CN110914671B - 用于控制检测装置的组件的方法、设备及计算机程序产品 - Google Patents

用于控制检测装置的组件的方法、设备及计算机程序产品 Download PDF

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Abstract

提供一种用于控制检测装置的组件的方法、计算机程序产品和设备。所述装置能够利用例如密度传感器和/或浊度传感器的传感器检测液体的浊度。光调制模式能够减少或去除传感器读数中的干扰。读数能够在照明灯的关闭周期期间执行，以便减少干扰同时提高管的可视性。考虑到后续读数中的环境光，黑暗和光亮传感器读数可以相应地在发射器关闭或开启的情况下执行。来自所述密度传感器和/或浊度传感器的读数能够用于计算McFarland值。能够基于使传感器读数满足预定标准的发射器电平将所述装置归零。

Description

用于控制检测装置的组件的方法、设备及计算机程序产品
相关申请的交叉引用
本申请要求以下中的每一项的权益：第62/487,736号美国临时申请，标题为《用于控制检测装置的组件的方法、设备和计算机程序产品(Method,Apparatus,And ComputerProgram Product For Controlling Components Of A Detection Device)》且于2017年4月20日提交；第62/487,796号美国临时申请，标题为《光密度仪器及使用光密度仪器的***和方法(Optical Density Instrument And Systems And Methods Using The Same)》且于2017年4月20日提交；第62/488,450号美国临时申请，标题为《光密度仪器及使用光密度仪器的***和方法(Optical Density Instrument And Systems And Methods Using TheSame)》且于2017年4月21日提交；第62/487,860号美国临时申请，标题为《防倾斜光学测试仪器(Tip Resistant Optical Testing Instrument)》且于2017年4月20日提交；以及第62/487,807号美国临时申请，标题为《光学测试平台(Optical Test Platform)》且于2017年4月20日提交。以上申请中的每一个以全文引用的方式并入本文中。
技术领域
本发明的实施例大体上涉及用于控制检测装置的组件的计算机技术。更具体地说，实施例涉及用于调制照明灯、从密度传感器和浊度传感器确定McFarland值并将检测装置归零的方法、设备和计算机程序产品。
背景技术
在微生物实验室和其它类似环境中，实验室技术人员、科学家以及其他从业者使用实验室设备来测量液体悬浮液的状况。可以在透明的聚苯乙烯试管、玻璃试管或其它类似瓶中观察和处理悬浮液。从业者可以利用各种装置或仪器对管中的液体进行读数和测量。从业者还可以在执行测量的同时处理流体，或在测量之间间歇性地处理流体。在一些实例中，从业者可以在监测由仪器执行的测量或读数的同时处理流体。
在微生物实验室中执行的这种测量的一个实例包含测量液体中微生物的浊度和/或浓度。可以获得的这种对液体中微生物的浊度和/或浓度的测量值的一个读数被称为McFarland值。使用一系列McFarland标准来获得McFarland值，这些标准是用于制定标准曲线以便确定未知样品中颗粒的浓度的溶液的一系列已知浓度。在使用管时，从业者可以用盐水稀释溶液，或者增加液体中微生物的含量。装置或仪器中的传感器可配置成检测在管的区域中发射的光以测量液体的特征，例如但不限于McFarland值。
发明内容
因此，提供了用于控制检测装置的组件的方法、设备和计算机程序产品。
在一些实施例中，可以在检测装置中包含照明灯以提高管和其内容物的可视性。但是，照明灯可能会干扰执行读数的传感器，例如那些取决于敏感光学器件和/或发射光检测的传感器。实例实施例可以调制照明灯，使得在照明灯的关闭周期期间执行传感器读数。因此，照明灯仍然可以为用户提供改善的可视性，并且可以减少或防止干扰。
一些实施例可包含密度传感器和/或浊度传感器或与密度传感器和/或浊度传感器通信。如本文所描述，来自密度传感器和/或浊度传感器的读数可用于计算McFarland值。在一些实施例中，可以基于使传感器读数满足预定标准的发射器电平将检测装置归零。
提供了一种用于减少传感器读数中的光干扰的方法。所述方法包含根据光调制模式打开和关闭照明灯，并且在光调制模式的关闭周期期间，控制至少一个发射器发射供至少一个传感器检测的信号。所述方法另外包含控制至少一个传感器在光调制模式的关闭周期期间执行读数。所述方法可另外包含控制至少一个传感器在至少一个发射器关闭时执行暗读数，从而通过从亮读数减去暗读数来确定环境光偏移，并根据环境光偏移校准传感器读数。
所述方法可另外包含控制至少一个传感器在光调制模式中的多个关闭周期内执行多个读数，并基于所述多个读数计算移动平均传感器读数。所述方法可另外包含控制传感器读数在开始光调制模式的相应关闭周期后的预定延迟之后开始。在一些实施例中，所述方法包含接收管***的指示，并控制传感器读数周期在接收到管***的指示后的预定初始延迟之后开始。
提供了一种用于确定McFarland值的方法。所述方法包含接收多个密度传感器读数，接收多个浊度传感器读数，以及向密度传感器读数和浊度传感器读数应用线性回归以确定多项式方程的系数，并向多项式方程应用后续读数以计算McFarland值。所述方法可另外包含基于密度传感器读数和浊度传感器读数的比较而检测至少一个传感器中的错误。
提供了一种用于将检测装置归零的方法。所述方法包含接收执行归零校准的指示，以及响应于归零校准的指示，控制发射器增强发射信号。所述方法另外包含基于发射信号控制至少一个传感器执行读数，监测传感器读数并在传感器读数满足预定标准时存储发射信号的电平，以及基于发射信号的所存储电平控制发射器操作。
提供了一种用于减少传感器读数中的光干扰的计算机程序产品。计算机程序产品包括其中存储有计算机可读程序指令的至少一个非暂时性计算机可读介质，所述计算机可读程序指令包括指令，所述指令在由设备执行时配置成使所述设备根据光调制模式打开和关闭照明灯。计算机可读程序指令可另外包括在光调制模式的关闭周期期间控制至少一个发射器发射供至少一个传感器检测的信号以及控制至少一个传感器在光调制模式的关闭周期期间执行读数的指令。
还提供了一种用于确定McFarland值的计算机程序产品。计算机程序产品包含其中存储有计算机可读程序指令的至少一个非暂时性计算机可读介质，所述计算机可读程序指令包括指令，所述指令在由设备执行时配置成使所述设备接收多个密度传感器读数、接收多个浊度传感器读数、向密度传感器读数和浊度传感器读数应用线性回归以确定多项式方程的系数以及向多项式方程应用后续读数以计算McFarland值。
提供了一种用于将检测装置归零的计算机程序产品，其中所述计算机可读程序指令另外包括指令，所述在由设备执行时配置成使所述设备至少接收执行归零校准的指示、响应于归零校准的指示而控制发射器增强发射信号、基于发射信号控制至少一个传感器执行读数、监测传感器读数并在传感器读数满足预定标准时存储发射信号的电平，以及基于发射信号的所存储电平而控制发射器操作。
提供了一种用于减少传感器读数中的光干扰的设备，所述设备包括处理电路***，所述处理电路***配置成使所述设备根据光调制模式打开和关闭照明灯、在光调制模式的关闭周期期间控制至少一个发射器发射供至少一个传感器检测的信号，以及控制至少一个传感器在光调制模式的关闭周期期间执行读数。
提供了一种用于确定McFarland值的设备，所述设备包括处理电路***，所述处理电路***配置成使所述设备接收多个密度传感器读数、接收多个浊度传感器读数、向密度传感器读数和浊度传感器读数应用线性回归以确定多项式方程的系数，以及向多项式方程应用后续读数以计算McFarland值。
提供了一种用于将检测装置归零的设备，所述设备包括处理电路***，所述处理电路***配置成使所述设备接收执行归零校准的指示、响应于归零校准的指示而控制发射器增强发射信号、基于发射信号控制至少一个传感器执行读数、监测传感器读数并在传感器读数满足预定标准时存储发射信号的电平，以及基于发射信号的所存储电平控制发射器操作。
提供一种具有用于减少传感器读数中的光干扰的构件的设备。所述设备包含用于根据光调制模式打开和关闭照明灯的构件。所述设备包含用于在光调制模式的关闭周期期间控制至少一个发射器发射供至少一个传感器检测的信号的构件。所述设备另外包含用于控制至少一个传感器在光调制模式的关闭周期期间执行读数的构件。
提供了一种用于确定麦克法兰值的设备。所述设备包含用于接收多个密度传感器读数的构件、用于接收多个浊度传感器读数的构件以及用于向密度传感器读数和浊度传感器读数应用线性回归以确定多项式方程的系数的构件。所述设备另外包含用于向多项式方程应用后续读数以计算McFarland值的构件。
提供了一种用于将检测装置归零的设备。所述设备包含用于接收执行归零校准的指示的构件，以及用于响应于归零校准的指示而控制发射器增强发射信号的构件。所述设备另外包含用于基于发射信号控制至少一个传感器执行读数的构件、用于监测传感器读数的构件以及用于在传感器读数满足预定标准时存储发射信号的电平的构件。所述设备另外包含用于基于发射信号的所存储电平而控制发射器操作的构件。
提供以上概述只是为了总结本发明的一些实例实施例以提供对本发明的一些方面的基本理解。因此，应了解，上述实例实施例只是实例，且不应解释为以任何方式窄化本公开的范围或精神。应了解，除了此处概述的那些实施例之外，本公开的范围还涵盖许多潜在的实施例，其中的一些将在下文进一步描述。
附图说明
在这样笼统地描述了本发明的实施例后，现在将参考附图，所述附图不一定按比例绘制，并且其中：
图1是根据一些实例实施例的检测装置组件的实例示意图；
图2是根据一些实例实施例的设备的框图；
图3是根据一些实例实施例的说明操作的流程图；
图4和5是根据一些实例实施例的实例时序图；
图6是根据一些实例实施例的说明操作的流程图；
图7是根据一些实例实施例的传感器读数的实例曲线图；
图8是根据一些实例实施例的说明操作的流程图；
图9是根据一些实例实施例的检测仪器的透视图；以及
图10示出根据一些实例实施例的穿过检测仪器的外壳的光的光学路径。
具体实施方式
现在将参考附图在下文中更全面地描述本发明的一些实施例，附图中示出了本发明的一些但非全部实施例。事实上，本发明的各种实施例可以用不同的形式来实现并且不应被解释为限制于本文中所阐述的实施例；相反，提供这些实施例是为了使得本公开满足适用的法律要求。在整个附图中相同的附图标记指代相同的元件。
综述
图1是根据一些实例实施例的检测装置组件的实例示意图。图1仅作为实例提供，并且应了解，根据实例实施例，可以采用检测装置的许多其它配置。
如图1中所说明，在一些实施例中，管100可以***到检测装置壳体(未示出)中。检测装置可包括配置成照亮管100的照明灯110(例如，照明器或管灯)。尽管图1中存在且本文中提到一个管100，但是应了解，根据实例实施例，可以将任何数目的管100***到检测装置中，并且可以对其进行本文中所描述的操作。
照明灯110可以是配置成照亮管100的任何类型的灯。照明灯110可以照亮管，或将光向上发射到管中，使得相对于在不具有照明灯的情况下操作检测装置或者相对于在仅利用外部光源的情况下操作检测装置，检测装置的从业者或用户可以更加清楚地看见或观察透明管的内容物。照明灯110可以是任何类型的照明装置，例如发光二极管(LED)。如图1中所说明，照明灯110可以配置在装置中，使得在管***时，照明灯100定位在***的管的下方，从而可以照亮这个管。在其它实例实施例中，照明灯110可以检测装置的相对于组件定位在任何其它位置中，使得灯设置在***的管的区域中且有助于装置的用户看见管的内容物。
检测装置可包含用于将光发射到样品管100中的至少一个发射器140(例如，LED或其它光源)和用于接收穿过样品的光的至少一个检测器或传感器120、130(例如，光电检测器)。例如，在图1所说明的实施例中，可以使用一个发射器140及两个传感器120和130来产生样品的光密度读数。在操作中，发射器140可以将光传输到样品中，且传输光的一部分穿过样品到达相对于管100与发射器140相对定位的第一传感器120，同时传输光的第二部分从样品反射并由垂直于发射器的传输方向的第二传感器130收集。具体地说，第一传感器120可以相对于发射器140的轴线30共线定向，并且可以定向成相对于样品管100的轴线32从发射器140偏移180度。第二传感器130可以定位成围绕样品管100的径向周长在正交轴线34上与发射器140和第一传感器120两者成90度以收集反射光。发射器140可配置成垂直于管100的表面并垂直于样品管100的纵向轴线32传输光。
由第一穿过传感器120收集的光的部分可以称为“密度”读数，且由第二反射传感器130收集的光的部分可以称为“浊度”读数。就此而言，传感器120可被称作密度传感器120，传感器130可被称作浊度传感器130。检测装置可组合来自每一传感器120和130的密度和浊度信号，以产生样品的McFarland读数(或其它光学测量值)。
因此，发射器140可以是配置成发射供传感器检测的信号的任何类型的装置。由发射器140发射的信号可包含但不限于红外(IR)波长、近红外(NIR)波长、电磁辐射和/或其它类型的光(包含可见和/或不可见光)。例如，在一些实施例中，发射器140可以是LED、红外光LED等。为简单起见，由发射器140发射的信号在本文中可以被称为源光，但是应了解，可以采用前述信号类型中的任一种。
在一些实施例中，密度传感器120(其可以被视为光密度传感器)可配置成基于穿过管且被密度传感器120检测到的源光的量来测量液体悬浮液中的微生物或其它物质的质量。就此而言，密度传感器120可以定位在检测装置中，使得在管***时，发射器140定位在管中与密度传感器120相对的侧面上，使得源光穿过管并被密度传感器120检测到。
在一些实施例中，浊度传感器130可配置成测量液体悬浮液中悬浮颗粒的浓度。浊度传感器130可以配置在检测装置中，使得它垂直于或大体上垂直于发射器140。源光可从液体中的悬浮颗粒反射，且可以通过浊度传感器130检测散射的源光以测量浊度或浓度。
密度传感器120和浊度传感器130仅作为实例传感器提供，并且在一些实施例中可以是任选的。应了解，根据实例实施例，可以存在并且可以采用各种其它类型的传感器和/或接收器。例如，密度传感器120和浊度传感器130可以是任何类型的光电检测器或其它光学传感器，包含但不限于电荷耦合装置(CCD)；主动像素传感器(APS)，例如互补式金属氧化物半导体(CMOS)传感器；反向偏置LED、光电二极管、光电晶体管、光敏电阻、光电倍增器或能够确定传感器处的入射光的强度的任何其它传感器。在一些实施例中，检测装置的传感器可包括配置成将检测到的电压转换成标准化读数的模/数转换器。
图2说明可以实施或至少部分地实施检测装置或者可以交换性地连接到检测装置或其任何组件的实例设备200。例如，检测装置的例如密度传感器120和/或浊度传感器130等传感器可配置成通过通信接口218与处理电路***210(包含处理器212和/或存储器214)通信。然而，应注意下方在图2中说明的和关于图2描述的组件、装置和元件可能并不是强制性的，因此其中一些可在某些实施例中省略。例如，图2说明用户接口220，如下文更详细地描述，用户接口220在一些实施例中可以是任选的。另外，一些实施例可包含除在图2中说明的和关于图2描述的那些组件、装置或元件之外的其它或不同组件、装置或元件。
在一些实施例中，设备200可以实施为或至少部分地实施为分布式***或基于云的***，因此可以包含任何数目的远程用户装置和/或服务器装置。因此，实例实施例可能不一定限于在实验室环境中使用，而是可以例如在生产环境或其它环境中实施，使得对由检测装置收集的数据的远程处理和/或监测可以在服务器和/或其它类似计算装置上执行。不管如何实施，设备200可配置成控制检测装置的各种组件，如本文中所描述。
