187 A CN 202111304187A CN 113917971 A CN113917971 A CN 113917971A
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    • G05F1/46Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
    • G05F1/56Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
    • G05F1/565Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor
    • G05F1/567Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor for temperature compensation

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Abstract

本申请实施例提供了一种电流模带隙基准电压源的校准电路,包括:基准电压产生子电路、校准电压产生子电路、校准引擎子电路、斩波比较器及电流型数模转换器;基准电压产生子电路的第一端与斩波比较器的非反相输入端连接,基准电压产生子电路的第二端接地;斩波比较器的反相输入端与校准电压产生子电路的第一端连接,校准电压产生子电路的第二端接地,斩波比较器的输出端与校准引擎子电路的输入端连接;校准引擎子电路的输出端与电流型数模转换器的输入端连接;电流型数模转换器的输出端与基准电压产生子电路的中间节点连接。通过所提供的校准方案,能够消除高温段和低温段的电压偏差,改善电流模带隙基准电压源的抗制程偏移能力,降低成本。

Description

电流模带隙基准电压源的校准电路
技术领域
本申请涉及电源技术领域,尤其涉及一种电流模带隙基准电压源的校准电路。
背景技术
现有技术中的带隙基准电压源是集成电路中的基本组成电路之一,带隙基准电压源能为其他电路提供一个对工作温度、电源电压以及电路负载不敏感的精确参考电压。与芯片外置电源相比,带隙基准电压源的精确度及稳定性更佳,而且能有效减少电路面积,因此其在数据转换器、电源管理电路、储存器等集成电路***中均得到了广泛的应用。
随着近年互补金属氧化物半导体(Complementary Metal Oxide Semiconductor,CMOS)集成电路制程及集成片上***(System-on-a-Chip,SoC)的发展,设计适用于先进CMOS工艺集成电路上的带隙基准电压源得越来越受到关注。传统的电流模带隙基准电压源(Current mode Bandgap voltage Reference,CBGR)设计采用双极性晶体管(BipolarJunction Transistor,BJT)产生负温度系数(Complementary To Absolute Temperature,CTAT)的电压曲线,并将两个斜率不同的负温度系数电压相减以得到一个正温度系数(Proportional To Absolute Temperature,PTAT)的电压曲线,最后利用电流镜电路及输出电阻,将CTAT的电压曲线及PTAT的电压曲线相加,理论上便可得到一个温度系数近乎于零的电压曲线。但是,受到CMOS工艺所限,上述CTAT的电压曲线及PTAT电压曲线是非线性的,而且制程越先进,非线性度越大。此外,在不同的CMOS工艺角上,同一设计产生的基准电压也会出现偏差;而在越先进的工艺下,这个偏差也会越大。可见设计适用于先进制程的电流模带隙基准电压源的难度之大。
上述在不同工艺角下的基准电压偏差,很可能会影响集成电路***中其他电路的运作。对此,在工业上,带隙基准电压源需要经过人工校准,使得其输出基准电压在可接受的误差范围内。人工校准需要大量人力,会为集成电路***的大规模生产增加大量成本,而且也耗费时间,降低效率。
此外,现有的人工校准一般是在单个温度点(如室温)下针对PTAT电压的比率进行调校。但是,这种校准方式也会改变基准电压曲线的整体斜率,因此并不能从根本上消除电流模带隙基准电压源在不同工艺角下,高温段和低温段的基准电压偏差。
发明内容
为了解决上述技术问题,本申请实施例提供了一种电流模带隙基准电压源的校准电路。
第一方面,本申请实施例提供了一种电流模带隙基准电压源的校准电路,所述电路包括:
基准电压产生子电路、校准电压产生子电路、校准引擎子电路、斩波比较器及电流型数模转换器;
所述基准电压产生子电路的第一端与所述斩波比较器的非反相输入端连接,所述基准电压产生子电路的第二端接地;
所述斩波比较器的反相输入端与所述校准电压产生子电路的第一端连接,所述校准电压产生子电路的第二端接地,所述斩波比较器的输出端与所述校准引擎子电路的输入端连接;
所述校准引擎子电路的输出端与所述电流型数模转换器的输入端连接;
所述电流型数模转换器的输出端与所述基准电压产生子电路的中间节点连接。
可选的,所述基准电压产生子电路包括:第一偏置电阻与第二偏置电阻;
所述第二偏置电阻的第一端为所述基准电压产生子电路的第一端;
所述第二偏置电阻的第二端与所述第一偏置电阻的第一端连接,所述第二偏置电阻与所述第一偏置电阻的连接点为所述基准电压产生子电路的中间节点;
第一偏置电阻的第二端为所述基准电压产生子电路的第二端;
所述校准电压产生子电路包括校准电阻,所述校准电阻的第一端为所述校准电压产生子电路的第一端,所述校准电阻的第二端为所述校准电压产生子电路的第二端;
所述电流型数模转换器的输出端与所述第二偏置电阻与所述第一偏置电阻的连接点相连接;