继续参考图2，根据本文中所公开的一个或多个实例实施例，处理电路***210可配置成执行动作。就此而言，根据各种实例实施例，处理电路***210可配置成执行和/或控制检测装置和/或其组件的一个或多个功能性的执行。例如，处理电路***210可以与通信接口218、用户接口220、照明灯110、密度传感器120、浊度传感器130、发射器140和/或设备200的例如其它传感器等其它组件通信或以其它方式控制它们。例如，处理电路***可以控制照明灯110打开和关闭、发射器140发射信号以及任一个传感器执行读数。根据一个或多个实例实施例，处理电路***210可以另外配置成执行数据处理，例如处理由传感器收集的数据和/或其它处理和管理服务。在一些实施例中，设备200或其组件可以体现为或包括(例如，利用硬件、软件或硬件与软件的组合)配置成执行本文中所描述的操作的电路芯片(例如，集成电路芯片)，所述组件例如是处理电路***210。电路芯片可以构成用于执行提供本文中所描述的功能性的一个或多个操作的构件。在一些实例实施例中，处理电路***210可包含处理器212，并且在一些实施例中，例如在图2中所说明的实施例中，可另外包含存储器214。
处理器212可以用许多不同的方式来体现。例如，处理器212可以体现为各种处理构件，例如微处理器或其它处理元件、共处理器、控制器中的一个或多个，或体现为各种其它计算或处理装置，包含集成电路，例如专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)等等。尽管说明为单个处理器，但是应了解，处理器212可包括多个处理器。多个处理器可以彼此成操作性通信，并且可以共同地配置成执行如本文中所描述的设备200和/或检测装置的一个或多个功能性。多个处理器可以在单个计算装置上体现或跨共同地配置成用作设备200的多个计算装置分布。例如，本文中执行的一些操作可由检测装置的组件执行，而一些操作可在通信地连接到检测装置的远程装置上执行。例如，如智能手机、平板电脑、个人计算机等用户装置可配置成例如通过BluetoothTM通信或通过局域网与检测装置通信。另外或或者，远程服务器装置可以执行本文中所描述的一些操作，例如处理由任一个传感器收集的数据，以及相应地将所得数据提供或传送到其它装置。
在一些实例实施例中，处理器212可配置成执行存储于存储器214中或处理器212可以其它方式存取的指令。因而，不管是由硬件配置还是由硬件与软件的组合配置，处理器212都可以表示能够执行根据本发明的实施例的操作同时进行相应配置的实体(例如，以电路***——呈处理电路***210形式——物理体现)。因此，例如，当处理器212体现为ASIC、FPGA等时，处理器212可以特定地配置成用于进行本文中所描述的操作的硬件。或者，作为另一实例，在处理器212体现为软件指令的执行器时，指令可以将处理器212特定地配置成执行本文中所描述的一个或多个操作。
在一些实例实施例中，存储器214可包含一个或多个可为固定或可装卸式的非暂时性存储器装置，例如易失性和/或非易失性存储器。就此而言，存储器214可包括非暂时性计算机可读存储介质。应了解，尽管存储器214被说明为单个存储器，但是存储器214可包括多个存储器。所述多个存储器可以在单个计算装置上体现或者可以跨多个计算装置分布。存储器214可配置成存储使得设备200能够实行根据一个或多个实例实施例的各种功能的信息、数据、应用程序、计算机程序代码、指令等。
存储器214可配置成缓冲供处理器212处理的输入数据。另外或或者，存储器214可配置成存储供处理器212执行的指令。在一些实施例中，存储器214可包含可以存储各种文件、内容或数据集的一个或多个数据库。在存储器214的内容当中，可以存储应用程序以供处理器212执行，以便实行与每一相应应用程序相关联的功能性。例如，根据实例实施例，存储器214可以存储被检测装置的传感器检测到的数据和/或用于处理此类数据的应用程序代码。在一些情况下，存储器214可以与处理器212、通信接口218、用户接口220、照明灯110、密度传感器120、浊度传感器130、发射器140和/或设备200的例如但不限于其它传感器的其它组件中的一个或多个通信。
用户接口220可以与处理电路***210通信，以在用户接口220处接收用户输入的指示和/或向用户提供可听、可视、机械或其它输出。因而，用户接口220可包含例如小键盘、显示器、触摸屏显示器和/或其它输入/输出机构。因而，在一些实例实施例中，用户接口220可以提供管理或处理数据存取操作等的用户控制构件。在一些实例实施例中，用户接口220可能不存在于检测装置中，但是用户接口可以实施于例如通过BluetoothTM通信或局域网通信地连接到检测的远程装置(例如，智能手机、平板电脑、个人计算机等)上。
通信接口218可包含用于实现与其它装置和/或网络通信的一个或多个接口机构。在一些情况下，通信接口218可以是任何构件，例如配置成从网络接收数据和/或向网络传输数据的体现为硬件或硬件与软件的组合的装置或电路***，和/或与处理电路***210通信的任何其它装置或模块。举例来说，通信接口218可配置成实现设备200、检测装置和/或远程计算装置的组件之间的通信。在一些实例中，通信接口218可包含配置成在各种装置之间传输信息的网络。因此，例如，通信接口218可包含用于实现通过缆线、数字订户线(DSL)、通用串行总线(USB)、以太网或其它方法进行的无线和/或有线通信的支持硬件和/或软件。
其中设备200、检测装置和/或其中任一个组件可以操作的网络可包含局域网、因特网、任何其它形式的网络或其任何组合，包含专用的私有和半私有网络及公共网络。网络可包括有线网络和/或无线网络(例如，蜂窝式网络、无线局域网、无线广域网、其某一组合等)。
参考图9，示出了实例检测装置1(也被称作测试仪器或光学仪器)。在描绘的实施例中，检测装置1保持两个样品管100用于光密度测试。检测装置1可包括手持式单元10和基台20。在一些实施例中，为方便和灵活起见，手持式单元由电池供电，且包含本文中详述的光学测试平台。手持式单元10可以通过
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或准许实时数据传送的另一无线或有线协议将数据传输到基台20。接着，基台20可以有线或无线地连接到计算机以便实时接收光密度数据。在一些实施例中，手持式单元10可以保持两个样品管或融合的双样品管100。关于仪器、它的结构和操作的另外细节可参见第62/487,796号美国临时申请，标题为《光密度仪器及使用光密度仪器的***和方法(OPTICAL DENSITY INSTRUMENT AND SYSTEMS ANDMETHODS USING THE SAME)》，所述申请以全文引用的方式并入本文中。
参考图10，示出安置在手持式单元10内的实例外壳910。外壳910可由不透明或半不透明材料模制而成。在一些其它实施例中，外壳910可由深色聚合物形成。在又一些其它实施例中，外壳910可由黑色聚合物形成。窗口902、904、906、108允许光以相对于窗口表面成大体上垂直的角度的方式穿过外壳910，其中外壳材料禁止光穿过外壳自身传播。外壳910可在其中限定一个或多个腔室912a、912b(统称为“912”)。腔室912可以通过上部孔口914a、914b(统称为“914”)收容样品管100(在图1和9中示出)，且样品管100可以由外壳支撑。在一些实施例中，腔室912可以是大体上圆柱形的，并且在一些实施例中，腔室912可以一个或多个壁916a、916b为界。
外壳910可以保持样品管100的若干种配置中的任一种。例如，在图3描绘的实施例中，外壳910包含配置成收容两个对应样品管100的两个腔室912a、912b。所描绘实施例配置成测试这两个管中的一个(例如，光学组件仅询问这两个腔室中的一个，即腔室912a)，同时为方便起见，留下第二腔室912b保持第二管。例如，一旦第一腔室912a中的管100的光密度达到所要浓度，那么可以在第二管100中制备基于所述浓度的单独样品(例如，基于第一腔室912a中的管的已知浓度的原始浓度的稀释版本，例如用于抗生素敏感性测试)。这种双样品管配置可用于与双试管或其它融合样品管一起使用，其中这两个管应该放在一起进行研究，且无需利用光密度传感器进行单独检查。在一些替代实施例中，可以使用两个或更多个光学组件来询问第二腔室912b。尽管本文中的描述涉及询问单个样品管，但是这些教示内容可以易于应用于在第二腔室912b上操作的第二组光学组件。在一些替代实施例中，光学测试平台可以仅包含用于测试单个样品管的单个腔室，或者在一些实施例中，超过两个样品管可与一组、两组或更多组光学组件一起使用以便询问相应管。腔室912可包含用于接合并支撑样品管100的支撑环146或倒圆角。
外壳910可包含用于接合并支撑光学组件(例如，图1所示的发射器140、密度传感器120、浊度传感器130和/或照明灯110)的一个或多个安装件920、922、924。在图10中所示的实施例中，第一安装件920可以收容并接合发射器140，第二安装件922可以收容并接合浊度传感器130，且第三安装件924可以收容并接合密度传感器120。根据本公开，所属领域的普通技术人员还将了解，安装件920、922、924和光学组件110、120、130、140可重新配置成满足本文所论述的可能的发射器-传感器关系的任何布置。在一些实施例中，安装件920、922、924可以与外壳910整体地模制，并且在一些其它实施例中，安装件920、922、924可以单独附接到外壳上。
继续参考图10，示出了发射器和传感器的光学耦合的图示。在图10描绘的实施例中，发射器140(图1中示出)将附接到第一安装件920上，密度传感器120(图1中示出)将附接到第三安装件924上，且浊度传感器130(图1中示出)将附接到第二安装件922上。在操作中，发射器140可通过窗口902将光950发射到腔室912a中。光952的第一部分可以从腔室912a中的样品反射并被浊度传感器130接收，且光954的第二部分可以穿过腔室912a中的样品并被密度传感器120接收。在描绘的实施例中，第一窗口902、第一安装件920、第三窗口906和第三安装件924共线布置(例如，沿着图1所示的轴线30)，且第二窗口904和第二安装件922垂直于第一窗口902、第一安装件920、第三窗口906和第三安装件924的轴线(例如，在图1所示的轴线34上)。因此，在描绘的实施例中，发射器140和密度传感器120将共线布置，且浊度传感器130将垂直于发射器140和第一传感器120布置。
尽管浊度信号952和密度信号954示出为在样品的中心处发散，但是如果假设样品分布均匀，那么发射光950可以逐步反射和分散在腔室912a的整个长度上。
调制照明灯
在一些实例中，照明灯110可能会干扰检测装置的传感器对信号的检测。如果环境光或辅助光过亮，那么灯可能会“泛光(flood out)”或者干扰传感器读数。然而，可能需要照明灯110来让用户看见管和管的内容物。例如，配置成检测通过管100的源光的密度传感器120和/或配置成检测从管中的颗粒反射或散射的源光的浊度传感器130可能受照明灯110影响，使得读数变得不准确。因此，实例实施例可以调制照明灯110，使得传感器读数可以在照明灯110关闭时执行。在一些实施例中，照明灯110和发射器140信号之间的干扰可以利用时分复用来减少，如本文中所描述。
图3是根据一些实例实施例的说明设备200的实例操作的流程图。如由图3的操作300所示，设备200可包含用于根据照明灯的具有开启周期和关闭周期的光调制模式打开和关闭照明灯(例如，照明灯110)的构件，例如处理电路***210、处理器212、存储器214、通信接口218、照明灯110等等。
图4是根据实例实施例的光调制模式的实例时序图。在管***(400)之后，可以在预定时间间隔内打开(402)和关闭(404)照明灯110。在一些实施例中，光调制模式可配置成响应于管***的指示而开始。例如，可以响应于检测装置中物理开关的触发和/或用户接口220的用户输入而提供指示。开启和关闭周期的时间间隔可以是任何预定的或动态地确定的时间段。开启周期的时间间隔可以与关闭周期的时间间隔相同或不同，并且在一些实例中，间隔可以改变或变化。图4的实例光调制模式指示先是8毫秒(ms)开启周期，接着是8毫秒关闭周期，反复进行。就此而言，利用16毫秒时段和50％占空比调制照明灯110(403)。
可以确定光调制模式，使得照明灯110打开且打开时间足以提供辅助光供从业者或用户查看管中的悬浮液，且在使得辅助照明对于用户来说显得恒定的持续时间内关闭。就此而言，用户可以清楚没有闪烁或只有微不足道的闪烁量，使得照明灯显得恒定。因此，可以降低、最小化和/或防止用户对光调制模式的感知或光调制模式的用户可视性。因此，可以基于各种因素而确定开启和/或关闭周期的时间间隔，所述因素包含但不限于照明灯110的类型、大小和/或发光亮度。因此，可以使用除所说明时间间隔之外的其它时间间隔。例如，在一些实施例中，照明灯110可以以10毫秒为间隔进行开启和关闭循环。
在一些实施例中，最长关闭周期可以由人类可以忍受照明灯关闭的时段限定。例如，在一些实施例中，关闭周期可以是16.66毫秒或更小(例如，30Hz周期或更大)。在一些实施例中，最短关闭周期可以由处理传感器读数所需的时间限定。例如，在一些实施例中并且对于一些传感器，传感器可能需要6毫秒来处理读数。在此类实施例中，关闭周期可以是6毫秒或更大(例如，84Hz周期或更小)。在一些实施例中并且对于一些传感器，传感器可能需要8毫秒来处理读数。在此类实施例中关闭周期可以是8毫秒或更大(例如，65Hz周期或更小)。
因此，在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在6毫秒和16.66毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在5毫秒和16.66毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在4毫秒和16.66毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在3毫秒和16.66毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在2毫秒和16.66毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在6毫秒和16毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在5毫秒和16毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在4毫秒和16毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在3毫秒和16毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在2毫秒和16毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在6毫秒和17毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在5毫秒和17毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在4毫秒和17毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在3毫秒和17毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在2毫秒和17毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在2毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在2毫秒和19毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在2毫秒和18毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在2毫秒和15毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在2毫秒和14毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在2毫秒和13毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在2毫秒和12毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在2毫秒和11毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在2毫秒和10毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