所述电流型数模转换器向所述第一偏置电阻输入负温度系数校准电流、正温度系数校准电流,以使所述第一偏置电阻产生的修正电压,通过所述修正电压对所述第一偏置电阻及所述第二偏置电阻产生的初始基准电压进行校准,得到修正基准电。
可选的,所述电路还包括:
电流镜,所述电流镜的输出端与所述基准电压产生子电路的第一端连接,所述电流镜产生负温度系数电流及正温度系数电流,向所述基准电压产生子电路的第一端输入负温度系数电流及正温度系数电流,使得所述基准电压产生子电路产生所述初始基准电压。
可选的,所述电流镜包括:第一场效应管、第二场效应管、第三场效应管、第四场效应管、第五场效应管及第六场效应管;
所述电流模带隙基准电压源的校准电路还包括:
第七场效应管、第八场效应管、第九场效应管、第十一场效应管、第一分压电阻、第一三极管、第二分压电阻、第二三极管;
所述第一场效应管的漏极与所述第七场效应管的源极连接,所述第七场效应管的漏极与所述第一分压电阻连接;
所述第二场效应管的漏极与所述第八场效应管的源极连接,所述第八场效应管的漏极与所述第一三极管的发射极连接;
所述第三场效应管的栅极与所述第二场效应管的栅极连接,所述第三场效应管的漏极与所述第九场效应管的源极连接,所述第九场效应管的漏极与所述第二分压电阻连接,所述第二分压电阻与所述第二三极管的发射极连接;
所述第四场效应管的栅极与所述第三场效应管的栅极连接,所述第四场效应管的漏极与所述第十一场效应管的源极连接;
所述第五场效应管的栅极与所述第四场效应管的栅极连接,所述第五场效应管的漏极与所述第二偏置电阻的第一端连接;
所述第六场效应管的栅极与所述第一场效应管的栅极连接,所述第六场效应管的漏极分别与所述第二偏置电阻的第一端及所述斩波比较器的非反相输入端连接。
可选的,所述电路还包括:
第一运算放大器及第二运算放大器;
所述第一运算放大器的反相输入端与所述第七场效应管的漏极连接,所述第一运算放大器的非反相输入端与所述第八场效应管的漏极连接,所述第一运算放大器的输出端与所述第一场效应管的栅极连接;
所述第二运算放大器的反相输入端与所述第九场效应管的漏极连接,所述第二运算放大器的非反相输入端与所述第八场效应管的漏极连接,所述第二运算放大器的输出端与所述第二场效应管的栅极连接。
可选的,所述电路还包括:
第三运算放大器、第四运算放大器、第五运算放大器及第十场效应管;
所述第三运算放大器的反相输入端与所述第一场效应管的漏极连接,所述第三运算放大器的非反相输入端分别与所述第四运算放大器的非反相输入端及所述第五场效应管的漏极连接;
所述第四运算放大器的反相输入端与所述第二场效应管的漏极连接,所述第四运算放大器的输出端分别与所述第八场效应管的栅极及所述第九场效应管的栅极连接;
所述第五运算放大器的反相输入端与所述第十场效应管的源极连接,所述第五运算放大器的非反相端与所述第六场效应管的漏极连接,所述第五运算放大器的输出端与所述第十场效应管的栅极连接;
所述第十场效应管的源极与所述电流型数模转换器的输出端连接,所述第十场效应管的漏极与所述第一偏置电阻的第一端连接。
可选的,所述寄存器分别与所述第一累加器、所述第二累加器、所述振荡器及所述斩波比较器连接;
所述振荡器还分别与所述第一累加器及所述第二累加器连接;
所述振荡器产生第一时钟信号、第二时钟信号及第三时钟信号,向所述寄存器输入所述第一时钟信号;
所述寄存器当第一时钟信号为高电平时,将所述斩波比较器输入的差异电压信号写入控制电压,当第二时钟信号为高电平时,根据所述控制电压的高低电平状态分别确定所述第一累加器、所述第二累加器的目标模式,所述目标模式为加模式或者减模式;当第三时钟信号为高电平时,所述第一累加器根据所述加模式或所述减模式生成所述第一数字信号,所述第二累加器根据所述减模式或所述加模式生成所述第二数字信号。
可选的,所述电流型数模转换器包括负温度系数电流镜分支及正温度系数电流镜分支;
所述负温度系数电流镜分支的输入端与所述第一累加器的输出端连接,所述负温度系数电流镜分支从所述第一累加器接收所述第一数字信号,根据所述第一数字信号产生所述负温度系数校准电流;
所述正温度系数电流镜分支的输入端与所述第二累加器的输出端连接,所述正温度系数电流镜分支从所述第二累加器接收所述第二数字信号,根据所述第二数字信号产生所述正温度系数校准电流。
可选的,所述正温度系数电流镜分支包括多个正温度系数电流镜支路;
所述负温度系数电流镜分支包括多个负温度系数电流镜支路,各负温度系数电流镜支路与各正温度系数电流镜支路对应;
各正温度系数电流镜支路的宽长比为对应的负温度系数电流镜支路的宽长比的两倍。
可选的,所述第一累加器在接收到第一重置控制信号,根据所述第一重置控制信号将所述第一数字信号设置为第一预设数值;
所述第二累加器在接收第二重置控制信,根据所述第二重置控制信号将所述第二数字信号设置为第二预设数值。
上述本申请提供的电流模带隙基准电压源的校准电路,能够在单一温度点下,对正温度系数电压PTAT及负温度系数电压CTAT的占比均作出调校,因此能够消除校准时所处温度的基准电压偏差,亦不会影响基准电压曲线的整体斜率,因此能够从根本上消除高温段和低温段的电压偏差,既能消除电流模带隙基准电压源在不同工艺角下输出基准电压的偏差,改善电流模带隙基准电压源的抗制程偏移能力,为相关电路的生产厂商节省人工校准所带来的额外成本,从而节省电路生产所需的人力物力,在不牺牲电流模带隙基准电压源的其他性能参数的情况下,令其消耗更少的电流以及所需面积更小。
附图说明
为了更清楚地说明本申请的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本申请的某些实施例,因此不应被看作是对本申请保护范围的限定。在各个附图中,类似的构成部分采用类似的编号。
图1示出了本申请实施例提供的电流模带隙基准电压源的校准电路的一结构示意图;
图2示出了本申请实施例提供的修正基准电压VREF1及校准电压VCAL的一变化示意图;
图3示出了本申请实施例提供的第一数字信号CCTAT<0:5>的一变化示意图;
图4示出了本申请实施例提供的电流模带隙基准电压源的校准电路的另一结构示意图;
图5示出了本申请实施例提供的校准引擎子电路13的一结构示意图;
图6示出了本申请实施例提供的信号变化的一示意图;
图7示出了本申请实施例提供的电流型数模转换器IDAC的一结构示意图;
图8A示出了本申请实施例提供的β/(β+1)系数与其于27摄氏度下数值之比值的仿真结果示意图;
图8B示出了使用传统校准方案后的输出基准电压仿真效果示意图;
图8C示出了使用本申请实施例提供的输出基准电压仿真效果示意图;
图9A示出了本申请实施例提供的五个样本芯片校正前的输出基准电压测量结果示意图;
图9B示出了本申请实施例提供的五个样本芯片校正后的输出基准电压测量结果示意图;
图9C示出了本申请实施例提供的以基准电压作为电源电压函数进行测量的结果示意图;
图10A示出了本申请实施例提供的五个样本芯片在校准后的输出基准电压温度系数分布示意图;
图10B示出了本申请实施例提供的五个样本芯片在校准后的室温下输出基准电压数值分布示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。
通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此,以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围,而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
在下文中,可在本申请的各种实施例中使用的术语“包括”、“具有”及其同源词仅意在表示特定特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合,并且不应被理解为首先排除一个或更多个其它特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合的存在或增加一个或更多个特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合的可能性。
此外,术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
除非另有限定,否则在这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本申请的各种实施例所属领域普通技术人员通常理解的含义相同的含义。所述术语(诸如在一般使用的词典中限定的术语)将被解释为具有与在相关技术领域中的语境含义相同的含义并且将不被解释为具有理想化的含义或过于正式的含义,除非在本申请的各种实施例中被清楚地限定。
实施例1
本公开实施例提供了一种电流模带隙基准电压源的校准电路。
具体的,参见图1,电流模带隙基准电压源的校准电路包括:
基准电压产生子电路11、校准电压产生子电路12、校准引擎子电路13、斩波比较器CMP及电流型数模转换器IDAC;
所述基准电压产生子电路11的第一端与所述斩波比较器CMP的非反相输入端连接,所述基准电压产生子电路11的第二端接地;
所述斩波比较器CMP的反相输入端与所述校准电压产生子电路12的第一端连接,所述校准电压产生子电路12的第二端接地,所述斩波比较器CMP的输出端与所述校准引擎子电路的输入端连接;
所述校准引擎子电路13的输出端与所述电流型数模转换器IDAC的输入端连接;
所述电流型数模转换器IDAC的输出端与所述基准电压产生子电路11的中间节点连接。
在本实施例中,可以通过电流镜等产生负温度系数电流ICTAT及正温度系数电流IPTAT,电流镜向所述基准电压产生子电路11输入负温度系数电流ICTAT及正温度系数电流IPTAT,使得所述基准电压产生子电路11产生初始基准电压VREF0,并将所述初始基准电压VREF0输入所述斩波比较器CMP的非反相输入端。可以通过电流镜向所述校准电压产生子电路12输入所述正温度系数电流IPTAT,使得所述校准电压产生子电路产生校准电压VCAL,并将所述校准电压VCAL输入所述斩波比较器CMP的反相输入端。所述斩波比较器CMP对所述初始基准电压VREF0及所述校准电压VCAL进行比较,以获得差异电压信号VCMP,将所述差异电压信号VCMP输入所述校准引擎子电路13。这样,采用一个斩波比较器CMP,可以在室温(27℃)下比较所述初始基准电压VREF0及所述校准电压VCAL,并将两者之差别输出为差异电压信号VCMP以激活准引擎子电路13工作。
所述校准引擎子电路13根据所述差异电压信号VCMP产生第一数字信号CCTAT<0:5>及第二数字信号CPTAT<0:5>。所述电流型数模转换器IDAC根据所述第一数字信号CCTAT<0:5>产生负温度系数校准电流nICTAT,根据所述第二数字信号CPTAT<0:5>产生正温度系数校准电流mIPTAT,向所述基准电压产生子电路11的中间节点输入所述负温度系数校准电流nICTAT及所述正温度系数校准电流mIPTAT,以对所述初始基准电压VREF0进行校准,得到修正基准电压VREF1。这样,所述校准引擎子电路13负责产生两组数字信号,即第一数字信号CCTAT<0:5>及第二数字信号CPTAT<0:5>,以控制电流型数/模转换器(IDAC)为第一偏置电阻RREF1提供偏置电流(mIPTAT+nICTAT)。
请参阅图2,图2中横坐标为时间,纵轴标为电压,图2中线段21表示校准电压VCAL的变化趋势,线段22表示修正基准电压VREF1的变化趋势,修正基准电压VREF1迭代地跟随着校准电压VCAL的变化节奏而变化。