在2毫秒和9毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在2毫秒和8毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在2毫秒和7毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在2毫秒和6毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在2毫秒和5毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在2毫秒和4毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在2毫秒和3毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在3毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在4毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在5毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在6毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在7毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在8毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在9毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在10毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在11毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在12毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在13毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在14毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在15毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在16毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在17毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在18毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以在19毫秒和20毫秒之间。
因此，在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在6毫秒和16.66毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在5毫秒和16.66毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在4毫秒和16.66毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在3毫秒和16.66毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在2毫秒和16.66毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在6毫秒和16毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在5毫秒和16毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在4毫秒和16毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在3毫秒和16毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在2毫秒和16毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在6毫秒和17毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在5毫秒和17毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在4毫秒和17毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在3毫秒和17毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在2毫秒和17毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在2毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在2毫秒和19毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在2毫秒和18毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在2毫秒和15毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在2毫秒和14毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在2毫秒和13毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在2毫秒和12毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在2毫秒和11毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在2毫秒和10毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在2毫秒和9毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在2毫秒和8毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在2毫秒和7毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在2毫秒和6毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在2毫秒和5毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在2毫秒和4毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在2毫秒和3毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在3毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在4毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在5毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在6毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在7毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在8毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在9毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在10毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在11毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在12毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在13毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在14毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在15毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在16毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在17毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在18毫秒和20毫秒之间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以在19毫秒和20毫秒之间。
在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以小于21毫秒。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以小于20毫秒。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以小于19毫秒。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以小于18毫秒。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以小于17毫秒。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以小于16毫秒。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以小于15毫秒。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以小于14毫秒。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以小于13毫秒。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以小于12毫秒。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以小于11毫秒。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以小于10毫秒。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以小于9毫秒。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以小于8毫秒。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以小于7毫秒。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以小于6毫秒。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以小于5毫秒。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以小于4毫秒。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以小于3毫秒。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以小于2毫秒。
在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以小于21毫秒。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以小于20毫秒。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以小于19毫秒。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以小于18毫秒。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以小于17毫秒。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以小于16毫秒。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以小于15毫秒。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以小于14毫秒。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以小于13毫秒。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以小于12毫秒。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以小于11毫秒。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以小于10毫秒。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以小于9毫秒。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以小于8毫秒。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以小于7毫秒。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以小于6毫秒。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以小于5毫秒。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以小于4毫秒。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以小于3毫秒。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以小于2毫秒。
在一些实施例中，如本文所描述，光调制模式的开启周期和关闭周期可具有相同持续时间，其可包含任一对本文中所提到的范围或持续时间(例如，开启2毫秒、关闭2毫秒；开启3毫秒、关闭3毫秒；开启4毫秒、关闭4毫秒；开启5毫秒、关闭5毫秒；开启6毫秒、关闭6毫秒；开启7毫秒、关闭7毫秒；开启8毫秒、关闭8毫秒；开启9毫秒、关闭9毫秒；开启10毫秒、关闭10毫秒；开启11毫秒、关闭11毫秒；开启12毫秒、关闭12毫秒；开启13毫秒、关闭13毫秒；开启14毫秒、关闭14毫秒；开启15毫秒、关闭15毫秒；开启16毫秒、关闭16毫秒；开启17毫秒、关闭17毫秒；开启18毫秒、关闭18毫秒；开启19毫秒、关闭19毫秒；开启20毫秒、关闭20毫秒等)。在一些实施例中，根据本文中所提到的范围或持续时间中的任一个，开启周期和关闭周期可具有不同持续时间。在一些实施例中，光调制模式的开启周期可以长于光调制模式的关闭周期。在一些实施例中，光调制模式的关闭周期可以长于光调制模式的开启周期。
如由图3的操作302所示，设备200可包含用于控制至少一个传感器在至少一个发射器(例如，发射器140)关闭时执行暗读数的构件，例如处理电路***210、处理器212、存储器214、通信接口218、发射器140等。
在一些实例中，设备200可配置成控制传感器，使得传感器读数在管***后达预定时间延迟之后开始。例如，如图4中所指示，在设备检测到管被***(例如，使用物理、光学或其它类型的开关)之后，考虑到用户将管***到检测装置中需要的时间，在管***的时间和传感器读数开始之间可存在500毫秒或其它预定时间的延迟(410)。
传感器读数可以在照明灯110的单个关闭周期内开始(412)和结束(414)。一旦传感器读数开始(412)，传感器读数就可以以连续周期重复，例如每192毫秒(416)，直到管被移除(420)为止。在下文进一步相对于操作312和314详细描述重复的传感器读数。
在一些实施例中，可以针对照明灯110的每个关闭周期(例如，对应于本文中详述的光调制模式的关闭周期的任一个间隔的间隔)获得传感器读数。在一些实施例中，可以在照明灯的预定数目个关闭周期之后获得传感器读数。换句话说，读数之间的间隔(416)可以是占空比403和关闭周期持续时间404的倍数。例如，在图4中所描绘的实施例中，读数之间的间隔是192毫秒(416)，它是16毫秒占空比(403)的多倍(12倍)。
在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于占空比(403)的长度的2倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于占空比(403)的长度的3倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于占空比(403)的长度的4倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于占空比(403)的长度的5倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于占空比(403)的长度的6倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于占空比(403)的长度的7倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于占空比(403)的长度的8倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于占空比(403)的长度的9倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于占空比(403)的长度的10倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于占空比(403)的长度的11倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于占空比(403)的长度的12倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于占空比(403)的长度的13倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于占空比(403)的长度的14倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于占空比(403)的长度的15倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于占空比(403)的长度的16倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于占空比(403)的长度的17倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于占空比(403)的长度的18倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于占空比(403)的长度的19倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于占空比(403)的长度的20倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于占空比(403)的长度的21倍。
在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于500毫秒。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于300毫秒。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于450毫秒。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于400毫秒。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于350毫秒。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于300毫秒。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于250毫秒。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于200毫秒。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于150毫秒。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于100毫秒。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以小于50毫秒。
在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是320毫秒或更小。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是304毫秒或更小。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是288毫秒或更短。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是272毫秒或更小。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是256毫秒或更小。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是240毫秒或更小。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是224毫秒或更短。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是208毫秒或更小。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是192毫秒或更小。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是176毫秒或更小。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是160毫秒或更小。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是144毫秒或更小。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是128毫秒或更小。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是112毫秒或更小。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是96毫秒或更小。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是80毫秒或更小。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是64毫秒或更小。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是48毫秒或更小。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是32毫秒或更小。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是16毫秒或更小。
在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的1至20倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的2至20倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的4至20倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的6至20倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的8至20倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的10至20倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的12至20倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的14至20倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的16至20倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的18至20倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的1至18倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的1至16倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的1至14倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的1至12倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的1至10倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的1至8倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的1至6倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的1至4倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的1至2倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的6至18倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的8至18倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的10至18倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的12至18倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的14至18倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的6至16倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的6至14倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的6至12倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的6至10倍。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以是占空比(403)的长度的6至8倍。
在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在100毫秒和500毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在150毫秒和500毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在200毫秒和500毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在250毫秒和500毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在300毫秒和500毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在350毫秒和500毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在400毫秒和500毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在450毫秒和500毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在100毫秒和450毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在100毫秒和400毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在100毫秒和350毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在100毫秒和300毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在100毫秒和250毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在100毫秒和200毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在100毫秒和150毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在192毫秒和256毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在192毫秒和240毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在192毫秒和224毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在192毫秒和208毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在176毫秒和192毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在160毫秒和192毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在144毫秒和192毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在128毫秒和192毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