在本实施例中,第一数字信号CCTAT<0:5>及第二数字信号CPTAT<0:5>为0至63的任一数值,请参阅图3,第一数字信号CCTAT<0:5>随着时间增加,依次从27加1,变为28、29、....、32。第二数字信号CPTAT<0:5>与第一数字信号CCTAT<0:5>相似,在此未画出示意图。
请参阅图1及图4,所述基准电压产生子电路11包括:第一偏置电阻RREF1与第二偏置电阻RREF2
所述第二偏置电阻RREF2的第一端为所述基准电压产生子电路11的第一端;
所述第二偏置电阻RREF2的第二端与所述第一偏置电阻RREF1的第一端连接,所述第二偏置电阻RREF2与所述第一偏置电阻RREF1的连接点为所述基准电压产生子电路11的中间节点;
第一偏置电阻RREF1的第二端为所述基准电压产生子电路11的第二端;
所述校准电压产生子电路12包括校准电阻RCAL,所述校准电阻RCAL的第一端为所述校准电压产生子电路12的第一端,所述校准电阻RCAL的第二端为所述校准电压产生子电路12的第二端;
所述电流型数模转换器IDAC的输出端与所述第二偏置电阻RREF2与所述第一偏置电阻RREF1的连接点相连接;
所述电流型数模转换器IDAC向所述第一偏置电阻RREF1输入负温度系数校准电流nICTAT、正温度系数校准电流mIPTAT,以使所述第一偏置电阻RREF1产生的修正电压,通过所述修正电压对所述第一偏置电阻RREF1及所述第二偏置电阻RREF2产生的初始基准电压VREF0进行校准,得到修正基准电压VREF1
请参阅图4,在本实施例中,电流模带隙基准电压源的校准电路还包括电流镜14,所述电流镜14的输出端与所述基准电压产生子电路11的第一端连接,所述电流镜产生负温度系数电流ICTAT及正温度系数电流IPTAT,向所述基准电压产生子电路11的第一端输入负温度系数电流ICTAT及正温度系数电流IPTAT,使得所述基准电压产生子电路11产生所述初始基准电压VREF0
在本实施例中,所述电流镜14包括:第一场效应管MP1、第二场效应管MP2、第三场效应管MP3、第四场效应管MP4、第五场效应管MP5及第六场效应管MP6
所述电流模带隙基准电压源的校准电路还包括:
第七场效应管MP7、第八场效应管MP8、第九场效应管MP9、第十一场效应管MP11、第一分压电阻R1、第一三极管Q1、第二分压电阻R2、第二三极管Q2;
所述第一场效应管MP1的漏极与所述第七场效应管MP7的源极连接,所述第七场效应管MP7的漏极与所述第一分压电阻R1连接;
所述第二场效应管MP2的漏极与所述第八场效应管MP8的源极连接,所述第八场效应管MP8的漏极与所述第一三极管Q1的发射极连接;
所述第三场效应管MP3的栅极与所述第二场效应管MP2的栅极连接,所述第三场效应管MP3的漏极与所述第九场效应管MP9的源极连接,所述第九场效应管MP9的漏极与所述第二分压电阻R2连接,所述第二分压电阻R2与所述第二三极管Q2的发射极连接;
所述第四场效应管MP4的栅极与所述第三场效应管MP3的栅极连接,所述第四场效应管MP4的漏极与所述第十一场效应管MP11的源极连接;
所述第五场效应管MP5的栅极与所述第四场效应管MP4的栅极连接,所述第五场效应管MP5的漏极与所述第二偏置电阻RREF2的第一端连接;
所述第六场效应管MP6的栅极与所述第一场效应管MP1的栅极连接,所述第六场效应管MP6的漏极分别与所述第二偏置电阻RREF2的第一端及所述斩波比较器CMP的非反相输入端连接。
请再次参阅图4,所述电流模带隙基准电压源的校准电路还包括:
第一运算放大器A1及第二运算放大器A2
所述第一运算放大器A1的反相输入端与所述第七场效应管MP7的漏极连接,所述第一运算放大器A1的非反相输入端与所述第八场效应管MP8的漏极连接,所述第一运算放大器A1的输出端与所述第一场效应管MP1的栅极连接;
所述第二运算放大器A2的反相输入端与所述第九场效应管MP9的漏极连接,所述第二运算放大器A2的非反相输入端与所述第八场效应管MP8的漏极连接,所述第二运算放大器A2的输出端与所述第二场效应管MP2的栅极连接。
在本实施例中,第一运算放大器A1及第二运算放大器A2可以为二级斩波运算放大器,在此不做限制。第一运算放大器A1及第二运算放大器A2将CTAT电压VEB1复制到节点电压VX及VY,以产生CTAT电流ICTAT及PTAT电流IPTAT
请再次参阅图4,所述电流模带隙基准电压源的校准电路还包括:
第三运算放大器A3、第四运算放大器A4、第五运算放大器A5及第十场效应管MP10
所述第三运算放大器A3的反相输入端与所述第一场效应管MP1的漏极连接,所述第三运算放大器A3的非反相输入端分别与所述第四运算放大器A4的非反相输入端及所述第五场效应管MP5的漏极连接;
所述第四运算放大器A4的反相输入端与所述第二场效应管MP2的漏极连接,所述第四运算放大器A4的输出端分别与所述第八场效应管MP8的栅极及所述第九场效应管MP9的栅极连接;
所述第五运算放大器A5的反相输入端与所述第十场效应管MP10的源极连接,所述第五运算放大器A5的非反相端与所述第六场效应管MP6的漏极连接,所述第五运算放大器A5的输出端与所述第十场效应管MP10的栅极连接;
所述第十场效应管MP10的源极与所述电流型数模转换器IDAC的输出端连接,所述第十场效应管MP10的漏极与所述第一偏置电阻RREF1的第一端连接。
在本实施例中,第三运算放大器A3、第四运算放大器A4、第五运算放大器A5可以为单级差分放大器,第三运算放大器A3、第四运算放大器A4、第五运算放大器A5用于控制第七场效应管MP7、第八场效应管MP8、第九场效应管MP9及第十场效应管MP10导通作为对应的等效电阻。从而令电流型数模转换器IDAC的输出电压VIDAC、第一场效应管MP1、第二场效应管MP2及第三场效应管MP3之漏极电压等于初始基准电压VREF0,继而消除沟道长度调制效应为电流镜带来的误差。
正温度系数电流IPTAT将由第四场效应管MP4复制,用以偏置校准电阻RCAL,从而能得出校准电压VCAL。由于校准电压VCAL仅取决于物理常数及电阻比,其拥有非常强的抗制程偏移能力。此外,上述之校准分支仅在作校准时由外部的启动信号EN激活,从而降低电路功耗。第五场效应管MP5及第六场效应管MP6负责复制负温度系数电流CTAT及正温度系数电流PTAT电流从而为第一偏置电阻RREF1及第一偏置电阻RREF1提供偏置电压,所述电流型数模转换器IDAC也会通过第十场效应管MP10将校准电流mIPTAT及nICTAT注入第一偏置电阻RREF1,最终得到的输出基准电压VREF1的计算公式如下:
VREF1=(mIPTAT+nICTAT)RREF1+(IPTAT+ICTAT)(RREF1+RREF2)
请参阅图5,所述校准引擎子电路13包括寄存器131、第一累加器133、第二累加器134及振荡器132;
所述寄存器131分别与所述第一累加器133、所述第二累加器133、所述振荡器132及所述斩波比较器CMP连接;
所述振荡器132还分别与所述第一累加器133及所述第二累加器134连接;
所述振荡器132产生第一时钟信号
Figure BDA0003339525670000151
第二时钟信号
Figure BDA0003339525670000152
及第三时钟信号
Figure BDA0003339525670000156
向所述寄存器131输入所述第一时钟信号
Figure BDA0003339525670000153
所述寄存器131当第一时钟信号
Figure BDA0003339525670000154
为高电平时,将所述斩波比较器CMP输入的差异电压信号VCMP写入控制电压VDIR,当第二时钟信号
Figure BDA0003339525670000155
为高电平时,根据所述控制电压VDIR的高低电平状态分别确定所述第一累加器133、所述第二累加器134的目标模式,所述目标模式为加模式或者减模式;当第三时钟信号
Figure BDA0003339525670000157
为高电平时,所述第一累加器133根据所述加模式或所述减模式生成所述第一数字信号CCTAT<0:5>,所述第二累加器134根据所述减模式或所述加模式生成所述第二数字信号CPTAT<0:5>。
请参阅图6,第一时钟信号
Figure BDA0003339525670000158
第二时钟信号
Figure BDA0003339525670000159
及第三时钟信号
Figure BDA00033395256700001510
的波形随时间呈现高低电平周期性变化,第一数字信号CCTAT<0:5>的数值随时间减少,第二数字信号CPTAT<0:5>的数值随时间增加。
在本实施例中,请再次参阅图5,所述第一累加器133在接收到第一重置控制信号RESET1,根据所述第一重置控制信号RESET1将所述第一数字信号CCTAT<0:5>设置为第一预设数值;
所述第二累加器134在接收第二重置控制信号RESET2,根据所述第二重置控制信号RESET2将所述第二数字信号CPTAT<0:5>设置为第二预设数值。
下面结合图5及图6对校准引擎子电路13的工作原理进行说明。
当第一时钟信号
Figure BDA0003339525670000161
为高电平时,寄存器131会将差异电压信号VCMP写入至控制电压VDIR。当第二时钟信号
Figure BDA0003339525670000162
为高电平时,寄存器131会比较控制电压VDIR的电平高低,以决定第一累加器133及第二累加器134应进入加模式还是减模式。第一数字信号CCTAT<0:5>及第二数字信号CPTAT<0:5>的迭代更新则会在第三时钟信号
Figure BDA0003339525670000163
是高电平时进行。当第二累加器进入加模式后,第二数字信号CPTAT<0:5>会被加上一,而第一累加器进入减模式,第一数字信号CCTAT<0:5>则会被减去一;反之,若第二累加器在减模式下,第二数字信号CPTAT<0:5>会被减去一,而第一累加器进入加模式,第一数字信号CCTAT<0:5>则会被加上一。第一数字信号CCTAT<0:5>及第二数字信号CPTAT<0:5>之值均可在0到63之间变化。此外,外置的第一重置信号RESET1及外置的第二重置信号RESET2能够将第一数字信号CCTAT<0:5>及第二数字信号CPTAT<0:5>分别重置为32及31。
请参阅图7,所述电流型数模转换器IDAC包括负温度系数电流镜分支MIC0-5及正温度系数电流镜分支MIP0-5
所述负温度系数电流镜分支MIC0-5的输入端与所述第一累加器133的输出端连接,所述负温度系数电流镜分支MIC0-5从所述第一累加器134接收所述第一数字信号CCTAT<0:5>,根据所述第一数字信号CCTAT<0:5>产生所述负温度系数校准电流nICTAT
所述正温度系数电流镜分支MIP0-5的输入端与所述第二累加器的输出端连接,所述正温度系数电流镜分支MIP从所述第二累加器接收所述第二数字信号CPTAT<0:5>,根据所述第二数字信号CPTAT<0:5>产生所述正温度系数校准电流IPTAT
在本实施例中,所述正温度系数电流镜分支MIP0-5包括多个正温度系数电流镜支路;
所述负温度系数电流镜分支MIC0-5包括多个负温度系数电流镜支路,各负温度系数电流镜支路与各正温度系数电流镜支路对应;
各正温度系数电流镜支路的宽长比为对应的负温度系数电流镜支路的宽长比的两倍。