在176毫秒和256毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在176毫秒和240毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在176毫秒和224毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在176毫秒和208毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在176毫秒和192毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在160毫秒和176毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在144毫秒和176毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在128毫秒和176毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在144毫秒和256毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在144毫秒和240毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在144毫秒和224毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在144毫秒和208毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在144毫秒和192毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在144毫秒和176毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在144毫秒和160毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在128毫秒和144毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在128毫秒和256毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在128毫秒和240毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在128毫秒和224毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在128毫秒和208毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在128毫秒和192毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在128毫秒和176毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在128毫秒和160毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在208毫秒和256毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在208毫秒和240毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在208毫秒和224毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在192毫秒和208毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在176毫秒和208毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在160毫秒和208毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在144毫秒和208毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在128毫秒和208毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在224毫秒和256毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在224毫秒和240毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在208毫秒和224毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在192毫秒和224毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在176毫秒和224毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在160毫秒和224毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在144毫秒和224毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在128毫秒和224毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在240毫秒和256毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在224毫秒和240毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在208毫秒和240毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在192毫秒和240毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在176毫秒和240毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在160毫秒和240毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在144毫秒和240毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在128毫秒和240毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在224毫秒和256毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在208毫秒和256毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在192毫秒和256毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在176毫秒和256毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在160毫秒和256毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在144毫秒和256毫秒之间。在一些实施例中，读数之间的间隔(416)可以在128毫秒和256毫秒之间。
图5是照明灯110的8毫秒关闭周期(500)的分解图。在一些实例中，设备可以控制发射器140和/或传感器，使得传感器读数在照明灯110关闭(520)后的预定时间延迟(510)之后执行。例如，设备200可以控制发射器140在光调制模式的开启周期结束后2毫秒之后发射信号。就此而言，电子可以沉降，并且管附近的环境光可以稳定，从而减少、最小化和/或防止照明灯110对任一个传感器的干扰。
指示符530表示由传感器执行的暗读数。例如，读数530的“D”和“N”表示分别由密度传感器120和浊度传感器130执行的读数。暗读数中的术语“暗”是指发射器140的关闭状态，因此，术语暗读数并不意图为限制性的。在一些实施例中，暗读数用于在考虑到环境光的情况下校准任一个传感器，如下文进一步详细描述。在一些实施例中，暗读数530总共可以小于1毫秒。在一些实施例中，暗读数530总共可以是800微秒。在一些实施例中，暗读数530总共可以是800微秒或更小。在一些实施例中，暗读数时间可包含模数转换(ADC)时间和固件(FW)执行时间。
如相对于操作304所描述，且如由图5中的指示符540所示，设备200可包含用于在光调制模式的关闭周期期间控制至少一个发射器发射供至少一个传感器检测的信号(例如，源光)的构件，例如处理电路***210、处理器212、存储器214、通信接口218、发射器140等。
在操作306，设备200可包含用于控制至少一个传感器在至少一个发射器开启时在光调制模式的关闭周期期间执行亮读数的构件，例如处理电路***210、处理器212、存储器214、通信接口218、密度传感器120、浊度传感器130、检测装置的任何其它传感器，等等。
就此而言，在任选的预定时间延迟(550)之后，设备200可以引导传感器执行亮读数560。任选的预定时间延迟，例如4毫秒，可以是可变的，并且可配置成允许从发射器540发射的信号或源光被传感器检测。读数560的读数“D”和“N”表示分别由密度传感器120和浊度传感器130执行的亮读数。亮读数中的术语“亮”是指发射器540的开启或发射状态，并不意图为限制性的。举例来说，应了解，照明灯110实际上在亮读数期间可以是关闭的，如图5中所说明。在一些实施例中，亮读数560总共可以小于1毫秒。在一些实施例中，亮读数560总共可以是800微秒。在一些实施例中，亮读数560总共可以是800微秒或更小。在一些实施例中，亮读数时间可包含模数转换(ADC)时间和固件(FW)执行时间。
在操作308，设备200可包含用于通过从亮读数减去暗读数来确定环境光偏移的构件，例如处理电路***210、处理器212、存储器214、通信接口218等。就此而言，来自传感器的所转换和/或数字化读数可用于计算可量化环境光偏移。
在操作310，设备200可包含用于根据环境光偏移校准传感器读数的构件，例如处理电路***210、处理器212、存储器214、通信接口218等。就此而言，通过比较暗读数与亮读数检测到的环境光可用于调整后续读数，使得传感器读数顾及到环境光。环境光偏移可以是所调整或校准的读数在应用到由传感器执行的读数时可以顾及到环境光使得传感器读数即使在环境光条件下也可以更加一致和/或准确地提供的系数或其它因子。就此而言，暗读数和/或环境光偏移的计算可以在管***之后执行一次，或者可以在重复周期读数期间(例如，针对每一亮读数，或针对每预定数目的亮读数)重复任意次数。
在操作312，设备200可包含用于控制至少一个传感器在光调制模式中的多个关闭周期内执行多个读数(例如，亮读数)的构件，例如处理电路***210、处理器212、存储器214、通信接口218、密度传感器120、浊度传感器130、检测装置的任何其它传感器，等等。传感器读数可以以预定时间间隔重复，例如192毫秒或本文所论述的任何其它间隔。另外或或者，传感器重复可以基于照明灯110已经经过的开启-关闭周期的数目(例如，12个周期)而重复。在一些实施例中，设备200可以使传感器读数在已经经过时间间隔(例如，192毫秒)并且照明灯110已经循环关闭之后进行，如图4(416和418)中所说明。
在操作314，设备200可包含用于基于多个读数计算移动平均传感器读数的构件，例如处理电路***210、处理器212、存储器214、通信接口218等。例如，实例实施例可以使用预定数目个先前读数来计算移动平均值，以便通过用户接口提供给用户或提供到另一装置。例如，可以将三个先前读数用作并入到移动平均值中的预定数目个读数。例如，移动平均可以用作将读数提供到另一装置和/或通过用户接口提供给用户的平滑机制。
在一些实例中，设备200可以利用来自各种传感器和/或传感器类型的传感器读数，处理传感器读数来计算悬浮液的特性，并提供移动平均值。例如，如下文进一步详细描述，设备200可以使用来自密度传感器120和浊度传感器130的读数来确定McFarland值。就此而言，来自密度传感器120和浊度传感器130的读数可以进行组合和处理以确定McFarland值，并且读数可以根据设备200的配置重复，且可以随时间推移表示为移动平均值。另外或或者，实例实施例可以基于从单个传感器获得的传感器读数而计算移动平均值。
重复传感器读数的192毫秒时段和三点移动平均值仅作为实例提供，应了解，可以使用传感器读数和移动平均值的任何模式。例如，192毫秒时段和三点移动平均值可以确定为适当参数，通过所述参数可以从密度传感器120和/或浊度传感器130收集数据，并且基于所要用户体验和/或报告数据的可变性将所得数据提供给用户或另一计算装置。然而，在一些实施例中，设备200可以依据各种因素而确定重复读数的其它时段和/或用于移动平均值的其它数目个样品，所述因素例如是传感器类型、传感器敏感度、悬浮液的测得特征的所估计可变性和/或所得数据的所要可变性。
因此，本文中所描述的操作可以减少传感器读数中照明灯的干扰，并且因此可以提高传感器读数的准确性，同时仍提高管中的液体的可视性。
从密度传感器和浊度传感器读数确定McFarland值
在一些实施例中，设备200在确定McFarland值时可以有利地利用来自密度传感器120和浊度传感器130的读数。McFarland值可用作调整悬浮液中的浊度的参考，使得微生物的浓度可以是指定值或在值的范围内，以便使测试标准化。
图6是根据一些实例实施例的说明设备200的实例操作的流程图。在操作600中，设备200可包含用于接收多个密度传感器读数的构件，例如处理电路***210、处理器212、存储器214、通信接口218、密度传感器120等。在操作602中，设备200可包含用于接收多个浊度传感器读数的构件，例如处理电路***210、处理器212、存储器214、通信接口218、浊度传感器130等。
图7是根据实例实施例的密度传感器读数700和浊度传感器读数702的实例曲线图。读数绘制为相对于液体浊度的电压，并且可以是非线性的。
在一些实施例中，当浊度增加时，浊度读数增加，且密度读数减少。在一些实例中，相对于浊度读数的敏感度，密度传感器读数对于较低浊度的液体可为更敏感的，而相对于密度读数的敏感度，浊度读数对于较高浊度的液体可为更敏感的。因此，多项式方程可以考虑到这两种类型的数据对McFarland值的不同影响。
在一些实施例中，设备200可以通过向这两个读数应用线性回归而确定多项式方程或模型，所述多项式方程或模型的输出提供液体的McFarland值。换句话说，设备200可以校准这两个信号以产生McFarland值。在一些实施例中，此校准可以针对各种McFarland值使用已知样品来进行。
因此，在操作604中，设备200可包含用于向密度传感器读数和浊度传感器读数应用线性回归以确定多项式方程的系数的构件，例如处理电路***210、处理器212、存储器214、通信接口218等。并且，在操作604中，设备200可包含用于向多项式方程应用后续读数以计算McFarland值的构件，例如处理电路***210、处理器212、存储器214、通信接口218等。
在一些实施例中，在操作608中，设备200可包含用于基于密度传感器读数和浊度传感器读数的比较而检测至少一个传感器中的错误的构件，例如处理电路***210、处理器212、存储器214、通信接口218等。给定先前密度传感器读数和/或浊度传感器读数，设备200可配置成检测传感器读数中的一个相对于另一个的改变和/或基于所确定的多项式方程而检测传感器读数中的一个相对于另一个的改变。例如，相比于过往密度传感器读数和/或浊度传感器读数相对于彼此的模式，来自一个传感器的异常读数相对于另一传感器的读数可以指示定位在传感器和管之间的脏污传感器或窗口。
在一些实施例中，响应于检测到错误，设备200可以另外配置成基于正确运行的传感器未经受检测到的错误而计算McFarland值。换句话说，实例实施例可以不包含从检测到错误的传感器检测到的传感器读数。因此，设备200可以继续提供McFarland值和/或警告用户清洁装置组件和/或对问题进行故障检修。
将检测装置归零
在一些实施例中，设备200可配置成基于空管和/或包括盐水或意在产生0或微不足道的传感器读数(例如，密度传感器读数)或计算(例如，McFarland值)的另一种溶液的管的***而将检测装置和/或其传感器归零。为简单起见，此类管在本文中可以被称为基准管。接着，设备200可校准传感器和发射器140，如下所述。
图8是根据一些实例实施例的说明设备200的实例操作的流程图。在操作800中，设备200可包含用于接收执行归零校准的指示的构件，例如处理电路***210、处理器212、存储器214、通信接口218、用户接口220等。用户可以将基准管***到检测装置中，并通过用户接口220指示将检测装置归零。作为另一实例，可以响应于检测到基准管被***到检测装置中而产生指示。
在操作802中，设备200可包含用于响应于归零校准的指示而控制发射器(例如，发射器140)调整发射信号的构件，例如处理电路***210、处理器212、存储器214、通信接口218、发射器140等。例如，在发射器140体现为LED时，设备200可以使电流逐步增强。LED可由数模转换器驱动，例如配置成使得LED能够发射4,096个不同电平的电流的12位转换器。
当发射器140逐步增强时，传感器读数可基于各种信号而执行。就此而言，在操作804，设备200可包含用于基于发射信号控制至少一个传感器执行读数的构件，例如处理电路***210、处理器212、存储器214、通信接口218、密度传感器120、浊度传感器130、任何其它类型的传感器，等等。
在操作806中，设备200可包含用于监测传感器读数并在传感器读数满足预定标准时存储发射信号的电平的构件，例如处理电路***210、处理器212、存储器214、通信接口218、发射器140等。预定标准可以是基于空管和/或透明盐水溶液预期传感器检测到的预定目标值或值范围。作为另一实例，预定标准可以是基于传感器读数而执行的计算的预定目标值或值范围，例如基于密度传感器读数和/或浊度传感器读数而计算的McFarland值。例如，设备200可以预先配置有用于密度传感器120(和/或其它类型的传感器)的预期值或值范围。一旦达到目标值或范围，就可以记录由发射器140发射的电流的电平。校准可以另外通过在一段时间内跟踪传感器读数并一直等到不存在漂移为止而允许传输信号归一化。归一化可以在发射器电流增强之前、期间或之后进行，或者可以与其分开进行。
在操作808中，设备200可包含用于基于发射信号的所存储电平控制发射器操作的构件，例如处理电路***210、处理器212、存储器214、通信接口218、发射器140等。就此而言，设备200可以在进行下一次归零校准之前一直使用校准(例如，发射信号或电流的所存储电平)。用户可以在检测装置打开时、在开始使用不同类型的管时和/或在环境条件改变时将检测装置重新归零。
因此，实例实施例实现传感器基于环境条件、管或盐水溶液的特征、特定传感器校准(例如，工厂校准)等的更准确读数。
结论
应了解，图式各自作为实例提供，并且不应解释为以任何方式缩小本公开的范围或精神。就此而言，除了在本文中说明和描述的那些实施例之外，本公开的范围还涵盖许多潜在的实施例。还可以使用许多其它配置来实施本发明的实施例。
图3、6和8说明根据一些实例实施例的方法、设备和计算机程序产品的操作。应理解，流程图或图式中的每一操作及流程图或图式中的操作的组合可以由各种构件实施，例如硬件和/或包括其上存储有计算机可读程序指令的一个或多个计算机可读介质的计算机程序产品。例如，本文中所描述的过程中的一个或多个可以由计算机程序产品的计算机程序指令体现。就此而言，体现本文中所描述的过程的计算机程序产品可包括计算装置中存储可由计算装置中的处理器(例如，处理器212)执行的指令的一个或多个存储器装置(例如，存储器214)。在一些实例实施例中，体现上文所描述的过程的计算机程序产品的计算机程序指令可以由多个计算装置的存储器装置存储。如将了解，任何此类计算机程序产品可以加载到计算机或其它可编程设备(例如，设备200)上以制造机器，使得包含在计算机或其它可编程设备上执行的指令的计算机程序产品形成用于实施在流程图框中指定的功能的构件。另外，计算机程序产品可以包括上面可以存储计算机程序指令的一个或多个计算机可读存储器，使得所述一个或多个计算机可读存储器可以引导计算机或其它可编程设备以特定方式起作用，使得计算机程序产品可以包括实施流程图框中指定的功能的制品。一个或多个计算机程序产品的计算机程序指令还可以加载到计算机或其它可编程设备(例如，设备200和/或其它设备)上以使一系列操作在所述计算机或其它可编程设备上执行以产生计算机实施过程，使得在计算机或其它可编程设备上执行的指令实施在流程图框中指定的功能。
因此，流程图的框支持用于执行指定功能的构件的组合和用于执行指定功能的操作的组合。还将理解的是，流程图的一个或多个框以及流程图中的框的组合可以由执行指定功能的专用基于硬件的计算机***或专用硬件和计算机指令的组合来实施。
得益于前文描述和相关图式中呈现的教示内容，本文中阐述的发明所涉及的领域的技术人员将想到这些发明的许多修改和其它实施例。因此，应理解，本发明不限于所公开的具体实施例并且希望修改和其它实施例包含在所附权利要求书的范围内。此外，尽管前文描述和相关图式在元件和/或功能的某些实例组合的上下文中描述了实例实施例，但是应当理解的是，在不脱离所附权利要求的范围的情况下，可以通过替代的实施例提供元件和/或功能的不同组合。就此而言，例如，如在一些所附权利要求可以阐述的，还可以预期元件和/或功能的不同组合，而不是上文明确描述的组合。尽管本文中采用了特定术语，但所述术语仅在通用和描述性意义上使用，而不用于限制目的。

Claims (29)

1.一种用于减少传感器读数中来自照明灯的光干扰的方法，所述方法包括：
使照明灯根据光调制模式在开启周期期间打开并且在关闭周期期间关闭，以提供在样品管的内容物的测试期间用户可观察到的所述内容物的提高的可视性，其中，照明灯配置为发射对于光学测试仪器外部的用户可见的光，其中，所述光调制模式包括多个开启周期和多个关闭周期，所述光调制模式的一个关闭周期在所述多个开启周期的相邻开启周期之间；
在所述光调制模式的关闭周期期间，控制至少一个发射器发射供一个或更多个传感器检测的信号；以及
控制所述一个或更多个传感器中的至少一个传感器在所述光调制模式的至少一个关闭周期期间执行读数，其中，所述关闭周期的最长关闭周期是由用户可以忍受照明灯关闭的时段限定，以使得在所述至少一个传感器的工作期间，在关闭周期期间，相邻的开启周期对于用户来说照明灯显得恒定。
2.根据权利要求1所述的方法，其另外包括：
控制所述至少一个传感器在所述至少一个发射器关闭时执行暗读数；
通过从亮读数减去所述暗读数来确定环境光偏移；以及
根据所述环境光偏移校准传感器读数。
3.根据权利要求1至2中任一项所述的方法，其另外包括：
控制所述至少一个传感器在所述光调制模式中的多个关闭周期内执行多个读数；以及
基于所述多个读数计算移动平均传感器读数。
4.根据权利要求1或2所述的方法，其另外包括：
控制传感器读数在所述光调制模式的相应关闭周期开始后的预定延迟之后开始。
5.根据权利要求1或2所述的方法，其另外包括：
接收管***的指示；以及
控制传感器读数周期在接收到所述管***的所述指示后的预定初始延迟之后开始。
6.根据权利要求1或2所述的方法，其中所述至少一个传感器包括至少一个密度传感器和至少一个浊度传感器，所述方法另外包括通过以下操作来确定McFarland值：
接收多个密度传感器读数；
接收多个浊度传感器读数；
向所述密度传感器读数和所述浊度传感器读数应用线性回归以确定多项式方程的系数；以及
向所述多项式方程应用后续读数以计算所述McFarland值。
7.根据权利要求6所述的方法，其另外包括：
基于所述密度传感器读数和所述浊度传感器读数的比较而检测至少一个传感器中的错误。
8.根据权利要求1或2所述的方法，其另外包括将检测装置归零，所述方法包括：
接收执行归零校准的指示；
响应于所述归零校准的所述指示，控制所述至少一个发射器调整发射信号；
基于所述发射信号控制所述至少一个传感器执行读数；
监测所述至少一个传感器读数并在所述传感器读数满足预定标准时存储所述发射信号的电平；以及
基于所述发射信号的所存储电平控制所述至少一个发射器操作。
9.根据权利要求1所述的方法，其中，所述关闭周期的最短关闭周期由处理传感器读数所需的时间限定。
10.根据权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个关闭周期的持续时间小于21 ms。
11.根据权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个关闭周期的持续时间为10 ms或者少于10 ms。
12.根据权利要求1所述的方法，还包括控制所述至少一个传感器在预定数量的关闭周期之后执行读数，使得每次读数之间的间隔是开启周期与关闭周期的持续时间之和的倍数。
13.根据权利要求1所述的方法，还包括控制所述至少一个传感器对包括所述至少一个关闭周期在内的多个关闭周期中的每一个执行读数。
14.一种减少传感器读数中来自照明灯的光干扰的计算机可读介质，所述计算机可读介质存储有计算机可读程序指令，所述计算机可读程序指令在由设备执行时配置成使所述设备至少进行以下操作：
使照明灯根据光调制模式在开启周期期间打开并且在关闭周期期间关闭，以提供在样品管的内容物的测试期间用户可观察到的所述内容物的提高的可视性，其中，照明灯配置为发射对于光学测试仪器外部的用户可见的光，其中，所述光调制模式包括多个开启周期和多个关闭周期，所述光调制模式的一个关闭周期在所述多个开启周期的相邻开启周期之间；
在所述光调制模式的关闭周期期间，控制至少一个发射器发射供一个或更多个传感器检测的信号；以及
控制所述一个或更多个传感器中的至少一个传感器在所述光调制模式的至少一个关闭周期期间执行读数，其中，所述关闭周期的最长关闭周期是由用户可以忍受照明灯关闭的时段限定，以使得在所述至少一个传感器的工作期间，在关闭周期期间，相邻的开启周期对于用户来说照明灯显得恒定。
15.根据权利要求14所述的计算机可读介质，其中所述计算机可读程序指令在由设备执行时还配置成使所述设备至少进行以下操作：
控制所述至少一个传感器在所述至少一个发射器关闭时执行暗读数；
通过从亮读数减去所述暗读数来确定环境光偏移；以及
根据所述环境光偏移校准传感器读数。
16.根据权利要求14至15中任一项所述的计算机可读介质，其中所述计算机可读程序指令在由设备执行时还配置成使所述设备至少进行以下操作：
控制所述至少一个传感器在所述光调制模式中的多个关闭周期内执行多个读数；以及
基于所述多个读数计算移动平均传感器读数。
17.根据权利要求14或15所述的计算机可读介质，其中所述计算机可读程序指令在由设备执行时还配置成使所述设备至少进行以下操作：
控制传感器读数在所述光调制模式的相应关闭周期开始后的预定延迟之后开始。
18.根据权利要求14或15所述的计算机可读介质，其中所述计算机可读程序指令在由设备执行时还配置成使所述设备至少进行以下操作：
接收管***的指示；以及
控制传感器读数周期在接收到所述管***的所述指示后的预定初始延迟之后开始。
19.根据权利要求14或15所述的计算机可读介质，其中所述至少一个传感器包括至少一个密度传感器和至少一个浊度传感器，其中所述计算机可读程序指令在由设备执行时还配置成通过使所述设备进行以下操作来使所述设备确定McFarland值：
接收多个密度传感器读数；
接收多个浊度传感器读数；
向所述密度传感器读数和所述浊度传感器读数应用线性回归以确定多项式方程的系数；以及
向所述多项式方程应用后续读数以计算所述McFarland值。
20.根据权利要求19所述的计算机可读介质，其中所述计算机可读程序指令在由设备执行时还配置成使所述设备至少进行以下操作：
基于所述密度传感器读数和所述浊度传感器读数的比较而检测至少一个传感器中的错误。
21.根据权利要求14或15所述的计算机可读介质，其中所述计算机可读程序指令在由检测装置执行时还配置成通过使所述检测装置进行以下操作来将所述检测装置归零：
接收执行归零校准的指示；
响应于所述归零校准的所述指示，控制所述至少一个发射器调整发射信号；
基于所述发射信号控制所述至少一个传感器执行读数；
监测所述至少一个传感器读数并在所述传感器读数满足预定标准时存储所述发射信号的电平；以及
基于所述发射信号的所存储电平控制所述至少一个发射器操作。
22.一种用于减少传感器读数中来自照明灯的光干扰的设备，所述设备包括配置成使所述设备进行以下操作的处理电路***：
使照明灯根据光调制模式在开启周期期间打开并且在关闭周期期间关闭，以提供在样品管的内容物的测试期间用户可观察到的所述内容物的提高的可视性，其中，照明灯配置为发射对于光学测试仪器外部的用户可见的光，其中，所述光调制模式包括多个开启周期和多个关闭周期，所述光调制模式的一个关闭周期在所述多个开启周期的相邻开启周期之间；
在所述光调制模式的关闭周期期间，控制至少一个发射器发射供一个或更多个传感器检测的信号；以及
控制所述一个或更多个传感器中的至少一个传感器在所述光调制模式的至少一个关闭周期期间执行读数，其中，所述关闭周期的最长关闭周期是由用户可以忍受照明灯关闭的时段限定，以使得在所述至少一个传感器的工作期间，在关闭周期期间，相邻的开启周期对于用户来说照明灯显得恒定。
23.根据权利要求22所述的设备，其中所述处理电路***另外配置成使所述设备进行以下操作：
控制所述至少一个传感器在所述至少一个发射器关闭时执行暗读数；
通过从亮读数减去所述暗读数来确定环境光偏移；以及
根据所述环境光偏移校准传感器读数。
24.根据权利要求22至23中任一项所述的设备，其中所述处理电路***另外配置成使所述设备进行以下操作：
控制所述至少一个传感器在所述光调制模式中的多个关闭周期内执行多个读数；以及
基于所述多个读数计算移动平均传感器读数。
25.根据权利要求22或23所述的设备，其中所述处理电路***另外配置成使所述设备进行以下操作：
控制传感器读数在所述光调制模式的相应关闭周期开始后的预定延迟之后开始。
26.根据权利要求22或23所述的设备，其中所述处理电路***另外配置成使所述设备进行以下操作：
接收管***的指示；以及
控制传感器读数周期在接收到所述管***的所述指示后的预定初始延迟之后开始。
27.根据权利要求22或23所述的设备，其中所述至少一个传感器包括至少一个密度传感器和至少一个浊度传感器，所述处理电路***另外配置成使所述设备进行以下操作来确定McFarland值：
接收多个密度传感器读数；
接收多个浊度传感器读数；
向所述密度传感器读数和所述浊度传感器读数应用线性回归以确定多项式方程的系数；以及
向所述多项式方程应用后续读数以计算所述McFarland值。
28.根据权利要求27所述的设备，其中所述处理电路***另外配置成使所述设备进行以下操作：
基于所述密度传感器读数和所述浊度传感器读数的比较而检测至少一个传感器中的错误。
29.根据权利要求22或23所述的设备，所述处理电路***另外配置成通过使所述设备进行以下操作将所述设备归零：
接收执行归零校准的指示；
响应于所述归零校准的所述指示，控制所述至少一个发射器增强发射信号；
基于所述发射信号控制所述至少一个传感器执行读数；
监测所述至少一个传感器读数并在所述传感器读数满足预定标准时存储所述发射信号的电平；以及
基于所述发射信号的所存储电平控制所述至少一个发射器操作。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10281393B2 (en) * 2014-09-19 2019-05-07 Hach Company Turbidimeter
CN110914673B (zh) 2017-04-20 2023-10-24 生物梅里埃公司 光密度仪器及使用光密度仪器的***和方法
US11099926B2 (en) * 2019-04-15 2021-08-24 Hewlett Packard Enterprise Development Lp Sensor reading verification and query rate adjustment based on readings from associated sensors