上述的第一数字信号CCTAT<0:5>及第二数字信号CPTAT<0:5>分别负责控制电流型数模转换器IDAC中负温度系数电流镜分支MIC0-5及正温度系数电流镜分支MIP0-5的导通,从而控制第一偏置电阻RREF1的偏置电流(mIPTAT+nICTAT)的温度系数及大小。
由于在不同工艺角下,双极结型晶体管(Bipolar Junction Transistor,BJT)之共射极直流短路电流增益β不同,使得影响正温度系数电压VCTAT的系数β/(β+1)在不同温度段出现较大的变化:在FF工艺角下,其数值于高温段偏小,于低温段偏大;在SS工艺角下,其数值于高温段偏大,于低温段偏小。如此一来,使用传统PTAT校准法后,如图8B所示,输出基准电压在FF工艺角下出现了“高温时偏小,低温时偏大”的情况,而在SS工艺角下则出现了“高温时偏大,低温时偏小”的情况。本实施例提出的自动校准方案中,电流型数模转换器IDAC中各正温度系数电流镜支路的宽长比为对应的负温度系数电流镜支路的宽长比的两倍,从而解决上述β/(β+1)系数在不同温度段下变化大的问题。如此一来,在FF工艺角下,第一数字信号CCTAT<0:5>被加上一,及第二数字信号CPTAT<0:5>被减去一后,两单位的正温度系数电流PTAT得以激活,而一个单位的负温度系数电流CTAT则被禁用,从而提高高温段的输出基准电压,及降低低温段的基准电压,最终使得FF工艺角下的基准电压曲线趋近于TT工艺角下的设计期望。同样的原理也适用于SS及其他工艺角下。请参阅图8A,8A所示为β/(β+1)系数与其于27摄氏度下数值之比值的仿真结果。使用传统校准技术的基准电压曲线仿真结果如图8B所示。本实施例提出之校准技术的基准电压曲线仿真结果如图8C所示。
补充说明的是,为进一步验证本实施例提出的自动校准方案的可行性,经过65纳米CMOS工艺生产本实施例的电流模带隙基准电压源的校准电路并对其经过测量,生产的电流模带隙基准电压源的校准电路可以称为样本芯片。使用本实施例的电流模带隙基准电压源的校准电路于-40到120摄氏度及1.2伏特到2.5伏特的电源电压下的测量结果如图9A及9B所示。如图9A所示,在校准前,样本芯片的输出基准电压在988.4毫伏到1004.7毫伏之间变化,三个标准差内的误差为±1.91%;在使用了本实施例的校准方案进行自动校准后,如图9B所示,样本芯片的输出基准电压在996.5毫伏到1001.6毫伏之间变化,三个标准差内的误差为±0.35%。样本芯片的输出校准电压温度系数在20.6ppm/℃到28.8ppm/℃之间变化,平均值为25.1ppm/℃。图9B也给出了在室温27摄氏度下输出校准电压的标准差,仅为0.61毫伏,对应的三个标准差内误差仅为0.18%。图9C为以基准电压作为电源电压函数进行测量的结果,如图9C所示,样本芯片的电源电压由1.2伏特上升到2.5伏特后,输出基准电压也仅仅上升了1.64毫伏,对应的电源电压调整率仅为0.126%每伏特。样本芯片中的带隙基准电压源核心电路和电流信数/模转换器仅消耗810纳安的电流,校准引擎在开启时,其消耗之电流则为1.37微安,该电流不会在电路正常运作时出现。
下表1为本实施例提供的电流模带隙基准电压源的校准电路的性能参数表,各项参数均达到设计预期指标,说明本实施例提供的电流模带隙基准电压源的校准电路于工业用途具有很高可行性。
表1:
Figure BDA0003339525670000191
请参阅图10A及图10B,图10A表示五个样本芯片在校准后的输出基准电压温度系数分布,图10A对应的电源电源为1.2V。图10B表示五个样本芯片在校准后的室温下输出基准电压数值分布,图10B对应的电源电源为1.2V。图10A的横轴物理含义是温度系数,单位是百万分之一/摄氏度;图10B的横轴物理含义是输出基准电压,单位是毫伏;两图的纵轴物理含义都是频数。图10A中频数表示五个样本芯片在校准后的输出基准电压温度系数在测量结果中的出现次数。图10B中频数五个样本芯片在校准后的室温下输出基准电压数值在测量结果中出现的次数。μ、σ、σ/μ分别表示平均数、标准偏差、变异系数。图10A中,μ=25.09ppm/℃,σ=3.35ppm/℃,σ/μ=13.34%。在图10B中,μ=1000.96mV,σ=0.61mV,3σ/μ=0.18%。
本实施例提供的电流模带隙基准电压源的校准电路,使电流模带隙基准电压源的基准电压无需经过人工校准,也能在不同工艺角下的全温度段保持一致。本实施提出的自动校准方案能够在单一温度点下,对正温度系数电压PTAT及负温度系数电压CTAT的占比均作出调校,因此能够消除校准时所处温度的基准电压偏差,亦不会影响基准电压曲线的整体斜率,因此能够从根本上消除高温段和低温段的电压偏差,既能消除电流模带隙基准电压源在不同工艺角下输出基准电压的偏差,改善电流模带隙基准电压源的抗制程偏移能力,为相关电路的生产厂商节省人工校准所带来的额外成本,从而节省电路生产所需的人力物力,在不牺牲电流模带隙基准电压源的其他性能参数的情况下,令其消耗更少的电流以及所需面积更小。

Claims (10)

1.一种电流模带隙基准电压源的校准电路,其特征在于,包括:
基准电压产生子电路、校准电压产生子电路、校准引擎子电路、斩波比较器及电流型数模转换器;
所述基准电压产生子电路的第一端与所述斩波比较器的非反相输入端连接,所述基准电压产生子电路的第二端接地;
所述斩波比较器的反相输入端与所述校准电压产生子电路的第一端连接,所述校准电压产生子电路的第二端接地,所述斩波比较器的输出端与所述校准引擎子电路的输入端连接;
所述校准引擎子电路的输出端与所述电流型数模转换器的输入端连接;
所述电流型数模转换器的输出端与所述基准电压产生子电路的中间节点连接。