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101578495A (zh) * 2006-09-01 2009-11-11 Agr国际公司 用多波长离散谱光源的垂直轮廓塑料容器的在线检测***
CN103575705A (zh) * 2013-11-19 2014-02-12 苏州热工研究院有限公司 一种浊度仪和水的浊度的测量方法
CN205246536U (zh) * 2014-09-29 2016-05-18 Bd科斯特公司 用于对样品光学探测的设备

Family Cites Families (127)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB150183A (en) 1919-09-22 1920-09-02 Scotswood Ltd An improved portable inkstand
US1863354A (en) 1926-07-07 1932-06-14 Gen Cable Corp Electric conductor
US1775013A (en) 1929-06-07 1930-09-02 Yugawa George Gijiu Shoe lace and fastening therefor
US2157438A (en) 1937-05-10 1939-05-09 Sherman P Sparks Device for counting bacteria and the like
US2436262A (en) 1944-04-29 1948-02-17 Johns Manville Apparatus for measuring turbidity photoelectrically
US2863354A (en) 1953-09-29 1958-12-09 Babcock & Wilcox Co Turbidimeter
US2874606A (en) 1956-04-04 1959-02-24 Zeiss Jena Veb Carl Devices for measurement of turbidity
US3554648A (en) 1967-12-29 1971-01-12 Sargent Welch Scientific Co Combination teaching aid and modular instrumental analysis system and components therefor
FR2067508A5 (zh) 1969-11-06 1971-08-20 Inst Nal Rech Agr
US3712144A (en) 1971-03-10 1973-01-23 Lilly Co Eli Automated system for performing sample measurement, dilutions and photometric measurements
GB1387424A (en) 1971-06-29 1975-03-19 Plessey Co Ltd Measuring instruments
US3775013A (en) 1971-11-17 1973-11-27 Monitor Techn Inc Optical turbidimeter apparatus
US3783635A (en) 1972-07-25 1974-01-08 Dunham Bush Inc Replaceable defrost heater for fin and tube evaporator and spring retaining clip for same
US3826574A (en) 1973-02-12 1974-07-30 Continental Distributors Nephelometer
CH584290A5 (zh) 1974-03-18 1977-01-31 Mueller Hans Maennedorf
US3977794A (en) 1974-07-15 1976-08-31 Coulter Electronics, Inc. Universal cell holder
US4118625A (en) 1977-05-02 1978-10-03 Dynatech Laboratories Incorporated Nephelometer having pulsed energy source
US4136953A (en) 1977-07-19 1979-01-30 Beckman Instruments, Inc. Nephelometer with detection system focused on optical dark region
US4193692A (en) 1978-06-07 1980-03-18 Monitek, Inc. Method and apparatus for the optical measurement of the concentration of a particulate in a fluid
US4291983A (en) 1979-05-22 1981-09-29 American Home Products Corporation Photometric apparatus and method
US4343552A (en) 1979-12-28 1982-08-10 Purecycle Corporation Nephelometer
DE3516529A1 (de) 1985-05-08 1986-11-27 Gesellschaft für Strahlen- und Umweltforschung mbH, München, 8042 Neuherberg Anlage zur turbidimetrischen messung und regelung von mikroorganismenkulturen
DE3608552A1 (de) 1986-03-14 1987-09-17 Bayer Ag Nephelometer
JPH0349676A (ja) 1989-07-18 1991-03-04 Takeda Chem Ind Ltd Ｍｉｃ及び生菌数の測定自動化装置および自動測定方法
DE3924595A1 (de) 1989-07-25 1991-01-31 Becker Autoradio Steueranordnung fuer ein rueckhaltesystem in kraftfahrzeugen
US5616923A (en) 1990-05-23 1997-04-01 Novametrix Medical Systems Inc. Gas analyzer cuvettes
US5137693A (en) 1990-07-30 1992-08-11 Miles Inc. Spring biased test tube holder
US5140168A (en) 1990-12-03 1992-08-18 Great Lakes Instruments, Inc. Turbidimeter signal processing circuit using alternating light sources
JP3061144B2 (ja) 1990-12-27 2000-07-10 東ソー株式会社 ポリアリ−レンスルフィド樹脂の腐食性低減方法
US5345395A (en) 1991-10-31 1994-09-06 Baxter Diagnostics Inc. Specimen processing and analyzing systems and methods using photometry
JPH06510233A (ja) 1992-06-29 1994-11-17 デイド、ベーリング、インコーポレイテッド サンプル管キャリア
US5736410A (en) * 1992-09-14 1998-04-07 Sri International Up-converting reporters for biological and other assays using laser excitation techniques
JP3049676B2 (ja) 1992-10-14 2000-06-05 キヤノン株式会社 投影光学系
US5331177A (en) 1993-04-26 1994-07-19 Honeywell Inc. Turbidity sensor with analog to digital conversion capability
US5464982A (en) 1994-03-21 1995-11-07 Andros Incorporated Respiratory gas analyzer
US5506679A (en) 1994-09-08 1996-04-09 Hach Company Nephelometer instrument
US5863754A (en) 1995-05-12 1999-01-26 Pasteur Sanofi Diagnostics Process for bacteria identification and for determination of the sensitivity of bacteria to antibiotics and apparatus and measuring supports for carrying out this process
US5867266A (en) 1996-04-17 1999-02-02 Cornell Research Foundation, Inc. Multiple optical channels for chemical analysis
US5687849A (en) 1996-04-23 1997-11-18 Coulter International Corp. Test tube cassette for accommodating different tube sizes
JP2000513970A (ja) 1996-07-02 2000-10-24 フェムレックス・インコーポレイテッド 選択的に絶縁した電極および生理的流体に満たされた中空の粘性組織部分において当該電極を使用する方法
US5940178A (en) 1996-07-03 1999-08-17 Beckman Instruments, Inc. Nephelometer and turbidimeter combination
US5872361A (en) 1997-03-24 1999-02-16 Hach Company Turbidimeter with non-imaging optical concentrator
JPH10284848A (ja) 1997-04-02 1998-10-23 Seiko Epson Corp 電子機器
CA2286845C (en) 1997-04-18 2009-01-13 Centro Nacional De Investigaciones Cientificas (Cnic) Equipment, kit and method for microbiological diagnosis
JP3049676U (ja) 1997-12-10 1998-06-19 株式会社エヌアンドエス 自動販売機用のダミー体
TW477492U (en) 1998-07-27 2002-02-21 Sunonwealth Electr Mach Ind Co Associating structure of air pumping fan
US6198536B1 (en) * 1998-09-01 2001-03-06 X-Rite, Incorporated Portable scanning spectrophotometer
USD439673S1 (en) 1998-10-06 2001-03-27 Sorenson Bioscience Multi-well microcentrifuge tube
US6359689B1 (en) 1998-10-26 2002-03-19 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Programmable automated turbidimeter/colorimeter
CN2356342Y (zh) * 1998-11-25 1999-12-29 深圳迈瑞电子有限公司 冷光源hgb(血红蛋白)测量装置
JP3096685B2 (ja) 1999-03-05 2000-10-10 照明 伊藤 試験管ホルダー
US20040147843A1 (en) 1999-11-05 2004-07-29 Shabbir Bambot System and method for determining tissue characteristics
FR2792725B1 (fr) 1999-04-23 2001-12-07 Junior Instruments Procede et dispositif pour la detection de variations de proprietes optiques d'un echantillon liquide dans un processus d'analyse
US6589889B2 (en) 1999-09-09 2003-07-08 Alliedsignal Inc. Contact planarization using nanoporous silica materials
US6900059B1 (en) 1999-11-26 2005-05-31 Associates Of Cape Cod, Inc. Reader for conducting assays
DE10008517C2 (de) 2000-02-24 2002-09-26 Eppendorf Ag Optisches Meßsystem
US6691702B2 (en) 2000-08-03 2004-02-17 Sequal Technologies, Inc. Portable oxygen concentration system and method of using the same
USD453573S1 (en) 2001-03-05 2002-02-12 3088081 Canada Inc. Microcentrifuge tube strip
JP3869687B2 (ja) 2001-06-26 2007-01-17 独立行政法人科学技術振興機構 微生物活性測定装置及び微生物活性の測定方法
EP1432976A4 (en) * 2001-09-05 2007-11-28 Genicon Sciences Corp DEVICE FOR READING SIGNALS EMITTED BY RESONANCE LIGHT DISPERSION PARTICLES USED AS MARKERS
US6836332B2 (en) 2001-09-25 2004-12-28 Tennessee Scientific, Inc. Instrument and method for testing fluid characteristics
US6849834B2 (en) * 2001-11-02 2005-02-01 General Electric Company Apparatus for cycle-skipping power control
CA2391641A1 (fr) 2002-06-28 2003-12-28 Robert Longin Plateforme robotisee de cultures cellulaires en batteries de reacteurs miniaturises, equipee d'un systeme de mesure en temps reel de la turbidite cellulaire ou toutes autres proprietes optiques
WO2004015136A1 (en) 2002-08-07 2004-02-19 University Of South Florida Interpretation model for the uv-vis spectra of microorganisms