2.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述基准电压产生子电路包括:第一偏置电阻与第二偏置电阻;
所述第二偏置电阻的第一端为所述基准电压产生子电路的第一端;
所述第二偏置电阻的第二端与所述第一偏置电阻的第一端连接,所述第二偏置电阻与所述第一偏置电阻的连接点为所述基准电压产生子电路的中间节点;
第一偏置电阻的第二端为所述基准电压产生子电路的第二端;
所述校准电压产生子电路包括校准电阻,所述校准电阻的第一端为所述校准电压产生子电路的第一端,所述校准电阻的第二端为所述校准电压产生子电路的第二端;
所述电流型数模转换器的输出端与所述第二偏置电阻与所述第一偏置电阻的连接点相连接;
所述电流型数模转换器向所述第一偏置电阻输入负温度系数校准电流、正温度系数校准电流,以使所述第一偏置电阻产生的修正电压,通过所述修正电压对所述第一偏置电阻及所述第二偏置电阻产生的初始基准电压进行校准,得到修正基准电。
3.根据权利要求2所述的电路,其特征在于,还包括:
电流镜,所述电流镜的输出端与所述基准电压产生子电路的第一端连接,所述电流镜产生负温度系数电流及正温度系数电流,向所述基准电压产生子电路的第一端输入负温度系数电流及正温度系数电流,使得所述基准电压产生子电路产生所述初始基准电压。
4.根据权利要求3所述的电路,其特征在于,所述电流镜包括:第一场效应管、第二场效应管、第三场效应管、第四场效应管、第五场效应管及第六场效应管;
所述电流模带隙基准电压源的校准电路还包括:
第七场效应管、第八场效应管、第九场效应管、第十一场效应管、第一分压电阻、第一三极管、第二分压电阻、第二三极管;
所述第一场效应管的漏极与所述第七场效应管的源极连接,所述第七场效应管的漏极与所述第一分压电阻连接;
所述第二场效应管的漏极与所述第八场效应管的源极连接,所述第八场效应管的漏极与所述第一三极管的发射极连接;
所述第三场效应管的栅极与所述第二场效应管的栅极连接,所述第三场效应管的漏极与所述第九场效应管的源极连接,所述第九场效应管的漏极与所述第二分压电阻连接,所述第二分压电阻与所述第二三极管的发射极连接;
所述第四场效应管的栅极与所述第三场效应管的栅极连接,所述第四场效应管的漏极与所述第十一场效应管的源极连接;
所述第五场效应管的栅极与所述第四场效应管的栅极连接,所述第五场效应管的漏极与所述第二偏置电阻的第一端连接;
所述第六场效应管的栅极与所述第一场效应管的栅极连接,所述第六场效应管的漏极分别与所述第二偏置电阻的第一端及所述斩波比较器的非反相输入端连接。
5.根据权利要求4所述的电路,其特征在于,还包括:
第一运算放大器及第二运算放大器;
所述第一运算放大器的反相输入端与所述第七场效应管的漏极连接,所述第一运算放大器的非反相输入端与所述第八场效应管的漏极连接,所述第一运算放大器的输出端与所述第一场效应管的栅极连接;
所述第二运算放大器的反相输入端与所述第九场效应管的漏极连接,所述第二运算放大器的非反相输入端与所述第八场效应管的漏极连接,所述第二运算放大器的输出端与所述第二场效应管的栅极连接。
6.根据权利要求5所述的电路,其特征在于,还包括:
第三运算放大器、第四运算放大器、第五运算放大器及第十场效应管;
所述第三运算放大器的反相输入端与所述第一场效应管的漏极连接,所述第三运算放大器的非反相输入端分别与所述第四运算放大器的非反相输入端及所述第五场效应管的漏极连接;
所述第四运算放大器的反相输入端与所述第二场效应管的漏极连接,所述第四运算放大器的输出端分别与所述第八场效应管的栅极及所述第九场效应管的栅极连接;
所述第五运算放大器的反相输入端与所述第十场效应管的源极连接,所述第五运算放大器的非反相端与所述第六场效应管的漏极连接,所述第五运算放大器的输出端与所述第十场效应管的栅极连接;
所述第十场效应管的源极与所述电流型数模转换器的输出端连接,所述第十场效应管的漏极与所述第一偏置电阻的第一端连接。
7.根据权利要求4所述的电路,其特征在于,所述校准引擎子电路包括寄存器、第一累加器、第二累加器及振荡器;
所述寄存器分别与所述第一累加器、所述第二累加器、所述振荡器及所述斩波比较器连接;
所述振荡器还分别与所述第一累加器及所述第二累加器连接;
所述振荡器产生第一时钟信号、第二时钟信号及第三时钟信号,向所述寄存器输入所述第一时钟信号;
所述寄存器当第一时钟信号为高电平时,将所述斩波比较器输入的差异电压信号写入控制电压,当第二时钟信号为高电平时,根据所述控制电压的高低电平状态分别确定所述第一累加器、所述第二累加器的目标模式,所述目标模式为加模式或者减模式;当第三时钟信号为高电平时,所述第一累加器根据所述加模式或所述减模式生成所述第一数字信号,所述第二累加器根据所述减模式或所述加模式生成所述第二数字信号。
8.根据权利要求5所述的电路,其特征在于,所述电流型数模转换器包括负温度系数电流镜分支及正温度系数电流镜分支;
所述负温度系数电流镜分支的输入端与所述第一累加器的输出端连接,所述负温度系数电流镜分支从所述第一累加器接收所述第一数字信号,根据所述第一数字信号产生所述负温度系数校准电流;
所述正温度系数电流镜分支的输入端与所述第二累加器的输出端连接,所述正温度系数电流镜分支从所述第二累加器接收所述第二数字信号,根据所述第二数字信号产生所述正温度系数校准电流。
9.根据权利要求8所述的电路,其特征在于,所述正温度系数电流镜分支包括多个正温度系数电流镜支路;
所述负温度系数电流镜分支包括多个负温度系数电流镜支路,各负温度系数电流镜支路与各正温度系数电流镜支路对应;
各正温度系数电流镜支路的宽长比为对应的负温度系数电流镜支路的宽长比的两倍。
10.根据权利要求7所述的电路,其特征在于,所述第一累加器在接收到第一重置控制信号,根据所述第一重置控制信号将所述第一数字信号设置为第一预设数值;