KR100580312B1 (ko) 2004-01-14 2006-05-16 남창우 탁도 측정용 자외선 스펙트로포토메터 및 이를 이용한실시간 탁도 측정 방법
KR100580313B1 (ko) 2004-01-14 2006-05-16 남창우 탁도 측정용 스펙트로포토메터 및 이를 이용한 실시간탁도 측정 방법
JP4056982B2 (ja) 2004-03-17 2008-03-05 株式会社アイディエス 試験管ホルダー
DE202004020585U1 (de) 2004-05-14 2005-09-08 Insta Elektro Gmbh Biosphärenregulator
ITUD20040170A1 (it) 2004-08-25 2004-11-25 Alifax Technology Srl Dispositivo integrato per analisi diagnostiche, e relativo procedimento
US7910067B2 (en) 2005-04-19 2011-03-22 Gen-Probe Incorporated Sample tube holder
EP1803499A1 (en) 2005-12-27 2007-07-04 F.Hoffmann-La Roche Ag Sample tube holder
CN2919238Y (zh) 2006-01-18 2007-07-04 范飞 微生物比浊法测定仪
US7901624B2 (en) 2006-09-26 2011-03-08 Becton, Dickinson And Company Device for automatically adjusting the bacterial inoculum level of a sample
US7663757B2 (en) 2006-09-27 2010-02-16 Alberta Research Council Inc. Apparatus and method for obtaining a reflectance property indication of a sample
GB2459600B (en) 2007-02-15 2011-06-22 Green Vision Systems Ltd Hyper-spectral imaging and analysis of a sample of matter, and preparing a test solution or suspension therefrom
WO2008140874A1 (en) * 2007-05-09 2008-11-20 Dow Global Technologies Inc. System and method for high-throughput turbidity measurements
EP2215452B1 (en) * 2007-11-09 2016-09-28 Hach Company Automatic optical measurement system and method
CN201141824Y (zh) 2007-11-21 2008-10-29 上海复星佰珞生物技术有限公司 一种用于测试菌液浊度的比浊仪
KR100972454B1 (ko) 2008-01-25 2010-07-26 동양하이테크산업주식회사 미생물 형광특성을 이용한 수질 내 미생물 측정용 프로브
KR100977067B1 (ko) 2008-01-30 2010-08-20 동양하이테크산업주식회사 탁도 측정용 프로브와 이를 이용한 탁도 측정장치
IT1395560B1 (it) 2008-08-22 2012-09-28 Alifax Holding S P A Procedimento per l'indagine batteriologica su plasma
US7659980B1 (en) 2008-11-24 2010-02-09 Herbert Leckie Mitchell Nephelometric turbidity sensor device
CN201356557Y (zh) 2009-01-17 2009-12-09 山东新华安得医疗用品有限公司 安全采血针持针器
KR101004450B1 (ko) 2009-02-03 2010-12-27 (주)동양화학 소수성 졸-겔로 개질된 고분자막을 갖는 탁도 측정용 프로브
IT1393218B1 (it) 2009-02-25 2012-04-11 Alifax Holding S P A Apparecchiatura per analizzare un campione biologico
IT1397120B1 (it) 2009-02-25 2012-12-28 Alifax Holding S P A Dispositivo integrato per analisi diagnostiche, e relativo procedimento
IT1392994B1 (it) 2009-02-25 2012-04-02 Alifax Holding S P A Procedimento per l'indagine batteriologica su un campione biologico e relativo dispositivo
DE102009001929A1 (de) * 2009-03-27 2010-09-30 Endress + Hauser Conducta Gesellschaft für Mess- und Regeltechnik mbH + Co. KG Trübungsmessgerät
USD624194S1 (en) 2009-04-16 2010-09-21 Meridian Bioscience, Inc. Dual reservoir reagent tube with an integral seal cap
TWI503530B (zh) 2009-05-01 2015-10-11 Xtralis Technologies Ltd 微粒偵測技術
WO2011019576A1 (en) 2009-08-13 2011-02-17 Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Methods and apparatus for ascertaining interferents and physical dimensions in liquid samples and containers to be analyzed by a clinical analyzer
CN101893564B (zh) * 2009-10-19 2013-02-06 上海医药工业研究院 一种监测结晶过程的监测装置以及带有该监测装置的结晶设备
IT1397674B1 (it) 2010-01-14 2013-01-18 Alifax Holding S P A Procedimento ed apparecchiatura per analisi diagnostiche
US9180448B2 (en) 2010-07-06 2015-11-10 Becton, Dickinson And Company Method and apparatus for identification of bacteria
CN103180712A (zh) 2010-09-07 2013-06-26 耐斯特科技有限公司 用于比色管的视觉及电子读取的***
JP2012078503A (ja) 2010-09-30 2012-04-19 Olympus Corp 照明装置および観察システム
CN102128814B (zh) 2010-12-09 2012-09-05 中国科学院安徽光学精密机械研究所 大动态范围液体浊度检测光路结构及检测方法
JP2014522968A (ja) * 2011-07-05 2014-09-08 ベーリンガー インゲルハイム マイクロパーツ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 媒体中の粒子の散乱光を測定する方法
CN202196013U (zh) * 2011-08-24 2012-04-18 山东省科学院生物研究所 基于颜色传感器的比色池
USD679412S1 (en) 2012-03-21 2013-04-02 Chromoplas Pty Ltd Tube and cap assembly
DE102012205311B4 (de) * 2012-03-30 2013-10-17 Anton Paar Gmbh Optische Vorrichtung, insbesondere Polarimeter, zur Detektion von Inhomogenitäten in einer Probe
ES2642340T3 (es) 2012-03-30 2017-11-16 Bd Kiestra B.V. Selección automática de microorganismos e identificación usando MALDI
WO2014018805A2 (en) 2012-07-25 2014-01-30 Theranos,Inc. Image analysis and measurement of biological samples
USD687567S1 (en) 2012-10-22 2013-08-06 Qiagen Gaithersburg, Inc. Tube strip for automated processing systems
WO2014113401A1 (en) 2013-01-15 2014-07-24 Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Automation tube positioning methodology
US9041920B2 (en) 2013-02-21 2015-05-26 Visualant, Inc. Device for evaluation of fluids using electromagnetic energy
EP2959284A2 (en) 2013-02-22 2015-12-30 Life Technologies Corporation Optical systems and methods for biological analysis
WO2014137333A1 (en) 2013-03-06 2014-09-12 Becton, Dickinson And Company Method and apparatus for determining sample turbidity
USD709625S1 (en) 2013-03-15 2014-07-22 Becton, Dickinson And Company Process tube strip
CN203479704U (zh) 2013-07-11 2014-03-12 珠海贝索生物技术有限公司 一种测量微生物悬浮液光密度的仪器
SG11201601099SA (en) 2013-08-22 2016-03-30 Becton Dickinson Co Nephelometry method and apparatus for determining the concentration of suspended particles in an array of sample containers
JP2016537618A (ja) * 2013-10-04 2016-12-01 マッセー ユニヴァーシティ Ｉｎ−ｓｉｔｕ型光学センサ
US20150108076A1 (en) 2013-10-21 2015-04-23 Health Diagnostic Laboratory, Inc. Test tube rack insert device
CN103645162A (zh) * 2013-12-02 2014-03-19 中山欧麦克仪器设备有限公司 一种水中悬浮物的实时监控***
EP4009032A1 (en) 2014-04-21 2022-06-08 Aber Instruments, Inc. Particle sensor with interferent discrimination
CN103923827B (zh) 2014-04-25 2016-01-20 山东省食品药品检验研究院 全自动定量微生物制备仪
US20160266028A1 (en) 2014-07-18 2016-09-15 Wyatt Technology Corporation Method to measure the structure of small particles in solution
CN104263718B (zh) 2014-09-26 2017-11-24 广东体必康生物科技有限公司 一种超声波微生物分散方法及装置
CN204142554U (zh) 2014-10-11 2015-02-04 沈佳特 一种菌悬液连续多级自动稀释与计数装置
CN104266895A (zh) 2014-10-11 2015-01-07 沈佳特 一种菌悬液连续多级自动稀释装置及实时计数方法
EP3023768B1 (en) 2014-11-21 2020-03-04 Hach Lange GmbH A nephelometric turbidimeter and method for controlling the humidity of venting air in a nephelometric turbidimeter
US10233481B2 (en) * 2014-12-05 2019-03-19 Bacterioscan Ltd Multi-sample laser-scatter measurement instrument with incubation feature and systems for using the same
US10228550B2 (en) * 2015-05-21 2019-03-12 California Institute Of Technology Laser-based Fourier ptychographic imaging systems and methods
AU2016267580B2 (en) 2015-05-28 2021-05-13 Bd Kiestra B.V. Automated method and system for obtaining and preparing microorganism sample for both identification and antibiotic susceptibility tests
LU93022B1 (de) 2016-04-08 2017-11-08 Leica Microsystems Verfahren und Mikroskop zum Untersuchen einer Probe
CN109416319B (zh) * 2016-07-19 2021-07-13 株式会社日立高新技术 自动分析装置及自动分析方法
CN110914673B (zh) 2017-04-20 2023-10-24 生物梅里埃公司 光密度仪器及使用光密度仪器的***和方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101578495A (zh) * 2006-09-01 2009-11-11 Agr国际公司 用多波长离散谱光源的垂直轮廓塑料容器的在线检测***
CN103575705A (zh) * 2013-11-19 2014-02-12 苏州热工研究院有限公司 一种浊度仪和水的浊度的测量方法
CN205246536U (zh) * 2014-09-29 2016-05-18 Bd科斯特公司 用于对样品光学探测的设备

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