所述第二累加器在接收第二重置控制信,根据所述第二重置控制信号将所述第二数字信号设置为第二预设数值。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114740941A (zh) * 2022-05-05 2022-07-12 芯海科技(深圳)股份有限公司 带隙基准电路、集成电路和电子设备

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090146730A1 (en) * 2007-12-06 2009-06-11 Industrial Technology Research Institue Bandgap reference circuit
US20110043184A1 (en) * 2009-08-20 2011-02-24 Ipgoal Microelectronics (Sichuan) Co., Ltd. CMOS Bandgap Reference Source Circuit with Low Flicker Noises
US8537043B1 (en) * 2012-04-12 2013-09-17 Analog Devices, Inc. Digital-to-analog converter with controlled gate voltages
CN103389766A (zh) * 2013-07-08 2013-11-13 电子科技大学 一种亚阀值非带隙基准电压源
CN103869867A (zh) * 2014-03-04 2014-06-18 芯原微电子(上海)有限公司 一种斩波带隙基准电路
CN105955384A (zh) * 2016-07-19 2016-09-21 南方科技大学 一种非带隙基准电压源
CN108562373A (zh) * 2018-04-24 2018-09-21 电子科技大学 一种高精度的温度传感器电路
US10310528B1 (en) * 2017-12-06 2019-06-04 Silicon Laboratories Inc. System and method for correcting offset voltage errors within a band gap circuit

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090146730A1 (en) * 2007-12-06 2009-06-11 Industrial Technology Research Institue Bandgap reference circuit
US20110043184A1 (en) * 2009-08-20 2011-02-24 Ipgoal Microelectronics (Sichuan) Co., Ltd. CMOS Bandgap Reference Source Circuit with Low Flicker Noises
US8537043B1 (en) * 2012-04-12 2013-09-17 Analog Devices, Inc. Digital-to-analog converter with controlled gate voltages
CN103389766A (zh) * 2013-07-08 2013-11-13 电子科技大学 一种亚阀值非带隙基准电压源
CN103869867A (zh) * 2014-03-04 2014-06-18 芯原微电子(上海)有限公司 一种斩波带隙基准电路
CN105955384A (zh) * 2016-07-19 2016-09-21 南方科技大学 一种非带隙基准电压源
US10310528B1 (en) * 2017-12-06 2019-06-04 Silicon Laboratories Inc. System and method for correcting offset voltage errors within a band gap circuit
CN108562373A (zh) * 2018-04-24 2018-09-21 电子科技大学 一种高精度的温度传感器电路

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
DONG-OK HAN 等: "A CMOS temperature sensor with calibration function using band gap voltage reference", 《2008 3RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON SENSING TECHNOLOGY》 *
毛毳等: "一种新型带数字校准的超低噪声CMOS参考电压源", 《江南大学学报(自然科学版)》 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114740941A (zh) * 2022-05-05 2022-07-12 芯海科技(深圳)股份有限公司 带隙基准电路、集成电路和电子设备
WO2023213287A1 (zh) * 2022-05-05 2023-11-09 芯海科技(深圳)股份有限公司 带隙基准电路、集成电路和电子设备
CN114740941B (zh) * 2022-05-05 2023-12-19 芯海科技(深圳)股份有限公司 带隙基准电路、集成电路和电子设备

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